红外干涉仪测量原理

全光纤迈克逊干涉仪-MFI Michelson Fiber Interferometer产品介绍：量青光电提供的美国Optiphase公司全光纤迈克逊干涉仪（Fiber Michelson Interferometer）不但可以用来作为精密的测试测量仪器，还可以应用在精密的干涉传感系统。光纤干涉仪内部采用PZ1小尺寸光纤拉伸器（参见 PZ1光纤拉伸器产品资料），内置的PZT通过前面板的BNC连接器驱动。全 光纤迈克逊干涉仪标准产品的工作波长从1064nm到1550nm。每个光纤干涉仪都具有“零米”光路偏差的设计，用于方便用户根据不同的测试应用来改变 光路延迟长度。标准产品的延迟光纤长度为50米，我们能够根据用户的实际要求提供各种定制的光纤干涉仪，请联系我们的销售人员.产品参数：参数单位指标产品型号MFI-10-50MFI-13-50MFI-15-50工作波长nm106413101550调制常数rad/V2.52.01.6两臂光路失配长度（无延迟）m0m0m0m两臂光路失陪长度偏差cm+/-10cm+/-10cm+/-10cm调制器接口BNCBNCBNC光纤类型HI-1060（或指定）SMF-28eSMF-28e光路接口FC/APCFC/APC FC/APC最大功率承受能力mW250250250封装尺寸(长x宽x高)mm260x160x90260x160x90260x160x90重量kg~2.7~2.7~2.7可定制的延迟范围m0.5m ~1000m标准产品的延迟长度m50光纤连接器FC/APC产品应用：激光器相位噪声测试激光器频率噪声测试干涉型光纤传感系统模拟科研实验室应用应用列举：1. 激光器相位/频率噪声测试（1）被测试的激光器经过衰减器后输入到光纤干涉仪，干涉仪的光路失配（光路差）可以由用户选择采用或者控制延迟线圈（延迟线圈）来设定。OPD-4000解调输 出电压应用到PZ1光纤拉伸器的BNC接口上，作为PZ1光纤拉伸器的驱动电压。OPD-4000的相位解调输出可以选择数字信号输出或者模拟信号输出， 数字信号输出通过PC进行后续处理，模拟信号通过信号分析仪进行分析。2. 激光器相位/频率噪声测试（2）被测试的激光器经过衰减器后输入到光纤干涉仪，干涉仪的光路失配（光路差）可以由用户选择采用或者控制延迟线圈（延迟线圈）来设定。通过为PZ1型光纤拉伸 器BNC接口提供控制电压保持其处于正交偏置（Quadrature Bias）。输出光信号由光接收机接收处理，输出信号进一步处理。3.光纤干涉仪传感器模拟（3）输入光信号代表干涉型光纤传感器的光源。选择合适的延迟光纤线圈，延迟长度作为需要模拟的传感器的长度。输出光信号通过光接收器件到信号分析仪进行处理分析。订货信息:MFI-10-50： 1064nm光纤迈克逊干涉仪MFI-13-50： 1310nm光纤迈克逊干涉仪MFI-15-50： 1550nm光纤迈克逊干涉仪

总览法布里－珀罗干涉仪（英文：Fabry–Pérot interferometer），是一种由两块平行的玻璃板组成的多光束干涉仪。其中两块玻璃板相对的内表面都具有高反射率。当两块玻璃板间用固定长度的空心间隔物来间隔固定时，它也被称作法布里－珀罗标准具或直接简称为标准具。F-P(法布里-珀罗）标准具因为平板反射率高，多光束等倾斜干涉条纹极窄，所以是一种高分辨率的光谱仪器。可用于高分辨光谱学，和研究波长非常靠近的谱线，诸如元素的同位素光谱、光谱的超精细结构、光散射时微小的频移，原子移动引起的谱线多普勒位移，和谱线内部的结构形状；也可用作高分辨光学滤波器、构造精密波长计；在激光系统中它经常用于腔内压窄谱线或使激光系统单模运行，可作为宽带皮秒激光器中带宽控制以及调谐器件,分析、检测激光中的光谱（纵模、横模）成分. 技术参数产品特点 适用于中红外平行度好端面平整度高表面质量好产品应用波长锁定器 波分复用电信网 手持光谱分析仪 光纤光栅传感系统 可调谐滤波器激光器 可调谐滤光片技术参数 技术参数技术指标工作波段近红外1.3-2.0um，中红外2.5-14um直径25.4mm+/-0.05mm通光孔径22.9mm长度100mm+/-0.2mm平行度5-10 arc sec端面平整度中红外 1/4 lambda；近红外 1/10 lambda表面质量中红外80-50；近红外60-40管壳铜 精细度(FSR)0.012cm-1实验测试： 测试步骤：1，安装1532nm激光器，连接电源，USB线2，激光器输出连接到光纤准直器 3，用BNC转BNC线连接信号发生器到激光器驱动的低频调制端口4，用BNC转BNC线连接探测器到示波器的通道2端口5，打开激光器，打开信号发生器（三角波调制，频率1KHZ,电压幅值500mW）6，激光器发出的光通过标准具，打在探测器光敏面上，通过调整标准具的角度，在示波器上查看调制波形测试结果：

852±1/ ±10 nm single-mode VCSEL850nmVCSEL激光器适用于干涉仪检测，VSEL激光器拥有价格低廉，线宽很窄以及可调波长范围宽的优势。在各类激光器中出类拔萃深受全球客户的青睐

2.5X Nikon CF IC Epi Plan TI Interferometry Objective2.5倍 尼康白光干涉镜头类型 Michelson放大率 2.5X数字孔径 NA 0.075工作距离 (mm) 10.3焦距 FL (mm) 80.0分辨能力 (μm) 3.7焦深(μm) 48.6视场，25直径视场目镜 (mm) 10视场，20直径视场目镜 (mm) 8视场, 2/3" 传感器 3.52 x 2.64mm视场, 1/2" 传感器 2.56 x 1.92mm支架 C-Mount安装螺纹 M27 x 0.75重量 (g) 440生产商 NikonRoHS 豁免 用于三维表面形貌仪，表面轮廓仪，白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型号，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后，发现市场不够大，或者发现放大倍数不够用，都可以联系我们，以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计，市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备，90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司，B公司，Z公司都是采用Nikon镜头。价格随时有波动，欢迎来电咨询。

50X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective50倍 尼康干涉物镜镜头类型 Mirau放大率 50X数字孔径 NA 0.55工作距离 (mm) 3.4焦距 FL (mm) 4.0分辨能力 (μm) 0.5焦深(μm) 0.9视场，25直径视场目镜 (mm) 0.5视场，20直径视场目镜 (mm) 0.22视场, 2/3" 传感器 0.18 x 0.13mm视场, 1/2" 传感器 0.13 x 0.10mm支架 C-Mount安装螺纹 RMS重量 (g) 150生产商 NikonRoHS 豁免用于三维表面形貌仪，表面轮廓仪，白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型号，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后，发现市场不够大，或者发现放大倍数不够用，都可以联系我们，以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计，市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备，90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司，B公司，Z公司都是采用Nikon镜头。价格会有所波动，欢迎来电咨询。

10X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective10倍 尼康干涉镜头 CF IC Epi Plan类型 Mirau放大率 10X数字孔径 NA 0.30工作距离 (mm) 7.4焦距 FL (mm) 20.0分辨能力 (μm) 0.92焦深(μm) 3.04视场，25直径视场目镜 (mm) 2.5视场，20直径视场目镜 (mm) 2视场, 2/3" 传感器 0.88 x 0.66mm视场, 1/2" 传感器 0.64 x 0.48mm支架 C-Mount安装螺纹 RMS重量 (g) 125生产商 NikonRoHS 符合标准用于三维表面形貌仪，表面轮廓仪，白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型号，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后，发现市场不够大，或者发现放大倍数不够用，都可以联系我们，以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计，市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备，90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司，B公司，Z公司都是采用Nikon镜头。欢迎来电咨询。

MEMS-FTIR（傅里叶转换红外光谱）光谱仪是一个紧凑的，低成本的傅里叶转换红外光谱仪，一个迈克尔逊干涉仪以及红外探测器都打包在一个小小的光谱仪中。通过USB连接到电脑上能够进行光谱测量以及吸光度测量。滨松MEMS-FTIR光谱仪能够广泛的应用于环境分析、食品分析、医疗等领域。MEMS干涉仪SEM图像：详细参数：

50X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective50倍 尼康干涉物镜镜头类型 Mirau放大率:100X数字孔径 NA:0.70焦深(μm):0.56视场, 1/2" 传感器:0.08 x 0.06mm视场, 2/3" 传感器:0.011 x 0.08mm 视场，20直径视场目镜 (mm) :0.2视场，25直径视场目镜 (mm) :0.25焦距 FL (mm):2.0 生产商:Nikon安装螺纹:RMS分辨能力 (μm):0.4类型:Mirau重量 (g):200.00工作距离 (mm):2.0 Regulatory ComplianceRoHS: 符合标准生产商 NikonRoHS 豁免用于三维表面形貌仪，表面轮廓仪，白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型号，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后，发现市场不够大，或者发现放大倍数不够用，都可以联系我们，以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计，市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备，90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司，B公司，Z公司都是采用Nikon镜头。价格会有所波动，欢迎来电咨询。

5X Nikon CF IC Epi Plan TI Interferometry Objective5倍 尼康白光干涉镜头类型 Michelson放大率:5X数字孔径 NA:0.13 焦深(μm):16.2视场, 1/2" 传感器:1.28 x 0.96mm视场, 2/3" 传感器:1.76 x 1.32mm 视场，20直径视场目镜 (mm) :2.2视场，25直径视场目镜 (mm) :5.00焦距 FL (mm):40.0 生产商:Nikon安装螺纹:RMS分辨能力 (μm):2.1重量 (g):280.00 工作距离 (mm):9.3 RoHS: 符合标准生产商 NikonRoHS 豁免 用于三维表面形貌仪，表面轮廓仪，白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型号，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后，发现市场不够大，或者发现放大倍数不够用，都可以联系我们，以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计，市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备，90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司，B公司，Z公司都是采用Nikon镜头。价格随时有波动，欢迎来电咨询。

高速傅立叶变换红外光谱仪配件是顶级的红外光谱分析系统，用于识别分析有机材料,无机材料，是单光束光谱仪，具有极高的扫描速度快和精度，是用于工业，科学和质量控制领域的各种分析应用的重要工具。高速傅立叶变换红外光谱仪配件特点? 样品制备容易?可连接不同类型的配件以扩展功能，如采样卡；液体细胞；空气电池； ATR和其他? 维护简单?软件强大，?USB接口?样品室宽敞?CE认证?可选配件高速傅立叶变换红外光谱仪配件高稳定光学系统?组成光学平台的主要组件由铸铝加工而成。光学系统高度稳定，不需要调整，光程不需要维护。?精密机械，确保每个扫描的高度重复性。采用先进的设计理念设计光程和每个部件。? 系统的立体角反射光学系统，使操作简单，无需复杂的电子器件和额外的移动部件。此外，用户可更换光谱仪的许多组件，在仪器的使用寿命中节省时间。? 内部动态准直系统和可移动的反光镜驱动系统保持干涉仪的最佳状态。音圈驱动器和精密滑动，改善了系统在严峻条件下的工作的能力。? 光谱仪有一个干燥剂容器，干燥剂保护光束分离器等光学元件免受湿气破坏。高速傅立叶变换红外光谱仪FTIR7600软件包括下列功能： ?文件和编辑：打开，保存，打印，复制，粘贴，删除等和选项-自定义设置的光谱采集，显示，处理，保存和打印。?收集：配置测量参数（分辨率，平均值，范围...），实时显示不同模式和设置选项下的光谱结果，以及诊断组件的状态。?加工：光谱转换（A / T，日志，K-M...），光谱操作（删除，加，减，多道处理，规范...），和光谱校正。?分析：发现高峰期，贴标签，与库数据作比较，对光谱搜索定义设置，搜索库（选择库，添加新的库，制作，...），并显示结果。高速傅立叶变换红外光谱仪配件规格波数范围 7800 ~ 375 cm?1分辨率 1 cm?1信噪比 30000:1 （分辨率@4 cm-1；1分钟r扫描2100 cm?1以上)探测器 高性能 DLATGS分束器 涂层溴化钾光源 使用寿命长，稳定状态的红外发射器电子系统 24位A/D转换器 500 kHz, USB 2.0电源 110-220 V 交流电,，50-60 Hz尺寸大小 450 mm x 350 mm x 210 mm重量 14 kg

硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪，能够精确给出衬底厚度和厚度变化 （TTV)，也能实时给出超薄晶圆的厚度（掩膜过程中的晶圆），非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势，诸 多材料例如，Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃，石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的，非常容易测量，标准的测量空间分辨率可达50微米，更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法，对晶圆的厚度和表面形貌进行测量，可广泛用于：MEMS， 晶圆，电子器件，膜厚，激光打标雕刻等工序或器件的测量，专业为掩膜，划线的晶圆，粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计，同时，硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件，使用该探针系统后，硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆（植球晶圆），wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV，同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度，硅膜厚度（membrane thickness) 和凸点厚度（wafer pump height).，沟槽深度 （trench depth)。

中性密度滤光片 镀有金属涂层覆盖范围从紫外到红外标准尺寸为12.5mm、25mm和50mm 通光率具体参见各个型号主要用于宽带光谱的衰减器、作为光平衡应用的部分反射器和用作中性分束器金属涂层中性密度滤光片 OD值为阻挡效率，其计算公式如下：金属涂层中性密度滤光片能在宽波长范围内实现均匀衰减。Andover拥有定制的、最先进的设备，包括自动化涂层，玻璃抛光和制造设备。测试功能广泛，包括用于宽带光谱测量的自动分光光度计和用于窄带测量的超高分辨率分光光度计。光学测量实验室有计算机控制的可调谐干涉仪，用于传统激光干涉仪无法实现的波前测测量。Andover为各种应用制造滤光器和涂层，包括医疗仪器仪表，荧光研究，机器视觉，农业成像，地面和天文观测，电信，军事和民用监视系统以及防御瞄准系统

可选的干涉滤光片本品用于341型旋光仪。建议由服务工程师进行安装。订货信息：波长部件编号302 nmB0094404325 nmB2100154405 nmB0062666

Andover拥有定制的、最先进的设备，包括自动化涂层，玻璃抛光和制造设备。测试功能广泛，包括用于宽带光谱测量的自动分光光度计和用于窄带测量的超高分辨率分光光度计。光学测量实验室有计算机控制的可调谐干涉仪，用于传统激光干涉仪无法实现的波前测测量。Andover为各种应用制造滤光器和涂层，包括医疗仪器仪表，荧光研究，机器视觉，农业成像，地面和天文观测，电信，军事和民用监视系统以及防御瞄准系统 带通滤光片Andover提供不同类型的带通滤光片，包括标准带通滤光片、高透过率带通滤波片、定制带通滤光片、硬涂层窄带滤光片和硬涂层宽带滤光片。 标准带通滤光片波长范围从194nm-2400，覆盖范围从紫外到红外。 标准带通滤光片通过带宽从1.5nm-300nm，滤波等级OD4，镜片标准尺寸12.5mm、25mm和50mm。

表面形貌仪配件又称为光学形貌仪或三维形貌仪，它除了用于测量物件的表面形貌或表面轮廓外，具有测量晶圆翘曲度的功能,非常适合晶圆,太阳能电池和玻璃面板的翘曲度测量，应变测量以及表面形貌测量。 三维形貌仪主要配件应用 用于太阳能电池测量 用于半导体晶圆测量 用于镀膜玻璃的平整度（Flatness)测量 用于机械部件的计量 用于塑料,金属和其他复合型材料工件的测量 表面形貌仪配件特色 *除了表面形貌的测量，还可以测量张量和应力（简单）； *可测量晶圆的尺寸为0.5' ' 到12' ' , 最高可达45x45cm的尺寸，对于小于0.5' ' 的晶圆或样品，可配备微距镜头。 *测量晶圆或其他样品的表面形貌,粗糙度和翘曲度； *克服常见干涉仪在粗糙表面（油漆）表现不足的问题； *非接触式测量

紧凑型(世界上最小的傅立叶变换红外光谱)● 独立的便携式系统● 100px-1高分辩率● Peltier冷却MCT探测器, 5000-830 厘米-1 (2 to 12 mm)● 嵌入式 DSP● USB 连接以太网● 性价比高 第三代Arcoptix 傅里叶变换红外光谱模块融入了鲁棒，紧凑的设计特性。固体基准激光器及其密封的自我补偿干涉仪将新一代傅里叶变换红外光谱的维护工作量降到最低。帕尔帖冷却MCT探测器保证了光谱仪的高灵敏度。 这些模块由带有一个有嵌入式数字信号处理器的内置微处理器来运行一个独立的操作系统。计算机通过以太网使用一个TCP / IP协议或USB接口是可靠的。 傅里叶变换红外光谱模块可集成适当的测量模块，如漫反射，衰减全反射,透射或怀特池。总之，紧凑，鲁棒的和高性价比的解决方案，可以体现在几乎所有的应用上 。● 紧凑型(世界上最小的傅立叶变换红外光谱)● 独立的便携式系统● 100px-1高分辩率● Peltier冷却MCT探测器, 5000-830 厘米-1 (2 to 12 mm)● 嵌入式 DSP● USB 连接以太网● 性价比高 Models of theFTIR-Rocket:The FTIR-Rocket spectrometers offers several configurations with standardtwo stage TE cooled IR photovolataic (Hg,Te, Cd)Zn detectors. Therefore, we supply a a choice of 2 standard instruments. On request we can fit the detector toyour needs.

液氮制冷红外探测器具有灵敏度高、空间分辨率好、动态范围大、抗干扰能力强以及能在恶劣气候下昼夜工作等特点。液氮制冷红外探测器经过制冷，设备可以缩短响应时间，提高探测灵敏度。液氮制冷红外探测器的信号带宽最高可以达到50MHz ，波长响应范围2～14μm，光敏面积典型值为1×1mm2，也可以按照需求进行定制，窗片材质可选ZnSe或CaF2，可以应对不同波长和使用环境的需求，如有特殊需求欢迎来电咨询。液氮制冷红外探测器各种杜瓦设计可供选择，提供楔形窗以消除干涉的影响。 液氮制冷红外探测器的优点：? 液氮制冷的制冷方式可以达到更低的温度，更稳定，极大地降低了热噪声；? 响应波长范围广，对2~14μm的中红外光谱波段光波敏感；? 高性价比，我们可以提供高速频率带宽定制服务。液氮制冷红外探测器工作原理：液氮制冷红外探测器参数指标：响应波长范围2～14μm峰值响应度典型值100~100000V/W光敏面积典型值1×1mm2（定制可选）信号带宽最高50MHz输出阻抗20~100ΩD*(cmHz1/2W-1)≥2.0E+10，最高≥1.0E+11窗片材质ZnSe或CaF2供电电压±5VDC（探测器模块）；220VAC（电源模块） 各种杜瓦设计可供选择，提供楔形窗以消除干涉的影响。

多功能纳米压痕仪配件通过扫描材料表面实现对材料力学性能的纳米尺度的高精度测量，精确给出硬度，弹性模量，杨氏模量等材料力学性能。 多功能纳米压痕仪配件特色最高位移测量能力可达300mkm, 最高负载科大100mN。实现静态压痕和动态压痕测量以及sclerometry测量具备原子力显微镜和纳米硬度测量仪的功能采用模块化设计，可广泛集成原子力显微镜，光学显微镜，激光干涉仪器等尖端材料表面测量仪器，为用户提供综合性材料微观力学测试方案。 多功能纳米压痕仪配件选型4D紧凑型多功能纳米压痕仪4D紧凑型是全球结构最为紧凑小巧的纳米硬度测试仪，它采用纳米压痕法测量材料硬度和弹性模量（杨氏模量），负载高达2N,广泛用于材料力学性能测量研究。也非常适合大学或研究单位的纳米压痕仪测量硬度的教学或演示教学。 4D标准型多功能纳米压痕仪4D标准型具有测量材料硬度，弹性模量和其它力学性能的功能。它采用静态和动态纳米压痕技术以及sclerometry方法测量材料性能。并且可以接触式或半接触式地测量材料表面形貌，采用光学显微镜高精度地对压头和样品进行精确互动性定位。多功能纳米压痕仪4D标准型还可以接入另外的传感器或测量模块，实现对材料表面进行其它测量。 4D+增强型多功能纳米压痕仪4D+增强型配置是全球功能最多的多功能纳米硬度测量仪器。它具有纳米压痕仪和原子力显微镜的功能，具备了所有的物理和力学性能测量能力。它具有原子力显微镜测量模块，能够以纳米级分辨率研究压痕后留下的表面痕迹和图像，并能够全自动测量，可以批量处理分析测量结果。

testo 835-T1 红外测量仪器产品参数：红外传感器testo 835-T1testo 835-T2testo 835-H1光学分辨率50:150:150:1激光瞄准4点4点4点量程-30 ~ +600 °C-10 ~ +1500 °C-30 ~ +600 °C精度±1数位±2.5 °C (-30.0 ~ -20,1 °C )±1.5 °C (-20.0 ~ -0,1 °C )±1.0 °C (+0.0 ~ +99.9 °C )±1%测量值(其余量程)±2.0 °C或 ±1%测量值±2.5 °C (-30.0 ~ -20.1 °C )±1.5 °C (-20.0 ~ -0.1 °C )±1.0 °C (+0.0 ~ +99.9 °C )±1%测量值(其余量程 )分辨力0.1 °C0.1 °C (-10.0 ~ +999.9 °C )1 °C (+1000.0 ~ +1500.0 °C )0.1 °CK型热电偶testo 835-T1testo 835-T2testo 835-H1量程-50 ~ +600 °C-50 ~ +1000 °C-50 ~ +600 °C精度±1数位±(0.5 °C +0.5%测量值)±(0.5 °C +0.5%测量值)±(0.5 °C +0.5%测量值)分辨力0.1 °C0.1 °C0.1 °Ctesto湿度传感器 量程0 ~ 100 % RH精度±1数位±2 %RH±0.5 °C分辨力0.1 °C0.1 %RH0.1 °Ctd仪器参数 光谱范围8 ~ 14μm发射率0.10 ~ 1.00 (最小调整间隔0.01)发射率表可存储20个数值激光瞄准点 开/关内存可存储200个数值报警(上限/下限)红外温度，热电偶温度报警信号声光报警操作温度-20 ~ +50 °C存储温度-30 ~ +50 °C材料/外壳ABS + PC尺寸193 x 166 x 63 mm重量514 g电池类型3节AA型电池(或USB供电)电池寿命25小时(一般25°C，不带激光和背光显示)10小时(一般25°C，不带背光显示)显示器点阵自动关闭背光：30 s仪器：120 s符合标准EN 61326-1:2006保修期1年，延长保修请登录http://www.testo.com.cn/warranty-extension_zh.htmltd style=testo 835-T1 红外测量仪器

所属类别：? 光学/激光测量设备 ?波前分析仪所属品牌：法国Phasics公司Phasics公司的所有产品都是建立于其波前测量专利技术之上，即4波横向剪切干涉技术。（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。在增强型改进型哈特曼掩模的基础之上，这种独特技术将超高分辨率和超大动态范围完美结合在了一起。任何应用下，其都能实现全面、简便、快速的测量。SID4: 一款紧凑型的波前传感器SID4波前传感器体积小巧，结合了传统的剪切干涉的优势，安装使用简单。我们的优势在于4波横向剪切干涉技术（基于改善后的哈特曼衍射遮挡板）。SID4是测量光束特性的必要工具，在光学测量方面有着许多应用。波长范围：350-1100nm分辨率高（160*120）消色差测量稳定性高对震动不敏感操作简单，Firewire IEEE 1394结构紧凑，体积小：可用笔记本电脑控制操作简单，Firewire IEEE 1394结构紧凑，体积小：可用笔记本电脑控制SID4 HR:高分辨率波前传感器SID4-高分辨率波前传感器可应用于光学测量领域。其可实现300x400个测量点的相位图，保证了高精度测量，可用于对各种光学器件的测量，如透镜，物镜，球面镜，微透镜特征测量等波长范围：400-1000nm高性能的相机，信噪比高实时测量，立即给出整个物体表面的信息（120000个测量点）曝光时间极短保证动态物体测量SID4 HR操作简单SID4 UV-HR: 高分辨紫外波前传感器PHASICS公司将 SID4的波前测量波长范围从190nm到400nm。SID UV-HR是一款适用于紫外波段的高分辨率波前传感器SID4 UV-HR非常适用于光学元件测量（例如印刷、半导体等等）和表面检测（半导体晶片检测…）。高分辨率（250*250）通光孔径大（8.0mm*8.0mm）覆盖紫外光谱灵敏度高（0.5um）优化信噪比SID4 NIR: 高分辨率红外波前传感器SID4 NIR是一款覆盖近红外范围（1.5um-1.6um）的高分辨率波前传感器。用于光学测量，SID4 NIR是测量红外物体和红外透镜像差、PSF、MTF和焦距及表面质量的理想工具。高分辨率（160*120）绝对测量快速测量对于振动不敏感性价比高SID4 DWIR: 高分辨、双波段红外波前传感器PHASICS推出了业界第一款高分辨率双波段红外波前传感器(from 3 μm to 5 μm and from 8 μm to 14 μm)SID4 DWIR光学测量：SID4 DWIR是测量红外物体特性（热成像和安全视觉）或红外透镜（CO2激光器）的理想工具，输出结果包括MTF，PSF，像差，表面质量和透镜焦距。光束测量：（CO2激光器，红外OPO激光光源等等）SID4 DWIR提供详尽的光束特性参数：像差，M2，光强分布，光束特性等）高分辨率（96*72）可实现绝对测量可覆盖中红外和远红外波段大数值孔径测量，无需额外中转透镜快速测量对振动不敏感可实现离轴测量性价比高 SID4软件介绍与SID4 波前传感器配套提供的是一款完整的电磁场分析软件，其集成了高分辨率的相位图与强度分布图测量光强分布和波前。借助Labview和C++ 可编程模块数据库（软件二次开发工具包），客户能够根据自身的需要编写各种相位测量与编译模块。adaptiveoptics loops将SID4 wavefront sensor结合自适应光学，选择最合适的应用。应为可变形镜和相位调制器都是可以提供的。减小任何一个光学系统的相差从来都不是简单的，利于激光光束和成像系统。传统的测量结果与Phasics的测量结果对比：

傅里叶分束镜FTIR分束器/补偿器应用和操作原理傅里叶分束镜FTIR分束器/补偿器对用于傅里叶变换红外（FTIR）光谱仪中的迈克尔逊干涉仪方案。FTIR光谱仪通常基于迈克尔逊干涉仪，其中一个镜子是可移动的。两个反射镜位于干涉仪的两个臂上并且彼此垂直定向。分束器放置在直角的顶点，并相对于每个镜子以45°角定向。传递到分束器的光被分成两部分（理想地为50％/ 50％），它们进一步传播到两臂并从镜子反射。从分束器反射一次的光束（图中的上光束）也必须通过那里并通过倾斜的补偿板返回，以补偿另一个光束通过分束板而不是一个的事实。在一定距离上扫描可移动镜，产生到达检测器的两个光束的干涉图案。 图1迈克尔逊干涉仪作为FTIR光谱仪的一部分。 材料和光谱范围通过选择适当的分束器和补偿器材料，可以覆盖从可见光到远红外线的波长范围。材料选择包括以下材料：熔融石英（石英）（可见/近红外），CaF2，BaF2和ZnSe（近红外/中红外）。高电阻率FZ-Silicon也可用于远红外区域的分光镜。由于菲涅耳反射，它可以在非常宽的波长范围内用于~50％/ 50％的光束分裂而无需任何涂层。 分束器与材料的典型工作波长范围。Fused Silica可见光红外熔融石英0.4-1.1μm（25,000-9,000 cm -1）或0.65-3.0μm（15,000-3,300 cm -1）CaF2氟化钙0.65-8.5μm（15,000-1,200 cm -1）BaF2氟化钡0.65-12μm（15,000-850 cm -1）ZnSe硒化锌2-20μm（5,000-500 cm -1）HRFZ-Si高阻硅50-1000μm（200-10 cm -1） 规格和公差为了实现FTIR光谱仪的高分辨率，应该以非常高的精度生产分束器/补偿器对。特别是表面平整度，楔形公差和厚度匹配是非常重要的。可实现的规格：楔形公差，弧秒到+/- 10厚度匹配，μm到1最佳可能的规格取决于材料和参数组合。涂层 为了对准目的，涂层的组合图案可以施加在FTIR分束器/补偿器的表面上。可见光束的“窗口” - 取决于干涉仪的尺寸设计的特殊形状的可见区域与IR区域一起放置。典型的涂层图案如下图所示。部分区域涂层类型反射/透射分束器A 可根据要求提供其他涂层图案和涂层类型。屹持光电长期为FTIR光谱仪提供分束器/补偿器对（无涂层和涂层成品部件的基板），为欧洲，美国和远东地区的客户提供服务。产品规格：型号直径厚度BS-KBr-D50.8-T3.5 直径，mm到100表面平整度，λ为633 nm到1/10 部分反射R / T = 50％/ 50％@ 633nmB部分反射R / T =（50/50 +/- 10 ）％@7-14μm 或R / T =（50/50 +/- 20）％@2.5-14μmCARR 0。5％@ 633 nmDBBARR ave 4 ％@7-14μm 或R ave 5％@2.5-14μm补偿器AARR 0。5％@ 633 nmBBBARR ave 4 ％@7-14μm 或R ave 5％@2.5-14μmCARR 0。5％@ 633 nmDBBAR R ave 4 ％@7-14μm 或R ave 5％@2.5-14μm 图2和表3 ZnSe分束器/补偿器对的涂层图（例）。 图3 ZnSe分束器/补偿器对的典型透射曲线。 50.8mm3.5mmW-KBr-D50.8-T3.550.83.5mm下载傅里叶分束镜FTIR分束器/补偿器对数据表（PDF，221 KB）

testo 835-T2 红外高温测量仪器产品参数：红外传感器testo 835-T1testo 835-T2testo 835-H1光学分辨率50:150:150:1激光瞄准4点4点4点量程-30 ~ +600 °C-10 ~ +1500 °C-30 ~ +600 °C精度±1数位±2.5 °C (-30.0 ~ -20,1 °C )±1.5 °C (-20.0 ~ -0,1 °C )±1.0 °C (+0.0 ~ +99.9 °C )±1%测量值(其余量程)±2.0 °C或 ±1%测量值±2.5 °C (-30.0 ~ -20.1 °C )±1.5 °C (-20.0 ~ -0.1 °C )±1.0 °C (+0.0 ~ +99.9 °C )±1%测量值(其余量程 )分辨力0.1 °C0.1 °C (-10.0 ~ +999.9 °C )1 °C (+1000.0 ~ +1500.0 °C )0.1 °CK型热电偶testo 835-T1testo 835-T2testo 835-H1量程-50 ~ +600 °C-50 ~ +1000 °C-50 ~ +600 °C精度±1数位±(0.5 °C +0.5%测量值)±(0.5 °C +0.5%测量值)±(0.5 °C +0.5%测量值)分辨力0.1 °C0.1 °C0.1 °Ctesto湿度传感器 量程0 ~ 100 % RH精度±1数位±2 %RH±0.5 °C分辨力0.1 °C0.1 %RH0.1 °Ctd仪器参数 光谱范围8 ~ 14μm发射率0.10 ~ 1.00 (最小调整间隔0.01)发射率表可存储20个数值激光瞄准点 开/关内存可存储200个数值报警(上限/下限)红外温度，热电偶温度报警信号声光报警操作温度-20 ~ +50 °C存储温度-30 ~ +50 °C材料/外壳ABS + PC尺寸193 x 166 x 63 mm重量514 g电池类型3节AA型电池(或USB供电)电池寿命25小时(一般25°C，不带激光和背光显示)10小时(一般25°C，不带背光显示)显示器点阵自动关闭背光：30 s仪器：120 s符合标准EN 61326-1:2006保修期1年，延长保修请登录http://www.testo.com.cn/warranty-extension_zh.htmltesto 835-T2 红外高温测量仪器

在线水分测量仪配件是德国高灵敏度水分测定仪，它采用德国高灵敏度光学水分传感器，非常适合测量粉末，颗粒，浆料,糊状物，膏剂等多种材料在内的多种样品的水分含量。在线水分测量仪配件特色直接测量样品，测量速度快，测量精度高，测量可靠性强，全面超越目前现存的NIR光谱或微波传感水分含量传感器产品，具有德国专利的光学水分传感器清洗技术，完全清洁光学传感器探头，解决了直接测量的光学传感器污染难题。在线水分测量仪配件特点直接深入样品非接触式光学测量LED显示技术确保长寿命高精度光学探头在线测量德国全固态设计结构，超级耐用无需耗材，使用成本低无需样品准备，直接测量，节省时间无需售后服务在线水分测量仪配件参数测量原理：近红外反射测量范围：0-90%水分含量测量精度：+/-0.1%测量时间：2秒测量距离：10-300mm 或者侵入式测量测量点尺寸：高达10cm光源：红外LED光源收集器：光电二极管工作温度要求：5-45摄氏度工作电力要求：24VDC， 0.2A，信号输出：0...10V或4...20mA外壳材料：IP65外形尺寸：300x200x160mm重量：2.8kg

SPIP软件目前支持多种仪器的96种格式数据文件Image Metroogy 由Dr.Jan Friis J rgensen于1998年创立。Image Metrology是一所以客户为导向，不断发展的公司。公司位于离丹麦首都哥本哈根不远的城市。Image Metrology的主要产品，SPIP是可视化、修正，分析以及SPM数据报告方面的软件包。此软件包被SPM数据研究分析人员奉为标准。SPIP对于扫描电镜以及透射电镜、共聚焦显微镜、光学轮廓仪以及干涉仪等的图像分析也是很强大的。SPIP软件图像研究机构，在高新科技研发以及高校研究所运用。SPIP是专业的纳米以及微尺度图像处理的高科技软件公司，目前产品被应用于60多个国家的各个主要研究机构。SPIP95文件格式支持各种仪表类型,包括:SPM、AFM、扫描隧道显微镜、SEM、TEM、干涉仪共焦显微镜和光学显微镜,分析器。SPIP是一个模块化软件包，可提供包含14个具有特定功能的模块。SPIP应用，主要应用包括半导体检验、物理、化学、生物学、计量和纳米技术等方面。SPIP 三维图像处理软件：多年来，SPIP扫描探针图像处理软件，已成为纳米尺度的图像处理的实质意义的标准。SPIP图像处理软件是一个模块化的软件包，提供一个基本的软件模块和14个可选的用于特定的目的软件附件。是一个资申用户或刚刚学习图像分析的入门新手，使用SPIP图像处理软件，您只需点击几下鼠标即可获得您需要的分析结果。SPIP图像分析软件被用于，包括半导体物理，化学，生物学检验，计量，纳米技术等各种领域。您可从我们客户应用的经历获知更多应用领域。SPIP图形分析软件亦被用于学术研究和论文出版。在SPIP网站您可以看到824篇使用SPIP进行图形分析的论文列表。SPIP软件目前支持多种仪器的96种格式数据文件。包括： 扫描探针显微镜（SPM），原子力显微镜（AFM），扫描隧道显微镜（STM） 扫描电子显微镜（SEM），透射电子显微镜（TEM） 干涉仪 共焦显微镜 三维轮廓仪RoughnessPro——轮廓粗糙度 使用RoughnessPro您可以根据ISO标准来评估个别剖面及剖面集合的轮廓粗糙度。RoughnessPro——三维图像缝合 topoStitch是表面形貌图像缝合的简单及准确的方法。您可以从原子力显微镜（AFM），扫描探针显微镜（SPM），干涉仪（Profilers,），共焦显微镜及其他更多的设备上进行三维图像及表面形貌缝合。

教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k)，到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 100nm-30微米；波长范围: 300-1000nm 探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D精度：1%斑点大小：0.5mm 光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：320x360x180mm 重量：9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

反射模块可以测量样品的反射系数。配合根据干涉现象原理设计的反射模块，LabPro Plus软件的厚度模式能测量微米级薄膜的厚度。

超小型中红外光谱仪(3um - 4.4um)所属类别： ? 光谱仪 ? 光纤光谱仪 超低价！能握在掌心的中红外光谱仪(3um~4.7um）！ MIR系 列超小型中红外光谱仪拥有独特的性能特点。在紧凑的空间中，它包含由一个高性能微处理器运行的完整驱动和读出电路，通过简单易用的传感器控制软件可以为您 的应用选择合适的波长范围以优化您的测量。系统提供了一个光纤连接头或者开放空间的连接口，超小型中红外光谱仪可以帮助您把光谱仪和所有可用的光源和光纤探针链接。MIR系列超小型中红外光谱仪可以和光线连续的气体探测器或气室一并购买。作为一个选项传感器出售超紧凑微发光源。 关键词：中红外光谱仪，光纤光谱仪，MEMS技术，无可移动部件，抗震性强，红外光谱仪，光谱探测器，Spectrometer，分光光度计，傅里叶变换光谱仪，干涉光谱仪 MIR系 列超小型中红外光谱仪拥有独特的性能特点。在紧凑的空间中，它包含由一个高性能微处理器运行的完整驱动和读出电路，通过简单易用的传感器控制软件可以为您 的应用选择合适的波长范围以优化您的测量。系统提供了一个光纤连接头或者开放空间的连接口，可以帮助您把光谱仪和所有可用的光源和光纤探针链接。MIR系列超小型中红外光谱仪可以和光线连续的气体探测器或气室一并购买。作为一个选项传感器出售超紧凑微发光源。 MIR系列超小型中红外光谱仪将气体测量带入了一个新的高度，由于非常稳定的波长校准和足够的分辨率，这些传感器适用于区分不同的碳氢化合物（C1-C5）。光谱传感器利用创新的基于MEMS的法布里-珀罗可调滤波器技术，该MIR系列超小型中红外光谱仪将气体测量带入了一个新的高度，由于非常稳定的波长校准和足够的分辨率，这些传感器适用于区分不同的碳氢化合物（专为苛刻的工业应用设计，MIR系列超小型中红外光谱仪将气体测量带入了一个新的高度，由于非常稳定的波长校准和足够的分辨率，这些传感器适用于区分不同的碳氢化合物（提供了极端的坚固性，即使在最苛刻的环境下也表现良好。通过改变气室的路径长度，可以改变灵敏度和检测范围。 l 高性能l 成本低l 超小尺寸l 坚固性优l 多功能型l 低功耗l 可扩展性高 u 详细参数表技术参数参数值 n 包括微处理器的完整驱动和读出电路n 工厂校准，不需要外部波长校准目标n 包含简单易用的基本软件n USB 供电n 光纤接口为SMAn 可选：微型发光源 波长范围3um – 4.4um 探测器类型 InGaAS 探测器光源微型光源波长点自由选择多达512个点，最小间隔0.05nm波长转换时间1ms波长分辨率（FWHM）35 – 45nm 重力影响波长0.01nm温度响应0.1nm/℃工作温度0℃ - 50℃ （不结露）光学接口SMA905（光纤： 400um， NA 0.22）电路接口USB2.0重量125g u 主要应用MIR系列光谱仪可以应用到过程和移动应用当中监控气体浓度。例如：甲烷，乙烷，丙烷，丁烷，戊烷和二氧化碳（CO2）。碳氢化合物是在许多应用中的关键质量参数，如石油和天然气工业，发电厂，海洋应用，天然气和沼气生产。 （M系列中红外光谱仪可以区分不同的碳氢化合物C1-C5） （二氧化碳（CO2）浓度测量） 分享到 : 人人网 腾讯微博 新浪微博 搜狐微博 网易微博 相关产品 惊爆价！4万元的红外光纤光谱仪（900~1700nm）！ 中红外光纤(4um -16um) 量子级联激光器（3.8um~12um） 中红外激光光束分析仪 （1.5um~8um）

孚光精仪品牌的多功能纳米硬度计配件通过扫描材料表面实现对材料力学性能的纳米尺度的高精度测量，精确给出硬度，弹性模量，杨氏模量等材料力学性能。 多功能纳米硬度计配件特色具备原子力显微镜和纳米压痕仪的功能实现静态压痕和动态压痕测量以及测量最高位移测量能力可达300mkm, 最高负载科大100mN。采用模块化设计，可广泛集成原子力显微镜，光学显微镜，激光干涉仪器等尖端材料表面测量仪器，为用户提供综合性材料微观力学测试方案。 多功能纳米硬度计配件选型4D紧凑型纳米硬度计4D紧凑型是全球结构最为紧凑小巧的纳米硬度测试仪，它采用纳米压痕法测量材料硬度和弹性模量（杨氏模量），负载高达2N,广泛用于材料力学性能测量研究。也非常适合大学或研究单位的纳米压痕仪测量硬度的教学或演示教学。 4D标准型纳米硬度计4D标准型具有测量材料硬度，弹性模量和其它力学性能的功能。它采用静态和动态纳米压痕技术以及sclerometry方法测量材料性能。并且可以接触式或半接触式地测量材料表面形貌，采用光学显微镜高精度地对压头和样品进行精确互动性定位。纳米硬度计4D标准型还可以接入另外的传感器或测量模块，实现对材料表面进行其它测量。 4D+增强型纳米硬度计4D+增强型配置是全球功能最多的多功能纳米硬度测量仪器。它具有纳米压痕仪和原子力显微镜的功能，具备了所有的物理和力学性能测量能力。它具有原子力显微镜测量模块，能够以纳米级分辨率研究压痕后留下的表面痕迹和图像，并能够全自动测量，可以批量处理分析测量结果。

光纤拉伸器PZ1产品介绍：量青光电代理的美国Optiphase公司的PZ1型小封装光纤拉伸器是一种低成本的光纤盘绕压电陶瓷换能器（Piezo-electric）器件，作为一种性能出色的低成本相位调制器。在众多传感领域有非常重要的应用，典型的应用例如开环解调，干涉型传感器模拟，干涉仪系统的相位调制等等。PZ1型光纤拉伸器标准产品采用SMF-28e光纤或者Panda型偏振保持光纤，超高的性能价格比超过所有其他已知的竞争产品。坚固小巧的封装使得PZ1光纤拉伸器能够容易被集成到小尺寸的系统中，多种输出方式和连接器的选择方便用户使用。公司同时提供针对不同客户应用的定制型产品，例如特殊的封装要求，光纤类型，输出连接器方式，以及频率响应范围等等，请联系我们的销售人员获取更多的信息。产品应用：光纤干涉仪光纤激光器光纤传感干涉型光纤传感器光纤相位调制器产品特点：高性能封装小巧坚固可以定制订货信息:PZ1-STD：900um松套，不带连接器； PZ1-STD-FC/PC：900um松套带FC/PC连接器；PZ1-STD-FC/APC：900um松套带FC/APC连接器PZT-PM-1.5：保偏光纤拉伸器，900um松套不带连接器PZ1-PM-1.5-FC/PC：保偏光纤拉伸器，900um松套带FC/PC连接器PZ1-PM-1.5-FC/APC: 保偏光纤拉伸器，900um松套带FC/APC连接器可提供的订制产品：（1）更小的封装尺寸或者结构；（2）其它工作波长的单模光纤；（3）其它工作波长保偏光纤；（4）更宽的工作频率范围；（5）不同的连接器类型等等。