库仑仪厚度标准

硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪，能够精确给出衬底厚度和厚度变化 （TTV)，也能实时给出超薄晶圆的厚度（掩膜过程中的晶圆），非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势，诸 多材料例如，Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃，石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的，非常容易测量，标准的测量空间分辨率可达50微米，更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法，对晶圆的厚度和表面形貌进行测量，可广泛用于：MEMS， 晶圆，电子器件，膜厚，激光打标雕刻等工序或器件的测量，专业为掩膜，划线的晶圆，粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计，同时，硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件，使用该探针系统后，硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆（植球晶圆），wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV，同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度，硅膜厚度（membrane thickness) 和凸点厚度（wafer pump height).，沟槽深度 （trench depth)。

测量电极 库仑法水分仪通用配件

卡氏水分仪-容量法库仑法水分仪用滴定池适用于容量法或库仑法卡氏水分测定仪选购的滴定池。D形滴定池附侧塞和排液阀(D-type Titration Vessel with Port Plug)，货号: 12-03510。N形滴定池附侧塞(N-type Titration Vessel with Port Plug)，货号: 12-01585。C形滴定池附侧塞和排液阀(C-type Titration Vessel with Port Plug)，货号: 12-02828。库仑法滴定池附排液阀(Titration Cell with Drain Cock)，货号: 20-04042-00。京都电子(KEM)中国分公司 客服热线: 400-820-2557

电解池（不含电极） 库仑法水分仪通用配件

电解电极 库仑法水分仪通用配件

指示电极，用于库仑法卡尔费休滴定。

库仑法水分仪用滴定杯Titration Cell (Transparency)货号: 20-04041-00适用于:MKC-501 库仑法卡尔费休水分仪。MKC-510N 库仑法卡尔费休水分仪。MKC-520 库仑法卡尔费休水分仪。MKC-610 库仑法卡尔费休水分仪。MKC-710 库仑法卡尔费休水分仪。京都电子(KEM)中国分公司 客服热线: 400-820-2557

氯电解池：（库仑氯电解池、电解池、微库仑氯电解池） 用于微库仑法氯含量的测定，检测下限0.3mg/L，氯含量检测范围0.3 mg/L~5000 mg/L。http://www.jykeyuan.net/

薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪，可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器，可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪，比如标准吸收/透过率，反射率的测量，薄膜的测量，薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件：核心模块----光谱仪；外壳模块----各种精密精美的仪器外壳；工作面积模块----测量工作区域；光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件；测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型，不同光谱范围和光源，满足各种测量应用

硫电解池：（库仑硫电解池、电解池、微库仑硫电解池） 用于微库仑法硫含量的测定，检测下限0.1mg/L，硫含量检测范围0.1 mg/L~5000 mg/L。http://www.jykeyuan.net/

目标应用： 半导体薄膜（光刻胶） 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜（光刻胶） ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*（H90+H140）测试支架（配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘）测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm（标配，可以根据用户要求配置）样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标（THICKNESS SPECIFICATION）：产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1（厚度要求）N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量，实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅（500纳米）测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.

微库仑滴定池与微库仑综合分析仪配套使用。用于检测石油化工产品中总硫、总氯的含量。根据检测对象的不同分三种型号：1、硫滴定池：简称硫池（S池），用于检测样品中总硫的含量；2、氯滴定池：简称氯池（Cl池），用于检测样品中总氯的含量；3、氮滴定池：简称氮池（N池），用于检测样品中总氮的含量，该方法目前已很少使用，替代方法是化学发光氮测定法，典型仪器：TN-3000型（化学发光）氮测定仪。

用于微库仑法氯含量的测定，检测下限0.3mg/L，氯含量检测范围0.3mg/L~5000 mg/L。 高纯石英烧制而成，耐高温，耐腐蚀。

卡氏滴定杯 / 80至250毫升 / 库仑法

带两个侧孔的卡氏滴定杯 / 80至250毫升 / 库仑法KF titration vessel with 2 lateral openings / 80-250 mL / coulometric订货号：6.1465.320用于756与831型库仑水份测定仪技术参数容量（mL）80 ... 250材料Clear glass高度（mm）114

specac_迷你等厚度薄膜制样套装 等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定。根据热压制膜原理，所得到样品是纯样品，谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求，提供了3种等厚度薄膜制样工具。不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜，还可以将粒状、块状或板材等不规则形状的聚合物变成可以用光谱检测的薄膜。 视频：http://v.youku.com/v_show/id_XNDg3ODI1OTc2.html 点击观看视频

三菱化学库仑法反应瓶（有排液口）CAMGC5货号：CAMGC5包装： 一件/箱

三菱化学库仑法反应瓶（无排液口）CAMGC4货号：CAMGC4包装：一件/箱

卡氏滴定杯 / 80至250毫升 / 库仑法订货号：6.1464.323技术参数容量（mL）80 ... 250材料Amber glass高度（mm）114

【特征形态】液态【介质基体】3%HNO3【定值日期】【主要用途】校准仪器和装置；评价方法；工作标准；质量保证/质量控制；其他【保存条件】室温下，贮于洁净阴凉处【注意事项】有效期为2年【分析方法】重量法、精密库仑法 标准值 相对不确定度(%) 单位 水中汞成分质量浓度 100 0.8% 质量浓度的标准值(µg/mL)

VLSI标准样片公司致力于向全球半导体及相关产业提供量测标准样片和相关服务。VLSI目前提供的标准样片可以用来校准各种高精度量测仪器，并且可以溯源到NIST。 特点： ◆支持ISO或TS质量体系认证； ◆可以溯源到NIST； ◆更高的可靠性； ◆更小的不确定度。 应用： ◆颗粒标准样片：用于校准颗粒检测仪； ◆薄膜厚度标准样片：用于校准膜厚仪； ◆台阶高度标准样片：用于校准表面轮廓仪； ◆线宽标准样片：用于校准扫描电镜或原子力显微镜； ◆电阻标准样片：用于校准电阻量测仪； ◆太阳能参考电池片：用于校准光电转换效率量测仪。

MINITEST600-N 涂镀层测厚仪 一、 MiniTest 600涂层测厚仪产品名录 MiniTest 600 系列涂层测厚仪产品主要包括两种小类型：MiniTest 600B和MiniTest 600，每种小类都可分为F型、N型、FN型三种，因此600系列测厚仪共有6种机型供选择。600B型与600型的最大区别就是600B是基本型，没有统计功能。 涂层测厚仪MiniTest600型号选择 MiniTest 600BF3(铁基体基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600BN2(非铁基体基本型，无统计功能和接口) MMiniTest 600BFN2(两用基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600F3(铁基体统计型) MiniTest 600N2(非铁基体统计型) MiniTest 600FN3(两用统计型) 二、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量原理及应用 F型测头是根据磁感应原理设计的，主要测量钢铁基体上的非磁性涂镀层。例如：铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等，也适用于合金和硬质钢。 N型测头是根据电涡流原理设计的，主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。例如：铝、铜、铸锌件上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。 FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的，一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。 三、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量中的相关注意事项 测量前一定要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零，才可以保证测量的精确性； 每次测量之间间隔几秒钟以保证读数的准确性； 喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量，但要严格按照说明书的校准步骤进行校准； 不要用力拽或折测头线，以免线断； 严禁测量表面有酸、碱溶液或潮湿的产品，以免损坏测头； 测量时测头轴线一定要垂直于被测工作表面； 每次测量应有大于3秒的时间间隔。 四、 MiniTest 600涂层测厚仪的技术参数 测量范围 F型 0-3000um N型 0-2000um FN型（两用型） 0-3000um（F），0-2000um（N） 允许误差 ± 2um或± 2-4％读数 最小曲率半径 5mm（凸）、25mm（凹） 最小测量面积 &Phi 20mm 最小基体厚度 0.5mm（F型）、50um（N型） 测量单位 Um-mils可选 显示 4位LED数字显示 校准方式 标准校准、一点校准、二点校准、基础校准（华丰公司内） 统计数据 平均值、标准偏差、读数个数、最大值、最小值 接口 RS-232（不适合B型） 电源 2节5号碱性电池 仪器尺寸 64mmX115mmX25mm 测头尺寸 &Phi 15mmX62mm 五、 MiniTest 600涂层测厚仪的标准配置 主机和指定型号的测头一体； 5号碱性电池两节； 零板和厚度标准箔； 中英德文操作手册各一本； 六、 MiniTest 600涂层测厚仪的可选配置 便携箱； 橡胶套； 打印机MiniPrint 4100； RS-232数据接口电缆； 精密支架 数码显示器背光照明。 七、MiniTest 600涂层测厚仪的符合标准 DIN 50981，50982； ASTM B499，E367，D1186，B530，G12 BS5411 DIN EN ISO 2178，2361 八、 MiniTest 600涂层测厚仪的关于校准 标准校准：适合平整光滑的表面和大致的测量。 一点校准：置零，不用标准箔。用于允许误差不超过4％的场合。 两点校准：置零，用一片标准箔。用于误差范围在2-4％之间的测量 特殊的基础校准：此校准只能在华丰公司进行。 九、 MiniTest 600涂层测厚仪的一般维修 如果出现E03、E04、E05则一般要换探头系统+PCB板； 如果主板不上电，在排除电池原因后一般要更换主板或更换键盘； 测值不稳定，可认为探头系统频率不稳定，一般要更换探头系统； 在显示系统不能正常显示时，可更换显示系统； 更换电缆时，一定要保证电缆长度不小于1m；

Thorlabs提供一系列精密盖玻片、显微镜载玻片和荧光载玻片(见右表)，适合高性能的成像应用，比如全内反射荧光(TIRF)显微、活细胞成像和生物化学应用。精密盖玻片盖玻片由Schott D 263® M玻璃制造，这种玻璃具有透明、无色、低自发荧光的特性。#1.5H盖玻片经过精密加工，具有170 ± 5 µ m的均匀厚度，能够最大程度地减少因球面像差引起的图像缺陷；我们提供方形、矩形和圆形的版本。#0盖玻片经过研磨，厚度变得非常薄，处于85 - 115 µ m之间，适用于弱荧光或厚样品；它有方形和矩形的版本。精密盖玻片，厚度#1.5H(170 µ m)精密盖玻片，厚度#1.5H(170 µ m)，公差±5 µ m推荐与高数值孔径的物镜配合使用提供方形(22 mm x 22 mm)、矩形(24 mm x 50 mm)和圆形(Ø 12 mm和Ø 25 mm)版本Thorlabs的精密盖玻片经过研磨，达到170 ± 5 µ m的均匀厚度。它们由Schott D 263® M玻璃制成，这是一种透明、无色、具有低自发荧光特性的玻璃。均匀的厚度和一致的光学特性减少了由球面像差造成的图像缺陷(详情请看规格标签)。因此，这些盖玻片非常适于与高数值孔径的物镜配合使用。 这些盖玻片有方形(22 mm x 22 mm)、矩形(24 mm x 50 mm)和圆形(Ø 12 mm和Ø 25 mm)的版本。请注意，Ø 12 mm盖玻片无法与MS15C1和MS15C2样品腔载玻片一起使用。

应用领域无机溶液标准物质/金属元素保存条件置于清洁阴凉处保存。使用注意事项使用前应恒温至（20±2）℃，并充分摇动以保证均匀。本标准物质打开后一次性使用，使用过程中应严格防止沾污。特征形态液态基体1%HNO3主要分析方法控制电位库仑法#定值单位中国计量科学研究院规格20mL/瓶产品咨询电话010-88482623 咨询北京美同达科技有限公司

加拿大MICROMATTER元素标准膜片所有 MICROMATTERTM的薄的膜片和厚的单一或多元素标准样品可以制作在各种尺寸上。 厚度范围从低至0.5 μg/cm2的浓度，到几个微米的厚度。 如今，在超过50多个国家的前沿机构使用MICROMATTER标准样品校准它们的X射线荧光光谱仪系统。MICROMATTERTM标准样品最常用于空气污染监测和薄镀层等领域For over 40 years, MICROMATTERTM has earned a reputation for quality. 1、XRF薄膜校准标准样品 MICROMATTERTM专门从事用于X射线荧光光谱 (XRF)分析的校准物质的制作，校准标样已成为在环境监测方面，特别是大气污染测量和痕迹分析等方面应用的通用“黄金标准”。 MICROMATTERTM可以针对元素周期表中大多数元素，制作成很薄的薄膜标准样品。所有 MICROMATTERTM 标准样品采用真空沉积，具有很高的均匀性。浓度范围从0.5 to 120 μg/cm2，标准样品的准确度被标定为±5%。 客户定制的厚度同样也会有上述准确度。 低浓度：SL (0.5~2μg/cm2) 中浓度：VL (3~8μg/cm2) 高浓度：L (15~25μg/cm2)应用领域 痕量分析 RoHS指令符合性检测 空气质量监测 半导体行业应用 2、RoHS 校准标准样品 MICROMATTER的RoHS校准标准样品是多镀层标样，采用真空沉积技术。RoHS 标样包含元素有 Cr, As, Br, Cd, Hg, Pb, Sn（也可添加客户指定的其它元素）。每一层元素浓度范围从0.5 to 120 μg/cm2。 由于MICROMATTER的RoHS 标样采用真空镀膜工艺，薄膜表面具有优异的均匀性和一致性，RoHS 标样可以保证准确定量地进行RoHS标准检测。标样每一层的密度用精密称重和/或者用XRF光谱仪进行验证。精度可以保证到±5%。 应用领域 痕量分析 RoHS指令符合性检测 空气质量监测 半导体行业应用 3、多元素标准样品 标准膜片MICROMATTERTM 在聚酯膜、聚碳酸酯核孔膜或者客户提供的其它背景材料上，为客户提供定制的多元素标准样品 (在一个膜片上多到6个元素) 。这些标样被广泛用于监测各个公认的，如EPA和RTI等空气质量控制实验室仪器的变化。 厚度标准样品MICROMATTERTM 提供厚度标准样品，厚度从0.5 μm到几个μm。标样的纯度达到99.999% ，并且为自支撑的箔。对于应用领域 痕量分析 RoHS指令符合性检测 空气质量监测 半导体行业应用

适合各项应用的优质样品池矩形标准样品池是常规液体分析中最常使用的光谱分析样品池类型。微量样品池的外侧尺寸与标准样品池相同，但池壁加厚，从而将样品内室的宽度减至 2 mm。这可将样品需要量减少 80%。如需了解关于SUPRASIL石英和特殊光学玻璃属性的全部详情，请参见UV/Vis标准样品池。带聚四氟乙烯盖或塞子的标准样品池材料 数量 光程 外侧尺寸( 高 x 宽 x 厚 ) 内侧宽度 底部厚度 样品池体积 窗片 部件编号带聚四氟乙烯盖特殊光学玻璃 2 10 x 10 mm 45 x 12.5 x 12.5 mm 10 mm 1.25 mm 3.5 mL 4 B0631104SUPRASIL® 石英 2 10 x 10 mm 45 x 12.5 x 12.5 mm 10 mm 1.25 mm 3.5 mL 4 B0631107带聚四氟乙烯塞子特殊光学玻璃 2 10 x 10 mm 46 x 12.5 x 12.5 mm 10 mm 1.25 mm 3.5 mL 4 B0631110SUPRASIL 石英 2 10 x 10 mm 46 x 12.5 x 12.5 mm 10 mm 1.25 mm 3.5 mL 4 B0631113带聚四氟乙烯盖或塞子的半微量样品池半微量样品池的外侧尺寸与标准样品池相同，但池壁略厚，从而将样品内室的宽度减至 4 mm。这可将样品需要量减少 60%。每包产品内包含 2 只样品池和 2 个透明窗片。材料 数量 光程 外侧尺寸( 高 x 宽 x 厚 ) 内侧宽度 底部厚度 样品池体积 窗片 部件编号带聚四氟乙烯盖特殊光学玻璃 2 10 x 4 mm 45 x 12.5 x 12.5 mm 4 mm 1.25 mm 1.4 mL 4 B0631115SUPRASIL® 石英 2 10 x 4 mm 45 x 12.5 x 12.5 mm 4 mm 1.25 mm 1.4 mL 4 B0631116带聚四氟乙烯塞子特殊光学玻璃 2 10 x 4 mm 46 x 12.5 x 12.5 mm 4 mm 1.25 mm 1.4 mL 4 B0631117SUPRASIL 石英 2 10 x 4 mm 46 x 12.5 x 12.5 mm 4 mm 1.25 mm 1.4 mL 4 B0631118用于磁力搅拌器的荧光样品池材料 数量 光程 外侧尺寸( 高 x 宽 x 厚 ) 内侧宽度 底部厚度 样品池体积 窗片 部件编号标准 / 半微量样品池SUPRASIL 石英 1 4 x 4 mm 45 x 12.5 x 12.5 mm 4 mm 4.5 mm 500 μL 4 B0631132磁力搅拌器 Fleas 6 04978499荧光样

T/CHEAA 0024-2023布艺面家用和类似用途布艺清洗机布艺面CHEAA团体标准布艺面 /CHEAA 0024-2023《家用和类似用途布艺清洗机》 CHEAA团体标准 中国家用电器协会颁布本文件适用于带真空吸力且具有脏污收集功能，用于布艺制品和地毯等清洁的家用和类似用途布艺清洗机(以下简称:布艺清洗机)，其它原理的布艺清洗机可参照执行。 通过压力将水或带有清洁剂的水溶液喷洒到指定污渍位置，利用清洁头对布艺制品和地毯表面进行清洁且带有脏污收集功能的器具。 试验方法试验表面及物料布艺面参数及规格要求布艺面由四层组成，其规格应符合的要求结构成分类型单位面积质量（g/m2）公称线密度/tex颜色厚度（mm）测试方法第一层100%棉 粗织物 400±20 40 白色 NA GB/T406第二层100%面普梳棉本色纱60±3 20 白色 NA GB/T398第三层100%涤纶100±5 NA 白色 10 GB/T24252第四层海绵橡胶 海绵 800±40 NA 黄色 30 GB/T18944.2 地毯参数及规格要求地毯类型技术要求及偏差测试方法/标准地毯总厚度（mm）13±1QB/T1089绒头厚度/高度（mm）12±1QB/T1555绒头纤维成分100%涤纶单位面积质量（g/m2）2200±110 QB/T1188毯基上单位面积绒头质量（g/m2）1200±60 QB/T1188 在对新的有线布艺清洗机进行首次测试之前，按照使用说明的要求给清水箱加额定容量的水和适配的清洁液，选用制造商推荐的适用场景的刷头，在无限制空气流速条件下运转2h，对于带有动力吸嘴的布艺清洗机，扰动装置运行但不接触地面。在机器预热阶段，布艺清洗机应喷酒溶液。在对新的无线布艺清洗机进行首次测试之前，应按照制造商的说明充满电，并按照使用说明的要求给清水箱加额定容量的水和适配的清洁液，选用制造商推荐适用场景的刷头，然后在无限制空气流速条件下工作直至完全放电状态，然后间隔至少30min，重复上述操作三次。间隔期间不进行任何操作。对于动力吸嘴，扰动装置运行但不接触地面。在新机器预热阶段，布艺清洗机应喷洒溶液。水状污渍包括:酱油污渍(见:6.1.3f3))和咖啡污(见:6.1.3f4))。布污时，将移液器的尖端移到布污点的治具中心正上方约5处，垂直于测试表面缓慢将移液器中水状污渍铺满治具覆盖的表面，然后用1000g的负载压住圆形治具(如图2)，避免水状污渍外流。使用移液器均匀的在试验表面上布6个直径为50mm的污渍点(如图3)，每个污渍点重量为5g,间隔均匀分布在460mmx815mm的方形区域。布污完成后在6.1.2要求的环境中，进行静置。其中:酱油污渍静置15min(布艺面)和24h(地毯) 咖啡污渍在布艺面和地毯的测试面均静置15min。粘性污渍为番茄酱(见:6.1.3f5))使用移液器将1m番茄酱挤压到试验表面(布艺面和地毯)上布置的6个直径为50mm的圆形区域内，并用治具涂抹均匀(如图4)，在6.1.2规定的环境下静置2h。布污分布如图3所示。布艺清洗机充分预热后，放置在测试区域起始位置(保证机器运行的负重为3600g,必要时可以施加配重),开始清洁。测试过程中，运行速度为(0.076+0.01)m/s，每个方向进行两湿两干(两次喷水，两次不喷水)的共四次清洁，具体清洁步参考图5。开始测试前，先裁剪尺寸为B(清洁头宽度+10m)XL(152mm)地毯面，称重记为"。然后将待测试样品浸入水桶中3秒钟，提起待测样品一角，使其自然滴水，观察待测样品连续10s不再滴水为止，然后称重记为四将待测表面放回在测试治具上，将布艺清洗机放置测试区域起始位置(保证机器运行的负重为3600g,必要时可以施加配重)，以(0.076+0.01)m/s的速度在测试区域进行2次不喷水模式的运行。然后立即将待测表面取下，称重记为m3开始测试前，先裁剪尺寸为:B(清洁头宽度)XL(300mm)的地毯面作为测试区域。布艺清洗机预热后，按使用说明的要求向清水箱加满水，然后分别称量清水箱重量m、污水箱重量m，以克(g)为单位。将布艺清洗机放置在测试区域的前端作为起始位置(保证机器运行的负重为3600g,必要时可以施加配重)，以(0.076+0.01)m/s的速度进行从前往后的清洁运动，其中:首先用喷水的湿吸模式从前往后进行一次清洁运动，然后提起清洁头回至起始位置，再用不喷水的干吸模式进行一次从前往后的清洁运动，再次提起清洁头回至起始位置，以此为一个清洁循环，连续进行5次循环的清洁运动。。

MICROMATTER元素标准膜型号：A36 B36 A47 B47 SM36等所有 MICROMATTERTM的薄的膜片和厚的单一或多元素标准样品可以制作在各种尺寸上。 厚度范围从低至0.5 µ g/cm2的浓度，到几个微米的厚度。 如今，在超过50多个国家的前沿机构使用MICROMATTER标准样品校准它们的X射线荧光光谱仪系统。MICROMATTERTM标准样品最常用于空气污染监测和薄镀层等领域For over 40 years, MICROMATTERTM has earned a reputation for quality. 1、RF薄膜校准标准样品 MICROMATTERTM专门从事用于X射线荧光光谱 (XRF)分析的校准物质的制作，校准标样已成为在环境监测方面，特别是大气污染测量和痕迹分析等方面应用的通用“黄金标准”。 MICROMATTERTM可以针对元素周期表中大多数元素，制作成很薄的薄膜标准样品。所有 MICROMATTERTM 标准样品采用真空沉积，具有很高的均匀性。浓度范围从0.5 to 120 µ g/cm2，标准样品的准确度被标定为±5%。 客户定制的厚度同样也会有上述准确度。 应用领域  痕量分析  RoHS指令符合性检测  空气质量监测  半导体行业应用 2、RoHS 校准标准样品 MICROMATTER的RoHS校准标准样品是多镀层标样，采用真空沉积技术。RoHS 标样包含元素有 Cr, As, Br, Cd, Hg, Pb, Sn（也可添加客户指定的其它元素）。每一层元素浓度范围从0.5 to 120 µ g/cm2。 由于MICROMATTER的RoHS 标样采用真空镀膜工艺，薄膜表面具有优异的均匀性和一致性，RoHS 标样可以保证准确定量地进行RoHS标准检测。标样每一层的密度用精密称重和/或者用XRF光谱仪进行验证。精度可以保证到±5%。 应用领域  痕量分析  RoHS指令符合性检测  空气质量监测  半导体行业应用 3、多元素标准样品 MICROMATTERTM 在聚酯膜、聚碳酸酯核孔膜或者客户提供的其它背景材料上，为客户提供定制的多元素标准样品 (在一个膜片上多到6个元素) 。这些标样被广泛用于监测各个公认的，如EPA和RTI等空气质量控制实验室仪器的变化。 厚度标准样品 MICROMATTERTM 提供厚度标准样品，厚度从0.5 µ m到几个µ m。标样的纯度达到99.999% ，并且为自支撑的箔。对于应用领域  痕量分析  RoHS指令符合性检测  空气质量监测  半导体行业应用

TT30超声波测厚仪 TT30超声波测厚仪 超声波测厚仪TT300 超声波测厚仪TT300（智能标准型,TT300超声波测厚仪是智能标准型超声波测厚仪超声波测厚仪TT300采用超声波测量原理，TT300超声波测厚仪适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,TT300超声波测厚仪并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。TT300超声波测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量，另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。超声波测厚仪TT300基本原理　　超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似，探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。 超声波测厚仪TT300性能指标　　测量范围： 0.75mm～300.0mm 　　显示分辨率：0.1/0.01mm（可选）　　测量精度：± （1%H+0.1）mm H为被测物实际厚度 　　管材测量下限（钢）：&Phi 15mm× 2.0mm 　　最小厚度值捕捉模式：可选择显示当前厚度值或最小厚度值　　数据输出：RS232接口，可与TA220S微型打印机或PC连接　　数据存储：可存储500个测量值和五个声速值　　报警功能：可设置限界，对限界外的测量值能自动蜂鸣报警　　使用环境温度：不超过60℃ 　　电源：二节AA型1.5V碱性电池　　工作时间：可达100小时　　外形尺寸：152mm× 74 mm× 35 mm 　　重量：370g

XRF荧光光谱仪薄膜标准样品B47型单元素薄膜标准样品3000奥富森提供的XRF薄膜标准样品综合了多种高真空镀膜技术进行制备,能够制备单元素、多元素、化合物以及土壤混合物等类型的薄膜标准样品。具有膜层厚度控制精确，厚度均匀，性能稳定等优点，元素纯度可达99.9%以上；同时综合ICP和XRF等检测技术，可精确标定薄膜标样的负载量。并提供具有朔源性的第三方检测报告。 《HJ 830-2017 环境空气颗粒物中无机元素的测定波长色散-X射线荧光光谱法》以及《HJ 829-2017 环境空气颗粒物中无机元素的测定能量色散-X射线荧光光谱法》均要求使用薄膜标样建立仪器的工作曲线。XRF薄膜标准样品分SL(0.5-2μg/cm2)、VL(3-5μg/cm2)、L(15-25μg/cm2)、R(40-60μg/cm2)、H(80-120μg/cm2)五个负载量系列，其他负载量的产品可根据客户实际需求定制。在实际的空气监测应用中，根据《HJ830-2017环境空气颗粒物中无机元素的测定波长色散-X射线荧光光谱法》和《HJ829-2017环境空气颗粒物中无机元素的测定能量色散-X射线荧光光谱法》所测得的数据通常偏低；而传统薄膜标准样品的浓度跨度较大，负载量偏高，不利于标定曲线的建立以及低浓度无机元素的精确测量。 为解决这一问题，奥富森公司针对《HJ830-2017》、《HJ829-2017》和最新《HJ1329-2023》推出了空气监测专用系列薄膜标准样品(AtmosphereMonitoringSeries)，分为S(0.4-1.6μg/cm2)、SM(2-4μg/cm2)、M(8-12μg/cm2)、LR(17-23μg/cm2) 、R(40-60μg/cm2)五个负载量。这一系列样品经过特别优化，其负载量较低，更加符合空气监测的实际应用需求。可供应的XRF单元素薄膜标准样品的元素如下：老款：SL(0.5-2μg/cm2)、VL(3-5μg/cm2)、L(15-25μg/cm2)、R(40-60μg/cm2)、H(80-120μg/cm2), 新款：S(0.4-1.6μg/cm2)、SM(2-4μg/cm2)、M(8-12μg/cm2)、LR(17-23μg/cm2) 、R(40-60μg/cm2)Na (NaCl)GeZn (ZnTe)Mg (MgF2)Rb (RbI)As (GaAs)AlY (YF3)SeSi (SiO2)Zr (ZrF4)Sr (SrF2)P (GaP)Nb (NbF5)Br (CsBr)S (CuSx)Mo (MoO3)Cd (CdSe)Cl (NaCl)InBa (BaF2)K (KCl)La (LaF3)PbCa (CaF2)Ce (CeF3)SnSc (ScF3)Pr(PrF3)Tm (TmF3)TiNd (NdF3)Yb (YbF3)VSm(SmF3)Lu (LuF3)CrEu (EuF3)W (WO3)MnGd (GdF3)Hg (HgCdTe)FeTb (TbF3)BiCoDy (DyF3)AgNiHo (HoF3)SbCuEr (ErF3)XRF薄膜标准样品的安装形式：1、 安装环尺寸（厚度为1.5mm的亚克力玻璃） 圆形：代码外径(mm)内径(mm)252517323225363629474739 推荐47号尺寸。方形： 50x50mm方形尺寸，内置ø 32mm的圆环，代码50。2、 支撑膜材料代码支撑膜材料备注NNuclepore® polycarbonate气溶胶核孔膜M6.36.3μm厚度麦拉膜(Mylar)M3.53.5μm厚度麦拉膜(Mylar)推荐N型材料。3、 镀膜方式：代码镀膜位置排列A安装环-元素膜-支撑膜B元素膜-支撑膜-安装环推荐B模式。具体型号请咨询厂家联系电话：18611477178联系人：谢充电子邮件：xc1977@126.com