静力触探仪标准

STAN-SSL 低镜面反射率标准是一个中性滤光片标准。可以用来测量感光底层，光涂层，机加金属和半导体材料等材料的反射率。 STAN-SSL感光底层直径为1.25" ，安置在一个坚硬的 1.5" x 0.75" 大小的蓝色阳极氧化铝盒并拧上盖作为保护。 使用提示 使用海洋光学的光谱仪时，STAN-SSL限于200-1100 nm。 用 STAN-SSL将低反射率基准设为~4%。 虽然中性滤光片的材料很耐用，用户还是应该在使用时备加小心，以保证标准面不被破坏。 清理STAN-SSL 表面时，先用高压气体吹掉表面的污垢和尘土，然后用牵引清洁法除去表面的指纹和固定残留物。牵引清洁法是用镜头纸沾丙酮或酒精慢慢的的拉过镜头的表面。只要操作正确，溶剂均匀挥发后不会在镜头表面留下拖尾或污点。 STAN-HOLDER 标准反射支架 STAN-HOLDER 反射比标准固定器是一个用来在测量时将标准固定的附件，使用方便。 STAN-SSL镜面反射图 技术指标 基底尺寸: 1.25" 外直径 x 0.25" 高 架子尺寸: 1.5"外直径 x 0.75" 高 反射材料: 黑色玻璃 反射率: ~5.4% (200-950 nm) ~4.0% (950-2500 nm)

STAN- SSH高镜面反射率标准板可以用来测量感光底层，光涂层，机加金属和半导体材料等材料的反射率,表面具有高镜面反射率值的物体的参照。STAN-SSL 在200-800 nm波长范围内提供~85-90%反射率，在800-2500nm波长范围内提供~85-98%反射率。 有两种款式的STAN-SSH，STAN-SSH 型和NIST溯源的STAN-SSH-NIST型 。 NIST型STAN-SSH-NIST是按照一 个NIST校准（NIST号为NIST38060S, s/n 99G16）250-2500 nm精度大概为 0.1% 。与STAN-SSH-NIST一起交货给用户的还有一个校准说明书，一个做为波长函数的反射率值数据表，和一张磁盘，磁盘中的数据可以转到海洋光学光谱 仪操作软件上。 建议用户定期标定STAN-SSH-NIST 。 STAN-SSH感光底层直径为1.25" ，安置在一个坚硬的 1.5" x 0.75" 大小的蓝色阳极氧化铝盒并拧上盖作为保护。 使用提示 使用海洋光学的光谱仪时，STAN-SSH限于200-1100 nm 设置高反射率基准时可使用STAN-SSH 虽然STAN-SSH的铝膜由一层外涂层保护着，用户还是应该在使用时备加小心，以保证标准面不被破坏。不要用手或者物体碰表 面，以避免污染和破坏。清理STAN-SSH表面时，先用高压气体吹掉表面的污垢和尘土，然后用牵引清洁法除去表面的指纹和固定残留物。牵引清洁法是用镜 头纸沾丙酮或酒精慢慢的的拉过镜头的表面。只要操作正确，溶剂均匀挥发后不会在镜头表面留下拖尾或污点。 裸露的金属层非常干净精密，不能用此方法清理。指印和污垢会对它产生永久破坏，用户在操作STAN-SSH时一定要非常小心，以延长它的使用寿命。 STAN-HOLDER 反射比标准固定器 STAN-HOLDER是一个用来在测量时将标准固定的附件，使用方便。 STAN-SSL镜面反射 技术指标 底层尺寸: 1.25" 外直径 x 0.25" 高 架子尺寸: 1.5"外直径 x 0.75" 高 反射物: 镜面的熔融石英，带有保护外套 反射率: ~5.4% (200-950 nm) ~4.0% (950-2500 nm)

T/CHEAA 0024-2023布艺面家用和类似用途布艺清洗机布艺面CHEAA团体标准布艺面 /CHEAA 0024-2023《家用和类似用途布艺清洗机》 CHEAA团体标准 中国家用电器协会颁布本文件适用于带真空吸力且具有脏污收集功能，用于布艺制品和地毯等清洁的家用和类似用途布艺清洗机(以下简称:布艺清洗机)，其它原理的布艺清洗机可参照执行。 通过压力将水或带有清洁剂的水溶液喷洒到指定污渍位置，利用清洁头对布艺制品和地毯表面进行清洁且带有脏污收集功能的器具。 试验方法试验表面及物料布艺面参数及规格要求布艺面由四层组成，其规格应符合的要求结构成分类型单位面积质量（g/m2）公称线密度/tex颜色厚度（mm）测试方法第一层100%棉 粗织物 400±20 40 白色 NA GB/T406第二层100%面普梳棉本色纱60±3 20 白色 NA GB/T398第三层100%涤纶100±5 NA 白色 10 GB/T24252第四层海绵橡胶 海绵 800±40 NA 黄色 30 GB/T18944.2 地毯参数及规格要求地毯类型技术要求及偏差测试方法/标准地毯总厚度（mm）13±1QB/T1089绒头厚度/高度（mm）12±1QB/T1555绒头纤维成分100%涤纶单位面积质量（g/m2）2200±110 QB/T1188毯基上单位面积绒头质量（g/m2）1200±60 QB/T1188 在对新的有线布艺清洗机进行首次测试之前，按照使用说明的要求给清水箱加额定容量的水和适配的清洁液，选用制造商推荐的适用场景的刷头，在无限制空气流速条件下运转2h，对于带有动力吸嘴的布艺清洗机，扰动装置运行但不接触地面。在机器预热阶段，布艺清洗机应喷酒溶液。在对新的无线布艺清洗机进行首次测试之前，应按照制造商的说明充满电，并按照使用说明的要求给清水箱加额定容量的水和适配的清洁液，选用制造商推荐适用场景的刷头，然后在无限制空气流速条件下工作直至完全放电状态，然后间隔至少30min，重复上述操作三次。间隔期间不进行任何操作。对于动力吸嘴，扰动装置运行但不接触地面。在新机器预热阶段，布艺清洗机应喷洒溶液。水状污渍包括:酱油污渍(见:6.1.3f3))和咖啡污(见:6.1.3f4))。布污时，将移液器的尖端移到布污点的治具中心正上方约5处，垂直于测试表面缓慢将移液器中水状污渍铺满治具覆盖的表面，然后用1000g的负载压住圆形治具(如图2)，避免水状污渍外流。使用移液器均匀的在试验表面上布6个直径为50mm的污渍点(如图3)，每个污渍点重量为5g,间隔均匀分布在460mmx815mm的方形区域。布污完成后在6.1.2要求的环境中，进行静置。其中:酱油污渍静置15min(布艺面)和24h(地毯) 咖啡污渍在布艺面和地毯的测试面均静置15min。粘性污渍为番茄酱(见:6.1.3f5))使用移液器将1m番茄酱挤压到试验表面(布艺面和地毯)上布置的6个直径为50mm的圆形区域内，并用治具涂抹均匀(如图4)，在6.1.2规定的环境下静置2h。布污分布如图3所示。布艺清洗机充分预热后，放置在测试区域起始位置(保证机器运行的负重为3600g,必要时可以施加配重),开始清洁。测试过程中，运行速度为(0.076+0.01)m/s，每个方向进行两湿两干(两次喷水，两次不喷水)的共四次清洁，具体清洁步参考图5。开始测试前，先裁剪尺寸为B(清洁头宽度+10m)XL(152mm)地毯面，称重记为"。然后将待测试样品浸入水桶中3秒钟，提起待测样品一角，使其自然滴水，观察待测样品连续10s不再滴水为止，然后称重记为四将待测表面放回在测试治具上，将布艺清洗机放置测试区域起始位置(保证机器运行的负重为3600g,必要时可以施加配重)，以(0.076+0.01)m/s的速度在测试区域进行2次不喷水模式的运行。然后立即将待测表面取下，称重记为m3开始测试前，先裁剪尺寸为:B(清洁头宽度)XL(300mm)的地毯面作为测试区域。布艺清洗机预热后，按使用说明的要求向清水箱加满水，然后分别称量清水箱重量m、污水箱重量m，以克(g)为单位。将布艺清洗机放置在测试区域的前端作为起始位置(保证机器运行的负重为3600g,必要时可以施加配重)，以(0.076+0.01)m/s的速度进行从前往后的清洁运动，其中:首先用喷水的湿吸模式从前往后进行一次清洁运动，然后提起清洁头回至起始位置，再用不喷水的干吸模式进行一次从前往后的清洁运动，再次提起清洁头回至起始位置，以此为一个清洁循环，连续进行5次循环的清洁运动。。

别名：长管标准漏斗、长管漏斗用途:适用于医院、学校、石油化工、钢铁冶金、工矿企业等单位化验室，作灌装液?长颈漏斗是漏斗的一种，主要用于固体和液体在锥形瓶中反应时随时添加液体药品。一般还可以用 分液漏斗替代。 在使用时,注意漏斗的底部要在液面以下,这是为了防止生成的气体从长颈漏斗口逸出，起到液封的作用。做实验室制取二氧化碳和氧气等实验时会用到长颈漏斗。注意事项：试验后应该清洗干净，避免有药物残留使下次实验造成偏差。

德国Hellma公司成立于1922年，是全球最著名的比色皿供应商与光学元件供应商，除比色皿外，Hellma也可以根据具体研究提供不同规格的探头，在众多实验室和工业环境已经屡见不鲜。多种光纤探头规格：标准浸入探头 全石英浸入探头(腐蚀性试样适用) ATR探头 (高粘度样品适用) 浸入式探头(适用于微量样品测试) 浸入式探头(适用于工业级测试) 超迷你浸入探头 荧光探头 反射探头 咨询光纤探头具体事宜请与我们联系！！各种规格现货特惠促销！！！

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3K/4K系列—微粒计数仪尺寸标准品是单分散聚苯乙烯微球的悬浮液，主要用于空气传播或液体微粒计数系统的校准。它们的直径通过行业标准与技术协会（NIST）可溯源至标准尺度。这类微粒的成品是低残留的水悬浮溶液，具有很低的背景干扰。同时这类产品已被确认稀释，只需耗时很少的浓度微调，即可直接应用于激光微粒计数仪。 特点：适用于空气传播或液体微粒分散体系的单分散聚苯乙烯微球悬浮液。微粒直径经过 National Institute of Standards and Technology（美国国家标准技术研究院，NIST）标准仪表溯源测量。准确校准洁净室和其他污染监测应用中使用的激光微粒计数仪或检查这些计数仪的性能。这类微粒的成品是低残留的水悬浮溶液，具有很低的背景干扰。3K/4K系列—微粒计数仪尺寸标准品-技术参数成分：聚苯乙烯密度：1.05g/cm3折射指数：1.59@589nm(25°C)添加剂：含微量表面活性剂目前所包括的产品系列为：2000系列标准粒子3000系列标准粒子4000系列标准粒子3K系列标准粒子（计数控制应用）4K系列标准粒子（计数控制应用）8000系列标准粒子9000系列标准粒子Dri-Cal系列标准粒子Surf-Cal系列标准粒子Pharm-Trol系列标准粒子（计数控制应用）Validex系列标准粒子（计数控制应用）Count-Cal系列标准粒子（计数控制应用）Ezy-Cal系列标准粒子（计数控制应用）流式细胞仪微粒染色和荧光微球临床诊断与专业应用微粒0.1μm 15mL 10九次方 3K-1000.15μm 15mL 10九次方 3K-1500.2μm 15mL 10九次方 3K-2000.22μm 15mL 10九次方 3K-2200.27μm 15mL 10九次方 3K-2690.3μm 15mL 10九次方 3K-3000.35μm 15mL 10九次方 3K-3500.4μm 15mL 10九次方 3K-4000.5μm 15mL 10九次方 3K-5000.6μm 15mL 10九次方 3K-6000.7μm 15mL 10九次方 3K-7000.8μm 15mL 10九次方 3K-8000.9μm 15mL 10九次方 3K-9001.0μm 15mL 10九次方 3K-9901.0μm 15mL 10九次方 3K10001.6μm 15mL 10九次方 3K16002.0μm 15mL 5x10八次方 4K-023.0μm 15mL 5x10七次方 4K-034.0μm 15mL 5x10七次方 4K-045.0μm 15mL 10七次方 4K-056.0μm 15mL 10七次方 4K-067.0μm 15mL 10七次方 4K-0710μm 15mL 10六次方 4K-1015μm 15mL 10六次方 4K-1520μm 15mL 3x10五次方 4K-2025μm 15mL 3x10五次方 4K-2530μm 15mL 3x10五次方 4K-3040μm 15mL 8x10四次方 4K-4050μm 15mL 8x10四次方 4K-5060μm 15mL 8x10四次方 4K-6070μm 15mL 8x10四次方 4K-7080μm 15mL 8x10四次方 4K-80100μm 15mL 8x10四次方 4K100

安捷伦进样探针的性能等同于铂金埃尔默原子吸收系统，并且在日常使用中具有良好的稳定性。 确保与珀金埃尔默仪器兼容 享有安捷伦全方位支持保证，可确保部件不会导致仪器故障或者停机 原厂珀金埃尔默系统认证的部件 AA、ICP-OES 和 ICP-MS 消耗品、标准品和服务的全套产品系列可确保您的珀金埃尔默系统具有最佳运行性能 世界一流的技术支持团队将为您解答与部件匹配、功能或者针对特定应用的问题和担忧，帮助您的珀金埃尔默系统实现最佳性能 库存和现货全球供应，24 小时至 48 小时送达（在大部分区域） 提供操作指南和原理视频，确保您在使用我们的部件和备件时，能够实现珀金埃尔默系统的最佳性能 安捷伦包装中的许多部件都具有耐用且坚固的设计，可在运输过程中提供最佳保护，确保部件无损伤到达

浊度仪标准液 4 standards 1000 IR 0.02 - 10.00 - 100.0 - 1000 NTU Turbiquant

浊度仪标准液 3 standards 1100 IR, 1100 T 0.02 - 10.00 - 1000 NTU Turbiquant

纳米级微球颗粒标准品（Particle-Size Standards）直径大小高度均一，具有NBS 的NIST认证，属于Duke Scientific公司荣誉出品Nanosphere Size Standards?系列产品中的聚合体微球标准品（苯乙烯单体聚合而成）。纳米级微球颗粒标准品应用广泛，电子显微镜领域、气液相微粒研究、色谱柱、激光散射研究等等，20-1000nm范围内的微球颗粒可以用来测量细菌、病毒、核糖体和细胞亚显微结构的大小。该产品以水溶液瓶装形式出售。聚合体密度为1.05g/ml；Refractive index of 1.58 @ 589 nm (25°C)。 订购信息：货号正常直径Certified Mean Dia.Size Uniformity Std. Dev.&C.V固体百分比7088120nm19nm+/-1.5nmNA1%7088350nm50nm+/-2.0nmNA1%70885100nm102nm+/-3.0nm7.6nm (7.5%)1%70886200nm204nm+/-3.1nm3.1nm (1.5%)1%70887300nm304nm+/-6.0nm4.5nm (1.5%)1%70888400nm404nm+/-4.0nm5.9nm (1.5%)1%70889500nm486nm+/-5.0nm5.4nm (1.1%)1%70890600nm600nm+/-5.0nm6.6nm (1.1%)1%70891700nm701nm+/-6.0nm9.0nm (1.3%)1%70892800nm802nm+/-6.0nm9.6nm (1.2%)1%70893900nm895nm+/-8.0nm9.1nm (1.0%)1% 下面推荐的是最高级别测量标准品，对直径1-40um的颗粒来说，以下产品极具竞争力。订购信息：货号Nominal diameterCertifiedMean Dia.Size UniformityStd. Dev.&C.V.SolidsContent708941.0μm0.993+/-0.0210.010μm (1.0%)1.0%708952.0μm2.013+/-0.0250.022μm (1.1%)0.5%708963.0μm3.063+/-0.0270.03μm (1.0%)0.5%708975.0μm4.991+/-0.0350.06μm (1.2%0.3%7089810.0μm9.975+/-0.0610.09μm (0.09%)0.2%

石墨炉消耗品产品描述包装货号价格带集成平台的标准THGA石墨管(适用于AA5100ZL/AA4110ZL/AA600/AA800/AA900T/AA900Z型石墨炉)5/pkB30006419688 20/pkB050403334438 100/pkN3110147停产带末端盖的标准THGA石墨管(适用于AA5100ZL/AA4110ZL/AA600/AA800/AA900T/AA900Z型石墨炉)5/pkB300065310050 20/pkB300065535108 超净THGA石墨管5/pkB31403618630 20/pkB314036230954 标准THGA石磨柱接触柱1对B05040352613 5对B050403612073 改进型THGA石墨接触柱1对B30021032747 5对B300210212395 带集成平台的热解涂层石墨管5/pkB30012624811 20/pkB300126418090 L’ vov平台5/pkB01371121260 20/pkB01210912198

石墨炉消耗品产品描述包装货号价格带集成平台的标准THGA石墨管(适用于AA5100ZL/AA4110ZL/AA600/AA800/AA900T/AA900Z型石墨炉)5/pkB30006419688 20/pkB050403334438 100/pkN3110147停产带末端盖的标准THGA石墨管(适用于AA5100ZL/AA4110ZL/AA600/AA800/AA900T/AA900Z型石墨炉)5/pkB300065310050 20/pkB300065535108 超净THGA石墨管5/pkB31403618630 20/pkB314036230954 标准THGA石磨柱接触柱1对B05040352613 5对B050403612073 改进型THGA石墨接触柱1对B30021032747 5对B300210212395 带集成平台的热解涂层石墨管5/pkB30012624811 20/pkB300126418090 L’ vov平台5/pkB01371121260 20/pkB01210912198

AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用域的显微镜，如AFM(范德华力)，静电力显微镜EFM(静电力)磁力显微镜MFM(静磁力)侧向力显微镜LFM(探针侧向偏转力)等， 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。原子力显微镜的探针主要有以下几种:(1)、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针:常用的产品，分辨率高，使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损，分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。(2)、 导电探针:通过对普通探针镀20-40纳米厚的Pt(以及别的提高镀层结合力的金属，如Au、Cr、Ti和Pt与Ir的合金等)得到。导电探针应用于EFM，KFM，SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差，使用时导电镀层容易脱落，导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖，金刚石镀层针尖，全金刚石针尖，全金属丝针尖，这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。(3)、磁性探针:应用于MFM，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备，分辨率比普通探针差，使用时导电镀层容易脱落。(4)、大长径比探针:大长径比针尖是为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点:不太常用的产品，分辨率很高，使用寿命一般。技术参数:针尖高度 9μm 长径比5:1 针尖半径 10 nm。(5)、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针:一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜，另外一种是全金刚石材料制备(价格很高)。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性，减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。还有生物探针(分子功能化)，力调制探针，压痕仪探针 Park四面体探针测微悬臂的特点，在于探针位于测微悬臂的Z端，由此易于清楚确认探针与样品的位置关系，从而迅速而准确地对准测定位置。为满足客户多种特殊需求，此产品备有标准型、铂膜型和四面刃型三种类型的硅探针可供选择。 具有高品质的解析度，共振频率在300 kHz与26 N/m的弹性系数, 大大的降低了破坏样品的机率； 外观设计：新产品的侧壁垂直面更便于探针的夹取； TipView设计：锋利的探头放置在后的悬臂。TipView设计便于精确探测定位； 测量环境：适用于空气中测量； 测量模式：AC（动态）模式； OMCL-AC160TS 10M的针尖适用于一般标准表面形貌量测，适用于以下sample: 1、pss蓝宝石基板的表面形貌量测； 2、太阳能板的表面形貌量测； 3、玻璃面板等各式有机材料、无机材料的表面形貌的量测 OMCL-AC160TS 10M均可直接代替以下品牌型号针尖： 1、Nanoworld 的NCHR/Arrow NCR 2、Appnano的ACTA 3、Bruker的TESPA/ORTESPA； 4、NT-MDT的NSG30 5、Budget Sensors的Tap300-G 详情请咨询：18994392037（同VX）李经理

现货销售供应德国克吕士/Kruss-DSA25标准型接触角测量仪DSA25，销售现货，操作说明书，功能：咨询热线，15300030867,010-82752485-815，欢迎您的来电咨询！测量液体与固体之间的接触角测量固体表面能，计算能量分布测量液体的表面/界面张力现货销售供应德国克吕士/Kruss-DSA25标准型接触角测量仪DSA25，销售现货，操作说明书，功能，特点：多种规格的固体样品附件可选可选配温度计湿度控制腔手动，单一自动，双自动多种滴液系统可供选择现货销售供应德国克吕士/Kruss-DSA25标准型接触角测量仪DSA25，销售现货，操作说明书，功能，参数：接触角测量范围： 0-180°精度： ±0.1°表面张力测量范围：1×10-2—2000mN/m分辨率： 0.01mN/m光学系统： 6.5倍光学变焦，最高速度301幅图片/秒

GB/T 4288洗衣机用标准污染布概述： 我国洗衣机行业正处在一个自主创新、蓬勃发展的时期。企业间的竞争进入了白热化阶段，终归结到产品性能的竞争。洗衣机的首要性能是洗涤能力的强弱。一直以来，行业内都采用人工制造污染布模拟真实污渍来评价洗涤能力的强弱。所以，人工制造污染布的质量好坏对评价洗衣机洗涤能力的强弱有很大的影响。 国内对人工制造污染布的研究起步较晚，大多处于实验室理论研究阶段。中国家用电器研究院清洁技术研究所多年来从事污染布和标准洗衣粉的研制工作，生产出来了符合GB/T 4288国标要求的碳黑污染布、皮脂污染布和蛋白污染布工艺较纯熟，质量较稳定，已进入工业化生产阶段，代表了国产污染布制作的高水平。

经认证的 NIRS 99% 反射率标准板，用于实验室探针订货号: 6.7450.030经认证的 99% 反射率标准板，用于校正 NIRS XDS SmartProbe Analyzer

详情请咨询：18994392037（同VX）李经理 AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用域的显微镜，如AFM(范德华力)，静电力显微镜EFM(静电力)磁力显微镜MFM(静磁力)侧向力显微镜LFM(探针侧向偏转力)等， 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。原子力显微镜的探针主要有以下几种:(1)、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针:常用的产品，分辨率高，使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损，分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。(2)、 导电探针:通过对普通探针镀20-40纳米厚的Pt(以及别的提高镀层结合力的金属，如Au、Cr、Ti和Pt与Ir的合金等)得到。导电探针应用于EFM，KFM，SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差，使用时导电镀层容易脱落，导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖，金刚石镀层针尖，全金刚石针尖，全金属丝针尖，这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。(3)、磁性探针:应用于MFM，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备，分辨率比普通探针差，使用时导电镀层容易脱落。(4)、大长径比探针:大长径比针尖是为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点:不太常用的产品，分辨率很高，使用寿命一般。技术参数:针尖高度 9μm 长径比5:1 针尖半径 10 nm。(5)、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针:一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜，另外一种是全金刚石材料制备(价格很高)。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性，减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。 还有生物探针(分子功能化)，力调制探针，压痕仪探针 Park四面体探针测微悬臂的特点，在于探针位于测微悬臂的Z端，由此易于清楚确认探针与样品的位置关系，从而迅速而准确地对准测定位置。为满足客户多种特殊需求，此产品备有标准型、铂膜型和四面刃型三种类型的硅探针可供选择。 OMCL-AC240TS 10M 微软型(Medium-soft Silicon Cantilever) 适用于测量易受损(Soft)的样品 在轻敲模式中拥有Z微小的弹性系数2 N/m的硅悬臂,适合用来观测局部解剖的表面与柔软样品的黏弹性 Medium-soft Silicon Cantilever Spring constant of 2 N/m (norminal) is smallest of silicon cantilevers, suitable for observing surface ography ａnd viscoelasticity of soft samples.(2n/m,70khz) AFM的测量模式：※接触式(Contact mode)： 探针与材料表面间的距离为(2~3nm)。在扫描时，针尖与样品表面轻轻接触，产品微弱的排斥力使探针偏移，从而使得样品表面形貌的图像。※非接触式(Non-contact mode)： 探针与材料表面总维持着一定的距离(低于20nm)。非接触式为轻敲式的衍生，一样是利用探针跳动来扫描，但是探针始终都不接触表面。 ※轻敲式(Tapping mode又称 AC mode)： 介于接触式和非接触式之间，探针与材料表面间的距离为(5nm)。以探针震荡方式，探针在试片上跳动，当探针震荡至波谷时微接触样品。 Park探针选用小贴士： AC160TS:Tapping Mode,用於較硬的sample,適用半導體材料,金屬材料,Polymer,DVD… AC240TS:Tapping Mode,用於較軟的sample,適用生命科學:DNA,細胞,薄膜,蛋白質…

标准接口玻璃仪器是具有标准化磨口或磨塞的玻璃仪器。由于仪器口塞尺寸的标准化、系统化、磨砂密合，凡属于同类规格的接口，均可任意连接，各部件能组装成各种配套仪器。与不同类型规格的部件无法直接组装时，可使用转换接头连接。使用标准接口玻璃仪器，既可免去配塞子的麻烦手续，又能避免反应物或产物被塞子玷污的危险，口塞磨砂性能良好，使密合性可达较高真空度，对蒸馏尤其减压蒸馏有利，对于毒物或挥发性液体的实验较为安全。注意事项：1)磨口塞应经常保持清洁，使用前宜用软布揩拭干净，但不能附上棉絮。　　(2)使用前在磨砂口塞表面涂以少量凡士林或真空油脂，以增强磨砂口的密合性，避免磨面的相互磨损，同时也便于接口的装拆。　　(3)装配时，把磨口和磨塞轻轻地对旋连接，不宜用力过猛。但不能装得太紧，只要达到润滑密闭要求即可。　　(4)用后应立即拆卸洗净。否则，对接处常会粘牢，以致拆卸困难。　　(5)装拆时应注意相对的角度，不能在角度偏差时进行硬性装拆，否则极易造成破损。

标准接口玻璃仪器是具有标准化磨口或磨塞的玻璃仪器。由于仪器口塞尺寸的标准化、系统化、磨砂密合，凡属于同类规格的接口，均可任意连接，各部件能组装成各种配套仪器。与不同类型规格的部件无法直接组装时，可使用转换接头连接。使用标准接口玻璃仪器，既可免去配塞子的麻烦手续，又能避免反应物或产物被塞子玷污的危险，口塞磨砂性能良好，使密合性可达较高真空度，对蒸馏尤其减压蒸馏有利，对于毒物或挥发性液体的实验较为安全。注意事项：1)磨口塞应经常保持清洁，使用前宜用软布揩拭干净，但不能附上棉絮。　　(2)使用前在磨砂口塞表面涂以少量凡士林或真空油脂，以增强磨砂口的密合性，避免磨面的相互磨损，同时也便于接口的装拆。　　(3)装配时，把磨口和磨塞轻轻地对旋连接，不宜用力过猛。但不能装得太紧，只要达到润滑密闭要求即可。　　(4)用后应立即拆卸洗净。否则，对接处常会粘牢，以致拆卸困难。　　(5)装拆时应注意相对的角度，不能在角度偏差时进行硬性装拆，否则极易造成破损。

石墨炉消耗品产品描述包装货号价格带集成平台的标准THGA石墨管(适用于AA5100ZL/AA4110ZL/AA600/AA800/AA900T/AA900Z型石墨炉)5/pkB30006419688 20/pkB050403334438 100/pkN3110147停产带末端盖的标准THGA石墨管(适用于AA5100ZL/AA4110ZL/AA600/AA800/AA900T/AA900Z型石墨炉)5/pkB300065310050 20/pkB300065535108 超净THGA石墨管5/pkB31403618630 20/pkB314036230954 标准THGA石磨柱接触柱1对B05040352613 5对B050403612073 改进型THGA石墨接触柱1对B30021032747 5对B300210212395 带集成平台的热解涂层石墨管5/pkB30012624811 20/pkB300126418090 L’ vov平台5/pkB01371121260 20/pkB01210912198

标准可变径电解池电化学池池体材质：玻璃 盖 子：聚四氟乙烯 常用容积：25-250ml特 点：三电极系统，配套进出气管（聚四氟）进行通氮除氧可选用鲁金毛细管或盐桥。

WR-D97-30系列 漫反射白板WR-D97-30系列漫反射白板（漫反射标准参考板，漫反射标准参照板，标准白板，漫反射标准板）采用PTFE制成，其表面为朗伯漫反射表面。WR系列外壳材料为阳极氧化铝，具有防水、稳定性好的特性，在深紫外线应用下也没问题。? 在250-1500nm波长范围，反射率大于97%；? 在800-2200nm波长范围，反射率大于95%。WR系列的反射面直径分别为30mm、50mm、100mm。反射材料封装在一个小盒内，并有带螺纹的盖子以作保护。产品特点稳 定：中性好，对各波长都有同样的高光谱反射比；平整均匀的反射表面，各点的反射比相同实 用：优质的金属保护外壳，减少漫反射白板边缘损耗绝 配：高密度反射探头的最佳搭档，随时随地校正反射精准度规 格WR-30-DWR-30-D-STD保护壳材质金属铝盒金属铝盒内部直径(mm)3030厚度(mm)2020波段范围(nm)350~2000350~2000反射率97%97%校准文件——CNAS

纳微凭借世界领先的自主专利技术，生产了两个系列的高质量标准颗粒微球：聚苯乙烯、二氧化硅，粒径范围从10nm到1000μm，可满足用户不同材质和粒径尺寸的选择需要。产品通过BeckmanCoulterCounterMultisizer3，CPSDisk Centrifuge，DynamicLightScattering，TEM，SEM和OpticalMicroscope等精密仪器测定并由NIST溯源的标准颗粒校正，其中大于1μm的聚合物标准颗粒是以高度交联的聚苯乙烯为材质，其物理化学性能稳定。纳微标准颗粒一般分散在超纯水中，含有微量的表面活性剂以保持标准颗粒的稳定性。包装规格为10ml。另外，根据用户的特殊需求，纳微可以提供高分散的固体粉末标准颗粒，还可以提供尺寸和数量双标准的标准颗粒。产品优势 微球颗粒的材质种类多，粒径规格齐全标准颗粒均为严格意义的球形结构单分散均一性，所有标准颗粒拥有很窄的粒径分布可提供以尺寸和数量双标准的标准颗粒 订货信息*更多规格型号或定制，请联系业务代表

标准接口玻璃仪器是具有标准化磨口或磨塞的玻璃仪器。由于仪器口塞尺寸的标准化、系统化、磨砂密合，凡属于同类规格的接口，均可任意连接，各部件能组装成各种配套仪器。与不同类型规格的部件无法直接组装时，可使用转换接头连接。使用标准接口玻璃仪器，既可免去配塞子的麻烦手续，又能避免反应物或产物被塞子玷污的危险，口塞磨砂性能良好，使密合性可达较高真空度，对蒸馏尤其减压蒸馏有利，对于毒物或挥发性液体的实验较为安全。注意事项：1)磨口塞应经常保持清洁，使用前宜用软布揩拭干净，但不能附上棉絮。　　(2)使用前在磨砂口塞表面涂以少量凡士林或真空油脂，以增强磨砂口的密合性，避免磨面的相互磨损，同时也便于接口的装拆。　　(3)装配时，把磨口和磨塞轻轻地对旋连接，不宜用力过猛。但不能装得太紧，只要达到润滑密闭要求即可。　　(4)用后应立即拆卸洗净。否则，对接处常会粘牢，以致拆卸困难。　　(5)装拆时应注意相对的角度，不能在角度偏差时进行硬性装拆，否则极易造成破损。

石墨炉消耗品产品描述包装货号价格带集成平台的标准THGA石墨管(适用于AA5100ZL/AA4110ZL/AA600/AA800/AA900T/AA900Z型石墨炉)5/pkB30006419688 20/pkB050403334438 100/pkN3110147停产带末端盖的标准THGA石墨管(适用于AA5100ZL/AA4110ZL/AA600/AA800/AA900T/AA900Z型石墨炉)5/pkB300065310050 20/pkB300065535108 超净THGA石墨管5/pkB31403618630 20/pkB314036230954 标准THGA石磨柱接触柱1对B05040352613 5对B050403612073 改进型THGA石墨接触柱1对B30021032747 5对B300210212395 带集成平台的热解涂层石墨管5/pkB30012624811 20/pkB300126418090 L’ vov平台5/pkB01371121260 20/pkB01210912198

检定校准用气体标准物质 中测标物 标气 标准气体产品特性：* 量值准确； * 稳定性高； * 种类齐全； * 供货周期短； * 提供微量氯气、氨气、氯化氢等气体标准物质； * 定制服务； * 不确定度小； * 有效期12个月； * 量值范围宽； * 提供可靠的量值溯源保障检定校准用气体标准物质标准气体 标气规格：2L/4L/8L标准物质编号标准物质名称特性量值/μmol• mol-1扩展相对不确定度GBW（E)081665空气中一氧化碳气体标准物质10-3000Urel=1%,k=3GBW（E)082068氮中一氧化碳气体标准物质1-5Urel=2%,k=2GBW（E)082068氮中一氧化碳气体标准物质5-200000Urel=1%,k=2GBW（E)081666空气中二氧化碳气体标准物质10-3000Urel=1%,k=3GBW（E)082069氮中二氧化碳气体标准物质1-5Urel=2%,k=2GBW（E)082069氮中二氧化碳气体标准物质5-200000Urel=1%,k=2GBW（E)081669空气中甲烷气体标准物质10-100Urel=2%,k=3GBW（E)081669空气中甲烷气体标准物质100-30000Urel=1%,k=3GBW（E)081670氮中甲烷气体标准物质10-100Urel=2%,k=3GBW（E)081670氮中甲烷气体标准物质100-980000Urel=1%,k=3GBW（E)081672空气中丙烷气体标准物质100-15000Urel=1%,k=3GBW（E)081668空气中异丁烯气体标准物质1-10000Urel=2%,k=3GBW（E)081671空气中异丁烷气体标准物质100-15000Urel=1%,k=3GBW（E)081674空气中氢气标准物质10-100Urel=2%,k=3GBW（E)081674空气中氢气标准物质100-30000Urel=1%,k=3GBW（E)081673氮中氢气体标准物质10-100Urel=2%,k=3GBW（E)081673氮中氢气体标准物质100-980000Urel=1%,k=3GBW（E)061321氮中氧气体标准物质1Urel=3%,k=3GBW（E)061321氮中氧气体标准物质2-10Urel=2%,k=3GBW（E)061321氮中氧气体标准物质10-990000Urel=1%,k=3GBW（E)062362氮（空气）中苯气体标准物质1.00-100Urel=2%,k=2GBW（E)081675空气中乙醇气体标准物质30-500Urel=2%,k=2GBW（E)082655氮气中乙醇气体标准物质20-500Urel=1%,k=2GBW（E)061903空气中硫化氢气体标准物质10-10000Urel=2%,k=3GBW（E)061324氮中硫化氢气体标准物质5-100000Urel=2%,k=3GBW（E)061323氮中二氧化硫气体标准物质2-30000Urel=2%,k=3GBW（E)061797空气中六氟化硫气体标准物质10-1000Urel=1%,k=2GBW（E)061516氮中六氟化硫气体标准物质5-100000Urel=1%,k=2GBW（E)061325氮中一氧化氮气体标准物质10-5000Urel=1%,k=3GBW（E)061326氮中二氧化氮气体标准物质10-5000Urel=3%,k=3GBW（E)061793空气中氨气气体标准物质20-300Urel=2%,k=2GBW（E)061792氮中氨气气体标准物质20-300Urel=2%,k=2GBW（E)082659空气中氯气气体标准物质10-1000Urel=2%,k=2GBW（E)082658氮气中氯气气体标准物质10-1000Urel=2%,k=2GBW（E)082654氮气中氯乙稀气体标准物质1-1000Urel=2%,k=2GBW（E)082657氮气中氯化氢气体标准物质10-1000Urel=2%,k=2GBW（E)062303氮气中丙烯腈气体标准物质1.00-100Urel=2%,k=2GBW（E)062357氮（空气）中甲烷、丙烷混合气体标准物质-甲烷2.00-100Urel=2%,k=2GBW（E)062357氮（空气）中甲烷、丙烷混合气体标准物质-丙烷2.00-100Urel=2%,k=2GBW（E)062305氮中氧、丙烷、一氧化碳、二氧化碳混合气体标准物质-氧5000-220000Urel=1%,k=2GBW（E)062305氮中氧、丙烷、一氧化碳、二氧化碳混合气体标准物质-丙烷100-10000Urel=1%,k=2GBW（E)062305氮中氧、丙烷、一氧化碳、二氧化碳混合气体标准物质-一氧化碳5000-100000Urel=1%,k=2GBW（E)062305氮中氧、丙烷、一氧化碳、二氧化碳混合气体标准物质-二氧化碳10000-150000Urel=1%,k=2GBW（E)061798氮中丙烷、一氧化碳、二氧化碳、一氧化氮混合气体标准物质-丙烷100-10000Urel=1%,k=2GBW（E)061798氮中丙烷、一氧化碳、二氧化碳、一氧化氮混合气体标准物质-一氧化碳5000-300000Urel=1%,k=2GBW（E)061798氮中丙烷、一氧化碳、二氧化碳、一氧化氮混合气体标准物质-二氧化碳10000-250000Urel=1%,k=2GBW（E)061798氮中丙烷、一氧化碳、二氧化碳、一氧化氮混合气体标准物质-一氧化氮100-5000Urel=1%,k=2中测标物 标准气体 标气 检定校准用 气体标准物质 检定校准用 标气 检定校准用 标准气体

问题：当原子力显微镜做样品成像时，很难知道表面是否准确的表征？也许会受针尖的顶端破碎或钝影响。破损或钝的探针针尖会使测量结果有显著差异，如粗糙度或表面结构等等。要确保用户在使用探针时要有适当的提示，必须直接扔掉旧探针或定期使用SEM电镜检测，这两种方法都非常的浪费探针或耗时。 解决方案：BudgetSensors Tipcheck介绍-一个SPM样品可以在原子力显微镜的针尖条件下快速、简便的测定。即使在一个单一的扫描线上，也使之间的差异变得明显。因此，tipcheck提供了一个快速简便的方法来比较和分类原子力显微镜探针不同的针尖、形状和清晰度。您可以很容易的检查您的AFM探针是否完好，是否已经磨损或破损，从而不需要扫描使用该探针扫描整个样品图像或做SEM电镜扫描检测。此外，该样品的完美自动提示和针尖表征软件在市场上可用。BudgetSensors Tipcheck样品是一种非常耐磨的薄膜涂层，沉积在硅芯片上。这层薄膜涂层呈颗粒状，尖锐的纳米机构使得它能在AFM探针针尖反向成像。该Tipcheck模具的尺寸为5*5mm。下面的图片显示了使用不同探针测试tipcheck样本之间的比较，扫描尺寸为1*1um，高度为100nm。根据下面的形貌图你可以找到一个具有代表性的断面图像。为什么我们需要高度校准块？原子力显微镜已经成为一个有价值的工具，不仅用于可视化，而且也可以用于进行精确的纳米和微米尺度测量。为了能使原子力显微镜最精确的测量，原子力显微镜需要正确的校准。 HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG作为budgetsensors 高度标准介绍作为增加相应，能负担原子力显微镜的高品质校准标准需求。HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG是一个尺寸为5*5mm且阵列在硅基底上的二氧化硅结构。芯片结构的制造工艺保证了良好的均匀性。这将确保你的AFM系统Z轴方向校准方便可靠。 校准区域位于芯片的中心，使用原子力显微镜的光学系统很容易找到。校准结构的台阶高度为20nm（HS-20MG）100nm（HS-100MG）和500nm（HS-500MG）每一个芯片的精确值都标识在盒子标签上。芯片上集成了不同形状和间距的结构阵列。在1*1mm的大区域内包含了间距为10um的方柱孔。 在500*500um的小区域内包含了XY方向间距为5um的圆柱形孔。除了Z轴校准，这样的设计也让XY方向有了更大的校准范围（40~100um以内），而且，校准片的结构对称性使得校准原子力显微镜时不需要旋转和调整校准片XY刻度的方向。HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG用优质导电环氧树脂粘在一个12毫米金属圆盘上，并将其用作装运的材料。横向尺寸：5*5mm几何结构：在1*1mm平方内排列间距为10um的方形孔柱在500*500um平方内XY方向排列间距为5um的圆形孔柱台阶高度HS-20MG：~20nmHS-100MG：~100nmHS-500MG：~500nm注：每个校准片盒子标签上都标有明确数值为什么需要XYZ标定校准？为了使原子力显微镜更精准的测量，必须进行正确校准。因此，更精确的校准标准才能实现原子力显微镜更好的测量结果。在这方面，校准的标定标准允许原子力显微镜系统的最精确校准。 我们的解决方案：CS-20NG是一种先进的XYZ标定校准，使校准精度降低到纳米级。它的特点是在一个5*5mm的硅芯片上阵列二氧化硅结构。确保整个芯片结构有良好的均匀性。反之，又确保了方便可靠的校准原子力显微镜的XYZ三方向的精度。校准区域位于芯片的中心，使用原子力显微镜的光学系统很容易找到。台阶高度在20nm范围内，每一个芯片的精确值都标识在盒子标签上。芯片上集成了不同形状和间距的结构阵列。在1*1mm的大区域内包含了间距为10um的方柱孔。在中区域内包含了XY方向间距为5um的圆柱形孔。在小区域内500nm间距的圆形孔。CS-20NG适用于横向和纵向的AFM扫描校准。校准片的结构对称性使得校准原子力显微镜时不需要旋转和调整校准片XY刻度的方向。CS-20NG用优质导电环氧树脂粘在一个12毫米金属圆盘上，并将其用作装运的材料。横向尺寸：5*5mm几何机构：在1*1mm平方内排列间距为10um的方形孔柱在500*500um平方内XY方向排列间距为5um的圆形孔柱在100*100um平方内分布着间距为500nm的圆形孔台阶高度：20nm每个校准片盒子标签上都标有明确数值