透射光谱仪工作原理

ATR法不仅用于验证分析，还广泛用于异物分析。对ATR法扫描获取的光谱和用透射法扫描获取的光谱进行比较可以发现，因为原理不同，纵轴及横轴的数值有一定差别。所以，将ATR法的光谱与透射法的光谱或数据库进行比较时，通过对ATR光谱进行适当的校正，可取得更高精度的结果。本文向您介绍通过高级ATR校正，对ATR光谱和透射光谱进行近似处理的示例。经高级ATR校正可使ATR光谱与透射光谱相似。并且，如果通过透射法数据库检索ATR谱图，可获取高精度的检索结果。 岛津高级ATR校正功能，可对上述纵轴和横轴变化进行校正。该校正可同时进行以下3种校正：1. 受波长影响的红外光穿透深度带来的峰强度变化。2. 由折射率的异常分散引起的低波数峰偏移。3. 由偏光特性引起的来自朗伯-比尔定律的偏差。 在BCEIA2013上展出的岛津IRTracer-100 了解详情，请点击“将ATR 光谱转换为透射光谱的高级ATR 校正的介绍” 关于岛津 岛津企业管理（中国）有限公司是（株）岛津制作所于1999年100%出资，在中国设立的现地法人公司，在中国全境拥有13个分公司，事业规模不断扩大。其下设有北京、上海、广州、沈阳、成都分析中心，并拥有覆盖全国30个省的销售代理商网络以及60多个技术服务站，已构筑起为广大用户提供良好服务的完整体系。本公司以“为了人类和地球的健康”为经营理念，始终致力于为用户提供更加先进的产品和更加满意的服务，为中国社会的进步贡献力量。 更多信息请关注岛津公司网站www.shimadzu.com.cn/an/ 。

光学镀膜材料在太阳能行业应用广泛：由化学气相沉降法生成的氧化锌涂层，自然形成金字塔形表面质地，在薄膜太阳能电池领域被用于散射太阳光。将不同折射系数的高分子材料排列组成的全息滤光镜，将太阳光在空间上分成不同颜色的色带（棱镜一样），将不同响应波长的光伏电池调到每个波长的焦距处，从而形成一种新型的多结太阳能电池。位于硅太阳能电池前部的纳米圆柱形硅涂层起米氏散射的作用，因此增加了在更宽入射角范围和偏振情况下的光被太阳能电池的吸收。曲面型光电模块的渲染和原理图。3M可见镜膜能够使模块在可见光区表现为镜像，而在近红外光区变为黑色。对于所有的光学涂层——特别是那些非垂直角度接收阳光或者阳光入射的涂层，表征波长、角度和偏振测定的反射和入射就尤为关键。PerkinElmer公司的自动化反射/透射附件ARTA，可以测定任何入射角度、检测角度、S和P偏振光在250-2500nm的范围内的谱图，从而告诉我们：所有的入射光都去哪儿啦？装备了ARTA的LAMBDA紫外/可见/近红外分光光度计样品3M可见光镜膜：吸收紫外光，反射可见光，透过红外光。仪器PerkinElmer公司的LAMBDA 1050+紫外/可见/近红外分光光度计。150mm积分球，Spectralon涂层积分球包含硅和InGaAs检测器，检测样品200-2500nm的范围内的总透射谱和总反射谱。装备了150mm积分球的LAMBDA紫外/可见/近红外分光光度计ARTA，配备PMT和InGaAs检测器的积分球（60mm），能在水平面上围绕样品旋转340°，进行角度分辨测量。3M薄膜固定在ARTA样品支架上的照片实验结果用150mm积分球附件测量的3M薄膜的总反射和总透射谱图。薄膜在750nm附近具有预期的突变，在此处有将近100%的可见光反射率和约90%的红外光透射率。3M薄膜对于s（左图）和p（右图）偏振光的角度分辨反射谱图。对于所有的偏振情况，直至50˚的范围内反射到透射的转变都很急剧，但是有轻微的蓝移。对于入射角在约50˚以上的情况，s偏振光的转换终止，并且薄膜开始失去对光谱的分光功能。这种情况的一个明显后果就是在冬天或者纬度高于30˚的区域的夏季月份，曲面型光电镜片的工作效率都很低。更多详情，请扫描二维码下载完整应用报告。

透射电镜原位样品杆加热芯片设计原理解析 引言在上一篇文章《透射电镜原位样品杆加热功能 4 大特性解析》里，我们以 Wildfire 原位加热杆为例，为大家详细介绍了 DENS 样品杆加热功能在控温精准、图像稳定、高温能谱、加热均匀四个方面的具体表现。通过这篇文章，相信大家对 MEMS 芯片的优良性能有更进一步的了解。 本文将以透射电镜原位样品杆加热芯片的改变为例，与大家深入探讨芯片加热设计具体的变化细节。 01. 加热线圈的变化 1.1 线圈尺寸缩小，“鼓胀”现象得到明显抑制 图 1：新款芯片 图 2：旧款芯片 仔细观察上图中两款芯片的加热区，可以发现新款芯片的加热线圈要明显比旧款小很多。再观察下面的特写视频我们可以看到，加热线圈的形状也有明显变化。新款的是圆形螺旋，旧款的是方形螺旋。 线圈尺寸缩小后，加热功率减小，由加热所导致的“鼓胀”现象也会得到抑制。所谓“鼓胀”是指芯片受热时，支撑膜在 Z 轴方向上的突起。在透射电镜中原位观察样品时，支撑膜的突起会使得样品脱离电子束焦点，导致图像模糊，不得不重新调焦；甚至有时会漂出视野，再也找不到样品。这样一来，就会错失原位变温过程中那些瞬息即逝的实验现象。 1.2 加热时红外辐射减少 尺寸缩小、加热功率减小，所带来的另一个好处就是加热时红外辐射减少，从而对能谱分析的干扰就会降低。这意味着即便在更高温度下，依然能够进行稳定可靠的能谱分析。 图 3：使用新款芯片时，铂/钯纳米颗粒在高温下的能谱结果。 1.3 温度均匀性提升 此外，形状从方形变为圆形，优化了加热区域的温度分布情况，温度均匀性更好，可以达到 99.5% 的温度均匀度。图 4：新款芯片加热时的温度分布情况 02. 电子透明窗口的变化 2.1 电子透明窗口种类多样化 除了线圈尺寸、形状不同之外，新旧两款芯片所用来承载样品的电子透明窗口也明显不同。旧款设计中，窗口都是形状相同的长条，分布在方形螺旋之间。而在新款设计中，窗口种类则更加多样化，根据形状和位置不同可分为三类窗口，适用于不同的制样需求。 图 5：新款芯片中透明窗口分三类，可以适用于不同的样品需求。 红色窗口：圆形窗口，周围宽敞，没有遮挡，适合以各种角度放置 FIB 薄片。蓝色窗口：位于线圈最中心，加热均匀性最好，周围的金属也可以抑制荷电，适合对温度均匀性要求很高的原位实验，也适合放置易荷电的样品。绿色窗口：长条形窗口，和 α 轴垂直，在高倾角时照样可以观察样品，适合 3D 重构。 总结通过以上图文，我们为大家介绍了采用创新设计之后新款芯片的四大优势，全文小结如下：1. “鼓胀”更小，原位加热时图像更稳定，便于追踪瞬间变化过程。 2. 红外辐射更少，在 1000 ℃ 时，依旧可以进行可靠的能谱分析。 3. 优化线圈形状，抵消了温度梯度，提升了加热区域的温度均匀性。 4. 加热区有三种观察孔，分别适用于 FIB 薄片、超高均匀性受热、大倾角 3D 重构等不同需求。此外，优化后的窗口几何不仅便于薄膜沉积，还可消除滴涂时的毛细效应。这些针对不同需求的细节设计都使得制样更加便捷、高效。

在现代科学研究和工业应用中，精确的物质性质测量是至关重要的。特别是在材料科学、光学工程以及生物医学领域，透射测量与反射测量技术的应用日益增多，它们在各自的领域内发挥着不可替代的作用。透射测量是指测量光线通过物质后的强度变化，以此来分析物质的特性；而反射测量则是基于光线打到物质表面后反射回来的光强变化进行分析。这两种测量技术虽然操作原理不同，但都旨在通过光与物质的相互作用来揭示物质的内在属性。一、透射测量与反射测量的比较分析透射式和反射式分光光度计均能利用光源的闪烁特性，覆盖360至750纳米范围内的全部波长光线进行照射。通过对透射光或反射光的测量，这些设备能够创建出色彩的量化图谱（即色彩“指纹”）。在反射光谱中，主要波长决定了颜色的属性。紫色、靛蓝及蓝色属于短波段，波长介于400至550纳米之间；绿色处于中波段，波长在550至600纳米；而黄色、橙色及红色表示长波段光。对于光亮增白剂（OBA）和荧光剂这类特殊物质，它们的反射率甚至可以超过100%。反射式分光光度仪通过照射光源至样本表面并记录以10纳米步长测得的反射光比例，以此来分析颜色。这种方法适用于完全不透明的物质，通过反射光的量化，可以准确测量其色彩。而配备透射功能的分光光度仪则是通过让光穿透样本，使用对面的探测器来捕获透过的光。这一过程中，探测器会测量透射光的波长及其强度，并把它们转换成平均透射率的百分比，以量化样本的特性。尽管反射模式能够用于分析半透明表面，但准确了解样本的透明度是必须的，因为这直接关系到最终数据的准确性。二、样品确实不允许光线穿透吗？测量透射率与评估不透明度并不总是等同的，因为不透明度涉及两个方面：是否能遮挡视线穿过的表面或基质，以及材料允许光线通过的程度。通常，您可能会认为您的手是不透光的，从某种角度来看，这是正确的。然而，当您把手电筒紧贴手掌并开启时，会发现光线能够从手的另一侧透射出来。半透明与透明材质的本质区别半透明材料允许光线穿透，却不允许清晰的视线通过。举个例子，经过蚀刻处理的浴室塑料门便是半透明的。相比之下，透明材料，如普通的玻璃板，可以让人从一侧清楚地观察到另一侧的物体。三、实际应用及解决方案考虑到涂料，当其涂布于墙面时，其不透明性足以覆盖下层材料，阻止透视效果。但要准确评估涂料的不透明度，我们需采用对比度分析法。一旦应用于基底，涂料通常表现出高不透明度，使得Ci7500台式色差仪成为其测量的理想工具。至于塑料，虽然肉眼看来我们可能无法通过塑料样本看穿，但它们可能具备一定的光透过性。比如，外观不透明的塑料瓶，在未经测试前其真实透光性难以判断。以过氧化氢瓶为例，其内容物若暴露于阳光下会迅速分解，因此这类瓶子通常呈棕色，以屏蔽阳光。然而，置于强烈光源下，这些瓶子是能透光的。鉴于成本考虑，过氧化氢瓶的制造尽量保持不透明。在纺织品的应用上，选择分光光度仪时需考虑具体的使用场景。美国纺织化学师与印染师协会（AATCC）推荐将样品折叠至四层以确保不透明度的测量。这一方法对于测量厚实的织物如灯芯绒裤或棉质卷料足够有效，但对于透明或薄的半透明尼龙材料，采用其他量化技术可能更为合适。请记住，在测量特定允许一定光线透过的纺织品时，按照ASTM的203%遮光测试标准，必须使用具备透射功能的分光光度仪进行测量。Ci7600台式分光光度仪、Ci7800台式分光色差仪和Ci7860台式色差仪均支持透射和反射模式测量，它们为需要同时评估不透明与半透明样本的应用场景提供了理想解决方案。这些设备能够执行三种主要测量方式：①直接透射测量：针对完全透明的样本设计，如塑料拉链袋和清晰的玻璃板。②全透射测量：适合那些允许光线穿透但视线模糊的半透明样本，比如橙汁、洗涤液以及2升容量的塑料瓶。③雾度测量：针对那些能够散射光线的半透明样本，如汽车尾灯的塑料覆盖件，这类样本散射红色光线，而不直接显露灯泡和灯丝。若您的需求仅限于测量完全不透明的表面，Ci7500台式色差仪或许更符合您的需求。然而，如果您的主要测量对象为不透明表面，偶尔也需测量一些允许光线透过的物体，那么具备透射测量功能的设备，如Ci7600台式测色仪或更高端的型号，将是更合适的选择。四、关于爱色丽“爱色丽彩通 ”总部位于美国密歇根州，成立于1958年。作为全球知名的色彩趋势、科学和技术公司，爱色丽彩通提供服务和解决方案，帮助品牌、制造商和供应商管理从设计到最终产品的色彩。如果您需要更多信息，请关注官方微信公众号：爱色丽彩通

偏光显微镜是一种使用透射光原理进行观察的显微镜。它的工作原理是利用透镜将物体的光线聚焦，通过眼睛或摄像机进行观察。偏光显微镜可以用于观察物品的形态、颜色和透明度等特征。在检测粉煤灰微观结构特征方面，偏光显微镜可以用于观察粉煤灰的颗粒形态、大小和颜色的变化等。使用偏光显微镜观察粉煤灰样品时，需要对样品进行制备和处理。首先，需要将粉煤灰样品制成薄片。然后，用显微镜观察样品的形态、颜色和透明度等特征。通过观察，可以发现粉煤灰的颗粒形态不规则，大小和颜色存在差异。这些特征可以提供有关粉煤灰微观结构的信息。检验粉煤灰用偏光显微镜MHPL1500 透射光观察透射偏光显微镜MHPL1500是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器,可供广大用户进行单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察。产品配置无应力平场消色差物镜与大视野目镜，高精度偏光载物台，优良的偏振观察附件等。可在透射偏光、反射偏光与透/反射偏光状态下获得良好的显微图像，仪器机械性能优良，观察舒适，操作方便。数码型偏光显微镜系统是将精密的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、的计算机图像处理技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在显示屏上很方便地观察实时动态图像，并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。广泛应用于地质、化工、医疗、药品等领域的研究与检验，也可进行液态高分子材料，生物聚合物及液晶材料的晶相观察，是科研机构与高等院校进行研究与教学的理想仪器。透射偏光显微镜MHPL1500产品参数：1. 标准配置型号MHPL1500 (透射照明)目镜大视野 WF10X (Φ18mm)分划目镜 10X (Φ18mm) 0.10mm/div物镜 (中心可调)无应力平场消色差物镜(盖玻片:0.17mm) PL 4X/0.10无应力平场消色差物镜(盖玻片:0.17mm)PL 10X/0.25无应力平场消色差物镜(盖玻片:0.17mm)PL 40X/0.65 (弹簧)无应力平场消色差物镜(盖玻片:0.17mm)PL 60X/0.85 (弹簧)透射照明起偏器可360°旋转，有0、90、180、270四个读数集光器卤素灯照明适用光源6V 20W 卤素灯,亮度可调阿贝聚光镜N.A. 1.25 可上下升降目镜筒三目镜,倾斜30&ring ,可进行透光摄影中间接筒内置检偏器, 可自由切换正常观察与偏光观察,90°旋转，带刻度,游标格值12'推入式勃氏镜，中心可调λ补偿器λ/4 补偿器石英锲补偿器转换器四孔(外向式滚珠内定位)调焦机构粗微动同轴调焦, 微动格值:2μm,带锁紧和限位装置载物台旋转式载物台,直径：Φ150mm，360°等分刻度,游标格值6'，中心可调，带锁紧装置2.选配件:名称类别/技术参数目镜大视野 WF16X(Φ11mm)物镜 (中心可调)无应力平场消色差物镜(盖玻片:0.17mm) PL 20X/0.40 无应力平场消色差物镜(盖玻片:0.17mm) PL 100X/1.25 (油,弹簧)无应力平场消色差物镜(无盖玻片) PL L 20X/0.40无应力平场消色差物镜(无盖玻片) PL L 50X/0.70无应力平场消色差物镜(无盖玻片) PL L 80X/0.80无应力平场消色差物镜(干式) (无盖玻片) PL L 100X/0.85 (弹簧)转换器四孔(外向式滚珠内定位),可调节物镜中心移动尺移动范围:30mmX25mmCCD接头0.4X0.5X1X0.5X带分划尺,格值0.1mm/格显微镜摄像头USB2.0MHD500USB3.0MHC600、MHD600、MHD800、MHD1600、MHD2000、MHS500、MHS900摄影装置2.5X/4X变倍摄影装置带10X取景目镜4X对焦摄影装置MD卡环PK卡环数码相机接头CANON (A610,A620,A630,A640)

2019年11月蓝菲光学成功交付上海质检定制摄影镜头光谱透射率及色贡献指数检测系统。光谱透射率及色贡献指数是衡量摄影镜头质量优劣的重要指标。摄影镜头的光谱透射比特性直接影响彩色摄影的色再现质量，ISO规定了以用对数透射比为基础的色贡献指数来描述照相镜头的色再现性（ISO 6728-1983）。我们知道照相镜头是由多片透镜组成的，其设计是由全世界多个厂商共同协作的，不同厂商根据其设计方案，则选用不同的透镜玻璃。照相机的色贡献指数是由整个镜头的综合光谱透过率决定的。从某种意义上讲，用于照相镜头的每一块透镜玻璃都应该测量其色贡献指数，并且测试值符合标准要求。上海市质量监督检验技术研究院，是国家市场监督管理总局批准设立的，经上海市人民政府依法设置的非营利性公益科研类政府实验室，是国家级产品质量监督检验研究院。是集产品质量检验检测、计量校准、体系与产品认证、标准化服务、培训与咨询为一体的全国最具有综合竞争力的检测院所之一。上海市质检院针对采购检测仪器具有很高的产品要求，在产品质量、性能、售后服务等一系列考察后，选定蓝菲光学定制生产镜头色贡献指数检测系统。蓝菲光学定制生产的镜头色贡献指数检测系统基于积分球的光谱透射率测试系统，来获取镜头的光谱透射比。待测镜头最大尺寸128mm（D）*366mm（L）, 待测镜头重量5kg以内。镜头透过率范围一般在4%-98%。硬件系统由积分球，光谱仪，准直光源，夹具和暗室组成。系统符合JBT8248.1-1999 照相镜头光谱透射比的测量方法和JBT8251-1999 照相镜头的色贡献指数国标。蓝菲光学高漫反射涂料很受行业认可，该测试系统积分球内部使用Spectraflect涂料在紫外-可见光-近红外光谱区内漫反射率高达98%。积分球的开口处采用刀刃结构有助于收集大角度散射，挡板采用最小化设计，使得探测器能够最大程度地看到球内壁表面。探测器口位于球的顶部和底部，使用挡板遮挡防止样品和参考口光束直接照射。蓝菲光学的光谱仪光谱范围350-1100nm，该光谱仪内置的电制冷、薄型背照式CCD探测器可高效地抑制杂散光。所使用的准直光源均匀性＞90%，光斑大小可调，配套软件显示光谱透射比和色贡献指数，光谱间隔为10nm，此外允许我们自定义光谱及对软件二次开发，方便实用。图1 上海质检定制摄影镜头光谱透射率及色贡献指数检测系统图图2 摄影镜头光谱透射率及色贡献指数检测系统软件界面蓝菲光学定制的摄影镜头光谱透射率及色贡献指数检测系统设计灵活，可依照标准定制，适用于各类镜头透过率和色贡献指数测试。

p　　透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope, 简称TEM)，是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件(如荧光屏，胶片以及感光耦合组件)上显示出来的显微镜。/pp　strong　1 背景知识/strong/pp　　在光学显微镜下无法看清小于0.2微米的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超细结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜，电子束的波长比可见光和紫外光短得多，并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比，也就是说电压越高波长越短。目前TEM分辨力可达0.2纳米。/pcenterp style="text-align:center"img alt="" src="http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/e4bcd2dc67574096b089e3a428a72210_th.jpeg" height="316" width="521"//p/centerp style="text-align: center "strong电子束与样品之间的相互作用图/strong/pp 来源：《Characterization Techniques of Nanomaterials》[书]/pp　　透射的电子束包含有电子强度、相位以及周期性的信息，这些信息将被用于成像。/pp　　strong2 TEM系统组件/strong/pp　　TEM系统由以下几部分组成：/pp　　电子枪：发射电子。由阴极，栅极和阳极组成。阴极管发射的电子通过栅极上的小孔形成射线束，经阳极电压加速后射向聚光镜，起到对电子束加速和加压的作用。/pp　　聚光镜：将电子束聚集得到平行光源。/pp　　样品杆：装载需观察的样品。/pp　　物镜：聚焦成像，一次放大。/pp　　中间镜：二次放大，并控制成像模式(图像模式或者电子衍射模式)。/pp　　投影镜：三次放大。/pp　　荧光屏：将电子信号转化为可见光，供操作者观察。/pp　　CCD相机：电荷耦合元件，将光学影像转化为数字信号。/pcenterimg alt="" src="http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/077c0e70dca94509a9990ee4bf72b7c8_th.jpeg" height="359" width="358"//centerp style="text-align: center "strong透射电镜基本构造示意图/strong/pp 来源：中科院科普文章/pp　　strong3 原 理/strong/pp　　透射电镜和光学显微镜的各透镜及光路图基本一致，都是光源经过聚光镜会聚之后照到样品，光束透过样品后进入物镜，由物镜会聚成像，之后物镜所成的一次放大像在光镜中再由物镜二次放大后进入观察者的眼睛，而在电镜中则是由中间镜和投影镜再进行两次接力放大后最终在荧光屏上形成投影供观察者观察。电镜物镜成像光路图也和光学凸透镜放大光路图一致。/pcenterimg alt="" src="http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/e9d4e63ae7de44bdb90ac7b937a15169_th.jpeg" height="333" width="422"//centerp style="text-align: center "strong电镜和光镜光路图及电镜物镜成像原理/strong/pp 来源：中科院科普文章/pp　　strong4 样品制备/strong/pp　　由于透射电子显微镜收集透射过样品的电子束的信息，因而样品必须要足够薄，使电子束透过。/pp　　试样分类：复型样品，超显微颗粒样品，材料薄膜样品等。/pp　　制样设备：真空镀膜仪，超声清洗仪，切片机，磨片机，电解双喷仪，离子薄化仪，超薄切片机等。/pp　　/pcenterimg alt="" src="http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/57ee42cd8391437292cd04cc7bd24694_th.jpeg" height="296" width="406"//centerp style="text-align: center "strong超细颗粒制备方法示意图/strong/pp 来源：公开资料/pcenterimg alt="" src="http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/2ddf2c80dbe34a069bc51a3595a55160_th.jpeg" height="325" width="404"/br/strong材料薄膜制备过程示意图/strong/centerp　　来源：公开资料/pp　strong　5 图像类别/strong/pp　　strong(1)明暗场衬度图像/strong/pp　　明场成像(Bright field image):在物镜的背焦面上，让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法。/pp　　暗场成像(Dark field image):将入射束方向倾斜2θ角度，使衍射束通过物镜光阑而把透射束挡掉得到图像衬度的方法。/pcenterimg alt="" src="http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/c458ccf5fa5c4ffa9cb948e2d28b76b0.png" height="306" width="237"/br/strong明暗场光路示意图/strong/centercenterimg alt="" src="http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/701e2e4343ea4409b3afdd92e1717804.jpeg" height="318" width="294"/br/strong硅内部位错明暗场图/strong/centerp　　来源：《Characterization Techniques of Nanomaterials》[书]/pp　　strong(2)高分辨TEM(HRTEM)图像/strong/pp　　HRTEM可以获得晶格条纹像(反映晶面间距信息) 结构像及单个原子像(反映晶体结构中原子或原子团配置情况)等分辨率更高的图像信息。但是要求样品厚度小于1纳米。/pp　　/pcenterimg alt="" src="http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/264c1d9b2f454ea9b8aa548033200a33.png" height="312" width="213"//centerp style="text-align: center "strongHRTEM光路示意图/strong/pcenterimg alt="" src="http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/d53de1201a4e41948d4d095401c3dc3b.jpeg" height="234" width="321"/br/strong硅纳米线的HRTEM图像/strong/centerp　　来源：《Characterization Techniques of Nanomaterials》[书]/pp　　strong(3)电子衍射图像/strong/pp　　选区衍射(Selected area diffraction, SAD): 微米级微小区域结构特征。/pp　　会聚束衍射(Convergent beam electron diffraction, CBED): 纳米级微小区域结构特征。/pp　　微束衍射(Microbeam electron diffraction, MED): 纳米级微小区域结构特征。 br//pp　　/pcenterp style="text-align:center"img alt="" src="http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/f6fc1e403ef74234af93d4f9979429cd.png" height="296" width="227"//ppstrong电子衍射光路示意图/strong/p/centerp　　来源：《Characterization Techniques of Nanomaterials》[书]/pcenterimg alt="" src="http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/b0631c33d4b44f10bf9bdb0f908830c5.png" height="174" width="173"//centerp style="text-align: center "strong单晶氧化锌电子衍射图/strong/pcenterimg alt="" src="http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/2ac3b6fb7b03421096ee3af0790b9acb.png" height="174" width="175"//centerp style="text-align: center "strongstrong无定形氮化硅电子衍射图/strong/strong/pcenterimg alt="" src="http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/02f2f6c3980a4450a36bc7bbc36f10e5.png" height="174" width="170"/br/strong锆镍铜合金电子衍射图/strong/centerp　　来源：《Characterization Techniques of Nanomaterials》[书]/pp　　strong6 设备厂家/strong/pp　　世界上能生产透射电镜的厂家不多，主要是欧美日的大型电子公司，比如德国的蔡司(Zeiss),美国的FEI公司，日本的日立(Hitachi)等。/pp　　strong7 疑难解答/strong/pp　　strongTEM和SEM的区别：/strong/pp　　当一束高能的入射电子轰击物质表面时，被激发的区域将产生二次电子、背散射电子、俄歇电子、特征X射线、透射电子，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。扫描电镜收集二次电子和背散射电子的信息，透射电镜收集透射电子的信息。/pp　　SEM制样对样品的厚度没有特殊要求，可以采用切、磨、抛光或解理等方法特定剖面呈现出来，从而转化为可观察的表面 TEM得到的显微图像的质量强烈依赖于样品的厚度，因此样品观测部位要非常的薄，一般为10到100纳米内，甚至更薄。/pp　　strong简要说明多晶(纳米晶体)，单晶及非晶衍射花样的特征及形成原理：/strong/pp　　单晶花样是一个零层二维倒易截面，其倒易点规则排列，具有明显对称性，且处于二维网格的格点上。/pp　　多晶面的衍射花样为各衍射圆锥与垂直入射束方向的荧光屏或者照相底片的相交线，为一系列同心圆环。每一族衍射晶面对应的倒易点分布集合而成一半径为1/d的倒易球面，与Ewald球的相贯线为圆环，因此样品各晶粒{hkl}晶面族晶面的衍射线轨迹形成以入射电子束为轴，2θ为半锥角的衍射圆锥，不同晶面族衍射圆锥2θ不同，但各衍射圆锥共顶、共轴。/pp　　非晶的衍射花样为一个圆斑。/pp　strong　什么是衍射衬度?它与质厚衬度有什么区别?/strong/pp　　晶体试样在进行电镜观察时，由于各处晶体取向不同和(或)晶体结构不同，满足布拉格条件的程度不同，使得对应试样下表面处有不同的衍射效果，从而在下表面形成一个随位置而异的衍射振幅分布，这样形成的衬度称为衍射衬度。质厚衬度是由于样品不同微区间存在的原子序数或厚度的差异而形成的，适用于对复型膜试样电子图象做出解释。/pp　　strong8 参考书籍/strong/pp　　《电子衍射图在晶体学中的应用》 郭可信，叶恒强，吴玉琨著 /pp　　《电子衍射分析方法》 黄孝瑛著 /pp　　《透射电子显微学进展》 叶恒强，王元明主编 /pp　　《高空间分辨分析电子显微学》 朱静，叶恒强，王仁卉等编著 /pp　　《材料评价的分析电子显微方法》 (日)进藤大辅，及川哲夫合著，刘安生译。/pp　　来源：中国科学院科普文章《透射电子显微镜基本知识介绍》/p

玻璃作为一种常见的材料，广泛应用于建筑、汽车、家具等领域。在玻璃行业中，透射和反射是两个重要的性质。透射涉及玻璃对可见光的透明程度和色彩表现，而反射关乎玻璃表面镀膜的效果。本文将介绍如何使用在线ERX55分光光度仪和ColorXRAG3色度分析仪来监控色彩质量和测量玻璃镀膜的反射率。透射是玻璃行业中最重要的光学性质之一，它决定了玻璃对可见光的透明程度和色彩表现。当光穿过玻璃时，会受到折射现象的影响。折射是光在从一种介质传播到另一种介质时改变方向的现象。这种折射现象使得玻璃能够将光有效地传播到玻璃的另一侧，使我们能够透过玻璃看到外面的世界。在玻璃行业中，透射率是一个重要的参数。透射率定义为通过玻璃的光强与入射光强的比值。透射率越高，玻璃对光的透明度就越好。而对于特定波长的光，其透过玻璃的能量与光谱分布有关，因此，不同类型的玻璃可能对不同波长的光具有不同的透射率。透射率的测量通常使用分光光度计来完成。在线ERX55分光光度仪是高精度的测量仪器，可以用于测量透明薄膜的色彩、可见光透射和雾度，持续监控色彩质量。通过持续监控透明薄膜的色彩质量，生产厂家可以确保产品的一致性和稳定性。反射是另一个在玻璃行业中需要关注的光学现象。反射率是一个指标，用于衡量光线在物体表面反射的程度。在玻璃制造过程中，常常会在玻璃表面进行涂层处理，这些涂层能够改变玻璃的反射性能。通过合理设计涂层，可以实现特定的反射率，使玻璃在特定波长范围内表现出所需的特殊光学效果，如防紫外线、隐私保护等。玻璃作为非散射性物体，在传统的直接照明测量设备中无法准确提供色彩数据。为解决这一问题，ColorXRAG3色度分析仪成为了一种重要工具。该设备具备宽波长范围（330nm到1,000nm）和高光学分辨率（1nm），可在实验室中安装在支架上，对放置在样品支架上的玻璃板进行测量。同时，它也可用于在线测量，安装在玻璃板上方的横梁用于测量低辐射玻璃，或安装在玻璃板下方用于测量遮阳镀膜。ColorXRAG3色度分析仪具有紧凑型设计，可从距离玻璃板10mm处捕获非散射性样品的光谱数据和色彩反射值，甚至能鉴定多银层镀膜。该仪器采用氙气闪光灯，同时采用+15°:-15°、+45°:-45°和+60°:-60°三种光学结构，每秒进行一次测量，以实现全方位的色彩数据获取。其中，±15°的测量值与传统实验室测量的积分球光学结构结果相同，而±45°和±60°的测量值则可以显示不同观察角度下的色彩变化。ColorXRAG3色度分析仪的应用为玻璃行业提供了一种高效、准确的色彩测量解决方案，使生产厂家能够更好地控制透射与反射性能，提高产品质量，并满足不同市场需求，推动玻璃行业的持续发展。透射和反射是玻璃行业中非常重要的光学现象。透射性能决定了玻璃的透明度和色彩表现，而反射率则与玻璃表面的涂层处理密切相关。使用在线ERX55分光光度仪和ColorXRAG3色度分析仪，可以对玻璃产品的透射性能和反射性能进行精确测量和监控，从而保证玻璃产品的质量和性能达到预期要求。“爱色丽彩通”是丹纳赫公司旗下的品牌，总部位于美国密歇根州，成立于1958年。作为全球领先的色彩趋势、科学和技术公司，爱色丽彩通提供服务和解决方案，帮助品牌、制造商和供应商管理从设计到最终产品的色彩。

一、项目基本情况1.项目编号：ZTXY-2023-H22766项目名称：北京理工大学场发射透射电子显微镜采购预算金额：750.000000 万元（人民币）最高限价（如有）：750.000000 万元（人民币）采购需求：名称数量单位简要技术要求是否接受进口产品场发射透射电子显微镜1套详见招标文件《第六章 采购需求》是 合同履行期限：合同签订后15个月内。本项目( 不接受 )联合体投标。项目编号：ZTXY-2023-H22774项目名称：北京理工大学紫外可见红外光谱测试系统2.预算金额：250.000000 万元（人民币）最高限价（如有）：250.000000 万元（人民币）采购需求：名称数量单位简要技术要求是否接受进口产品紫外可见红外光谱测试系统1套详见招标文件《第六章 采购需求》是 合同履行期限：合同签订后10个月内交货并安装完毕。本项目( 不接受 )联合体投标。二、获取招标文件时间：2023年12月03日 至 2023年12月08日，每天上午8:30至12:00，下午12:00至16:30。（北京时间，法定节假日除外）地点：北京市朝阳区南磨房路37号华腾北搪商务大厦11层1103室（或邮件方式）方式：现场报名或邮件方式。邮件方式：在本项目招标文件发售截止时间前，将支付标书款凭证发至邮箱baoming_ztxy100@163.com。邮件主题“【场发射透射电子显微镜】-XXX公司”。邮件内容“【项目信息（项目名称、项目编号），投标人信息（公司全称、统一信用代码），联系人信息（姓名、手机号、电子邮箱）】”以标书款到账时间为准，逾期汇款报名无效（未及时发送报名信息导致的后果，投标人自行承担）。售价：￥500.0 元，本公告包含的招标文件售价总和三、对本次招标提出询问，请按以下方式联系。1.采购人信息名 称：北京理工大学　　　　　地址：北京市海淀区中关村南大街5号　　　　　　　　联系方式：林老师，010-68917981　　　　　　2.采购代理机构信息名 称：中天信远国际招投标咨询(北京)有限公司　　　　　　　　　　　　地　址：北京市朝阳区南磨房路37号华腾北搪商务大厦11层1103室　　　　　　　　　　　　联系方式：王文姣、王师安、于海龙、成志凯、张静、鲁智慧，010-51908151　　　　　　　　　　　　3.项目联系方式项目联系人：王文姣、王师安、于海龙、成志凯、张静、鲁智慧电　话：　　010-51908151

p　　作者：Mix + CCL br//pp strong前言：/strong/pp　　球差校正透射电镜(Spherical Aberration Corrected Transmission Electron Microscope: ACTEM)随着纳米材料的兴起而进入普通研究者的视野。超高分辨率配合诸多分析组件使ACTEM成为深入研究纳米世界不可或缺的利器。本期我们将给大家介绍何为球差，ACTEM的种类，球差的优势，何时才需要ACTEM、以及如何为ACTEM准备你的样品。最后我们会介绍一下透射电镜的最前沿，球差色差校正透射电镜。/pp　　strong什么是球差：/strong/pp　　100 kV的电子束的波长为0.037埃，而普通TEM的点分辨率仅为0.8纳米。这主要是由TEM中磁透镜的像差造成的。球差即为球面像差，是透镜像差中的一种。其他的三种主要像差为：像散、彗形像差和色差。透镜系统，无论是光学透镜还是电磁透镜，都无法做到绝对完美。对于凸透镜，透镜边缘的会聚能力比透镜中心更强，从而导致所有的光线(电子)无法会聚到一个焦点从而影响成像能力。在光学镜组中，凸透镜和凹透镜的组合能有效减少球差，然而电磁透镜却只有凸透镜而没有凹透镜，因此球差成为影响TEM分辨率最主要和最难校正的因素。此外，色差是由于能量不均一的电子束经过磁透镜后无法聚焦在同一个焦点而造成的，它是仅次于球差的影响TEM分辨率的因素。/pp style="text-align: center"img style="width: 450px height: 246px " src="http://img1.17img.cn/17img/images/201803/insimg/565984ed-0352-4b62-8539-a16db18b6f6b.jpg" title="1.jpg" height="246" hspace="0" border="0" vspace="0" width="450"//pp style="text-align: center "strong图1：球差和色差示意图/strong/pp自TEM发明后，科学家一直致力于提高其分辨率。1992年德国的三名科学家Harald Rose (UUlm)、Knut Urban(FZJ)以及Maximilian Haider(EMBL)研发使用多极子校正装置(图3)调节和控制电磁透镜的聚焦中心从而实现对球差的校正(图4)，最终实现了亚埃级的分辨率。被称为ACTEM三巨头的他们也获得了2011年的沃尔夫奖。多极子校正装置通过多组可调节磁场的磁镜组对电子束的洛伦茨力作用逐步调节TEM的球差，从而实现亚埃级的分辨率。/pp style="text-align: center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201803/insimg/2080a2cf-4ab3-41ab-b731-7719f0c32d28.jpg" title="2.jpg"//pp style="text-align: center "　strong　图2 三种多极子校正装置示意图/strong/pp style="text-align: center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201803/insimg/090bb4c0-aeea-4ab4-8601-79bcf74b7c8e.jpg" title="3.jpg"//pp style="text-align: center "strong图3 球差校正光路示意图/strong/pp　　strongACTEM的种类：/strong/pp　　我们在前期TEM相关内容已经介绍了透镜相关内容，TEM中包含多个磁透镜：聚光镜、物镜、中间镜和投影镜等。球差是由于磁镜的构造不完美造成的，那么这些磁镜组都会产生球差。当我们矫正不同的磁透镜就有了不同种类的ACTEM。回想一下STEM的原理，当我们使用STEM模式时，聚光镜会聚电子束扫描样品成像，此时聚光镜球差是影响分辨率的主要原因。因此，以做STEM为主的TEM，球差校正装置会安装在聚光镜位置，即为AC-STEM。而当我们使用image模式时，影响成像分辨率的主要是物镜的球差，此种校正器安装在物镜位置的即为AC-TEM。当然也有在一台TEM上安装两个校正器的，就是所谓的双球差校正TEM。此外，由于校正器有电压限制，因此不同的型号的ACTEM有其对应的加速电压，如FEI TITAN 80-300就是在80-300 kV电压下运行，也有专门为低电压配置的低压ACTEM。/pp　　strong球差校正电镜的优势：/strong/pp　　ACTEM或者ACSTEM的最大优势在于球差校正削减了像差，从而提高了分辨率。传统的TEM或者STEM的分辨率在纳米级、亚纳米级，而ACTEM的分辨率能达到埃级，甚至亚埃级别。分辨率的提高意味着能够更“深入”的了解材料。例如：最近单原子催化很火，我们公众号也介绍了大量相关工作。为什么单原子能火，一个很大的原因是电镜分辨率的提高，使得对单原子的观察成为可能。浏览这些单原子催化相关文献，几乎无一例外都用到了ACTEM或者ACSTEM。这些文献所谓的“单原子催化剂”，可能早就有人发现，但是因为受限于当时电镜分辨率不够，所以没能发现关键的催化活性中心。正是因为球差校正的引入，提高了分辨率，才真正揭示了这一系列催化剂的活性中心。/pp　　strong何时才需要用球差校正电镜呢?/strong/pp　　虽然现在ACTEM和ACSTEM正在“大众化”，但是并非一定要用这么高大上的装备。如果你想观察你的样品的原子级结构并希望知道原子的元素种类(例如纳米晶体催化剂等)，ACSTEM将会是比较好的选择。如果你想观察样品的形貌和电子衍射图案或者样品在TEM中的原位反应，那么物镜校正的ACTEM将会是更好的选择。就纳米晶的合成而言，球差校正电镜常用来揭示纳米材料的细微结构信息。比如合成一种纳米核壳材料，其中壳层仅有几个原子层厚度，这个时候普通电镜下很难观察到，而球差电镜则可以拍到这一细微的结构信息(请参见夏幼男教授的SCIENCE，349，412)。/pp　　strong如何为ACTEM准备你的样品：/strong/pp　　首先如果没有合作的实验室的帮助，ACTEM的测试费用将会是非常昂贵的。因此非常有必要在这里介绍如何准备样品。在测试之前最好尽量了解样品的性质，并将这些信息准确地告知测试者。其中我认为先用普通的高分辨TEM观察样品是必须的，通过高分辨TEM的预观察，你需要知道并记录以下几点：一、样品的浓度是否合适，目标位点数量是否足量 二、确定样品在测试电压下是否稳定并确定测试电压，许多样品在电子束照射下会出现积累电荷(导电性差)、结构变化(电子束的knock-on作用)等等 三、观察测试目标性状，比如你希望测试复合结构中的纳米颗粒的原子结构，那么必须观察这些纳米颗粒是否有其他物质包覆等，洁净的样品是实现高分辨率的基础 四、确定样品预处理的方式，明确样品测试前是否需要加热等预处理。五、拍摄足量的高分辨照片，并标注需要进一步观察的特征位点。在ACTEM测试中，与测试人员的交流非常重要，多说多问。/pp　　strong球差色差校正透射电镜：/strong/pp　　球差校正器经过多年的发展，在最新的五重球差校正器的帮助下，人类成功地将球差对分辨率的影响校正到小于色差。只有校正色差才能进一步提高分辨率，于是球差色差校正透射电镜就诞生了。我们欣赏一下放置在德国Ernst Ruska-Centre的Titan G3 50-300 PICO双球差物镜色差校正TEM (300 kV分辨小于0.5埃)以及德国乌尔姆大学的TitanG3 20-80 SALVE 低电压物镜球差色差校正TEM (20 kV 分辨率小于1.4埃)。/pp style="text-align: center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201803/insimg/04b96c4d-c6fe-40d2-85c0-b86ce091e6e8.jpg" title="4.jpg"//pp style="text-align: center "strong图4 Titan G3 50-300 PICO、TitanG3 20-80 SALVE及其矫正器/strong/p

仪器信息网讯 近日，厦门大学在5日内发布五项仪器招标公告，采购串联三重四级杆质谱、电化学球差原位透射电镜、超高分辨质谱仪等5台/套仪器设备。公告显示，招标预算总金额达5525.2万元，五项招标项目将于2月下旬陆续开标。　　招标项目明细及采购仪器要求如下两个表格及附件所示。仪器招标项目明细采购仪器明细 附件1： 串联三重四级杆质谱　　一、主要技术参数:　　1 液相色谱部分：　　1.1 二元高压泵系统　　1.1.1 流速范围：0.001-5.0 mL/min，0.001 mL/min步进　　1.1.2 流速精度：≤ 0.070%　　1.1.3 操作压力:0-18000 psi　　1.1.4 流速准确度：± 1.0%　　1.1.5 梯度准确度：± 0.4%　　1.1.6 梯度精确度：± 0.2%　　1.2 自动进样器　　1.2.1 样品数量：≥ 100瓶　　1.2.2 进样精度：≤ 0.5% RSD　　1.2.3 进样线性度：0.999　　1.2.4 交叉污染：0.005%　　1.3 智能化半导体控温柱温箱　　1.3.1 柱温范围：室温以下10℃～80℃　　1.3.2 温度稳定性：± 0.1℃　　2 质谱仪部分：三重四极杆质谱仪　　2.1 质谱仪包括以下完整组件：ESI，APCI离子源、离子导入系统、三重四极杆质量-线性离子阱分析器、电子倍增器检测器系统、数据采集处理系统各一套。　　2.2 质量范围(m/z)：5-2000amu　　2.3 灵敏度：ESI正离子灵敏度：1pg 利血平柱上上样， MRM分析测量m/z195(子离子)、m/z609(母离子)， 信噪比≥ 510000：1 ,C.V.5%　　2.4 正负离子切换速率：≤ 5ms　　2.5 质量稳定性：≤ 0.1amu (48hr)　　2.6 离子驻留时间：≤ 1ms　　2.7 电喷雾离子源：流速 5uL/min—3000uL/min以上 APCI 大气压化学离子源流速范围：流速 50uL/min-3000uL/min以上。　　2.8 同时具备串联四极杆、线性离子阱扫描模式及MRM3扫描功能　　2.9 半峰宽0.7amu下，线性离子阱扫描速度：≥ 20000 amu/s　　2.10 线性离子阱分辨率：≥ 10000(在250amu/s)　　2.12 具有以下扫描模式：全扫描(Full Scan)、子离子扫描( Product Ion Scan)、母离子扫描(Precursor Ion Scan)、中性丢失扫描(Neutral Loss Scan)、选择离子扫描(SIM)、选择反应扫描(SRM)、多反应监测扫描(MRM)、混合扫描(Mixed Scan Mode) 、增强全扫描(EMS)、增强子离子扫描(EPI)、增强多电荷扫描(EMC)、增强分辨率扫描(ER)、时间延迟碎裂功能(TDF)。　　2.13 线性离子阱MS/MS 全扫描灵敏度 1pg 利血平直接进样，信噪比100：1(峰峰比)　　二、售后服务　　1.设备安装调试：仪器到货后，买方负责提供必要的实验室条件，卖方在接到买方通知的7个工作日内派人前往负责该设备的安装、调试和操作培训，直至达到各项验收指标合格。　　2.提供全套完整的技术资料，包括说明书、用户手册、装箱单、仪器使用维护手册等 　　3.技术培训：仪器安装验收后，立刻提供不少于一个月的操作使用培训，并确保购买方能熟练使用该仪器。　　4. 原厂家在福建省内有制造厂商产品应用技术人员及硬件维修人员，提供本地化的应用支持及硬件维护服务，一旦仪器发生故障，能够24小时内响应，48小时内维修工程师到达现场。商家应保证配件供应，一个月内无法修好仪器，应提供样机供用户免费使用，或联系厦门地区其他单位的同档次仪器供用户使用，并承担由此产生的所有费用。　　5.保修期：质保期至少为36个月原厂质保，自与最终用户签署验收合格单之日起算。质保期内发生任何设备损坏，所需要的维修费用(包括零部件费用、维修费用)均由卖方承担(若人为操作不当造成的损坏，不在此例)，产品终身维修。　　6.供应商需提供相关配件，例如UPS/ 2小时、相关代谢组学软件和数据库。　　附件2： 分析型流式细胞仪　　一、技术参数　　1. 光学系统：整合了最新的激光和光学技术，最多可配置5根激光器，检测20个参数变化，进行18色分析，且具备升级更多激光器空间。　　1.1 配置5根固体激光器的型号及功率：355nm: 15mW, 405nm: 50mW, 488nm: 50mW, 561nm: 50mW,640nm: 40mW 激光功率损失低于20%。　　1.2 检测器：18个荧光检测器，1个前向散射角检测器，1个侧向散射角检测器。　　1.3 所有光学通道配插拔式滤光片，每个光学通道组可自由升级或更换接收器及滤光片。使用者可自行更换滤片，更换滤片后无需任何光路校准或校正。　　1.4 光路激发系统：包括一个激光阵列，由多达五种固定波长的激光、光束形成器和单个独立小孔共同组成，可形成空间上隔离的独立的光斑，避免不同激光器之间的干扰。激光光束与样本在石英杯流动室准确聚焦，产生荧光信号。　　1.5 光路收集系统：采用专利的光胶耦合石英流动池(光圈≥ 1.2NA)以及多角形光路收集系统，连续八角形全反射接收光路能够最大化地收集检测信号，其中PMT通过前置带通滤片收集特定波长范围的荧光。这种构造可以使得光路系统中滤光片与光镜能够根据需要轻易更换而无需额外调整光路。　　1.6 荧光检测灵敏度：FITC≤ 80MESF, PE≤ 30MESF。　　1.7 荧光检测分辨率 PI染色CEN样本，G0/G1期全峰宽PI-Area CV 3.0% (488 nm) 2um的荧光小球散射光全峰宽CV 2.0%。　　2. 液流系统：采用保持真正固定角度的石英杯流动室的设计。　　2.1 液流系统由气压泵正压力驱动。通过流体动力学聚焦，使样本通过石英杯流动室，并在流动室被激光照射。流动室与激光成固定角度并与收集光路胶耦合。这种设计确保激光器精准聚焦在样本流上，同时能够最大程度减少启动时间，优化不同实验间数据重现性并能够实现日常自动质控。　　2.2 外置鞘液桶(8升)与废液桶(10升)可置于地面，方便使用。　　2.3 液流传感器维持恒压，当鞘液不足、用尽或废液桶满时，液流监测系统都会发出警报。　　2.4 样品分析速度可连续调节，并预设低速(12μ L/min)，中速(35μ L /min)，高速(60μ L /min)。　　2.5 样品最大分析速度可达40,000细胞/秒。　　3. 数据获取、分析：软件能够高效设置、获取并分析流式细胞实验数据。本软件集成了强大的功能，如快速分层设门、多种图形格式及批处理。　　4. 仪器性能质控：仪器全息跟踪(CS&T)全自动质控系统能够建立设定基线并调整仪器变量。CS&T最大程度的减小了操作误差，并通过设定多个激光器信号时间延迟和最优化PMT电压确保结果的一致性。保证每一个数据的准确性。　　5. 脉冲处理信号：可同时分析脉冲高度、宽度、面积和时间4种参数。　　6. 荧光补偿：18*18全矩阵荧光补偿，可脱机补偿，离线分析。　　7. 电脑工作站：Intel Xeon E3-1240v3 CPU 3.4GHz，内存4G，硬盘≥ 1TB，独立显卡1G，2个21寸LCD，DVD/RW，Windows 7操作系统 彩色激光打印机一台 5Kv稳压电源一台。　　二、售后服务　　1.设备安装调试：仪器到货后，买方负责提供必要的实验室条件，卖方在接到买方通知的7个工作日内派人前往负责该设备的安装、调试和操作培训，直至达到各项验收指标合格。　　2.提供全套完整的技术资料，包括说明书、用户手册、装箱单、仪器使用维护手册等 　　3.技术培训：仪器安装验收后，立刻提供不少于一个月的操作使用培训，并确保购买方能熟练使用该仪器。　　4. 原厂家在福建省内有制造厂商产品应用技术人员及硬件维修人员，提供本地化的应用支持及硬件维护服务，一旦仪器发生故障，能够24小时内响应，48小时内维修工程师到达现场。商家应保证配件供应，一个月内无法修好仪器，应提供样机供用户免费使用，或联系厦门地区其他单位的同档次仪器供用户使用，并承担由此产生的所有费用。　　5.保修期：质保期至少为24个月，自与最终用户签署验收合格单之日起算。质保期内发生任何设备损坏，所需要的维修费用(包括零部件费用、维修费用)均由卖方承担(若人为操作不当造成的损坏，不在此例)，产品终身维修。　　附件3： 高端分选型流式细胞仪　　整体要求：全新原装产品，模块化设计，全自动设置时间延迟，在任意数量的荧光和补偿下达到≥ 70,000细胞/秒的高速分选功能。　　一、光路系统　　1. 激光器配置：5根激光器，不少与5个Pinhole，可激发≥ 15色荧光：高功率355nm固体激光器，高功率405nm 固体激光器，高功率488nm 固体激光器，高功率561nm 固体激光器，高功率640nm 固体激光器。　　2. 系统具备≥ 7个独立光斑，采用独立光纤引导，不同波长的激光光路相互独立，对样品进行激发　　3. 检测通道：≥ 15个荧光通道，≥ 2个散色光通道，包括前向角和侧向角，PMT检测器不少于17个。　　4. 配置≥ 1个前向PMT检测器，前向散射光可以配备≥ 3种不同的Masks，可以检测200nm和区分100nm差异的颗粒。配置≥ 1个侧向PMT检测器，并且任意≥ 405nm激光器都可选装侧向散射光 　　5. 激光光路固化，无需荧光微球反复调试，开机即可使用。　　6. 升级能力：开放光学平台，7个Pinhole，最高可升级至7根激光，并可同时激发。　　7. 激发方式：合理的激发模式，保障高回收率和细胞活性。　　二、液流及分析系统　　1. 系统压力：4-100 PSI ，可调。保证系统的高速分选和稳定。　　2. 液滴振荡频率：≥ 200KHz(每秒20万颗液滴/秒) 　　3. 检测速度：≥ 100,000个细胞/秒 　　4. 检测灵敏度：FITC≤ 125MESF，PE≤ 125MESF 　　5. 可在同一时间检测并分析小至200nm至30um的三个数量级以上的生物样本 　　6. 鞘液桶、废液桶、喷嘴可高压灭菌 液流管道及喷嘴可更换：完全消除不同样本间的交叉污染，适应干细胞检测、干细胞分选、细胞治疗或酵母等高污染样本等等特殊应用的实现 　　三、分选性能　　1. 分选速度：≥ 70,000个细胞/秒 　　2. 分选纯度：≥ 99%，在≥ 70,000个细胞/秒分选速度下 　　3. 分选设置：配备全自动智能分选设置，自动设置液体延迟，无需微球设置分选条件 　　4. 分选收集通道：能进行≥ 4路分选，能够进行单细胞分选、自定义分选和玻片分选 分选模式：可实现2路、4路等多路细胞分选及成份分选，单克隆分选，以及成份分选、定位分选 可选择纯度模式、富集模式、混合模式，并可将三种模式在一份样本中同时使用 　　5.支持“无电”式分选方法，最大限度保证样本细胞活性 　　6. 智能进样系统：可使用如下规格样本管：0.5ml，1.0ml，1.5ml，5ml，7ml，15ml，50ml，可进行自动混匀振荡、排气泡、反冲、自动清洗等功能 　　7. 标准喷嘴规格：70um、100um。并可根据需求添置喷嘴 　　8. 可快速连同喷嘴及流动室一起更换，不影响光路，节省操作时间 　　9. 无菌保障：分选收集仓内置紫外灯，保证收集细胞无菌性 　　四、数字化信息处理系统　　1. 数字化脉冲原始信息量：≥ 32bit 　　2. 数字化信号采集频率：≥ 100 MHz 　　3. 单次检测细胞数收集能力：≥ 10亿 　　4. ≥ 4,294,967,296 通道 　　五、软件以及控制系统　　1. 分选控制系统：触屏式控制软件系统，能对所有分选分析结果进行统计 　　2. 数据获取和分析软件，无加密限制，可方便用户安装于多台电脑，便于数据分析，具备数据叠加等功能 　　3. 颜色补偿：支持全矩阵补偿，支持脱机补偿，自动补偿 　　4. 支持在分选期间可阻止电脑进入睡眠状态，可阻止电脑自动重启 　　二、售后服务　　1.设备安装调试：仪器到货后，买方负责提供必要的实验室条件，卖方在接到买方通知的7个工作日内派人前往负责该设备的安装、调试和操作培训，直至达到各项验收指标合格。　　2.提供全套完整的技术资料，包括说明书、用户手册、装箱单、仪器使用维护手册等 　　3.技术培训：仪器安装验收后，立刻提供不少于一个月的操作使用培训，并确保购买方能熟练使用该仪器。　　4. 原厂家在福建省内有制造厂商产品应用技术人员及硬件维修人员，提供本地化的应用支持及硬件维护服务，一旦仪器发生故障，能够24小时内响应，48小时内维修工程师到达现场。商家应保证配件供应，一个月内无法修好仪器，应提供样机供用户免费使用，或联系厦门地区其他单位的同档次仪器供用户使用，并承担由此产生的所有费用。　　5.保修期：质保期至少为24个月，自与最终用户签署验收合格单之日起算。质保期内发生任何设备损坏，所需要的维修费用(包括零部件费用、维修费用)均由卖方承担(若人为操作不当造成的损坏，不在此例)，产品终身维修。　　附件4： 超高分辨质谱仪　　一、主要技术参数:　　1 工作条件：　　1.1. 工作电压：230V± 10%，15Amps，50Hz　　1.2. 温度：16-260C　　1.3. 湿度：50-80%　　1.4. 长时间连续运行　　2 功能要求：　　2.1 蛋白质组学：蛋白质组学研究中的蛋白质鉴定、翻译后修饰、生物大分子相互作用、多肽和蛋白质的定量分析。　　2.2 药物代谢：新药研发，代谢物鉴定，研究与疾病有关的标记物和代谢组学、脂质组学，小分子和生物大分子的相互作用。　　2.3 食品安全、环境分析、毒理及临床研究：高通量农药、兽药、毒物及非法添加物等目标化合物和未知物的筛选、定量、确证。　　2.4 操作过程由计算机控制。　　3 技术要求：　　3.1超高压纳流液相　　3.1.1 压力范围：0~ 1200 Bar　　3.1.2不分流一体化设计和防脉冲泵，能实现智能流速控制及上样和柱平衡，确保梯度的重现性。　　3.1.3 防脉冲泵：使用蓝宝石活塞的单作用式注射无脉冲泵保证密封圈和阀门更换频率最低化。　　3.1.4 内置自动化的维护步骤，具有定期提醒功能，可进行自动检漏测试，系统反压测试。可实现进样前流路自动气泡检测。　　3.1.5 内置式电脑设计，可通过触摸屏直接控制，使得系统设置，方法配置和日常维护最简单。　　3.1.6 梯度流速：20-2,000 nL/min 推荐流速：100-1,000 nL/min，实现稳定的、无脉冲梯度　　3.1.7 上样和再平衡速度：最快25µL/min.(反压限制)　　3.1.8 保留时间重现性：典型 0.1- 0.4% RSD (在推荐流速下)　　3.1.9 样品瓶位数：48位HPLC进样小瓶，兼容96孔板384孔板。　　3.1.10样品室控温：最低5℃。　　3.1.11进样范围：0.1-18µL (20µL 进样环)，0.01µL递增　　3.1.12 进样重现性：≤ 0.2% RSD at 5µL ≤ 3.0% RSD at 100Nl　　3.1.13 上样速度：0~40µL/min　　3.1.14 梯度延迟体积：1µL　　3.1.15可定制特定清洗程序，可设置三路不同溶剂清洗，交叉污染：0.05%(咖啡因)　　3.1.16阀：4个6通阀(免维护)，3个位置微量阀　　3.1.17 上样环体积标配20µL，可选5µL和50µL.　　3.1.18 上样线性：BSA 0.999 at 0.5-10µL(进样体积) Caffeine 0.999 at 0.3-1.6µL (进样体积)　　3.1.19 可与纳喷源和质谱的无缝连接，集成化单一LC-MS软件控制，具有远程诊断功能。　　3.1.20 可实现进样前流路自动气泡检测　　3.2 四极杆-线性离子阱-高分辨轨道阱三合一质谱：四极杆-双压线性离子阱-静电场轨道阱傅里叶转换三合一超高分辨质谱　　3.2.1 硬件部分：　　3.2.1.1 离子源：　　3.2.1.1.1 简便新一代离子源可使所有气体和电路连接自动安装 增强型的排气口能够除去更多的雾化溶剂，进而降低基线噪音，吹扫气设计降低化学噪音，延长仪器运行时间　　3.2.1.1.2 加热的电喷雾离子源，流速：1-2000ul/min(不分流)　　3.2.1.2 纳喷源：适合所有Nano流速，蛋白质组学用　　3.2.1.3 离子光学部分：　　3.2.1.3.1 高容量离子传输管：增加更多的离子流进入真空系统，从而提高灵敏度 无须卸真空就可维护。　　3.2.1.3.2电动离子漏斗：高效捕获离子传输管中存在的每个离子，并将其有效转移到主动离子束传导组件，从而提高灵敏度　　3.2.1.3.2 主动离子束传导组件：具有轴向场的主动离子束传导组件阻挡了中性粒子和高速簇粒子进入四极杆，从而降低噪音　　3.2.1.3.3 尖端四极杆质量过滤器：分段四极杆设计，用于母离子选择，能够使离子阱和Orbitrap质量分析器并列运行。在最低可达0.4 amu的选择窗口下具有高效的离子传输能力，提高了灵敏度和选择性。　　3.2.1.3.4 多极离子通道：实现高能碰撞裂解(HCD) 同时由动态扫描管理控制的多极离子通道，使离子阱和轨道阱质量分析器的有效扫描速率得到提高、易于实现并列检测 用于母离子选择，能够使离子阱和轨道阱质量分析器并列运行。　　3.2.1.3.5 轨道阱质量分析器：≥ 500,000FWHM的分辨率第二代超高场轨道阱，大大提高对同重干扰物的分离效果 扫描速率≥ 20HZ。　　3.2.1.3.6 双压线性离子阱质量分析器：双压结构可使扫描速率最高达20 Hz。在诸如基于MS3的多通道肽段定量实验中，同步母离子选择(Synchronous Precursor Selection, SPS)提高了信噪比，在最低可达0.2 amu。双打拿极大表面积的检测器，具有宽线性范围，并延长了寿命和抗污染性　　3.2.1.4 真空系统：差分泵，真空2 × 10-10 Torr　　3.2.2 性能指标：　　3.2.2.1 质量范围：50-6000 m/z　　3.2.2.2 最大分辨率： ≥ 500,000 FWHM (at m/z200)　　3.2.2.3 扫描速率：轨道阱MSn ≥ 20Hz 离子阱MSn ≥ 20Hz　　3.2.2.4 质量准确度(MS和MS/MS)：1ppm(内标) 3ppm(外标)　　3.2.2.5 离子阱灵敏度：ESI：100 fg利血平，MS/MS 信噪比200:1　　3.2.2.6 线性动态范围：5000:1　　3.2.2.7 自动MS/MS(MSn)级数：n=1-10级　　3.2.2.8 同步母离子选择: 基于MS3的多通道分析，一次MS2扫描可以选择20个母离子　　3.2.2.9 使用多极离子通道并列运行：利用四极杆质量过滤器，一次扫描可以选择10个母离子　　3.2.2.10 正负离子切换速度：1.1秒(完成1次正离子模式全扫描和1次负离子模式全扫描，分辨率30000)　　3.2.2.11 多种碰撞模式：具有高能碰撞裂解(HCD)、脉冲Q值诱导解析(PQD)、碰撞诱导解析(CID)，去除1/3低质量数Cut Off效应　　3.2.2.12 电子转移解离(Electron Transfer Dissociation)　　ETD效率：1pmol/ul 血管紧缩素以3ul/min流速直接进样，能保证ETD碎裂效率 15%　　3.2.3 傅里叶转换FT类质谱，但无需液氦和液氮的消耗，维护容易并且成本低廉。尤其高分辨质谱不需要额外检测器，轨道阱本身即是分析器又是检测器。　　3.3 软件系统：　　3.3.1 仪器自动操作软件，自动调节记录仪器参数，数据采集和处理软件，控制液相色谱进样。　　3.3.2 蛋白质组学应用软件：用于蛋白定性定量分析　　3.4 计算机 (Computer)：　　3.4.1 硬件：不低于：Intel酷睿i7 CPU 3.4G Hz以上，16G内存，2T 硬盘，22〞液晶显示器　　3.4.2 Windows 7 操作系统　　4. 仪器配置要求　　4.1四极杆-双压线性离子阱-静电场轨道阱傅里叶转换三合一质谱仪主机　　4.2加热的电喷雾源(H-ESI)和纳喷源　　4.3 ETD装置　　4.4 超高压纳流液相色谱仪　　4.5 仪器控制和数据处理　　4.5 蛋白质组学应用软件　　4.6 计算机、10KV不间断电源(1H)和氮气钢瓶及减压阀等辅助设备　　4.7 肽分析柱3根和预柱3根 离子源喷针12根 备用泵油一瓶等耗材一批。　　二、售后服务　　1.设备安装调试：仪器到货后，买方负责提供必要的实验室条件，卖方在接到买方通知的7个工作日内派人前往负责该设备的安装、调试和操作培训，直至达到各项验收指标合格。　　2.提供全套完整的技术资料，包括说明书、用户手册、装箱单、仪器使用维护手册等 　　3.技术培训：仪器安装验收后，立刻提供不少于一个月的操作使用培训，并确保购买方能熟练使用该仪器。　　4. 原厂家在福建省内有制造厂商产品应用技术人员及硬件维修人员，提供本地化的应用支持及硬件维护服务，一旦仪器发生故障，能够24小时内响应，48小时内维修工程师到达现场。商家应保证配件供应，一个月内无法修好仪器，应提供样机供用户免费使用，或联系厦门地区其他单位的同档次仪器供用户使用，并承担由此产生的所有费用。　　5.保修期：质保期至少为24个月，自与最终用户签署验收合格单之日起算。质保期内发生任何设备损坏，所需要的维修费用(包括零部件费用、维修费用)均由卖方承担(若人为操作不当造成的损坏，不在此例)，产品终身维修。　　附件5：电化学球差原位透射电镜技术指标及配置要求　　一、 整套设备配置要求：　　1. 双球差透射电镜1台　　2. 场发射透射电镜 1台　　3. 等离子清洗机 1台　　4. 聚焦离子束双束电子显微镜 1台(选配，投标人需单独列明价格，以及技术参数等，用户有权选择采购或不采购配置)　　二、各部分具体参数要求：　　1. 电子光学系统　　1.1. 加速电压：30kV – 300kV(or 200kV) 　　1.2. 合轴文件：30kV(or 40kV)，60kV，80kV，120kv，300kV(or 200kV) 　　1.3. 加速电压稳定度：≤ 0.8 ppm/10min 　　1.4. 物镜电流稳定度： 0.2 ppm/min 　　1.5. 束斑漂移 Maximum spot drift: ≤ 0.5nm/min 　　1.6. 束流/束斑尺寸：≥ 2.5nA @ 1nm, ≥ 0.25nA @ 0.2nm (all @ 300 kV) 　　2. 分辨率　　2.1. *TEM信息分辨率：≤ 60pm@300kV (or 200kV) ≤ 100pm@60kV (or 40kV) 　　2.2. *STEM分辨率：≤ 60pm@300kV (or 200 kV) ≤ 100pm@60kV (or 40kV) 　　3. 物镜　　3.1. *物镜极靴间距 (Pole Piece Gap) ：≥ 4 mm 　　4. Image球差矫正器，Probe球差矫正器　　5. *CMOS相机(16M)+直接电子相机　　5.1. 像素≥ 4096 x 4096 　　5.2. 高速拍照：CMOS≥ 25 fps 直接电子相机(4096 x 4096≥ 300fps)　　6. *能谱仪技术要求　　高灵敏快速能谱技术 　　7. *EELS-GIF　　7.1. 一体化EELS-GIF 　　GIF System (Model 965)，dualEELS，能量分辨率 0.1eV　　7.2. GIF合轴文件：60kV，80kV，120kV，200kV(or 300kV) 　　7.3. 束斑漂移：≤ 1nm/min 　　7.4. 在同一用户界面下，能谱、EELS可以和STEM配合工作，同时连续采集数据，快速完成线扫描、面扫描和定性/定量分析 　　8. *原位样品台及附件　　8.1三维移动+加热+电场+微环境控制(可分别组合)　　8.2真空度检测，渗漏检测　　9. 等离子清洗装置：　　9.1. 配备等离子清洗装置，用于清洁样品和样品杆 　　9.2. 配备样品杆真空存放装置 　　10. 远程控制软件和控制面板　　10.1. 远程控制软件 　　10.2. 在同一用户界面下，能谱、EELS可以和STEM配合工作，同时连续采集数据，完成线扫描、面扫描和定性/定量分析 　　11. *TEM备用场发射灯丝 　　12.* 场发射透射电镜　　12.1. *加速电压：30kV – 300kV(or 200kV) 　　12.2. 合轴文件：30kV(or 40kV)，60kV，120kV，300kV(or 200kV) 　　12.3. *物镜极靴间距 (Pole Piece Gap) ：≥ 4 mm 　　12.4. 高速CMOS相机,(4096 x 4096≥ 25fps)　　12.5. 高灵敏快速能谱技术　　12.6.备用场发射灯丝 　　13. 聚焦离子束双束电子显微镜(FIB-SEM)性能指标(选配优先)　　13.1. 离子束系统：　　离子源种类：液态Ga离子源 离子源分辨率：≤ 5.0nm@30kV 加速电压：0.5kV - 30 kV 束流强度：0.6pA - 65nA (15孔光阑条) 离子源寿命：不低于1000小时 　　13.2. 辅助气体注入系统：　　拥有独立的分离式气体注入系统，可重新配置 具备金属沉积系统，可在离子束、电子束诱导下进行Pt、C等沉积 可增加至4种气体注入系统，拥有10种以上备选过程方案 每种气体配备独立的气体注入器，防止不同气体交叉污染 　　14. *投标产品必需在国内有应用实例(提供中标通知书或合同复印件，原件备查)，产品性能经过广泛验证，稳定可靠。　　15、技术文件　　15.1 设备制造厂商提供销售、售后服务授权书、质量认证书，有完善的售后服务团队和零配件仓库。(提供相关认证资格证书复印件)　　15.2 提供中文版和英文版的仪器设备样本简介、产品技术性能说明，以及系统软件操作简介。　　15.3 仪器设备详细清单、各项技术参数，以及具体参数的测试条件。　　15.4 仪器硬件操作手册和软件使用手册，系统各种设备的维修、保养手册。　　15.5 仪器验收标准。　　15.6 技术服务条款、技术培训条款，以及售后服务承诺。　　15.7 仪器设备装箱清单。　　16、技术服务条款　　16.1开箱验收：供方应在合同生效后30天内向用户提供详细的安装准备条件及安装计划。仪器到达用户所在地后, 在接到用户通知后1周内，由设备管理部门，合同购置单位，销售单位共同进行开箱验收，检查设备在运输过程中有无损坏、丢失，附件、随机备件、专用工具、技术资料等是否与合同、装箱单相符，并填写设备开箱验收单，存入设备档案，若有缺损及不合格现象应立即向有关单位交涉处理，索取或索赔。　　16.2 设备安装调试：透射电镜室外部整体环境改造，由供应方在设备到达前完成，设备开箱验收后执行安装调试直至达到验收指标(该指标应不低于招标标书所要求的指标)。任何虚假指标响应一经发现即作废标，投标商必须承担由此给用户带来的一切经济损失和其它相关责任。透射电镜室外部环境改造，　　16.3 安装调试及应用培训：由专业工程师负责安装、调试。培训内容包括：基本原理、结构、操作、软件使用、数据处理、维护保养及简单故障排除等。仪器正常使用一年后再免费培训一次。即卖方为用户提供两次免费(每次不低于2人)国内技术培训，对于设备使用，直到教会为止。　　16.4 保修期：至少提供三年全机免费保修，保修期自验收合格，双方签字之日起计算。在保修期内属产品质量问题所发生的一切费用由供方负担。保修期满前1个月内供方应负责对用户的仪器进行一次免费的，全面的检查，并写出正式报告，如发现问题或潜在问题，应在保修期内将问题解决。保修期内出现因质量故障而导致仪器停用的时间应从保修期内扣除。所有修理或更换的部件均顺延享受两年保修期。在质量保修期外，免费提供技术支持 如果设备需要返厂修理或校准，保证在3个月内返回。　　16.5 维修响应时间：针对设备故障，接到用户通知后4小时内响应，确定解决方案后，48小时内到现场维修。重大问题或其它无法迅速解决的问题应在一周内解决或提出明确解决方案，得到用户的认可后，在预定的期限内解决问题。否则，供方应赔偿由此而造成的损失。终生免费技术服务咨询。　　16.6 软、硬件升级：供方应负责仪器操作软件终身免费升级，并优惠提供与之相关的硬件升级。　　17. 以上标注“*”条款为强制性要求，投标供应商必须达到这些要求，否则将被视为未实质性响应招标文件要求，为无效投标。

澳大利亚土壤学家马莱克-扎比克，利用同步加速器纳米X线体层照相术对土壤样本进行研究　　1969年，&ldquo 阿波罗11&rdquo 号宇航员登上月球。在月球尘土层中，他们发现了奇怪的现象。在漫长的岁月变迁中，月球尘土完全处于不受打扰的静止状态，除了偶尔遭到陨石撞击。在遭到扰乱时，月球尘土表现出怪异的行为。月球尘土能够悬浮在地表上方，悬浮时间无法用月球弱引力解释。它们还具有很强的粘性，能够依附在航天服和设备上，就像依附在地表一样。此外，月球尘土也具有抗热特性。在直射阳光照射下，月球地表温度接近水的沸点，但在地下几英尺处，温度则低于水的凝固点。　　月球土壤的显微镜照片，纳米颗粒内的气泡清晰可见。这些气泡让月球土壤拥有怪异的特性　　一直以来，科学家就未能完全揭开这些与众不同的特性背后的秘密。为了揭开这个谜团，澳大利亚昆士兰科技大学科学与工程学院的土壤学家马莱克-扎比克博士前往台湾，利用纳米显微镜研究月球土壤。在太空竞赛所处的时代，科学家还没有发明这项技术。扎比克表示科学家很久以前就对月球土壤(浮土)的怪异特性进行了研究，但在土壤中发现的纳米和亚微颗粒并没有引起他们的重视，对这些颗粒的来源也没有进行研究。这些颗粒存在于玻璃泡中，玻璃泡是陨石撞击的产物。　　扎比克将土壤样本带到台湾，利用一项新技术在不破坏玻璃泡情况下对其进行研究，了解里面的颗粒。这项新技术名为&ldquo 同步加速器纳米X线体层照相术&rdquo ，用于研究纳米材料。纳米X线体层照相术使用透射X光显微镜，能够拍摄纳米颗粒的3D图像。　　佩戴3D眼镜时看到的月球土壤中纳米颗粒的3D图像　　未佩戴3D眼镜时看到的图像，展示了岩石内的玻璃状颗粒　　扎比克说：&ldquo 研究得出的发现让我们感到吃惊。我们原以为会在玻璃泡内发现气体或者蒸汽，就像地球上的玻璃泡那样，月球玻璃泡内存在一个具有高度渗透性的网络，网络由怪异的玻璃状颗粒构成。玻璃泡内的纳米颗粒似乎由陨石撞击月表时形成的熔岩构成。在遭到陨石撞击之后，玻璃泡被毁坏，释放出里面的纳米颗粒。月球表面的岩石也在撞击中遭到破坏并与纳米颗粒混合在一起，形成独特的月球土壤。&rdquo 　　扎比克指出纳米颗粒的行为遵循与普通物理学原理完全不同的量子物理学原理。因此，含有纳米颗粒的材料会表现出怪异的特征。他说：&ldquo 纳米颗粒体积微小，它们的怪异特征由体积决定，而不是它们的构成。我们对量子物理学了解不多，但根据我们的研究，从玻璃泡中钻出之后，纳米颗粒与其他土壤要素混合在一起，赋予月球土壤与众不同的特性。月球土壤带静电，因此能够悬浮在地表上方。虽然充满化学活性，月球土壤的导热性能很差，地表上的土壤温度可达到160度，地下2米的温度却只有零下40度。此外，月球土壤具有很强的粘性并且易碎，能够磨损金属和玻璃表面。&rdquo 　　扎比克表示月球并不像地球一样拥有大气层，因此无法降低陨石撞击产生的影响。他说：&ldquo 撞击月表的陨石能够产生非常剧烈的反应，所产生的高温熔化月表岩石。猛烈的撞击导致压力消失，形成真空。气泡在熔化的玻璃岩内形成并发生逃逸，就像软饮料中的气泡一样。我们的研究揭示了这些颗粒如何在这一过程中演化，可能帮助我们找到一种完全不同的纳米材料生产方式。&rdquo 扎比克及其研究小组的研究发现刊登在&ldquo 国际学术研究网络&rdquo 出版社的《天文与天体物理学报》上。

近年来电子显微领域的技术发展突飞猛进，硬件和软件的新技术和新功能不断的推出。透射电镜越来越受到科研人员的重视，用途日益广泛。现在透射电镜已广泛用于材料科学(金属材料、非金属材料、纳米材料)、化学化工、生命科学、转化医学、半导体材料与器件、地质勘探、工业生产中的产品质量鉴定及生产工艺控制等。为适应广大分析技术工作者的需求，进一步提高透射电镜用户的应用和研究水平，推动显微分析应用的进一步发展，上海交通大学分析测试中心特举办“ATP 004透射电镜分析技术”培训班，NTC授权单位培训机构上海交通大学分析测试中心承办并负责相关会务工作。 现将有关事项通知如下：一、 培训目标：了解透射电镜的基本结构与原理；了解透射电镜检测/校准项目及相关要求；掌握国家标准中透射电镜的检测方法。（一）通过学习理论知识，观摩实际操作，排查仪器故障，调谐最佳机器运转状态。（二）面对应急问题，学员可理论联系实际，查找故障原因，进行仪器自检及修复。二、 时间地点：培训时间：2023年10月16日-10月18日 上海（时间安排：授课2天，考核1天）三、 课程大纲：时间内容10月16日上午透射电镜的发展、成像原理、基本结构10月16日下午透射电镜的样品制备、像衬度、基本操作及维护10月17日全天透射电镜实操培训及答疑10月18日全天考核四、 主讲专家：主讲专家来自上海交通大学分析测试中心，熟悉NTC/ATP 004 透射电镜分析技术大纲要求，具有NTC教师资格，长期从事透射电镜技术研究的专家。五、 授课方式：（一） 讲座课程；（二） 仪器操作；六、 培训费用：（一）培训费及考核费：每人3000元（含报名费、培训费、资料费、考试认证费），食宿可统一安排费，费用自理。（二）本校费用：每人1500 元（含报名费、培训费、资料费、考试认证费；必须携带学生证）。七、 颁发证书： 本证书由国家科技部、国家认监委共同推动成立的全国分析检测人员能力培训委员会经过严格考核后统一发放，证书有以下作用：具备承担相关分析检测岗位工作的能力证明；各类认证认可活动中人员的技术能力证明、该能力证书可作为实验室资质认定、国际实验室认可的技术能力证明；大型仪器共用共享中人员的技术能力证明。 考核合格者将由发放相应技术或标准的《分析检测人员技术能力证书》。考核成绩可在全国分析检测人员能力培训委员会(NTC)网站上查询（https://www.cstmedu.com/）。八、 报名方式：（一）请详细填写报名回执表（附件1）和全国分析检测人员能力培训委员会分析检测人员考核申请表（附件2），邮件反馈。（二） 注：请学员带一寸彩照2张（背面注明姓名）、身份证复印件一张，有学生证的学员携带学生证复印件。（三） 报名截止时间是10月10日16:00前。（四） 如报名人数不足6人取消本次培训。 九、 联系方式联系人：吴霞（报名相关事宜）、郭新秋（技术咨询）电话：021-34208496-6102（吴霞）、021-34208496-6205（郭新秋）E-mail：iac_office@sjtu.edu.cn官方网址：iac.sjtu.edu.cn

p style="text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201606/insimg/4afc0317-e9f0-488f-acc8-55f85320fe4d.jpg" title="Kydt_Wyc_20130514.jpg" width="600" height="400" border="0" hspace="0" vspace="0" style="width: 600px height: 400px "/　　/pp 随着对纳米尺度的理解，中国研究者团队研发了一种可视化的基于原位透射电镜技术，该技术直接将原子尺度的结构和物化性能联系起来，可提供新颖而强大的功能。/pp　　在纳米世界里的生活是很快的，就致力于纳米尺度的基本机制研究而言，其发展更加迅速，这个世界，便是尺寸只有十亿分之一米的原子和离子之类的颗粒的舞蹈。/pp　　随着对纳米尺度的理解，中国研究者团队研发了一种可视化的基于原位透射电镜技术，该技术可以提供新颖而强大的功能，它能够直接将原子尺度的结构和物化性能联系起来。/pp　　在这周AIP出版的Applied Physics Letters期刊里，研究者们说明了他们的发现对新一代科技设备的设计和制造的重要性。这项研究具有广泛的应用潜力，从基于电致色变科技的智能窗到管理能源、信息和环境的新型器件。/pp　　团队负责人、中科院物理所白雪冬研究员介绍道，span style="color: rgb(0, 0, 0) "“目前，应用于能源、信息和环境方面的新设备的原子机制是一个重要的议题。物化现象中原子过程的实时成像是原位透射电镜技术的任务。我们研究的目标之一是理解从原子尺度可获得的设备的基本原理，另一个目标是探索基于原子过程中原位透射电镜成像的革新的设备。”/span/pp　　在诺贝尔奖透射电镜科技中，电子束取代了用于传统电镜中的光束，通过一个金属试样传输。与光学显微镜相比，由于电子具有更短的波长，透射电子显微镜提供给研究者更高的分辨率，以至于他们可以观察到更多的信息。/pp　　白强调了结构和性能之间的关系是材料科学一个根本的关注。然而，研究这种关系的约束之一是使用传统的方法，结构表征和性能测定通常是分开的，对于纳米材料来说尤其如此。他们的创新之处在于将这些步骤结合起来。/pp　　白还说道，“过去的十五年来，我们的研究工作集中于原位透射电镜技术的构造和应用，所以在不同的物理因素(包括电的和光的)下原子尺度的性能都通过透射电镜进行了研究。”/pp　　该团队尤其对于应用最广泛的电化学材料之一—氧化钨和其产物的一个关键相转变进行了研究。通过使用他们简化了的内含电化学电池的透射电镜技术，他们的微观的、动态的观察显示了实时的详细机理，涉及了电化学氧化钨纳米线的形成和演变，并且在工业上有很多应用。/pp　　他们的研究最有趣的方面之一是探究离子电迁移过程和其诱导的动态结构转变。他们发现这些与电化学性能密切相关，加深了原位透射电镜成像研究的广泛应用潜力。/pp　　白说道，“新特性和重要的科学问题可以通过原位透射电镜成像来显示，例如，电驱动的氧化还原反应过程，锂离子电池中锂原子的占据位点和电机学反应电池中的物质转移都能从原位透射电镜成像中观察到。”/pp　　接下来，研究者们将扩展原位透射电镜原子尺度成像技术，使之与超快光谱结合起来。通过这个扩展，高分辨成像在空间和时间上都将成为可能。/pp　　论文地址：span style="color: rgb(0, 112, 192) "a href="https://www.sciencedaily.com/releases/2016/06/160607113110.htm" target="_blank" title=""In-situ transmission electron microscopy imaging of formation and evolution of LixWO3 during lithiation of WO3 nanowires/a/span/ppbr//p

波兰弗罗茨瓦夫科技大学正在建造拥有光透射电子显微镜的实验室。光透射电子显微镜（LightTEM）将使光动力疗法或光催化发展相关研究成为可能。该设备将配备控制电子束的精确系统和更敏感的探测系统，使科学家能使用更小的能量束并增加观测时间。光透射过程分析有助于科学家们研究光催化、等离子体等。同时，新设备将可用于开发新光动力治疗方法、针对抗病毒方法的超微结构研究等。科研人员已在《光诊断和光动力疗法》和《超微镜》上发表了其研究结果。注：本文摘自国外相关研究报道，文章内容不代表本网站观点和立场，仅供参考。

随着智能穿戴设备、消费电子设备应用兴起，生物识别、物联网、自动驾驶、国防/安防等领域对光电镀膜材料的需求日益旺盛。不同行业根据使用场景，对光学镀膜的性能提出了更加多样化的需求，越来越多需要测试镀膜样品的变角度透射、变角度反射信号。传统变角度反射测试一般为相对反射率测试，需要通过参比镜进行数据传递，往往参比镜在不同角度下的绝对反射率曲线很难获取，给测试带来很大困难，同时在数据传递中也会增加误差的来源。随着智能穿戴设备、消费电子设备应用兴起，生物识别、物联网、自动驾驶、国防/安防等领域对光电镀膜材料的需求日益旺盛。不同行业根据使用场景，对光学镀膜的性能提出了更加多样化的需求，越来越多需要测试镀膜样品的变角度透射、变角度反射信号。传统变角度反射测试一般为相对反射率测试，需要通过参比镜进行数据传递，往往参比镜在不同角度下的绝对反射率曲线很难获取，给测试带来很大困难，同时在数据传递中也会增加误差的来源。本文主要介绍采用PerkinElmer紫外可见近红外光谱仪配置可变角度测试附件，直接测试样品不同角度下绝对反射率、透射率曲线，无需参比镜校准，操作简单方便，测试结果更加准确。附件为变角度绝对反射、变角度透射率测试附件，如下图所示，检测器和样品台均可以360度旋转，通过样品台和检测器配合旋转，测试不同角度下透射和反射信号。PerkinElmer Lambda1050+ 光谱仪自动可变角附件光路图图1 仪器外观图固定布局 工具条上设置固定宽高背景可以设置被包含可以完美对齐背景图和文字以及制作自己的模板下分别选取不同应用场景下的典型样品，对测试数据进行简要介绍。以下分别选取不同应用场景下的典型样品，对测试数据进行简要介绍。以下分别选取不同应用场景下的典型样品，对测试数据进行简要介绍。样品变角度透射测试采用自动可变角附件可以方便快捷的测试样品不同角度下透射数据，自动测试样品不同角度下P光和S光下透射率曲线，一次设置即可完成所有角度在不同偏振态下透射率曲线测试，无需多次操作，测试曲线如下图所示。图2 样品不同角度和偏振态下透射率测试数据样品变角度透射/反射曲线测试同一个样品，可以通过软件设置一次性测试得到样品透射和反射率曲线，如下图所示，该样品在可见波长下反射率大于99.5%，透射率低于0.5%，可同时表征高透和减反性能。图3 样品45度透射和反射曲线测试NIST标准铝镜10度反射率曲线测试采用自动可变角附件测试NIST标准铝镜10度下反射率曲线，如下图所示，黑色曲线为自动可变角附件测试曲线，红色为NIST标准值曲线，发现两条测试曲线完全重合，进一步证明测试系统的可靠性，可以准确测试样品的光学数据。图4 NIST标准铝镜10度反射率曲线测试（红色为NIST标准曲线）样品变角度全波长反射曲线测试（200-2500nm）软件设置不同的测试角度和偏振方向，自动测试样品不同角度下P光和S光偏振态下反射率曲线，如下图所示，200-2500nm整个波段下测试曲线均有优异信噪比，尤其是在紫外区（200-400nm）,可以完成各波长范围的反射性能测试。图5 样品全波段（200-2500nm）变角度反射率测试不同膜系设计的镀膜样品性能验证测试样品600-1400nm下45度反射率曲线，该样品在1200nm以上属于高反射率，反射率大于99.5%，同时需要关注600-1200nm范围各个吸收峰情况，该波段下吸收峰非常尖锐，同时吸收峰较多，需要仪器具备高分辨率，从而准确测试出每一个尖锐吸收峰信号。图6 膜系设计验证样品45度反射率测试双向散射分布函数（BSDF）测试除了测试常规变角度透射和反射曲线外，自动可变角附件可以自动测试样品不同角度下透射和反射率信号，可以得出样品不同角度下的透射分布函数（BTDF）和反射分布函数（BRDF）信号，最终得到双向散射分布函数（BSDF）。采用该附件可方便测试样品双向散射分布函数（BSDF）、双向反射分布函数（BRDF）、双向透射分布函数（BTDF）等光学参数测试，测试结果如下图所示：图7 BRDF和BTDF测试如下图所示，测试样品不同波长下BSDF分布函数曲线（BRDF + BTDF），从而可以得出样品随不同角度下透射和反射信号变化情况。图8 样品不同波长下BSDF（BRDF+BTDF）测试窄带滤光片测试Lambda系列光谱仪为双样品仓设计，自动可变角测试附件可与标准检测器、积分球检测器自由更换。对于窄带滤光片样品，即需要准确测设带通区域的透过率、半峰宽，也需要准确测试截止区吸光度值（OD值），可直接切换标准检测器进行检测。图9 用于生物识别的滤光片透射和OD值测试数据图10 用于激光雷达的镀膜镜片透射和OD值测试数据综上，采用Lambda系列紫外/可见/近红外分光谱仪，搭配自动可变角测试附件、标准检测器、积分球等多种采样附件，可以组合出完备的材料光学性能测试平台，满足光学镀膜测试的多样化需求，更加准确便捷地得到样品的光学检测数据。

p style="text-align: justify text-indent: 2em "为了满足仪器信息网用户对透射电镜技术的知识需求，解决学习及工作中的问题，本文特整理了仪器信息网的络讲堂栏目中透射电镜技术相关会议报告，专家们讲解精准专业，欢迎感兴趣的用户保存下载观看学习。/pp style="text-align: center text-indent: 0em "img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 400px height: 150px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/e342cb75-6565-489e-9754-020ade60ea3d.jpg" title="图片1.png" alt="图片1.png" width="400" height="150" border="0" vspace="0"//ptable border="1" cellspacing="0" style="border: none"tbodytr class="firstRow"td width="335" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pstrongspan style="font-family: 宋体 font-size: 14px"报告题目/span/strongstrong/strong/p/tdtd width="252" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pstrongspan style="font-family: 宋体 font-size: 14px"报告专家/span/strongstrong/strong/p/td/trtrtd width="326" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"微纳尺度的高温和环境力学原位span 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font-size:14px"王建波/spanspan style="font-family:宋体 font-size:14px"（/spanspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"武汉大学/spanspan style="font-family:宋体 font-size:14px"）/span/p/td/trtrtd width="335" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"原位透射电镜研究进展：从纳米操纵到量子调控/span/p/tdtd width="252" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"白雪冬/spanspan style="font-family:宋体 font-size:14px"（/spanspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"中科院物理研究所/spanspan style="font-family:宋体 font-size:14px"）/span/p/td/trtrtd width="335" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"原位器件电子显微学/span/p/tdtd width="252" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px" span style="font-family:宋体"孙立涛/span/spanspan style="font-family:宋体 font-size:14px"（/spanspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"东南大学/spanspan style="font-family:宋体 font-size:14px"）/span/p/td/trtrtd width="335" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"原位透射电镜在能源存储材料中的应用/span/p/tdtd width="252" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"谷猛/spanspan style="font-family:宋体 font-size:14px"（/spanspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"南方科技大学/spanspan style="font-family:宋体 font-size:14px"）/span/p/td/trtrtd width="335" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"扫描透射电镜技术在热电材料研究中的应用/span/p/tdtd width="252" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"王玉梅/spanspan style="font-family:宋体 font-size:14px"（/spanspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"中科院物理所/spanspan style="font-family:宋体 font-size:14px"）/span/p/td/trtr style="height:42px"td width="335" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"镍基单晶高温合金形变机制的电子显微学研究/span/p/tdtd width="252" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"杜奎/spanspan style="font-family:宋体 font-size:14px"（/spanspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"中国科学院金属研究所/spanspan style="font-family:宋体 font-size:14px"）/span/p/td/trtrtd width="335" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"结合透射电子显微镜与第一性原理计算探索二维材料的缺陷动态演变行为/span/p/tdtd width="252" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"林君浩/spanspan style="font-family:宋体 font-size:14px"（/spanspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"南方科技大学/spanspan style="font-family:宋体 font-size:14px"）/span/p/td/trtrtd width="335" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"先进电子显微学技术在电池材料研究中的应用/span/p/tdtd width="252" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"闫鹏飞/spanspan style="font-family:宋体 font-size:14px"（/spanspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"北京工业大学/spanspan style="font-family:宋体 font-size:14px"）/span/p/td/trtrtd width="335" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"铝合金中析出相结构演变与溶质原子界面偏聚原子尺度研究/span/p/tdtd width="252" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"贾志宏/spanspan style="font-family:宋体 font-size:14px"（/spanspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"重庆大学/spanspan style="font-family:宋体 font-size:14px"）/span/p/td/trtrtd width="335" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"透射电镜制样技术在病毒形态鉴定中的应用/span/p/tdtd width="252" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"宋敬东/spanspan style="font-family:宋体 font-size:14px"（/spanspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"中国疾病预防控制中心病毒病预防控制所/spanspan style="font-family:宋体 font-size:14px"）/span/p/td/trtrtd width="335" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"植物材料的透射电镜制样方法的优化和高压冷冻技术开发及应用/span/p/tdtd width="252" valign="top" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px "pspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"张辉/spanspan style="font-family:宋体 font-size:14px"（/spanspan style=" font-family:宋体 font-size:14px"中国科学院植物研究所/spanspan style="font-family:宋体 font-size:14px"）/span/p/td/tr/tbody/tablep style="text-align: center "strong西安交通大学材料学院副教授解德刚/strong/pp style="text-align: center "strong报告题目《微纳尺度的高温和环境力学原位TEM测试》/strongstrong/strong/pp过去几十年间，原位透射电镜技术和定量纳米力学的结合能将材料晶格缺陷的实时演化与变形应力应变曲线直接一一对应，为人类打开了认识传统材料变形机制以及微纳尺度材料新行为的大门。以前的研究多在真空和常温下进行，然而随着技术的进步，纳米力学研究已经可以在一些气氛环境以及高温条件下进行。解德刚副教授在报告中介绍了最新的技术进展，以及解德刚副教授研究单位由此技术取得的最新研究成果。a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/video_109333.html" target="_self" style="color: rgb(0, 112, 192) text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 112, 192) "strong（报告视频链接）/strong/span/a/pp style="text-align: center "strong天津大学材料学院测试中心副主任毛晶/strong/pp style="text-align: center "strong报告题目《透射电子显微镜技术在纳米材料表征中的典型应用》/strongstrong/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "透射电子显微镜的成像及电子衍射功能可以把纳米材料的微观形貌与结构信息联系起来；增加附件后还可以进行微区成分、价态 (能谱仪EDS、特征能量损失谱EELS)和扫描透射成像分析(STEM)等。毛晶老师在报告中介绍了透射电子显微镜在纳米材料研究中的几个典型应用：从简单的形貌成分表征到未知析出相结构分析、纳米级界面上的元素价态分析及材料表面原子结构分析等。a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/video_109338.html" target="_self"strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) "（报告视频链接）/span/strong/a/pp style="text-align: center "strong国家纳米科学中心高级工程师彭开武/strong/pp style="text-align: center "strong报告题目《聚焦离子束技术在纳米材料表征中的应用》/strongstrong/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "聚焦离子束（Focused Ion Beam,FIB）是将离子源产生的离子束加速，聚焦后作用于样品表面的技术，可应用于纳米材料的力学、电学、热学、光学元素、结构、晶向等信息，也可用于三维原子探针、扫描探针显微镜的探针制备和修饰。彭开武老师在报告中对聚焦离子束技术以及其应用做了详细的介绍。a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/video_109340.html" target="_self"strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) "（报告视频链接）/span/strong/a/pp style="text-align: center "strong华中科技大学武汉光电国家研究中心副教授李露颖/strong/pp style="text-align: center "strong报告题目《半导体纳米材料原子尺度结构性能关系的透射电子显微学研究》/strongstrong/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "李露颖老师在报告中介绍了在半导体和器件电子显微学领域的相关工作。利用电子全息技术第一次获取了纳米尺度单个Ge量子点及单根Ge/Si核壳结构纳米线电荷分布情况的直接实验证据，结合利用电子全息及相关表征技术，从实验角度获得ZnSe纳米线多型体同质异构结对电荷进行裁剪的信息及InAs纳米棒中多型体原子尺度的自发极化强度及其受界面应力影响，为相关光电器件物理性质的调控提供了坚实的结构基础。a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/video_105627.html" target="_self"span style="color: rgb(0, 112, 192) "strong（报告视频链接）/strong/span/a/pp style="text-align: center "strong武汉大学物理科学与技术学院教授strong style="text-align: center white-space: normal "王建波/strong/strong/pp style="text-align: center "strong报告题目《纳米材料的原子尺度表征及其动态结构演变》/strongstrong/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "王建波老师主要介绍了用电子束对材料在应力场、温度场或电场作用下的动态结构演变进行实时表征和调控：（1）应力场作用下Au纳米线塑性和赝弹性形变，CuO纳米线滞弹性行为；（2）Fe/Fe3O4氧化还原反应以及ZnO纳米线的生长；（3）电场作用下CuO电极材料的Na离子嵌入与脱嵌；（4）电子束辐照对材料结构进行原子尺度调控。span style="color: rgb(0, 112, 192) "stronga href="https://www.instrument.com.cn/webinar/video_105556.html" target="_self"（报告视频链接）/a/strong/span/pp style="text-align: center "strong中科院物理研究所研究员白雪冬/strong/pp style="text-align: center "strong报告题目《原位透射电镜研究进展：从纳米操纵到量子调控》/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "原位透射电镜实验方法是研究材料性质-结构关系及其调控与动态变化过程的先进手段。多年来我们通过开发原位透射电镜技术，开展从纳米操纵到量子调控的研究工作，在原子尺度观测和理解低维结构与性质。白雪冬老师在报告中介绍了利用自主研制的原位透射电镜中的扫描探针装置，在纳米操纵和纳米尺度下光电力耦合与物性调控研究的结果、以及复杂氧化物氧空位序和铁电畴调控研究的最新进展。 a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/video_105554.html" target="_self"strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) "（报告视频链接）/span/strong/a/pp style="text-align: center " strong 东南大学教授孙立涛/strong/pp style="text-align: center "strong报告题目《原位器件电子显微学》/strongstrong/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "随着电子信息产业的快速发展，核心元器件的特征加工尺寸已走向亚10nm。在10纳米以下，材料的表面效应对其性能的影响将显著增强。在这种情况下，材料还能否像块体材料那样稳定？如此小尺度下如何精准表征和检测这种材料的稳定性和可能的新物性？新型纳米材料是否可派上用场？孙立涛老师在报告中讲了以亚10nm材料为研究对象，借助自主搭建的可实现原子分辨的原位-多场加载研究系统，探索亚10nm材料的表面效应的精准表征、调控与可能的器件应用，阐明全面开展10纳米以下材料应用基础研究方面的重要性及对下一代纳电子器件研究的重要意义和深远影响等。a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/video_105553.html" target="_self"strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) "（报告视频链接）/span/strong/a/pp style="text-align: center "strong南方科技大学材料科学与工程系副教授谷猛/strong/pp style="text-align: center "strong报告题目《原位透射电镜在能源存储材料中的应用》/strongstrong/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "谷猛老师在报告中集中介绍了原位透射电镜在传统电池和固态电池中发挥的作用。应用三维EDS技术可以清楚的标定镍元素在材料中表面和界面的集聚，通过结合DFT计算，可以知道这个材料的失效机理，相转变过程。最后，通过对合成条件的反馈和修改，可以合成出没有镍元素集聚的正极材料，从而从根本上解决材料的电压衰减和电量衰减。a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/video_105552.html" target="_self"strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) "（报告视频链接）/span/strong/a/pp style="text-align: center "strong中科院物理所副研究员王玉梅/strong/pp style="text-align: center "strong报告题目《扫描透射电镜技术在热电材料研究中的应用》/strongstrong/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "扫描透射电子显微术为目前最为流行和广泛使用的一种材料评价手段。在热电材料中，缺陷至关重要。不同类型的缺陷可以作为声子散射中心散射不同频段的声子，有效降低晶格热导率。王玉梅老师在报告中主要介绍利用扫描透射电子显微术在原子尺度研究Zintl相化合物Ca9-yEuyZn4.7Sb9不同掺杂条件下的结构演变以及缺陷种类及结构变化，从而调控材料电、热输运性质，优化热电性能。a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/video_105558.html" target="_self"span style="color: rgb(0, 112, 192) "strong（报告视频链接）/strong/span/a/pp style="text-align: center "strong中国科学院金属研究所研究员杜奎/strong/pp style="text-align: center "strong报告题目《镍基单晶高温合金形变机制的电子显微学研究》/strongstrong/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "镍基单晶高温合金具有优异的高温力学性能，主要用于发动机的涡轮叶片。随着涡轮发动机工作温度越来越高，对高温合金的高温力学性能提出了更高的要求。本讲座主要通过透射电子显微技术、像差校正下的扫描透射电子显微技术研究了镍基单晶高温合金的低温高应力和超高温低应力下的蠕变机制。a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/video_105574.html" target="_self"strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) "（报告视频链接）/span/strong/a/pp style="text-align: center "strong南方科技大学副教授林君浩/strong/pp style="text-align: center "strong报告题目《结合透射电子显微镜与第一性原理计算探索二维材料的缺陷动态演变行为》 /strongstrong/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "理解缺陷的原子结构和动态其演变过程对二维材料功能器件的改进与性能提供具有重要意义。利用球差纠正透射扫描电子显微镜（STEM）中的汇聚电子束，能激发二维材料中的缺陷产生动态演变，同时在原子尺度下观察它们重构的动态过程。这种方法使我们能够实时地追踪二维材料中缺陷原子在高能电子束影响下的结构变化。林君浩老师在报告中介绍了利用上述方法在二维材料里取得的最新成果，包括二维非晶碳材料的开发与表征，二硒化钼（MoSe2）中硒空穴引起的反转晶畴的演变过程，二硒化钯（PdSe2）中层间融合的机理，以及在单层过渡金属硫族素化合物中精确雕刻只有三个原子宽度的金属纳米线的原位过程等。a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/video_105572.html" target="_self"span style="color: rgb(0, 112, 192) "strong（报告视频链接）/strong/span/a span style="font-family: 微软雅黑 color: rgb(102, 102, 102) letter-spacing: 0 font-size: 14px" /span/pp style="text-align: center "strong北京工业大学教授闫鹏飞 /strong/pp style="text-align: center "strong报告题目《先进电子显微学技术在电池材料研究中的应用》/strongstrong/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "闫鹏飞老师在报告中介绍了多种先进的电子显微学技术在揭示层状正极材料的衰退机制发挥的重要作用；着重介绍利用透射电镜技术，从微米尺度到原子尺度来表征材料的结构和成分演变规律和驱动力；还介绍了高分辨成像技术、原子级元素成像技术、原位电镜技术和三维重构技术等在表征材料构效关系上的应用。 a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/video_105579.html" target="_self"strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) "（报告视频链接）/span/strongspan style="font-family: 微软雅黑 color: rgb(102, 102, 102) letter-spacing: 0 font-size: 14px" /span/a/pp style="text-align: center "strong重庆大学教授贾志宏/strong/pp style="text-align: center "strong报告题目《铝合金中析出相结构演变与溶质原子界面偏聚原子尺度研究》/strongstrong/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "贾志宏老师在报告中介绍了利用原子分辨率的高角环形暗场扫描透射电镜（HAADF-STEM）和三维原子探针（3DAP）等显微技术表征微合金元素（Cu，Ag）对Al-Mg-Si合金中析出相演变和界面偏聚影响的研究工作。报告将展示两种微合金元素原子如何在结构和成分上参与/影响各阶段析出相形成与演变，以及在界面偏聚特征。a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/video_105576.html" target="_self"strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) "（报告视频链接）/span/strong/aspan style="font-family: 微软雅黑 color: rgb(102, 102, 102) letter-spacing: 0 font-size: 14px" /span/pp style="text-align: center "strong中国疾病预防控制中心病毒病预防控制所副研究员宋敬东/strong/pp style="text-align: center "strong报告题目《透射电镜制样技术在病毒形态鉴定中的应用》/strongstrong/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "透射电子显微镜分辨率高，能够观察光镜无法观察到的病毒及细胞的超微结构。在病毒检测方面的优势在于：快速、简单、准确、具有同时检测多种病原的潜力。不依赖于已知的核酸序列、抗原或抗体信息。宋敬东老师在报告中对病毒的电镜检测技术做了概述。a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/video_105581.html" target="_self"strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) "（报告视频链接）/span/strong/a/pp style="text-align: center "strong中国科学院植物研究所研究员张辉/strong/pp style="text-align: center "strong报告视频链接《植物材料的透射电镜制样方法的优化和高压冷冻技术开发及应用》/strongstrong/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong /strong张辉研究员作为高级技术支撑人才在植物分子生理重点实验室工作，专注于作物和资源植物的显微成像和色质联用（植化分析）大型仪器硬件和实验方法应用方法开发。在报告中介绍了如何根据对植物材料的透射电镜制样和运用高压冷冻技术制样进行了较全面的试验条件比较，找出较适合植物材料的样品制备条件。strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) "a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/video_105586.html" target="_self"（报告视频链接）/a/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong拓展学习：a href="https://www.instrument.com.cn/news/20200211/521704.shtml" target="_self"span style="color: rgb(0, 112, 192) "【视频分享】听专家们讲扫描电镜技术与应用/span/a/strong/p

仪器信息网讯2018年11月9日，安徽安兆工程技术咨询服务有限公司受安徽大学委托，在中国政府采购平台对“安徽大学2018年300KV双球差矫正透射电子显微镜采购项目”进行国内公开招标，拟以2684万元的预算金额采购1套300KV双球差矫正透射电子显微镜。开标时间为11月29日。　　技术要求如下表：序号名称技术要求数量1▲300kV双球差矫正透射电子显微镜（进口）1.工作条件：1.1电力供应：220V（± 10%），50Hz，1Ф 380V（± 10%），50Hz，3Ф1.2工作温度：18° C-25° C1.3工作湿度： 80%(20° C)1.4仪器运行的持久性：仪器可连续使用1.5仪器的工作状态：较强的防震抗磁能力，工作稳定1.6仪器设备的安全性：符合放射线防护安全标准和电器安全标准2.设备用途：具有原子分辨率级别的300kV场发射双球差透射电子显微镜可用于材料科学进行快速、精确的形貌观察和微区的晶体结构和定量表征，选择特定设计的样品台进行原位动态实验。用于各种材料的形貌、晶格、缺陷或界面原子结构的表征；给出材料的化学成分信息、轻重原子分布、电子结构、缺陷及成键信息等；还将对材料进行原位分析、三维重构分析等。本系统主要有电子光学系统、高压系统、真空系统等部分组成。3.技术规格：3.1分辨率：★3.1.1TEM信息分辨率：£ 60pm@300KV；100pm@60KV★3.1.2STEM暗场分辨率：£ 60pm@300KV96pm@60KV3.2加速电压：3.2.1加速电压：60-300kV可自由调节。工厂调试60KV，200KV和300kV3.2.2加速电压稳定度：≤0.8ppm/10min；物镜电流稳定度：£ 0.5ppm/min(峰峰值)3.3电子枪及镜筒：★3.3.1电子枪类型：配备单色器的超高亮度肖特基场发射电子枪3.3.2电子枪亮度：2× 109A/cm2/str@300kV★3.3.3电子枪最小能量分辨率：0.2eV@300kV3.3.4束流/束斑尺寸：≥2nA@0.2nm；≥14nA@1nm；最大束流≥50nA3.3.5束流漂移Spotdrift：≤0.5nm/min3.3.5配备单色器自动调节系统3.3.6配备物镜球差校正用于提高HR-TEM分辨率3.3.7物镜球差校正器包括合轴在内的控制软件集成在设备软件里3.3.8配备聚光镜球差校正用于提高HR-STEM分辨率3.3.9聚光镜球差校正器控制软件集成在设备软件里；旋转中心可以由软件自动修正3.3.10配备STEM高分辨自动优化软件，可自动修正二阶以内的残余相差3.3.11配备全自动光阑系统3.4透镜系统：★3.4.1高分辨极靴设计3.4.2采用恒功率透镜设计，配备三级聚光镜同时配置对称式迷你聚光镜。透镜的温度保持恒定，不随透镜线圈的激励电流和工作模式(TEM/STEM，放大倍数等)的变化而变化，同时透镜的温度不随时间变化而变化3.4.3物镜极靴间距：≥5.4mm，保证三维重构样品杆、双倾样品杆及各种原位样品杆的最大转动角度。3.4.4球差系数Cs：≤± 0.01mm3.4.5色差系数Cc：≤2.0mm3.5洛仑兹透镜：3.5.1配置洛仑兹透镜，安装在物镜极靴下方，保证在无场环境下对磁场结构的观察；与双棱镜结合，可实现超大视野的电场和磁场的观察。3.5.2洛仑兹模式下信息分辨率≤2.0nm3.5.4洛仑兹模式下，磁场范围从-2000到20000高斯★3.5.5配置差分相位对比成像系统，可实现四分割同时成像，任意图像均可进行叠加。3.5.6配置球差校正模式下洛伦茨透镜的合轴调整。3.6会聚束电子衍射（CBED）：3.6.1最大会聚角：100mrad3.6.2最大取出角：≥± 13° 3.7放大倍率：3.7.1放大倍数：TEM：50倍–1,500,000倍；STEM：125倍--165,000,000倍。3.7.2放大倍数重复性： 1.5%3.8扫描透射系统(STEM)：★3.8.1检测器：配置HAADF、同轴BF/DF、iDPC或同类型共四个检测器。3.8.2可同时采集四幅来自不同角度的电子信号的实时图像。3.8.3HRTEM与HRSTEM一体化设计，可以与EDS、CMOS等设备同时获取数据3.8.4相互切换后所需热稳定时间小于30秒3.8.5配有微分相位衬度STEM技术，可以实现固有磁场和电场的测量。3.9样品台：3.9.1五轴计算机控制样品台，可存储和复位五维(x,y,z,a,b)坐标，在X/Y/Z三个方向配有压电陶瓷控制器。3.9.2样品台最大倾斜角度：± 70° 。3.9.3低背景双倾样品台最大倾斜角度：± 40° (a)/± 30° (b)。3.9.4样品移动范围：X/Y：2mm；Z：0.75mm。3.9.5最小移动步进：X/Y方向 20pm。3.9.6样品台漂移(使用标准样品杆)：≤0.5nm/min3.10图像记录装置：3.10.1配置TEM一体化超高速高动态数字相机，快速寻找观察兴趣区；同时配置底装式大视野快速CMOS相机进行高分辨成像。3.10.2CMOS像素数量：4k*4k 全画幅读出速度：25fps 4kx4k的全幅分辨率下始终以25fps的帧速率提供“实时观察”体验；3.10.3工作电压：高达300keV；3.10.4像素尺寸：15umx15um；★3.10.5最高读出速度：300fps@512x512pixels；3.10.6利用高速的数据进行实时样品漂移矫正；3.10.7原位记录：具有原位“回看功能”，可随时缓存在开始记录之前的20s的原位数据；3.10.8原位记录：可以实时记录全画幅4k*4k@25fps的原始数据，并且可采用DigitalMicrograph原位数据处理工具包进行数据处理，包含数据的时间、空间crop，跳帧、帧叠加、帧对齐，视频的导出等等功能；3.10.9PC配置：RAM =256G；SSD硬盘 =1.2Tb,2.5”SAS,10,000rpm；3.10.10动态范围：≥16比特3.11能谱仪EDS的规格指标：★3.11.1对称式电制冷SDD能谱仪探测器，无窗设计，有效探测面积³ 120mm2；3.11.2固体角：≥0.7srad.；3.11.3能量分辨率：≤136eV(Mn-Ka)，在输出计数率10kcps内保持不变；3.11.4元素分析范围：从B(5)–U(92)；3.11.5Fiori峰背比≥4000:1@Ni-K峰；3.11.6最大输入计数率：≥1,000Kcps,最大输出计数率：≥500Kcps；3.11.7最高耐热温度：1000° C，保证后期的加热升级；3.11.8可进行快速原子级尺寸的点、线、面的定性定量分析，全息面分布分析；3.11.9对于纳米级球状样品，在不转动样品的前提下，能从多角度收集X射线性能；3.11.10与三维重构系统配合可实现3D-EDS功能。3.12电子全息系统BiPrism指标：★3.12.1高分辨TEM模式下，在视野大于25nm，条纹优于0.1nm的情况下，条纹衬度≥20%3.12.2Lorentz模式下条纹2nm条件下衬度≥25%3.13三维重构系统技术指标：3.13.1样品杆最大倾角：± 70° 3.13.2三维重构硬件和软件:三维重构硬件包含专用大倾角样品杆一套，和用于数据后处理的电脑；三维重构软件包括：数据采集软件包（TEM/STEM/EDS）和数据对中重构及可视化处理软件包3.13.3最大图像漂移：X/Y方向≤2um(+/-70° 内倾转)3.13.4最大欠焦量变化：≤4um(+/-70° 内倾转)3.13.5重复性：≤400nm(样品杆重复3次进入)3.13.6能对样品杆进行初始化校准，并将所有坐标参数存储下来，供对中时用。3.13.7可实现TEM模式的三维重构、STEM模式三维重构和EDS模式三维重构。3.14真空系统：3.14.1由干泵、涡轮分子泵和离子泵等构成完全无油抽真空系统。3.14.2真空度：电子枪真空度 1.0x10-7Pa；样品区真空度 1.0x10-5Pa.3.14.3典型换样时间小于60秒且更换样品时无需关高压。3.15电子能量损失谱（Windows64位软件操作系统）的规格指标(ContinuumER1065)：3.15.1基本功能：实现能量过滤成像提高图像质量，尤其提高厚试样和断层成像(Tomography)的图像质量，分析材料的化学价态、电子结构、元素组成及其面分布等；3.15.2工作电压：300kV；3.15.3采谱速度：8000谱每秒；3.15.4配备低噪声，高动态范围的2k*2kXCRCMOS探测器；BF/DF探头；3.15.5能量分辨率：0.3eV@0eV；采谱范围：3000eV；3.15.6能量过滤模式，图像采集速率为2k*2k@90fps；3.15.7.双电子能量损失谱分析(DualEELS)：能同时高速采集和分析低能损失(LowLoss)和高能损失(CoreLoss)谱，实现精确的化学分析；3.15.8实时扫描透射模式的电子能量损失谱分析；4.产品配置要求：4.1300kV双球差场发射透射电镜主机1套，包括：4.1.1高分辨极靴电子显微镜基本单元4.1.2Probe和Image双球差校正器4.1.3压电陶瓷控制测角台4.1.4普通单倾样品杆和普通双倾样品杆各一根4.1.5低背景双倾样品杆一根4.1.6三维重构样品杆一根4.1.7低剂量电子束曝光功能4.1.8电镜控制计算机4.2一体化STEM系统带HAADF探测器和明场/暗场探测器（全套软硬件）1套4.3OneViewISCMOS数字相机系统1套4.4一体化能谱仪(EDS)系统1套4.5三维重构系统全套软硬件1套4.6Holography电子全息系统（全套软硬件）1套4.7CrystalPack功能软件1套4.8电子能量损失谱仪(ContinuueER1065)系统（全套软硬件）1套4.9冷却循环水机、空气压缩机、不间断电源等必需的附属设备4.10备用场发射灯丝1套4.11UPS电源1套：延时1小时5.在安装之前由学校选定并经仪器生产商认可的透射电镜室房间由中标人负责场地改造（相关费用由中标人承担），以符合仪器对场地的需求。6.技术文件要求：6.1提供中文版或英文版的仪器设备样本简介、产品技术性能说明，以及系统软件操作简介。6.2仪器硬件操作手册和软件使用手册。6.3仪器验收标准。6.4技术服务条款、技术培训条款以及售后服务承诺。6.5仪器设备装箱清单。1套　　其他要求如下表：技术方案及技术措施维保范围服务：要求供货厂家在中国设有固定维修站，并配备专业维修工程师，能提供及时有效的售后服务。升级服务：供应方应负责在硬件允许前提下，免费向用户提供仪器软件升级服务，并优惠提供与之相关的硬件升级。进度1、供方应在合同生效后30天内向用户提供详细的安装准备条件及安装计划。仪器到达用户所在地后，在接到用户通知后1周内，由设备管理部门，合同购置单位，销售单位共同进行开箱验收，检查设备在运输过程中有无损坏、丢失，附件、随机备件、专用工具、技术资料等是否与合同、装箱单相符，并填写设备开箱验收单，存入设备档案，若有缺损及不合格现象应立即向有关单位交涉处理，索取或索赔。2、设备安装与调试：透射电镜室外部整体环境改造，由供应方在设备到达前完成。设备到达用户所在地后，根据买方的通知，供应方在2周内安排仪器的安装调试，直至达到验收指标。任何虚假指标响应一经发现采购人可单方面终止合同，中标投标商必须承担由此给用户带来的一切经济损失和其它相关责任。3、技术培训：供应方设备安装调试完成后，应对用户技术人员进行调试、操作、仪器维护、故障排除等方面的现场培训。仪器正常使用一段时间后再免费培训一次。4、验收：首次工厂验收将由安徽大学客户和工厂技术人员在工厂进行，时间为仪器准备好发货之前，测试结果满足本合同规定的技术要求。第二次验收在用户现地实验室，双方按照商定的仪器的验收指标和本合同要求的验收方法进行测试。测试达标通过后，由用户自由操作一个月，如无任何问题双方完成最后验收。验收前公司需同时送达所有必要的文档资料和使用手册。操作培训方案:-初级培训：安排安大工程师2人三天在厂家培训。仪器安装调试后，专业工程师对用户进行2天的现场培训，保证安大操作人员能独立使用球差电镜等设备。-培训内容包括：系统原理介绍，仪器的结构以及功能介绍，系统硬件、软件的操作运用，设备保养和故障排除。-高级应用培训：仪器使用一段时间后，公司将派遣有经验的应用技术专家进行应用技术培训。-电镜实验室投入正常运行后，为保障设备的良好使用和功能开发，公司需在保修期内将固定每三个月派遣一次应用专家到安大进行电镜应用技术的再培训，以使电镜的使用始终保持在高水平状态，促进和帮助用户获得好的数据、发表高质量文章。-应用专家需不定期根据客户的要求回访电镜实验室，与客户共同研究和开发球差电镜的使用技术。管理-在保修期内厂家需每半年派遣维修工程师到电镜实验室回访，免费对电镜设备进行检修和保养。-厂家保证80%时间电镜设备的正常使用,如出现电镜无法使用情况，质保期顺延。-保修期过后，卖方承诺对仪器提供有偿终身维修服务，并在质保期满前1个月免费对仪器进行全面检测、保养和维护，同时出具仪器性能测试报告和相应的建议。如需更换配件费用需事先和用户达成一致。服务质量响应故障响应措施-卖方对电镜主机系统提供2年以上的保修服务。保修期从仪器验收合格、双方签署验收报告之日算起。保修期内，仪器的零配件费用、人工费用、差旅费用(耗材除外)均由卖方承担，因使用环境及人为因素造成设备损坏不在保修范围之内。-需对买方的服务申请48小时内电话响应，正常情况下工程师在3天内到达服务现场。一般问题在3个工作日内解决，重大问题或其他无法迅速解决的问题在一周内解决或提出解决方案。　　以下为招标项目详细信息摘要：　　一、项目名称及内容　　1、项目编号：AHUDY-AZ-2018-030　　2、财政编号：KYCG2018-00175　　3、项目名称：安徽大学2018年300KV双球差矫正透射电子显微镜采购项目　　4、项目单位：安徽大学　　5、资金来源：财政资金　　6、项目预算：2684万元　　7、最高限价：2684万元　　8、标段(包别)划分：本次招标共分1个包，拟采购300kV双球差矫正透射电子显微镜1套，详见采购需求。　　二、投标人资格　　1、符合《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定 　　2、本项目不接受联合体投标。　　3、供应商存在以下不良信用记录情形之一的，不得推荐为中标候选供应商，不得确定为中标供应商：　　(1)供应商被人民法院列入失信被执行人的 　　(2)供应商或其法定代表人有行贿犯罪行为的 　　(3)供应商被工商行政管理部门列入企业经营异常名录的 　　(4)供应商被税务部门列入重大税收违法案件当事人名单的 　　(5)供应商被政府采购监管部门列入政府采购严重违法失信行为记录名单的。　　四、开标时间及地点：　　1、开标时间：2018年11月29日上午9:30　　2、开标地点：合肥市滨湖新区徽州大道与云谷路交口西北角淮河科研中心12楼第一会议室。　　五、投标截止时间：2018年11月29日上午9:30　　六、联系方法　　(一)项目单位：安徽大学　　地址：合肥市经济技术开发区九龙路111号　　采购项目联系人：刘老师　　电话：0551-63861283　　(二)采购代理机构：安徽安兆工程技术咨询服务有限公司　　地址：合肥市滨湖新区云谷路2588号淮河科研中心12楼　　联系人：徐工　　电话：0551-657073440551-65707330

2023年2月22日，清华大学朱静院士团队联合复旦大学车仁超教授和北京大学李源副教授在《自然》杂志上发表了题为” Topological spin texture in the pseudogap phase of a high-Tc superconductor” [1] 的文章。该研究工作采用赛默飞透射电子显微镜（TEM）首次在赝能隙态YBa2Cu3O6.5材料中发现了拓扑磁涡旋结构的存在。该拓扑磁涡旋结构的发现在实空间微观尺度上给赝能隙态下的时间反演对称性破缺提供了的直接图像证据，并且发现该拓扑磁涡旋结构在电荷密度波态时被破坏，进入到超导态时又重新出现，这一发现对揭示高温超导的微观机理具有重大的意义，而先进的透射电子显微镜在这一发现上更是功不可没。朱静院士，车仁超教授等人深耕于超导材料研究领域，洛伦兹低温原位透射电镜研究领域，电子显微学研究领域多年，取得了一系列重要研究成果。在本研究中，研究团队利用复旦大学电子显微镜实验室新安装的Spectra 300透射电子显微镜开展低温洛伦兹样品测试，获得了此次重大发现。2021年，赛默飞上海纳米港（Shanghai NanoPort, Thermo Fisher Scientific）有幸参与其中部分实验工作，在创建冷冻实验环境和原位数据采集方面积极地配合支持。本文将主要介绍两种电子显微学技术——洛伦兹透射电镜（LTEM）和积分差分相位衬度（iDPC）在该工作中起到的关键作用。洛伦兹透射电镜（LTEM）正常TEM光路下，物镜处于开启状态，样品在物镜上下极靴中间处于~2T的强磁场中，样品本征的磁结构会被物镜的强磁场破坏。为了在无磁环境下观察样品本征的磁结构，赛默飞场发射透射电镜Talos和球差校正透射电镜Spectra都可以通过关闭物镜电流使样品处于零磁场环境，再由位于物镜下极靴内部的洛伦兹磁透镜实现对样品微观本征磁结构的观察。LTEM成像模式主要有两种：Fresnel成像模式和Foucault成像模式。Fresnel成像模式是通过改变图像的离焦量实现对磁畴或畴壁的观察。其图像主要特点是欠焦和过焦条件下磁畴畴壁的衬度是相反的，而正焦图像则没有磁衬度。Foucault成像是通过遮挡或者保留后焦面上与磁畴相关的衍射信号来实现（类似于暗场像）, 适用于观测不同磁化取向的磁畴。图1a-c分别为该文章中赝能隙态YBa2Cu3O6.5样品的正焦、过焦以及欠焦下的Fresnel图像，离焦量为±1.08 mm。其反转的衬度特点，切实证明了该样品中存在拓扑学特征的畴结构。此外，赛默飞透射电镜上的洛伦兹功能不仅可以实现无磁环境，还可以很方便地通过改变物镜电流来改变磁场，用于原位研究磁结构随磁场强度的变化。在本研究中，作者通过改变物镜电流对样品施加外磁场影响，拓扑学特征消失，进一步证明了该效应是由磁学特性引起的。作者通过使用强度传递方程（Transport of Intensity Equation, TIE）的相位重构技术[2]，对LTEM图像进行数据处理得到拓扑磁涡旋结构的磁场方向和相对强度分布（图1d-e, i-l）。图1m-n是由LTEM结果推测出来的两种可能的磁涡旋结构示意图。该文章中LTEM实验分别在赛默飞Spectra300，Themis和Titan机台进行了重复验证，均观察到拓扑磁涡旋结构。图1 （a-c）LTEM Fresnel模式下赝能隙态YBa2Cu3O6.5样品的正焦、过焦、欠焦图像（离焦量为±1.08 mm），样品处于300 K，零磁场环境，标尺为500 nm；（d-e）为通过TIE算法得到的磁场和磁场强度图像；（f-j）为红色方框对应的剪裁放大图像；（k-l）为单个磁涡旋结构的磁场和磁场强度图；（m-n）为两种可能的拓扑磁涡旋结构示意图[1]除了常规的LTEM成像外，赛默飞球差校正透射电镜Spectra系列可以通过物镜球差校正器对LTEM光轴进行像差校正。像差校正洛伦兹模式下可以得到优于1nm的信息分辨率，从而帮助科研工作者观察到更小的磁结构。积分差分相位衬度（iDPC）球差校正透射电镜的超高空间分辨率提供了关于拓扑自旋结构的出现与局域晶体结构之间关系的更多信息。铜基超导材料中氧原子的掺杂或缺失对材料性能具有重要的影响，直接观察到氧原子的占位对深入揭示材料微观结构与性能之间的关系具有重大的意义。然而，广泛使用的扫描透射电镜（STEM）的高角环形暗场（HAADF）图像，因其主要接收高角卢瑟福散射信号，导致轻重元素无法同时成像，C、N、O等轻原子无法观察到。STEM环形明场（ABF）像虽然能观察到轻元素，但ABF图像无法直接解读，而且存在对样品厚度要求高、图像信噪比不佳等问题。为了解决以上问题，赛默飞提出并发展了积分差分相位衬度（iDPC）技术。iDPC这一全新STEM成像模式的出现，大大提高了透射电子显微镜捕获原子的能力。iDPC技术具有能实现轻重原子同时成像，能实现低电子剂量，高分辨和高信噪比成像，图像衬度易解读等优点[3]。目前，iDPC技术已成为材料表征领域技术热点，在表征轻元素占位、二维材料、电子束敏感材料、超导体等领域具有重要的应用。iDPC成像技术现已完全集成在赛默飞球差校正电镜Spectra和场发射电镜Talos上，能实现iDPC图像的在线采集和显示。图2 (a) YBa2Cu3O6.0， (b) YBa2Cu3O6.5和(c) YBa2Cu3O6.9的原子分辨率iDPC图像[1]图2为YBa2Cu3O6.0、YBa2Cu3O6.5和YBa2Cu3O6.9的高分辨iDPC图像，可以清楚的观察到氧原子的位置，随着氧掺杂含量的不同，Cu-O链上的氧占位逐渐增加。值得注意的是赝能隙态YBa2Cu3O6.5的Cu-O链上出现了氧富集和氧缺失的有序排列。作者认为这种氧的有序排列有利于拓扑磁涡旋结构沿c轴自由排列，是观察磁涡旋结构的最佳区域。作者认为现阶段不能完全排除氧填充链激发磁性的可能。赛默飞将致力于相关电子显微学技术的研发与应用，为材料的电、磁学性能研究提供更强大的助力。作者：刘建参考文献[1] Zechao Wang, Ke Pei, Liting Yang, Chendi Yang, Guanyu Chen, Xuebing Zhao, Chao Wang, Zhengwang Liu, Yuan Li, Renchao Che & Jing Zhu. Topological spin texture in the pseudogap phase of a high-Tc superconductor. Nature (2023). https://doi.org/10.1038/s41586-023-05731-3[2] M. Beleggia, M.A. Schofield, V.V. Volkov, Y. Zhu. On the transport of intensity technique for phase retrieval. Ultramicroscopy 102 (2004) 37–49.[3] Ivan Lazi&cacute , Eric G.T. Bosch and Sorin Lazar. Phase contrast STEM for thin samples: Integrated differential phase contrast. Ultramicroscopy 160, 265-280 (2016).

p　　作者：汪玉玲/pp　　本文仅代表作者个人观点/pp　　如今的透射电子显微镜市场主流厂商包括日本电子，日立和FEI。除了上述三家之外，德国的蔡司(Zeiss)公司也在电子光学仪器领域占有一席之地。本文带你全面了解透射电镜厂商的前世今生。/pp　　span style="background-color: rgb(112, 48, 160) color: rgb(255, 255, 255) "strong1 你不知道的日本电子株式会社JEOL/strong/span/pp　　首先介绍一下老大哥日本电子株式会社JEOL。/pp　　提起日本电子，大家应该都不陌生，目前在我国各大科研院所都不难看到JEOL电镜的影子。日本电子株式会社是一家世界顶级的科学仪器生产制造商。能在这么多的仪器制造商中鹤立鸡群室有原因的，日本电子有着非常丰富且高端的产品线，生产的都是技术含量非常高的科技产品，电子显微镜，核磁共振，质谱仪，X射线光电子能谱，俄歇电子能谱等。是世界上有且仅有的一家企业可以同时生产这些高端仪器产品的企业。/pp　　strong透射电子显微镜/strong/pp　　日本电子生产透射电子显微镜的历史算得上是非常悠久，它的前身是1949年5月在东京成立的日本电子光学实验室有限公司，成立同年就推出了第一代透射电子显微镜—JEM-1透射电子显微镜，见下图。/pcenterp style="text-align:center"img style="width: 500px height: 334px " title="" alt="" src="http://5b0988e595225.cdn.sohucs.com/images/20180105/65d5174298474dea9d7f6baf29abeb8c.jpeg" height="334" hspace="0" border="0" vspace="0" width="500"//p/centerp style="text-align: center "strongJEM-1透射电子显微镜/strong/pp　　strong你知道吗?/strong/pp　　其实，我们国家也在同时期开始了透射电镜的研发工作，算起来起步并不算晚，但是由于之后一些年的各种历史原因，不得不中断了。现在，日本已经是毫无疑问的电镜生产大国，而我们国家的电镜发展却只有个别在国家资助下的小规模研究(之后的文章会有专项介绍)，这么重要的科研设备掌握在别人的手里，为长远考虑，国产电镜的发展必须跟上才行。/pp　　1961年该公司正式改名为日本电子株式会社(JEOL Ltd.)，日本电子是在二战后开始透射电镜研发，并且是以电子显微镜起家的。六十余年的技术沉淀让它的电镜产品不断的发展壮大，逐渐得形成了它的品牌影响力，成为了全球市场市场上的领头羊。/pp　　2009年，日本电子成立六十周年庆，推出了当时世界上分辨率最高的商业化球差校正透射电镜JEM-ARM200F，透射模式分辨率达0.19nm，STEM-HAADF的分辨率可达0.078nm，这款产品大获成功，开启了球差校正的新时代。如下图，/pp　　/pcenterimg alt="" src="http://5b0988e595225.cdn.sohucs.com/images/20180105/1a4762c278d74239aa3a94f4b48213bc.jpeg" height="287" width="249"//centerp　　第一台JEM- ARM200F安装在德州大学圣安东尼奥分校University of Texas at San Antonio，2010年1月安装结束，二月初就获得了惊人的实验结果。该仪器展示了JEOL实打实的超级稳定性和超高分辨率。2010年，西安交通大学也购入了中国首台该型号的电镜，也是中国大陆第一台STEM球差校正透射电镜。之后，上海交通大学，武汉大学，东北大学，中国科技大学，中科院大连化物所，中科院物理所，神华集团低碳清洁能源研究所等也陆续上马。目前，中国大陆已经有十几台该型号电镜，相信前方大批的高能科研成果也正在路上……/pp　　2014年，日本电子再次引领潮流，发布了终极分辨率的大杀器——新一代球差校正透射电镜JEM-ARM300F，也称为GRAND ARM，这是一款300kV原子分辨级透射电子显微镜，是JEM-ARM200F的升级版，采用了日本电子独自研发的十二级像差校正器，分布率达到 0.05nm，STEM-HAADF的分辨率可达0.063nm，日本电子再一次把商业化的透射电镜推向了一个新的极限，巩固了自己在电子显微镜领域的世界领先地位。/pp　　strong日本电子的成功的原因/strong/pp　　1. 研发与制造技术的长期积累。一台JEM-ARM300F有三万多个零配件，最佳的电子显微镜表现能力要求每一个零件都能做到百分之百。/pp　　2. 销售和售后服务保障。日本电子有较为成熟的销售和售后服务渠道，可以保证高品质的维修配件的流通速度和高素质的产品服务工程师。/pp　　3. 电镜专业人才培养。日本电子虽然是一家仪器制造商，但是却在一直通过各种活动对青年科研人员提供资助，例如，风户研究基金会，早在1969年就成立了，目的就是鼓励和推广电子显微镜领域的学习和研究。/pp　　随着我国科技的逐步发展，中国的电镜市场已经越来越大，成为了全球第一大市场，但是中国所使用的透射电子显微镜却全部都是进口的，这种现象应该引起我们所有电镜小工匠们的深思。/pp　　span style="background-color: rgb(112, 48, 160) color: rgb(255, 255, 255) "strong2 关于FEI的那些“小事儿”/strong/span/pp　　接下来介绍JEOL在透射电镜领域最有力的竞争者——FEI。FEI是一家美国的高科技公司，是为全球纳米技术团体提供解决方案的创新者和领先供应商, “TOOLS FOR NANOTECH”，生产的产品主要面向半导体、数据存储、结构生物学、材料和工业领域。/pp　　strongFEI的透射电镜历史/strong/pp　　1971/pp　　FEI公司成立于1971年，仅从年份上上看，似乎它起步要比JEOL要晚很多，但是FEI生产透射电子显微镜的历史可不是从1971年开始的。要知道美国的FEI公司开始并不是做透射电子显微镜的，最初它只致力于提供高纯，单一取向晶体作为场发射材料。/pp　　1997/pp　　事情发生在1997年，香港回归了，这一年，除了这件大事还发生了一件小事：FEI和荷兰的飞利浦电子集团电子光学公司(PEO)宣布合并其全球业务，飞利浦电子集团成为了FEI的最大股东。由此FEI开始了电镜产业领袖之路。/pp　　1949/pp　　在透射电镜的商业化历史上，1949年有着重要的意义。飞利浦电子光学公司在这一年向世界推出了全球第一台商用透射电子显微镜 “EM100”，要知道JEOL的第一台JEM-1也是在1949年推出的。可以说，飞利浦电子光学公司一直是举世公认的电镜产业领袖之一。/pp　　2009/pp　　FEI公司最新发布第二代球差校正电镜Titan G2 60-300透射电镜，这是Titan系列电镜中一项革命性产品。FEI Titan系列产品是FEI的明星系列，自2005年推出，包括有Titan G2 60-300，Titan3 G2 60-300，Titan Krios和Titan ETEM (环境透射电镜)。该系列产品以其具有突破性的稳定优异的性能获得了商业上的巨大成功。/pp　　Titan G2 60-300它的STEM分辨率可达0.08nm，Titan3 G2 60-300可达0.07nm，它是世界上唯一能够同时实现亚埃分辨率及分析型机靴(S-TWIN)的透射电镜，而且是世界上唯一的300kV Cs球差校正透射电镜。/pp　　在我国，该系列的电镜普及率也是相当高的，清华大学，浙江大学，中科院金属所，重庆大学，西安交通大学，中南大学，东南大学，深圳大学，广西大学等科研院所及高校，都装备了该系列的球差校正透射电镜，随着国内科学技术的进一步发展，相信越来越多的镜子会在这片土地上生根发芽，开花结果。/pp　　strong你知道吗?/strong/pp　　美国总统奥巴马曾经在西海岸技术巡视时去Intel，在他们的TEM实验室里亲自经历了一把，他说：“我看到了一些原子。”从图片上就可以看到，他使用的就是正是FEI Titan系列的球差透射电镜。/pp　　2016：FEI出嫁了!/pp　　与JEOL不同，FEI公司的发展历经多次的收购与合并，通过这样的强强联合，使自己的实力越来越强大。/pp　　1996年：收购美国ElectronScan公司及其“环境扫描(ESEM)”技术 收购位于捷克布尔诺的Delmi公司/pp　　1997年：FEI和飞利浦电子光学合并其全球业务/pp　　1999年：新的FEI购并美国Micrion公司/pp　　2002年：FEI收购Atomika (SIMS二次离子质谱仪)/pp　　2003年：FEI收购Emispec (ESVision)/pp　　2016年：FEI 正式出嫁。在2016年5月27日，赛默飞以交易最终金额为42亿美元的聘礼迎娶了电镜制造商FEI公司，这笔交易应该会在2017年年初完成，完成后，FEI将成为赛默飞旗下分析仪器业务中的一员。赛默飞是生命科学领域的领导者，FEI的电子分析技术的加入将与赛默飞的质谱技术结合。相信赛默飞也将利用公司的全球规模和商业化运作进一步推广FEI的产品。/pp　　未来的透射电子显微镜领域，可以预见FEI将在生物领域大放异彩，只是不知道那时候它家的产品该姓什么?赛默飞还是FEI?毕竟都是嫁出去的人了嘛!*(^_^)/*/pp　　strongspan style="background-color: rgb(112, 48, 160) color: rgb(255, 255, 255) "3 无所不能的HITACHI——日立/span/strong/pp　　接下来主要来谈一下三家主要的透射电镜供应商的最后一家——日立HITACHI。如果说JEOL和FEI算是比较专一型的企业的话，那么Hitachi就是比较博爱了。/pp　　HITACHI/pp　　日立是日本的一家超级大国企，可以说它本身就是一个完整的工业体系，涉及的产业从核电站，铁路，军工，到家电，医疗，物流，通信，金融以及各种黑科技(^_?)☆，可以说是无所不做。他的总员工数约32万人，在日本是继丰田汽车之后的第二大的企业。/pp　　strong日立的历史/strong/pp　　日立的前身是久原矿业日立矿山附属的机械修理厂，1910日立制作所正式成立。在1920年，改组成名为日立制作所株式会社。同样，在之后的第一次世界大战及二次世界大战，给日立提供了很好的发展机会，生产各种军舰，坦克，发了战争财。到1944年，日立已经发展起来了，拥有了11家工厂。/pcenterimg alt="" src="http://5b0988e595225.cdn.sohucs.com/images/20180105/fa3c45af7ced427d93e998728a129f11.jpeg" height="300" width="444"//centerp style="text-align: center "strong日立树—日立集团的统一品牌形象/strong/pp　　strong你知道吗?/strong/pp　　日立树位于夏威夷瓦胡岛，树龄120年，属于雨树，日立每年支付40万美元用于维持该树的摄影资格。日立树含义有几种说法，一般认为是日立有像大树一样广阔的事业群，不过，现在也有人解读为日立把非营利业务放置在巨大的树荫下藏起来。/pp　　strong日立高新技术/strong/pp　　如上所说，日立的产业和产品十分丰富，子公司也非常多。而日立的电子显微镜部门属于日立高新技术公司。/pp　　2001/pp　　日立高新于2001 年由日立制作所旗下的测量仪器集团、半导体制造设备集团及贸易集团Nissei Sangyo公司合并而成，日立制作所持有日立高新52%的股份。虽说“日立高新”只有十几年的历史，但是其实体则于1947年就已经存在了。现在的日立高新主要提供电子显微镜、全自动生化分析仪、通用分析仪器、半导体元器件检测设备等尖端技术产品，从近两年的市场表现来看，可以说日立高新还是相当成功的。/pp　　2012/pp　　从FEI的发展历史可以看到，并购是一个扩充核心业务、增强企业竞争力的重要策略。然而对于日本企业来说，并购并不多见。但是2012年日立高新的一个并购项目相当成功，2012年5月日立高新收购精工电子旗下全资子公司精工电子纳米科技，成立了日立高新技术科学。精工电子以光、电子线、X射线、热分析为核心技术，特别是它的聚焦离子束技术有很好的历史和评价。同年，日立高新就推出了实时三维结构分析聚焦离子束扫描电镜(FIB-SEM)新品NX9000。/pp　　strong你知道吗?/strong/pp　　日立高新科学仪器营业本部本部长Okada Tsutomu曾说过，尽管日立高新的分析产品有很多，其他仪器的销售台数比电镜多很多，但是销售额却远赶不上电镜业务!可以看出，电镜业务的利润有多大，但是没办法，我们做不出来嘛!!!/pp　　日立透射电子显微镜/pp　　目前，日立高新在扫描电镜技术方面积累颇丰，成果也十分显著，但相比较来说，日立在透射电镜尤其是高端透射电镜技术方面却稍逊一筹。/pp　　2015：球差校正透射电镜/pp　　日立推出了一款球差校正透射电镜HF5000，虽然比其他两家企业稍晚一点，但是，这也标志着日立在电镜方面的水平和实力。这台球差校正电镜采用了日立高新经过考验而被认可的冷场发射电子枪技术，达到了亚埃级的空间分辨率(0.1 nm或更低)。另外，它的镜筒和样品台经过了重新的设计。该产品的推出使得日立高新形成了120kV、200kV、300kV全系列的透射电镜产品。/pcenterimg alt="" src="http://5b0988e595225.cdn.sohucs.com/images/20180105/f71329b25fb3443482c4b6a5adba9477.jpeg" height="465" width="574"//centerp　　环境透射电镜/pp　　另一台比较成熟的商用电镜是日立原位环境透射电镜，可以通过特制样品台施加外场刺激，同时进行实时观察。三款环境透射平台分别为H-9500ETEM、HF- 3300ETEM/STEM/SEM，以及HF-3300S Cs-corrected ETEM / STEM / SEM。在我国，浙江大学、西安交通大学、北京化工大学都安装了该系列电镜。/pp　　/pcenterimg alt="" src="http://5b0988e595225.cdn.sohucs.com/images/20180105/cd78ef2556b24502beb2733bb5af5d2a.jpeg" height="359" width="505"//centerp　　有人说：中国工业想要比过日本要先比过日立!确实，作为一个有完整工业体系的超级大公司，确实有很多值得学习的地方，中国工业还有很长的路要走。/pp　　strongspan style="background-color: rgb(112, 48, 160) color: rgb(255, 255, 255) "4 光学“大咖”——卡尔 蔡司/span/strong/pp　　世界上能生产透射电子显微镜的厂家并不多，除了上述三家之外，德国的蔡司(Zeiss)公司也在电子光学仪器领域占有一席之地。/pp　　蔡司公司是一家老牌光学仪器公司，蔡司的历史相比于其他几家公司的历史都来得悠久。公司名称起源于创始人，德国光学家卡尔· 蔡司(Carl Zaiss)，上图为蔡司商标的演变。最后一个大家一定很熟悉，在各种镜头，金相显微镜，扫描电镜上面你会经常见到。/pp　　strong蔡司的历史/strong/pp　　1846年，卡尔· 蔡司创立了一家精密机械及光学仪器车间，自此开始了蔡司的创奇时代。蔡司凭借其在光学领域的卓越品质，成功的经营了一个世纪，到二战以后，由于政治原因，德国被迫分裂，蔡司公司也被迫一分为二，之后，东德的产品冠名为Carl Zeiss Jena，西德产品冠名为Carl Zeiss，但东、西蔡在设计上都秉承了蔡司的优质传统。正所谓分久必合，到1990年，两个公司又重新重组成一个公司，总部设在奥伯考亨，东西合璧一直到今天，蔡司公司仍然是光学领域的执牛耳者。/pp　　strong你知道吗?/strong/pp　　蔡司公司还是一个非知名的军工企业。二战中德国的狙击枪，最先进的主站坦克 “豹”2A6，德国214型潜艇，性能超凡，他们都装备了蔡司公司的光学设备。因此，在战争年代，各国把光学工业列为战略工业，制造光学玻璃的原材料石英矿成为了战略物资，光学玻璃产业在军事领域的意义不亚于航天技术。/pp　　strong蔡司——光学领域/strong/pp　　在光学领域，蔡司是毫无疑问的独孤求败。一百多年来，蔡司光学显微镜在各行各业都展现了其强大的魅力。十九世纪末，Robert Koch博士利用蔡司显微镜发现杆菌是导致结核病的原因。1911年，挪威探险家首次踏上南极大陆，他当时用的就是蔡司的望远镜。可以说在医学，生理学，物理学，化学，军事，天文学等多个领域，都不难找到蔡司显微镜的影子。/pp　strong　蔡司——电子光学领域/strong/pp　　蔡司公司在电子光学领域却并不像它在光学领域如此出色。虽然蔡司公司有很悠久的历史，但是其在电子光学领域要晚于其他几家制造商，蔡司电子光学的前身为LEO(里奥)，在透射电镜领域有60多年的经验。蔡司的光学技术是有口皆碑的，它的电子束技术也并不差。在1949年，就制成了世界上第一台静电式透射电镜，1992年制成了第一台带有成像滤波器的透射电镜，2003年制成了第一台具有Loehler照明的200KV场发射透射电镜及第一台具有镜筒内校正Omega能量滤波器的场发射透射电镜。/pp　　目前，蔡司主要的一款透射电镜为LIBRA能量过滤式透射电子显微镜，(libra是天秤座的意思，不知道蔡司为什么以星座来命名他的产品，知道的可以留言给小编哦!)该电镜配备了独特的OMEGA二阶校正能量过滤器和Koehler库勒照明系统。该款电镜有两种配置：LIBRA 200 CS TEM以能量过滤型200KV LIBRA TEM为基础，做了物镜透镜的球差校正。通过使用校正器，可以采集分辨率0.7A的图像。 LIBRA 200 STEM具有为聚光镜配备的校正器，可以用于在扫描模式下对分辨率远远低于1A和极高分辨率下样品化学分析的成像，尤其是EELS。校正后聚光镜允许探针尺寸减小到1A，同时增大强度。此外，独特的单色仪把能量扩散减小到0.15eV。这对于材料科学的基础研究尤其有利(尤其是纳米颗粒的化学分析)。/pp　　蔡司的透射电镜普及率比另外几家较少，国外哈佛大学，德国马普研究所，国内的重庆大学等也装备了该系列蔡司透射电子显微镜。/pp　　透射电镜自发明之日起已经有八十多年的历史了，它的发明对人类的科技工作的贡献不容小觑，但是能成功的进行商业化生产的公司却不多，电镜生产之繁琐复杂可见一斑。除了上述四家公司之外，国内外还有许多企业在朝着这个方向努力，我们也期待电镜国产化的那一天。/p

2021年6月19日-20日，“先进材料透射电镜原位表征高端研讨会——暨赛默飞-百实创-北工大显微结构与性能联合实验室成立仪式”在赛默飞中国客户体验中心召开，百余位先进材料透射电镜领域知名专家齐聚上海，共同见证了赛默飞-百实创-北工大显微结构与性能大数据联合实验室合作的启航，并一同探讨透射电镜原位技术在新进材料的研究中的最新进展。会议由中国科学院院士张泽担任会议主席，北京工业大学韩晓东教授担任组织委员会主席，由大会报告和四个主题专场报告组成（四专场主题依次为：透射电镜理论、技术与仪器发展；先进原位透射电镜表征；结构材料先进显微学表征；功能材料先进显微学表征）。大会报告张泽院士在题为“苛刻使役条件下材料性能与显微结构关系研究”的大会报告中强调，材料科学尤其材料显微学科研工作者，应重视建立材料微结构与宏观性能之间的对应关系，从而解决材料实际应用问题。张泽院士也着重介绍了先进结构材料在能源、环境、高端制造等领域的基础性、战略性低位，以及其在高温、高应力等苛刻使役条件下所面临的工程技术难题中的关键科学问题。并通过对航空发动机涡轮叶片等关键材料的微观尺度相结构调控、宏观结构稳定机理等科学问题的深入剖析，分享了如何完成从微观、介观到宏观的跨尺度研究，并把结构与性能之间的关系一一对应的详细研究过程与经验。同时也介绍了在材料性能与结构演变关系的研究过程中多场耦合条件的原位表征研究以及其在串联显微结构表征、材料性能乃至材料制备过程中的重要作用。张泽院士分享报告赛默飞电镜业务亚太区高级商务总监Marc Peeters在题为“Thermo Fisher Scientific: Contributions to Materials Research”的报告中，简要介绍了赛默飞的公司使命、整体概况及其在全球尤其中国的广阔商业布局与强大技术力量，并回顾了赛默飞世尔科技在微观表征设备尤其电子显微镜领域的研发、设计、制造的悠久历史与突出贡献：恒功率透镜、超级能谱、球差校正器、超亮电子枪、单色器、全新的探测系统、以及色差校正器等等技术的创造性推出与持续改进，极大帮助了科学家的材料研发、设计与制备等科研工作；近年，建立在超高稳定性系统上的全新自动化数据获取与智能化数据分析系统，亦将材料表征与分析、乃至新材料的开发工作推进到了一个全新的高度；而其完备的产品线及完整的表征工作流程，更是极大便利了科学家的材料科研工作。Marc随后也介绍了赛默飞强劲的研发、生产与技术支持实力，并展望了其在中国的远大发展前景。Marc Peeters 分享报告主题1：透射电镜理论、技术与仪器发展南京大学的王鹏教授深入浅出地介绍了基于高速相机4D-STEM大数据的叠层电子衍射成像技术(Ptychography)的技术原理及优势，并展望了该技术在突破硬件极限的超高分辨成像、与能量过滤器联用的5D-STEM、以及电子束敏感样品的低辐照高衬度成像乃至冷冻生物样品附带三维尺度信息的成像等等领域的最新应用。浙江大学的王江伟研究员则通过精巧设计的原位实验观察到了金属材料的单一理想界面的不同界面塑性变形的产生，进而讨论了其动力学机制及影响因素。武汉大学的郑赫副教授通过其最近在金属氧化物纳米材料的量子限域的可逆相变与点缺陷迁移方面的工作揭示了其微观力学的形变机理及广阔应用前景。赛默飞世尔的吴伟博士介绍了最新的Helios Hydra多气体离子源双束显微镜的低损伤透射电镜样品制备，及其搭载的多气体离子源切换与全新一代AutoTEM5带来的对各类不同材料的强大适应性与易用性。北京工业大学的张跃飞研究员与百实创科技的李志鹏博士分别介绍了扫描电镜及透射电镜上原位附件的最新技术进展、解决方案及相关应用。主题2：先进原位透射电镜表征重庆大学的黄天林教授通过原位加热实验系统地研究了层状纳米结构Al合金的结构演变，提出颗粒的粗化和集合，颗粒与位错界面/层状界面的联合可强化Y-junction迁移的钉扎作用，提高层状纳米结构的稳定性。北京工业大学的王立华研究员通过在原子尺度探索了纳米孪晶Pt材料的力学行为，回答了晶粒尺寸从Hall-Petch效应到反Hall-Petch效应区域的纳米晶的塑性变形机制等问题。北京航空航天大学的岳永海教授通过原位力学实验系统研究了纳米孪晶复合金刚石的强韧化机制，讨论了该材料变形过程中由孪晶增韧、相变增韧和叠层增韧等多重增韧机制协同作用。重庆大学的陈厚文教授在原子尺度研究了Mg合金中的界面结构，发现Mg合金中溶质原子孪晶界反常偏聚现象，提出化学成键能力是决定溶质原子孪晶界偏聚特征的重要因素。上海交通大学的刘攀教授通过原位变形研究了纳米多孔金的变形和断裂特征，发现表面原子扩散和体内位错滑移协同作用导致材料塑性室温，揭示了局域应变软化和孔洞粗化诱发整体脆断的变形机理。西北工业大学的马晓助理研究员通过原位加热的方法研究了高温金属材料的微观组织结构演变特征，揭示了高温结构材料服役过程中的精细微观组织结构的演变规律，为热处理制度制定，工程应用提供了理论指导。主题3：结构材料先进显微学表征浙江大学的余倩教授在题为“位错调控与金属结构性能关系”的报告中介绍了其通过现代电子显微学对合金材料的位错调控机理及应用的研究。她通过创造性的能谱“定量”技术解决了了高熵合金中元素周期性非均匀分布的表征问题，从而确定了合金元素错核靶向固溶引起的的超常强化的机理；进而应用该机理，通过主动调整相应元素，基于纳米尺度成分起伏，完成了合金的强韧化调控。来自上海大学的姜颖副教授通过题为“金属材料腐蚀行为的电子显微学研究”的报告详细介绍了合金材料中纳米析出相与微电偶腐蚀诱发点蚀行为以及微米尺度上的微电偶腐蚀的研究工作，并深入讲解了各种静态与原位的电子显微学表征手段在这一研究工作中的作用。南京理工大学的周浩副教授在题为“界面偏析诱导金属材料纳米化”的报告中，详细介绍了界面偏析的形成机理；分享了通过溶质偏析合金界面，进而诱导合金纳米化，从而调控其结构并改善性能，获得低成本高性能特种合金的经验。中南大学的刘春辉副教授在题为“铝合金薄壁件形性协同流变制造及其原理的原位电子显微学研究”的报告中，首先介绍了对合金材料位错诱导的强化相异质形核析出及强化等机理的研究，并利用高密度位错同时提高铝合金蠕变量和力学性能，实现回溶与高效高性能蠕变时效成形新工艺技术，解决了各类地空天运载装备的流变成形制造面临的成形与成性矛盾的问题；他随后分享了中南大学及机电工程学院电镜平台上各类原位工作的研究成果及心得。赛默飞世尔科技的牟新亮介绍了最新的高端球差透射电镜Spectra Ultra，及其中搭载的各项强大的技术，尤其是突破性高达4.45 sr立体角的Ultra-X能谱系统与颠覆性可灵活快速改变高压的Octagon电子光学系统；并展望了Spectra Ultra对现有表征手段的强化与对表征新维度的拓展，及其对材料科研工作的巨大帮助。专题4：功能材料先进显微学表征来自武汉理工大学的吴劲松教授在题为“热电材料 Cu2Se相变的原位电镜研究”的报告中介绍了其所在的纳微结构研究中心众多的来自赛默飞的高端电镜设备，阐述了通过掺杂和复合设计获得了 Cu2Se新的性能，借助高分辨电镜结合能谱及原位技术，发现了 Cu2Se第二相强化的机制，此项发现可以应用于阻止快离子导体中离子的流失进而提高热电材料的稳定性。上海交通大学的邬剑波教授在会议上做了题为“原位开启催化材料设计之可能”的报告，介绍了目前燃料电池所遇到的问题挑战及通过改变催化剂材料微观结构从而提高其性能和使用寿命的机理研究。同时邬老师介绍了他通过透射电镜液态样品杆获得的科研成果及对未来原位力学实验的展望。中科院物理所的张颖研究员在 “新型拓扑磁畴结构的探索”报告中主要介绍了通过透射电镜相关技术研究磁性材料的一些知识。中南大学的李凯副教授在“Al-Mg-Si合金纳米析出相在变形过程中的破碎与旋转”报告中阐述了铝合金变形的机理研究及通过透射电镜研究，发现被位错切过的纳米析出相发生碎片化的过程，并对未来使用原位力学杆的一些研究进行了展望。重庆大学的张斌博士做了 “SnSe层状化合物表面氧化行为的电子显微学研究”的主题报告，解释了通过高分辨透射电镜结合能谱研究明星热电材料SnSe化合物的氧化过程的必要性，及目前所获得的研究成果。华东师范大学的成岩副研究员在“原位电场下铪基铁电薄膜的原子尺度结构转变”主题报告中详细介绍了通过高分辨透射电镜结合原位样品样品杆解释铪基铁电薄膜极化的起源；来自北京理工大学的邵瑞文博士在“缺陷在功能材料中作用的原位透射电镜研究”报告中介绍了原位透射电镜在掺杂原子核位错观察中的应用，及其在实验中的一些经营和感受。本次会议主题报告主要邀请的为材料领域有突出表现的青年科学家，这些科学家是中国科技创新的希望，在国家科技强国的路上必将发挥重要的作用。

“千呼万唤始出来”，TESCAN2022年11月8号“犹抱琵琶半遮面”，但业界已经感受到“高手出招”的犀利，在“剑锋”下“瑟瑟发抖”。“Vratislav Koštál, Chief Product Officer at TESCAN: “We’ve listened to our customers and delivered what they’ve asked for – a more accessible TEM solution that is high-performing and productive for mainstream use.” 所以，TENSOR的推出是源自对客户需求的调研、定位和转化，是一款在常规应用上“平易近人”的，但又是“身怀绝技”的，态度上“吃苦耐劳”的“主流”机型。1990年，即使是在Tesla公司倒闭、科学仪器研究所减员的情况下，捷克Brno的电子显微镜时代也并未就此结束；相反，市面上却出现了三家新的电镜公司，公司的员工都来自Tesla和捷克科学仪器研究所。TESCAN接管了Tesla的扫描电镜部门；并很快的，从最初的六个人发展到近百倍的规模；另一支约20余人，也成立了一家公司叫Delmi，并开始生产型号叫Morgagni的常规透射电镜；随后，Delmi被飞利浦电子光学部收购，后又被FEI公司收购，直到2016年被赛默飞收购，一路风尘才最终尘埃落定；1990年同年，Kolarik及其同事成立了Delong Instruments公司，他们制造的是加速电压为5kV的小型透射电镜；2014年后，Delong开始制造加速电压为25kV的小型透射电镜，并供货给很多公司和机构。从2000年在Brno举办的EUREM，到2014年在捷克布拉格举办的ICEM，与会代表都曾发言说：世界上大约30%的电镜在捷克Brno生产；Brno因此也获得了“电镜谷”的称号。“For crystallographers, the TENSOR STEM helps to determine the crystallographic structure of small, sub-micron natural or synthetic particles that are too small to be characterised using micro-XRD techniques.” 时间过了超过半个世纪了，TESCAN的TENSOR一如既往，充分尊重了透射电镜利用电子选择性微区衍射对晶体结构的强大分析能力，又能够接力XRD的通量优势完成更小分工的显微分析，贯彻了TESCAN对实验室显微成像和分析workflow的深刻理解。“Applications within the semiconductor lab include multimodal nano-characterisation of thin films for R&D and failure analysis of logic, memory, and storage devices and advanced packaging.” 半导体实验室仍是“众矢之的”，TENSOR显然没有“甘居人下”-光刻显影量测、逻辑闪存芯片、存储设备、以及先进封装的缺陷检测，一个不落，解决“多模态纳米级别表征”的需求清晰明了。值此TENSOR发布之际，笔者也不由得想起和TESCAN同属于捷克电子光学三支之一的Delong Instrument: 世界上最小型的低加速电压透射电镜厂家；小型透射电镜的成功设计和搭建，是捷克电子显微镜发展的成就。早在1951年，建立小型透射电镜的想法，就已经起源于捷克理论和实验电工学研究所；这项工作启动于两年后的1953年的Delong；其目的是利用不需要特殊处理的材料，制造尽可能简单结构的透射电镜；这种电镜对生产的要求不会太高，因此，工程师能够设计出可靠性更高的部件；另一方面，小型设计为用户提供最大化的操作可能性。一小队年轻的Delong工程师在1954年完成了第一个原型机，从图中的横截面图可以看出：台式透射电镜具有相对较高的配置-其照明系统仅由一个使用Steigerwald（1949）设计的“远距聚焦”的电子枪组成；因此，它提供给研究对象相对较窄的电流密度范围和照明角度。从图中的横截面图还可以看出：Delong BS242的成像系统由四个电磁透镜：物镜、中间透镜、衍射透镜和投影透镜组成，这种设计不仅允许了较宽的放大范围，而且可以完成电子束选区衍射；真空系统由位于镜筒后方的旋转油泵和扩散油泵组成，通过空气对流冷却；在扩散泵上方安装了一个简单的阀门系统，只有在更换相机35毫米胶片时，显微镜才会放气；样品的更换通过杆式气闸操作；因此，物镜配有平坦的上极靴，以便于将样品放置在离物镜足够距离的位置上；杆式气闸由两部分组成；样品支架的部件被插入XY工作台，使得样品在垂直于光轴的方向上能够移动；另一部分与第一部分拧在一起时，能在样品杆插入真空中时保护样品；样品杆拧松开之后，样品室就密封了；这个简单的原理被证明很成功，并且多年来一直在使用。杆式气锁的构造也采用了同样的原理，这有助于将样品自动降低到上极靴的孔中；轴向像散由位于真空外部的四个线圈组成的像散器补偿消除；因此，它们很容易在没有任何真空馈通的情况下转动；三透镜投影系统，由插入磁路的机械中心极靴组成；电子光学系统由三个可从外部居中的光阑组成：限制照明面积的光阑、物镜光阑和用于选区衍射的光阑；图像观察室和胶片照相机室，通过车削和铣削制成；显微镜的镜筒安装在一个平台之上，平台两侧配有用于样品位移和聚焦的操作旋钮；为了实现电子加速，Delong设计了60kV的油绝缘高频电源，它的大小正好可以放在平台的镜筒旁边；最初用于激励透镜线圈的蓄能器，很快在1955年被安装在桌下旋转泵上的电子稳定器取代了；显微镜的分辨率最初是25Å，后来甚至达到15Å。“With the launch of TENSOR, TESCAN is the go-to company for turnkey ‘medium-voltage’, Schottky FEG, analytical 4D-STEM solutions,” said Jaroslav Klíma, Chief Executive Officer of TESCAN ORSAY Holding (TOH a.s.). “TESCAN understands the challenges of integrating not only STEM, but 4D-STEM capabilities particularly, onto legacy TEM columns. This extensive knowledge was leveraged into the design, from the ground up, whereby scanning of the electron beam is synchronised with diffraction imaging using a hybrid-pixel direct electron detector, electron beam precession, EDS acquisition, beam blanking, and near real-time analysis and processing of 4D-STEM data.” 超过半个世纪之后的今天，TESCAN这台TENSOR大概率是200kV的热场发射枪，“混合”像素电子直读相机，TESCAN推出的“一体式整合式”的，直接输出贴近“原位”的四维STEM数据的分析平台；这让我们一下子都有“文盲”的感觉。业界朋友推荐了一个网站：https://www.superstem.org/ ， 应该能够帮助我们恶补一下什么叫做4D-STEM，还有为什么透射电镜不好好地就叫TEM，而直接叫了STEM。“JK Weiss, TEM Applications R&D Manager and General Manager of TESCAN Tempe, adds, “It is not just the hardware that sets this system apart from every other TEM currently available on the market, but rather, it’s the integration of the hardware and software for a totally revolutionised new user experience that does not require months of Ph.D. or post-doc training or hours of column adjustments between different analysis modes.” TESCAN的这段承诺掷地有声：上手操作都很容易，软硬一体化，革命性的用户体验，有别于市场上任何现有TEM。这又使笔者想起，同属一脉的Delong小型透射电镜的特性，就是结构简单，因此操作简便；一名受过普通技术培训的操作员就能够进行安装和拆卸，维护工程师可以很容易地了解电镜所有部件的功能；很容易地证明物镜光阑对对比度的影响，从而说明亮场和暗场模式下的对比度和成像原理；很容易地通过操作衍射透镜在晶格处证实电子衍射，并用选区光阑让衍射图像对应研究对象的部分光学图像。这种简单的设备就像光学显微镜一样，在简单维护的情况下，也能可靠地工作多年，这无疑是这一派系的TEM的优点。我们熟悉的现代透射电镜设计的初衷是为了达到电子光学的理论分辨率；但如果没有维护，我们很难将这样复杂的设备保持在最佳性能水平。TENSOR这类新生代STEM的出现，许诺将会展示用户如何用最小的努力，可靠地实现有保证的分辨率；在这里，我们又不得不说，超过半个世纪后的今天，TESCAN对电镜极简化使用的情怀犹在。五十年代的Delong也很快发现，TEM领域缺少一个简单的装置，与简化的SEM相对应，在不影响设计原则，即结构简单、操作简单、价格低廉的情况下，将两种设备结合在一起的成为紧要的需求，Delong就是这样成为了STEM的先驱；TENSOR这类新生代扫描透射电镜完美地致敬了捷克电镜这一脉重要的分支。同时我们也不难看出，TENSOR这次的WORKHORSE定位决定了它不会带CEOS或是NION的球差矫正器了，同时上单色器的概率也应该很小；那么会有能量过滤器吗？ZEISS的OMEGA流派，还是GATAN的ENFINA路数？这个可能这次我们也想多了。“TESCAN TENSOR is the next example of innovation by TESCAN, following the company’s launch of the world’s first focused ion beam/scanning electron microscope (FIB/SEM) and Plasma FIB/SEM, time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) applications on FIB/SEM platforms, Dynamic-CT and Spectral-CT.”回顾TESCAN精准的研发定位，从第一台RISE，到第一台电镜一体化TOF-SIMS，再到第一台pFIB，还有最近的两款显微CT产品，我们不得不再一次佩服TESCAN的BD团队的“行业嗅觉”。随着赛默飞在“冷冻电镜”上赚得“钵满盆满”，已是高端“结构生物学”餐桌上的“必点”菜目；在半导体离线破坏式检测领域，又凭借在pFIB上的“后来居上”，搭档“老骥伏枥”的Metrios，稳居榜首；TENSOR的出现，撕下了赛默飞“沾沾自喜”的遮羞布，似乎让业界清晰地看到了赛默飞的短板-材料分析TEM；TENSOR的出现，又让业界“久旱逢甘雨”。“For materials scientists and semiconductor R&D and FA engineers, the TENSOR 4D-STEM provides multimodal, high contrast, high-resolution 2D & 3D characterisation of functional (engineered) materials at the nanoscale.” 不出所料，材料科学显然是TENSOR的重点照顾对象。“几家欢乐几家愁”，进口电镜五大家中，赛默飞可以暂时“熟视无睹”，“倚老卖老”，假装“不愁”；两家日系的也是家底深厚，“树大根深”，也不像欧美上市公司有业绩压力，可以“不愁”；最后一家ZEISS却是完全“眼不见心不愁”，因为在这家的产品线上，早已“赫然”没有了透射电镜-这个电镜企业的“看家法宝”，电子光学“技术下放”的源头；这家德企有着颇为“瞩目”的TEM根基，加上一路并购“DSM”，“Cambridge Instrument”，“LEO”，最后都改姓“ZEISS”小兰标，不能不说是“根骨清奇”；“Orange Column”的用户仍然对其津津乐道；然而，对Omega能量过滤器的执着，既成就了它对TEM的最高水平的呈现，也直接成了其在2008年全球经济危机中的黯然隐退的导火索；“欲练神功，必先自宫”的极左思维模式，ZEISS不仅将标配了场发射源和能量过滤器的200kV顶配透射电镜“下架”，而且“一不做二不休”，将120kV Libra，以及刚收购一年有余的乌克兰Selmi公司的100kV TEM，整条产线同时“自戕”；拿着如此级别的“家当”，却是如此“败家”，“弃珍宝之如敝履”，可谓令人“瞠目结舌”；西欧的“百年老店”自废武功，东欧的“世家子弟”TESCAN却一心一意，凭着捷克硕果仅存的三支之一的电镜纯正“火种”，从钨灯丝扫描电镜起步，“见龙在田”，一步留下一个脚印，终于祭出了全新一代的TEM，且直接冠名发布为STEM，“亢龙有悔”，完成了Tesla电镜的华丽“回归”，相信下一个发布会是“飞龙在天”，“励志”所有电镜研制团队。电镜是一种集成了光、机、真空、电、软、算、系、数项基础和先进学科及技术的综合学科科学，及显微成像和分析类仪器设备，电镜的精度及可靠性来自于对上述学科基础知识的牢固掌握，及对产品化的深刻理解和实行；近五年来，国产电镜百家争鸣，其中不乏拥有多项自主专利的实干厂家；笔者综合评价，国产替代的突破点主要集中在“光”，即电子光学，而在其余多项分支多为直接采购，或堆砌模仿，或生硬整合；国产替代虽然已经在电镜的核心技术-电子光学上突破重围，但其多项配套技术发展的不平衡性，在加上来自于各种材料、各项技术和各类人才的缺口，导致电镜这只需要多块木板才能拼就成功的“木桶”，数块木板长短参差不齐；所有公差的集合，直接导致了国产电镜来自于系统整合集成，积累沉淀在工程产品化的差距；这项差距相比起进口欧美日厂商，尤其巨大。所以，电镜的“重灾区”已经不再是“电子枪和镜筒”，而更多地集中在了精密机械、高真空及超高真空、高速高稳定性电路设计制造，及各个模组子系统之间的有效有机整合。笔者认为，比起进口主流，国产电镜的性能差距具体表现为两方面：一是仪器关键精度的出厂重复性很差，难以控制和把握；电子光学仿真软件完成光路设计之后，电子枪和电子光学镜筒即进入选料及加工阶段，精密加工主要集中在电子透镜特别是物镜的极靴的生产上，然后再进入部件组装、机械调试及电子调试等各阶段；而在这些阶段累计的问题，最终表现为实测电子束分辨率和设计精度之间的差距，单台模组在不同时间段指标性能表现不一致的差距，还有多台电子光学关键模组及整机实测指标之间的差距，等等；二是电镜研制多学科发展，交叉但又不融合；表现为光、机、电子系统联合运行匹配问题频出，并与真空，软件、算法等子系统互为交叉影响，仪器整体使用感受不顺畅，小毛病多，不明问题多，导致机器磨合及解决问题时间比正常运行时间多等等，不能符合科研及产业对普适类工具稳定性表现的要求。相对于半导体产业的电子束量测设备，如CD-SEM，普适型扫描电镜使用了对长期使用、高密度使用整体稳定性要求相对较低的可用标准原材料；就像Delong选择了小型透射电镜的细分赛道那样，如果要达到极限性能，复杂的TEM是关乎材料、技术和生产的非常复杂的装置；如果我们接受比极限分辨率低的指标，要求也会相应减少很多；Delong台式透射电镜的材料成本和生产时间较低，因此卖价也不高；仍以Delong为例，20世纪50年代初，台式透射电镜的构建就证实这条路线是非常成功的；因为，一种结构简单、操作方便、价格低廉的设备满足了许多实验室的基本需求，也并没有让大多数追求极限分辨率显微镜的用户对高端电镜产品失去兴趣。关于国产电镜，还有一个更有趣的方面，使得国产电镜难以在正常赛道上与进口抗衡：就是进口电镜简单廉价的生产成本和低价格。很明显，这是由于欧美日电镜厂商早已消化完毕前期研发的高额投入和成本，而电子光学模组的创新和迭代也相对缓慢，再加上西方完整齐备的电镜产业供应链支撑，种种优势，使得国产电镜步履维艰，任重而道远；相信国家，还有投资界已经听到了国产仪器人的呼声，这也是为什么近五年来国产高端仪器能够蓬勃发展的原因。话说至此，笔者还是相当“清醒”的，我们当前“念念有词”的国产电镜，只限于电子显微镜的“弟弟”-扫描电镜，成像类工具的“大哥”级别的存在，仍然是透射电镜；我们现在之所以能够自我研制扫描电镜了，是相关材料，技术火种和它们的载体-行业人才“因势利导”、“水涨船高”、“水到渠成”的结果；所以，国产透射电镜，包括FIB双束电镜的亮相，会更多的是随着时间的推移能够“浮出水面”的。书归正传，就这次TENSOR的高调发布，完全可以肯定的是：从一路扫描至发布透射的扩张，这次TESCAN的功力提升不是一点点，这是一个质变和飞跃；从做好扫描到向上做好透射，是要看TESCAN在年轻的TESLA时候有没有练过“童子功”的；TESCAN的市场、产品、应用、乃至销售和售后团队都会水涨船高，从“散仙”飞升“晋神”；ZEISS的“自宫”只要“挥刀”就行，TESCAN的“飞升”需要经年累月，甚至“三生三世”的修炼；所以，从整体建制需要基建“配套”的角度看，这次TENSOR的推出也不会是“拔苗助长”式的，TESCAN迈过了“小升初”，“中高考”，现在正在“本硕连读”之阶段，一路走来“精彩”归“精彩”，现在正是“吃劲”的关头；祝TESCAN能够凭借TENSOR，完成“复兴”的起步；更希望TESCAN可以凭借TENSOR，自创新的“赛道”，不仅能够稳居“四绝”之一，更能引领；就像他们的愿景说的那样：“An analytical 4D-STEM that is as easy to use as TESCAN SEMs, with all the efficiency and economic benefits of a results driven Electron Microscope.” 透射电镜能像扫描电镜一样易用，高效，经济，以能出高质量结果为最终导向。愿TESCAN这次“出击”能够站稳脚跟，期待看到他们下一次的惊艳。（完）

经历2020年疫情笼罩，2021年全球电镜市场规模回暖，规模再次以个位数速率增长，作为最大需求单一市场国家，中国则实现20%以上增长。电镜新品发布也迎来活跃一年，发布新品不仅低、中、高端产品基本覆盖，大部分主流品牌皆有输出，国产方面也多点开花。以下对2021年在电镜新品进行盘点，数据主要统计自本网报道或公开信息，如有遗漏、错误欢迎在留言区补充或邮件（yanglz@instrument.com.cn ）。2021年电镜发布新品速览（按发布时间顺序）类型品牌产品名称型号描述SEM蔡司新一代Gemini场发射扫描电镜系列GeminiSEM 360GeminiSEM 460GeminiSEM 560高分辨，不挑样日本电子肖特基场发射电镜JSM-IT800(i)/(is)适用观测半导体器件聚束科技高通量(场发射）扫描电镜Navigator-100B PLUS国产高通量场发射升级款祺跃科技原位高温扫描电镜-国产原位高温日本电子新型扫描电子显微镜JSM-IT510钨灯丝电镜升级飞纳台式场发射扫描电镜Phenom Pharos G2分辨率提至1.8nm日立两款场发射扫描电子显微镜SU8600SU8700聚焦自动获取大量数据功能国仪量子场发射扫描电镜SEM5000国产场发射扫描电镜TEM日本电子新一代冷冻电镜CRYO ARMTM 300II （JEM-3300）速度、操作、通量全面升级赛默飞球差校正透射电镜Spectra Ultra适合电子束敏感材料的球差电镜赛默飞扫描透射电镜Talos F200E为半导体行业设计纳镜鼎新高通量生物扫透电镜智眸365(Smart View 365)国产高通量生物扫描透射电镜聚焦离子束显微镜赛默飞聚焦离子束扫描电子显微镜 (FIB-SEM)Helios 5 PXL Wafer DualBeam聚焦半导体领域其他日本电子超微电子衍射平台Synergy-ED电镜-x射线衍射平台赛默飞定制球差校正电镜Spectra φ定制球差电镜扫描电镜：11款齐发，9款场发射！扫描电镜方面，场发射产品成为新品主流，蔡司和日立分别发布3款、2款场发射电镜，日本电子发布场发射和钨灯丝升级产品，飞纳台式场发射电镜分辨率提升至1.8nm。国产方面，国仪量子也加入场发射产品行列，聚束科技发布高通量场发射升级产品，祺跃科技则基于其原位力学技术，发布原位高温扫描电镜。蔡司|新一代Gemini场发射扫描电镜系列【3款】Gemini系列新品，左至右：GeminiSEM 360，GeminiSEM 460，GeminiSEM 560【发布会专题】 发布时间：3月24日参考价格：300-600万元蔡司此次发布的GeminiSEM 360，GeminiSEM 460，GeminiSEM 560是Gemini电子光学系统针对不同的应用场景衍生出的三款新型号。GeminiSEM 360搭载1型Gemini镜筒，是一款高通用性成像工具。其物镜为静电透镜+磁透镜复合透镜，在提高其电子光学性能的同时将它们对样品的影响降至更低。即使对极具挑战的样品也能进行高品质成像。Beam booster技术具有镜筒内的电子加减速功能，可确保获得小束斑和高信噪比；Gemini镜筒内带有平行设计的镜筒内二次电子和背散射电子探测器，可实现信号的高效采集，同步获取形貌衬度和成分衬度像。GeminiSEM 460搭载2型Gemini镜筒，专为应对复杂的分析工作而设计。它除了复合透镜和镜筒内加减速设计以外，利用双聚光镜设计实现更加灵活的束流调节。用户可以在小束流的高分辨成像模式与大束流的分析模式之间进行无缝切换，对称设计的EDS接口可让您获得无阴影的成分分布图，而物镜无漏磁设计可以让您获得无畸变的大面积EBSD花样。您还可以通过加装各种原位实验附件将Gemini 460升级为一个自动化原位实验平台。GeminiSEM 560搭载3型Gemini镜筒，带给用户极致的高分辨成像体验。该款镜筒拥有两个可协同工作的电子光学系统：Nano-twin透镜和新型电子光学引擎Smart Autopilot，可通过聚光镜优化所有工作条件下的电子束会聚角，进一步提升分辨力；还可实现1倍到200万倍的无缝过渡，大视野导航和亚纳米成像一镜到底。日本电子|场发射电镜JSM-IT800半透镜版本(i)/(is)新型肖特基场发射扫描电子显微镜JSM-IT800【产品链接 】 发布时间：8月31日参考价格：200-400万元JSM-IT800 集成了用于高分辨率成像的透镜内肖特基 Plus 场发射电子枪、创新的电子光学控制系统“Neo Engine”， 以及追求易用性的GUI“ SEM中心”可以完全整合JEOL 的x射线能谱仪。JSM-IT800 有五种不同物镜版本：混合镜头版本 (HL)，这是一种通用 FE-SEM；超级混合镜头版本（SHLs/SHL，功能不同的两个版本），可实现更高分辨率的观察和分析；以及新开发的半透镜版本（i/is，两个不同功能的版本），适用于半导体器件的观察。半透镜通过在物镜下方形成的强磁场透镜会聚电子束来实现超高分辨率。此外，该系统有效地收集从样品发射的低能量二次电子，并使用上部透镜内检测器 (UID) 检测电子。因此，它可以对倾斜样品和横截面样品进行高分辨率观察和分析，这正是半导体器件故障分析所需的。此外，它对于电压对比度观察也非常有用。聚束科技|高通量(场发射）扫描电子显微镜 Navigator-100B PLUS高通量(场发射）扫描电子显微镜 Navigator-100B PLUS【 产品链接 】 发布时间：8月参考价格：500-700万元成像速度在同等条件下是同类机型的10倍以上，可在72小时内以4nm 像素完成对10x10 mm2 区域的无遗漏采集。 新机型在硬件部分模组提升较大，配备新型电子枪，电子束落点能量范围可达30keV，涵盖绝大多数扫描电镜落点能量需求范围。分辨率可达1.0nm (15keV下), 且在1-3kV低加速电压下即可获得1.5nm高分辨率的同时，仍能保持1‰以下的低图像畸变。具备高度智能化，包括简单快捷全景光学导航、一键全自动换样、全景光学导航、实时聚焦追踪，可以实现全自动超大区域（100mm×100mm）全息地图集式拍摄，并绘制成全景地图式信息浏览。祺跃科技|原位高温扫描电镜祺跃科技原位高温扫描电镜新品【发布详情】 发布时间：10月14日新开发的扫描电镜设计理念包括样品室空间从紧凑到合理，样品台承载能力较大、成像探测器承温能力提升、保证高真空足够的抽气能力等，达到追求时序信息的目标。本次新品实现整机国产化的核心部件包括高温二次电子探测器、三维移动平台与大载荷拉伸平台、1400度原位加热器、超大结构样品腔室和超高真空系统等。保障电镜极端环境长时间稳定运行的相关模块包括冷阱、等离子清洗、极靴屏蔽、红外测温等。同时兼容EDX和EBSD等，还预留设置了多种通讯接口，为今后拓展更多原位技术留有余地。 日本电子|钨灯丝扫描电镜升级产品JSM-IT510钨灯丝扫描电子显微镜JSM-IT510【产品链接】 发布时间：11月8日参考价格：130-200万元为了满足基础研究、工业现场对更快获取结果数据等， JSM-IT510系列进一步提升了InTouchScope™ 的可操作性。借助新增的Simple SEM功能，现在可以将日常工作 “交给”仪器。主要特点包括：新型“Simple SEM”功能、最新型低真空二次电子探头 (LHSED)、 扫描电镜图像和能谱的一体化、实时立体三维图像、实时分析功能、新的导航放大功能、0 倍放大、显示X射线产生区域、SMILE VIEW™ Lab管理软件等。飞纳|第二代肖特基场发射台式扫描电镜Phenom Pharos G2飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Pharos G2【 产品链接 】 发布时间：11月24日参考价格：200-300万元Phenom Pharos G2, 集背散射电子成像、二次电子成像和能谱分析功能于一体。高亮度肖特基场发射电子源，使用户可以轻松获得高分辨率图像，且低电压性能优异。Pharos G2分辨率提升至1.8nm，采用热场发射电子源，信噪比高，使用寿命长，保证长期稳定的性能。飞纳台式场发射扫描电镜能谱一体机标配背散射电子成像、二次电子电子成像和能谱分析功能，可对各种样品进行高分辨成像及元素分析。日立|全新场发射扫描电镜SU8600和SU8700全新冷场发射扫描电镜SU8600（左）和热场发射扫描电镜SU8700（右）【发布会专题】 发布时间：12月9日全新一代冷场发射扫描电镜SU8600不光保留了日立传统冷场电镜的优点，还采用了新型冷场电子枪，可选择更多种类的探测器，而且具有全新的自动数据获取功能，这些技术的加入使得SU8600的成像、分析能力以及自动化性能都有了质的飞跃。具体特点包括：强大自动化功能、成熟的电子光学系统、强大的图像显示和存储、简便的操作等。全新一代热场发射扫描电镜SU8700是一款集高分辨观察、高效率分析、自动化操作等特点于一身的扫描电镜。全新的自动数据获取功能，电子光学系统，多探头检测系统等技术的加入使得SU8700的成像和分析能力有了质的飞跃。具体特点包括：强大的自动化功能、全新的电子光学系统、高效的分析能力、丰富的样品适用性、简便的操作等。国仪量子|场发射扫描电子显微镜SEM5000场发射扫描电镜SEM5000【 发布信息 】 参考价格：200-300万元新品场发射扫描电子显微镜SEM5000，是一款高分辨的多功能扫描电镜，分辨率优于1 nm，放大倍数超过一百万倍。SEM5000的新型镜筒，优化了电子光路设计，采用高压隧道技术，在高电压和低电压下均能实现高质量成像；系统配置了无漏磁物镜，实现了无漏磁高分辨成像，适用于磁性样品分析；可选配多种探测器及其它分析仪器，能够满足用户的各种需求。将广泛应用于锂电池材料、新型纳米材料、半导体材料、矿物冶金、地质勘探、生物等领域。透射电镜：冷冻电镜、球差电镜，国产扫描透射透射电镜方面，面向高端市场的扫描透射电镜成为新品主流。日本电子新一代冷冻电镜JEM-3300年初上市。赛默飞球差电镜新品Spectra Ultra、扫描透射电镜新品Talos F200E更加关注半导体领域。国产方面，基于生物到实验室和生物物理所合作，针对病理组织样本高通量成像需求的专用扫描透射电子显微镜SmartView发布。日本电子|新型冷冻电镜JEM-3300新型冷场发射低温电子显微镜(cryo-EM)——CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300)【 产品链接 】 发布时间：1月22日参考价格：3000-5000万元JEM-3300新型冷冻电镜基于“快速、易于操作、获得高对比度和高分辨率图像”的理念而开发。与之前的CRYO ARM™ 300相比，JEM-3300可进行高质量数据的快速采集、操作简便，并在通量方面有大幅提升。主要特点：通过最佳电子束控制实现高速成像，独特的“Koehler mode”照射模式允许均匀电子束照射到样品的特定位置，JEM-3300吞吐量相比上一代提升两倍或更高；提高了高质量图像采集的硬件稳定性，配备了一种新型冷场发射枪(cold FEG)、新的柱内 Omega 能量过滤器；系统升级后可操作性更高等。赛默飞| 球差校正透射电镜Spectra Ultra 新一代扫描透射电镜Spectra Ultra S/TEM【产品详情】 发布时间：3月3日参考价格：2500-5000万元全新Spectra Ultra在数分钟内即可灵活优化高级成像和分析条件。出于加快材料研究进程以及高通量需求，用户现在可以以非常快的速度稳定地调节加速电压。这极大扩展了研究的样品范围，最大程度地减少了电子束损伤，并显著降低了工具的优化耗时。“配置了Ultra-X的Spectra Ultra改变了材料科学研究人员和半导体从业者的游戏规则。它可以通过迅速施加不同的加速电压来显著减少电子束损伤，并且用户将能够检测极低浓度的轻元素。”赛默飞世尔材料科学副总裁Rosy Lee表示，“此外，与其他商业化解决方案相比，用户可以以更高的分辨率快速成像快速分析，以研究新材料和改进现有材料。”赛默飞| Talos F200E扫描透射电镜Talos F200E扫描透射电镜发布时间：3月17日参考价格：600-1500万元Talos F200E (S)TEM提供原子级分辨率成像、快速EDS)分析和增强的数据可靠性，专为满足半导体行业日益增长的需求而设计。且具有成本效益，易用性高，帮助半导体实验室实现快速的样品表征，加快可以量产的速度，提高制程良率。“随着创新的步伐不断加快，半导体企业要求其分析实验室加快周转时间，并在各种设备和工艺技术上提供更可靠和可复现的(S)TEM数据，以支持他们的业务，”赛默飞半导体事业部副总裁Glyn Davies表示，“Talos F200E通过提供高质量的图像数据、快速的化学分析和行业领先的缺陷表征等特质，可以为客户提供高性价比、易用的解决方案。”纳镜鼎新|高通量生物扫描透射电子显微镜SmartView高通量生物扫透电子显微镜智眸365(Smart View 365)【产品详情】 发布时间：7月28日智眸365(Smart View 365)以其高通量、全自动、超高清图像的优越特性在降低人员工作强度的同时为专家分析和诊断病理提供更多的信息，有效提高诊断的效率与正确率。满足专业用户对超微病理诊断的需求。主要特点包括：高通量高效率，插入病理切片样品仓，选定工作模式，一次性自动连续完成多至500个样品成像等；高分辨，分辨率高达0.9nm STEM图像；高稳定运行，长寿命、超稳定的场发射电子源；使用简单等。聚焦离子束显微镜赛默飞|Helios 5 EXL晶圆聚焦离子束扫描电子显微镜Helios 5 EXL晶圆聚焦离子束扫描电子显微镜【产品详情】 发布时间：4月21日参考价格：700-1500万元Helios 5 EXL旨在满足半导体厂商随着规模化经营而不断增加的样品量以及相应的分析需求。这款产品拥有的机器学习和先进的自动化能力，可提供精确的样品制备，以支持5纳米以下节点技术和全环绕栅极半导体制程以及良率提高。赛默飞半导体事业部副总裁Glyn Davies 表示：“半导体实验室正面临着巨大的压力，在不增加成本的情况下，他们需要更快地提供TEM分析数据，以支持制程监控并提升学习曲线，Helios 5 EXL可以通过可扩展的、可复现的和高精度的TEM样品制备来应对这一挑战。”其他新品：扩展技术与定制产品日本电子|超微电子衍射平台Synergy-ED超微电子衍射平台Synergy-ED发布时间：5月31日日本电子与Rigaku公司联合开发出Synergy-ED，一个超微电子衍射平台（ED），通过将日本理学的结构分析技术和设备（如其高灵敏度检测器）与日本电子的透射电子显微镜相结合，将两者的核心技术结合起来，希望新品的技术能够应用于材料研究、化学和药物开发等领域，并为利用电子衍射进行单晶结构分析提供新的解决方案。在以前困难的亚微米范围内，结构分析成为可能。赛默飞|定制球差校正电镜Spectra φ定制的高分辨率扫描透射电子显微镜Spectra φ发布时间：5月20日定制的高分辨率扫描透射电镜Spectra φ，用以支持莫纳什大学在先进材料方面的研究。该仪器安装在澳大利亚莫纳什电子显微镜中心（MCEM）。Spectra φ提供增强的电子束灵活性，以优化复杂材料系统的高速多维成像。Spectra φ 的设计和制造符合由MCEM 和澳大利亚科学院院士Joanne Etheridge教授领导的团队的规格。通过将 Spectra φ 纳入其仪器阵容，莫纳什大学将继续推动对重要能源相关的开创性研究，包括高效光伏设备、电池、材料轻量化、低功耗电子产品和清洁发电等。

详细信息 中山大学分析测试中心冷冻电镜系统及生物制样设备采购项目公开招标公告 广东省-广州市 状态：公告 更新时间： 2023-10-15 招标文件: 附件1 附件2 中山大学分析测试中心冷冻电镜系统及生物制样设备采购项目公开招标公告 2023年10月13日 17:36 公告概要： 公告信息： 采购项目名称 中山大学分析测试中心冷冻电镜系统及生物制样设备采购项目 品目 货物/设备/仪器仪表/试验仪器及装置/生物、医学样品制备设备,货物/设备/仪器仪表/光学仪器/显微镜 采购单位 中山大学 行政区域 广州市 公告时间 2023年10月13日 17:36 获取招标文件时间 2023年10月14日至2023年10月20日每日上午:9:00 至 12:00 下午:12:00 至 17:30（北京时间，法定节假日除外） 招标文件售价 ￥0 获取招标文件的地点 中山大学智能电子采购系统（https://www.zhizhengyun.com） 开标时间 2023年11月03日 09:30 开标地点 在线开标。 预算金额 ￥13580.000000万元（人民币） 联系人及联系方式： 项目联系人 梁群燕/成思/夏芷莹 项目联系电话 020-87651688-162/139 采购单位 中山大学 采购单位地址 广州市新港西路135号 采购单位联系方式 郑老师 020－84115088 代理机构名称 采联国际招标采购集团有限公司 代理机构地址 广州市环市东路472号粤海大厦7、23楼 代理机构联系方式 成思/夏芷莹 020-87651688-162/139 附件： 附件1 中大招（货）[2023]201号_中山大学分析测试中心冷冻电镜系统及生物制样设备采购项目（分项二）.pdf 附件2 中大招（货）[2023]201号_中山大学分析测试中心冷冻电镜系统及生物制样设备采购项目（分项一）.pdf 项目概况 中山大学分析测试中心冷冻电镜系统及生物制样设备采购项目 招标项目的潜在投标人应在中山大学智能电子采购系统（https://www.zhizhengyun.com）获取招标文件，并于2023年11月03日 09点30分（北京时间）前递交投标文件。 一、项目基本情况 项目编号：中大招（货）[2023]201号/CLF0123GZ09ZC12 项目名称：中山大学分析测试中心冷冻电镜系统及生物制样设备采购项目 预算金额：13580.000000 万元（人民币） 采购需求： 中山大学根据国家招投标法律法规和学校管理要求,拟以公开招标方式采购下列货物及其相关服务。1、招标采购项目内容及数量：分项一：生物制样设备，具体包含高压冷冻仪1台；自动投入冷冻仪1台；冷冻替代仪1台；冷冻超薄切片机1台，镀金镀碳仪1套；辉光放电仪2台；（本项目允许产自中华人民共和国关境外的进口货物投标；本项目不属于专门面向中小企业采购项目。本项目所属行业为工业。具体内容及要求详见公告附件招标文件）。分项二：冷冻电镜系统，具体包含冷冻双束系统1台；200 kV冷冻电镜系统1套；300kV冷冻电子断层成像系统1套；300kV高分辨冷冻电镜系统1套；120kV生物透射电镜系统1套（本项目允许产自中华人民共和国关境外的进口货物投标；本项目不属于专门面向中小企业采购项目。本项目所属行业为工业。具体内容及要求详见公告附件招标文件）。2、项目预算及经费 3.本项目的特定资格要求：（1）具备投标条件的中华人民共和国的法人或其它组织；（2）符合《中华人民共和国政府采购法》第二十二条相关规定；（3）投标人未被列入“信用中国”网站（www.creditchina.gov.cn）“失信被执行人”、“重大税收违法失信主体” 、“政府采购严重违法失信名单”；不处于中国政府采购网（www.ccgp.gov.cn）“政府采购严重违法失信行为信息记录”中的禁止参加政府采购活动期间；（以代理机构于评标当天在“信用中国”网站（www.creditchina.gov.cn）及中国政府采购网(www.ccgp.gov.cn)查询结果为准，同时对信用信息查询记录进行存档。如相关失信记录已失效或查询不到，则必须出具其信用良好的承诺书原件扫描件）；（4）本项目不允许联合体投标。不接受中标备选方案。 三、获取招标文件 时间：2023年10月14日 至 2023年10月20日，每天上午9:00至12:00，下午12:00至17:30。（北京时间，法定节假日除外） 地点：中山大学智能电子采购系统（https://www.zhizhengyun.com） 方式：详见“其他补充事宜”。 售价：￥0.0 元，本公告包含的招标文件售价总和 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 提交投标文件截止时间：2023年11月03日 09点30分（北京时间） 开标时间：2023年11月03日 09点30分（北京时间） 地点：在线开标。 五、公告期限 自本公告发布之日起5个工作日。 六、其他补充事宜 1、招标文件获取方式：本项目以电子招投标形式进行，投标人可于中山大学智能电子采购系统（https://www.zhizhengyun.com）、中国政府采购网（http://www.ccgp.gov.cn）及代理机构网站（http://www.chinapsp.cn/）浏览招标公告，确认参与项目的合格投标人应登录中山大学智能电子采购系统，缴纳系统技术服务费400元/包组，在网上获取采购文件及其它招标资料。2、报名方式及时间：2023年10月14日 09:00:00至2023年10月20日 17:30:00；登录中山大学智能电子采购系统，在网上报名获取招标文件及资料，否则不能参与本项目的投标。本项目不需要现场报名确认，若报名期限届满后，获取招标文件的潜在投标人不足三家的，采购人将可能顺延报名期限并予公告。请各投标人留意网上公告，采购人不再另行通知。3、电子投标文件的递交：投标人须凭企业数字证书（GDCA）在提交投标文件截止时间前完成电子投标文件的上传，递交网址：https://www.zhizhengyun.com。无中山大学智能电子采购系统企业数字证书（CA）的投标人需按该平台电子认证的要求，提前办理企业数字证书（GDCA）。如果投标文件于递交投标文件截止时间未能上传完毕，该投标文件将视为无效投标文件。投标截止时间前未完成投标文件传输的，视为撤回投标文件。在递交投标文件截止时间前，投标人可以替换投标文件。4、提交投标文件截止时间、开标时间和地点（1）提交投标文件截止时间和开标时间：2023年11月03日 09:30:00 （北京时间）。（2）投标文件解密时间：2023年11月03日 09:30:00 至 2023年11月03日 10:00:00（如因系统原因无法正常解密，采购人可延长解密时间）。（3）解密完成后及时公布开标结果，投标人可登录中山大学智能电子采购系统查看开标情况。（4）开标地点：在线开标。5、招标公告期限为自发布公告之日起5个工作日， 2023年10月14日 09:00:00 至 2023年10月20日 17:30:00 止。6、本项目的发布、修改、澄清和补充通知将在中山大学智能电子采购系统（https://www.zhizhengyun.com）、中国政府采购网（http://www.ccgp.gov.cn）及代理机构网站（http://www.chinapsp.cn/）发布，敬请各投标人留意，采购人不再另行通知。 七、对本次招标提出询问，请按以下方式联系。 1.采购人信息 名 称：中山大学 地址：广州市新港西路135号 联系方式：郑老师 020－84115088 2.采购代理机构信息 名 称：采联国际招标采购集团有限公司 地 址：广州市环市东路472号粤海大厦7、23楼 联系方式：成思/夏芷莹 020-87651688-162/139 3.项目联系方式 项目联系人：梁群燕/成思/夏芷莹 电 话： 020-87651688-162/139 × 扫码打开掌上仪信通App 查看联系方式 基本信息 关键内容：切片机,透射电镜,辉光放电光谱,电镜制样 开标时间：2023-11-03 09:30 预算金额：1.36亿元 采购单位：中山大学 采购联系人：点击查看 采购联系方式：点击查看 招标代理机构：采联国际招标采购集团有限公司 代理联系人：点击查看 代理联系方式：点击查看 详细信息 中山大学分析测试中心冷冻电镜系统及生物制样设备采购项目公开招标公告 广东省-广州市 状态：公告 更新时间： 2023-10-15 招标文件: 附件1 附件2 中山大学分析测试中心冷冻电镜系统及生物制样设备采购项目公开招标公告 2023年10月13日 17:36 公告概要： 公告信息： 采购项目名称 中山大学分析测试中心冷冻电镜系统及生物制样设备采购项目 品目 货物/设备/仪器仪表/试验仪器及装置/生物、医学样品制备设备,货物/设备/仪器仪表/光学仪器/显微镜 采购单位 中山大学 行政区域 广州市 公告时间 2023年10月13日 17:36 获取招标文件时间 2023年10月14日至2023年10月20日每日上午:9:00 至 12:00 下午:12:00 至 17:30（北京时间，法定节假日除外） 招标文件售价 ￥0 获取招标文件的地点 中山大学智能电子采购系统（https://www.zhizhengyun.com） 开标时间 2023年11月03日 09:30 开标地点 在线开标。 预算金额 ￥13580.000000万元（人民币） 联系人及联系方式： 项目联系人 梁群燕/成思/夏芷莹 项目联系电话 020-87651688-162/139 采购单位 中山大学 采购单位地址 广州市新港西路135号 采购单位联系方式 郑老师 020－84115088 代理机构名称 采联国际招标采购集团有限公司 代理机构地址 广州市环市东路472号粤海大厦7、23楼 代理机构联系方式 成思/夏芷莹 020-87651688-162/139 附件： 附件1 中大招（货）[2023]201号_中山大学分析测试中心冷冻电镜系统及生物制样设备采购项目（分项二）.pdf 附件2 中大招（货）[2023]201号_中山大学分析测试中心冷冻电镜系统及生物制样设备采购项目（分项一）.pdf 项目概况 中山大学分析测试中心冷冻电镜系统及生物制样设备采购项目 招标项目的潜在投标人应在中山大学智能电子采购系统（https://www.zhizhengyun.com）获取招标文件，并于2023年11月03日 09点30分（北京时间）前递交投标文件。 一、项目基本情况 项目编号：中大招（货）[2023]201号/CLF0123GZ09ZC12 项目名称：中山大学分析测试中心冷冻电镜系统及生物制样设备采购项目 预算金额：13580.000000 万元（人民币） 采购需求： 中山大学根据国家招投标法律法规和学校管理要求,拟以公开招标方式采购下列货物及其相关服务。1、招标采购项目内容及数量：分项一：生物制样设备，具体包含高压冷冻仪1台；自动投入冷冻仪1台；冷冻替代仪1台；冷冻超薄切片机1台，镀金镀碳仪1套；辉光放电仪2台；（本项目允许产自中华人民共和国关境外的进口货物投标；本项目不属于专门面向中小企业采购项目。本项目所属行业为工业。具体内容及要求详见公告附件招标文件）。分项二：冷冻电镜系统，具体包含冷冻双束系统1台；200 kV冷冻电镜系统1套；300kV冷冻电子断层成像系统1套；300kV高分辨冷冻电镜系统1套；120kV生物透射电镜系统1套（本项目允许产自中华人民共和国关境外的进口货物投标；本项目不属于专门面向中小企业采购项目。本项目所属行业为工业。具体内容及要求详见公告附件招标文件）。2、项目预算及经费 3.本项目的特定资格要求：（1）具备投标条件的中华人民共和国的法人或其它组织；（2）符合《中华人民共和国政府采购法》第二十二条相关规定；（3）投标人未被列入“信用中国”网站（www.creditchina.gov.cn）“失信被执行人”、“重大税收违法失信主体” 、“政府采购严重违法失信名单”；不处于中国政府采购网（www.ccgp.gov.cn）“政府采购严重违法失信行为信息记录”中的禁止参加政府采购活动期间；（以代理机构于评标当天在“信用中国”网站（www.creditchina.gov.cn）及中国政府采购网(www.ccgp.gov.cn)查询结果为准，同时对信用信息查询记录进行存档。如相关失信记录已失效或查询不到，则必须出具其信用良好的承诺书原件扫描件）；（4）本项目不允许联合体投标。不接受中标备选方案。 三、获取招标文件 时间：2023年10月14日 至 2023年10月20日，每天上午9:00至12:00，下午12:00至17:30。（北京时间，法定节假日除外） 地点：中山大学智能电子采购系统（https://www.zhizhengyun.com） 方式：详见“其他补充事宜”。 售价：￥0.0 元，本公告包含的招标文件售价总和 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 提交投标文件截止时间：2023年11月03日 09点30分（北京时间） 开标时间：2023年11月03日 09点30分（北京时间） 地点：在线开标。 五、公告期限 自本公告发布之日起5个工作日。 六、其他补充事宜 1、招标文件获取方式：本项目以电子招投标形式进行，投标人可于中山大学智能电子采购系统（https://www.zhizhengyun.com）、中国政府采购网（http://www.ccgp.gov.cn）及代理机构网站（http://www.chinapsp.cn/）浏览招标公告，确认参与项目的合格投标人应登录中山大学智能电子采购系统，缴纳系统技术服务费400元/包组，在网上获取采购文件及其它招标资料。2、报名方式及时间：2023年10月14日 09:00:00至2023年10月20日 17:30:00；登录中山大学智能电子采购系统，在网上报名获取招标文件及资料，否则不能参与本项目的投标。本项目不需要现场报名确认，若报名期限届满后，获取招标文件的潜在投标人不足三家的，采购人将可能顺延报名期限并予公告。请各投标人留意网上公告，采购人不再另行通知。3、电子投标文件的递交：投标人须凭企业数字证书（GDCA）在提交投标文件截止时间前完成电子投标文件的上传，递交网址：https://www.zhizhengyun.com。无中山大学智能电子采购系统企业数字证书（CA）的投标人需按该平台电子认证的要求，提前办理企业数字证书（GDCA）。如果投标文件于递交投标文件截止时间未能上传完毕，该投标文件将视为无效投标文件。投标截止时间前未完成投标文件传输的，视为撤回投标文件。在递交投标文件截止时间前，投标人可以替换投标文件。4、提交投标文件截止时间、开标时间和地点（1）提交投标文件截止时间和开标时间：2023年11月03日 09:30:00 （北京时间）。（2）投标文件解密时间：2023年11月03日 09:30:00 至 2023年11月03日 10:00:00（如因系统原因无法正常解密，采购人可延长解密时间）。（3）解密完成后及时公布开标结果，投标人可登录中山大学智能电子采购系统查看开标情况。（4）开标地点：在线开标。5、招标公告期限为自发布公告之日起5个工作日， 2023年10月14日 09:00:00 至 2023年10月20日 17:30:00 止。6、本项目的发布、修改、澄清和补充通知将在中山大学智能电子采购系统（https://www.zhizhengyun.com）、中国政府采购网（http://www.ccgp.gov.cn）及代理机构网站（http://www.chinapsp.cn/）发布，敬请各投标人留意，采购人不再另行通知。 七、对本次招标提出询问，请按以下方式联系。 1.采购人信息 名 称：中山大学 地址：广州市新港西路135号 联系方式：郑老师 020－84115088 2.采购代理机构信息 名 称：采联国际招标采购集团有限公司 地 址：广州市环市东路472号粤海大厦7、23楼 联系方式：成思/夏芷莹 020-87651688-162/139 3.项目联系方式 项目联系人：梁群燕/成思/夏芷莹 电 话： 020-87651688-162/139

pstrong　　是什么卡了我们的脖子——/strong/ppstrong　　我们的蛋白质3D高清照片仰赖舶来的透射式电镜/strong/ppstrong　　亟待攻克的核心技术/strong/pp　　5月29日，清华大学生命科学院博士生张森森的蛋白样品9时准时在液氮环境下进入冷冻电镜。几天后，埃(10-10)级精度的蛋白质“高清3D彩照”将出炉。研究人员可以“直视”单个蛋白质的分子结构，并解出生命运转机理。/pp　　这期间，冷冻电镜中的电子枪将持续发射电子，每次看一个小单元。为了解释这个“小单元”，张森森为科技日报记者示意了一个“镊子尖”大小的小金片，“金片上约有200个左右的均匀小孔，每个小孔中再分150个小孔，电子束一次只‘看’其中一个小孔。”金片类似蛋白质的“载玻片”，与光学显微镜不同的是，载玻片透光，小金片要透电子，容许电子束透过样品时受到散射。散射信号被捕捉记录下来，计算后可呈现分子结构。/pp　　透射式电镜的生产能力是冷冻电镜制造能力的基础之一。“国内没有一家企业生产透射式电镜。”赛默飞公司技术支持陈宝庆说得不假思索，他毕业于北京大学地球物理专业，对行业非常了解，他介绍，“之前还有几个企业制造，比如原江南光学仪器厂现在就不造了。”/pp　　strong能做到单电子束控制的灯丝，只有进口/strong/pp　　“理论上说，只要施加足够强的电场，电子就会从材料中‘游’出来。”陈宝庆说。但“游”的状态与可以使用的电子状态相距甚远。/pp　　什么样的电子才能为蛋白质拍摄高清3D彩照呢?东南大学材料科学与工程学院万克树教授描述了理想的状态：速度完全一样的电子，从“源头”的一个点上、非常多地发射出来。/pp　　“这些要求是相互矛盾的。”万克树解释，电子从材料表面溢出，要发射电子多，面积就要大，但是面积大了就难以满足一致性要求。/pp　　如果把电子枪想象成一把枪，它必须以“狙击”的精度完成机枪的扫射，“子弹”的角度、速度完全一致。/pp　　“电子的能量要做到高度一致，虽还达不到激光的程度，但也必须是很窄的分布。”陈宝庆解释，电子“子弹”一致性是提高图像分辨率的前提。/pp　　为此，电子枪的核心构造其实是一根极细的“陀螺针”，形似陀螺，尖端却比针还细。电子从尖端出发，在真空的环境下，前去与大分子“相撞”，进而反映出分子构象。/pp　　“之前的技术路线是通过加热让电子枪发射电子，发射源(俗称“灯丝”)用钨丝或六硼化镧，需要2500℃左右，高温促使电子发射，但也使电子异常活跃、难以控制，因此热发射电子枪的电镜精度低。”万克树说。/pp　　“场发射是通过高压电场，把电子从‘灯丝’里拉出来，室温下可完成。”万克树说，“所用灯丝国内没有生产，全部依赖进口，每根上万美元左右。”/pp　　他提到的常温场发射枪(肖特基电子枪)是将氧化锆沉积在单晶钨的晶体的特定面上。FEI公司后来在电子枪生产上又有了新的突破，将热和场结合起来，稳定性进一步提升。在清华大学冷冻电镜实验室的仪器介绍中可以看到，一台2013年购买、2015年到货的最新型号电镜在电子枪一栏标明“X-FEG”，有中文翻译为超稳定高亮度电子枪。“所用灯丝在材质上与之前的一致，工艺不同能够使亮度更强。”陈宝庆介绍。/ppstrong　　上了邮票的科研成就，被中断/strong/pp　　场发射的另一个关键部分是牵拉出电子的外加电场，电场电压高达300千伏。“在这样的高压下保持电压稳定，才能‘拉’出稳定一致的电子，专业上称为‘单色性好’。”万克树说。/pp　　据题为《中国透射式电子显微镜发展的历程》的文章记载，1963年，我国就开始了高压100kV电子枪稳定因素探讨的实验，1965年完成样机，中国自主研制透射式电镜于1979年达到当时的国际先进水平，还专门为国产的电子显微镜发行过纪念邮票。/pp　　该领域的研发却由于种种原因一度中断。“直到几年前，中国也试图重启这方面的公司，也曾立项想要完成场发射透射电镜的自主研发。”陈宝庆回忆，曾经有相关的科研人员，辗转找到他询问，为什么FEI公司没有相关专利。/pp　　“他们想到的捷径之一是把生产厂商的专利拿来参考，但是其中很多生产工艺是秘方级别的，根本不会外传。”陈宝庆说。/ppstrong　　从“看人影”到“辨雀斑”，中国研发没使上劲/strong/pp　　“如今，中国只有一家企业生产扫描电镜，透射电镜完全不生产了。”陈宝庆说，德国蔡司公司也停止了透射电镜的生产，目前世界上生产透射电镜的厂商只有3家，分别是日本电子、日立、FEI(2016年被赛默飞公司以42亿美元收购。)/pp　　没有市场是设备巨头纷纷放弃透射电镜的原因。“透射电镜之前的清晰度，使得冷冻电镜在科学研发上基本没有实际作用。”陈宝庆说。可以理解为，以前只能看清楚个人影，现在却能辨认清楚脸上的雀斑。/pp　　除了电子枪的原理变化，冷冻电镜上其他的技术精进，例如三维重建算法的实现、样品制作机器人的研发成功等，使得冷冻电镜的分辨率大规模提升，成为生命科学研究的利器。/pp　　在冷冻电镜从“看人影”到“辨雀斑”的发展历程中，中国没有使上劲。在冷冻电镜实验室中，从耗材到配件都必须进口。“加样台10万元一个、小金片50元一个、外托150元一个……”张森森说，所有匹配冷冻电镜使用的工具都需要原装，根本不存在“山寨版”。零件坏了找不到人修理，只能等待零件邮寄到货后进行更换。对于中国的冷冻电镜使用者们来说，这样的体验可能还要持续不短的时间。/pp/p

近日，合肥工业大学公开了一系列2021年4月政府采购意向，仪器信息网特对仪器类进行了汇总。合肥工业大学4月仪器类采购意向总预算金额约1800万。以下为意向详情：序号采购需求预算金额（万元）预计采购日期备注1场发射透射电子显微镜9152021年4月详见项目详情21套气相色谱-嗅闻-质谱联用仪2252021年4月详见项目详情3材料冲击动力学性能测试成套设备1套；振动性能测试成套设备1套；高性能计算设备及软件1套。300.292021年5月详见项目详情4电力系统综合自动化试验台7台126.212021年4月详见项目详情5预磨机30台；抛光机30台；手动镶嵌机2台；金相试样磨平机1台；精密切割机（进口）1台；试验台、凳30套；维氏硬度计（进口）1台；洛氏硬度计（进口）1台； 体视显微镜（进口）1台；自动镶嵌机（进口）1台；自动磨抛机（进口）1台；布氏硬度计（进口）1台233.52021年4月详见项目详情

近日，江北新区冷冻透射电子显微镜政府采购项目在江北新区公共资源交易分中心顺利完成开评标。本次采购物品为一台300KV冷冻透射电子显微镜，采用公开招标方式组织采购。此项目的顺利开展标志着江苏省内首台进口冷冻透射电子显微镜即将配备到位，该设备将进一步服务于江苏省生物医药科研及生产领域的结构生物学平台。由于生物医药研发需求的快速增加，国内对高端先进设备的需求与日俱增，作为当前结构生物学领域最为前沿的成像技术之一，冷冻透射电子显微镜技术于2017年荣诺贝尔化学奖，这一最新技术使得显微镜的观测等级从纳米级上升到原子级别的生命结构。由于江苏省内尚无公共科研机构或平台能够向科研院所和生物医药企业提供该项服务，且能够满足当前最新科研需求的该类设备在中国境内无法获取，这在一定程度上限制了地区生物医药领域的研发水平，因此购置江苏省第一台高分辨率冷冻电镜的任务提上日程。南京大学人工智能生物医药技术研究院作为采购人主体单位，经前期政府采购进口产品相关行业主管部门批准及专家论证，委托江北新区公共资源交易分中心组织该项采购。因项目性质特殊，涉及大量专业技术参数要求，且采购人为首次接触集中采购业务，因此在提供采购需求和编制采购文件阶段，为合理设置需求、完善文件结构、加快项目进程，江北新区公共资源交易分中心安排专人对接，详细说明采购流程，介绍交易系统功能模块设置和具体操作要求，与此同时针对需求细节讲解政采法规及政策条文规定。经与采购人间的多轮沟通，该项目于2023年5月8日发布采购公告。5月29日，项目如期开标，经过评标委员会紧张有序、全面细致的现场评审，最终捷欧路（北京）科贸有限公司中标，后续其将为采购人提供相应产品及服务，“中心也将持续关注相关标后事宜。”相关工作人员表示。

课程内容 光谱测量系统组成 光栅技术 光栅光谱仪原理 小结讲师介绍熊洪武，HORIBA 应用技术主管，负责光学光谱仪的应用支持，光学背景深厚，有着丰富的光学系统搭建经验。可根据用户需求提供性能优异，功能独特的的光谱测试方案，如光致发光、拉曼、荧光、透射/反射/吸收等。课程链接识别下方“二维码”即可观看我们录制好的讲解视频了，您准备好了吗？ HORIBA Optical SchoolHORIBA一直致力于为用户普及光谱基础知识，其旗下的Jobin Yvon有着近200年的光学、光谱经验，我们非常乐意与大家分享这些经验，为此特创立 Optical School（光谱学院）。无论是刚接触光谱的学生，还是希望有所建树的研究者，都能在这里找到适合的资料及课程。 我们希望通过这种分享方式，使您对光学及光谱技术有更系统、全面的了解，不断提高仪器使用水平，解决应用中的问题，进而提升科研水平，更好地探索未知世界。

透射电子显微镜（TEM）具有原子水平的分辨能力，它不仅可以在观察样品微观形态，还可以对所观察区域的内部结构进行表征，成为纳米技术研究与发展不可或缺的工具。特别是TEM配合图像分析技术对多相体系中纳米颗粒粒度进行分析具有一定的优势。本文将对已实施的GB/T 42208-2022 《纳米技术 多相体系中纳米颗粒粒径测量透射电镜图像法》进行解读。多相体系是指体系内部不均匀的体系，在物理化学中也称为非均相体系、混相体系或者复相体系。而纳米颗粒受尺寸限制往往存在于材料基体中，形成多相体系来增加整个材料特性，这可能关系到后续产品的性能和安全性，因此对多相体系中纳米颗粒的评价尤为重要。透射电镜能作为最直观、准确的设备能够对样品内部进行评价，在多相体系中的纳米颗粒粒径表征中不可或缺。本标准从很大程度上完善和补充国内现有标准的不足，给出较为完整的多相体系中纳米颗粒粒径分析评价方法，不仅对于多相体系中纳米颗粒的粒径这种需要探讨体系内部的颗粒测量给出了方案，而且对于不同TEM的颗粒测量结果一致性评判具有重要的参考价值。本文件适用于固相多相体系中的粒径测量。考虑到多相体系的多样性，胶体和生物组织中的纳米颗粒，只要样品制备满足透射电子显微镜观察的要求，也适用本文件.一、背景纳米材料由于表面效应、量子尺寸效应、体积效应和量子隧道效应等，使材料表现出传统固体不具有的化学、电学、磁学、光学等特异性能。同时，受到尺寸的限制，纳米材料单独使用的场合有限，往往存在于材料基体中，形成多相体系来增加整个材料特性。但是由于纳米颗粒粒径较小、比表面积较大、表面能较大，极易团聚，致使其在多相体系中很难表征和评价。研究多相体系中纳米颗粒的粒度测量，对优化材料结构，改善材料的性能有着极大的促进作用，对推动纳米材料的应用和发展具有重要的意义。多相体系中纳米颗粒不同于单一的纳米颗粒，它对检测方法、样品处理及样品制备都有较高的要求。扫描电子显微镜和原子力显微镜由于成像原理的问题，不利于多相体系中纳米颗粒的测量。因此在本标准发布之前，国内该内容处于空白，本标准聚焦透射电镜的成像原理，对样品制备、图像获取、图像分析、结果表示、测量不确定度等技术内容给出了充分的、系统的说明。二、规范性引用文件和参考资料本标准在制定过程中，在符合GB/T1.1-2020《标准化工作导则 第1部分：标准的结构和编写》国家标准编写要求的基础上，充分参照了现行相关国家标准中的相关术语及技术内容的表述，包括颗粒系统术语、纳米材料术语、微束分析、粒度分析、纳米技术等各个专业领域；同时，在规范表达上，也充分征求了行业专家、资深从业者、用户的意见和建议，力求做到专业、通俗、易懂。 三、制定过程本标准涉及的领域较为专业，因此集合了国内相关领域的一批权威代表性机构合作完成。牵头单位为国家纳米科学中心，主要参加单位包括国标（北京）检验认证有限公司、北京市科学技术研究院分析测试研究所（北京市理化分析测试中心）、深圳市德方纳米科技股份有限公司、中国计量大学、北京粉体技术协会等。对于标准中的重要技术内容，如实验步骤、不同多相体系样品的制备方法、图像获取方式、图像分析、数据处理等均进行了实验验证，确定了标准中相关技术的操作可行性。四、适用范围本文件适用于固相多相体系中纳米颗粒的粒径测量和粒径分布。胶体和生物组织中的纳米颗粒，只要样品制备满足透射电子显微镜观察的要求，也适用本文件。 五、主要内容本标准描述了利用透射电子显微镜图像处理和分析技术进行纳米颗粒在多相体系中分散的粒径测量方法的全流程，包含了标准所涉及的术语和定义，TEM的成像原理，不同类型样品的制备方法，详尽的实验步骤，结果表示以及测量不确定度的来源，并在附录中针对不同的样品类型给出了实用案例。术语及定义：即包括了纳米颗粒、分散的术语定义，还包括了TEM中明场相、暗场像、扫描透射电子显微图像和高角环形暗场像等几种成像方式的定义。一般原理：利用透射电镜图像评估纳米颗粒在多相体系中的粒径测量，主要基于透射电子显微镜中电子束穿透样品成像的原理，并对图像进行处理，通常需要借助粒径分析软件进行粒径测量，以避免人为因素的干扰。样品制备：纳米颗粒在多相体系中的分散，由于多相体系材料不同，样品制备方法不同，系统的介绍了纳米复合材料的制备、多相固态金属材料的制备以及多相生物材料的制备方法，这包含了超薄切片技术、离子减薄技术、生物染色技术等。实验步骤：包含了装样、仪器准备、图像获取的全过程。需要注意的是根据多相体系材料及其中纳米颗粒的种类和状态的不同，在测试过程中要明确选用明场、暗场、高角环形暗场等合适的成像技术，并保证有足够清晰度和对比度的透射图像，能够准确识别到图像中的纳米颗粒。除此之外，为了使拍摄所得的图像中包含有足够的样品数量进行粒径测量，需要在不同的位置多次拍摄。具体的过程，本标准在附录A中以镍基高温合金多相体系中纳米颗粒为例，给出了详细过程。粒径测量：多相体系中的纳米颗粒的透射电子显微镜图像通常存在背景亮度不均匀、分散相边界与图像背景灰度差小的特点，因此需要图像处理将样品图像从背景中区分出来。总体目标是将数字显微照片从灰度图像转化为由离散颗粒和背景组成的二值化图像。重点采用阈值算法进行单个颗粒的测量。同时，颗粒粒径测量时测量颗粒数量对测量不确定的影响较大，因此需要确认最少测量颗粒数，这也取决于实际的测量需求。在结果表示方面，实验室可以根据实际需求，只评价纳米颗粒粒径的大小，也可以以纳米颗粒的分布范围为评价目标。在标准的附录中给出了两种分布范围方式。不确定度：对多相体系中纳米颗粒的粒径测量的测量不确定度主要来源包含了样品均匀性、样品制备、图像处理和测量所需的颗粒数不足等。在上述基础上，给出了测量报告的信息及内容。本文作者：常怀秋 高级工程师；国家纳米科学中心 技术发展部Email：changhq@nanoctr.c

1月20日，由生物岛实验室领衔研制，拥有自主知识产权的首台国产商业场发射透射电子显微镜TH-F120“太行”在广州发布。这标志着我国已掌握透射电镜用的电子枪等核心技术，并具备量产透射电镜整机产品的能力。　　透射电镜技术跨越多个学科、工程技术复杂、攻关难度大。经过三年多努力，中国科学家们完成了我国首台100%自主知识产权的120千伏场发射透射电镜的整机研制，实现了0.2nm分辨率的成像能力，达到了产品化的水平。　　“这对于我国摆脱进口依赖、实现高水平科技自立自强具有重大意义。”中国科学院院士、生物岛实验室主任徐涛介绍，这将打破国内透射电镜100%依赖进口的局面，场发射透射电子显微镜将为我国在材料科学、生命科学、半导体工业等前沿科学及工业领域的高质量发展提供有力支撑。　　以“太行”之名，挺起透射电镜产业的中华脊梁　　如果说光学显微镜揭开了细胞的秘密，那么透射电子显微镜则把纳米级的微观世界展示在人类眼前。1933年，世界上第一台透射电镜诞生，为科学研究提供更强有力的武器，也因此被誉为高端科学仪器皇冠上的“明珠”。　　透射电镜具有极高的行业垄断性与技术门槛。行业数据显示，此前，我国透射电镜100%依赖进口，国产化尚属空白。2022年，我国进口透射电镜约300台，进口总额超30亿元，预计2022年至2028年期间，年复合增长率超5.8%。　　生物岛实验室生物电子显微镜技术研发创新中心研究员孙飞早在2016年便带领团队联合中国科学院生物物理研究所启动了预研工作。　　“我们通过广泛交流，集合了有志于从事国产电镜自主研制的科学家和工程师，涵盖了电子光学、机械、自动化控制、软件等相关领域。”孙飞介绍，其中既有来自国内外学界的科研人才，也有在产业界深耕扫描电子显微镜多年的领军人物，“大家都抱有同样的愿景，就是造出我们国家自己的透射电镜。”　　2020年，这支来自全国各地甚至海外的队伍集结在广州的生物岛实验室组展开技术攻关。团队成立三年多以来，在国家自然科学基金委、科技部、广东省科技厅、广州市科技局的大力支持下，相关研发工作接连取得重大突破——先后成功研制120千伏场发射电子枪、120千伏低纹波高压电源、400万像素和1600万像素棱镜耦合CMOS电子探测相机、100万杂合像素直接电子探测相机等透射电镜核心关键部件。　　据悉，电子枪是透射电镜的“光源”，其作用是发射高能电子束照射到样品上，是透射电镜最为核心的部件之一。“将原有的30千伏场发射电子枪提升为120千伏，要解决电子源发射稳定性、高压真空打火等问题。经过不断的摸索，我们突破国外相关技术壁垒，去年成功实现120kV场发射电子枪的稳定量产。”孙飞说到。如今，生物岛实验室是我国唯一有能力量产该透射电镜核心部件的单位。　　孙飞直言，更大的困难在于如何将各个研制成功的部件组合起来实现联调，真正拿到高分辨率图像。“拿到分辨率优于0.2nm图像的那天，我们非常激动，我国终于突破这一关键技术。”　　为了进一步推动透射电镜的产业化，生物岛实验室与国内领先的科学仪器公司国仪量子联合成立了广州慧炬科技有限公司，致力于将透射电镜技术商业化应用。　　“我们成功走到今天，得益于生物岛实验室作为新型研发机构的特殊体制机制，保证了研发队伍的稳定。同体制内外并行发力，与产业界的紧密合作。同时，国家部委项目的支持，保证了项目研制的可持续性。”孙飞说。　　此次广州慧炬科技有限公司推出的首款透射电镜新品TH-F120，取名源自中华名山“太行”，寓意TH-F120将如太行山一样成为中国透射电镜产业的脊梁。　　向“珠穆朗玛”进发，将推出更高千伏电镜透视更厚材料　　广州慧炬科技有限公司总经理曹峰正在推进“太行”的商业化应用。他介绍，场发射透射电镜在高端科研、产业发展应用广泛、意义重大。在生命科学研究领域，它可以看到蛋白质的生物结构；用在集成电路领域，可以实现半导体的缺陷检测；用在新材料领域，可开展锂电池的研发等等。　　曹峰表示，“太行”是拥有原子级分辨率的显微放大设备，信息分辨率达0.2nm，可以呈现大多数晶体的排列结构。广州日报记者现场看到，“太行”能清晰呈现小鼠大脑中的髓鞘组织、小鼠肝脏细胞的里的线粒体。“它是多个技术的复合体。我们必须在每个环节都做到极致，才能保证设备整体达到超高分辨率。”曹峰说。　　尽管“太行”是该公司推出的“入门级”产品，现已具备多项先进性能——一是自主研制的高亮度场发射电子枪，相比于同级进口产品的热发射电子枪，亮度更高，发射稳定性和相干性更优，匹配自主研制的电磁透镜系统，针对120kV成像平台特别优化电子光学设计，可为用户带来更佳的图像衬度和分辨率；二是自主研制的高稳定性低纹波高压电源，实现了高压自动控制，保证电子枪稳定发射；三是标配自主研制的高像素CMOS相机，在低电子剂量的工况下仍可呈现丰富的样品细节；四是以人机分离为设计理念，匹配高度自动化的控制系统，使图像采集工作更加舒适高效；五是预设充足的拓展接口和整机升级空间，满足用户需求迭代，有效延长整机使用年限。　　曹峰透露，团队明年计划研制出200千伏场发射透射电镜。“电压虽然看起来只是增加了80千伏，但研制难度却是指数级增加，设备的稳定性、防护性都需要进一步探索。”　　曹峰表示，电压越高意味着电子能量越高，就越能穿透更厚的样品。目前120千伏的电镜，可以穿透大约50纳米厚度的材料。但是对于常见的100纳米的材料，还需要200甚至300千伏的电镜。　　在未来数年，该公司计划推出场发射透射电镜系列EM -F200“峨眉”、KL -F300“昆仑”，冷冻透射电镜系列YL -F100C“玉龙”、TGL -F200C“唐古拉”、 ZMLM -F300C“珠穆朗玛”，热发射透射电镜系列QL -T120“秦岭”、DX -LaB120“丹霞”。“我们的透射电镜产品取名均源自中华名山，代表慧炬立足中国、放眼世界，助力科研工作者勇攀高峰、不断突破。”曹峰说。　　此次“太行”的发布，是生物岛实验室“二次创业”，向成果转化专业机构成功转型的缩影。作为广州市首批省实验室之一，生物岛实验室不断培养高价值专利，与本地头部企业共建联合实验室、技术产业转化中心，累计孵化企业12家，其中4家估值已经超亿元。通过技术作价、配比投入等方式撬动社会资本近1.5亿元，助力科研成果高效率转化，赋能产业科技创新，为广州高质量发展作出突出贡献。