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钢筋保护层厚度检测

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钢筋保护层厚度检测相关的耗材

  • 厚度3.0μ m样品XRF检测薄膜3026
    X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Etnom® 、ROHS测试膜--美国Chemplex-3026# 现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。美国Chemplex Industries有限公司 从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的*球知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE 测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性*佳,与样品杯组合使用,适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用,并被美国*利商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。品名:XRF样品膜Sample Film目录编号:CAT. NO:3026产品信息:Etnom® ,厚度3.0μm,直径76.2mm,100片/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。 三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 四、XRF样品膜目录:目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度(直径) 数量/盒 CAT. NO:3026:Etnom® 3.0 μ 0.00012” 0.12mil 0.00305 mm 3.0”(76.2mm) 100片
  • 厚度3.6μm 迈拉膜、样品检测膜156
    X射线荧光膜、土壤样品杯膜、mylar膜、XRF样品膜、迈拉膜、麦拉膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜--美国Chemplex 156# 现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的全球知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性极佳,与样品杯组合使用,适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用,并被美国专利商标局授予知识产权地位。美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT.NO:156产品信息:Mylar膜(迈拉膜、麦拉膜),厚度3.6μm,直径63.5mm,500片/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。 产品详细信息:SpectroCertified® Thin-Film Sampel SupportsMYLAR® POLYESTER FILMCAT. NO:156Gauge:0.00014”,3.6 μm;0.14mil,35,560ATypical Impurities,PPM:Ca, P, Sb, Fe, ZnChemplex® INDUSTRIES,INC.Contents:500Circles; Lot No:110777。 现货供应:XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。
  • 厚度3.0μ mRoHS&WEEE检测-3026#
    X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Etnom® 、ROHS测试膜--美国Chemplex-3026# 现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。美国Chemplex Industries有限公司 从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE 测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性 ,与样品杯组合使用,适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。品名:XRF样品膜Sample Film目录编号:CAT. NO:3026产品信息:Etnom® ,厚度3.0μm,直径76.2mm,100片/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。 三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 四、XRF样品膜目录:目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度(直径) 数量/盒 CAT. NO:3026:Etnom® 3.0 μ 0.00012” 0.12mil 0.00305 mm 3.0”(76.2mm) 100片
  • 厚度6.0μ mRoHS-WEEE检测膜TF-160-255#
    XRF測試用的麥拉膜材質、XRF专用圆形薄膜、X射线荧光膜、迈拉膜、麦拉膜--美国Premier TF-160-255# 现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Premier样品膜。一、美国Premier XRF样品膜:美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域,以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。美国Premier X-ray样品膜(X-ray Film)以其极低的(几乎不含)杂质和厚度均匀而严格生产,极好的柔韧性和抗化学腐蚀性,保证检测结果的可靠性和重现性,被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。二、Premier 样品膜特点: 有卷状和片状,多种规格、尺寸、数量可供选择; 柔韧性强、方便、耐用; 的X-ray射线穿透性,适合各类XRF光谱仪; 的抗化学腐蚀性能,不溶于有机溶剂,不污染待测样品; (几乎不含)痕量杂质,特别适合于轻质元素的限量检测。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。品名:XRF样品膜Sample Film目录编号:CAT. NO:TF-160-255(圆片)产品信息:MYLAR膜(迈拉膜、麦拉膜),厚度6.0μm,直径63.5mm,500片/盒品牌:美国Premier(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。
  • 默克 Supelco TLC 硅胶60 薄层层析板 20×20 25块 铝 厚度200μ m TLC 硅胶60 薄层层析板 20×20 25块 铝 厚度200μm
    默克薄层层析产品简介 在高效液相色谱技术发达的今天,薄层层析色谱技术因其成本低廉,快速高效,适用性广( 基本涵盖所有物质包括农药、类固醇、脂类、核苷酸、配糖、碳水化合物、脂肪酸等)依然是广大化学家们热衷的分离检测手段。从1966年开始,德国默克公司就向全世界的化学分析家提供薄层层析预制板。几十年来,默克不断地推陈出新,高效薄层层析板、Lichrospher 球形硅胶薄层层析板,微晶纤维素板,各种改性键合硅胶板等这些对薄层色谱分析有些重要意义的产品,不停地更新并创造着全新的应用领域。默克公司薄层层析产品标的含义F一含有荧光指示剂F254 +366一荧光指示剂激发波长为254和366nmF254一绿色荧光指示剂F254s一蓝色荧光指示剂(对酸稳定)G—粘合剂含硫酸钙H—不含粘合剂P—制备薄层层析R—经特殊工艺进行深度纯化W—耐水根据不同的填料特征,默克公司的薄层层析板分为四大类:常规薄层层析板(TLC),高效薄层层析板(HPTLC),整体化薄层层析板(UTLC),制备薄层层析板(PLC)。各种类型薄层层析板的比较TLCHPTLCUTLCPLC平均粒度10-12μm5-6μm整体化填料25μm粒径分布5-20μm4-8μm整体化填料5-40μm涂层厚度250μm200μm10μm0.5mm,1mm,2mm展开高度10-15 cm3-6 cm1-3 cm10-15 cm上样体积1-5μl0.1-0.5μl5-10 nl5-20μl分析时间20-200 min3-20 min1-6 min20-200 min 根据不同的担体类型,默克公司的薄层层析板分为三类:玻璃层析板,铝薄层析板,塑料层析板。 根据不同涂层类型,默克薄层层析板分为以下:硅胶60、RP-18、RP-8、 RP-2、NH2,DIOL、 CN、氧化铝、微晶纤维素( Cellulose)、聚乙醇胺微晶纤维素、浓缩带薄层板、多肽分析专用HPTC板( ProteoChrom® )、硅藻土、硅藻土/硅胶混合板。常规薄层层析板 通常情况,正相硅胶薄层层析板可以适合绝大多数的物质。默克公司的正相硅胶板采用Silica 60为原材料,通过特有的聚合技术,使薄层板的表面坚硬且光滑。覆盖紧密、光滑的表面使得默克的薄层层析板拥有极好的分离效果。常规TLC参数平均粒度10-12μm粒径分布5-20μm涂层厚度250μm展开高度10-15 cm上样体积1-5μl分析时间20-200 min铝薄板VS玻璃板 由于玻璃层析板体积及重量庞大,运输存放不便,使得使用成本- -支居高不下。很多工艺落后的薄层板由于厚度太大,切割不便,使得使用起来很不方便,安全方面也不易控制。鉴于这种种不利因素,默克公司推出了以铝薄片为底衬的薄层层析板,结合默克公司独.一无二的聚合技术,使得铝薄板在实用性方面大大超越了传统的玻璃板。订货信息Si 60 薄层层析板填料尺寸包装材质订货号Silica gel 6020×2025块玻璃1.05721.000110×2050块玻璃1.05626.00015×20100块玻璃1.05724.00012.5×7.5100块玻璃1.15326.0001Silica gel 60 F25420×2025块玻璃1.05715.000110×2050块玻璃1.05729.00015×20100块玻璃1.05714.00015×2025块玻璃1.05808.00015×10200块玻璃1.05719.00015×1025块玻璃1.05789.00012.5×7.5100块玻璃1.15327.00012.5×7.5500块玻璃1.15341.0001Silica gel 60 WF 254s20×2025块玻璃1.16485.0001LuxPlate® silica gel 60 F 25420×2025块玻璃1.05805.000110×2050块玻璃1.05804.00015×20100块玻璃1.05803.00015×1025块玻璃1.05802.00012.5×7.5100块玻璃1.05801.0001Silica gel 60*20×2025块铝1.05553.00015×1050片铝1.16835.0001Silica gel 60 W*20×2025片铝1.16487.0001Silica gel 60 F 254 *20×2025片铝1.05554.000110×2025片铝1.05570.00015×1050片铝1.16834.00015×7.520片铝1.05549.0001Silica gel 60 WF 254s*20×2025片铝1.16484.0001Silica gel 60*20×2025片塑料1.05748.0001Silica gel 60 F 254 *20×2025片塑料1.05735.00014×850片塑料1.05750.0001其中含*项涂层厚度为200μm不含*项为250μmSi 60 薄层层析板填料尺寸包装材质订货号Silica gel 40 F25420×2025块玻璃1.05634.0001涂层厚度为250μmW:可耐水F254:含荧光指示剂F254s:含酸稳定的荧光指示剂高效薄层层析板(HPTLC) 和传统的薄层层析板相比,高效薄层层析板拥有不可替代的优势,具体如下:分离速度大大加快,节省约一半的时间灵敏度大幅度提高,约5-10倍重现性更好,色带更窄,适合于定量分析规格参数TLCHPTLC平均粒度10-12μm5-6μm粒径分布5-20μm4-8μm涂层厚度250μm200μm展开高度10-15 cm3-6 cm上样体积1-5μl0.1-0.5μl分析时间20-200 min3-20 minTLC 和 HPTLC 的比较订货信息填料尺寸包装材质订货号HPTLC silica gel 6020×1050块玻璃1.05641.000110×1025块玻璃1.05631.000110×10100块玻璃1.05633.0001HPTLC silica gel 60 F 254s20×1025块玻璃1.15696.0001HPTLC silica gel 60 F 25420×1050块玻璃1.05642.000110×1025块玻璃1.05628.000110×10100块玻璃1.05629.00015×1025块玻璃1.05616.0001HPTLC silica gel 6020×2025片铝1.05547.0001HPTLC silica gel 60 F 25420×2025片铝1.05548.00015×7.520片铝1.05556.0001HPTLC silica gel 60 WRF 254s20×1025块玻璃1.15552.0001HPTLC silica gel 60 F 254 AMD, extra thin*20×1025块玻璃1.11764.0001HPTLC silica gel 60 WRF 254s AMD, extra thin*20×1025块玻璃1.12363.0001New HPTLC Premium Purity Plate20×2025块玻璃1.05648.0001含*项涂层厚度为100μm不含*项为200μmLichrospher 高效薄层层析板默克公司最早将Lichrospher 球形硅胶应用到薄层层析板,这又将薄层层析方法的分离极限提高了一个层次,实现了复杂样品的高通量分析。和传统的HPTLC相比,Lichrospher HTPLC 有以下优势:分离时间更短,约可缩短20%分离效果更好检出限更低订货信息填料尺寸包装材质订货号HPTLC LiChrospher® silica gel 60 F25420×1025 plates玻璃1.15445.0001HPTLC LiChrospher® silica gel 60 F 254s20×2025 plates铝1.05586.0001HPTLC LiChrospher® silica gel 60 AMD WR F254s extra thin*20×1025 plates玻璃1.05647.0001HPTLC LiChrospher® silica gel 60 RP-18 WF254s20×1025 plates玻璃1.05646.0001
  • 厚度3.6 μ m检测透明薄膜150#
    X射线荧光膜、土壤样品杯膜、mylar膜、XRF样品膜、迈拉膜、麦拉膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜--美国Chemplex 150#现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT.NO:150产品信息:Mylar膜(迈拉膜、麦拉膜),卷轴,厚度3.6 μm,宽190px x 长91.4m,1卷/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。产品详细信息:SpectroCertified? Thin-Film Sampel SupportsMYLAR? POLYESTER FILMCAT. NO:150Gauge:0.00014”,3.6 μm;0.14mil,35,560ATypical Impurities,PPM:Ca, P, Sb, Fe, ZnChemplex? INDUSTRIES,INC.ROLL:3” x 300’ (190px x 91.4m); Lot No:111072。现货供应:XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。
  • 默克 Supelco TLC 硅胶60 薄层层析板 20×20 25块 铝 厚度200μ m
    默克薄层层析产品简介 在高效液相色谱技术发达的今天,薄层层析色谱技术因其成本低廉,快速高效,适用性广( 基本涵盖所有物质包括农药、类固醇、脂类、核苷酸、配糖、碳水化合物、脂肪酸等)依然是广大化学家们热衷的分离检测手段。从1966年开始,德国默克公司就向全世界的化学分析家提供薄层层析预制板。几十年来,默克不断地推陈出新,高效薄层层析板、Lichrospher 球形硅胶薄层层析板,微晶纤维素板,各种改性键合硅胶板等这些对薄层色谱分析有些重要意义的产品,不停地更新并创造着全新的应用领域。默克公司薄层层析产品标的含义F一含有荧光指示剂F254 +366一荧光指示剂激发波长为254和366nmF254一绿色荧光指示剂F254s一蓝色荧光指示剂(对酸稳定)G—粘合剂含硫酸钙H—不含粘合剂P—制备薄层层析R—经特殊工艺进行深度纯化W—耐水根据不同的填料特征,默克公司的薄层层析板分为四大类:常规薄层层析板(TLC),高效薄层层析板(HPTLC),整体化薄层层析板(UTLC),制备薄层层析板(PLC)。各种类型薄层层析板的比较TLCHPTLCUTLCPLC平均粒度10-12μm5-6μm整体化填料25μm粒径分布5-20μm4-8μm整体化填料5-40μm涂层厚度250μm200μm10μm0.5mm,1mm,2mm展开高度10-15 cm3-6 cm1-3 cm10-15 cm上样体积1-5μl0.1-0.5μl5-10 nl5-20μl分析时间20-200 min3-20 min1-6 min20-200 min 根据不同的担体类型,默克公司的薄层层析板分为三类:玻璃层析板,铝薄层析板,塑料层析板。 根据不同涂层类型,默克薄层层析板分为以下:硅胶60、RP-18、RP-8、 RP-2、NH2,DIOL、 CN、氧化铝、微晶纤维素( Cellulose)、聚乙醇胺微晶纤维素、浓缩带薄层板、多肽分析专用HPTC板( ProteoChrom® )、硅藻土、硅藻土/硅胶混合板。常规薄层层析板 通常情况,正相硅胶薄层层析板可以适合绝大多数的物质。默克公司的正相硅胶板采用Silica 60为原材料,通过特有的聚合技术,使薄层板的表面坚硬且光滑。覆盖紧密、光滑的表面使得默克的薄层层析板拥有极好的分离效果。常规TLC参数平均粒度10-12μm粒径分布5-20μm涂层厚度250μm展开高度10-15 cm上样体积1-5μl分析时间20-200 min铝薄板VS玻璃板 由于玻璃层析板体积及重量庞大,运输存放不便,使得使用成本- -支居高不下。很多工艺落后的薄层板由于厚度太大,切割不便,使得使用起来很不方便,安全方面也不易控制。鉴于这种种不利因素,默克公司推出了以铝薄片为底衬的薄层层析板,结合默克公司独.一无二的聚合技术,使得铝薄板在实用性方面大大超越了传统的玻璃板。订货信息Si 60 薄层层析板填料尺寸包装材质订货号Silica gel 6020×2025块玻璃1.05721.000110×2050块玻璃1.05626.00015×20100块玻璃1.05724.00012.5×7.5100块玻璃1.15326.0001Silica gel 60 F25420×2025块玻璃1.05715.000110×2050块玻璃1.05729.00015×20100块玻璃1.05714.00015×2025块玻璃1.05808.00015×10200块玻璃1.05719.00015×1025块玻璃1.05789.00012.5×7.5100块玻璃1.15327.00012.5×7.5500块玻璃1.15341.0001Silica gel 60 WF 254s20×2025块玻璃1.16485.0001LuxPlate® silica gel 60 F 25420×2025块玻璃1.05805.000110×2050块玻璃1.05804.00015×20100块玻璃1.05803.00015×1025块玻璃1.05802.00012.5×7.5100块玻璃1.05801.0001Silica gel 60*20×2025块铝1.05553.00015×1050片铝1.16835.0001Silica gel 60 W*20×2025片铝1.16487.0001Silica gel 60 F 254 *20×2025片铝1.05554.000110×2025片铝1.05570.00015×1050片铝1.16834.00015×7.520片铝1.05549.0001Silica gel 60 WF 254s*20×2025片铝1.16484.0001Silica gel 60*20×2025片塑料1.05748.0001Silica gel 60 F 254 *20×2025片塑料1.05735.00014×850片塑料1.05750.0001其中含*项涂层厚度为200μm不含*项为250μmSi 60 薄层层析板填料尺寸包装材质订货号Silica gel 40 F25420×2025块玻璃1.05634.0001涂层厚度为250μmW:可耐水F254:含荧光指示剂F254s:含酸稳定的荧光指示剂高效薄层层析板(HPTLC) 和传统的薄层层析板相比,高效薄层层析板拥有不可替代的优势,具体如下:分离速度大大加快,节省约一半的时间灵敏度大幅度提高,约5-10倍重现性更好,色带更窄,适合于定量分析规格参数TLCHPTLC平均粒度10-12μm5-6μm粒径分布5-20μm4-8μm涂层厚度250μm200μm展开高度10-15 cm3-6 cm上样体积1-5μl0.1-0.5μl分析时间20-200 min3-20 minTLC 和 HPTLC 的比较订货信息填料尺寸包装材质订货号HPTLC silica gel 6020×1050块玻璃1.05641.000110×1025块玻璃1.05631.000110×10100块玻璃1.05633.0001HPTLC silica gel 60 F 254s20×1025块玻璃1.15696.0001HPTLC silica gel 60 F 25420×1050块玻璃1.05642.000110×1025块玻璃1.05628.000110×10100块玻璃1.05629.00015×1025块玻璃1.05616.0001HPTLC silica gel 6020×2025片铝1.05547.0001HPTLC silica gel 60 F 25420×2025片铝1.05548.00015×7.520片铝1.05556.0001HPTLC silica gel 60 WRF 254s20×1025块玻璃1.15552.0001HPTLC silica gel 60 F 254 AMD, extra thin*20×1025块玻璃1.11764.0001HPTLC silica gel 60 WRF 254s AMD, extra thin*20×1025块玻璃1.12363.0001New HPTLC Premium Purity Plate20×2025块玻璃1.05648.0001含*项涂层厚度为100μm不含*项为200μmLichrospher 高效薄层层析板默克公司最早将Lichrospher 球形硅胶应用到薄层层析板,这又将薄层层析方法的分离极限提高了一个层次,实现了复杂样品的高通量分析。和传统的HPTLC相比,Lichrospher HTPLC 有以下优势:分离时间更短,约可缩短20%分离效果更好检出限更低订货信息填料尺寸包装材质订货号HPTLC LiChrospher® silica gel 60 F25420×1025 plates玻璃1.15445.0001HPTLC LiChrospher® silica gel 60 F 254s20×2025 plates铝1.05586.0001HPTLC LiChrospher® silica gel 60 AMD WR F254s extra thin*20×1025 plates玻璃1.05647.0001HPTLC LiChrospher® silica gel 60 RP-18 WF254s20×1025 plates玻璃1.05646.0001
  • 默克 Supelco TLC 硅胶60 薄层层析板 5×10 50块 铝 厚度200μ m
    默克薄层层析产品简介 在高效液相色谱技术发达的今天,薄层层析色谱技术因其成本低廉,快速高效,适用性广( 基本涵盖所有物质包括农药、类固醇、脂类、核苷酸、配糖、碳水化合物、脂肪酸等)依然是广大化学家们热衷的分离检测手段。从1966年开始,德国默克公司就向全世界的化学分析家提供薄层层析预制板。几十年来,默克不断地推陈出新,高效薄层层析板、Lichrospher 球形硅胶薄层层析板,微晶纤维素板,各种改性键合硅胶板等这些对薄层色谱分析有些重要意义的产品,不停地更新并创造着全新的应用领域。默克公司薄层层析产品标的含义F一含有荧光指示剂F254 +366一荧光指示剂激发波长为254和366nmF254一绿色荧光指示剂F254s一蓝色荧光指示剂(对酸稳定)G—粘合剂含硫酸钙H—不含粘合剂P—制备薄层层析R—经特殊工艺进行深度纯化W—耐水根据不同的填料特征,默克公司的薄层层析板分为四大类:常规薄层层析板(TLC),高效薄层层析板(HPTLC),整体化薄层层析板(UTLC),制备薄层层析板(PLC)。各种类型薄层层析板的比较TLCHPTLCUTLCPLC平均粒度10-12μm5-6μm整体化填料25μm粒径分布5-20μm4-8μm整体化填料5-40μm涂层厚度250μm200μm10μm0.5mm,1mm,2mm展开高度10-15 cm3-6 cm1-3 cm10-15 cm上样体积1-5μl0.1-0.5μl5-10 nl5-20μl分析时间20-200 min3-20 min1-6 min20-200 min 根据不同的担体类型,默克公司的薄层层析板分为三类:玻璃层析板,铝薄层析板,塑料层析板。 根据不同涂层类型,默克薄层层析板分为以下:硅胶60、RP-18、RP-8、 RP-2、NH2,DIOL、 CN、氧化铝、微晶纤维素( Cellulose)、聚乙醇胺微晶纤维素、浓缩带薄层板、多肽分析专用HPTC板( ProteoChrom® )、硅藻土、硅藻土/硅胶混合板。常规薄层层析板 通常情况,正相硅胶薄层层析板可以适合绝大多数的物质。默克公司的正相硅胶板采用Silica 60为原材料,通过特有的聚合技术,使薄层板的表面坚硬且光滑。覆盖紧密、光滑的表面使得默克的薄层层析板拥有极好的分离效果。常规TLC参数平均粒度10-12μm粒径分布5-20μm涂层厚度250μm展开高度10-15 cm上样体积1-5μl分析时间20-200 min铝薄板VS玻璃板 由于玻璃层析板体积及重量庞大,运输存放不便,使得使用成本- -支居高不下。很多工艺落后的薄层板由于厚度太大,切割不便,使得使用起来很不方便,安全方面也不易控制。鉴于这种种不利因素,默克公司推出了以铝薄片为底衬的薄层层析板,结合默克公司独.一无二的聚合技术,使得铝薄板在实用性方面大大超越了传统的玻璃板。订货信息Si 60 薄层层析板填料尺寸包装材质订货号Silica gel 6020×2025块玻璃1.05721.000110×2050块玻璃1.05626.00015×20100块玻璃1.05724.00012.5×7.5100块玻璃1.15326.0001Silica gel 60 F25420×2025块玻璃1.05715.000110×2050块玻璃1.05729.00015×20100块玻璃1.05714.00015×2025块玻璃1.05808.00015×10200块玻璃1.05719.00015×1025块玻璃1.05789.00012.5×7.5100块玻璃1.15327.00012.5×7.5500块玻璃1.15341.0001Silica gel 60 WF 254s20×2025块玻璃1.16485.0001LuxPlate® silica gel 60 F 25420×2025块玻璃1.05805.000110×2050块玻璃1.05804.00015×20100块玻璃1.05803.00015×1025块玻璃1.05802.00012.5×7.5100块玻璃1.05801.0001Silica gel 60*20×2025块铝1.05553.00015×1050片铝1.16835.0001Silica gel 60 W*20×2025片铝1.16487.0001Silica gel 60 F 254 *20×2025片铝1.05554.000110×2025片铝1.05570.00015×1050片铝1.16834.00015×7.520片铝1.05549.0001Silica gel 60 WF 254s*20×2025片铝1.16484.0001Silica gel 60*20×2025片塑料1.05748.0001Silica gel 60 F 254 *20×2025片塑料1.05735.00014×850片塑料1.05750.0001其中含*项涂层厚度为200μm不含*项为250μmSi 60 薄层层析板填料尺寸包装材质订货号Silica gel 40 F25420×2025块玻璃1.05634.0001涂层厚度为250μmW:可耐水F254:含荧光指示剂F254s:含酸稳定的荧光指示剂高效薄层层析板(HPTLC) 和传统的薄层层析板相比,高效薄层层析板拥有不可替代的优势,具体如下:分离速度大大加快,节省约一半的时间灵敏度大幅度提高,约5-10倍重现性更好,色带更窄,适合于定量分析规格参数TLCHPTLC平均粒度10-12μm5-6μm粒径分布5-20μm4-8μm涂层厚度250μm200μm展开高度10-15 cm3-6 cm上样体积1-5μl0.1-0.5μl分析时间20-200 min3-20 minTLC 和 HPTLC 的比较订货信息填料尺寸包装材质订货号HPTLC silica gel 6020×1050块玻璃1.05641.000110×1025块玻璃1.05631.000110×10100块玻璃1.05633.0001HPTLC silica gel 60 F 254s20×1025块玻璃1.15696.0001HPTLC silica gel 60 F 25420×1050块玻璃1.05642.000110×1025块玻璃1.05628.000110×10100块玻璃1.05629.00015×1025块玻璃1.05616.0001HPTLC silica gel 6020×2025片铝1.05547.0001HPTLC silica gel 60 F 25420×2025片铝1.05548.00015×7.520片铝1.05556.0001HPTLC silica gel 60 WRF 254s20×1025块玻璃1.15552.0001HPTLC silica gel 60 F 254 AMD, extra thin*20×1025块玻璃1.11764.0001HPTLC silica gel 60 WRF 254s AMD, extra thin*20×1025块玻璃1.12363.0001New HPTLC Premium Purity Plate20×2025块玻璃1.05648.0001含*项涂层厚度为100μm不含*项为200μmLichrospher 高效薄层层析板默克公司最早将Lichrospher 球形硅胶应用到薄层层析板,这又将薄层层析方法的分离极限提高了一个层次,实现了复杂样品的高通量分析。和传统的HPTLC相比,Lichrospher HTPLC 有以下优势:分离时间更短,约可缩短20%分离效果更好检出限更低订货信息填料尺寸包装材质订货号HPTLC LiChrospher® silica gel 60 F25420×1025 plates玻璃1.15445.0001HPTLC LiChrospher® silica gel 60 F 254s20×2025 plates铝1.05586.0001HPTLC LiChrospher® silica gel 60 AMD WR F254s extra thin*20×1025 plates玻璃1.05647.0001HPTLC LiChrospher® silica gel 60 RP-18 WF254s20×1025 plates玻璃1.05646.0001
  • 等厚度薄膜制样工具
    specac_迷你等厚度薄膜制样套装等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定。根据热压制膜原理,所得到样品是纯样品,谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求,提供了3种等厚度薄膜制样工具。不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜,还可以将粒状、块状或板材等不规则形状的聚合物变成可以用光谱检测的薄膜。视频:http://v.youku.com/v_show/id_XNDg3ODI1OTc2.html 点击观看视频
  • 薄层色谱硅胶板, 高效薄层层析硅胶G板, 涂层厚度: 0.2-0.25 mm, 200*100 mm, 40片/盒
    薄层色谱硅胶板, 高效薄层层析硅胶G板, 涂层厚度: 0.2-0.25 mm, 200*100 mm, 40片/盒
  • 薄层色谱硅胶板, 高效薄层层析硅胶G板, 涂层厚度: 0.2-0.25 mm, 100*50 mm, 160片/盒
    薄层色谱硅胶板, 高效薄层层析硅胶G板, 涂层厚度: 0.2-0.25 mm, 100*50 mm, 160片/盒
  • 薄层色谱硅胶板, 高效薄层层析硅胶G板, 涂层厚度: 0.2-0.25 mm, 100*100 mm, 80片/盒
    薄层色谱硅胶板, 高效薄层层析硅胶G板, 涂层厚度: 0.2-0.25 mm, 100*100 mm, 80片/盒
  • 防雷装置检测浪涌保护器安全巡检仪
    北京朋利驰科技有限公司生产产品:可燃气体测试仪,接地电阻测试仪,大地网测试仪,土壤电阻率测试仪,等电位测试仪,环路电阻测试仪,回路电阻测试仪,直流电阻测试仪,防雷元件测试仪,浪涌保护器安全巡检仪,智能高压绝缘电阻测试仪,压敏电阻测试仪,标准电阻,感烟探测器功能试验器,感温探测器功能试验器,数字照度计,线型光束感烟探测器滤光片,超声波流量计等。序号仪器设备名称配置台数主要性能要求甲级乙级1. 激光测距仪√√量程:0-150m2. 测厚仪√√金属厚度测量,超声波3. 经纬仪√√量程:0-360°,分辨率:2″4. 拉力计√√量程:0-40kgf;指针式5. 可燃气体测试仪√√适用气体:可燃气体6. 接地电阻测试仪√√测试电流:20mA(正弦波),分辨率:0.01Ω7. 大地网测试仪√测试电流:3A,分辨率:0.001~99.999Ω,频率可选8. 土壤电阻率测试仪√√四线法测量,测试电流:20mA(正弦波)分辨率:0.01Ω9. 等电位测试仪√√测试电流: ≥1A,四线法测试,分辨率:0.001Ω,具备大容量锂电池;10.环路电阻测试仪√√电阻测量分辨率:0.001Ω,电流测量分辨率:1μA 11.防雷元件测试仪√√测试器件:MOV,具备大容量锂电池。12.绝缘电阻测试仪√√0-1000MΩ13.表面阻抗测试仪√√测量范围:103-1010Ω14.静电电位测试仪√√测量范围:±20kv15.数字万用表√√电压、电流、电阻测量,分辨率:3位半16.防爆对讲机√防爆对讲17.标准电阻√√10-3~105欧姆,功率1/2w,线绕型18.钢卷尺√√分辨率:0.01m19.游标卡尺√√量程:0-150mm20.防雷检测仪器携带箱(选配)●●用于上述设备的存放和携带,内衬激光开模高倍海绵:对仪器提供坚实保护。
  • 厚度2.5 μm 迈拉膜型号100
    迈拉膜、麦拉膜、XRF样品膜、EDX样品膜、X-ray样品膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪样品膜、美国Chemplex样品膜-100# 品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT.NO:100产品信息:Mylar膜(迈拉膜、麦拉膜),卷轴,厚度2.5 μm,宽7.62cm x 长91.4m,1卷/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。一、简介美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性好,与样品杯组合使用,适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。 二、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 三、XRF样品膜目录:目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度(直径) 数量/盒Rolls连续卷轴,宽7.6cm x长91.4 m:100 Mylar® 迈拉 2.5 μ 0.00010” 0.10 mil 0.00254mm 7.6cm x91.4 m 1卷
  • 厚度6.0μm 迈拉膜3015
    X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Mylar® 迈拉、ROHS测试膜--美国Chemplex-3015# 现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性佳,与样品杯组合使用,适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO:3015产品信息:Mylar® 迈拉,厚度6.0μm,直径63.5mm,100片/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。 适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 XRF样品膜目录:目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度(直径) 数量/卷3015 Mylar® 迈拉 6.0 μ 0.00024” 0.24 mil 0.00610 mm 2.5”(63.5mm) 100片
  • 薄层色谱硅胶板, 高效薄层层析硅胶G板, 涂层厚度: 0.2-0.25 mm, 200*50 mm, 80片/盒
    薄层色谱硅胶板, 高效薄层层析硅胶G板, 涂层厚度: 0.2-0.25 mm, 200*50 mm, 80片/盒
  • 薄层色谱硅胶板, 高效薄层层析硅胶H板, 涂层厚度: 0.2-0.25 mm, 200*100 mm, 40片/盒
    薄层色谱硅胶板, 高效薄层层析硅胶H板, 涂层厚度: 0.2-0.25 mm, 200*100 mm, 40片/盒
  • 薄层色谱硅胶板, 高效薄层层析硅胶G板, 涂层厚度: 0.2-0.25 mm, 200*200 mm, 30片/盒
    薄层色谱硅胶板, 高效薄层层析硅胶G板, 涂层厚度: 0.2-0.25 mm, 200*200 mm, 30片/盒
  • 薄层色谱硅胶板, 高效薄层层析硅胶H板, 涂层厚度: 0.2-0.25 mm, 200*200 mm, 30片/盒
    薄层色谱硅胶板, 高效薄层层析硅胶H板, 涂层厚度: 0.2-0.25 mm, 200*200 mm, 30片/盒
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bondedwafers 。硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
  • 高效薄层层析硅胶H板, 200*100 mm, 涂层厚度: 0.2-0.25 mm, 硅胶粒径: 5-20μm, 40片/盒
    高效薄层层析硅胶H板, 200*100 mm, 涂层厚度: 0.2-0.25 mm, 硅胶粒径: 5-20μm, 40片/盒
  • MINITEST600-N 涂镀层测厚仪
    MINITEST600-N 涂镀层测厚仪一、 MiniTest 600涂层测厚仪产品名录 MiniTest 600 系列涂层测厚仪产品主要包括两种小类型:MiniTest 600B和MiniTest 600,每种小类都可分为F型、N型、FN型三种,因此600系列测厚仪共有6种机型供选择。600B型与600型的最大区别就是600B是基本型,没有统计功能。 涂层测厚仪MiniTest600型号选择 MiniTest 600BF3(铁基体基本型,无统计功能和接口) MiniTest 600BN2(非铁基体基本型,无统计功能和接口) MMiniTest 600BFN2(两用基本型,无统计功能和接口) MiniTest 600F3(铁基体统计型) MiniTest 600N2(非铁基体统计型) MiniTest 600FN3(两用统计型) 二、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量原理及应用 F型测头是根据磁感应原理设计的,主要测量钢铁基体上的非磁性涂镀层。例如:铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等,也适用于合金和硬质钢。 N型测头是根据电涡流原理设计的,主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。例如:铝、铜、铸锌件上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。 FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的,一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。 三、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量中的相关注意事项 测量前一定要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零,才可以保证测量的精确性; 每次测量之间间隔几秒钟以保证读数的准确性; 喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量,但要严格按照说明书的校准步骤进行校准; 不要用力拽或折测头线,以免线断; 严禁测量表面有酸、碱溶液或潮湿的产品,以免损坏测头; 测量时测头轴线一定要垂直于被测工作表面; 每次测量应有大于3秒的时间间隔。 四、 MiniTest 600涂层测厚仪的技术参数 测量范围 F型 0-3000um N型 0-2000um FN型(两用型) 0-3000um(F),0-2000um(N) 允许误差 ± 2um或± 2-4%读数 最小曲率半径 5mm(凸)、25mm(凹) 最小测量面积 &Phi 20mm 最小基体厚度 0.5mm(F型)、50um(N型) 测量单位 Um-mils可选 显示 4位LED数字显示 校准方式 标准校准、一点校准、二点校准、基础校准(华丰公司内) 统计数据 平均值、标准偏差、读数个数、最大值、最小值 接口 RS-232(不适合B型) 电源 2节5号碱性电池 仪器尺寸 64mmX115mmX25mm 测头尺寸 &Phi 15mmX62mm 五、 MiniTest 600涂层测厚仪的标准配置 主机和指定型号的测头一体; 5号碱性电池两节; 零板和厚度标准箔; 中英德文操作手册各一本; 六、 MiniTest 600涂层测厚仪的可选配置 便携箱; 橡胶套; 打印机MiniPrint 4100; RS-232数据接口电缆; 精密支架 数码显示器背光照明。 七、MiniTest 600涂层测厚仪的符合标准 DIN 50981,50982; ASTM B499,E367,D1186,B530,G12 BS5411 DIN EN ISO 2178,2361 八、 MiniTest 600涂层测厚仪的关于校准 标准校准:适合平整光滑的表面和大致的测量。 一点校准:置零,不用标准箔。用于允许误差不超过4%的场合。 两点校准:置零,用一片标准箔。用于误差范围在2-4%之间的测量 特殊的基础校准:此校准只能在华丰公司进行。 九、 MiniTest 600涂层测厚仪的一般维修 如果出现E03、E04、E05则一般要换探头系统+PCB板; 如果主板不上电,在排除电池原因后一般要更换主板或更换键盘; 测值不稳定,可认为探头系统频率不稳定,一般要更换探头系统; 在显示系统不能正常显示时,可更换显示系统; 更换电缆时,一定要保证电缆长度不小于1m;
  • 薄层色谱硅胶H板, 200*200 mm, 涂层厚度: 0.2-0.25 mm, 硅胶粒径: 5-20μm, 30片/盒
    薄层色谱硅胶H板, 200*200 mm, 涂层厚度: 0.2-0.25 mm, 硅胶粒径: 5-20μm, 30片/盒
  • 厚度25.4μ -Premier样品膜TF-225#
    土壤样品杯膜、XRF測試用的聚丙烯膜材質、美国Premier样品膜TF-225# 品名:XRF样品膜Sample Film 型号: CAT. NO TF-225# 品牌:美国Premier Lab (原装进口) 货期:现货 起订量:1盒以上。一、美国Premier XRF样品膜:美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域,以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。美国Premier X-ray样品膜(X-ray Film)以其极低的(几乎不含)杂质和厚度均匀而严格生产,极好的柔韧性和抗化学腐蚀性,保证检测结果的可靠性和重现性,被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。二、Premier 样品膜特点: 有卷状和片状,多种规格、尺寸、数量可供选择; 柔韧性强、方便、耐用; 极佳的X-ray射线穿透性,适合各类XRF光谱仪; 极佳的抗化学腐蚀性能,不溶于有机溶剂,不污染待测样品; (几乎不含)痕量杂质,特别适合于轻质元素的限量检测。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。四、XRF样品膜目录:美国Premier X-ray样品膜种类:(1)、Hostaphan膜;(2)、Kapton膜:聚酰亚胺膜,卡普顿膜;(3)、Mylar膜:聚酯薄膜,迈拉膜,麦拉膜;(4)、Polypropylene膜:聚丙烯膜。目录编号:CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度 数量 描述TF-225 Polypropylene膜 25.4μ(1.15mil) 76mm x15.2m 1卷/盒 Polypropylene Rolls连续卷轴
  • 厚度2.5 μ m X-ray样品膜100#
    迈拉膜、麦拉膜、XRF样品膜、EDX样品膜、X-ray样品膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪样品膜、美国Chemplex样品膜-100#一、品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT.NO:100产品信息:Mylar膜(迈拉膜、麦拉膜),卷轴,厚度2.5 μm,宽7.62cm x 长91.4m,1卷/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。美国Chemplex Industries有限公司 从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE 测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性 ,与样品杯组合使用,适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。四、XRF样品膜目录:目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度(直径) 数量/盒Rolls连续卷轴,宽7.6cm x长91.4 m:100 Mylar® 迈拉 2.5 μ 0.00010” 0.10 mil 0.00254mm 7.6cm x91.4 m 1卷
  • 厚度6.0 μm聚丙烯膜425
    X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Etnom® 、ROHS测试膜--美国Chemplex-425# 品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO:425产品信息:polypropylene膜,卷轴,厚度6.0 μm,宽7.6cm x长91.4m,1卷/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的全球知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性极佳,与样品杯组合使用,适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用,并被美国专利商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 四、XRF样品膜目录:目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度(直径) 数量/卷 CAT. NO:425:polypropylene 6.0 μ 0.00024” 0.24mil 0.006105 mm 91.4m(76.2mm) 1卷/盒 现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。
  • 厚度3.0μm XRF薄膜3026
    X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Etnom® 、ROHS测试膜--美国Chemplex-3026# 现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。美国Chemplex Industries有限公司从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性极佳,与样品杯组合使用,适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。品名:XRF样品膜Sample Film目录编号:CAT. NO:3026产品信息:Etnom® ,厚度3.0μm,直径76.2mm,100片/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。 三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 四、XRF样品膜目录:目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度(直径) 数量/盒 CAT. NO:3026:Etnom® 3.0 μ 0.00012” 0.12mil 0.00305 mm 3.0”(76.2mm) 100片
  • 厚度6.0 μ m迈拉膜、样品薄膜型号425
    X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Etnom® 、ROHS测试膜--美国Chemplex-425# 现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。美国Chemplex Industries有限公司 从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的 知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE 测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性ji佳,与样品杯组合使用,适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用,并被美国 商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO:425产品信息:polypropylene膜,卷轴,厚度6.0 μm,宽7.6cm x 长91.4m,1卷/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。 三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 四、XRF样品膜目录:目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度(直径) 数量/卷 CAT. NO:425:polypropylene 6.0 μ 0.00024” 0.24mil 0.006105 mm 91.4m(76.2mm) 1卷/盒
  • 厚度12.0 μ m耗材【chemplex】477#
    XRF样品膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪样品膜、Polypropylene聚丙烯-477#现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。品名:XRF样品膜Sample Film型号: CAT. NO:477#产品信息:Polypropylene聚丙烯,厚度12.0 μm,直径63.5mm,1000片/盒 品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。美国Chemplex Industries有限公司 从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE 测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性 ,与样品杯组合使用,适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。四、XRF样品膜目录:目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度(直径) 数量/盒 Pre-Cut Circles预裁好的圆片,直径63.5mm:477 Polypropylene聚丙烯 12.0 μ 0.00050” 0.50 mil 0.0127mm 直径63.5mm 1000片
  • 厚度6.0μ m迈拉膜、麦拉膜TF-160-255#
    XRF測試用的麥拉膜材質、XRF专用圆形薄膜、X射线荧光膜、迈拉膜、麦拉膜--美国Premier TF-160-255# 现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Premier样品膜。一、美国Premier XRF样品膜:美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域,以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。美国Premier X-ray样品膜(X-ray Film)以其极低的(几乎不含)杂质和厚度均匀而严格生产,极好的柔韧性和抗化学腐蚀性,保证检测结果的可靠性和重现性,被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。二、Premier 样品膜特点: 有卷状和片状,多种规格、尺寸、数量可供选择; 柔韧性强、方便、耐用; 的X-ray射线穿透性,适合各类XRF光谱仪; 的抗化学腐蚀性能,不溶于有机溶剂,不污染待测样品; (几乎不含)痕量杂质,特别适合于轻质元素的限量检测。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。品名:XRF样品膜Sample Film目录编号:CAT. NO:TF-160-255(圆片)产品信息:MYLAR膜(迈拉膜、麦拉膜),厚度6.0μm,直径63.5mm,500片/盒品牌:美国Premier(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。
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