衍射仪石棉标准

D8 ADVANCE X射线衍射仪，采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过TWIST TUBE技术，使用户可以在1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换，让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史！高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰（注意不是一个衍射峰）的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度，布鲁克AXS公司提供全球保证！先进的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍，不仅答复提高设备的使用效率， 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。技术指标： ●Theta/theta 立式测角仪 ●2Theta角度范围：-110~168°●角度精度：0.0001度 ●Cr/Co/Cu靶，标准尺寸光管 ●探测器：林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器 ●仪器尺寸：1868x1300x1135mm ●重量：770kg 主要功能●TWIN / TWIN 光路布鲁克获得专利的TWIN-TWIN光路设计极大地简化了D8 ADVANCE的操作，使之适用于多种应用和样品类型。为便于用户使用，该系统可在4种不同的光束几何之间进行自动切换。该系统无需人工干预，即可在Bragg-Brentano粉末衍射几何和不良形状的样品、涂层和薄膜的平行光束几何以及它们之间进行切换，且无需人工干预，是在环境下和非环境下对包括粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在内的所有类型的样品进行分析的理想选择。●动态光束优化（DBO）布鲁克独有的DBO功能为X射线衍射的数据质量树立了全新的重要基准。马达驱动发散狭缝、防散射屏和可变探测器窗口的自动同步功能，可为您提供无与伦比的数据质量——尤其是在低2Θ角度时。除此之外，LYNXEYE全系列探测器均支持DBO：SSD160-2，LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。●LYNXEYE XE-TLYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探测器的旗舰产品。它是目前市面上一款可采集0D、1D和2D数据的能量色散探测器，适用于所有波长（从Cr到Ag），具有高计数率和好的角分辨率，是所有X射线衍射和散射应用的理想选择。LYNXEYE XE-T具有优于380 eV的能量分辨率，着实出色，是市面上性能好的的荧光过滤器探测器系统。借助它，您可在零强度损失下对由铜辐射激发的铁荧光进行100％过滤，而且无需金属滤波片，因此数据也不会存在伪影，如残余K?和吸收边。同样，也无需用到会消除强度的二级单色器。布鲁克提供独有的LYNXEYE XE-T探测器保证：交货时保证无坏道！应用:●物相定性分析●结晶度及非晶相含量分析●结构精修及解析●物相定量分析●点阵参数精确测量●无标样定量分析●微观应变分析●晶粒尺寸分析●原位分析●残余应力●低角度介孔材料测量●织构及ODF分析●薄膜掠入射●薄膜反射率测量●小角散射

Thermo Scientific&trade ARL&trade EQUINOX Pro立式X 射线衍射仪，高精度、高效率、高可靠性Thermo Scientific ARL EQUINOX Pro 是一款采用θ/θBragg-Brentano光学的立式X射线衍射仪。这款仪器基于“整体最优”设计原则，凭借先进的软、硬件配置，实现仪器系统运行的整体优化，提升仪器分析的准确性、精确性、易用性和安全性。这款仪器能够出色地完成各类粉末晶体的衍射分析，广泛地应用于材料研发和产品质量控制的相关领域。新型电控测角系统：最新的小型化和分散化电机控制系统，可克服由于驱动电机失步或超步引起的位置误差，提高测角仪的整体控制精度和重复性先进光子探测技术：前沿PTPC(脉冲触发实时位置)计数技术，通过同步脉冲触发探测器的电子门控电路，将测角仪实际到达位置与探测器响应进行同步，实现探测器计数与测角仪位置的精确对应，将角度位置与信号采集精确控制在行业先进级别魔卡免维护设计：光路魔卡设计系统和机械误差动态补偿技术，通过整个光路系统上的组件、光源高低、倾角、狭缝架高低、探测器的魔卡设计，支持用户在切换光路和样品台后无需再次校正，直接使用仪器X射线衍射原理帮助生产过程更高效，降低生产成本精准监控原材料品质，确保产品质量高标准严格遵循流程和法规，助力研发效率再提升

DX-2800高分辨衍射仪　　组合式多功能X射线衍射仪和高分辨率X射线衍射仪广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料。可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。广泛应用于粘土矿物、水泥建材、环境粉尘、化工制品、药品、石棉、岩矿、聚合物等研究领域。　　高分辨X射线衍射仪为精准研究材料结构而设计,能对样品衍射角度进行最精确测量，为得到准确的、可信赖的相分析及结构解析结果奠定坚实的基础。　　高分辨X射线衍射仪配置高稳定性X射线源、高性能半导体阵列计数器，可以在相对短的时间内获取最准确的的衍射谱图。　　样品衍射角度由绝对增量式224位线光栅直接获取，能避免测角仪其它部件对衍射角度的影响，确保仪器在使用寿命内始终获得准确的峰位置。　　国际标准样品（Si、Al2O3）全谱范围内所有峰的角度偏差不超过±0.01度。　　X射线衍射谱图提供有关样品不同晶相的晶体结构等重要信息。这些信息包括点阵常数、点阵类型、原子替位、晶粒大小和非均匀应力，晶体结构能够逐步通过样品衍射谱图解析。

新的D8 ADVANCE 衍射仪——真正的“智能化”衍射仪布鲁克X射线衍射仪 D8 ADVANCE，采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过TWIST TUBE技术，使用户可以在1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换，让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史！高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰（注意不是一个衍射峰）的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度，布鲁克AXS公司提供全球保证！先进的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍，不仅答复提高设备的使用效率， 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。元器件自动识别及配置元器件互换无需调整，弹指间实现光路互换在一台设备上集成多功能，而且轻松实现功能互换系统智能纠错技术指标： ●Theta/theta 立式测角仪 ●2Theta角度范围：-110~168°●角度精度：0.0001度 ●Cr/Co/Cu靶，标准尺寸光管 ●探测器：林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器 ●仪器尺寸：1868x1300x1135mm ●重量：770kg 主要功能●TWIN / TWIN 光路布鲁克获得专利的TWIN-TWIN光路设计极大地简化了布鲁克X射线衍射仪 D8 ADVANCE的操作，使之适用于多种应用和样品类型。为便于用户使用，该系统可在4种不同的光束几何之间进行自动切换。该系统无需人工干预，即可在Bragg-Brentano粉末衍射几何和不良形状的样品、涂层和薄膜的平行光束几何以及它们之间进行切换，且无需人工干预，是在环境下和非环境下对包括粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在内的所有类型的样品进行分析的理想选择。●动态光束优化（DBO）布鲁克独有的DBO功能为X射线衍射的数据质量树立了全新的重要基准。马达驱动发散狭缝、防散射屏和可变探测器窗口的自动同步功能，可为您提供无与伦比的数据质量——尤其是在低2Θ角度时。除此之外，LYNXEYE全系列探测器均支持DBO：SSD160-2，LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。●LYNXEYE XE-TLYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探测器的旗舰产品。它是目前市面上一款可采集0D、1D和2D数据的能量色散探测器，适用于所有波长（从Cr到Ag），具有高计数率和好的角分辨率，是所有X射线衍射和散射应用的理想选择。LYNXEYE XE-T具有优于380 eV的能量分辨率，着实出色，是市面上性能好的的荧光过滤器探测器系统。借助它，您可在零强度损失下对由铜辐射激发的铁荧光进行100％过滤，而且无需金属滤波片，因此数据也不会存在伪影，如残余K?和吸收边。同样，也无需用到会消除强度的二级单色器。布鲁克提供独有的LYNXEYE XE-T探测器保证：交货时保证无坏道！应用:●物相定性分析●结晶度及非晶相含量分析●结构精修及解析●物相定量分析●点阵参数精确测量●无标样定量分析●微观应变分析●晶粒尺寸分析●原位分析●残余应力●低角度介孔材料测量●织构及ODF分析●薄膜掠入射●薄膜反射率测量●小角散射

仪器简介：AL-Y3000型衍射仪是为材料研究和工业产品分析设计的，是常规分析与特殊目的测量相结合的完善产品。●硬件系统和软件系统的完美结合，满足不同应用领域学者、科研者的需要●高精度的衍射角度测量系统，获取更准确的测量结果●高稳定性的X射线发生器控制系统，得到更稳定的重复测量精度●程序化操作、一体化结构设计，操作简便、仪器外型更美观X射线衍射仪是揭示材料晶体结构和化学信息的一种通用性测试仪器：●未知样品中一种和多种物相鉴定●混合样品中已知相定量分析●晶体结构解析●非常规条件下晶体结构变化（高温、低温条件下）●材料表面膜分析●金属材料织构、应力分析技术参数： X射线衍射仪可以分析天然或是人工合成的无机或是有机材料，广泛应用于粘土矿物、水泥建材、环境粉尘、化工制品、药品、石棉、岩矿、聚合物等研究领域。●基于θ-θ几何光学设计，便于样品的制备和各种附件的安装●金属陶瓷X射线管的应用，极大提高衍射仪运行功率●封闭正比计数器，耐用免维护●硅漂移探测器具有优越的角度分辨率和能量分辨率，测量速度提高3倍以上●丰富的衍射仪附件，满足不同分析目的需要●模块化设计或称即插即用组件，操作人员不需要校正光学系统，就能正确使用衍射仪相应附件光学系统转换 不需要拆卸索拉狭缝体，就可以单独更换索拉狭缝结构。由于这一特点，不需要重新调整仪器，就可以实现聚焦光学系统和平行光学系统的转换。 早前聚焦法光学系统和平行光束法光学系统分别需要配置弯曲晶体单色器和平面晶体单色器，光学系统的转换需要对光学系统重新校正。采用本系统只要将单色器的晶体旋转90°、更换狭缝结构，就可以实现光学系统的转换。数据处理软件包括以下功能 基本数据处理功能（寻峰、平滑、背景扣除、峰形拟合、峰形放大、谱图对比、Ka1、a2剥离、衍射线条指标化等）；●无标准样品快速定量分析●晶粒尺寸测量●晶体结构分析（晶胞参数测量和精修）●宏观应力测量和微观应力计算；●多重绘图的二维和三维显示；●衍射峰图群聚分析；●衍射数据半峰宽校正曲线；●衍射数据角度偏差校正曲线；●基于Rietveld常规定量分析；●使用ICDD数据库或是用户数据库进行物相定性分析；●使用ICDD数据库或是ICSD数据库进行定量分析； AL-3000型衍射仪除了基本功能外，可快速配置各种附件，具有超强的分析能力 高精度的机械加工，使附件安装位置的重现性极大地提高，实现即插即用。不需要对光路进行校准，只要在软件中选定相应的附件就可以实现特殊目的测量。多功能样品架 随着材料研究的深入，越来越多的板材、块状材料及基体上的膜也要求用X射线衍射仪进行性能分析。在测角仪上安装多功能样品架可以进行织构、宏观应力、薄膜面内结构等测试，每一种测试功能都有相应的计算软件。●碾轧板（铝、铁、铜板等）织构测量及评价●金属、陶瓷等材料残余应力测量●薄膜样品晶体优先方位的评价●大分子化合物取向测量●金属、非金属基体上的多层膜、氧化膜、氮化膜分析 织构使材料呈现各向异性，利用织构改善和提高材料的性能、充分发挥材料性能的潜力，是材料科学研究的重要工作之一。虽然检测材料织构方法很多，但是最广泛应用的还是X射线衍射技术。

DX-2700BH多功能衍射仪　　组合式多功能X射线衍射仪和高分辨率X射线衍射仪广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料。可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。广泛应用于粘土矿物、水泥建材、环境粉尘、化工制品、药品、石棉、岩矿、聚合物等研究领域。DX系列衍射仪是为材料研究和工业产品分析设计的，是常规分析与特殊目的测量相结合的完善产品。　　硬件系统和软件系统的紧密结合，满足不同应用领域学者、科研者的需要　　高精度的衍射角度测量系统，获取更准确的测量结果　　高稳定性的X射线发生器控制系统，得到更稳定的重复测量精度　　各种功能附件满足不同测试目的需要　　程序化操作、一体化结构设计，操作简便、仪器外型更美观X射线衍射仪是揭示材料晶体结构和化学信息的一种通用性测试仪器：　　未知样品中一种和多种物相鉴定　　混合样品中已知相定量分析　　晶体结构解析（Rietveld结构分析）　　非常规条件下晶体结构变化（高温、低温条件下）　　薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度　　微区样品的分析　　金属材料织构、应力分析完善的品质与卓越性能的结合　　DX系列衍射仪除了基本功能外，可快速配置各种附件，具有很强的分析能力　　高精度的机械加工，使附件安装位置的重现性大大地提高，软件自动识别相应附件，不需要对光路进行校准，附件安装实现即插即用，最简单的操作就可满足特殊目的测量的需要。高性能与实用的紧密结合　　基于θ-θ几何光学设计，便于样品的制备和各种附件的安装　　金属陶瓷X射线管的应用，极大提高衍射仪运行功率　　封闭正比计数器，耐用免维护　　硅漂移探测器具有优越的角度分辨率和能量分辨率，测量速度提高3倍以上　　丰富的衍射仪附件，满足不同分析目的需要　　衍射仪各种功能附件自动识别　　模块化设计或称即插即用组件，操作人员不需要校正光学系统，就能正确使用衍射仪相应附件数据处理软件包括以下功能　　基本数据处理功能（寻峰、平滑、背景扣除、峰形拟合、峰形放大、谱图对比、Kα1、α2剥离、衍射线条指标化等）　　无标准样品快速定量分析　　晶粒尺寸测量　　晶体结构分析（晶胞参数测量和精修）　　　　　　　　　　　　宏观应力测量和微观应力计算　　多重绘图的二维和三维显示　　衍射峰图群聚分析　　衍射数据半峰宽校正曲线　　衍射数据角度偏差校正曲线　　基于Rietveld常规定量分析　　使用ICDD数据库或是用户数据库进行物相定性分析　　使用ICDD数据库或是ICSD数据库进行定量分析

组合式多功能X射线衍射仪和高分辨率X射线衍射仪广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料。可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。广泛应用于粘土矿物、水泥建材、环境粉尘、化工制品、药品、石棉、岩矿、聚合物等研究领域。DX系列衍射仪是为材料研究和工业产品分析设计的，是常规分析与特殊目的测量相结合的完善产品。　　硬件系统和软件系统的紧密结合，满足不同应用领域学者、科研者的需要　　高精度的衍射角度测量系统，获取更准确的测量结果　　高稳定性的X射线发生器控制系统，得到更稳定的重复测量精度　　各种功能附件满足不同测试目的需要　　程序化操作、一体化结构设计，操作简便、仪器外型更美观X射线衍射仪是揭示材料晶体结构和化学信息的一种通用性测试仪器：　　未知样品中一种和多种物相鉴定　　混合样品中已知相定量分析　　晶体结构解析（Rietveld结构分析）　　非常规条件下晶体结构变化（高温、低温条件下）　　薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度　　微区样品的分析　　金属材料织构、应力分析完善的品质与卓越性能的结合　　DX系列衍射仪除了基本功能外，可快速配置各种附件，具有很强的分析能力　　高精度的机械加工，使附件安装位置的重现性大大地提高，软件自动识别相应附件，不需要对光路进行校准，附件安装实现即插即用，最简单的操作就可满足特殊目的测量的需要。高性能与实用的紧密结合　　基于θ-θ几何光学设计，便于样品的制备和各种附件的安装　　金属陶瓷X射线管的应用，极大提高衍射仪运行功率　　封闭正比计数器，耐用免维护　　硅漂移探测器具有优越的角度分辨率和能量分辨率，测量速度提高3倍以上　　丰富的衍射仪附件，满足不同分析目的需要　　衍射仪各种功能附件自动识别　　模块化设计或称即插即用组件，操作人员不需要校正光学系统，就能正确使用衍射仪相应附件数据处理软件包括以下功能　　基本数据处理功能（寻峰、平滑、背景扣除、峰形拟合、峰形放大、谱图对比、Kα1、α2剥离、衍射线条指标化等）　　无标准样品快速定量分析　　晶粒尺寸测量　　晶体结构分析（晶胞参数测量和精修）　　　　　　　　　　　　宏观应力测量和微观应力计算　　多重绘图的二维和三维显示　　衍射峰图群聚分析　　衍射数据半峰宽校正曲线　　衍射数据角度偏差校正曲线　　基于Rietveld常规定量分析　　使用ICDD数据库或是用户数据库进行物相定性分析　　使用ICDD数据库或是ICSD数据库进行定量分析

产品介绍： 1.产品概述： STADIVARI是STOE公司推出的一款具有划时代意义的新型单晶衍射仪，配备微聚焦点光源（可选双靶或液态金属靶）、三维聚焦镜、Pilatus探测器、OPEN Eulerian Cradles四圆测角仪，完美兼容高压DACs、高低温附件等，是目前市面上配置高、性能先进的单晶衍射仪；广泛应用于化学晶体学、分子生物学、药物学、矿物学和材料科学等方面的分析研究。 仪器主要用于测定新化合物（晶态）分子的准确三维空间（包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度）及分子在晶格中的实际排列状况，可以提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型及构象等结构信息。2.产品特点： 新一代Genix 3D微聚焦点光源； 三维全反射多层膜聚焦镜； OPEN Eulerian Cradles 四圆测角仪； 大样品空间，支持原位实验； 高性能 Pilatus 混合像素探测器，零噪音，单光子计数能力； 完美支持高压DACs、高低温样品台等附件。

产品简介：D8 ADVANCE X射线衍射仪，采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过TWIST TUBE技术，使用户可以在1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换，让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史。高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰（注意不是一个衍射峰）的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度，布鲁克AXS公司提供全球保证。先进的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍，不仅答复提高设备的使用效率， 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。产品参数：型号D8 ADVANCETheta立式测角仪角度范围-110-168°角度精度0.0001°Cr/Co/Cu靶标准尺寸光管探测器林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器仪器尺寸1868x1300x1135mm重量770Kg产品特点：TWIN / TWIN 光路布鲁克获得专利的TWIN-TWIN光路设计极大地简化了D8 ADVANCE的操作，使之适用于多种应用和样品类型。为便于用户使用，该系统可在4种不同的光束几何之间进行自动切换。该系统无需人工干预，即可在Bragg-Brentano粉末衍射几何和不良形状的样品、涂层和薄膜的平行光束几何以及它们之间进行切换，且无需人工干预，是在环境下和非环境下对包括粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在内的所有类型的样品进行分析的理想选择。动态光束优化（DBO）布鲁克独有的DBO功能为X射线衍射的数据质量树立了全新的重要基准。马达驱动发散狭缝、防散射屏和可变探测器窗口的自动同步功能，可为您提供无与伦比的数据质量——尤其是在低2Θ角度时。除此之外，LYNXEYE全系列探测器均支持DBO：SSD160-2，LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。LYNXEYE XE-TLYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探测器的旗舰产品。它是目前市面上一款可采集0D、1D和2D数据的能量色散探测器，适用于所有波长（从Cr到Ag），具有高计数率和好的角分辨率，是所有X射线衍射和散射应用的理想选择。LYNXEYE XE-T具有优于380 eV的能量分辨率，着实出色，是市面上性能好的的荧光过滤器探测器系统。借助它，您可在零强度损失下对由铜辐射激发的铁荧光进行100％过滤，而且无需金属滤波片，因此数据也不会存在伪影，如残余和吸收边。同样，也无需用到会消除强度的二级单色器。应用范围：物相定性分析结晶度及非晶相含量分析结构精修及解析物相定量分析点阵参数精确测量无标样定量分析应变分析晶粒尺寸分析原位分析残余应力低角度介孔材料测量织构及ODF分析薄膜掠入射薄膜反射率测量小角散射

D8 ADVANCE X射线衍射仪，采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过TWIST TUBE技术，使用户可以在1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换，让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史！高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰（注意不是一个衍射峰）的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度，布鲁克AXS公司提供全球保证！先进的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍，不仅答复提高设备的使用效率， 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。技术指标： ●Theta/theta 立式测角仪 ●2Theta角度范围：-110~168°●角度精度：0.0001度 ●Cr/Co/Cu靶，标准尺寸光管 ●探测器：林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器 ●仪器尺寸：1868x1300x1135mm ●重量：770kg 主要功能●TWIN / TWIN 光路布鲁克获得专利的TWIN-TWIN光路设计极大地简化了D8 ADVANCE的操作，使之适用于多种应用和样品类型。为便于用户使用，该系统可在4种不同的光束几何之间进行自动切换。该系统无需人工干预，即可在Bragg-Brentano粉末衍射几何和不良形状的样品、涂层和薄膜的平行光束几何以及它们之间进行切换，且无需人工干预，是在环境下和非环境下对包括粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在内的所有类型的样品进行分析的理想选择。●动态光束优化（DBO）布鲁克独有的DBO功能为X射线衍射的数据质量树立了全新的重要基准。马达驱动发散狭缝、防散射屏和可变探测器窗口的自动同步功能，可为您提供无与伦比的数据质量——尤其是在低2Θ角度时。除此之外，LYNXEYE全系列探测器均支持DBO：SSD160-2，LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。●LYNXEYE XE-TLYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探测器的旗舰产品。它是目前市面上一款可采集0D、1D和2D数据的能量色散探测器，适用于所有波长（从Cr到Ag），具有高计数率和好的角分辨率，是所有X射线衍射和散射应用的理想选择。LYNXEYE XE-T具有优于380 eV的能量分辨率，着实出色，是市面上性能好的的荧光过滤器探测器系统。借助它，您可在零强度损失下对由铜辐射激发的铁荧光进行100％过滤，而且无需金属滤波片，因此数据也不会存在伪影，如残余K?和吸收边。同样，也无需用到会消除强度的二级单色器。布鲁克提供独有的LYNXEYE XE-T探测器保证：交货时保证无坏道！应用:●物相定性分析●结晶度及非晶相含量分析●结构精修及解析●物相定量分析●点阵参数精确测量●无标样定量分析●微观应变分析●晶粒尺寸分析●原位分析●残余应力●低角度介孔材料测量●织构及ODF分析●薄膜掠入射●薄膜反射率测量●小角散射

日本Rigaku 智能多功能X射线衍射仪 Smartlab SE高自动化、多功能衍射仪, 精于形，智于心 易用、智能的全功能X射线衍射仪 多功能X 射线衍射仪装备有多种附件 ，兼具多种用 途 ，例如 ：粉 末 衍 射 、小角散 射 、残余 应 力等多 种 应用。然而，伴随着仪器附件及功能的增加 ，多功能 X射线衍射仪的易用性不断降低 。您是否确定测试人 员选择了最佳的测试条件 ？当进行多种复杂附件切换 的时候，1fE如何确定仪器处于最佳的矫正状态 ？ Smartlab SE 从如下三个方面解答了您 的疑问。 首先，仪器可以通过二维码 自动识别装载于衍射仪上的 组件，井检查相关组件是否满足用户选择的测试 。理 学智能的软件会建议操作人员 更换组件 ，以达到最佳 的测试结果。 其次 ，理学独有的全自动校正操作 ，会在组件安装完 毕后启动。在实验前的自动校正 ，是确保实验数据一 致性 ，咸小实验误差 的唯一方法。 除此之外，全新的Sma「tlab Studio ｜｜ 软件为全新的 Smartlab SE 提供了模块化的衍射功能组件 ，包括仪 器的控制 、衍射数据的分析和生成报告等。Smartlab Studio II 软件的设计思路，源自于理学的简单易用的 设计语言。全新的 Guidance 软件确保即使是初学者 也可以通过软件的“引导”获得与同行专家一样的测试 数据。 引导用户从测试到数据分析 Smartlab Studio ｜｜ 软件包中的Guidance软件可以根 据用户希望完成的测试 ，给出仪器所需硬件配置 ，井 优化测量参数 。对于常见的测试，软件会给出最优化 的仪器配置，井可以 自动化的完成测试序列。由于 Smartlab中使用了独有的组件识别技术 ，因此当测试 人员没有正确配置光路或附件时 ，Guidance 软件可以 告知测试人员。软件参数的优化与硬件组件的智能确 认是Smartlab系统可以胜任所有样品测试的关键 。 可以满足不同应用需求多种光路及附件组合 ，能满足多种用户测试需求 。 简单 、快速的切换不 同的光路几何CBO （交叉先路） 技术与光路自动调整和样品位置矫 正的结合 ，可以使用户在多种光路几何间 ，快速便捷 的切换。 支持多种附件自动进样器 、样品旋转台、变温附件或湿度控制附件 等多种附件可供用户选择。 可满足快速和二维测量的先进的探测器Smartlab SE提供两个先进的检测器 ：D/teX Ultr a 250 高速一维探测器作为标准配置 ，HyPix-400 二维 半导体阵列检 测器 作 为 升级配 置 供 用 户选 择 。 HyPix-400半导体阵列检测器不仅可以在二维模式下 使用，同时还可以切换为零维或一维模式 ，这样极大 的扩展了该检测器的应用范围。 从粉末测试到二维数据采集根据用户的需要，整个仪器的配置可以满足常规粉末样品测试， 或者，复杂的微区或原位测试等要求 。 标准光路配置Bragg-Brentano 聚焦光路．粉末测试定量分析．晶粒尺寸 结晶度 切换至SAXS测量模式 理学专利的交叉光路 （ CBO） 技术 使用CBO光路系统聚焦光路件平行光路 〈通过CBO 转换） SAXS 测试 薄膜测试 聚焦光路悼会聚光路法 （CBO-E)．粉末透射测试聚焦光路件发散光路 （通过CBO α转换）．高峰背比 （P/B） 的粉末测试 切换至微区测量模式HyPix-400检测器搭载HyPix-400 的光路系统装载有HyPix-400 二维探测器的光路．微区测试原filln-situ测试．取向测试 Smartlab SE 产品特征 先进的高速探测器 高分辨率，超快速 一维 X 射线探测器D/teX Ultra250 (0/1D)D/teX Ultra250 一维探测器支持Bragg-Brentano聚焦法测试 ，并且可 以在短时间内获得广角度的粉末衍射峰形 。作为一款高性能的半导 体检测器 ，其极高的能量分辨率可以有效的降低在测试过程中产生 的背景噪音。D/teX Ultra250 高速探测器作为一维探测器使用时 ，可 以检测到极弱的衍射信号 ，同时，该探测器还可以像闪烁计数器一 样，作为零维探测器使用 。 半导体阵列多维探测器 HyPix-400 (OD /1D/20)SmartLab SE搭载了先进的HyPix-400半导体阵列20探测器 。如果说 D/teX Ultra 250可以胜任常规的零维和一维模式读取的话 ，那么大读 取面积的HyPix-40 0 二维探测器在收集二维衍射照片方面具有非常 大的优势，HyPix -400 二维探测器可以在极短的时间内完成晶体取 向评估及广域倒易空 间成像等多种应用。 交叉光路技术 ：CBO （理学专利） CBO 是理学专利的光路切换单元 ，使用CBO仅需要对狭缝更换即可 完成两种不 同的光路几何之间的切换。SmartLab SE 可以根据用户 需求提供三种不同的CBO单元的组合 ：Bragg-Brentano 聚焦光束／平 行光束，B「agg-Brentano 聚焦光束／会聚光束，B「agg-Brentano 聚 焦光束／发散光束。 B旧gg”Brentan 聚焦法 ：衷方法多用于常规粉末 XRD） lj试。 平行光束法 （CBO） ：多层膜抛物面镜使发散的光束变为平行光 。 该光束多用于SAXS ，薄膜样品或表面粗糙样品的测试等。 会聚光束法 （CBO-E） ：发散的光束通过具有椭圆形镜面的多层膜 透镜会聚于被测表面 ，该光路可以在透射模式下提供高角度分辨率 的数据。发散光束法 （CBO α）：光束被平面 多层膜镜单色后，只有 Kα，相 比Bragg-Brentano 可以增加数据的峰背比。 测量及数据分析软件包 Smartlab Studio 11 Sma「tlab Studio II 是一个功能强大、操作界面友好的软件包 ，其中整合了所有的光路调整，数据测试和分析的 功能。用户可以通过不同组件的切换选悻所需的功能 ，例如“测试” 、“粉末数据分析” 、“极图” 、℃DF分析”或“残 余应力”等功能。所有这些功能都集中于 同一个界面友好且容易操作 的软件操作平台。 智能光路感知功能由于光学组件可以被仪器自 动识别 ，使用理学的Guidance 软件可以通过演示动画指导用户更换光路或附件 。除此之外，对于常见的应用 ，软件包中预设有推荐的光路 设置 、样品校正和测量序列 ，可以吗助初学者尽快熟悉井 完成所需的测试。 流程图式的测试引导栏Sma『tlab Studio 川 采用了简洁的流程图式的引导栏，从测 试到数据分析的整个过程中 ，通过提示关键步骤 ，更加直 观的帮助测试人员者理解每步操作。 综合信息管理系统Smartlab Studio II 采用了先进的 SOL数据管理模式，于本 地数据库中高效的管理测试材料信息 、测试数据及数据分 析结果 。SOL数据库具有出色的数据检索和备份功能 ，可以轻松处理海量测试信 息.Smartlab SE 可根据应用需求调整配置反射／透射 模式下的粉末衍射测量反射模式光路配置Bragg-Brentano 聚焦法．平行光束法发散光束法用户可以根据测量需要在反射模式和透射模式 间切换。使 用会聚光束进行透射法测试 ，可以获得更高的强度和更好 的分辨率。0.1 质量分数% 石棉 （温石棉） 分散于碳酸钙中 一束发散的X射线经过平面镜单色后进行衍射实 验 ，相比于传统的 Bragg-Brentano聚焦光路模 式，可以获得更高的信背 比。从衍射实验结果中可以看出，？自量的石棉衍射信号都可 以被检测到 。 透射模式光路配置 聚焦光束法平行光束法（上图展示的是垂直模式下的透射测试光路）分别用反射法和透射法测试药 片的X射线衍射峰 药物片剂一般由含有甜昧的辅料及可食用色素构 成，可以有效的降低药片在吞咽时的苦涩感。药片 表面的成分可以通过反射法进行测试 ，而药片内部的信息可以通过透射法获得。 微区衍射测试采用理学专有的 CBO-f光学附件，该附件可以使X射线会聚于 样品表面，而不再需要调整×射线从线光源到点光源。除此之外，使用D/teX Ult「a250 高速探测器或 HyPix-400 二 维半导体阵列探测器可以快速的检测到微区实验中弱的衍射 信号。 微区测试应用于即刷电路板(1） 电容器 （2) IC 芯片 （3） 焊点 采用CBO-f 和 HyPix-400 测试。 极图／残余应力测试使用线光源在极图测量时 ，可以降低由于使用Schulz狭缝 时，衍射强度随试样倾角的增加而降低的情况 ，其测试效果与点光源一致。软件中的“Pole figure and ODF analysis” 插件可以进行晶体取向分析井且可以通过重新计算得到样品的全极图。 在残余应力测试中 ，使用平行狭缝分析器 （ PSA） 可以有效 的降低由于位移误差造成的峰位漂移 。 重新计算后生成的铝锚片的全相极图 测试中使用了 ，α日 样品台 ，反射附件 ， Schulz挟缝。全相极图是基于三个不 同的 米勒指数面 仆仆，200 和 220 ） 的测试结 果，通过ODF重新计算得来的 。 小角X射线散射（SAXS)SAXS测试可以获得粒径或孔径小于 100nm的材料的分布情 况，衷测试过程中 28角度移动范围小于 10。。SAXS测试过程 中，使用双挟握和平行光光路系 统。／使用真空光路 ，可以减小空气散射的影响 ，从而获得高质量 的数据。 10 SAXS测试分散于 甲苯中的金粒子 （双 狭缝光学系统）原位测试原位 （ In-situ ） 测试技术 ，可以通过测试人员的控制，改变 温度或湿度，同时测量衍射数据的变化。Smartlab SE支持 各种原位测量附件 ，如常见的变温附件 ，湿度控制附件，使 用DSC附件还可以监测样品在热反应前后的变化 。多种原位 附件与HyPix400半导体阵列检测器的结合 ，使得快速的实时 测量成为可能 ，不仅可以鉴定结构的变化 ，还可以检测大尺 寸晶粒和晶面取向的变化。 相变属虫化过程，甲糖宁是一种治疗糖尿病的 药物J 监测其在变温过程中物象的变化。 随着温度的变化，甲糖宁的晶体结构发生改 变。使用二维半导体阵歹I］探测器HyPix-400, 可以监测其在眼热反应 （峰） 前后晶体结构 的变化。

仪器简介：测量微区样品为主的多用途X射线衍射仪，使用大面积面探测器IP。 技术参数 1. X射线发生器功率可配3KW（X光管）及18KW（旋转阳极靶）2. 使用大面积柱状二维面探IP，466mm x 256mm范围为-60度 &ndash +144度 3. 一次收集24. 专用观察样品的CCD摄像头5. 准直器包括800um、300um、100um、50um、30um、（选件10um）6. 入射端前置单色器7. 附件齐全主要特点： 面探微区X射线衍射仪D/max RAPID可以测量无法成型的微小、微量、薄膜、液体等样品。主要的应用有：1. 粉末样品的物相定性2. 薄膜样品的物相分析3. 织构分析4. 应力分析5. 纤维分析6. 高温测试

布鲁克X射线衍射仪XRD-D8 ADVANCE产品特点1）TWIN / TWIN 光路布鲁克获得专利的TWIN-TWIN光路设计极大地简化了D8 ADVANCE的操作，使之适用于多种应用和样品类型。为便于用户使用，该系统可在4种不同的光束几何之间进行自动切换。该系统无需人工干预，即可在Bragg-Brentano粉末衍射几何和不良形状的样品、涂层和薄膜的平行光束几何以及它们之间进行切换，且无需人工干预，是在环境下和非环境下对包括粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在内的所有类型的样品进行分析的理想选择。2）动态光束优化（DBO）布鲁克独有的DBO功能为X射线衍射的数据质量树立了全新的重要基准。马达驱动发散狭缝、防散射屏和可变探测器窗口的自动同步功能，可为您提供无与伦比的数据质量——尤其是在低2Ɵ 角度时。除此之外，LYNXEYE全系列探测器均支持DBO：SSD160-2，LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。3）LYNXEYE XE-TLYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探测器的旗舰产品。它是目前市面上唯一一款可采集0D、1D和2D数据的能量色散探测器，适用于所有波长（从Cr到Ag），具有最高的计数率和最佳的角分辨率，是所有X射线衍射和散射应用的理想选择。LYNXEYE XE-T具有优于380 eV的能量分辨率，着实出色，是市面上性能最佳的荧光过滤器探测器系统。借助它，您可在零强度损失下对由铜辐射激发的铁荧光进行100％过滤，而且无需金属滤波片，因此数据也不会存在伪影，如残余Kß 和吸收边。同样，也无需用到会消除强度的二级单色器。布鲁克提供独有的LYNXEYE XE-T探测器保证：交货时保证无坏道！布鲁克X射线衍射仪XRD-D8 ADVANCE产品优势D8 ADVANCE：XRD、PDF和SAXS分析的解决方案1）0D-1D-2D------所有维度都非常优质的数据质量不论在何种应用场合，它都是您的最佳探测器：最高的计数率、动态范围和能量分辨率 2）DAVINCI------面向未来的多用途采用了开放式设计并具有不受约束的模块化特性的同时，将用户友好性、操作便利性以及安全操作性发挥得淋漓尽致，这就是布鲁克DAVINCI设计 3）≤0.01°2Ɵ ------峰位精度布鲁克独家提供基于NIST标样刚玉（SRM 1976c）整个角度范围内的准直保证 4）D8 ADVANCE—面向未来的X射线衍射解决方案基于独一无二的D8衍射仪系列平台的D8 ADVANCE，是所有X射线粉末衍射和散射应用的理想之选，如：l 典型的X射线粉末衍射（XRD）l 对分布函数（PDF）分析l 小角X射线散射（SAXS）和广角X射线散射（WAXS）l 由于具有出色的适应能力，仅使用D8 ADVANCE，您就可对所有类型的样品进行测量：从液体到粉末、从薄膜到固体块状物。l 无论是新手用户还是专家用户，都可简单快捷、不出错地对配置进行更改。这都是通过布鲁克独特的DAVINCI设计实现的：配置仪器时，免工具、免准直，同时还受到自动化的实时组件识别与验证的支持。l 不仅如此——布鲁克独家提供基于NIST标样刚玉（SRM1976）的准直保证。目前，在峰位、强度和分辨率方面，市面上尚无其他粉末衍射仪的精度超过D8 ADVANCE。 应用范围：l 物相定性分析l 物相定量相分析l 结构解析l 双体分布函数（pdf）分析l 小角散射l X射线反射率l 高分辨率X射线衍射l 倒易空间强度分布图（RSM）l 残余应力l 结构分析技术参数：l 测量直径(与设置有关) ：500mm，560mm，600mml Theta 角转动角度： -110°2Theta168°l 测角仪定位：步进马达加光学编码器l 最小步长：0.0001°l 最大转动速度：20°/sl 探测器: 0-D：闪烁计数器 1-D：LYNXEYE l 微型探测器个数： 2880l 子通道：192l 有效面积：14.4mm×16mml 适合 Cr、Co、Cu、Mo、Ag 靶l 所有探测器确保无坏区。LYNXEYE XEl 能量分辨率：8.5%

高功率X射线衍射仪EVASTAR Y2EVASTAR Y2 高功率X射线衍射仪是一款结合大功率的X射线光源和高探测效率的X射线光子直读二维阵列探测器的桌面型衍射仪，是目前市面上数据测量强度最高的桌面型衍射仪。 EVASTAR Y2 的高压发生器为1200 瓦(40kV,30mA), 测角仪为theta-theta结构，仪器标配的是256X256像素的光子直读探测器，在保证了精确的测量数据的同时，绝大多数的粉末样品测量可以在几分钟内获得强度和信噪比俱佳的衍射数据。 应用领域：粉末衍射，薄膜掠入射（GID）测量，反射率（XRR）测量，残余应力（residual stress）测量 技术参数　　仪器尺寸和重量900毫米X680毫米X550毫米，100公斤X射线管1200WX射线管靶材常规封闭靶，Cu靶或Co靶可选测角仪立式θ-θ，测角仪半径170毫米探测器光子直读二维阵列探测器探测器能量分辨率0.2角度范围0°～150°角度精度±0.01°刚玉粉末的测试数据（10度/分钟）三元材料的XRD谱图，黑色为普通测量模式数据，蓝色的是去荧光模式数据水泥样品的无标样定量分析石墨化度测量微晶玻璃样品的测量三元材料的衍射图谱和结构精修反射式原位电池测量20纳米 ITO/玻璃的反射率测量曲线20纳米 ITO/玻璃的GID测量曲线Al金属残余应力测量数据Al金属残余应力测量计算

布鲁克X射线衍射仪 D2 PHASER 桌面型是德国布鲁克AXS公司新推出的桌面型多晶X射线衍射仪，通过Bragg-Brentano几何，可以获得高质量的衍射数据，用于定性、定量分析、晶粒大小及微观应力分析、结晶度分析以及结构精修。 先进的陶瓷X光管技术、高精度的测角仪、超高强度的探测器，再加上屡获殊荣的软件意味着一个完美的粉末衍射解决方案。当所有这一切都集中在一台桌面型衍射仪身上时，这就是D2 PHASER。技术参数：●Theta / Theta立式测角仪●2Theta角度范围：-3~160°●无需对光●Cr/Co/Cu靶，标准尺寸光管●无需外接计算机，仪器控制、数据采集系统集成化设计●无需外接水冷●无需预校准●90-250V，50-60Hz电源，即插即用主要特点：● 布鲁克X射线衍射仪 D2 PHASER 桌面型 配备了布鲁克新的theta/theta高精度测角仪。得益于这样一项布鲁克专利技术，传统衍射仪的所有组成部分，包括标准化的陶瓷X光管、探测器、多功能计算机的主机、屏幕、鼠标、键盘，以及水冷，现在都可以集中在70×61×60cm这样一个空间内。● 布鲁克X射线衍射仪 D2 PHASER 桌面型配备了与众不同的DIFFRAC.SUITE软件，无论是在研究领域，还是在工业领域，都可以非常方便地实现数据的采集与分析。● 布鲁克X射线衍射仪 D2 PHASER 桌面型可以配备LynxEyeTM林克斯一维阵列探测器。这个在布鲁克大型D8系列衍射仪上，被无数次证明其卓越性能的高速探测器，现在被原封不动地移植到了D2 PHASER身上，使得这台小型衍射仪在性能和价格上达到了一个完美的结合。

X射线衍射晶体衍射仪集所有常规应用于一身的桌面型设计高精度测角仪设计集成在主机内的计算机及屏幕DIFFRAC.SUITE仪器控制、数据采集及分析软件精准的探测器技术 在小型化设计的同时，D2 PHASER又是如何实现她的高性能？首先，D2 PHASER得益于特别设计的的θ/θ高精度测角仪，该技术得到了zhuan利保护。传统衍射仪的所有组成部分，包括标准化的陶瓷X光管、探测器、多功能计算机的主机、屏幕、鼠标、键盘，以及水冷，现在都可以集中在70x61x60cm这样一个空间内。同时，在如此狭小的空间内，D2 PHSAER仍可选配最大6位的自动进样器。其次，D2 PHASER配备了du一无二的DIFFRAC.SUITE软件，无论是在研究领域，还是在工业领域，都可以非常方便地实现数据的采集与分析。最后，也是整台仪器的点睛之笔，D2 PHASER可以配备林克斯一维阵列探测器TM。这个在布鲁克D8系列衍射仪上，被无数次证明其强大性能的高速探测器，现在被原封不动地移植到了D2 PHASER身上，使得这台小型衍射仪在性能和价格上达到了一个完美的结合。上述所有设计理念成就了D2 PHASER这样一台性能优异的桌面型X射线衍射仪，其性能甚至在一定程度上超越了大型衍射仪，同时她还具有大型衍射仪所不具备的特点：可以很方便的搬运、不需要庞大的基础设施，wei一需要的是一个电源插孔！定性定量分析（包括无标样定量分析）结晶度测定物相特性分析（包括：晶胞参数、晶粒大小、微观应力等）结构精修及粉末衍射解结构工业标准尺寸(. 51.5 mm)、适合不同应用的样品架D2 PHASER – 衍射小巨人！梦想成真－多晶样品的定性、定量分析、晶粒大小测定、甚至结构精修和解结构工作都可以通过D2 PHASER这样一台性能优异的桌面型衍射仪来实现了。布鲁克D2 PHASER开启了现代衍射仪的另一扇大门，她可以快速、简便、高质量地完成多晶样品B-B衍射几何下的所有工作。D2 PHASER不仅仅拥有超强的分析能力，同时也非常的灵活，适合测试各种各样的样品。因为不同的材料特性需要采用不同的制样方法，所以D2 PHASER除了配备常规的标准粉末样品架外，还可以提供各种特殊应用样品架：包括适用于微量样品的零背景样品架，粘土样品专用样品架，过滤样品架，以及适合环境敏感样品的密封样品架等等。林克斯SSD-160高速探测器使D2 PHASER如此与众不同的一个主要因素就是布鲁克公司的林克斯SSD-160一维阵列探测器。由160个子探测器组成的林克斯SSD-160探测器，比传统闪烁计数器可以提高强度150倍以上，配备了SSD-160林克斯探测器的 D2 PHASER完全可以媲美高端常规衍射仪。除了强度方面的强大性能，林克斯SSD-160还有非常好的去荧光能力。即使是测量强荧光样品，林克SSD-160斯探测器提供的数据也展示了非常好的信噪比。

我是沈阳亿贝特光电有限公司，我们是一家具有多年生产光学产品经验的专业厂家。产品主要包括：衍射光栅、球面透镜、反射镜、非球面镜、柱面透镜、平面镜等各种高精度的光学元件。我公司依据ISO9001：2015质量管理体系，提供高质量高精度的产品供应给全国客户。现了解到您公司的光谱仪型号，想确认贵司是否会用到衍射光栅、球面透镜、反射镜等光学产品，我们会提供非常有竞争力的价格供您参考。我是沈阳亿贝特光电有限公司，我们是一家具有多年生产光学产品经验的专业厂家。产品主要包括：衍射光栅、球面透镜、反射镜、非球面镜、柱面透镜、平面镜等各种高精度的光学元件。我公司依据ISO9001：2015质量管理体系，提供高质量高精度的产品供应给全国客户。现了解到您公司的光谱仪型号，想确认贵司是否会用到衍射光栅、球面透镜、反射镜等光学产品，我们会提供非常有竞争力的价格供您参考。

面探微区X射线衍射仪D/max RAPID　　测量微区样品为主的多用途X射线衍射仪，使用大面积面探测器IP。 　　技术参数 　　1. X射线发生器功率可配3KW（X光管）及18KW（旋转阳极靶） 　　2. 使用大面积柱状二维面探IP，466mm x 256mm 　　范围为-60度 – +144度?3. 一次收集2 　　4. 专用观察样品的CCD摄像头 　　5. 准直器包括800um、300um、100um、50um、30um、（选件10um） 　　6. 入射端前置单色器 　　7. 附件齐全 　　主要特点： 　　面探微区X射线衍射仪D/max RAPID可以测量无法成型的微小、微量、薄膜、液体等样品。 　　主要的应用有： 　　1. 粉末样品的物相定性 　　2. 薄膜样品的物相分析 　　3. 织构分析 　　4. 应力分析 　　5. 纤维分析 　　6. 高温测试

仪器简介：Miniflex 600系列是世界上体积最小、 重量最轻的便携式X射线衍射仪。主要特点：台式X射线衍射仪MiniFlex600，外型小巧方便，具有近于高端分析仪器的测试性能，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域，是一种适用于大专院校学生实验及研究的X射线衍射仪,特别适合于野外作业进行材料结构解析；Miniflex600系列也是一种适用于工厂生产现场质量管理检查，劳动保护、环境污染测量的X射线衍射仪；Miniflex600系列是世界上体积最小、重量最轻的便携式X射线衍射仪。* 打破以往X射线分析仪器常规，以小型化和高效能的完美组合刷新了X射线行业的基准；* 外箱采用具有高度安全性的完全密封设计，使仪器移动、安装均能简单自如完成，可充分调整光学系统；* 安装后接入电源即可开始使用，操作简单，初学者也能轻松自如；* 具有超高性价比的MiniFlex 600，为您开创轻松自由的X射线新时代。 技术参数1. 最小最轻的X射线衍射仪。主机宽约560mm，高700mm，深395mm；重量约80kg。2. 功率600W，强度大大提高（上一代产品MiniFlexII最大功率450W）。3. 测角仪精度高、放置样品方便。4. 测角仪配程序式可变狭缝，改善低角度P/B，提高高角度强度。5. 安全设计，放置样品时自动关闭X射线。6. 软件丰富7. 附件可配：计数端单色器，扣除Kβ、荧光X射线，提高P/B比旋转样品台隔绝空气。水蒸气样品台六样品自动交换器高速一维阵列探测器D/teX Ultra2主要的应用软件有：1. 多重记录2. 定性分析3. 定量分析4. ICDD数据库管理5. 环境粉尘专用定量软件

平面全息光栅全息光栅通常用于对杂散光的应用中。其基底镀有光敏材料，将有光敏材料涂层的基板置于由激光器产生的单色光和相干光束组成的相交光束之间，使光敏材料感光。相交激光束产生一系列平行且等距的干涉条纹，条纹强度按照正弦曲线形状变化。由于光敏材料的溶解度由对其照射的光强决定，干涉条纹显示了光敏材料表面不同光强。然后可以对基底镀反射膜然后用与复制刻划的原始光栅相同的过程用于复制。由于全息光栅刻线形状以及刻线间距是完全一致的，所以产生的杂散光远少于刻划光栅。全息光栅可以采用两种凹槽轮廓，正弦和闪耀。 刻线600~4500Lines/mm闪耀波长150-1000nm尺寸公差±0.5mm材料K9镀膜铝类型反射衍射光栅 编号刻线密度光谱范围闪耀或峰值波长刻划面积（l/mm）（nm)（nm）（H×W mm2）GH-1111200190-80022064×64GH-1121800190-100025064×64GH-1132400190-80025070×100GH-1143600170-50019070×100GH-1154321160-45017058×58注：以上参数仅供参考，详情请咨询客服人员。

X射线衍射利用X射线在晶体中的衍射现象来获得衍射后X射线信号特征，经过处理得到衍射图谱。通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。FRINGE C1600是公司自主研发的一款多功能X射线衍射分析仪器，是材料研究、生物医药、矿物、塑料制品、半导体等众多领域分析应用的理想工具。FRINGE C1600可快速对粉末、块状或薄膜等形态的样品进行以下分析：物相定性和定量 晶体结构以及取向的测定 结晶度测定 晶粒尺寸测定 宏观及微观应力的测定 点阵参数测定......使用优势θ-2θ联动测角系统专利新型θ-2θ耦合联动测角系统，单轴驱动机构，精约简省，立志非凡。多道分析系统采用数字多道分析技术，无需单色器即可分辨出衍射峰和荧光干扰，提高衍射强度。。适合所有人的XRDCrystalX在获得衍射数据后，自动进行物相分析，并给出物相各组分百分比，大大降低了使用人员的要求，仅仅需要点击“开始测试”，其它交给CrystalX 软件 吧。安全性具有在测试过程中自动切断保护装置、安全联动锁装置，样品舱关闭后属于全封闭性能，操作界面有样品舱关闭提示功能。集成式索拉狭缝集成式索拉狭缝，无任何运动可调部件，增加测角系统的可靠性，从而使得仪器可安装于车载实验室平台。应用领域钛白粉 聚合物材料 水泥 工业陶瓷材料 锂电池行业 生物制药 滑石粉 其他领域 规格参数 测角仪θ-2θ联动立式测角仪、衍射圆半径 150mm2θ角度范围-3° - +150°2θ角度精度全谱范围内＜±0.02°偏差分辨率0.04°2θ 半峰宽FWHM索拉狭缝集成式索拉狭缝，无任何运动可调部件，增加测角系统的可靠性X光管金属陶瓷 X 射线管，焦点：1 x 10 mm，默认配置Cu靶，可选配 Co、Cr、Mo靶高压发生器功率标配1200W，最大支持1600W仪器尺寸580 x 450x 680mm（L×W×H）重量120KG电源220V±10V，50Hz，整机功率 2000W散热方式FRINGE C1600使用外置水循环冷却系统，强力冷却澎湃动力探测器DPPC探测器接口紧凑的家用墙插插头提供电源，USB接口连接PC用于控制XRD

仪器简介：Miniflex 600系列是世界上体积最小、 重量最轻的便携式X射线衍射仪。主要特点：台式X射线衍射仪MiniFlex600，外型小巧方便，具有近于高端分析仪器的测试性能，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域，是一种适用于大专院校学生实验及研究的X射线衍射仪,特别适合于野外作业进行材料结构解析；Miniflex600系列也是一种适用于工厂生产现场质量管理检查，劳动保护、环境污染测量的X射线衍射仪；Miniflex600系列是世界上体积最小、重量最轻的便携式X射线衍射仪。* 打破以往X射线分析仪器常规，以小型化和高效能的完美组合刷新了X射线行业的基准；* 外箱采用具有高度安全性的完全密封设计，使仪器移动、安装均能简单自如完成，可充分调整光学系统；* 安装后接入电源即可开始使用，操作简单，初学者也能轻松自如；* 具有超高性价比的MiniFlex 600，为您开创轻松自由的X射线新时代。 技术参数1. 最小最轻的X射线衍射仪。主机宽约560mm，高700mm，深395mm；重量约80kg。2. 功率600W，强度大大提高（上一代产品MiniFlexII最大功率450W）。3. 测角仪精度高、放置样品方便。4. 测角仪配程序式可变狭缝，改善低角度P/B，提高高角度强度。5. 安全设计，放置样品时自动关闭X射线。6. 软件丰富7. 附件可配：计数端单色器，扣除K&beta 、荧光X射线，提高P/B比旋转样品台隔绝空气。水蒸气样品台六样品自动交换器高速一维阵列探测器D/teX Ultra2主要的应用软件有：1. 多重记录2. 定性分析3. 定量分析4. ICDD数据库管理5. 环境粉尘专用定量软件

反射高能电子衍射仪（Reflection High-Energy Electron Diffraction）是观察晶体生长最重要的实时监测工具。它可以通过非常小的掠射角将能量为10～30KeV的单能电子掠射到晶体表面，通过衍射斑点获得薄膜厚度，组分以及晶体生长机制等重要信息。因此反射高能电子衍射仪已成为MBE系统中监测薄膜表面形貌的一种标准化技术。　　R-DEC公司生产的反射式高能电子衍射仪，以便于操作者使用的人性化设计，稳定性和耐久性以及拥有高亮度的衍射斑点等特长得到日本国内及海外各研究机构的一致好评和认可。特长 ◆可远程控制调节电压，束流强度，聚焦位置以及光束偏转◆带有安全闭锁装置◆镍铁高导磁合金磁屏蔽罩◆拥有高亮度衍射斑点◆电子枪内表面经特殊处理，能实现极低放气率◆经久耐用，稳定可靠◆符合欧盟RoHS指令 　　低电流反射高能电子衍射仪（Low Emission Reflection High-Energy Electron Diffraction）是利用微通道板技术，大幅减少对样品损伤的同时，并且保证明亮反射电子衍射图像的新一代低电流反射高能电子衍射仪。可以用于有机薄膜材料等结晶结构的分析研究。特长◆大幅度减少电子束对样品的损伤（相当于普通RHEED的1/500-1/2800）◆带有安全闭锁装置◆搭载高亮度微通道板荧光屏◆可搭载差动抽气系统◆kSA400 RHEED分析系统兼容◆符合欧盟RoHS指令

Thermo Scientific ARL EQUINOX 100 X 射线衍射仪体积精巧、价格亲民，是专门设计用于 QA/QC、科研和常规 X 射线衍射应用的专用 XRD 仪器。这一便携式单机台式仪器的占地空间只有传统衍射仪的三分之一，实现了真正的灵活性。它无需外部水冷，且可插入标准电源插座。这一仪器简化了操作流程，同时不会影响速度或性能。得益于专用的实时检测模式，测量在几秒钟内即可完成。市场上选择面较广的台式 XRD（透射和反射模式）样品架可随处安装和使用、非常小巧的台式 XRD高样品处理量（分析时间短）独特的 ARL EQUINOX 弧形检测器能够同时测量宽角度范围内的所有衍射峰。对于不同的分辨率要求，均能在几分钟内完成样品的分析。实时测量 110° 2Ø 无需扫描高强度光学微焦点 X 射线源无需外部水冷，可插入标准电源提供许多样品架，可用于：透射和反射模式下的粉末、块体、薄膜、原位研究以及自动分析，这归功于专用的样品转换器易于使用和安装在各种环境中：实验室、移动实验室、货车处理和应用：相鉴别、定量、结晶度、细胞参数、晶体尺寸、晶格应变、晶体结构、Rietveld 分析、过渡相、薄膜分析（GIXRD、XRR）

弯晶产品系列1、弯晶概述北京泰坤工业设备有限公司开发各类型X射线衍射弯晶。提供多种材料的弯晶制备， 如石墨、氟化锂晶体系列、锗和硅等；同时致力于开发多种 结构的弯晶构型，包括约翰型、约翰森、对数螺线、椭球和 Von Hamos等。弯晶广泛应用于单色X射线荧光激发、同时多道型波长色 散X射线荧光光谱仪、双弯晶X射线荧光测量、以及弯晶谱 仪和中子衍射等领域。北京泰坤的服务范围涵盖了弯晶的设计、制作和测试， 并提供一站式的弯晶套装解决方案。2、工作原理弯晶的设计原理基于布拉格衍射定律，即当入射X射线与晶体晶格相互作用时，会发生衍射现象。通过合理选择材料和弯晶的形状，能够精确控制X射线的衍射效应，从而实现X射线的单色反射聚焦。由 于X射线对所有物质的折射率接近为1，衍射是极少数能改变X射线传播方向的方案之一，使得弯晶成为 重要的X射线光学器件。双曲结构的弯晶还可以实现单色X射线的点对点聚焦。 3、弯晶材料北京泰坤进行了大量的对比测试，对各种弯晶材料进行了全面的研究，总结出相应的的性能特点，可以为客户提供优化设计的支持。弯晶石墨LiF200、LiF220及LiF420Ge(111)Si(111)反射率++++++-稳定性++++++++导热性+++++++4、弯晶构型北京泰坤可以提供多种构型的弯晶，并对各种弯晶构型做了详细测试，综合出各构型差异。还可承接椭球和Von Hamos等构型弯晶的设计、制作与集成业务。5、行业应用1.弯晶是X射线荧光光谱(XRF)分析的重要发展方向。北京泰坤生产的弯晶可用于Cr靶、Rh靶、Ag靶以及Ce靶光管的单色特征X射线点对点聚焦。通过弯晶的应用，XRF能够在激发端有效降低荧光背景，检出限相比传统能谱方案降低一个数量级，如硫的检出限可达到1ppm以下，符合ASTM D7220标准。2.发射端采用弯晶单色聚焦，部分重元素的检出限降低至0.04ppm水平。 3.当激发和发射端同时采用弯晶时，检出限相比传统能谱测量方案可降低1-2个数量级，测硫方案符合ASTM 7039标准；部分元素的检出限可达到ICP-OES检测水准。4.弯晶在同步辐射光源、加速器和重离子检测等领域的X射线精细光谱分析中具有重要应用价值，还可以应用于中子衍射领域。5.北京泰坤提供完整的弯晶套件服务，将设计、制作和调试打包成一体，为客户提供一站式的解决方案。客户只需提供光管和探测器，即可开始工作。我们致力于为客户提供高质量的服务和支持，保证客户能够充分利用弯晶技术的优势。

X射线单晶衍射仪 D8 结晶解决方案 — 单晶 X 射线衍射 (SC-XRD) 的质量和多功能标准结晶是确定小分子和大分子结构的zui明确方法，且单晶 X 射线衍射可以通过其他科学无法企及的方式，提供准确、精确的分子大小测量结果。Structural Biology D8 QUEST和D8 VENTURE 提供广泛的 X 射线源及光学器件，以及测角仪选项。D8 QUEST 是一种体型小巧、经济实惠的高性能单一 X 射线源配置，适用于化学结晶等典型用途，而D8 VENTURE 为化学和生物结晶的双波长组合提供平台。 D8 QUEST 是一个专为单波长试验而设计的紧凑型解决方案，配备有革新性的 PHOTON 100 CMOS 探测器。该系统可以在较小的空间里高度灵活的进行试验，可十分方便的拿取物品并具备较高的样品可视性。 根据 DAVINCI.DESIGN 原理，该系统使用zui好的组件进行高度模块化设计，并且具有完全气冷配置。因此，D8 QUEST 能够提供完全符合您的研究需求的解决方案。保证提供zui好的结构。系统参数：具备 CMOS 技术的全新 PHOTON 100 探测器100 平方厘米的大型有效面积高灵敏度气冷3 年保修密封 X 射线源Mo or Cu radiation经济划算的解决方案可选 3 倍强度的 TRIUMPH全新的高亮度 IμS 微聚焦 X 射线源Mo or Cu or Ag radiation强度zui多增加 60%气冷 (观看我们的 Air-Cooled 视频)3 年保修提供zui佳的软件APEX2 是适用于化学晶体的zui完整套件PROTEUM2 现在具有一个适用于结构生物学的数据处理线路完全集成的低温装置（可选） D8 VENTURE 的试验装置放置在更为宽敞的外壳内，还为旋转阳极提供空间以及双波长解决方案。所有系统均配备革新性 PHOTON 100 CMOS 探测器。 D8 VENTURE 提供zui高的试验灵活性，可十分方便地拿取物品并具备较高的样品可视性。获专利的门可采用滑门模式或双开式弹簧门模式打开。该系统使用zui好的组件进行高度模块化设计，并且具有完全气冷配置。 因此，D8 VENTURE 能够提供完全符合您的研究需求的解决方案。保证提供zui好的结构。系统参数：具备 CMOS 技术的全新 PHOTON 100 探测器 100 平方厘米的大型有效面积高灵敏度气冷提供三年保修密封X 射线源 Mo or Cu radiation经济型解决方案可选 3 倍强度的 TRIUMPH全新的高亮度 IμS 微聚焦 X 射线源Mo or Cu or Ag radiation强度增加高达 60%气冷 (观看气冷演示视频)提供三年保修微聚焦 TXS 旋转阳极紧凑型直接驱动，维护量低细丝经预先结晶和预先校准METALJET 适用于结构生物学的革新性液态金属 X 射线源适用于更小、更具挑战性样品的zui高 X 射线强度室内源使用镓放射自生式标靶，降低背底散射和放射损伤购置成本低，正常运行时间长测角仪FIXED-CHIKAPPABest goniometer precision选择一个带有小于 7 微米弥散球的测角仪，确保即使是zui小的样品，也能稳固地放置在 X 射线束的中心先进安全外壳 符合zui严格的辐射安全规范符合新机械指令提供zui佳的软件 APEX2 - 适用于化学晶体学的zui完整套件PROTEUM2 - 现在具有一个适用于结构生物学的数据处理线路完全集成的低温设备（可选）设备咨询电话：（微信同号）；QQ：；邮箱：欢迎您的来电咨询！

X射线衍射基本原理：当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关。土壤粘粒矿物是土壤中带电荷粒子之间进行相互作用的主体。研究表明，粘粒矿物的种类有十几种，主要类型有绿泥石、高岭石、伊利石、蒙脱石和伊/蒙混层矿物。粘粒矿物种类不同地区分布不同，其含量也在不同地区有很大差异，而各个储层在平面和纵向上相差很大。映SHINE便携式X射线衍射仪（土壤版）是浪声专为黏土矿物鉴定而研发的一款便携式X射线衍射设备，其可以基于不同的黏土矿物的晶体构造，快速鉴定出粘粒矿物具体种类以及其所占的百分含量，即便是细微粒状的矿物也能准确判定，具有制样简单、快捷、测量精度高等优点，是粘粒矿物鉴定的主要方法。使用优势便携式仪器采用防水防尘箱一体机设计，无任何机械移动部件，轻便小巧，方便携带，可自由进行实验室/野外现场科学研究。简便性仪器一键式操作，无需校正，自动检测。实时显示全谱衍射图，自动进行物相分析，一键生成定量结果。制样简单单次分析仅需要约20毫克的样品即可获得优质的检测结果并可以减小或避免择优取向问题。数据传输仪器通过USB, 蓝牙，WIFI与笔记本电脑实现高速连接，实时对映SHINE仪器进行控制及物相分析。二维X射线衍射仪仪器配备电荷耦合装置（CCD）探测器，可以采集衍射环的切片，以帮助用户了解是否正确制备了样品（粒子统计和/或晶粒的择优取向）。从而进一步帮助用户确认所获得的定性定量数据是否具有准确性和代表性。配置灵活根据用户具体应用的需要，为客户提供Cu/Co靶材两种不同的阳极靶材。应用场景 农业绿色发展 土壤污染治 理 环境指示研究 规格参数XRD分辨率0.2°@2θ FWHMXRD范围5-55°2θ探测器2000 X 256像素，2维3级Pelter制冷CCDX射线管靶材集束微焦斑X射线管，Cu 或 Co、Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、W 靶(可根据检测样品选配)X射线管电压50kV最大，0-50kV可调节X射线管功率40W最大，0-40W可调节XRF能量分辨率127eV@8keVXRF检测范围Mg(镁)—U(铀)样品颗粒大小样品颗粒150um (100目筛)散热方式水冷样品量约20mg工作温度 -10°C-35°C重量15KG电源锂离子电池或电源适配器尺寸500×400×188mm（L×W×H）CrystalX分析软件语言中文、英语等多国语言

SHINE便携式X射线衍射仪是浪声科学结合XRD、XRF和计算机软件等多项技术，自主研发的一款便携式X射线衍射设备。仪器通过对样品进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息（材料主要成分、次要成份或微量成份的全晶相ID信息），具有制样简单、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点，是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。SHINE在X射线束穿过样品的位置处使用透射几何技术，微聚焦X射线管发射X射线束通过准直器照射在样品池中的粉末颗粒，独特的振动系统使得粉末颗粒更多的晶面暴露在X射线束下，在满足布拉格定律时发生衍射现象从而在CCD上采集衍射图谱。样品池中的样品量固定不变，因此样品密度的变化不会影响分辨率。这个特点对于低密度材料尤其重要，如：药物样品，与基于反射几何技术的仪器相比，仪器在穿透性能固定的情况下可以获得更高的分辨率。使用优势便携式仪器采用防水防尘箱一体机设计，无任何机械移动部件，轻便小巧，方便携带，可自由进行实验室/野外现场科学研究。集成性XRD与XRF技术集成，在每次检测中，能够同时采集XRD和XRF的X射线光子数据，提供物质成分、物相及结构信息，从而促进检测结果更加精准。简便性仪器一键式操作，无需校正，自动检测。实时显示全谱衍射图，自动进行物相分析，一键生成定量结果。制样简单单次分析仅需要20毫克左右的样品即可获得优质的检测结果，样品制备无需制片、压片、刮平等，3分钟即可完成样品制样（粉碎、滤筛、装样）。数据传输仪器通过USB, 蓝牙，WIFI与笔记本电脑实现高速连接，实时对映SHINE仪器进行控制及物相分析。安全性专业的多重防护辐射处理，测量时仪器全方位无任何辐射泄漏。应用场景生物医药环境监测地质勘探教育与研究金属化合物化学与催化剂规格参数XRD分辨率0.2°@2θ FWHMXRD范围5-55°2θ探测器2000 X 256像素，2维3级Pelter制冷CCDX射线管靶材集束微焦斑X射线管，Cu 或 Co、Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、W 靶(可根据检测样品选配)X射线管电压50kV最大，0-50kV可调节X射线管功率40W最大，0-40W可调节XRF能量分辨率127eV@8keV样品颗粒大小样品颗粒150um (100目筛)散热方式水冷样品量约20mg工作温度 -10°C-35°C重量15KG电源锂离子电池或电源适配器尺寸50×40×18.8cm（L×W×H）CrystalX分析软件语言中文、英语等多国语言

特点Omega/Theta X射线衍射仪是一个全自动的垂直三轴衍射仪，使用Omega扫描和Theta扫描方法以及摇摆曲线测定各种晶体的方位。大而宽敞的设计可以容纳长达450毫米和30公斤的重量和样品架。所有的测量都是自动化的，可以通过用户友好的软件界面进行访问。利用Omega扫描，可以在晶体旋转(5秒)中确定完整的晶格方向。Theta扫描更加灵活，但每次扫描只产生一个方向分量。可以非常精确地确定倾斜角度，使用Theta扫描到0.001°。对于所有其他的晶体方向，精度取决于垂直于表面的角差。该系统是模块化的，并配备了许多不同的扩展用于特殊目的，如形状或平面的确定，绘图和不同的样品架。样品的倾斜度是通过光学测量来检测的，可以用来校正最终的方向。单晶衍射仪 Omega扫描图（SiC） 涡轮叶片，一个方向组件的映射图 (Si, Ge)晶圆，定向图 晶格参数映射图 全自动单晶完全晶格取向测量使用Omega扫描方法的超高速晶体定位测量自动摇摆曲线测量衍射仪的角分辨率：0.1弧秒。样本大小可达450毫米适合于生产质量控制和研究用户友好和成本效益样品处理方便，操作方便先进的,用户友好的软件低能耗，低运营成本模块化设计和灵活性各种升级选项定制用户的需求Omega/Theta X射线衍射仪的应用具有多种几何形状和大小的样品 单晶的工业合成从大而重的晶体开始，到小块如晶圆或坯。实验生长产生微小的圆柱体。根据材料和产量的不同，晶体样品可以表现出多种尺寸和几何形状。Omega/Theta X射线衍射仪可以处理大块钢锭或钢球和实验合成的微小晶体。非线性光学材料(NLO)：晶体质量和定向 与典型的无机金属、半导体和绝缘体相比，NLO材料具有更复杂的晶体结构和更低的对称性。这种结构创造了一个高度各向异性的环境，光通过晶体，并导致他们的特殊性质。这些晶体通常被切割成尺寸在毫米范围内的小棒，作为频率倍增器和光学参量振荡器的有源元件。对这种小晶体的表面质量测定常常可以揭示晶体内部的结构缺陷和裂纹。这些材料的大单位晶胞是Omega扫描方法的一个挑战。我们能够确定许多NLO材料，如LBO, BBO和TeO2的Omega扫描参数的最重要的方向。对Omega/Theta的设计进行了一些特殊的修改，以涵盖几种不同材料的NLO能力。平面方向的标记和测量 Omega扫描能够在一次测量中确定完整的晶体方位。因此，平面方向可以直接识别。这是一个有用的功能，以标记在平面方向或检查方向的单位或缺口。在晶圆片的注入和光刻过程中，平面或凹槽作为定位标记。经过加工后，晶圆片携带数百个芯片，需要通过切割将其分离。晶片必须正确地对准晶圆片上易于切割的晶格面。因此，检查平台或缺口的位置是必要的。为了确定平面或缺口的位置，必须测量平面内的部件。该仪器通过旋转转盘，可以将任何平面方向转换成用户指定的特定位置。这简化了将标记应用到特定平面方向的任务，例如必须定义平面方向时。对于高吞吐量应用程序，可提供自动测量解决方案。摇摆曲线:晶体表面评价 摇摆曲线测量对晶格内的缺陷和应变场很敏感。将这种技术与映射阶段相结合，可以扫描晶体表面并确定缺陷区域。在晶格匹配的薄膜中，摇摆曲线也可以用来研究层厚、超晶格周期、应变和成分剖面、晶格失配、三元结构和弛豫。晶圆片表面必须达到非常高的清洁和均匀性标准。制造商正努力使晶体的位错和缺陷尽可能少。特别是在碳化硅方面，消除错位为这种材料提供了新的应用领域。通过装备一个具有映射阶段和双晶体的Omega/Theta衍射仪，可以测量晶体表面某一反射的摇摆曲线映射。图像显示的结果，这种映射的碳化硅晶圆。晶圆片的内部呈现出两到三倍于摇摆曲线的FWHM。这可能与表面划痕或生长缺陷有关。

BTX III X射线衍射（XRD）分析仪是一款机身小巧的台式分析仪，可以快速为用户提供矿物主要成分和次要成分的可靠的定量性矿物学信息。BTX III分析仪配备有一个独特小巧的样品托盘，可以替代传统的台式XRD仪器，而且重量很轻，几乎无需维护。奥林巴斯物相分析仪，可检测矿石，药品，石油等行业，详询私聊。BTX III仪器可以为各种应用快速完成矿物识别，其中包括以下应用：矿物与矿石富铁矿石：分析富含铁的矿石，即使在某些矿物相完全不存在的情况下。石英赤铁矿针铁矿磁铁矿碳酸钾：分析碳酸钾，以对某些辨别出的矿物进行晶相识别和半定量分析，其中包括以下矿物：钾盐岩盐无水钾镁矾钾镁矾石灰石和水泥：轻松地对混有石灰石的普通矿物进行定量性XRD分析。在采石场中的矿石含有不同含量的白云石时，使用这款分析仪可以快速确定白云石含量范围在0.5%到9%的矿石，误差仅为0.02%。α-石英石棉矿石方解石白云石煤中的方解石：对方解石（CaCO3）进行定量分析，方解石是一种会降低燃煤电厂中原材料燃料的燃烧效率的矿物，对方解石的辨别可以提高燃烧效率，并减少碳排放量。用于岩石和煤渣样品研究的XRD分析，用于测井、水平钻井和地质导向的XRD分析。石油和天然气测井/泥浆录井：对油田的页岩岩屑进行矿物识别和定量，以在地质导向和水平钻井的现场迅速获得反馈。简化了对特定矿物层进行“追踪矿脉走向”的工作。• 硅酸盐• 碳酸盐• 粘土• 黄铁矿管线：对能量敏感的探测器可以优化峰背底，以辨别和定量管线中的腐蚀材料。还可以同时进行XRF测量，以快速辨别材料的元素成分。• 方铁体（FeO）、赤铁矿（Fe2O3）、针铁矿（FeO(OH)）、黄铁矿（FeS2）• 方解石（CaCO3）、文石（CaCO3）尾矿：可以方便地对尾矿进行重新分析，以判断工厂的操作性能，或者对以往的项目进行评价。制药• 快速辨别不合格药品。• 对药品的制剂和前体进行快速无损的指印分析。• 对药物中的活性和非活性的外来成分或替代成分的存在状况及含量进行检测。• 快速XRD分析有助于确保病人的安全并保护合法制药商的品牌。• 用于制药业的矿物辨别