荧光光谱仪工作原理

我是一个新人，刚接触原子荧光。我想问一下大家仪器工作流程。我不是要问荧光原理，而是仪器工作流程，比如什么时候进载液，什么时候进还原剂，还有样品。求大家指导。

一、两者分析原理 直读火花光谱仪工作原理则是用电弧（火花）的高温使样品中各种元素从固态直接气化并被激发而射出各元素的特征波长，用光栅分光后，成为按波长排列的“光谱”，这些元素的特征光谱线通过通过出射狭缝，射入各自的光电倍增管，光信号变成电信号，经仪器的控制测量系统将电信号积分并进行模/数转换，然后由计算机处理，并打印出各元素的百分含量。 而X荧光光谱仪工作原理介绍用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X荧光光谱仪。由于X光具有一定波长，同时又有一定能量，因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型和能量色散型。二、分析特点差异 火花直读光谱仪要求试样具有导电性，且只能是固体样品，简单地说就是火花直读只能分析金属固体样品中的元素。 而X射线荧光光谱仪由计算机控制，自动化水平高，分析速度快，它对样品要求不高，可以分析粉末样品、固体样品、熔融样品、液体样品，不需要样品具有导电性，金属及非金属样品均可分析。从这点看出X荧光光谱仪适用范围更广。

天瑞活动X荧光光谱仪原理应用及维护书籍的确不错，看完后受益匪浅，虽然有些原理比较深奥难懂，但对设备有了更多的了解；希望后续还有这方面活动 书籍学习[img]https://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09505.gif[/img]

下列说法哪个是错误的？( 2 ) ——-为什么要选择2呢？(1)荧光光谱的最短波长和激发光谱的最长波长相对应(2)最长的荧光波长与最长的激发光波长相对应(3)荧光光谱与激发光波长无关(4)荧光波长永远长于激发光波长楼主分析：荧光光谱：使激发光的波长和强度保持不变，让荧光物质所发生不同波长和强度的荧光；以荧光波长为横坐标，以荧光强度为纵坐标作图，即为荧光光谱，又称荧光发射光谱。激发光谱：让不同波长的激发光激发荧光物质使之发生荧光，而让荧光以固定的发射波长照射到检测器上，然后以激发光波长为横坐标，以荧光强度为纵坐标，所绘制的图即为荧光激发光谱，又称激发光谱。根据定义，荧光光谱与激发光波长无关，选项3不选。原子荧光分为3类：共振荧光、非共振荧光、敏化荧光非共振荧光又可分为：直跃线荧光、阶跃线荧光、反斯托克斯荧光共振荧光：荧光波长和激发波长相同直跃线荧光、阶跃线荧光：荧光波长都比激发波长要长反斯托克斯荧光：荧光波长比激发波长要短由此可见，选项4并不正确。荧光光谱：荧光波长——荧光强度激发光谱：激发波长——荧光强度没有看出来选项1和2是否正确呀！！

[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=42365]全反射X—射线荧光光谱的原理和应用[/url]

我公司有一台ARL-9800 X 射线荧光光谱仪，老是出问题，请问这台仪器是属于原子发射光谱仪吗，能不能提供其工作原理。

虽然波长色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪与能量色散型（WD-XRF）X射线荧光光谱仪同属X射线荧光分析仪，它们产生信号的方法相同，最后得到的波谱或者能谱也极为相似，但由于采集数据的方式不同，ED-XRF（波谱）与ED-XRF（能谱）在原理和仪器结构上有所不同，功能也有区别。　　（一）原理区别　　X-射线荧光光谱法，是用X-射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是分光晶体将荧光光束色散后，测定各种元素的含量。而能量色散型X射线荧光光仪（WD-XRF）是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将未色散的X-射线按光子能量分离X-射线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素的量。由于原理不同，故仪器结构也不同。　　（二）结构区别　　波长色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管）、样品室、分光晶体和检测系统等组成。为了准确测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在一个精密的测角仪上，还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，造成强度的损失，要求作为光源的X-射线管的功率要大，一般为２～３千瓦。但X-射线管的效率极低，只有１％的电功率转化为X-射线辐射功率，大部分电能均转化为热能产生高温，所以X-射线管需要专门的冷却装置（水冷或油冷），因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。能量色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管）、样品室和检测系统等组成，与波长色散型荧光光谱仪的区别在于它用不分光晶体。由于这一特点，使能量色散型荧光光仪具有如下优点：　　①仪器结构简单，省略了晶体的精密运动装置，也无需精度调整。还避免了晶体衍射所造成的强度损失。光源使用的X-射线管功率低，一般在100W以下，不需要昂贵的高压发生器和冷却系统，空气冷却即可，节省电力。　　②能量色散型荧光光仪的光源、样品、检测器彼此靠得很近，X-射线的利用率很高，不需要光学聚集，在累积整个光谱时，对样品位置变化不象波长色散型荧光光谱仪那样敏感，对样品形状也无特殊要求。　　③在能量色散谱仪中，样品发出的全部特征X-射线光子同时进入检测器，这就奠定了使用多道分析器和荧光屏同时累积和显示全部能谱（包括背景）的基础，也能清楚地表明背景和干扰线。因此，半导体检测器X-射线光谱仪能比晶体X-射线光谱仪快而方便地完成定性分析工作。　　④能量色散法的一个附带优点是测量整个分析线脉冲高度分布的积分程度，而不是峰顶强度。因此，减小了化学状态引起的分析线波长的漂移影响。由于同时累积还减小了仪器的漂移影响，提高净计数的统计精度，可迅速而方便地用各种方法处理光谱。同时累积观察和测量所有元素，而不是按特定谱线分析特定元素。因此，见笑了偶然错误判断某元素的可能性。（选自网络，侵删）

紫外荧光定硫仪是目前国内最先进的硫元素同步测定仪，广泛被应用到检测液体、固体、气体样品中的硫含量。　　仪器采用紫外荧光法测定总硫的含量，系统关键部件采用进口元件，使得整机性能有了可靠的保证。　　仪器适用于测定石腊油、柴油、汽油、润滑油、燃料油、液化气及天然气，以及其它油品、化工原料及成品的总硫含量。　　工作原理：　　仪器采用紫外荧光法测定原理，样品经高温氧化反应，其中的硫化物宣地转化为SO2.样品气经过膜式干燥器脱去其中的水份，进入反应室。SO2经紫外线照射，产生特定波长的光谱，由光电倍增管检测接收。发射的荧光强度和原样品中硫的含量成正比，再经微电流放大、计算机数据处理，即可转换为与光强度成正比的电信号，通过测量其大小即可计算出相应样品的含硫量。

紫外荧光定硫仪是目前国内最先进的硫元素同步测定仪，广泛被应用到检测液体、固体、气体样品中的硫含量。　　仪器采用紫外荧光法测定总硫的含量，系统关键部件采用进口元件，使得整机性能有了可靠的保证。　　仪器适用于测定石腊油、柴油、汽油、润滑油、燃料油、液化气及天然气，以及其它油品、化工原料及成品的总硫含量。　　工作原理：　　仪器采用紫外荧光法测定原理，样品经高温氧化反应，其中的硫化物宣地转化为SO2.样品气经过膜式干燥器脱去其中的水份，进入反应室。SO2经紫外线照射，产生特定波长的光谱，由光电倍增管检测接收。发射的荧光强度和原样品中硫的含量成正比，再经微电流放大、计算机数据处理，即可转换为与光强度成正比的电信号，通过测量其大小即可计算出相应样品的含硫量

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X荧光光谱仪（XRF测试仪）由激发源（X射线管）、高压电源、探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。工作原理 X光管发射的X射线，经过滤光片后，X射线的背景射线被滤光片吸收而减弱，然后经准直器变成平行光束，照射在样品上．样品受到激发，随即产生含有被测元素的特征X射线荧光的复合光束．再经过准直器的准直进入半导体探测器，探测器本身具有能量分辨能力，可以甄别样品所有发射的不同能量特征的X射线荧光，探测器输出的信号经放大器的放大后进入运算装置，由于探测器输出的信号与入射的X射线荧光的能力成正比，因此可以得到定性、定量分析的能量谱图。注：X射线荧光(X Ray Fluorescence)是一种电磁波，是原子内层电子受到激发，在跃迁的时候，产生的一种电磁辐射。lXRF:X射线荧光(XRayFluorescence) 通常把照射在物质上的X射线的原级X射线和照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光。 X射线，激发被测物料，受激发的物料中不同元素发出的特征波长的X射线和能量差。 X射线荧光光谱仪有两种基本类型： 波长色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF)更多相关文献： 请点击

原理&方法01 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- X射线管02 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- 工作原理03 RoHS检测仪维修 --- 更换探头03 RoHS检测仪维修03 RoHS检测仪结构介绍 1800法律法规01 环保指令汇总 02 欧盟WEEE指令2002/96/EC 欧盟REACH法规指令 EC 1907/2006 欧盟ELV指令2000/53/EEC 欧盟包装物和废弃包装物指令94/62/EC 欧盟新电池指令2006/66/EC 欧盟Eup指令2005/32/EC 欧盟镉指令91/338/EEC 欧盟镍指令94/27/EC 欧盟偶氮染料指令2002/61/EC 欧盟邻苯二甲酸盐指令2005/84/EC 挪威PoHS 文献资料01 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- 六种有害成分的存在形式及其替代方法02 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- X荧光光谱仪是什么?03 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- RoHS培训-手机产品04 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- 术语05 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- 元素之间干扰06 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- 物料分类与拆分07 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- RoHS1.0，2.0指令区别08 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- X射线分析仪(电子版书籍)09 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- 辐射小知识10 RoHS检测仪器---欧盟RoHS指令豁免条款11 RoHS检测仪器---卤素简介12 中国RoHS与欧盟RoHS之比较表资料目录为：第一章 简单原理第二章 X射线的发生、衍射和吸收原理第三章 X射线的激发第四章 波长色散分光计和晶体性质第五章 探测器和电路第六章 能量色散第七章 分析的精密度和准确度……内容持续更新中……09 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- 各國玩具重金屬要求對照表

合金分析就是采用XRF(X射线荧光光谱)分析原理来分析合金元素成份/含量以及合金牌号,XRF分析原理是目前世界最先进的合金分析原理,相比传统的化学分析方法来说,XRF分析可以达到即时分析,无损检测,不需要任何耗材,并且检测精度可以达到小数点后四位.逐渐取代传统化学分析方法. 　　X射分析原理是利用X射线激发被测物体表面,使得其表面原子发生能级跃迁,利用探测器接收到X射线,然后通过能谱图对比分析元素成份,每种原子都有其特定的能量光谱图.x射线是1895年德国物理学家伦琴(W．C．RÖntgen)在研究阴极射线管中气体放电现象时，用一只嵌有两个金属电极(一个叫做阳极，一个叫做阴极)的密封玻璃管，在电极两端加上几万伏的高压电，用抽气机从玻璃管内抽出空气。为了遮住高压放电时的光线(一种弧光)外泄，在玻璃管外面套上一层黑色纸板。他在暗室中进行这项实验时，偶然发现距离玻璃管两米远的地方，一块用铂氰化钡溶液浸洗过的纸板发出明亮的荧光。再进一步试验，用纸板、木板、衣服及厚约两千页的书，都遮挡不住这种荧光。更令人惊奇的是，当用手去拿这块发荧光的纸板时，竞在纸板上看到了手骨的影像。　　当时伦琴认定：这是一种人眼看不见、但能穿透物体的射线。因无法解释它的原理，不明它的性质，故借用了数学中代表未知数的“X”作为代号，称为“X”射线(或称X射线或简称X线)。这就是X射线的发现与名称的由来。此名一直延用至今。后人为纪念伦琴的这一伟大发现，又把它命名为伦琴射线。

请问X射线荧光光谱仪对薄膜和多层膜分析的基本参数方法原理及数学模型是什么？

X射线荧光衍射：利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同，分为X射线光谱法(波长色散)和X射线能谱法(能量色散)。 当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位，原子内层电子重新配位，较外层的电子跃迁到内层电子空位，并同时放射出次级X射线光子，此即X射线荧光。较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能级的能量差，因此，X射线荧光的波长对不同元素是特征的。 根据色散方式不同，X射线荧光分析仪相应分为X射线荧光光谱仪(波长色散)和X射线荧光能谱仪(能量色散)。 X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。通过测角器以1∶2速度转动分析晶体和探测器，可在不同的布拉格角位置上测得不同波长的X射线而作元素的定性分析。探测器的作用是将X射线光子能量转化为电能，常用的有盖格计数管、正比计数管、闪烁计数管、半导体探测器等。记录单元由放大器、脉冲幅度分析器、显示部分组成。通过定标器的脉冲分析信号可以直接输入计算机，进行联机处理而得到被测元素的含量。 X射线荧光能谱仪没有复杂的分光系统，结构简单。X射线激发源可用X射线发生器，也可用放射性同位素。能量色散用脉冲幅度分析器 。探测器和记录等与X射线荧光光谱仪相同。 X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。 X射线荧光分析法用于物质成分分析，检出限一般可达10-5～10-6克／克(g／g)，对许多元素可测到10-7～10-9g／g，用质子激发时 ，检出可达10-12g／g；强度测量的再现性好；便于进行无损分析；分析速度快；应用范围广，分析范围包括原子序数Z≥3的所有元素。除用于物质成分分析外，还可用于原子的基本性质如氧化数、离子电荷、电负性和化学键等的研究。

X射线荧光光谱分析的基本原理 　　当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，亦称次级光电效应或无辐射效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生X射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。因此，X射线荧光的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系。图10.1给出了X射线荧光和俄歇电子产生过程示意图。 　　K层电子被逐出后,其空穴可以被外层中任一电子所填充，从而可产生一系列的谱线，称为K系谱线：由L层跃迁到K层辐射的X射线叫Kα射线,由M层跃迁到K层辐射的X射线叫Kβ射线……。同样,L层电子被逐出可以产生L系辐射(见图10.2)。如果入射的X射线使某元素的K层电子激发成光电子后L层电子跃迁到K层，此时就有能量ΔE释放出来，且ΔE=EK-EL，这个能量是以X射线形式释放，产生的就是Kα射线，同样还可以产生Kβ射线 ，L系射线等。莫斯莱(H.G.Moseley) 发现，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下： λ=K(Z-s)-2 　　这就是莫斯莱定律，式中K和S是常数，因此,只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。

我公司是以生产铜基和银基钎料为主，欲购一台荧光光谱仪，用来检测，铜磷银合金中的磷、银含量和银铜锌锡合金中的银、锌、锡含量，以及一些微量的杂质元素如铅、镉、铋、铁、硅等等。那位大虾告诉小弟像我们这种情况买那个类型或型号的荧光光谱仪比较合适。那位兄弟姐妹能提供一些荧光光谱仪的资料，例如荧光光谱仪的原理、结构、荧光光谱仪都有哪些技术参数，等等。谢谢

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各位:有没有热心人发一下X荧光光谱仪内部结构图,并说明各部件的原理或作用?

荧光光谱仪是一种常用的分析仪器，广泛用于科研、生产等领域。大家在选择荧光光谱仪时需要根据各自的实验的需求进行选择。目前市面上的荧光光谱仪大体可以分为以下几类：1，x射线荧光光谱仪2，紫外可见近红外荧光光谱仪3，红外荧光光谱仪 虽然各种荧光光谱仪从产品应用、仪器设计都各不相同。但大家都有一个共性，就是采用激发源对样品进行激发，然后测量荧光的光谱，从而得到样品的元素成分、能级、缺陷等各种信息。并且可以进行定性和定量的分析。下面对各种荧光光谱仪分别进行介绍。1，x射线荧光光谱仪1）X射线荧光光谱分析的基本原理：当试样受到x射线，高能粒子束，紫外光等照射时，由于高能粒子或光子与试样原子碰撞，将原子内层电子逐出形成空穴，使原子处于激发态，这种激发态离子寿命很短，当外层电子向内层空穴跃迁时，多余的能量即以x射线的形式放出，并在教外层产生新的空穴和产生新的x射线发射，这样便产生一系列的特征x射线。 2）X射线荧光光谱议分光系统是由入射狭缝，分光晶体，晶体旋转机构，样品室和真空系统组成。其作用是将试样受激发产生的二次x射线 （荧光x射线）经入射狭缝准直后，投射到分光晶体上。晶体旋转机构使分光晶体转动，连续改变θ角，使各元素不同波长的x射线按布拉格定律分别发生衍射而分开，经色散产生荧光光谱。3）分析对象主要有各种磁性材料（NdFeB、SmCo合金、FeTbDy）、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等，以及各种形态样品的无标半定量分析，对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金，结果接近于定量分析的准确度。X荧光分析快速，某些样品当天就可以得到分析结果。适合课题研究和生产监控。 4）X射线荧光光谱仪分为：波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。 a）波长色散X射线荧光光谱 波长色散X射线荧光光谱，采用晶体或人工拟晶体根据Bragg定律将不同能量的谱线分开，然后进行测量。波长色散X射线荧光光谱一般采用X射线管作激发源，可分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素，因此测量速度通常比同时式慢，适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成，对测量速度要求高和批量试样分析, 顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。 b）能量色散X射线荧光光谱　 能量色散X射线荧光光谱，采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计数器为探测器，它们不需要液氮冷却。近年来，采用电致冷的半导体探测器，高分辨率谱仪已不用液氮冷却。同步辐射光激发X射线荧光光谱、质子激发X射线荧光光谱、放射性同位素激发X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采用的是能量色散方式。 c）非色散谱仪　非色散谱仪不是采用将不同能量的谱线分辨开来，而是通过选择激发、选择滤波和选择探测等方法使测量分析线而排除其他能量谱线的干扰，因此一般只适用于测量一些简单和组成基本固定的样品。 d）全反射X射线荧光 　　如果n1n2，则介质1相对于介质2为光密介质，介质2相对于介质1为光疏介质。对于X射线，一般固体与空[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相[/url]比都是光疏介质。所以，如果介质1是空气，那么α1α2，即折射线会偏向界面。如果α1足够小，并使α2=0，此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1α临界时，界面就象镜子一样将入射线全部反射回介质1中，这就是全反射现象。 5，X射线荧光光谱法有如下特点：　　分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；　　荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方法比较简便；　　分析浓度范围较宽,从常量到微量都可分析。重元素的检测限可达ppm量级，轻元素稍差；　　分析样品不被破坏，分析快速，准确，便于自动化。

一．X射线荧光分析仪简介 X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）。是用晶体分光而后由探测器接受经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器做同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此进行特定分析和定量分析。该种仪器产生于50年代，由于可以对复杂体进行多组同事测定，受到关注，特别在地质部门，先后配置了这种仪器，分析速度显著提高，起了重要作用。随着科学技术的进步在60年代初发明了半导体探测仪器后，对X荧光进行能谱分析成为可能。能谱色散型X射线荧光光谱仪（ED-XRF），用X射线管产生原级X射线照射到样品上，所产生的特征X射线（荧光）这节进入SI(LI)探测器，便可以据此进行定性分析和定量分析，第一胎ED-XRF是1969年问世的。近几年来，由于商品ED-XRF仪器及仪表计算机软件的发展，功能完善，应用领域拓宽，其特点，优越性日益搜到认识，发展迅猛。 二．波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别 虽然光波色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪与能量色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪同属于X射线荧光分析仪，它产生信号的方法相同，最后得到的波谱也极为相似，单由于采集数据的方式不同，WD-XRF（波谱）与WD-XRF(能谱)在原理和仪器结构上有所不同，功能也有区别。（一）原理区别 X射线荧光光谱法，是用X射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是用分光近体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X射线波长和强度，从而测定各种元素的含量。而能量色散型荧光光仪（ED-XRF）是借组高分辨率敏感半导体检查仪器与多道分析器将未色散的X射线荧光按光子能量分离X色线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素的量，由于原理的不同，故仪器结构也不同。（二）结构区别 波长色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管），样品室，分光晶体和检测系统等组成。为了准且测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在一个精密的测角仪上，还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，造成强度的损失，要求作为光源的X射线管的功率要打，一般为2-3千瓦，单X射线管的效率极低，只有1%的功率转化为X射线辐射功率，大部分电能均转化为而能产生高温，所以X射线管需要专门的冷却装置（水冷或油冷），因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。 能量色散型荧光光谱仪（DE-XRF）

原子荧光光度计是利用硼氢化钾或硼氢化钠作为还原剂，将样品溶液中的待分析元素还原为挥发性共价气态氢化物（或原子蒸汽），然后借助载气将其导入原子化器，在氩—氢火焰中原子化而形成基态原子。原子荧光光度计优点：1.非色散系统、光程短、能量损失少2.结构简单，故障率低3.灵敏度高，检出限低，与激发光源强度成正比4.接收多条荧光谱线5.适合于多元素分析6.采用日盲管检测器，降低火焰噪声7.线性范围宽，3个量级8.原子化效率高，理论上可达到100%9.没有基体干扰10.可做价态分析11.只使用氩气，运行成本低12.采用氩氢焰，紫外透射强，背景干扰小原子荧光光度计原理：是利用硼氢化钾或硼氢化钠作为还原剂，将样品溶液中的待分析元素还原为挥发性共价气态氢化物（或原子蒸汽），然后借助载气将其导入原子化器，在氩—氢火焰中原子化而形成基态原子。基态原子吸收光源的能量而变成激发态，激发态原子在去活化过程中将吸收的能量以荧光的形式释放出来，此荧光信号的强弱与样品中待测元素的含量成线性关系,因此通过测量荧光强度就可以确定样品中被测元素的含量。（选自网络）

荧光光度计的原理