荧光光谱分析仪原理

X射线荧光光谱分析技术已经广泛应用于地质、冶金、采矿、有色、海洋、生化、环境、石化、商检、电子、公安、考古、难融化物和陶瓷工业、RoHs和 WEEE分析等领域。分析技术已从主、次量、微量元素分析，扩展到痕量元素分析、元素成分微区分布分析等 新近发展到对大气尘埃的分析、生化医药、纳米材料和薄膜分析。随着新分析仪器的普及，X射线荧光光谱仪器已经成为各实验室的常规仪器。　　X射线荧光光谱分析具有制样简单、精密度高、准确度好、自动化程度高，能同时对多元素快速分析等优点，已成为化学元素分析的常用工具之一。近年来，国内各分析测试单位配备了很多各种型号的X射线荧光光谱仪，由于仪器功能的充分发挥及分析质量的提高，需要掌握其原理，性能和多种应用技术，为了提高X射线荧光光谱仪器分析技术人员的专业素质和技术水平，充分发挥X射线荧光光谱仪器的功能，提高分析测试质量，特举办培训班，系统地讲授X射线荧光光谱技术及在各领域应用，欢迎大家前来参加。　　[b]一、授课教师[/b]　　邓赛文:研究员 国家地质测试中心 长期从事X射线荧光光谱分析，主持国家、部、院科学研究项目　　[b]二、培训内容[/b]　　1、X射线荧光光谱分析基础　　2、X射线荧光光谱理论强度计算公式　　3、X射线荧光光谱光谱仪分类及其结构性能　　4、X射线荧光光谱定量分析　　5、X射线荧光光谱分析基体校正　　6、X射线荧光光谱定性和半定量分析　　7、X射线荧光光谱薄膜和镀层分析　　8、X射线荧光光谱分析样品制备　　9、化学计量学研究在X射线荧光光谱分析中的应用　　10、X射线荧光光谱分析不确定度评定　　11、X射线荧光光谱分析标准化及其在水泥行业中应用　　12、水泥用X射线荧光分析仪行业标准介绍　　13、X射线荧光分析仪器性能检验实验结果　　[b]三、培训对象[/b]　　各企事业单位从事X射线荧光光谱分析的工作者和科学研究人员　　[b]四、培训时间、地点及收费[/b]　　2010年5月24日—5月29日 北京　　培训费1780元(包括授课费、讲义、文具、证书费等)，食宿统一安排，费用自理。　[b]　五、培训考核与发证[/b]　　培训结束后由中国仪器仪表学会分析仪器分会颁发培训合格证书及中国仪器仪表学会会员证书(免收个人会员会费，工本费、邮寄费20元)　[b][color=#ec0078]　六[/color][color=#ff483f]、报名方式：010-51299927-101,13269178446，[email=training@instrument.com.cn][color=#ff483f]training@instrument.com.cn[/color][/email][/color][/b]

急需X荧光光谱分析仪的安全操作规程，请大家帮忙

由中国仪器仪表学会分析仪器分会主办，中仪标化(北京)技术咨询中心、仪器信息网承办，北京瑞利分析仪器有限公司协办的“原子荧光光谱分析及应用学习”将于2010年7月12日-17日在西安举办。培训费1780元/人，欢迎广大从事原子荧光分析化验工作人员、科研院所相关人员前来参加。培训结束后由中国仪器仪表学会分析仪器分会颁发培训合格证书及中国仪器仪表学会会员证书。　　【[b]授课专家[/b]】　　[b]张锦茂[/b](北京端利分析仪器公司“原子荧光研究室”技术负责、顾问 国土资源部物化探研究所，高级工程师)。　　[b]梁 敬[/b](硕士,北京瑞利分析仪器公司[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]事业部副部长，原子荧光研究室主任。)　　【[b]培训大纲[/b]】　　[b]第一部分：蒸气发生-原子荧光光谱分析技术及应用[/b]　　1.原子荧光光谱的光源、原子化器、背景校正装置、光学系统、检测器的结构、基本原理　　2.原子荧光光谱分析基础、光谱的产生和特性、原子荧光光谱分析的定量关系　　3.原子化技术 、最佳分析条件的优化　　4.光谱干扰、物理干扰、电离干扰、化学干扰、基体干扰及其消除方法　　5.原子荧光光谱试样的处理及进样技术 　　6.原子荧光光谱的评价挑选及仪器的维护　　7.国内外原子荧光光谱仪器、分析技术的最新发展及动态　　8.介绍《原子荧光光谱仪》国家标准(GB/T2119-2007)的制定　　9.原子荧光光谱在地质、冶金、电子产品、环境、城市给排水等领域中的应用　　10.原子荧光光谱在生物、农业及植物、农产品、饲料等领域中的应用　　11.原子荧光光谱在食品、医药、化妆品、疾控等领域的应用　　12.上机实习或实验室参观及讨论答疑　[b]　第二部分：色谱-原子荧光联用技术及其在元素形态分析领域的应用[/b]　　1.元素形态及元素形态分析原理　　2.元素形态分析方法　　3.色谱-原子荧光联用技术　　4.色谱-原子荧光联用仪器　　5.国内外色谱-原子荧光联用仪器的最新发展及动态　　6.色谱-原子荧光联用技术在元素形态分析中的应用　　7.元素形态分析样品前处理　　8.元素形态分析的结果评价　　9.元素形态分析标准参考物质　[color=#d40a00]　[b]【联系方式】010-51299927，51413697 13466308250， training@instrument.com.cn[/b] [/color] [url=http://www.instrument.com.cn/training/training_info.asp?TRI_No=100427][b][color=#013add]在线报名[/color][/b][/url]

EDX1800荧光光谱分析仪与IC[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/3p][color=#3333ff]离子色谱仪[/color][/url]测卤素那个会比较准确点？两者的原理有什么不同，两者的结果能不能进行比较？很急，希望各位帮忙

求助。X射线荧光光谱分析仪器是9900XP型瑞士的有中文说明书吗？

原子荧光光价态分析仪是什么样的设备，为什么有专家一定要推荐这种设备，他和原子荧光光谱仪的区别是什么？

求一软件:能够打开荧光光谱分析仪产生的SP文件，并能够绘出谱线在下侧了光致发光光谱后，拷回数据，发现SP文件用记事本打开后都成了乱码，求能够打开SP文件，并能够绘出光谱曲线的软件，最好是中文版的，或者是光谱仪附带的软件。谢谢谢谢！！！！！！

能量色散型荧光分析仪的原理是什末？分析仪怎样进行日常维护？

合金分析就是采用XRF(X射线荧光光谱)分析原理来分析合金元素成份/含量以及合金牌号,XRF分析原理是目前世界最先进的合金分析原理,相比传统的化学分析方法来说,XRF分析可以达到即时分析,无损检测,不需要任何耗材,并且检测精度可以达到小数点后四位.逐渐取代传统化学分析方法. 　　X射分析原理是利用X射线激发被测物体表面,使得其表面原子发生能级跃迁,利用探测器接收到X射线,然后通过能谱图对比分析元素成份,每种原子都有其特定的能量光谱图.x射线是1895年德国物理学家伦琴(W．C．RÖntgen)在研究阴极射线管中气体放电现象时，用一只嵌有两个金属电极(一个叫做阳极，一个叫做阴极)的密封玻璃管，在电极两端加上几万伏的高压电，用抽气机从玻璃管内抽出空气。为了遮住高压放电时的光线(一种弧光)外泄，在玻璃管外面套上一层黑色纸板。他在暗室中进行这项实验时，偶然发现距离玻璃管两米远的地方，一块用铂氰化钡溶液浸洗过的纸板发出明亮的荧光。再进一步试验，用纸板、木板、衣服及厚约两千页的书，都遮挡不住这种荧光。更令人惊奇的是，当用手去拿这块发荧光的纸板时，竞在纸板上看到了手骨的影像。　　当时伦琴认定：这是一种人眼看不见、但能穿透物体的射线。因无法解释它的原理，不明它的性质，故借用了数学中代表未知数的“X”作为代号，称为“X”射线(或称X射线或简称X线)。这就是X射线的发现与名称的由来。此名一直延用至今。后人为纪念伦琴的这一伟大发现，又把它命名为伦琴射线。

X射线荧光光谱分析的基本原理 　　当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，亦称次级光电效应或无辐射效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生X射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。因此，X射线荧光的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系。图10.1给出了X射线荧光和俄歇电子产生过程示意图。 　　K层电子被逐出后,其空穴可以被外层中任一电子所填充，从而可产生一系列的谱线，称为K系谱线：由L层跃迁到K层辐射的X射线叫Kα射线,由M层跃迁到K层辐射的X射线叫Kβ射线……。同样,L层电子被逐出可以产生L系辐射(见图10.2)。如果入射的X射线使某元素的K层电子激发成光电子后L层电子跃迁到K层，此时就有能量ΔE释放出来，且ΔE=EK-EL，这个能量是以X射线形式释放，产生的就是Kα射线，同样还可以产生Kβ射线 ，L系射线等。莫斯莱(H.G.Moseley) 发现，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下： λ=K(Z-s)-2 　　这就是莫斯莱定律，式中K和S是常数，因此,只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。

X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。通过测角器以1∶2速度转动分析晶体和探测器，可在不同的布拉格角位置上测得不同波长的X射线而作元素的定性分析。探测器的作用是将X射线光子能量转化为电能，常用的有盖格计数管、正比计数管、闪烁计数管、半导体探测器等。记录单元由放大器、脉冲幅度分析器、显示部分组成。通过定标器的脉冲分析信号可以直接输入计算机，进行联机处理而得到被测元素的含量。X射线荧光能谱仪没有复杂的分光系统，结构简单。X射线激发源可用X射线发生器，也可用放射性同位素。能量色散用脉冲幅度分析器 。探测器和记录等与X射线荧光光谱仪相同。X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。X射线荧光分析法用于物质成分分析，检出限一般可达10-5～10-6克／克(g／g)，对许多元素可测到10-7～10-9g／g，用质子激发时 ，检出可达10-12g／g；强度测量的再现性好；便于进行无损分析；分析速度快；应用范围广，分析范围包括原子序数Z≥3的所有元素。除用于物质成分分析外，还可用于原子的基本性质如氧化数、离子电荷、电负性和化学键等的研究。 [~104490~]

请问X射线荧光光谱仪对薄膜和多层膜分析的基本参数方法原理及数学模型是什么？

⑴冶金分析的特点冶金分析是指冶金生产过程中各物料的化学组成及其含量的分析。它对原料的选择，在冶炼前的炉料计算，冶炼工艺流程的控制中，产品的检验，新产品的试制，以及冶金工厂中环保分析都是必不可少的。特点是：①在保证生产质量的前提下，分析速度要快，特别是分析；②冶金分析物料种类繁多，有固体、粉末和液体等，因此要求分析方法适应性强；③分析数量大，任务重，并且要求日夜连续不断进行。　　X射线荧光分析技术正好能满足冶金分析的特殊要求，一台多道X射线荧光光谱仪能在一分钟之内分析20~30个元素，而其分析精密度完全可以和湿法化学分析相媲美，分析范围又很宽，从几个ppm到100%。这样可以节省大量人力，提高工作效率，它又很少使用酸和特种化学试剂，不会污染环境。　　然而X射线光谱分析法并不是一种绝对法，而是依靠用标准试样相比较来作分析。以钢铁分析为例，标准试样国际的、国内的都有，但是如果对表面效应不重视，那末最好的标准试样，分析出来结果也会是错误的。金属试样一般可以直接从炉中取样冷凝而成，或者从大块金属或原料上切取试片，这样能用固体状态进行分析，有速度快、方法简便和分析精密度高的特点，缺点是不能加入内标或者进行稀释，在痕量元素分析时，又不能采用化学分离，不容易得到合适的标准试样，又很难人工合成。　　⑵固体样品的制备　一般切割或直接浇铸的试样表面比较粗糙，通常需要进一步研磨。磨可以在磨片机上研磨，也可以在磨床上加工光洁度较高的表面。通常使用的磨料有各种颗粒度的氧化铝（即刚玉）或碳化硅即（金钢砂）。一般不抛光或化学腐蚀等特殊处理，在测量短波谱线如钼、镍、铬等元素时，大约80~120粒度砂纸的光洁度即可满足要求，但测量长波谱线要求试样表面光洁度要高，特别重要的是分析试样和标准样品的表面一定要有一致的光洁度。　　样品在测量时，最好能自转，以减少表面效应、颗粒度和不均匀性的影响。如果样品没有自转装置，则样品放置位置必须使样品的表面磨痕和入射、出射X射线所构成的平面平行，这样吸收最小，如果相互垂直时吸收最大。　　样品在研磨过程中，有可能把样品中夹杂物磨掉，造成某些元素分析结果偏低，或者也可能发生表面沾污。分析低铝时，如果使用氧化铝作磨料，表面就可能被沾污，这时最好采用碳化硅磨料，反之如果分析低硅时，应采须知氧化铝佬磨料。对有色金属如铝合金、铜合金等，它们远比钢铁试样要软，不能用砂纸研磨，而应该用车床，以保证样品表面光洁度。　　检验这种表面沾污的方法测量沾污元素谱线的强度比。对于原子序数60以下的元素，可测量其La1Ka强度比，对于原子序数60以上的重元素，应测量Ma/La1 强度比。试验可以用有沾污的样品和已知未沾污的同种合金样品作比较，甚至还可以作为一种消除沾污的检验方法。　　⑶生铁X射线荧光分析生铁中碳是以元素状态存在。灰口铁中的碳有的呈球状石墨，有的呈片状石墨，在研磨过程中表面上脱落的石墨孔也会引起其他分析元素的污染，造成分析错误。浇铸的试样是不均匀的，不适合作X射线荧光分析。而急冷试样的晶粒很细，分布，碳生成渗碳体(Fe3C)，它是一种很脆而硬的中间化合物，表面可以利用研磨办法加工。　　⑷中低合金钢分析　用X射线荧光分析中低合金钢有足够灵敏度，多道X射线萤光光谱仪一般测量时间只需要20秒，最好用铑靶X射线管，监控试样测量为60秒，以提高分析精度，必要时要扣除重迭谱线，用标准钢样NBS116-1165,和BAS50-60,401-410,431-435,451-460。　　⑸不锈钢的分析　不锈钢X射线荧光分析是比较困难的，因为镍、铬、铁三者存在着严重的增强和吸收效应，必须采用数学分析，校正后铬、镍分析结果是非常令人满意的。　　⑹非金属材料分析　非金属材料分析包括炉渣、矿石等原材料分析。它的分析方法大致可分成二大类，一种是把试样振动磨粉碎，然后压制成直径为40毫米的圆片，直接放在X射线荧光光谱仪上分析。这样方法特点是速度快，一般五分钟左右就能报出结果，适合作快速分析，但是有“颗粒度效应”和“矿物效应”，所以一定要严格控制试样颗粒度大小。特别对轻元素分析，尤为严重，可以适当加入稀释剂、粘结剂、重吸收剂，如硼酸、淀粉、硫酸钒等，来减少基体效应并可压成圆片。另一种方法为熔融法，可以在试样中加入熔剂如四硼酸锂等，在高温下溶融成玻璃熔珠，熔融时间一般为10~20分钟，中间要摇动以除去气泡，对某些试剂还要加入氧化剂，如硝酸钠等，为了防止试片破裂，可适当加入溴化物使其容易脱模。如在铂-黄金（5%)坩埚中熔融，冷却脱模以后，试样就可以直接使用。这种方法准确度高，并且能消除“颗粒度效应”和“矿物效应”，但是分析速度慢，对某些元素灵敏度差。

1989年11月，鞍山钢铁公司技术质量监督处朱清昌处长来中国科学院长春光学精密机械研究所，要求研制与进口压样机性能一致的仪器，与X光荧光光谱分析仪配套。1990年10月，中国科学院长春光学精密机械研究所19研究室研制成功我国第一台国产压样机，型号：HP-40。紧接着又为鞍钢质检处制造了两台。从此，结束了我国压样机依靠进口的历史！长春迈维仪器设备有限公司是研发制造试验、检测设备的高新技术企业，专业从事红外光谱分析仪和X荧光光谱分析仪配套设备的设计制造以及非常态金属材料试验机的开发工作。 配套协作厂技术力量雄厚，制造设备精良，其产品工艺技术水平是国内各大用户厂商有目共睹的。本公司近年来研发的MXZ系列，XYYJ系列光谱分析仪配套设备，是根据国内外同类产品最新发展趋势，以全新的设计理念，人性化的设计方案，精心制造的产品，它凝聚了我公司全体科研人员的才智。自公司成立至今，产品已遍布中国大陆各个省市地区，同时也远销我国台湾及韩国、越南、也门、津巴布韦、俄罗斯等国，产品的品质和性能普遍受到国内外用户的一致认可和好评。长春迈维一贯秉承用户至上的理念，质量第一的生产原则。可根据用户需要提供各种吨位的压样机。长春迈维仪器设备有限公司是一家在试验、检测设备领域拥有多年丰富经验的高新技术企业，集研发、生产、制造于一体，专业从事红外光谱分析仪和X荧光光谱分析仪配套设备及非常态金属材料试验机的研发设计及生产制造工作。公司主营产品分为两大系列——“压样机”和“振动磨”，凭借十几年的经验积累，在研发设计及制造工艺上在同行业中处于领先水平，产品遍布全国，并远销台湾、韩国、越南、也门、津巴布韦、俄罗斯等国。二、长春迈维已成功入驻武汉东湖高新技术开发区（中国光谷）日前长春迈维已成功入驻武汉东湖高新技术开发区（中国光谷）。“中国光谷”是世界高新企业的汇聚之地，享有“智慧之光、财富之谷”的美誉。这里科研机构众多，高校林立，人才资源丰富，产学研体系健全，拥有极强的自主创新能力及资源整合能力。长春迈维将设立“中国光谷”营销中心，继续秉承用户至上、质量第一的经营理念，同时借助国家高新技术开发区的区位优势，为公司技术革新、资源整合等方面寻求更强有力的动力支持。公司拥有多年的行业积累，拥有一批充满活力的专业人才及行业领先的独立研发技术水平，入驻光谷后，将会为广大用户提供更高品质的产品更专业的服务。http://www.chem17.com/st6721/product_1771662.html压样机、振磨机长春市高新技术开发区震宇街158号 武汉市东湖高新区长城创新科技园B座201室联系人: 张强 / 邮箱: 804129893@qq.com / QQ: 804129893 / 电话: 02787024316 / 手机: 18171128659

一．X射线荧光分析仪简介 X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）。是用晶体分光而后由探测器接受经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器做同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此进行特定分析和定量分析。该种仪器产生于50年代，由于可以对复杂体进行多组同事测定，受到关注，特别在地质部门，先后配置了这种仪器，分析速度显著提高，起了重要作用。随着科学技术的进步在60年代初发明了半导体探测仪器后，对X荧光进行能谱分析成为可能。能谱色散型X射线荧光光谱仪（ED-XRF），用X射线管产生原级X射线照射到样品上，所产生的特征X射线（荧光）这节进入SI(LI)探测器，便可以据此进行定性分析和定量分析，第一胎ED-XRF是1969年问世的。近几年来，由于商品ED-XRF仪器及仪表计算机软件的发展，功能完善，应用领域拓宽，其特点，优越性日益搜到认识，发展迅猛。 二．波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别 虽然光波色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪与能量色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪同属于X射线荧光分析仪，它产生信号的方法相同，最后得到的波谱也极为相似，单由于采集数据的方式不同，WD-XRF（波谱）与WD-XRF(能谱)在原理和仪器结构上有所不同，功能也有区别。（一）原理区别 X射线荧光光谱法，是用X射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是用分光近体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X射线波长和强度，从而测定各种元素的含量。而能量色散型荧光光仪（ED-XRF）是借组高分辨率敏感半导体检查仪器与多道分析器将未色散的X射线荧光按光子能量分离X色线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素的量，由于原理的不同，故仪器结构也不同。（二）结构区别 波长色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管），样品室，分光晶体和检测系统等组成。为了准且测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在一个精密的测角仪上，还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，造成强度的损失，要求作为光源的X射线管的功率要打，一般为2-3千瓦，单X射线管的效率极低，只有1%的功率转化为X射线辐射功率，大部分电能均转化为而能产生高温，所以X射线管需要专门的冷却装置（水冷或油冷），因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。 能量色散型荧光光谱仪（DE-XRF）

在文献上只看到利用荧光光谱分析如Al2O3等陶瓷材料的应力，但不知道有哪位知道除了陶瓷材料，荧光光谱是不是还可以用来分析其他材料的残余应力，尤其是界面处的生长应力，或者哪位有关于这方面的好的资料，以及荧光光谱分析分析应力的原理方面的资料，希望能够不吝赐教，小弟在这里先谢过了。

布鲁克Bruker---X射线荧光光谱分析原理与技术,170多页PPT，非常详细，图文并茂！[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=141743]布鲁克Bruker---X射线荧光光谱分析原理与技术--170多页PPT[/url]

求符合原子荧光形态分析仪参数的产品专用的液相色谱和氢化物发生原子荧光光谱仪接口：可以有效的把柱后流出液和氢化物发生液体混合配接专用的液相色谱-原子荧光检测软件，可以实现连续的检测，实时采集数据线性范围 三个数量级双通道，可单元素测定，也可双元素同时测定，提高仪器分析速度主要的参数，求符合以上要求的生产厂家资料

JJF1133-2005 X射线荧光光谱法黄金含量分析仪校准规范的附录A有几个疑惑：1、表A-2的标样的不确定度50如何得来？2、有效自由度的取法是只进不舍吗？比如按照校准给的规范算得的有效自由度为49.43，结果取了503、给定置信水平p=0.99，有效自由度为50，查t分布得覆盖因子k=t0.99(50)=2.68，为什么我查的结果是2.40？

X射线荧光衍射：利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同，分为X射线光谱法(波长色散)和X射线能谱法(能量色散)。 当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位，原子内层电子重新配位，较外层的电子跃迁到内层电子空位，并同时放射出次级X射线光子，此即X射线荧光。较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能级的能量差，因此，X射线荧光的波长对不同元素是特征的。 根据色散方式不同，X射线荧光分析仪相应分为X射线荧光光谱仪(波长色散)和X射线荧光能谱仪(能量色散)。 X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。通过测角器以1∶2速度转动分析晶体和探测器，可在不同的布拉格角位置上测得不同波长的X射线而作元素的定性分析。探测器的作用是将X射线光子能量转化为电能，常用的有盖格计数管、正比计数管、闪烁计数管、半导体探测器等。记录单元由放大器、脉冲幅度分析器、显示部分组成。通过定标器的脉冲分析信号可以直接输入计算机，进行联机处理而得到被测元素的含量。 X射线荧光能谱仪没有复杂的分光系统，结构简单。X射线激发源可用X射线发生器，也可用放射性同位素。能量色散用脉冲幅度分析器 。探测器和记录等与X射线荧光光谱仪相同。 X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。 X射线荧光分析法用于物质成分分析，检出限一般可达10-5～10-6克／克(g／g)，对许多元素可测到10-7～10-9g／g，用质子激发时 ，检出可达10-12g／g；强度测量的再现性好；便于进行无损分析；分析速度快；应用范围广，分析范围包括原子序数Z≥3的所有元素。除用于物质成分分析外，还可用于原子的基本性质如氧化数、离子电荷、电负性和化学键等的研究。

[cp]合金分析仪仪器的原理介绍合金分析仪的是一种XRF光谱分析技术，可用于确认物质里的特定元素， 同时将其量化。它可以根据X射线的发射波长（λ）及能量（E）确定具体元素，而通过测量相应射线的密度来确定此元素的量。如此一来，XRF度普术就能测定物质的元素构成。在XRF分析法中，从X光发射管里放射出来的高能初级射线光子会撞击样本元素。这些初级光子含有足够的能量可以将里层即K层或L层的电子撞击脱轨。这时，原子变成了不稳定的离子。由于电子本能会寻求稳定，外层L层或M层的电子会进入弥补内层的空间。在这些电子从外层进入内层的过程中，它们会释放出能量，我们称之为二次X射线光子。而整个过程则称为萤光辐射。每种元素的二次射线都各有特征。而X射线光子萤光辐射产生的能量是由电子转换过程中内层和外层之间的能量差决定的。例如，铁原子Fe的Kα能量大约是6.4千电子伏。特定元素在一定时间内所放射出来的X射线的数量或者密度，能够用来衡量这种元素的数量。典型的XRF能量分布光谱显示了不同能量时光子密度的分布情况。每一个原子都有自己固定数量的电子（负电微粒）运行在核子周围的轨道上。而且其电子的数量等同于核子中的质子（正电微粒）数量。从元素周期表中的原子数我们则可以得知质子的数目。每一个原子数都对应固定的元素名称，例如铁，元素名是Fe，原子数是26。 能量色散X萤光与波长色散X萤光光谱分析技术特别研究与应用了里层三个电子轨道即K，L，M上的活动情况，其中K轨道为接近核子，每个电子轨道则对应某元素一个个特定的能量层。

以激光作为荧光激发光源，与其它分离技术联用组成专用的分析仪器。有关激发光源和原子化器的进一步完善--以电感耦合等离子仪器作为原子化器的原子荧光光谱仪。

虽然波长色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪与能量色散型（WD-XRF）X射线荧光光谱仪同属X射线荧光分析仪，它们产生信号的方法相同，最后得到的波谱或者能谱也极为相似，但由于采集数据的方式不同，ED-XRF（波谱）与ED-XRF（能谱）在原理和仪器结构上有所不同，功能也有区别。　　（一）原理区别　　X-射线荧光光谱法，是用X-射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是分光晶体将荧光光束色散后，测定各种元素的含量。而能量色散型X射线荧光光仪（WD-XRF）是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将未色散的X-射线按光子能量分离X-射线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素的量。由于原理不同，故仪器结构也不同。　　（二）结构区别　　波长色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管）、样品室、分光晶体和检测系统等组成。为了准确测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在一个精密的测角仪上，还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，造成强度的损失，要求作为光源的X-射线管的功率要大，一般为２～３千瓦。但X-射线管的效率极低，只有１％的电功率转化为X-射线辐射功率，大部分电能均转化为热能产生高温，所以X-射线管需要专门的冷却装置（水冷或油冷），因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。能量色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管）、样品室和检测系统等组成，与波长色散型荧光光谱仪的区别在于它用不分光晶体。由于这一特点，使能量色散型荧光光仪具有如下优点：　　①仪器结构简单，省略了晶体的精密运动装置，也无需精度调整。还避免了晶体衍射所造成的强度损失。光源使用的X-射线管功率低，一般在100W以下，不需要昂贵的高压发生器和冷却系统，空气冷却即可，节省电力。　　②能量色散型荧光光仪的光源、样品、检测器彼此靠得很近，X-射线的利用率很高，不需要光学聚集，在累积整个光谱时，对样品位置变化不象波长色散型荧光光谱仪那样敏感，对样品形状也无特殊要求。　　③在能量色散谱仪中，样品发出的全部特征X-射线光子同时进入检测器，这就奠定了使用多道分析器和荧光屏同时累积和显示全部能谱（包括背景）的基础，也能清楚地表明背景和干扰线。因此，半导体检测器X-射线光谱仪能比晶体X-射线光谱仪快而方便地完成定性分析工作。　　④能量色散法的一个附带优点是测量整个分析线脉冲高度分布的积分程度，而不是峰顶强度。因此，减小了化学状态引起的分析线波长的漂移影响。由于同时累积还减小了仪器的漂移影响，提高净计数的统计精度，可迅速而方便地用各种方法处理光谱。同时累积观察和测量所有元素，而不是按特定谱线分析特定元素。因此，见笑了偶然错误判断某元素的可能性。（选自网络，侵删）

便携式X荧光光谱仪（EDX P-930 手持式土壤分析仪）的辐射剂量率测定摘要：本文旨在通过对手持式X荧光光谱仪的辐射剂量率测定，消除检测人员对辐射的恐慌心理和正确做好相关的辐射防护。一、测试对象：EDX P-930手持式土壤分析仪 该仪器主要用于土壤，沉积物以及淤泥等中重金属元素的快速测试分析。属不需样品前处理的非破坏性分析,能在极短的时间内完成快速分析和现场直接测定。其测试原理是：元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，通过测出荧光X射线的能量,就可以知道元素的种类，且荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系。 EDX P-930手持式土壤分析仪激发源为40KV/50uA-银靶端窗一体化微型X光管。

我现在是一家科学仪器经销商的员工，主要为客户做售前选型方面的工作。以前学的是应用化学有机成型方向，有学过《仪器分析》但除了少量色谱和分光光度计的知识外很多已忘光。有在食品实验室工作经验但主要做水分、蛋白、粗脂肪等常规项目，色谱、[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原吸[/color][/url]、原子荧光有看同事用过，自己在同事指导下完成过几次。现在想重点系统学习色谱、[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原吸[/color][/url]、原子荧光、元素分析等实验室常用分析仪器的知识，群里做相关方面的厂家可否帮忙指导一下我该怎么做？顺便推荐些资料。我的目标是想自己在客户面前显得专业，能根据客户需求配置最优方案，及指导客户处理一些常见的故障。

X荧光硫元素分析仪是为了适应油品中硫含量检测需要而开发制造的X荧光分析仪。它采用能量色散原理,机电一体微机化设计,分析快速、准确。其重复性、再现性都符合国家标准GB/T 17040和GB 11140的相关要求,也符合美国国家标准D 4294-03的要求,它为原油或石油化工生产过程中硫含量的检测,提供了帮助。[font=&]得利特（北京）科技有限公司20多年专注于油品分析仪器的研发和销售活动，我公司产品有：油液污染度检测仪、酸值测定仪、微量水分测定仪、凝点倾点测定仪、体积电阻率测定仪、介电强度测定仪、介质损耗测定仪、水溶性酸测定仪、界面张力测定仪、析气性测定仪、[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相色谱[/url]分析仪、多功能振荡仪、腐蚀性硫测定仪、闭口闪点测定仪等多种绝缘油分析仪器、燃料油分析仪器、润滑油分析仪器,水质分析检测仪器、气体检测仪器，型号多，质量保证，可定制。最近新出了：动力粘度测定仪、智能粘度测量仪、相对粘度测定仪、PVC比浓粘度测定仪、特性粘度测定仪、粘均分子量测定仪、聚酯粘度仪、自动乌氏粘度仪、自动粘度仪、自动尼龙粘度仪。[/font]