划痕缺陷阶差检测

市场上最精确的纳米划痕测试仪主要特点施加较小的载荷时具有极快的响应时间纳米划痕测试仪带有载荷传感器，采用双悬臂梁用于施加载荷，以及压电式驱动器用于对施加的载荷快速响应。这一设计理念还修正了在划痕过程中发生的任何事件（例如出现裂纹和故障、缺陷或样品不平整）而导致的测量结果偏差。适用于弹性恢复研究的专利真实划痕位移测量在划痕之前、过程和之后，位移传感器 (Dz) 一直记录样品的表面的轮廓。这让您可以在划痕过程中或之后评估针尖的位移量，从而可以评估材料的弹性、塑性和粘弹性能（专利：US 6520004)不打折扣：施加任何微牛级的载荷闭环主动力反馈系统可在 1 μN 以下进行更精确的纳米划痕测试。纳米划痕测试仪包含一个 传感器测量载荷，可以直接反馈给法向载荷驱动器。这确保施加的载荷就是用户设置的载荷。高质量光学成像带“跟踪聚焦”功能集成显微镜包括配置高质量物镜的转塔和 USB 照相机。划痕成像时，能轻松将放大倍数从 x200 转换为 x4000，实现在低放大倍数和高放大倍数自由切换从而更好地对样品进行评估。“跟踪聚焦”功能可以进行将多个划痕的 Z 样品台自动聚焦到正确位置。划痕后可用多次后扫描模式评估弹性性能划痕后，您可以在软件中用时间增量定义无限次后扫描测量残余位移。这种全新的分析方法将让您进一步了解表面变形性能与时间的依赖关系。技术指标施加的载荷分辨率0.01 μN最大载荷1000 mN本底噪音0.1 [rms] [μN]*摩擦力分辨率0.3 μN最大摩擦力1000 mN位移分辨率0.3 nm最大位移600 μm本底噪音1.5 [rms] [nm]*速度速度从 0.4 mm/min 到 600 mm/min*理想实验室条件下规定的本底噪音值，并使用减震台。

钢研纳克钢管视觉表面缺陷自动检测系统：由高速CCD相机系统、同步成像光源系统、存储及图形分析服务器系统、景深自动调节的检测平台系统及软件等组成，可实现二维+三维表面缺陷连续自动检测、分类评级和记录。可以快速且有效检测裂纹、凹坑、折叠、压痕、结疤等各类缺陷，能够适应于复杂的现代钢铁工业生产环境，能够完美替代目视检测，达到无人化生产的水平。 图1 钢管视觉表检系统 图2 CCD高速相机系统1.特点独特二维+三维成像技术：二维+三维集成成像，不仅能准确检测开口缺陷深度，而且深度很浅的细小缺陷也能有效检测。二维、三维结合技术解决了目前三维检测系统只能检出有一定深度缺陷、无法检测表面深度较浅但危害性较大的缺陷的问题。相机景深自动调整技术：能够对不同规格的工件进行自动调整，实现大景深变化背景下的高清成像。卷积神经网络缺陷算法：基于深度学习的表面缺陷检测算法，能够在复杂背景下有效地减少计算时间快速的采集缺陷特征，具有领先的缺陷检出率及分类准确率。2.主要功能在线缺陷实时检测：系统在线检测折叠、凹坑、裂纹等钢管外表面常见自然缺陷缺陷高速识别：快速分析获取缺陷数量、大小、位置（在长度、宽度方向上位置）、类型等信息，显示宽度缺陷模式缺陷分类统计：可按缺陷种类、长度、深度、位置、面积、等进行分类及合格率统计。实时图像拍照：实时过钢图像以及每根钢管记录的图像的“回放”功能，可进行多个终端显示图像回放。机器自学习：系统检出的缺陷和人工核对后，进行对应缺陷的样本训练，形成机器自学习，提高同类缺陷的识别准确率3.检测效果图3 图软件主界面图4 系统分析界面图5 缺陷样本自动标注常见缺陷 划伤 辊印 结疤 裂纹图6 检测到的常见表面缺陷目前该产品已在钢管生产线投入使用，解决了长期困扰客户的表面缺陷实时检测的难题。详情可咨询钢研纳克无损检测，电话： 手机：，E-mail：

Revetest 大载荷划痕测试仪是工业标准仪器，广泛用于表征典型涂层厚度超过 1 μm 的硬质涂层材料。RST 300 是用于表征涂层/基体附着力、表面抗划性能及传统维氏硬度的可靠仪器。该软件支持多种测试模式下的划痕测试，以及自动检测压痕的传统维氏硬度测试。Anton Paar 是全球划痕测试的领导者，已售出超过 1500 台 Revetest 大载荷划痕仪：关键功能新型同步全景成像模式此种功能为 Anton Paar 划痕测试仪所独有。它可以自动将所有传感器信号和全景成像的划痕图像实现完全同步。这样就可以在与界面上的划痕图片完全对应的情况下分析测试曲线。Anton Paar 拥有新型同步全景成像模式（美国专利号： US 12/324、237 以及欧洲专利号： EP 2065695）。曲面和粗糙表面的测试由于其采用了独特的载荷传感器控制技术，Revetest 大载荷划痕系统可探知表面形貌的偏差，并且通过主动力反馈系统来校正。通过完全控制的所需载荷来跟踪样品表面形貌，RST 300 还能够对粗糙表面和曲面进行可靠的测试。 独特的传统维氏硬度功能这一独特的功能可自动检测和测量传统维氏硬度测试的压痕面积，并消除用户对维氏硬度测试结果的影响。RST 300 和其他 Anton Paar 划痕测试仪是市场上唯一在传统维氏硬度测试方面具有如此先进功能的划痕测试仪。 符合 ASTM C1624、ISO 20502 和 ISO EN 1071 国际标准Anton Paar 通过与 ISO、ASTM、DIN 等标准化组织密切合作，为我们的客户提供支持，以满足他们对其产品的严格要求，尤其是在此类标准起重要作用的质量控制方面。通过相应的产品专业认可，可以在安全性、可靠性、可持续性方面保证高质量的产品和服务。 划痕测试的高度灵活性提供不同直径和角度的划痕针尖。针尖夹具还可用于需要使用小直径球形尖端、Berkovich 或维氏针头以及 6 mm 直径的应用。一个相同的针尖夹具可用于不同种类的针头，专用的球支架可用于不同的球材料。 自动判定临界载荷通过使用不同的传感器（声发射、穿透深度、摩擦力）和视频显微镜观察获得临界载荷数据来量化不同的膜 - 基体组合的结合性能。所有临界载荷可通过新的软件进行自动检测。仅需要用户设置阈值并对临界载荷 (Lc) 进行自动分析。RST 300 是市场上少有的具有自动检测临界载荷功能的划痕测试仪。

精确、快速、便携应用领域：金属，复合材料，织物等材质表面的划痕，裂纹，磨损，刮擦、凹坑、凿击、腐蚀等表面缺陷的现场检测和分析；铆接，焊接，接缝等阶差和凹凸量的三维检测；三维面粗糙度测量分析；划窝孔，槽深，圆弧，倒角等几何尺寸测量； 测量原理：德国GFM公司基于激光条纹相位投影技术和DSP高速图像处理芯片研制的便携式三维光学表面划痕测量仪，用于现场表面质量特性的检测，具有测量速度快，测量准确，便携性等优点。 仪器特点：便携式现场检测大型零件表面划痕缺陷,阶差等表面几何特性参数；三维测量表面划痕缺陷，通过拓扑色差图直观检测出划痕缺陷最深的部位；专业的划痕测量分析软件，多种滤波方式：包含了多项式滤波，高斯滤波，均值滤波等，有效消除曲面轮廓，倾斜，噪音信号，毛刺，灰尘等因素对测量结果的影响；大倾角光路设计，以及蓝光LED光源，测量不受高反光曲面的影响；SDK软件包，开放仪器接口，可二次开发；仪器附件 测量范围X/Y/Z：13X8X5 mm测量示值误差： (2+L/1000)μm L单位μm深度方向分辨力：1um聚焦距离： 107mm测量扫描时间: 3秒；扫描点云：36万点/幅使用环境温度：5-40°C符合国标校准规范的计量校准溯源

无锡市东富达机器视觉技术的缺陷检测方法，即利用图像处理和分析对产品可能存在的缺陷进行检测。 在检测产品存在缺陷时，瑕疵缺陷图像的特点是，其图像表现为缺陷处的灰度值与标准图像在此处的灰度值有差异。首先对瑕疵缺陷图像的特征进行提取与选择，然后将瑕疵缺陷图像的灰度值同标准图像的灰度值进行比较，判断其差值是否超出已预先设定的阈值范围，以此方法便能判断出待检测产品是否存在缺陷。机器视觉缺陷检测主要用计算机来模拟人的视觉功能，但并不仅仅是人眼的简单延伸，更重要的是具有人脑的一部分功能一一从客观事物的图像中提取信息，进行处理并加以理解，最终用于实际检测、测量和控制。

现代工业自动化生产中涉及到各种各样的检验、生产监视和零件识别应用，如汽车零配件批量加工的尺寸检查和自动装配的完整性检查、电子装配线的元件自动定位、IC上的字符识别等。通常这种带有高度重复性和智能性的工作是由肉眼来完成的，但在某些特殊情况下，如对微小尺寸的精确快速测量、形状匹配以及颜色辨识等，依靠肉眼根本无法连续稳定地进行，其它物理量传感器也难以胜任。人们开始考虑用CCD照相机抓取图像后送入计算机或专用的图像处理模块，通过数字化处理，根据像素分布和亮度、颜色等信息来进行尺寸、形状、颜色等的判别。这种方法是把计算机处理的快速性、可重复性与肉眼视觉的高度智能化和抽象能力相结合，由此产生了机器视觉测试技术的概念。表面缺陷检测设备系统性能参数：1，能实现对红外截止滤光片的双面检测；2，能自动识别崩边、划伤、灰尘和点子、印子等四种表面缺陷特征；3，具备次品自动分拣功能；4，检测精度达到10μm；5，检测速度达到180片/分钟。东富达科技在线检测设备详情请咨询：

Candela8520表面缺陷检测系统Candela8520第二代集成式光致发光和表面检测系统，设计用于对碳化硅和氮化镓衬底上的外延缺陷进行高级表征。采用统计制程控制(SPC)的方法来进行自动晶圆检测，可显著降低由外延缺陷导致的良率损失，最大限度地减少金属有机化学气相沉积(MOCVD)反应器的工艺偏差，并增加MOCVD反应器的正常运行时间。产品说明Candela 8520检测系统采用专有的光学技术，可同时测量两个入射角的散射强度。 它可以捕捉到形貌变化、表面反射率、相位变化和光致发光，从而对各种关键缺陷进行自动检测与分类。Candela 8520为氮化镓晶圆提供表面和光致发光的缺陷检测，对氮化镓位错、凹坑和孔洞进行检测和分类，用于氮化镓反应器的缺陷控制。其功率应用包括基于碳化硅的透明晶圆检查和晶体缺陷分类，如基面位错、微管、堆叠层错缺陷、条形堆叠层错缺陷、晶界和位错，以及对三角形、胡萝卜形、滴落物和划痕等形貌缺陷进行检测。功能检测宽带隙材料上的缺陷，包括直径达200毫米的碳化硅和氮化镓（衬底和外延)支持各种晶圆厚度对微粒、划痕、裂纹、沾污、凹坑、凸起、KOH蚀刻、胡萝卜形与表面三角形缺陷、基平面位错、堆叠层错、晶界、位错和其他宏观外延干扰进行检测应用案例衬底质量控制衬底供应商对比入厂晶圆质量控制(IQC)出厂晶圆质量控制(OQC)CMP（化学机械抛光工艺）/抛光工艺控制晶圆清洗工艺控制外延工艺控制衬底与外延缺陷关联外延反应器供应商的对比工艺机台监控行业工艺设备监控其他高端化合物半导体器件选项SECS-GEM信号灯塔金刚石划线校准标准离线软件光学字符识别(OCR)光致发光

【手机玻璃缺陷检测】基本说明　　国辰手机玻璃盖缺陷检测系统采用高像素线阵相机加特殊组合LED光源，获取高清图像后，通过视觉检测系统进行处理，能检测出表划痕、凹坑、丝印不良、杂质、异色等外观缺陷，从而能大幅缩减传统的目检人员。【手机玻璃缺陷检测】工作原理　　1. 手机玻璃盖缺陷检测系统一次可获取多张不同光源，不同角度的盖板影像，可以检测出不同的缺陷。特别对2.5D玻璃的P面、R角的缺陷有X创的解决方案，支持3D手机玻璃盖板缺陷检测　　2. 国辰机器人手机玻璃盖缺陷检测系统算法拥有多项发明专利，不需要手机玻璃盖板的CAD设计图案。具有自适应性，可以根据盖板的不同区域进行自动识别和分类　　3. 手机玻璃盖缺陷检测系统可检出的不良缺陷包括：划痕、牙边、凹坑、丝印不良、杂质、异色等【手机玻璃缺陷检测】适用范围　　手机玻璃盖缺陷检测系统可应用于手机外壳、手机玻璃盖、尺寸检测、手机辅料、鼠标外观、笔记本脚垫、键盘瑕疵、键盘平面度、笔记本内部瑕疵等电子产品检测。【手机玻璃缺陷检测】公司介绍　　杭州国辰机器人科技有限公司(浙江智能机器人省X重点企业研究院，简称“浙江智能机器人研究院”)成立于2015年7月，位于杭州钱塘江畔的萧山国家经济技术开发区内，是一家以机器人核心关键技术开发与应用、机器人自动化系统集成、机器人教育以及机器人多元化产业发展，并重点致力于智能服务机器人研发与产品化的企业实体。国辰服务机器人产品可应用于小区,门岗,酒店,景区,讲解,营业厅,厂房,仓库,机房,实验室等多种场景，可提供智能机器人,服务机器人,巡检机器人,喷涂机器人,迎宾机器人,管家机器人,酒店机器人,景区机器人,讲解机器人,仓库机器人,布匹缺陷视觉检测,agv叉车,无人搬运机器人,导游机器人以及营业厅机器人等多种智能服务机器人产品。

Lumina AT1薄膜缺陷检测仪产品特点：实现亚纳米薄膜涂层、纳米颗粒、划痕、凹坑、凸起、应力点和其他缺陷的全表面扫描和成像。实用于透明、硅、化合物半导体和金属基底。在3分钟内扫描并显示150毫米晶圆。可以标刻出缺陷的位置，以便进一步分析。可容纳高达300 x 300 mm的非圆形和易碎基板。能够通过一次扫描分离透明基板上的顶部/底部特征。系统优势的四个检测通道：偏光（污渍、薄膜不均匀性） 坡度（划痕、表面形貌）反射率（内应力、条纹）暗场（颗粒、夹杂物）AT1应用：1.透明基底上的缺陷2.单层污渍或薄膜不均匀性3.化合物半导体的晶体缺陷在化合物半导体基底和外延生长层上检测和分类多种类型的晶体缺陷AT1的多用途：所有缺陷类型薄厚基板透明和不透明基板电介质涂层金属涂层键合硅片开发和在线生产AT1规格参数：AT1 软件使用来自多个探测器任意组合的数据生成缺陷图和报告：地图和位置缺陷数量彩色编码缺陷缺陷尺寸

Lumina AT2薄膜缺陷检测仪产品特点：实现亚纳米薄膜涂层、纳米颗粒、划痕、凹坑、凸起、应力点和其他缺陷的全表面扫描和成像。实用于透明、硅、化合物半导体和金属基底。在2分钟内扫描并显示300毫米晶圆。动态补偿表面翘曲。可以标刻出缺陷的位置，以便进一步分析。可容纳高达450 x 450 mm的非圆形和易碎基板。能够通过一次扫描分离透明基板上的顶部/底部特征。系统优势的四个检测通道：偏光（污渍、薄膜不均匀性）坡度（划痕、表面形貌）反射率（内应力、条纹）暗场（颗粒、夹杂物）AT2应用：1.透明基底上的缺陷2.单层污渍或薄膜不均匀性3.化合物半导体的晶体缺陷在化合物半导体基底和外延生长层上检测和分类多种类型的晶体缺陷AT2的多用途：所有缺陷类型薄厚基板透明和不透明基板电介质涂层金属涂层键合硅片开发和在线生产AT2规格参数：AT2 软件使用来自多个探测器任意组合的数据生成缺陷图和报告：地图和位置缺陷数量彩色编码缺陷缺陷尺寸

Candela 8420表面缺陷检测系统Candela 8420是一种表面缺陷检测系统，它使用多通道检测和基于规则的缺陷分类，对不透明、半透明和透明晶圆(如砷化镓、磷化铟、钽酸锂、铌酸锂、玻璃、蓝宝石和其他化合物半导体材料)提供微粒和划痕检测。 8420表面缺陷检测系统采用了专有的OSA（光学表面分析仪）架构，可以同时测量散射强度、形貌变化、表面反射率和相位变化，从而对各种关键缺陷进行自动检测与分类。只需几分钟即可完成全晶圆检测，并生成高分辨率图像和自动化检测报告，同时附带缺陷分类和晶圆图。产品说明Candela 8420晶圆检测系统可以检测不透明、半透明和透明晶圆（包括玻璃、单面抛光蓝宝石、双面抛光蓝宝石）的表面缺陷和微粒；滑移线；砷化镓和磷化铟的凹坑和凸起；表面haze map；以及钽酸锂、铌酸锂和其他先进材料的缺陷。8420表面检测系统用于化合物半导体工艺控制（晶圆清洁、外延前后）。其先进的多通道设计提供了比单通道技术更高的灵敏度。CS20R配置的光学器件经过优化，可用于检测化合物半导体材料，包括光敏薄膜。功能检测直径达200毫米不透明、半透明和透明化合物半导体材料上的缺陷手动模式支持扫描不规则晶圆支持各种晶圆厚度适用于微粒、划痕、凹坑、凸起和沾污等宏观缺陷应用案例衬底质量控制衬底供应商对比入厂晶圆质量控制(IQC)出厂晶圆质量控制(OQC)CMP（化学机械抛光工艺）/抛光工艺控制晶圆清洁工艺控制外延工艺控制衬底与外延缺陷关联外延反应器供应商的对比工艺机台监控行业包括垂直腔面发射激光器在内的光子学LED通信（5G、激光雷达、传感器）其他化合物半导体器件选项SECS-GEM信号灯塔金刚石划线校准标准离线软件光学字符识别(OCR)CS20R配置用于检测光敏薄膜

表面缺陷检测系统表面缺陷检测是基于工业相机的检测系统，用于在线分析和记录产品表面检测缺陷，它是用来检测表面缺陷彻底的方法。主要用于电缆、电缆护套，裸电线，管材，管件，棒材和带材等产品的表面缺陷检测，可检测的表面缺陷类型如：针孔，凸起，凹坑，表面瑕疵，色斑等。表面缺陷检测是生产过程中至关重要的质量检验工具，可确保您的产品满足客户高标准要求，没有缺陷。 减少缺陷表面缺陷检测为操作员时时提供当前产品表面图像及缺陷尺寸。这种连续的实时信息，可让您的技术人员确定何时以及如何出现的此类缺陷，以减少表面缺陷的发生，防止客户的抱怨和退货。 质量保证使用表面缺陷检测，可以捕捉打印产品的图像，将图像保存到磁盘上，并打印出来质量报告。表面检测的数据也很容易让生产管理人员来检查缺陷，找出缺陷的位置及形成原因并及时作出调整，避免因质量问题造成的损失。 特点 检测电缆、管材、棒材、带材等产品表面缺陷，如：针孔，凸起，凹坑，裂纹，划痕，杂质、、、、 支持生产线速度每分钟高达400米 二，三，四摄像头配置可根据所需的覆盖范围和的缺陷要求 警报提示：如有缺陷被发现报警提示 保存每个缺陷，使运营商能够轻松地找到缺陷位置 产品规格 线速度：每分钟400米 摄像头配置o 4摄像头 - 大直径的产品100％的覆盖率（ 50mm）o 3摄像头 - 所有的产品直径的100％覆盖（50mm）o 2摄像头 - 检测大多数缺陷（狭窄产品直径范围） 缺陷类型检测o 杂质o 针孔o 凸起o 凹坑o 划痕o 裂纹o 其它缺陷 图像之间的百分比重叠：5％ 电源： 220V

Candela 8720表面缺陷检测系统Candela 8720先进的集成式表面和光致发光(PL)缺陷检测系统可以捕获各种关键衬底和外延缺陷。采用统计制程控制(SPC)的方法来进行自动晶圆检测，可显著降低由外延缺陷导致的良率损失，最大限度地减少金属有机化学气相沉积(MOCVD)反应器的工艺偏差，并增加MOCVD反应器的正常运行时间。产品说明Candela 8720晶圆检测系统采用专有的光学技术，可同时测量两个入射角的散射强度。它可以捕捉到形貌变化、表面反射率、相位变化和光致发光，从而对各种关键缺陷进行自动检测与分类。应用包括射频、功率和高亮度LED的氮化镓检测，能够检测裂纹、晶体位错、小丘、微坑、滑移线、凸点和六角凸点以及外延缺陷。8720检测系统还可用于其他高端化合物半导体工艺材料的缺陷检测，例如用于LED、垂直腔面发射激光器和光子学应用的砷化镓和磷化铟。 功能对直径达200毫米的高端化合物半导体材料进行缺陷检测。支持各种晶圆厚度适用于宏观和微观缺陷，如裂纹、多量子阱扰动、微粒、划痕、凹坑、凸起和沾污缺陷 应用案例衬底质量控制衬底供应商对比入厂晶圆质量控制(IQC)出厂晶圆质量控制(OQC)CMP（化学机械抛光工艺）/抛光工艺控制晶圆清洗工艺控制外延工艺控制衬底与外延缺陷关联外延反应器供应商的对比工艺机台监控 行业高亮度LED、微型LED包括AR|VR氮化镓的射频和氮化镓的功率应用通信（5G、激光雷达、传感器）其他高端化合物半导体器件 选项SECS-GEM信号灯塔金刚石划线金刚石划线校准标准离线软件光学字符识别(OCR)光致发光

德国 Dioptic GmbH公司的ARGOS 光纤端面缺陷测试系统， ARGOS光纤测试系统能够执行 合格/不合格 评估并提供可供日后分析的完整测试报告。该测量方法符合 ISO 10110 7 和 ISO 14997 标准，在暗场结构中使用了杂散光分析。测量原理是使用超高分辨率线扫描相机聚焦到光纤端面成像，直接测量光纤研墨后的缺陷（划痕，坑，崩边等）并得到缺陷的量化数据，测量速度快每次仅几秒钟时间，适用于研发和生产应用。 Dioptic GmbH公司成立于1999年，现有主要产品/服务有：光学设计/衍射光学元件/红外光学元件/表面缺陷测试系统ARGOS（光学元件缺陷检测、光纤端面缺陷检测）。 可以在官网 查看ARGOS光纤端面缺陷测试系统的使用视频： ARGOS光纤测试系统能够执行 合格/不合格 评估并提供可供日后分析的完整测试报告。该测量方法符合 ISO 10110 7 和 ISO 14997 标准，并在暗场结构中使用杂散光分析精度1 μmstandard deviation for 30 reinsertionsof the same sample可视度1 μmsmallest visible defects overrated to size 2.5 μmdue to optical resolution重复精度 99% for 5/ 1x0.16 96% for 5/ 1x0.04assignment to same grade numbersmallest5/ 1x0.004holesdiscriminable5/ C1x0.01coating holesgrade number5/ L1x0.0045/ E0.04划痕崩边750009Specification fiber cable mountOptoskand QBH, others on requestsmallest defect grade5/1x0.004maximum sample size22 mm diameter or 22 x 50 mmtesting/handling time1 s / 20 simage sizeup to 146 mega pixelimage resolution0.0028 mm / pixel

【手机辅料缺陷检测】基本说明国辰机器人专注产品外观缺陷检测多年，可针对手机辅料外观尺寸缺陷检测进行非标定制，手机辅料缺陷检测设备可快速针对缺陷瑕疵进行筛选归类。【手机辅料缺陷检测】产品特点　　检测设备主要是用来检测产品的外观尺寸、产品瑕疵、表面缺陷、外观划痕、表面毛刺、污点等。主要针对的是手机辅料外观缺陷检测。【手机辅料缺陷检测】产品性能　　高适用性：该设备可按要求定制，适用于多种手机外观缺陷检测。　　高效率：设备运行速度快、精度高，一台设备可替代多个人工检测，极大提高了产品的检测效率，降低了生产成本，保证了产品质量。　　高检出率：设备使用X创的光学检测方案，能够检测出所有规定的外观缺陷并对其进行分类判定。【手机辅料缺陷检测】适用范围　　手机辅料外观缺陷检测系统需要用到工业机器视觉检测应用系统，包括数字图像处理技术、机械工程技术、控制技术、光源照明技术、光学成像技术、传感器技术、模拟与数字视频技术、计算机软硬件技术、人机接口技术等。　　杭州国辰机器人科技有限公司(浙江智能机器人省X重点企业研究院，简称“浙江智能机器人研究院”)成立于2015年7月，位于杭州钱塘江畔的萧山国家经济技术开发区内，是一家以机器人核心关键技术开发与应用、机器人自动化系统集成、机器人教育以及机器人多元化产业发展，并重点致力于智能服务机器人研发与产品化的企业实体。国辰服务机器人产品可应用于小区,门岗,酒店,景区,讲解,营业厅,厂房,仓库,机房,实验室等多种场景，可提供智能机器人,服务机器人,巡检机器人,喷涂机器人,迎宾机器人,管家机器人,酒店机器人,景区机器人,讲解机器人,仓库机器人,布匹缺陷视觉检测,agv叉车,无人搬运机器人,导游机器人以及营业厅机器人等多种智能服务机器人产品。

一、简介Lumina AT1光学表面缺陷分析仪可对玻璃、半导体及光电子材料进行表面检测。Lumina AT1既能够检测SiC、GaN、蓝宝石和玻璃等透明材料，又能对Si、砷化镓、磷化铟等不透明基板进行检测，其价格优势使其成为适合于研发/小批量生产过程中品质管理及良率改善的有力工具。 Lumina AT1结合散射测量、椭圆偏光、反射测量与表面斜率等基本原理，以非破环性方式对Wafer表面的残留异物，表面与表面下缺陷，形状变化和薄膜厚度的均匀性进行检测。1.偏振通道用于薄膜、划痕和应力点；2.坡度通道用于凹坑、凸起；3.反射通道用于粗糙表面的颗粒；4.暗场通道用于微粒和划痕；二、 功能l 主要功能1. 缺陷检测与分类2. 缺陷分析3. 薄膜均一性测量4. 表面粗糙度测量5. 薄膜应力检测l 技术特点1.透明、半透明和不透明的材料均可测量，比如硅、化合物半导体或金属基底；2.实现亚纳米的薄膜涂层、纳米颗粒、划痕、凹坑、凸起、应力点和其他缺陷的全表面扫描和成像；3.150mm晶圆全表面扫描的扫描时间为3分钟，50x50mm样品30秒内可完成扫描并显示结果；4.高抗震性能，系统不旋转，形状无关，可容纳非圆形和易碎的基底材料；5.高达300x300mm的扫描区域；可定位缺陷，以便进一步分析；技术能力三、应用案例1. 透明/非透明材质表面缺陷检测2. MOCVD外延生长成膜缺陷管控3. PR膜厚均一性评价4. Clean制程清洗效果评价5. Wafer在CMP后表面缺陷分析6. 多个应用领域，如AR/VR、玻璃、光掩模版、蓝宝石、硅片等

三维尺寸及表面缺陷检测仪是一款用于圆形零件和异形零件的尺寸和表面控制的视觉检测设备。可以检测产品的表面，控制主要的缺陷，例如：划痕、毛边、缺料、小孔、复膜、真圆度、同心度等。 可用于测量内/外径，测量线径，测量基本的长度、角度和弧度，毛边缺陷检测，缺口缺陷检测，真圆度检测和圆心距检测。 MatliX是一款简便的用于圆形零件和异形零件的尺寸和表面控制的视觉检测设备。MatliX可以检测产品的表面，控制主要的缺陷，例如：划痕、毛边、缺料、小孔、复膜、真圆度、同心度等。ScrappiX是一款针对圆形及异形件尺寸和表面外观控制的革命性设备。ScrappiX是目前最先进的产品，可以检测工件的所有表面。PhoeniX是我们视觉检测设备中的最新款，可检测圆形和异形件的尺寸和表面外观缺陷。PhoeniX是UTP Vision目前最前沿的产品，通过使用透过玻璃的光学检测手段可控制工件的所有表面外观(可检测工件的最大尺寸为38mm)。

Candela7100系列缺陷检测和分类系统Candela 7100系列为硬盘驱动器基板和介质提供了高级缺陷检测和分类功能。7100系列硬盘驱动器缺陷检测和分类系统以经过生产验证的Candela产品系列为基础，可帮助制造商对关键的亚微米缺陷进行检测和分类，如微凹坑、凸起、微粒以及被埋入的缺陷，从而最大限度地提高良率并降低总检测成本。产品说明Candela 7100系列高级缺陷检测和分类系统是专为硬盘驱动器基板和介质而设计的。高功率双波长激光器针对当前的关键缺陷挑战进行了优化，多通道散射检测器为全系列基板上亚微米凹坑、凸起、微粒以及被埋入的缺陷的分类提供了更高的灵敏度。7100系列的功能和稳定性确保了一个平台可用于多个工艺控制应用点。功能通过整个磁盘的缺陷图对金属和玻璃、基板和介质上的亚微米凹坑、凸起、微粒以及被埋入的缺陷进行检测和分类通过整个磁盘的缺陷图来更快地获得结果，同时附带对缺陷进行分类以及数据输出可操作的功能减少对离线检测技术(AFM、SEM、TEM等)的依赖，从而降低总拥有成本提供手动(7110)或全自动(7140)配置 应用案例缺陷检测划痕和隆起检查微粒和沾污检测激光纹理分析碳均匀性分析和碳空洞检测对记录层和软衬层进行检测润滑油均匀度分析磁共振成像选项精密的金刚石划线高灵敏度选项磁共振成像离线软件

东富达缺陷视觉检测系统基于深度学习以及机器视觉，能够在线、高速扫描每个产品，形成高分辨率图像，进行实时处理，精确捕捉各种表面缺陷，适用于各类纺织面料、金属片材、板材、薄膜，不仅有效提高检测效率与准确性，更为企业降低了人工成本。产品功能▲检测各类缺陷：如孔洞、蚊虫、脏污、划伤、划痕、起皮、褶皱等▲缺陷记录、分类▲自动贴标▲报表统计分析产品优势操作便捷操作简单，只需点击“开始”、“停止”即可完成所有操作。表面检测发现疵点时可根据设定发出报警，提示及时修复，避免大量缺陷产品的产生。完整的表面质量信息疵点图像由计算机保存，每卷产品都有完全的疵点图像/位置和数量等信息，产品幅面边缘根据需要可以进行自动贴标。高精度检测检测精度高，满足客户的不断提升的产品品质要求。软件数据库管理可对每卷材料进行精确的质量统计，详细的缺陷记录和统计为生产工艺及设备状态调整提供了方便。

【3C产品外观缺陷检测】基本说明　　笔记本、手机等电子元件微型化和复杂化的趋势对工业质检的精度、准确度和效率提出了更高要求，而国内逐渐攀升的人工成本也加速了“机器替人”的趋势。3C产品外观缺陷检测系统可实现全自动检测内部外部等多种瑕疵，包括主要零件有无，螺丝有无，玻璃平板划痕、尺寸大小测量、色差等。　　【3C产品外观缺陷检测】产品功能　　软件数据库管理、自动贴标、报表打印、历史记录、异常报警、瑕疵缺陷识别　　【3C产品外观缺陷检测】产品特点　　1.缺陷识别:可快速识别瑕疵缺陷并异常报警 　　2.统计分析:实时统计检测数据，记录当前生产情况　　3.自动贴标:自动高效检测外观缺陷及反光标签的色差，并做标记　　4.瑕疵检测:检测多种瑕疵，包括过喷，卡断，拉丝，缺墨，暗痕，白点，颗粒，毛屑，三伤，字符不良，缩水等瑕疵　　5.智能管理:能管理系统平台,可同时坚持多台，系统记录瑕疵　　6.检测精度:据客户的检测需求, 针对工件的尺寸大小及检测精度需求可灵活的搭配不同型号的机器和方案　　【3C产品外观缺陷检测】适用范围　　3C产品外观缺陷检测系统可应用于手机外壳、手机玻璃盖、尺寸检测、手机辅料、鼠标外观、笔记本脚垫、键盘瑕疵、键盘平面度、笔记本内部瑕疵等电子产品检测。

如何使用影像亮度色度计进行 FPD 自动光学检测在产线上及产线的最终检测中，主要有三种方法可对高速生产过程中的平板显示屏 (FPD) 进行光学检测： 1) 人工检测 —— 轻松处理比较复杂的测试要求。但与电子测试方法相比，它相对缓慢，变化较大2) 基于机器视觉的检测 —— 非常快捷，测试简单。但很多测试不能反映出人的视觉体验3) 基于影像亮度色度计的检测 —— 在速度上介于上述两种方法之间。能够像人那样进行“目测”，而且具有高度的可靠性和可重复性 使用影像亮度色度计系统和相关分析软件，可以评估 FPD 的亮度、色彩均匀度和对比度，并识别 FPD 上的缺陷，这种用途已经被广为接受。影像亮度色度计和机器视觉之间的基本差别在于：影像亮度色度计可以精确地匹配人类视觉感知，包括对光线和色彩均匀度 (以及不均匀性 )的感知。 在本文中，我们将描述如何在全自动测试系统中使用影像亮度色度计，在高速度、大批量的生产环境中识别和量化缺陷。本文内容涵盖测试设置，以及可以执行的测试范围 – 从简单的点缺陷检测到复杂的 Mura检测和评估。测量挑战影像亮度色度计系统是基于 CCD 的影像系统，经过校准之后，它对光线、亮度和色彩的反应与 CIE 模型定义的标准人工观察者相同。可精确地同时测量亮度、色彩及其空间关系。测试时，系统会生成数据，并可随时使用这些数据来确定显示屏均匀性和对比度性能。此外，还可对均匀度差异进行分析，以识别和定位潜在的显示屏缺陷。显示屏测量和分析面临的三大重要挑战是： 1) 识别与人类视觉感知具有高度关联性的缺陷2) 量化缺陷的严重程度3) 快速执行高重复度的分析 缺陷的分析和量化可以作为依据，帮助我们确定导致缺陷的显示屏组件，以及接下来采取的行动 – 例如废弃显示屏或返回进行修理 – 从而提高质量测试的效率，还可以降低成本。与人工视觉检测相比，使用影像亮度色度计的测试更加快捷和灵活，重复度更高，另外它在匹配人类视觉感知方面的精确度高于机器视觉。 影像亮度色度计可以精确地捕获 FPD 上的光线和色彩变化的空间关系，这一优点使得这种测试方法非常适用于评估视觉性能。测量组件和测试通过指定适当的自动测试序列，影像亮度色度计可用于获取广泛、精确的高分辨率数据，以描述特定显示屏的性能。对于典型测试序列，此类测量数据通常可在几秒钟至一分钟之内获取，具体时间取决于显示屏技术和分辨率。使用新的 Mura缺陷分析技术，这些影像可用于确定与物理原因直接相关的各种缺陷之间的细微差异。 要使用影像亮度色度计进行显示屏的自动测量和分析，需要使用组合测量控制和分析软件。我们针对此应用开发的系统整体结构如图 1 所示。该系统的主要组件包括：(1) 科研级影像亮度色度计系统；(2) 基于 PC 的测量控制软件，它不仅控制影像亮度色度计，还控制待测试设备上的测试影像显示；以及 (3) 一套能够运行各种测试的影响分析函数。因此，该系统可针对各种显示屏缺陷 (例如点缺陷、线缺陷和 Mura)提供量化自动检测。 实施的部分测试包括：图 1. FPD AOI 测试设置，影像亮度色度计处在自动软件控制下显示屏缺陷检测应用显示屏缺陷分为很多类型，例如像素缺陷和行缺陷、屏幕制造的物理疵点 (例如脱层 )、屏幕损坏 (例如划痕 )、影像均匀度的疵点 (例如 Mura)。利用对视觉感知的最新研究，我们可以根据人工观察者发现这些缺陷的明显程度 (或者是否明显 )，通过数字方式对这些缺陷进行分类。这个分析过程速度很快，而且重复度很高。它适用于多种显示屏技术，包括液晶、等离子、OLED 和投影显示屏。 在本文中，我们通过分析多个显示屏，演示这些缺陷检测和分类方法。图 2 显示了存在行缺陷的显示屏的光学测量，分析软件在显示屏影像上识别和指示这个缺陷，如图 3 所示。行缺陷是一种比较容易确定根源的缺陷；其起因是液晶屏故障。 图 2.存在可视行缺陷的显示屏屏幕的光学测量。 图 3.行缺陷是由影像亮度色度计 AOI 软件识别的；屏幕上为用户指明了缺陷位置。 图 4 显示了存在点缺陷的显示屏的光学测量；分析软件在显示屏影像上识别和指示这个缺陷，如图 5 所示。如果分析确定该故障的起因是液晶屏像素停滞，则可将点缺陷归类为像素故障。但是，从单个角度直视并不能区分死像素与显示屏玻璃背面微粒之间的差异。在此情况下，需要进行第二道检验以识别故障原因。 图 4.存在点缺陷的显示屏的光学测量 – 您能看到吗？ 图 5.点缺陷是由影像亮度色度计 AOI 软件识别的，并在显示屏屏幕上标记，我们放大了该点，让它更容易看到。Mura的检测和分类可能比较复杂。 Mura通常是亮度和色彩的不均匀性，覆盖较大的不规则区域。如果发现亮度和色彩对比度超过了可感知的阈值，则表示检测出 Mura。但是，由于人工感知这些对比度取决于多个因素，包括视距、空间频率和方向，因此我们无法通过查看对比度的简单绝对值，来识别相关 Mura。 在对显示屏缺陷的人类视觉感知建模方面，我们最近取得了进展，这使我们能够从“最小可觉差”(JND)的角度来量化 Mura。基于人工观察员的采样，我们定义了 JND 标度，如果 JND 差异为 1，则从统计上无法察觉；在绝对标度上，JND 为 0，表示没有可视的空间对比度，JND 绝对值为 1，表示第一个可察觉空间对比度 – 这样就能针对各种显示屏技术对显示缺陷进行分级。因此，我们可以处理亮度和色彩的空间分配的影像亮度色度计测量，以创建影像的 JND 映射，其中 Mura缺陷在与人类视觉感知直接关联的前提下进行了分级。图 6 显示了存在 Mura缺陷的显示屏，经过分析后，我们在显示屏影像上识别了该缺陷，如图 7 所示。 图 6.对存在 Mura缺陷的显示屏进行影像亮度色度计测 量，您能够找到这个缺陷吗？图 7.该 Mura缺陷是由影像亮度色度计 AOI 软件在显示屏上识别的。它的范围与 JND 值一同显示。图 8 和图 9 显示了识别 Mura的步骤。作为中间步骤，它会生成一个差异影像，显示相对于参考影像的亮度偏差。然后计算显示屏的 JND 映射。请注意，图 7 所示的 Mura测试有意忽略了 JND 影像中的明显边缘效应。这些效应可以简单地单独识别和分类。识别 Mura缺陷并不是基于各区域之间的对比度计算的简单数学计算。首先， Mura区域的大小和形状各不相同。其次，人工感知 Mura的能力受到其他一些因素的制约 – 视频、空间频率和色彩。 图 8.差异图片显示了相对于计算参考影像的偏离。Mura的位置突出显示。图 9.显示了显示屏 JND 映射的“伪彩色图像”。显示屏边缘的漏光和明显 Mura缺陷标识为较大的 JND 值。基于影像亮度色度计的 AOI 测试系统可以快速可靠地识别和量化显示屏缺陷。为确定或分类缺陷根源，从而确定显示屏的状态，有时需要人工检测。很多情况下，例如图 3 所示的行缺陷，识别的缺陷及其起因之间存在一对一关系。在这些情况下，我们可以即时对缺陷进行分类，而且无需人工检测。而在其他一些情况下，例如某些 Mura缺陷，缺陷可能有多种原因，因此我们需要更多信息帮助进行分类。执行这种分类的一种高效方法是让人工操作员确定哪种原因是正确的。当需要人工分类时，为了提高效率，TrueTest 会向操作员指示需要进一步检验的缺陷的位置和详细信息。可以在人工判断基础上进行加速，例如专门针对需要分类的缺陷，以及提供适当的细节。 对于图 4 和 图 5 中所示的点缺陷，操作员可以知道暗点的准确位置和相关信息，从而快速确定该缺陷是死像素，还是显示屏玻璃背面的微粒。 总结本文档所述的影像亮度色度计 AOI 测试方法可以应用于多种显示屏技术， FPD(液晶、等离子、OLED)和投影显示屏均可使用。这些方法提供与人工视频感知相关的快速可重复测量，能够通过数字方式标识缺陷特征，因而不仅可以识别显示屏缺陷，还能够按原因对缺陷进行分类。这使我们能够在制造应用中对显示屏进行一致测量，并根据用户定义的标准，自动确定显示屏是否通过测试。更加重要的是，它还可以自动确定修补措施 (例如返工或废弃 )。

一、漆膜划痕试验仪自动划痕仪QHZ产品简介：漆膜划痕试验仪是依照GB9279-88而设计制造。涂膜强度、硬度、附着力等是涂膜的重要的物理性能，其大小直接影响涂膜的重要使用性能，例如：耐磨损性；耐磨粒性；耐划痕性；耐冲击性以及涂膜的滞留作用及清洗难易等，因此涂膜强度、硬度等是评价涂料性能的测指标。所以本仪器的用途即为通过漆膜样板涂层受划针刻划时抗穿透能力的大小来表征涂层强度、硬度、附着力的大小。二、漆膜划痕试验仪自动划痕仪QHZ工作原理：本仪器主要是由划针架和工作台组成，划针架上的划针保证垂直地作用于涂膜样板上（样板固定在工作台上的实验台上，可横向或纵向移动；横向移动可为机动也可在关闭电源后手动，纵向移动为手动）。在接通电源后，电源开关的红色指示灯亮说明仪器电源接通。此时如返程开关处于实验状态，工作台由右向左移动，划针在“实验”行程中和样板接触；返回行程（返程开关拨回“返回”状态）中，工作台由左向右移动，划针被抬起不接触样板，变换划针架上所加的砝码，可测出在不同重量下能否划破漆膜，用划破漆膜时所需的A小砝码重量来判断涂膜的抗划破性。三、漆膜划痕试验仪自动划痕仪QHZ技术指标：★划针长度不小于60mm ★试验台移动速度：20—40mm/s★划针针头钢球直径1mm ★顶杠下端面的倾角：10—15°★砝码加荷范围：0—2000g ★A小增量：50g★工作电压:：220V50HZ ★消耗功率：15W★重量：10Kg ★外形尺寸：180*230*280mm四、使用要求：★涂膜样板：按GB9271—88制备，规格为：120*50mm★实验环境：温度23±2°C，相对湿度：50±5%（参照GB9278—88）五、操作及使用方法：★准备★按GB1727—79要求准备120*50mm（0.2—0.3mm厚）平滑马口铁或按展品规定要求的底板制备漆膜。★检查仪器（1）接通电源（220V）（2）按下总开关（电源开关）然后拨动钮子开关至“实验”行程，试验台横向移动（向左）至左端停止，然后将钮子开关拨向“返回”行程，试验台横向移动（向右）至右端停止。注：钮子开关中间位置可急“停”。（3）按监测扭一下（点动）电表指针动，同时划破指示灯亮正常。★在装划针处入一枚新划针，该划针应现用30倍放大镜检查针头，不得有划痕、园、锈斑等缺陷，划针安装的高低要适当。★将样板夹入试验台的样板夹中，涂膜朝上，转动纵向手柄使试验台移至远端（试验台和工作台平齐）为初始位置。★在砝码台上放入A小的砝码（50g）或予计划破涂膜的略小的负荷砝码。六、测试：★扳动工作钮开关至“实验”位置，划针在样板上划过，用眼观察是否划破，如划破时，电表指针动，同时划破指示灯亮，如未划破，扳工作开关至“返回”，使试验台返回停在右端，然后微动纵向移动手柄（正向旋进）使试验台移动一点（划出的**条划痕不至于重叠在A条划痕上即可），同时还需要把划针换一枚新的检查方法同前，并在砝码台上换上较重一个等级的砝码这**做好了划**条划痕的一切准备。★重复上述的测试，直到划破涂膜为止（此时划破灯亮同时电表指针动，亦可用10倍放大镜观察划痕是否划破涂膜露出底板，划破部分的划痕长度应大于20mm）这时砝码的重量即为涂膜抗划值（该方法的测定值）。★用该测定负荷对原先的样板及一块同样新的样板二者重复此测试步骤所得结果相符之后，则确定划透样板途程的，这A小负荷值为该种涂膜的抗划值。当所测得负荷值不同时，则取三次的负荷值的平均值为该种涂膜的抗划值。七、维护：1、本仪器使用时力求转动灵活，应注意润滑（应在转动部位和不转动部位之间和相对运动部件之间注入机油）；2、本仪器在使用一段时间后，要全面检查紧固件，防止松动；3、本仪器不使用时，要注意防尘、防潮、防腐蚀，避免振动和碰撞。八、附件配置：1、砝码一盒（一套）：50g二件；100g二件；200g一件；500g三件。2、放大镜二枚，30倍一枚；10倍一枚（自备）3、划针一盒：20枚

ARGOS是一种设计用于自动分类透明和反射表面缺陷的机台。ARGOS使用一台线扫描相机结合一个旋转台和高功率LED光源捕捉样品的高分辨率图像。表面缺陷被确认和分辨，按照ISO 0110-7和ISO 14997标准应用校准图像和处理算法。 ARGOS中路8.5KG，尺寸 35.5cm x 74cm x 34 cm（W x h x d）。控制单元重量21kg，尺寸 53cm x 74 cm x 58cm）。 表面材料：玻璃，金属，半导体，塑料，晶体德国 Dioptic GmbH公司的ARGOS 2表面缺陷测试系统， ARGOS2测试系统能够执行 合格/不合格 评估并提供可供日后分析的完整测试报告。该测量方法符合 ISO 10110 7 和 ISO 14997 标准，在暗场结构中使用了杂散光分析。测量原理是使用超高分辨率线扫描相机聚焦到样品表面成像，直接测量光学元件等样品的缺陷（划痕，坑，崩边等）并得到缺陷的量化数据，测量速度快每次仅几秒钟时间，适用于研发和生产应用。可以测试亚表面和内部缺陷。 Dioptic GmbH公司成立于1999年，现有主要产品/服务有：光学设计/衍射光学元件/红外光学元件/表面缺陷测试系统ARGOS（光学元件缺陷检测、光纤端面缺陷检测）。 smallest ISO specification 5/ 1x0.016 C1x0.04 L1x0.01 E 0.04 evaluates down to 16% of specified dig sizeand 25% of specified scratch sizerepeatability 98% for 5/ 1x0.16 assessment to same grade number 95% for 5/ 1x0.04visibility 1 μm visible defects smaller than 2.5 μm areevaluated as grade number 0.0025 dueto optical resolutionrepeatabilityprecision 1 μm standard deviation for 30 reinsertionsof the same reference sampletrueness 2 μm (dig) proximity of inspection results to the true 1 μm (scratch) value

简介Lumina AT1光学表面缺陷分析仪可对玻璃、半导体及光电子材料进行表面检测。Lumina AT1既能够检测SiC、GaN、蓝宝石和玻璃等透明材料，又能对Si、砷化镓、磷化铟等不透明基板进行检测，其价格优势使其成为适合于研发/小批量生产过程中品质管理及良率改善的有力工具。 Lumina AT1结合散射测量、椭圆偏光、反射测量与表面斜率等基本原理，以非破环性方式对Wafer表面的残留异物，表面与表面下缺陷，形状变化和薄膜厚度的均匀性进行检测。1.偏振通道用于薄膜、划痕和应力点；2.坡度通道用于凹坑、凸起；3.反射通道用于粗糙表面的颗粒；4.暗场通道用于微粒和划痕；二、 功能l 主要功能1. 缺陷检测与分类2. 缺陷分析3. 薄膜均一性测量4. 表面粗糙度测量5. 薄膜应力检测l 技术特点1.透明、半透明和不透明的材料均可测量，比如硅、化合物半导体或金属基底；2.实现亚纳米的薄膜涂层、纳米颗粒、划痕、凹坑、凸起、应力点和其他缺陷的全表面扫描和成像；3.150mm晶圆全表面扫描的扫描时间为3分钟，50x50mm样品30秒内可完成扫描并显示结果；4.高抗震性能，系统不旋转，形状无关，可容纳非圆形和易碎的基底材料；5.高达300x300mm的扫描区域；可定位缺陷，以便进一步分析；技术能力三、应用案例1. 透明/非透明材质表面缺陷检测 2. MOCVD外延生长成膜缺陷管控3. PR膜厚均一性评价4. Clean制程清洗效果评价5. Wafer在CMP后表面缺陷分析6. 多个应用领域，如AR/VR、Glass、光掩模版、蓝宝石、Si wafer等

【笔记本脚垫缺陷检】基本说明　　笔记本脚垫缺陷检测是国辰机器人生产研发的检测产品,可针对检测物品提供产品成份分析报告,协助提升产品性能,研发等一站式服务.一对一客户服务定制检测.节约客户时间.　　【笔记本脚垫缺陷检】产品特点　　1.缺陷识别:可快速识别瑕疵缺陷并异常报警 　　2.统计分析:实时统计检测数据，记录当前生产情况　　3.自动贴标:自动高效检测外观缺陷及反光标签的色差，并做标记　　4.瑕疵检测:检测多种瑕疵，包括过喷，卡断，拉丝，缺墨，暗痕，白点，颗粒，毛屑，三伤，字符不良，缩水等瑕疵　　5.智能管理:能管理系统平台,可同时坚持多台，系统记录瑕疵　　6.检测精度:据客户的检测需求, 针对工件的尺寸大小及检测精度需求可灵活的搭配不同型号的机器和方案　　【笔记本脚垫缺陷检】适用范围　　笔记本脚垫缺陷检测系统可应用于手机外壳、手机玻璃盖、尺寸检测、手机辅料、鼠标外观、笔记本脚垫、键盘瑕疵、键盘平面度、笔记本内部瑕疵等各类3c电子产品检测。　　杭州国辰机器人科技有限公司(浙江智能机器人省X重点企业研究院，简称“浙江智能机器人研究院”)成立于2015年7月，位于杭州钱塘江畔的萧山国家经济技术开发区内，是一家以机器人核心关键技术开发与应用、机器人自动化系统集成、机器人教育以及机器人多元化产业发展，并重点致力于智能服务机器人研发与产品化的企业实体。国辰服务机器人产品可应用于小区,门岗,酒店,景区,讲解,营业厅,厂房,仓库,机房,实验室等多种场景，可提供智能机器人,服务机器人,巡检机器人,喷涂机器人,迎宾机器人,管家机器人,酒店机器人,景区机器人,讲解机器人,仓库机器人,布匹缺陷视觉检测,agv叉车,无人搬运机器人,导游机器人以及营业厅机器人等多种智能服务机器人产品。

【药瓶包装缺陷检测】基本说明　　药瓶包装外观缺陷检测系统主要针对口服液玻璃药瓶、塑料瓶及塑料容器进行快速、可靠的检测，项目有飞边、污渍、缺料、瓶口圆度、杂质物、孔洞、薄壁区域检测等，医药包装的检测方法除人工检测外便是更智能化自动化视觉检测设备，引用机器视觉检测，不仅可以提高药品的检测效率和准确性，更为企业降低了人工成本。药瓶机器视觉缺陷检测在制药过程中主要运用药品的生产、包装、封盒/封口、贴标、喷码、装箱等。　　【药瓶包装缺陷检测】产品功能　　不良处理缺陷检测、异物缺陷检测、瓶体尺寸缺陷检测、瓶液位判断、瓶身轧盖外观检、测贴标缺陷检测　　【药瓶包装缺陷检测】产品特点　　1.操作简单：快速建模，向导设置，直观的用户界面　　2.检测精度高：可针对不同区域设置不同的精度等X　　3.误报率低：检测误报率低　　4.检测速度：X快速度20000pcs/小时(检测不同的产品速度不同)　　5.不良存档：检测到的缺陷及不良图片存档到制定文件夹，可供操作人员针对不良追溯。　　【药瓶包装缺陷检测】适用范围　　药瓶包装外观缺陷检测系统可应用于口服液玻璃瓶体、塑料瓶及塑料容器、饮料瓶等瓶体外观缺陷在线检测。　　【药瓶包装缺陷检测】产品参数　　检测速度：250瓶/分钟--500瓶/分钟(可调)　　检测项目：(玻璃屑、金属屑、纤维、黑点、白点)、液位、轧盖、瓶盖表面印刷等　　电 压：AC3~380V 50HZ　　设备容量：14KW　　工作台高度：980mm　　适用范围：20ml~60ml口服液　　【药瓶包装缺陷检测】企业介绍　　杭州国辰机器人科技有限公司(浙江智能机器人省级重点企业研究院，简称“浙江智能机器人研究院”)成立于2015年7月，位于杭州钱塘江畔的萧山国家经济技术开发区内，是一家以机器人核心关键技术开发与应用、机器人自动化系统集成、机器人教育以及机器人多元化产业发展，并重点致力于智能服务机器人研发与产品化的企业实体。国辰服务机器人产品可应用于小区,门岗,酒店,景区,讲解,营业厅,厂房,仓库,机房,实验室等多种场景，可提供智能机器人,服务机器人,巡检机器人,喷涂机器人,迎宾机器人,管家机器人,酒店机器人,景区机器人,讲解机器人,仓库机器人,布匹缺陷视觉检测,agv叉车,无人搬运机器人,导游机器人以及营业厅机器人等多种智能服务机器人产品。

正业科技成立于1997年，专业从事精密检测仪器的研发与生产，近年来公司自主、合作研发、生产的产品仪器离子污染测试仪、外观检查机、X光检查机、特性阻抗测试仪，UV激光切割机，UV激光打孔机，X-RAY检测仪，BGA焊点检测仪等40余咱仪器适用于硬/挠性板的测试仪器设备，同时我司仪器也向锂电、SMT行业辐射。我司生产的BGA焊点检测仪主要用于SMT行业检测检测封装好的物品的内部结构，看是否有断痕，气泡，焊点检测，电路的短路等。例如在检测多层基版是否短路，在电容器中是否有气泡，光纤电缆线的铜丝是否断裂，SMT贴片电感检测，SMT贴片电容检测，电池检测中正负极是否对位等问题。X 射线可以穿透基板的表面看到基板的内部电路。BGA焊点检测仪（X-RAY检测仪）是利用X射线的穿透能力对BGA焊点的断路、焊锡点不足，缺陷、气泡，线路连接等问题进行检测。我司生产的BGA焊点检测仪（X-RAY）主要是检测封装好的产品，通过X光透视检测内部结构，我司的X-RAY检测仪是无损检测，如您有产品需要透视内部结构的都可以咨询我司，您也可直接拿样品到我司进行现场检测。

【金属表面检测系统功能】1.操作便捷操作简单，只需点击“开始”、“停止”即可完成所有操作。2.稳定性高可连续工作在极端温度和厂房环境中。3.高精度检测方案可检测出0.02 平方毫米以上的疵点缺陷,满足客户的不断提升的产品品质要求。4.远程数据库可以对生产的每卷材料进行精确的质量统计,详细的缺陷记录(大小和位置)和统计为生产工艺及设备状态调整提供了方便 离线分析,用于后续分切和质量管理,可有效保证产品质量。5.定位标识功能每生产一卷产品，系统会自动对这一卷产品的表面缺陷进行统计，同时打印出统计标签，贴在每一卷产品上，跟随产品发放下游。这样用户就可以通过每一卷产品上面的标签对产品进行评级，从而有效的用于分配不同质量要求的用途。6.输入输出报警当系统检测到疵点时进行声光报警，也可在系统中加入其他连锁I/O 输出。7.报表统计及打印报表统计及打印EXCEL缺陷明细表，便于用户做进一步的查询，分析，建档。

市场上精确度最高的纳米划痕测试仪NST3 纳米划痕测试仪专门用于表征典型厚度小于 1000 nm 的薄膜和涂层的耐划伤性能和结合力。NST3 可用于分析有机和无机涂层以及软硬涂层。纳米划痕测量头采用独特的设计，包括两个传感器，用于测量与先进的压电致动器相关的压入载荷和压入位移测量。这些独特的功能提供了快速的响应时间（低至毫秒），出色的精确性以及针对各种划痕测量的高度灵活性。 完全同步的全景成像模式，随时随地进行分析该独特功能可自动将完美对焦的整个划痕的全景图像与所有传感器的划痕数据同步。因此，您可以随时根据全景成像观察结果和信号记录执行临界载荷分析。安东帕是同步全景技术（美国专利 8261600 和欧洲专利 EP 2065695）的唯一持有人。 快速反馈较小力NST3 采用双悬臂梁来施加载荷，并配备压电陶瓷驱动器，能够对施加的载荷快速做出响应。这一设计理念还修正了在划痕过程中发生的任何情况（例如出现裂纹和失效、缺陷或样品不平整）而导致的测量结果偏差。 没有折扣：准确施加所需的力闭环主动力反馈系统可提供更精确的纳米划痕测试。NST3 包含一个实际力传感器，可测量直接反馈给法向力驱动器的载荷。这样可确保划痕测试的重复性，即使研究非平面、粗糙或曲面样品等更加复杂的表面时，也是如此。 适用于弹性恢复研究的真实划痕深度测量NST3 纳米划痕测试仪包括一个实际位移传感器，用来监控划痕测试针尖的垂直运动。借助此传感器，您可以利用前扫描和后扫描模式的独特技术获得划痕真实的深度，从而评估材料的弹性、塑性和粘弹性。这种技术需要执行前扫描，记录执行划痕测试前样品的表面特性（形状、波度和粗糙度）。在测量划痕期间（划痕深度）和测量之后（残留深度），NST3 将使用该表面特性修正划痕测试的深度。 划痕后可进行多次后扫描模式评估弹性性能划痕后，您可以在软件中用时间增量定义无限次后扫描测量残余深度。这种全新的分析方法将让您进一步了解表面变形性能与时间的依赖关系。技术规格最大载荷 [mN]1000载荷分辨率 [μN]0.01载荷背底噪声 [rms] [μN]0.1加载速度 [N/min]最多 100 种最大摩擦力 [mN]1000摩擦力分辨率 [μN]1最大位移 [μm]600深度分辨率 [nm]0.1深度背底噪声 [rms] [nm]1.5数据采集频率 [kHz]192划痕速度 [mm/min]0.1 到 600

Maestro Z/ZHT研究案例 - 利用划痕实验评估MCP抑制肿瘤细胞转移的效果 改性柑桔果胶（MCP）可以从柑桔的皮及果肉中提取到，是一种人体不易吸收的水溶性多糖复合物，其抗肿瘤转移的疗效正受到越来越多的关注。来自佐治亚大学的Gomillion博士利用实时定量阻抗实验去评估MCP抑制两种肿瘤细胞 (MCF-7和HCC1806) 转移疗效。 研究者通过比较划痕处理后细胞迁移的趋势和速度，发现Maestro Z系统能够轻松地将两种肿瘤细胞系的差别区分开来。HCC1806细胞相对于MCF-7而言有更强的迁移能力, 这点能够和临床上观察到的三阴乳腺癌肿瘤细胞的高转移能力相呼应。此外，她们还发现MaestroZ系统对于不同抗转移MCP在作用效应和动态上的微小差别很敏感，证实了它在评估抗转移治疗疗效方面的价值。◆ ◆ ◆ ◆实时真阻抗细胞动态检测仪◆ ◆ ◆ ◆PART I 什么是真阻抗细胞检测 阻抗指贴附细胞对检测电流所起的阻碍作用。Maestro Z的真阻抗技术采用不同频率的交流电来检测细胞的阻抗变化。该技术不但可以检测因细胞数量变化导致的阻抗变化，还能实时检测因细胞形态、通透性变化而导致的细微阻抗变化。PART II Maestro Z的特点一体化设计 该仪器无需额外占用培养箱空间。专门设计的样本仓可以屏蔽外界电磁和机械噪音，避免培养箱开关门等额外操作导致检测结果偏差。真阻抗检测技术 该平台延续了Axion BioSystems公司成熟的高信噪比电生理检测技术，采用不同频率交流电，可用来检测细胞细微阻抗变化。友好易用的软件 操作软件提供实时数据记录，自动数据分析，自动数据报告生成。除此之外，还提供自动扣除本底，Nomalization等高阶数据分析，免除繁琐的手工计算。软件还符合FDA 21 CFR Part 11条款，兼容企业在GXP方面合规要求。数据安全性 自带数据储存，无惧电脑宕机，确保重要数据安全。PART III 应用方向简介 样本类型：悬浮细胞，贴壁细胞，3D培养细胞，类器官等 实时记录细胞增殖、凋亡过程，建立专属功能档案细胞毒性动态研究癌细胞浸润、迁移能力，划痕实验癌症免疫疗法，肿瘤免疫学，细胞治疗病毒学研究跨内皮/上皮细胞电阻（TEER）研究G蛋白偶联受体（GPCR），信号通路研究细胞愈合能力测试想要了解更详细特点，快来联系我们吧！ Axion BioSystems ImagineExploreDiscover