轻型触探仪使用规程

1/32"超轻型外螺纹两通◇为GC 上的毛细柱联接而专门设计。◇ 质量极轻，不需要用扳手密封。◇ 由于金属压环会损坏这种类型的两通，所以只能和熔融石英毛细管压环一起使用。◇ 标准材料：300 系列不锈钢。1/32"超轻型外螺纹两通孔径货号0.25 mmEU.50.50 mmEU.5L1/32"EU.5T

1/32"超轻型外螺纹两通 为GC上的毛细柱联接而专门设计。 质量极轻，不需要用扳手密封。 由于金属压环会损坏这种类型的两通，所以只能和熔融石英毛细管压环一起使用。 标准材料：300系列不锈钢。 1/32"超轻型外螺纹两通 孔径 货号 0.25 mm EU.5 0.50 mm EU.5L 1/32" EU.5T 1/32" 外螺纹两通连接器

产品说明根据小鼠身型量身定制，可稳定的固定清醒小鼠，缓解在体实验过程中小鼠呼吸或身体抖动对实验结果产生的干扰，解除必须使用麻醉试剂才能开展小鼠实验的困扰。结合双光子或共聚焦显微镜、光遗传、膜片钳等技术，可用于清醒小鼠的成像或电生理等在体实验研究。产品特点适用于40g以下的实验小鼠固定柱高度：24 mm圆形身体固定柱直径：27 mm尺寸：150 × 90 × 35 mm净重：~0.24 Kg可进行特殊定制化服务小鼠固定头件-可选配件可粘贴于小鼠头部，配合清醒小鼠固定架，用于在体清醒小鼠的成像等实验研究。轻巧坚固耐用，头件的外形尺寸等均可根据用户实验需求修改定制。中心圆形视窗直径：7 mm尺寸：27 × 14.5 × 0.6 mm净重：~ 0.13 g材质：钛合金，具备良好的生物兼容性

190系列单级式轻型减压器 结构特点：适合于商店、家庭、工厂等要求气体流量较小的场合。母体采用优质黄铜制造。上盖采用高强度锌合金制造表面镀铬。2” 压力表, 1-1/4” 膜片。设有内置式安全阀。进气管带烧结青铜过滤网。获得美国 UL 安全认证。外形尺寸：130 mm × 120 mm × 70 mm。重 量：0.90 kg。 订货信息：190系列单级式轻型减压器编号型 号 适用气体 最高输入压力(MPa)输出压力(MPa)110031600190X-80-H氧气200.02 ~ 0.56110036600190IN-80-H氩气、氦气、氮气Ar, He, N2200.02 ~ 0.56110035600190A-25L-H氩气 Ar200 ~ 25 LPM编号进气压力表 (MPa)出气压力表(MPa)进气螺纹 出气螺纹110031600401G5/8”-RH (F)M16-1.5RH(M)110036600401G5/8”-RH (F)M16-1.5RH(M)1100356004025 LPMG5/8”-RH (F)M16-1.5RH(M)

Nalgene 54100 带盖的轻型圆筒罐，高密度聚乙烯?标有刻度，是一种低成本圆筒。用作钢桶的内衬时，外部凸缘可延伸到筒沿以外。罐壁厚度约为2.4mm(3/32 in.)。21CFR177.1520/USPVI/ 有刻度订货信息：Nalgene 54100 带盖的轻型圆筒罐，高密度聚乙烯目录编号 54100-0005-0007-0010-0015-0030-0055容量，L1928*3857114208容量，gal.57-1/2*10153055标称尺寸，外径 × 深度，cm28×3830×4633×5133×6946×7656×91标称尺寸，外径 × 深度，in.11×1512×1813×2013×2718×3022×36罐壁厚度，mm2.42.42.42.42.42.4罐壁厚度，in.3/323/323/323/323/323/32刻度，gal.0.50.5112.52.5刻度，L2**41010每箱数量111111* 罐体无公升刻度

这款硅漂移探测器(SDD,Silicon Drift Detector)专业为XRF光谱仪和SEM扫描电镜EDS能谱仪探测器应用而设计，提供窗口材料的选择，从铍（8μm）到薄型聚合物（用于轻型X射线透射），并提供10mm2至60mm2的传感器有源区域。 此外，所有或我们的SEM SDD版本都是无振动的。硅漂移探测器在与创新的基于以太网的数字脉冲处理器相结合时得到优化。 具体配置给每个客户，SDD硅漂移探测器在广泛的输入计数率下提供卓越和稳定的性能，以产生快速X射线图。硅漂移探测器规格 SDD探测器典型特征 传感器区域 窗口选项 分辨率eV（Mn K / C） 10mm2 光元件（AP3.3）或8μmBe ≤123-133 30mm2 光元件（AP3.3）或8μmBe ≤126-133 60mm2 光元件（AP3.3）或8μmBe ≤126-133 100mm2 光元件（AP3.3）或8μmBe ≤128-133

通过穿刺对样品进行测试，反映样品的硬度、脆性、弹性、胶黏性、回复性，而且可进行TPA等测试，也可测量样品潜在的擦伤，判断成熟度。

产品概要：多触点探针扩展了MPI专有的TITAN&trade RF探测技术，用于RF的IC的表征。该探头具有多达15个触点，每个触点的RF带宽高达6GHz，针尖范围从50到300μm，可完全满足您的测试需求。基本信息：模块化和快速交付可以通过使用模块化设计，预先标准化的组件以及MPI自己的基于MEMS的探针技术来对多触点探针进行单独配置。尖端设计：间距为50μm，触地超过100万次，TITAN&trade 多触点测头是较短的可配置测头。它可以实现大型IC的宽温度范围检定，并且在屏蔽环境中使用更加方便。它的尺寸与标准RF探头完全兼容，因此无需进一步调整即可进行象限测试配置。TITAN&trade 多触点探头旨在降低现代高度集成的RF IC的测试成本。它具有20微米的接触宽度和最小的探针间距(从50微米开始)，最长的使用寿命(在铝焊盘上超过一百万次触地次数)。TITAN&trade 探针MEMS尖端技术TITAN&trade 多触点探头包含具有严格控制阻抗的MEMS触点。它们可确保高度可重复的校准和测量结果，以及在较宽的温度范围和无与伦比的接触循环次数下均一的接触特性。 独特的接触结构与其他任何MPI RF探针一样，TITAN&trade 多触点探针由于其独特的突出尖端设计，可提供出色且实时的尖端触点可见性。首次，即使对于没有经验的操作员，也可以将探针高精度定位在IC的焊盘上。技术优势：1、模块化和快速交付2、测试成本低且精确度高3、确保高度可重复的校准和测量结果应用方向： 使用在线设计捕获表，根据IC焊盘布局选择RF信号(S)，逻辑(L)和电源(P)通道来构建探针。

高增益不接触式破碎探头 必能信高增益不接触式破碎探头采用封闭式、不接触样品处理方法进行破碎，样品放在玻璃试管或其他密封的容器里，从而避免了探头的直接接触。 凹型漏斗式的特殊设计使探头产生高强度的空穴效应，从而作用于需处理的样品中，形成强有力的破碎效果。 这种设计不仅能破碎多种细胞，也可进行多种前处理，如：乳化、分散、脂质体的制备、均质、脱气等。 典型运用： 血液化学 脂质体制备前处理 药片的分散、溶解 HPLC前脱气 颜料的分散 悬浮液的均质 易传染性样品的前处理

质构仪探头分为通用探头和专用探头，可根据客户的研究领域、研发方向、测试要求和测试指标进行配置，也可以根据客户的要求进行定制。质构仪探头与市面主流质构仪主机通用。 （1）通用探头柱形探头：提供一系列不同材质、尺寸的柱形探头，广泛应用于粮油制品、烘焙食品、肉制品、乳制品、胶体等，进行穿刺(penetration)、硬度(hardness)、弹性(springiness)、胶黏性(stickiness)、回复性(resilience)和全质构TPA(texture profile analysis)的测试。球形探头：不同材质、大小的球形及半球形探头，用于测试：软固体如鱼糜、鱼丸、鱼糕、肉糜和面团的强度(firmness)、弹性(springiness)，固体膨化食品如薯片的脆性(fracture)，水果、奶酪的表面硬度(firmness)及胶黏性(stickiness)。针形探头：针刺型探头，通过穿刺深入样品内部测试质地剖面。例如测水果表皮硬度(Skin strength)、屈服点(yield point)或穿透度(penetration)，从而判断水果的成熟度。锥形探头：用于软滑质地的流体、半流体，如果酱、冰淇淋、奶酪、黄油、肉糜等的稠度(consistence)、硬度(hardness)和延展性(extension)等流变特性测试。 （2）面制品（典型探头）轻型切刀探头：用于切割较软质地样品，如面条、通心面，测试弹性（springiness）、柔软度（tenderness）、咀嚼性（chewiness），为AACC16-50标准测试面条、通心面的方法。面团制备装置：包括通气活塞和平底活塞，排除面团内分布之气室，以测定面团的坚实度(firmness)，也可以用于观察面图发酵时的松弛(relaxation)和蠕变(creep)等现象。 （3）烘焙食品（典型探头）36mm圆柱形探头：适用于测试海绵蛋糕、吐司面包等烧烤食品的硬度(hardness)、弹性(springiness)和咀嚼性（chewiness）测试。符合AACC (74-09)测试面包质地的标准方法三点折断测试装置：适用于测试长条形面包、饼干、巧克力棒、玉米脆片等断裂强度(break strength)或脆度（fracture）。 （4）水产品和畜产品（典型探头）剪切刀具：被广泛用于评估家禽肉的嫩度，已成为行业的标准测试方法。刃口装置包括Warner Bratzler切刀和斜口、直角切刀，侧边可限制形变。用于肉制品质的测试，可测试鲜肉、熟肉、香肠等的坚实度（firmness）、肉嫩度等。符合农业标准NYT 1180-2006 肌肉嫩度的测定肉嫩度测定刀具：具有一定尺寸而且很锋利的一种刀片，将其接到物性分析仪(质构仪)上，由于刀片很精细，仅能切入肉样品20mm，而且切口很小，不致于如传统的仪器或人工切割试验造成样品整体结构的破坏，可完美进行肉制品切割/剪切试验。因刀片可以被卸下来并定期更换，确保刀片边缘锋利，从而提高了重现性和准确性。 （5）乳制品（典型探头）奶油切割刀具：利用切割力测试块状奶油、人造奶油、奶酪的坚实度(firmness)和涂布性(spreadability)以及奶酪的粘稠度(consistency)。延展性装置：适用于黄油、奶油、奶酪、巧克力等稠性样品进行涂布性(spreadability)、柔软度(tenderness)、黏着性(adhesiveness)等参数的测试。 （6）果蔬及果蔬制品（典型探头）针形探头：可用于样品的穿刺试验。可测量表皮强度、穿刺强度等数据，用于判断果蔬的新鲜度和成熟度。剪切刀具：适合谷物、果蔬、肉制品或者蔬果等不均匀组织测量整体压缩(compression)、剪切(shearing)与挤压(extrusion)等混合作用，可测量坚实度(firmness)、脆度(fracture)等参数。 （7）休闲食品（典型探头）糖果测定装置：由一个弹簧螺栓固定一层压盘所组成，测试样品以压盘夹紧，压盘中间圆圈空处为测试点，适合测试食品的硬度(hardness)、黏性(stickiness)。脆度测试探头：以球形探头的穿刺测试薯片、饼干或膨化等食品的酥脆性(fracturability)进行测试。 （8）粘稠、凝胶类样品（典型探头）凝胶探头：测试胶体的专用探头，根据ISO/GMIA国际标准方法，进行标准凝胶强度测试(Gelatine testing、Bloom Test)。适合测试果冻的弹性(springiness)、表面硬度(firmness)和延展性(extension)。反挤压装置：用于软粘稠之类的液体或者半固体物质，如加工处理过的水果、蔬菜、奶油、西红柿酱，测试其粘性(stickiness)、粘稠度(consistency)。

产品概述　　5400温湿度巡检仪采用便携式防爆箱设计，轻便坚固，适合携带至现场使用。温湿度巡检仪由多通道温度湿度采集主机、Pt100铂电阻温度传感器、温湿度探头组成。　　温湿度巡检仪符合环境设备检定规程的要求，可自动实时采集、显示温度、湿度数据和温湿度场均匀性、波动度等数据，通过7寸触摸屏操作显示，一目了然，简单方便。　　产品特点　　● 小型化设计，内置锂电池，方便携带至现场使用 　　● 自动采集温度、湿度数据并在触摸屏上显示，方便用户查看设备测试室的温度、湿度分布情况 　　● 设备共20通道，支持铂电阻和温湿度探头任意通道接入 　　● 内置SD卡，自动储存数据，无需用户记录数据。　　技术指标

Digi-Sense通用热电偶探头带手柄的探头配有减压弹簧，保护电缆连接以防因重复弯曲和拉伸而受损。ABS 手柄采用轻型设计，使用方便，坚固耐用。探头类型可通过 ANSI 微型接头的颜色进行区分：J 型–黑色，K 型–黄色，T 型–蓝色，以及 E 型–紫色。Digi-Sense通用热电偶探头精度：J 型：± 5.9 ℉ (3.3 ℃) 或 32 ℉ (0 ℃) 以上为读数的 ± 0.4%K 型：± 3.0 ℉ (1.1 ℃) 或 212 ℉ (100 ℃) 以上为读数的 ± 0.4%；± 3.6 ℉ (2.2 ℃) 或–58 至 211 ℉（–50 至 99 ℃）为读数的 ± 2%；± 7.2 ℉ (4 ℃) 或–59 至 -238 ℉（–50 至 -150 ℃）为读数的 ± 4%T 型：±2.7°F (±1.5°C) 或 32°F (0℃) 以上为读数的 ±0.4%；32°F (0℃) 以下读数的 ±0.8%E 型：± 6.7°F (± 3.7°C) 或高于 32 ℉ (0 ℃) 时为读数的 ± 0.4%；低于 32 ℉ (0 ℃) 时为读数±0.5%Digi-Sense通用热电偶探头 ??温度范围仅用于探头尖端。如果探头的额定温度高于手柄的额定温度，则手柄材质会受到暴露时间、用途以及手柄材质的影响。ABS 手柄的额定温度为 220 ℉ (104 ℃)；PVC 手柄的额定温度为200 ℉ (93 ℃)；不锈钢手柄的额定温度为 450 ℉ (232 ℃)。?探头护套总长可能会有最大 ±0.25" 的偏差。

Cary 分光光度计与各种光纤探头兼容，因此您可以在分光光度计的样品室外测量样品。使用探头就不必再将液体倒入样品池，这对于需要快速分析大量样品的质量控制实验室进行定量分析时特别有用。远程测量也完全适用于小体积样品、不能放入样品室的大体积样品、容器中的化学反应、中试测量、有毒或危险样品、无菌环境样品，以及高温或高压条件下的样品。 我们提供浸入式探头和普通探头，用于测量透射、反射和吸收。您也可以购买定制的光纤探头支架和长度以满足实验室的特殊需求。 快速分析 — 与传统蠕动泵附件不同，光纤探头无装液延迟且无需等待气泡逸出。 交叉污染少 — 快速、高效地清洁浸入式探头。样品间的快速冲洗减少了交叉污染。 维护少 — 无需昂贵的流通池且安装后不需要调试。 可更换的探头、防护罩和远程测量开关 适用于多种温度条件的探头（环境温度、85 ℃、150 ℃） 有不锈钢、石英和 Torlon 可供选择 透射、反射和吸收探头 为方便起见，提供探头支架和更长的光纤。 订购详情

uniqprobe? ：uniqprobe?接触模式统一质量SPM探针，探针侧面：部分铜涂层uniqprobe?接触模式统一质量SPM探针，探针侧面：部分铜涂层PLATINUMSILICIDE：导电硅化物涂层的非接触式/轻敲模式侧面和针尖为硅化铂（硅化铂反射） SPM探针Advanced TECTM：AdvancedTECTM SPM硅探针，接触式硅悬臂AdvancedTECTM SPM硅探针，接触式硅悬臂， 探针侧面和针尖：铂/铹涂层AdvancedTECTM SPM硅探针，接触式硅悬臂， 探针侧面和针尖：铜涂层

Cary 分光光度计与各种光纤探头兼容，因此您可以在分光光度计的样品室外测量样品。使用探头就不必再将液体倒入样品池，这对于需要快速分析大量样品的质量控制实验室进行定量分析时特别有用。远程测量也完全适用于小体积样品、不能放入样品室的大体积样品、容器中的化学反应、中试测量、有毒或危险样品、无菌环境样品，以及高温或高压条件下的样品。 我们提供浸入式探头和普通探头，用于测量透射、反射和吸收。您也可以购买定制的光纤探头支架和长度以满足实验室的特殊需求。 快速分析 — 与传统蠕动泵附件不同，光纤探头无装液延迟且无需等待气泡逸出。 交叉污染少 — 快速、高效地清洁浸入式探头。样品间的快速冲洗减少了交叉污染。 维护少 — 无需昂贵的流通池且安装后不需要调试。 可更换的探头、防护罩和远程测量开关 适用于多种温度条件的探头（环境温度、85 ℃、150 ℃） 有不锈钢、石英和 Torlon 可供选择 透射、反射和吸收探头 为方便起见，提供探头支架和更长的光纤。 订购详情

Ti Stand 防溢出装置订货号: 6.1623.000用于 803 Ti Stand

uniqprobe?，统一质量的SPM探针，有2，3个不同的三角形悬臂，非接触式/轻敲模式/接触模式探针侧面：部分金涂层PLATINUM SILICIDE：硅化物涂层的非接触式SPM探针(非接触式/轻敲模式)探针针尖为硅化铂(硅化铂反射)Advanced TEC?：AdvancedTECTM硅SPM探针，硅悬臂非接触式/敲击模式AdvancedTECTM硅SPM探针，硅悬臂非接触式/敲击模式 探针侧面和针尖：铂/铹涂层AdvancedTECTM硅SPM探针，硅悬臂非接触式/敲击模式 探针侧面和针尖：铜涂层

POINTPROBE-PLUS?：POINTPROBE?SPM加硅探针，接触式硅悬臂，特殊型号，探针侧面：短悬臂POINTPROBE?SPM加硅探针，接触式硅悬臂，特殊型号，探针侧面：短悬臂，探针侧面：铝涂层POINTPROBE?SPM加硅探针，接触式硅悬臂，特殊型号，探针侧面：短悬臂，探针侧面和针尖：铂/铹涂层POINTPROBE?SPM加硅探针，接触式硅悬臂，特殊型号，探针侧面：短悬臂，探针侧面和针尖：铜涂层POINTPROBE?SPM加硅探针，接触式硅悬臂，特殊型号，探针侧面：短悬臂，探针侧面：铜涂层

SP Bel-Art可重复使用的聚碳酸酯96孔板移液器在不到10秒内抽吸或分配96个移液头，同时加速清理工作• 非常适合同时更换培养基或从96孔板添加/移除试剂• 只需连接一次性塑料注射器并抽出柱塞即可转移液体• 由透明塑料材料制成，一端有一个真空出口，为注射器连接提供一个3.2mm内径（?“）的短管• 无菌/一次性的型号由透明一次性塑料制成，只能使用一次，不能进行高压灭菌或气体灭菌• 可热压/可重复使用的型号由聚碳酸酯模压而成；必须在使用前在不超过121oC的温度下在15 psi的压力下进行20分钟的热压灭菌，以避免污染• 由于残留滞留气体的可能性，不能进行气体消毒• 需要30ml或更大的一次性无菌注射器（不包括在内） 注：灭菌产品不可退货。 货号: F37876-0001 重量: 0.14kg 尺寸:15.24cm x 25.40cm x 6.35cm

该装置测量压缩力(Compression Force)需要一个活塞圆盘通过一个标准尺寸挤出产品。样品容器要和圆盘的外周直径(3、5、7、10mm)相对应，选择容器大小取决于样品浓度。将样品容器固定在测试平台中间，活塞圆盘以探头转接头连接在力臂上。 该装置适用于测试-含有油、面团、胶体和粘性液体的样品。

Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10－47nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下，推荐使用该标样。.

Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10－40nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下，推荐使用该标样。.

Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10－51nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下，推荐使用该标样。.

Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10－49nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下，推荐使用该标样。.

Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10－41nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下，推荐使用该标样。.

Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10－43nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下，推荐使用该标样。.

Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10－47nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下，推荐使用该标样。.

Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10－50nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下，推荐使用该标样。.

Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10－44nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下，推荐使用该标样。.

Tin on Carbon Disc为碳圆盘上分散的锡球。大部分锡球尺寸范围为10－40nm。是像散矫正及分辨率测试的理想标样。在半导体工业中碳基金标样不适用的情形下，推荐使用该标样。.