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本文简介:[B]颗粒图像处理仪[/B]是用显微镜放大颗粒,然后通过数字摄像机和计算机数字图像处理技术分析颗粒大小和形貌的仪器,能给出不同等效原理(如等面积圆、等效短径等)的粒度分布,能直接观察颗粒分散状况、粉体样品的大致粒度范围、是否存在低含量的大颗粒或小颗粒情况等等,并增加了详细的圆度分析功能,是其他粒度测试方法的非常有用的辅助工具,是我国现行金刚石微粉粒度测量标准的推荐仪器。适用于磨料、涂料、非金属矿、化学试剂、填料等各种末颗粒的粒度测量、形貌观察粉和分析。 [B]电阻法(库尔特)颗粒计数器[/B]是根据小孔电阻原理,又称库尔特原理,测量颗粒大小的。由于原理上它是先逐个测量每个颗粒的大小,然后再统计出粒度分布的,因而分辨率很高,并能给出颗粒的绝对数目。其最高分辨率(通道数)取决于仪器的电子系统对脉冲高度的测量精度。此文为专业普及文档,PDF文档,请用Acrobat Reader浏览相关链接:http://www.omec-tech.com/products-01-gs.html[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=66309]其他常见粒度测量仪器的原理和性能特点[/url]
颗粒度原理(修改)上传不了啊,只好放在下载中心了大家去下载阿http://www.instrument.com.cn/download/shtml/017217.shtml
分享一下一种新型测量颗粒粒径的方法,光阻测量原理-LOT这种测量原理同样也是用激光,不同的是他的激光束是在样品池里面做一个圆形扫描的,当激光扫过样品的时候,激光束被样品所阻挡了,所阻挡的时间会被记录下来,鉴于激光的速度是已知的,所以我们可以通过简单的速度乘以时间来计算出激光所跑过的路程。跑过的这段路程就是颗粒的粒径了,大家可以看看下图的原理图。因为是测量颗粒被激光阻挡的时间,利用这种方法的好处就是可以不用输入样品的折射率,可以测量未知样品以及混合样品(如混合物的荧光粉),或者是未知折射率的样品。如果大家有遇到上述这种无法测量的情况,不妨去了解下这种原理的粒度仪http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/04/201504291358_544048_2784824_3.png。