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光学色差检测

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  • 当色差仪进行色差检测工作时出现偏差情况最佳处理方法

    [url=http://www.landteknet.com/productInfo1/131.html]色差仪[/url][font=arial, helvetica, sans-serif][size=16px]是一个非常轻便且容易使用的三刺激色度计,特别为测量二个颜色之间的颜色差异而设计。 色差仪是用于测量无发光及无荧光样本,如纺织物、纸张、皮革、喷涂材料及其他。它在品质控制及广泛的工业应用上是一个有用的工具。[/size][/font][font=arial, helvetica, sans-serif][size=16px] [/size][/font][url=http://www.landteknet.com/productInfo1/131.html]色差仪[/url][font=arial, helvetica, sans-serif][size=16px]在使用过程中,或多或少会出现一些小问题的如ziu见的测量的时候显示值出现偏差,这是一个比较常见的就是测量现象,因为操作不当或不是专业人没使用或不懂得如何操作的,都会出现这种现象,那么我们该从哪里找到问题的源头呢?下面兰泰仪器就为大家详细介绍一下:[/size][/font][font=arial, helvetica, sans-serif][size=16px]1、首先要进行黑白板校正,一般没有进行黑白校正或黑白校正不jing确引起的。[/size][/font][font=arial, helvetica, sans-serif][size=16px]2、测量口是否进入了脏东西,进入脏东西也会造成测量不jing确,所以在测量前ziu好检测一下。[/size][/font][font=arial, helvetica, sans-serif][size=16px]3、检测电池消耗是否过低(大概是20%以下),则更换新的干电池或使用直流电源。[/size][/font][font=arial, helvetica, sans-serif][size=16px]4、检测测量时色差仪及测试品是否平整,测量口与测量面接触是否紧密。[/size][/font][font=arial, helvetica, sans-serif][size=16px]5、检测测量物是否太薄,导致[/size][/font][url=http://www.landteknet.com/productInfo1/131.html]色差仪[/url][font=arial, helvetica, sans-serif][size=16px]测量过程漏光。[/size][/font][font=arial, helvetica, sans-serif][size=16px]6、检测测量部位是否是混色,混色的话,一般很难jing确测量的。[/size][/font][font=arial, helvetica, sans-serif][size=16px]7、如果进行黑白板校正后,上面五点因素排除后,如果测量结果还是为零,那么可以断定该色差仪已坏,需要更换色差仪了。[/size][/font][align=center][url=http://www.landteknet.com/productInfo1/131.html][img=,400,400]http://www.landteknet.com/Public/ue_upload/image/20200613/1592009346487068.png[/img][/url][/align]

  • 一种多波段紫外消色差光学系统

    [font=&]【题名】: 一种多波段紫外消色差光学系统[font=Arial, Helvetica, sans-serif, ????][size=12px][/size][/font][/font][font=&]【链接】: https://xueshu.baidu.com/usercenter/paper/show?paperid=1v560tb01a2h02a0h96s0270us666620[/font]

  • SOPTOP舜宇光学显微镜-助力金相,晶圆检测,偏光显微镜等

    [align=center][font=MicrosoftYaHei][size=12px]舜宇显微镜-国内领先。可多种搭配,本人材料分析从业行业多年为大家排忧解难,VX:xiaojian0425 欢迎添加咨询。[img=,335,405]http://img1.17img.cn/17img/images/201707/uepic/786c066a-715f-45fd-9c05-e0b519db1842.jpg[/img][/size][/font][/align][font=MicrosoftYaHei][size=18px]一、概述[/size][/font][font=微软雅黑][color=#231f20]全新 RX50M 研究级金相显微镜集舜宇多项首创于一身, 从外观到性能都紧跟国际主流设计风向,致力于拓展工 业领域全新格局。RX50M 秉承舜宇不断探索不断超越 的品牌设计理念,为客户提供完善的工业检测解决方案。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#231f20]二、特点及例图[/color][/font][font=微软雅黑][color=#231f20]1、光学性能优越[/color][/font][font=微软雅黑][color=#231f20] 光路采用国际水准的光路设计,大大的降低了图像的色差及色散,提升了光学质量及分辨率。使用户轻松的得到想要的图片。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#231f20][/color][/font][img=,580,435]https://img1.17img.cn/17img/images/202004/uepic/f79ee8cf-8e33-4a2f-aad6-b62d69b2e87e.jpg[/img][img=,576,429]https://img1.17img.cn/17img/images/202004/uepic/79e370b4-7155-4ce5-bb77-73f894612f9d.jpg[/img][img=,574,430]https://img1.17img.cn/17img/images/202004/uepic/c9e1b1f2-bd96-4701-a133-d38c5022960c.jpg[/img]2、丰富的光学配件,满足大部分使用需求 本机器可兼容绝大部分的观察方法如:反射明场、透射明场、反射暗场、透反射偏光以及微分干涉等观察方法,充分涵盖了汽车、钢铁、材料、冶金等各领域需求。明场[img=,619,466]https://img1.17img.cn/17img/images/202004/uepic/bf16f280-a0d9-4760-8c34-23bb439d06f3.jpg[/img]暗场[img=,616,464]https://img1.17img.cn/17img/images/202004/uepic/f003e3fe-aa31-4af7-bccd-1c3fe17a1dd9.jpg[/img]偏光[img=,609,456]https://img1.17img.cn/17img/images/202004/uepic/6617ef65-07ec-4759-9cd9-59a54c62cc61.jpg[/img]微分干涉[img=,606,455]https://img1.17img.cn/17img/images/202004/uepic/081bb724-911d-40be-a5f1-7eadbb377799.jpg[/img]3、专业的硬件配置,保证图像的质量光学镜头均采用新一代镀膜方案,校正了光学镜头的轴向及径向色差,避免了绝大多数的光学问题,同时采用大功率光源,保证照明充足的同时,又使得偏光、微分干涉等弱光环境下的视场得到充足的亮度,保证图像的清晰度。

  • 【分享】国内首台自动光学检测设备研制成功

    日前,由中国电子科技集团第45所承担的国际科技合作项目“自动光学检测(AOI)设备技术合作”,通过了国家级验收,技术指标达到了国外同类设备水平,标志着自动光学检测(AOI)设备实现了国产化,填补了国内空白。  据了解,当今电子装备在结构上强调实现小型化、微型化、模块化,以满足高性能、高可靠、大容量、小薄轻的要求。线路板上元器件组装密度提高,其线宽、间距、焊盘越来越细小,已到微米级,复合层数越来越多。传统的人工目测(MVI)和针床在线测试(ICT)检测因“接触受限”(电气接触受限和视觉接触受限)所制,已不能完全适应当今制造技术的发展,自动光学检测系统(AOI)已经成为IC制造业的必然需求,正越来越多地用来代替传统MVI和ICT技术,进行检测,用于监视和保证生产过程的品质。目前,我国自动光学检测系统(AOI)设备主要依赖进口,一直被以色列、美国、日本等国家所垄断。中国电子科技集团第45所,与加拿大开展了卓有成效的国际科技合作,共同研发自动光学检测(AOI)设备,通过引进、消化吸收、再创新,终于研制出了具有国际水平的自动光学检测(AOI)设备,打破了国外的垄断与技术封锁,使进口产品降价30%。

  • 【分享】中国首台自动光学检测设备研制成功

    河北省廊坊市科技局26日称,中国电子科技集团第45所(燕郊)与加拿大共同合作的“自动光学检测(AOI)设备技术”研制成功,各项技术指标均达到国外同类设备水平。这标志着我国打破了国外在自动光学检测设备领域的垄断与技术封锁,使自动光学检测设备进口产品降价30%。  据廊坊市科技局工作人员介绍,全球电子装备在结构上强调实现小型化、微型化、模块化,以满足高性能、高可靠、大容量、小薄轻的要求。而我国传统的人工目测(MVI)和针床在线测试(ICT)检测因“接触受限”(电气接触受限和视觉接触受限)所制,已不能完全适应当今制造技术的发展。目前,我国自动光学检测系统(AOI)设备还主要依赖进口,一直被以色列、美国、日本等国家所垄断。因此,自动光学检测系统(AOI)已经成为IC制造业的必然需求。

  • 色差仪的校正

    [url=http://www.xrite.cn/][color=#000000]色差仪[/color][/url]对于颜色测量工作者来说已必不可少。通过它的客观数据分析可以减少因主观判断而出现的失误。但是没有任何一款仪器能够任劳任怨地保证持续稳定的读数,必须进行定期地校正方可。因此用户必须具备基本的维护保养常识。例如每日测量前测量白板校正,每次更换基材时需要重新测量白场,每年需要专门送第三方进行检验。此外对于外表、光学元件的专业清洁手法也必须掌握。

  • 基于线光源扫描的光学元件内部疵病检测

    [b][font=宋体][color=black]【序号】:1[/color][/font][font='微软雅黑',sans-serif][color=black][/color][/font][font=宋体][color=black]【作者】:[b][b]周滨[/b][/b][/color][/font][/b][font=&]【题名】:[/font][b][font=宋体][b]基于线光源扫描的光学元件内部疵病检测[/b][/font][/b][font='微软雅黑',sans-serif]【期刊】: cnki,浙江大学[/font][font='微软雅黑',sans-serif][/font][b][color=#545454]【链接]: [url=https://x.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CDFD&dbname=CDFD2014&filename=1014036222.nh][b]基于线光源扫描的光学元件内部疵病检测[/b][/url][/color][/b]

  • 【原创】硅片检测显微镜

    光伏产业(太阳能发电产业)在太阳能电池发展了50年后,终于在2004年跨越了历史的分水岭,正式进入了起飞阶段。随着德国政府在2004 年1 月1 日公布再生能源法,将太阳能选为主要的替代能源,以实际措施普及太阳能发电(政府不但补助民间装设太阳能模块,更保证以一定费率购回电力),太阳能电池产业正式进入了需求的迅猛增长期。随着多晶硅,硅片,大阳能电池板工艺的不断发展与提高,光伏产业对硅片质量的检测要求也越来越高。由于国外的光学检测太贵,对非原材料生产厂家是一笔很大的支出,而又需要对进的硅片进行检测,针对这种情况,上海长方光学仪器厂开发了针硅片检测的系统。该系统可以对太阳能电池硅片的”金字塔” 的微观形貌分布情况,及硅片的缺陷分析. (例如:上海长方生产的硅片检测显微镜:CGM-600E) 例如: 硅片检测显微镜可以观察到肉眼难观测的位错、划痕、崩边等 还可以对硅片的杂质、残留物成分分析.杂质包括: 颗粒、有机杂质、无机杂质、金属离子、硅粉粉尘等,造成磨片后的硅片易发生变花、发蓝、发黑等现象,使磨片不合格. 是太阳能电池硅片生产过程中必不可少的检测仪器之一。CGM-600E大平台明暗场硅片检测显微镜是适用于对太阳能电池硅片的显微观察。本仪器配有大移动范围的载物台、落射照明器、长工作距离的平场消色差物镜、大视野目镜,图像清晰、衬度好,同时配有偏光装置,及其高像素的数码摄像头. 本仪器配有暗场物镜,使观察硅片时图像更加清晰,是检测太阳能电池硅片的”金字塔” 的微观形貌分布情况,及硅片的缺陷分析的理想仪器.上海长方光学仪器厂 欢迎致电:021- 68610299

  • 【转帖】光学显微镜

    光学显微镜是利用光学原理,把人眼所不能分辨的微小物体放大成像,以供人们提取微细结构信息的光学仪器。  早在公元前一世纪,人们就已发现通过球形透明物体去观察微小物体时,可以使其放大成像。后来逐渐对球形玻璃表面能使物体放大成像的规律有了认识。  1590年,荷兰和意大利的眼镜制造者已经造出类似显微镜的放大仪器。1610年前后,意大利的伽利略和德国的开普勒在研究望远镜的同时,改变物镜和目镜之间的距离,得出合理的显微镜光路结构,当时的光学工匠遂纷纷从事显微镜的制造、推广和改进。  17世纪中叶,英国的胡克和荷兰的列文胡克,都对显微镜的发展作出了卓越的贡献。1665年前后,胡克在显微镜中加入粗动和微动调焦机构、照明系统和承载标本片的工作台。这些部 件经过不断改进,成为现代显微镜的基本组成部分。  1673~1677年期间,列文胡克制成单组元放大镜式的高倍显微镜,其中九台保存至今。胡克和列文胡克利用自制的显微镜,在动、植物机体微观结构的研究方面取得了杰出的成就。  19世纪,高质量消色差浸液物镜的出现,使显微镜观察微细结构的能力大为提高。1827年阿米奇第一个采用了浸液物镜。19世纪70年代,德国人阿贝奠定了显微镜成像的古典理论基础。这些都促进了显微镜制造和显微观察技术的迅速发展,并为19世纪后半叶包括科赫、巴斯德等在内的生物学家和医学家发现细菌和微生物提供了有力的工具。  在显微镜本身结构发展的同时,显微观察技术也在不断创新:1850年出现了偏光显微术;1893年出现了干涉显微术;1935年荷兰物理学家泽尔尼克创造了相衬显微术,他为此在1953年获得了诺贝尔物理学奖。  古典的光学显微镜只是光学元件和精密机械元件的组合,它以人眼作为接收器来观察放大的像。后来在显微镜中加入了摄影装置,以感光胶片作为可以记录和存储的接收器。现代又普遍采用光电元件、电视摄象管和电荷耦合器等作为显微镜的接收器,配以微型电子计算机后构成完整的图象信息采集和处理系统。  表面为曲面的玻璃或其他透明材料制成的光学透镜可以使物体放大成像,光学显微镜就是利用这一原理把微小物体放大到人眼足以观察的尺寸。近代的光学显微镜通常采用两级放大,分别由物镜和目镜完成。被观察物体位于物镜的前方,被物镜作第一级放大后成一倒立的实象,然后此实像再被目镜作第二级放大,成一虚象,人眼看到的就是虚像。而显微镜的总放大倍率就是物镜放大倍率和目镜放大倍率的乘积。放大倍率是指直线尺寸的放大比,而不是面积比。  光学显微镜的组成结构  光学显微镜一般由载物台、聚光照明系统、物镜,目镜和调焦机构组成。载物台用于承放被观察的物体。利用调焦旋钮可以驱动调焦机构,使载物台作粗调和微调的升降运动,使被观察物体调焦清晰成象。它的上层可以在水平面内沿作精密移动和转动,一般都把被观察的部位调放到视场中心。  聚光照明系统由灯源和聚光镜构成,聚光镜的功能是使更多的光能集中到被观察的部位。照明灯的光谱特性必须与显微镜的接收器的工作波段相适应。  物镜位于被观察物体附近,是实现第一级放大的镜头。在物镜转换器上同时装着几个不同放大倍率的物镜,转动转换器就可让不同倍率的物镜进入工作光路,物镜的放大倍率通常为5~100倍。  物镜是显微镜中对成象质量优劣起决定性作用的光学元件。常用的有能对两种颜色的光线校正色差的消色差物镜;质量更高的还有能对三种色光校正色差的复消色差物镜;能保证物镜的整个像面为平面,以提高视场边缘成像质量的平像场物镜。高倍物镜中多采用浸液物镜,即在物镜的下表面和标本片的上表面之间填充折射率为1.5左右的液体,它能显著的提高显微观察的分辨率。  目镜是位于人眼附近实现第二级放大的镜头,镜放大倍率通常为5~20倍。按照所能看到的视场大小,目镜可分为视场较小的普通目镜,和视场较大的大视场目镜(或称广角目镜)两类。  载物台和物镜两者必须能沿物镜光轴方向作相对运动以实现调焦,获得清晰的图像。用高倍物镜工作时,容许的调焦范围往往小于微米,所以显微镜必须具备极为精密的微动调焦机构。  显微镜放大倍率的极限即有效放大倍率,显微镜的分辨率是指能被显微镜清晰区分的两个物点的最小间距。分辨率和放大倍率是两个不同的但又互有联系的概念。  当选用的物镜数值孔径不够大,即分辨率不够高时,显微镜不能分清物体的微细结构,此时即使过度地增大放大倍率,得到的也只能是一个轮廓虽大但细节不清的图像,称为无效放大倍率。反之如果分辨率已满足要求而放大倍率不足,则显微镜虽已具备分辨的能力,但因图像太小而仍然不能被人眼清晰视见。所以为了充分发挥显微镜的分辨能力,应使数值孔径与显微镜总放大倍率合理匹配。  聚光照明系统是对显微镜成像性能有较大影响,但又是易于被使用者忽视的环节。它的功能是提供亮度足够且均匀的物面照明。聚光镜发来的光束应能保证充满物镜孔径角,否则就不能充分利用物镜所能达到的最高分辨率。为此目的,在聚光镜中设有类似照相物镜中的,可以调节开孔大小的可变孔径光阑,用来调节照明光束孔径,以与物镜孔径角匹配。  改变照明方式,可以获得亮背景上的暗物点(称亮视场照明)或暗背景上的亮物点(称暗视场照明)等不同的观察方式,以便在不同情况下更好地发现和观察微细结构。  光学显微镜的分类  光学显微镜有多种分类方法:按使用目镜的数目可分为双目和单目显微镜;按图像是否有立体  感可分为立体视觉和非立体视觉显微镜;按观察对像可分为生物和金相显微镜等;按光学原理可分为偏光,相衬和微差干涉对比显微镜等;按光源类型可分为普通光、荧光、红外光和激光显微镜等;按接收器类型可分为目视、摄影和电视显微镜等。常用的显微镜有双目体视显微镜、金相显微镜、偏光显微镜、紫外荧光显微镜等。  双目体视显微镜是利用双通道光路,为左右两眼提供一个具有立体感的图像。它实质上是两个单镜筒显微镜并列放置,两个镜筒的光轴构成相当于人们用双目观察一个物体时所形成的视角,以此形成三维空间的立体视觉图像。双目体视显微镜在生物、医学领域广泛用于切片操作和显微外 科手术;在工业中用于微小零件和集成电路的观测、装配、检查等工作。  金相显微镜是专门用于观察金属和矿物等不透明物体金相组织的显微镜。这些不透明物体无法在普通的透射光显微镜中观察,故金相和普通显微镜的主要差别在于前者以反射光,而后者以透射光照明。在金相显微镜中照明光束从物镜方向射到被观察物体表面,被物面反射后再返回物镜成像。这种反射照明方式也广泛用于集成电路硅片的检测工作。  紫外荧光显微镜是用紫外光激发荧光来进行观察的显微镜。某些标本在可见光中觉察不到结构细节,但经过染色处理,以紫外光照射时可因荧光作用而发射可见光,形成可见的图像。这类显微镜常用于生物学和医学中。  电视显微镜和电荷耦合器显微镜是以电视摄像靶或电荷耦合器作为接收元件的显微镜。在显微镜的实像面处装入电视摄像靶或电荷耦合器取代人眼作为接收器,通过这些光电器件把光学图像转换成电信号的图像,然后对之进行尺寸检测、颗粒计数等工作。这类显微镜的可以与计算机联用,这便于实现检测和信息处理的自动化,多应用于需要进行大量繁琐检测工作的场合。  扫描显微镜是成像光束能相对于物面作扫描运动的显微镜 。在扫描显微镜中依靠缩小视场来保证物镜达到最高的分辨率,同时用光学或机械扫描的方法,使成像光束相对于物面在较大视场范围内进行扫描,并用信息处理技术来获得合成的大面积图像信息。这类显微镜适用于需要高分辨率的大视场图像的观测。

  • 色差仪的原理

    色差仪的原理,两部测出来的结果有很大差异。因此,在选购测色仪时,有些“性能指标”是必须要注意的,这样才能选购一部性能价格比最好的仪器。  一台色差仪除了微处理器及有关电路外,有四个主要组成部分:光源、积分球、光栅(分光单色器)和光电检测器。这也是衡量一台仪器优劣的主要指标。  色差仪的精确度比较低,分光测色仪精度较高。二者测色的方法不同,分光测色仪能测量每个颜色的“反射率曲线”,而色差仪不能。分光测色仪有多种光源,而色差仪只有一种或两种。  分光光度测色仪又分为“0/45度”和“d/8度积分球”两种测量-观察方式:“0/45度”只能用来测平滑的表面,而且不能用于电脑配色。“d/8度积分球“可以用来测量各种表面,用于电脑配色。  多数公司选用“d/8度积分球”测色仪,但是,必须注意的是:不同品牌、不同型号之间仍有很大差别,导致不同的测量精度。  光源:多数厂家选用“高能脉冲氙灯(PulsedXenon)”,具有寿命长、光强高、测量时的“信噪比”(测量信号/噪音)高,测量精度高等优点。个别厂家的仪器选用“钨丝灯(tungstenlight)”,具有光强低,长期发热,寿命短,在蓝光段测量不准确等缺点。  双光束仪器有两个光栅和两个检测器。测量时光源只闪一次,同样测样品和参比白。这样就克服了系统变化所带来的误差,测量数据的精度非常高。只是仪器成本较高。  单光束仪器只有一个光栅和一个检测器。所以测量时光源闪两次,分别测样品和参比白。而两次测量时的系统误差(光源光强分布差异,光路变化,温度变化,电路漂移等)被当做样品和参比白间的差异,所以误差比较大。  积分球:质量好的5、6年不会变黄,差的2、3年变黄要更换。

  • 色差仪在喷涂使用中应注意的几点

    汉普色差仪在汽车制造业广泛应用,汽车配件的表面颜色喷涂颜色就要用到色差仪,色差仪很好的解决了不同部件的匹配问题。 色差仪在使用中的一些细节也影响了真实数据的反馈,下面就对这些介绍一下:色差仪的角度问题——对于实色漆(素色漆)监控45°即可,因为实色漆颜料排列均匀致密,其各角度反射光均匀,45°是经典的观察角度。 对于闪光漆不同的公司管控存在差异,有的5角度,有的3角度(25°,45°,75°)。 15°、25°——主要反映明度差,即金属絮片大小及排列方面的差异。 75°、110°——主要反映色相偏差。 车身温度影响检测数据准确性:车身出烤房后车身温度在(50-60)℃,色差仪校准后,车身出烤房后随机检测5台白颜色实色漆车门部件,4小时候检测相同车辆相同位置,24小时候检测相同车辆相同位置,得到以下结果,数据b值变化明显。 测量压力影响:汉普色差仪以压力触发开关,不同的人使用,触发压力不同,也对数据有一定的影响,这种因素不会导致对结果的判断。固定测量人员并对比不同人员之间的差异,确定最佳的人选,可以得到更有效的数据。

  • 国家环境保护环境光学监测技术重点实验室通过验收

    9月22日,环境保护部科技标准司组织专家对国家环境保护环境光学监测技术重点实验室进行验收评审。验收专家组委员会一致认为,该实验室完成了建设计划任务书预期建设目标,达到了环境保护部重点实验室验收条件和要求,同意通过验收。安徽省环境保护厅副厅长殷福才,中科院合肥物质科学研究院院长王英俭,中国科学院安徽光学精密机械研究所所长、重点实验室主任刘文清等出席了验收会。中国工程院院士潘德炉,环境保护部卫星环境应用中心、北京市环境保护监测中心、解放军电子工程学院等相关单位的专家参加了验收会。国家环境保护环境光学监测技术重点实验室是国家环境保护总部与依托合肥研究院联合建立的环境光学监测理论和技术研究的基地。实验室于2007年10月开始筹建,主要承担环境光学应用基础研究,定量监测新方法研究和环境监测高新技术系统集成研究,先进环境监测技术规程和标准的编制任务,并对完善我国环境监测系统以及国家环境管理与决策提供理论与技术支持。以潘德炉院士为主任委员的专家组听取了关于实验室建设情况的总结报告,现场考察了实验室,审阅了有关实验室验收材料,实地考察了该实验室,并与实验室领导和科研骨干进行了座谈。专家组一致认为,实验室完成了组织机构建设,形成了一支专业结构合理的环境光学近侧技术创新团队;实验室基本建设完成,自主研制建立了基于多种光谱学技术的地基、移动、机载和星载环境监测技术的研究平台,具备了环境光学监测技术创新研发的能力;实验室在环境光学应用基础、定量监测新方法、环境监测高新技术系统集成和先进环境监测技术规程和标准等四个研究方向取得了一批有代表性的成果;实验室研发的环境监测技术已推广应用到全国环境监测领域,为环境管理提供了有力的技术支撑。为促进重点实验室更好地建设和发展,验收委员会专家组建议,在现有国家环境保护环境光学监测技术重点实验室的基础上,申请建设国家重点实验室。

  • 基于线阵扫描的自动光学检测系统关键技术研究

    [b][font=宋体][color=black]【序号】:1[/color][/font][font='微软雅黑',sans-serif][color=black][/color][/font]【作者】:[b][b][b][font=&][size=24px][color=#333333]陈镇龙[/color][/size][/font][/b][/b][/b][/b][font=&]【题名】:[b]基于线阵扫描的自动光学检测系统关键技术研究[/b][/font][font=&]【期刊】:cnki[/font][b][color=#545454]【链接]: [url=https://kns.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CDFD&dbname=CDFDLAST2016&filename=1015712320.nh&uniplatform=NZKPT&v=g8fPyqfSNBIZFLi6JV5IjwK9gKCSBCEvUuN3dTxvKpYlXKEQlXfSHL3OoehSZY07]基于线阵扫描的自动光学检测系统关键技术研究 - 中国知网 (cnki.net)[/url][/color][/b]

  • 基于散射、衍射的光学表面疵病检测的研究

    [sup]?[b][font=宋体][color=black]【序号】:1[/color][/font][font='微软雅黑',sans-serif][color=black][/color][/font][font=宋体][color=black]【作者】:[b][b][b]陈涨敏[/b][/b][/b][/color][/font][/b][font=&]【题名】:[/font][b][font=宋体][b]基于散射、衍射的光学表面疵病检测的研究[/b][/font][/b][font='微软雅黑',sans-serif]【期刊】: cnki,浙江大学[/font][font='微软雅黑',sans-serif][/font][b][color=#545454]【链接]: [url=https://x.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CDFD&dbname=CDFD2014&filename=1014036222.nh][b]基于散射、衍射的光学表面疵病检测的研究 - 中国知网 (cnki.net)[/b][/url][/color][/b][/sup]

  • 散射扫描法光学元件表面疵病检测技术研究

    [b][font=宋体][color=black]【序号】:1[/color][/font][font='微软雅黑',sans-serif][color=black][/color][/font]【作者】:[size=16px][b]张彬[/b][/size][/b][font=&]【题名】:[b][b][b]散射扫描法光学元件表面疵病检测技术研究[/b][/b][/b][/font][font=&]【期刊】:cnki[/font][b][color=#545454]【链接]: [url=https://kns.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CMFD&dbname=CMFD201601&filename=1016025795.nh&uniplatform=NZKPT&v=1F6G829sgZAFA4MYvRETNbgdZd9BzVfLcxERQ6aplrCK1Co8JxayeBFNIXRM1blG]散射扫描法光学元件表面疵病检测技术研究 - 中国知网 (cnki.net)[/url][/color][/b]

  • 多源光谱特征组合的COD光学检测方法研究

    【作者】:【题名】:多源光谱特征组合的COD光学检测方法研究【期刊】:【年、卷、期、起止页码】:【全文链接】:https://kns.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?filename=GUAN201411045&dbcode=CJFQ&dbname=CJFD2014&v=t4rSBhLh-EjJsJCYC0yhbJ9cJoPGs6jh5kKtp2k6Vj0vhzuLeqNMWh4WvTTAZvDS

  • 新手上路请多指教,请有关做玻璃光学性能检测的人士多帮助。

    我在一家第三方检测工作,公司为扩展建筑玻璃检测业务已经筹备很长时间了。去年公司购买了一台PE公司的Spectrum Two和一台Lambda 950,用于检测玻璃的光学性能。去年参加过PE公司的红外设备培训,但是涉及到的玻璃方面内容太少,当时对设备不懂也问不出个所以然来,紫外设备还没来得及参加。现在即将引来检测资质评估认可,但是我对设备的具体操作过程还不是很明白,希望各位前辈多多指教。

  • 【求助】光学系统与物镜的关系

    请问光学系统与物镜之间有什么联系?显微镜的光学系统是不是由物镜决定?有销售给本人推荐了一款显微镜,是消色差物镜的,但本人需要无限远校正光学系统,销售说更改无限无校正光学系统就可以了,是这样的吗?请大家赐教。

  • 《中国药典》2015版中《0901 溶液颜色检查法-第三法(色差计法)》仲裁法

    [align=left]BYCM-30全自动药物色差分析仪主要用于检测液体药物溶液的颜色与标准比色液进行比较,从而得出被测液体药物溶液的颜色,根据仪器判定自动给出相应测量结果并出具报告。[/align][align=left][b]工作原理:[/b][/align]BYCM-30全自动药物色差分析仪主要采用《中国药典》2015版中《0901 溶液颜色检查法-第三法(色差计法)》的规定方法进行检测,采用光电积分法对液体溶剂进行透射式测量。仪器不仅具有传统的色度色差测量,同时具有比色模式。能通过比色模式,得到比目视比色更加精确的测量值。

  • 纸张对印刷品色差的影响

    纸张的白度不同,会使印刷品产生色差。白度不同的纸张对印刷墨层的颜色显现有不同的影响。因为白度不同等于在油墨中加进不同黑、红、兰或黄,所以在印刷中尽管墨量、色相都没有变化,但实际油墨具有一定的透明性,色彩的效果随着纸张的白度不同而显现出来,造成不同的色差。需要注意的是,同一类型的纸张由不同的厂家生产,其颜色也会有色差;生产批号日期不同,纸张的白度也会有一定的差异,所以,要减少色差,在印刷同一产品时,应尽量使用同一厂家、同一批次且白度相同的纸张。另外印厂也需要通过[url=http://www.xrite.cn/categories/][color=#000000]测色仪[/color][/url]对纸张来料进行检测,验证批次稳定性。

  • 常用印刷品色差测试仪器

    印刷品和设计稿之间存在色差是属于正常现象的。但是色差太大肯定是不行的,纸质版的东西,放的时间久了就会出现褪色,变色的情况。等到再次生产又需要重新寄样品才行。在印刷行业是需要用到色卡的,通过国际标准色号来进行对色,比色,调色,出错的概率会低一些,如果对色差要求高的话,可以使用色差测试仪来检测,监控。仪器可以快速实现颜色测量和进行色差对比!

  • 光学元件亚表面缺陷检测自动调平与对焦研究

    [b][font=宋体][color=black]【序号】:1[/color][/font][font='微软雅黑',sans-serif][color=black][/color][/font]【作者】:[size=16px][b]王悦[/b][/size][/b][font=&]【题名】:[b][b][b]光学元件亚表面缺陷检测自动调平与对焦研究[/b][/b][/b][/font][font=&]【期刊】:cnki[/font][b][color=#545454]【链接]: [url=https://kns.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CMFD&dbname=CMFD202101&filename=1021001205.nh&uniplatform=NZKPT&v=xYGHSdLttNdKdrQ4eSEtVhLFx0cYpkq8yjYDo-JSapNdufFHtF5fAnmFys_fHVpk]光学元件亚表面缺陷检测自动调平与对焦研究 - 中国知网 (cnki.net)[/url][/color][/b]

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