薄膜镀层控制仪

本石墨管适用于美国PerkinElmer公司所生产的原子吸收光谱仪系列石墨炉原子化器，也适用于国内外各仪器厂家所生产的同类型原子吸收光谱仪系列石墨炉原子化器。50支以上可享受优惠规格价格起售PE横向高密镀层U型平台石墨管300元/支10支/包起售PE横向高密镀层连体平台石墨管300元/支10支/包起售PE横向高密镀层方形平台石墨管300元/支10支/包起售PE横向高密镀层石墨管290元/支10支/包起售横向管性能如下图所示

基于SiO2/Si晶片的双层CVD石墨烯薄膜将两层单层CVD石墨烯膜转移 到285nm p掺杂的SiO 2 / Si晶片上 尺寸：1cmx1cm 4片将每个石墨烯膜连续转移到晶片上我们的石墨烯薄膜的厚度和质量由拉曼光谱控制该产品的石墨烯覆盖率约为98％石墨烯薄膜是连续的，具有小孔和有机残留物每个石墨烯薄膜主要是单层（超过95％），偶尔有少量多层（低于5％的双层）由于没有A-B堆叠顺序。石墨烯薄膜彼此随机取向。薄层电阻：215-700Ω/平方硅/二氧化硅晶圆的特性：氧化层厚度：285nm颜色：紫罗兰色晶圆厚度：525微米电阻率：0.001-0.005欧姆 - 厘米型号/掺杂剂：P /硼方向：100 前表面：抛光背面：蚀刻应用：石墨烯电子和晶体管导电涂料航空航天工业应用支持金属催化剂微执行器MEMS和NEMS化学和生物传感器基于石墨烯的多功能材料石墨烯研究

手持式薄膜测厚仪配件是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,可测量透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等。手持式薄膜测厚仪可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)，薄膜厚度测量范围为350-1000nm，不需要电线连接，也不需要实验室安装空间，它从USB连接中获取工作电源，这种独特设计方便客户移动测量，只需USB线缆从计算机控制测量即可，采用全球领先的3648像素和16bit的光谱仪，具有超高稳定性的LED和荧光灯混合光源，光源寿命高达20000小时，手持式薄膜测厚仪配件特色USB接口供电，不需要额外的线缆供电超级便携方便现场使用超低价格手持式薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 15nm-90微米；波长范围: 360-1050nm 探测器：3648像素Si CCD阵列，16bit A/D精度：1nm 斑点大小：0.5mm 光源：LED混合光源（ 360-1050nm )所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：300x110x500mm 重量：600克手持式薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

这是一个量身定做的石墨烯产品。将您的基板发送到我们的实验室（包括您的订购ID和您的电子邮件地址作为参考），我们使用我们创新的方法把单层石墨烯转移在它的上面并发送到您指定的地址。我们已经成功地转移石墨烯到以下物质：设备、太阳能电池、发光二极管、黄金。氧化铝、眼镜和蓝宝石。石墨烯薄膜：增长方法：CVD合成、转移方法：清洁转印方法、质量控制：光学显微镜、拉曼光谱、扫描电镜和透射电镜批签，外观（颜色）：透明，透明度97%,外观：膜。覆盖范围95%、石墨烯层数量1，厚度0.345nm，场效应管电子流动率AI2O3 2,800cm2/VS，对二氧化硅来说流动率为3,500cm2/VS，表面电阻：170 Ohms/sq,尺寸10μm。

*平台镀层管测Ag使用寿命1500次外型尺寸:&Phi 8× 28mm 本石墨管适用于美国PE公司所生产的原子吸收光谱仪系列石墨炉原子化器，也适用于国内外各仪器厂家所生产的同类型原子吸收光谱仪系列石墨炉原子化器，如安捷伦&惠普、北京瑞利、北京瀚时制作所、上分厂、上海光谱、沈阳华光等。

显微薄膜测量仪配件是一款超级紧凑而功能多样的薄膜测试仪系统，可以结合显微镜测量薄膜的吸收率，透过率，反射率以及测量点的荧光。薄膜测试仪通过反射率的测量，测量点处的薄膜厚度，薄膜光学常量（n &k)以及thick film stacks都能在瞬间测量出来。整套显微薄膜测量仪的组成是：光栅光谱仪（200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜（可选）。其中目镜适配器包含镜头，可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。更高倍数的物镜的测量点更小。整套薄膜测量仪和薄膜测试仪到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。 安装到显微镜上的薄膜测量仪照片 薄膜测试仪SiO2薄膜测量结果（20X物镜）薄膜厚度测试仪配件软件 这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制，光谱测量和薄膜测量功能的软件，具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率，透过率，反射率和荧光光谱，并且能够能够快速计算出结果。对于吸收率/透过率模式的配置，所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数，如signal integration也能测量出来。对于反射率测量，该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度（《10nm到100微米）， 光学常量（n & k)。 薄膜厚度测试仪配件参数 可测膜厚： 10nm-150微米； 波长范围：200-1100nm 精度：0.5% 分辨率：0.02nm 光源：使用显微镜光源 光斑大小：由显微镜物镜决定 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口； 尺寸：120x120x120mm 重量：1.2kg 薄膜厚度测试仪配件应用 测量薄膜吸收率,透过率 测量化学薄膜和生物薄膜测量 光电子薄膜结构测量 半导体制造 聚合物测量 在线测量 光学镀膜测量

MINITEST600-N 涂镀层测厚仪 一、 MiniTest 600涂层测厚仪产品名录 MiniTest 600 系列涂层测厚仪产品主要包括两种小类型：MiniTest 600B和MiniTest 600，每种小类都可分为F型、N型、FN型三种，因此600系列测厚仪共有6种机型供选择。600B型与600型的最大区别就是600B是基本型，没有统计功能。 涂层测厚仪MiniTest600型号选择 MiniTest 600BF3(铁基体基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600BN2(非铁基体基本型，无统计功能和接口) MMiniTest 600BFN2(两用基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600F3(铁基体统计型) MiniTest 600N2(非铁基体统计型) MiniTest 600FN3(两用统计型) 二、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量原理及应用 F型测头是根据磁感应原理设计的，主要测量钢铁基体上的非磁性涂镀层。例如：铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等，也适用于合金和硬质钢。 N型测头是根据电涡流原理设计的，主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。例如：铝、铜、铸锌件上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。 FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的，一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。 三、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量中的相关注意事项 测量前一定要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零，才可以保证测量的精确性； 每次测量之间间隔几秒钟以保证读数的准确性； 喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量，但要严格按照说明书的校准步骤进行校准； 不要用力拽或折测头线，以免线断； 严禁测量表面有酸、碱溶液或潮湿的产品，以免损坏测头； 测量时测头轴线一定要垂直于被测工作表面； 每次测量应有大于3秒的时间间隔。 四、 MiniTest 600涂层测厚仪的技术参数 测量范围 F型 0-3000um N型 0-2000um FN型（两用型） 0-3000um（F），0-2000um（N） 允许误差 ± 2um或± 2-4％读数 最小曲率半径 5mm（凸）、25mm（凹） 最小测量面积 &Phi 20mm 最小基体厚度 0.5mm（F型）、50um（N型） 测量单位 Um-mils可选 显示 4位LED数字显示 校准方式 标准校准、一点校准、二点校准、基础校准（华丰公司内） 统计数据 平均值、标准偏差、读数个数、最大值、最小值 接口 RS-232（不适合B型） 电源 2节5号碱性电池 仪器尺寸 64mmX115mmX25mm 测头尺寸 &Phi 15mmX62mm 五、 MiniTest 600涂层测厚仪的标准配置 主机和指定型号的测头一体； 5号碱性电池两节； 零板和厚度标准箔； 中英德文操作手册各一本； 六、 MiniTest 600涂层测厚仪的可选配置 便携箱； 橡胶套； 打印机MiniPrint 4100； RS-232数据接口电缆； 精密支架 数码显示器背光照明。 七、MiniTest 600涂层测厚仪的符合标准 DIN 50981，50982； ASTM B499，E367，D1186，B530，G12 BS5411 DIN EN ISO 2178，2361 八、 MiniTest 600涂层测厚仪的关于校准 标准校准：适合平整光滑的表面和大致的测量。 一点校准：置零，不用标准箔。用于允许误差不超过4％的场合。 两点校准：置零，用一片标准箔。用于误差范围在2-4％之间的测量 特殊的基础校准：此校准只能在华丰公司进行。 九、 MiniTest 600涂层测厚仪的一般维修 如果出现E03、E04、E05则一般要换探头系统+PCB板； 如果主板不上电，在排除电池原因后一般要更换主板或更换键盘； 测值不稳定，可认为探头系统频率不稳定，一般要更换探头系统； 在显示系统不能正常显示时，可更换显示系统； 更换电缆时，一定要保证电缆长度不小于1m；

由化学蒸气沉淀形成，转移到多碳孔支持膜横向电磁场的网格上，石墨烯悬浮没有底层，比碳孔高2微米。石墨烯薄膜生长方法：CVD合成、转移方法：干净转移，质量控制：光学显微镜、拉曼光谱、扫描电镜和透射电镜批签，大小：3毫米，外观（颜色）：透明，透明度：97%,外观（形状）：薄，覆盖率：95%，石墨烯层数：1，厚度（原理上）：0.345毫微米，场效应管电子AI203迁移率：2,800cm2/Vs,场效应管SIO2/SI的电子迁移率：3,500cm2/Vs,表面电阻：170欧姆平方米，晶粒尺寸：约10μm，横向电磁场网格：类型：多孔碳支持膜 ?R2/4，孔大小：2微米，孔间距：4微米，孔直径：3毫米，涂层：镀金。

聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法，使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标：例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg)，热分解温度，薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据，能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据，并且能够控制薄膜加热和制冷的速度，是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究，例如：薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究，薄膜光学性质随温度的变化，薄膜预烘烤Post Apply Bake，光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量，这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的，背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks，给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能，光刻薄膜的热处理影响分析，Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5%分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：13.5kg 电力要求：110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度

纵向镀层加热石墨管(YYGM1)性能 YYGM1 TubePE Tube 特征量特征量元素RDS%寿命(次)(pg)(pg)V1.340019.630.0Mo1.84008.69.0Pt1.1400119.0117.0Cr0.94003.33.5Ni2.1 40012.110.0Au0.94005.611.0*此数据在PerkinElmer 5000AAS仪上测得外型尺寸:&Phi 8× 28mm 本石墨管适用于美国PerkinElmer公司所生产的原子吸收光谱仪系列石墨炉原子化器，也适用于国内外各仪器厂家所生产的同类型原子吸收光谱仪系列石墨炉原子化器，如PerkinElmer（美国）、Varian（美国）、Thermo Fisher 热电（美国）、安捷伦&惠普（美国）、日立(日本)、岛津(日本)、GBC（澳大利亚）等纵向加热型及PerkinElmer（美国）、耶拿(德国)、GBC（澳大利亚）、Aurora(加拿大)等横向加热型的原子吸收光谱仪用石墨管、石墨锥。也有适用于安徽皖仪、北分瑞利、普析通用、瀚时、朝阳华洋、北京海光、东西分析、上分厂、上海光谱、上海精科、江苏天瑞、安徽皖仪、武汉天虹、天美中国、上海天美、浙江纳德和沈阳华光等原子吸收光谱仪等。

基于SiO2/Si晶片的双层CVD石墨烯薄膜将两层单层CVD石墨烯膜转移 到285nm p掺杂的SiO 2 / Si晶片上 尺寸：1cmx1cm 4片将每个石墨烯膜连续转移到晶片上我们的石墨烯薄膜的厚度和质量由拉曼光谱控制该产品的石墨烯覆盖率约为98％石墨烯薄膜是连续的，具有小孔和有机残留物每个石墨烯薄膜主要是单层（超过95％），偶尔有少量多层（低于5％的双层）由于没有A-B堆叠顺序。石墨烯薄膜彼此随机取向。薄层电阻：215-700Ω/平方硅/二氧化硅晶圆的特性：氧化层厚度：285nm颜色：紫罗兰色晶圆厚度：525微米电阻率：0.001-0.005欧姆 - 厘米型号/掺杂剂：P /硼方向：100前表面：抛光背面：蚀刻应用：石墨烯电子和晶体管导电涂料航空航天工业应用支持金属催化剂微执行器MEMS和NEMS化学和生物传感器基于石墨烯的多功能材料石墨烯研究

基于SiO2/Si晶片的双层CVD石墨烯薄膜将两层单层CVD石墨烯膜转移 到285nm p掺杂的SiO 2 / Si晶片上 尺寸：1cmx1cm 8片将每个石墨烯膜连续转移到晶片上我们的石墨烯薄膜的厚度和质量由拉曼光谱控制该产品的石墨烯覆盖率约为98％石墨烯薄膜是连续的，具有小孔和有机残留物每个石墨烯薄膜主要是单层（超过95％），偶尔有少量多层（低于5％的双层）由于没有A-B堆叠顺序。石墨烯薄膜彼此随机取向。薄层电阻：215-700Ω/平方硅/二氧化硅晶圆的特性：氧化层厚度：285nm颜色：紫罗兰色晶圆厚度：525微米电阻率：0.001-0.005欧姆 - 厘米型号/掺杂剂：P /硼方向：100前表面：抛光背面：蚀刻应用：石墨烯电子和晶体管导电涂料航空航天工业应用支持金属催化剂微执行器MEMS和NEMS化学和生物传感器基于石墨烯的多功能材料石墨烯研究

基于SiO2/Si晶片的双层CVD石墨烯薄膜将两层单层CVD石墨烯膜转移 到285nm p掺杂的SiO 2 / Si晶片上 尺寸：1cmx1cm 8片将每个石墨烯膜连续转移到晶片上我们的石墨烯薄膜的厚度和质量由拉曼光谱控制该产品的石墨烯覆盖率约为98％石墨烯薄膜是连续的，具有小孔和有机残留物每个石墨烯薄膜主要是单层（超过95％），偶尔有少量多层（低于5％的双层）由于没有A-B堆叠顺序。石墨烯薄膜彼此随机取向。薄层电阻：215-700Ω/平方硅/二氧化硅晶圆的特性：氧化层厚度：285nm颜色：紫罗兰色晶圆厚度：525微米电阻率：0.001-0.005欧姆 - 厘米型号/掺杂剂：P /硼方向：100前表面：抛光背面：蚀刻应用：石墨烯电子和晶体管导电涂料航空航天工业应用支持金属催化剂微执行器MEMS和NEMS化学和生物传感器基于石墨烯的多功能材料石墨烯研究

B0104243带有铝镀层顶空瓶盖套装产品描述 每包数量 部件编号带有铝镀层的硅胶隔垫/瓶盖/弹簧片 100 B0104243带有铝镀层的硅胶隔垫/瓶盖/弹簧片 1,000 B0104244带有聚四氟乙烯涂层的硅胶隔垫/瓶盖/弹簧片 100 B0104241带有聚四氟乙烯涂层的硅胶隔垫/瓶盖/弹簧片 1,000 B0104242红色聚四氟乙烯涂层型丁基橡胶隔垫/瓶盖/弹簧片 100 B0104239压盖顶空瓶外径为23 mm的20 mL顶空压盖瓶 100 N9306079

B0104243带有铝镀层顶空瓶盖套装产品描述 每包数量 部件编号带有铝镀层的硅胶隔垫/瓶盖/弹簧片 100 B0104243带有铝镀层的硅胶隔垫/瓶盖/弹簧片 1,000 B0104244带有聚四氟乙烯涂层的硅胶隔垫/瓶盖/弹簧片 100 B0104241带有聚四氟乙烯涂层的硅胶隔垫/瓶盖/弹簧片 1,000 B0104242红色聚四氟乙烯涂层型丁基橡胶隔垫/瓶盖/弹簧片 100 B0104239压盖顶空瓶外径为23 mm的20 mL顶空压盖瓶 100 N9306079

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B0104243带有铝镀层顶空瓶盖套装产品描述 每包数量 部件编号带有铝镀层的硅胶隔垫/瓶盖/弹簧片 100 B0104243带有铝镀层的硅胶隔垫/瓶盖/弹簧片 1,000 B0104244带有聚四氟乙烯涂层的硅胶隔垫/瓶盖/弹簧片 100 B0104241带有聚四氟乙烯涂层的硅胶隔垫/瓶盖/弹簧片 1,000 B0104242红色聚四氟乙烯涂层型丁基橡胶隔垫/瓶盖/弹簧片 100 B0104239压盖顶空瓶外径为23 mm的20 mL顶空压盖瓶 100 N9306079

德国仪力信#509MC-1型涂膜器 德国仪力信#509MC-III型涂膜器和干燥时间记录仪 可靠，准确，重覆性好 技术数据 基本单元 尺寸 ：长600 mm 宽360 mm 高 210 mm 重量（净重）：约23kg 电源 ：115/230V可在50/60Hz之间转换 涂膜速度 ：2.5/5.0/7.5/10/12.5/15/20/25/30/35/40/50/60/70/80 mm/s 干燥测试时间：0.5/1/2/3/6/12/18/36/72/108 min/cm(仅适用于#509MC-I) 控制盒 尺寸 ：长200mm 宽 100mm 高 40mm 重量（净重） ：约0.6kg #509MC型涂层大师 设计和功能 基本单元：#509MC涂膜器由一个紧凑，坚固基本单元，带可拆卸的油漆收集槽和一个流动的控制盒，控制盒包括带不同控制键的控制面板和数字显示屏。#509MC-I涂膜器为一通用的仪器，可提供许多的工作模式。 --不同的工作距离，最大约400 mm --独立的可编程开始点，15个涂膜速度，范围2.5-80mm/s --只需按一个键便可自动迅速返回 --涂膜器可双向工作 --如有需要，可使用（在仪器的背面）继电器接点以控制个别测试程序。 附件： #509MC-I涂膜器可装备不同的附件，以满足用户的个别测试要求。 可更换的样品平台 -- 作为样品托板或直接涂膜基体的玻璃板 -- 用于箔片，纸张，卡片的真空吸板 -- 可以电力加热的真空吸板，温度调节最高150℃ 各款涂膜器 --Wasag 涂膜器，型号288；宽度：80，120，180，或230mm --螺纹涂膜器，型号358；宽度：80，150或220mm --四重涂膜器，型号360；宽度：13，40或60mm--多重涂膜器，型号411；宽度：80，150，或220mm --流平流挂试验仪，型号419 --多层涂膜器，型号421/I；10条漆膜，每条20mm宽 --多层涂膜器，型号421/II；6条漆膜，每条35mm宽 若需更多的涂膜器信息，请参考#288/358/360/411/421/E和#419/E的单张资料。 附件安装 除#288/230mm和#421外，其他涂膜器均需适当的支架才可安装在#509MC-I涂膜器上。 箔片和卡片 塑料箔片，Leneta 系统 对照卡片，棋盘格式或大黑/白格 具体的操作见#509/E 说明书 #509MC-III微机控制涂膜器和干燥时间记录仪 目的和应用 #509MC-III为一综合测试仪器，可提供两种不同的用途 它可作为电动涂膜器，具有所有上一页所提及的优点。 此外，它还可根据DIN 53150标准创建干燥程度，用于执行比较干燥测试。 #509MC-III可允许同时在玻璃板上涂上7条相同或 测试原理 对于干燥时间测试，测试工具以一个预设的速度拉过湿膜，再根据在测量时间内的涂膜距离建立不同的干燥标准，测试时间（以分钟计）通过所移动的距离（以cm计）乘以预设速度（以min/cm计）计算得

薄膜拉力测试仪、塑料薄膜拉伸强度检测、塑料薄膜剥离测试仪介绍：LQJ211万能材料试验机有着超大数显控制系统-为主机曲线、力值、速度和变形动态显示，加上电脑可实现微机操作，参数随意设定，可以做不同材料30KN以内的拉伸、压缩、弯曲、剥离、撕裂、剪切、刺破、低调疲劳等多项力学试验.可根据国际标准ISO.JIS.ASTM.DIN等国际标准和国外标准进行试验和提供数据.以windows操作系统使试验数据曲线动态显示,试验数据可以任意删加,对曲线操作更加简便.轻松.随时随地都可以进行曲线遍历.叠加.分离.缩放.打印等全电子显示监控. 薄膜拉力测试仪、塑料薄膜拉伸强度检测、塑料薄膜剥离测试仪技术参数 Main specifications 1、最大负荷Load Accuracy： 30KN（任意选） 2、荷重元精度Load Accuracy： 0.01% 3、测试精度Measuring accuracy： ± 0.5% 4、操作方式Control： 全电脑控制,windows模式操作 5、有效试验宽度Valid width： 约420mm 6、有效拉伸空间Stroke： 约800mm 7、试验速度Tetxing speed : 0.001~500mm/min 8、速度精度 Speed Accuracy：: ± 0.5%以内； 9、位移测量精度Stroke Accuracy： ± 0.5%以内； 10、变形测量精度Displacement Accuracy： ± 0.5%以内 11、安全装置 Safety device： 电子限位保护，紧急停止键 Safeguard stroke 12、机台重量Main Unit Weight ： 约140kg

单层石墨烯膜增长方法：CVD合成、质量控制：光学显微镜&拉曼检测，外观（颜色）：透明，透明度：97%,外观（形状）：薄，覆盖率：95%，石墨烯层数：1，厚度（原理上）：0.345毫微米，场效应管电子AI203迁移率：2,000cm2/Vs,场效应管SIO2/SI的电子迁移率：4,000cm2/Vs,电阻：170欧姆平方米，晶粒尺寸：约10μm，基材铜铝箔：厚度：18μm、应用程序：石墨烯研究、多功能的电池、电子、航空航天工业、微机电系统和NEMS，微执行器，导电涂料。

Atlas™ 标准薄膜制样机与高温薄膜制样系统Specac的等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定，根据热压制膜原理，所得到的样品是纯样品，谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求，提供三种等厚度薄膜制样工具，不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜，还能将粒状，块状或板材，如药包材料，包装材料，特殊包裹材料等不规则的聚合物变成可以检测的薄膜。 GS15800高温薄膜制样系统技术参数： 最高操作温度高达400℃ 满足高端科研的要求 一周期40分钟 通过CE安全认证 集成的供热制冷设备? 2T的载荷极限 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250, 0.500mm 薄膜直径29mm 压力范围0-2吨 一体式加热盘系统 双数字显示，精度1度 安全切换装置：70℃ 切断加热希同/55℃ 重启加热系统 一体式冷却盘高温薄膜制样机P/N GS15800有一组加热板是嵌入到薄膜制样机中的，所以当P/N GS15800装载在压 片机上时， 是不需要额外的Atlas 加热压盘P/NGS15515的。订购信息GS15640标准薄膜制样机特点：独立加热压盘，满足不同直径薄膜需要独立冷却盘，可缩短制膜周期重现性哈，制备过程简单 制膜过程无需化学品，成本低6种不同厚度的垫圈，适合各种高分子材料技术参数： 操作温度高达300℃ 一周期30分钟 4T的载荷极限 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250, 0.500mm 薄膜直径29mm 双数字显示，精度℃ 可配套加热板P/N GS15515使用 冷却系统停止时切断加热系统 冷却水流速大于0.2/min时重启加热系统 独立冷却盒订购信息GS15640 Atlas™ 标准薄膜制样机包括: 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250和0.500 mm 垫圈铝膜 直径40mm(200 片)Specacards 卡夹式，圆形通光孔直径10mm，样品架(20张)不锈钢镊子GS15800 Atlas™ 高温薄膜制样系统包括: 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250and 0.500 mm 垫圈铝膜直径40mm(200 片)制作铝膜样品杯的工具Specacards 卡夹式，圆形通光孔直径10mm，样品架(20张)不锈钢镊子高稳定性及高精度的温度控制器(400℃) 薄膜制样套装GS15631 Atlas™ 标准型薄膜制样套装1包括: 薄膜制样系统(GS15640) 加热板和加热压盘以及数字全自动温控器(300°C) (GS15515)GS15633 Atlas™ 标准型薄膜制样套装2包括: 薄膜制样系统(GS15640)加热板和加热压盘以及数字温控器(300oC) (GS15515)15T手动液压机(GS15011)(对于GS15800,GS15631和GS15633，请指定220V或110V电压和使用的国家。)GS15800 Atlas™ 高温薄膜制样系统套装 包括: 高温薄膜制样系统(GS15800) 15T手动液压机(GS15011)(请指定220V或110V电压和使用的国家。)备件及耗材GS03800 卡夹式，圆形通光孔直径10mm，样品架 (100张/盒)GS03805 用于固定易伸缩薄膜样品的尼龙卡簧(20)GS03810 10mm x 25mm 矩形通光孔Specacards (100)GS03820 磁性薄膜样品架 圆形通光孔直径25mmGS15627 直径为40mm的铝膜(200)GS15641 冷却盒 用于标准薄膜制样系统 替换GS15642 标准薄膜制样压盘套装GS15629 标准薄膜制样机可替换的垫圈组件GS15805 高温薄膜制样机可替换的垫圈组件

与层析柱配套使用，用于加压柱色谱分离时的压力控制。下支口为气体导入（加压）口（如：氮气），上支口为气体出口，通过0-4mm高真空阀门控制气体流量，以达到控压的目的。球磨口产品接口处需用钢质球磨夹固定（CC3525），使用比一般磨口方便，耐压，比捆皮筋快捷。本产品配有一个四氟全包的高真空阀门，以确保耐化学溶剂的腐蚀。"配件：S660004T 四氟保护的精细可调式全包高真空阀, 0-4mm 磨口：35/20（球磨口）当今，高品质的化工防腐蚀设备与管件、实验室用玻璃仪器都是采用硼硅玻璃3.3制造。硼硅玻璃3.3是膨胀系数为（3.3±0.1）×10-6/K ，在国际上通称为Pyrex玻璃。国际标准ISO3587规定：化工设备用玻璃管和管件必须采用硼硅玻璃3.3制造。欣维尔玻璃产品全部采用国际标准硼硅玻璃3.3生产制造，品质可靠。

教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k)，到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 100nm-30微米；波长范围: 300-1000nm 探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D精度：1%斑点大小：0.5mm 光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：320x360x180mm 重量：9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

中性密度(ND)层压滤光片薄膜高刚性和耐久性增透膜(AR)滤光片薄膜可减少眩光易于操作和安装中性密度(ND)层压滤光片薄膜采用柯达Wratten 2 中性密度(ND)层压滤光片制作而成，外加单面增透膜(AR)层压以提高刚性和耐久性，并使其更易于处理。本滤光片薄膜备有多种尺寸，并与我们的标准光学固定架和模组安装组件兼容。这种滤光片储藏在潮湿的环境中容易损坏，zui好不要长期存储在超过50摄氏度的环境温度中。注意： 光密度值和透射率值是指未经层压的滤光片薄膜。层压一般会更改光学密度（光密度），幅度少于±0.1 OD。查看曲线以了解具体性能数据。 中性密度(ND)层压滤光片薄膜的增透膜(AR)可减少眩光和反射率，且对整体光学密度的影响不大。一般上，Wratten滤光片较为脆弱，且难以处理，使安装和系统集成较为困难。但在滤光片薄膜的一面添加AR镀膜则能够提高刚性和耐久性，增加尺寸选择并使其更易于安装和进行系统集成。常用规格基底Laminated Wratten 2订购信息：直径 (mm)光密度 OD尺寸 (mm)透射率 (%)产品号12.50.1-80#84-00912.50.2-63#84-01012.50.3-50#84-01112.50.4 -40#84-01212.50.5-32 #84-01312.50.6-25#84-01412.50.7-20#84-01512.50.8-16#84-01612.50.9-13#84-01712.51-10#84-01812.52-1#84-01912.53-0.1#84-02012.54-0.01#84-021250.1-80#84-022250.2-63#84-023250.3-50#84-024250.4-40#84-02525 0.5-32#84-026250.6- 25#84-027250.7-20#84-028250.8-16#84-029250.9-13#84-030251-10#84-031252-1#84-032253-0.1#84-033254-0.01#84-034500.1-80#84-035 500.2-63#84-036500.3-50#84-037500.4-40#84-038500.5-32#84-039 500.6-25#84-040500.7 -20#84-041500.8-16 #84-042500.9-13#84-043501-10#84-044502-1#84-045503-0.1#84-046504-0.01#84-0470.1 50.0 x 50.080#84-0480.250.0 x 50.063#84-0490.350.0 x 50.050#84-0500.4 50.0 x 50.040#84-0510.550.0 x 50.032#84-052 0.650.0 x 50.025#84-0530.750.0 x 50.020#84-0540.850.0 x 50.016#84-0550.950.0 x 50.013#84-056150.0 x 50.010#84-057250.0 x 50.01#84-058350.0 x 50.00.1#84-059450.0 x 50.00.01#84-060

无镀层石英电喷针SilicaTips(N) 5cm长，针尖无镀层，使用前需要切割。 产品号 管OD/ID (µ m) 针尖ID (µ m) 流速 (nL/min) 包装 FS360-100-30-N-20 360/100 30 300-1,000 20 FS360-100-30-N-5 360/100 30 300-1,000 5 FS360-75-30-N-20 360/75 30 300-1,000 20 FS360-75-30-N-5 360/75 30 300-1,000 5 FS360-75-15-N-20 360/75 15 200-500 20 FS360-75-15-N-5 360/75 15 200-500 5 FS360-75-8-N-20 360/75 8 50-300 20 FS360-75-8-N-5 360/75 8 50-300 5 FS360-50-30-N-20 360/50 30 300-1,000 20 FS360-50-30-N-5 360/50 30 300-1,000 5 FS360-50-15-N-20 360/50 15 150-400 20 FS360-50-15-N-5 360/50 15 150-400 5 FS360-50-8-N-20 360/50 8 50-300 20 FS360-50-8-N-5 360/50 8 50-300 5 FS360-50-5-N-20 360/50 5 30-200 20 FS360-50-5-N-5360/50 5 30-200 5 FS360-20-10-N-20 360/20 10 100-400 20 FS360-20-10-N-5 360/20 10 100-400 5 FS360-20-5-N-20 360/20 5 20-100 20 FS360-20-5-N-5 360/20 5 20-100 5 FS150-20-10-N-20 150/20 10 100-400 20FS150-20-10-N-5 150/20 10 100-400 5 SilicaTip 套装工具：SilicaKit-360-N 标准镀层，包括3个 FS360-20-5-N, 3个 FS360-50-8-N和3个FS360-75-15-N

石墨烯膜增长方法：CVD合成、质量控制：光学显微镜&拉曼检测，外观（颜色）：透明，透明度：97%,外观（形状）：薄，覆盖率：95%，石墨烯层数：1，厚度（原理上）：0.345毫微米，场效应管电子在三氧化二铝上的迁移率：2,000cm2/Vs,场效应管在二氧化硅上的电子迁移率：4,000cm2/Vs,电阻：170欧姆平方米，晶粒尺寸：约10μm。

James Heal 纺织品酚黄测试用聚乙烯薄膜泛黄测试聚乙烯薄膜用途：纺织品酚黄测试，黄变测试，泛黄测试James Heal酚黄 (泛黄) 变测试膜400X200mm 100片/包 706-792ISO 105-X18 M&S C20B-TOadidas***酚黄(泛黄)变测试膜酚黄 (泛黄)变测试套件酚黄(泛黄)变测试纸100X75mm706-720酚黄(泛黄)变测试纸100X30mm706-709酚黄(泛黄)变测试膜400X200mm 706-792James Heal酚黄 (泛黄) 变测试纸100X75mm 50/包 706-720ISO 105-X18 M&S C20B-TOadidas***酚黄(泛黄)变测试纸James Heal酚黄 (泛黄) 变控制布100X30mm 25片/包 706-709ISO 105-X18 M&S C20B-TOadidas***酚黄(泛黄)变控制布

单层石墨烯膜增长方法：CVD合成、质量控制：光学显微镜&拉曼检测，外观（颜色）：透明，透明度：97%,外观（形状）：薄，覆盖率：95%，石墨烯层数：1，厚度（原理上）：0.345毫微米，场效应管电子在三氧化二铝上的迁移率：2,000cm2/Vs,场效应管在二氧化硅上的电子迁移率：4,000cm2/Vs,电阻：170欧姆平方米，晶粒尺寸：约10μm，基材铜铝箔：厚度：18μm。

specac_迷你等厚度薄膜制样套装 等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定。根据热压制膜原理，所得到样品是纯样品，谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求，提供了3种等厚度薄膜制样工具。不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜，还可以将粒状、块状或板材等不规则形状的聚合物变成可以用光谱检测的薄膜。 视频：http://v.youku.com/v_show/id_XNDg3ODI1OTc2.html 点击观看视频

GPC-80A精确磨抛控制仪简称磨抛控制仪，主要用来控制被研磨样品表面的平面度和平行度，使磨抛后的样品具有高的尺寸精度和质量优良的表面状态。磨抛控制仪采用质量优良的不锈钢材料制成，外形美观，制造工艺精湛，主要应用于UNIPOL-1202、和UNIPOL-802精密研磨抛光机上，是工件进行磨抛时不可缺少的精密器具，尤其适用于地质薄片样品的研磨与抛光。GPC-80A精确磨抛控制仪专用载样块用螺纹与控制仪相连接，样品采用粘附的形式装卡在载样块上，载样块承载样件直径不大于80mm、厚度不大于9mm且具有工艺重复性高的优点。可严格控制被磨样品表面的平行度和平面度，控制准确度高。研磨过程中可搭配数显测厚仪使用，随时观测样品磨削量，尤其适用于表面平行度和平面度及样品厚度要求高的地质薄片样品研磨使用。产品名称GPC-80A精确磨抛控制仪产品型号GPC-80A安装条件1.本设备要求在海拔1000m以下，温度25℃±15℃，湿度55%Rh±10%Rh下使用。2.水：配水源。3.电：无。4.气：无。5.外形尺寸：φ117mm*155mm6.通风装置：需要。主要参数1、载样盘直径：Ø 80mm2、载样盘轴向行程：9mm（分度螺母移动一格，载样盘轴向移动0.025mm）3、数显表精度：0.001mm4、载样盘部分空载压力：750g5、承载样件尺寸：直径≤80mm、厚度≤9mm产品规格尺寸：外径117mm，不带配重高155mm，带配重高204mm可选配件配重块（≥50g、≤200g）