荧光膜厚测试仪原理

仪器简介：适用于Windows2000或选择适用于Windows XP的真Win32位程序带在线帮助功能频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；计算机生成的刻度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光束的大小取决于测量的距离）图形化的用户界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中测量模式用于：单、双及三层镀层系统双元及三元合金镀层的分析和厚度测量双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度和合金成分都能被测量）能分析多达四种金属成分的合金；电镀液中金属离子含量；可编程的应用项图标，用于快速应用项选择完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估报告生成，数据输出语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文菜单中的某些选择项可授权使用注：基础WinFTM软件版本不允许创建新的应用，所要求的应用不得不在定货时明确。当校准标准块与仪器一起定购时，可在交货前预先创建应用。若没有定购校准标准块，则只可使用已预装的*无需标准块的测量应用。可选择的Super WinFTM软件（订货号602-950）提供了以下的附加功能：可随意创建测量应用可把每种测量模式的测量范围设定为想要的理论上的测量精度快速的频谱分析以决定合金成分技术参数：1.Fischerscope X-RAY XUL-XYm是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法；2.原始射线从下至上；3.X-射线管高压设定可调节至最佳的应用：50kV，40kV或30kV；4.视准器组：圆直径为0.3；在附加费用的基础上可选择0.05X0.3mm长方形视准器5.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）510 mm×455 mm×580 mm，重量大约为45kg；6.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）240 mm×360 mm×380mm）带向上回转箱门；7.手动X-Y工作台（平面板：360 mm宽×240 mm深），带50 mm的X方向和50 mm的Y方向运行.8.试件查看用标准的彩色摄像机；9.测量开始/结束按钮，及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。主要特点：FISCHERSCOPE XUL设计为X-射线管和探测器系统位于测量台下部。因此测量方向从下往上。这也就提供了一个重要的优点，尤其对于测量各种不同几何外形的小工件，例如螺丝、螺母、螺栓或各种各样的电连接器。在绝大多数情况下，被测试工件的表面可直接放置于测量台上，这就避免了在从上往下测量系统中需要的测量距离调整。测试点会自动地调整在正确的距离上。这就加快了测量的过程并且避免了由于工件定位不佳可能造成的测量误差。- FISCHE是唯一一家实现了这种设计的X-射线荧光镀层厚度测试仪器的制造厂商。与WinFTM V.6 软件及校样标准块Gold Assay配合，XUL 作为FISCHERSCOPE GOLDLINE ASSAY的一部分，可以完美地适应于快速，非破坏性和精确的测量珠宝及贵金属中金的成分。

仪器简介：适用于Windows2000或选择适用于Windows XP的真Win32位程序带在线帮助功能频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；计算机生成的刻度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光束的大小取决于测量的距离）图形化的用户界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中测量模式用于：单、双及三层镀层系统双元及三元合金镀层的分析和厚度测量双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度和合金成分都能被测量）能分析多达四种金属成分的合金和电镀液中金属离子含量；可编程的应用项图标，用于快速应用项选择完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估报告生成，数据输出语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文菜单中的某些选择项可授权使用技术参数：1.Fischerscope X-RAY XULM-XYm是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法；2.原始射线从下至上；3.微聚焦X-射线管高压设定可调节至最佳的应用：50kV，40kV或30kV；4.视准器组：圆直径为0.1/0.2；正方形0.05X0..05mm；长方形0.03X0.2mm5.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）480 mm×375 mm×580 mm，重量大约为45kg；6.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）240 mm×360 mm×460mm）带向上回转箱门；7.手动X-Y工作台（平面板：360 mm宽×240 mm深），带50 mm的X方向和50 mm的Y方向运行，8.试件查看用标准的彩色摄像机；9.测量开始/结束按钮，及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。主要特点：FISCHERSCOPE XUL设计为X-射线管和探测器系统位于测量台下部。因此测量方向从下往上。这也就提供了一个重要的优点，尤其对于测量各种不同几何外形的小工件，或各种各样的线路板、引线框架以及电连接器的微小部位测量。在绝大多数情况下，被测试工件的表面可直接放置于测量台上，这就避免了在从上往下测量系统中需要的测量距离调整。测试点会自动地调整在正确的距离上。这就加快了测量的过程并且避免了由于工件定位不佳可能造成的测量误差。- FISCHE是唯一一家实现了这种设计的X-射线荧光镀层厚度测试仪器的制造厂商。与WinFTM V.6 软件及校样标准块Gold Assay配合，XUL 作为FISCHERSCOPE GOLDLINE ASSAY的一部分，可以完美地适应于快速，非破坏性和精确的测量珠宝及贵金属中金的成分。XULM使用了高能量的X射线管，即便是测量微小面积时也能有很强的X射线照射到被测样品上，以保证测量的精确度。

包装袋厚度测试仪_薄膜测厚仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。包装袋厚度测试仪_薄膜测厚仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

薄膜测厚仪 CHY-CA 纸张厚度测试仪 膜厚仪 厚度仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。薄膜测厚仪 CHY-CA 纸张厚度测试仪 膜厚仪 厚度仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。 应用领域薄膜、薄片、隔膜：适用于薄膜、薄片、隔膜的厚度测试纸张、纸板：适用于纸张、纸板的厚度测试箔片、硅片：适用于箔片、硅片的厚度测试金属片：适用于金属片的厚度测试纺织材料：适用于纺织材料的厚度测试固体电绝缘体：适用于固体电绝缘体的厚度测试无纺布材料：适用于无纺布材料的厚度测试，如尿不湿、卫生巾片材的厚度测试量程扩展至5mm， 10mm：适用于无纺布材料的厚度测试，如尿不湿、卫生巾片材的厚度测试曲面测量头：满足特殊要求的厚度测试薄膜测厚仪 CHY-CA 纸张厚度测试仪 膜厚仪 厚度仪技术参数测试范围：0 ～ 2 mm（常规）、0 ～ 6 mm、10 mm（可选）分辨率：0.1 μm测量速度：10 次/min （可调）测量压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制进样步距：0 ～ 1000 mm进样速度：0.1 ～ 99.9 mm/s电源：AC 220V 50Hz外形尺寸：400mm (L)×310 mm (W)×460mm (H)净重：32 kg测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

为了保证功能涂层在任何工作环境中都能发挥其作用，油漆涂装技术正在朝着精细化控制优化生产工艺和确保经济可持续发展方向努力。例如：家电行业希望油漆涂层更加耐用，能够适应各种各样家用电器和厨房器具的要求；而建筑行业则期望粉末涂层能够耐用且适应不同环境，特别是防腐涂料，期望能够经受得住太阳暴晒和风雨冲刷。过薄涂层无法保证涂料充分发挥功能作用；过厚涂层则会造成表面不平整，导致光泽度不同；对于机械阻力而言，越厚涂层硬度越大，则越容易断裂，因此生产厂家必须严格控制涂装工艺质量，令产品膜厚快速精准控制在合格范围内，从而满足不同的使用需求。目前市场上普遍使用的是几十年前开发的接触式磁性测厚仪和涡流测厚仪，或者是超声波测厚仪，这些测厚仪器虽然是非破坏式测厚，但是只能等待涂层固化后才能测量膜厚，无法在湿膜状态下测出固化后干膜厚度。为了更好实现测湿膜直接显示干膜厚度功能，瑞士涂魔师非接触无损测厚仪应运而生。涂魔师膜厚测量仪是一款非接触无损涂层测厚仪，不管漆膜是烘干后还是未烘干，粉末涂料是固化前还是固化后，涂魔师都可以轻松测出其干膜厚度。涂魔师膜厚测量仪工作原理涂魔师膜厚测量仪采用ATO光热法原理和数字信息处理技术(DSP），通过计算机控制光源以脉冲方式加热待测涂层，其中内置的高速红外探测器从远处记录涂层表面温度分布并生成温度衰减曲线。表面温度的衰减时间取决于涂层厚度及其导热性能。最后利用专门研发的算法分析表面动态温度曲线计算测量待测的涂层厚度。涂魔师膜厚测量仪优势---精准协助厂家提高产线的喷涂效率及产品合格率湿膜状态下测出干膜厚度涂魔师膜厚测试仪能在涂层烘干前测出干膜的真实厚度，并实时直接传入ERP/MES系统，可全程数据化监控，也便于下次调用生产或回溯分析。自动监控，减少次品率全程数据化追溯涂装工艺，有效协助涂装部门在生产过程中及时发现喷涂厚度问题，马上调整设备参数，优化工艺过程和消耗品的更换频率。快速研发，提高质量研发中心不必等待涂层干透，快速确保样品干膜厚度达标而做出测试样品，大幅缩短研发周期，助力制定新的质量标准、生产工艺，使产品更加有竞争力。喷涂厂家使用涂魔师膜厚测量仪测量未固化涂层即时得出固化后涂层厚度，并且全程能实现生产工艺的统计及不间断追溯，高效监控膜厚真实情况，进行数据的不间断监控记录和智能统一管理。翁开尔是涂魔师中国总代理，欢迎致电【400-6808-138】咨询关于涂魔师全自动涂层测厚仪更多产品信息、技术应用和客户案例。

Positector 6000膜厚测试仪Defelsko公司的Positector 6000涂层测厚仪是一款坚固耐用的全电子涂层测厚仪，它利用磁性和涡流原理来精确、快速地测量黑色和有色金属的涂层厚度。Positector 6000用于各个行业部门。优势● 大多数应用无需校准调整● 当测量值超过用户指定的极限时，Hi/Lo警报器会发出声光警报● 校准存储在传感器模块中标准ISO 2808、ГОСТ Р 51694应用● 金属涂层● 涂料技术参数显示（高级）高反差可逆彩色显示显示（标准）单色显示数据传送（高级）USB, Wifi、蓝牙数据传送（标准）USB存储（高级）100.000个数据存储（标准）250个数据

荧光寿命测试仪（Quantaurus&mdash Tau）Quantaurus-Tau是一套测试ps至ms量级荧光寿命的系统。它的操作十分简单，只需将样品放入样品腔，在软件中输入几个测试条件即可很快得到荧光寿命及光致发光光谱。一般典型实验可在60秒内得到分析结果，最高时间分辨率可达30-50ps. 应用领域荧光寿命测试有着非常广的应用范围。典型应用包括研究有机金属化合物分子内或分子间的电荷运动机能量转移，以及在有机电子发光器件开发中材料的荧光及磷光寿命测试，荧光蛋白中的FRET（荧光共振能量转移）以及太阳能电池及LED行业中的半导体化合物的测试。参数特性利用单光子计数技术实现高灵敏度，高速度的测试时间分辨率优于50ps可以测试低温液体样品（-196℃）荧光各向异性时间分辨测试荧光至磷光寿命测试集成化设计，简便化操作，性能稳定产品原理从有机材料或荧光探针中得到的荧光光谱（峰值波长及荧光强度等）是控制和评估材料的功能及特性的重要参数。然而，荧光光谱通常显示的是时间积分的结果，因此，当材料包含多种物质及活性元素时，这些物质及元素的荧光光谱只能以累积的形式表现出来。在这种情况下进行分析的一个有效手段是通过使用时间轴参数来观察发光的动态信息。这种方法通常也被称为荧光寿命测试，其中物质被脉冲光源激发并回到基态的过程可以在ps至ms的时间尺度内进行测试，这样甚至可以得到在相同波长及浓度下的多个不同的荧光寿命。

GB/T6672机械测量法薄膜厚度测量仪_膜厚计膜厚测试仪是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪，专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。可选配自动进样机，更加准确、高效的进行连续多点测量。设备技术特征：1、专业——Labthink在不断的创新研发和技术积累中推陈出新，使用超高精度的位移传感器、科学的结构布局及专业的控制技术，实现先进的测试稳定性、重复性及精度。2、高效——采用高效率、自动化结构设计，有效简化人员参与过程；智能的控制及数据处理功能，为用户提供更便捷可靠的试验操作和结果处理。3、智能——搭载Labthink新一代版控制分析软件，具有友好的操作界面、智能的数据处理、严格的人员权限管理和安全的数据存储；支持Labthink特有的DataShieldTM数据盾系统（可选配置），为用户提供极为安全可靠的测试数据和测试报告管理功能。GB/T6672机械测量法薄膜厚度测量仪_膜厚计膜厚测试仪测试原理：将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。执行标准：ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702中国《药品生产质量管理规范》（GMP）对软件的有关要求（可选配置）GB/T6672机械测量法薄膜厚度测量仪_膜厚计膜厚测试仪应用材料：基础应用：薄膜、薄片——各种塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度测定纸——各种纸张、纸板、复合纸板等的厚度测定扩展应用：金属片、硅片——硅片、箔片、各种金属片等的厚度测定瓦楞纸板——瓦楞纸板的厚度测定纺织材料——各类纺织材料如编织织物、针织物、涂层织物等的厚度测定非织造布——各类非织造布如尿不湿、卫生巾、医用口罩等的厚度测定其它材料——固体电绝缘材料、胶黏带、土工合成材料、橡胶等的厚度测定GB/T6672机械测量法薄膜厚度测量仪_膜厚计膜厚测试仪技术指标：① C640M型号参数：测试范围（标配）：0～2mm分辨率：0.1μm 重复性：0.8μm测量范围（选配）：0～6、0～12mm测量间距：0～1000mm（可设定）进样速度：1.5～80mm/s（可设定）附加功能：自动进样机：可选配置DataShieldTM数据盾：可选配置GMP计算机系统要求：可选配置测量方式：机械接触式测量压力及接触面积：薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2纸张：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2电源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz外形尺寸：370mm（L）× 350mm（W）× 410mm（H）净重：26kg② C640H型号参数：测试范围（标配）：0～2mm分辨率：0.1μm 重复性：0.4μm测量范围（选配）：0～6、0～12mm测量间距：0～1000mm（可设定）进样速度：1.5～80mm/s（可设定）附加功能：自动进样机：可选配置DataShieldTM数据盾：可选配置GMP计算机系统要求：可选配置测量方式：机械接触式测量压力及接触面积：薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2纸张：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2电源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz外形尺寸：370mm（L）× 350mm（W）× 410mm（H）净重：26kg

薄膜厚度测试仪 薄片厚度测量仪 厚度测量仪 厚度仪 测厚仪 _______________ 产品详情 ______________ 薄膜厚度测试仪是用机械测量法测定塑料薄膜和薄片厚度的仪器，但不适用于压花的薄膜和薄片。 产品特点薄膜厚度测试仪外型美观，结构科学合理，使用可靠. 产品应用薄膜厚度测试仪主要用于塑料薄膜、薄片、纸张、纸板的厚度测试，还可扩展用于箔片、硅片、金属片的厚度测试. 技术标准薄膜厚度测试仪参照执行标准GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度的测定—机械测量法》，该标准修改采用标准ISO4593—1993《塑料—薄膜和薄片—用机械扫描法测定厚度》. 产品参数测量范围：0~10mm分度值0.001mm；测头端部的力：（1）上测头的测量面为￠6mm平面，下测头为平面时，测头对试样施加的力为0.5~1.0N；（2）上测量面为（R15—R50）mm曲率半径，下测头为平面时，测头对试样施加的力为0.1~0.5N. 产品配置主机一台 济南恒品专业生产纸制品包装检测仪器，印刷包装检测仪器，塑料包装检测仪器，各种试验设备及产品。 其它产品：纸箱抗压试验机，纸张耐破度仪，电子压缩试验仪，电子拉力试验机，密封性测试试验机，试验机，捆绑机，打包机，厚度测定仪，白度色度测定仪，白度测定仪，可勃吸收性测定仪，可勃取样刀，层间结合强度测定仪，纸浆打浆度测定仪，定量取样刀，MIT耐折度测定仪，纸板挺度测定仪，纸板挺度测定仪，数控电动离心机，瓦楞纸板边压（粘合）试样取样刀，环压取样刀，平压取样器，边压导块，剥离试验架，环压盘，瓦楞原纸起楞器，纸张柔软度测定仪，纸板戳穿强度测定仪，纸张水分仪，单臂包装跌落试验台，双翼跌落试验机，纤维标准解离器型，胶带初性测试仪，持粘性测试仪，环形初粘性测试仪，电子剥离试验机.，胶粘剂拉伸剪切试验机，密封性测试仪，摩擦系数测定仪，透光率雾度测定仪，干燥箱，油墨印刷摩擦试验机，反压高温蒸煮锅，正压密封试验仪、瓶盖扭矩测定仪、热封试验仪。标准光源，光泽度仪等。

QM201C 荧光砷汞测试仪 产品介绍QM201C荧光砷汞测试仪是用来检测痕量汞元素和砷元素的专用测定仪器。它操作简易，灵敏度高，采用半自动的蠕动泵进样系统，或采用我公司传统的外gua式反应瓶装置，该装置易清洗，可靠性高。可以方便、快速的对液体试样中微量汞和微量砷进行测定，也能对经过处理转化为溶液的固体及气体试样进行测定，例如头发、鱼鲜、肉类、谷类、原油、土壤、大气等。该仪器可广泛应用于环境监测、卫生防疫、食品检验、冶金地质、进出口商检、科学研究及厂矿企业等各个部门对各种样品中微量汞和微量砷的测定。工作环境1.远离强电磁场及冲击振动源2.避免灰尘，潮湿和腐蚀性气体3.避免阳光直射4.使用温度范围：5～35℃5.相对湿度：≤90％技术参数测量范围汞：0.15~100μg/L 砷：1.5~1000μg/L检测下限汞：＜0.05μg/L 砷：＜0.5μg/L标准曲线的相关系数＜0.997重复性、变异系数＜5%选配件测硒模块，软件 青岛路博环保提供产品的售后及技术支持！

荧光紫外气候老化箱概述：紫外线会造成曝露在户外的耐用材料的光降解。 QUV/spray紫外荧光老化测试仪的紫外荧光灯能模拟关键的短波紫外线,真实地再现由阳光造成的物理性能损伤。 损伤类型包括褪色、光泽消失、粉化、龟裂、开裂、模糊、起泡、脆化、强度减小和氧化。荧光紫外气候老化箱功能温度控制所有的QUV/basic荧光紫外气候老化箱都能精确控制温度，以提高精度和加速测试进程。尽管温度通常不影响主要的光化学反应，但会影响任意一个后续反应的速度。因此，QUV/basic试验机的温度控制能力在紫外线曝露测试时是必不可少的。潮湿模拟露水，而不是雨水，是造成户外潮湿的主要原因。QUV/spray紫外耐候试验箱的冷凝系统尽可能真实地模拟了这种户外潮湿的影响。冷凝过程中，会自动净化水盘中的自来水。这是因为样品上水的蒸发和冷凝过程其实就是一个去除所有杂质的蒸馏过程。多用途样品安装标准样品支架可调整为任何厚度，尽可能高为20mm（3/4英寸），并允许快速安装样品。 护环可很好地压紧样品，不需要将测试样品削减到接近容纳范围。此外，自定义支架可安装各种产品，如镜头、 较大的样品、 和3D部件。控制及可选软件目的在于让功能设定和使用都较为容易，QUV/basic控制器包括完整的自我诊断错误检查。控制器持续监控着所有系统的状态和性能。有需要的话，它也能显示简单的警告信息、常规服务提醒或执行安全关机。质量体系需要测试条件的证明文档，因此每个荧光紫外气候老化箱都配有以太网连接。可选的“虚拟带状”PC软件允许用户自动记录曝露条件和从QUV/basic试验机直接传输数据到基于Windows系数的计算机。 数据也可以通过电子邮件直接发送到Q-Lab技术支持台，以寻求专家对故障进行诊断和排除。 灯管比起其他类型的灯管（包括氙弧灯管），荧光紫外灯管更加稳定。 光谱功率分布（SPD）不会随灯管老化而发生变化，甚至使用高达5000小时也不会。 这样就能得到更多的可重复的测试结果，同时减少更换灯管，并降低运营成本。Q-Lab生产的紫外线灯管，比老化行业的所有其他厂家的总和还要多。 Q-Lab的灯管是在我们40多年的经验与荧光紫外技术的基础上，按我们自己特有的规格专门设计的。 我们进行了行业里尽可能严格的质量控制测试。 结果证明，QUV/basic测试仪一如既往地提供了尽可能 一致的、稳定的光谱辐照度校准CR10 与 UVA-340、UVA-351或UVB-313灯管一起使用CR10/cw 辐照度计 仅与冷白灯管一起使用CR10和CR10/cw辐照度计需每年一次返回到Q-Lab进行重新校准，所需费用很少。我们的校准实验室已通过美国实验室认证协会(A2LA) 或 UKAS的ISO 17025认证。校准起源于美国国家标准和技术研究院(NIST)。多用途样品安装标准的样品支架可根据不同厚度所调整，尽可能大厚度为20mm(3/4英寸)，并方便快速样品安装。卡环可很好地压紧样品，不需要将测试样品削减到接近容纳范围。此外，特殊支架可安装各种产品，如镜头、较大的样品和3D部件。也有试样瓶夹具、纺织品夹具和样品的安装。节省空间框架在狭小的实验室中，可用节省空间框架将QUV紫外线人工加速老化试验箱堆叠为两层。QUV紫外线人工加速老化试验箱节省空间样品支架

仪器简介：WinFTMV6 是一套专门为解决含量分析和镀层测量的软件WinFTMV6可在WindowsTM9X//NT/XP平台上运行；因为透过简单操作及准确的分析结果，所以便能够提升生产力。WinFTMV6还有以下的特色……特大屏幕能提供画中画显示分析结果，光谱及彩色影像图，图像亦可以用JPG格式储存。仪器能同时间分析最多24种不同的元素；根据可检定的元素范围由x ppm到100%，所以原子序号可由氯Cl=17）到铀（Uranium Z=92）。可同时测量23层不同元素镀层的厚度。共有1024频道显示清晰光谱，可随意选用不同颜色及储存光谱图，方便日后加以分析。因为不同受检样本的光谱可以进行比较，所以便快捷和容易地得出两种不同样本含量的分别。快速的频谱分析以决定合金成分。可以随意创建元素分析应用程式。透过预先设入的14种纯元素作为资料库，仪器便可以不需用标准片调校亦能以基本系数（FP）进行分析；如果输入已知的元素更可快捷地得出含量结果。可同时接受最多10种不同含量的标准片来调校仪器，所得出的结果更精确及可信赖。用滑鼠选择已经储存的应用档案后，便可即时进行含量分析。测量样品后，可透过“analysis”功能按键，仪器便会自动侦测内里的元素含量。自带SOFTWARE PDM（Product Data Management产品数据管理）提供了以下的附加功能：通过可定义的文件夹实现产品文件管理（产品文件包括应用，数据呈现方式，打印形式定义，输出模板设置和记事簿）。打印形式可由用户随意设定，例如输出公司标题之类的小图片。包括字体管理以及随意定义页面设置。单个的应用可连接至任何的产品文件（这种连接大大减少了校验和标准化所需的步骤数）。使用条形码标签以及可选择的条形码读入器键盘，可实现产品自动选择。允许仅对选择的数据进行评估。从选择的数据块中进行单组读数的数据输出。FISCHERSCOPE X-RAY XDVM-u可以透过RS232接口、磁碟片或网络卡将所要的资料汇出到其他电脑进行统计。XYZ运行程序功能：随机的单个点，第一点和最后一点以及距离固定的中间点，列阵点，鼠标左键选点功能，右键可作为控制键。语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文技术参数：1.涂镀层厚度的测量采用X-射线荧光测试方法，符合技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568；2.测量箱结构坚固，使用合格的机械和电气部件；3.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）720 mm×660 mm×950 mm，重量大约为90kg；4.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）140mm×560 mm×530 mm，带向上回转箱门；5.原始射线从上至下；6.高性能的X-射线管，高压及电流设定可调节至最佳的应用，高压设定：50kV，40kV或30kV；阳极电流：连续可调至0.8mA；7.最小测量点: 50×100um8.聚焦范围: 2.5 mm9.自动的X-射线光束十字星校准。该特性在测量极小工件时非常有用；10.高能量解像度的半导体接受器带帕耳帖冷却；内部光谱处理的ADC的通道为4096，压缩为1024个输出通道；；11.快速编程，高精确度，电机带动的XY工作台运行范围：X=250mm， Y=220mm. ；定位精度0.005mm； 工作台的控制可通过鼠标点选或操作杆工作台面板可自动移出至工件放置位置；定位容易；12.电机驱动及高度（Z-轴）Z-轴运行=95mm；13.高分辨率的彩色摄像头用于测试工件的定位及查看；可选择的双重放大率30-1108倍，带十字星及度量网格以及测试点尺寸指示；14.测量箱键盘适合于最常用的测量功能和程序选择，操纵杆控制X-Y工作台，钥匙控制X-射线头的缓慢或快速的上下移动，LED状态指示灯。主要特点：新型号的FISCHERSCOPE X-RAY XDVM-µ 是一款可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。它的出现解决了分析和测量日趋小型化的电子部件，包括线路板，芯片和连接器等带来的挑战。这种创新技术的，目前正在申请专利的X-射线光学可以使得在很小的测量面积上产生很大的辐射强度，这就可以在小到几?reg 微米的结构上进行测量。在经济上远远优于多元毛细透镜的Fischer专有X-射线光学设计使得能够在非常精细的结构上进行厚度测量和成分分析。XDVM-µ 可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构。具有强大功能的X-射线XDVM-µ 带WinFTM V6 软件可以分析包含在金属镀层或合金镀层中多达24种独立元素的多镀层的厚度和成分。

薄膜薄片厚度测量仪 GB/T 6672接触式测厚仪 高精度膜厚测试仪薄膜薄片厚度测量仪 GB/T 6672接触式测厚仪 高精度膜厚测试仪是一种专门用于测量薄膜、薄片等材料厚度的仪器，广泛应用于塑料薄膜、纸张、金属箔、硅片、电池电极等材料的厚度检测。测试原理通过位移传感器测试薄膜材料的厚度。测量头在一定压力下接触薄膜表面，传感器读取测量头的位移变化，从而得出薄膜的厚度值。薄膜薄片厚度测量仪 GB/T 6672接触式测厚仪 高精度膜厚测试仪产品特征严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择可选系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果5寸触摸屏操控，方便用户进行试验操作和数据查看标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据薄膜薄片厚度测量仪 GB/T 6672接触式测厚仪 高精度膜厚测试仪技术参数菜单式界面: PVC操作面板分 辨 率: 0.1μm测量范围: 0～2mm；0～6mm，12mm（可选）测量速度: 10次/min（可调）测量压力: 17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）接触面积: 50mm² （薄膜）；200mm² （纸张）电 源: AC 220V 50Hz外形尺寸: 300 mm(L)×275 mm(B)×300 mm(H)净 重: 33kg执行标准: GB 6672、GB/T 451.3-2002等仪器配置: 主机、微型打印机、标准量块等测试标准该仪器符合多项国家和国际标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

SSP9511荧光材料余辉特性测试仪一、仪器简介SSP9511荧光材料余晖特性测试仪按照DIN 67 510 标准(德标)和GB/T24981.2（国标）设计制作，主要用于荧光材料余辉特性的测试，功能齐全，性能稳定可靠，测量报表完全与国际接轨。测试范围广泛，包括各种余辉发光材料及制品（如颗粒，薄膜，涂料，瓷砖、搪瓷、铭牌等）。二、主要功能 ◆ 测试各种荧光材料的余辉特性，包括发光亮度、余辉时间及余辉亮度曲线。◆ 通过软件设定测量参数，全自动测量过程，操作简单。◆ 自动生成报表，格式可以和国际对比，可根据需要保存测量数据并打印报表。 三、技术参数 仪器标准： 德国DIN 67 510 Part 1激发光源： D65或UV；50lx～2000lx可调探测器： V(λ)一级校准，HAMAMATSU滨松高精度探测器测量方式： 全自动激发时间设定范围： 0.5min～100min测量时间设定范围： 20min～24hour亮度测量范围： 0.1mcd/m2～200cd/m2报表格式： 中英文可选，国际通用格式工作环境： 室内使用环境温度： 10℃～ 35℃主机机械尺寸： 500*328*250 （mm）主机重量： 18 kg 四、配置说明 基本配置：SSP9511主机、探测器系统、激发光源、系统软件光盘、粉料样品池、粒料样品池、电源线、串口连接线。技术要点问答：1 仪器的设计标准是什么答：德国标准DIN 67510-2-2002 ENG DIN和参考国标GB/T2498.2-20102 科研版本和工业版本的差别在那里X答 工业版本的样品池比较大 按照问题1所提的标准设计 ，科研版本用量比较少 ，样品次为非标小样品池。工业夜光材料比较成熟 亮度比较高，比较容易测试。科研用的探测器会比工业型的更加灵敏。3 激发的光源用的是什么答： 现在标准光源用的是D65标准荧光灯 ，可以根据需要更换成紫外激发或者氙灯激发。4 测试的流程怎么样答 ：大多数测试流程由计算机控制 。测试一次的流程：测试激发光源照度大约在1000lux附近-装入测试样品-设置点亮时间 - 设置测试时间-点击余辉特性测试 -根据程序测试自动的开灯 关灯 采集数据 软件上显示-自动保存数据-结束测试5 有哪些可以材料可以测试答 ：夜光的指示牌 长余辉粉体 长余辉膜 发光陶瓷 夜光纺织品 科研合成夜光材料等 具有蓄光的性能的材料。

仪器简介：适用于Windows2000或Windows XP的真Win32位程序带在线帮助功能。频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的产品。能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；计算机生成的刻度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光束的大小取决于测量的距离，见背面）图形化的用户界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中对试件与视准器之间的距离进行视觉控制的校正（DCM方法）范围可达80mm(3.2〞)测量模式用于：单、双及三层镀层系统双元及三元合金镀层的分析和厚度测量双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度和合金成分都能被测量）能分析多达四种金属成分的合金，包括金的开数分析的特殊功能。对电镀溶液的分析能力可达包含一或二种阳离子的电镀液。可通过RS-232接口或使用网络环境控制命令设定数据的输出和输入以实现系统的远程控制。通过使用可选择的带合成条形码读入器的键盘实现产品选择。可编程的应用项图标，用于快速产品选择。完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估。报告生成，数据输出语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文菜单中的某些选择项可授权使用技术参数：1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法；2.原始射线从上至下；3.X-射线管高压设定可调节至最佳的应用：50kV，40kV或30kV；4.单个0.3mm直径(12 mils)的标准视准器，在附加费用的基础上可选择0.05×0.3 mm(2×12 mil)带槽视准器；或直径0.1mm 或直径0.2mm；或0.4X0.4mm方形。5.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）650 mm×570 mm×740 mm（26〞×22〞×29〞），重量大约为105kg（120lbs）；6.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）300 mm×460 mm×500 mm（12〞×18〞×20〞）带向上回转箱门；7.嵌入式固定的测试件支承板，需要时可移去以适用于大件的超出尺寸的测试工件。7.从X-射线头部（X-射线管，成比例的反射接收器及视准器）至测试件平面支承板有三种可选择的固定距离。需要的设定距离（见背面）必须在定货时明确（标准设定：中间位置）8.试件查看用彩色摄像机9.带有LED状态指示灯的测量开始/结束按钮与测试箱集成在一体主要特点：FISCHERSCOPE XDL-B是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。XDL-B 的特色是独特的距离修正方法。DCM方法（距离控制测量）自动地修正在不同的测量距离上光谱强度的差别。对于XDL-B 带测量距离固定的X-射线头，这一特性提供了能在复杂几何外形的测试工件和不同测量距离上实现简便测量的可能性。特别针对微波腔体之类样品的底部镀层厚度进行测量。

ATP(Adenosine Triphosphate)，中文名为腺嘌呤核苷三磷酸，又叫三磷酸腺苷。它普遍存在于细菌等微生物细胞内，ATP是微生物新陈代谢的能量物质。ATP生物发光法是利用ATP试剂中若干组分如荧光素-荧光素酶等与被测样本反应产生光子，再利用便携式ATP生物荧光测试仪来捕捉和检测发光值，由于被测样本所含细菌等微生物的数量与所含的ATP值、以及ATP值与发光值之间存在一定的函数关系，因此通过检测发光值即能得到被测标本所含细菌等微生物含量。应用范围及意义：便携式ATP生物荧光测试仪用途广泛，可用于：食品、医疗卫生、医药、日化、造纸、工业水处理、国防以及环保、水政、海关出入境检疫及其他执法部门等多种行业。◎食品行业可快速检测食品、饮料、餐饮业生产环境中的细菌、微生物和食品残渣，十分适合HACCP系统的清洁度检测。如检测食品生产线及菜板、菜刀、厨房、食品操作台等处的清洁度等；◎日化产品制造业可检测日化产品的菌落总数。如检测化妆品、洗发水、牙膏等出厂时菌落总数是否在国家卫生安全标准内，从而有效控制品质，降低返厂率。本产品的及时检测特性，还可缩短出货前检测时间及制造周期，从而降低企业库存压力，达到节省成本的目的。◎医疗卫生、感染控制及医药研究制造业可对医疗环境、工作平台（器械表面、内窥镜等）及时评估；可用于血、尿等样品中污染微生物量的检测。◎国家执法机构可应用于SFDA食品药品及卫生监督，口岸监察，企业监察，检查；现场检测和处理紧急突发事件。◎环保及其他可快速评估水样或废水的化学和生物污染；可用于土壤、活性污泥等样品中污染微生物量的检测；其他场合微生物检测。技术参数：☆检测精度：1*10-16mole atp☆检测范围：1－9999RLUs（可以定制1-999999）☆检测时间：10秒☆重复性：≤±5% ☆采样点设定：不低于2000个☆存储功能：不低于20000个检测结果☆接口技术：USB、蓝牙、wifi（选配）☆结果表述：可根据RLU值采用预置公式计算后显示级别。

货期&价格请与咨询客服为准！谢谢！ 1. Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探测器），测量精度和测量结果业界。 2. 采用了FlexFP-Multi技术，无论是生产过程中的质量控制，还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检，我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。 3. Ux-720微移动平台和高清CCD搭配，旋钮调节设计在壳体外部，观察移动位置简单方便。 4. X射线荧光技术测试镀层厚度的应用，提高了大批量生产电镀产品的检验条件，无损、快速和更准确的特点，对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。 5. Ux-720镀层测厚仪采用了华唯最新专利技术FlexFp -Multi，不在受标准样品的限制，在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度，测试结果经得起科学验证。 6. 样品移动设计为样品腔外部调节，多点测试时移动样品方便快捷，有助于提升效率。设计更科学，软硬件配合，机电联动，辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。 7. 软件操作具有操作人员分级管理权限，一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆，测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。 测厚技术：X射线荧光测厚技术测试样品种类：金属镀层，合金镀层测量下限：0.003um测量上限：30-50um（以材料元素判定）测量层数：10层测量用时：30-120秒探测器类型：Si-PIN电制冷 探测器分辨率：145eV高压范围：0-50Kv，50WX光管参数：0-50Kv，50W，侧窗类；光管靶材：Mo靶；滤光片：专用3种自动切换；CCD观察：260万像素微移动范围：XY15mm输入电压：AC220V，50/60Hz测试环境：非真空条件数据通讯：USB2.0模式准直器：Ø 1mm，Ø 2mm，Ø 4mm软件方法：FlexFP-Mult工作区：开放工作区 自定义标准配件：样品固定支架1支窗口支撑薄膜：100张保险管：3支计算机主机：品牌+双核显示屏：19寸液晶打印机：喷墨打印机 可选配件：可升级为SDD探测器 可以实现全自动一键操作功能，准直器自动切换，滤光片自动切换，开盖随意自动停，样品测试照片自动拍照、自动保存，测试报告自动弹出，供应商信息自动筛选和保存。

仪器简介：适用于Windows2000或选择适用于Windows XP的真Win32位程序带在线帮助功能频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；计算机生成的刻度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光束的大小取决于测量的距离）图形化的用户界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中对试件与视准器之间的距离进行视觉控制的校正（DCM方法）范围可达80mm(3.2〞)测量模式用于：单、双及三层镀层系统 双元及三元合金镀层的分析和厚度测量 双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度 和合金成分都能被测量)能分析多达四种金属成分的合金，包括金的开数分析的特殊功能。对电镀溶液的分析能力可达包含一或二种阳离子的电镀液。可通过RS-232接口或使用网络环境控制命令设定数据的输出和输入以实现系统的远程控制。通过使用可选择的带合成条形码读入器的键盘实现产品选择。可编程的应用项图标，用于快速产品选择。完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估。报告生成，数据输出语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文菜单中的某些选择项可授权使用技术参数：1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法；2.原始射线从上至下；3.微聚焦X-射线管高压设定可调节至最佳的应用：50kV，40kV或30kV；4.标准视准器组：圆形0.1/0.2/0.3和长方形0.05X0.3mm；5.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）650 mm×570 mm×740 mm（26〞×22〞×29〞），重量大约为105kg（120lbs）；6.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）300 mm×460 mm×500 mm（12〞×18〞×20〞）带向上回转箱门；7.嵌入式固定的测试件支承板，需要时可移去以适用于大件的超出尺寸的测试工件；8.电机驱动的144mm（5.7〞）X-射线头部（X-射线管，比例接收器及视准器）的Z轴运行；9.试件查看用彩色摄像机10.测量开始/结束按钮，X-射线头部上/下按钮及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。主要特点：FISCHERSCOPE XDLM-C4 是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。微聚焦X-射线管以及电机带动的有4个不同尺寸视准器组成的视准器组使得XDLM-C4成为测量大批量生产部件的理想测量仪器，例如螺丝，螺母和螺栓。可选择的钴接收器有效地解决铜上镀镍的测量应用问题XDLM的特色是独特的距离修正测量方法。DCM方法（距离控制测量）自动地修正在不同的测量距离上光谱强度的差别，简便了测量复杂几何外形的测试工件和在不同测量距离上的测量。与WinFTM V.6软件及校样标准块Gold Assay结合，XDLM作为FISCHERSCOPE GOLDLINE ASSAY的一部分， 完美地适用于快速，非破坏性和精确的测量珠宝及贵金属中金的成分。

农用薄膜厚度测试仪 锂电池隔膜测厚仪 台式膜厚仪（CHY-C2A型号）采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。农用薄膜厚度测试仪 锂电池隔膜测厚仪 台式膜厚仪技术特征：严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输支持LystemTM实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告执行标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817农用薄膜厚度测试仪 锂电池隔膜测厚仪 台式膜厚仪技术指标：负荷量程：0～2 mm（常规）　　　　　0～6 mm；12 mm （可选）分辨率：0.1 μm测量速度：10 次/min （可调）测量压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）　　　　　注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制电源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)净重：32kg仪器配置：标准配置：主机、标准量块一件选购件：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码、微型打印机以上【农用薄膜厚度测试仪 锂电池隔膜测厚仪 台式膜厚仪】信息由济南兰光机电技术有限公司发布，如欲了解更详细信息，欢迎致电0531-85068566垂询！

产品介绍：医药包装性能测试仪工作原理是依据2015年药包材标准方法设计，是包装类破裂强度性能检测的仪器，其各项性能参数和技术指标符合YBB《药用铝箔》等标准规定。仪器操作简单、性能可靠、技术先进，是科研单位、造纸厂家、包装行业、质检部门的理想设备。测试原理：医药包装性能测试仪工作原理原理：将试样装夹在全自动耐破强度测试仪两个夹头之间弹性胶膜上,上下夹头紧紧夹住试样周边，使试样与胶膜一起自由凸起，当液压流体以稳定速率泵入，使胶膜凸起直至铝箔试样破裂时，所施加的压力即为试样耐破强度。医药包装性能测试仪工作原理应用于药品包装用破裂强度试验，是物理强度性能检测的基本仪器，本检测仪器采用全自动控制模式，用户只需将裁好试样放置于上下夹具之间，仪器将自动夹样，自动冲压测试并打印，人为影响非常小。全自动耐破强度测试仪是一款高性能全自动破裂强度仪，被广泛应用于药包材生产厂家、制药企业、药检机构等单位。主要参数： 测量范围：40-1600KPa（分辨力： 0.01KPa） 示值准确度： 示值误差：±0.5%FS，示值变动性：≤0.5% 加压(送油)速度：95±5)ml/min 胶膜阻力： 凸起高度：9mm， 胶膜阻力值：（25～35）KPa 试样夹持力：430 KPa（可调节） 测试系统密封性：1min内压降10%Pmax 压力表设定压力：（2.5~3）Kg/cm2 外形尺寸：400mm×350mm×500mm(长宽高) 重 量：43Kg 气源压力：0.5-0.7MPa (气源用户自备) 环境温度：5 -50℃ 相对湿度：≦80%，无凝露 工作电源：220V 50Hz

QM201C荧光砷汞测试仪产品描述：QM201C荧光砷汞测试仪是用来检测痕量汞元素和砷元素的专用测定仪器。它操作简易，灵敏度高，采用半自动的蠕动泵进样系统，或采用反应瓶装置，该装置易清洗，可靠性高。可以方便、快速的对液体试样中微量汞和微量砷进行测定，也能对经过处理转化为溶液的固体及气体试样进行测定，例如头发、鱼鲜、肉类、谷类、原油、土壤、大气等。该仪器可广泛应用于环境监测、卫生防疫、食品检验、冶金地质、进出口商检、科学研究及厂矿企业等各个部门对各种样品中微量汞和微量砷的测定。QM201D原子荧光光度计技术指标：1. 标准曲线的相关系数不小于0.9972. 重复性、变异系数不大于5%3. 检测下限汞：不大于0.05μg/L 砷：不大于0.5μg/L4. 测量范围汞：0.15~100μg/L 砷：1.5~1000μg/L仪器适用的工作环境：1. 远离强电磁场及冲击振动源2. 避免灰尘，潮湿和腐蚀性气体3. 避免阳光直射4. 室温：5~35oC5. 环境湿度小于90%

一、口溶膜性能介绍：口服制剂给药方便，生产成本低，往往是大多数医生和患者的用药途径，一般来说常见的固体口服制剂主要以片剂和胶囊为主。对口服制剂的服用，一般要求患者的自主意识高，但因其外形、大小、口味等引起的吞咽困难等问题，现已成为导致患者依从性差的主要原因中。尤其儿童在服用固体制剂时，吞咽困难可能会产生叶药现象或窒息危险心，随着儿童用药在国内关注度的提高，解决儿童不愿吞咽、依从性美等问题也成为制剂开发的重点。此外，一些自主行为不受控制的有精神系统障碍的患者，同样存在传统口服些问题，最初开发了口腔崩解片(OralDisintegratingTablets，ODTs)，其在口腔内能快速溶化和崩解。但是大部分口腔崩解片存在易碎、抗折性美笔缺点，对于包装、储存和运输都具有相对严苛的要求。故在此基础上进行剂型改良，进一步开发了口溶膜剂。 口腔速溶膜剂是一种将药物活性成分溶解或分散于膜材料中，加工成型的单层、多层或复合层的膜剂。一般放置在舌下、颊部等口腔黏膜处，唾液润湿30秒内即可崩解，适宜儿童、精神患者等具有主客观吞咽困难的病患使用。释放的药物成分，经口腔黏膜和食管组织进入血液，能有效避免受过效应，起效迅速。由于具备易于携带、口腔中迅速溶解等优点，口溶膜剂得到了快速发展，国内外已有多种口溶膜剂的上市产品。本文结合国内外口溶膜剂的开发及申报情况，从立题依据、处方工艺、质量控制等多方面对口溶膜剂的相关技术评价提出建议。 二、口溶膜厚度测试仪介绍：口溶膜厚度测试仪，上海保圣该产品可以测试口溶膜的所有物性指标，具有功能强大、检测精度高、性能稳定等特点，是高校、科研院所、食品企业、质检机构实验室等部门研究物性学有力的分析工具。 如拉伸性能测定，并将其置拉力试验机的两夹具中，进行测试计算后得到的抗拉强度和延伸率，还可以测试口溶膜的机械性能，如耐折度、断裂强度、断裂拉伸率、抗拉强度、弹性系数、接触角等性能参数。检测不同样品的硬度、脆性、弹性、回弹力、粘合性、粘结力、粘稠度、弯曲能力、破裂/断裂力、酥脆性、脆度、咀嚼性、胶粘性、拉伸强度、延展性等。耐折度代表了膜的脆性，即在同一位置折叠后断裂或出现明显折痕的折叠次数:断裂强度是指膜保持不被拉断的情况下，单位面积所能承受的拉力 断裂拉伸率是指膜受外力拉伸，断裂时增加的长度与原始长度的比值 抗拉强度是表示膜抵抗拉伸的能力，通常采用使膜产生2in/min的拉伸速率时的拉力来表示:接触角是表示膜与水浸润程度的参数一般可用外形图像分析法或称质量法进行测定。接触角越小表明膜越亲水，润湿越快 反之则越疏水，润湿越慢。

一、口溶膜性能介绍：口服制剂给药方便，生产成本低，往往是大多数医生和患者的用药途径，一般来说常见的固体口服制剂主要以片剂和胶囊为主。对口服制剂的服用，一般要求患者的自主意识高，但因其外形、大小、口味等引起的吞咽困难等问题，现已成为导致患者依从性差的主要原因中。尤其儿童在服用固体制剂时，吞咽困难可能会产生叶药现象或窒息危险心，随着儿童用药在国内关注度的提高，解决儿童不愿吞咽、依从性美等问题也成为制剂开发的重点。此外，一些自主行为不受控制的有精神系统障碍的患者，同样存在传统口服些问题，最初开发了口腔崩解片(OralDisintegratingTablets，ODTs)，其在口腔内能快速溶化和崩解。但是大部分口腔崩解片存在易碎、抗折性美笔缺点，对于包装、储存和运输都具有相对严苛的要求。故在此基础上进行剂型改良，进一步开发了口溶膜剂。 口腔速溶膜剂是一种将药物活性成分溶解或分散于膜材料中，加工成型的单层、多层或复合层的膜剂。一般放置在舌下、颊部等口腔黏膜处，唾液润湿30秒内即可崩解，适宜儿童、精神患者等具有主客观吞咽困难的病患使用。释放的药物成分，经口腔黏膜和食管组织进入血液，能有效避免受过效应，起效迅速。由于具备易于携带、口腔中迅速溶解等优点，口溶膜剂得到了快速发展，国内外已有多种口溶膜剂的上市产品。本文结合国内外口溶膜剂的开发及申报情况，从立题依据、处方工艺、质量控制等多方面对口溶膜剂的相关技术评价提出建议。 二、口溶膜厚度测试仪介绍：口溶膜厚度测试仪，上海保圣该产品可以测试口溶膜的所有物性指标，具有功能强大、检测精度高、性能稳定等特点，是高校、科研院所、食品企业、质检机构实验室等部门研究物性学有力的分析工具。 如拉伸性能测定，并将其置拉力试验机的两夹具中，进行测试计算后得到的抗拉强度和延伸率，还可以测试口溶膜的机械性能，如耐折度、断裂强度、断裂拉伸率、抗拉强度、弹性系数、接触角等性能参数。检测不同样品的硬度、脆性、弹性、回弹力、粘合性、粘结力、粘稠度、弯曲能力、破裂/断裂力、酥脆性、脆度、咀嚼性、胶粘性、拉伸强度、延展性等。耐折度代表了膜的脆性，即在同一位置折叠后断裂或出现明显折痕的折叠次数:断裂强度是指膜保持不被拉断的情况下，单位面积所能承受的拉力 断裂拉伸率是指膜受外力拉伸，断裂时增加的长度与原始长度的比值 抗拉强度是表示膜抵抗拉伸的能力，通常采用使膜产生2in/min的拉伸速率时的拉力来表示:接触角是表示膜与水浸润程度的参数一般可用外形图像分析法或称质量法进行测定。接触角越小表明膜越亲水，润湿越快 反之则越疏水，润湿越慢。

饲料的水分检测是饲料加工过程中为重要的质量控制指标之一， 同时还影响着饲料的购销和储管， 因此保证饲料产品质量的关键因素之一就是有效地控制饲料中的水分。深圳冠亚SFY系列海产饲料快速水分测试仪检测饲料水分快速、精准、快速！水分控制， 就是根据不同的情况在整个生产的过程中综合控制各种因素， 从而使饲料加工产品的终水分含量达到生产者所规定的预期目标。　　为了提高企业的经济效益，降低能耗成本，在饲料加工过程中就必须有效地、地控制出厂成品的水分含量。一方面，可有效防止在产品保质期内发生氧化霉变等影响产品质量的情况；另一方面，可有效地控制饲料加工过程中的因水分丢失而导致粉尘外逸所造成的不必要损耗。因此，本文旨在探讨饲料加工过程中影响水分含量的各因素，为生产各种不同水分含量的饲料产品提供有效的解决方法。深圳冠亚SFY系列海产饲料快速水分测试仪技术指标:　　 1、称重范围：0-60g　　 2、水分测定范围：0.01-**　　★★JK称重系统传感器　　 3、样品质量：0.5-60g　　 4、加热温度范围：起始-180℃　　★★加热方式：应变式混合气体加热器　　★★微调自动补偿温度15℃　　 5、水分含量可读性：0.01%　　 6、显示7种参数：　　★★ 水分值，样品初值，样品终值，测定时间，温度初值，终值，恒重值　　★★红色数码管独立显示模式　　 7、双重通讯接口：RS 232（打印机）　　 RS 232（计算机）　　 8、外型尺寸：380×205×325(mm)　　 9、电源：220V±10%　　 10、频率：50Hz±1Hz　　 11、净重：3.7Kg　　深圳冠亚SFY系列海产饲料快速水分测试仪是一种新型高精度的快速水分检验仪器，采用热解重量原理设计的，仪器测量样品重量同时，卤素加热单元和水分蒸发通道快速干燥样品。在干燥过程中，仪器持续测量并即时显示干燥过程中样品丢失的水分含量％，干燥完成后，终测定的水分含量锁定，按显示键可观察水分值，重量初始值，起始值，测试时间等数据。

在线式荧光法烟气汞测试仪QM201H 在线式荧光法烟气汞测试仪QM201H的产品介绍QM201H燃煤烟气测汞仪是用来连续监测痕量气体汞的专用测定仪器。它操作简易，灵敏度高，并可与计算机相连接，实时储存测量数据。相应的计算机软件界面友好，操作方便，适用于Windows。可以方便的实时监测各种工业废气中汞的含量，也能采集大气中的汞并对其进行测定。该仪器可广泛应用于科学研究、环境监测、石油化工、地质勘测、发电厂以及其它一些厂矿企业对大气中的微量汞的测定。在线式荧光法烟气汞测试仪QM201H的工作环境1.远离强电磁场及冲击振动源2.避免灰尘，潮湿和腐蚀性气体3.避免阳光直射4.使用温度范围：5～35℃5.相对湿度：≤90％在线式荧光法烟气汞测试仪QM201H的技术参数测量范围0~50µ g/m3检测下限＜1μg/m3零点漂移＜0.2mV噪声＜0.08mV标准曲线的相关系数＜0.995重复性、变异系数＜8%选配件软件

仪器简介：适用于Windows2000的真Win32位程序带在线帮助功能；频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用；能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使校准简单化；画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；十字星瞄准并带度量网格，以及测试点尺寸指示；测试工件的视频图像可用BMP文件形式保存；XYZ运行编程功能：随机单点，第1点、最后1点及等分的中间点，鼠标左键点选功能，鼠标右键的使用相当于操纵杆；测量模式用于：单、双及三层镀层系统双元及三元合金镀层的分析和厚度测量双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度和合金成分都能被测量）能分析多达四种金属成分的合金并具分析金的K数的特殊功能。能分析含一到二种金属离子的电镀溶液；频谱显示可自由选择颜色；并可同时显示前台和背景的频谱以便比较；频谱可储存和打印；可使用定义的文件名进行应用文件的管理（应用文件包含应用名，数据表示方式，打印形式定义，输出模板设定及记事本）；用户可定义的报告编辑器，并自动插入测试工件的显示图像，及一些小的图片，如公司标识，图表，数据排列，字体选择；可以WinWordTM形式保存；单个的应用可连接至任意数量的应用文件（此种连接大大减少了所需要的校准及初始化步骤）；使用条形码标签及可选的条形码读入键盘可自动选择应用；可选择数据进行统计评估；通过RS232串行口进行在线或离线的数据输出；可通过RS232串行口或在网络环境下的指令文件进行远程控制；可编程的应用项图标，用于快速应用项选择完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估语言：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，中文及日文（需要特殊的Windows版本）；可自由定义“短目录”以锁住某些重要的系统功能；技术参数：1.涂镀层厚度的测量采用X-射线荧光测试方法，符合技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568；2.测量箱结构坚固，使用合格的机械和电气部件；3.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）720 mm×660 mm×950 mm，重量大约为135kg；4.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）160 mm×560 mm×530 mm，带向上回转箱门；5.原始射线从上至下；6.高性能的X-射线管，高压及电流设定可调节至最佳的应用，高压设定：50kV，40kV或30kV；阳极电流：连续可调至0.8mA；7.原生电子过滤器：Ni和Be；8.4个对焦平面用于凹槽，腔体的测量，并可达到90mm；9.标准视准器组件Ⅰ有以下组成：0.1mm(4mil) 0.2mm(8mil) 0.05x0.05mm(2x2 mil)方形 0.03x0.2mm(1x8mil)带槽；在附加费用上可选的标准视准器组件Ⅱ（取代组件Ⅰ）有以下组成：0.1mm(4mil) 0.2mm(8mil) 0.3mm(12mil)圆形 0.05x0.3mm(2x12mil)带槽；在附加费用上可选的标准视准器组件Ⅲ（取代组件Ⅰ）有以下组成：0.2mm(8mil) 圆形 0.05x0.05mm(2x2mil) 0.025X0.025mm(2X2mils)方型；0.03mmX0.2mm(1.2X8mil)带槽；注：当测量PC印板，电脑接插件，引线框架等小工件时，推荐使用视准器组件Ⅰ10.自动的X-射线光束十字星校准。该特性在测量极小工件时非常有用；11.充氙气的比例计数器，频谱处理时，内部采用4096通道的ADC，对外显示为256通道；12.快速编程，高精确度，电机带动的XY工作台运行范围：型号XDVM-T7.1：X=175mm（7.0〃）， Y=175mm（7.0〃）型号XDVM-T7： X=250mm（10.0〃）， Y=250mm（10.0〃）13.工作台的控制可通过鼠标点选或操作杆14.工作台面板可自动移出至工件放置位置；定位容易；15.电机驱动及高度（Z-轴）可编程的X-射线头部（X-射线管，比例计数器及视准器组件）；Z-轴运行=145mm（5.9〞）；16.高分辨率的彩色摄像头用于测试工件的定位及查看；可选择的双重放大率X40/X80，带十字星及度量网格以及测试点尺寸指示；17.测量箱键盘适合于最常用的测量功能和程序选择，操纵杆控制X-Y工作台，钥匙控制X-射线头的缓慢或快速的上下移动，LED状态指示灯。主要特点：FISCHERSCOPE XDVM-W是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。它杰出的特性包括：2组可切换的各带4个视准器的视准器组，大的开槽的测量箱体确保工件放置简便，精确的可编程的直流电机驱动的X-Y工作台快速和无振动移动以及原始射线从上往下设计为在Z-轴可移动的X-射线发生和接受装置。这个特性使得该系统非常适合于测量大批量生产的部件，例如螺丝，连接器插针或大的线路板。按动按钮就可根据预设的测试点定位进行自动测量，并可自动的进行评估报告输出。

PVC硬片厚度测试仪_硬片测厚仪_薄膜测厚仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。PVC硬片厚度测试仪_硬片测厚仪_薄膜测厚仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

ATP(Adenosine Triphosphate)，中文名为腺嘌呤核苷三磷酸，又叫三磷酸腺苷。它普遍存在于细菌等微生物细胞内，ATP是微生物新陈代谢的能量物质。ATP生物发光法是利用ATP试剂中若干组分如荧光素-荧光素酶等与被测样本反应产生光子，再用深芬仪器手持式ATP荧光测试仪捕捉和检测发光值，由于被测样本所含细菌等微生物的数量与所含的ATP值、以及ATP值与发光值之间存在一定的函数关系，因此通过手持式ATP荧光测试仪检测发光值即能得到被测标本所含细菌等微生物含量。产品特点：1、通用国内外一体化采集拭子及分离拭子2、全自动化原装工作软件，无限数量的用户身份设定，可自动判断合格，可自动统计合格率方便用户操作3、内置可充电锂电池，在无外接电源的情况下可工作4小时以上，且仪器具有自动节电模式功能技术参数：☆检测精度：1*10-16mole atp☆检测范围：1－9999RLUs（可以定制1-999999）☆检测时间：10秒☆重复性：≤±5%☆采样点设定：不低于2000个☆存储功能：不低于20000个检测结果☆接口技术：USB、蓝牙、wifi（选配）☆结果表述：可根据RLU值采用预置公式计算后显示级别。相关法规：GB 4789.3 食品卫生微生物学检验GB 5749 生活饮用水卫生标准WS/T 313医务人员手卫生规范药品GMP认证检查评定标准国食药监安[2007]648号中国药典2010版药品微生物检查法卫生局餐饮服务食品安全现场快速检测设备烧伤病房/手术病房/普通病房物体表面卫生学标准医院感染监测规范县级卫生监督机构现场快速检测设备装备标准(须配备ATP荧光检测仪用于餐饮具、食品加工工具、用具等物品表洁净度快速测定)餐饮服务食品安全现场快速检测设备配备基本标准(须配备ATP荧光检测仪用于餐饮具、食品加工工具、用具等物品表洁净度快速测定)

手持式atp荧光检测仪原理 TP荧光检测仪采用化学反应检测ATP，用快速ATP荧光检测试剂盒采集标本。ATP采样棒被缓冲液浸湿，这样有助于从干燥或湿润的表面提取生物物质（ATP）。ATP采样棒也含有一种可以冲破生物膜的试剂，使其下可能存在的生物体暴露出来。标本采集后，ATP采样棒应浸泡在能将细胞内ATP释放出来的容剂中。而后细胞内部释放出的ATP、以及ATP采样棒从物体表面抹取的ATP再和独特的液体试剂一起反应。检测的液体试剂含有两种萤火虫酶---荧光素和荧光素酶，虫荧光素和虫荧光素酶在ATP存在的条件下会发光。发出的光可由ATP荧光仪进行检测。检测的发光量与ATP的总量成正比。数值越高，表明ATP的量越多，也就意味着表面的残留物越多。深圳市芬析仪器制造有限公司专业生产真菌毒素检测仪、ATP荧光检测仪、手持式煎炸油品质检测仪、兽药残留检测仪、胶体金/荧光免疫层定量分析仪、水分测定仪、台式/便携式农药残留检测仪、食品安全快检试剂盒、胶体金检测卡、定制食品安全快速检测箱、重金属检测仪、多参数/多功能/一体化食品安全检测仪及配套检测试剂等。深圳市芬析仪器制造有限公司生产的ATP荧光检测仪基于萤火虫发光原理，利用“荧光素酶-荧光素体系“快速检测三磷酸腺苷（ATP）。由于所有生物活细胞中含有恒量的ATP，所以ATP含量可以清晰地表明样品中微生物与其他生物残余的多少，用于判断卫生状况。深芬仪器ATP荧光检测仪技术参数：☆检测精度：1*10-16mole atp☆检测范围：1－9999RLUs（可以定制1-999999）☆检测时间：10秒☆重复性：≤±5% ☆采样点设定：不低于2000个☆存储功能：不低于20000个检测结果☆接口技术：USB、蓝牙、wifi结果表述：可根据RLU值采用预置公式计算后显示级别。

美国Filmetrics光学膜厚测量仪，测量膜层厚度从15nm到450um。利用反射干涉的原理进行无接触测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是一款高性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。Filmetrics光学膜厚测量仪：其可测量薄膜厚度在15nm到450um之间，测量精度高达1埃，测量稳定性高达0.7埃，测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical）, 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovoltaics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等。 通过Filmetrics膜厚测量仪反射式光谱测量技术,可以测试4层透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛，例如 : 半导体工业 : 光阻、氧化物、氮化物。 LCD工业 : 间距 (cell gaps)，ito电极、polyimide 保护膜。 光电镀膜应用 : 硬化镀膜、抗反射镀膜、过滤片。 极易操作、快速、准确、机身轻巧及价格便宜为其主要优点，在此基础之上，我们推出了操作极其简单的入门型号F20单点膜厚测试仪，可以实现反射、膜厚、n、k值测量。F20 系列膜厚测试仪——一款畅销的台式薄膜厚度测量系统只需按下一个按钮，您在几秒钟同时测量厚度和折射率。设置同样简单, 只需插上设备到您运行Windows&trade 系统计算机的USB端口, 并连接样品平台 , F20已在世界各地有成千上万的应用被使用. 事实上，我们每天从我们的客户学习更多的应用.选择您的F20，主要取决于您需要测量的薄膜的厚度（确定所需的波长范围），下图是不同型号的膜厚测试仪测试的厚度范围以及对应选择的波长范围。图被和谐，请私信或查看纳腾官网F20 的测试原理：一束光入射到薄膜表面时，在薄膜上下表面都会发生反射，而两束反射光之间会产生干涉，干涉条纹的产生又是与薄膜的厚度，折射率等有关的，因此可以依据此来测量薄膜的厚度。F20系列膜厚测试仪的具体的应用实例：1.非晶态多晶硅硅元素以非晶和晶体两种形式存在, 在两级之间是部分结晶硅。部分结晶硅又被叫做多晶硅。非晶硅和多晶硅的光学常数(n和k)对不同沉积条件是独特的，必须有精确的厚度测量。 测量厚度时还必须考虑粗糙度和硅薄膜结晶可能的风化。Filmetrics 设备提供的复杂的测量程序同时测量和输出每个要求的硅薄膜参数， 并且“一键”出结果。测量范例多晶硅被广泛用于以硅为基础的电子设备中。这些设备的效率取决于薄膜的光学和结构特性。随着沉积和退火条件的改变，这些特性随之改变，所以准确地测量这些参数非常重要。监控晶圆硅基底和多晶硅之间，加入二氧化硅层，以增加光学对比，其薄膜厚度和光学特性均可测得。F20可以很容易地测量多晶硅薄膜的厚度和光学常数，以及二氧化硅夹层厚度。Bruggeman光学模型被用来测量多晶硅薄膜光学特性。2.电介质 电解质薄膜测量成千上万的电解质薄膜被用于光学，半导体，以及其它数十个行业, 而Filmetrics的仪器几乎可以测量所有的薄膜。常见的电介质有:二氧化硅 —— 最简单的材料之一, 主要是因为它在大部分光谱上的无吸收性 (k=0)， 而且非常接近化学计量 (就是说，硅：氧非常接近 1:2)。 受热生长的二氧化硅对光谱反应规范，通常被用来做厚度和折射率标准。 Filmetrics能测量3nm到1mm的二氧化硅厚度。氮化硅 ——对此薄膜的测量比很多电介质困难，因为硅：氮比率通常不是3：4, 而且折射率一般要与薄膜厚度同时测量。 更麻烦的是，氧常常渗入薄膜，生成一定程度的氮氧化硅，增大测量难度。 但是幸运的是，我们的系统能在几秒钟内 “一键” 测量氮化硅薄膜完整特征!测量范例氮化硅薄膜作为电介质，钝化层，或掩膜材料被广泛应用于半导体产业。这个案例中，我们用F20-UVX成功地测量了硅基底上氮化硅薄膜的厚度，折射率，和消光系数。有趣的事，氮化硅薄膜的光学性质与薄膜的分子当量紧密相关。使用Filmetrics专有的氮化硅扩散模型，F20-UVX可以很容易地测量氮化硅薄膜的厚度和光学性质，不管他们是富硅，贫硅，还是分子当量。3.铟锡氧化物与透明导电氧化物液晶显示器，有机发光二极管变异体，以及绝大多数平面显示器技术都依靠透明导电氧化物 (TCO) 来传输电流，并作每个发光元素的阳极。 和任何薄膜工艺一样，了解组成显示器各层物质的厚度至关重要。 对于液晶显示器而言，就需要有测量聚酰亚胺和液晶层厚度的方法，对有机发光二极管而言，则需要测量发光、电注入和封装层的厚度。在测量任何多个层次的时候，诸如光谱反射率和椭偏仪之类的光学技术需要测量或建模估算每一个层次的厚度和光学常数 (反射率和 k 值)。不幸的是，使得氧化铟锡和其他透明导电氧化物在显示器有用的特性，同样使这些薄膜层难以测量和建模，从而使测量在它们之上的任何物质变得困难。Filmetrics 的氧化铟锡解决方案Filmetrics 已经开发出简便易行而经济有效的方法，利用光谱反射率精确测量氧化铟锡。 将新型的氧化铟锡模式和 F20-EXR, 很宽的 400-1700nm 波长相结合，从而实现氧化铟锡可靠的“一键”分析。 氧化铟锡层的特性一旦得到确定，剩余显示层分析的关键就解决了。不管您参与对显示器的基础研究还是制造，Filmetrics 都能够提供您所需要的...测量液晶层-聚酰亚胺、硬涂层、液晶、间隙测量有机发光二极管层发光、电注入、缓冲垫、封装对于空白样品，我们建议使用 F20 系列仪器。 对于图案片，Filmetrics的F40用于测量薄膜厚度已经找到了显示器应用广泛使用。测量范例此案例中，我们成功地测量了蓝宝石和硼硅玻璃基底上铟锡氧化物薄膜厚度。与Filmetrics专有的ITO扩散模型结合的F10-RTA-EXR仪器，可以很容易地在380纳米到1700纳米内同时测量透射率和反射率以确定厚度，折射率，消光系数。由于ITO薄膜在各种基底上不同寻常的的扩散，这个扩展的波长范围是必要的。4.光刻胶成功测量光刻胶要面对一些独特的挑战， 而 Filmetrics 自动测量系统成功地解决这些问题。 这些挑战包括避免测量光源直接照射， 拥有涵盖广泛的光刻胶折射率资料库, 以及有能力处理光刻胶随烘烤和暴露而改变的折射率。测量SU-8 其它厚光刻胶的厚度有特别重要的应用。 因为旋涂 SU-8 的方法虽简便快速，但可能会导致所需厚度不太精确。 而暴露时间取决于光刻胶的厚度, 因此必须进行精确测量。 另外，由于正负光刻胶可以同时用于制造复杂的多层 MEMS 结构, 了解各层的厚度就变得极端重要。Filmetrics 提供一系列的和测绘系统来测量 3nm 到 1mm 的单层、 多层、 以及单独的光刻胶薄膜。 所有的 Filmetrics 型号都能通过精确的光谱反射建模来测量厚度 (和折射率)。 独家的算法使得“一键”分析成为可能，通常在一秒钟内即可得到结果。测量范例测量光刻胶涂层厚度的能力对开发和制造各种半导体器件如MEMS至关重要。Filmetrics提供测量SU-8和其它光刻胶厚度的广泛的解决方案。此案例中，我们演示如何用F20快速有效地测量硅胶上SU-8 涂层单光斑和多点厚度.5.硅晶圆薄膜Filmetrics 提供台式系统, 测绘, 和生产测量 1nm 到 2mm 硅晶片和膜厚仪器系统。6.太阳光伏应用薄膜光伏薄膜光伏 (TFPV) 作为硅基晶圆的较廉价的替代品正在得到开发。 薄膜光伏共有三大类，按照其有效层组成命名: 硅薄膜、II-VI (主要是锑化镉) 和 CIGS (铜铟硒化镓)。 每种有效层薄膜都是用在一层透明导电氧化膜上面，而基板可用玻璃或金属。测量有效层准确了解有效层的厚度和组成是非常重要的。 太薄会影响功效和耐用性，而太厚又会提高成本。 错误的组成会大大降低产品的功效和制造产量。Filmetrics F20型号为几十家薄膜光伏制造商所使用，用于测量三类有效层的厚度和光学常数。 为了测量透明导电氧化膜上面的有效层薄膜, Filmetrics 已获得了丰富的经验来检测用户自行生产的或专业玻璃生产商提供的单层及多层导电玻璃。其他制程薄膜除了有效层和透明导电氧化物堆以外，还有其他薄膜用于光伏类产品的制造。 这些例子包括用于刻蚀电池和电极的聚酰亚胺和光刻胶，以及减反涂层。 在这些情况下，Filmetrics 有现有的台式, 测绘, 或在线解决方案。测量范例快速可靠地测量多层薄膜是开发制造薄膜太阳能电池的关键。在这个案例中，我们需要测量薄膜光伏上缓冲层（硫化镉）和吸收层（碲化镉）的厚度。F20-NIR 结合准直光束平台，使我们能够从反射光谱测量TEC玻璃上太阳能电池碲化镉和硫化镉层的厚度。7.半导体实践教学已经有五十多台 Filmetrics 的 F20 用于大学半导体制造教学实验室。 这不仅仅是因为它们快速、可靠和价格合理， 还因为它们简明易懂的设计，使它们成为光谱反射原理教学的理想平台。 (如果您想了解如何在教学实验室使用 F20，用关键字 Filmetrics 大学在 Google 内进行搜索）。 同时，由于全世界有几千台 F20 在运行，接受培训的学生们觉得培训对将来就业很有用。Filmetrics 对用于实验室课程的仪器提供特别优惠。8.卷式薄膜涂层Filmetrics 系统在测量聚合物薄膜和涂层厚度领域有广泛应用，我们还有专门为卷式薄膜设计的产品卷式薄膜应用在塑料薄膜的制造中有很多点，它们的厚度对薄膜质量至关重要。 这些点包括: 薄膜的总厚度 (高达400um)、混合挤压分层厚度和涂层在薄膜卷筒上的厚度。 对于特定 PET 上涂层，我们的F20-UV 能测量非常薄的层(~10 nm)， 甚至是高能等离子表面薄膜。 我们标准的 F20 能够测量市面上常见的涂层，例如 0.05 到 50 um 范围内的硬涂层。我们有一个庞大的聚合物薄膜折射率数据库，其中包括 PET、聚碳酸酯、醋酸纤维素和聚烯烃，以及更奇特的材料，诸如导电聚合物。这些应用中的每一项都是独特的挑战，而 Filmetrics 已经开发出软件、硬件和应用知识以便为用户提供合适的解决方案。测量范例用配有200微米小光斑光纤的F20测量厚度。在线实时和台式测量聚氯乙烯（PVC）挤压塑料薄膜。台式测量时SS-3标准平台用于单点连续测量。在线测量时镜头和RKM在卷式薄膜移动时进行测量。利用我们庞大的折射率数据库，PVC厚度很容易测得。F20还可以测量共挤薄膜厚度，以及各种材料，如PET涂层厚度。9.多孔硅近年来， 多孔硅的研发工作大量进行。 众多兴趣的原因是多孔硅在光学器件、气体传感器和生物医疗设备应用中极具发展前途。和大多数新的材料技术一样，多孔硅开发的部分挑战就是要找到确定各种材料参数的工具。 对于多孔硅而言，最基本参数就是薄膜层的厚度和孔隙度。其它参数关系到加工后的薄膜层，例如浸渍材料的比例或传感器内吸收分子的数量。 根据Filmetrics 已经开发出算法，只要单击鼠标就能揭示多孔硅的厚度、折射率和孔隙度。 这一算法在F20, F40, 和 F50 仪器内都是免费提供的。测量范例多孔硅的特点可由许多参数决定，但厚度和孔隙度是最主要的。一般来讲，非破坏性的方法，如重力方法被用来测量孔隙度，但这种方法的准确度非常低。Filmetrics F20, 用非破坏性的方法，测量多孔硅的厚度和光学特性。Filmetrics专有的算法，一键点击，可精确计算薄膜的孔隙率。10.制程薄膜Filmetrics 提供测量非金属半导体制程薄膜的全系列产品。F20是单点测量厚度和折射率的最经济有效的仪器。对于小光斑厚度测量 (1 微米或更小)，可以将F40固定到您的显微镜上。对于空白晶圆薄膜厚度测绘，可选用经济有效的F50。而F80则能测绘产品晶圆上的薄膜厚度。我们专利的厚度成像技术使我们的仪器易于设定、较少配方，并且提供更为可靠的模式识别和比传统薄膜计量工具更低的价格。 有独立或组合到其它设备的机型可供选择。