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四探针测试仪原理

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四探针测试仪原理相关的论坛

  • 四探针电阻率测试仪

    四探针电阻率测试仪。XH-KDY-1BS 型四探针电阻率测试仪是严格按照硅材料电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及国家标准设计制造,并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。整套仪器有如下特点:1、 配有双数字表: 一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时,另一块数字表(以万分之几的精度)适时监测全过程中的电流变化,使操作更简便,测量更精确。数字电压表量程:0—199.99mV 灵敏度:10μV输入阻抗:1000ΜΩ基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)2、可测电阻率范围:10—4 —1.9×104Ω·cm可测方块电阻范围:10—3 —1.9×105Ω/□。2、 设有电压表自动复零功能,当四探针头1、4 探针间未有测量电流流过时,电压表指零,只有1、4 探针接触到硅片,测量电流渡过单晶时,电压表才指示2、3 探针间的电压(即电阻率)值,避免空间杂散电波对测量的干扰。3、 流经硅料的测量电流由高度稳定(万分之五精度)的特制恒流源提供,不受气候条件的影响,整机测量精度10 万次),在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数,提高了测试仪的可靠性和使用寿命。5、 加配软件配电脑使用,实现自动换向测量、求平均值,计算并打印电阻率最大值、最小值、最大百分变化率、平均百分变化率等内容。6、 四探针头采用国际上先进的红宝石轴套导向结构,使探针的游移率减小,测量重复性提高(国家知识产权局已于2005.02.02 授予专利权,专利号:ZL03274755.1)。

  • ICT测试治具的探针选用的过程中应该注意些什么

    ICT测试治具在使用的过程中通常需要用到探针来进行测试,探针是电测试的接触媒介,是一种高端精密型电子五金元器件。探针的选用主要是根据ict测试治具线路板的中心距和被测点的形状而定,PCB板上所要测试的点与点之间越近,选用探针的外径也就越细。http://www.guoluzaiju.com/uploadfile/2012/0522/25741337657617.JPG通常ICT测试治具所用的探针有很多的规格,针主要是由三个部份组成:一是针管,主要是以铜合金为材料外面镀金;二是弹簧,主要琴钢线和弹簧钢外面镀金;三是针头,主要是工具钢(SK)镀镍或者镀金,以上三个部分组装成一种探针。 在选择探针的过程中应该要考虑以下几个因素: 1、探针质量需要符合要求 在ICT测试中对于探针的质量也是有很大的要求的,也就是说若是探针的质量是存在问题的,那么不仅会造成测试结果存在问题,还会造成其他的问题出现,因此人们在选择测试治具探针的时候一定要做好全面的检查工作,要保证质量2、探针型号需要符合要求 针对于ICT测试中不同的情况,不同的测试距离对于探针的型号的要求就会有很大的不同,我们应该根据不同的线路板的中心距和被测点的形状来选择探针型号。以上就是为大家总结的有关ICT测试治具的探针选用的过程中应该注意些什么的介绍,希望可以帮到大家,本文出自:http://www.guoluzaiju.com/show-267-3378.html【捷甫电子,陈勇兵,0755-89494572 http://www.guoluzaiju.com/】公司专业生产、销售ICT在线测试仪(TR-518FE、TR-518FR、TR518FV)、ICT测试治具,功能(FCT)测试治具、DIP/SMT过炉治具(载具)、自动测试系统、成型设备、BGA测试治具,提供各种ICT测试仪的维修保养。公司专注于ICT测试仪和测试治具8年。

  • 四探针测试金属银膜不稳定的情况

    四探针测试自制的金属银纳米线薄膜时,出现一个现象,随着探头压力的增加,电阻率发生相应的变化,应该是压力越大,电阻率越大。我测试硅片的时候就很稳定,不知道是什么原因造成的。大家有没有其他材料有这种情况呢

  • 【资料】使用接地电阻测试仪的一些注意事项

    接地电阻测试仪广泛的使用于电力、邮电、铁路、石油、化工、通信、矿山等部门测量各种装置的接地电阻以及测量低电阻的导体阻值。在使用过程中偶尔会出现一些小问题。  接地电阻测试仪注意事项如下几点:  1、使用接地电阻测试仪的时候注意电流极插入土壤的位置,应使接地棒处于零电位的状态。  2、测试宜选择土壤电阻率大的时候进行,如初冬或夏季干燥季节时进行。下雨之后和土壤吸收水分太多的时候,以及气候、温度、压力等急剧变化时不能测量。  3.接地电阻测试仪的一些开关元件不能单独跨接在有源电路中作差模保护,为避免电源短路,必须串接限压元件。  4.用作差模保护的直流高压发生器件,其限制电压必须小于被保护设备所能承受的最高安全电压。  5、被测地极附近不能有杂散电流和已极化的土壤。  6、接地线路要与被保护设备断开,以保证测量结果的准确性。  7、探测针应该远离地下水管、电缆、铁路等较大金属体,其中电流极应远离10m以上,电压极应远离50m以上,如上述金属体与接地网没有连接时,可缩短距离1/2~1/3。  8.流过直流高压发生器件的浪涌电流必须小于其脉冲峰值电流。压敏电阻应按其降额特性选择。  9、当接地电阻测试仪的检流计灵敏度过高时,可将电位探针电压极插入土壤中浅一些,当检流计灵敏度不够时,可沿探针注水使其湿润。  10、连接线应使用绝缘良好的导线,以免接地电阻测试仪有漏电现象。相关资料来源于:http://www.chem17.com/st176094/Article_140284.htmlhttp://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09506.gif

  • 什么是海瑞思密封性测试仪原理?

    海瑞思密封性测试仪试验原理分享 有料天天报!天天报新料啦! 海瑞思密封性测试仪又叫气密性检测仪,用来检测包装件的密封性,过去常用“水检法”来检测,随着技术的发展,现阶段一般采用真空衰减技术和二氧化碳跟踪法来进行检测。 密封性测试仪的密封试验原理:通过对真空室抽空,使浸在水中的试样产生内外压差,观测试样内气体外逸情况,以判定试样的密封性能:或通过对真空室抽空,使试样产生内外压差,观测试样膨胀及释放真空后试样形状恢复情况,以判定试样的密封性能。

  • 电子探针测试碳纤维的氧元素分布问题

    各位专家各位朋友大家好!请教一下用电子探针测试碳纤维径向元素分布的问题(纤维直径20um左右,由于不是成品导电性不好)我的测试方法,是将纤维(直径20um左右)埋在树脂里制成金相,打磨抛光后,露出纤维截面,喷碳后,用导电胶粘在电子探针样品台上,在显微镜里观察纤维,但纤维总是飘动,且看不清,原因应该是导电不好或者是我的金相没有制备好。由于电子束难以聚集在纤维上,没能测出纤维截面上径向的氧元素分布。想请教一下你们是怎么做的呢?这个问题也困扰了我很久,期待大家的回复。

  • 新旧探针测试结果对比 P-Si

    新旧探针测试结果对比 P-Si

    新旧探针的对比。请查阅~http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09503.gif新针轮廓和形貌都很好。但是貌似还是有点点失真。估计是激光不稳定啊~下次扫出更好的再与大家分享~http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09501.gifhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/07/201207101217_376794_2435835_3.jpg

  • 海瑞思密封测试仪工作原理是什么?

    海瑞思密封测试仪工作原理是什么? 气密封测试仪连接到一个测试室,特别设计来容纳需要被检测的包装。测试腔包装被置于要被抽真空的实验腔内。单或双真空传感器技术用于监控测试室为两个层次的真空状态同样也监测预定测试时间段的真空变化,绝对真空和相对真空的变化暗含了包装中存在的泄漏和缺陷。 海瑞思密封测试仪又叫包装检漏仪,是生产、加工企业专门用来检测食品、乳制品以及制药行业的包装袋、瓶子、罐子等容器密封性的仪器,从而保证产品不会因为包装泄漏而产生质量问题(有些泄漏点是肉眼看不到的),延长产品的货架期。http://www.hairays.com/show-22-60.html

  • 寻电子探针测试常用标准

    我是一个电子探针的新手,想找一些定量分析相关的资料,网上看到有一些电子探针分析的标准,可不知道哪里有卖的?各位,谢了!

  • 【分享】关于布鲁克台阶仪探针、原子力显微镜AFM/SPM探针

    提供实验室整体解决方案......BRUKER探针 -AFM探针原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式:主要分为 扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构:悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius:一般为10nm到几十nm。制作工艺:半导体工艺制作常见的探针类型:(1)、导电探针(电学):金刚石镀层针尖,性能比较稳定(2)、压痕探针:金刚石探针针尖(分为套装和非套装的)(3)、氮化硅探针:接触式 (分为普通的和锐化的)(4)、磁性探针:应用于MFM,通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe[/siz

  • 【分享】AFM探针分类及各探针优缺点

    AFM探针分类及各探针优缺点   AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。   利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用领域的显微镜,如AFM(范德法力),静电力显微镜EFM(静电力)磁力显微镜MFM(静磁力)侧向力显微镜LFM(探针侧向偏转力)等, 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。   原子力显微镜的探针主要有以下几种:   (1)、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针:最常用的产品,分辨率高,使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损,分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。   (2)、 导电探针:通过对普通探针镀10-50纳米厚的Pt(以及别的提高镀层结合力的金属,如Cr,Ti,Pt和Ir等)得到。导电探针应用于EFM,KFM,SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差,使用时导电镀层容易脱落,导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖,金刚石镀层针尖,全金刚石针尖,全金属丝针尖,这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。   (3)、磁性探针:应用于MFM,通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备,分辨率比普通探针差,使用时导电镀层容易脱落。   (4)、大长径比探针:大长径比针尖是专为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点:不太常用的产品,分辨率很高,使用寿命一般。技术参数:针尖高度 9μm;长径比5:1;针尖半径 10 nm。   (5)、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针:一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜,另外一种是全金刚石材料制备(价格很高)。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性,减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。   还有生物探针(分子功能化),力调制探针,压痕仪探针

  • 【分享】一种新型荧光探针———分子信标的研究及应用进展

    [b] [size=4]分子信标是一种基于荧光能量转移原理而设计的发夹型寡聚核酸荧光探针。它通过与核酸等靶分子相互作用后发生构象的变化而产生荧光信号,对靶分子的检测具有灵敏度高、选择性强、适合于活体实时检测等优点。 目前已广泛应用于生物化学分析、生物医学研究和环境监测等各领域。本文对分子信标的设计原理及其研究和应用进展进行了综述。[/size][/b]

  • 【分享】氟硼二吡咯类阳离子荧光探针的研究进展

    [b][size=4]荧光探针提供了方便、快捷、廉价的分析测试手段,并具有很高的灵敏度和选择性,因而在分析化学、临床生物化学、医学以及环境科学等领域有广泛的应用前景。氟硼二吡咯(BOD IPY)是一种光物理和光化学性能优异的荧光染料,本文综述了近年来BOD IPY类阳离子荧光探针的最新研究进展和发展趋势。[/size][/b]

  • 绝缘子测试仪测试原理及使用方法

    绝缘子测试仪测试原理及使用方法

    绝缘子测试仪是一种理想的运行线路试验设备,主要用于交流线路10~500kV的带电测量过线塔的绝缘子串电压分布值。随着科学的发展,绝缘子测试仪走进了实验室,主要用于试验室内各种35kV以及交流电压绝缘子的电压分布测量。绝缘子测试仪是一种理想的保障线路运行安全的电力检测设备和带电作业辅助工具。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/01/201401071254_486962_2781177_3.jpg 随时科技的不断进步,绝缘子测试仪的样式与种类也越来越多,但其在原理上基本上是一样的:测量绝缘子两点之间电位差,将被测电压变成电场进行测量。因而阻抗高,对于被测量系统的影响最小。被测出的信号经内部放大处理,最后以电压值的形式,由LCD数字显示输出。 如果某一片绝缘子的电位差为 O 时 , 则该片绝缘于为零值绝缘子。如测试中某一节是标准值 50% 时说明其是劣化绝缘子。最后根据所测的数据还可以绘制绝缘于分布电压图,通过绝缘子电压分布图就可以很方便的绝缘子的优劣或者使用状态。从绝缘子测试仪的测试原理来看,整个测量过程是非常简单的。 下现以三新电力旗下产品SX-15绝缘子带电测试仪为例说明其使用方法 用M8螺丝将SX-15表装于绝缘操作杆上,杆的长度应符合带电作业的规定。调整接头,使接触杆与被测绝缘子的悬挂方式对应,能顺利地接触到被测绝缘子两端的金属部分。连接好插头,打开开关,有液晶显示便可工作,读数的单位为kV。 测量过程中有两需要注意:第一,本测试仪采用了独特的升压方式,即晶体震荡,再通过特殊的频率脉冲分配电路,产生脉动脉冲信号,整流滤波后得到高压。5000V直流电压容易受到外界环境的影响而改变,特别是环境湿度的影响,一般情况下,高压应在4000V至6000V之间;第二“电源开关”打开后,不要用手直接接触“测试杆”,以免高压静电伤人。

  • 【注意】扫描探针显微镜版讨论范围(发贴有惊喜哦!)

    扫描探针显微镜同其它的显微镜相比,历史比较短,只有20年的时间,大家了解的少一些,这个版也相对冷清了一些,但是发展相当迅速,大有取代SEM的趋势(大胆!^_^)。希望大家多发贴,发贴的内容主要集中在以下方面:1. 扫描隧道显微镜(STM)的构造、原理;2. 原子力显微镜(AFM)的构造、原理;3. 其它扫描探针显微镜,如MFM,EFM,LFM等的结构和原理;4.扫描探针显微镜的各种成像模式:如接触模式,轻敲模式,非接触模式以及相位成像模式等等;5.扫描探针显微镜的各种模式的技巧;6.各类扫描探针显微镜在各个方面的应用:物理,化学,材料,生物等等,包括各种制样技术;7.纳米蚀刻,纳米操纵等等;8.扫描探针显微镜的发展方向。 欢迎补充!欢迎交流![em61] [em61] [em61] [em61] [em61]

  • 【求助】关于电子探针的一些小问题!

    [size=4]本人是学地化的,因为要送样分析,所以提前询问电子探针的一些信息,希望各位大虾给予帮助:国内有哪些大学和研究所有电子探针阿,哪种型号较好呢?每种探针其样品的尺寸具体应该多大呢,最大尺寸是多少呢?尺寸符号Φ什么意思呢?希望大家提供信息谢谢![/size][em0810]

  • 便携式接地电阻测试仪原理揭秘,了解一下?

    便携式接地电阻测试仪是一款专业仪器,用于现场测量电气设备接地系统的电阻值。它采用先进的电子技术,摒弃了传统的手摇发电机制,以DC/AC变换技术为核心,将直流电转换为低频交流恒流。[back=#ffff00]该仪器的工作原理基于欧姆定律[/back]。那么,便携式接地电阻测试仪的原理是什么?如何正确使用该仪器?接下来,我们就来进行探究![b]  一、[url=http://www.kvtest.com/jiedi/233.html]便携式接地电阻测试仪[/url]的工作原理如下:[/b]  在实际操作中,测试仪内部的DC/AC变换器会产生一个稳定的交流电流,通过辅助接地极(通常标记为C)和被测接地体(E)形成回路。[back=#ffff00]当电流通过被测接地系统时,会在接地体上产生相应的交流压降。[/back]这个微小的压降经过另一个辅助接地极(P)后,被高灵敏度的交流放大器接收并进行放大处理。  进一步地,放大后的信号经过检波电路转化为可读的直流电压,并最终显示在仪表头上,从而得到接地系统的电阻值。现代的便携式接地电阻测试仪还具备智能化功能,例如自动检测接口连接状况、排除地网干扰电压和频率的影响,并具备数值保持和提示功能,极大地提升了测量精度和工作效率。[align=center][img]https://xtsimages001.oss-cn-hangzhou.aliyuncs.com/users-815301/2024_04_11_15_39_18382232.jpg[/img][/align][b]  二、便携式接地电阻测试仪的使用方法如下:[/b]  [back=#dbeef3][i]1、准备工作:[/i][/back] 确保测试仪器完好无损且配件齐全,主要包括测试仪主体、测试线(粗线为电流输出线,细线为电阻检测线)以及两根接地棒。 检查接地棒的状态,确保它们无锈蚀或损坏。必要时,将其插入土壤至规定的深度(通常约为400mm)。  [back=#dbeef3][i]2、布设测试点:[/i][/back] 按照规定的距离(例如20米),将两个接地棒分别插入地面,一个作为辅助接地极,另一个作为探测电极。  [back=#dbeef3][i]3、连接测试线路:[/i][/back] 根据仪器说明书图示的正确连接方法,确保电流输出端口与接地棒之间通过粗线连接,而电阻检测端口则通过细线连接到对应的接地极上。[align=center][img]https://xtsimages001.oss-cn-hangzhou.aliyuncs.com/users-815301/2024_04_11_15_39_27734773.jpg[/img][/align]  [back=#dbeef3][i]4、开启和预热:[/i][/back] 接通仪器电源,按下电源开关,等待预热时间约5分钟,以确保仪器内部电路稳定工作。  [back=#dbeef3][i]5、选择量程和校零:[/i][/back] 根据预期的接地电阻值选择合适的测试量程。初始时,将电流旋钮逆时针调至零位,然后将测试夹短路,进行零点校准。  [back=#dbeef3][i]6、执行测试:[/i][/back] 在完成上述准备步骤后,按照仪器操作手册的指示开始测量过程。启动电流,使电流通过接地系统,并观察仪表头读数直至稳定。此时显示的数值即为接地电阻值。 更多关于[url=http://www.kvtest.com/]接地电阻测试仪[/url]设备的参数及使用原理与方法,欢迎来武汉南电至诚电力了解!本文转自链接:http://www.kvtest.com/xingyexinwen/2231.html

  • 关于电子探针和EDS检测对制样的要求.

    本人不是专门搞测试的,现在需对样品进行电子探针和EDS检测,想请问专家:这两种检测对样品有什么要求.对于厚度0.1mm左右脆性物质能否检测?要在厚度方向上进行检测,固定是否存在问题?另外问个弱弱的问题,电子探针和EDS是不是同一种检测?谢谢.[quote]原文由 SeanWen 发表:引用:--------------------------------------------------------------------------------原文由 myhuar 发表:本人不是专门搞测试的,现在需对样品进行电子探针和EDS检测,想请问专家:这两种检测对样品有什么要求.对于厚度0.1mm左右脆性物质能否检测?要在厚度方向上进行检测,固定是否存在问题?另外问个弱弱的问题,电子探针和EDS是不是同一种检测?谢谢.--------------------------------------------------------------------------------觉得首先需要确定您要求的结果,是要测试成分呢,还是看分布等等,然后需要采用不用的方法来测试了。还有您说的脆性物质具体是什么呢?有机,无机,导电性等等……[/quote]主要的目的是看分布,就是样品中某种元素的分布情况,所谓的脆性是说如果用手稍微折样品的话,样品就会裂开,不知会不会影响测试.

  • 【原创大赛】扫描探针显微镜废针的改造再利用及分辨率的提高

    【原创大赛】扫描探针显微镜废针的改造再利用及分辨率的提高

    扫描探针显微镜废针的改造再利用及分辨率的提高前言:扫描探针显微镜(SPM)一般操作模式有轻敲模式,接触模式,非接触模式等。我们实验室一般采用接触和轻敲模式,由于这两种模式都会与样品有接触,这就不可避免的给探针尖端造成磨损使其变钝,由于针尖较粗,探针的侧面将先于针尖与样品发生接触,从而引起所成图像的失真,将导致扫描出来的图片有严重的“加宽效应”影响图像准确度,造成探针严重浪费增加检测成本。本人在一次做纳米颗粒搬迁实验的过程中,本来是想用探针去移动一个细小颗粒a,结果颗粒粘附到针尖上了,之后扫描出来的粉末颗粒尺寸明显变小,如下图(一)B图和C图作对比明显(框定区域为扫描区域)B图颗粒大于C图。通过这个现象,如果在磨损后的探针针尖上,堆积上一层金字塔形纳米级的金颗粒,会不会使磨损的探针针尖变得更加尖锐呢?如果可以的话以此①可以提高扫描样品时探针的分辨率②减小由于探针针尖不够尖锐带来的“加宽效应”③可以使磨损探针再利用减少耗材成本。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011628_480183_2224533_3.jpg图(一)原理:通过对钝探针针尖堆积纳米金颗粒使其变得尖锐,如图二http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011628_480184_2224533_3.jpg图(二)实验设备:BRUKER布鲁克公司的扫描探针显微镜,仪器型号:Nanoman VSLeica莱卡的高真空镀膜仪,型号:LEICA EM SCD 500 探针为多次使用后磨损严重的废针,如图三http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011629_480185_2224533_3.jpg图(三)实验过程:选取一块玻璃片,取少量粉末颗粒分散在其上,然后在玻璃片上划一道刻痕做个标记。目的是为了保证整个扫描过程都能找到同一个区域同一个粉末上做比较,以次确保实验的有效性,如图四http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011629_480186_2224533_3.jpg图(四)随机选取一颗探针,不做任何处理在标记处扫描图像。如下图五http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312020832_480224_2224533_3.jpg图(五)在图像里头随机选取两个粉末,上面颗粒命名为A,下面颗粒命名为B,进行测量其尺寸分别为A=163nm,B=204nm;如图五http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011629_480187_2224533_3.jpg图(六)取下探针放在另一快玻璃片上,然后放如高真空镀膜仪内,镀膜时间为20s。取出玻璃片拿下探针,可以明显看到玻璃片上探针放置处遮挡了玻璃片没有镀上膜的痕迹。如图六http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011630_480188_2224533_3.jpg图(七)装上探针,寻找到同一区域,同一粉末颗粒,仪器使用的扫描速率尺寸等条件不变。扫描后对颗粒测量A=127nm; B=172nm.如图七http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011630_480189_2224533_3.jpg[

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