发射光谱仪的原理

电磁辐射是指在电磁振荡过程中，电磁波向四周传播传递能量的现象。长期的电磁辐射会对人体的心血管系统、视觉系统、神经系统和生殖系统造成极大的危害，是心血管病、癌突变，不孕不育、白内障的主要诱因。电弧发射光谱仪的原理是通过高频引燃，产生大功率电弧火焰，实现样品的蒸发和激发，进行各元素的测定。因此，长期使用电弧发射光谱仪器的工作人员深受电磁辐射的危害，做好电弧发射光谱仪的电磁辐射屏蔽防护十分必要，更是仪器生产厂商对客户责任感的体现。　　聚光科技（杭州）股份有限公司生产的E5000全谱直读电弧发射光谱仪是国内首台非金属粉末元素分析的台式全谱直读发射光谱仪，其将电弧激发光源与Paschen-Runge型全谱CCD 光谱仪相结合，通过激光定位与程控电极，自动调整电极位置，实现激发间距的精确控制，利用高阵列CCD 数采获得了激发样品的全谱信息，通过实时扣除背景与干扰校正，直接获得分析结果。与传统摄谱仪相比，仪器操作简单，自动化程度高，谱线信息丰富，测定结果快速准确。　　E5000采用新一代数字电弧光源，替代了传统的电弧源，电极在矩室内全自动对准激发，无需人工直接观察调节间距，有效防护人眼，屏蔽了大量电磁辐射；此外，数字电源体积更小，可直接置于仪器内部，无需加长激发线连接外置的交流电源，有效降低大电流传导过程中产生的辐射。　　辐射测试结果显示，正常工作时，若电弧光源无防护措施，电磁辐射显著高于国家标准限定的40dBN；如果有效屏蔽掉电源的电磁辐射，使用长的激发线激发时，高频300MHz以上的电磁辐射稍有降低，但300MHz以下的电磁辐射仍然较大。而经过完全防护的E5000仪器在正常工作时电磁辐射显著降低，完全符合国标中关于仪器设备的电磁辐射限定要求，具体结果如下图。E5000全谱直读电弧发射光谱仪电磁辐射测试结果　　国家电子计算机外部设备质量监督检验中心是经国家主管部门审查认可的，具有第三方公正地位的国家级质量检验机构。经国家电子计算机外部设备质量监督检验中心的辐射骚扰场强试验（30MHz~1GHz）测试认证，聚光科技（杭州）股份有限公司研发生产的E5000电弧直读发射光谱仪符合国标GB 9254-2008《信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法》的B级标准要求。E5000全谱直读电弧发射光谱仪辐射骚扰场强试验检验报告

荧光灯和LED灯等发射可见光的光源具有特有的发射光谱。因为光波长和光量决定光的色调，所以在灯的开发过程中，测定其发射光谱对评价光源的性质非常重要。 通常使用紫外可见分光光度计（UV）或荧光光谱仪（RF）测定发射光谱。使用UV 得到的光谱为包含仪器特性（仪器函数）的发射光谱，该光谱的色调与视觉感知的色调不同。如果使用岛津公司生产的具有自动仪器校正功能的荧光光谱RF-6000，则不受仪器函数的影响，可以得到精确的发射光谱。综上所述，RF-6000配置大型样品室，可以直接放置较大光源的样品。另外，还可以通过仪器的自动光谱校正功能获得仪器校正后的光谱。使用RF-6000，可以得到准确的LED灯发射光谱。 本文向您介绍使用RF-6000 测定LED 灯发射光谱的示例。 将LED灯放置到样品室内 了解详情，敬请点击《LED灯的发射光谱测定》关于岛津 岛津企业管理（中国）有限公司是（株）岛津制作所于1999年100%出资，在中国设立的现地法人公司，在中国全境拥有13个分公司，事业规模不断扩大。其下设有北京、上海、广州、沈阳、成都分析中心，并拥有覆盖全国30个省的销售代理商网络以及60多个技术服务站，已构筑起为广大用户提供良好服务的完整体系。本公司以“为了人类和地球的健康”为经营理念，始终致力于为用户提供更加先进的产品和更加满意的服务，为中国社会的进步贡献力量。 更多信息请关注岛津公司网站www.shimadzu.com.cn/an/ 。 岛津官方微博地址http://weibo.com/chinashimadzu。岛津微信平台

仪器信息网讯 2014年10月20-21日，由中国工程院、中国合格评定国家认可委员会、中国标准化协会、中国金属学会、国际钢铁工业分析委员会、中国钢研科技集团有限公司主办的&ldquo CCATM&rsquo 2014国际冶金及材料分析测试学术报告会&rdquo 之&ldquo 辉光光谱/表面分析/火花源原子发射光谱&rdquo 分会在北京国际会议中心举行。会议现场　　辉光放电光谱(GD-OES)由于具有固体样品直接分析、可分析非导体样品、分析速度快、气体消耗量低、分析成本低等优点，近年来，在元素分析中的应用逐渐增多。目前应用的商业化辉光放电光谱仪厂商主要有美国的Leco公司、德国的Spectro公司、法国的Horiba Jobin Yvon公司。报告人：首钢技术研究院徐永林报告题目：辉光放电光谱法在镀锡板检测上的应用　　徐永林利用辉光放电光谱仪对镀锡板样品进行逐层剥离，根据样品由表至里的辉光放电积分图谱，分别设定公式积分计算镀锡板镀层厚度及重量、钝化层厚度及重量、基板成分、镀层中有害元素等。通过与传统方法的分析结果比对，说明采用辉光放电光谱法分析这些检测项目具有较佳的准确度及精密度，提高了检测效率，同时达到了镀锡板多个检测项目的同时测定。报告人：首钢技术研究院梁潇报告题目：直流辉光放电光谱法同时测定铸铁中12种元素　　梁潇研究了利用辉光放电光谱法同时测定铸铁中的多种元素含量。通过分析激发电压、激发电流、光电倍增管、预燃时间和积分时间等因素对各元素光谱强度和稳定性的影响，以铁为内标建立了同时测定铸铁中碳、硅、锰、磷、硫、镍、铬、钼、铜、钒、硼等元素含量的分析方法。对不同铸铁样品进行准确度和精密度试验，均得到了很好的结果。　　火花源原子发射光谱分析法是一项成熟的分析技术，具有操作简便、分析速度快和准确度高的优点。在生产实践中分析金属试样表现出的快速、准确和高精度是其他分析方法无法取代的，因而广泛的应用于钢铁和有色冶金行业炉前快速分析，也是分析各种常见固体金属材料的一种普及的标准分析方法。　　在会议中，多位报告人介绍了火花源原子发射光谱的最新应用研究。江苏沙钢集团的陈熙介绍了火花源原子发射光谱快速测定钢中低含量硅 钢研纳克检测技术有限公司宋宏峰介绍了火花源原子发射光谱法分析高锰铬钢 上海宝钢工业技术服务有限公司张叶介绍了火花源发射光谱分析焊丝钢线材试样 宝山钢铁股份有限公司研究院赵涛介绍了火花源原子发射光谱法测定铁基非晶合金中的硅和硼。

2015年1月6日，2014年北京光谱年会在北理工国际交流大厦顺利闭幕，大会吸引约200人来自科研机构、质检机构、知名企业等专家和代表们参加，聚光科技作为国内领航的分析仪器厂商应邀参加。 北京光谱年会历年是学术交流的圣地，本次年会更是汇聚了各行专家。在光谱年会开始，北京光谱学会理事长郑国经首先介绍了光谱学会2014年所做工作，并指出，“当前光谱分析及其仪器技术可以说非常成熟，对于元素测定，原子光谱仍是强项 对于分子及化合物的测定，分子光谱依然是定性定量的有效手段。”随后，清华大学孙素琴、王哲、陈建波北京理工大学袁洪福老师和中国检验检疫科学院的齐小花老师分别在荧光、分子光谱和拉曼光谱技术领域做了精彩报告。 北京光谱学会理事长 郑国经教授 聚光科技实验室业务部总监寿淼钧先生在本次光谱年会上向与会专家和代表们介绍最新上市的E5000电弧直读发射光谱仪。从E5000产品的研发故事，到产品在各个行业的应用，都做了详细的介绍和汇报，并向与会的专家和代表们发出合作的邀请，希望能共同致力于国产仪器的发展事业。 聚光科技（杭州）股份有限公司 实验室研发总监 寿淼钧先生 E5000电弧直读发射光谱仪技术创新点：数字电弧技术与发射光谱技术结合，革命性的固体粉末元素分析技术；紧凑的小型台式设计，确保仪器分析精确，稳定可靠高功率数字可编程光源，电流、电压、频率可控，可自由探索更优的分析方法自动电极对准，一键激发，分析结果立等可取多重连锁和监控，确保操作安全可靠绿色固体进样分析，完美解决地矿领域Ag/B/Se分析难题，全谱技术更可实现分析元素的自由扩展简洁易用的操作软件，内置工作曲线，最方便、最有效地响应客户日常分析需求改变地矿领域分析传统，让分析高效、生活轻松、工作变得有品位广泛适用于化探、地质、矿冶、有色、土壤、水泥、固废等领域的元素分析需求 E5000电弧直读发射光谱仪 聚光科技展区现场聚光科技实验室业务发展事业部简介： 聚光科技（杭州）股份有限公司在实验室仪器市场经过多年战略布局，目前已成功推出便携式GC-MS、气质联用仪、气相色谱仪、电感耦合等离子体发射光谱仪、近红外光谱仪等在内的分析仪器；通过并购北京吉天仪器有限公司，扩充了无机分析仪器组合以及前处理仪器；通过与LUMEX的合作，补充了原子吸收，测汞仪和荧光测油仪等产品，成为了包括色谱、质谱、光谱、应急检测以及前处理设备等在内的全方位解决方案供应商；实验室仪器市场，成为聚光科技未来十年的主战场之一。聚光科技在不断努力，立志成为国内最好、国际主流的实验室仪器供应商之一。

佰汇兴业（北京）科技有限公司最新代理日本MICRO EMISSION MH-5000等离子体发射光谱仪,该仪器为一款利用液态电极等离子体来分析痕量金属的发射光谱仪，它通过向溶液施加电压以使其加热并蒸发，液体电极产生等离子体，溶液中的溶质被送入等离子体中产生发射光谱。它可以应用到冶金制造、工业废物处理和环境监测等领域中。特点：手持掌上型尺寸的实现（小型，便携式手持）操作简单，初学者也可快速入门电池驱动，可使用于现场测定同时测定多种元素检测极限0.1ppm～100ppm工程管理、土壤测定、水质测定、食品测定

安捷伦科技隆重推出新一代双向观测原子发射光谱仪以其前所未有的性能应对复杂应用的挑战创新的ICP-OES系统，分析样品更快速、使用气体更节省　　2014年7月1日，北京&mdash &mdash 安捷伦科技公司(纽约证交所：A)于今日隆重推出Agilent 5100电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)，借此巩固其作为原子光谱仪领域创新者的地位。即使面对最复杂的样品，全新的系统都能更快速地分析样品，使用气体更节省，且不会影响其分析性能。这款全新的仪器是实验室进行食品、环境、药物检测以及采矿和工业应用的理想选择。　　安捷伦光谱产品副总裁 Philip Binns表示：&ldquo 新系统避免了与传统的双向观测分析相关的速度和稳定性方面常见的影响。作为ICP-OES领域性能领导企业，安捷伦此次又为行业标准树立了新的标杆。&rdquo 　　传统的双向观测系统需要对每个样品进行多达四次的连续测量，而Agilent 5100仅需一次，这得益于它创新的智能光谱组合技术和垂直火炬同步双向观测技术。这些创新可让客户以更快的速度、更高的准确度和易用性进行分析，大大节省了时间和运行成本。　　Philip Binns继续表示：&ldquo 安捷伦的目标始终都是提供最快速、最高效的原子光谱系统，以应对最复杂的样品。今年，随着4200 MP-AES、7900 ICP-MS，以及如今5100 ICP-OES 的陆续面世，我们继续在元素分析的创新方面引领着行业发展，这也印证了我们致力于根据客户的应用需求提供最佳工具的一贯承诺。&rdquo 　　Philip Binns强调，Agilent 5100 ICP-OES分析每个样品的分析速度比市场上与之竞争的ICP-OES系统快55%，所需气体仅有其50%。他补充道：&ldquo 市场上暂时还没有其它系统可以超越5100 ICP-OES的性能、抑或是其低运行成本的优势。&rdquo 　　借助Agilent 5100 ICP-OES，客户可使用直观的ICP Expert软件和智能光谱组合技术来实现方法开发。客户一次即可测量所有波长，具有极高的精密度，且无任何延迟。Agilent 5100 ICP-OES系统的垂直炬管可以应对最具挑战性的样品(从高基质样品到挥发性有机溶剂)，并且分析结果具有高度可靠性。　　Agilent 5100有三种配置，均配备耐用的垂直炬管，由此可以帮助客户实现：　　· 同步垂直双向观测(SVDV)能够以最少的气体用量提供最快的分析速度 　　· 垂直双向观测(VDV)可提供高通量，如需更高通量，可现场升级至SVDV配置 　　· 径向观测(RV)是需要快速、高性能径向 ICP-OES 的实验室的理想选择。　　关于安捷伦科技　　安捷伦科技公司(纽约证交所：A)是全球领先的测试测量公司，同时也是化学分析、生命科学、诊断、电子和通信领域的技术领导者。公司拥有20,600名员工，遍及全球100多个国家，为客户提供卓越服务。在2013财年，安捷伦的净收入达到68亿美元。了解关于安捷伦的详细信息，请访问www.agilent.com.cn。　　安捷伦于2013年9月19日正式宣布拆分为两家上市公司，并通过免税剥离方式拆分出电子测量公司。新的电子测量公司名称为Keysight Technologies(是德科技)。预计整个拆分将于2014年11月初完成。

仪器信息网讯 2012年8月31日，受北京市经济和信息委员会委托，由北京市技术创新服务中心组织的北京瑞利分析仪器有限公司AF-2200原子荧光光谱仪、AES-7000系列专用发射光谱仪新产品鉴定会在北京瑞利分析仪器有限公司举行。鉴定会现场　　邓勃教授担任此次鉴定委员会主任，参加鉴定的委员有清华大学辛仁轩教授、中国首钢集团郑国经研究员、中国地质科学院力学研究所计子华研究员、有色金属研究总院钱伯仁教授、北京矿冶研究总院符斌研究员、北京矿冶研究总院冯先进研究员。北京市技术创新服务中心技术创新部王安居部长主持鉴定会，北京市经济和信息委员会科技标准处张刚处长出席本次鉴定会。北京市技术创新服务中心技术创新部王安居部长主持鉴定会　　北京瑞利分析仪器有限公司孙兰海总经理向与会专家介绍了北京瑞利分析仪器有限公司企业概况。在致辞中，孙兰海总经理首先对与会专家的莅临表示感谢，而后对北京瑞利分析仪器有限公司进行了介绍，“北京瑞利分析仪器有限公司主要产品是光谱仪器，包括原子吸收光谱仪、原子荧光光谱仪、发射光谱仪、红外分光光度计、紫外分光光度计和样品前处理设备，产品型号数量已达38种，如果今天能够顺利验收，将达到40种。”北京瑞利分析仪器有限公司 孙兰海总经理　　张刚处长在鉴定会上传达了北京市经济和信息委员会科技标准处对本次鉴定会的意见和建议，张刚处长表示，“第一，希望鉴定委员会各位专家能够对此次鉴定的AF-2200原子荧光光谱仪和AES-7000系列专用发射光谱仪新产品能够提供客观、科学、公正的鉴定意见 第二，希望与会专家能够借此机会就企业发展战略、技术发展等方面给企业提供建议 第三，通过鉴定的产品，希望企业能够尽快完成相关的后续产品上市手续，包括与税务部门的沟通等 第四，通过鉴定的产品，希望企业能够申请北京市级或者国家级相关仪器研发奖项，以争取支持仪器研发的资金，为今后更好的开展仪器研发项目做好基础工作。”北京市经济和信息委员会科技标准处 张刚处长　　一、新一代高精度顺序注射原子荧光光谱仪AF-2200通过鉴定　　北京瑞利分析仪器有限公司研发部梁敬副部长宣读了AF-2200原子荧光光谱仪的技术报告和工作总结报告。冯先进研究员宣读了AF-2200原子荧光光谱仪现场测试报告。北京瑞利分析仪器有限公司研发部梁敬副部长北京矿冶研究总院冯先进研究员　　梁敬副部长在报告中指出，AF-2200原子荧光光谱仪采用了最先进的顺序注射进样技术，可实现高精度微量进样 注射泵阀体由传统的三阀双泵二维流路改为三维空间流路，即高度集成化的双泵双阀顺序注射流路系统，阀芯采用陶瓷和PEEK复合材料，具备优异的抗化学腐蚀性能，阀切换寿命不小于1000万次 注射器的柱塞选择UHMWPE，端帽采用PEEK材料，高鹏玻璃作为针筒，具有优异的耐腐蚀性能和长的使用寿命，存样环也在业内首次采用了热固化成型工艺技术，能够获得极小的扩散系数，该项技术获得了实用新型专利一项 AF-2200原子荧光光谱仪通过特殊的增敏试剂，将传统原子荧光的测量范围在As、Sb、Bi、Se、Te、Pb、Sn、Hg、Cd、Ge、Zn十一种元素基础上增加了Au、Ag、Cu、Co、Ni五种元素，测量范围达到16种元素。AF-2200原子荧光光谱仪已经申报的自主知识产权专利有5项。应用范围方面，AF-2200原子荧光光谱仪主要应用于食品安全、环境检测、地质普查、农业环境、临床医学、科研等领域的重金属总量分析。AF-2200原子荧光光谱仪　　鉴定会委员详细审议了北京瑞利工作人员的工作总结报告、技术总结报告、财务报告、产品检测报告、产品技术标准说明、查新报告、用户使用报告、标准化审查报告、资料审查报告、现场测试报告 经过质询和现场考察仪器新品，最终形成如下鉴定意见：　　AF-2200原子荧光光谱仪　　1、该产品的鉴定文件齐全,符合鉴定要求。　　2、该产品创新性采用了高度集成的高精度双泵双阀顺序注射进样系统，具有智能化漏液监测、高精度数字化气路系统压力监测和原子化室避光监测功能，形成了全新的蒸汽发生原子荧光仪器。　　3、开发了一种全新分析方法的专用增敏剂，可测定元素扩大到16个(Cu、Ag、Au、Co、Ni等元素)之多。采用了压力平衡式四通混合模块，极大地稳定了流体的传输，保证了信号峰形的平滑度和重现度。首创了高韧性进样针，解决了石英采样针易碎和挂液的问题。　　4、开发了自动进样器配合使用的全自动液体工作站软件，实现样品及标准溶液的自动稀释、自动定容等繁琐的溶液处理操作。　　5、该产品结构简单可靠，具有广阔的市场前景。　　6、该产品的技术文件资料齐全，符合国家规范，可以指导生产。　　鉴定委员会一致认为：北京瑞利分析仪器有限公司研制开发的“AF-2200原子荧光光谱仪”技术达到国际先进水平，同意通过新产品鉴定。AF-2200原子荧光光谱仪产品考察AF-2200原子荧光光谱仪生产车间　　二、AES-7000系列专用发射光谱仪通过鉴定　　北京瑞利分析仪器有限公司研发部王彦东副部长宣读了工作总结报告和技术总结报告。计子华研究员宣读了AES-7000系列专用发射光谱仪现场测试报告。AES-7000系列包含AES-7100/ AES-7200两款产品，专用于高纯金属和地质样品的测定。北京瑞利分析仪器有限公司研发部王彦东副部长中国地质科学院力学研究所计子华研究员　　据王彦东副部长在报告中介绍，AES-7100/ AES-7200直/交流电弧专用发射光谱仪在国内首次将交流或直流电弧激发光源与凹面光栅分光系统及光电倍增管接收系统相结合，构成全新的组合模式，具有全新的光路、结构及外形 AES-7100/ AES-7200两种专用仪器分别做了方法开发：AES-7100直流电弧专用发射光谱仪针对高纯金属氧化钼和氧化钨中的18-19中杂质元素开发了专用的分析方法，确定了氧化钼和氧化钨光谱缓冲剂配比，而AES-7200交流电弧专用发射光谱仪针对地球化学样品中Ag、Sn、B三种比较难测定的元素开发了专门的测定方法，并可测定Mo、Pb、Au、Ni、Co等十几种元素 相对于一米光栅光谱仪采用的传统的相板记录方式，AES-7000系列专用发射光谱仪以光电直读代之，改变了我国30多年来电弧激发光谱分析现状，使电弧激发这项“古典”而又“经典”的分析技术焕发了青春。据介绍，自主知识产权方面，AES-7000系列专用发射光谱仪已申请八项专利技术。AES-7000系列专用发射光谱仪　　北京瑞利分析仪器有限公司相关工作人员汇报了AES-7000系列专用发射光谱仪相关技术总结报告、工作总结报告、财务报告、产品检测报告、产品技术标准说明、查新报告、用户使用报告、标准化审查报告、资料审查报告、现场测试报告，经过鉴定会委员的详细审议、质询和现场考察，最终形成如下鉴定意见：　　(1)产品(技术)名称： AES-7100型高纯金属专用发射光谱仪　　1、该产品的鉴定文件齐全,符合鉴定要求。　　2、该产品首次采用了直流电弧激发光源与凹面光栅分光系统和光电倍增管检测系统的全新组合，可直接对粉末状样品进行灵敏、快速的测定，属国内首创。　　3、该产品采用了自动控温水冷式电极夹，增强了产品的稳定性 采用汞灯描迹装置，能够方便的进行谱线定位 设有电极成像显示屏，可直接观察到电极成像投影，便于操作。　　4、该产品针对相关领域的要求设计了专用应用软件，可根据蒸发曲线分别为每条谱线设定曝光时间参数、强弱线可同步衔接测量，具有内标、背景及分析数据校正处理等功能，提高了直流电弧光量计分析信背比。　　5、该产品能对有色、冶金领域高纯金属及氧化物样品中的多种微量元素进行同时测定，市场前景广阔，具有良好的社会效益及经济效益。　　6、该产品的技术文件资料齐全，符合国家规范，可以指导生产。　　鉴定委员会一致认为：北京瑞利分析仪器有限公司研制开发的“AES-7100型高纯金属专用发射光谱仪”技术达到国内领先水平，同意通过新产品鉴定。　　(2)产品(技术)名称： AES-7200型地质样品专用发射光谱仪　　1、该产品首次采用了交流电弧激发光源与凹面光栅分光系统和光电倍增管检测系统的全新组合，研制成功的交流电弧直读光谱仪在国内尚属首创。该产品可直接对粉末状样品进行灵敏、快速的测定。　　2、该产品整机设计合理、结构新颖，具有使用寿命较长的“自动控温水冷式电极夹” 在外光路全封闭防护装置上，可直接观察到电极成像投影，便于操作 采用汞灯描迹装置，能快速进行谱线定位。　　3、该产品针对相关领域的要求设计了专门应用软件，具有以下特殊功能：可根据蒸发曲线分别为每条谱线设定曝光时间参数、强弱线可同步衔接测量、有出色的内标、背景及分析数据校正处理等功能、强大的数据库供历史数据处理查询。　　4、该产品是—种性价比较高的电弧直读光谱仪，填补了我国在该类仪器的空白，能对地质领域样品中的多种微量元素进行同时测定。市场前景广阔，具有良好的社会效益及经济效益。　　5、该产品的技术资料齐全完整，符合国家规范，具备批量生产条件。　　鉴定委员会一致认为：北京瑞利分析仪器有限公司研制开发的“AES-7200型地质样品专用发射光谱仪”，其仪器性能及技术指标已达到国内领先水平，同意通过新产品鉴定。AES-7000系列专用发射光谱仪产品考察AES-7000系列专用发射光谱仪生产车间　　出席本次新产品鉴定会的人员还有：北京北分瑞利分析仪器(集团)公司李源总经理、武慧忠总工程师、北京瑞利分析仪器有限公司曾伟总工程师、原总工/技术顾问章诒学研究员、副总工程师王百华女士、技术顾问：原地质科学院物化探研究所的张文华和张锦茂高级工程师、项目主管吴冬梅高级工程师。

项目编号：0705-224002028082项目名称：复旦大学电感耦合等离子体发射光谱仪采购国际招标预算金额：99.0000000 万元（人民币）最高限价（如有）：97.0000000 万元（人民币）采购需求：1、招标条件项目概况：电感耦合等离子体发射光谱仪采购资金到位或资金来源落实情况：本次招标所需的资金来源已经落实项目已具备招标条件的说明：已具备招标条件2、招标内容：招标项目编号：0705-224002028082招标项目名称：电感耦合等离子体发射光谱仪采购项目实施地点：中国上海市招标产品列表(主要设备)：序号产品名称数量简要技术规格备注1电感耦合等离子体发射光谱仪1套自激式射频发生器，进样系统可耐高盐样品预算金额：人民币99万元 最高限价：人民币97万元 合同履行期限：签订合同后4个月内合同履行期限：签订合同后4个月内本项目( 不接受 )联合体投标。

项目编号：0705-224002028082项目名称：复旦大学电感耦合等离子体发射光谱仪采购国际招标预算金额：99.0000000 万元（人民币）最高限价（如有）：97.0000000 万元（人民币）采购需求：1、招标条件项目概况：电感耦合等离子体发射光谱仪采购资金到位或资金来源落实情况：本次招标所需的资金来源已经落实项目已具备招标条件的说明：已具备招标条件2、招标内容：招标项目编号：0705-224002028082招标项目名称：电感耦合等离子体发射光谱仪采购项目实施地点：中国上海市招标产品列表(主要设备)：序号产品名称数量简要技术规格备注1电感耦合等离子体发射光谱仪1套自激式射频发生器，进样系统可耐高盐样品预算金额：人民币99万元 最高限价：人民币97万元 合同履行期限：签订合同后4个月内合同履行期限：签订合同后4个月内本项目( 不接受 )联合体投标。

关于征求CSTM标准《火花放电原子发射光谱仪性能评价方法》（征求意见稿）意见的通知各位专家、委员及相关单位：由中国材料与试验团体标准委员会科学试验领域委员会科学试验评价技术委员会（CSTM/FC 98/TC04）归口承担的CSTM LX 9804 00962-2022《火花放电原子发射光谱仪性能评价方法》团体标准已完成征求意见稿，按照《中关村材料试验技术联盟团体标准管理办法》的有关规定，现公开广泛征求意见。请于公告在CSTM官方网站/全国团体标准信息平台发布之日起30个自然日前将《中国材料与试验团体标准征求意见表》以电子邮件形式反馈至项目牵头单位或者CSTM/FC 98/TC04秘书处。1.火花放电原子发射光谱仪性能评价方法（征求意见稿）.pdf2.火花放电原子发射光谱仪性能评价方法编制说明.pdf3.中国材料与试验团体标准征求意见表.docx

一、项目编号：0705-224002028052项目名称：复旦大学电感耦合等离子体发射光谱仪采购国际招标预算金额：99.0000000 万元（人民币）最高限价（如有）：97.0000000 万元（人民币）采购需求：1、招标条件项目概况：电感耦合等离子体发射光谱仪采购资金到位或资金来源落实情况：本次招标所需的资金来源已经落实项目已具备招标条件的说明：已具备招标条件2、招标内容：招标项目编号：0705-224002028052招标项目名称：电感耦合等离子体发射光谱仪采购项目实施地点：中国上海市招标产品列表(主要设备)：序号产品名称数量简要技术规格备注1电感耦合等离子体发射光谱仪1套自激式射频发生器，频率大于40MHz预算金额：人民币99万元 最高限价：人民币97万元 合同履行期限：签订合同后4个月内合同履行期限：签订合同后4个月内本项目( 不接受 )联合体投标。二、项目编号：0705-224002028053项目名称：复旦大学激光粒度分析仪采购国际招标预算金额：60.0000000 万元（人民币）最高限价（如有）：58.0000000 万元（人民币）采购需求：1、招标条件项目概况：激光粒度分析仪采购资金到位或资金来源落实情况：本次招标所需的资金来源已经落实项目已具备招标条件的说明：已具备招标条件2、招标内容：招标项目编号：0705-224002028053招标项目名称：激光粒度分析仪采购项目实施地点：中国上海市招标产品列表(主要设备)：序号产品名称数量简要技术规格备注1激光粒度分析仪1套测量速度：扫描速度≥10KHz预算金额：人民币60万元 最高限价：人民币58万元 合同履行期限：签订合同后3个月内合同履行期限：签订合同后3个月内本项目( 不接受 )联合体投标。

一、项目编号：项目名称：电感耦合等离子体质谱仪采购项目预算金额：98.0000000 万元（人民币）最高限价（如有）：98.0000000 万元（人民币）采购需求：1. 标的名称：包组1：电感耦合等离子体质谱仪采购项目2. 标的数量：包组1：1套3. 简要技术需求或服务要求：（1） 项目编号: CLF22SH01QY17（2） 最高限价: 人民币 ¥ 980,000.00元（3） 交货期限: 采购合同签订之日起至1个月内。（4） 本项目只允许采购本国产品；（5） 简要技术要求： a） 电感耦合等离子体质谱仪具备可搭配LC、自动进样器、全自动石墨消解系统、全自动微波消解系统等连用技术。 b） 可广泛应用于水质、土壤、大气颗粒物、固废、食品、动植物、食品接触材料、化妆品、半导体、高纯材料、矿产、石油化工、工业品、纺织等领域，且符合相关国家标准分析方法的要求。具体详见采购需求。 合同履行期限：自合同签订之日起至2023年10月前本项目( 不接受 )联合体投标。二、项目编号：0705-224002028052项目名称：复旦大学电感耦合等离子体发射光谱仪采购国际招标预算金额：99.0000000 万元（人民币）最高限价（如有）：97.0000000 万元（人民币）采购需求：1、招标条件项目概况：电感耦合等离子体发射光谱仪采购资金到位或资金来源落实情况：本次招标所需的资金来源已经落实项目已具备招标条件的说明：已具备招标条件2、招标内容：招标项目编号：0705-224002028052招标项目名称：电感耦合等离子体发射光谱仪采购项目实施地点：中国上海市招标产品列表(主要设备)：序号产品名称数量简要技术规格备注1电感耦合等离子体发射光谱仪1套自激式射频发生器，频率大于40MHz预算金额：人民币99万元 最高限价：人民币97万元 合同履行期限：签订合同后4个月内合同履行期限：签订合同后4个月内本项目( 不接受 )联合体投标。

粮食土壤元素分析仪（等离子体固样分析发射光谱仪-PJ10）本产品是基于射流等离子体技术的固体样品元素直接分析的光谱仪器。该仪器无需对固体样品进行湿法消解等复杂的化学前处理，即可快速对固体样品中的元素进行定性和定量分析，为固体样品的直接快速分析提供了新的检测技术和方法，有效地提升了对固体样品的分析效率。 1、仪器特点： △ 直接对固体样品中的多种元素进行快速定性和定量分析，无需化学消解；△ 装载高能激发源，灵敏度高，检出限可达ppb级 ，RSD9%；△ 分析速度快，60秒内可以同时获得190nm-1100 nm波段的全谱信号，覆盖Cd，Cr，Cu，Pb，Zn，Ca，Fe等多种元素；△ 配备自动样品仓和智能软件，可实现多个待测样品自动检测并输出结果。 2、仪器参数型号：PJ10尺寸：400*410*662 mm重量：32kg功率：200W进样方式：固体直接进样样品前处理：简单混样压片、用时2-3分钟（无需消解）分析时间： 60 s可检测元素：镉Cd，铬Cr，铜Cu，铅Pb，钙Ca，铁Fe，锌Zn等元素光谱范围：190nm-1100 nm （可 根据用户需求选配）光谱分辨率：0.10~0.25nm软件：全自动检测，直接给出测试结果存储：128 GB SSD数据接口：4XUSB，1X网口，1XVGA创新点：粮食土壤元素分析仪（等离子体固样分析发射光谱仪-PJ10） 本产品是基于射流等离子体技术的固体样品元素直接分析的光谱仪器。该仪器无需对固体样品进行湿法消解等复杂的化学前处理，即可快速对固体样品中的元素进行定性和定量分析，为固体样品的直接快速分析提供了新的检测技术和方法，有效地提升了对固体样品的分析效率： 1.直接对固体样品中的多种元素进行快速定性和定量分析，无需化学消解； 2.装载高能激发源，灵敏度高，检出限可达ppb级 ，RSD9%； 3.分析速度快，60秒内可以同时获得190nm-1100 nm波段的全谱信号，覆盖Cd，Cr，Cu，Pb，Zn，Ca，Fe等多种元素； 4.配备自动样品仓和智能软件，可实现多个待测样品自动检测并输出结果。等离子体固样分析发射光谱仪-PJ10

仪器信息网讯 2011年10月12-15日，第十四届北京分析测试学术报告会及展览会(BCEIA 2011)在北京展览馆隆重举行。为让广大网友及仪器用户深入了解BCEIA 2011仪器新品动态，仪器信息网特别开展了以“盘点行业新品聚焦最新技术”为主题大型视频采访活动，力争将科学仪器行业最新创新产品、最新技术进展及最具有代表性应用解决方案直观地呈现给业内人士。以下是仪器信息网编辑采访北京纳克分析仪器有限公司新产品的视频。　　北京纳克分析仪器有限公司由钢铁研究总院注册成立，是集分析仪器及相关产品的生产、销售、研发、技术咨询、国外代理于一体的大型专业化高新技术企业。公司全心致力于金属材料检测、工艺过程质量控制领域的技术研究，产品覆盖光谱分析、气体分析、力学测试、物理测试、无损检测、计量、标准物质等领域。　　在采访中，纳克公司营销中心总经理杨植岗先生分别针对纳克公司激光光谱、金属原位分析仪、ICP发射光谱仪等做了详细的讲解。　　“LIBOSOPA 100是在科技部创新方法工作支持下的研究成果，用于材料里的成分分布以及状态分布分析，既可用于金属材料，也可以用于非金属材料。其对于我国新材料的研发以及汽车用钢板品质的提升将作出很大的贡献。”　　“OPA 100金属原位分析仪在市场上觉得了很好的成绩，曾获国家发明二等奖，也是上届BCEIA金奖的获奖产品，共拥有4项国际专利，5项国家专利，是世界首创，具有自主知识产权的仪器。OPA 200金属原位分析仪是在OPA 100金属原位分析仪的基础上改进得来的，它能检测金属材料中的成分分布以及成分的形态，能为新材料的研发、冶金工艺的改进提供相关数据。目前在国内已经拥有许多用户。”　　“plasma CCD全谱直读ICP发射光谱仪是BCEIA 2011新推出的产品，以CCD作为检测手段，以中阶梯光栅作为分光系统，具有自主知识产权。该产品已引起了众多国外厂商的关注。其价格不到同类进口仪器价格的三分之二。”

一、项目编号：0773-2211SHHW0173（招标文件编号：0773-2211SHHW0173）二、项目名称：东华大学原子发射光谱仪三、中标（成交）信息供应商名称：E-HENG IMPORT AND EXPORT CO.,LTD供应商地址：Chase Business Centre, 39-41 Chase Side, London, England, N14 5BP中标（成交）金额：119.2000000（万元）四、主要标的信息序号 供应商名称 货物名称 货物品牌 货物型号 货物数量 货物单价(元) 1 E-HENG IMPORT AND EXPORT CO.,LTD 原子发射光谱仪 LEEMAN LABS Prodigy PLUS 1套 CNY1,192,000.00

日前，德国PicoQuant、意大利NIREOS和Micro Photon Devices公司联合开发了一种基于干涉仪记录时间分辨发射光谱（TRES）的全新紧凑型系统，而该系统搭建的模块分别由这三家公司提供。时间分辨发射光谱（TRES）新型系统是基于NIREOS研发的超稳型干涉仪GEMINI，它能直接将样品的荧光发射光谱和荧光寿命进行Mapping，具有高时间和高光谱分辨率（即TRES）等特点,也正是因为这些特点时间分辨发射光谱（TRES）新型系统将光谱的变化过程直接提升到了ps量级的分辨率。该系统功能非常强大，但光路却极其简单。在样品测试中，信号光通过NIREOS 的紧凑和超稳定的GEMINI干涉仪获得高分辨率的全光谱信息；然后由Micro Photon Devices的PDM系列探测器进行单光子检测；最后，经过PicoQuant的时间相关单光子计数器（TCSPC）PicoHarp 300获得高时间分辨率的荧光寿命信息，最终获得时间分辨发射光谱（TRES）。具体光路示意和探测及分析，请参见下图所示:图1：光路示意 图2：功能简介 图3：软件界面 如需了解更多该系统的完整实验光路和功能演示视频等相关资料，请联系我们！

2017年5月17日，聚光科技（杭州）股份有限公司（以下简称“聚光科技”）下属子公司北京聚光盈安科技有限公司（以下简称“聚光盈安”）与重庆计量质量检测研究院联合举办了一场原子发射光谱分析技术交流会。这既是一场光谱分析技术知识讲座，更是一场质检人观点交锋，深度互动的盛会。　　聚光盈安是聚光科技的全资子公司，企业规模、研发实力和市场占有率都排名国内行业首位，是中国分析仪器行业的龙头企业。　　重庆计量质量检测研究院是重庆市政府设置的国家法定计量检定、质量检验、校准测试研究机构，为副局级社会公益型非盈利性事业单位，具有独立的法律地位和第三方公正性，是经国家计量考核和认证的国家法定检测机构，也是经中国实验室国家认可委员会认可的检测/校准实验室。　　随着我国经济的发展和产业技术的升级，各行业对于金属材料的品质要求、新材料的开发也在不断提高，使得冶炼、铸造、加工等整个金属材料产业链对材料的研究分析以及产品的品质管理都提出了新的要求。如今传统的分析方法已经无法满足行业的需求，光电直读光谱分析技术在钢铁、有色金属、机械制造、第三方检测和行政执法等领域都得到广泛的应用。此次技术交流会应运而生，旨在为大家提供一个互相沟通、互相学习的平台，以促进整个产业的升级。　　本次交流会首先由聚光科技直读光谱仪M5000、电感耦合等离子体发射光谱仪ICP-5000的产品经理分别做产品及其在金属领域的应用介绍；随后，重庆计量质量检测研究院周西林老师针对光电直读光谱制样技术向现场的观众做了详细而精彩的报告；最后，聚光盈安的工程师还为现场观众带来了最前沿的现场快速分析检测技术——XRF手持光谱仪。丰富而专业的会议内容引起了观众的强烈共鸣，频频提问互动，现场气氛热烈活跃。聚光科技直读光谱仪M5000产品经理喻正宁为现场观众做报告重庆计量质量检测研究院周西林老师做光电直读光谱制样技术报告 观众现场积极提问参与互动　　此次交流会获得了与会观众的一致好评，同时也获得了很多用户反馈的意见和建议。后续聚光盈安还将继续开展线上、线下多种形式的技术交流会、技术培训会，为金属产品质量检测行业的广大工作者提供更高性能的设备，更完善的服务。

项目编号：GXZC2022-J1-002381-YZLZ（代理编号：YZLGL2022-J1-032-GXZC）项目名称：环境学院2022年一流学科电感耦合等离子体发射光谱仪等设备采购采购方式：竞争性谈判预算金额：A分标：人民币壹佰万元整（￥1000000.00）；B分标：人民币壹佰柒拾万元整（￥1700000.00）最高限价（如有）：无采购需求：（1）标的的名称、数量及单位：A分标：电感耦合等离子体发射光谱仪1套、原子荧光光度计1套；B分标：气相色谱-三重串联四极杆质谱联用仪1套；（2）简要技术需求或者服务要求：A分标：按国家有关产品“三包”规定执行“三包”，免费保修期不得少于1年（免费保修期从设备验收合格之日起计算，项目要求及技术需求中规定的，按规定执行）；B分标：按国家有关产品“三包”规定执行“三包”，免费保修期不得少于1年（免费保修期从设备验收合格之日起计算，项目要求及技术需求中规定的，按规定执行）。合同履行期限：A分标：自签订合同之日起90个工作日内到货并全部安装调试合格完毕；B分标：自签订合同之日起90个工作日内到货并全部安装调试合格完毕。本项目各分标均不接受联合体。

一、项目基本情况项目编号：GXZC2023-J1-000602-KLZB项目名称：电感耦合等离子体发射光谱仪、气质联用仪采购采购方式：竞争性谈判预算金额：280.0000000 万元（人民币）最高限价（如有）：280.0000000 万元（人民币）采购需求：序号标的的名称单位数量简要技术需求01电感耦合等离子体发射光谱仪台2简要技术需求见附件。具体内容详见本竞争性谈判文件02气质联用仪台3合同履行期限：自签订合同之日起60个日历天内供货安装调试验收完毕。本项目( 不接受 )联合体投标。二、获取采购文件时间：2023年04月03日 至 2023年04月07日，每天上午8:00至12:00，下午12:00至21:00。（北京时间，法定节假日除外）地点：“政采云”平台（https://www.zcygov.cn）方式：网上下载。本项目不发放纸质文件，供应商可自行在本公告“七、其他补充事宜”网上查询地址中的信息公告处下载采购文件。电子响应文件制作需要基于“政采云”平台（http：//www.zcygov.cn）获取的采购文件编制，拟参与本项目的供应商需使用账号登录或者使用CA登录“政采云”平台-进入“项目采购”应用，在获取采购文件菜单中选择项目，获取采购文件。售价：￥0.0 元（人民币）三、凡对本次采购提出询问，请按以下方式联系。1.采购人信息名 称：广西大学地址：广西南宁市大学东路100号联系方式：肖老师，0771-32741212.采购代理机构信息名称：广西科联招标中心有限公司地址：广西南宁市西乡塘区大学东路170号联系方式：杨工 0771-34862363.项目联系方式项目联系人：杨工电话：0771-3486236

项目概况深圳市清新电源研究院--电感耦合等离子体发射光谱仪 招标项目的潜在投标人应在深圳市福田区深南大道6008号深圳特区报业大厦31F获取招标文件，并于2022年01月27日 14点30分（北京时间）前递交投标文件。一、项目基本情况项目编号：LD2022EP-SZA002项目名称：深圳市清新电源研究院--电感耦合等离子体发射光谱仪预算金额：70.0000000 万元（人民币）采购需求：电感耦合等离子体发射光谱仪采购。合同履行期限：见招标文件本项目( 不接受 )联合体投标。二、申请人的资格要求：1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定；2.落实政府采购政策需满足的资格要求：见招标文件3.本项目的特定资格要求：2.1？？具有独立承担民事责任能力的在中华人民共和国境内注册的法人或其他组织（提供法人或者其他组织的营业执照等证明文件）；2.2？？投标人为制造商须提供合法生产、销售所投产品的相关证明，投标人为代理商投标的须提供制造商合法销售代理证明并同时提供制造商合法生产、销售所投产品的相关证明。2.3？？投标截止时间前，投标人未被列入失信被执行人、重大税收违法案件当事人名单、政府采购严重违法失信行为记录名单（招标机构将通过“信用中国”网站（www.creditchina.gov.cn）、中国政府采购网（www.ccgp.gov.cn）渠道查询相关主体信用记录）；2.4 投标人参与本项目招投标活动时其经营活动中不存在重大违法记录；2.5？？本项目不接受联合体投标。三、获取招标文件时间：2022年01月07日 至 2022年01月14日，每天上午9:00至11:30，下午14:00至17:00。（北京时间，法定节假日除外）地点：深圳市福田区深南大道6008号深圳特区报业大厦31F方式：现场购买或国内银行汇款邮购。现场购买：供应商代表携营业执照（核验原件，留复印件，复印件加盖公章）及法人代表授权委托书，至招标机构填写《投标报名登记表》办理报名手续。如需邮购，请于办理汇款手续后，传真前款有关资料、汇款单及《投标报名登记表》至招标机构。售价：￥500.0 元，本公告包含的招标文件售价总和四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点提交投标文件截止时间：2022年01月27日 14点30分（北京时间）开标时间：2022年01月27日 14点30分（北京时间）地点：深圳市福田区深南大道6008号深圳特区报业大厦31F深圳龙达招标有限公司开标厅五、公告期限自本公告发布之日起5个工作日。六、其他补充事宜采购公告查询：http://www.szldzb.com （深圳龙达招标网）http://www.cebpubservice.com （中国招标投标公共服务平台）http://www.ccgp.gov.cn （中国政府采购网）七、对本次招标提出询问，请按以下方式联系。1.采购人信息名 称：深圳市清新电源研究院　　　　　地址：/　　　　　　　　联系方式：/　　　　　　2.采购代理机构信息名 称：深圳龙达招标有限公司　　　　　　　　　　　　地　址：深圳市福田区深南大道6008号深圳特区报业大厦31F　　　　　　　　　　　　联系方式：陈康 王上锋0755-83864290　　　　　　　　　　　　3.项目联系方式项目联系人：陈康电　话：　　0755-83864290

安捷伦科技隆重推出新一代双向观测原子发射光谱仪以其前所未有的性能应对复杂应用的挑战创新的ICP-OES系统，分析样品更快速、使用气体更节省 2014年7月1日，北京——安捷伦科技公司（纽约证交所：A）于今日隆重推出Agilent 5100电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES），借此巩固其作为原子光谱仪领域创新者的地位。即使面对最复杂的样品，全新的系统都能更快速地分析样品，使用气体更节省，且不会影响其分析性能。这款全新的仪器是实验室进行食品、环境、药物检测以及采矿和工业应用的理想选择。 安捷伦光谱产品副总裁 Philip Binns表示：“新系统避免了与传统的双向观测分析相关的速度和稳定性方面常见的影响。作为ICP-OES领域性能领导企业，安捷伦此次又为行业标准树立了新的标杆。” 传统的双向观测系统需要对每个样品进行多达四次的连续测量，而Agilent 5100仅需一次，这得益于它创新的智能光谱组合技术和垂直火炬同步双向观测技术。这些创新可让客户以更快的速度、更高的准确度和易用性进行分析，大大节省了时间和运行成本。 Philip Binns继续表示：“安捷伦的目标始终都是提供最快速、最高效的原子光谱系统，以应对最复杂的样品。今年，随着4200 MP-AES、7900 ICP-MS，以及如今5100 ICP-OES 的陆续面世，我们继续在元素分析的创新方面引领着行业发展，这也印证了我们致力于根据客户的应用需求提供最佳工具的一贯承诺。” Philip Binns强调，Agilent 5100 ICP-OES分析每个样品的分析速度比市场上与之竞争的ICP-OES系统快55%，所需气体仅有其50%。他补充道：“市场上暂时还没有其它系统可以超越5100 ICP-OES的性能、抑或是其低运行成本的优势。” 借助Agilent 5100 ICP-OES，客户可使用直观的ICP Expert软件和智能光谱组合技术来实现方法开发。客户一次即可测量所有波长，具有极高的精密度，且无任何延迟。Agilent 5100 ICP-OES系统的垂直炬管可以应对最具挑战性的样品（从高基质样品到挥发性有机溶剂），并且分析结果具有高度可靠性。 Agilent 5100有三种配置，均配备耐用的垂直炬管，由此可以帮助客户实现： 同步垂直双向观测（SVDV）能够以最少的气体用量提供最快的分析速度；垂直双向观测（VDV）可提供高通量，如需更高通量，可现场升级至SVDV配置；径向观测（RV）是需要快速、高性能径向 ICP-OES 的实验室的理想选择。关于安捷伦科技 安捷伦科技公司（纽约证交所：A）是全球领先的测试测量公司，同时也是化学分析、生命科学、诊断、电子和通信领域的技术领导者。公司拥有20,600名员工，遍及全球100多个国家，为客户提供卓越服务。在2013财年，安捷伦的净收入达到68亿美元。了解关于安捷伦的详细信息，请访问www.agilent.com.cn。 安捷伦于2013年9月19日正式宣布拆分为两家上市公司，并通过免税剥离方式拆分出电子测量公司。新的电子测量公司名称为Keysight Technologies（是德科技）。预计整个拆分将于2014年11月初完成。

摘要：本文首先简单回顾了辉光放电光谱仪（Glow Discharge Optical Emission Spectrometry，GDOES）的发展历程及特性，然后通过实例介绍了GDOES在微米涂层以及纳米超薄膜层深度剖析中的应用，并简介了深度谱定量分析的混合-粗糙度-信息深度（MRI）模型，最后对GDOES深度剖析的发展方向作了展望。1 GDOES发展历程及特性辉光放电发射光谱仪应用于表面分析及深度剖析已经有近100年的历史。辉光放电装置以及相关的光谱仪最早出现在20世纪30年代，但直到六十年代才成为化学分析的研究重点。1967年Grimm引入了“空心阳极-平面阴极”的辉光放电源[1]，使得GDOES的商业化成为可能。随后射频（RF）电源的引入，GDOES的应用范围从导电材料拓展到了非导电材料，而毫秒或微秒级的脉冲辉光放电(Pulsed Glow Discharges，PGDs)模式的推出，不仅能有效地减弱轰击样品时的热效应，同时由于PGDs可以使用更高激发功率，使得激发或电离过程增强，大大提高了GDOES测量的灵敏程度，极大推动了GDOES技术的进步以及应用领域的拓展。GDOES被广泛应用于膜层结构的深度剖析，以获取元素成分随深度变化的关系。相较于其它传统的深度剖析技术，如俄歇电子能谱（AES）、X射线光电子能谱（XPS）和二次离子质谱（SIMS）或二次中性质谱（SNMS），GDOES具有如下的独特性[2]：（1）分析样品材料的种类广，可对导体/非导体/无机/有机…膜层材料进行深度剖析，并可探测所有的元素(包括氢)；（2）分析样品的厚度范围宽，既可对微米量级的涂层/镀层，也可对纳米量级薄膜进行深度剖析；（3）溅射速率高，可达到每分钟几微米；（4）基体效应小，由于溅射过程发生在样品表面，而激发过程在腔室的等离子体中，样品基体对被测物质的信号几乎不产生影响；（5）低能级激发，产生的谱线属原子或离子的线状光谱，因此谱线间的干扰较小；（6）低功率溅射，属层层剥离，深度分辨率高，可达亚纳米级；（7）因为采用限制式光源，样品激发时的等离子体小，所以自吸收效应小，校准曲线的线性范围较宽；（8）无高真空需求，保养与维护都非常方便。基于上述优势，GDOES被广泛应用于表征微米量级的材料表面涂层/镀层、有机膜层的涂布层、锂电池电极多层结构和用于其封装的铝塑膜层、以及纳米量级的功能多层膜中元素的成分分布[3-6]，下面举几个具体的应用实例。2 GDOES深度剖析应用实例2.1 涂层的深度剖析用于材料表面保护的涂层或镀层、食品与药品包装的柔性有机基材的涂布膜层、锂电池的多层膜电极，以及用于锂电池包装的铝塑膜等等的膜层厚度一般都是微米量级，有的膜层厚度甚至达到百微米。传统的深度剖析技术，如AES，XPS和SIMS显然无法对这些厚膜层进行深度剖析，而GDOES深度剖析技术非常适合这类微米量级厚膜的深度剖析。图1给出了利用Horiba-Profiler 2（一款脉冲—射频辉光放电发射光谱仪—Pulsed-RF GDOES，以下深度谱的实例均是用此设备测量），在Ar气压700Pa和功率55w条件下，测量的表面镀镍的铁箔GODES深度谱，其中的插图给出了从表面到Ni/Fe界面各元素的深度谱，测量时间与深度的转换是通过设备自带的激光干涉仪（DIP）对溅射坑进行原位测量获得。从全谱来看，GDOES测量信号强度稳定，未出现溅射诱导粗糙度或坑道效应（信号强度随溅射深度减小的现象，见下），这主要是因为铁箔具有较大的晶粒尺寸。同时还可以看到GDOES可连续测量到~120μm，溅射速率达到4.2μm/min（70nm/s）。从插图来看， Ni的镀层约为1μm，在表面有~100nm的氧化层，Ni/Fe界面分辨清晰。图1 表面镀镍铁箔的GODES深度谱，其中的插图给出了从表面到Ni/Fe界面的各元素的深度谱图2给出了在氩-氧（4 vol%）混合气气压750Pa、功率20w、脉冲频率3000Hz、占空比0.1875条件下，测量的用于锂电池包装铝塑膜（总厚度约为120μm）的GODES深度谱，其中的插图给出了铝塑膜的层结构示意图[7]。可以看出有机聚酰胺层主要包含碳、氮和氢等元素。在其之下碳、氮和氢元素信号的强度先降后升，表明在聚酰胺膜层下存在与其不同的有机涂层—粘胶剂，所含主要元素仍为碳、氮和氢。同时还可以看出在粘胶剂层下面的无机物（如Al，Cr和P）膜层，其中Cr和P源于为提高Al箔防腐性所做的钝化处理。很明显，图2测量的GDOES深度谱明确展现了锂电池包装铝塑膜的层结构。实验中在氩气中引入4 vol%氧气有助于快速溅射有机物的膜层结构，同时降低碳、氮信号的相对强度，提高了无机物如铬信号的相对强度，非常适合于无机-有机多层复合材料的结构分析，而在脉冲模式下，选用合适的频率和占空比，能够有效地散发溅射产生的热量，从而避免了低熔点有机物的碳化。图2一款锂电池包装铝塑膜的GDOES溅射深度谱，其中的插图给出了铝塑膜的层结构示意图[7]2.2 纳米膜层及表层的深度剖析纳米膜层，特别是纳米多层膜已被广泛应用于光电功能薄膜与半导体元器件等高科技领域。虽然传统的深度剖析技术AES，XPS和SIMS也常常应用于纳米膜层的表征，但对于纳米多层膜，传统的深度剖析技术很难对多层膜整体给予全面的深度剖析表征，而GDOES不仅可以给予纳米多层膜整体全面的深度剖析表征，而且选择合适的射频参数还可以获得如AES和SIMS深度剖析的表层元素深度谱。图3给出了在氩气气压750Pa、功率20w、脉冲频率1000Hz、占空比0.0625条件下，测量的一款柔性透明隔热膜（基材为PET）的GODES深度谱，如图3a所示，其中最具特色的就是清晰地表征了该款隔热膜最核心的三层Ag与AZO（Al+ZnO）共溅射的膜层结构，如图3b Ag膜层的GDOES深度谱所示。根据获得的溅射速率及Ag的深度谱拟合（见后），前两层Ag的厚度分别约为5.5nm与4.8nm[8]。很明显，第二层Ag信号较第一层有较大的展宽，相应的强度值也随之下降，这是源于GDOES对金属膜溅射过程中产生的溅射诱导粗糙度所致。图3（a）一款柔性透明隔热膜GDOES深度谱；（b）其中Ag膜层GDOES深度谱[8]图4给出了在氩气气压650Pa、功率20w、脉冲频率10000Hz、占空比0.5的同一条件下，测量的SiO2(300nm)/Si(111)标准样品和自然生长在Si(111)基片上SiO2样品的GODES深度谱[9]。如果取测量深度谱的半高宽为膜层的厚度，由此得到标准样品SiO2层的溅射速率为6.6nm/s（=300nm/45.5s），也就可以得到自然氧化的SiO2膜层厚度约为1nm（=6.6nm/s*0.15s）。所以，GDOES完全可以实现对一个纳米超薄层的深度剖析测量，这大大拓展了GDOES的应用领域，即从传统的钢铁镀层或块体材料的成分分析拓展到了对纳米薄膜深度剖析的表征。图4 （a）SiO2(300nm)/Si(111)标准样品与（b）自然生长在Si(111)基片上SiO2样品的GDOES深度谱[9]3 深度谱的定量分析3.1 深度分辨率对测量深度谱的优与劣进行评判时，深度分辨率Δz是一个非常重要的指标。传统Δz(16%-84%)的定义为[10]：对一个理想（原子尺度）的A/B界面进行溅射深度剖析时，当所测定的归一化强度从16%上升到84%或从84%下降到16%所对应的深度，如图5所示。Δz代表了测量得到的元素成分分布和原始的成分分布间的偏差程度，Δz越小表示测量结果越接近真实的元素成分分布，测量深度谱的质量就越高。但是随着科技的发展，应用的薄膜越来越薄，探测元素100%（或0%）的平台无法实现，就无法通过Δz(16%-84%)的定义确定深度分辨率，而只能通过对测量深度谱的定量分析获得（见下）。图5深度分辨率Δz的定义[10]3.2 深度谱定量分析—MRI模型溅射深度剖析的目的是获取薄膜样品元素的成分分布，但溅射会改变样品中元素的原始成分分布，产生溅射深度剖析中的失真。溅射深度剖析的定量分析就是要考虑溅射过程中，可能导致样品元素原始成分分布失真的各种因素，提出相应的深度分辨率函数，并通过它对测量的深度谱数据进行定量分析，最终获取被测样品元素在薄膜材料中的真实分布。对于任一溅射深度剖析实验，可能导致样品原始成分分布失真的三个主要因素源于：①粒子轰击产生的原子混合（atomic Mixing）；②样品表面和界面的粗糙度（Roughness）；③探测器所探测信号的信息深度（Information depth）。据此Hofmann提出了深度剖析定量分析著名的MRI深度分辨率函数[11]： 其中引入的三个MRI参数：原子混合长度w、粗糙度和信息深度λ具有明确的物理意义，其值可以通过实验测量得到，也可以通过理论计算得到。确定了分辨率函数，测量深度谱信号的归一化强度I/Io可表示为如下的卷积[12]： 其中z'是积分参量，X(z’)为原始的元素成分分布，g(z-z’)为深度分辨率函数，包含了深度剖析过程中所有引起原始成分分布失真的因素。MRI模型提出后，已被广泛应用于AES，XPS，SIMS和GDOES深度谱数据的定量分析。如果假设各失真因素对深度分辨率影响是相互独立的，相应的深度分辨率就可表示为[13]：其中r为择优溅射参数，是元素A与B溅射速率之比（）。3.3 MRI模型应用实例图6给出了在氩气气压550Pa、功率17w、脉冲频率5000Hz、占空比0.25条件下，测量的60 Mo (3 nm)/B4C (0.3 nm)/Si (3.7 nm) GDOES深度谱[14]，结果清晰地显示了Mo (3 nm)/B4C (0.3 nm)/Si (3.7 nm) 膜层结构，特别是分辨了仅0.3nm的B4C膜层， B和C元素的信号其峰谷和峰顶位置完全一致，可以认为B和C元素的溅射速率相同。为了更好地展现拟合测量的实验数据，选择溅射时间在15~35s范围内测量的深度剖析数据进行定量分析[15]。图6 60×Mo (3 nm)/B4C (0.3 nm)/Si (3.7 nm) GDOES深度谱[14]利用SRIM 软件[16]估算出原子混合长度w为0.6 nm，AFM测量了Mo/B4C/Si多层膜溅射至第30周期时溅射坑底部的粗糙度为0.7nm[14]，对于GDOES深度剖析，由于被测量信号源于样品最外层表面，信息深度λ取为0.01nm。利用（1）与（2）式，调节各元素的溅射速率，并在各层名义厚度值附近微调膜层的厚度，Mo、Si、B（C）元素同时被拟合的最佳结果分别如图7（a）、（b）和（c）中实线所示，对应Mo、Si、B(C)元素的溅射速率分别为8.53、8.95和4.3nm/s，拟合的误差分别为5.5%、6.7%和12.5%。很明显，Mo与Si元素的溅射速率相差不大，但是B4C溅射速率的两倍，这一明显的择优溅射效应是能分辨0.3nm-B4C膜层的原因。根据拟合得到的MRI参数值，由（3）式计算出深度分辨率为1.75 nm，拟合可以获得Mo/B4C/Si多层薄膜中各个层的准确厚度，与HR-TEM测定的单层厚度基本一致[15]。图7 测量的GDOES深度谱数据(空心圆)与MRI最佳拟合结果(实线)：(a) Mo层，(b) Si层，(c) B层；相应的MRI拟合参数列在图中[15]。4 总结与展望从以上深度谱测量实例可以清楚地看到，GDOES深度剖析的应用非常广泛，可测量从小于1nm的超薄薄膜到上百微米的厚膜；从元素H到Lv周期表中的所有元素；从表层到体层；从无机到有机；从导体到非导体等各种材料涂层与薄膜中元素成分随深度的分布，深度分辨率可以达到~1nm。通过对测量深度谱的定量分析，不仅可以获得膜层结构中原始的元素成分分布，而且还可以获得元素的溅射速率、膜层间的界面粗糙度等信息。虽然GDOES深度剖析技术日趋完善，但也存在着一些问题，比如在GDOES深度剖析中常见的溅射坑底部凸凹不平的“溅射坑道效应”（溅射诱导的粗糙度），特别是对多晶金属薄膜的深度剖析尤为明显，这一效应会大大降低GDOES深度谱的深度分辨率。消除溅射坑道效应影响一个有效的方法就是引入溅射过程样品旋转技术，使得各个方向的溅射均等。此外，缩小溅射（分析）面积也是提高溅射深度分辨率的一种方法，但需要考虑提高探测信号的强度，以免降低信号的灵敏度。另外，GDOES深度剖析的应用软件有进一步提升的空间，比如测量深度谱定量分析算法的植入，将信号强度转换为浓度以及溅射时间转换为溅射深度算法的进一步完善。作者简介汕头大学物理系教授 王江涌王江涌，博士，汕头大学物理系教授。现任广东省分析测试协会表面分析专业委员会副主任委员、中国机械工程学会高级会员、中国机械工程学会表面工程分会常务委员；《功能材料》、《材料科学研究与应用》与《表面技术》编委、评委。研究兴趣主要是薄膜材料中的扩散、偏析、相变及深度剖析定量分析。发表英文专著2部，专利十余件，论文150余篇，其中SCI论文110余篇。代表性成果在《Physical Review Letters》，《Nature Communications》，《Advanced Materials》，《Applied Physics Letters》等国际重要期刊上发表。主持国家自然基金、科技部政府间国际合作、广东省科技计划及横向合作项目十余项。获2021年广东省科技进步一等奖、2021年广东省高校科研成果转化路演赛“新材料”小组赛一等奖、2021年粤港澳高价值大湾区专利培育布局大赛优胜奖、2020年广东省高校科研成果转化路演赛“新材料”小组赛一等奖、总决赛一等奖。昆山书豪仪器科技有限公司总经理 徐荣网徐荣网，昆山书豪仪器科技有限公司总经理，昆山市第十六届政协委员；曾就职于美国艾默生电气任职Labview设计工程师、江苏天瑞仪器股份公司任职光谱产品经理。2012年3月，作为公司创始人于创立昆山书豪仪器科技有限公司，2019年购买工业用地，出资建造12300平方米集办公、研发、生产于一体的书豪产业化大楼，现已投入使用。曾获2020年朱良漪分析仪器创新奖青年创新入围奖；2019年昆山市实用产业化人才；2019年江苏省科技技术进步奖获提名；2017年《原子发射光谱仪》“中国苏州”大学生创新创业大赛二等奖；2014年度昆山市科学技术进步奖三等奖；2017年度昆山市科学技术进步奖三等奖；多次获得昆山市级人才津贴及各类奖励项目等。主持研发产品申请的已授权专利47项专利，其中发明专利 4 项，实用新型专利 25项，外观专利7项，计算机软件著作权 11项。论文2篇《空心阴极光谱光电法用于测定高温合金痕量杂质元素》，《Application of Adaptive Iteratively Reweighted Penalized Least Squares Baseline Correction in Oil Spectrometer 》第一编著人；主持编著的企业标准4篇；承担项目包括3项省级项目、1项苏州市级项目、4项昆山市级项目；其中：旋转盘电极油料光谱仪获江苏省工业与信息产业转型升级专项资金--重大攻关项目（现已成功验收，获政府补助660万元）、江苏省首台（套）重大装备认定、江苏省工业与信息产业转型升级专项资金项目、苏州市姑苏天使计划项目等；主持研发并总体设计的《HCD100空心阴极直读光谱仪》、《AES998火花直读光谱仪》、《FS500全谱直读光谱仪》《旋转盘电极油料光谱仪OIL8000、OIL8000H、PO100》均研发成功通过江苏省新产品新技术鉴定，实现了产业化。参考文献：[1] GRIMM, W. 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2022年8月11日，中国材料与试验团体标准委员会（CSTM 标准委员会）批准发布中国材料与试验团体标准《材料实验数据 火花放电原子发射光谱数据要求》。无锡创想分析仪器有限公司与多家单位共同起草了此份文件。无锡创想分析仪器有限公司受邀与多家联合起草此份标准文件。单位有钢铁研究总院有限公司、国家市场监督管理总局认证认可技术研究中心、北京中实国金国际实验室能力验证研究有限公司、北京科技大学、上海交通大学、杭州谱育科技发展有限公司、哈尔滨威尔焊接有限责任公司、日立分析仪器（上海）有限公司、意大利 GNR 公司、岛津企业管理（中国）有限公司、赛默飞世尔科技（中国）有限公司、钢研纳克检测技术股份有限公司、中关村材料试验技术联盟。火花放电原子发射光谱在冶金、地质、机械、化工、农业、环保、食品、医药等领域应用广泛，特别是在钢铁及有色金属的冶炼中控制冶炼工艺具有极其重要的地位。火花放电原子发射光谱可直接输出数值型结果，简单便捷。目前火花放电原子发射光谱行业内已累积大量实验数据，但关于火花放电原子发射光谱数据存储无统一模板，存储形式多样，现有数据难以汇总。本文件按《材料数据标准体系》的结构框架总体要求，以T/CSTM 00796《材料实验数据 通用要求》为准则，制定的火花放电原子发射光谱材料实验数据标准。规范了火花放电原子发射光谱数值类实验数据存储的一般要求以及其他实验参数数据信息，包括样品信息、仪器参数、工作参数、分析结果、解析数据。文件的实施，有助于实现火花放电原子发射光谱数值类实验数据的规范化管理和质量保证，将数据库技术与大数据技术研究密切融合，推进材料高质量地发展。

利用高精度直接驱动马达的驱动方式有效提高了精度和测量效率 　精工电子纳米科技有限公司（简称：SIINT，社长：川崎贤司，总公司：千叶县千叶市）是精工电子有限公司（简称：SII，社长：新保雅文，总公司：千叶县千叶市）的全资子公司。公司的最新产品—利用高精度直接驱动马达的驱动方式，兼备高精度和高效率测量的ICP等离子体发射光谱仪（ICP-OES或ICP-AES※1）「SPS3500DD系列」将于8月4日正式开始销售。ICP等离子体发射光谱仪　SPS3500DD系列 　ICP-OES能够对应从ppm（百万分率）到ppb（十亿分率）级别的分析。由于可进行元素的精密分析，因此被很多法定法规所采用。其应用特别是在近年来极其关注的稀有金属和稀土类元素分析的领域，另外也广泛应用在电子仪器中的环境管制物质的管理、电镀、工业材料、钢铁等高共存元素样品中的组成分析以及品质管理。　以往的SPS3500是通过旋转驱动光栅，对元素所发出的特征光线进行分离，来对样品中所含有的各种元素进行精密分析的扫描型ICP-OES。过去为了驱动光栅，使用的是滚珠丝杠和斜口滑块等几个部件组合起来的正弦设定方式。因此，在测量的精度和效率方面就有所限制。此次新开发的「SPS3500DD系列」，使用新开发的直接驱动马达来直接驱动光栅，避免了一些无用的机械动作，使得高精度・ 高效率的测量成为可能。与过去的驱动方式相比，其波长位置精度提高了5倍，定性分析提高约6倍，大大提高了测量的效率。　此外，由于「SPS3500DD系列」可更大角度地驱动高分辨率光栅，可对长达460nm波长范围进行分析，而其中有着很多需要利用高灵敏度分析线才能分析的稀土类元素镨、钕、钐等元素，也能够进行高分辨率的测量。并且，通过直接驱动马达方式，最小驱动波长单位为2pm，通过一次测量，进行全波长能谱的广域波长分析。测定结束后，能够对广域波长的能谱进行局部扩大并进行观察。特别是在未知样品的元素干扰分析方面，是非常有效的。【SPS3500DD系列的主要特征】 (1) 实现高精度分析光栅的驱动无需使用正弦设定、滚珠丝杠等辅助部件，通过直接驱动马达直接驱动。因此、基本不会受到各部件的热膨胀等影响，可进行高精度的分析。(2) 可进行快速测量由于可以快速驱动（以往的10倍以上）分光的光栅，全元素定性测量所花的时间只是以往的约1/6。同时也可减少样品的消耗量。(3) 可测量广域波长通过采用高分辨率直接驱动马达，增加了对任意设定广域连续能谱进行高分辨率的获取功能。可进行全元素、全波长的能谱确认和以此信息为基本的定性判断。也可简单地设定含有复杂的共存元素的样品的测量条件。(4) 高分辨率测量由于采用了直接驱动马达，光栅的角度就没有限制了。可大角度驱动高分辨率的光栅（4320根/mm），所以可在以往不可能达到的450nm附近的波长进行高分辨率测量。通过采用4320根/mm光栅，实现了世界顶尖水平的分辨率0.0045nm，可精确测量金属等的共存元素高的样品。(5) 定性分析功能的充实可选择快速定性分析和高精度定性分析等定性分析方法。根据样品内容和目的可进行广泛的对应。(6) 紧凑型设计与以往机型同样，采用的是分光器竖着配置，高频电源和循环冷却水装置内置在主机内的一体化紧凑型设计。 【价格】　1700万日元～（不含税）【预定销售台数】　100台（2011年度） 本产品的咨询方式中国：精工盈司电子科技(上海)有限公司TEL：021-50273533FAX：021-50273733MAIL：sales@siint.com.cn日本：【媒体宣传】精工电子有限公司综合企划本部 秘书广告部【客户】精工电子纳米科技有限公司分析营业部 营业二科TEL: 03-6280-0077（直线）MAIL：info@siint.co.jp

双顺序扫描型单色器装置确保尖锐的谱线和稳定性这是一款高性能的ICP发射光谱仪，配置了顺序型双单色器，拥有高分辨率及快速的特点，并且提供了多种的进样系统。仪器易于操作，适用于研发和质量控制。高分辨率（0.0045 nm）高分辨率可满足金属、稀土和土壤分析的要求，可对目标分析物提供精细准确至痕量水平的高分辨率分析，并且不受干扰物质或者主要成分的影响。真空型光室可提供长期稳定的测量真空光室可对S, B, I, Al和其他在真空紫外线区域拥有很高灵敏度分析线的成分进行高灵敏度分析。由于不需要气体吹扫，因此可减少气体对流时的波动和污染。所需稳定时间短，并能确保长时间分析的稳定性分析铁中的锌和砷。登记样品名称并用已设定好的分析条件开始分析。分析条件很容易改变，并可设置到常规条件中。分析结果可用商业软件以报告的形式打开。

仪器信息网讯 2011年10月12-15日，第十四届北京分析测试学术报告会及展览会(BCEIA 2011)在北京展览馆隆重举行。为让广大网友及仪器用户深入了解BCEIA 2011仪器新品动态，仪器信息网特别开展了以“盘点行业新品 聚焦最新技术”为主题大型视频采访活动，力争将科学仪器行业最新创新产品、最新技术进展及最具有代表性应用解决方案直观地呈现给业内人士。以下是仪器信息网编辑采访斯派克ICP发射光谱仪新产品的视频。 　　德国斯派克分析仪器公司是目前世界上最大的原子发射光谱仪生产厂家。自1979年成立以来，在继承了德国优质光学仪器制造传统的同时，凭借独特的先进技术和稳定可靠的质量以及周到的售后服务，使其始终处于世界发射光谱技术的领先地位。目前，已经向全世界用户提供了超过30000台的各类光谱仪，在中国也有5000多台仪器在运行使用。　　在采访中，斯派克XRF/ICP经理曹海波先生向我们介绍了ICP发射光谱仪新产品情况。　　“SPECTRO BULE是2011年9月份在日本JAIMA上首发的产品，其是SPECTRO ARCOS的改进版，是定位于中低端市场的产品。其检出限比SPECTRO ARCOS的还低，且外形非常亮丽。该产品的推出使得斯派克的ICP发射光谱仪产品线更加完整，覆盖了高、中、低端市场。”

稀土元素是现代科技中不可或缺的元素，在磁性激光、光纤通信、新能源、超导、航天航空、军事国防等领域有着不可替代的作用，是21世纪重要的战略元素。6月27日，北京高压科学研究中心研究员丁阳带领的国际研究团队在高压稀土金属价态转变研究领域获突破性进展。相关研究以《80 GPa左右单质金属铕(Eu)的新价态转变》为题发表于《物理评论快报》（Physical Review Letters）。 价态转变—价电子数的变化，是稀土金属及其化合物中普遍存在的物理现象，反映了局域4f电子在外界（比如压力、掺杂、温度）作用下向非局域化转化的过程，而这种非局域化转化标志着材料中大规模电子关联的开始。在此过程中，由于局域电子和非局域价电子之间的竞争等相互作用，稀土元素会衍生出许多奇异的量子现象，如价态转变、金属到绝缘体的转变、超导等，而这些都会极大影响稀土元素的磁、光、电等物理性质。因此揭示这些变化机制，将为设计研制面向国家战略需求的量子演生新材料，促进新型功能器件诞生及推动新能源产业升级提供巨大机遇。 在该研究中，研究人员使用同步辐射X射线共振发射光谱和X射线衍射技术，探测了Eu在高压下的电子和晶体结构变化，压力高达160万大气压。他们发现，在约80万大气压的压缩下，Eu中也发生了明显的价态变化，而且价态转变恰好与Eu在相同压力下的晶体结构变化相吻合；并提出Eu中这种电子重构归因于所谓的Promotional模型—4f轨道的电子向5d导带的跃迁导致的结果，为研究稀土元素的价态变化提供了重要的实验依据和理论模型。 “共振X射线发射光谱(RXES)是迄今为止在高压下研究稀土元素价态变化的最强大的实验技术，它可以提供可靠的电子结构测量，从而使我们能够检测到Eu在高压下电子结构的变化。”丁阳说。 据了解，目前该实验成果也是国内首次利用共振X射线发射光谱在如此高的压力下研究稀土元素4f 的电子结构，极大推进了高压调控4f电子研究的发展，同时也为我国同步辐射谱学技术的发展提供了重要参考。 据悉，北京高压科学研究中心博士后陈碧娟博士为该文第一作者，北京高压科学研究中心研究员丁阳和陕西师范大学的昌峻研究员为通讯作者，合作单位包括流体物理研究所、北京应用物理与计算数学研究所、吉林大学、美国阿贡国家实验室、中国科学院物理研究所等。 相关工作得到了国家自然科学基金项目、挑战者计划、国家重点研发计划项目、美国DOE-NNSA’s Office of Experimental Sciences等联合资助。

长期以来，光谱分析法因其灵敏度高、受干扰影响小、不需要大量的实验样品、分析速度快、应用范围广泛、定性结果准确等优点被广泛应用于岩石矿物、土壤、金属产品等多种样品成分分析。地质矿产部门通过岩石矿物的光谱半定量分析法承担大量岩石矿物的测试任务，长期以来，分析工作者通过光谱半定量分析法为寻找化学矿区、区域地质普查提供了大量数据。通过数据分析可以寻找优质矿石，查明矿石的大致成分，为如何开采矿石提供参考。2023年8月24日，由国家地质实验测试中心主办期刊《岩矿测试》、仪器信息网联合主办的新一期“现代地质及矿物分析测试技术与应用”网络研讨会将召开。期间，山东省地质科学研究院所长/研究员赵伟将分享报告，介绍发射光谱和原子吸收光谱技术在矿产样品分析中的应用。欢迎大家报名参会，在线交流。附：“现代地质及矿物分析测试技术与应用”网络研讨会 参会指南1、进入会议官网（https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/geoanalysis230824/）进行报名。扫描下方二维码，进入会议官网报名2、报名开放时间为即日起至2023年8月23日。3、报名并审核通过后，将以短信形式向报名手机号发送在线听会链接。4、本次会议不收取任何注册或报名费用。5、会议联系人：高老师（电话：010-51654077-8285 邮箱：gaolj@instrument.com.cn）6、赞助联系人：张老师（电话：010-51654077-8309 邮箱：zhangjy@instrument.com.cn）

在过去的近百年里，电子显微镜在现代材料科学研究中起着不可或缺的作用。随着电子显微镜技术的发展，能量色散光谱（EDS）、波长色散光谱仪（WDS）以及电子能量损失谱（EELS）等基于电子显微镜的光谱分析手段不断涌现。在电镜空间分辨率的基础上，这些光谱分析手段为电镜表征又赋予了能量分辨率的维度，通过将两者相融合，电镜技术得以在分析过程中获得高能量分辨率和高空间分辨率并存的结果。近年来，随着先进光谱分析手段的发展，出现了一种基于电镜且十分便捷高效的X射线发射光谱分析方法：软X射线发射光谱（SXES）。吉林大学张伟教授在国内、乃至国际，较早的围绕SXES展开了系列研究，并取得了诸多亮眼成果。近三十年，张伟教授围绕电镜，在诸多材料体系均有代表性成果产出，这不仅基于他对电子显微学的热爱，也离不开对电镜技术的“敏感”。近日，仪器信息网有幸采访了张伟教授，请其分享了SXES技术的最新进展与应用潜力，也聆听了其与电镜的故事。张伟，吉林大学电子显微镜中心主任、材料科学与工程学院“唐敖庆学者”领军教授。现任吉林省电子显微镜学会理事长、英国皇家化学会会士（2022），科睿唯安“全球高被引科学家榜单”（2023，交叉学科）。关注电化学能源存储/转换材料的表/界面的化学和物理调控及与性能的构效关系，强调先进材料的电子显微分析。作为学术带头人引进人才来吉林大学工作前，先后在日本国立材料研究所、韩国三星综合技术研究院、德国Fritz-Haber研究所、丹麦技术大学、西班牙能源协作研究中心从事合作和独立的科学研究。2017年起先后任电子显微镜中心副主任、主任。2020年起任唐敖庆学者-领军教授。27载电镜魅力职业：既是技术手段，更是一门学问“热爱，往往收获意外的惊喜”1997年至2004年，张伟在我国电子显微学重要发展地之一的中国科学院金属研究所攻读硕士和博士，师从我国著名电子显微学专家李斗星研究员、隋曼龄教授。在此，张伟开始开展电镜相关研究，与电镜结缘，并对这个学科产生浓厚兴趣。2004年博士毕业以后又先后在多个国家从事合作和独立的科学研究。2014年开始到吉林大学工作。这十余年间，虽然研究的材料体系广泛、领域不同，但电镜都是最重要的研究手段或对象。回顾以往，“因为我可能经历的地方很多，当时我的直觉，在哪个地方离开的时候都要留下些什么”。在这种直觉和热爱驱动下，十余年的科研历程收获诸多“意外惊喜”，每个领域和阶段也都有一些值得回忆的成果。攻读博士期间，张伟专注于金属与合金的研究。利用电镜深入探索，通过快速加热的方法，发现了传统钛合金中一种特殊的相变形式——快速升温马氏体相变。由于马氏体相变在材料科学和凝聚态物理领域都扮演着至关重要的角色，这一成果在当时备受关注，不仅发表在应用物理快报上，还得到了中国科学院官方报纸科学时报的专门报道。在德国研究期间，基于团队自由的学术氛围，得以深入研究一些有趣的方向。在电镜中，张伟发现了一种超大单胞的表面终结状态，这在当时具有重大意义。传统观念上，透射电镜主要研究块体结构，但此研究成功挑战了表面研究的难题。通过调整衬度传递函数，结合先进球差电镜中的HAADF-STEM技术，揭示了超大单胞结构表面终结于非完整通道的现象，解决了团队长期关于侧面或表面态原子排布的争议。这一工作发表后，引起了广泛关注，并启发了后续相关的诸多研究。回顾这一发现，张伟认为这依旧是自己目前最具原创性的工作之一。随后在丹麦继续研究期间，张伟在电镜中随意观察石墨烯样品时，意外发现石墨烯上会留下痕迹，敏锐地意识到这可能是一种纳米书写工具。于是深入探究，最终发表了题为“以石墨烯为纸，电子束为墨”的纳米书写技术论文。发表后迅速受到国家科技日报海外头版头条报道，这一结果因他灵活的想法和电镜的作用而备受关注，也让张伟备受激励。回国后，张伟致力于能源存储领域研究，并与西班牙能源协作研究中心和韩国基础科学研究所合作，发现了氢氧化物赝电容超级电容器的新机制，即氢离子的嵌入脱出过程，而非传统认为的表面氧化还原反应。成果发表受到广泛关注，至今被引超过250多次。2019年诺贝尔化学奖获得者古迪纳夫教授甚至专门撰写文章评价了这一工作的重要意义。尽管运用了多种研究手段，但核心仍是张伟对电镜的敏锐洞察，通过观察特征形貌演变和电子衍射谱分析，发现了充电和放电结构的高度相似性，这一发现对后续研究起到了关键作用。张伟讲授“电子显微镜魅力职业”课堂一瞥问及在诸多材料体系中都有一定成果的原因，张伟讲到，“一个可能是我兴趣在，再有一个也确实热爱”。正如张伟曾经给本科生、研究生和留学生讲授几门相关的课程“材料科学测试方法”、“电子显微镜应用与实例分析”或讲座“电子显微镜魅力职业与追求”中所阐释的，电镜除了是生存手段，更成为喜欢的一个魅力职业。“双管齐下”的学科：电镜既是手段，更是一门学问在谈到电子显微学这门学科时，张伟认为，首先，电子显微学是一门实用性极强、应用范围广泛，起着为其他学科服务支撑的重要作用。但另外，电子显微学本身也蕴含了丰富的理论，是一门需要不断研究、探索和突破的学问。作为现代科研的重要支撑学科，电子显微学在材料物理化学等领域扮演着不可或缺的角色。无论是探索新现象、新机理，还是揭示物质结构，电镜都发挥着举足轻重的作用。通过电镜对材料的深入研究，科学家们得以发现许多未知的领域，为科学进步贡献着力量。回顾以往，许多革命性成果的获得，正是依赖于电子显微学的突破性发现。例如，碳纳米管、准晶的发现等，背后都离不开电子显微学的直接贡献。同时，随着电镜技术的飞速发展，空间分辨率、能量分辨率以及时间分辨率等方面都取得了前所未有的提高，这些进步离不开新的理论支撑。例如，空间分辨率方面，球差电镜如今已经能够达到0.5埃甚至0.4埃的尺度。然而，一篇物理快报中提到，如果能克服某些限制，分辨率甚至可以达到0.01埃以下。这些突破性的进展，都需要其他学科的研究支持，以实现对分辨率不断突破的目标。总之，电子显微学是一门“双管齐下”的学科。它在支撑其他学科发展的同时，也在自身领域内不断取得新的突破和进展。二者相辅相成，共同推动着电子显微学不断向前发展。张伟的科研工作也与电子显微学的以上两个特性十分契合，在不同材料体系中广泛应用电镜的同时，也在围绕一些电子显微技术进行系统研究。2017年，吉林大学成立电子显微镜中心，张伟先后任电子显微镜中心副主任、执行主任、主任，并开始“双肩挑”的工作。一方面继续在材料学院从事科研工作，一方面也在电镜中心负责管理行政工作，同时也开始“回归”电镜相关研究，希望能通过一些原创性工作，为电子显微学的发展做出一些贡献。其中，软X射线发射光谱的应用与发展就是张伟近来比较聚焦的一个研究方向。探索新方向：基于电镜，以高能量分辨率表征电子态信息的SXES技术SXES技术发展历程：一种高效表征键合电子态信息的光谱方法诞生X射线发射光谱（XES）属于X射线光谱学，其分析原理是入射电子束辐照内层能级电子使其激发，被激发的电子脱离原来稳定的系统，内壳层会存在空穴，此时整个系统处于一种不稳定的激发态。与此同时，外层电子会向内壳层的空穴发生跃迁（退激发De-excitation），从而促使X射线的发射，通过分析发射光子的能量可以获得相关材料的电子信息。X射线发射光谱有多种类型，其中，软X射线发射光谱（SXES）也可用于确定材料的电子结构。1924年，林德（Lindh）和伦德奎斯特（Lundquist）首次发表了关于X射线发射光谱的实验结果，随后X射线发射光谱被广泛应用在材料研究中。虽然这些早期研究提供了对小分子电子构型的基本见解，但X射线发射光谱直到在同步辐射设施提供高X射线强度束后才得到更广泛的应用。近年来，随着先进光谱分析手段的发展，出现了一种基于电子显微镜且十分便捷高效的X射线发射光谱分析方法：软X射线发射光谱（SXES）。SXES的能量分辨率和检出限分别可以达到0.3 eV和20 ppm，优于EDS（120-130 eV、5000 ppm）和WDS（8 eV、100 ppm）。这意味着SXES的诞生为研究更精细的材料电子结构提供了更多的可能性。SXES与WDS,EDS对比（参考日本电子数据，根据安装的装置不同而不同）SXES作为附着在电子显微镜上的光谱分析方法，其目标是获得更高的分辨率，为了达到超高的能量分辨率以及空间分辨率，该技术也经历了几代漫长的发展。2000年，日本东北大学M Terauchi等人开发了连接到透射电子显微镜的第一代亚电子伏特分辨率软X射线光谱仪（JEM 2000FX）。光谱仪由VLS光栅和冷却的CCD探测器组成。首次在TEM中以0.6 eV能量分辨率的特定样品区域观察到价带（VB）的部分态密度（DOS）。然而，由于空间分辨率仅为1μm，在分析更小结构时能力不足。2002年，第二代软X射线发射光谱仪被开发。与第一代相比，能量分辨率从0.6 eV提高到0.4 eV，空间分辨率从1 μm提高到400 nm。可以设置两种不同的光栅，能量范围为60-1200 eV。然而，高能量区域的收集角和能量分辨率仍然不够。因此，从2008年到2012年，日本科学技术振兴机构(JST)资助了一项产学研联合种子创新项目，开发了一种光谱仪，该光谱仪利用VLS光栅作为色散元件，以达到超高的能量分辨率，可以在50 eV到4000 eV的宽能量范围内对软X射线光谱进行测量。成功研发出新一代商用软X射线发射光谱仪（SS- 94000 SXES），随后日本电子以商业化产品推向市场。该光谱仪带有两个光栅，可以检测50 -210 eV的一阶光谱和高达420 eV的二阶光谱，以及更高阶的光谱。该光谱仪可以探测到70多种元素的软X射线发射信号。到目前为止，SXES已经成为在纳米尺度上描述材料物理性质的成熟技术。SXES技术优势：高分辨，无损、化学键状态、锂元素分析X射线发射光谱工作原理示意图X射线发射主要是由电子束辐照引发的电子从价带（键合电子）到核心能级的电子跃迁。发射的X射线携带着有关键合电子（如Li的2s电子，C的2s和2p电子）的能量状态信息。通过检测电子从价带跃迁到内壳引起的X射线发射（上图），可以获得键合电子的部分态密度。由于核心能级态具有良好的对称性，发射强度分布反映了价带的部分态密度。作为一种基于电子显微镜的光谱分析方法，在样品制备过程中无需对样品进行特殊处理；在低加速电压下工作时，可以实现纳米级空间分辨率；在对简单金属、半导体和铝基化合物进行光谱分析时可以探究其能带结构效应。也就是说，一种新的、方便的表征键合电子态信息的光谱方法诞生了，该方法正在蓬勃发展，并在各个领域中得到应用。SS-94000 SXES检测金属Li图谱（图自日本电子）关于SXES技术的优势，张伟表示，一方面是分辨率高，其能量分辨率和检出限分别可以达到0.3 eV和20 ppm，优于EDS和WDS。这意味着SXES的诞生为研究更精细的材料电子结构提供了更多的可能性。另一方面，SXES还具有可视化和选择分析区域的优势，这使得SXES能够获得材料的局部或平均信息。此外，SXES 还具有几个独特的优势。第一，SXES的检测深度在几纳米到几百纳米之间，这使得SXES能够对样品进行无损的分析。其次，由于SXES具有非常高的能量分辨率和检出限，因此高能量分辨率的SXES可用于分析材料中化学键的状态。第三，也是最重要的一点，SXES可以对材料中的锂元素进行分析，这对于当下热点研究的新能源材料、能量存储材料中的应用是十分重要的。SXES技术应用进展：成果广泛，应用潜力被低估当前，从事基于电镜SXES技术研究与应用的团队较少，国际上主要是日本在推进相关研究，张伟则是我国鲜有的从事相关应用研究团队。日本偏技术推进，而张伟则在应用研究方面做了系列工作。并在全球率先发表了以基于电镜SXES技术应用研究为主题的综述。安装于吉林大学的国内首台基于扫描电子显微镜的软X射线发射光谱仪吉林大学也在2017年，购置了国内首台基于扫描电子显微镜的软X射线发射光谱仪（SS-94000 SXES），配置在JSM-7900F热场发射扫描电子显微镜上。基于SXES，张伟团队成功地将SXES应用于电化学能源和电催化领域，并为团队一些文章提供了关键数据，起到画龙点睛的作用。近两年来，张伟团队产出6篇实验型文章，1篇综述型文章。在水系电池领域，通过SXES揭示了CuHCF正极材料中铵离子的可逆嵌入/脱出，伴随Cu/Fe可逆价态转变的储能机制，发表于国际纳米领域的权威期刊Nano Lett上（Nano Lett. 23 (2023) 5307-5316）。在双离子电池工作中，团队利用SXES技术检测了石墨电极中Li-K和C-K边发射峰，证明了Li+成功的预嵌入石墨电极中，发表在国产卓越行动计划期刊JEC上(Journal of Energy Chemistry 71 (2022) 392-399)。团队将SXES与XANES的结果一同分析，研究了充放电过程中Bi电极和碱金属离子（Li+、Na+ 和K+）之间的电子结构演化过程，发表在影响因子高达20.4的ESM期刊中(Energy Storage Materials 45 (2022) 33-39)。此外团队也将这种表征手段应用于OER中，采用熔融盐辅助硼热反应法制备了FeCoB2。通过SXES对OER反应后催化剂的表征，证实OER反应后的催化剂中B原子与FeBO4中B的存在形式相同，与XPS的结果一致(Journal of Energy Chemistry 72 (2022) 509-515)。在HER中，通过SXES对反应前后对MXene量子点催化剂进行表征，证明了在电化学反应后，-Cl基团被氧基团取代，从而优化了HER性能，在EEM期刊上发表，并且作为封面 (Energy Environment Materials 6 (2023) e12438)，正逢MXene量子点获得诺贝尔化学奖之际。在ORR中，借助SXES 分析了铠甲催化剂的电子结构，通过对比金属Co元素引入的Co-NC催化剂与没有金属引入的NC催化剂的SXES峰位，表明金属Co物种的引入会使石墨电子结构发生变化，与同步辐射的结果一致，并且在国产卓越行动计划期刊JEC上发表(Journal of Energy Chemistry 70 (2022) 211-218)。随后团队对SXES在锂离子电池中的应用进行了全面的总结，在专注研究材料领域创新性研究成果的国际顶级快报MRL期刊上（年发文量74篇）发表了全球首篇关于软X射线发射光谱仪在锂离子电池研究领域应用的综述型文章，（Materials Research Letters 11 (2022) 239-249）并对SXES未来的发展提出了合理的展望。近两年，张伟团队产出的部分成果显然，SXES将成为在材料科学领域剖析电子结构信息的一个非常重要和强大的表征手段。尽管已经取得了一些进展，但SXES技术在许多的研究领域中的作用仍然被忽视。张伟认为，随着应用的不断深入，相关成果不断涌现，相信SXES技术会受到更多科研工作者的青睐。SXES作为一种简单、方便的光谱分析工具，并不局限于能源和催化领域。另外，张伟也十分看好SXES与其他表征手段联用技术，通过SXES辅助其它表征手段可以简化材料电子结构的研究，通过与其他表征手段的结合可以实现1+1远远大于2的效果。2024年1月，日本电子软X射线发光分光器出货第100台合影留念关于SXES技术的未来展望，张伟十分看好SXES技术以及相关联用技术，并认为，虽然目前SXES技术的研究与应用还处于一个相对初期的阶段，但相信在仪器使用者、研究者，以及仪器企业等多方共同努力下，SXES技术必将在材料电子结构研究领域掀起一个巨大浪潮，从而促进催化、能源以及其他领域的蓬勃发展。后记基于电镜技术，张伟在多个材料体系研究中取得显著成果，并较早投入SXES技术的研究，取得了系列突破。分享经验时，他强调了兴趣的重要性，提倡夯实基础知识，聚焦研究领域，并注重多学科交流。他特别提到，科研应摆脱功利心态，以平和之心面对挑战。就像团队学生们以“正能量满满”来描述张老师，兴趣为伴，乐观的心态下，有生活也有理想，科研与生活之旅中自然收获惊喜。或许，这便是张伟与电镜故事的真实写照。附：4分钟视频一览SXES的特点和功能（视频自日本电子官网）

一、项目基本情况项目编号：CG2022-PL-GK-HW-065项目名称：海关总署2022年科技司电感耦合等离子体发射光谱仪采购项目预算金额：372.0000000 万元（人民币）采购需求：（一）货物内容包件号序号品目名称数量交货期交货地点质保期包件11电感耦合等离子体发射光谱仪1（标配）1产品合同签订后90日内交货。海关指定地点产品安装调试经用户验收合格当天起，质保期2年，并提供仪器终身维修服务。包件21电感耦合等离子体发射光谱仪43包件31电感耦合等离子体发射光谱仪52（二）行业类型：工业（三）其它要求1.投标人必须对所投标包中的所有货物进行投标，不允许拆包投标。2.针对同一包，一个投标人不得提交两个或两个以上不同的投标文件或投标报价。3.各品目产品的投标报价不能超过本品目预算（品目预算详见项目需求书中的分配表），否则视为无效投标。合同履行期限：详见招标文件本项目( 不接受 )联合体投标。二、申请人的资格要求：1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定；2.落实政府采购政策需满足的资格要求：根据有关规定，本项目将对小微型企业、监狱企业及残疾人福利性单位制造的产品的报价给予12%的扣除，扣除后的报价参与评审打分。未提供有效证明材料的，评审时其投标报价不予扣除。3.本项目的特定资格要求：1、符合《中华人民共和国政府采购法》第二十二条及《政府采购法实施条例》第十七、十八条规定。2、开标日通过“信用中国”网站、中国政府采购网查询，未被列入“失信被执行人、重大税收违法案件当事人名单、政府采购严重违法失信行为记录名单”的。3、从采购机构在本公告中规定的渠道获取了招标文件，且在法律上和财务上独立于采购机构。4、其他条件：（1）本项目不接受联合体投标。（2）本项目01包不接受进口产品投标（进口产品是指通过中国海关报关，验放进入中国境内，且产自关境外的产品）。三、获取招标文件时间：2022年11月10日 至 2022年11月16日，每天上午8:00至12:00，下午12:00至21:00。（北京时间，法定节假日除外）地点：http://hgcg.customs.gov.cn方式：网上下载售价：￥0.0 元，本公告包含的招标文件售价总和四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点提交投标文件截止时间：2022年11月30日 08点30分（北京时间）开标时间：2022年11月30日 08点30分（北京时间）地点：线上开标五、公告期限自本公告发布之日起5个工作日。六、其他补充事宜技术指标详见招标文件七、对本次招标提出询问，请按以下方式联系。1.采购人信息名 称：海关总署物资装备采购中心地址：北京市东城区安外大街56号办公楼14层1425室（原国资委安外办公区）联系方式：010-65194838（平台技术支持）010-65195902（项目询问）010-65195677（质疑受理）2.项目联系方式项目联系人：010-65195902电话：吴先生