场发射俄歇谱仪

热场发射和Schottky式场发射之间究竟是一个什么关系?当前市场上采用Schottky式场发射的电镜产品除FEI外,是否还有其他厂家?[em24] [em24] [em24] [em24] [em24] [em24] [em24] [em24] [em24]

发射谱，通常称为荧光谱。在特定激发波长情况下，一段发射波长和该波长荧光强度对应曲线。如果是扫描光谱仪，激发波长选择后，发射侧光栅扫描，发射单色仪的波长对应检测器强度的曲线；如果是CCD检测器，就是对应像素的波长和强度的关系。光栅可能也需要扫描来侧高分辨率的宽范围的图谱。测量时为了提高信噪比，可以在激发侧加带通滤光片来最大限度抑制杂散光，在发射侧添加高通滤光片（低通，上转换时候）来消除二次散射光。通常设定激发波长后，发射范围设定不要包括激发波长，当然，PLQY特殊测试要求除外。要考虑检测器的响应线性区间。

场发射扫描电镜和场发射环境扫描电镜设备有什么区别是多了什么功能吗？这两台设备都能测卤族元素中的氯吗？ 检出限各是多少？ 这两台设备都配备能谱仪吗？谢谢

[em06] 不同激发波长对发射光谱最大强度波长位置有影响吗?为什么我作出的发射谱的位置随激发波长的改变而改变?发射波长和激发波长的大体有怎样的对应关系?我做出结果都是λEm=2λEx，这结果是不是有问题，一般情况下是不是λEm应该位于λEx+20至2λE-20nm之间？谢谢!

等离子体发射光谱仪分类与“全谱直读”一词陆文伟上海交通大学分析测试中心, 上海　200030摘　要　本文从仪器结构原理上讨论了当前国内在新型等离子体发射光谱仪分类命名上的问题。指出“全谱直读”一词用于仪器分类的不严谨性。提仪使用固态检测器等离子体发射光谱仪作为分类词。主题词　等离子体发射光谱仪 中阶梯光栅 固态检测器 全谱直读中图分类号:O657131 　　文献标识码:B 　　文章编号:100020593 (2002) 0220348202　收稿日期:2000208205 ,修订日期:2000212212　作者简介:陆文伟,1951 年生,上海交通大学分析测试中心高级工程师　　早期国外把等离子体发射光谱仪( ICP2OES) 仪器分成同时型(Simultanous) 和顺序型(Sequential) 二类。国内把色散系统区分为多色器(Polychromator) 、单色器(Monochromator) ,仪器则从检测器来区分,命名为多通道型(多道) ,顺序型(单道扫描) 仪器[ 1 ,2 ] 。其仪器的分类命名与仪器功能,仪器结构基本一致,与国外的仪器分类也一致。ICP2OES 仪器在其发展期间,又有N + 1 的单道与多道结合型仪器出现,以及有入射狭逢能沿罗兰圈光学平面移动,完成1～2 nm 内扫描,能获得谱图的多道仪器出现,但总体上仍没动摇仪器的原始分类。1991 年新的中阶梯光栅固态检测器ICP2OES 仪器问世,新的仪器把中阶梯光栅等光学元件形成的二维谱图投影到平面固态检测器的感光点上,使仪器同时具有同时型和顺序型仪器的功能,这样形成了新一类的仪器。从它的信号检出来看,它与同时型仪器很接近,故有的国外文献仍把它简单归为同时型(Simultaneous) 仪器。但更多的是从仪器的硬件结构上出发,采用中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪“Echelle grating solid state detector ICP2OES”的命名。1993 年该类仪器进入中国市场,国内仪器广告上出现“全谱直读”一新名词。随着该类仪器的推广使用,该名词逐渐渗入期刊杂志,教科书,学术界,甚至作为仪器分类词出现在《现代分析仪器分析方法通则及计量检定规程》[ 3 ]中。纵观国外涉及到中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪的期刊杂志,书籍和文献均未使用到该词或与之意思相近的词。甚至各仪器厂家的英文样本中也无该词出现。实际上“全谱直读”是中文广告词,它不严谨,并含糊地影射二方面意思:11 光谱谱线的全部覆盖性和全部可利用性 21 全部谱线的总体信号同时采集读出。从中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪的光谱范围(英文常采用Wavelength coverage range) 来看,一般仪器都在160～800 nm 左右。如有的仪器在167～782 nm ,有的在165～800 nm ,有的在175～900 nm ,有的在165～1 000 nm ,有的是在122～466 nm 基础上另加590 ,670 ,766 nm 的额外单个检测器。有的在超纯Ar 装置下短波段区扩展至134nm ,其长波段区能扩展至1 050 nm。很明显所有此类仪器的光谱范围目前离“全谱”还是有距离的,而且仪器厂家还在扩大其光谱范围。再说此类仪器的“光谱范围”,实际上更确切的意思是指可利用的分析谱线波长跨度范围!实际上中阶梯光栅和棱镜所形成的二维光谱图在目前固态检测器芯片匹配过程中,高级次光谱区可以说是波长连续的,不同级次的光谱波长区甚至重迭。而低级次光谱区级次与级次之间的波长区并不衔接,最大可以有20 nm 以上的间隙,其间隙随着级数增大而变小,严格地说也就是仪器的光谱不连续性存在,尽管对有用谱线影响并不太大。另外中阶梯光栅多色器系统产生的二维谱图闪烁区与检测器芯片匹配的边缘效应,固态检测器的分段或分个处理,都会造成使用全部谱线的困难,甚至发生有用谱线的丢失。大面积的固态检测器芯片可望用于光谱仪,光谱级次间波长区的连续性会进一步改善,其波长区复盖也会增大。但仪器制造成本及芯片因光谱级次间波长过多重叠显得利用效率不高,都会形成其发展的阻力。从仪器可利用谱线上看,目前中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪还只能是多谱线同时分析仪器。当然它可利用的谱线要比以前多道发射光谱仪器的谱线(最多六十多条) 多得多。如目前仪器有6 000 多条的,有2 万7 千条的,有在2 万4 千条的基础上再可由使用者在仪器波长区任意定址添加的等等。但这与“全谱”给人的含糊概念,与数十万以上的全部谱线概念相差甚远。就是从全部可利用谱线讲,该类仪器在定量分析时也不等于纪录全部谱线。有的仪器是在定性分析时能纪录所有覆盖谱线。“全谱直读”一词还常常被沿伸到一次曝光像摄谱仪一样工作。直读一词(Direct reading) 出现在摄谱仪之后、光电倍© 1995-2005 Tsinghua Tongfang Optical Disc Co., Ltd. All rights reserved.增管用于发射光谱仪之时。是相对摄片2读片过程变成一步而言。多道发射光谱仪采用该词较多。目前中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪还没有完全达到全部谱线的总体信号同时采集读出的水平。有的仪器分检测器读出,有的仪器分波长区读出,有的仪器分波长区检测器再加几个单个波长检测器读出。固态检测器的曝光与摄片又不同,固态检测器比照相底片更灵活,为了适应样品分析元素高低浓度大小信号的要求,固态检测器灵活处理,有的分区曝光,有的分级扫描曝光,有的级中分二段控制曝光,有的检测器分子阵列(Subarray) 控制曝光,有的从其检测器机理出发分每个感光点(Pixel) 控制曝光。“全谱直读”给人是含糊的印象,不能正确反映仪器的特点。当前新的仪器还在不断涌现,有分级扫描式中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪,有新的多个固态检测器在罗兰圈排列使用的仪器,从检测器硬件结构分类,它们都能方便地归入中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪,或固态检测器等离子体发射光谱仪类别里。而“全谱直读”则明显不能适应。新名词会受到实践和事实的考验。国外文献中名词也有变化的,如电感耦合等离子体原子发射光谱仪的ICP2AES 英文缩写名词,因AES 含义面广,易与俄歇电子光谱[ 4 ]混淆,现在逐渐被ICP2OES 取代。切入实际的名词才会在发展中生存。参考文献　[ 1 ] 　化学试剂电感耦合等离子体原子发射光谱方法通则,中华人民共和国国家标准GB10725289.　[ 2 ] 　发射光谱仪检定规程,中华人民共和国国家计量检定规程J TG768294.　[ 3 ] 　感耦等离子体原子发射光谱方法通则 感耦等离子体原子发射光谱仪检定规程,1997. (第一版) 科学技术文献出版社,现代分析仪器分析方法通则及计量检定规程.　[ 4 ] 　英汉仪器仪表词汇,科学出版社,1987 (第一版) .

用途：SE，SEM拍照，EDS成分分析，另外配阴极发光（CL）拍照发现用普通的扫描电镜照出来的照片不够清晰，所以考虑买台场发射的。请各位大侠推荐一款较好的场发射扫描电镜，同时如果能报一下大概的价位更好了。谢谢！

[url=http://www.huaketiancheng.com/][b]原子发射光谱仪[/b][/url]是测定每种化学元素的气态原子或离子受激后所发射的特征光谱的波长及强度来确定物质中元素组成和含量。　　原子发射光谱仪是根据试样中被测元素的原子或离子，在光源中被激发而产生特征辐射，通过判断这种特征辐射波长及其强度的大小，对各元素进行定性分析和定量分析的仪器。　　原子发射光谱仪，是将成分复杂的光分解为光谱线的科学仪器。它密封在一个温度稳定的恒温机箱里，设计小巧，操作简易，设备的搬运和操作只要一个人就能完成。这一类仪器一般包括：光源、单色器、检测器和独处器件。原子发射光谱仪装备了超高灵敏度的光电倍增管，在全量程范围内使检测器的动态范围能鉴别出成分的最微小的差别。原子发射光谱仪有火花原子发射光谱仪，光电原子发射光谱仪，手持式光谱仪，便携式光谱仪，能量色散光谱仪，真空原子发射光谱仪等多种品种。原子发射光谱仪广泛应用于铸造、钢铁、金属回收和冶炼以及军工、航天航空、电力、化工、高等院校和商检、质检等部门。

扫描式电子显微镜的系统在设计上，主要是电子枪 (Electron Gun) 发射电子束组成，经过一组磁透镜聚焦 (Condenser Lens) 聚焦后,用遮蔽孔径 (Condenser Aperture) 选择电子束的尺寸(Beam Size)后,通过一组控制电子束的扫描线圈,再透过物镜 (Objective Lens) 聚焦,打在样品上,在样品的上侧装有讯号接收器,用以择取二次电子 (Secondary Electron) 或背向散射电子 (Backscattered Electron) 成像。[align=center][img]http://www.gdkjfw.com/bdimages/upload1/20181106/1541469521405510.jpg[/img][/align]场发射电子枪分别比钨丝和六硼化镧丝亮10至100倍，电子能量分散仅为0.2-0.3eV，因此使用目前可用的高分辨率扫描电子显微镜。场发射型电子枪具有高达1nm或更小的分辨率。目前，有两种场发射电子枪：冷场发射（FE），热场发射（TF）。当真空中的金属表面经受108V / cm的电子加速电场时，发射相当大量的电子。该过程称为场发射。原理是高电场引起电子潜在无序的肖特基效应，即使屏障的宽度较窄且高度较低，因此电子可以直接“扫过”狭窄的能量屏障并离开阴极。场发射电子从尖锐的阴极尖端发射，因此它们可以非常薄并且高电流密度的电子束可以达到电子枪的热量的数百倍甚至数千倍。选择用于场发射电子枪的阴极材料必须是高强度材料，以承受在高电位置施加到阴极尖端的高机械应力。由于高强度，钨是优选的阴极材料。场发射枪通常是下一个。阳极用于产生拾取电子、，聚焦、和加速电子的功能。由阳极的特殊形状产生的静电场可以聚焦在电子上，因此不再需要Weiss盖或栅极。第一个（顶部）阳极主要目的是改变场发射的提取电压以控制尖端场发射的电流强度，而第二个（下部）阳极主要决定加速电压以将电子加速到所需的能量。为了从非常细的钨尖端场发射电子，金属表面必须完全清洁，其表面上没有任何外来物质原子或分子，即使只有一个外来原子落在表面上，它也会减少电子场发射，所以场发射电子枪必须保持超高真空，以防止原子在钨阴极表面积聚。由于超高真空设备的极高价格，除非需要高分辨率SEM，否则通常较少使用场发射电子枪。冷场发射型的最大优点是电子束直径最小，亮度最高，因此图像分辨率最佳。能量分散最小，因此可以改善低电压操作的效果。为了避免针尖被外来气体吸附，场发射电流减小。并且发射电流不稳定，冷场发射型电子枪必须在10-10托的真空下工作。但是，必须定期将尖端加热到2500K（这个过程称为闪蒸）以除去吸附的气体原子。另一个缺点是发射的总电流最小。热场电子枪在1800K下操作，这避免了大部分气体分子吸附在针尖表面上，因此消除了对针尖闪烁的需要。热模式可以保持更好的发射电流稳定性并且可能很差。在真空（10-9托）下操作。尽管亮度类似于冷型，但其电子能量分布比冷型大3~5倍，并且图像分辨率差，通常较少使用。

朋友们，在TEM机台的Manual里看到：场发射电子枪可分为Cold FEG、Thermally-assisted Cold FEG和肖特基FEG，Cold FEG和Thermally-assisted Cold FEG的针尖尖端比较尖锐，直接施加萃取电压就可以发射电子，而肖特基FEG的针尖尖端就比较broad，需要在它的表面涂覆ZrO2来降低W的功函数。但是在网络上的一些帖子中看到：场发射电子枪分为热场电子枪和冷场电子枪，热场电子枪表面涂覆ZrO2来降低W的功函数，并且还需要提供1200K的高温。（网络上的帖子看的是安徽大学林中清教授的电子枪解析）所以关于Thermally-assisted Cold FEG、肖特基FEG、热场电子枪，就比较迷惑：（1）如果假设Manual和网络帖子都对的话，那么Thermally-assisted Cold FEG和热场电子枪应该不是同一个概念，而肖特基FEG和热场电子枪是同一概念，不知道这样的理解是否正确？（2）Thermally-assisted Cold FEG如果比较接近冷场电子枪的话，它的结构又是怎样的呢？

我用PE 2100DV发射光谱仪测定金属元素计算检出限时,校准曲线斜率为几十万,甚至几百万,不知为何,请教名位专家校准曲线斜率到底是如何计算?谢谢.

场发射环境扫描电镜必须结合能谱仪EDS才能做物质的成份分析吗 这二者结合的优点是什么？

问一下上海市哪里有检测场发射性能的地方，高校或机构？我要检测电泳沉积碳纳米管薄膜的场发射性能，包括电压-电流曲线、阀值电压、发光点密度等等。检测仪器大致是一个真空二极管结构。

为什么我做粉末的荧光时，激发波长和发射波长不唯一呢？大神们，能介绍一个可以用来做固体或者粉末荧光的样品，最好不用实验去制取。并且与他的激发波长和发射波长，这样可以用来检测自搭建荧光分光光谱仪可不可以测固体和粉末的波长。

第一台场发射扫描电镜是那一年哪个公司造的啊？参数性能怎么样啊？貌似场发射枪上个世纪80年代就用在扫描电镜了。怎么场发射扫描还是近代应用的。。糊涂了有点。

我使用的FEI Tecnai F20 一年多，发现灯丝的亮度不太好，但FEG emission 一般在100uA左右，是灯丝寿命快到了吗？请各位谈一下如何维护场发射电镜，使灯丝寿命增加一些？谁叫如今生活艰难啊！

中国心在座各位高手帮我出出主意，推荐一下在购买场发射扫描电镜时应该注意些什么？发射扫描电镜的稳定性如何？售后服务那家公司比较好。电镜公司来介绍过了，他们都说自己的产品好，竞争方的产品不好。谢谢了。

在热场发射电镜中，Extracted CURRENT会随着灯丝的使用一点点增加吗？另外Extracted CURRENT是否会收到灯丝的影响？

请问一下各位行家，场发射透射电镜和普通源透射电镜有什么区别？含有生物样品一般用什么电镜比较合适，要求能够比较清楚地分辨清楚细胞器。

刚接触荧光光谱仪，云里雾里，求指教！！！！看了一些资料，上面说关于最优激发波长的选择方法是：先设定激发波长200nm，进行发射模式扫描，范围在210-800nm。改变激发波长，再次进行发射模式扫描，观察峰位，峰位不变的则是荧光峰。然后以这个不变的荧光峰作为发射波长固定下来，进行激发波长的扫描，激发波长的范围要小于发射波长。此时将扫出来的峰型较好的峰，再次作为激发波长固定，进行真正的发射波长扫描，得到较好结果。1.我想知道在这个过程中，是不是当固定激发波长进行发射模式扫描时，激发波长要小于 扫描范围。类似的，激发模式扫描时，固定的发射波长要大于扫描范围？2.上面说的那个方法应该不是采用预扫描方法的吧？那么可以采用的预扫描方法吗？预扫描的方法只需要分别设置激发光和发射光的起止波长就可以了吧？扫出来后又该如何根据得到图谱判断荧光峰和激发波长呢？3.当已知一种物质的最佳激发波长来直接扫描其在不同浓度下某一范围内的荧光峰时，是不是只需要进行单个单色器的扫描----发射模式的扫描就可以了？但是我在有些文献里看到对某个物质进行荧光扫描的参数设置是with the following setting: 350 nm as excitation wavelength and 480nm as emission wavelength.这是什么情况呢？这里设定的发射波长是用来做什么的呢？这个发射波长不是观察出来的吗？即可以看到350nm激发得到其荧光峰在480nm处。4.只要是进行单个单色器的扫描，固定的激发波长就一定要小于扫描范围，固定的发射波长就一定要大于扫描范围吗？为什么？

本人新手.不知怎么确定激发与发射波长?以及区分瑞利散射,拉曼散射与荧光光谱.请教各位高手!!有经验的高手麻烦您回贴.不胜感激!!!![em04] [em04] [em04]

我使用液相的荧光检测器扫描氟喹诺酮药物的激发光谱和发射光谱。可是，在我扫描发射光谱的时候，比如250－400nm的范围时，那个固定的发射波长是在大于410nm的范围内随便选取的吗？有没有什么规则？？

本人最近做了桑色素-锌离子的荧光，发现了一个奇怪的现象：当用410nm作激发波长照射时，发射峰位于476nm，当用407nm照射时，发射峰位于471nm，我于是将激发波长改为380nm，结果居然出现了436nm的发射峰，又改为360nm为激发波长，扫描发射光谱时出现了414nm的峰。请交各位大侠：这是什么原因？根据荧光的理论，这些所谓发射峰都不是改物质的发射峰，那么这些“发射峰”又是什么峰呢？

请教场发射TEM与非场发射高分辨TEM的优缺点？

求一份Inspect F50场发射扫描电镜说明书

请问场发射扫描电镜（FE-SEM）的原理是什么，比钨丝灯的优势在哪儿？

[b][font=宋体]问题描述：物质的紫外最大吸收波长是否可以作为荧光激发波长？荧光激发波长与荧光发射波长之间存在什么样的关系，发射波长又要如何选择呢？[/font][font=宋体]解答：[/font][/b][font=宋体]（[/font]1[font=宋体]）荧光产生的原理在前文中已有介绍，需要注意的是电子跃迁时吸收或发射的能量并不是任意的，而是受到电子能级的制约，只能吸收或发射一定波长范围内的光。含有共轭双键体系的有机化合物，容易吸收激发光，其激发波长大多处于近紫外区或可见光区，发射波长多处于可见光区。由于荧光涉及光的吸收和发射两个过程，因此任何荧光物质都有两种特征光谱，即激发光谱和发射光谱。[/font][font=宋体]（[/font]2[font=宋体]）光的发射波长和激发波长之间的差值叫斯托克斯（[/font]stokes[font=宋体]）位移，斯托克斯位移越大，其激发光谱和发射光谱的重叠就越少，就有利于提高其分辨率。分子的第一激发态与基态的能差是一定的，因而荧光波长不随激发光波长的改变而发生变化。分子激发过程中吸收的能量一般高于荧光辐射释放的能量，二者之差以热的形式损耗，因此荧光波长比激发光波长要长，其差通常为[/font]50~70nm[font=宋体]，当有机化合物分子内可以形成氢键时，则增至[/font]150~250nm[font=宋体]。荧光的强度受许多因素的制约，如激发光源能量、吸收强度、量子效率等。量子效率也称量子收率，是指荧光物体分子发射的光量子数与吸收的光量子数之比。其大小是由分子结构决定的，而与激发光源的能量无关。[/font][font=宋体]（[/font]3[font=宋体]）荧光属于光致发光，需选择合适的激发光波长以利于检测。激发波长可通过荧光化合物的激发光谱来确定。激发光谱的具体检测办法是通过扫描激发单色器，使不同波长的入射光激发荧光化合物，产生的荧光通过固定波长的发射单色器，由光检测元件检测。最终得到荧光强度对激发波长的关系曲线就是激发光谱。在激发光谱曲线的最大波长处，处于激发态的分子数目最多，即所吸收的光能量也最多，能产生最强的荧光。因此大多数物质的紫外最大吸收波长可以作为激发波长，激发波长的选择并不影响发射波长的选择，理论上激发光谱和发射光谱有一个镜像关系。很多人误以为，激发波长和发射波长是一一对应的，其实不然，激发光谱的强弱只代表该物质在所选择的激发波长下被激发的比率，其发射光谱还是原来形状的光谱，只是在强弱上改变。我们选择最大激发波长是为了获得高激发率的物质形态，间接提高灵敏度，选择最大发射波长是为了直接提高灵敏度。[/font][font='微软雅黑','sans-serif'][color=black][back=white]领取更多《实战宝典》请进：[url]http://instrument-vip.mikecrm.com/2bbmrpI[/url][/back][/color][/font][font='微软雅黑','sans-serif'][color=black][back=white] [/back][/color][/font]

火焰发射光谱仪是原子发射光谱仪吗？