激光断面仪工作原理

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激光断面仪工作原理相关的仪器

  • HYXJ-1隧道限界测量仪 隧道断面及设备限界测量仪 激光限界测量仪 隧道限界检测小车 激光铁路限界测量仪  HYXJ-1隧道限界测量仪是一种采用激光测量技术完成限界检测的仪器。测量主机安装在轨道小车上,测量时由控制器对主机进行控制、数据采集、数据计算、数据分析及界限判断,自动完成限界检测、数据采集、数据分析和处理,生成检测报告。  HYXJ-1激光铁路限界测量仪可对隧道限界、铁路限界(如站台、信号机、风雨棚等)、桥梁、跨线桥、车站附属物限界、轨道相对隧道位置等数据进行准确测量,也可快速的测量铁路、地铁、城市轨道的站台及附属物限界尺寸和地下曲线车站站台边缘至机车轮廓线间间隔及附属物全断面、分断面、单点限界。测量软件并自动判断是否超限,自动生成图形和限界报表。特点能够同时测量铁路建筑物(如隧道及隧道设备、站台、信号机、风雨棚等)的垂直高度和水平距离。采用高精密传感器系统,测量速度快,提高检测效率。软件功能强大:标准限界数据可编辑、录入,测量数据自动和标准限界数据进行比较,操作简便,可以实现现场数据图像显示,更直观。符合铁路相关现场工作条件,具有防潮、抗烟尘、抗强光、电池供电等特点.结构特点:检测小车轻便,便于携带。技术指标测量范围:0.2~70m测量精度:±1mm角度精度:2"轨距范围:1410mm-1470mm(选配) 测量精度:±1mm水平(超高)范围:±200mm(选配) 测量精度:±0.5mm里程测量精度:优于1‰单次采样数:51个点(可设置)控制系统:一键式多接口用,50x10mmIRS微型外置,测量精度更高更稳定,无线可选数据存储量:大于3500组,可扩展操作软件:测量软件界面实时显示每个测点的水平距离、垂直高度及超限量。多模块兼容接口,hydcrack1.1-1A软件系统(标准限界数据可编辑、录入,测量数据自动和标准数据进行比较,可生成图形、Excel、CAD格式(DXF)、TXT等格式的检测报告)配可拆卸提手及检测小车工作温度:-20℃~60℃储存温度:-30℃~70℃尺寸:1500x230x1260mm总重量:<12kg
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  • 概述 此款LD端面泵浦激光器采用独特的热补偿腔体设计以及调Q技术,保证激光器高光束质量和窄脉宽。腔体内主要光学器件全部采用锁死机械设计,并且在class10000级洁净室装配密封;保证产品各种复杂环境的正常使用和长时间的稳定性。主要用途:工业加工,激光干扰,科学研究等。 技术参数激光波长1064nm,532nm,355nm重复频率10~200kHz输出功率@60kHz>15w@1064nm,>7W@532nm,>2w@355nm脉冲宽度<20ns@60kHz光斑模式TEM00光束质量M2<1.3出口处光斑大小3mm偏振态水平,偏振比>100:1平均功率稳定性<2%(8小时)脉冲能量稳定性<2%(8 hours)<5%冷却方式风冷激光头尺寸500mm×150mm×80mm供电Power220V AC使用环境温度-20℃~50℃使用环境湿度<90%可靠性测试3g振动,15g 冲击
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  • 一、设备功能简介本产品用于电芯涂布面密度和厚度检测。1、1面密度测量原理 单位面积上极片的质量,称为极片的面密度。极片的面密度是决定电池的一致性的最重要的因素。由Kr85(氪85)衰变产生的β射线,穿透电池极片时,一部分射线被极片吸收。导致穿透极片后的射线强度相对于入射射线强度有一定的衰减。衰减比例与被穿透极片的面密度呈负指数关系。通过填充有特殊气体电离室检测射线穿透极片前后的射线强度,即可推算出极片的面密度。如图1所示,I0为透射前的射线强度,I为透射后的射线强度,二者满足m=1/λ(㏑(I0/I))的关系。其中λ为单位面密度极片的射线吸收系数,m为面密度。面密度定义为单位面积s上的极片的质量m。如果被测物的的密度ρ定,则被测物的面密度与厚度d成正比:面密度=m/s=ρd。由于锂电涂布生产工艺无法保证密度恒定,所以无法直接通过测量厚度来计算极片面密度。所以单纯的激光测厚仪只能检测材料厚度。此设备通过实时测量极片的面密度与厚度的实际值,计算出极片的密度。从而使激光位移传感器测得的极片厚度值,可以准确转换为面密度。并且实时显示削薄区的面密度值或者厚度。1.2厚度测量原理厚度测量原理示意图测厚模块由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的,上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置,通过计算得到被测体的厚度。示意图中L为2个激光位移传感器的距离,A为上传感器到被测极片距离,B为上传感器到被测极片距离,T为被测极片厚度,则T=L-A-B 1.3:设备总体结构图二:技术指标序号参数名称参数指标1适合涂布类型单间隙涂布、多间隙涂布、连续涂布、单面涂布、双面涂布2适合极片类型正极极片、负极极片3测量方式在线动态非接触测量,测量头在垂直于走带方向往复扫描4激光光源红色半导体激光,5射线X射线或β射线6射线光斑光斑大小根据用户需要定制7测量范围面密度:20-1000 g/m2 厚度:0~3000um8测量重复精度面密度:16秒积分:±2σ:≤±真实值×0.25‰ or ±0.08g/m2 ±3σ:≤±真实值×0.3‰ or ±0.09g/m2 4秒积分:±2σ:≤±真实值×0.55‰ or ±0.17g/m2 ±3σ:≤±真实值×0.8‰ or ±0.24g/m2 9相关性R2在面密度生产规格范围内,均匀取5组不同面密度的样品,分别用设备和电子称得到5组对应的面密度数据(面密度跨度不低于 20mg/1540.25mm2),机器测量值与真实值线性拟合后,相关性系数99%10厚度测量精度±3σ:≤±1um ,削薄区宽度测量范围:1-50mm11防辐射等级《GB 18871-2002》国家安全标准12放射源使用年限10.78年13测量响应时间<1ms三:测量系统功能实现极片涂布面密度在线测量。实时显示当前扫描断面测量面密度的最大值、最小值、平均值、平均偏差,当前扫描位置、厚度信号、涂布速度、本卷长度等数据。实时显示当前扫描断面图(可选柱状图、折线图、面积图)。最后一次扫描断面图显示查看(可选柱状图、折线图、面积图)。EXCEL报表记录转存查看功能,每膜卷生产完毕后,自动生成excel报表。通过分频网传,实现远程同步显示(涂布机头显示)。扫描边界自适应功能,随收卷纠偏调节自动调节扫描范围,保证最佳扫描状态。定位测量功能:可在扫描区域内指定任何位置,测量头即定位在指定位置。配方功能:根据不同基材、涂布宽度、涂布方式存储设置各项测量扫描参数,使用时直接调用。系统自诊断功能。报警功能:可设置涂布宽度、边宽、面密度高限值即进行报警。实时可靠的自校验机制,实现了对射线衰减的补偿。实时显示重量横向、纵向面密度变化趋势。实时显示重量横向、纵向厚度变化趋势实时显示间隙涂布头尾、左右涂布削薄区轮廓。削薄区分区大小可以独立设定,最小可以设定0.1mm输出一个厚度均值。专业的涂布间隙区无效数据滤除,直观方便的软件管理界面。提供可靠的以太网数据通信协议软件数据使用CSV文件、数据库保存在工控机内,可以输入并保存如下参数:型号、批次号、日期、上下限工艺参数等。软件操作权限:具备两个以上使用权限,如管理员和操作员。系统配置三色蜂鸣报警灯。将检测数据传输个涂布机和不良达标系统,涂布机通过传输过来的数据自动调整涂布参数,实现闭环控制,使打标系统在相对应不良位置打标,且将所有检测标准、检测数据上传至MES系统;
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激光断面仪工作原理相关的方案

激光断面仪工作原理相关的论坛

  • 【资料】激光测距的测量原理

    1.利用红外线测距或激光测距的原理是什么? 测距原理基本可以归结为测量光往返目标所需要时间,然后通过光速c = 299792458m/s 和大气折射系数 n 计算出距离D。由于直接测量时间比较困难,通常是测定连续波的相位,称为测相式测距仪。当然,也有脉冲式测距仪,典型的是WILD的DI-3000需要注意,测相并不是测量红外或者激光的相位,而是测量调制在红外或者激光上面的信号相位。建筑行业有一种手持式的测距仪,用于房屋测量,其工作原理与此相同。2.被测物体平面必须与光线垂直么? 通常精密测距需要全反射棱镜配合,而房屋量测用的测距仪,直接以光滑的墙面反射测量,主要是因为距离比较近,光反射回来的信号强度够大。与此可以知道,一定要垂直,否则返回信号过于微弱将无法得到精确距离。3.若被测物体平面为漫反射是否可以? 通常也是可以的,实际工程中会采用薄塑料板作为反射面以解决漫反射严重的问题。4.超声波测距精度比较低,现在很少使用。

  • 【资料】激光原理及其应用

    激光是二十世纪六十年代出现的一种新型光源——激光器发出的光。激光一词的本意是受激辐射放大的光。1960年美国休斯研究实验室的梅曼制成了第一台红宝石激光器,1961年9月中国科学院长春光学精密机械研究所制成了我国第一台激光器。此后,在激光器的研制、激光技术的应用以及激光理论方面都取得了巨大进展,并带动了一些新型学科的发展,如全息光学、傅立叶光学、非线性光学、光化学等,激光还与当今的重点产业——信息产业密切相关。与激光有关的诺贝尔物理学奖获得者有:1964年,美国汤斯、原苏联巴索夫和普洛霍罗夫因在激光理论上的贡献而获奖。1981年美国肖洛因发展激光光谱学及对激光应用作出的贡献、美国布隆伯根因开拓与激光密切相关的非线性光学共同获奖。1997年美国朱棣文、科恩和飞利浦因首创用激光束将原子冷却到极低温度的方法共同获奖。 激光原理一.物质与光相互作用的规律光与物质的相互作用,实质上是组成物质的微观粒子吸收或辐射光子,同时改变自身运动状况的表现。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2006/11/200611202115_32995_1634962_3.gif[/img]微观粒子都具有特定的一套能级(通常这些能级是分立的)。任一时刻粒子只能处在与某一能级相对应的状态(或者简单地表述为处在某一个能级上)。与光子相互作用时,粒子从一个能级跃迁到另一个能级,并相应地吸收或辐射光子。光子的能量值为此两能级的能量差△E,频率为=△E/h(h为普朗克常量)。1. 受激吸收(简称吸收)处于较低能级的粒子在受到外界的激发(即与其他的粒子发生了有能量交换的相互作用,如与光子发生非弹性碰撞),吸收了能量时,跃迁到与此能量相对应的较高能级。这种跃迁称为受激吸收。2. 自发辐射粒子受到激发而进入的高能态,不是粒子的稳定状态,如存在着可以接纳粒子的较低能级,既使没有外界作用,粒子也有一定的概率,自发地从高能级(E2)向低能级(E1)跃迁,同时辐射出能量为(E2-E1)的光子,光子频率 =(E2-E1)/h。这种辐射过程称为自发辐射。众多原子以自发辐射发出的光,不具有相位、偏振态、传播方向上的一致,是物理上所说的非相干光。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2006/11/200611202116_32996_1634962_3.gif[/img]3. 受激辐射、激光1917年爱因斯坦从理论上指出:除自发辐射外,处于高能级E2上的粒子还可以另一方式跃迁到较低能级。他指出当频率为=(E2-E1)/h的光子入射时,也会引发粒子以一定的概率,迅速地从能级E2跃迁到能级E1,同时辐射一个与外来光子频率、相位、偏振态以及传播方向都相同的光子,这个过程称为受激辐射。可以设想,如果大量原子处在高能级E2上,当有一个频率 =(E2-E1)/h的光子入射,从而激励E2上的原子产生受激辐射,得到两个特征完全相同的光子,这两个光子再激励E2能级上原子,又使其产生受激辐射,可得到四个特征相同的光子,这意味着原来的光信号被放大了。这种在受激辐射过程中产生并被放大的光就是激光。二.粒子数反转爱因斯坦1917提出受激辐射,激光器却在1960年问世,相隔43年,为什么?主要原因是,普通光源中粒子产生受激辐射的概率极小。当频率一定的光射入工作物质时,受激辐射和受激吸收两过程同时存在,受激辐射使光子数增加,受激吸收却使光子数减小。物质处于热平衡态时,粒子在各能级上的分布,遵循平衡态下粒子的统计分布律。按统计分布规律,处在较低能级E1的粒子数必大于处在较高能级E2的粒子数。这样光穿过工作物质时,光的能量只会减弱不会加强。要想使受激辐射占优势,必须使处在高能级E2的粒子数大于处在低能级E1的粒子数。这种分布正好与平衡态时的粒子分布相反,称为粒子数反转分布,简称粒子数反转。如何从技术上实现粒子数反转是产生激光的必要条件。理论研究表明,任何工作物质,在适当的激励条件下,可在粒子体系的特定高低能级间实现粒子数反转。

激光断面仪工作原理相关的耗材

  • 激光器增益芯片
    总览增益芯片是用作外腔半导体激光器或可调谐二极管激光器增益介质的半导体元件。增益芯片被用作TLS(可调谐光源),它可以使用波长选择滤波器(如衍射光栅)来改变振荡波长。增益芯片类似于激光二极管芯片,不同的是它在一个或两个端面上都有较深的抗反射涂层,大大提高或消除了自激阈值。通用参数使用衍射光栅的外腔激光器有两种:Littrow型和Littman/Metcalf型。Littrow型衍射光栅的初级衍射光直接反馈到半导体激光器中,通过与垂直端面的低反射膜(LR)共振来实现振荡。由于衍射只进行一次,因此获得比Littman型更大的光学输出。通过旋转光栅来扫描波长。一般来说,采用腔内消色差透镜对光栅上较大面积的扩展光束进行准直。零级衍射光束可以作为输出激光束。Innvolume 增益芯片的产品线可细分为两大类:• 单面光接入(类型A和B)• 双面光接入(类型C和D)在输出功率从外腔向外耦合的方案中,单边光纤接入增益芯片是理想的工作元件。通常,它们的封装形式是晶体管外形罐。双边光纤接入增益芯片可用于从增益芯片端面进行功率输出耦合以减少光损耗的方案中,或用于光放大方案中。A型增益芯片具有垂直于端面的直条纹,具有高反射和抗反射涂层。这是构造外腔二极管激光器最具性价比的解决方案。A型增益芯片具有对称的光束远场,使用高数值孔径的非球面透镜,提供与外腔和后腔的有效耦合。与其他类型相比,这种类型的增益芯片具有相对较低的增益谱纹波抑制,这是由于抗反射涂层的反射率在0.1%的水平上,并且可以通过弯曲条纹到端面的设计来进一步降低反射率。B型增益芯片具有弯曲条纹,正常侧为高反射率,倾斜侧为深反射率涂层。弯曲的条纹和抗反射涂层提供极低的反射率( 10E-5),允许抑制自激光和最小化增益起伏。弯曲条纹的缺点是输出光束的畸变,这使准直变得困难,并降低了反向耦合的效率。故必须使用高数值孔径的光学器件。C型增益芯片在倾斜侧有弯曲条纹和抗反射涂层,在正常侧有百分之几的反射率。波长选择反馈必须设置在倾斜侧(与B型的优点和缺点相同),而输出功率则从正常侧进行输出。这种设计使得输出功率高,输出光束较好。带正常条纹的端面反射必须根据系统配置和所需输出功率分别进行设计。D型增益芯片有一个倾斜条纹,两侧均有抗反射涂层,通常适用于需要内置放大单元的先进光学方案。创新的刻面涂层技术,包括刻面钝化,满足高可靠性要求。符合ISO9001:2008的生产标准,是基于精心设计制造和广泛测试的结果。每个设备都经过单独测试,并附带一组测试数据。尺寸图 产品型号中心波长的调谐范围调谐范围最大功率波长外腔功率输出快轴光束发散度慢轴光束发散度ASE电源无反馈(ASEpower w/ofeedback)条纹长度工作电流nmnmnmmWdegdegmWmmmAGC-780-40-TO-30-B780407803020851.5150GC-780-40-TO-100-B78040780110208202250GC-800-40-TO-100-B7954580011022852250GC-800-40-TO-130-B80040800130325252250GC-920-90-TO-200-B9059092020033871.5400GC-950-110-TO-200-B950110980240326351.5400GC-1030-150-TO-200-B10301501060200381031.5400GC-1030-160-TO-200-B10301601080220178501.5400GC-1060-150-TO-200-B10601501090210169501.5400GC-1105-130-TO-200-B110513011302004091.51.4400GC-1110-70-TO-300-A111070112035035483600GC-1160-90-TO-200-A115090116023040523600GC-1180-80-TO-200-A116080117022042433600GC-1180-100-TO-200-B115010011702104071103600GC-1220-110-TO-200-B12201101240230376153800GC-1260-60-TO-200-B12601101270210387203800GC-1270-60-TO-200-A127060127020033533800GC-1270-130-TO-200-B12701301230, 13202003864.53800GC-1270-140-TO-200-A12701301230, 13102203851.53800GC-1300-60-TO-200-B13006013202003864.53800GC-1310-60-TO-200-A13106013102203851.53800GC-1330-60-TO-200-A133060133020040453800GC-1330-70-TO-200-B1330701340200377173800*–@ CW,25C散热器温度,外腔采用Littman配置,反馈约为10%
  • LMP激光雨滴谱仪
    LMP激光雨滴谱仪可以用来测量降雨和降雪。不仅对降雨降雪过程进行监测而且对降雨降雪的特性可以进行详细分析。可以监测区分下落中的毛毛雨、大雨、冰雹、雪花、雪球以及各种介于雪花和冰雹之间的降水。可以计算各种降雨类型的强度、总量、能见度,所有的数据都以RS485协议传输,再通过协议转换器转接到其它设备。LMP激光雨滴谱仪广泛应用于交通控制、气象监测与服务、科学研究、机场观测、公路气象监测、水文地理学、气象雷达数据校正等应用领域。LMP激光雨滴谱仪几乎不需要保养,它的光学配件性能优越,可以工作在各种恶劣的环境中。激光发射器可以保证长时间的正常使用。特殊的工艺设计排除了外在光源对测定的影响,通过多方面的精心设计对环境的温度和尘土对测定带来的误差作了可靠的补偿。系统具有额外接口,还可以连接风速传感器、风向传感器、温湿度传感器等,所有的数据可通过激光雨滴谱仪的数据接口一起输出。测量原理:应用激光原理对高速运动物体进行测定。可测定运动物体的总量,大小,强度,和运动速度。它的优越性能尤其表现在对微小物体的测定,测定对象最小直径达到0.16mm。技术参数LMP激光雨滴谱仪技术参数主要输出数据降雨量,降雨速度,降雨粒径大小,降雨强度,降雨等级(synop/r),雷达校正(z/rratio),能见度(mor)可选输出数据风速,风向,空气温度,相对湿度(需单独订购传感器)操作原理785nm激光,最大0.5mw,激光等级1m测定区域46cm2(23x2.0cm)操作环境-40~+70度;0~100%相对湿度防护等级IP65供电24vac/dc/750ma,或230vac(可选12vdc)外箱不锈钢制,270x170x540mm重量4.8kg数据输出RS485双路输出1200~115200波特率,全双工/半双工粒子速度范围0.2~20m/s粒子等级440种(22种直径x20种速度)降雨降雪等级区分度97%最小强度0.005mm/h毛毛雨最大强度250mm/h雨中能见度0~99999m雷达反射率-9.9~99.9dbz产地:中国
  • Laservision激光防护面罩-多型号可选
    一、产品简介 美国Laservision公司成立于1995年,是全球知名的激光防护产品制造商,产品经NIST或CE认证。产品包含:激光防护眼镜、激光防护窗、激光防护帘、激光防护墙、激光防护面罩等系列产品,远销全球各地,广泛应用于医学,工业,科研和军事等领域,被客户所认可。二、产品特点 新型面部保护装置已通过 EN 166 认证。它由厚度为 0.3 毫米的 PET 圆盘和弹性头带组成。内部的防雾保护确保视野清晰,前额区域的泡沫衬垫确保高佩戴舒适度。面部保护是具有挑战性的工作环境的理想选择。在医疗实践、诊所、实验室或援助组织工作时,屏幕可防止飞溅和跌落。三、产品应用• 医疗实践• 诊所• 实验室• 援助组织• 司法机构如有其它需求,请联系我们。

激光断面仪工作原理相关的资料

激光断面仪工作原理相关的资讯

  • 北大开发出新型激光增强表面等离激元探测技术
    记者从北京大学获悉,该校马仁敏研究员和戴伦教授合作,实现了一种新型激光增强表面等离激元探测技术。  这种新型探测技术的强度探测品质因子比传统的表面等离激元(SPR)探测器高400倍左右。同时成本低,尺寸仅为微米量级,在一根头发丝的端面上即可制备数以千计的探测器。  “该探测器所具有的极高灵敏度、低成本和小体积的特点可能会使其在疾病的早期诊断、公共场所的安全监测和环境食品卫生等领域发挥重要的作用。”马仁敏说。  表面等离激元是一种局域在金属介质界面的局域电磁模式,通过将光频段的电磁波与贵金属中的自由电子的振荡耦合,将电磁场的能量限制在很小的尺度内,其振荡频率对周围环境非常敏感。通过探测由周围折射率变化引起的等离激元共振模式的变化形成的表面等离激元探测器是一种实时和不需要荧光标记的新型探测器。近20年以来,其在疾病诊断、生物化学研究与应用和环境监控等领域取得了非常大的成功。  马仁敏说,用于产生等离激元共振的金属中自由电子的振荡所带来的欧姆损耗在传统的等离激元探测器中不可避免,从基本物理原理上来讲,是进一步提高探测器灵敏度的障碍。马仁敏研究小组将激光原理引入到了表面等离激元探测器中,利用激光中的受激辐射光放大补偿了欧姆损耗,在前期气相超灵敏爆炸物检测的基础上(Nature Nanotechnology, 2014),实现了液相激光增强表面等离激元(LESPR)探测器。  新的探测器主要包括金属层和增益介质层,增益介质层形成在金属层上 在增益介质层和金属层的界面上形成表面等离激元模式,此模式由增益介质层的边界限制从而形成表面等离激元激光腔 待测液体覆盖在增益介质层上 激发光经过待测液体入射至增益介质层,增益介质在激发光的泵浦下产生受激辐射,经由激光腔反馈放大产生表面等离激元激光,该表面等离激元激光的波长和强度与待测液体的折射率有关。  在实验中应用了戴伦教授合成的发光波长在700纳米左右的硒化镉纳米晶体作为增益材料,其发光波长正好位于生物组织和水散射和吸收较小的700纳米到900纳米的窗口波长。相比于通常应用于等离激元激光中的金属银,他们使用了金。  “金虽然具有较高的欧姆损耗,但其化学性质远比银稳定,适合应用于生物和其他复杂环境的应用。”戴伦教授说。  在实验中,除了预期的激光效应补偿欧姆损耗使得等离激元共振的谐振线宽显著变窄意外,他们还发现激光增强表面等离激元探测器具有传统表面等离激元探测器所不具有的高斯光谱线型和无背景辐射的优点。  “这些特点使激光增强表面等离激元探测器具有高达84000的强度探测品质因子,比传统的表面等离激元探测器的强度探测的品质因子高400倍左右。”马仁敏说,“同时,因为使用了微腔效应,整个激光增强表面等离激元探测器的尺寸仅为微米量级,在一根头发丝的端面上即可制备数以千计的探测器,具有低成本、小型化、规模化集成的优点。”  该工作目前已被领域内的知名期刊Nanophotonics接收发表,北京大学博士后王兴远,博士生王逸伦和王所为文章共同第一作者,马仁敏研究员和戴伦教授为通讯作者。同时他们也为该探测器申请了发明专利。
  • 张福根专栏|激光粒度仪应用导论之原理篇
    p style="text-indent: 2em "strong编者按:/strong如今激光粒度的应用越来越广泛,技术和市场屡有更迭,潮起潮落,物换星移,该如何全方位掌握激光粒度仪的技术和应用发展,如何更好地让激光粒度仪成为我们科研、检测工作中的好战友呢?仪器信息网有幸邀请在中国颗粒学会前理事长,真理光学首席科学家,从事激光粒度仪的研究和开发工作近30年的张福根博士亲自执笔开设专栏,以渊博而丰厚的系列文章,带读者走进激光粒度仪的今时今日。/pp style="text-indent: 2em text-align: center "strong激光粒度仪应用导论之原理篇/strong/pp style="text-indent: 2em "当前,激光粒度仪在颗粒表征中的应用已经非常广泛。测量对象涵盖三种形态的颗粒体系:固体粉末、悬浮液(包括固液、气液和液液等各类二相流体)以及液体雾滴。应用领域则包含了学术研究机构,技术开发部门和生产监控部门。第一台商品化仪器诞生至今已经50年,作者从事该方向的研究和开发也将近30年。尽管如此,由于被测对象——颗粒体系比较抽象,加上激光粒度仪从原理到技术都比较复杂,且自身还存在一些有待完善的问题,作者在为用户服务的过程中,感觉到对激光粒度仪的科学和技术问题作一个既通俗但又不失专业性的介绍,能够帮助读者更好地了解、选择和使用该产品。本系列文章的定位是通俗性的。但为了让部分希望对该技术有深入了解的读者获得更多、更深的有关知识,作者在本文的适当位置增加了“进阶知识”。只想通俗了解激光粒度仪的读者,可以略过这些内容。/pp style="text-indent: 2em "首先应当声明,这里所讲的激光粒度仪是指基于静态光散射原理的粒度测试设备。当前还有一种也是基于光散射原理的粒度仪,并且也是以激光为照明光源,但是称为动态光散射(Dynamic light scattering,简称DLS)粒度仪。前者是根据不同大小的颗粒产生的散射光的空间分布(认为这一分布不随时间变化)来计算颗粒大小,而后者是在一个固定的散射角上测量散射光随时间的变化规律来分析颗粒大小;前者适用于大约0.1微米以粗至数千微米颗粒的测量,而后者适用于1微米以细至1纳米(千分之一微米)颗粒的测量。激光粒度仪在英文中又称为基于激光衍射方法(Laser diffraction method)的粒度分析技术。/pp style="text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 176, 240) "【进阶知识1】严格地说,把激光粒度仪的原理说成是“衍射方法”是不准确,甚至带有误导性的。从物理上说,光的衍射和散射是有所区别的。“光的衍射”学说源自光的波动性已经被实验所证实,但是还没从理论上认识到光是一种电磁波这一时期,大约是19世纪上半叶。在更早的时候,人们认为光的行进路线是直线,就像一个不受外力作用的粒子作匀速直线运动那样。这一说法历史上被称为“光的粒子说”。后来人们发现光具有波动形。那个时候人们所知道的波只有水波,所以“衍”字是带水的。“光的衍射”描述的是光波在传播过程中遇到障碍物时,会改变原来的传播方向绕到障碍物后面的现象,故衍射又称做“绕射”。描述衍射现象的理论称为衍射理论。衍射理论在远场(即在远离障碍物的位置观察衍射)的近似表达称为“夫朗和费衍射(Fraunhofer diffraction)”。衍射理论不考虑光场与物质(障碍物)之间的相互作用,只是对这一现象的维像描述,所以是一种近似理论。它只适用于障碍物(“颗粒”就是一种障碍物)远大于光的波长(激光粒度仪所用的光源大多是红光,波长范围0.6至0.7微米),并且散射角的测量范围小于5° 的情形。/span/pp style="text-indent: 2em "麦克斯韦(Maxwell)在19世纪70年代提出电磁波理论后,发现光也是一种电磁波。光的衍射现象本质上是电磁场和障碍物的相互作用引起的。衍射理论是电磁波理论的近似表达。严谨的电磁波理论认为,光在行进中遇到障碍物,与之相互作用而改变了原来的行进方向。一般把这种现象称作光的散射。用电磁波理论能够描述任意大小的物体对光的散射,并且散射光的方向也是任意的。不论是早期还是现在,用激光粒度仪测量颗粒大小时,都假设颗粒是圆球形的。如果再假设颗粒是均匀、各向同性的,那么就能用严格的电磁波理论推导出散射光场的严格解析解(称为“米氏(Mie)散射理论”)。/pp style="text-indent: 2em "现在市面上的激光粒度仪绝大多数都采用Mie散射理论作为物理基础,因此把现在的激光粒度仪所用的物理原理说成是衍射方法是不准确的,甚至会被误认为是早期的建立在衍射理论基础上的仪器。/pp style="text-indent: 2em "世界上第一台商品化激光粒度仪是1968年设计出来的。尽管当时Mie理论已经被提出,但是受限于当时计算机的计算能力,还难以用它快速计算各种粒径颗粒的散射光场的数值。所以当时的激光粒度仪都是用Fraunhofer衍射理论计算散射光场,这也是这种原理被说成激光衍射法的缘由。这种称呼一直延用到现在。不过现在国际上用“光散射方法”这个词的已经逐渐多了起来。/pp style="text-indent: 0em text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201808/insimg/d07b19f0-4c57-4748-9d53-229c65c56d4e.jpg" title="图1:颗粒光散射示意图.jpg"//ppbr//pp style="text-indent: 0em text-align: center "颗粒光散射示意图/pp style="text-indent: 2em "激光粒度仪是基于这样一种现象:当一束单色的平行光(激光束)照射到一个微小的球形颗粒上时,会产生一个光斑。这个光斑是由一个位于中心的亮斑和围绕亮斑的一系列同心亮环组成的。这样的光斑被称为“爱里斑(Airy disk)”,而中心亮斑的尺寸是用亮斑的中心到第一个暗环(最暗点)的距离计算的,又称为爱里斑的半径。爱里斑的大小和光强度的分布随着颗粒尺寸的变化而变化。一种传统并被业界公认的说法是:颗粒越小,爱里斑越大。因此我们可以根据爱里斑的光强分布确定颗粒的尺寸。当然,在实际操作中,往往有成千上万个颗粒同时处在照明光束中。这时我们测到的散射光场是众多颗粒的散射光相干叠加的结果。/pp style="text-indent: 2em "strong 编者结:/strong明了内功心法,下一步自然会渴望于掌握武功招式。本文深入浅出地介绍激光粒度仪的原理,激光粒度仪的结构自然是读者们亟待汲取的“武功招式”。欲得真经,敬请期待张福根博士系列专栏——激光粒度仪应用导论之结构篇。/pp style="text-indent: 0em text-align: right "(作者:张福根)/p
  • 激光粒度原理及应用
    p  粒度仪是用物理的方法测试固体颗粒的大小和分布的一种仪器。根据测试原理的不同分为沉降式粒度仪、沉降天平、激光粒度仪、光学颗粒计数器、电阻式颗粒计数器、颗粒图像分析仪等。/pp  激光粒度仪是通过激光散射的方法来测量悬浮液,乳液和粉末样品颗粒分布的多用途仪器。具有测试范围宽、测试速度快、结果准确可靠、重复性好、操作简便等突出特点,是集激光技术、计算机技术、光电子技术于一体的新一代粒度测试仪器。/pp  strong激光粒度仪的光学结构/strong/pp  激光粒度仪的光路由发射、接受和测量窗口等三部分组成。发射部分由光源和光束处理器件组成,主要是为仪器提供单色的平行光作为照明光。接收器是仪器光学结构的关键。测量窗口主要是让被测样品在完全分散的悬浮状态下通过测量区,以便仪器获得样品的粒度信息。/pp  strong激光粒度仪的原理/strong/pp  激光粒度仪是根据颗粒能使激光产生散射这一物理现象测试粒度分布的。由于激光具有很好的单色性和极强的方向性,所以在没有阻碍的无限空间中激光将会照射到无穷远的地方,并且在传播过程中很少有发散的现象。/pp  米氏散射理论表明,当光束遇到颗粒阻挡时,一部分光将发生散射现象,散射光的传播方向将与主光束的传播方向形成一个夹角θ,θ角的大小与颗粒的大小有关,颗粒越大,产生的散射光的θ角就越小 颗粒越小,产生的散射光的θ角就越大。即小角度(θ)的散射光是有大颗粒引起的 大角度(θ1)的散射光是由小颗粒引起的。进一步研究表明,散射光的强度代表该粒径颗粒的数量。这样,测量不同角度上的散射光的强度,就可以得到样品的粒度分布了。/pp  为了测量不同角度上的散射光的光强,需要运用光学手段对散射光进行处理。在光束中的适当的位置上放置一个富氏透镜,在该富氏透镜的后焦平面上放置一组多元光电探测器,不同角度的散射光通过富氏透镜照射到多元光电探测器上时,光信号将被转换成电信号并传输到电脑中,通过专用软件对这些信号进行数字信号处理,就会准确地得到粒度分布了。/pp  strong激光粒度仪测试对象/strong/pp  1.各种非金属粉:如重钙、轻钙、滑石粉、高岭土、石墨、硅灰石、水镁石、重晶石、云母粉、膨润土、硅藻土、黏土等。/pp  2.各种金属粉:如铝粉、锌粉、钼粉、钨粉、镁粉、铜粉以及稀土金属粉、合金粉等。/pp  3.其它粉体:如催化剂、水泥、磨料、医药、农药、食品、涂料、染料、荧光粉、河流泥沙、陶瓷原料、各种乳浊液。/pp  strong激光粒度仪的应用领域/strong/pp  1、高校材料/pp  2、化工等学院实验室/pp  3、大型企业实验室/pp  4、重点实验室/pp  5、研究机构/pp  文章来源:仪器论坛(http://bbs.instrument.com.cn/topic/5163115)/ppbr//p
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