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激光衍射测径仪原理

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激光衍射测径仪原理相关的仪器

  • 粉状原料的粒度分布对药物、化妆品、食品、充电电池和其他成品的性能有重大影响,是质量控制的重要指标。随着粒度测量的需求扩展到各个领域,岛津开发出了可以提供更加广泛的测量范围,并可方便、高效的进行精密测定的粒度仪,其粒径测量范围可达17纳米到2500微米。并且,通过对光路和检测器的优化,灵敏度提高了10倍,因此能够轻松应对浓度在0.1ppm到200000ppm之间的样品。 此外,SALD-2300还采用了单一高能半导体光源设计,在测定过程中无需切换光源,因此其最短测量间隔仅为1秒,并可连续进行测定,从而可快速对粒子发生的团聚或分散过程进行实时监测,确认样品的状态变化。该光源能量更高,可测定对光吸收严重的粒子,同时具有开机预热时间短,寿命更长的优点。 全新配备的Wing SALDII系列软件着重解决了激光粒度折射率选择的难题,独家配备了自动选择折射率功能。以往,人们都是使用文献中给出的折射率数据,但是折射率会受到粒子粒径和形状的影响,因此这种方法并不可靠。岛津公司在世界上首次在软件中开发了基于LDR原理(光强分布再计算)的自动折射率选择功能,能够根据样品所得粒度数据给出5种最佳推荐折射率,并给出置信度。测定范围: 0.017~2500um 测定模式: 湿式或干式特点主机(测定部)以单一测定原理、单一光学系统、单一光源连续的地覆盖了全部测定范围。忠实于ISO标准的单一测定原理、单一光学系统、单一光源覆盖了17nm(0.017&mu m)~2500&mu m的粒径范围,实现了连续的单宽量程。不会发生多个光源结果数据拼凑所造成的数据不连续、不匹配的现象。激光衍射方法符合国际标准 ISO 13320/JIS Z 8825-1SALD全线产品均符合激光衍射散射方法的国际标准ISO 13320 和 JIS Z 8825-1 。采用红色半导体激光采用波长680nm的红色半导体激光,光强度高,光源开机稳定所需时间短。能够正确地测定因光吸收而难以测定的黑粒子,对于少量粒子具有更高的灵敏度。采用高灵敏度传感器元件采用最高水准技术制造的79元件的前方散射光传感器,并配置侧面散射光传感器1个元件以及后方散射光传感器4个元件,共计84个元件的光传感器,准确地检测光强度分布模型,不漏掉微妙的变化,在宽广的粒径范围内,实现了高分辨率、高精度的粒度分布测定。超快的测定速度,可以1秒为间隔连续测定。能够以1秒为间隔实现样品的快速连续测定。可以用于监测和判断易于团聚的样品的团聚过程或其他不稳定粒子变化的过程,例如,监测抗原抗体反应过程。也可以用于判断样品是否已经均一分散。极高的光学系统的稳定性。采用全方向冲击吸收构造OSAF(Omini-directional Shock Absorption Frame),光学系统所有的要素都免受冲击、振动等的干扰,所以,几乎无需调整光轴。光源经过特殊设计,稳定性高,同时由于测定在1秒钟即可完成,即使异常情况下光源发生漂移,在超短测定时间内对粒度的影响可以忽略不计。样品池的操作简单。采用滑动式池架,池的更换、清洗很方便。具备激光安全机构如果打开测定室,那么,激光能够自动关闭。 多功能进样器内置供水泵、和超声分散系统使用内置供水泵的多功能进样器,可以使用市售的塑料容器等直接供水,解决了供水的麻烦。超声分散系统可辅助样品快速均匀分散。 耐有机溶剂性出色的循环管路多功能进样器SALD-MS23标准配备SUS及氟类材质的循环管路,可使用几乎所有的有机溶剂进行湿式流通测定。配备CPU在多功能进样器中,配备超声波振动器、搅拌机构、水位传感器和进行控制的CPU。因此,通过与计算机连接进行控制,可进行软件控制的自动进水、自动排水、自动搅拌、自动循环、自动清洗等步骤。 微量样品池配备搅拌板上下运动的搅拌机构为了抑制粒子的沉降,配备了搅拌板上下运动的搅拌机构。由此,可实现重现性良好的测定。配备方便样品投放的漏斗在池的开口部设置有四氟化乙烯树脂制漏斗。因此,可防止向池投放样品时样品撒落。可测定少量的样品。池容量约12cm3,可测定非常少量的样品。 软件 配备丰富多彩的功能的测定/数据处理软件WingSALDII软件具备自动计算折射率、统计处理、时间序列处理、三维图示等的丰富多彩的数据处理功能和出色的操作简便性。还可进行粒度数据拼接、不同机型数据转换、粒子混合模拟计算、薄膜散射角度评价等多种功能。粒度分布数据的实时显示最短1秒即可在画面上显示粒度分布图表。另外,粒度分布数据及光强度分布数据可实时显示,这样就可以准确地把握样品的活动及状态变化。 使用AI自动量程功能进行粒度分布计算AI自动量程功能是从检测出的衍射光/散射光的光强度分布数据,首先判断粒度分布范围,对于得到的范围,选择最适合的计算条件,精密地计算粒度分布的功能。因此,从尖锐的分布到宽的分布,都可以在没有事先预备的信息的状态下,准确地获得粒度分布形态。解决了折射率选择的难题:自动折射率选择功能使用激光衍射散射方法测定粒径,必须选择折射率。以往,人们都是使用文献中给出的折射率数据,但是折射率会受到粒子粒径和形状的影响,因此这种方法并不可靠。岛津公司在世界上首次在软件中开发了基于LDR原理(光强分布再计算)的自动折射率选择功能。该方法已经在多个会议发表,并定名为&ldquo 木下法&rdquo 。(备注:木下先生是日本岛津ADC的粒度担当,为表彰他在粒度分析应用方面所做的突出贡献,此方法以他的名字命名)实用的实时显示光强度分布和粒度分布数据功能通过粒度分布计算的方法的改进,最快约1秒在软件画面上表示粒度分布图。并且,可以实时表示粒度分布数据及光强度分布数据。从而可以实时监测样品的偶然变化和分散状态的偶然变化。内置自检功能,维护简便组合了强大的自检功能,可确认装置的动作状況,使维护简便。配备操作记录(operation log)功能采用操作记录(operation log)功能,使所有的测定数据都包括了装置的使用状況、池的汚染状态等详细的信息,因此,可以追溯到过去,验证测定数据的真实性。虽然在平常状态下不显示,但在所有的测定数据中作为文本文件附有电源ON的时刻、空白测定的时刻以及空白测定的数据,并且,这时的光轴位置等有关装置的操作、使用状态的数据。测定结果的多方面评估:标配多种分析应用方法散射角评估:给出强度分布与散射光角度的关系数据转换(模拟):使用其他仪器或者测定原理得到的结果,可以通过SALD系列产品的测定结果进行模拟而得。这使得SALD系列结果与常规测定技术所得结果相一致。混合物模拟功能:多种混合物以任意比例混合所得到的粒度分布结果可以通过软件模拟而得。这使得我们无需进行实际的混合实验,即可精确的获得混合比例以得到希望的粒度分布结果。数据合并:该功能使两个不同范围的数据在某一点合并起来,从而得到一个总的粒度分布结果。比如将SALD系列2000um以下的结果和通过筛分法得到的2000um以上的结果合并起来,得到一个宽范围的粒径分布结果,这在土木工程、防火和环境领域有着广泛的应用。测定功能和数据处理功能相链接,允许测定后快速数据比对和数据分析测定功能、数据处理功能和统计功能互相链接。测定、比对和分析可在同一操作下进行,适用于多大200个数据。测定结果在测定时是以叠加的形式显示,可以对数据进行快速分析。
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  • 1.双波长透镜双波长透镜组的主要功能为将两个不同波长的入射光聚焦到相同的焦点上,如下图所示,采用常规的硒化锌材料透镜,将CO2激光以及HeNe激光的聚焦点整合到一起。示意图:选型表:型号波长(nm)输入孔径 1/e2(mm)工作距离(mm)直径(mm)材料镀膜DW-201-A-Y-A10600, 6334~1212515ZnSe防反射多层膜DW-202-A-Y-A10600, 6334~122019ZnSe防反射多层膜 2.平顶光束整形衍射平顶光束整形元件用于将一个高斯入射光变为强度均匀的平顶光束,具有很锐利的边缘,可以是圆形或方形。主要的应用包括激光烧蚀、激光焊接、激光打孔、激光显示器、激光医学及激光医疗等。示意图:相关参数: 区域内光束能量 (1/e² )光斑均匀性工作距离(mm)输入光束直径(mm)波长(nm)整形后光斑尺寸 下限 75%± 0.5%250.826615 &mu m 上限 75~98%± 20%Infinity25 mm10600100× 100mm选型表:型号波长(nm)直径(mm)输出孔径1/e2(mm)工作距离(mm)像尺寸1/e2光斑形状材料TH-205-A-Y-A1060025.441001.5mmRoundZnSeTH-003-A-Y-A1060012.73.742.5300× 100 µ mLineZnSeTH-215-I-Y-A106425.46infinity1mRadRoundFused SilicaTH-013-I-Y-A106425.47infinity1× 1degreeSquareFused SilicaTH-016-K-Y-A98025.47infinity0.9× 0.9degSquareFused SilicaTH-033-X-Y-A80025.46200.293 mmRoundFused SilicaTH-032-Q-Y-A53225.410.92002 mm @FWHMRoundFused SilicaTH-036-Q-Y-A53225.43.599.5200× 200 µ mSquareFused SilicaTH-209-U-Y-A35525.49x6200100 µ mRoundFused SilicaTH-217-U-Y-A35512.72100100× 100 µ mSquareFused SilicaTH-044-V-Y-A33720849.39520 µ mRoundFused SilicaTH-051-W-Y-A26625.454215 µ mRoundFused Silica 3.衍射校正聚焦镜常规的平凸透镜会产生不同位置的入射光焦点不一的问题。采用衍射校正透镜,是在常规平凸透镜的平面端刻蚀像差校正的衍射微结构,从而达到整个入射光的焦点归一,提高激光效率。示意图: 普通聚焦镜 衍射矫正聚焦镜选型表(部分):型号波长(&mu m)有效焦距(英寸)直径(英寸) SE-1511 10.61.51.1 SE-2511 10.62.51.1 SE-2515 10.62.51.5
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  • D8 ADVANCE X射线衍射仪,采用创造性的达芬奇设计,通过TWIN-TWIN光路设计,成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换,而无需对光。通过TWIST TUBE技术,使用户可以在1分钟内完成从线光源应用(常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到点光源应用(织构、应力、微区)的切换,让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史!高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰(注意不是一个衍射峰)的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度,布鲁克AXS公司提供全球保证!先进的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍,不仅答复提高设备的使用效率, 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。技术指标: ●Theta/theta 立式测角仪 ●2Theta角度范围:-110~168°●角度精度:0.0001度 ●Cr/Co/Cu靶,标准尺寸光管 ●探测器:林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器 ●仪器尺寸:1868x1300x1135mm ●重量:770kg 主要功能●TWIN / TWIN 光路布鲁克获得专利的TWIN-TWIN光路设计极大地简化了D8 ADVANCE的操作,使之适用于多种应用和样品类型。为便于用户使用,该系统可在4种不同的光束几何之间进行自动切换。该系统无需人工干预,即可在Bragg-Brentano粉末衍射几何和不良形状的样品、涂层和薄膜的平行光束几何以及它们之间进行切换,且无需人工干预,是在环境下和非环境下对包括粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)在内的所有类型的样品进行分析的理想选择。●动态光束优化(DBO)布鲁克独有的DBO功能为X射线衍射的数据质量树立了全新的重要基准。马达驱动发散狭缝、防散射屏和可变探测器窗口的自动同步功能,可为您提供无与伦比的数据质量——尤其是在低2Θ角度时。除此之外,LYNXEYE全系列探测器均支持DBO:SSD160-2,LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。●LYNXEYE XE-TLYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探测器的旗舰产品。它是目前市面上一款可采集0D、1D和2D数据的能量色散探测器,适用于所有波长(从Cr到Ag),具有高计数率和好的角分辨率,是所有X射线衍射和散射应用的理想选择。LYNXEYE XE-T具有优于380 eV的能量分辨率,着实出色,是市面上性能好的的荧光过滤器探测器系统。借助它,您可在零强度损失下对由铜辐射激发的铁荧光进行100%过滤,而且无需金属滤波片,因此数据也不会存在伪影,如残余K?和吸收边。同样,也无需用到会消除强度的二级单色器。布鲁克提供独有的LYNXEYE XE-T探测器保证:交货时保证无坏道!应用:●物相定性分析●结晶度及非晶相含量分析●结构精修及解析●物相定量分析●点阵参数精确测量●无标样定量分析●微观应变分析●晶粒尺寸分析●原位分析●残余应力●低角度介孔材料测量●织构及ODF分析●薄膜掠入射●薄膜反射率测量●小角散射
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  • Thermo Scientific&trade ARL&trade EQUINOX Pro立式X 射线衍射仪,高精度、高效率、高可靠性Thermo Scientific ARL EQUINOX Pro 是一款采用θ/θBragg-Brentano光学的立式X射线衍射仪。这款仪器基于“整体最优”设计原则,凭借先进的软、硬件配置,实现仪器系统运行的整体优化,提升仪器分析的准确性、精确性、易用性和安全性。这款仪器能够出色地完成各类粉末晶体的衍射分析,广泛地应用于材料研发和产品质量控制的相关领域。新型电控测角系统:最新的小型化和分散化电机控制系统,可克服由于驱动电机失步或超步引起的位置误差,提高测角仪的整体控制精度和重复性先进光子探测技术:前沿PTPC(脉冲触发实时位置)计数技术,通过同步脉冲触发探测器的电子门控电路,将测角仪实际到达位置与探测器响应进行同步,实现探测器计数与测角仪位置的精确对应,将角度位置与信号采集精确控制在行业先进级别魔卡免维护设计:光路魔卡设计系统和机械误差动态补偿技术,通过整个光路系统上的组件、光源高低、倾角、狭缝架高低、探测器的魔卡设计,支持用户在切换光路和样品台后无需再次校正,直接使用仪器X射线衍射原理帮助生产过程更高效,降低生产成本精准监控原材料品质,确保产品质量高标准严格遵循流程和法规,助力研发效率再提升
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  • D8 VENTURE/QUEST—面向未来的单晶X射线衍射仪D8 VENTURE/QUEST是布鲁克公司推出的新款,功能强大的X射线单晶衍射仪。 一体化的设计, 配备目前世界上先进的光源以及PHOTON III MMPAD探测器,帮助您测试最富有挑战性的晶体,获得好的数据质量。 其主要特点为:● 同时适合小分子晶体学和蛋白质晶体学的研究需要,应用范围广。● 新一代的lus 3.0微焦斑光源,性能娘美微焦斑转靶,零维护,寿命超长。● 液态金属靶MetalJET,室内X射线光源, 强度远● 远高千微焦斑转靶,让您拥有个人的“同步辐射" ,解决最难的晶体学问 题, 比如GPCR膜蛋白的结构。● 采用四代光源XFEL探测器技术的PHOTON III MMPAD混合光子计数探测器,● 超大面积,超快速度, 零噪音, 单光子检测的灵敏度。● 双靶配置, 软件自动切换光源。 满足不同类型的研究需要。 元件自动识别, 智能化光路管理。● 新一代的APEX3/PROTEUM3软件, 功能强大, 智能化程度高, 轻松操控仪器, 获得好数据。● lus Diamond微焦斑光源, 零维护, 性能超越微焦斑转靶。
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  • NTT-AT的反射型衍射光束整形器采用直接冷却系统,非常适用于高功率激光。(传统光束整形器可能会因高功率激光器产生的热量而发生变形,最终导致光束整形后输出逐渐变形扭曲)经过光束整形之后,高斯光斑可变成任意光束形状。比如方形平顶、矩形平顶、圆形平顶、椭圆形平顶、线形、环形等光斑。产品特点:&bull 反射型衍射光束DOE&bull 最高功率可高达10 kW技术原理图光学显微镜下的DOE产品应用:&bull 激光加工(切割、烧蚀、钻孔、焊接、3D打印、激光打标、退火等)参数:
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  • Difrotec点衍射激光干涉仪-大口径(≥700mm)高精度(≤0.6nm RMS) 姓名:陈工(Jack)电话:(微信同号)邮箱: Difrotec点衍射激光干涉仪--大口径(≥700mm)、高精度(≤0.6nm RMS),不需要出口许可。Difrotec公司专注于高精度光学表面测绘领域产品的研发。拥有超过30年的激光干涉仪系统研发经验。上海昊量光电设备有限公司为Difrotec公司在国内的总代理商,为客户提供专业的技术咨询及商业服务! Difrotec公司开发、设计和制造了市场上首台商用点衍射激光干涉仪。该系统具备结构紧凑,用户界面友好,自动测量光学表面面形和光学系统透射波前质量等功能。Difrotec公司开发的点衍射干涉仪具有大口径(≥700mm),高精度(≤0.6nm RMS)等特点。我们是一家以客户需求为导向的公司,根据客户的需求集思广益,提供合适的解决方案。 Difrotec公司的点衍射激光干涉仪广泛应用于平面,球面,非球面等面型的检测。点衍射激光干涉仪产品特点:绝对测量精度(Peak-to-valley): ± 0.6 nm (λ/1000) 分辨率(Peak-to-valley): 0.05 nm (λ/12000)波前重复精度(RMS): 0.23 nm (λ/2800)Simple RMS repeatability: 0.06 nm (λ/10500)数值口径 NA: 0.55 (f# 0.91)数据采集: phase-shifting interferometry (PSI)大口径:Up tp 700mm不需要出口许可点衍射激光干涉仪测试案例:
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  • 贝克曼库尔特新一代LS 13 320 XR将激光衍射粒度分析提升到了一个更高的水平,升级版PIDS专利技术(专利号:4953978;5104221)、优化的132枚检测器,保证了仪器分辨率更高,结果更准确,再现性更好。您不仅可以测量粒径范围更宽的颗粒,而且可以更快地检测到颗粒粒径间极细微的差异。PIDS技术,真正实现10nm粒径测量;新型的干、湿进样模块,即插即用,满足不同的分析要求,灵活便利;直观的软件和触摸屏设计,大大简化了仪器的操作,仅需点击几次便可获得所需数据。LS 13 320 XR将为您带来测量的新体验!贝克曼库尔特激光衍射粒度分析仪LS 13 320 XR主要特点: - 优于ISO 13 320技术标准。 - 符合FDA的21 CFR Part 11标准。 - 检测器数量更多,高达132枚独立物理位置检测器,对应高达136个真实数据通道,能够清晰区分不同粒度等级间散射光强谱图差异,确保不缺漏丝毫信息,快速、准确的真实粒度测量。 - 专利设计的X型对数排布检测器阵列,可以准确记录散射光强信号,不管单峰、多峰,准确分析粒度分布。 - 全自动运算分析功能,多峰自动检测,无需事先猜测峰型,无需选择分析模型,提供客观的唯 一报告。 - 升级版PIDS技术提供创新的高分辨率纳米粒度分析功能,真正实现10nm下限峰值测量。 - PIDS技术不仅可以直接检测小至10 nm的颗粒,而且还可以直接检测纳米级的多峰分布。 - 纳米分析功能与微米分析功能合二为一,功能强大,真正10nm的测量可使其作为独立的高分辨率纳米粒度分析仪使用。 - 新一代固体激光光源,无需预热,7万小时以上开机使用寿命 。 - 并行式信号采集与传输,确保信号保持高信噪比、无时差、高通量。 - 多波长和偏振光分析技术令粒度分布在宽动态范围内的准确性分析获得高度保障。 - 多种自动化样品分散系统,'即插即用',数秒即可完成切换,高效便利。 - 新一代触摸屏设计ADAPT分析软件,操作更直观,无需操作经验,简单三步完成测量,直观醒目的导航轮,仅需一步实现数据显示与导出。 - ADAPT软件自动对测量结果标准绿色或红色,自动合格/不合格管理,实现直接质控。 - 软件配有强大的光学参数数据库,具有创新的Zero-Time即时光学模型系统,只需一秒即可建立新的光学模型,提供客观准确的分析报告。 - 仪器配有自检诊断功能,测试过程中随时显示测量情况。 贝克曼库尔特激光衍射粒度分析仪LS 13 320 XR技术参数: - 粒径范围:10纳米-3500微米 (峰值) - 主光路激光光源:光纤连接的固体激光器 - 检测器:132枚独立物理角度检测器 - 真实分析通道:136个 - 多波长测量:475nm、613nm、785nm及900nm - 光学理论模型:全程Mie理论;Fraunhofer理论 - 准确性误差:小于+/- 0.5% - 重现性误差:小于+/- 0.5% *本产品仅用于科研,不用于临床诊断。
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  • 产品信息  粒度分布在粉体物理性质中是最基本的特性之一,它不仅左右着粉体本身的性质和活动,而且也影响着以粉体为原料的制品的质量,是一个重要的物理性质。因此,在处理粉体时,粒度分布的测量就变得极其重要。   岛津激光衍射式粒度分布测量仪SALD-3101,可以在短时间内,通过简单的操作完成粒度分布的测定,并且分辨率高、精度高、重复性好。   另外,通过安装在Windows操作系统下的软件,可以实现统计处理、时间系统处理、实时监控、三维显示等多种的数据处理功能。  测定范围:0.05~3000um  测定模式:湿式或干式 特点(湿式循环型):主机(测量部) 使用单一光学系统无断点覆盖0.05-3000&mu m 粒径范围符合JIS规格的单一光源覆盖了0.05-3000&mu m的宽广的粒子径范围。因此在全程测量范围内,不存在粒度分布数据的不连贯和不匹配,实现完全无断点的宽广范围。 力求光学系统的稳定性采用全方位冲击吸收装置:OSAF(Omnidirectional Shock Absorption Frame)完全隔离光学系统,使其各个部件免受外来冲击和震动的干扰。因此几乎不需要对光轴进行调整。高分辨率的81元素光传感器传感器应用高水准的半导体制造技术制成。除76元素的前方散射光传感器(Wing传感器)外,附加1元素的侧方散射光传感器和4元素的后方散射光传感器。通过这81元素的光传感器可准确地捕捉光强度分布模式,从而对范围宽广的粒子径实现高分辨率高精度地粒度分布测量。样品池摘取简单采用推拉式样品池座,方便样品池的更换和清洗。使用寿命长且输出功率稳定的半导体激光源光源采用形状小寿命长的半导体激光。并且附加稳定输出回路,实现激光输出功率的稳定化。配备激光光束安全系统双重激光保护对策:测量室打开时,快门自动关闭及手动关闭激光光束。可测量密度不同的粒子混合物由于是通过粒子产生的衍射散射光的光强度分布模式求得粒度分布,因此与粒子或溶液的密度及溶液的粘性系数无直接关系。所以密度不同的粒子混合的样品也可以测量。多功能进样器内置供水泵多功能进样器内置供水泵,因此可使用市场上销售的塑料桶等直接供水。解决了供水繁琐的问题。 装载CPU多功能进样器配置了超音波分散机、搅拌器、水位传感器和控制这些装置的CPU。因此,通过电脑连接控制,可进行半自动测量。内置强劲的竖状泵进样器装载了5000 cm3/min的强劲的竖状泵,保证从数百微米到数毫米的粗大粒子/高密度粒子也能够很好的循环。 这是测量范围上限可达3000&mu m(3mm)的主要技术支持。优越的耐溶剂性流路材质使用四氟化乙烯、SUS304、SUS316、石英,因而具有优越的耐溶剂性。软件具有多种功能测量/数据处理的软件名为WingSALD的操作软件适用于Windows所有操作系统,并具有统计处理,时间系统处理,三维显示等多种数据处理功能,操作简便。 应用AI自动范围判断功能对粒度分布进行计算所谓AI自动范围判断功能是指,应用检测出的衍射光/散射光的光强度分布数据,先进行大致的粒度分布范围判断,再根据所得范围选择最适合的计算条件,进行精密的粒度分布计算。这样,即使事前无任何样品相关信息,也可准确地捕捉到从窄到宽的粒度分布形态。可进行与样品的折射率相对应的测量粒子径小于10&mu m时,粒子产生的散射光会受到其折射率的影响。为了进行正确地粒度分布计算,SALD-3101的标准配置中,有378种折射率(实数部和虚数部)可以选择。另外,利用以前测量后保存的衍射散射光光强度分布数据,改变折射率,可以对粒度分布进行再计算。附加自我诊断功能、保养容易编入了强大的自我诊断功能。可以检查装置的动作状况,使维护变得容易。装备操作日志(Operation Log)功能操作日志(Operation Log)功能,使所有的测量数据中包含了装置的使用状况、样品池的污染状况等细节信息,因此可以向前追溯,验证以往测量数据的正确性。通常状态下不显示,但电源打开时刻、空白测量完成时刻、空白测量数据及该时间下光轴的位置等这些与装置的操作和使用状态有关的数据都将被作为文本数据添加到所有的测量数据中。
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  • 产品信息  粒度分布在粉体物理性质中是最基本的特性之一,它不仅左右着粉体本身的性质和活动,而且也影响着以粉体为原料的制品的质量,是一个重要的物理性质。因此,在处理粉体时,粒度分布的测量就变得极其重要。  岛津激光衍射式粒度分布测量仪SALD-2201,可以在短时间内,通过简单的操作完成粒度分布的测量,且分辨率高、精度高、重复性好。  另外,通过安装在Windows操作系统下的软件,可以实现统计处理、时间系统处理、实时监控、三维显示等多种的数据处理功能。  测定范围: 0.03~1000um  测定模式: 湿式或干式 特点(湿式循环型):主机(测量部) 使用单一光学系统无断点覆盖0.03-1000&mu m 粒径范围符合JIS规格的单一光源覆盖了0.03-1000&mu m的宽广的粒子径范围。因此在全程测量范围内,不存在粒度分布数据的不连贯和不匹配,实现完全无断点的宽广范围。力求光学系统的稳定性采用全方位冲击吸收装置:OSAF(Omnidirectional Shock Absorption Frame)完全隔离光学系统,使其各个部件免受外来冲击和震动的干扰。因此几乎不需要对光轴进行调整。高分辨率的81元素光传感器传感器应用高水准的半导体制造技术制成。除76元素的前方散射光传感器(Wing传感器)外,附加1元素的侧方散射光传感器和4元素的后方散射光传感器。通过这81元素的光传感器可准确地捕捉光强度分布模式,从而对范围宽广的粒子径实现高分辨率高精度地粒度分布测量。样品池摘取简单采用推拉式样品池座,方便样品池的更换和清洗。使用寿命长且输出功率稳定的半导体激光源光源采用形状小寿命长的半导体激光。并且附加稳定输出回路,实现激光输出功率的稳定化。配备激光光束安全系统双重激光保护对策:测量室打开时,快门自动关闭及手动关闭激光光束。 多功能进样器内置供水泵多功能进样器内置供水泵,因此可使用市场上销售的塑料桶等直接供水。解决了供水繁琐的问题。装载CPU多功能进样器配置了超音波分散机、搅拌器、水位传感器和控制这些装置的CPU。因此,通过电脑连接控制,可进行半自动测量。 软件 具有多种功能测量/数据处理的软件名为WingSALD的操作软件适用于Windows所有操作系统,并具有统计处理,时间系统处理,三维显示等多种数据处理功能,操作简便。应用AI自动范围判断功能对粒度分布进行计算所谓AI自动范围判断功能是指,应用检测出的衍射光/散射光的光强度分布数据,先进行大致的粒度分布范围判断,再根据所得范围选择最适合的计算条件,进行精密的粒度分布计算。这样,即使事前无任何样品相关信息,也可准确地捕捉到从窄到宽的粒度分布形态。可进行与样品的折射率相对应的测量粒子径小于10&mu m时,粒子产生的散射光会受到其折射率的影响。为了进行正确地粒度分布计算,SALD-2101的标准配置中,有378种折射率(实数部和虚数部)可以选择。另外,利用以前测量后保存的衍射散射光光强度分布数据,改变折射率,可以对粒度分布进行再计算。附加自我诊断功能、保养容易编入了强大的自我诊断功能。可以检查装置的动作状况,使维护变得容易。装备操作日志(Operation Log)功能操作日志(Operation Log)功能,使所有的测量数据中包含了装置的使用状况、样品池的污染状况等细节信息,因此可以向前追溯,验证以往测量数据的正确性。通常状态下不显示,但电源打开时刻、空白测量完成时刻、空白测量数据及该时间下光轴的位置等这些与装置的操作和使用状态有关的数据都将被作为文本数据添加到所有的测量数据中。
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  • 产品信息  粒度分布在粉体物理性质中是最基本的特性之一,它不仅左右着粉体本身的性质和活动,而且也影响着以粉体为原料的制品的质量,是一个重要的物理性质。因此,在处理粉体时,粒度分布的测量就变得极其重要。   尤其是在前沿科学领域,诸如纳米技术、生命科学以及环境科学领域,粒径多在纳米数量级,对于仪器的检测下限要求很高。岛津激光衍射式粒度分布测量仪SALD-7101,可以在短时间内,通过简单的操作完成粒度分布的测定,并且分辨率高、精度高、重复性好。   另外,通过安装在Windows操作系统下的软件,可以实现统计处理、时间系统处理、实时监控、三维显示等多种的数据处理功能。  测定范围:0.010~300um。目前世界上所有激光粒度仪厂家产品中检测下限最低! 特点:主机(测量部)使用单一光学系统无断点覆盖0.010-300&mu m 粒径范围符合JIS规格的单一光源覆盖了0.010-300&mu m的宽广的粒子径范围。因此在全程测量范围内,不存在粒度分布数据的不连贯和不匹配,实现完全无断点的宽广范围。 采用紫色半导体激光由于采用了的紫色半导体激光,可测量的粒子范围可达数十纳米领域。另外,以往使用红色激光作为光源的粒度分布测量装置,由于光吸收导致的蓝色系粒子很难正确测量的问题,也迎刃而解。采用适应蓝紫色激光的高灵敏度受光元素光传感器应用最高水准的半导体制造技术制成。除76元素的前方散射光传感器(Wing传感器)外,附加1元素的侧方散射光传感器和4元素的后方散射光传感器。通过这81元素的光传感器可以准确地捕捉光强度分布模式,从而对范围宽广的粒子径实现高分辨率高精度地粒度分布测量。全部这些元素,均采用了最新工艺制造的、适应蓝紫色激光的高灵敏度受光元素。采用SLIT光学系统,用单一检出面可连续捕捉最大达60度宽角度前方散射光采用了SLIT(Scattered Light Intensity Trace,散射光强度追踪)光学系统。以往的SALD系列或其他公司的制品,可连续检出前方散射光的范围最大只可到35度左右。SALD-7101采用了基于高度散射光强度追踪技术的SLIT光学系统,打破了一般常识,可用单一检出面连续捕捉最大达60度宽角度的前方散射光,实现了微粒子领域的高分辨率。能够连续测定反应过程中粒子的粒度大小和分布的变化,时间间隔最短可以做到1s市场上其他的产品都需要至少10s以上。适用于超微粒子的湿法测量专用机是适合于涂料、颜料,食品,饮料,医药品,化妆品,乳剂,精制陶瓷等微粒子、超微粒子测量的湿法专用机。力求光学系统的稳定性采用全方位冲击吸收装置:OSAF(Omnidirectional Shock Absorption Frame)完全隔离光学系统,使其各个部件免受外来冲击和震动的干扰。因此几乎不需要对光轴进行调整。样品池摘取简单采用推拉式样品池座,方便样品池的更换和清洗。使用寿命长且输出功率稳定的半导体激光源光源采用形状小寿命长的半导体激光。并且附加稳定输出回路,实现激光输出功率的稳定化。配备激光光束安全系统双重激光保护对策:测量室打开时,快门自动关闭及手动关闭激光光束。多功能进样器内置供水泵多功能进样器内置供水泵,因此可使用市场上销售的塑料桶等直接供水。解决了供水繁琐的问题。 装载CPU多功能进样器配置了超音波分散机、搅拌器、水位传感器和控制这些装置的CPU。因此,通过电脑连接控制,可进行半自动测量。软件具有多种功能测量/数据处理的软件名为WingSALD的操作软件适用于Windows所有操作系统,并具有统计处理,时间系统处理,三维显示等多种数据处理功能,操作简便。多种统计方法:数目、体积、表面积和长度。 应用AI自动范围判断功能对粒度分布进行计算所谓AI自动范围判断功能是指,应用检测出的衍射光/散射光的光强度分布数据,先进行大致的粒度分布范围判断,再根据所得范围选择最适合的计算条件,进行精密的粒度分布计算。这样,即使事前无任何样品相关信息,也可准确地捕捉到从窄到宽的粒度分布形态。附加自我诊断功能、保养容易编入了强大的自我诊断功能。可以检查装置的动作状况,使维护变得容易。装备操作日志(Operation Log)功能操作日志(Operation Log)功能,使所有的测量数据中包含了装置的使用状况、样品池的污染状况等细节信息,因此可以向前追溯,验证以往测量数据的正确性。通常状态下不显示,但电源打开时刻、空白测量完成时刻、空白测量数据及该时间下光轴的位置等这些与装置的操作和使用状态有关的数据都将被作为文本数据添加到所有的测量数据中。
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  • 多功能光栅光谱仪实验装置,YTR-6308简介YTR-6308多功能光栅光谱仪是一款以光栅作为分光元件的光谱仪,其基本原理是当不同波长的光束以相同的入射角入射到光栅上时,不同波长的光束同一级衍射的主极大位置不同,从而达到分光的目的。其优点是具有较宽的光谱测量范围和较高的分辨率,综合性能突出,是目前使用最为广泛的光谱仪器。该光栅光谱仪专为物理实验教学开采用开放式的结构设计,学生可以直观的观看光谱仪的内部光路和结构。同时采用了光电倍增管和线阵式CCD作为光电传感器,既可以获得高分辨率光谱,也可以快速获得宽光谱。使学生更加充分理解和掌握光谱仪的工作原理。该仪器可以很好的使用在氢氘光谱实验,钠原子光谱等实验。特点对称式C-T光路结构,采用可视化的结构设计,帮助学生理解和掌握光谱仪结构组成和工作原理双光路设计,分别使用高品质光电倍增管和线阵CCD作为光电探测器,使得学生更能深入的理解和掌握探测器的性能和实验仪器优缺点和用途专业的光谱分析实验软件,包含:光谱测量、透过率测量、反射率测量、吸光度测量和色度学测量等多种实验模块(有些实验模块需要另配附件)实验内容热辐射光源光谱测定波长准确性的测定和修正氢原子光谱测定及里德堡常量测量吸收光谱的测量CCD测量的波长定标颜色测透过率测量吸光度测量浓度测量透镜焦距测量实验,YGP-6212简介YGP-6212透镜焦距测量实验学习的知识点有几何光学基本定律、透镜成像、显微镜、望远镜。几何光学是光学的重要分支之一,它的应用十分广泛,尤其是在设计光学仪器的光学系统等方面显得十分方便和实用。透镜作为光学仪器的基本元件,可以组建各种光学系统,在成像系统、图像摄取、遥感等领域中已经得到广泛应用。光学显微镜是一种常见的助视光学仪器,它对推动科技进步,尤其是生物学和医学,起到了重要作用;望远镜是另一种常见的助视光学仪器,它对天文学及物理学的发展起到了重要的推动作用。本实验装置可完成《理工科类大学物理实验课程教学基本要求(2023版)》中透镜焦距测量实验的基础内容、提升内容、进阶内容以及高阶内容。特点器材丰富,可以组建各种光学系统;实验内容满足分层次教学要求;通过配置COMS相机及相应的软件,使实验既有鲜明的数字化特点,又保留了手动读数的特色实验内容a)基础内容用自准直法、位移法测量凸透镜焦距;物像距法测量凹透镜焦距。b)提升内容自准直法测量凹透镜焦距;光学成像系统共轴的粗、细调节;透镜成像的景深、成像位置判断与视差消除。c)进阶内容用薄透镜自组显微镜和望远镜;探究常用显微镜结构和性能参数。d)高阶内容观测凸透镜的球差和色差;观测显微成像系统的像散。光的干涉和衍射实验,YGP-6213简介光的干涉和衍射现象是波动光学的重要内容。光干涉现象曾经是奠定光波动性的基石,在波动光学中有重要的意义。而光衍射现象,则是光束传播中,几何光学无法解释的现象,是光波动性的主要标志之一。研究光的干涉和衍射不仅有助于进一步加深对光的波动性的理解,同时还有助于进一步学习近代光学实验技术,如光谱分析、晶体结构分析、全息照相、光信息处理等。本实验同时用单缝、多缝、圆孔、方孔等进行实验,能够明显地展现出衍射、干涉的特征,并利用光强分布探测器测量光强的相对分布,实时给出光强与位置的关系曲线,以及用面阵相机研究衍射图像的两维光强分布情况,实现实验的数字化。特点采用光强分布探测器,无需扫描结构,实时测量光强一位置的分布曲线,响应时间最快可达毫秒级。利用光强分布探测器可以精确测量8级以上衍射条纹,位置测量精度可达0.01mm。利用面阵相机可以研究衍射图像的两维光强分布情况。一体化狭缝组设计,切换方便,易于实验。实验内容a) 基础内容 研究激光通过双缝后形成的干涉图案,测量双缝形成的干涉光强分布,说明干涉条纹的极大值位置与理论预见的一致性。 研究激光经过单缝后形成的衍射图案,测量单缝形成的衍射光强分布,说明衍射条纹的极小位置与理论预见的一致。b) 提升内容 研究激光通过多缝后形成的干涉图案,理解多缝衍射与多光束干涉的原理。c) 进阶内容 观察激光经过圆孔和方孔后的衍射现象,利用面阵相机研究衍射图像的两维光强分布情况。d) 高阶内容 利用COMS相机研究激光经过多孔后形成的衍射图案,利用COMS相机研究衍射图像的两维光强的分布情况光的偏振实验,YGP-6214简介光的偏振现象是波动光学的重要内容。利用这种现象研制的各种光学元件和仪器,在探测物质结构、激光与光电子技术领域有着极其重要和广泛的应用。YGP-6214光的偏振实验装置主要包含:光传感器、转动传感器、激光光源、精密调节架、升降调节架、连接杆、托板和观察屏组成。该实验装置利用先进的传感器技术和智能软件,可以实现连续的数据采集和实时绘制实验数据曲线,极大的提升了实验效率,使学生将更多的精力用于实验本身的原理学习、数据分析和结果讨论上,更加能够透彻的学习、理解和掌握实验。特点无线光传感器,USB2.0和蓝牙通讯,3档可调,适用于不同强度光源的测量。无线转动传感器,USB2.0和蓝牙通讯,角分辨率0.18°。安全的激光光源。数字实验室分析软件,编辑性强,通用程度高。实验内容理解和掌握偏振片的基本原理,使用方法。理解和掌握激光器的偏振特性。通过研究和验证马吕斯定律,掌握光的起偏和检偏原理和方法。研究3片偏振片光强与偏振片角度的关系曲线,进一步掌握光的偏振特性。等厚干涉实验(含牛顿环实验),YGP-6215简介YGP-6215等厚干涉实验(含牛顿环实验)学习的知识点有牛顿环、等厚干涉、光程差、曲率半径。牛顿环和空气劈尖的等厚干涉原理在生产实践中具有广泛的应用,它可以用于检测透镜的曲率,测量光波的波长,精确的测量微小长度、厚度和角度,检验物体表面的光洁度、平整度等。本实验装置可完成《理工科类大学物理实验课程教学基本要求(2023版)》中牛顿环实验的基础内容、提升内容、进阶内容以及高阶内容。特点开放的构架,可以让学生看到所用镜片的类型和位置。可以让学生练习搭建各种光学系统。配套有测微目镜与CMOS相机两种读数方式,即实现实验数字化的同时,保留了传统手动读数的方式。多种光源,更多的分立器件,便于师生开展各种探索研究,比如:同时观察透射和反射的牛顿环,波长测量等实验内容a)基础内容测定平凸球面透镜的球面半径。b)提升内容用劈尖干涉测量细丝直径。c)进阶内容测定平凹球面透镜的球面半径。d)高阶内容用透射和反射两种方法观察牛顿环,并测量绿光、紫光、黄光的波长。更多精彩,请关注下方!的P-tP
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  • 贝克曼库尔特LS 13 320 XR 激光衍射粒度分析仪 贝克曼库尔特新一代LS 13 320 XR将激光衍射粒度分析提升到了一个更高的水平,升级版PIDS专利技术(专利号:4953978;5104221)、优化的132枚检测器,保证了仪器分辨率更高,结果更准确,再现性更好。基本概述贝克曼库尔特新一代LS 13 320 XR将激光衍射粒度分析提升到了一个更高的水平,升级版PIDS专利技术(专利号:4953978;5104221)、优化的132枚检测器,保证了仪器分辨率更高,结果更准确,再现性更好。您不仅可以测量粒径范围更宽的颗粒,而且可以更快地检测到颗粒粒径间极细微的差异。PIDS技术,真正实现10nm粒径测量;新型的干、湿进样模块,“即插即用”,满足不同的分析要求,灵活便利;直观的软件和触摸屏设计,大大简化了仪器的操作,仅需点击几次便可获得所需数据。LS 13 320 XR将为您带来测量的新体验! 主要特点贝克曼库尔特激光衍射粒度分析仪LS 13 320 XR主要特点优于ISO 13 320技术标准符合FDA的21 CFR Part 11标准检测器数量更多,高达132枚独立物理位置检测器,对应高达136个真实数据通道,能够清晰区分不同粒度等级间散射光强谱图差异,确保不缺漏丝毫信息,快速、准确的真实粒度测量。专利设计的“X”型对数排布检测器阵列,可以准确记录散射光强信号,不管单峰、多峰,准确分析粒度分布。全自动运算分析功能,多峰自动检测,无需事先猜测峰型,无需选择分析模型,提供客观的报告。升级版PIDS技术提供创新的高分辨率纳米粒度分析功能,真正实现10nm下限峰值测量。PIDS技术不仅可以直接检测小至10 nm的颗粒,而且还可以直接检测纳米级的多峰分布。纳米分析功能与微米分析功能合二为一,功能强大,真正10nm的测量可使其作为独立的高分辨率纳米粒度分析仪使用。新一代固体激光光源,无需预热,7万小时以上开机使用寿命 。并行式信号采集与传输,确保信号保持高信噪比、无时差、高通量。多波长和偏振光分析技术令粒度分布在宽动态范围内的准确性分析获得高度保障。多种自动化样品分散系统,“即插即用”,数秒即可完成切换,高效便利。新一代触摸屏设计ADAPT分析软件,操作更直观,无需操作经验,简单三步完成测量,直观醒目的导航轮,仅需一步实现数据显示与导出。ADAPT软件自动对测量结果标准绿色或红色,自动合格/不合格管理,实现直接质控。软件配有强大的光学参数数据库,具有创新的“Zero-Time”即时光学模型系统,只需一秒即可建立新的光学模型,提供客观准确的分析报告。仪器配有自检诊断功能,测试过程中随时显示测量情况。技术参数贝克曼库尔特激光衍射粒度分析仪LS 13 320 XR技术参数:粒径范围:10纳米-3500微米 (峰值)主光路激光光源:光纤连接的固体激光器检测器:132枚独立物理角度检测器真实分析通道:136个多波长测量:475nm、613nm、785nm及900nm光学理论模型:全程Mie理论;Fraunhofer理论准确性误差:小于+/- 0.5%重现性误差:小于+/- 0.5%* 本产品仅用于科研,不用于临床诊断。
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  • 产品信息  粒度分布在粉体物理性质中是最基本的特性之一,它不仅左右着粉体本身的性质和活动,而且也影响着以粉体为原料的制品的质量,是一个重要的物理性质。因此,在处理粉体时,粒度分布的测量就变得极其重要。   岛津激光衍射式粒度分布测量仪SALD-201V,可以在短时间内,通过简单的操作完成粒度分布测定,且分辨率高、精度高、重复性好。该装置从实际粒度分布测量所需的功能和性能中,严格筛选使用频率高的,彻底精简,打破了以往的常识,实现了高性能价格比。   另外,标准配置了适用于Windows2000/XP操作系统的软件,不仅可以显示和打印数据,改变折射率进行再计算,还可以实现统计处理、时间系统处理、三维显示等多种复杂的数据处理功能。Model 1 测定范围:0.25~50um 测定方式:批式池Model 2 测定范围:0.25~350um 测定方式:批式池+循环池 主机特点高性能、低价格、外形小紧凑的主体凝聚了高性能。实现了高性能价格比。由于采用了新开发的竖型光学系统,放置面积仅为950 (Model 1)/1820(Model 2)cm2左右。竖型光学系统为岛津制作所的专利。 适用于食品、饮料、医药品、化妆品、乳剂等比重较轻样品测量的湿法专用机 使用符合ISO和JIS规格的单一光源、单一光学系统,覆盖0.25-50/350&mu m 粒子径范围使用符合ISO和JIS规格的单一光源、单一光学系统,覆盖0.25-50/350&mu m 粒径范围。实现无断点的单一宽量程。不会产生因复数光学系统组合或复数数据连接所造成的数据的不连贯和不匹配现象,得到正确的粒度分布测量结果。 高分辨率的54元素光传感器传感器采用高分辨率的环形传感器(54元素)。可正确地并且高分辨率地检测出衍射散射光的光强度分布模式,连微妙的粒度分布变化也不会漏过。 应用AI自动范围判断功能对粒度分布进行计算所谓AI自动范围判断功能是指,应用环形传感器检测出的衍射/散射光的光强度分布数据,先自动进行大致的粒度分布范围判断,再根据所得范围选择最适合的计算条件,进行精密的粒度分布计算。这样,无论窄的分布(累积计算粒度分布图的倾角陡)还是宽的分布(累积计算粒度分布图的倾角平缓)即使事前无任何样品相关信息,都可以准确地进行粒度分布测量。 可进行与样品的折射率相对应的测量标准配置了378种折射率(由实数部和虚数部组成),测量者可以根据样品自由选择。另外,对于保存在硬盘或软盘等外部存储装置中的以前数据,改变测量时的折射率,可对粒度分布进行再计算。还可一次性改变最多12组数据的折射率。 标准配备了丰富的数据处理功能名为WingSALD的操作软件适用于Windows所有操作系统,并具有统计处理,时间系统处理,三维显示等多种数据处理功能,操作简便。 使用寿命长、输出功率稳定的半导体激光源光源采用形状小寿命长(连续20万小时以上)的半导体激光。附加稳定输出回路,激光输出在打开电源后仅2、3分钟就可稳定。 附加自我诊断功能、易于保养标准配备的软件编入了强大的自我诊断功能。由于可详细检查装置的动作状况,使维护变得容易。 配备激光光束安全系统测量室打开时,激光光束自动关闭。 保证光学系统稳定的结构重量轻且无发热影响的半导体激光作为光源,保证了光学系统状态的稳定。采用全方位冲击吸收装置:OSAF(Omnidirectional Shock Absorption Frame)使光学系统的所有重要部件,免受外来的冲击和震动等的干扰。 为提高测量数据的可靠性,装备操作日志(Operation Log)功能操作日志(Operation Log)功能,使所有的测量数据中附加了包含装置的使用状况、样品池的污染状况等细节信息,通过核查操作日志,可以验证以往测量数据的可靠性和正确性。
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  • X射线衍射弯晶 400-860-5168转3524
    弯晶产品系列1、弯晶概述北京泰坤工业设备有限公司开发各类型X射线衍射弯晶。提供多种材料的弯晶制备, 如石墨、氟化锂晶体系列、锗和硅等;同时致力于开发多种 结构的弯晶构型,包括约翰型、约翰森、对数螺线、椭球和 Von Hamos等。弯晶广泛应用于单色X射线荧光激发、同时多道型波长色 散X射线荧光光谱仪、双弯晶X射线荧光测量、以及弯晶谱 仪和中子衍射等领域。北京泰坤的服务范围涵盖了弯晶的设计、制作和测试, 并提供一站式的弯晶套装解决方案。2、工作原理弯晶的设计原理基于布拉格衍射定律,即当入射X射线与晶体晶格相互作用时,会发生衍射现象。通过合理选择材料和弯晶的形状,能够精确控制X射线的衍射效应,从而实现X射线的单色反射聚焦。由 于X射线对所有物质的折射率接近为1,衍射是极少数能改变X射线传播方向的方案之一,使得弯晶成为 重要的X射线光学器件。双曲结构的弯晶还可以实现单色X射线的点对点聚焦。 3、弯晶材料北京泰坤进行了大量的对比测试,对各种弯晶材料进行了全面的研究,总结出相应的的性能特点,可以为客户提供优化设计的支持。弯晶石墨LiF200、LiF220及LiF420Ge(111)Si(111)反射率++++++-稳定性++++++++导热性+++++++4、弯晶构型北京泰坤可以提供多种构型的弯晶,并对各种弯晶构型做了详细测试,综合出各构型差异。还可承接椭球和Von Hamos等构型弯晶的设计、制作与集成业务。5、行业应用1.弯晶是X射线荧光光谱(XRF)分析的重要发展方向。北京泰坤生产的弯晶可用于Cr靶、Rh靶、Ag靶以及Ce靶光管的单色特征X射线点对点聚焦。通过弯晶的应用,XRF能够在激发端有效降低荧光背景,检出限相比传统能谱方案降低一个数量级,如硫的检出限可达到1ppm以下,符合ASTM D7220标准。2.发射端采用弯晶单色聚焦,部分重元素的检出限降低至0.04ppm水平。 3.当激发和发射端同时采用弯晶时,检出限相比传统能谱测量方案可降低1-2个数量级,测硫方案符合ASTM 7039标准;部分元素的检出限可达到ICP-OES检测水准。4.弯晶在同步辐射光源、加速器和重离子检测等领域的X射线精细光谱分析中具有重要应用价值,还可以应用于中子衍射领域。5.北京泰坤提供完整的弯晶套件服务,将设计、制作和调试打包成一体,为客户提供一站式的解决方案。客户只需提供光管和探测器,即可开始工作。我们致力于为客户提供高质量的服务和支持,保证客户能够充分利用弯晶技术的优势。
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  • 晶圆级衍射光波导光学检测系统皮米级周期计量 / 快速无损 / 形貌量测 Metrondie-SRG 晶圆级衍射光波导光学检测系统 是一款专为晶圆级光波导样品提供的专业光学检测系统,采用先进的角分辨光谱技术,配合强大的 AI 算法以及可溯源的标准物质,能够快速、准确获取一维、二维光栅的衍射效率及其形貌参数,为用户在衍射光栅的设计与加工过程中提供快速、无损的监控手段,不断提高产品生产良率。 Metrondie-SRG 晶圆级衍射光波导光学检测系统 典型应用领域: 光栅衍射效率测量 衍射效率是评价光栅性能的核心指标,需要系统具有同时测量角度和波长的能力。 光栅周期计量 周期作为衍射光波导的基本参数,影响着光在波导内部正确的传输与衍射,可溯源的方法是周期计量中的关键所在,需要具有复现和量值传递作用的标准物质作参考。 光栅形貌量测 高性能衍射光波导具有较为复杂的光栅形貌,对形貌无损快速的检测是晶圆批量制程中的核心诉求,需要系统具备多维度光学信号抓取能力并支持人工智能算法高效分析。 光栅取向测量 光波导中不同区域光栅的取向差异对成像至关重要,需要系统支持旋转角精确调节。 Metrondie-SRG 晶圆级衍射光波导光学检测系统 在以上领域的应用得益于如下几个特点: 1 角分辨光谱技术 得益于 -70°~70° 的广角量程与优于 0.02° 的角度精度,可准确捕捉 多级次 衍射强度随波长和角度的精确分布; 2 晶圆级测量 采用高兼容性样品台,有效覆盖 4~12 寸 晶圆的全面检测需求。同时,结合智能化软件,支持晶圆版图输入,实现了对衍射光波导晶圆的批量 mapping 检测; 3 人工智能算法 引入在线优化、深度学习和库搜索等前沿算法,将物理模型与多维光谱信息紧密融合,可实现 海量模型 的构建与优化,实时获取衍射光波导光栅的精确形貌参数; 4 高精度电动位移台 选用高精度 四轴电动 位移台,可实现 X, Y, Z 轴 微米级 空间定位精度,平面取向 θ 角 弧秒级 角度定位精度,支持衍射光波导全方位自动检测。Metrondie-SRG 光学量测示意图
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  • 劳厄晶体衍射仪 400-860-5168转2623
    劳厄晶体衍射仪产品概述:MWL120实时反射劳厄相机系统用来测定单晶的取向(反射和透射)、单晶的完整性、测量晶体的对称性、观察晶体的一般缺陷、拍摄板材棒材的结构相、精确测定点阵常数、测定残余应力等。 原理:由X射线管产生的X射线从相机的入射光阑射入,照射在被分析样品上,在满足布拉格公式:nλ=2dSinθ条件下,产生X射线衍射图像,这些图像记录在感光片上,然后对这些图像进行计算分析,可以了解物质内部结构。 本产品所具有的特点1 有效检测范围大:30cm×30cm2 灵敏度高:单光3 角灵敏度高:0.054 探测速度快:几秒钟即可根据角的偏差自动收集分析并在电脑上形成劳厄图像5 维护成本低:半年更换一次气体,一年更换一次冷却剂即可(价格较低廉)6 样品可旋转:探测器转过程中同时转动样品,可以得到对称性高的图像
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  • 产品信息  粒度分布在粉体物理性质中是最基本的特性之一,它不仅左右着粉体本身的性质和活动,而且也影响着以粉体为原料的制品的质量,是一个重要的物理性质。因此,在处理粉体时,粒度分布的测量就变得极其重要。   岛津激光衍射式粒度分布测量仪SALD-301V,是世界上第一个采用蓝紫色半导体激光(Violet Laser:波长405nm)、可在短时间内、通过简单的操作完成粒度分布测量的装置,且分辨率高、精度高、重复性好。由于采用了蓝紫色半导体激光,解决了以往使用红色激光作为光源的粒度分布测量装置,因光吸收导致的蓝色系粒子很难正确测量的问题。   本装置从实际的粒度分布测量必要的功能和性能中,严格筛选使用频率高的,通过彻底的精简,打破了以往的常识,实现了高性能价格比。   标准配置了适用于Windows2000/XP操作系统的软件,不仅可以显示和打印数据,改变折射率进行再计算,还可以实现统计处理、时间系统处理、三维显示等多种复杂的数据处理功能。测定范围:Model-1:0.1~50um样品池:间歇池专用Model-1:0.1~350um样品池:间歇池/流通池兼用 主机特点世界上第一个采用蓝紫色半导体激光(波长405nm)作为光源的测量装置可对毫微米领域(0.1-1&mu m)的粒子进行高精度,高分辨率地测量。使用符合ISO和JIS规格的单一光源、单一光学系统,覆盖全部的粒径范围。实现了无断点的单一宽量程。不会产生因复数光学系统组合或复数数据连接所造成的数据的不连贯和不匹配现象,得到正确的粒度分布测量结果。 可准确地捕捉以往测量困难的蓝色毫微米粒子以往使用红色激光作为光源的粒度分布测量装置,由于光吸收导致的测量非常困难的蓝色系粒子也可正确地被测量。在颜料,涂料等领域,有非常理想的测定效果。 高性能,低价格,省空间竖型光学系统的采用,使放置面积仅为870 cm2左右(不含电脑部分)。竖型光学系统为岛津制作所的专利。 适用于涂料、颜料、食品、饮料、医药品、化妆品、乳剂等比重较轻样品测量的湿法专用机应用AI自动范围判断功能对粒度分布进行计算所谓AI自动范围判断功能是指,应用环形传感器检测出的衍射/散射光的光强度分布数据,先自动进行大致的粒度分布范围判断,再根据所得范围选择最适合的计算条件,进行精密的粒度分布计算。这样,无论窄的分布(累积计算粒度分布图的倾角陡)还是宽的分布(累积计算粒度分布图的倾角平缓),即使事前无任何样品相关信息,都可准确地进行粒度分布测量。 无需制作客户特殊软件名为WingSALD的操作软件适用于Windows所有操作系统,并具有统计处理,时间系统处理,三维显示等多种数据处理功能,操作简便。 附加自我诊断功能、提高了测量的可信性标准配备的软件编入了强大的自我诊断功能。由于可以详细检查装置的动作状况,使维护变得容易。 配备激光光束安全系统测量室打开时,激光光束自动关闭。 保证光学系统稳定的结构SALD-301V 使用了重量轻且无发热影响的半导体激光作为光源,保证了光学系统的状态的稳定,采用全方位冲击吸收装置:OSAF(Omnidirectional Shock Absorption Frame)完全隔离光学系统,使其各个部件免受外来的冲击和震动的干扰。无需频繁地调整光轴。为提高测量数据的可靠性,装备操作日志(Operation Log)功能操作日志(Operation Log)功能,使所有的测量数据中附加包含了装置的使用状况、样品池的污染状况等细节信息,通过核查操作日志,可验证以往测量数据的可靠性和正确性。
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  • 1.双波长透镜双波长透镜组的主要功能为将两个不同波长的入射光聚焦到相同的焦点上,如下图所示,采用常规的硒化锌材料透镜,将CO2激光以及HeNe激光的聚焦点整合到一起。示意图:选型表:型号波长(nm)输入孔径 1/e2(mm)工作距离(mm)直径(mm)材料镀膜DW-201-A-Y-A10600, 6334~1212515ZnSe防反射多层膜DW-202-A-Y-A10600, 6334~122019ZnSe防反射多层膜 2.平顶光束整形衍射平顶光束整形元件用于将一个高斯入射光变为强度均匀的平顶光束,具有很锐利的边缘,可以是圆形或方形。主要的应用包括激光烧蚀、激光焊接、激光打孔、激光显示器、激光医学及激光医疗等。示意图:相关参数: 区域内光束能量 (1/e² )光斑均匀性工作距离(mm)输入光束直径(mm)波长(nm)整形后光斑尺寸 下限 75%± 0.5%250.826615 &mu m 上限 75~98%± 20%Infinity25 mm10600100× 100mm选型表:型号波长(nm)直径(mm)输出孔径1/e2(mm)工作距离(mm)像尺寸1/e2光斑形状材料TH-205-A-Y-A1060025.441001.5mmRoundZnSeTH-003-A-Y-A1060012.73.742.5300× 100 µ mLineZnSeTH-215-I-Y-A106425.46infinity1mRadRoundFused SilicaTH-013-I-Y-A106425.47infinity1× 1degreeSquareFused SilicaTH-016-K-Y-A98025.47infinity0.9× 0.9degSquareFused SilicaTH-033-X-Y-A80025.46200.293 mmRoundFused SilicaTH-032-Q-Y-A53225.410.92002 mm @FWHMRoundFused SilicaTH-036-Q-Y-A53225.43.599.5200× 200 µ mSquareFused SilicaTH-209-U-Y-A35525.49x6200100 µ mRoundFused SilicaTH-217-U-Y-A35512.72100100× 100 µ mSquareFused SilicaTH-044-V-Y-A33720849.39520 µ mRoundFused SilicaTH-051-W-Y-A26625.454215 µ mRoundFused Silica 3.衍射校正聚焦镜常规的平凸透镜会产生不同位置的入射光焦点不一的问题。采用衍射校正透镜,是在常规平凸透镜的平面端刻蚀像差校正的衍射微结构,从而达到整个入射光的焦点归一,提高激光效率。示意图: 普通聚焦镜 衍射矫正聚焦镜选型表(部分):型号波长(&mu m)有效焦距(英寸)直径(英寸) SE-1511 10.61.51.1 SE-2511 10.62.51.1 SE-2515 10.62.51.5
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  • X射线衍射基本原理:当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关。土壤粘粒矿物是土壤中带电荷粒子之间进行相互作用的主体。研究表明,粘粒矿物的种类有十几种,主要类型有绿泥石、高岭石、伊利石、蒙脱石和伊/蒙混层矿物。粘粒矿物种类不同地区分布不同,其含量也在不同地区有很大差异,而各个储层在平面和纵向上相差很大。映SHINE便携式X射线衍射仪(土壤版)是浪声专为黏土矿物鉴定而研发的一款便携式X射线衍射设备,其可以基于不同的黏土矿物的晶体构造,快速鉴定出粘粒矿物具体种类以及其所占的百分含量,即便是细微粒状的矿物也能准确判定,具有制样简单、快捷、测量精度高等优点,是粘粒矿物鉴定的主要方法。使用优势便携式仪器采用防水防尘箱一体机设计,无任何机械移动部件,轻便小巧,方便携带,可自由进行实验室/野外现场科学研究。简便性仪器一键式操作,无需校正,自动检测。实时显示全谱衍射图,自动进行物相分析,一键生成定量结果。制样简单单次分析仅需要约20毫克的样品即可获得优质的检测结果并可以减小或避免择优取向问题。数据传输仪器通过USB, 蓝牙,WIFI与笔记本电脑实现高速连接,实时对映SHINE仪器进行控制及物相分析。二维X射线衍射仪仪器配备电荷耦合装置(CCD)探测器,可以采集衍射环的切片,以帮助用户了解是否正确制备了样品(粒子统计和/或晶粒的择优取向)。从而进一步帮助用户确认所获得的定性定量数据是否具有准确性和代表性。配置灵活根据用户具体应用的需要,为客户提供Cu/Co靶材两种不同的阳极靶材。应用场景 农业绿色发展 土壤污染治 理 环境指示研究 规格参数XRD分辨率0.2°@2θ FWHMXRD范围5-55°2θ探测器2000 X 256像素,2维3级Pelter制冷CCDX射线管靶材集束微焦斑X射线管,Cu 或 Co、Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、W 靶(可根据检测样品选配)X射线管电压50kV最大,0-50kV可调节X射线管功率40W最大,0-40W可调节XRF能量分辨率127eV@8keVXRF检测范围Mg(镁)—U(铀)样品颗粒大小样品颗粒150um (100目筛)散热方式水冷样品量约20mg工作温度 -10°C-35°C重量15KG电源锂离子电池或电源适配器尺寸500×400×188mm(L×W×H)CrystalX分析软件语言中文、英语等多国语言
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  • 苏州锂影+实验室桌面型二维掠入射X射线衍射同步辐射测试01同步辐射光源,由于强度高、亮度大、准直性好,广受科研工作者们的欢迎。我们国家现有多个同步辐射光源:北京同步辐射装置(BSRF,第一代光源)、合肥国家同步辐射国家实验室(NSRL,第二代光源)、上海光源(SSRF,第三代光源),还有马上投入运行的大连的深紫外以及上海软X射线自由电子激光装置(FEL,第四代光源),以及在建中的北京高能同步辐射、上海光源、合肥光源。另外,在台湾也有两台光源。但是,封校、避免人员流动等防疫措施的限制下,让2D-GIWAXS测试难上加难。别急,还有一个解决办法!锂影制造02锂影科技在丹东浩元DX2900衍射仪安全壳体的基础上装配了美国XOS公司的多毛细管微焦点光源、锂影科技的两轴薄膜样品台、瑞士Dectris公司的Pilatus100K二维阵列探测器,加上锂影科技开发的配套测试软件,组装得到实验室桌面型二维掠入射X射线衍射仪。同时,结合锂影科技在衍射仪配件定制开发方面的优势,为该款机型配备了多种测试模块,薄膜样品台、透射样品台、惰性气体保护台(手套箱内组装好保持惰性氛围测试)和原位气氛处理台(支持大多数溶剂)。测试界面 聚合物样品二维衍射图技术参数031. X射线发生器:铜靶或钼靶,功率50W(工作电压50KV、工作电流1mA)2.多毛细管:准直度0.25°,焦斑直径0.5mm,光强10^8ph/s3. 两轴薄膜样品台:Omega轴范围-10°~10°,精度0.002°;Z轴范围0-15mm,精度0.002mm4. 二维阵列探测器:487×195像素,每个像素大小172微米5.可以配备透射样品台、原位薄膜热台、原位溶剂气氛处理附件、气氛保护附件等6.薄膜样品台可根据需求升级至三轴到五轴薄膜样品台,二维阵列探测器可根据需求升级至Pilatus200K、Eiger500K/1M测试效果如下:碘化铅甲胺铅溴钙钛矿聚丁烯样条透射XRDN2200锂影团队长期从事于X射线衍射仪的开发与应用研究,积累了丰富的项目经验。团队针对智能化快速X射线衍射仪已经开展了类德拜照相、多位样品台设计、多线程控制软件设计等相关基础研发工作。苏州锂影科技有限公司为您提供高端衍射仪个性化定制服务
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  • X射线单晶衍射仪 400-860-5168转4552
    X射线单晶衍射仪 D8 结晶解决方案 — 单晶 X 射线衍射 (SC-XRD) 的质量和多功能标准结晶是确定小分子和大分子结构的zui明确方法,且单晶 X 射线衍射可以通过其他科学无法企及的方式,提供准确、精确的分子大小测量结果。Structural Biology D8 QUEST和D8 VENTURE 提供广泛的 X 射线源及光学器件,以及测角仪选项。D8 QUEST 是一种体型小巧、经济实惠的高性能单一 X 射线源配置,适用于化学结晶等典型用途,而D8 VENTURE 为化学和生物结晶的双波长组合提供平台。 D8 QUEST 是一个专为单波长试验而设计的紧凑型解决方案,配备有革新性的 PHOTON 100 CMOS 探测器。该系统可以在较小的空间里高度灵活的进行试验,可十分方便的拿取物品并具备较高的样品可视性。 根据 DAVINCI.DESIGN 原理,该系统使用zui好的组件进行高度模块化设计,并且具有完全气冷配置。因此,D8 QUEST 能够提供完全符合您的研究需求的解决方案。保证提供zui好的结构。系统参数:具备 CMOS 技术的全新 PHOTON 100 探测器100 平方厘米的大型有效面积高灵敏度气冷3 年保修密封 X 射线源Mo or Cu radiation经济划算的解决方案可选 3 倍强度的 TRIUMPH全新的高亮度 IμS 微聚焦 X 射线源Mo or Cu or Ag radiation强度zui多增加 60%气冷 (观看我们的 Air-Cooled 视频)3 年保修提供zui佳的软件APEX2 是适用于化学晶体的zui完整套件PROTEUM2 现在具有一个适用于结构生物学的数据处理线路完全集成的低温装置(可选) D8 VENTURE 的试验装置放置在更为宽敞的外壳内,还为旋转阳极提供空间以及双波长解决方案。所有系统均配备革新性 PHOTON 100 CMOS 探测器。 D8 VENTURE 提供zui高的试验灵活性,可十分方便地拿取物品并具备较高的样品可视性。获专利的门可采用滑门模式或双开式弹簧门模式打开。该系统使用zui好的组件进行高度模块化设计,并且具有完全气冷配置。 因此,D8 VENTURE 能够提供完全符合您的研究需求的解决方案。保证提供zui好的结构。系统参数:具备 CMOS 技术的全新 PHOTON 100 探测器 100 平方厘米的大型有效面积高灵敏度气冷提供三年保修密封X 射线源 Mo or Cu radiation经济型解决方案可选 3 倍强度的 TRIUMPH全新的高亮度 IμS 微聚焦 X 射线源Mo or Cu or Ag radiation强度增加高达 60%气冷 (观看气冷演示视频)提供三年保修微聚焦 TXS 旋转阳极紧凑型直接驱动,维护量低细丝经预先结晶和预先校准METALJET 适用于结构生物学的革新性液态金属 X 射线源适用于更小、更具挑战性样品的zui高 X 射线强度室内源使用镓放射自生式标靶,降低背底散射和放射损伤购置成本低,正常运行时间长测角仪FIXED-CHIKAPPABest goniometer precision选择一个带有小于 7 微米弥散球的测角仪,确保即使是zui小的样品,也能稳固地放置在 X 射线束的中心先进安全外壳 符合zui严格的辐射安全规范符合新机械指令提供zui佳的软件 APEX2 - 适用于化学晶体学的zui完整套件PROTEUM2 - 现在具有一个适用于结构生物学的数据处理线路完全集成的低温设备(可选)设备咨询电话:(微信同号);QQ:;邮箱:欢迎您的来电咨询!
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  • 衍射投影套件 400-860-5168转1545
    2020夏季新品:Holoeye空间光调制器附加组件—— 衍射投影套件空间光调制器(SLM)很早已经是光学实验室必备设备之一,简单说,想要高质量光束,就需要这么一个来调整波面。现在,随着软件以及算法上的探索开发,SLM有着日益广泛的用途:比如说显示和照明设备。随着穿戴/便携显示设备的普及,越来越多的光学和非光学出身的研究人员开始关注这个领域。用于衍射成像,或者计算全息成像的SLM,特定的入射光,同时,对于出射光的处理也有一定要求。现在大家普遍都是用空间输出激光器、透镜组、分光镜等等自己搭建光路,但是这一任务对于光学专业的来说是繁琐,对于非光学的来说就是一个挑战了。因此,为了让大家可以从这一枯燥而又繁琐的任务中解脱出来,Holoeye为大家提供了衍射投影套件(Diffractive Projection Engine,DPE),用以搭配SLM使用。使用此套件仅需将液晶面板固定好,接上用以输入线偏激光的保偏光纤,上电,加载图像,就可以观察到所需的投影效果啦!就这么简单!如果激光器够小,在普通办公桌上就可以完成投影的观察。DPE套件让SLM可以走出光具桌,进入工业、生产、生活环境。高度集成化的设计让SLM得以在实验室之外发挥其高度精确以及迅速的光学调制作用。DPE套件支持现有的Holoeye Pluto、Gaea、Leto等系列液晶,以及最新的Luna系列液晶。使用以小型化为特色之一的Luna系列SLM,搭配DPE和小型光源,就可以构成非常紧凑的全息投影或者结构光源系统。应用举例: AR/VR显示设备 抬头显示设备(HUD) 结构照明 穿戴显示设备 全息投影当然,还有更多的应用领域有待开发。更多的详细信息、技术参数,以及具体的解决方案,请联系上海瞬渺光电 。
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  • 产品介绍:1.产品概述 STADI P是一款灵活、多功能型粉末晶体衍射仪,同时具有两套衍射系统,分别进行透射/德拜-谢乐模式衍射和反射/布拉格-布伦坦诺模式衍射,两套系统可以共用一个光源,配备多种形式样品架和自动进样器,可以满足各种样品的衍射实验需求。 2.产品特点 四种几何衍射模式:透射/德拜-谢乐模式,透射高通量微区模式,反射高通量微区模式,反射模式; 通过改变光源和样品之间的距离来进行衍射模式之间的切换,切换后不需要重新调节光路; 所有衍射几何模式下,均可采用Co、Cu、Mo或者Ag靶的纯Kα1射线(100%纯Kα1); 可搭配:STOE位敏探测器、STOE弧形成像板探测器、混合像素MYTHEN1K探测器(零噪音单光子计数能力); 配备的毛细管模式非常适合对空气/水分敏感,或有毒性的微量样品测试; 2θ范围:-10°~140°。
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  • 超高衍射效率全息光栅-高灵敏度光谱仪&推扫式高光谱用上海昊量光电设备有限公司推出一系列波长范围为532~2000nm线密度在150~1800l/mm之间的体相全息衍射(VPH)光栅,全息光栅即利用全息照相技术制作的光栅,相比传统刻划光栅其具有无鬼线、低杂散光、无像差,可制作任意尺寸的优点。光栅介质两侧被双层玻璃(无反射膜)覆盖,因此其为透射光栅,所用介质为具有理想性能的全息记录材料—重铬酸盐明胶(DCG),该介质偏振不敏感、高效率、宽带宽的特点成就了光栅具有同样的优异性能。衍射介质在体积内的设计则使其具有长寿命、易清洗、易操作,耐划伤的特点,AR镀膜则使其具有更低的能量损耗。我们已经用我们的光栅建造了行业领先的拉曼和宽带光谱仪,此外,在350~2500nm波长之间,我们可以为您的高光谱成像系统或成像光谱仪提供广泛的宽带宽和高色散解决方案。在低光应用如拉曼和荧光中,我们的VPH光栅是无与伦比的,在衍射效率上超过表面刻画光栅高达40%。专有的工艺使光栅结构被封装在坚固材料中,从而便于在系统构建过程中进行简单的清理和处理。 特征及优点:极好的一级衍射效率低偏振敏感,等值效率无鬼线和低散射无波前失真易操作和清洗波段:350nm~2500nm线密度:150-6000l/mm 完美衍射效率曲线:如下图所示,我们透射式、全息的VPH光栅能提供非常优秀的衍射效率,200~300nm宽度内80%的衍射效率,布拉格条件下单一波长效率达到99%,这要比通常的反射式表面刻画光栅多出40%。而且能够看出衍射效率随波长平稳的变化。在0~100oC循环变化环境下测试显示,我们光栅的衍射效率具有非常好的温度稳定性(0.5%);此外,我们开发出多项专利技术以解决全息光栅衍射效率对高斯光束的空间依赖性。高色散:VPH光栅能够轻易做到传统光栅做不到的线密度,同时具有无鬼线、低散射的特点,因此其带来了较大的色散能力。偏振不敏感:传统光栅对p分量和s分量具有很高的敏感性(衍射效率的不同),光栅线密度的增加将使其变的更明显,我们设计的光栅则避免了这一缺陷。紧凑、灵活光学设计:透射光栅可以使光学设计更紧凑,可设计工作在利特罗结构。依据我们VPH光栅设计的系统可能比传统反射光栅设计的更小、更轻、更便宜,而且更容易准直。无鬼线、低散射:VPH光栅可以设计为消除鬼线,同时提供小于刻划光栅10倍的散射,同时这些减少的损失转化为最优的一阶衍射效率。易清洗:无论有无AR镀膜你都可以像清洗生活中玻璃上的指纹、灰尘等其他污染物一样,只需用清洁布蘸取少量丙酮或酒精轻轻擦拭即可。长寿命:众所周知妥善保管的照片可保留数十年,而光栅所用明胶记录介质与在摄影行业上有100年历史的明胶非常类似,其具有较长的寿命,同时明胶基底的稳定性使其寿命得到进一步提高。方向稳定:方向稳定性随时间和温度的变换完全取决于所使用的衬底。我们利用了低热膨胀系数(如熔融石英)能够获得接近零的方向漂移。 我们的专利高清光栅提供了一个你在其他任何地方都找不到的优势—在整个波长范围内高衍射效率和低偏振敏感。作为光谱专家,我们能够根据您的具体应用程序的需要定制我们的VPH光栅,甚至可以提供turnkey光谱仪解决方案,以加速您的系统设计时间。我们与您合作,从最初的设计到批量生产,提供完全的OEM定制和支持。以下为可能适用于光谱分析的光栅,如果没有您需要的,请随时联系上海昊量光电,我们将进一步提供定制光栅来满足您的应用。 WP-250/1250-xxWP-600/600-xxWP-1800/532-xxWP-600/1550-xxNorminal Wavelength900-1310nm450-750nm450-650nm1300-1800nmEfficiency(avo pol)≥70% at 1310nm≥870% at 633nm≥88% at 532nm≥90% at 1550nmSpatial Frequency250±0.5lines/mm1250±0.5lines/mm1700±0.5lines/mm600±0.5lines/mmAngle of Incidence9o@1250nm10.4o@1030nm28.6o@1030nm27.7o@1030nmSize Available(-xx)30mm×3.0mm25.4mm×3.0mm50.8mm×6.0mm25.4mm×3.0mm50.8mm×6.0mm25.4mm×3.0mm50.8mm×6.0mmWavefront DistortionStandard :rms|Enhnced:rms(@632.8nm)Surface Quality60-40 scratch-digAR CoatingStandard :R1.0%|Enhanced:R0.5%(over bandwidth) Efficiency Dispersion Efficiency Dispersion Efficiency Dispersion Efficiency Dispersion
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  • Thorlabs 衍射极限非球面透镜 AL75150H-B 光学仪器特性高斯特列尔比:大于0.80七种直径/焦距组合:Ø 12.5 mm / f = 25.0 mmØ 25.0 mm / f = 20.0 mmØ 25.0 mm / f = 50.0 mmØ 50.0 mm / f = 40.0 mmØ 50.0 mm / f = 100.0 mmØ 75.0 mm / f = 150.0 mmØ 100.0 mm / f = 200.0 mm三种设计波长:532 nm、780 nm或1310 nm非常适合衍射极限准直与耦合Thorlabs的非球面透镜为轴上光束聚焦与准直提供真正的衍射极限性能。这是通过计算机数字控制(CNC)抛光与高精度磁流变抛光(MRF)达到的。对于单色光源,单个球面透镜在聚焦或准直光束时无法达到衍射极限的性能通常是因为球面像差。本页提供的透镜消除了球面像差,是很多轴上应用的最佳单元件方案,比如准直光纤或激光二极管的输出、光纤耦合、空间滤波或光成像在探测器上。我们的高精度非球面透镜的斯特列尔比大于0.80,是Thorlabs所有透镜中最高的。Ø 12.5 mm、Ø 25.0 mm和Ø 50.0 mm N-BK7非球面在350-2000 nm或400-2000 nm的离散波长处达到此斯特列尔比。Ø 75.0 mm和Ø 100.0 mm N-BK7非球面以及S-LAH64非球面透镜在780 nm处达到此斯特列尔比。我们的高精度非球面透镜可选Ø 12.5 mm、Ø 25.0 mm、Ø 50.0 mm、Ø 75.0 mm或Ø 100.0 mm N-BK7透镜;或者Ø 25.0 mm或Ø 50.0 mm S-LAH64透镜。两种基底都可提供从可见光到近红外的高透射率(透射数据请查看下面的信息图标)。但是,由于S-LAH64的折射率比N-BK7高,因此通常用于制造高NA、短焦距的透镜。下面的透镜提供350 nm - 700 nm、650 nm - 1050 nm或1050 nm - 1700 nm的未镀膜或增透膜版本。未镀膜透镜的设计波长为532 nm、780 nm或1310 nm,而镀膜透镜的设计波长接近镀膜范围的中心值。例如,AL1225G-A的设计波长为532 nm,增透膜范围为350 nm - 700 nm。如果使用未安装的非球面透镜来准直点光源或激光二极管发出的光,应该将曲率半径较大的一面(即较平坦的一面)面向点光源或激光二极管。注意,透镜的数值孔径应该大于或等于光源的数值孔径。
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  • 桌面式X射线衍射仪在X射线光束通过索拉狭缝、发散狭缝照射在样品上,样品台位于测角仪中心,基于反射几何θs-θd,X射线光束在满足布拉格定律时,在特定的方向上发生衍射现象,经过防散射狭缝、索拉狭缝、接收狭缝到达X射线探测器上,最终经过数据处理系统在分析软件上展现出采集的衍射图谱。FRINGE EV是公司自主研发的一款桌面式X射线衍射仪器,其融合XRD和计算机软件等多项技术,可快速对粉末、块状或薄膜等形态的样品进行主要物相定性、定量分析、晶体结构分析、材料结构分析及结晶度测定,具有精度高、准确度高、稳定性好、应用范围广、操作简便和智能化等特点,为材料研究、大学及研究院所、建筑材料、金属、矿物、塑料制品、医药品和半导体等众多领域提供高精度的分析。使用优势空气弹簧大橱窗升降门空气弹簧大橱窗升降门,节约桌面空间,适合每一台办公桌,有效提高空间利用率。桌面式千瓦级功率FRINGE EV拥有强悍的KW级功率,让他成为桌面式XRD领域无与伦比的收割机。适合所有人的XRDCrystalX在获得衍射数据后,自动进行物相分析,并给出物相各组分百分比,大大降低了使用人员的要求,仅仅需要点击“开始测试”,其它交给CrystalX软件 吧。安全性具有在测试过程中自动切断保护装置、安全联动锁装置,样品舱关闭后属于全封闭性能,操作界面有样品舱关闭提示功能。集成式索拉狭缝集成式索拉狭缝,无任何运动可调部件,增加测角系统的可靠性,从而使得界FRINGE桌面式XRD可安装于车载实验室平台。DPPC探测器DPPC探测器(数字脉冲处理计数探测器),计数吞吐量≥1×10^7CPS,无需使用二级单色仪,DPPC探测器在提供衍射数据的同时提供能量色散光谱数据。规格参数测角仪θ/θ立式测角仪、衍射圆半径 150mm2θ角度范围-3° - +150°2θ角度精度全谱范围内<±0.02°偏差分辨率0.04°2θ 半峰宽FWHM索拉狭缝集成式索拉狭缝,无任何运动可调部件,增加测角系统的可靠性平台X光管金属陶瓷 X 射线管,焦点:1 x 10 mm,默认配置Cu靶,可选配 Co、Cr、Mo靶高压发生器功率标配1200W,最大支持1600W仪器尺寸580 x 450x 680mm(L×W×H)重量120KG电源220V±10V,50Hz,整机功率 最大值2000W散热方式FRINGE EV使用外置水循环冷却系统,强力冷却澎湃动力探测器DPPC探测器(数字脉冲处理计数探测器)接口紧凑的家用墙插插头提供电源,USB接口连接PC用于控制XRD气源提供2路气源接口,可用于原位分析或气氛保护安全性FRINGE EV具有空气弹簧大橱窗升降门,可无死角观察原位分析过程,并可有效屏蔽X射线,具有在测试过程中自动切断的保护、安全联动锁装置,样品舱关闭后属于全封闭性能,操作界面有样品舱关闭提示功能云端服务功能配套使用可同步的移动端APP服务,用于支持衍射数据卡片化管理,并支持接入知识管理系统CrystalX软件CrystalX在获得衍射数据后,自动进行物相分析,并给出物相各组分百分比,大大降低了使用人员的要求,无需手动检索,无需扣背景,无需平滑,无需手动寻峰,仅仅需要点击“开始测试”,其它交给CrystalX 软件 吧
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  • 产品介绍:1.产品概述 STADI MP是德国STOE公司推出的新一代粉末衍射仪,配备100%高纯度的Kα1单色器,采用透射模式、反射模式、高通量反射模式,能够满足各种实验条件,STADI MP是一款真正意义上能够实现透射模式的衍射仪,保证了微量样品的衍射实验。2.产品特点 四种几何衍射模式:透射/德拜-谢乐模式,透射高通量微区模式,反射高通量微区模式,反射模式; 通过改变光源和样品之间的距离来进行衍射模式之间的切换,切换后不需要重新调节光路; 所有衍射几何模式下,均可采用Co、Cu、Mo或者Ag靶的纯Kα1射线; 可搭配闪烁计数器,位敏探测器,成像板探测器 和 混合像素MYTHEN 1K探测器(零噪音单光子计数能力) 配备的毛细管模式非常适合对空气/水分敏感,或有毒性的微量样品测试; 2θ范围:-10°~140°。STOE STADI MP粉末衍射仪具备多种衍射模式,可以达到更广泛的研究和应用领域。3.透射模式适合:微量粉末、凝胶样品测试,特别是极小2θ角数据的测量采集;对X射线吸收性强的样品4.毛细管模式适合:特别适合精细粉末样品、液体、胶体样品测试;可以对取向性样品进行定向测试;对空气/水分敏感,或者有毒的样品测试。 5.反射模式适合:对大尺寸样品,如金属块状材料、板状材料,或加工成品的测试。
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  • 仪器简介:WSZ-2A型自动衍射光强实验装置是我公司新开发的一套实验系统。该系统非常适合用于各高校光学实验室验证光学衍射中单缝、多缝、圆孔、矩形等衍射光强变化的规律。 仪器特点:本系统采用导轨式实验结构,使实验仪器调整难度大大降低。 采用计算机控制,是实验过程简便 成套性:主机及接收单元 单面可调狭缝 He-Ne激光器 中文操作系统主要特点:WSZ-2A型自动衍射光强实验装置是我公司新开发的一套实验系统。该系统非常适合用于各高校光学实验室验证光学衍射中单缝、多缝、圆孔、矩形等衍射光强变化的规律。 仪器特点:本系统采用导轨式实验结构,使实验仪器调整难度大大降低。 采用计算机控制,是实验过程简便 成套性:主机及接收单元 单面可调狭缝 He-Ne激光器 中文操作系统
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  • 菲涅尔衍射实验装置 400-860-5168转0185
    主要特点:仪器特点:该仪器具有良好的整体性特色,电源,光具座和存放调整架的工具箱有机的结合在了一起。使实验的安排和整理工作更加简洁和明晰。可开设实验:菲涅尔单缝衍射实验菲涅尔圆孔衍射实验菲涅尔直边衍射实验等多项菲涅尔类实验成套性:导轨、二维调整架、干板架、白屏、多孔架、单面可调狭缝、氦氖激光器、透镜、刀片。
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