APD 2000 PRO 为定性和定量的粉末X射线衍射仪。精确电路控制反馈系统,保证X射线发生器更加稳定;预设高压和激发电流,并可实现自动斜坡程度上升;细焦点的陶瓷X射线管具有优良的重现性和稳定性;创新的多样品旋转进样台和多种低背景样品台;采用高聚焦单毛细管准直器,高分辨多探测类型探测器。环境适应性强,可以适合在不同范围下温、湿度下工作,双重安全电路保护设计。
本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》,利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪,采用粉末压片制样方法,测定工业硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线,各杂质元素标准曲线线性良好,平行测定10次,各组分精度良好。方法适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定,满足工业硅生产对杂质成分的检测需求。