平整度仪

table border="1" cellspacing="0" cellpadding="0" width="600"tbodytrtd width="123"p style="line-height: 1.75em "成果名称/p/tdtd width="525" colspan="3"p style="line-height: 1.75em "钢化玻璃表面平整度测试仪/p/td/trtrtd width="123"p style="line-height: 1.75em "单位名称/p/tdtd width="525" colspan="3"p style="line-height: 1.75em "中国建材检验认证集团股份有限公司/p/td/trtrtd width="123"p style="line-height: 1.75em "联系人/p/tdtd width="177"p style="line-height: 1.75em "艾福强/p/tdtd width="161"p style="line-height: 1.75em "联系邮箱/p/tdtd width="187"p style="line-height: 1.75em "afq@ctc.ac.cn/p/td/trtrtd width="123"p style="line-height: 1.75em "成果成熟度/p/tdtd width="525" colspan="3"p style="line-height: 1.75em "□正在研发 □已有样机 □通过小试 □通过中试 √可以量产/p/td/trtrtd width="123"p style="line-height: 1.75em "合作方式/p/tdtd width="525" colspan="3"p style="line-height: 1.75em "□技术转让□技术入股□合作开发 √其他/p/td/trtrtd width="648" colspan="4"p style="line-height: 1.75em "strong成果简介： /strongbr//pp style="text-align:center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201603/insimg/5680075d-08c7-437e-89ed-292a629e2e36.jpg" title="平整度仪.jpg"//pp style="line-height: 1.75em " 钢化玻璃表面平整度测试仪采用精度为2um的位移传感器可以精确的测量出钢化玻璃表面平整度，仪器表面安装有一液晶显示器与位移传感器通过内部电路相连接，可以实时显示所测得的各个位置的位移差，仪器内部还设有报警提出功能，用户可以根据自身需要设置不同的上下限报警，当仪器测得的数值超过用户所设置的上下限时，仪器内部的蜂鸣器会发出报警声，如果用户有对产品的上下限要求，则可以通过设置上下限报警来代替人为实时观测。仪器设置有零点标定功能，当需要将仪器更换位置或者更换待测物时，可以根据需要选择零点位置，同时也避免了仪器本身的误差。该仪器携带方便，测试结果准确、直观，操作简单方便，非常适合现场检测和快速检测。 br/ 性能指标： br/ 测定单位： 微米 br/ 测量范围：0-3mmbr/ A/D 变换: 16bit 逐次变换方式 br/ 测试精度: ± 0.2%F.S.以下 br/ 再现精度: ± 0.1%F.S.以下 br/ 连续使用时间: 约5小时(使用温度25 ℃) br/ 显示屏 : 16位数字液晶显示屏(模块化LCD) br/ 使用温度: 0～+40 ℃ br/ 计测方式: 最大值．瞬间值 br/ 电源: 4.8V充电电池 br/ 采样频率: 50次/秒 br/ 机体重量：约1Kg/p/td/trtrtd width="648" colspan="4"p style="line-height: 1.75em "strong应用前景： /strongbr/ 该检测仪特别适用于工厂、建筑工程质量检测站、产品质量检测站、科研院校等钢化玻璃的生产检测、和开发研究等领域。该仪器不仅适用于钢化玻璃表面平整度的检测，还可以用来检测任何可以适用的平整度检测或者位移差检测。/p/td/tr/tbody/tablepbr//p

近日，精测电子(300567)子公司上海精测半导体再度举行新产品交付发货仪式，向国内最大晶圆制造厂之一的华东大客户交付光学形貌量测TG™ 系列中的TG 300IF设备。TG 300IF凭借其自身性能优势，成功跨入硅片形貌测量领域，填补了国内半导体制造领域中此类设备的空白，增强了国产设备在此领域的自主性。据介绍，TG 300IF由上海精测半导体光学事业部形貌量测团队历时三年开发，该团队拥有深厚的光学系统技术及软硬件开发能力，克服了众多技术挑战，相继树立多个重要里程碑，如期将设备交付于客户手中。随着半导体器件尺寸不断缩小，晶圆翘曲、平整度及表面形貌的差异对集成电路制造工艺——特别是对光刻工艺的影响尤为显著，因此晶圆表面量测需求大幅升级。在28nm节点，先进光刻光学系统的焦深将缩小到~100nm尺度，更小的焦深对晶圆的平整度及纳米形貌变化的容差要求极为苛刻，晶圆平整度的细微差异会消耗高达50%的光刻焦深(DOF)预算，故而必须更严格地控制晶圆平整度与形貌参数。顺应于市场需求的爆发，同时也为响应国家在半导体领域国产替代的号召，TG 300IF顺势而出，该设备具备纳米级平整度测量精度，可以非接触、非破坏性的方式，一次性测量整个晶圆上数千万个点，快速精确地获得晶圆翘曲、平整度及纳米形貌分布信息，为先进制程的芯片检验提供高标准的量测工具，以助力于芯片制造商直击焦深挑战。此外，TG 300IF还搭载了上海精测半导体自主开发的硅片形貌及平整度数据分析及管理系统WaveLink™ ，可通过图形化界面动态展示二维/三维下的硅片形貌及平整度信息；且提供对测量数据的分类编辑管理功能；支持在离线模式下定义新的recipe完成对硅片形貌的批处理再分析；兼具配置Stress模块获得硅片的应力分布；实现灵活配置测试结果的输出类目及输出类型。同时，基于与整机共享的数据库系统，WaveLink™ 也可实时更新完成量测的硅片结果，及时输送量测数据。此外，WaveLink™ 还提供了MSA(Measure System Analysis)功能，帮助客户对数据进行量化分析，优化生产过程。本次出机的TG 300IF设备在上海精测半导体研发总部的新装备制造基地完成总装、调试。上海精测半导体新落成的研发总部占地50多亩，由四幢甲级写字楼和一个高洁净度制造基地组成，预计年底全部投入使用，将满足上海精测半导体业务的新一阶段的发展需求。上海精测有关负责人表示，加速追赶、持续推出优质产品，是上海精测半导体不变的初衷，同时公司也将坚守核心技术自主可控的发展战略，持续深耕半导体前道量测设备领域，竭力满足客户需求，并协同上下游产业资源，合力推动国产半导体设备产业进步。

据江北科投集团2月14日消息，江北新区企业中安半导体于近日完成A轮2亿元融资。本次融资由中芯聚源、元禾璞华领投，江北科投、红杉资本以及老股东华登国际、金茂资本参与跟投，本轮融资资金主要用于新产品研发。江北科投集团消息显示，中安半导体于2020年3月在南京江北新区成立。另据企查查信息，中安半导体注册资本为2979.58万元人民币，是一家半导体检测设备研发商，旗下拥有硅片检测技术，旗下主要提供半导体硅片平整度检测设备、三维形貌检测设备等服务。据悉，中安半导体是利用公司自有的先进专利技术开发精密的晶圆量测和检测设备，目前已研发了200mm和300mm晶圆平整度翘曲度测量的设备。

根据中国政府采购网发布的《北京市市政工程研究院道路交通路面设备申购中标公告》，布鲁克的智能显微共聚焦拉曼光谱仪SENTERRAII中标北京市市政工程研究院道路交通路面设备申购 项目( 项目编号：XM-0000183302170215012 )。　　激光共焦拉曼光谱是用来分析物质组分﹑结构等的一种有效光谱分析手段。北京市市政工程研究院道路交通路面设备申购激光共聚焦拉曼显微光谱仪，在道路工程中可广泛对沥青类高分子化合物及其衍生物、水泥混凝土及各种添加剂原材进行微观分析。　　此外，此次采购中还包括激光多功能道路测试仪1台，包含平整度激光器(车辙直射激光器共用)：数量：1个 ，车辙激光器7个，构造深度激光器(车辙直射激光器共用)：数量：1个，平整度专用加速度计：数量：2个。用途提高路面检测能力 瞬变电磁磁探头1台，用途适用于解决浅部地质问题。　　总中标金额：211.0 万元(人民币)其中激光共聚焦拉曼显微光谱仪1台，规格型号：senterra II,单价1460000元，总价1460000元。　　备注：虽然布鲁克在1988年就推出了傅立叶拉曼光谱仪，但是一直推广比较少。不过，随着市场格局的改变，布鲁克在拉曼光谱仪方面也开始发力了。继2015年推出首款便携拉曼产品BRAVO之后，analytica China 2016上布鲁克又展出了拉曼光谱仪的升级版本SENTERRAⅡ。

严格!大连公路检测需30余套仪器设备。速度!检测人员每天检测里程90公里。进入11月份，随着我市各地区气温骤降，许多工程项目陆续停工。然而，在普通公路和农村公路的交工质量检测现场，却是一片热火朝天的繁忙景象。10日，记者从花园口经济区内鹤肖线现场了解到，目前我市5个督查组共计60 余名检测人员已全部到位，交工质量检测正在有序开展之中，预计今年全市公路新建工程交工项目主体检测工作将于本周末全部完成。　　现场：　　30余套设备齐上阵 每天检测90公里　　上午，记者跟随市交通局工程质量与安全监督站监督科的工作人员来到位于花园口经济区内鹤肖线上。在现场记者看到，在这条今年新建的通屯油路上，十几名检测人员按照分工不同，正在使用手中的仪器对路面参数进行测量。　　据市交通局工程质量与安全监督站监督科科长王思远介绍，这条油路是由花园口经济区城建局负责组织第三方检测机构进行现场质量检测，市交通局工程质量与安全监督站现场进行监督和指导，检测人员需要现场检测路面弯沉、宽度、横坡、平整度、压实度等十几项指标。而本次交工质量检测，采用了车载式激光平整度仪、路面雷达厚度测试仪等30余套先进的检测仪器设备，最大限度减少人为因素干扰，确保检测工作的客观公正。值得一提的是，今年交工质量检测特别增加了对道路交通安全设施质量的检测，检测人员不放过任何一处标志、标线和防护栏的检测。　　王思远透露，受到通屯油路交工时间晚等因素的影响，今年我市公路新建工程交工项目主体检测工作于今年11月2日正式启动，比往年晚了20多天。由于目前气温逐渐走低，为了能在上冻之前完成今年新建工程的质量检测任务，十几天来，检测人员加班加点工作，每天检测里程在90公里左右。按照计划，今年全市公路工程交工项目主体检测工作将于本周末全部完成。‘　　监督站：　　全部检测任务均由第三方检测单位完成　　据悉，今年我市交工质量检测的项目共计1363公里，其中，国省干线188.1公里，县级公路77.5公里，乡村级公路1097.4公里，范围涵盖全市9个区市县。　　尽管今年检测工作启动时间晚，但市质监站在检测方式、检测单位选定等方面较之往年有了新突破。王思远告诉记者，为做好本次交工质量检测，今年，市质监站突破常规，采取全部检测任务均由第三方检测单位完成的方式，公开招标选取了4家检测单位全程检测，市质监站对其检测行为进行监督，对检测结果进行抽查。　　王思远表示，由于今年的冬季来的比往常年更早一些，冰点以下的温度无疑为交工质量检测带来了更大的难度。结合此次公路工程量大，点多，面广的特点，他们将采取“5+2”、“白+黑”的弹性工作制度，组织交工质量检测，保证数据的及时整理和反馈，第一时间出具检测报告，按期完成通车目标。

各有关单位：经研究，现对《合成石材试验方法 第7部分：耐氙灯老化性能的测定》等295项拟立项国家标准项目公开征求意见，征求意见截止时间为2024年1月5日。请登录请登录标准技术司网站征求意见公示网页http://std.samr.gov.cn/gb/gbSuggestionPlan?bId=10001508，查询项目信息和反馈意见建议。国家市场监督管理总局2023年12月6日部分相关标准如下：#项目中文名称制修订截止日期1合成石材试验方法 第7部分：耐氙灯老化性能的测定制定2024-01-052轻型车辆动力车用铅酸蓄电池 一般要求和试验方法制定2024-01-053纺织品 聚六亚甲基双胍盐酸盐的测定修订2024-01-054环境试验 第2部分：试验方法 试验：倾斜和摇摆制定2024-01-055阴离子交换树脂再生型和碳酸型率的测定方法制定2024-01-056铅及铅合金化学分析方法 第19部分：铜、银、铋、砷、锑、锡、锌、镍、镉、钠、镁、钙、铝、铁、硒和碲含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法制定2024-01-057建筑绝热制品 长度和宽度的测定制定2024-01-058锂离子电池正极材料检测方法 浆料粘度的测定修订2024-01-059医药工业洁净室（区）浮游菌的测试方法修订2024-01-0510医药工业洁净室（区）悬浮粒子的测试方法修订2024-01-0511建筑绝热制品 平整度的测定制定2024-01-05

中新网南京10月10日电 针对“十一”黄金周网络上“黄金掺假”的传言，中国工商银行(601398,股吧)近日回应称“网传并不属实，每根金条都有质量检测证书”，但仍有不少群众对手中收藏金条的真假存有疑惑。江苏省黄金珠宝检测中心的相关负责人称，如果疑心黄金掺假，可以到检测机构进行有偿检验，但业内人士也表示，购买金条的渠道是否正规很重要，保留好购买凭证，有利于今后维权或出手转卖。　　黄金的投资热度随着金价的上升也是在不断升温，因此，近日一则“工商银行出售金条里掺有铱”的传言引起了不少人的关注。“铱和钨，和黄金的密度相近，因此会被掺进来冒充黄金，按照现在的国际价格，它们只有黄金价格的一半”,江苏省黄金珠宝检测中心主任朱德茂说。　　“每一根金条都出具了产品质量证书，并承诺回购，我行委托的国家级检测机构历年检测结果均符合标准，网上的说法并不属实”，中国工商银行贵金属业务部新闻发言人施旭东接受媒体采访时，对该传言予以了否认。　　虽然传言中涉及到的银行已经出面澄清，但还是有不少收藏黄金的市民疑虑自己手中的黄金是否掺了假。据业内人士称，目前检测黄金的方法主要有三种，分别是密度检测法、X射线荧光光谱仪检测法和破坏性检测法，不过传言中的“铱和钨”与黄金的密度相近，因此检验这样的黄金，主要靠后两种方式。　　“如果千足金里掺了铱或钨，贵金属检测仪是能看到这种东西的”，江苏省黄金珠宝检测中心的检测员说：“还有一种破坏性检测的方法，如果检测者能承受30或50毫克的耗损，溶解掉部分黄金，送进高分辨等离子体质谱仪进行破坏性检测，也能得到非常准确的结果。”　　据悉，无损检测的费用是每20克50元，破坏性检测的收费比较高，要1200元起步，而且还要损耗30到50毫克黄金。　　除此之外，普通民众在购买环节也可以用“火眼金睛”粗略辨别下金条的外观。“有些掺假的金条表面上刻的线就可能不直，打上的钢印不清晰，或者表面有凹凸感、不平整”，朱德茂提出了购买金条时的“目测”方法。　　另外，业内人士还指出，投资者购买金条时要到正规机构购买，并且要保留好购买凭证，因为该凭证不仅可以成为日后遇到问题时消费者维权的依据，而且不少机构在回购黄金时也要参考该凭证。

大视场相机是大视场望远镜的核心设备，而由于单片传感器大小的限制，对于大视场相机的焦面没法使用单片传感器来满足大焦面的需求，因此大靶面探测器拼接是大视场相机的研制的关键技术。高精度的焦面拼接首先要求高精度的加工和高精度的测量，由于探测器工作温度往往都是在低温下，以减小探测器的暗电流，因此需要在常温以及低温工况下进行测量，以保证探测器在低温工况下具有良好的平整度，提高探测器的成像质量。基于国内外天文学发展的现状，把握实测天文科学和技术发展趋势，结合已有研究团队的人才技术优势和研究基础，在多年准备和积累的基础上，中国科学技术大学和中国科学院紫金山天文台提出共同建设北半球具备最高巡天能力的光学时域巡测设备-2.5米口径大视场巡天望远镜(Wide Field Survey Telescope，以下简称WFST)，抢占时域天文观测研究制高点。而大靶面拼接主焦相机正是WFST望远镜的关键设备，科学成像采用9片9K×9K CCD芯片拼接而成，设计成像靶面直径达到D325mm，像面拼接平整度小于PV20um，是国内面积最大，达到国际领先水平的主焦相机，如图1所示。从表1可以看出WFST的焦面拼接平整度要求是最高的。主焦相机的研制首先要解决高精度测量的问题，尤其是在低温工况下的测量。 表1 国际大型光学图像巡天项目利用的望远镜和安装的CCD拼接相机参数表 　　相机研制团队在WFST望远镜副总设计师、中国科学技术大学物理学院核探测与核电子学国家实验室王坚教授领导下，进行了主焦相机关键技术的攻关，包括探测器真空低温封装，大靶面探测器高精度测量和拼接，探测器低噪声低功耗读出和驱动，高效相机控制等。对于大靶面探测器高精度测量，研制团队攻克了低温工况下高精度平面度非接触测量的难点，基于激光三角测量法提出了适合于传感器低温封装工况下的差分三角测量方法(Differential Triangulation Measurement)，在真空封装下的测量误差不超过0.5%，重复测量精度能达到±2μm。并在此基础上完成DTS测量仪的研制(如图2所示)，并最终完成WFST主焦相机低温工况下的测量，如图3所示。目前WFST主焦相机已经完成研制，运往冷湖和望远镜本体进行安装和联调联测。图1 WFST主焦相机及其焦面拼接图2 高精度测量仪DTS 相关成果于2023年7月发表在测量和仪器的知名杂志IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement。 　　本工作获得中国科学技术大学创新团队培育基金，重要方向培育基金，国家自然科学基金委，双一流学科建设，深空探测实验室前沿科研计划的资助。

面团拉伸仪的应用操作 无论是面包、披萨还是饼干，面团的质地和拉伸程度都是关键。在传统的制作过程中，拉伸面团通常需要耗费大量时间和体力，而且难以控制。然而，面团拉伸仪 的出现彻底改变了这个局面。传统方式下，拉伸面团需要反复折叠、揉搓和推拉，耗费大量时间和精力。而面团拉伸仪通过内置的电机和**的控制系统，可以在短时间内完成拉伸，大大节省制作时间。不仅如此，面团拉伸仪还能够保持面团的温度和湿度，确保面团不会过度发酵或变干，从而保证产品的口感和质量。面团的组织结构和质地对烘焙产品起着至关重要的作用。面团拉伸仪可以根据不同的产品需求进行调整，使得面团的拉伸程度和薄厚度完全符合要求。无论是想制作厚薄均匀的面包片，还是薄脆香酥的饼干，面团拉伸仪都能够满足不同的需求，并保证产品的质量和口感。除了拉伸面团外，它还可以用于调整面团的松紧度和平整度，使得面团更加均匀和易于操作。比如，面团拉伸仪可以使得面包的受力均匀分布，避免出现凹凸不平的现象；它还可以调整面团的延展性，使得面包在烘烤过程中膨胀更为均匀。这些功能的存在使得面团制作变得更加简便和高效。

近日，洁盟集团下属子公司韶关市洁盟超声科技有限公司取得韶关市市场监督管理局核发的《第一类医疗器械备案凭证》（备案编号：粤韶械备20220002）、《第一类医疗器械生产备案凭证》（备案编号：粤韶食药监械生产备20220001号），这标志着洁盟集团仪器板块业务往前迈进了夯实的一步。 洁盟集团成立于2007年，是一家专业从事于超声波清洗设备的研发、生产、销售于一体的厂家，先后斩获“高新技术企业”和“专精特新”企业称号，旗下设有深圳洁盟、广东洁盟、广州科盟、韶关洁盟，洁盟声学集团（香港）等数家子公司，分布于华南各地；产品主要分为三大类，“工业设备类、商用仪器类、家用健康类”超声波清洗机，广泛运用于工厂制造、医疗、塑胶制品、交通运输、电子产品、新能源等各大领域。客户遍布全球100多个国家和地区 备案涉及的产品名称为医用超声波清洗器（D系列和Y系列），主要用于实验室、医疗机构及科研单位等领域实验器皿、医疗器械的清洗以及样品混匀、破碎、分散、乳化等处理。 此次取得《第一类医疗器械备案凭证》、《第一类医疗器械生产备案凭证》对洁盟集团具有重大意义，不仅推动了洁盟集团仪器板块超声波清洗的市场化进程，进一步增强洁盟品牌在市场上的综合竞争力，同时有助于公司在医疗领域持续性地提供高品质的超声波仪器产品，对公司未来的仪器业务经营产生积极影响

近日，中国中车旗下时代新材海上风电叶片检测中心完成验收，正式投入使用。该检测中心是目前全球唯一可开展160米叶片全尺寸结构试验的检测实验室，可支撑百米级叶片的研究和检测，验证大尺寸叶片的可靠性。该检测中心位于江苏省盐城市射阳港经济开发区，2022年7月启动建设，占地面积约6.7万㎡，规划建设4个试验承载平台，已建成2个平台，可测试叶片最大功率级别20MW、最大叶片静力极限弯矩载荷200000kNm、最大疲劳弯矩载荷100000kNm、最长叶片长度160m、最大叶根节圆直径7.2m。检测中心采用先进的设计与施工工艺，8m*8m整体面板的凹凸程度不高于0.5mm，平整度超LED显示屏。最大载荷是现有10MW机组载荷的5倍，与2万吨吊车起吊能力相当。静力试验单点加载载荷达50吨，基于神经网络控制技术实现了16点协同精准加载，加载精度误差≤0.5%。叶片疲劳试验依据目标载荷自动扫频启动，试验全程闭环控制，已实现无人值守。中车时代新材海上风电叶片检测中心拥有风电仿真计算平台、频率、静力、疲劳等各类检测系统，加速了中车

由于煤、石油、天然气等资源不可再生的特点使得开发可持续性能源成为当务之急。1991年日本索尼公司推出的锂离子电池让世界看到绿色能源电池新契机，其高比能量和高比功能密度已被广泛应用在电动汽车、国防工业、便携式电子设备等领域中。石墨因比容量高、结构稳定、成本低等特点已广泛用作商业负极材料，因此正极材料成为制约锂离子电池发展的重要因素。在众多的正极材料中，三元正极材料镍钴锰Li（Ni1-x-yCoxMny）O2由于其导电性能优良、成本低廉、环境友好等特点成为具有商业应用价值的电池材料。而正极材料能继承前驱体的形貌和结构特点，所以前驱体的结构、制备工艺对正极材料的性能有着至关重要的影响。因此对三元前驱体材料Ni1-x-yCoxMny(OH)2形貌及结构的研究显得尤为重要。为了更好的观察三元前驱体材料Ni1-x-yCoxMny(OH)2的内部结构，我们使用美国GATAN Ilion II 697精密刻蚀仪（图1）对材料进行刻蚀。Ilion II 配备两支无损、能量范围大的（100V-8KV）聚焦离子枪，样品制备时，高低电压的结合可极大提高抛光的速度和质量。同时聚焦离子枪的设计，可以保证低电压下，快速获得高质量的样品表面。 图1 GATAN Ilion II 697精密刻蚀镀膜仪 我们利用Ilion II 697精密刻蚀镀膜仪并配备蔡司Sigma 500场发射电子显微镜实现对三元前驱体材料的制备及观察。697所制备的粉末样品数量足够多，且表面平整度好，不仅可以看到其内部的孔隙大小、结构情况，还可以看到晶粒的大小和分布情况等。如图2(a)可看出材料整体制备平整、完好无损伤，2(b)可清晰观察到材料内部纳米级别孔隙；图2(c)(d)为另一种结构的前驱体材料，孔隙较小且可观察到晶粒。正所谓“工欲善其事，必先利其器”，选择合适的实验仪器和实验方法能让您的科研达到事半功倍的效果。图2 三元前驱体材料刨面结构

图1.取决于观察方法的外观差异（样品：金属基底上的锈迹）自1958年起，JASCO公司一直致力于开发和制造光学分析仪器和提供分析服务。他们的多种常用于材料分析的拉曼光谱仪产品中都采用了我们的一些显微镜技术。在这篇文章中，JASCO公司拉曼系统部门的Takeo Soejima探讨了我们的MIX观察技术是如何集成到JASCO的拉曼系统中及其如何协助提高了JASCO光谱仪的性能。以下是Takeo Soejima的讲解：更锐利的样品颜色、表面划痕和缺陷以及表面不平整度“MIX观察装置U-MIXR-2是我们的拉曼光谱仪的关键装置。与传统的明场或暗场观察相比，它能让我们更清晰地观察样品的颜色、表面裂纹和缺陷以及表面不平整度。2018年，我们首次将MIX观察装置（当时的型号是U-MIXR）纳入我们的NRS-4000/5000系列激光拉曼光谱仪（图2）中进行评估。这些系统拥有自动切换光学系统和自动光轴调整功能，软件操作简单，可用于从亚微米级微小异物分析到成像测量的多种应用。在图1显示的示例中，我们可在MIX观察下清楚地看到样品的颜色。红色的是红色锈迹，黑色的是黑色锈迹。在传统明场观察下，我们很难区分颗粒的颜色，而且必须测量所有位置。图2.JASCO激光拉曼光谱仪MIX观察：揭示隐藏的细节MIX观察组合了明场和暗场方法，得到了一个结合两者优势的视野。图3显示了另一个示例测量结果，其中仅对维生素的颜色增强部分进行拉曼测量。在拉曼测量中，样品的荧光有时会干扰测量，因此我们花了大量时间通过改变激光器（激光是拉曼测量的光源）的波长来研究测量条件。然而，MIX观察让我们能够更加轻松地根据样品的可见颜色来估计每个样品的出色激发激光。图3.维生素拉曼成像的示例我们一直专注于扩大拉曼光谱仪的应用范围，而且快速响应每个客户的请求对我们来说都非常重要。之前有一位客户曾向我们提供了一个样品。这个样品难以清晰观察，也很难在分析前定位，所以我们必须要在内部开发一个解决方案。最后，在我尝试用MIX滑块进行MIX观察时，这个问题得到了完美的解决。在传统暗场下，我们必须从明场开始物理切换光学系统，而且不可能进行MIX观察。只要将此装置插入转换器，即可轻松地进行暗场/MIX观察，这种方式具备很大的优势。这让我们能够轻松地在软件中选择明场/暗场/MIX观察。在MIX观察下，我们不仅能更清晰地观察样品，还可以大大缩短拉曼测量时间。图4.U-MIXR-2 MIX观察装置U-MIXR（图4）还有让客户利用支持暗场物镜的Evident转换器来低成本升级拉曼仪器的优势，因此我们立即决定采用这一装置。通过协助开发分析仪器业务Evident为我们提供了举办联合活动的建议，并在开发出更好、更快观察和测量样本的系统方面为我们提供了咨询。我希望我们将继续打造牢固的合作关系。”感谢Takeo Soejima为我们分享JASCO对于拉曼分析中MIX观察装置优点的看法。受访客户Takeo Soejima, JASCO公司拉曼系统部。Takeo Soejima是JASCO公司拉曼光谱仪应用开发部门的一员，现从事拉曼光谱仪系统的开发。

新Tegramin 功能更强大，操作更简便，设计更可靠，环境更安全 作为全球金相制样设备的领先生产厂商，司特尔公司（STRUERS ）最新发布了新Tegramin金相试样磨抛系统。该系统完美结合了高产能、易操作和先进的功能。坚固的设计确保了高品质的制备结果及可靠的日常运行；自动进程控制确保试样制备具有结果可再现性，操作极为简便。 Tegramin有两种尺寸：可分别用于250 mm/10&rdquo 和300 mm/12&rdquo 底盘。两种尺寸均具有可变转速，也均可制备试样夹具座和单个试样。 新Tegramin功能强大值得信赖。该系统拥有全电动试样推进器，水平和垂直方向均可推进。制备开始时，能自动锁定试样位置，且试样推进器总在相同位置开始或停止，释放按钮总在同一位置释放试样，确保操作迅捷简便。试样移动盘能自动锁定在推进器上，确保最佳试样平整度。按单键即可将试样移动盘旋转180° ，插入单个试样极为简便。 新Tegramin设计坚固运行可靠。整个机器基座由AlSiMg合金制成，在铸造基座上，坚固的双柱结构承载着试样推进器，有助于改善试样平整度，减少制备噪音。抛光过程中会有水冲洗托盘，保证其洁净。新MD-Disc将传统制备盘和驱动盘整合成一个装置，可拆卸的托盘衬垫收集未被冲走的所有碎屑，易于取下，方便进行清洁或更换，且可通过底盘冷却功能更方便地进行降温。 新Tegramin更环保更安全。可为Tegramin选装新型选配件－透明外罩， 烟雾将被收集在连接至排气装置的外罩内。在制备过程中，用户不会接触到任何旋转部件，极大地增加个人安全性。Tegramin可以连接至循环冷却装置，该装置将收集研磨碎屑。 新Tegramin功能先进操作简便。大型彩色显示器可显示所有相关制备参数和制备进程。转推旋钮方便并加速了整个操作。打开时，机器会自动显示上次使用过的制备方法，从而减少设置和编程。Tegramin有10种Struers方法，并且可以另外扩展200种方法。在开发制备方法过程中，可以锁定某种方法，以保证其不会被修改。有两种不同的加料模式可选，实现自动添加金刚石悬浮液、润滑剂和氧化物抛光悬浮液，最多可安装七台加料泵。 欲了解更多信息或预约现场演示，请联系您本地的Struers销售代表，或拨打司特尔公司电话021-52288811，邮件struers.cn@struers.dk，也可访问公司网站www.struers.com。

朱自清的《荷塘月色》因清华大学而历久弥新，清华大学因《荷塘月色》而更加源远流长，相互成就了彼此！2019年5月17-19日，蚂蚁源科学仪器（北京）有限公司来到了这钟灵毓秀的清华园，这一次蚂蚁科仪是为学术加油、助力。2019年5月18至19日，清华大学第六届金相实验技能大赛于材料学院先进材料国家级实验教学示范中心举行。金相实验技能大赛是大学生专业技能大比赛，要求选手在40分钟内完成金属试样（45钢退火态，GCr15钢球化退火态）的磨光—抛光—腐蚀—金相观察过程。评委分别从图像质量、样品清洁程度、样品平整度和操作习惯四个方面对选手的金相实验技能进行评比考察。 蚂蚁科仪是专业致力于样品前处理研磨粉碎的生产厂家，这次走进清华也带来了材料行业的样品制备方案。说起材料行业，应用最多的非行星式球磨仪莫属。蚂蚁科仪的行星式球磨仪有单罐、双罐、四罐可选。高效率纳米级的细度、均匀的做样效果、极佳的样品温度和状态控制、特殊的惰性气体保护装置等一系列优势从而制备得到电化学性能很好的材料。目前材料行业比较热门的是电池材料的制备，特别是磷酸铁锂和石墨烯的复合材料制备。笔者认为制备过程中得做到以下要求：1、样品要达到纳米级别的细度2、均匀性要好3、解决样品团聚的问题4、制备的复合材料纯度要高蚂蚁科仪的行星式球磨仪能完美的实现以上要求。除了行星式球磨仪AM410、AM420、AM400外，蚂蚁科仪还有高通振动球磨仪AM100S、臼式研磨仪AM200S等现场展示，这两款主要是针对样品细度要求不高的微米级制备。另外，蚂蚁科仪产品还在农业、生物、环境、食品、地矿、化工等领域有广泛的应用。欢迎来电垂询!

ALIO六轴位移台Hybrid Hexapod重新定义纳米加工和精 准对位贴合技术！自昊量光电推出以来全新的六轴位移台，ALIO Industries的Hybrid Hexapod彻底改变了6D运动的方法，并重新定义了运动控制在需要平整度和直线度加上刚度的应用中的作用，如纳米加工和精 准对位贴合技术中的应用。ALIO工业公司总裁Bill Hennessey表示:“在6自由度(6DOF)纳米技术应用领域，Hybrid Hexapod技术允许在纳米级精度的运动中提供身体所有6DOF性能的文件证明。因此，它是独 一 无 二的，这是第 一次成为可能。我们现在看到领 先技术研发人员在光学、半导体、制造、计量、激光加工和微加工领域致力于纳米应用，并取得了以前无法企及的成功。”所有的传统六足位移台运动系统都在三维空间内运行，并且在所有的六个自由度上都存在误差。然而，传统六足位移台的运动系统通常只能用单自由度的运动数据来表征。这种做法在几个自由度上留下了误差来源，特别是在平面和直线度方面，这是纳米级别的关键精度需求。所以说，一个传统的六足位移台在测量行程的平整度和直线度时，每轴会损失几十微米的精度。庆幸的是，Hybrid Hexapod完全克服了这些问题。Hennessey继续说道:“因为传统六足位移台有六个独立控制的连杆连接在一起，移动一个共同的平台，平台的运动误差将是所有连杆和关节误差的函数。众所周知，传统六足位移台在执行z轴运动时具有最 佳的精度和可重复性，因为所有连杆在相同的相对连杆角上执行相同的运动。然而，当任何其他X、Y、俯仰、偏航或摇摆运动被指令时，由于所有连杆执行不同的运动，传统六足位移台的精度和几何路径性能大幅下降。传统六足位移台的关节不精确，运动控制器无法实现正运动学和逆运动学方程，因此误差的来源更加明显。”Hybrid Hexapod由ALIO开发，旨在解决传统传统六足架设计的关键弱点，以及堆叠串行级的弱点，并在运动过程中实现纳米级的精度、可重复性和高完整性的平面和直线度。它采用了一个三脚架平行运动学结构来提供Z平面和尖 端/倾斜运动，集成了一个整体串行运动学结构来进行XY运动。一个旋转平台集成到三脚架的顶部(或下面，根据应用需要)提供360度的连续偏航旋转。在这种混合设计中，每个轴可以定制，提供从毫米到1米以上的行程范围，同时保持纳米级的精度。Hennessey总结道:“让我们看看4K镜头的制造商。典型的4K镜头需要极其高科技的材料技术，精密的组装实践，以及非常复杂的制造工艺和技术。所有方向的公差几乎为零用于制造透镜的制造过程经常会导致误差，这就是为什么它们需要不断的主动对准。 传感器和镜头对齐，多个目标沿着镜头投影到传感器，然后拍摄图像。调制传递函数(MTF)总是由主动对准装置不断监测，以保持每个MTF值在预先确定的范围内。当满足限度时，用紫外光对胶粘剂进行部分固化，然后再进行完全热固化。这确保了在对准镜头和传感器平面时的极端准确性。Hybrid Hexapod被证明是这种应用的完美选择，因为它的绝 对重复性和精度可以一次又一次地产生准确的结果。” “必须激励在可能的前沿工作的工程师提出更多要求，因为他们看到这项技术可以实现其他人无法实现的目标，具有促进创新的潜力，并且可以优化制造的效率和成本效益。Hybrid Hexapod 比传统六足位移台精度高出几个数量级，刚性提高100倍，速度提高30倍，可用工作范围是传统六轴位移台的10倍。 和传统六足设备同类型型号主要参数对比优势关于生产商：ALIO Industries 成立于 2001 年，由一支由杰出工程师组成的无与伦比的团队推动，他们痴迷于纳米级运动控制、客户成功以及尽可能突破感知界限。今天，ALIO非常重视对客户的响应。作为一家公司，我们一直专注于纳米级精度，因此我们拥有声誉、知识库和稳定性，这在需要超精确和可靠的运动控制时是无法比拟的。与 ALIO 作为您的合作伙伴，您将与一个强大、完善、财务稳定、全球认可和受人尊敬的品牌合作，为各种行业领 先客户提供服务。我们培养伙伴关系的基本含义，相信当知识在整个团队中公开共享时，结果总是更好。这也使我们能够创造性地为任何应用找到实用的运动控制解决方案。ALIO 的团队以诚实、正直和热情为特征。我们专注于成功，而不是为了现金流而出售解决方案。这就是性格！这就是为什么我们在纳米级运动控制解决方案领域享有无与伦比的声誉。上海昊量光电作为ALIO在中国大陆地区最 大的代理商，为您提供专业的选型以及技术服务。对于ALIO有兴趣或者任何问题，都欢迎通过电话、电子邮件或者微信与我们联系。 如果您对六轴位移台有兴趣，请访问上海昊量光电的官方网页：https://www.auniontech.com/details-1529.html欢迎继续关注上海昊量光电的各大媒体平台，我们将不定期推出各种产品介绍与技术新闻。关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是目前国内知 名光电产品专业代理商，也是近年来发展迅速的光电产品代理企业。除了拥有一批专业技术销售工程师之外，还有拥有一支强大技术支持队伍。我们的技术支持团队可以为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等工作。秉承诚信、高效、创新、共赢的核心价值观，昊量光电坚持以诚信为基石，凭借高效的运营机制和勇于创新的探索精神为我们的客户与与合作伙伴不断创造价值，实现各方共赢！您可以通过我们昊量光电的官方网站www.auniontech.com了解更多的产品信息，或直接来电咨询4006-888-532。

提起高分辨光场智能成像显微仪器（“RUSH”）的研制经过，清华大学成像与智能技术实验室团队成员吴嘉敏感叹：“我们终于熬过来了！”2017年是中国工程院院士、清华大学成像与智能技术实验室主任戴琼海团队的“至暗时刻”，也是他们计划研制观测脑皮层神经成像仪器的第五年。“一直以来，活体介观显微成像处于空白，世界上很多科研团队都在研制新的介观尺度仪器，包括加州理工学院、麻省理工学院等，但都没有做到尽善尽美。”吴嘉敏说。2012年，戴琼海决心带领团队突破这个难题。“戴老师鼓励我们目光放长远，我们做这个仪器就要向诺奖级的重大原始创新成果看齐。”吴嘉敏说。5年中，团队成员夜以继日，深夜两点钟还在开组会是常事。“2017年1月20日是仪器中期考核，我们所有元件都有了，原以为把仪器搭建起来就成功了，结果发现其中一个部件有问题，当时大家都很沮丧。”吴嘉敏回忆，“为鼓励大家振作起来，戴老师写下寄语：‘我们都应该反思，但也不必总沉浸在负面的情绪里，我们要勇往直前……’”收到寄语，吴嘉敏和团队其他成员感慨良多：“我们很认同戴老师的话，开拓新的领域不免会遇到挫折，只要大家同甘共苦，就能一直坚持下去！”反思之后，团队再次出发。“2018年，我们重新改变技术路线。之前二向色镜镀膜出了问题——大口径镜片国内镀膜表面的平整度不够，导致成像质量下降。为此，我们自己去加工厂改进镀膜工艺，终于加工出了合格器件。”吴嘉敏说。苦心人，天不负。2018年，国际上首个能实现小鼠全脑皮层范围神经活动高分辨率成像的仪器——“RUSH”问世，这台“超级显微镜”填补了国际介观显微成像仪器在肿瘤和免疫研究中的空白。“研究者通过‘RUSH’，可以观察小鼠脑部免疫细胞迁移的过程，帮助研究人体的免疫病理反应；可以分析研究癫痫病人病变区域产生的癫痫波，从而帮助揭示病理发生机制；也可以动态观测哺乳动物神经环路，研究大脑的工作机制，为人工智能的跨域发展提供新途径。”吴嘉敏笑着说，“将国产自主的先进显微仪器批量化生产投入市场，推动更多生命科学与医学的重大发现，是团队下一步的计划。”

近些年，国产冻干机设备与国外名牌产品在质量与性能上的差距正在不断缩小，这种现象与国内冻干机设备厂商的努力不无关系，而一直坚持自主创新，致力于提升“中国制造”水平的北京博医康，就是其中比较具有代表性的国内企业。2002年成立的博医康，十多年来，始终把冻干机研发作为企业发展的重要动力，不断加大技术研发的投入，努力提升冻干机设备生产制造工艺。如此努力的投入，使得该公司的系列冻干机设备，凭借优质的性能，合理的价格，深受广大客户青睐。自2000年，公司年销售设备量突破800台之后，博医康每年的销售量和市场占有率都在稳固增长。与此同时，博医康产品也打开了国门，成为了拥有出口冻干机设备能力的国产厂商。 而为了更进一步满足冻干机用户的不同需求，凭借产品研发与制造工艺上的技术优势，博医康每年都会对旗下产品进行一定的性能升级。今年年初，博医康就对旗下Pilot—T系列冻干机产品进行了多项性能升级。以该系列Pilot10-15T隔离型中试冻干机为例，经过升级后的该冻干机设备，其真空度可达≤1Pa，冷阱最大捕水量可达15KG，而独有制冷技术的应用，则使该款设备的冷阱温度可达≤-85℃。同时，美国进口316L不锈钢板材料的采用，使得该系列产品的平整度、光洁度远高于国内同类产品，而独有的内部大圆角设计以及箱底倾角设计，也使得该系列产品完全符合FDA以及GMP要求。凭借技术优势与不断提升的性能指标，博医康Pilot—T系列产品的市场竞争力又得到了进一步提升，相信这款在制药、医疗、科研等领域已经得到广泛应用的高端冻干机设备，又会在今年冻干机市场的竞争中大放异彩。

NIR-Online 在乳制品行业的应用BUCHI NIR-Online (在线近红外) 可提供乳制品行业市场上最先进最丰富的解决方案。只需几秒，便可持续提供精确测量值，确保最大生产效率。在控制室中可清晰显示实时趋势，方便操作员及时应对加工过程产生的偏差。从低粘度原料乳到高粘度乳酱，从奶粉到零售商品 – BUCHI NIR-Online Process Analyzer (在线近红外过程分析仪) 能实现对整个乳制品过程价值链的监控。 1原料入库：在接收位置在线检测原料品质不仅会因季节不同而改变，而且会因牧场不同和不同送货方式而有差异。BUCHI NIR-Online Process Analyzer (在线近红外过程分析仪) 配备高速二极管阵列技术，可对大量产品进行有代表性的检测，从而获取原料品质的实时信息。这些在线监控为快速分级提供了有效保障，确保了向供应商付款的合理性。优点确定整车装车货物的平均品质，决定是卸货、拒收还是正确入库。实现全透明合理付款的即时品质控制，并全程记录存档从原料入库开始确保产品一致性快速预检测样品，整车产品全程控制测定真实平均值，以便向供应商合理付款 2分离和分级：确保分离加工符合产品要求直接安装在原料分离之后，NIR-Online Analyzer (在线近红外) 提供实时信息，这些信息被自动传送给过程控制系统，由它控制分离机，根据关键参数 (例如脂肪，蛋白，干物质) 的变动作出调节，优化后续加工过程。优点分离分级产品，用于产品深加工提升后续加工过程的精准性和效率通过精细分离提高产品稳定性自动化 -分离机的控制回路用于产品的加工 3过程控制：优化加工过程和资源配置加工过程中最关键参数 (例如，脂肪、水分、蛋白质等) 的持续检测确保产品接近目标值。这可避免不合格乳制品返工造成的时间和成本浪费。3.1奶粉和婴儿配方奶粉优化配方和热处理，提高不同奶粉和婴儿配方奶粉的品质 (例如，水分、脂肪、蛋白质)，减少返工和不合格产品。优点优化加工过程，例如，均质、混合、热处理和喷雾干燥避免繁琐耗时的实验室检测和高昂的检测成本精确达到目标值，降低安全限值降低能耗，避免不合格产品3.2酸奶在奶油搅拌期间调节工艺和配方。控制乳清配量达到所需的水分含量。实时检测，确保含量符合技术规范 4典型产品和参数**包括非乳制品替代饮品 (例如，豆奶、米浆或杏仁乳)、酸奶和凝乳 (例如，豆腐)。在线近红外 BUCHI NIR-Online 经过安全认证，适用于危险环境防护等级为承受乳制品行业严苛的清洁条件，BUCHI NIR-Online (在线近红外) 乳制品加工解决方案还达到了 IP66K 和 IP68 的防护等级。IP66K 可承受设备外壳上任何方向的高压强力喷水 (10 bar, 3 m 距离)，不会造成有害影响。IP68 可对探头进行保护，可以持续浸没在水中 (深度 1 m)，不会造成有害影响。卫生要求BUCHI NIR-Online (在线近红外) 乳制品加工解决方案采用电解抛光处理，从而减少产品粘附和污染，特别是细菌繁殖的风险。电解抛光是一种金属抛光工艺，可形成完全平坦的表面平整度。这种表面平整度可大大降低污染、堵塞、结垢、产品聚集，使得受处理设备变得无与伦比的卫生干净。因此，电解抛光在食品、饮料、制药和化工行业中应用广泛，也得到相应标准的广泛认可。电解抛光材料的平均表面粗糙度：Ra 0.8。奶粉生产的 ATEX 等级BUCHI NIR-Online (在线近红外) 乳制品加工解决方案可在潜在爆炸性环境中进行安全操作。过程分析仪经过设计认证，配合附加外壳，可用于 20 和 21 区，以及直接接触产品的 22 区。在食品和制药行业中，它还可用于粉末的加工和包装。无需其他防爆柜，安装便捷灵活。

导读近年来，人们越来越关注健康防护类产品，比如，具有抗菌功能的高附加值纺织品等，越来越受到大众的青睐。最近小编在网上购物时发现，一些纺织品（如被子、衣服、口罩、手套等）宣称其面料中添加了石墨烯材料，自带抗菌功能。小编很是疑惑，经过一番查询，发现早在2010年，中国科学院上海应用物理研究所就报道了石墨烯材料的抗菌性能。石墨烯是一种片层的二维纳米粒子，不存在类似于高聚物的分子链，直接制备石墨烯存在一定的难度，因而在实际应用中多以氧化石墨烯为主。在氧化石墨烯的制备和研究中，其物理特性的精确表征技术和方法是关注的重点之一。不同氧化程度的氧化石墨烯的厚度不同，其性能也不同，因此厚度测量是表征氧化石墨烯的首要核心指标。石墨烯小科普石墨烯具有优异的光学、电学、力学特性，在材料学、能源、生物医学等方面具有重要的应用前景，被认为是一种未来革 命性的材料。石墨烯的抗菌机理之一是边缘切割理论，即石墨烯因片层结构而具有锋利的边缘，可对细菌进行物理切割，破坏细菌的细胞膜，降低膜电位或使电解质泄露从而抑制细菌生长。氧化石墨烯作为石墨烯的氧化物，其结构与石墨烯相似，都为单层原子层状结构。将活性含氧基团引入石墨烯上，经过处理后得到经过修饰的石墨烯薄片，这样可以增加活性反应位点，使得氧化石墨烯变得更容易进行表面改性，丰富了功能化的手段，可以有效提高改性氧化石墨烯与溶剂、聚合物的相容性，使其在有机以及无机复合材料领域有着更为广阔的应用。岛津SPM，助您从容应对科研难题目前，国内外对氧化石墨烯的厚度测量手段主要是原子力显微镜，将氧化石墨烯平铺在具有良好平整度的基底表面，借助原子力显微镜测量氧化石墨烯与基底间的高度差来确定氧化石墨烯的厚度。为了使氧化石墨烯的厚度测量方法规范化，国家标准化管理委员会发布了GB/T 40066-2021《纳米技术 氧化石墨烯厚度测量 原子力显微镜法》，这意味着氧化石墨烯厚度的主要测试手段——原子力显微镜开始逐步被标准化工作认可和接受。岛津扫描探针显微镜SPM具有快速响应的高速扫描器、独特的头部滑移结构以及丰富的测量模式，除了普通的形貌扫描，还可拓展电流、电势、磁力以及纳米力学测量等功能。氧化石墨烯厚度表征随机选取样品的两个区域，使用岛津扫描探针显微镜SPM-9700HT的动态模式对氧化石墨烯样品进行表面形貌扫描测试，获取了5 μm x 5 μm的两个区域的样品表面形貌，并在每个区域内随机选取3个样品进行剖面分析（见图1和图2），随机选取的剖面线分别为A-B、C-D和E-F。图1. 区域1内氧化石墨烯的表面形貌（左）和剖面分析（右）图2. 区域2内氧化石墨烯的表面形貌（左）和剖面分析（右）将获取的剖面线中的上、下台阶的各坐标进行线性拟合，得到两条拟合直线和对应的拟合参数：a1, b1, a2, b2。通过公式（1）计算上、下台阶的高度差H，即为上直线和下直线在xT点的距离（样品的厚度）。式中：H——样品厚度值，单位为纳米（nm）；xT——两条拟合直线相邻端点中心位置的x坐标；a1, b1——上台阶拟合直线对应的参数值；a2, b2——下台阶拟合直线对应的参数值。注：拟合的两条直线应具有相同的长度和点数，长度不小于14 nm，点数不少于20个点，且这两条直线的b1和b2斜率应小于0.1，否则弃用该轮廓线。将上述形貌图中的选取的剖面线数据导入Origin软件中进行分段线性拟合，获取的上、下台阶拟合直线参数。以区域1中的剖面线A-B为例，上、下台阶拟合直线参数见图3。两个区域内的氧化石墨烯样品的厚度值见表1。图3. 氧化石墨烯样品的剖面线拟合图表1. 剖面线拟合计算的厚度值结语氧化石墨烯作为石墨烯的一类重要衍生物，具有优异的光学、电学、力学以及良好的生物相容性，被广泛应用于材料学、生物医学以及药物传递等诸多领域。岛津SPM可简单、快速地表征氧化石墨烯的表面形貌，并准确获取氧化石墨烯的厚度值，这也体现了岛津SPM具有精确表征纳米级及以下样品厚度的能力。本文内容非商业广告，仅供专业人士参考。

p　　span硅基半导体材料是目前产量最大、应用最广的半导体材料，90%以上的半导体产品都离不开硅片。/spanspan硅片行业是资金和技术密集型行业，垄断度极高，目前前四厂商市场占有率占比超过80%，分别是/spanspan日本信越、日本SUMCO、台湾环球晶圆、德国世创。/span/pp　　硅元素是地壳中储量最丰富的元素之一，以二氧化硅和硅酸盐的形式大量存在于沙子、岩石、矿物中。硅从原料转变为半导体硅片要经过复杂的过程：首先硅原料和碳源在高温下获得纯度约98%的冶金级硅，再经氯化、蒸馏和化学还原生成纯度高达99.999999999%的电子级多晶硅。半导体材料的电学特性对杂质浓度非常敏感，而硅自身的导电性不佳，常通过掺杂硼、磷、砷和锑来精确控制其电阻率。一般，将掺杂后的多晶硅加热至熔点，然后用确定晶向的单晶硅接触其表面，以直拉生长法生长出硅锭，硅锭经过金刚石切割、研磨、刻蚀、清洗、倒角、抛光等工艺，即加工成为半导体硅片。根据制造工艺分类，半导体硅片主要可以分为抛光片、外延片、SOI 硅片等。根据半导体尺寸分类，半导体硅片的尺寸(直径)主要有 50mm(2 英寸)、75mm(3 英寸)、100mm(4 英寸)、150mm(6 英寸)、200mm(8 英寸)、 300mm(12英寸)等规格。目前硅片生产以8英寸和12英寸为主，其中8英寸硅片主要应用于电子、通信、计算、工业、汽车等领域，而12英寸硅片多用于PC、平板、手机等领域。/pp　　在生产环节中，半导体硅片需要尽可能地减少晶体缺陷，保持极高的平整度与表面洁净度，以保证集成电路或半导体器件的可靠性。硅片检测要检查直径、厚度、弯曲、翘曲、缺陷、晶面、表面污染(有机物)、电阻率、晶面取向、氧碳含量、表面平整度和粗糙度、微量元素含量、反射率等。使用到的仪器有测厚仪、显微镜、XRD、气相色谱、X射线荧光光谱、二次离子质谱、电阻率测试仪等。/pp style="text-align: center "strong硅片测试国家标准/strong/ptable border="1" cellspacing="0" cellpadding="0" style="border-collapse:collapse border:none" align="center"tbodytr style=" height:18px" class="firstRow"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pstrongspan style="font-family:宋体"标准编号/span/strong/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pstrongspan style="font-family:宋体"标准名称/span/strong/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T11073-2007/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片径向电阻率变化的测量方法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T13388-2009/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片参考面结晶学取向/spanspanX/spanspan style="font-family:宋体"射线测试方法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T14140-2009/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片直径测量方法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T19444-2004/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片氧沉淀特性的测定/spanspan-/spanspan style="font-family:宋体"间隙氧含量减少法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T19922-2005/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片局部平整度非接触式标准测试方法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T24577-2009/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"热解吸气相色谱法测定硅片表面的有机污染物/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T24578-2015/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片表面金属沾污的全反射/spanspanX/spanspan style="font-family:宋体"光荧光光谱测试方法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T26067-2010/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片切口尺寸测试方法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T26068-2018/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片和硅锭载流子复合寿命的测试非接触微波反射光电导衰减法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T29055-2019/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"太阳能电池用多晶硅片/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T29505-2013/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T30701-2014/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"表面化学分析硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射/spanspanX/spanspan style="font-family:宋体"射线荧光光谱法/spanspan(TXRF)/spanspan style="font-family:宋体"测定/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T30859-2014/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T30860-2014/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T30869-2014/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T32280-2015/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片翘曲度测试自动非接触扫描法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T32281-2015/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"太阳能级硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的测定二次离子质谱法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T32814-2016/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅基/spanspanMEMS/spanspan style="font-family:宋体"制造技术基于/spanspanSOI/spanspan style="font-family:宋体"硅片的/spanspanMEMS/spanspan style="font-family:宋体"工艺规范/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T37051-2018/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T6616-2009/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法非接触涡流法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T6617-2009/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片电阻率测定扩展电阻探针法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T6618-2009/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片厚度和总厚度变化测试方法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T6619-2009/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片弯曲度测试方法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T6620-2009/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片翘曲度非接触式测试方法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T6621-2009/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片表面平整度测试方法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T29507-2013 /span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片平整度、厚度及总厚度变化测试自动非接触扫描法/span/p/td/tr/tbody/tablep　　据 Gartner 预计，2017-2022 年半导体增速最快的应用领域是工业电子和汽车电子；预计2020年半导体发货总量将超过一万亿，其中增长率最高的半导体细分领域包括智能手机、汽车电子以及人工智能等。/pp　　需要相关标准，请到a href="https://www.instrument.com.cn/download/L_5DBC98DCC983A70728BD082D1A47546E.htm" target="_self"仪器信息网资料中心/a查找。/p

作为在线测量技术领域创新解决方案的领先供应商，蔡司通过与客户的积极交流，了解客户的需求和策略。例如新的蔡司AICell跟踪产品类别，融合实时过程监测和计量溯源在线测量技术于一体。在德国联邦教育和研究部(BMBF)的资助下，蔡司与宝马，乌尔姆大学计量、控制和微技术研究所(MRM)，医学和计量激光技术研究所(ILM)合作，研究和开发了自主测量机器人(AuMeRo)的概念。今年，一个功能齐全的样机已经证明，自主测量机器人可以完全处理诸如未喷漆或喷漆车身零件间隙尺寸和平整度检查等任务。蔡司IQS产品经理Manuel Schmid表示:“在一条标准生产线上生产尽可能多的产品——这一既定概念可能很快就会成为过去。”目前，日益个性化的客户需求正导致越来越多的产品变体，因此在其生产中需要模块化。受此影响尤其严重的行业，如汽车行业，正计划在长期内解散具有高度专业化工作站的顺序制造流程，代之以灵活部署的制造岛屿。 自动测量机器人使用摄像头自动检测目标，并与车身对齐，以检测所需位置的间隙和平整度，无需人工交互。智能、自主系统的综合能力自主测量机器人是一个矩形平台，底部有轮子，顶部有一个带有光学测量传感器的机械臂。“当然，硬件方面本身并不是革命性的”。蔡司集团企业研究部的Matthias Karl 博士解释说，“关键任务是在软件方面创造必要的智能，以实现物体的自主移动、测量和数据处理。”研究伙伴结合各自的专业领域，一同应对研究项目中的这一挑战。乌尔姆大学计量、控制和微技术研究所与多家汽车制造商合作，重点研究自动驾驶。该研究所开发并实现了移动测量平台的导航解决方案，使其能够自主移动到目标对象，同时安全地避开障碍物。医学和计量激光技术研究所研究了适合这一特殊应用的光学测量技术，重点是多波长全息。蔡司作为小组协调员，由蔡司工业质量解决方案(IQS)和企业研究两个部门代表参与：IQS提供了专用的光学计量学，企业研究部利用光学图像识别和机器学习处理机械手臂的运动、物体识别和测量位姿控制。作为领先的高端汽车制造商之一，应用合作伙伴宝马为该项目提供了切实可行的实践背景。满足个别客户的要求，同时提高效率“用户通过软件选择一个对象，例如车门、其大致位置及预期测量计划，从这一点上，自主测量机器人完全自主行动”，Manuel Schmid解释道。物体识别是通过相机进行的，是基于物体的数字孪生体。在实际测量中，移动平台配备了额外的光学传感器，为此，医学和计量激光技术研究所开发了一种特殊的测量传感器，采用多波长数字全息技术，具有测量时间短、环境影响强的优点。通过这种方式，就可以在一张快照中获得整个区域的漫射和镜面反射表面的地形数据。当平台找到并接近目标时，机器手臂根据测量程序的要求移动测量头，同时考虑当前的空间条件。“凭借其自主移动和目标识别的能力，自主测量机器人为迎接未来的移动、模块化制造岛做好了准备，并允许随时随地进行测量”，Schmi说到，“然而，它已经为制造商发挥了它的全部好处，例如在产品审计中，目前的测量和文件是在测量室手工完成的。使用自主测量机器人，效率将更高，因为它是完全自动化的，可复制的，且生成的测量结果始终具有高质量和信息价值。”“在这个研究项目中，我们已经证明自主测量机器人这个概念是不受限制的，并且可以很容易地适应新的物体和测量计划，这为这项技术打开了大门”，小组协调人Matthias Karl博士说。宝马集团质量管理部汽车车身工程项目经理Jan-Klaus Dziergwa也对这个结果很感兴趣：“在宝马，我们非常有兴趣满足个人客户的愿望，同时不断提高我们的生产效率和质量保证；这需要创新的方法和技术，自主测量机器人就是一个很好的例子。”

在金相分析工作中，唯有获得一个尽可能无变形的平整表面才能快速而容易地进行下一步制样，其中较为合适的切割方法就是湿式砂轮片切割法，这种方法对样品所造成的损伤小，切割取样所需时间短，是快速切割取样的好方法。值得注意的是，湿式砂轮片切割使用的金相切割片你得选对了，否则可能会达不到技术要求，或者造成样品的严重损伤而导致制样失败。砂轮金相切割片是由研磨料和粘合剂合成的，不同磨料、不同粘合剂以及不同的成分配比决定了切割片的不同性能，从而适用于不同的材料切割。此外，还要以外圆尺寸、孔径和厚度参数为依据选配，与所用的金相切割机相匹配，与被切割样品的大小尺寸相适应。砂轮切割机要求砂轮金相切割片的孔径一般是32mm的，而精密切割机要求的孔径应是12.7mm的。被切割的样品尺寸比较大，应选择外圆尺寸大的切割片，相对的厚度也会厚一些，因此在选择切割片时，厚度也是需要注意的一个参数。还有，要根据被切割样品的材质硬度范围选则合适的切割片。相同尺寸的切割片会有若干种针对不同材料切割的型号，厂家一般都会提供选型表，要依据选型表进行匹配。标乐安全技术小编为大家展示美国QMAXIS砂轮金相切割片的选型表，供您参考。依照选型表，按照材料的性质来正确选择砂轮片。砂轮金相切割片选对了，才能确保被切割的样品表面变形小、平整度好，达到快速切割取样的目的。值得注意的是，在使用砂轮金相切割片工作时，一定要使用冷却液冲刷切割片以避免摩擦热对样品造成灼伤。掌握以上方法，选对金相切割片，快速切割取样那都不是事儿！

TY-4025气动式冲片机TY-4025气动式冲片机用途及说明： 适用于将橡胶、塑料、薄膜、皮革及其他特殊材料冲切成各种标准规定的试片，供材料试验机试样制作时使用；使用时需双手同时按启动键，提高机器使用安全性。TY-4025气动式冲片机技术参数：型号 TY-4025P最大压力28KN（基于0.7Mpa气源）行程 100mm工作台尺寸 30mm×200mm压盘尺寸Ф150mm尼龙垫板尺寸150×200mm气源0.4~0.7MPa平行度调整装置试样表面平整度允许偏差±2mm外形尺寸 H757xD431xW363mm净重 110 kgTY-4025气动式冲片机图片：创新点：原气动冲片机所需气压0.4Mpa，现改进为：0.4-0.7Mpa，使冲片机最大压力达到：28KN（基于0.7Mpa气源）。使用时需双手同时按启动键，提高机器使用安全性。天源TY-4025气动式冲片机

仪器信息网讯 8月29日，全国半导体设备和材料标准化技术委员会微光刻分技术委员会第四届微光刻分委会年会暨第十三届微光刻技术交流会在青岛成功召开。会议期间，仪器信息网特别采访了纳糯三维科技 (上海) 有限公司（Nanoscribe）中国区总经理崔万银博士。据了解，Nanoscribe以双光子聚合技术为基础开发产品和服务。据介绍，Nanoscribe公司此前是卡尔蔡司的一家子公司，当前聚焦于光刻技术。崔万银博士透露，当前公司主要有4款产品：Photonic Professional GT2能够实现各种各样的微纳加工，适用于高校院所的公共平台使用；Quantum X shape是其升级版，在原来GT2的基础上增加了灰度功能，提高了加工效率和加工平整度；Quantum X bio是针对生物领域所开发，例如打印细胞生长支架和器官组织、药物筛选等；Quantum X align主要面向光通信领域。相比于单光子加工产品、DLP技术等3D打印技术，Nanoscribe产品的打印精度提升了一两个数量级，最小加工线宽可达160nm，相当于头发丝的万分之一。与电子束曝光、光刻直写技术相比，Nanoscribe产品可以进行三维加工。但同时，崔万银博士也表示，双光子打印技术太过前沿，缺乏前后制程配套，短期内难以在工业界实现替代。崔万银博士希望可以将产品应用在纳米压印的模具制造中，结合纳米压印技术实现快速大批量加工，让技术走进千家万户。崔万银博士始终坚信，3D加工的手段相比于传统半导体加工技术拥有非常大的领先优势。以下为现场采访视频：

台阶仪（Profiler），又名探针式表面轮廓仪，用于样品表面从微米到纳米尺度的轮廓测量，是微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触摸屏、医疗、科学研究和材料科学等领域不可缺少的关键测量设备。长期以来，此类仪器被美国Bruke、美国KLA、日本Kosaka三家厂商垄断，国内尚无厂商可提供同类产品。直到2022年6月，松山湖材料实验室精密仪器研发团队自研的台阶仪出货交付，实现了国产化台阶仪零的突破！自研的台阶仪2020年冬，实验室组织走访调研半导体行业相关企业，了解到企业进口台阶仪受到一定限制，不少企业明确提出对国产化台阶仪的需求。为了满足在当前国际竞争形势下的行业共性需求，避免关键设备被“卡脖子”的风险，精密仪器研发团队当即研讨立项，将国产化台阶仪开发提上日程。团队负责人许智指出，台阶仪的研发，需要“四个超”：超精细的运动控制，超精密位移传感，超低噪声信号采集，超高平整度零部件等关键技术。精密仪器研发团队在这些方面均有丰富的经验积累和扎实的技术储备，基于此前自主研发的系列化压电驱动纳米位移台产品和扫描探针显微镜制备技术，项目组快速完成方案设计，并开始功能样机、工程样机的迭代开发。回望研发过程，可谓“一波三折”，研发团队感慨道。由于疫情，人员封控，物流暂停，供应商供货延期，芯片价格又逐日飙升，研发进度受阻。面对接踵而至的难题，团队加班加点攻关抢进度，终于在今年6月研发成功。订单交付当天，团队所有人都有一种难以言表的满足感。研发人员调试样机到深夜精密仪器研发团队台阶仪项目组至此，国产化台阶仪迈出了里程碑式的一步。科技创新的重要性不言而喻，用于科技创新的仪器设备同样重要，团队负责人许智谈到，关键测量仪器设备实现国产化，最关键之处就在于实现了自主可控。据了解，现已交付的台阶仪可满足企业实际使用的指标要求，且对比同类进口设备，成本降低了约30%。项目组研制了三种不同测试需求的型号，可供客户根据需要选择相应配置，并配套自研软件实时显示测量图表数据。目前，团队正在与十余家有相关需求的企业、科研院所洽谈合作中。精密仪器研发团队松山湖材料实验室精密仪器研发团队以自主知识产权的技术为核心，开展精密科研仪器和工业自动化设备的产业转化。桌面式扫描电子显微镜、大行程纳米位移台等产品为国内唯一量产。等离子体化学气相沉积系统、扫描隧道显微镜系统等产品达到国际一流、国内领先水平。团队产业化公司东莞市卓聚科技2020年落户松山湖国际创新创业社区，销售额当年破百万元，2021年销售额超千万元。在松山湖材料实验室的支持下，精密仪器研发团队以国家战略为导向，以市场需求为目标，力争成为有担当、有作为的尖端仪器产业化队伍。

台阶仪（Profiler），又名探针式表面轮廓仪，用于样品表面从微米到纳米尺度的轮廓测量，是微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触摸屏、医疗、科学研究和材料科学等领域不可缺少的关键测量设备。长期以来，此类仪器被美国Bruke、美国KLA、日本Kosaka三家厂商垄断，国内尚无厂商可提供同类产品。直到2022年6月，松山湖材料实验室精密仪器研发团队自研的台阶仪出货交付，实现了国产化台阶仪零的突破！自研的台阶仪2020年冬，实验室组织走访调研半导体行业相关企业，了解到企业进口台阶仪受到一定限制，不少企业明确提出对国产化台阶仪的需求。为了满足在当前国际竞争形势下的行业共性需求，避免关键设备被“卡脖子”的风险，精密仪器研发团队当即研讨立项，将国产化台阶仪开发提上日程。团队负责人许智指出，台阶仪的研发，需要“四个超”：超精细的运动控制，超精密位移传感，超低噪声信号采集，超高平整度零部件等关键技术。精密仪器研发团队在这些方面均有丰富的经验积累和扎实的技术储备，基于此前自主研发的系列化压电驱动纳米位移台产品和扫描探针显微镜制备技术，项目组快速完成方案设计，并开始功能样机、工程样机的迭代开发。回望研发过程，可谓“一波三折”，研发团队感慨道。由于疫情，人员封控，物流暂停，供应商供货延期，芯片价格又逐日飙升，研发进度受阻。面对接踵而至的难题，团队加班加点攻关抢进度，终于在今年6月研发成功。订单交付当天，团队所有人都有一种难以言表的满足感。研发人员工作到深夜，调试样机精密仪器研发团队台阶仪项目组至此，国产化台阶仪迈出了里程碑式的一步。科技创新的重要性不言而喻，用于科技创新的仪器设备同样重要，团队负责人许智谈到，关键测量仪器设备实现国产化，最关键之处就在于实现了自主可控。据了解，现已交付的台阶仪可满足企业实际使用的指标要求，且对比同类进口设备，成本降低了约30%。项目组研制了三种不同测试需求的型号，可供客户根据需要选择相应配置，并配套自研软件实时显示测量图表数据。目前，团队正在与十余家有相关需求的企业、科研院所洽谈合作中。精密仪器研发团队松山湖材料实验室精密仪器研发团队以自主知识产权的技术为核心，开展精密科研仪器和工业自动化设备的产业转化。桌面式扫描电子显微镜、大行程纳米位移台等产品为国内唯一量产。等离子体化学气相沉积系统、扫描隧道显微镜系统等产品达到国际一流、国内领先水平。团队产业化公司东莞市卓聚科技2020年落户松山湖国际创新创业社区，销售额当年破百万元，2021年销售额超千万元。在松山湖材料实验室的支持下，精密仪器研发团队以国家战略为导向，以市场需求为目标，力争成为有担当、有作为的尖端仪器产业化队伍。

清华铸造实验室3D SYSTEMS腊模打印机安装培训顺利完成本站编辑：北京中显恒业仪器仪表有限公司发布日期：2018-12-20 10:38 浏览次数：1562018年12月18日，我公司指派工程师到清华大学铸造实验室对Projet MJP 2500W 腊模打印机进行安装培训。此次安装培训为期两天，清华大学铸造实验室的老师全部参加此次培训。完成培训后，铸造实验室的老师利用铸造行业最先进的技术大大提高铸造的时间成本。（设备拆箱中）（设备放入指定位置）（设备一边调试一边和老师讲解设备使用注意情况和日常的维护）3D SYSTEMS 腊模打印机主要应用于珠宝首饰的铸造行业，打印出珠宝首饰的三维模型，也就是我们常说的腊模，腊模打印好后，放入铸造沙中，就可以浇注金属溶液，最后出产品，用腊模的零件铸造出来，要比传统铸造的零件，精度更高，表面光滑度、平整度等更好。在中国南方的珠宝制造商，基本使用腊模打印机，高新技术完成珠宝的制造。我公司作为3D SYSTEMS 公司的华北地区总代理，为北方的铸造行业带来高新铸造技术，开拓北方的市场。（打印测试件行星齿轮戒指）（成品图）（培训设备使用）设备安装培训完成后，老师对我们的腊模打印机满意度非常高，不仅因为我们的设备更专业，更多的是因为我们的设备能为铸造零件节约80％的时间成本，为老师的铸造研究带来了极大的便利。

韩国SK集团旗下的半导体材料大厂SKC近日宣布，其美国子公司Absolics在佐治亚州投资约2.22亿美元建设的工厂已经竣工，开始批量生产玻璃基板原型产品。业界分析，这标志着全球玻璃基板市场进入关键时刻。目前全球玻璃基板生产企业包括英特尔、SKC、三星电机以及LG Innotek等。与传统树脂复合材料基板相比，玻璃基板不易形变、平整度高、互联密度更大、可提升能效，在高性能计算芯片面积加大的背景下，玻璃基板能够满足未来先进芯片的需求，因此被巨头看好。研究机构The Insight Partners预测，尽管玻璃基板技术尚处于起步阶段，但预计全球市场规模将从今年的2300万美元增长至2034年的42亿美元。SKC玻璃基板原型演示英特尔是最早宣布进军玻璃基板的厂商之一，此前曾表示计划于2026年推出方案，在2028年应用，并已经为此投资约10亿美元，在美国亚利桑那州工厂建立玻璃基板研发线和供应链。AMD也在加快该领域步伐，计划于2025~2026年推出玻璃基板，并与全球元件公司合作，保持领先地位。此外，三星电机将于2025年完成原型试产，并计划于2026年开始量产。与此同时，LG Innotek今年正在组建团队，为进军该市场作准备。

颗粒分析的准确度对生产过程和最终产品的影响图像分析系统可以测量颗粒大小、形状和浓度，并且允许用户对特定的颗粒设置测量参数作者：PETER BOUZA 美国麦克仪器粒度市场发展部经理颗粒分析在医药行业中，无论是生产效率或生产过程，都起着关键性的作用。粒径可以影响辅料或活性药物成份（API）的溶解度，并也可能会影响到药物制剂。各种已有的颗粒分析技术完全能满足今天的药品市场所需的颗粒粒度测量要求。然而，在某些情况下，简单的控制颗粒大小并不能完全的控制最终产品。对监测和控制颗粒的形状尤为重要。近年来，在制药行业的研究和质量控制中，了解颗粒形状的信息促进了图像分析的发展。测量颗粒形状大多数粒度分析方法在分析颗粒时，都把颗粒假定为球形，输出的报告也为“相当于球形直径”的结果。这种假设在大多数情况下是不能接受的。例如，样品在流动生产过程中，单独监测颗粒大小是不准确的。有些粒子可能是球形，一些可能是矩形，球形颗粒比长方形颗粒流动性更好些—需要更少的能量。为确保矩形颗粒均匀流动，则需要更多的能量。颗粒形状影响流动性，颗粒与其他样品组成成分正确地混合能力将影响最终产品的结果。图1：两种相当于大约63微米球形直径的粒子。然而，两者在形状和作用上有明显的区别。 图1表示的是一个真实的样品例子。大多数用来测量颗粒粒度的方法都认为样品的颗粒形状类似于球形。该颗粒粒径是“相当于球形”大约63微米的直径，这是由接近于具有相同面积的球体颗粒计算得到的。虽然报告粒径结果认为得到了类似的统计直方图，但这些颗粒实际是不一样的。在生产环境中，形状的不规则性巨大地影响流动性，形状边缘也会影响与其他颗粒的粘接能力，暴露的表面也会影响所需的覆盖量。如果这些和其他与形状相关的因素在分析过程中是很重要的因素，那么使用单一的粒度分析仪在分析过程中就可能无法捕捉到必要的参数。图像分析系统的其他功能除了能够测量颗粒大小和形状，图像分析系统也可以测量浓度。这些系统可以分析被捕获的颗粒，同时，他们也可以对颗粒计数，提供一个颗粒浓度参数。此外，如果样品中含有大量各种形状的颗粒，大多数图像分析系统都可以在软件-计算形状参数的基础上定出一个分析样品的数量。在图2上的直方图中显示的是两个完全不相同的样品峰。图像分析系统可以让用户选择性的查看创建每个直方图 峰值的实际颗粒的分析结果。图2：大多数图像分析系统使用户能够根据具体形状参数有选择性地查看颗粒不同部分的统计直方图。 当然，大多数图像分析系统在分析颗粒图像时总是有益的。而且，除了可以统计颗粒分析结果外，图像分析系统还可以采集每一个被分析颗粒的图像。很多时候，用户可以得到样品粒度的“指纹”统计直方图，但无法确定某些分布颗粒的类型。用户可根据需要设置代表性颗粒、所有颗粒或者只有那些可能影响部分直方图的某些颗粒的统计范围。例如，用户可以设定一系列的圆来查看样品中的球形颗粒。用户可设定一个完美的圆1，选择圆幅度接近1，以查看所有球形颗粒。更多的实际例子，如使用多个形状参数的图像分析系统直接测量颗粒表面粗糙度或平滑度，使用户能够监测相关的颗粒形状。例如，设置一个程序，随着粒径的增大，颗粒变得更光滑。只有图像分析系统才能实现自动化的测量和相关系数与统计值的结合。下列案例研究显示了在实际药物辅料中使用动态图像分析仪在自动图像分析里的一些优点。正如这个研究表明的一样，用户利用形状参数，可以更好地控制和监测样品颗粒，从而得到更有效的结果和更有效的成本控制。图3：外形表面粗糙度的形状参数。备注：表面粗糙度影响形状因素，而不是大小或圆形度。案例研究：八个辅料表面粗糙度的对比在制药行业中，辅料的选择是基于所起的不同作用来选择的。除了作为API的非活性载体外，他们在生产中还起了重要的作用。有些辅料的选择是根据他们作为粘结剂、填料和控制API溶解速度的媒介来选择的。然而，在保护易损坏的涂料和润滑油中，确保他们的流动性也是很重要的。无论如何，都必须监控辅料的表面粗糙度。形状特征，特别是形状因素所界定的不规则度都决定了表面粗糙度。颗粒形状分析仪能监测和控制颗粒在包装和制剂的过程中是如何与API相互作用的，以及在通过消化道时的吸收情况。用在本案例研究的仪器-Particle Insight(Particulate Systems)-可以分析在水相或者有机溶剂中的悬浮颗粒。在这个案例研究中，Particle Insight的尺寸和形状参数的9/28被选择来分析八个辅料。在这一案例研究只有一个参数—形状因素被讨论。形状因素可根据颗粒的面积和投影的周长来计算。参数是一个介于0和1之间的数字，一个平滑的圆圈形状因素等于1。类似于圆形度的情况，一般颗粒形状因素受非圆程度的影响。然而，不规则的周长，也就是表面粗糙度，也影响形状因素。参阅图3可看出测试不同形状的颗粒的形状因素是不同的。如图所示，颗粒表面粗糙度也可改变颗粒的形状因素。分析结果本研究是建立在60秒至4分钟之间采集多达10,000个颗粒的分析结果基础之上的，并与被使用的每个样品的分散度有关。图4：8个辅料中的每个辅料所对应的形状因素图4显示了这八个被分析辅料中任何一个被恢复的形状因素（表面粗糙度的测量）。该表按递减的方式排列形状因素。请注意，形状因素越靠近1，表面越平滑。表5、6和7显示的是Particle Insight为一些辅料自动拍摄的照片。这些照片揭示：平均形状因素为0.843的硬脂酸钠比平均形状因素为0.655的乳糖水合物有更光滑的表面。作为一个实际样品，硬脂酸钠在生产、成型的过程中比乳糖水合物更容易流动。图5：硬脂酸钠图6：硬脂酸图6：乳糖水合物结论在选择辅料时，对颗粒形状的测量在生产过程中是非常重要的。像润滑油一样，具有低表面粗糙度的或者高形状因素的辅料可以促进粉末的流动和压片的形成。在生产过程中，表面粗糙的辅料填充剂会影响药物的粘结和溶解，并且影响API在消化道里释放的位置。动态图像分析仪的出现实现了前所未有的自动化信息的传递。在这种情况下，Particle Insight根据表面粗糙度来区分辅料的种类，并且在生产过程中，表面粗糙度也是颗粒的一个重要特征。参考1.Tinke,A.P.,Govoreanu,R.,Vanhoutte,K.“ParticleSizeandShapeCharacterizationofNanoandSubmicronLiquidDispersions,”AmericanPharmaceuticalReview,Sept/Oct2006作者简介：Peter Bouza 美国麦克仪器公司粒度市场发展部经理。他主要负责麦克公司的颗粒粒度、计数和形状分析仪器的开发。Peter Bouza于2007年加入麦克公司，并且在颗粒表征领域拥有了超过16年的经验。颗粒系统是麦克公司为创新性的OEM颗粒表征产品技术推出的一个新的品牌。Particle Insight全自动粒形分析仪Particle Insight，采用动态光散射技术，内置多达30种的颗粒分析模型，可提供颗粒粒度、粒形、平整度、圆度、长径比等参数，能够在最极短的时间内，获取颗粒粒度和粒形信息。粒径分析范围：1-800μm同时进行粒度和粒形分析内置多达30种的不同颗粒形状参数实时分析水系或有机系样品，并实时监测结果完全符合ASTM D4438-85(2007)、ISO 9276-6:2008、ISO 13322-2:2006等国际标准本篇文章若没得到麦克默瑞提克（上海）仪器有限公司同意，禁止转载，违者必究！