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按键寿命测试机

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按键寿命测试机相关的论坛

  • 【分享】按键寿命试验机的使用方法

    按键寿命试验机适用于多种开关或小型成品,作开关或按键寿命试验,速度可调、次数设定并同时六个工位做测试,达到次数后资料保持的特点。  按键寿命试验机的使用方法,如下:  1、夹整产品对准按键,按键具有左右和前后微调,功能用于更准确对准开关位.按键之按键力,就以开关按通到位为准,不必加的太大的力。  2、插上电源,按启动按键寿命试验机的使用注意事项的按键前先把调速旋钮旋到最小,再按启动调节速度旋钮调节到适当速度,开始工作。  3、按键寿命试验机可以根据产品大小,调节适当夹具位置,本夹具有前后调速螺丝用于产品大小差导转大时使用,垫块用于特小开关之用。  4、如果产品需看实际的多少次的断裂,需在开关中引线出来并接在机后红黑夹子上。以上的资料是我收集的,希望能帮到大家,如果有什么不妥的地方,留言哦!!我一定改的http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09506.gif

  • 【分享】按键寿命试验机的保养讲解

    按键寿命试验机适用于矽橡胶类按键作疲劳测试,是可对电脑、手机、计算器、记事本,键盘,开关等做寿命测试。而且速度可以调整,次数任一设定及同时测试数个产品(每个产品均可多点测试),到达次数或掉电停机后还可以保持数据。  按键寿命试验机的保养事项如下:  1.按键寿命试验机在工作时必须有良好的通风环境。  2.在使用按键寿命试验机之前必须放在稳固的地面上。  3.不允许在使用的过程中搬弄机台;  4.选择相应电源电压,切勿过高,避免烧坏器件;  5.按键机械各组件,由于运转负荷较大,机械部分请及时加润滑油;  6.还有一点也挺重要的,就是做好设备的接地工作。  7.每次试验完毕,记得要清理机台,保持机台清洁;  8.在按键寿命试验机出现异常时,不能自行拆除,要请专员检查维修。  9.控制箱部分,须以干布擦拭,不可用湿布,擦拭完,喷一些防锈油。

  • 【资料】探讨按键寿命试验机的5个特点

    按键寿命试验机适用于计算机、手机、电子词典、电话机等keyboard作寿命测试,亦适合硅橡胶厂商作按键测试。  按键寿命试验机的特点:  1、按键寿命试验机可根据试件尺寸大小调整夹具,可根据试件高度调整工作台面高度及测头高度;  2、每个工位可独立设定测试速度、次数;  3、按键寿命试验机采用台湾产AC电机驱动、凸轮结构传动,带动测头作施压动作,测头高低位置可调,测头荷重可调,三个工位可独立设定和控制,可自行判定按键品质;  4、当按键寿命试验机的按键被按坏时可自行判定,并作停机动作,自动记录按破时次数;  5、可根据按键测试所需,调整测头荷重:80~1Kgf;

  • 金属材料疲劳寿命测试的一点点小心得

    [font=宋体]金属材料的疲劳寿命测试在工程领域中具有重要的应用,尤其是在航空航天、汽车制造和桥梁建设等高应力环境下,了解材料在循环载荷下的疲劳性能对保证结构安全至关重要。在进行疲劳测试时,试样的制备和对中是影响测试结果的关键因素。试样的几何形状、表面状态和加工方法都可能显著影响其疲劳寿命。例如,试样表面的微小划痕或应力集中点可能导致裂纹的早期萌生,从而缩短材料的疲劳寿命。因此,试样的制备应严格按照标准进行,并确保其表面光洁无缺陷。[/font] [font=宋体]疲劳测试中,对中不良会引入附加的弯矩,导致测试结果的不准确。实操中,通过使用高精度的对中夹具可以有效减少这种误差。此外,为了获得可靠的疲劳寿命数据,加载波形、加载频率和加载幅值是需要特别关注的参数。不同的加载波形,如正弦波、方波或三角波,都会对材料的疲劳裂纹扩展行为产生不同的影响。通常,正弦波是最常用的加载波形,因为它可以更好地模拟实际工作条件下的应力循环。[/font] [font=宋体]加载频率的选择应基于材料的特性和试验的目的。高频加载可以加速测试进程,但可能引起材料的自发升温,这在某些材料中可能导致力学性能的改变。因此,在高频疲劳测试中,应密切监控试样温度,必要时采取冷却措施。而在低频疲劳测试中,测试时间较长,对设备的稳定性要求更高。因此,设备的维护和校准变得尤为重要。[/font] [font=宋体]疲劳测试设备的维护不仅限于机械部分,还包括控制系统和传感器的定期检查和校准。传感器的精度直接影响到疲劳寿命的测量结果,因此应确保其在测试前处于良好状态。此外,长期的振动和高负荷操作可能会导致设备部件的磨损,这需要在每次测试后对设备进行全面的检查和必要的更换。[/font] [font=宋体]环境条件对疲劳测试的影响不容忽视。温度、湿度和环境压力的变化都会对材料的疲劳行为产生影响。在实际应用中,材料往往处于复杂的环境条件下,因此为了获得更具代表性的疲劳性能数据,应尽量模拟实际工作环境进行测试。例如,在高温或低温环境下进行疲劳测试可以帮助我们理解材料在极端条件下的表现,为工程应用提供更为可靠的依据。[/font] [font=宋体]总结来说,金属材料的疲劳寿命测试是一个复杂的过程,涉及到试样制备、加载条件、设备维护和环境控制等多个方面。通过科学合理的测试方法,我们可以更准确地评估材料的疲劳性能,从而为工程设计和安全评估提供重要的依据。实际测试时,在操作中应保持严谨和细致的态度,不断积累经验,以提高测试结果的可靠性和重复性。同时,定期更新和校准测试设备,保持其在最佳状态,也是确保测试成功的重要保障。[/font]

  • 振动试验台寿命和提高测试效果

    振动试验台:为延长其实用寿命和提高测试效果,用户在操作时请注意以下技巧和事项。  1、为避免发生机器故障,请提供额定电压范围内的电源;  2、为了防止触电或产生误动作和故障,在温湿度综合试验箱安装和接线结束之前,请不要接通电源;  3、接线必须正确,一定要进行接地。不接地可能造成触电、错误动作事故、显示不正常或测量有较大误差;  4、箱体的通风孔需保持通畅,以免发生故障、动作异常、寿命降低和火灾;  5、振动试验台为非防爆产品,请不要在有可燃或爆炸性气体的坏境中使用;  6、仪表内部零件有一定的寿命期限,为持续安全地使用本仪表,请定期进行保养和维护。报废本产品时,请依工业垃圾处理;  7、仪表在运转中,进行修改设定、信号输出、启动、停止等操作之前,应充分地考虑安全性,错误的操作会使工作设备损坏或发生故障;  8、请使用干布擦拭仪表,不要使用酒精、汽油或其他有机溶剂,不要把水溅到仪表上,如果仪表浸入水中,请立即停止使用,否则有漏电、触电或火灾的危险;  9、定期检查温湿度综合试验箱的端子螺丝和固定架,请不要在松动的情况下使用。  艾思荔振动试验台是专业用来测试电工电子产品在运输和实际使用过程中对温湿度及振动复合环境变化的适应性,暴露产品的缺陷,是新产品研制、样机试验、产品合格鉴定试验全过程必不可少的重要试验手段。

  • 测试发光寿命曲线

    请问哪里可以代 测试发光寿命曲线,测试条件:常温,甲苯溶液, 能除氧, 寿命包括几十纳秒和几微秒两部分,我这里寄过去样品

  • 可以影响继电保护测试仪使用寿命的因素有哪些?

    可以影响继电保护测试仪使用寿命的因素有哪些?

    继电器保护测试仪在电力检测行业非常重要。它经常被电力检测工人用来检测各种继电器保护电力设施,从而发现这些设备的潜在问题,这对设备的维护非常重要。然后,随着[url=http://www.kvtest.com/jibao/]继电保护测试仪[/url]的使用不断增加,设备的一些性能和使用寿命也会相应减少。先说继电器保护测试仪的使用寿命和影响继电器保护测试仪使用寿命的因素,希望对大家使用继电器保护测试仪有所帮助。[align=center][img=继电保护测试仪,484,300]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/12/202312272130372250_1831_6337156_3.jpg!w484x300.jpg[/img][/align]  [b]一、继电保护测试仪的使用寿命是多长?[/b]  事实上,继电保护测试仪的使用寿命一般不超过10年,正常使用时间约为7-10年。当然,这个时间只能指使用条件和环境正常的情况。如果仪器经常使用或经常在不好的环境下工作,其使用寿命可能会缩短。相反,如果仪器使用较少或工作环境可以的话,其使用寿命可能会延长。  [b]二、影响继电保护测试仪使用寿命的因素有哪些?[/b]  硬件磨损、软件老化、环境因素等多种因素影响继电保护测试仪的使用寿命。硬件磨损包括电子元件、机械元件等的使用寿命。软件老化是指软件运行时性能下降或出现故障。环境因素包括温度、湿度、灰尘等对仪器的影响。[align=center][img=继电保护测试仪,484,300]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/12/202312272130552228_6897_6337156_3.jpg!w484x300.jpg[/img][/align]  因此,为了尽可能延长继电保护测试仪的使用寿命,我们可以在使用间隙对继电保护测试仪进行一些常规的维护工作,如检查、清洁和润滑。此外,为了避开储存环境中的防潮防尘,让机器零件不发生故障。  更多关于继电保护测试仪产品及相关信息,欢迎来武汉南电至诚电力查看:http://www.kvtest.com/jswz/2199.html

  • 如何延长通标PCT老化测试设备的寿命

    通标PCT老化测试设备主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。  通标PCT老化测试设备应坚持专人专业管理,有条件的单位,应不定期派专人到供方厂家培训学习,以获得专业的维护,维修能力。  一、PCT加速寿命老化试验箱保养:  1、每次使用完毕后或有测试物品溢出,要使用中性清洁用品及软布清 理内箱。  2、PCT外观可用中性的清洁用品清理,保持PCT的整洁。  3、每次使用前检查门垫圈是否清洁,是否有异物阻塞,定期使用硅胶油保养,可延长门垫圈的使用期限。  二、通标PCT老化测试设备零件更换:  1、定期检查所管路及接头,如发现泄漏或损坏,请立即维修或更换。  2、定期清理电磁阀,如发现电磁阀动作不正常、出现异声或零件损坏,请即刻更换电磁阀。  3、门垫圈老化、变形或损伤,请立即更换,更换的方式很简单,只要使用平头起子或其它工具将旧门垫圈取出,再将新门垫圈平整的压入门盖板上的门垫沟槽即可。  艾思荔以“专业、诚信、创新、共赢”为企业理念,以“质量第一、信誉第一”为企业目标,不断引进先进的生产技术和工艺,所有产品均严格安照ISO9001质量体系的工艺要求生产,因而制造出了具有高品质、高可靠性的各种试验设备。

  • 【讨论】谈半导体激光打标机寿命问题

    有关于半导体激光打标机寿命的问题,具体都没有明确的时间。如果是打单个的你说的那样的图案,如雾灯。半导体激光打标机寿命在1年半到2年半之间,与激光机的整体品质及使用与维护有关,打标一个汽车按键,打文字需要1--6秒之间, 打标的图案2-18秒,与图案填充密度有关。激光打标机里面的一个激光模块,理想使用寿命是1W小时(此数据是由激光器生产厂家提供),按照每天正常上班时间的话基本可以用个3 4年,至于半导体激光打标机其他部件都是电子器件集成,使用寿命视你具体使用情况而定,电子器件都会随时间及你的使用慢慢老化!如果设备保养好的话也许用个上10多年都没什么问题。至于激光打标机寿命有多长,取决于个人保养。

  • 食品成分检测仪使用寿命受什么影响

    [font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &][size=15px][color=#05073b]  食品成分检测仪使用寿命受什么影响,食品成分检测仪的使用寿命受多种因素影响,主要包括以下几个方面:  仪器制造质量:高质量的制造意味着更精确的工艺和更耐用的材料,这通常会延长仪器的使用寿命。  使用环境:仪器应放置在平稳、水平、无严重粉尘、无阳光直射、无腐蚀性气体存在的室内,并且周围无强烈震动源及强电磁场存在。同时,仪器周围应留有足够的空间,保证操作和维护的必要空间。如果环境恶劣,如高湿度、高温度或强烈的震动,可能会对仪器造成损害,缩短其使用寿命。  使用频率:频繁的使用可能会增加仪器的磨损和故障率,因此,适当降低使用频率有助于延长仪器的使用寿命。  维护保养:定期的维护保养可以确保仪器处于最佳工作状态,减少故障率,从而延长其使用寿命。这包括定期清洁仪器、更换易损件、校准仪器等。  操作规范:严格按照仪器的操作规范进行操作,可以降低仪器出现故障的频率,从而延长其使用寿命。例如,在测试期间确保测试仪器通道清洁无尘,避免使用不合适的试剂等。  因此,为了延长食品成分检测仪的使用寿命,需要注意以上因素,并采取相应的措施进行维护和保养。[img=,690,690]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/05/202405171011512209_7636_6098850_3.jpg!w690x690.jpg[/img][/color][/size][/font]

  • Diamonsil Plus色谱柱寿命测试——精彩继续哈~~

    Diamonsil Plus色谱柱寿命测试——精彩继续哈~~

    关于Diamonsil Plus的寿命,帖子:迪马又出新品啦:超强性能色谱柱Diamonsil Plus(怎样强大法呢?见内文)与大家分享了两个测试色谱柱寿命的实验室,第一个寿命测试是:使用人血浆在甲醇蛋白质沉淀,简单处理后,直接进样Diamonsil Plus C18 色谱柱,经过200次进样后,Diamonsil Plus C18 柱性能几乎没有减弱。第二个寿命测试是:为进一步考察色谱柱的寿命,我们同时在高pH的条件下(pH 10.0) 分析β - 阻断剂,连续进样2000 针后,色谱图没有发生明显变化,色谱柱依然保持良好的分离性能。~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~可是,咱们实验室的同志们,对于第二个寿命测试仍不罢休,后面有继续进了3000针,加起来也就5000针了。而且还是抗生素类的物质,这类物质是相当滴伤柱子,看来咱实验室的同事不把柱子折腾坏,还不罢休~~~幸好,Diamonsil Plus 同志经得起严刑酷打的考验,5000针后,依旧峰形完美~~~色谱柱如图所示规格:150 x 4.6 mm 流动相:甲醇: 5 mM 碳酸氢铵 (pH 10.0) = 65:35 流速:1.0 mL/min 柱温:室温 检测器:UV 220 nm样品1. 吲哚洛尔 2. 美托洛尔 3. 比索洛尔 4. 普萘洛尔 5. 阿普洛尔http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/03/201503181714_538755_2452211_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/03/201503181714_538756_2452211_3.png下面在看看进样第1针和第5000针后,Diamonsil Plus 同志的柱效(N)和对称因子(As)变化情况:Diamonsil Plus 5 μm C18:第1次进样后N(萘)=13389,As(萘)=1.149;第5000针后N(萘)=13667,As(萘)=1.075当然,没有比较就没有鉴别,任何真理都是在对比情况下,才越发可贵~~。下面实验室,在同样的条件下,对比了Agilent的色谱柱的图片和变化情况,(咋没有打击Agilent的意思哈~~,我们也一直非常认可Agilent的色谱柱品质)http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/03/201503181723_538758_2452211_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/03/201503181723_538759_2452211_3.pngAgilent 5 μm TC-C18:第1次进样后N(萘)=13878,As(萘)=1.042;第2730针后N(萘)=7624,As(萘)=1.616

  • 请教液相色谱柱寿命测试需要注意的问题

    [color=#444444]如题,现欲测定某指定样品在指定色谱柱的测试寿命,需要注意什么?比如:[/color][color=#444444]01.因流动相、样品配置批次不同,引起的保留时间、含量等的误差有要求吗?[/color][color=#444444]02,寿命测试必须连续不断地进样吗?是否可以中断?若可以中断色谱柱需要冲洗保存吗?[/color][color=#444444]关于这方面的信息,在哪儿查得到,请指教,不胜感激![/color]

  • 荧光寿命讨论

    哪款分子荧光可以测试样品的荧光寿命呢?请问各位大侠荧光寿命是怎么定义的,一般来说荧光物质的荧光寿命大约多长时间呢?

  • 钻石二代色谱柱寿命测试

    钻石二代色谱柱寿命测试化合物:纳多洛尔;吲哚洛尔;醋丁洛尔;美托洛尔;拉贝洛尔;普萘洛尔;阿普洛尔色谱柱/前处理小柱:Diamonsil C18(2) 5u 150 x 4.6mm商品编号:99601色谱条件:流动相:乙腈:缓冲溶液流速:1.0 mL/min温度:室温检测器UV 220 nmhttp://www.dikma.com.cn/Public/Uploads/images/D1101%20copy.png

  • 细思极恐,ECD检测器的寿命是多少年?

    前两天看到一种说法,说ECD即使不用,放射源也会自然衰变,过几年寿命就到了。那么这个“不使用,就放在那里自然衰变而寿命到了”的年限,就该是ECD检测器的最大寿命了吧?我们可以暂时命名为Lmax。然而实际使用中,因为加热、氧气、水、样品脏等复杂的使用环境,则ECD检测器的实际寿命是小于最大寿命Lmax的。我们把因为使用而导致减少的寿命,暂且命名为Ls因此可以得出一个计算式:实际寿命L=最大寿命Lmax - 寿命衰减Ls还有另外一个说法,岛津GC-2010的ECD检测器为了追求更大灵敏度,于是把放射源做的很薄、很小、检测池也很小,于是就比普通ECD坏的更快,差不多用个一年放射源就坏了。然而灵敏度不太高的GC-2014的ECD,反而用个三年都没坏。假如这个说法是真的,那么从中可以推论,岛津的ECD-2010的最大寿命max < ECD-2014的最大寿命Lmax。一个猜想:比较薄、比较脆弱的ECD检测器,Ls可能也是大于比较厚、灵敏度不太高的ECD的Ls的。那么,衰减寿命暂时姑且不论,则各家的ECD检测器的Lmax大约会是多少年呢?据我所知好像现在安捷伦6890之后的ECD都是微池的(名字干脆都改了叫uECD),放射源好像是4*6mm的很薄一片(如果记得不错的话),比5890时代的小很多,因此灵敏度也高很多。安装的时候工程师还说“使用的时候要注意,不然安捷伦ECD比国产气相的ECD更容易坏”前两天版里shenzhiboai版友曾经发过一贴说,热电ECD比安捷伦的更灵敏了几百倍(参见:http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20140615/5348457/)那么是否热电的ECD寿命Lmax可能会比安捷伦的更短呢?细思果然极恐啊。。不会也会向岛津那样,一年就坏掉的吧!其他家的检测器呢?谈谈你用坏掉的ECD检测器是用了多少年?使用频率高么?

  • 延长恒温恒湿试验机使用寿命的有效方法

    保养对恒温恒湿试验机来说是相当重要的,保养不仅能使设备一直保持良好的工作状态,而且还能有效的延长设备的使用寿命,而定期检查是为了提前发现并解决恒温恒湿试验机出现的问题。那么下面我们就来了解一下恒温恒湿试验机的保养方法和定期检查的内容。  一、恒温恒湿试验机工作环境中存在的尘埃以及腐蚀性气体又有可能会对设备的灵活性、各种限位开关、按键、光电偶合器的可靠性。  二、 设备在使用一定周期后,内部会积累一定的灰尘,这种情况最好是由未留工程师或是在工程师指导下定期打开设备外罩对内部进行一定的除尘工作,同时将各发热元件的散热器进行紧固,并且对光学盒的密封窗口进行清洁,必要时可以对其进行校准,对机械部分进行必要的清洁和润滑,最后,恢复原状,最后在对设备进行一些的检测、调校与记录工作便可。  三、温度和湿度是影响设备工作的重要因素,会导致机械部件锈蚀,还会使金属镜面的光洁度下降,这会引起恒温恒湿试验机机械部分的误差或性能下降;造成恒温恒湿试验机光学部件如光栅、反射镜、聚焦镜等的铝膜锈蚀,产生光能不足、杂散光、噪声等,甚至会导致设备停止工作,从而影响恒温恒湿试验机的寿命,所以在维护保养设备时应定期加以校正。

  • 【资料】影响电解电容寿命的因素和延长电解电容寿命的方法

    电解电容广泛应用在电力电子的不同领域,主要是用于平滑、储存能量或者交流电压整流后的滤波,另外还用于非精密的时序延时等。在开关电源的 MTBF预计时,模型分析结果表明电解电容是影响开关电源寿命的主要因素,因此了解、影响电容寿命的因素非常重要。 1.电解电容的寿命取决于其内部温度。 因此,电解电容的设计和应用条件都会影响到电解电容的寿命。从设计角度,电解电容的设计方法、材料、加工工艺决定了电容的寿命和稳定性。而对应用 者来讲,使用电压、纹波电流、开关频率、安装形式、散热方式等都影响电解电容的寿命。 2.电解电容的非正常失效 一些因素会引起电解电容失效,如极低的温度,电容温升(焊接温度,环境温度,交流纹波),过高的电压,瞬时电压,甚高频或反偏压;其中温升是对电 解电容工作寿命(Lop)影响最大的因素。 电容的导电能力由电解液的电离能力和粘度决定。当温度降低时,电解液粘度增加,因而离子移动性和导电能力降低。当电解液冷冻时,离子移动能力非常 低以致非常高的电阻。相反,过高的热量将加速电解液蒸发,当电解液的量减少到一定极限时,电容寿命也就终止了。在高寒地区(一般-25℃以下)工作时,就 需要进行加热,保证电解电容的正常工作温度。如室外型UPS,在我国东北地区都配有加热板。 电容器在过压状态下容易被击穿,而实际应用中的浪涌电压和瞬时高电压是经常出现的。尤其我国幅员辽阔,各地电网复杂,因此,交流电网很复杂,经常 会出现超出正常电压的30%,尤其是单相输入,相偏会加重交流输入的正常范围。经测试表明,常用的450V/470uF 105℃的进口普通2000小时 电解电容,在额定电压的1.34倍电压下,2小时后电容会出现漏液冒气,顶部冲开。根据统计和分析,与电网接近的通信开关电源PFC输出电解电容的失效, 主要是由于电网浪涌和高压损坏。铝电解电容的电压选择一般进行二级降额,降到额定值的80%使用较为合理。 3 寿命影响因素分析 除了非正常的失效,电解电容的寿命与温度有指数级的关系。因使用非固态电解液,电解电容的寿命还取决于电解液的蒸发速度,由此导致的电气性能降 低。这些参数包括电容的容值,漏电流和等效串联电阻(ESR)。 参考RIFA公司预计寿命的公式: PLOSS = (IRMS)²x ESR (1) Th = Ta + PLOSS x Rth (2) Lop = A x 2 Hours (3) B = 参考温度值(典型值为85 ℃) A = 参考温度下的电容寿命(根据电容器直径的不同而变化) C = 导致电容寿命减少一半所需的温升度数 从上面的公式中,我们可以明显的看到,影响电解电容寿命的几个直接因素:纹波电流(IRMS)和等效串联电阻值(ESR)、环境温度(Ta)、从 热点传递到周围环境的总的热阻(Rth)。电容内部温度最高的点,叫热点温度(Th)。热点温度值是影响电容工作寿命的主要因素。而下列因素又决定了热点 温度值实际应用中的外界温度(环境温度Ta), 从热点传递到周围环境的总的热阻(Rth)和由交流电流引起的能量损耗(PLOSS)。电容的内部温升与 能量损耗成线形关系。 电容充放电时,电流在流过电阻时会引起能量损耗,电压的变化在通过电介质时也会引起能量损耗,再加上漏电流造成的能量损耗,所有的这些损耗导致的 结果是电容内部温度升高。 影响电解电容寿命的原因分析及对策(2) 3.1、设计上考虑因素 在非固态电解液的电容里,电介质为阳极铝箔氧化层。电解液作为阴极铝箔和阳极铝箔氧化层之间的电接触。吸收电解液的纸介层成为阴极铝箔与阳极铝箔 之间的隔离层,铝箔通过电极引接片连接到电容的终端。 通过降低ESR值,可减少电容内由纹波电流引起的内部温升。这可通过采用多个电极引接片、激光焊接电极等措施实现。ESR值和纹波电流决定了电容的温升。促使电容能有满意的ESR值的主要措施之一是:通常用一个或多个金属电极引接片连接外部电极和芯包,降低芯包和引脚 之间的阻抗。芯包上的电极引接片越多,电容的ESR值越低。借助于激光焊接技术,可在芯包上加上更多的电极引接片,因此使电容能达到较低的ESR值。这也 意味着电容能经受更高的纹波电流和具有较低内部温升,也就是说更长的工作寿命。这样做也有利于提高电容抗击震动的能力,否则有可能导致内部短路、高的漏电 流、容值损失、ESR值的上升和电路开路。 通过对电容芯包和铝壳底部之间良好的机械接触及通过芯包中间的热沉,可将电容内部热量有效地从铝壳底部释放到与之联接的底板。 内部热传导设计对于电容的稳定性和工作寿命极其重要。在EvoxRifa公司的设计中,负极铝箔被延长到可直接接触电容铝壳厚的底部。这底部就成 为芯包的散热片,以使热点的热量能释放。如选用带螺栓安装方式,安全地将电容安装到底板上(通常为铝板),可得到更为全面的具有较低热阻(Rth.)的热 传导解决方案。 通过采用整体绕注有电极的酚醛塑料盖和双重的特制的封垫与铝壳紧密咬合,可大大减少电解液的损失。 电解液通过密封垫的蒸发决定了长寿命的电解电容工作时间。当电容的电解液蒸发到一定程度,电容将最终失效(这个结果会因内部温升而加速)。 Evox Rifa公司设计的双层密封系统可减缓电解液蒸发速度,使电容达到其最长的工作寿命。 以上这些特性保证了电容在要求的领域中具有很长的工作寿命。 3.2、影响寿命的应用因素 根据寿命公式,可以得出影响寿命的应用因素为:纹波电流(IRMS)、环境温度(Ta)、从热点传递到周围环境的总的热阻(Rth)。 1.纹波电流 纹波电流的大小,直接影响电解电容内部的热点温度。查询电解电容的使用手册,就可以得到纹波电流的允许范围。如果超出范围,可以采用并联方式解 决。 2.环境温度(Ta)和热阻(Rth) 根据热点温度的公式,铝电解电容的应用环境温度也是重要因素。在应用时,可以考虑环境散热方式、散热强度、电解电容与热源的距离、电解电容的安装 方式等。 电容器内部的热量,总是从温度最高的“热点”向周围温度相对较低的部分传导。热量传递的途径有几种:其一是通过铝箔和电解液传导。如果电容被安装 在散热片上,一部分热量还将通过散热片传递到环境中。不同的安装方式和间距和散热方式都将影响电容到环境的热阻。从“热点”传递到周围环境中的总热阻用 Rth 来表示。采用夹片安装,将电容安装在热阻为2℃/W的散热片上,所得到的电容热阻值Rth = 3.6℃/W;采用螺栓安装方式,将电容安装在热 阻为2℃/W散热片上、强迫风冷速率为2m/s时,所得到的电容热阻值Rth = 2.1℃/W。(以PEH200OO427AM型电容为例,环境周围温 度为85℃)。 另外将延长的阴极铝箔与电容器铝壳直接接触,也是很好的降低热阻的方法。同时应注意铝壳会因此带负电,不能作负极连接。 电容必须正确安装才能达到它的设计工作寿命。例如:RIFA PEH169系列和PEH200系列应该竖直向上安装或者水平安装。同时确保安全阀 朝上,这样热的电解液及蒸气才能在电容失效的情况下,从安全阀顺利排出。 当电容排列很紧凑时相邻电容间至少应留出5mm的间隔以保证适量的空气流动。使用螺栓安装时,螺母扭矩的控制非常重要。如果拧得太松,则电容与散 热片间就不能紧密接触;如果拧得太紧,又可能使螺纹损坏。同时应注意电容器不应倒置安装,否则可能造成螺栓的折断。 电容安装时应尽量远离发热元件,否则过高的温度会缩短电容器的使用寿命,从而使得电容器成为整个电路中寿命最短的部件。在环境温度较高的情况下, 尽量采用强迫风冷,将电容安装在进风口处。 3.频率的影响 若电流由基频和多次谐波构成,则须计算每次谐波产生的功率损耗值,并将计算结果相加以求得总损耗值。 在高频应用中,电容两端引线应尽量短以减小等效电感。 电容的谐振频率(fR),因电容器种类不同而不同。对于焊片式和螺栓连接式铝电解电容,谐振频率在1.5kHz至150kHz之间。如果电容器在 高于谐振频率时使用,对外特性呈感性。 4 结语 综上所述,在避免非正常失效的情况下,选择正确的应用条件和环境,电解电容的寿命是可以保障的。

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    空心阴极灯的寿命一般在3000-5000毫安时,大家在实际使用中,国产和进口的使用寿命实际多长呢,欢迎讨论?

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    请问一下,X光靶材的寿命是否可以估算出来?我知道灯丝的寿命可以估算。 还有,X光管的寿命是否只能由实际实验,来量测其寿命呢?这样号称50000小时的寿命,不就测到天荒地老?请各位为小弟解解迷津。谢谢。

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    插拔力试验机特点:   1. 测试条件皆可由电脑书面设定,并可储存。由下拉式选单勾选设定、或直接输入数据。(含试验类别、测定运动方向、荷重测定范围、行程测定范围、行程原点位置、行程原点检出、测定速度、测定总次数、暂停时间、每次等候位置、空压次数)。   2. 可储存及列印图形(荷重-行程曲线图、荷重衰减寿命曲线图、检验报表)。   3. 荷重元超负载之保护功能,可确保荷重元不致损坏。   4. 同时显示荷重-行程曲线图及寿命曲线图。   5. 自动荷重零点检出,并可设定原点检出荷重值。   6. 荷重单位显示N、lb、gf、kgf可自由切换。   7. 可同时搭配数个荷重元:2kgf、5kgf、20kgf、50kgf、200kgf、500kgf(任选一个)   8. 机台采高钢性结构设计搭配伺服马达,长时间使用下能确保精度,适合一般引张、压缩测试、及插拔力寿命测试。   9. 超规格值停止。(于寿命测试时,测试数据超出设定之上下限规格值机器自动停止)。   10. 测定项目:最大荷重值、峰值、谷值、行程之荷重值、荷重之行程值、插入点电阻值(选配)、荷重或行程之电阻值。

  • 【讨论】检测灯的寿命

    前段时间有位戴安的工程师跟我们说,液相的检测灯用得越多,寿命才会长;但我以前都会认为灯开得越多,寿命会越短,大家有看法可以上来讨论。

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    关于阴极灯寿命的解释

    经常有原吸操作朋友问我:阴极灯的使用寿命有多长啊?为此我找来了两份关于阴极灯使用寿命的说明;一份是从仪器操作手册上截图的,另一份是从阴极灯生产厂家随灯附带的使用说明上截图的。见如下附图:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/06/201606111738_596489_1602290_3.jpg图-1 仪器操作手册给出的技术参数http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/06/201606111738_596490_1602290_3.jpg图-2 阴极灯使用说明给出的技术参数大家不难发现,截图中给出的阴极灯的寿命均是以安时来表示的。从字面上解释来看,就是:如果给阴极灯提供一个5安培(5000mA)的灯电流,那么这只灯可以使用1个小时。但是实际上,如果真的给灯提供一个5安培(5000mA)的电流,那么这只灯立刻就会烧毁的。那么,如何从上述技术指标里来理解这个参数呢?假设我们将灯电流设置为10毫安的话,那么这只灯的实际使用寿命则为:5000毫安÷10毫安=500小时。所以有的资料上说一只阴极灯大概可以使用500小时左右的结论就是源出于此。实际上影响阴极灯的使用寿的因素很多,上述公式也只不过是一个理论上的粗略的计算方法而已。

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    听说检测器可以三年~五年,这是一种通常情况吧.如果测试的样品多呢,又是一种什么样的定义呢?我在仪器操作详细-消耗品-MS消耗品清单中检测器的设置时间是6000小时,意思是说寿命是6000小时吗?如果使用的时间超过6000小时,又会有什么样的影响呢?[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/01/200901031012_127433_1612965_3.jpg[/img]由于我们用的日文操作系统,大家就将就地看吧!

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