光谱仪反射镜原理

看到红外光谱仪的反射镜表面发雾，能不能清洗，如何清洗？

来自奥地利、美国和瑞士的科学家组成的国际科研团队，研制出了首个中红外波长范围超级反射镜，有望用于测量微量温室气体或用于切割和焊接的工业激光器等领域。研究论文发表于最新一期《自然通讯》杂志。在可见光波长范围内，现有金属反射镜的反射率为99%。在近红外范围，专用反射镜涂层的反射率高达99.9997%；但迄今最好的中红外反射镜的反射率为99.99%，光子丢失率是近红外超反射镜的33倍。人们一直希望将超反射镜技术扩展到中红外领域，以促进很多领域取得重大进展，如测量与气候变化有关的微量气体、分析生物燃料，以及提升广泛应用于工业和医疗领域的切割激光器和激光手术刀的性能等。此次，研究团队研制出的中红外超反射镜的反射率高达99.99923%。为制造出中红外超级反射镜，研究团队结合传统薄膜涂层技术与新型半导体材料和方法，开发出一种新涂层工艺。为此，他们先研制出直径为25毫米的硅基板，然后让高反射半导体晶体结构在10厘米的砷化镓晶片上生长，接着将其分成更小的圆形反射镜，再将这些反射镜安装到硅基板上，得到了超级反射镜并证明了其性能。[b]研究人员指出，这款新型超反射镜的一个直接应用是显著提高中红外气体分析光学设备的灵敏度，可准确计量微量环境标志物，如一氧化碳等。[/b][来源：科技日报]

红外光谱的光源出来后为何要用椭圆反射镜？求解．

红外反射镜的镀膜材质有镀金、镀银、镀铝的，性能上相差多少呢？还有号称“金刚石加工切削整体合金反射镜,光路传输效率更高于一般金属镀层技术的反射镜”的，这种合金反射镜是什么材质的？

红外显微镜反射所使用的的反射镜片坏了，载玻片上镀铝的那种。哪里可以买到便宜的反射镜片？请提供厂家、型号、价格，万分感谢！！！[em09511][em09511][em09507]

哪里有卖尺寸小的椭球面反射镜，用于将红外光源调成平行光，材料金属，内表面镀金，直径1.5cm左右，有的话联系我，邮箱mjfcool@163.com

大家帮忙给看看这些反射镜参数的表示代表什么意思：AlMgF2, CL1.5×2.00, 260mmROC AlMgF2, FL1.25×1.50我知道AlMgF2是反射镜上面镀的膜，其余的表示什么意思，希望高手不吝赐教！！！

用于样品表面、金属板上涂层薄膜的红外光谱测定。甚至用于单分子层的解析。入射光经反射镜照射到样品表面，其反射光再经另一反射镜进入仪器。反射吸收测定的原理是，只有与基板垂直的偶极矩变化可以被选择性地检测。

请教，哪些镜面可用于红外反射。比如表面镀银，金，铝等。自制反射镜面采用哪种方法。

请问反射镜该如何调（SPI3800N,SPA400)?其具体结构是怎样？

光度计里面为何安装反射镜，光源直射不可以吗？谢谢！

欢迎大家前来与tianzhen老师一起就镜面反射光谱技术知识的相关问题进行探讨！活动时间：2014年05月09日——2014年05月18日【线上讲座240期】基于反射技术的红外光谱分析方法（之三：镜面反射技术光谱法） 主讲人：tianzhen--XRF & 颗粒度测量版面专家 活动时间：2014年05月09日——2014年05月18日 热烈欢迎tianzhen老师光临红外光谱版面进行讲座！http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif引言对红外光谱来说，常规的透射分析分析方法已经远远不能满足现在样品多样化的要求。针对没的的样品要设计与之相适应的分析方法，不仅可以得到更加准确的结果，而且可能有效地节省分析时间，简化分析过程。但同时，在分析方法的完善及相关资料的全面性上来说，其它的分析方法还无法与透射法相比，但随着反射法硬件及分析方法的完善，反射分析方法正越来越多地受到重视，本讲座就对利用反射原理来进行样品分析的衰减全反射技术、漫反射技术及镜面反射技术做一个简单的介绍。本讨论共分三部分，每一部分分别关注前面提到的三种技术。由于内容比较多，讲座拟定分三期进行，第一期为衰减全反射技术http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20130908/4954048/、第二期漫反射技术http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20131204/5092349/、第三期镜面反射技术。http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif提要一、镜面发射技术应用领域二、镜面反射技术的类型、原理三、镜面反射技术光谱的应用http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif欢迎大家前来与tianzhen老师一起就镜面反射光谱技术相关的内容进行探讨交流！以上资料为tianzhen老师所著,未经tianzhen老师和仪器信息网同意任何个人和单位禁止转载!!!提问时间：2014年05月09日--05月18日答疑时间: 2014年05月09日--05月18日特邀佳宾：IR / NIR版面版主、专家以及从事红外光谱分析的同行们参与人员：仪器论坛全体注册用户活动细则：1、请大家就镜面反射技术知识的相关问题进行提问，直接回复本帖子即可，自即日起提问截至日期2014年05月18日2、凡积极参与且有自己的观点或言论的都有积分奖励（1-50分不等），提问的也有奖励3、提问格式：为了规范大家的提问格式，请按下面的规则来提问 ：tianzhen老师您好！我有以下问题想请教，请问：……http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif说明：本讲座内容仅用于个人学习，请勿用于商业用途，由此引发的法律纠纷本人概不负责。虽然讲座的内容主要是对知识与经验的讲解、整理和总结，但是也凝聚着笔者大量心血，版权归tianzhen老师和仪器信息网所有。本讲座是根据笔者对资料的理解写的，理解片面、错误之处肯定是有，欢迎大家指正。http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif

[b]光腔衰荡光谱技术[/b]（简称CRDS技术），是近几年来迅速发展起来的一种高灵敏度的吸收光谱检测技术。因其先进的技术优势，已成为分析各种微量或痕量物质强有力的工具。CRDS技术与传统吸收光谱检测方法有着本质的区别：CRDS技术测量光在衰荡腔中的衰荡时间，该时间仅与衰荡腔反射镜的反射率和衰荡腔内介质的吸收有关，而与入射光强的大小无关，因此，测量结果不受脉冲激光涨落的影响，具有灵敏度高、信噪比高、抗干扰能力强等优点，被广泛应用于生物、化学、物理及地球和环境科学研究领域。[img]https://6706805.s21i.faiusr.com/2/ABUIABACGAAg686aiwYog_m1nQcwsAk44Ag!600x600.jpg[/img][b]光腔衰荡光谱技术[/b]（CRDS）[b]原理[/b]几乎每种小的[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相[/url]分子（例如，CO2，H2O，H2S，NH3）都具有独特的近红外吸收光谱。在低于大气压的压强下，它由一系列狭窄、分辨良好的尖锐波谱曲线组成，每条曲线都具有特征波长。因为这些曲线间隔良好并且它们的波长是已知的，所以可以通过测量该波长吸收度，即特定吸收峰的高度来确定任何物质的浓度。但是，在传统的红外光谱仪中，因痕量气体产生的吸收量太少而无法测量，通常灵敏度只能达到 ppm 级别。CRDS - 光腔衰荡光谱 - 通过使用长达数公里的有效吸收光程来突破这种灵敏度限制。CRDS 能在几秒钟或更短的时间内对气体进行监测，灵敏度可以达到 ppb 级别，甚至有些气体可以达到 ppt 级别。[img]https://6706805.s21i.faiusr.com/4/ABUIABAEGAAg686aiwYo3qiGywUwpgg4-gQ!600x600.png[/img][b]光腔衰荡光谱技术[/b]（CRDS），来自单频激光二极管的光束进入由两面或多面高反射率反射镜构成的衰荡腔。PULSAR-a温室气体分析仪使用三镜腔，以支持连续行波光波。与支持驻波的双镜腔相比，这可以带来优异的信噪比。当激光打开时，脉冲激光沿着光轴注入到腔内，激光脉冲在腔镜之间来回反射而形成振荡。快速光电探测器通过检测其中一个反射镜逸出的少量光强，产生与腔内光强成正比的信号，记录腔内激光脉冲的衰减过程，在腔镜反射率已知的情况下，可以计算腔内气体浓度的变化。[img=温室气体分析仪]https://6706805.s21i.faiusr.com/2/ABUIABACGAAg686aiwYopKLVrAYwsAk4ngc!600x600.jpg[/img]希戈纳科技的PULSAR-a[b]温室气体分析仪[/b]采用了光腔衰荡光谱技术（CRDS），能够同时测量二氧化碳(CO?)和甲烷(CH?)，灵敏度为十亿分之一(ppb)，长期运行中的漂移可以忽略不计。

[color=#333333]衰减全反射光谱的原理，适用于分析什么样品[/color]

【讲座预告】基于反射技术的红外光谱分析方法对红外光谱来说，常规的透射分析分析方法已经远远不能满足现在样品多样化的要求。针对没的的样品要设计与之相适应的分析方法，不仅可以得到更加准确的结果，而且可能有效地节省分析时间，简化分析过程。但同时，在分析方法的完善及相关资料的全面性上来说，其它的分析方法还无法与透射法相比，但随着反射法硬件及分析方法的完善，反射分析方法正越来越多地受到重视，本讲座就对利用反射原理来进行样品分析的衰减全反射技术、漫反射技术及镜面反射技术做一个简单的介绍。本讲座分衰减全反射技术、漫反射技术及镜面反射技术三部分。讲座即将上线，大家猜猜：主讲专家会是论坛里何方人物？ ——下周一揭晓。

漫反射光谱属于哪一类？什么是漫反射光谱？它的原理是什么？

欢迎大家前来与tianzhen老师一起就ATR衰减反射光谱技术知识的相关问题进行探讨~！活动时间：2013年09月09日——2013年09月18日【线上讲座232期】基于反射技术的红外光谱分析方法（之一：ATR衰减全反射光谱法） 主讲人：tianzhen--XRF & 颗粒度测量版面专家 活动时间：2013年09月09日——2013年09月18日 热烈欢迎tianzhen老师光临红外光谱版面进行讲座！http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif引言对红外光谱来说，常规的透射分析分析方法已经远远不能满足现在样品多样化的要求。针对没的的样品要设计与之相适应的分析方法，不仅可以得到更加准确的结果，而且可能有效地节省分析时间，简化分析过程。但同时，在分析方法的完善及相关资料的全面性上来说，其它的分析方法还无法与透射法相比，但随着反射法硬件及分析方法的完善，反射分析方法正越来越多地受到重视，本讲座就对利用反射原理来进行样品分析的衰减全反射技术、漫反射技术及镜面反射技术做一个简单的介绍。本讨论共分三部分，每一部分分别关注前面提到的三种技术。由于内容比较多，讲座拟定分三期进行，第一期为衰减全反射技术、第二期漫反射技术及第三期镜面反射技术。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif提要一、红外光的特点及红外光谱分析方法二、衰减全反射的原理及特点三、衰减全反射光谱的应用http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif欢迎大家前来与tianzhen老师一起就ATR衰减反射光谱技术相关的内容进行探讨交流~！以上资料为tianzhen老师所著,未经tianzhen老师和仪器信息网同意任何个人和单位禁止转载!!!提问时间：2013年09月09日--09月18日答疑时间: 2013年09月09日--09月18日特邀佳宾：IR / NIR版面版主、专家以及从事红外光谱分析的同行们参与人员：仪器论坛全体注册用户活动细则：1、请大家就ATR技术知识的相关问题进行提问，直接回复本帖子即可，自即日起提问截至日期2013年09月18日2、凡积极参与且有自己的观点或言论的都有积分奖励（1-50分不等），提问的也有奖励3、提问格式：为了规范大家的提问格式，请按下面的规则来提问 ：tianzhen老师您好！我有以下问题想请教，请问：……http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif说明：本讲座内容仅用于个人学习，请勿用于商业用途，由此引发的法律纠纷本人概不负责。虽然讲座的内容主要是对知识与经验的讲解、整理和总结，但是也凝聚着笔者大量心血，版权归tianzhen老师和仪器信息网所有。本讲座是根据笔者对资料的理解写的，理解片面、错误之处肯定是有，欢迎大家指正。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif

直读光谱中 光路为：入射狭缝--入射折射片--光栅--出射折射片--出射狭缝--光电倍增管（对于PMT位置重叠时还可能需要在PMT前加一个反射镜）入射狭缝的作用：描迹就是通过调整入射折射片的角度位置来校正狭缝的偏移出射折射片的作用：由于斯派克M9的出射狭缝是死缝（缝的位置是通过理论计算后整体定位的，位置不可改变），因此在实际的装配中，可能出现机械误差（如：光栅进光入射角的偏差，光栅本身球面误差等等），这些机械误差可能会造成实际谱线偏离理论位置，而做好的出射狭缝无法调节位置，因此用折射板把谱线从偏离位置上折射到出射狭缝上。此外，提到的PMT位置重叠的时候加反射镜，也是由于光电倍增管本身的体积决定，两个光电倍增管很难放置在如此小的空间之内，因此需要放置小反射镜将其中谱线反射到其他有空间的位置，在那个位置放置此通道的光电倍增管。光路当中，这些折射板，反射镜都不是随便增加的，因为光信号每一次的透射和反射都会造成一定比例的光损耗，因此需要慎重处理。

欢迎大家前来与tianzhen老师一起就漫反射光谱技术知识的相关问题进行探讨！活动时间：2013年12月05日——2013年12月14日【线上讲座236期】基于反射技术的红外光谱分析方法（之二：漫反射技术光谱法） 主讲人：tianzhen--XRF & 颗粒度测量版面专家 活动时间：2013年12月05日——2013年12月14日 热烈欢迎tianzhen老师光临红外光谱版面进行讲座！http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif引言对红外光谱来说，常规的透射分析分析方法已经远远不能满足现在样品多样化的要求。针对没的的样品要设计与之相适应的分析方法，不仅可以得到更加准确的结果，而且可能有效地节省分析时间，简化分析过程。但同时，在分析方法的完善及相关资料的全面性上来说，其它的分析方法还无法与透射法相比，但随着反射法硬件及分析方法的完善，反射分析方法正越来越多地受到重视，本讲座就对利用反射原理来进行样品分析的衰减全反射技术、漫反射技术及镜面反射技术做一个简单的介绍。本讨论共分三部分，每一部分分别关注前面提到的三种技术。由于内容比较多，讲座拟定分三期进行，第一期为衰减全反射技术http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20130908/4954048/、第二期漫反射技术及第三期镜面反射技术。http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif提要一、红外光的特点及红外光谱分析方法二、漫反射的原理及特点三、漫反射光谱的应用http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif欢迎大家前来与tianzhen老师一起就漫反射光谱技术相关的内容进行探讨交流！以上资料为tianzhen老师所著,未经tianzhen老师和仪器信息网同意任何个人和单位禁止转载!!!提问时间：2013年12月05日--12月14日答疑时间: 2013年12月05日--12月14日特邀佳宾：IR / NIR版面版主、专家以及从事红外光谱分析的同行们参与人员：仪器论坛全体注册用户活动细则：1、请大家就漫反射技术知识的相关问题进行提问，直接回复本帖子即可，自即日起提问截至日期2013年12月14日2、凡积极参与且有自己的观点或言论的都有积分奖励（1-50分不等），提问的也有奖励3、提问格式：为了规范大家的提问格式，请按下面的规则来提问 ：tianzhen老师您好！我有以下问题想请教，请问：……http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif说明：本讲座内容仅用于个人学习，请勿用于商业用途，由此引发的法律纠纷本人概不负责。虽然讲座的内容主要是对知识与经验的讲解、整理和总结，但是也凝聚着笔者大量心血，版权归tianzhen老师和仪器信息网所有。本讲座是根据笔者对资料的理解写的，理解片面、错误之处肯定是有，欢迎大家指正。http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif

红外光谱衰减全反射法（ATR）的原理及其在纺织品定性上的应用，这个谁有电子版的，谢谢分享！

以前，由于工作的原因，我经常能接触到傅里叶变换红外光谱仪，压片机等等，当然有时候也能接触到ATR反射附件，这次我就把接触到的反射附件以及扫描的光谱图给大家分享一下。首先来看反射附件，不得不说国外的做工确实很精细，有些细节做的很贴心，这些就需要国内的厂商学习了。打开红外预热30分钟左右（一般情况下我预热20到30分钟，有的时候测量的精度需要的很高，预热的时间相应增加），然后用红外直接扫描两次空背景，得出一个100%线，由于扫描次数设定的是1次，所以并不是像测量信噪比时那样。而后，先不放反射附件扫描一次空的背景，然后小心翼翼的放入反射附件扫描，得到的结果是，通过反射附件以后能量衰减到原来的55%左右，通过两个镀铝的反射镜和一个镀金的反射镜能量衰减到原来的55%,这样的结果还是可以接受的。然后仿照红外直接扫描两次空背景的方式，在放入反射附件后扫描两次，得到一个反射的100%线，结果同红外直接扫描的100%基本上一样，这就说明反射附件做的很好，也就像资料里说的那样：采用衰减全反射(A TR ) 分析就可以方便地克服这些困难。该方法应用范围广泛、制样简单、无需前处理、不破坏样品就可以直接进行红外分析, 所测得的红外光谱与透射光谱的谱带位置、形状完全一致, 不存在干涉条纹, 特征谱带清晰。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/12/200912160946_190270_1610706_3.gif[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/12/200912160947_190272_1610706_3.gif[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/12/200912160948_190275_1610706_3.gif[/img]

光谱仪工作原理光谱分析方法作为一种重要的分析手段，在科研、生产、质控等方面都发挥着极大的作用。无论是穿透吸收光谱，还是荧光光谱，拉曼光谱，获得单波长辐射是不可缺少的手段。由于现代单色仪可具有很宽的光谱范围（UV-IR），高光谱分辨率（0.001nm），自动波长扫描，完整电脑控制功能，极易和其它周边设备配合为高性能自动测试系统，使用电脑自动扫描多光栅光谱仪已成为光谱研究的首选。在光谱学应用中，获得单波长辐射是不可缺少的手段。除了用单色光源（如光谱灯、激光器、发光二极管）、颜色玻璃和干涉滤光片外，大都使用扫描选择波长的单色仪。尤其是当前更多地应用扫描光栅单色仪，在连续的宽波长范围（白光）选出窄光谱（单色或单波长）辐射。　　当一束复合光线进入光谱仪的入射狭缝，首先由光学准直镜准直成平行光，再通过衍射光栅色散为分开的波长（颜色）。利用不同波长离开光栅的角度不同，由聚焦反射镜再成像于出射狭缝。通过电脑控制可精确地改变出射波长。光栅基础　　光栅作为重要的分光器件，他的选择与性能直接影响整个系统性能。为更好协助用户选择，在此做一简要介绍。　　光栅分为刻划光栅、复制光栅、全息光栅等。刻划光栅是用钻石刻刀在涂有金属的表面上机械刻划而成；复制光栅是用母光栅复制而成。典型刻划光栅和复制光栅的刻槽是三角形。全息光栅是由激光干涉条纹光刻而成。全息通常包括正弦刻槽。刻划光栅具有衍射效率高的特点，全息光栅光谱范围广，杂散光低，且可作到高光谱分辨率。光栅方程　　反射式衍射光栅是在衬底上周期地刻划很多微细的刻槽，一系列平行刻槽的间隔与波长相当，光栅表面涂上一层高反射率金属膜。光栅沟槽表面反射的辐射相互作用产生衍射和干涉。对某波长，在大多数方向消失，只在一定的有限方向出现，这些方向确定了衍射级次。如图1所示，光栅刻槽垂直辐射入射平面，辐射与光栅法线入射角为α，衍射角为β，衍射级次为m，d为刻槽间距，在下述条件下得到干涉的极大值：mλ=d（sinα+sinβ）　　定义φ为入射光线与衍射光线夹角的一半，即φ=（α-β）/2；θ为相对与零级光谱位置的光栅角，即θ=（α+β）/2,得到更方便的光栅方程：　　mλ=2dcosφsinθ　　从该光栅方程可看出：　　对一给定方向β，可以有几个波长与级次m相对应λ满足光栅方程。比如600nm的一级辐射和300nm的二级辐射、200nm的三级辐射有相同的衍射角。　　衍射级次m可正可负。　　对相同级次的多波长在不同的β分布开。　　含多波长的辐射方向固定，旋转光栅，改变α，则在α+β不变的方向得到不同的波长。如何选择光栅选择光栅主要考虑如下因素：刻槽密度G=1/d，d是刻槽间隔，单位为mm。闪耀波长　　闪耀波长为光栅最大衍射效率点，因此选择光栅时应尽量选择闪耀波长在实际需要波长附近。如实际应用在可见光范围，可选择闪耀波长为500nm。光栅刻线　　光栅刻线多少直接关系到光谱分辨率，刻线多光谱分辨率高，刻线少光谱覆盖范围宽，两者要根据实验灵活选择。光栅效率　　光栅效率是衍射到给定级次的单色光与入射单色光的比值。光栅效率愈高，信号损失愈小。为提高此效率，除提高光栅制作工艺外，还采用特殊镀膜，提高反射效率。光栅光谱仪重要参数：分辨率（resolution）　　光栅光谱仪的分辨率R是分开两条临近谱线能力的度量，根据瑞利判据为：　　R==λ/Δλ　　光栅光谱仪有实际意义的定义是测量单个谱线的半高宽（FWHM）。实际上，分辨率依赖于光栅的分辨本领、系统的有效焦长、设定的狭缝宽度、系统的光学像差以及其它参数等。　　R∝M.F/WM－－光栅线数　　F－－谱仪焦距　　W－－狭缝宽度色散　　光栅光谱仪的色散决定其分开波长的能力。光谱仪的倒线色散可计算得到：沿单色仪的焦平面改变距离χ引起波长λ的变化，即：Δλ/Δχ=dcosβ/nF　　这里d、β、F分别是光栅刻槽的间距、衍射角和系统的有效焦距，n为衍射级次。由方程可见，倒线色散不是常数，它随波长变化。在所用波长范围内，改变化可能超过2倍。根据国家标准，在本样本中，用1200l/mm光栅色散的中间值（典型的为435.8nm）时的倒线色散。带宽　　带宽是忽略光学像差、衍射、扫描方法、探测器像素宽度、狭缝高度和照明均匀性等，在给定波长，从光谱仪输出的波长宽度。它是倒线色散和狭缝宽度的乘积。例如，单色仪狭缝为0.2mm，光栅倒线色散为2.7nm/mm，则带宽为2.7*0.2=0.54nm。波长精度、重复性和准确度　　波长精度是光谱仪确定波长的刻度等级，单位为nm。通常，波长精度随波长变化，本样本中为最坏的情况。　　波长重复性是光谱仪设定一个波长后，改变设定，再返回原波长的能力。这体现了波长驱动机械和整个仪器的稳定性。卓立汉光的光谱仪的波长驱动和机械稳定性极佳，其重复性超过了波长精度。　　波长准确度是光谱仪设定波长与实际波长的差别。每台单色仪都要在很多波长检查波长准确度。F/#　　F/#定义为光谱仪的直径与焦距的比值。这是对光谱仪接收角的度量，这是调整单色仪与光源及探测器耦合的重要参数。当F/#匹配时，可用上光谱仪的全部孔径。但是大多数单色仪应用长方形光学部件。这里F/#定义为光谱仪的等效直径与焦距的比值，长方形光学件的等效直径是具有相同面积的园的直径

大家好，我有个测量问题一直有疑问，想请教大家。我需要测量镀在玻璃上的红外高反膜层，波长从2000nm - 16000nm，使用的仪器是PE的spectrum 3 + pike 积分球，积分球使用MCT检测器，用液氮冷却。我测量之前，先使用附带的金反射镜，把积分球调到sample 或者 用样片，把积分球调到reference档 进行背景扫描。1. 测量的结果很奇怪，超过50%的点的反射率大于了100%，导致算出来的发射率接近0，这肯定是不正常的。 是不是需要把金反射镜送到计量科学院进行标定？2. 对同一样片，在不同的时间，测出的结果差异很大，这个正常吗？ 比如今天测发射率7%，明天测9%，感觉稳定性一般。3. 光阑的大小对结果影响也很大，光阑一般选择多大合适呢？谢谢大家。我被这个问题整得焦头烂额，但又不知道问谁。今天终于找到组织了，希望各位老师给与指教。

在光谱仪炬管组件中产生的ICP光源，其观察方式有3种，分别是：垂直观察(Radial)、水平观察(Axial)和双向观察(DUO)。　　双向观测：双向观测是在水平观测ICP光源的基础，增加一套侧向采光光路，实现垂直/水平双向观测，即在炬管垂直观测的方向依次放置3块反射镜，当要使用垂直观测的时候，就通过3块反射镜把炬管垂直方向上的光反射到原光路中，并通过旋转原光路的第一块反射镜，使垂直方向来的光与原水平方向来的光在整个光路中重合。该观测方式的切换反射镜由计算机控制，该方式融合了轴向、径向的特点，具有一定的灵活性，增强了测定复杂样品的能力。改观测方式可实现以下3中方式的测量：　　①全部元素谱线水平测量。　　②全部元素谱线垂直测量。　　③部分元素谱线水平测量，部分元素谱线垂直测量。　　双向观测能有效解决水平观测中存在的电子干扰，进一步扩宽线性范围。但是该观测方式需要不断地切换反射镜，可 能导致仪器的稳定性变差。由于径向观测的需要，炬管侧面必须开口，导致炬管的寿命大大降低，同时也改变了炬焰的形状。炬管开口处必须严格与光路对准，要不然炬管壁容易积累盐，会使检测结果严重错误 同时如果在开口出现积盐同样也会导致仪器检测结构存在严重的错误，必须注意清洗。而且增加了曝光次数，降低了分析速度，增加了分析消耗。

1、选择红外光谱仪器重点是看仪器的分辨率。在目前主要的几款进口品牌当中，同档次的数安捷伦640型号分辨率最高，达到0.25CM﹣1。光谱分辨率高低取决于光源的能量和干涉仪的设计原理。光源能量越高，信号越强。安捷伦的红外光谱在光源的后端增加了一个反射镜，增强了信号强度。2、干涉仪的设计方面，进款进口品牌中只有安捷伦和尼高力采用的是动态准直设计原理。这种设计采用迈克尔逊干涉仪将拉曼光信号调制成干涉信号，通过计算机对干涉信号做出快速傅里叶变换得到拉曼光谱。在扫描过程中干涉仪中的动镜会产生倾斜与震动、导致拉曼光谱调制度与信噪比降低很多。而安捷伦的设计采用的是通过控制磁力线圈磁场力的方式调整定镜姿态实现动态准直，纠正定镜的位置，大大降低了因调整动镜位置带来的影响。尼高力（即目前的热电）采用的是对动镜进行调整。PE/布鲁克/岛津无动态准直设计。其中布鲁克高端型号也有这样的设计，低端型号采用的是摆臂式设计，分比率较低。3、此外只有当定镜与动镜的夹角成60度时能量达到最大，几款品牌中只有安捷伦能做到这一点，尼高力为90度。4、岛津无背投反射镜，扫描速度较慢，20~30S/张图，无动态准直技术，分辨率低。5、PE 与 布鲁克设计原理很接近。无背投反射，无动态准直技术。6、另外安捷伦640-IR具有标准品定期验证与软件验证功能，自动出报告。

如题，在线检测的采集器精确固定在样品上方，距离样品1-2厘米的位置。被测样品会平稳的运动，一分钟在10米到1000米之间的速度运动。采集的样品是直径为4厘米左右的圆形区域。光源呈45度照射到样品。反射光0度从光纤准直镜接收到光谱仪。高速取样在电脑显示色彩空间数据。样品不动的情况下保证数值的重复性误差很精确原理只能是这样来采集光谱。其他的办法实在是找不到了。看起来这种方法好实现。但是会存在很多很多问题。1.光源，传统的卤素灯光源能量很稳定，但是用在非接触测量时候会出现能量不够，长时间工作灯的寿命降低。一般都是几千个小时。在线检测用一般一开都是N月。2.校正，校正的前提是保证光源在绝对稳定状态下才能有效的校正白板反射数值。卤素灯排除后就实在没办法让光谱仪长时间使用而校正的问题。3.色彩数据，这个数据一般不会和实验室做对比，但是用什么方法来准确反映出颜色偏向也是个难题如果用闪光式的脉冲氙灯来做光源的话。由于氙灯的特性。每次闪光的能量又不能控制。实在是找不到别的有效的办法来代替光源。如果使用氙灯的话。能量值能稳定的控制在很精确。伴随光谱仪还有采集时间和时序的问题。种种问题。实在得不到有效解决。但是也真实的见过真有这种类型的测色仪。他们是如何做到的

最近纠结漫反射的问题，查了好些资料，昨晚终于在一本名叫《近代傅里叶变换红外光谱技术及应用》上卷中看到了一点关于漫反射的介绍，个人觉得不错，就把其中的一些知识誊抄上来，希望有更多信息的版友继续跟进。漫反射原理：当光线照射到样品上，一部分光在样品表面产生镜面反射，另一部分光经折射进入样品内部，在样品内部与样品分子作用而发生反射、折射、散射和吸收现象，最后光线由样品表面辐射出来，辐射出来的光由于散向空间各个方向而被称为漫反射。由于漫反射光曾进入样品内部与样品分子发生作用，因此漫反射光将载有样品分子的结构信息，这是漫反射光谱技术工作的基础。漫反射特点：漫反射与镜面反射共存；漫反射光强度弱；漫反射吸收光谱图与透射法测得吸收光谱图形状基本一致。漫反射光谱的测量：漫反射技术主要用于测量粉末样品和混浊的液体。对粉末样品几乎不需要样品制备，由于上述优点，在煤、矿等难于用压片法测量的样品的IR研究中得到广泛应用。将待测样品在合适的基质中稀释，能够有效地消除镜面反射和避免产生吸收峰饱和现象，从而获得较高质量的漫反射谱。稀释基质常用KCl和KBr等，比例在1：20至1：10之间。漫反射的定量分析：利用K-M方程可以实现漫反射的定量研究，具体公式为：f(R∞)=（1-R∞）2/2R∞=K/S；R∞代表样品层无限厚时的反射率（实际上几个毫米就能满足），K为样品的吸光系数，S为样品的散射系数，由于K与粉末样品浓度C呈正比，由此有f(R∞)与C呈正比，可以进行定量分析。大家对于K-M方程有何看法，此处为什么不用Beer-Lamber定律，他们有何关联呢？http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09511.gif