膜厚测试仪工作原理

产品介绍：医药包装性能测试仪工作原理是依据2015年药包材标准方法设计，是包装类破裂强度性能检测的仪器，其各项性能参数和技术指标符合YBB《药用铝箔》等标准规定。仪器操作简单、性能可靠、技术先进，是科研单位、造纸厂家、包装行业、质检部门的理想设备。测试原理：医药包装性能测试仪工作原理原理：将试样装夹在全自动耐破强度测试仪两个夹头之间弹性胶膜上,上下夹头紧紧夹住试样周边，使试样与胶膜一起自由凸起，当液压流体以稳定速率泵入，使胶膜凸起直至铝箔试样破裂时，所施加的压力即为试样耐破强度。医药包装性能测试仪工作原理应用于药品包装用破裂强度试验，是物理强度性能检测的基本仪器，本检测仪器采用全自动控制模式，用户只需将裁好试样放置于上下夹具之间，仪器将自动夹样，自动冲压测试并打印，人为影响非常小。全自动耐破强度测试仪是一款高性能全自动破裂强度仪，被广泛应用于药包材生产厂家、制药企业、药检机构等单位。主要参数： 测量范围：40-1600KPa（分辨力： 0.01KPa） 示值准确度： 示值误差：±0.5%FS，示值变动性：≤0.5% 加压(送油)速度：95±5)ml/min 胶膜阻力： 凸起高度：9mm， 胶膜阻力值：（25～35）KPa 试样夹持力：430 KPa（可调节） 测试系统密封性：1min内压降10%Pmax 压力表设定压力：（2.5~3）Kg/cm2 外形尺寸：400mm×350mm×500mm(长宽高) 重 量：43Kg 气源压力：0.5-0.7MPa (气源用户自备) 环境温度：5 -50℃ 相对湿度：≦80%，无凝露 工作电源：220V 50Hz

饲料的水分检测是饲料加工过程中为重要的质量控制指标之一， 同时还影响着饲料的购销和储管， 因此保证饲料产品质量的关键因素之一就是有效地控制饲料中的水分。深圳冠亚SFY系列海产饲料快速水分测试仪检测饲料水分快速、精准、快速！水分控制， 就是根据不同的情况在整个生产的过程中综合控制各种因素， 从而使饲料加工产品的终水分含量达到生产者所规定的预期目标。　　为了提高企业的经济效益，降低能耗成本，在饲料加工过程中就必须有效地、地控制出厂成品的水分含量。一方面，可有效防止在产品保质期内发生氧化霉变等影响产品质量的情况；另一方面，可有效地控制饲料加工过程中的因水分丢失而导致粉尘外逸所造成的不必要损耗。因此，本文旨在探讨饲料加工过程中影响水分含量的各因素，为生产各种不同水分含量的饲料产品提供有效的解决方法。深圳冠亚SFY系列海产饲料快速水分测试仪技术指标:　　 1、称重范围：0-60g　　 2、水分测定范围：0.01-**　　★★JK称重系统传感器　　 3、样品质量：0.5-60g　　 4、加热温度范围：起始-180℃　　★★加热方式：应变式混合气体加热器　　★★微调自动补偿温度15℃　　 5、水分含量可读性：0.01%　　 6、显示7种参数：　　★★ 水分值，样品初值，样品终值，测定时间，温度初值，终值，恒重值　　★★红色数码管独立显示模式　　 7、双重通讯接口：RS 232（打印机）　　 RS 232（计算机）　　 8、外型尺寸：380×205×325(mm)　　 9、电源：220V±10%　　 10、频率：50Hz±1Hz　　 11、净重：3.7Kg　　深圳冠亚SFY系列海产饲料快速水分测试仪是一种新型高精度的快速水分检验仪器，采用热解重量原理设计的，仪器测量样品重量同时，卤素加热单元和水分蒸发通道快速干燥样品。在干燥过程中，仪器持续测量并即时显示干燥过程中样品丢失的水分含量％，干燥完成后，终测定的水分含量锁定，按显示键可观察水分值，重量初始值，起始值，测试时间等数据。

包装袋厚度测试仪_薄膜测厚仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。包装袋厚度测试仪_薄膜测厚仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

薄膜测厚仪 CHY-CA 纸张厚度测试仪 膜厚仪 厚度仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。薄膜测厚仪 CHY-CA 纸张厚度测试仪 膜厚仪 厚度仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。 应用领域薄膜、薄片、隔膜：适用于薄膜、薄片、隔膜的厚度测试纸张、纸板：适用于纸张、纸板的厚度测试箔片、硅片：适用于箔片、硅片的厚度测试金属片：适用于金属片的厚度测试纺织材料：适用于纺织材料的厚度测试固体电绝缘体：适用于固体电绝缘体的厚度测试无纺布材料：适用于无纺布材料的厚度测试，如尿不湿、卫生巾片材的厚度测试量程扩展至5mm， 10mm：适用于无纺布材料的厚度测试，如尿不湿、卫生巾片材的厚度测试曲面测量头：满足特殊要求的厚度测试薄膜测厚仪 CHY-CA 纸张厚度测试仪 膜厚仪 厚度仪技术参数测试范围：0 ～ 2 mm（常规）、0 ～ 6 mm、10 mm（可选）分辨率：0.1 μm测量速度：10 次/min （可调）测量压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制进样步距：0 ～ 1000 mm进样速度：0.1 ～ 99.9 mm/s电源：AC 220V 50Hz外形尺寸：400mm (L)×310 mm (W)×460mm (H)净重：32 kg测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

为了保证功能涂层在任何工作环境中都能发挥其作用，油漆涂装技术正在朝着精细化控制优化生产工艺和确保经济可持续发展方向努力。例如：家电行业希望油漆涂层更加耐用，能够适应各种各样家用电器和厨房器具的要求；而建筑行业则期望粉末涂层能够耐用且适应不同环境，特别是防腐涂料，期望能够经受得住太阳暴晒和风雨冲刷。过薄涂层无法保证涂料充分发挥功能作用；过厚涂层则会造成表面不平整，导致光泽度不同；对于机械阻力而言，越厚涂层硬度越大，则越容易断裂，因此生产厂家必须严格控制涂装工艺质量，令产品膜厚快速精准控制在合格范围内，从而满足不同的使用需求。目前市场上普遍使用的是几十年前开发的接触式磁性测厚仪和涡流测厚仪，或者是超声波测厚仪，这些测厚仪器虽然是非破坏式测厚，但是只能等待涂层固化后才能测量膜厚，无法在湿膜状态下测出固化后干膜厚度。为了更好实现测湿膜直接显示干膜厚度功能，瑞士涂魔师非接触无损测厚仪应运而生。涂魔师膜厚测量仪是一款非接触无损涂层测厚仪，不管漆膜是烘干后还是未烘干，粉末涂料是固化前还是固化后，涂魔师都可以轻松测出其干膜厚度。涂魔师膜厚测量仪工作原理涂魔师膜厚测量仪采用ATO光热法原理和数字信息处理技术(DSP），通过计算机控制光源以脉冲方式加热待测涂层，其中内置的高速红外探测器从远处记录涂层表面温度分布并生成温度衰减曲线。表面温度的衰减时间取决于涂层厚度及其导热性能。最后利用专门研发的算法分析表面动态温度曲线计算测量待测的涂层厚度。涂魔师膜厚测量仪优势---精准协助厂家提高产线的喷涂效率及产品合格率湿膜状态下测出干膜厚度涂魔师膜厚测试仪能在涂层烘干前测出干膜的真实厚度，并实时直接传入ERP/MES系统，可全程数据化监控，也便于下次调用生产或回溯分析。自动监控，减少次品率全程数据化追溯涂装工艺，有效协助涂装部门在生产过程中及时发现喷涂厚度问题，马上调整设备参数，优化工艺过程和消耗品的更换频率。快速研发，提高质量研发中心不必等待涂层干透，快速确保样品干膜厚度达标而做出测试样品，大幅缩短研发周期，助力制定新的质量标准、生产工艺，使产品更加有竞争力。喷涂厂家使用涂魔师膜厚测量仪测量未固化涂层即时得出固化后涂层厚度，并且全程能实现生产工艺的统计及不间断追溯，高效监控膜厚真实情况，进行数据的不间断监控记录和智能统一管理。翁开尔是涂魔师中国总代理，欢迎致电【400-6808-138】咨询关于涂魔师全自动涂层测厚仪更多产品信息、技术应用和客户案例。

Positector 6000膜厚测试仪Defelsko公司的Positector 6000涂层测厚仪是一款坚固耐用的全电子涂层测厚仪，它利用磁性和涡流原理来精确、快速地测量黑色和有色金属的涂层厚度。Positector 6000用于各个行业部门。优势● 大多数应用无需校准调整● 当测量值超过用户指定的极限时，Hi/Lo警报器会发出声光警报● 校准存储在传感器模块中标准ISO 2808、ГОСТ Р 51694应用● 金属涂层● 涂料技术参数显示（高级）高反差可逆彩色显示显示（标准）单色显示数据传送（高级）USB, Wifi、蓝牙数据传送（标准）USB存储（高级）100.000个数据存储（标准）250个数据

GB/T6672机械测量法薄膜厚度测量仪_膜厚计膜厚测试仪是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪，专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。可选配自动进样机，更加准确、高效的进行连续多点测量。设备技术特征：1、专业——Labthink在不断的创新研发和技术积累中推陈出新，使用超高精度的位移传感器、科学的结构布局及专业的控制技术，实现先进的测试稳定性、重复性及精度。2、高效——采用高效率、自动化结构设计，有效简化人员参与过程；智能的控制及数据处理功能，为用户提供更便捷可靠的试验操作和结果处理。3、智能——搭载Labthink新一代版控制分析软件，具有友好的操作界面、智能的数据处理、严格的人员权限管理和安全的数据存储；支持Labthink特有的DataShieldTM数据盾系统（可选配置），为用户提供极为安全可靠的测试数据和测试报告管理功能。GB/T6672机械测量法薄膜厚度测量仪_膜厚计膜厚测试仪测试原理：将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。执行标准：ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702中国《药品生产质量管理规范》（GMP）对软件的有关要求（可选配置）GB/T6672机械测量法薄膜厚度测量仪_膜厚计膜厚测试仪应用材料：基础应用：薄膜、薄片——各种塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度测定纸——各种纸张、纸板、复合纸板等的厚度测定扩展应用：金属片、硅片——硅片、箔片、各种金属片等的厚度测定瓦楞纸板——瓦楞纸板的厚度测定纺织材料——各类纺织材料如编织织物、针织物、涂层织物等的厚度测定非织造布——各类非织造布如尿不湿、卫生巾、医用口罩等的厚度测定其它材料——固体电绝缘材料、胶黏带、土工合成材料、橡胶等的厚度测定GB/T6672机械测量法薄膜厚度测量仪_膜厚计膜厚测试仪技术指标：① C640M型号参数：测试范围（标配）：0～2mm分辨率：0.1μm 重复性：0.8μm测量范围（选配）：0～6、0～12mm测量间距：0～1000mm（可设定）进样速度：1.5～80mm/s（可设定）附加功能：自动进样机：可选配置DataShieldTM数据盾：可选配置GMP计算机系统要求：可选配置测量方式：机械接触式测量压力及接触面积：薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2纸张：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2电源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz外形尺寸：370mm（L）× 350mm（W）× 410mm（H）净重：26kg② C640H型号参数：测试范围（标配）：0～2mm分辨率：0.1μm 重复性：0.4μm测量范围（选配）：0～6、0～12mm测量间距：0～1000mm（可设定）进样速度：1.5～80mm/s（可设定）附加功能：自动进样机：可选配置DataShieldTM数据盾：可选配置GMP计算机系统要求：可选配置测量方式：机械接触式测量压力及接触面积：薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2纸张：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2电源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz外形尺寸：370mm（L）× 350mm（W）× 410mm（H）净重：26kg

薄膜厚度测试仪 薄片厚度测量仪 厚度测量仪 厚度仪 测厚仪 _______________ 产品详情 ______________ 薄膜厚度测试仪是用机械测量法测定塑料薄膜和薄片厚度的仪器，但不适用于压花的薄膜和薄片。 产品特点薄膜厚度测试仪外型美观，结构科学合理，使用可靠. 产品应用薄膜厚度测试仪主要用于塑料薄膜、薄片、纸张、纸板的厚度测试，还可扩展用于箔片、硅片、金属片的厚度测试. 技术标准薄膜厚度测试仪参照执行标准GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度的测定—机械测量法》，该标准修改采用标准ISO4593—1993《塑料—薄膜和薄片—用机械扫描法测定厚度》. 产品参数测量范围：0~10mm分度值0.001mm；测头端部的力：（1）上测头的测量面为￠6mm平面，下测头为平面时，测头对试样施加的力为0.5~1.0N；（2）上测量面为（R15—R50）mm曲率半径，下测头为平面时，测头对试样施加的力为0.1~0.5N. 产品配置主机一台 济南恒品专业生产纸制品包装检测仪器，印刷包装检测仪器，塑料包装检测仪器，各种试验设备及产品。 其它产品：纸箱抗压试验机，纸张耐破度仪，电子压缩试验仪，电子拉力试验机，密封性测试试验机，试验机，捆绑机，打包机，厚度测定仪，白度色度测定仪，白度测定仪，可勃吸收性测定仪，可勃取样刀，层间结合强度测定仪，纸浆打浆度测定仪，定量取样刀，MIT耐折度测定仪，纸板挺度测定仪，纸板挺度测定仪，数控电动离心机，瓦楞纸板边压（粘合）试样取样刀，环压取样刀，平压取样器，边压导块，剥离试验架，环压盘，瓦楞原纸起楞器，纸张柔软度测定仪，纸板戳穿强度测定仪，纸张水分仪，单臂包装跌落试验台，双翼跌落试验机，纤维标准解离器型，胶带初性测试仪，持粘性测试仪，环形初粘性测试仪，电子剥离试验机.，胶粘剂拉伸剪切试验机，密封性测试仪，摩擦系数测定仪，透光率雾度测定仪，干燥箱，油墨印刷摩擦试验机，反压高温蒸煮锅，正压密封试验仪、瓶盖扭矩测定仪、热封试验仪。标准光源，光泽度仪等。

PVC硬片厚度测试仪_硬片测厚仪_薄膜测厚仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。PVC硬片厚度测试仪_硬片测厚仪_薄膜测厚仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

薄膜薄片厚度测量仪 GB/T 6672接触式测厚仪 高精度膜厚测试仪薄膜薄片厚度测量仪 GB/T 6672接触式测厚仪 高精度膜厚测试仪是一种专门用于测量薄膜、薄片等材料厚度的仪器，广泛应用于塑料薄膜、纸张、金属箔、硅片、电池电极等材料的厚度检测。测试原理通过位移传感器测试薄膜材料的厚度。测量头在一定压力下接触薄膜表面，传感器读取测量头的位移变化，从而得出薄膜的厚度值。薄膜薄片厚度测量仪 GB/T 6672接触式测厚仪 高精度膜厚测试仪产品特征严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择可选系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果5寸触摸屏操控，方便用户进行试验操作和数据查看标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据薄膜薄片厚度测量仪 GB/T 6672接触式测厚仪 高精度膜厚测试仪技术参数菜单式界面: PVC操作面板分 辨 率: 0.1μm测量范围: 0～2mm；0～6mm，12mm（可选）测量速度: 10次/min（可调）测量压力: 17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）接触面积: 50mm² （薄膜）；200mm² （纸张）电 源: AC 220V 50Hz外形尺寸: 300 mm(L)×275 mm(B)×300 mm(H)净 重: 33kg执行标准: GB 6672、GB/T 451.3-2002等仪器配置: 主机、微型打印机、标准量块等测试标准该仪器符合多项国家和国际标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

壁厚测量仪_壁厚测试仪_壁厚仪CHY-G 电子壁厚底厚测试仪适用于制药、食品、药品等行业测量玻璃瓶瓶底及瓶壁的厚度检测。仪器在传统的厚度测量仪基础上，增加了稳固瓶子的托盘，避免因瓶子摇摆不定带来的测量误差。产品特点◎ 7寸触控彩色液晶屏，微电脑控制，自动分组统计Z大值、Z小值、平均值。◎ 旋转角度位移实时显示，保证测量准确回位。◎ 满足玻璃瓶底厚和壁厚两种测试方式。◎ 测量平台新增托瓶装置支持上下调节，让测试轻松便捷。◎ 系统自带微型打印，上位机数据无限保存。◎ 专业电脑测试软件，曲线图显示，数据保存，EXCEL统计，打印A4试验报告。◎ 软件用户分级权限管理，数据统计及审计功能满足行业要求。壁厚测量仪_壁厚测试仪_壁厚仪测试原理CHY-G 电子壁厚底厚测试仪采用容栅传感技术，通过测量表头接触瓶子与镖头对应。两个系统中容栅传感器采集响应的数据，进而通过系统计算出对应的瓶壁或瓶底的厚度值。应用领域适用于制药、食品、药品等行业测量玻璃瓶瓶底及瓶壁的厚度。可满足测试输液瓶、啤酒瓶、口服液瓶、安瓿瓶、 西林瓶等产品壁厚底厚的测试。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准： YBB00332002 - 2015 、 YBB00332003 - 2015 、YBB00032004-2015、GB 1241590、GB 2641-90、GB 2639-90。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

玻璃瓶厚度测试仪_壁厚底厚仪CHY-G 电子壁厚底厚测试仪适用于制药、食品、药品等行业测量玻璃瓶瓶底及瓶壁的厚度检测。仪器在传统的厚度测量仪基础上，增加了稳固瓶子的托盘，避免因瓶子摇摆不定带来的测量误差。产品特点◎ 7寸触控彩色液晶屏，微电脑控制，自动分组统计Z大值、Z小值、平均值。◎ 旋转角度位移实时显示，保证测量准确回位。◎ 满足玻璃瓶底厚和壁厚两种测试方式。◎ 测量平台新增托瓶装置支持上下调节，让测试轻松便捷。◎ 系统自带微型打印，上位机数据无限保存。◎ 专业电脑测试软件，曲线图显示，数据保存，EXCEL统计，打印A4试验报告。◎ 软件用户分级权限管理，数据统计及审计功能满足行业要求。玻璃瓶厚度测试仪_壁厚底厚仪测试原理CHY-G 电子壁厚底厚测试仪采用容栅传感技术，通过测量表头接触瓶子与镖头对应。两个系统中容栅传感器采集响应的数据，进而通过系统计算出对应的瓶壁或瓶底的厚度值。应用领域适用于制药、食品、药品等行业测量玻璃瓶瓶底及瓶壁的厚度。可满足测试输液瓶、啤酒瓶、口服液瓶、安瓿瓶、 西林瓶等产品壁厚底厚的测试。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准： YBB00332002 - 2015 、 YBB00332003 - 2015 、YBB00032004-2015、GB 1241590、GB 2641-90、GB 2639-90。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

安瓿瓶壁厚测试仪安瓿瓶，作为医疗和制药领域常用的包装容器，其质量与安全性无疑至关重要。安瓿瓶壁厚测试仪，正是为了确保这些关键参数而设计的一种精密设备。该仪器主要用于检测安瓿瓶壁厚的均匀性和一致性，进而评估其质量和安全性。 例如在制药行业，药品包装容器如安瓿瓶和西林瓶的厚度直接影响药液的储存和使用效果。如果瓶壁太薄，会导致药品失真或药液泄漏；如果瓶壁过厚，则会影响药品的释放和药效的发挥。因此，对这些瓶罐容器的厚度进行精确测量和控制，不仅可以保证药品的质量和安全，还可以降低生产成本和提高生产效率。 该设备的设计原理基于非破坏性检测原理，即在不破坏安瓿瓶的情况下，对其进行全面的质量检测。仪器采用高精度测量传感器，测量瓶壁的厚度。同时，结合先进的图像识别和数据处理技术，能够自动获取瓶壁厚度数据。仪器具有强大的数据处理能力，能够快速、准确地生成报告。此外，仪器还具有良好的耐用性和稳定性，能够满足长时间、大量程的测试需求。 安瓿瓶壁厚测试仪的操作流程相对简单。首先，将待测安瓿瓶放置在测试台上，然后启动仪器。仪器会自动对瓶壁进行扫描，并获取瓶壁厚度数据。之后，仪器将自动分析并处理这些数据，生成安瓿瓶壁厚的详细报告。 总之，安瓿瓶壁厚测试仪是一种重要的质量检测设备，对于确保安瓿瓶的质量和安全性具有重要作用。其高精度、自动化、快速和准确的特性，使其成为医疗和制药行业的理想选择。 技术参数 测量范围 0-12.5mm 分 度 值 0.001mm 样品直径 10-120mm （其他尺寸可定制） 样品高度 10-290mm（其他尺寸可定制） 外形尺寸 420×280×655（mm ） 重 量 25Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 80%,无凝露 工作电源 220V 50Hz 参照标准GB12415-90、GB2641-90、GB2639-90、2015年国家药包材标准安瓿瓶壁厚测试仪此为广告

CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。 测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。 应用领域薄膜、薄片、隔膜：适用于薄膜、薄片、隔膜的厚度测试纸张、纸板：适用于纸张、纸板的厚度测试箔片、硅片：适用于箔片、硅片的厚度测试金属片：适用于金属片的厚度测试纺织材料：适用于纺织材料的厚度测试固体电绝缘体：适用于固体电绝缘体的厚度测试无纺布材料：适用于无纺布材料的厚度测试，如尿不湿、卫生巾片材的厚度测试量程扩展至5mm， 10mm：适用于无纺布材料的厚度测试，如尿不湿、卫生巾片材的厚度测试曲面测量头：满足特殊要求的厚度测试测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

农用薄膜厚度测试仪 锂电池隔膜测厚仪 台式膜厚仪（CHY-C2A型号）采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。农用薄膜厚度测试仪 锂电池隔膜测厚仪 台式膜厚仪技术特征：严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输支持LystemTM实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告执行标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817农用薄膜厚度测试仪 锂电池隔膜测厚仪 台式膜厚仪技术指标：负荷量程：0～2 mm（常规）　　　　　0～6 mm；12 mm （可选）分辨率：0.1 μm测量速度：10 次/min （可调）测量压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）　　　　　注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制电源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)净重：32kg仪器配置：标准配置：主机、标准量块一件选购件：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码、微型打印机以上【农用薄膜厚度测试仪 锂电池隔膜测厚仪 台式膜厚仪】信息由济南兰光机电技术有限公司发布，如欲了解更详细信息，欢迎致电0531-85068566垂询！

纸张厚度测试仪随着科技的不断发展，纸张、纸板和印刷纸的厚度测量变得越来越重要。厚度是这些材料的重要质量指标之一，它对产品的质量、使用性能和寿命都有着重要的影响。机械接触式测厚仪是一种常见的厚度测量仪器，它具有高精度、高稳定性和易于操作等优点，被广泛应用于纸张、纸板和印刷纸的厚度测量。 纸张、纸板和印刷纸的厚度对产品的质量和性能有着重要的影响。为了控制产品质量和提高生产效率，需要采用高精度的厚度测量仪器对生产过程中的纸张、纸板和印刷纸进行实时检测。 纸张测厚仪是专门用于测量纸张厚度的仪器。它采用机械接触式测量原理，可以测量各种纸张的厚度，包括印刷纸、涂布纸、防伪纸等。在操作过程中，需要注意保持测量头的清洁，避免影响测量结果。 纸板测厚仪是专门用于测量纸板厚度的仪器。它采用机械接触式测量原理，可以测量各种纸板的厚度，包括普通纸板、瓦楞纸板、蜂窝纸板等。在操作过程中，需要注意调整测量头的压力，以保证测量的精度。 印刷纸测厚仪是专门用于测量印刷纸厚度的仪器。它采用机械接触式测量原理，可以测量各种印刷纸的厚度，包括铜版纸、胶版纸、新闻纸等。在操作过程中，需要注意保持印刷纸的平整度，避免影响测量结果。 机械接触式测厚仪是一种高精度的厚度测量仪器，适用于纸张、纸板和印刷纸等材料的厚度测量。在操作过程中，需要注意保持测量头的清洁、调整测量头的压力和保持被测材料的平整度等细节问题，以保证测量的精度和稳定性。通过使用高精度的测厚仪对纸张、纸板和印刷纸进行厚度测量，可以有效地控制产品质量和提高生产效率。 技术参数 测量范围 0-2mm （其他量程可定制） 分辨率 0.1um 测量速度 10次/min（可调） 测量压力 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张） 接触面积 50mm² （薄膜），200mm² （纸张） 注：薄膜、纸张任选一种 进样步矩 0 ～ 1300 mm(可调) 进样速度 0 ～ 120 mm/s(可调) 机器尺寸 450mm×340mm×390mm (长宽高) 重 量 23Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 80%,无凝露 试验环境 无震动，无电磁干扰 工作电源 220V 50Hz 纸张厚度测试仪此为广告

最高温度 1650°c测量范围 0.1mΩ-100MΩ温度精度 ±0.25°c最快测量 6.4ms更多功能 高温四探针、退火高温I-V特性测试高温真空测量高温气氛测量高温烧结/退火高温四探针测量 消除电网谐波对采集精度的影响高温四探针测试仪采用直排四探针法设计原理测量。主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能，参考美国 A.S.T.M 标准设计。重复性与稳定性更好，采用双屏蔽高频测试线缆，提高测试参数的精确度，同时抗干扰能力更强。本设备也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。 搭配Labview系统开发的Huacepro软件，具备弹性的自定义功能，可进行介电温谱、频谱、升温速度、测量参数等设置，符合功能材料测试多样化的需求。电压、过电流、超温等异常情况以保证测试过程的安全；资料保存机制，当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于控制器中，不丢失试验数据，设备重新启动后可恢复原有试验数据。 源测量仪器的精密耦合特点相对分立仪器具有许多优点。例如，它具有更短的测试时间，通过减少GPIB的流量并简化了远程编程接口。它还保护被测设备在偶尔过载、热失控等情况下不被损坏。电流源和电压源都可设置回读使器件测量完整性最大化。如果回读达到可编程容限的极限，那么该源就被钳位在此极限，从而提供错误保护。 华测系列阻抗分析仪是华测仪器电子事业部采用当前先进的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，为国产阻抗测试仪器的最新高度。也彻底超越了国外同类仪器，在测量10Hz-50MHz的频率瓶颈；解决了国外同类仪器只能分析、无法单独测试的缺陷；采用单测和分析两种界面，让测试更简单。得益于先进的自动平衡电桥技术，在10Hz-50MHz的频率范围可以保证0.05%的基本精度。 快达5ms的测试速度及高达50M的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测量要求，特别有利于低损耗(D)电容器和高品质因数(Q)电感器的测量。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响，将低阻抗测试能力的下限比常规端配置的仪器向下扩展了十倍。 消除不规则输入的自动平均值功能 更强数据处理及内部屏蔽华测近红外高温炉配合吉时利数字源表进行四探针电阻测量，让测试更加稳定可靠，吉时利数字源表系列专用于要求紧密结合源和测量 的测试应用。全部数字源表型号都提供精密电压源和电 流源以及测量功能。每款数字源表既是高度稳定的直流 电源也是真仪器级的6位半万用表。此电源的特性包括 低噪声、精密和回读。此万用表的功能包括可重复性高和低噪声。最终形成了紧凑、单通道、直流参数测试仪。 在工作时，这些仪器能用作电压源、电流源、电压表、电流表和欧姆表。源和阱（4象限）工作，0.012%基础测量精度（6位半分辨率）。 2线、4线电压源和测量感测1700读数/秒（4位半分辨率），通过GPIB通过/失效比较器用于快速提供高速感测线接触检查功能，在半导体、功能材料行业吉时利数字源表是适于特性析和生产测试等广泛应用的重要源表。目前国内高温加热大都为管式炉或马弗炉，主要原理为加热丝或硅碳棒对炉体加热，加热与降温过程速度慢，效率低下。也无法实现温度的高精度测量，加热区域也存在不均匀的现象，华测仪器通过多年研究开发了一种可实现高精度，高反射率的抛物面与高质量的加热源相配置，在高速加热及高速冷却时，具有良好的温度分布。 可实现宽域均热区，高速加热、高速冷却 ，用石英管保护加热试样，无气氛污染。可在高真空，高纯度气体中加热 。设备可组成均热高速加热炉，温度斜率炉，阶段加热炉。 它提高了加热试验能力。 同电阻炉和其他炉相比，红外线反射炉节省了升温时间和保持时间及自然冷却到室温所需时间，再试验中也可改写设定温度值。从各方面讲，都节省试验时间并提高实验速度。 同高频炉相比，不需特殊的安装条件及对加热试样的要求。同电阻炉一样安装简单，有冷却系统安全可靠。以提高试验人员的工作效率，实现全新的温度控制操作！高能量的红外灯和镀金反射方式允许高速加热到高温。同时炉体可配置水冷系统，增设气体冷却装置，可实现快速冷却。 1、高速加热与冷却方式高能量的红外灯和镀金反射方式允许高速加热到高温。同时炉体可配置水冷系统，增设气体冷却装置，可实现快速冷却。2、温度高精度控制近红外镀金聚焦炉和温度控制器的组合使用，可以精确控制样品的温度(远比普通加温方式)。此外，冷却速度和保持在任何温度下可提供高精度。3、不同环境下的加热与冷却加热/冷却可用真空、气氛环境、低温（高纯度惰性气体 静态或流动），操作简单，使用石英玻璃制成。红外线可传送到加热/冷却室。 更强的扩展能力，实现一机多用█ 多功能真空加热 炉，可实现高温、真空、气氛环境下电学测试 █ 采用铂金材料作为测量导线、以减少信号衰减、提高测试精度 █ 设备配置水冷装置，降温速度更快、效率更高█ 可实现高温下四探针电阻谱等测量功能█ 进口温度传感器、PID自动温度控制，使测量温度更精准█ 近红外加热，样品受热更均匀，不存在感应电流，达到精准测量█ 10寸进口触摸屏设计，一体化设计机械结构，更加稳定、可靠 █ 采用进口高频测试线，抗干扰能力更强，采集精度更高█ 99氧化铝陶瓷绝缘，配和铂金电极夹具█ huace pro 强大的控制分析软件与功能测试平台系统相互兼容温度范围： RT-800 (最高1650)°C 控温精度：±0.25°C 升温斜率：10°C/min（可设定） 测试范围 : 0.1mΩ-100MΩ 加热方式：近红外加热 冷却方式：水冷 输入电压：110~220V 样品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm 电极材料：碳化钨针 夹具辅助材料：99氧化铝陶瓷 测量方式：直接四探针 测试功能：I-V、R-T等 数据传输：4个USB接口 设备尺寸：600x500x350mm动态测量范围：电流：10pA to 10A 电压：1µ V to 200V四象限工作 0.012%的精确度，5&half 的分辨率 可程控电流驱动和电压测量钳位的 6位线电阻测量 在4&half 数位时通过GPIB达1700读数/秒 可选式接触检查功能

美国Filmetrics光学膜厚测量仪，测量膜层厚度从15nm到450um。利用反射干涉的原理进行无接触测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是一款高性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。Filmetrics光学膜厚测量仪：其可测量薄膜厚度在15nm到450um之间，测量精度高达1埃，测量稳定性高达0.7埃，测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical）, 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovoltaics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等。 通过Filmetrics膜厚测量仪反射式光谱测量技术,可以测试4层透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛，例如 : 半导体工业 : 光阻、氧化物、氮化物。 LCD工业 : 间距 (cell gaps)，ito电极、polyimide 保护膜。 光电镀膜应用 : 硬化镀膜、抗反射镀膜、过滤片。 极易操作、快速、准确、机身轻巧及价格便宜为其主要优点，在此基础之上，我们推出了操作极其简单的入门型号F20单点膜厚测试仪，可以实现反射、膜厚、n、k值测量。F20 系列膜厚测试仪——一款畅销的台式薄膜厚度测量系统只需按下一个按钮，您在几秒钟同时测量厚度和折射率。设置同样简单, 只需插上设备到您运行Windows&trade 系统计算机的USB端口, 并连接样品平台 , F20已在世界各地有成千上万的应用被使用. 事实上，我们每天从我们的客户学习更多的应用.选择您的F20，主要取决于您需要测量的薄膜的厚度（确定所需的波长范围），下图是不同型号的膜厚测试仪测试的厚度范围以及对应选择的波长范围。图被和谐，请私信或查看纳腾官网F20 的测试原理：一束光入射到薄膜表面时，在薄膜上下表面都会发生反射，而两束反射光之间会产生干涉，干涉条纹的产生又是与薄膜的厚度，折射率等有关的，因此可以依据此来测量薄膜的厚度。F20系列膜厚测试仪的具体的应用实例：1.非晶态多晶硅硅元素以非晶和晶体两种形式存在, 在两级之间是部分结晶硅。部分结晶硅又被叫做多晶硅。非晶硅和多晶硅的光学常数(n和k)对不同沉积条件是独特的，必须有精确的厚度测量。 测量厚度时还必须考虑粗糙度和硅薄膜结晶可能的风化。Filmetrics 设备提供的复杂的测量程序同时测量和输出每个要求的硅薄膜参数， 并且“一键”出结果。测量范例多晶硅被广泛用于以硅为基础的电子设备中。这些设备的效率取决于薄膜的光学和结构特性。随着沉积和退火条件的改变，这些特性随之改变，所以准确地测量这些参数非常重要。监控晶圆硅基底和多晶硅之间，加入二氧化硅层，以增加光学对比，其薄膜厚度和光学特性均可测得。F20可以很容易地测量多晶硅薄膜的厚度和光学常数，以及二氧化硅夹层厚度。Bruggeman光学模型被用来测量多晶硅薄膜光学特性。2.电介质 电解质薄膜测量成千上万的电解质薄膜被用于光学，半导体，以及其它数十个行业, 而Filmetrics的仪器几乎可以测量所有的薄膜。常见的电介质有:二氧化硅 —— 最简单的材料之一, 主要是因为它在大部分光谱上的无吸收性 (k=0)， 而且非常接近化学计量 (就是说，硅：氧非常接近 1:2)。 受热生长的二氧化硅对光谱反应规范，通常被用来做厚度和折射率标准。 Filmetrics能测量3nm到1mm的二氧化硅厚度。氮化硅 ——对此薄膜的测量比很多电介质困难，因为硅：氮比率通常不是3：4, 而且折射率一般要与薄膜厚度同时测量。 更麻烦的是，氧常常渗入薄膜，生成一定程度的氮氧化硅，增大测量难度。 但是幸运的是，我们的系统能在几秒钟内 “一键” 测量氮化硅薄膜完整特征!测量范例氮化硅薄膜作为电介质，钝化层，或掩膜材料被广泛应用于半导体产业。这个案例中，我们用F20-UVX成功地测量了硅基底上氮化硅薄膜的厚度，折射率，和消光系数。有趣的事，氮化硅薄膜的光学性质与薄膜的分子当量紧密相关。使用Filmetrics专有的氮化硅扩散模型，F20-UVX可以很容易地测量氮化硅薄膜的厚度和光学性质，不管他们是富硅，贫硅，还是分子当量。3.铟锡氧化物与透明导电氧化物液晶显示器，有机发光二极管变异体，以及绝大多数平面显示器技术都依靠透明导电氧化物 (TCO) 来传输电流，并作每个发光元素的阳极。 和任何薄膜工艺一样，了解组成显示器各层物质的厚度至关重要。 对于液晶显示器而言，就需要有测量聚酰亚胺和液晶层厚度的方法，对有机发光二极管而言，则需要测量发光、电注入和封装层的厚度。在测量任何多个层次的时候，诸如光谱反射率和椭偏仪之类的光学技术需要测量或建模估算每一个层次的厚度和光学常数 (反射率和 k 值)。不幸的是，使得氧化铟锡和其他透明导电氧化物在显示器有用的特性，同样使这些薄膜层难以测量和建模，从而使测量在它们之上的任何物质变得困难。Filmetrics 的氧化铟锡解决方案Filmetrics 已经开发出简便易行而经济有效的方法，利用光谱反射率精确测量氧化铟锡。 将新型的氧化铟锡模式和 F20-EXR, 很宽的 400-1700nm 波长相结合，从而实现氧化铟锡可靠的“一键”分析。 氧化铟锡层的特性一旦得到确定，剩余显示层分析的关键就解决了。不管您参与对显示器的基础研究还是制造，Filmetrics 都能够提供您所需要的...测量液晶层-聚酰亚胺、硬涂层、液晶、间隙测量有机发光二极管层发光、电注入、缓冲垫、封装对于空白样品，我们建议使用 F20 系列仪器。 对于图案片，Filmetrics的F40用于测量薄膜厚度已经找到了显示器应用广泛使用。测量范例此案例中，我们成功地测量了蓝宝石和硼硅玻璃基底上铟锡氧化物薄膜厚度。与Filmetrics专有的ITO扩散模型结合的F10-RTA-EXR仪器，可以很容易地在380纳米到1700纳米内同时测量透射率和反射率以确定厚度，折射率，消光系数。由于ITO薄膜在各种基底上不同寻常的的扩散，这个扩展的波长范围是必要的。4.光刻胶成功测量光刻胶要面对一些独特的挑战， 而 Filmetrics 自动测量系统成功地解决这些问题。 这些挑战包括避免测量光源直接照射， 拥有涵盖广泛的光刻胶折射率资料库, 以及有能力处理光刻胶随烘烤和暴露而改变的折射率。测量SU-8 其它厚光刻胶的厚度有特别重要的应用。 因为旋涂 SU-8 的方法虽简便快速，但可能会导致所需厚度不太精确。 而暴露时间取决于光刻胶的厚度, 因此必须进行精确测量。 另外，由于正负光刻胶可以同时用于制造复杂的多层 MEMS 结构, 了解各层的厚度就变得极端重要。Filmetrics 提供一系列的和测绘系统来测量 3nm 到 1mm 的单层、 多层、 以及单独的光刻胶薄膜。 所有的 Filmetrics 型号都能通过精确的光谱反射建模来测量厚度 (和折射率)。 独家的算法使得“一键”分析成为可能，通常在一秒钟内即可得到结果。测量范例测量光刻胶涂层厚度的能力对开发和制造各种半导体器件如MEMS至关重要。Filmetrics提供测量SU-8和其它光刻胶厚度的广泛的解决方案。此案例中，我们演示如何用F20快速有效地测量硅胶上SU-8 涂层单光斑和多点厚度.5.硅晶圆薄膜Filmetrics 提供台式系统, 测绘, 和生产测量 1nm 到 2mm 硅晶片和膜厚仪器系统。6.太阳光伏应用薄膜光伏薄膜光伏 (TFPV) 作为硅基晶圆的较廉价的替代品正在得到开发。 薄膜光伏共有三大类，按照其有效层组成命名: 硅薄膜、II-VI (主要是锑化镉) 和 CIGS (铜铟硒化镓)。 每种有效层薄膜都是用在一层透明导电氧化膜上面，而基板可用玻璃或金属。测量有效层准确了解有效层的厚度和组成是非常重要的。 太薄会影响功效和耐用性，而太厚又会提高成本。 错误的组成会大大降低产品的功效和制造产量。Filmetrics F20型号为几十家薄膜光伏制造商所使用，用于测量三类有效层的厚度和光学常数。 为了测量透明导电氧化膜上面的有效层薄膜, Filmetrics 已获得了丰富的经验来检测用户自行生产的或专业玻璃生产商提供的单层及多层导电玻璃。其他制程薄膜除了有效层和透明导电氧化物堆以外，还有其他薄膜用于光伏类产品的制造。 这些例子包括用于刻蚀电池和电极的聚酰亚胺和光刻胶，以及减反涂层。 在这些情况下，Filmetrics 有现有的台式, 测绘, 或在线解决方案。测量范例快速可靠地测量多层薄膜是开发制造薄膜太阳能电池的关键。在这个案例中，我们需要测量薄膜光伏上缓冲层（硫化镉）和吸收层（碲化镉）的厚度。F20-NIR 结合准直光束平台，使我们能够从反射光谱测量TEC玻璃上太阳能电池碲化镉和硫化镉层的厚度。7.半导体实践教学已经有五十多台 Filmetrics 的 F20 用于大学半导体制造教学实验室。 这不仅仅是因为它们快速、可靠和价格合理， 还因为它们简明易懂的设计，使它们成为光谱反射原理教学的理想平台。 (如果您想了解如何在教学实验室使用 F20，用关键字 Filmetrics 大学在 Google 内进行搜索）。 同时，由于全世界有几千台 F20 在运行，接受培训的学生们觉得培训对将来就业很有用。Filmetrics 对用于实验室课程的仪器提供特别优惠。8.卷式薄膜涂层Filmetrics 系统在测量聚合物薄膜和涂层厚度领域有广泛应用，我们还有专门为卷式薄膜设计的产品卷式薄膜应用在塑料薄膜的制造中有很多点，它们的厚度对薄膜质量至关重要。 这些点包括: 薄膜的总厚度 (高达400um)、混合挤压分层厚度和涂层在薄膜卷筒上的厚度。 对于特定 PET 上涂层，我们的F20-UV 能测量非常薄的层(~10 nm)， 甚至是高能等离子表面薄膜。 我们标准的 F20 能够测量市面上常见的涂层，例如 0.05 到 50 um 范围内的硬涂层。我们有一个庞大的聚合物薄膜折射率数据库，其中包括 PET、聚碳酸酯、醋酸纤维素和聚烯烃，以及更奇特的材料，诸如导电聚合物。这些应用中的每一项都是独特的挑战，而 Filmetrics 已经开发出软件、硬件和应用知识以便为用户提供合适的解决方案。测量范例用配有200微米小光斑光纤的F20测量厚度。在线实时和台式测量聚氯乙烯（PVC）挤压塑料薄膜。台式测量时SS-3标准平台用于单点连续测量。在线测量时镜头和RKM在卷式薄膜移动时进行测量。利用我们庞大的折射率数据库，PVC厚度很容易测得。F20还可以测量共挤薄膜厚度，以及各种材料，如PET涂层厚度。9.多孔硅近年来， 多孔硅的研发工作大量进行。 众多兴趣的原因是多孔硅在光学器件、气体传感器和生物医疗设备应用中极具发展前途。和大多数新的材料技术一样，多孔硅开发的部分挑战就是要找到确定各种材料参数的工具。 对于多孔硅而言，最基本参数就是薄膜层的厚度和孔隙度。其它参数关系到加工后的薄膜层，例如浸渍材料的比例或传感器内吸收分子的数量。 根据Filmetrics 已经开发出算法，只要单击鼠标就能揭示多孔硅的厚度、折射率和孔隙度。 这一算法在F20, F40, 和 F50 仪器内都是免费提供的。测量范例多孔硅的特点可由许多参数决定，但厚度和孔隙度是最主要的。一般来讲，非破坏性的方法，如重力方法被用来测量孔隙度，但这种方法的准确度非常低。Filmetrics F20, 用非破坏性的方法，测量多孔硅的厚度和光学特性。Filmetrics专有的算法，一键点击，可精确计算薄膜的孔隙率。10.制程薄膜Filmetrics 提供测量非金属半导体制程薄膜的全系列产品。F20是单点测量厚度和折射率的最经济有效的仪器。对于小光斑厚度测量 (1 微米或更小)，可以将F40固定到您的显微镜上。对于空白晶圆薄膜厚度测绘，可选用经济有效的F50。而F80则能测绘产品晶圆上的薄膜厚度。我们专利的厚度成像技术使我们的仪器易于设定、较少配方，并且提供更为可靠的模式识别和比传统薄膜计量工具更低的价格。 有独立或组合到其它设备的机型可供选择。

一、口溶膜性能介绍：口服制剂给药方便，生产成本低，往往是大多数医生和患者的用药途径，一般来说常见的固体口服制剂主要以片剂和胶囊为主。对口服制剂的服用，一般要求患者的自主意识高，但因其外形、大小、口味等引起的吞咽困难等问题，现已成为导致患者依从性差的主要原因中。尤其儿童在服用固体制剂时，吞咽困难可能会产生叶药现象或窒息危险心，随着儿童用药在国内关注度的提高，解决儿童不愿吞咽、依从性美等问题也成为制剂开发的重点。此外，一些自主行为不受控制的有精神系统障碍的患者，同样存在传统口服些问题，最初开发了口腔崩解片(OralDisintegratingTablets，ODTs)，其在口腔内能快速溶化和崩解。但是大部分口腔崩解片存在易碎、抗折性美笔缺点，对于包装、储存和运输都具有相对严苛的要求。故在此基础上进行剂型改良，进一步开发了口溶膜剂。 口腔速溶膜剂是一种将药物活性成分溶解或分散于膜材料中，加工成型的单层、多层或复合层的膜剂。一般放置在舌下、颊部等口腔黏膜处，唾液润湿30秒内即可崩解，适宜儿童、精神患者等具有主客观吞咽困难的病患使用。释放的药物成分，经口腔黏膜和食管组织进入血液，能有效避免受过效应，起效迅速。由于具备易于携带、口腔中迅速溶解等优点，口溶膜剂得到了快速发展，国内外已有多种口溶膜剂的上市产品。本文结合国内外口溶膜剂的开发及申报情况，从立题依据、处方工艺、质量控制等多方面对口溶膜剂的相关技术评价提出建议。 二、口溶膜厚度测试仪介绍：口溶膜厚度测试仪，上海保圣该产品可以测试口溶膜的所有物性指标，具有功能强大、检测精度高、性能稳定等特点，是高校、科研院所、食品企业、质检机构实验室等部门研究物性学有力的分析工具。 如拉伸性能测定，并将其置拉力试验机的两夹具中，进行测试计算后得到的抗拉强度和延伸率，还可以测试口溶膜的机械性能，如耐折度、断裂强度、断裂拉伸率、抗拉强度、弹性系数、接触角等性能参数。检测不同样品的硬度、脆性、弹性、回弹力、粘合性、粘结力、粘稠度、弯曲能力、破裂/断裂力、酥脆性、脆度、咀嚼性、胶粘性、拉伸强度、延展性等。耐折度代表了膜的脆性，即在同一位置折叠后断裂或出现明显折痕的折叠次数:断裂强度是指膜保持不被拉断的情况下，单位面积所能承受的拉力 断裂拉伸率是指膜受外力拉伸，断裂时增加的长度与原始长度的比值 抗拉强度是表示膜抵抗拉伸的能力，通常采用使膜产生2in/min的拉伸速率时的拉力来表示:接触角是表示膜与水浸润程度的参数一般可用外形图像分析法或称质量法进行测定。接触角越小表明膜越亲水，润湿越快 反之则越疏水，润湿越慢。

一、口溶膜性能介绍：口服制剂给药方便，生产成本低，往往是大多数医生和患者的用药途径，一般来说常见的固体口服制剂主要以片剂和胶囊为主。对口服制剂的服用，一般要求患者的自主意识高，但因其外形、大小、口味等引起的吞咽困难等问题，现已成为导致患者依从性差的主要原因中。尤其儿童在服用固体制剂时，吞咽困难可能会产生叶药现象或窒息危险心，随着儿童用药在国内关注度的提高，解决儿童不愿吞咽、依从性美等问题也成为制剂开发的重点。此外，一些自主行为不受控制的有精神系统障碍的患者，同样存在传统口服些问题，最初开发了口腔崩解片(OralDisintegratingTablets，ODTs)，其在口腔内能快速溶化和崩解。但是大部分口腔崩解片存在易碎、抗折性美笔缺点，对于包装、储存和运输都具有相对严苛的要求。故在此基础上进行剂型改良，进一步开发了口溶膜剂。 口腔速溶膜剂是一种将药物活性成分溶解或分散于膜材料中，加工成型的单层、多层或复合层的膜剂。一般放置在舌下、颊部等口腔黏膜处，唾液润湿30秒内即可崩解，适宜儿童、精神患者等具有主客观吞咽困难的病患使用。释放的药物成分，经口腔黏膜和食管组织进入血液，能有效避免受过效应，起效迅速。由于具备易于携带、口腔中迅速溶解等优点，口溶膜剂得到了快速发展，国内外已有多种口溶膜剂的上市产品。本文结合国内外口溶膜剂的开发及申报情况，从立题依据、处方工艺、质量控制等多方面对口溶膜剂的相关技术评价提出建议。 二、口溶膜厚度测试仪介绍：口溶膜厚度测试仪，上海保圣该产品可以测试口溶膜的所有物性指标，具有功能强大、检测精度高、性能稳定等特点，是高校、科研院所、食品企业、质检机构实验室等部门研究物性学有力的分析工具。 如拉伸性能测定，并将其置拉力试验机的两夹具中，进行测试计算后得到的抗拉强度和延伸率，还可以测试口溶膜的机械性能，如耐折度、断裂强度、断裂拉伸率、抗拉强度、弹性系数、接触角等性能参数。检测不同样品的硬度、脆性、弹性、回弹力、粘合性、粘结力、粘稠度、弯曲能力、破裂/断裂力、酥脆性、脆度、咀嚼性、胶粘性、拉伸强度、延展性等。耐折度代表了膜的脆性，即在同一位置折叠后断裂或出现明显折痕的折叠次数:断裂强度是指膜保持不被拉断的情况下，单位面积所能承受的拉力 断裂拉伸率是指膜受外力拉伸，断裂时增加的长度与原始长度的比值 抗拉强度是表示膜抵抗拉伸的能力，通常采用使膜产生2in/min的拉伸速率时的拉力来表示:接触角是表示膜与水浸润程度的参数一般可用外形图像分析法或称质量法进行测定。接触角越小表明膜越亲水，润湿越快 反之则越疏水，润湿越慢。

CHY-G 电子壁厚底厚测试仪适用于制药、食品、药品等行业测量玻璃瓶瓶底及瓶壁的厚度检测。仪器在传统的厚度测量仪基础上，增加了稳固瓶子的托盘，避免因瓶子摇摆不定带来的测量误差。产品特点◎ 7寸触控彩色液晶屏，微电脑控制，自动分组统计Z大值、Z小值、平均值。◎ 旋转角度位移实时显示，保证测量准确回位。◎ 满足玻璃瓶底厚和壁厚两种测试方式。◎ 测量平台新增托瓶装置支持上下调节，让测试轻松便捷。◎ 系统自带微型打印，上位机数据无限保存。◎ 专业电脑测试软件，曲线图显示，数据保存，EXCEL统计，打印A4试验报告。◎ 软件用户分级权限管理，数据统计及审计功能满足行业要求。 测试原理CHY-G 电子壁厚底厚测试仪采用容栅传感技术，通过测量表头接触瓶子与镖头对应。两个系统中容栅传感器采集响应的数据，进而通过系统计算出对应的瓶壁或瓶底的厚度值。 应用领域适用于制药、食品、药品等行业测量玻璃瓶瓶底及瓶壁的厚度。可满足测试输液瓶、啤酒瓶、口服液瓶、安瓿瓶、 西林瓶等产品壁厚底厚的测试。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准： YBB00332002 - 2015 、 YBB00332003 - 2015 、YBB00032004-2015、GB 1241590、GB 2641-90、GB 2639-90。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

产品简介：PTT-02薄膜厚度测试仪是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于塑料薄膜、薄片、纸张、橡胶、电池 隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。设备用途：塑料包装材料厚度是否均匀是检测其各项性能的基础。包装材料厚度不均，会影响到阻隔性、拉伸强度等性能；对 材料厚度实施高精度控制也是确保质量与控制成本的重要手段。技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 重复性 0.4μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)； 接触面积 50mm2(薄膜)； 200mm2 (纸张)；薄膜、纸张任选一种，非标可定制 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702产品应用：测厚仪适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。普创-PTT-02薄膜厚度测试仪 普创-PTT-02薄膜厚度测试仪

塑料瓶壁厚测试仪随着科技的不断发展，非破坏性检测技术在工业生产中发挥着越来越重要的作用。PET瓶壁厚测厚仪就是其中的一种，它通过无损地测量瓶壁厚度，为产品质量把关，有效提升了生产效率和产品质量。 PET瓶壁厚测厚仪的工作原理是通过测量仪表与玻璃表面接触，通过测量杆的位移来计算厚度。从而更好地控制生产工艺，预防不良品流出。 使用PET瓶壁厚测厚仪的好处多端。首先，它可以提高产品的质量，通过实时监控和调整生产工艺，确保瓶子的厚度符合要求，避免过薄或过厚导致的质量问题。其次，它还可以提高生产效率，减少检测和返工的时间，降低了生产成本。最后，通过这种无损检测方法，可以保护产品的完整性，使得检测和生产过程更加环保。 总的来说，PET瓶壁厚测厚仪是现代包装工业中不可或缺的一部分。通过它，我们可以确保产品的质量，提高生产效率，降低生产成本，同时保护产品的完整性。期待未来，测厚仪能进一步发展，为更多领域带来便利和效益。 技术参数 厚度范围 0-12.5mm 分度值 0.001mm 样品直径 高杆：5-230mm(其他尺寸可定制) 矮杆：5-25mm(其他尺寸可定制) 样品高度 高杆：10-320mm(其他尺寸可定制) 矮杆：0-100mm(其他尺寸可定制) 外形尺寸 高杆：230mmX180mmX600mm（长宽高） 矮杆：230mmX180mmX380mm（长宽高） 重 量 高杆：8Kg 矮杆：4Kg 环境温度 15℃-50℃ 相对湿度 80%，无凝露 电 源 电池 参照标准 GB12415-90、GB2641-90、GB2639-90、2015年国家药包材标准 产品配置 标准配置：主机、测量头 选用配置：测试软件、通信电缆 塑料瓶壁厚测试仪此为广告

玻璃瓶壁厚底厚测试仪 CHY-GCHY-G 电子壁厚底厚测试仪适用于制药、食品、药品等行业测量玻璃瓶瓶底及瓶壁的厚度检测。仪器在传统的厚度测量仪基础上，增加了稳固瓶子的托盘，避免因瓶子摇摆不定带来的测量误差。产品特点◎ 7寸触控彩色液晶屏，微电脑控制，自动分组统计Z大值、Z小值、平均值。◎ 旋转角度位移实时显示，保证测量准确回位。◎ 满足玻璃瓶底厚和壁厚两种测试方式。◎ 测量平台新增托瓶装置支持上下调节，让测试轻松便捷。◎ 系统自带微型打印，上位机数据无限保存。◎ 专业电脑测试软件，曲线图显示，数据保存，EXCEL统计，打印A4试验报告。◎ 软件用户分级权限管理，数据统计及审计功能满足行业要求。玻璃瓶壁厚底厚测试仪 CHY-G测试原理CHY-G 电子壁厚底厚测试仪采用容栅传感技术，通过测量表头接触瓶子与镖头对应。两个系统中容栅传感器采集响应的数据，进而通过系统计算出对应的瓶壁或瓶底的厚度值。应用领域适用于制药、食品、药品等行业测量玻璃瓶瓶底及瓶壁的厚度。可满足测试输液瓶、啤酒瓶、口服液瓶、安瓿瓶、 西林瓶等产品壁厚底厚的测试。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准： YBB00332002 - 2015 、 YBB00332003 - 2015 、YBB00032004-2015、GB 1241590、GB 2641-90、GB 2639-90。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。 测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

荷兰TQC Positector6000膜厚测试仪 Defelsko Positector6000涂层测厚仪是一款坚固耐用的全电子涂层测厚仪，它利用磁性和涡流原理来精确、快速地测量黑色和有色金属的涂层厚度。 特点大多数应用无需校准调整当测量值超过用户指定的极限时，Hi/Lo警报器会发出声光警报校准存储在传感器模块中 标准ISO 2808、ROCT P 51694 技术参数型号LD6057Positector 6000 - 标准型号（无探头）LD6058Positector 6000 - 高级型号（无探头）显示单色显示高反差可逆彩色显示存储250个数据100.000个数据数据传送USBUSB、Wifi、蓝牙

聚酰亚胺薄膜厚度测试仪_薄片厚度测试仪CHY-C2API膜（聚酰亚胺薄膜）的厚度一般在十几到几十微米之间，对该薄膜厚度的要求很高。PI膜多被应用于电子线路印刷方面，这类材料的价格普遍比较高，企业对PI膜厚度的控制检测也是重要检测项目之一。Labthink兰光研发生产的CHY-C2A测厚仪，可用于聚酰亚胺薄膜厚度的检测，测试分辩率高达0.1微米，完全满足聚酰亚胺薄膜对厚度高精度测试的要求。CHY-C2A型测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。聚酰亚胺薄膜厚度测试仪_薄片厚度测试仪CHY-C2A技术特征：严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输支持LystemTM实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告执行标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817聚酰亚胺薄膜厚度测试仪_薄片厚度测试仪CHY-C2A技术指标：负荷量程：0～2 mm（常规）　　　　　0～6 mm；12 mm （可选）分辨率：0.1 μm测量速度：10 次/min （可调）测量压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）　　　　　注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制电源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)净重：32kg仪器配置：标准配置：主机、标准量块一件选购件：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码、微型打印机如欲了解更详细信息，欢迎致电济南兰光机电技术有限公司0531-85068566垂询。

JB-5型比表面积测试仪，采用氮吸附动态法测定粉体比表面积，4个工作分析站，同时可以测试4种样品，适合产量大、品种多的生产企业。分析范围：0.0005m2/g～无上限；测试精度高、重现性好。采用双气源动态气相色谱法，以氦气作为载气，氮气为被吸附气体作为测试气体，对不同样品的固体表面进行分析，能快速测试各行业粉体、颗粒等材料的比表面积。 应用领域：各种粉末、颗粒的比表面积分析，比如：石墨、钴酸锂、氢氧化镍、锰酸锂、钛酸锂、碳酸锂、医药粉、催化剂、吸附剂、水泥、陶瓷原材料等。参数指标测量范围0.0005m2/g～无上限测量原理气相色谱、低温动态氮吸附原理参照标准ISO-9277/GB/T19587-2004等标准测试精度采用标准物质校准，测量误差≤±1%样品试管优质耐温GG材料的U型样品管测试气体高纯氦气作为载气，吸附气体为高纯氮气作为测试气体测试工位4个工作台，每次同时测4个样品测试方法单点测试、多点（BET）、对比测试。测试步骤将样品装入样品管，样品预处理后，在电脑控制下自动完成测试分析测试效率每测试一个样品约5～7分钟，换样测试操作方便，可以不关机连续测试分析软件软件功能齐全，实时显示测试结果，方便对比分析，保存或打印操作系统运行Windows XP/win7/ win10仪器尺寸700mm×300mm×600mm （因产品不定期升级，尺寸仅供参考）工作电源AC220V ±22V 50Hz±0.5Hz JB-5性能特点1、4个工作站，有效提高测试效率，每测试1个样5-7分钟左右，测试时间短效率高。2、高灵敏度探测器，工作温度低寿命长，探测器不会因气体成份的改变而损坏。3、高精密稳流稳压阀，保证了测试气体均匀稳定，保证测试结果准确。4、杜瓦瓶采用大口径容量500mL，真空玻璃内胆，保温时间长。5、软件功能齐全，方便测试结果对比分析，支持在线保存、查看或打印。6、仪器结构合理、性能稳定、精度高、测试速度快，对使用环境无特殊要求。

CHY-G 电子壁厚底厚测试仪适用于制药、食品、药品等行业测量玻璃瓶瓶底及瓶壁的厚度检测。仪器在传统的厚度测量仪基础上，增加了稳固瓶子的托盘，避免因瓶子摇摆不定带来的测量误差。产品特点◎ 7寸触控彩色液晶屏，微电脑控制，自动分组统计Z大值、Z小值、平均值。◎ 旋转角度位移实时显示，保证测量准确回位。◎ 满足玻璃瓶底厚和壁厚两种测试方式。◎ 测量平台新增托瓶装置支持上下调节，让测试轻松便捷。◎ 系统自带微型打印，上位机数据无限保存。◎ 专业电脑测试软件，曲线图显示，数据保存，EXCEL统计，打印A4试验报告。◎ 软件用户分级权限管理，数据统计及审计功能满足行业要求。 测试原理CHY-G 电子壁厚底厚测试仪采用容栅传感技术，通过测量表头接触瓶子与镖头对应。两个系统中容栅传感器采集响应的数据，进而通过系统计算出对应的瓶壁或瓶底的厚度值。 应用领域适用于制药、食品、药品等行业测量玻璃瓶瓶底及瓶壁的厚度。可满足测试输液瓶、啤酒瓶、口服液瓶、安瓿瓶、 西林瓶等产品壁厚底厚的测试。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准： YBB00332002 - 2015 、 YBB00332003 - 2015 、YBB00032004-2015、GB 1241590、GB 2641-90、GB 2639-90。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

【ITO薄膜测厚仪 电池薄膜厚度测定仪 接触式薄膜厚度测试仪】ITO薄膜是一种n型半导体材料，具有高的导电率、高的可见光透过率、高的机械硬度和良好的化学稳定性。它是液晶显示器（LCD）、等离子显示器（PDP）、电致发光显示器（EL/OLED）、触摸屏（TouchPanel）、太阳能电池以及其他电子仪表的透明电极最常用的薄膜材料。ITO薄膜是一种很薄的金属薄膜，在透明导电薄膜方面得到普遍的应用，具有广阔的前景。但薄膜的厚度是否均匀直接关系到企业的生产成本控制，所以对ITO薄膜厚度的高精度测量，是企业必须重视的检测项目之一。Labthink兰光研发生产的CHY-C2A测厚仪，采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。设备分辨率高达0.1微米，配置的自动进样系统，使用户可自行设置进样步距、测量点数和进样速度，大大提高了薄膜厚度测试效率。 ITO薄膜测厚仪技术特征：负荷量程：0～2 mm（常规）　　　　　0～6 mm；12 mm （可选）分辨率：0.1 μm测量速度：10 次/min （可调）测量压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）　　　　　注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制电源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)净重：32kg 以上【ITO薄膜测厚仪 电池薄膜厚度测定仪 接触式薄膜厚度测试仪】信息由济南兰光机电技术有限公司发布，如欲了解更详细信息，欢迎致电0531-85068566垂询！