偏振射线荧光光谱仪

能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面，元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪，针对一些珍贵的材质，可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图，实现测量点的准确定位，拥有直观的硬件和分析软件，加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美，具有1毫米的激光定位分析点，内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上，完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大，样品台可以快速移动的设计，从而检测速度fei常快，此外，控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器（SDD） 6、采用先进的探测器技术，能量分辨率140eV（MnKα），并具有高输出计数率（OCR），可实现快速分析，同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构，可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳，滤波片和准直器，为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上，使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何，三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择，满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台，完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究，艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描，使用户免于运输，避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品，拥有先进的元素分布图和光谱解析功能，可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料，可以通过移动扫描获得元素分布，从而扩展了这些材料的应用，从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置，直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野，教室或实验室中的物体和材料.

S4 TStar — TXRF全反射X射线荧光光谱仪 数十年来，X 射线荧光（XRF）光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析，检测限值低于PPb 量级。TXRF 扩展了XRF 的应用范围，可以分析液体样品、悬浮液和膜片中的超微量元素。优异的样品通用性S4 TStar 是一种通用性很强的工具，可以分析不同反射载体上的多种类型的样品。ICP 只能分析完全溶解的液体样品。图一：30 毫米石英片：对液体、固体和悬浮液进行元素分析图二：2 英寸晶片：污染分析、深度剖析和材料科学研究图三：显微镜载玻片：临床和生物学样品，直接分析细胞培养物、涂片和切片图四：矩形载体：尺寸小于54 毫米，用于膜片、滤片、纳米颗粒层 定制的反射介质 行业应用： 药品检测活性药物成分中的催化元素：液体或丸粒中的铅含量小于0.1 / 0.5ppm 食品粮农组织和世卫组织的食品标准：大米中的砷含量小于10 / 40ppb。 环境监测环境监测：地表水，废水、污泥和核废液中的污染物含量小于1 / 10ppb。

S1TITAN手持式X荧光光谱仪重量轻（1.23kg，测量范围Mg-U）、是基于X射线管技术的手持式XRF分析仪。快速的分析速度和准确性是S1TITAN 的两大特性。其他功能包括集成的彩色触摸屏、50kVX射线管、SMARTGrade 计时、SharpBeam优化X射线几何形状、硅漂移探测器，以及坚固的外壳，该外壳经过密封，可以防潮防尘。 S1TITAN系列都采用了布鲁克公司的SharpBeam技术，并配置了布鲁克技术X-FlashSDD探测器，向您提供快速分析时间。S1TITAN可以配备各种校准装置，这些装置经过优化，适用于各种样品材料—包括各种合金、不同的采矿与环境样品，以及受限制材料。 SharpBeam技术对探测器和放射管几何图形进行了优化。经优化的几何体具有许多理想的效果，包括：1、降低功率要求 2、减轻重量 3、提高测量度 4、提高探测限制 5、延长电池寿命手持式荧光光谱仪应用领域 QA/QC分析，材质识别(PMI) 1、工厂/精炼厂PMI检测；2、废金属回收 3、航空航天用合金；4、金及贵金属检测 5、矿山；6、矿石品位控制 7、岩芯分析；8、探矿；9、地质图 10、土壤分析；11、金属回收；12、玩具中的铅 13、ASTM-F963；14、RoHS 15、包装中的有害元素分析 16、儿童服装中的铅筛查

X 射线荧光光谱 (XRF) 能够对多种材料进行元素分析，包括固体、液体和疏松粉末。 Zetium 光谱仪专为满足要求严苛的流程控制和研发应用需求而设计，其高品质的设计和功能，可对从铍到镅等多种元素进行精度范围从百万分之一以下到百分之一的分析。Zetium X射线荧光光谱仪 包含了 SumXcore 技术，它是 WDXRF 和 EDXRF 的集成。 这种功能组合使 Zetium 在多种环境下拥有高分析能力、速度和任务灵活性。 Zetium X射线荧光光谱仪 配备了 SuperQ 软件（包括 Virtual Analyst），可帮助非专家用户轻松地设置应用程序。 针对特定分析提供了广泛的附加软件模块，例如无标分析、地质痕量元素、润滑油中的基体校正以及薄膜分析。 针对特定行业提供了 Zetium XRF 光谱仪行业专用版：水泥、矿物、金属、石化产品以及聚合物和塑料。另外提供可满足各行业严苛要求的高配置版本：Zetium顶级版。 Zetium 平台的模块化设计允许通过各种软件包来实现以任务为导向的性能增强。 马尔文帕纳科提供了一系列集成解决方案；从连接样品制备装置的简单接口，到将多个分析仪器集成到单一容器实验室中的全自动项目。特点增强的分析性能从 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升级可增强灵敏度一系列 X 射线光管阳极材料（铑、铬、钼和金）可确保发挥特定应用性能用于增强灵敏度和加大过渡金属分析动态范围的复合探测器用于扩大的重元素动态范围（线性高达 3.5 Mcps）的 HiPer 闪烁探测器特别适合对钢中的铌和钼进行高精度分析出色的用户体验Virtual Analyst 提供简洁、直观的软件整套应用程序设置模块和软件解决方案使用无标 XRF 分析，对未知材料进行分析，或者在没有标准的情况下进行分析多元素微小区域分析可编程的面罩，适合的样品尺寸为 6 mm 至 37 mm提升样品处理量SumXcore 技术 - 利用 ED core（能谱核）将测量时间缩短多达 50%从 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升级可加快分析速度Hi-Per 通道可实现对轻元素的同步测量连续和直接进样可大大缩短仪器的进样时间高容量进样器台（最多 209 位）可满足高处理量应用需求进样器条形码阅读器选项可实现快速、无故障的样品装载和数据录入可靠性除尘设备可尽量减少污染，并能够大大提升仪器的正常运行时间用于提高 X 射线管耐用性和耐腐蚀性的 CHI-BLUE X 射线管窗涂层样品类型识别（固体和液体）条形码阅读器可实现无差错的样品数据录入 仪器的拥有成本低节省空间的紧凑型设计 小体积空气锁设计 - 用于将样品快速循环到真空中，或对液体分析实现低氦气消耗便于检修的服务模块意味着更高的仪器可维修性和更短的停机时间专用制冷机可从实验室带走热量 - 避免实验室空调基础设施负荷过重可节省成本的成套解决方案

痕量分析 TXRF 光谱仪 TXRF全反射X射线荧光光谱仪快速多元素痕量分析可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析，元素范围13Al-92U。 需要样品量少，液体及悬浮物样品1-50微升，粉末样品10微克以内。 便携式全反射荧光仪，设备小巧，一体化结构设计，不需要任何辅助设备及气体、液氮等，可拿到现场进行分析。 1位及25位全自动进样器两款设计，分别适用于每天有少量样品及大批量样品的全自动分析。 第四代XFlashSDD硅漂移探测器，采用帕尔贴冷却技术，不需要液氮，没有任何消耗。分辨率160eV at MnKa 100Kcps。 由于全反射无背景，荧光强度与元素含量直接成正比。标准曲线工厂已校准好，用户不需要标样就可以进行定量分析。行业应用：水、废水、土壤中的污染元素；血液、尿液、组织中的有毒元素；食品、医药、刑侦、环保、陶瓷、水泥、建材、地质等领域。

布鲁克是全球X射线荧光光谱分析仪器及软件的主要供应商之一。分析仪器主要应用于科学的研究和发展、工业过程控制以及半导体材料的物性测量领域。可为客户提供量身定制的无损分析解决方案，用以分析表征广泛的产品，例如石化产品、塑料和聚合物、环境、医药、采矿、建筑材料、研究与教育、金属、食品和化妆品等多个行业领域。 产品简介：S2 POLAR仪器为台式偏振式能量色散X 射线荧光 (POLARIZED EDXRF) 光谱仪，采用了偏振激发和检测技术的最新成果。该仪器运行稳定，操作简便，对整个元素周期表中的元素均具备分析性能，特别是油品之类轻基体样品中的S, Cl, Si, Mg, P, S, Cl, Ca, Zn, Mo等元素有着优异的分析效果和检测限。S2 POLAR针对油品等轻基体油品，通过偏振方式增强其功能，符合ASTM D6481 ASTM D7751 ASTM D7220 ISO 13032 ASTM D4294 ISO 20847 ISO 8754 IP 336, 496, 532 JIS K2541-4和GB/T 11140等诸多国内外标准，是一款经济实惠、高度灵活的分析工具，可适用于包括现场检测等各种应用场合。 S2 POLAR• 通过偏振激发和检测设计实现优异的灵敏度和检出限• 仪器可预置油中硫，油中氯以及润滑油中Mg, P, S, Cl, Ca, Zn, Mo等诸多元素的曲线• SampleCare保护系统，最大程度确保核心部件安全性，不受液体影响• 确保X 射线安全• 完全的数据可追溯性• 符合法规• 全球在线支持• 高度灵活的分析工具，可适用于现场检测需求 S2 POLAR 光谱仪可以处理类型广泛的样品，包括固体、稀松或压片粉末、液体和滤片，重量从几毫克到更大的实体样品不等。

仪器简介：全新偏振型能量色散X射线荧光光谱仪 — 开创XRF分析新纪元SPECTRO- XEPOS 偏振能量色散XRF的分析性能在能量色散 X 射线荧光技术（ED-XRF）领域独树一帜。 具备多元素和多浓度（主量、微量和痕量）的突破性分析能力。信号和光谱处理的新技术的运用显著提高了结果的精确性和准确度。1. 采用世界上最新的、最先进的偏振X射线荧光激发技术，区别于其他X射线荧光仪， 仪器的背景最低，信噪比最佳， 检出限最低。 2. 采用Pd/Co双靶材技术搭配不同的激发光路，在更宽的元素范围内改善了灵敏度和检测限。相当于一台仪器上配备了两种X光射线管，激发方式得到优化，以达到理想的分析效果。3. 优异的精度/极快的数据读取具有业界最高的灵敏度。高精度地同时分析主，次量元素，卓越的检出下限使仪器对那些难以分析的痕量元素也可以轻松应对。 对需要快速分析的样品，在稍稍牺牲精度的条件下，可大大缩短分析时间。4. XEPOS型仪器配有无需液氮冷却的SDD检测器， 计数率高达1,000,000pcs。 可有效防止计数溢出。 不会产生Si(Li)计数器所发生的在无需液氮冷却的情况下， 所产生的分辨率降低，背景升高，信噪比变差的情况。5. 涂镀层分析能力，具备了涂镀层的厚度（低至1纳米）及 成分分析功能，包括贵金属镀层分析，最 多8层55元素。6. 仪器可选择配置 TURBOQUANT快速定性, 半定量(定量)程序。可对任何完全未知的样品进行‘解刨’分析。与其他X荧光仪器相比，TURBOQUANT 更为接近(符合)实际，在此程序中采用了数十种国际标准样品，实测结果并予以固化。 7. 仪器在Windows操作系统上建立斯派克的分析软件，操作极为方便。采用人机功效学原理，谱图汇编，自动识别。定性、定量功能强大。仪器采用分级密码，重要的数据得到保护。8. 仪器具有多达十几种校正模式(数学模型)(方法)，在定量分析中可充分应用，已取得最佳的分析结果。方法包括: 基本参数法、康普顿散射内标法、卢卡斯法、α经验系数法、质量吸收系数法、平均原子量法等等。SPECTRO XEPOS令人印象深刻，在从快速筛查分析到精确产品质量控制等关键任务中表现十分出色。将它用于各行各业的临线处理，包括地质和采矿、环境和危废检测以及科研和高校。

圆偏振荧光光谱仪CPL-300 在圆二色的基础上，人们发现手性发光体系发射出的左、右圆偏振光强度不同，这种现象称为圆偏振发光（Circularly Polarized Luminescence ,简称CPL），常规的圆二色谱仪CD仅能检测材料基态的手性，而该仪器能检测材料激发态的手性信息。主要用于研究手性发光体系的发射态（激发态）结构的特征。 主要应用：* 对镧系锕系离子配合物的光学性能研究* 对有机小分子的研究* 对生物体系的研究* 对过渡金属配合物及晶体的研究 测试原理:当发光手性分子被光激发后，产生的荧光在左右圆极化强度方面会体现出一定的差异性，这种现象被认为是圆偏振发光性（CPL）。常规的CD波谱仪仅能检测材料基态的手性，而该仪器能检测材料激发态的手性信息。 技术特点:-灵敏度高-空冷150W氙灯光源-高的信噪比

杰出的灵敏度带来高达3倍的精度改进——这是分析维量到主量元素含量时高准确性的基础 可以检测到极低的痕量元素：自适应激发、前沿的X光管设计和高计数率的检测系统显著降低了多种元素（通常为1/3）的检测极限 掌握未知：Turboquant II软件工具提供一种前所未有的能力——分析未知样本，不管是液体、固体还是粉末状，无论是树叶、塑料、油品、石墨… … 新型SPECTRO XEPOS光谱仪代表了能量色散X射线荧光技术上的巨大突破。它带来主量、微量和痕量元素含量水平多元素分析方面的突破性进展。激发和检测方面的新发展实现了杰出的灵敏度和检测极限——大幅提高精确性和准确度。SPECTRO XEPOS令人印象深刻，在从快速筛查分析到精确产品质量控制等关键任务中表现十分出色。将它用于各行各业的临线处理，包括地质和采矿、环境和废物检测以及科研和高校。不同版本最大化特定基体中所含特定元素组的性能。创新的X射线管和独特的新型自适应性激发技术造就最高灵敏度，全面优化所选的目标元素。重复性： 0.1%分析含量范围： 亚ppm-100%价格区间： 50万-100万能量分辨率： 130eV元素分析范围： Na-U仪器种类： 台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF

圆偏振荧光光谱仪 型号：CPL-300概要手性等化合物在单色光激发下，发射出左右圆偏振光强度不同，这样的现象被叫圆偏振发光现象（CPL）。常规的ECD测量可得到基态手性分子的信息，而CPL能够测量得到激发态手性物资的信息。 CPL-300使用由Steinberg提出的原始180°荧光收集方法。 标准的无臭氧150W Xe灯可由用户更换为Hg / Xe源。 仪器的双棱镜激发和发射单色器提供非常低的杂散光，并且没有衍射光栅引起的杂散线性偏振效应。规格光源150W 空冷氙灯(选配:150W 空冷Hg-Xe灯等)检测器光电子倍增管PMT调幅器压电弹性调幅器电气系统锁定放大器单色器Ex (激发)Em (发射)部分均为双棱镜单色仪测量波长范围250到 850 nm400 到1100 nm (选配PMT检测器)波长精度±0.2 nm (250 to 500 nm)±0.5 nm (500 to 800 nm)±1.5 nm (800 to 1100 nm)波长重现性±0.05 nm (250 to 500 nm)±0.1 nm (500 to 800 nm)±0.5 nm (800 to 1100 nm)狭缝宽度1 - 4000 μm数字积分时间(D.I.T.)0.1 msec to 30 sec扫描方式连续扫描步进扫描自动响应时间扫描扫描速度最大到10000 nm /min测光模式CD (AC电子元件元件 = CPL)，DC (DC 电子元件=荧光)，HT (高电压f PMT), and AC/DCCPL分辨率0.00001 mdeg波长分辨率0.025 nm杂散光小于0.001%外部输入端子双通道数据采集(输入范围: -1 to 1 V DC)汞灯用于仪器校准遮板在EX激发和Em发射单色器样品室150 mm (W) x 310 mm (D) x 165 mm (H)尺寸2000 mm (W) x 700 mm (D) x 1000 mm (H)重量180 kg量程± 8000 mdeg功率240 V 50/60 Hz, 400 VA程序软件包Spectra Manager 2

凭借前所未有的卓越元素分析性能,新型SPECTRO XEPOS光谱仪重新定义了ED-XRF能量色散X射线荧光光谱仪分析技术。SPECTRO XEPOS光谱仪这一令人称奇的全新仪器采用了元素激发和光谱检测技术的最新研究成果，具有最无与伦比的灵敏度和最优秀的检测极限，同时具有极高的检测精度和准确度。SPECTRO XEPOS光谱仪的出色性能足以将价格昂贵的WD-XRF波长色散X射线荧光光谱仪“挑落马下”，同时还大大降低了成本。此外，经过深度优化、重新设计的操作软件也能够帮助客户大幅简化操作，独一无二的新一代TurboQuant II软件则支持各种先进功能，可以更快速、更精确地分析各种类型的未知液体、固体或粉末。

凭借前所未有的卓越元素分析性能,新型SPECTRO XEPOS光谱仪重新定义了ED-XRF能量色散X射线荧光光谱仪分析技术。SPECTRO XEPOS光谱仪这一令人称奇的全新仪器采用了元素激发和光谱检测技术的最新研究成果，具有最无与伦比的灵敏度和最优秀的检测极限，同时具有极高的检测精度和准确度。 SPECTRO XEPOS光谱仪的出色性能足以将价格昂贵的WD-XRF波长色散X射线荧光光谱仪“挑落马下”，同时还大大降低了成本。此外，经过深度优化、重新设计的操作软件也能够帮助客户大幅简化操作，独一无二的新一代TurboQuant II软件则支持各种先进功能，可以更快速、更精确地分析各种类型的未知液体、固体或粉末。

OLIS CPL Solo UV/Vis小巧、经济且全数字化的圆偏振发光该型号以最高灵敏度CPL和荧光偏振的第一原理设计，价格是竞争对手产品的三分之一，尺寸是竞争对手产品的四分之一，但具有出色的灵敏度和稳定性。使用明亮且稳定的滤波LED 光源实现最大激发 ；使用高通量单色器和门控光子计数检测器可实现最大发射灵敏度。具有工厂锁定校准的所有数字性能，即无需锁定放大器，无需 G 因子校正。两种型号，一种用于 UV/Vis，另一种用于NIR。可以增强 UV/Vis 模型以测量磷光寿命，从而测量 CPP。所有配置均可实现极化和非极化激发。应用领域：OLED发展镧系元素表征蛋白质折叠-展开转换光谱扫描&动力学圆二色性光谱扫描&动力学荧光强度光谱扫描&动力学荧光各向异性光谱扫描&动力学圆偏振发光光谱扫描&动力学荧光检测圆二色性标准模型性能：圆偏振光荧光荧光偏振支持升级：极化激励磷光寿命珀耳帖热池支架薄膜支架DeSa永磁体CPL-SOLO.pdf

X射线荧光光谱仪FEDX-M810：一、技术规格：1.分析元素范围：Na(11)-U(92)2.含量分析范围：1ppm-99.999% 3.样品种类：颗粒、固体、液体、粉末等4.分析精度：标准偏差≤0.1%（国标标样）5.X射线源靶材：Ag靶6.滤光系统：6种(Cu、Al、Mo、Ti、Fe等组合)7.准直器：6mm、4mm、3mm、1mm、0.5mm可选。8.真空系统：配置真空系统，优化样品分析环境，提高镁铝硅磷硫等轻元素的分析精度。9.仪器外观：台机结构；内设防震降噪装置、射线外溢屏蔽装置和四道散热装置；坚固耐用；确保仪器安全可靠稳定运行。10.X射线防护：符合GBZ 115-2002《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准》。二、核心硬件配置：1. 探测器1.1. 美国探测器Amptek FASTSDD/Peltier1.2. 分辨率≤130eV1.3. 输出计数率高至1000KCPS1.4. 峰化时间≤12.8μs1.5. 峰背比180002. X射线源2.1. 电压0-50KV、步进1KV连续可调2.2. 电流0-1000uA、步进1uV连续可调2.3. 最大功率50W3. 高压发生器3.1. 电压0 -50 KV3.2. 电流0-1000uA3.3. 最大功率50 W3.4. 8小时稳定性≤0.05%

EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析仪产品概述能量色散X荧光光谱分析仪体积小、稳定性好、分析快速准确、运行成本低、操作维护方便、是控制产品质量的理想选择。可测定铅Pb、汞Hg、镉Cd、铬Cr、溴Br等元素。硅半导体探测器，通过智能激发和检测设计实现高灵敏度，用户可自定义多曲线多光谱拟和分析方法，适用于不同的应用场合。内容描述仪器型号EDX-6000能量色散X荧光光谱仪分析原理能量色散X射线荧光分析法分析元素范围Na(11)-U(92)任意元素检出下限Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm样品形状任意大小，任何不规则形状样品类型塑胶/金属/薄膜/粉末/液体等X射线管靶材钼（Mo）靶管电压5─50KV管电流1─1000ｕA样品照射直径2、5、8mm探测器美国进口Si-PIN探测器，高速脉冲高度分析系统高压发生器美国SPELLMAN高压发生器前置放大器美国进口前置放大器，与美国进口探测器兼容性好主放大器美国进口主放大器，与美国进口探测器兼容性好AD转换模块美国进口AD转换模块，与美国进口探测器兼容性好ADC2048道滤光片6种滤光片自动选择并自动转换样品观察130万彩色CCD摄像机分析软件专利软件产品 BX-V26版本，终身免费升级分析方法理论alpha系数法、基本参数法、经验系数法操作系统软件WINDOWS XP（正版）数据处理系统主机PC商务机型CPUP4 3.0内存512MB光驱8xDVD硬盘80G显示器17寸液晶显示器工作环境温度10－35С，湿度30－70％RH重量60Kg（主机部分）外形尺寸550（W）×450(D)×450(H)mm外部供电电源要求AC220±10%、50/60Hz测定条件大气环境测试样品时间100－300秒可调环境温度10℃-28℃环境湿度≤70 ％RH(25℃室温)应用领域EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析仪应用于石化产品，塑料和聚合物，食品和化妆品，环境，矿石，医药，建筑材料，中心实验室成品检验，金属材料等。工作原理采用的是X射线荧光分析原理，受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。仪器结构融合经验系数法、基本参数法（FP法）等分析方法，测试数据的准确性能得到全面保证。经验系数法：仪器依据对标准样品的测定，确定影响系数。对标准样品要求高，需和待测样品类型相近，校正模型简单。基本参数法（FP法）：仪器根据实际检测物质，通过对多种物理量建模计算确定参数。对标准样品要求不高，计算较复杂，适合缺少对应标样的物质检测。软件功能1元素含量分析范围为2 PPm到99.99%2采用BG内标校正，提高非定性式样测量精度3用户自定义多曲线多光谱拟和分析方法4全自动定量分析报告 简捷准确5自适应初试化校正6光谱的自动获取和显示。7具有自动检测仪器工作状态的功能。8自动判别样品及自动分析。提供扩展接口，进一步作其他元素分析，从钙到铀元素。进口硬件1美国进口Si-PIN探测器，高速脉冲高度分析系统2美国SPELLMAN高压发生器3美国进口前置放大器，与美国进口探测器兼容性好4美国进口主放大器，与美国进口探测器兼容性好5美国进口AD转换模块，与美国进口探测器兼容性好

二手岛津X射线荧光光谱仪EDX-720基本介绍岛津EDX-720Ｘ射线荧光分析装置是使用Ｘ射线照射样品，对产生的荧光Ｘ射线的能量进行检测，测定构成样品的元素种类及含量的装置。可无损地进行固体、粉体、液体、磁盘、单晶片等的元素分析，广泛应用于各个领域。特别是最近，以欧盟的报废电子电气设备指令（WEEE）、电子电气设备所含特定有害物质限制使用指令（RoHS）、报废汽车指令（ELV）以及玩具指令（ASTM F963，EU_EN71）等法规为代表的绿色采购及环境分析之中，要求更为微量、更为迅速的分析。为满足这种需求，畅销全球的EDX-720系列达到了更高的灵敏度与精度。二手岛津X射线荧光光谱仪EDX-720基本参数1.分析元素：11Na-92U（EDX-720），可以准确检测ROHS指令以外其它元素。2.样品型状：最大 300mmФ×150mmH ,可以满足样品的不规则性。3. X射线滤镜：5种自动交换，可以消除背景元素干扰，使仪器分析精度高于其它仪器。4.能量分辨率：Si/Li检测器，145eV.5.检测下限：Cd:1.7ppm Pb:2ppm Cr:2ppm Br:2ppm Hg:2ppm.满足ROHS 指令和索尼STM-0083标准。6.软件： 定性分析-测定/解析软件。 定量分析-工作曲线法，共存元素校正、FP法、薄膜FP法、BG-FP法固体、粉末、液体样品都不需要前处理的非破坏性的简便分析。适用快速评价RoHS、 ELV法规限制的有害元素的新装置！灵敏度比以往机型提高2倍，使用更方便，提高了筛选分析的效率！ EDX-720二手岛津X射线荧光光谱仪EDX-720主要特点：1、配置新型滤光片，提高Pb、Cd等的灵敏度提高2倍。2、配置高计数率电路，增加检测器的计数量。3、增加时间缩短功能，由荧光X射线强度算出测定精度，自动判断所需最少测定时间。4、增加自动工作曲线选择功能，依据识别样品种类的不同而选择最适宜的工作曲线。

手持式X射线荧光光谱仪采用人机工程学设计，轻便小巧，可提供现场对样品的快速无损分析，采用高清高亮大尺寸电容触控显示屏，操作方便，野外和复杂作业环境适应性强。手持式X射线荧光光谱仪功能高度集成，仅1台仪器便可满足材料分析、ROHS检测、选矿分析、环保等领域应用，X射线荧光光谱仪内置GPS、WIFI、蓝牙等功能，可记录检测区位地理信息，可联机进行数据传输，具有远程协助技术支持功能。分析元素范围：从钠(Na)到铀(U)1.1 合金分析模式:合金中各元素的含量分析，各元素的精度能够达到0.01%,同时软件还有报牌号功能，可以准确显示出测量合金的牌号，可实现5秒定性、8秒准确定量分析。1.2 ROHS检测模式:针对ROSH检测开发的软件,对采集的光谱信号进行数据处理、计算并显示测量结果，可自动保存测量报告。1.3土壤模式可同时测试Pb、As、Cr、Cu、Ni、Zn、Mn、Hg、Cd等重金属元素，检出限可达mg/Kg级别(以SiO2基体：Pb〈5mg/Kg、As〈3mg/Kg、Cr〈15mg/Kg、Cu〈10mg/Kg、Zn〈2mg/Kg、Ni〈5mg/Kg、Mn〈10mg/Kg，Hg〈1mg/Kg，Cd〈3mg/Kg)；1.4 水质分析模式可测试Na到U之间的元素，检出限可达mg/L级别(以水基体：Pb〈1mg/L、As〈0.5mg/L、Cr〈2mg/L、Cu〈1mg/L、Zn〈2mg/L、Ni〈1mg/L、Mn〈2mg/L，Hg〈1mg/L，Cd〈1mg/L)；2 检测分析时间：3－60秒（可调）；3 重复性：RSD4%；4激发源：50KV/200uA，Ag靶，端窗一体化微型X光管及高压电源，匹配功率≤4W；5探测器：采用美国进口的新款25mm2，0.3mil，fast-SDD硅漂移探测器，能量分辨率可达125eV，探测器使用电制冷技术，无需长时间及频繁等待制冷，4096高通道MCA多道脉冲分析器；6 高性能处理器和存储器：CPU:Intel四核处理器/1.33GHz,内存2G，数据硬盘32G；7屏幕显示：高性能5.5寸高清高亮液晶显示电容触摸屏，操作灵敏，可更好应对现场测试强光照射下的数据观测；8准直和滤光系统： 6种滤光片同准直器达可达18种组合自动切换；9 软件分析模式：合金分析模式、ROHS分析模式、土壤分析模式、水质分析模式（根据客户需要配置）；10 可自动存储测试结果，包含元素的种类、含量结果、及超标与否。储存数据及图谱超过10000组，可通过存储卡扩充容量，测试报告有EXCEL、BMP、PDF等格式，并可导出；11数据传输与处理：仪器可通过USB、WIFI、蓝牙联机传输数据或打印，同时可实现仪器与电脑屏幕同步使用等；12 开机密码保护，设置操作员和管理员两级操作权限，且仪器前部设置有样品感应装置，具空测时自动切断X射线源功能，确保使用人员安全；13 防辐射安全性：微型X光管整体化封装，仪器工作时X射线辐射剂量1μSV/h（提供CNAS认证第三方检测报告），可配置铅橡胶保护罩确保松散样品和小样品测试时的安全；14 分析数据自动统计功能：对多次测试可自动统计大值、小值，及标准偏差等；15 测试时间控制方式：具备扳机控制和软件控制模式操作仪器，也可实现USB与电脑连接操作等多种方式；16电池：可充电锂电池，容量6700mAh，充满电正常测试可使用6小时以上，仪器有电量显示功能；17内置GPS功能，可实时采集和记录测试区位的地理信息；18校准：随机配有标准校准片，进行能量校准后测试；19专业的软件功能，可实现谱图的比对放大缩小及导出功能，对各元素的特征能量总和进行独立计算，同时可依据客户要求设定固定测试报告模板，直接输出标准格式的测试报告，传输到打印机可实现现场数据的及时打印；20 仪器质量1.5Kg（含电池）；21 工作环境适应性：湿度-20℃～+50℃， 相对湿度＜90%；标样配置根据客户测量样品配备一款标样。（合金标样、RoHS标样、土壤标样等）标准附件AC220V充电器一个、EDX-P3600能量色散X荧光光谱仪一台

能量色散X射线荧光光谱仪 X射线荧光光谱(XRF)分析法是对各种各样材料进行元素测定的一种现代化的通用分析方法。不管是块状样品、粉末样品还是液体样品，位于元素周期表上从4号元素铍（Be）到92号元素铀（U）之间的几乎所有元素都可以进行精确的定性、定量和无标样分析。根据不同的应用要求，其分析浓度范围可从0.1ppm到100%，而且即使高至100%的元素浓度也能直接进行测量而无须进行稀释。XRF分析法具有样品制备简单、测定元素范围广、测定精度高、重现性好、测量速度快（30s-900s）、无环境污染、不破坏样品等特点。 XRF法广泛应用于环保、地质、矿物、冶金、水泥、电子、石化、高分子、食品、药物以及高科技材料等领域，在产品研究开发、生产过程监控与质量管理等方面起着重要的作用。具体应用见以下说明： ●电子、塑胶、五金材料：各种电子元件、五金件、塑胶原料及制品、线路板等。●纸张及纸原料：纸原料、各种纸张、调色剂、油墨等。●石油、煤炭：石油、润滑油、重油、高分子聚合物、煤炭、焦炭等。●陶瓷、水泥：陶瓷、耐火材料、岩石、玻璃、水泥、水泥原料和生料、熟料、石灰石、高岭土、粘土等。●农业、食品：土壤、农药残留物、肥料、植物、各种食品等。●有色金属：铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等。●钢铁：生铁、铸铁、不锈钢、低合金钢、高合金钢、特种钢、铁合金、铁矿石、炉渣、电镀液、铸造砂等。●化学工业：无机有机物及制品、化妆品、洗涤剂、橡胶、调色剂、催化剂、涂料、颜料、药品、化学纤维等。●环境：各种废弃物、工业废物、大气粉尘、工业废水、海水、河水等。●生物科学：有机体、辅助物等。 X射线荧光分析基本原理各种元素的核外电子轨道位能互不相同，因此，受激发后发出的X射线光子能量互不相同，即每种元素发射该元素原子所特有能量的X射线，代表了该元素的特征，因此称作该元素的特征X射线。每种元素的特征X射线具有其特定的能量，检测到此种能量的X射线，即可以确定物质样品中有该元素存在。 能量色散X射线荧光仪器原理X光管加高压产生的原级X射线经过滤光片适当过滤后照射到样品上，激发样品中所含元素的特征X射线(称为X射线荧光)，使用具有高能量分辨率的X射线探测器，得到X射线荧光能谱，不同的元素在谱图上形成不同的谱峰。谱峰的强度与样品中元素的含量成正比关系，通过计算机对探测器检测到的能谱进行解析，以谱峰位置和形状对样品中含有的元素种类进行定性，用谱峰强度对元素成分进行定量分析。 能谱仪简介：能量色散X射线荧光光谱仪是采用能量色散X荧光分析技术，同时测量多种元素的分析仪器，根据用户应用要求可配置为从Na到U的任意多种元素的分析测定。该仪器可广泛应用于环保、考古、建材、RoHS指令等各种行业。是企业质量控制的理想选择。 整机性能：●Si(PIN)或SDD半导体制冷探测器探测器的分辨率是评价能量色散X荧光光谱仪性能的主要指标之一 分 辨 率 145eV (分辨率越低则灵敏度越高)计 数 率 1000/S晶体面积 15平方毫米铍窗厚度 = 0.025mm探测功率 1.2W ●多道脉冲幅度分析器（俗称谱仪能量刻度）通道数：2048道 ●电源控制器系统电源控制+5 VDC at 250 mA (1.2 W)恒定制冷控制 400 VDC ●低功率小型侧窗X射线发生器（俗称X光管）经过内部嵌铅特殊处理的X光管进行全范围屏蔽,只留侧窗X射线出口区。 罐绝缘油用于高压绝缘和冷却，0.005英寸铍窗标准窗口，额定功耗为50瓦、额定电压为50千伏。设计使用寿命15000小时。 ●高压发生器输 入：85～265Vac,47～63Hz,功率因数校正。 1kV～5kV的型号符合UL85～250Vac输入标准电压变动率：无负载到满负载，输出电压的0.01%电流变动率：0～额定电压，输出电流的0.01%纹 波：输出电压的0.25%峰-峰 温度系数：电压或电流调定，0.01%/℃ 稳 定 性：预热半小时后，0.05%/8小时 ●滤光片自动转换系统滤光片自动转换系统：6种滤光片自动选择并自动转换（滤光片作用：改善激发源的谱线能谱成分，在进行多元素分析时，用来抑制高含量组分的强X射线荧光，提高待测元素的测量精度）。 ●安全防辐射系统1、重新设计的低辐射X射线管经过特殊处理（从源头做起）2、全封闭铅板双层防辐设计（从设计结构做起）3、全自动铅板滤光片自动屏蔽装置4、样品盖意外开启X射线强制中断装置 5、延时测试与X射线警示系统 ●针对ROHS指令限制使用有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br的检出限Cd、Pb、Cr、Hg、Br的检出限为2ppm ●强大的分析软件工作站1．一键式的操作软件，简单易用，无需专业知识。2．人性化的人机界面3．各种测试参数无需操作人员设定，强大定制报告功能。4．测试数据自动存储，具有历史查询功能。5．最前沿的定性定量分析方法。6．可同时分析几十种元素。7．元素分析快速，分析时间从30秒到900秒可调。8．长时间待机不用，自动降低管压、管流，延长X光管寿命。9．对X射线管进行温度管控，保护X射线管并延长它寿命。10．实时监测仪器运行状态，轻易维护仪器。11.防止在测试样品时打开样品盖的误操作，软件有警示操作提示，同时关闭高压电源。

仪器简介：ZSX PrimusII是理学公司最新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪，是材料分析与评价的好帮手。 ZSX PrimusII是波长色散扫描式荧光光谱仪，分析精度高。 可以对4Be到92U进行定性、定量分析。 元素的检量范围从0.0001% ~ 100%，如进行前处理，可以再下降2 ~ 3个数量级。 可以分析材料的状态包括：粉末样品、块状样品、液体样品。 可以分析材料的领域包括：电子和磁性材料、化学工业、陶瓷及水泥工业、钢铁工业、非铁合金、地质矿产、石油和煤、环境保护。 技术参数 X射线发生器部分 X射线管：端窗式Rh靶 4kW或3kW 高压发生器：高频变频方式 额定电压,电流：4kW,60kV-150mA 稳定度：± 0.005%(对电源± 10%变化时) 冷却水：水冷冷却水(内置) 分光部部分 样品交换器：可以选择12,24,36,48样品交换器 样品尺寸：&phi 51mmx40mm(H) 分析样品面：最大&phi 35mm 样品旋转：30rpm 1次X射线滤波片：4种(Al,Ti,Cu,Zr) 视野限制光阑：6种自动交换机构(&phi 35,30,20,10,1,0.5 mm) 发散狭缝：3种自动交换机构(标准分辨率、高分辨率、超轻元素用(选件) 接收狭缝：SC用,F-PC用 测角仪：&theta -2&theta 独立驱动 测角范围：SC、5° -118° ， F-PC、13° -148° 最大扫描速度：1400° /min(2&theta ) 连续扫描：0.1-240° /min 晶体交换机构：10分光晶体自动交换机构 分光晶体：(标准)LiF(200)、Ge、PET、RX25 (选件)LiF(220)、RX4、RX9、RX35、RX40、RX45、RX61、RX75、RX80、RX61F、TAP 真空排气系统：双真空室高速排气系统(双真空泵) 粉末样品附件(选件) 氦气置换机构(选件)：带隔板 恒温化机构：36.5度 记数.控制部分： 重元素用：SC闪烁计数管，记数线性1000kcps 轻元素用：F-PC流气比例计数管，记数线性2000kcps 芯线加热自动清洗机构 衰减器：IN-OUT自动切换(衰减率1/10) 计算机：windows PC 软件： 定性分析：自动鉴定分析功能，包括平滑,扣背景 定量分析：检量线法 JIS法 各种基体校正 无标样分析法 EZ扫描,应用模板, 样品径自动选择 谱峰分离 定精度测试 E-mail传送功能,多功能标准样品 其它选件 维护功能: 自动PHA调整(PAS) 全自动芯线清洗 自动老化 自动诊断 远程诊断主要特点：1、 大幅度提高了超轻元素(B,C)的分析灵敏度、准确度 使用理学独创的强度最高的分光晶体RX-25，RX-61，RX-75，保证轻元素分析的灵敏度 采用APC自动真空控制机构，保证超轻元素分析的准确度(理学专利) 使用4KW 30um超薄窗、超尖锐、长寿命X光管，最适合超轻元素分析 2、 采用新光学系统，实现对重元素的高灵敏度分析 3、 强大的粉末样品测试功能 上照式，可以长时间防止粉末污染分光室 双泵、双真空设计(样品室/预抽真空室)，防止粉末样品的细微粉尘混入分光室 粉末附件，采用电磁阀真空密封，防止细微粉尘进入真空泵内 4、 加装CCD视频摄像机构，位置分辨率可达100um，可以进行0.5mm的微区分析，可以测量Mapping(理学专利) 5、 提高少量样品的分析准确度 使用r-&theta 样品台(理学专利)，彻底解决了X射线照射不均以及分光晶体强度不均的问题，保证样品在X射线最强、最佳条件下测量。 6、 样品室与分光室之间有专用隔膜装置 7、 48位自动进样器 8、 PAS自动调整脉冲高度系统(理学专利) ACC自动清洗F-PC芯线系统(理学专利) 可以保证仪器在最佳状态下使用 9、 节约能源(自动减少X射线管的输出)；节约PR-10气体；节约He气(选用He室时)；节省空间 10、 自动监控、自动开关机、自动节能等多功能操作软件 11、 先进的软件分析，NEW SQX软件 12、 全中文界面

布鲁克S8 XRFX射线荧光光谱仪的详细资料 自上世纪60年代德国西门子推出全封闭型的X射线荧光光谱仪（XRF）以来，已经有50多年的商业化进程。布鲁克AXS公司（前身是德国西门子公司的X射线分析仪器部）一直坚持专业化的道路，领导着X射线分析技术发展的潮流。根据新的技术和对用户需求的深入了解，围绕分析测试任务的核心整体设计仪器和功能。2008年布鲁克成功推出S8 TIGER，在灵敏度、准确度、精密度、安全性、可靠性、操作简便性、分析速度、功能完备的分析软件等方面，把XRF分析技术又一次推向了全新的历史阶段。 2017年，第二代S8 TIGER成功推出，采用HighSenseTM技术，保证从铍（4Be）到镅（95Am）的所有元素提供高灵敏度。HighSense技术包括紧凑的HighSense光路、HighSense X射线发生器、HighSense X射线管、HighSense XS系列分光晶体、HighSense计数电子元件。凭借HighSense技术、高分辨率WDXRF技术以及对轻、中、重元素的检测，第二代S8 TIGER的XRF2 微区分析系统可提供高灵敏度、300μm的小光斑尺寸以及高的空间分辨率。 一、高灵敏度、高准确度及高精密度紧凑的HighSense光路HighSense光路，阳极—样品—探测器之间距离短，信号损失少，保证了高灵敏度HighSense高稳定性固态发生器采用新技术模块化设计的固态发生器，稳定性优于±0.00005%，可靠性好。S8 TIGER 1kW，激发电流50mA，激发电压50kV，同级别中强度高。配有内部水冷机，不需要外部水冷机，插上电源就可以使用。S8 TIGER 3kW，激发电流150mA，激发电压60kV，强度上堪比传统的4kW荧光仪。S8 TIGER 4kW，激发电流170mA，激发电压60kV，市场上好的荧光仪。HighSense低温X射线光管HighSense超尖锐端窗陶瓷光管，设计功率4200W，设计电压75kV，设计电流200mA。独特的双路水冷系统，除阳极冷却外，光管头部增加特殊冷却回路，避免光管头部热量对样品的影响，提高易挥发元素及低熔点样品测量的稳定性。提高了分析液体样品、低熔点样品的安全性。此外在阴极与铍窗之间增加隔板，避免蒸镀现象，光管强度不衰减。标配75 μm铍窗，HighSense光管50μm铍窗，强度提高15%，HighSense光管28μm铍窗，超轻元素强度提高50%。HighSense光管铍窗上有保护性涂层，耐腐蚀。高灵敏度、高稳定性的分光晶体HighSense系列人工合成晶体，大大提高了轻元素的检测能力，其中：XS-B晶体提高B元素分析灵敏度百分之百；XS-N晶体提高N元素分析灵敏度百分之百；XS-C显著地降低了背景，提高信噪比30%；XS-55晶体对O、F、Na、Mg元素的灵敏度也比常规的晶体提高了10%以上；XS-400晶体与LiF200晶体覆盖的元素完全相同，但是灵敏度提高了35%；XS-CEM人工多层膜晶体，测量Al—S间元素具有无以匹敌的长期稳定性，没有PET晶体的潮解现象，没有PET晶体随着时间的推移强度降低的现象，没有其它天然晶体的温度效应。是水泥、玻璃、矿物、采矿、地质、铝业等领域测量主含量Al、Si的晶体；XS-Ge-C锗弯晶提高P灵敏度40%，提高S灵敏度20%以上；XS-PET-C弯晶提高Al的灵敏度20%。HighSenseTM探测器技术及动态匹配TM功能 HighSenseTM流气正比计数器和闪烁计数器，极快的死时间校正，即刻显示PHA扫描图，数字信号传输，线性范围高达4Mcps（线性偏差≤1%）。动态匹配TM功能，软件自动降低电流，使高含量元素的计数不超过探测器的物理限制，测量更准确，低含量元素自动在满功率条件下测量，使痕量元素也能准确地测量。采用动态匹配功能探测器的高计数率可以达到13Mcps。动态匹配功能可以采用相同的谱线分析样品中从ppm到百分之百含量范围的成份。 HighSense高效的微区分析系统XRF2 借助HighSenseTM技术，第二代S8 TIGER能针对小到0.3mm并可选1.25mm的微小区域开展高灵敏度的元素定性、定量、无标样定量及元素分布分析，步长0.1mm。轻元素采用正比探测器，重元素采用闪烁探测器，灵敏度提高10倍，实现了同级别仪器里真正的微区分析。此外，高清摄像头能够对感兴趣区域拍摄图片，保证微区分析的针对性和重现性。 高透光性的真空封挡在测量液体和松散粉末样品时，程序控制的真空封档将样品室和光谱室分开，允许在固体和液体样品的分析之间快速地切换。由于只有很小的样品室充氦气（氮气），真空封挡显著地降低气体消耗量，同时探测器的稳定性更高，结果的精密度更好。在测量过程中，独特的真空封挡也可以在液体样品泄漏或有粉尘样品时保护光谱室，防止被污染。真空封挡是S8 TIGER的样品保护TM包的一部分。高精度光学定位测角仪采用高精度光学定位测角仪，定位精度高，测角仪直接到达预设角度，快速连续前进，无需反复调整，长期运行没有磨损。角度准确度优于±0.001°，角度重现性优于±0.0001°,扫描速度1200°/分钟，转角速度4800°/分钟。变动理论α系数法采用基本参数法单独地计算每一个样品的校正系数，从而进行全面的集成的基体效应校正，这就是变动理论α系数法。其显著的优点是：需要的标样量少、校正系数更可靠、校准曲线可以适当延伸、操作方便、不需要很多的经验来选择影响元素、对于大的材料范围和很宽的浓度范围都可以得到可靠的结果。同时兼容固定理论α系数法、经验α系数法基体效应校正，三种校正模式也可以混合使用。对于固定理论α系数法、变动理论α系数法、经验系数法及混合校正方法只需一个用户界面解决所有问题，非常易于使用。未知烧失量校正对于烧失量或烧增量很大的样品，通常的做法是将样品预先灼烧，然后根据烧失量进行反算或将烧失量输入到基体校正公式进行校正，分析全铁的时候还有用钴做内标的。布鲁克未知烧失量校正功能不用测量烧失量，软件会根据其它分析成分估算一个LOI，然后经过多次迭代和拟合，无需知道烧失量也可以进行准确的烧失量校正，大大地提高了分析速度也节约了分析成本。角度偏移校正校正价态、矿源差异等引起的峰位位移，测量结果更准确。独有技术几何校正通过直径–厚度–密度、直径–厚度–质量或直径–质量–密度三种样品制备选项对未达到X射线穿透饱和深度的样品进行几何校正，从而得到更准确的测量结果。独有技术制样校正软件对用熔融制样或粉末样需加粘合剂的制样方法，采用任意配比、随意称量、准确输入的方法，称样误差小，称样速度快，不同的制样方法可以共用同一工作曲线。独有技术P10气体密度稳定器在P10气体钢瓶与流气正比计数器之间安装有气体密度稳定器，使探测器里的气体密度始终保持恒定，保证测量结果精密度更高。流气计数器采用数字式压力控制，控制更精密。高稳定性的光谱室光谱室温度稳定性优于±0.05℃，避免了温度变化引起分光晶体的面间距变化，从而引起被测量元素光子衍射角度的变化。采用真空度控制测量对于固体样品，采用真空度控制测量，只有达到预设的真空度才开始测量，避免了吸潮样品在测试阶段真空度的不一致引起强度计数的差异。 二、高安全性、高可靠性 样品保护™ 功能，四重保护，保证仪器长期可靠运行在样品进入和退出样品室时采取独特的保护，使仪器的故障率低，维护成本少两个污染防护屏，分别保护光管和光谱室粉尘接收盘，收集掉落下来的样品颗粒 测量过程中的独特保护 光管保护屏DuraBeryllium™ 高强度铍窗，保护光管窗口 独特的高透光性真空封挡保护光谱室原位进样系统S8 TIGER采用了直接进样技术，即样品直接装入到仪器的测量位，保证样品到光管的距离不会变化。采用这种直接进样方法的样品室可以设计得很紧凑，又保证了抽真空和充氦气的快速可靠。传统的光谱仪使用样品转台系统来进样，转台上的2个位置经常会出现位置不准的问题，光管到样品的距离的细微变化都会降低分析精度，这时就需要维修，或放弃样品转台的第二个位置。同时这种设计不可避免地扩大了样品室的 体积，增加了进样机械装置的复杂性和保养维护难度。直接进样系统在进样和出样过程中，光管的高压关闭，是完全没有X射线的。在执行这些操作时，光管的灯丝加热电流一直是通的，维持光管的稳定性。1.直接进样代替分步进样，机械结构简单，零故障。2.避免样品在仪器内部过多的运动，避免粉尘积聚、 液体侧翻的风险。3.清洗样品室简单，不需要打开仪器，易于维护。 4.进样速度快。 等级密码保护功能对不同的人给予不同的用户许可权，对曲线参数、数据库、谱线库、仪器参数等加以保护。??双计算机控制系统。日常的分析采用触摸屏控制，保证操作简单而无失误，即使在恶劣的环境中仪器也能正常工作。对于应用开发、校正曲线回归、扩展评估等，通过另外一台计算机完成。两台计算机都可以完成日常分析控制，即使一台出现问题，也不影响测量工作全新设计的安全回路电路板全新设计的探测器、多道分析器、安全回路电路板、马达驱动板、4轴板等，仪器的运行更可靠。防尘设计防尘设计机柜，仪器整体密封，箱体内采用循环水冷却，避免了风冷容易在电路板上带来粉尘的缺点，仪器内部恒久保持洁净，可以在任何恶劣的环境下长期正常工作。产品认证经过德国第三方检测机构对技术指标、辐射保护、电器安全的严格测试，符合德国DIN54113射线防护和CE电器安全等“产品认证”，是德国政府核准的定型仪器。 三、操作简单 触屏控制™ 1. 直观的触摸屏，操作简单，无需 培训，仅需三步就可以得到准确的结果.2.实时显示及查找以前测试结果3.S8 TIGER实时状态显示4.在线帮助功能5.中文操作软件，在线的多语言界面自由切换快速的符合人体工程学的样品装载1.75位带有托盘的自动进样器，可识别样品类型2.60位大样品杯进样器，适合各种类型及形状样品3.108位不用样品杯进样器，机械手直接吸取样品 四、非常快的分析速度非常快的分析速度基于：高强度的X射线光管、快速运行的电子电路板、快速的内部通讯在保证分析精度的前提下，根据元素的含量不同，每个元素的测量时间在2-10秒钟。例如水泥样品中10个元素(Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、K2O、CaO、TiO2、MnO2、Fe2O3)，从放入样品到显示结果不超过2分钟，分析速度完全可以和多通道荧光仪相媲美，而分析的灵活性和高准确度是多通道荧光仪所不具备的。 五、功能完备的分析软件SPECTRAplus V4定性、定量分析软件 SPECTRAplus V4是专为第二代S8 TIGER研发的功能强大的现代分析软件。SPECTRAplus V4包括了定性、定量分析的所有功能，运行在Windows 10环境。SPECTRAplus V4为简单、快速的操作而特别开发的，支持第二代S8 TIGER的独特的TouchControlTM触屏控制的全部功能。 SPECTRAplus V4支持网络功能，用网络中的任何计算机都可以实现全部的分析功能，如分析曲线开发、无标样评估、数据报表。网络计算机的数量没有限制。 SPECTRAplus V4定性分析软件具有交互及自动寻峰以及元素识别功能、自动背景扣除与平滑、高分辨显示样品谱图、坐标轴变换、自动提醒干扰谱线等功能。 SPECTRAplus V4定量分析软件具有集成的智能专家系统，确保用户充分利用S8 TIGER的分析性能创建用户自己特殊应用。分析曲线的自动导航功能从材料的定义到结果的输出，引导用户一步步完成，从开始就可以完成高质量的分析。可以灵活的输入制样参数及任何可用的化学信息。采用基本参数法进行完全一体化的基体校正（变动“理论α系数法”，计算每一个样品的校正系数），也可以采用理论系数法与经验系数法相结合的固定α系数法进行强度及强度/浓度混合模式的基体校正。用图形显示测量强度、校正强度及背景强度。用户可以指定结果输出格式，非常容易地编辑成报告格式。分析结果超出警戒线会自动显示与报警。全局或指定漂移校正功能。“Daily-Check-Routine”程序定期检查仪器，满足GLP要求。在线统计分析。 SPECTRAplus V4完全汉化，所有程序全部有中文界面、中文提示。并且版本可以保持与英文版同时升级，可以随时切换成中文、英文、法文等界面。 QUANT EXPRESSTM无标样软件包 QUANT EXPRESSTM允许在没有标准曲线的情况下对完全未知的样品进行自动分析。 QUANT EXPRESSTM提供了无以匹敌的分析灵活性。可以在2分钟之内采用扫描模式进行无标样分析，也可以对痕量级的元素进行准确测定。根据用户的需求，QUANT EXPRESSTM可以提供用于交互评估的扫描测量模式，也可以提供峰/背比测量模式。 QUANT EXPRESSTM是一体化分析智能的一部分。可以执行自动寻峰、元素与谱峰的识别、微区定性的元素分布及每一个单点的元素浓度显示、经背景与谱线重叠校正之后净强度的测定等。SPECTRAplus V4软件中独有的强大的变动α系数法基体校正功能，自动执行基体校正及不同类型样品（薄膜、无限厚或非无限厚样品）的校正。用户输入的样品的特性、已知元素的浓度和基体成分都可以集成到一起，进一步提高分析结果的准确度。 QUANT EXPRESSTM可以完全用于用户特定的标准曲线中，采用变动α系数法测定没有标样的元素。它是SPECTRAplus V4集成部分，作为专家系统提供任何应用的谱线设置。S8 TOOLS诊断、维护和服务软件独特的诊断、维护和服务软件包，允许直接控制和检查S8 TIGER的所有部件，确保仪器的控制和分析非常容易。操作过程中的故障很容易识别和消除，确保操作简单、维护方便及长时间正常运行。运行在Windows界面下的自诊断软件，非常直观，可以全面监测系统的几百种状态，您可以将整个状态存盘，发送给维修人员，从而可有效降低维修费用，缩短维修时间。 WebeX远程服务-维护-支持软件允许Bruker AXS专家通过网络进行远程支持，使第二代S8 TIGER达到好的可用性。专业解决方案软件包◆ML PLUS多层膜分析软件：采用先进的完全基本参数法，具有吸收法和发射法两种分析模式；薄层分析采用发射法，厚层分析采用吸收法（准确度更高）。可分析多达15层（每层16个元素）的镀膜样品，测定每层膜的厚度和元素含量。◆PETRO-QUANT软件，可以对油品、塑料、橡胶、聚合物等样品中的30个元素进行优化的无标样定量分析，以及预定义的EN、ISO、ASTM、DIN分析油品的方法和预校准分析曲线。为用户提供交钥匙方案，仪器安装后可以按照国际标准方法立刻进行常规分析。◆GEO-QUANT ADVANCED氧化物分析软件，是地质、矿物、采矿、耐火材料、玻璃与陶瓷业的解决方案，采用熔片法制样，可以分析氧化物中21个主、次元素。◆GEO-QUANT T软件，基于数百个国际参考样品建立的校准曲线，测量地质样品中微量、痕量元素，是地质方面的研究、监测、环保等全面解决方案。◆CEMENT-QUANT软件，采用国际标样建立的水泥工业完整的解决方案，可用于生料、水泥、熟料及采石厂来料中14个元素快速、简单、精密的定量分析。◆METAL-QUANT软件，金属材料的解决方案，可以分析铁基、钴基、镍基、铜基、铅基、锡基中23个主、次及痕量元素。◆POLMER-QUANT软件，用于分析聚合物中的微量和痕量成分。◆GEO-QUANT Iron Ore软件，可以分析铁矿石、铁精矿、球团矿、烧结矿等含铁矿物中20个主、次及痕量元素。

S4 TStar — TXRF全反射X射线荧光光谱仪 数十年来，X 射线荧光（XRF）光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析，检测限值低于PPb 量级。TXRF 扩展了XRF 的应用范围，可以分析液体样品、悬浮液和膜片中的超微量元素。优异的样品通用性S4 TStar 是一种通用性很强的工具，可以分析不同反射载体上的多种类型的样品。ICP 只能分析完全溶解的液体样品。图一：30 毫米石英片：对液体、固体和悬浮液进行元素分析图二：2 英寸晶片：污染分析、深度剖析和材料科学研究图三：显微镜载玻片：临床和生物学样品，直接分析细胞培养物、涂片和切片图四：矩形载体：尺寸小于54 毫米，用于膜片、滤片、纳米颗粒层 定制的反射介质 行业应用： 药品检测活性药物成分中的催化元素：液体或丸粒中的铅含量小于0.1 / 0.5ppm 食品粮农组织和世卫组织的食品标准：大米中的砷含量小于10 / 40ppb。 环境监测环境监测：地表水，废水、污泥和核废液中的污染物含量小于1 / 10ppb。

TX3000全反射X射线荧光光谱仪是浪声科学经过多年XRF技术沉淀，专门设计研发用于元素分析和痕量分析的便携式光谱仪。其能够在极低的背景噪声条件下实现高灵敏度检测，可快速针对液体、悬浮液、固体和污染物，进行定量和半定量多重元素微量分析，为痕量元素分析领域提供了一种高效率、高灵敏度的解决方案。TX3000体积小巧，便于携带和运输，非常适合现场分析或移动实验室的需求。其具有制样简单、高性能、易用性、环保性和经济效益等特点，是科研、质量控制和环境监测等领域中不可或缺的分析工具。使用优势一键智能操作具备用户友好的操作界面，使得操作简单、直观，即便是非专业人员也能轻松掌握。多元素同时分析仪器可以同时检测铬、铅等8大主要重金属元素，也可以根据检测需求进行元素扩展，分析近30个元素，大大节省了分析时间。轻便易携设备小巧，一体化结构设计，不需要任何辅助设备及气体、液氮等，可拿到现场或野外进行检测分析。环境友好与传统X射线荧光光谱仪相比，TXRF采用特殊几何配置，有效降低了辐射暴露风险，更能保障操作人员安全。本土化服务国内生产厂家能够提供更快速的售后服务和技术支持，确保用户在使用过程中的问题能够得到及时解决。 微量样品需求该方法只需极少量的样品即可进行准确分析，非常适用于样品量有限的情况。高精度与高灵敏度仪器采用多层膜单色器和全反射光路设计，缩短了探测器到样品距离，提高了荧光产量，适用于痕量元素的精确测定。低背景噪声X光束以掠射角照射样品，降低了散射和荧光背景，实现了更低的背景噪声，检测低限可降低几个数量级。低运行成本相比进口设备，国产TXRF通常具有更高的性价比，同时设计用于低能耗运行，需要的样品量少，减少了对昂贵试剂和标准物质的需求，另外样品溶解程序不需要使用设备以及危害性化学品，成本效益极高。应用领域环境科学土壤、空气和水质的微量元素分析材料科学食品安全生物医学/生物制药文化遗产地质/冶金法医学化妆品规格参数尺寸360 ×365 × 265mm（L×H×W）重量18KG核心技术全反射X射线荧光（TXRF）元素范围Al(铝)—U(铀)含量范围ppb至100%样品类型液体、悬浮液、粉末、颗粒、金属、薄膜、组织、擦拭物、过滤材料等样品体积液体及悬浮液从1μl到50μl，颗粒最大直径为100μm,粉末最大为10μg样品座载玻片X射线管高亮度微焦斑固定靶点光源光学系统真空正交背靠背X射线人工多层反射聚焦镜探测器50mm2超大面积SDD探测器数据显示系统仪器一体自带显示器，超大工业级电容屏附件移液枪、移液枪吸头、研钵、抹刀、加热干燥装置等

波长色散X荧光分析仪是我公司总结我国多年来研制该类型仪器的经验和教训,并吸收与参照国际先进技术基础上，深入进行产业化研发形成的高科技产品，各项技术性能指标均已达到国际同类产品水平。X荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的领域，例如建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(钢铁、有色金属)、石油（微量元素如S、Pb等）、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。是常量分析和微量分析的可靠工具，也应用于大专院校和科研单位。 波长色散X射线荧光光谱仪，是本公司吸取国外先进经验，整合国内技术优势，精心设计的实验室设备。其卓越的性能可以满足不同客户的分析要求，极具吸引力的价格，使用户在低成本分析过程中受益。目前我们的仪器已经在建材（水泥、玻璃、陶瓷）行业、有色金属、钢铁、石油化工等领域得到了广泛的使用。应用效果良好，满足用户的实际需要。 应用领域：●AL-BP-9010A非常适合在大、中、小型水泥厂（单、双窑）做质量过程控制使用。可用于分析原料（如石灰石、沙土、矾土、菱镁矿和其他矿物）中主量和次量氧化物的分析 生料、熟料和水泥中的 CaO, SiO2, Al2O3, Fe2O3, MgO, SO3, K2O, Na2O, Cl等常规元素的测定。●钢铁行业的应用：依据GB/T 223.79-2007测定Si、Mn、P、S、Cu、A、Ni、Cr、Mo、V、Ti、W、Nb元素。●其它行业的应用：石油中的S、P测定，玻璃、陶瓷、有色金属、矿业、地质、化工、质量检验等。 特 点：高度自动化的分析，省力省时适合原材料、新材料、产品的研究及管理等分析，可对多种样品进行从微量到高含量的分析。仅需约3分钟即可完成1个样品中十几种元素的定量分析，由于仪器整机的高稳定性充分保证了全自动分析。 生产流程的管理分析可快速获得分析结果，经数据处理后，可进行质量检验、规格判断等，应用于生产管理分析（特别是炉前分析）。 质量控制迅速分析从生产线采集的样品。将分析结果（配比计算）作为原料配制的控制数据进行反馈，用于提高质量及稳定质量。 优 势：为了保证仪器性能，本仪器所用核心部件，如X射线管、高压电源、探测器、流气控制系统、分光系统均采用进口部件。与同等性能的仪器相比我司的仪器价格仍具一定优势。 技术参数●分析元素种类：从11Na～92U 的任意十种元素。●X射线管：Varian 公司生产的400W 薄铍窗端窗X射线管，Rh 靶（Pd 靶可选） 。●X射线管冷却：专业的循环制冷冷却，无需冷却水。●高压电源：400W ( 50kV8mA ) ，管压管流12 h稳定度：优于0.05 % 。 ●恒温室温度控制精度：设定值±0.1℃●探 测 器：流气正比探测器、封闭计数管、闪烁计数器。●数据处理系统：12 路2048 道独立脉冲高度分析器。 ●真空系统：独立泵站结构，双真空室，易于维护，测量室最高真空度：低于7Pa。●流气系统：采用国外高精度密度流量控制系统，高精度流气密度稳定装置，压力稳定度达到士0.01kPa。 ●交流220V 供电设备：2kVA交流净化稳压电流。 ●稳 定 性：( 24 h) ≤2%。●计数器的能量分辨率：≤40%。●仪器计数线性：≤1%。●单个样品测量时间：（含换样抽真空时间）≤(2-5)min 。●样品尺寸：40mmx10mm(H) ●分析样品面：最大35mm ●样品旋转：30rpm ●软 件：定性分析(自动鉴定解析功能(平滑,扣背景) ●定量分析：各种基体校正,标样分析法,应用模板, ●维护功能：自动诊断,远程诊断 软件特点1）自主开发的软件全中文软件系统，适合windows操作系统，软件操作简单，完全符合中国人操作的习惯，对操作人员无特殊要求；2）操作界面直观，可多任务同时执行，人机对话，方便修改和设定各种参数；3）采用全谱检测，实时智能校正仪器漂移到最佳运行状态；4）仪器采用最先进的数理模型算法标定工作曲线过程简单，更符合用户生产工艺特点；5）强大的数据库系统支持，实现各种基体、背景干扰校正；6）配备水泥行业在线率值配料配比反馈调节计算和水泥组分测定模块，测量生产样品结果的统计，帮助工艺工程师分析配料变化情况；7）强大的历史记录查询功能，随时动态掌握生产工艺变化；8）强大的自诊断功能，实时监控仪器状态，自动的保护功能；9）具有流行的DCS通讯协议,可以方便地与DCS系统进行数据共享。 水泥行业应用：波谱仪系统主要由样品制备设备（包括振动磨、压片机）、波谱仪主要、计算机系统（主要包括主机、监视器、打印机、键盘、数据通讯接口）等，与其他相关设备配合构成波谱仪生料质量控制系统。波谱仪主要用于生料化学成分的分析，以实现原料配比的在线自动化控制，保证入窑生料率值的标准偏差达到规定指标；同时，X荧光分析仪也可用于各种原料、燃料、熟料、水泥的离线分析。 本仪器是同时式波长色散型光谱仪，可装载10个以上（含10个）分析通道用于多元素同时测定，元素分析范围为钠到铀，元素预设范围为水泥10大元素Ca、Fe、Si、Al、Na、Mg、S、K、Cl、P，分析速度小于2分钟。输入电源为单相220/240VAC，并由主机向PC机和打印机供电。

MYTHEN2 波长色散型X射线荧光光谱仪-线阵光子计数探测器1、产品特点： MYTHEN系列微带探测器充分利用了混合光子计数（HPC）技术的所有优势：如无噪音、高速采集、耐辐射性能优越等，并以 此带来了最佳的实验室应用体验。MYTHEN2 R系列探测器有两种不同的尺寸：MYTHEN2 R 1K(含1280条微带）和 MYTHEN2 R 1D（含640条微带）。MYTHEN2 R 系列探测器结构紧凑，传感器位置对称， 适用于从便携式仪器到大型系统等各种不同 的衍射仪构造。DCS4探测器控制系统支持多模块系统组合， 能够获取更宽的角 度覆盖范围，最多可支持 4 台探测器同时工作。 MYTHEN2传感器微带宽度为50μm，具有三种可选厚度，分别为 320、450 和 1000 μm。同时微带分为两种长度： 4 mm长微带在低能X射线下有最佳的信噪比及极短的读出时间，因此可用于以钛靶光源进行测试的场合，特别适合原位残余应力分析；标准 8 mm 长微带具有最宽的有效面积和和最佳的分辨率，适用于所有X射线分析场合：与 1000μm 传感器共同使用时，可在实验室进行原本只能用同步辐射光源开展的PDF分析。2、核心优势： - 短微带，适用于钛靶及铬靶高产出测量场合； - 厚传感器，适用于银靶光源进行PDF测量； - 结构紧凑体积小，适用于各种尺寸的衍射仪和不同的预算； - 可实现多模块系统组合，覆盖更广的角度范围； - 无需维护及耗材。 3、应用领域： -X-射线粉末衍射和散射技术； - 残余应力测量； - 薄膜和织构分析； - PDF分析； - SAXS、WAXS、GISAXS； - 色散荧光光谱学 。4、技术参数 ：MYTHEN2 R 1K 1D微带数量1280640传感器厚度 [μm]320,450,1000微带宽度 [μm]50微带长度 [mm]8 and 4 (320 μm only)有效面积（宽*高）[mm2] 64 x 832 x 8 , 32 x 4动态范围 [bit]24能量范围 [KeV]4-40*读出时间 [μs]89帧频 [Hz]25点扩散函数 [strip]1能量分辨率2（r m s）[ev]687+5冷却方式风冷模块尺寸（WHD）[mm3]70 x 62 x 2238 x 62 x 22模块重量[g]180100DCS4尺寸（WHD）[mm3]110 x 30 x 160DCS4重量 [g]400 *低于4KeV的X-ray能量仅适用于320μm x 4mm的传感器。 注：所有规格如有变更，不做另行通知。

MYTHEN2 波长色散型X射线荧光光谱仪-线阵光子计数探测器1、产品特点： MYTHEN系列微带探测器充分利用了混合光子计数（HPC）技术的所有优势：如无噪音、高速采集、耐辐射性能优越等，并以 此带来了最佳的实验室应用体验。MYTHEN2 R系列探测器有两种不同的尺寸：MYTHEN2 R 1K(含1280条微带）和 MYTHEN2 R 1D（含640条微带）。MYTHEN2 R 系列探测器结构紧凑，传感器位置对称， 适用于从便携式仪器到大型系统等各种不同 的衍射仪构造。DCS4探测器控制系统支持多模块系统组合， 能够获取更宽的角 度覆盖范围，最多可支持 4 台探测器同时工作。 MYTHEN2传感器微带宽度为50μm，具有三种可选厚度，分别为 320、450 和 1000 μm。同时微带分为两种长度： 4 mm长微带在低能X射线下有最佳的信噪比及极短的读出时间，因此可用于以钛靶光源进行测试的场合，特别适合原位残余应力分析；标准 8 mm 长微带具有最宽的有效面积和和最佳的分辨率，适用于所有X射线分析场合：与 1000μm 传感器共同使用时，可在实验室进行原本只能用同步辐射光源开展的PDF分析。2、核心优势： - 短微带，适用于钛靶及铬靶高产出测量场合； - 厚传感器，适用于银靶光源进行PDF测量； - 结构紧凑体积小，适用于各种尺寸的衍射仪和不同的预算； - 可实现多模块系统组合，覆盖更广的角度范围； - 无需维护及耗材。 3、应用领域： -X-射线粉末衍射和散射技术； - 残余应力测量； - 薄膜和织构分析； - PDF分析； - SAXS、WAXS、GISAXS； - 色散荧光光谱学 。4、技术参数 ：MYTHEN2 R 1K 1D微带数量1280640传感器厚度 [μm]320,450,1000微带宽度 [μm]50微带长度 [mm]8 and 4 (320 μm only)有效面积（宽*高）[mm2] 64 x 832 x 8 , 32 x 4动态范围 [bit]24能量范围 [KeV]4-40*读出时间 [μs]89帧频 [Hz]25点扩散函数 [strip]1能量分辨率2（r m s）[ev]687+5冷却方式风冷模块尺寸（WHD）[mm3]70 x 62 x 2238 x 62 x 22模块重量[g]180100DCS4尺寸（WHD）[mm3]110 x 30 x 160DCS4重量 [g]400 *低于4KeV的X-ray能量仅适用于320μm x 4mm的传感器。 注：所有规格如有变更，不做另行通知。

X射线荧光光谱仪校准用标准物质GBW（E）130331标准物质号：GBW（E）130331X射线荧光光谱仪校准用标准物质（纯铜）标称值：99.95%不确定度：1%包装：1片X射线荧光光谱仪校准用标准物质（纯铝）标称值：99.45%不确定度：2.2%包装：1片X射线荧光光谱仪校准用标准物质（镍铬合金）标称值：68.29%/28.35%不确定度：0.8%/1.2%、包装：1片

该产品基于第一原理设计，具有极高的圆偏正和荧光偏振特性，价格非常有竞争力，尺寸仅为竞争对手产品的1/4，且具有出色的灵敏度和稳定性。 明亮且稳定的滤波LED源可实现最大的激励；使用高通量单色仪和门控光子计数检测器可实现最大的发射灵敏度。具有工厂锁定校准的所有数字性能，即无需锁定放大器，无需G因子校正。两种型号，一种用于UV/Vis，另一种用于NIR。可以增强UV/Vis型号以测量磷光寿命，从而测量CPP。所有配置均可以实现极化和非极化激励。

S1TITAN手持式X荧光光谱仪重量轻（1.23kg，测量范围Mg-U）、是基于X射线管技术的手持式XRF分析仪。快速的分析速度和准确性是S1TITAN 的两大特性。其他功能包括集成的彩色触摸屏、50kVX射线管、SMARTGrade 计时、SharpBeam优化X射线几何形状、硅漂移探测器，以及坚固的外壳，该外壳经过密封，可以防潮防尘。 S1TITAN系列都采用了布鲁克公司的SharpBeam技术，并配置了布鲁克技术X-FlashSDD探测器，向您提供快速分析时间。S1TITAN可以配备各种校准装置，这些装置经过优化，适用于各种样品材料—包括各种合金、不同的采矿与环境样品，以及受限制材料。 SharpBeam技术对探测器和放射管几何图形进行了优化。经优化的几何体具有许多理想的效果，包括：1、降低功率要求 2、减轻重量 3、提高测量度 4、提高探测限制 5、延长电池寿命手持式荧光光谱仪应用领域 QA/QC分析，材质识别(PMI) 1、工厂/精炼厂PMI检测；2、废金属回收 3、航空航天用合金；4、金及贵金属检测 5、矿山；6、矿石品位控制 7、岩芯分析；8、探矿；9、地质图 10、土壤分析；11、金属回收；12、玩具中的铅 13、ASTM-F963；14、RoHS 15、包装中的有害元素分析 16、儿童服装中的铅筛查

ARL PERFORM’X 顺序式 X射线荧光（XRF）光谱仪为实验室提供了一个先进的平台，用于快速、准确分析多达90种几乎在所有固体和液体样品中存在的元素,该技术具有如下优点：● 制样简单、快速● 样品整个表面、表面某一部分或特定点处的分析● 分析速度快● 稳定性高、精度高● 动态范围宽（从ppm 至100%）应用领域：地质、环境、石化、金属、矿物、水泥、玻璃等众多工业及科研领域ARL Perform’X 4200是Thermo Fisher Scientic公司2011年推出的顺序扫描型波长色散X射线荧光光谱仪，该仪器采用模块化结构，设计精巧、结构紧凑、稳定性高，是质量与过程控制和材料科学研究的最佳选择，其卓越的分析性能主要取决于下述技术特点：分析元素范围: Be-U(配备相应的晶体), O-U(标准配置).浓度范围: ppm-100%样品类型: 粉末压片, 熔融玻璃片，固体粉末及液体样品. 真空恒温光谱室保证分析的稳定性。温度是由差动加热/冷却系统控制，光谱室和晶体双温控系统，确保每块晶体的温度都控制在±0.1°C，保证分析数据的可靠性和稳定性。超薄Be窗(50um) 铑靶X射线管；最大功率4.2kW，最大电压60kV，最大电流120mA， 全元素有极好的灵敏度和分析精度。同一样品中不同元素可使用不同激发条件，自动转换管压、管流，转换时间短。降低电源消耗、增加X光管寿命的绿色模式。即当仪器要停止工作1小时或数小时时，X光管的电源在规定时间内自动减小到一种待机状态，当用户开始工作，所要求的工作条件会自动到达。第二代高稳定性固态高压发生器，功率4.2KW，最大电压60kV，最大电流120mA。最大线电压变化在–15% ~ +10%之间时，外电压每波动1%时，稳定性为±0.0001%。电压可在0-60KV之间选择，每步1KV；电流可在0-120mA选择，每步1mA。专利技术的超短距光学耦合设计（UCCO），使样品与阳极靶的距离更近，仪器的分析灵敏度提高20%。第六代莫尔条纹测角仪(ARL专利技术)，无齿轮磨损，由可编程微处理器控制，无需任何机械调整。探测器和晶体系统独立转动，由电子-光学读出器计算两个光栅系统干涉所产生的莫尔条纹来准确定位。在多任务模式中的微处理器保证晶体、准直器和两个探测器的快速和准确定位。这种测角仪是目前最先进的测角仪，并且Thermo Fisher Scientific已有了28年的使用和生产经验。测角仪最大定位速度4800° 2θ/分，定位时间短，比普通光学定位测角仪快2倍，比传统齿轮定位测角仪快4倍；最大连续扫描速度327°2θ/分角重现性 0.0002°：莫尔条纹测角仪由于没有机械磨损，定位精度高，并且彻底避免了普通测角仪因长期使用所产生的机械磨损使分析精度变差现象；9位置晶体交换器：双向旋转，最多装9块晶体；4位置的初级准直器交换器：标配4位准直器，细0.15°、中0.4°、粗1°和超粗2.5°，各元素均可在最佳的分辨率和强度下进行检测。6位初级滤光片：Al20, Al200, Al500, Al750, Cu250，使各元素的分析都具有最佳的峰背比！探测器：免维护的流气正比计数器（终身无需更换芯线）和闪烁计数器两个检测器，检测器的并联设计使光路更短以提高强度。高性能超薄窗(0.6um)流气正比计数器（节约P10气体，P10气流量2升/小时），轻元素检测效率高，全角可控制的角度扫描范围：0~153°/2θ。采用当代最先进的电子技术，仪器全部由微处理器控制。所有控制板上均装有微处理器，分别控制进样器、光谱室真空、温度、探测器、X光管及发生器、水冷、测角仪等，每隔几秒监测仪器的两百多个状态点，发现问题及时报警。可编程的内部双位自动进样系统：即第一个样品在分析状态时，第二个样品进入样品室进行预抽真空；待第一个样品分析完成退出时，第二个样品随即进入分析位置。这样不仅缩短了样品预处理时间，提高了测量速度。同时也避免了粉尘污染光谱室和晶体的可能性。可设置优先分析位置。样品位数：最多可放置112个样品的XY台，具有紧急样品优先分析位置。液体样品分析系统(选配项)，高效的氦气快门装置，确保在分析液体样品时光谱室处于真空环境，而样品室在氦气环境下，分析时流量小于1升每分钟，实现固体样品和液体样品分析环境快速切换（1.5分钟）。此外，在液样盒进入样品室之前，仪器自动识别。防溢出与除尘系统（选配）：分析粉末样品或液态样品是，可选配防溢出和除尘系统，对光谱仪进行实时安全防护！电动的安全闭锁装置，自动控制，结构简单，安全可靠。无需其他辅助设备。

XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用三重射线防护系统（软件联锁、硬件联锁、整机迷宫式设计），彻底杜绝各种工作情况下的辐射泄露。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用独创设计的组合式短光路光路盘，显著提高检测灵敏度，降低检测限。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用大型样品室，无需破坏和前期处理即可测量比较大的样品。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪软件工作站一键式操作，简单易用，使用方便，人机交互友好，无需专业知识。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪从S到U的快速元素分析，测量时间可调。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪多达15组复合滤光片，X射线照射径从1mm到7mm可选。强大的自主定制分析报告格式功能，分析报告可保存为 PDF 和 Excel 两种格式，分析结果自动保存，可方便对历史数据进行查询及统计，只需一次点击即可输出数据。软件可视频观察样品的位置，并且对样品进行拍照，样品图片显示在测试报告中。可进行谱图比对，对不同元素含量的谱图进行比对，进行材料识别。采用经典的定性定量分析方法，全面保证测试数据的准确性。开放式校准曲线平台，可为客户量身定做有害物质检测方案。