制冷红外检测

今天在论坛看到有关开关机的顺序的活动帖子，发现检测器制冷温度跟我们操作的不一样。Leeman Prodigy XP 开机：先开氩气-再开仪器电源-开软件（等待光室稳定在35℃左右）-更改检测器制冷温度到[color=#f10b00][size=5]-40℃[/size][/color]-开循环冷却水-点火-测试；关机：熄火-关闭软件并更改检测制冷温度到[color=#f10b00][size=5]25℃[/size][/color]-重新启动软件待检测器温度回到设定的25℃-关循环冷却水-关软件-关仪器电源-关电脑-关闭氩气。[size=4]我们开机更改检测器制冷温度到时到[color=#8f0197][size=5]-15℃[/size][/color][color=#8f0197]，[color=#000000]熄火-关闭软件并更改检测制冷温度到[/color][size=5]20℃[/size]，[color=#000000]这是厂家给我们的温度，请问温度的设置不一样，有影响吗？那个温度设置更优一些？[/color][/color][/size]

一个一般的傅立叶变换红外光谱仪怎样能适合用液氦来制冷的超底温检测？温度为15K（-258.5摄示度）。还是要用专门的低温傅立叶变换红外光谱仪？

仪器型号是LEEMAN Prodigy XP，在检测过程设置的-15度的检测器温度总是会莫名其妙的回升到室温，我检查了检测器的循环水冷却系统和散热窗都没有问题，我们仪器室温的温度是20~25度之间，问了leeman的工程说是室温有点高（指的的是25度的室温），仪器刚买来那会25度都还能长时间的正常运行，为什么最近就总会出这个问题呢？是否仪器内部的电子制冷系统坏了？

请问用什么来检测空调中制冷剂的纯度?GC-MS能不能用来检测制冷剂的纯度?

有使用过ICP的同行都清楚检测器的温度一般要降低到-30度左右或者更低，那么才能获得很低的噪音，通过冷却循环水带走热量，一般冷却循环水机的温度也就是设定在20度左右，那么问题来，ICP上面什么部件会产生这么大的温差，原因是什么？制冷过程如何？可能大家都猜出是半导体，欢迎讨论？

急购检测制冷剂纯度的仪器能不能用GC-MS来检测?

各位大侠，我用立曼icp点火后，当检测器制冷到-37度后，马上自己升温至室温。请问，这是哪里出了问题

[color=#0162f4][size=5][font=SimHei]急急！！！！！我们的ICP-OEC（瓦里安715）开机一切正常，点火也正常，但是就是不能分析，样品分析没法进行，显示灰色。显示错误是：检测器制冷失败。我已经按照工程师说的关掉仪器和计算机，但还是同样的问题。不知各位高人有没有遇到过相同问题。紧急盼望答复[/font][/size][/color]

利曼的ProdigyICP检测器制冷经常莫名的失效，设定的-15度仪器运行一段时间（约20分钟）就会升到室温，导致检测出来的数据不稳定，带有很多的背景光，仪器灵敏度严重下降。我们问了厂家的说是检测器的循环冷却水管路中有气泡，我们无论怎么换水排除气泡仍然不能解决问题。去年冬天的时候我设置了循环冷却水的温度到20度左右后发现检测器温度就不会再升上来了，但最近天气变热了，又开始频繁的自动升到室温，请教这是怎么回事？是否跟仪器的制冷系统有关系？

红外焦平面列阵的发展朝两个不同的方向进行：一种是低温制冷工作的光子型红外探测器列阵，如HgCdTe、InSb和PtSi等；另一种是室温工作的非制冷探测器列阵。制冷型探测器列阵的制作难度大，且需要昂贵的制冷系统，由其构成的热像仪通常用于敏感的军事领域。 由于非制冷红外焦平面探测器列阵具有室温工作、无需制冷、光谱响应与波长无关、制备工艺相对简单、成本低、体积小巧、易于使用、维护、可靠性好等优点，因此形成了一个新的富有生命力的发展方向，其目的是以更低的成本、更小的尺寸和更轻的重量来获得极好的红外成像性能。近年来，已研制成功三种不同类型的非制冷红外焦平面探测器列阵：a． 热电堆：根据塞贝克效应检测热端和冷端之间的温度梯度，信号形式是电压。b． 测辐射热计：探测温度变化引起载流子浓度和迁移率的变化，信号形式是电阻。c． 热释电：探测温度变化引起介电常数和自发极化强度的变化，信号形式是电荷。 在这三种器件中，测辐射热计列阵的发展最为迅速，并且取得了令人瞩目的成就。它采用类似于硅工艺的硅微机械加工技术进行制作，为了实现有效的热绝缘，一般采用桥式结构。探测器与硅读出电路之间通过两条支撑腿实现电互连。测辐射热计的灵敏度主要取决于它与周围介质的热绝缘，即热阻。热阻越大，可获得的灵敏度就越高。目前测辐射热计列阵的温度分辨率可达0.1K，不久将达到0.03至0.05K。对于工业应用来说，这种性能已相当令人满意了。用它构成的热像仪在尺寸、重量和价格方面可与可见光摄录机相媲美，在不远的将来可望获得广泛的应用，是一个新的经济增长点。 非制冷测辐射热计列阵技术也许是红外热成像技术在过去20年取得的最重要的进展。90年代以来，非制冷测辐射热计列阵已形成产品进入市场。美国波音公司研制的U3000型320 X 240 元非制冷测辐射热计列阵和美国Amber公司研制的320 X 240 元非制冷测辐射热计列阵热像仪Sentinel，双双荣膺美国1997年光电子领域优秀奖。美国FLIR公司销售到中国的非制冷焦平面热像仪，就是采用此类探测器。2000年，法国Sofradir公司生产出了他们的第一只非制冷焦平面红外探测器，它是采用由多晶硅材料制备的单片式电阻型微测辐射热计技术,该项技术由法国国家红外实验室转移至Sofradir公司生产，探测器列阵规模320×240，像元中心距45µ m，填充因子大于80%，噪声等效温差（NETD）达到100mK（典型值），器件的性能指标达到了当今世界先进水平

如题: 怎样用[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相色谱[/url]来检测制冷剂中水份的含量?水份含量在100ppm以下注明:不用卡尔费休水份仪,就要用GC, 而且想用在线的,把GC放在生产现场,知道的朋友,麻烦请回帖呀?

（1）大尺寸远红外高温烘箱（1800×1800×1200mm），最高使用温度500℃，工作温度400℃；（2）制冷机 （-30℃，容积30-50L）

小弟现在一家汽车零部件检测中心，公司最近想进一台DSC，检测样品为汽车内外饰高分子件、车用橡胶、涂层等，我想问这些需要用到-80℃以下的制冷么？或者一般需要用到液氮制冷的样品是什么类型？

最近检测器致冷温度频繁报错，如下图所示，可能致冷电子元件或者检测器老化，幸亏之前签了三年的保修合同，仪器使用也都快7年，是时候需要维护了，对于这种软件报错，重启已经解决不了问题，大家有遇到类似问题吗？[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712142105_9227_2140715_3.jpeg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712142105_7051_2140715_3.jpeg[/img]

请问哪位前辈有检测制冷剂方面的资料的提供,如纯度,酸度,残留物相关的资料,谢谢分享!

目前市面上XRF的核心部件出现了诸如SDD、SI-PIN、还有高纯SI等检测器，到底哪种的分辨率更好，效果更好呢？还有液氮制冷、电制冷、什么半导体制冷，能指点一下吗？谢谢

制冷剂是制冷系统中的工作介质，它在制冷系统中循环流动，通过自身热力状态的变化与外界发生能量交换，从而达到制冷的目的，广泛应用于中央空调、热泵空调、家用空调和其它小型制冷设备等。美国杜邦公司上世纪30年代推出的制冷性能优良的氟利昂曾是制冷行业发展的一个重要里程碑。然而，上世纪70年代实验证实，氟利昂中的氯或溴原子会对臭氧层产生强烈的破坏作用，从而导致对地球环境有害紫外线的增加。传统各种类型制冷剂要么会破坏臭氧层，要么会引起温室效应等等环境问题，是一个不可忽视的严峻问题。随着全球臭氧层破坏和气候变暖问题的日益严峻，环保的呼声越来越大，寻找环境友好的制冷剂成为了摆在制冷行业面前的一道重要考题。[img=r290,570,503]http://news.isweek.cn/wp-content/uploads/2019/05/r290.jpg[/img]目前，丙烷制冷剂R290作为一种新型环保制冷剂，是一种可以从液化气中直接获得的天然碳氢制冷剂。与氟利昂这种人工合成制冷剂相比，天然工质R290的分子中不含有氯原子，因而ODP值为零，对臭氧层不具有破坏作用。此外，与同样对臭氧层无破坏作用的HFC物质相比，R290的GWP值接近0，对温室效应没有影响。因此R290慢慢得到政府层面的认可，也慢慢备受中外各大空调厂商的关注。《中国企业报》曾独家披露了格力于去年7月初向市场展示了采用碳氢R290作为制冷剂的丙烷空调，产品能效同比提升15%以上。与此同时，长虹 、美的、海尔、志高等企业也一直在进行R290应用的空调开发。虽然R290具有很多优势，但其"易燃易爆"的缺点是目前限制其大规模推广的最大阻碍。R290与空气混合能形成爆炸性混合物，遇热源和明火有燃烧爆炸的危险。提高R290安全性的手段包括减小灌装量、隔绝着火源、防止制冷剂泄露及提高泄漏后的安全防控能力等。由于空调普遍功率较大，需要的丙烷制冷剂R290的灌注量是很大的，危险性也很大，目前在技术在解决这个问题尚需进一步探索，不过对丙烷制冷剂泄漏进行有效监控可以很大程度上降低事故的发生率，提高安全。据了解，为此，日本figaro新推出了一款丙烷气体预校准检测模块FSM-10Y-01，是一种搭载了费加罗半导体式传感器TGS2610-D00的模块，用于检测0 ~ 20% LEL的丙烷，具有耐久性好、稳定性高的特点。PWM和USART两种输出可选，同时，模块还能够检测到传感器断线及短路故障。模块操作温度范围广，此外如检测甲烷、丙烷、氢气等，对有机气体的交叉灵敏度很低，对硅化合物的耐受性更佳，更适应恶劣环境。可用于丙烷制冷剂泄漏检测、可燃气体泄漏检测、工业用气体探测器等。[img=fsm-10y-1,299,407]http://news.isweek.cn/wp-content/uploads/2019/05/fsm-10y-1.png[/img]

高速响应的中波红外探测器在自由空间光通信和频率梳光谱学等新兴领域的需求逐渐增加。中长波XB?n势垒型红外光探测器对暗电流等散粒噪声具有抑制作用。近期，由中国科学院半导体研究所、昆明物理研究所、中国科学院大学和陆装驻重庆军代局驻昆明地区第一军代室组成的科研团队在《红外与毫米波学报》期刊上发表了以“非制冷势垒型InAsSb基高速中波红外探测器”为主题的文章。该文章第一作者为贾春阳，通讯作者为赵俊总工程师和张逸韵研究员。本工作制备了不同直径的nBn和pBn结构的中波InAsSb/AlAsSb红外接地-信号-接地（GSG）探测器。对制备的探测器进行了变温暗电流特性，结电容特性和室温射频响应特性的表征。[align=center][size=18px][back=#ffff00][b]材料生长、器件制备和测试[/b][/back][/size][/align]通过固态源分子束外延装置在2英寸的n型Te-GaSb衬底上外延生长nBn和pBn器件。势垒型器件的生长过程如下所示：先在衬底上生长GaSb缓冲层来平整表面以及减少应力和位错，接着生长重掺杂（101? cm?3）n型InAsSb接触层，然后生长2.5 μm厚的非故意掺杂（101? cm?3）InAsSb体材料吸收层。之后生长了150 nm厚的AlAsSb/AlSb数字合金电子势垒层，通过插入超薄的AlSb层实现了吸收区和势垒层的价带偏移的显著减少，有助于空穴向接触电极的传输，同时有效阻止电子以减小暗电流。最后分别生长300 nm厚的重掺杂（101? cm?3）n型InAsSb和p型GaSb接触层用于形成nBn和pBn器件结构。其中，Si和Be分别被用作n型和p型掺杂源。生长后，通过原子力显微镜（D3100，Veeco，USA）和高分辨X射线衍射仪（Bede D1，United Kingdom）对晶片进行表征以确保获得高质量的材料质量。通过激光划片将2英寸的外延片划裂为1×1 cm2的样片。样片经过标准工艺处理，包括台面定义、钝化和金属蒸镀工艺，制成直径从10 μm到100 μm的圆形台面单管探测器。台面定义工艺包括通过电感耦合等离子体（ICP）和柠檬酸基混合溶液进行的干法刻蚀和湿法腐蚀工艺，以去除器件侧壁上的离子诱导损伤和表面态。器件的金属电极需要与射频探针进行耦合来测试器件的射频响应特性，因此包括三个电极分别为Ground（接地）、Signal（信号）和Ground，其中两个Ground电极相连，与下接触层形成欧姆接触，Signal电极与上接触层形成欧姆接触，如图1（c）和（f）所示。通过低温探针台和半导体参数分析仪（Keithley 4200，America）测试器件77 K-300 K范围的电学特性。器件的光学响应特性在之前的工作中介绍过，在300 K下光电探测器截止波长约为4.8 μm，与InAsSb吸收层的带隙一致。在300 K和反向偏置为450 mV时，饱和量子效率在55%-60%。通过探针台和频率响应范围10 MHz-67 GHz的矢量网络分析仪（Keysight PNA-XN5247B，America）对器件进行射频响应特性测试。[align=center][size=18px][back=#ffff00][b]结果与讨论[/b][/back][/size][/align][b]材料质量表征[/b]图1（a）和（d）的X射线衍射谱结果显示，从左到右的谱线峰分别对应于InAsSb吸收层和GaSb缓冲层/衬底。其中，nBn和pBn外延片的InAsSb吸收区的峰值分别出现在60.69度和60.67度，GaSb衬底的峰值则出现在60.72度。因此，InAsSb吸收层与GaSb 衬底的晶格失配分别为-108 acsec和-180 acsec，符合预期，表明nBn和pBn器件的InAsSb吸收区和GaSb衬底几乎是晶格匹配的生长条件。因此，nBn和pBn外延片都具有良好的材料质量。原子力显微镜扫描的结果在图1的（b）和（e）中，显示出生长后的nBn和pBn外延片具有良好的表面形貌。在一个5×5 μm2的区域内，nBn和pBn外延片的均方根粗糙度分别为1.7 ?和2.1 ?。[align=center][img]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/92230b98-4dac-4ee0-aeaa-282dcd342995.jpg[/img][/align][align=center][color=#0070c0]图1 （a）和（a）分别为nBn和pBn外延片的X射线衍射谱；（b）和（e）分别为nBn和pBn外延片的原子力显微扫描图；（c）和（f）分别为制备的圆形GSG探测器的光学照片和扫描电子照片[/color][/align][b]器件的变温暗电流特性[/b]图2（a）显示了器件直径90 μm的nBn和pBn探测器单管芯片的温度依赖暗电流密度-电压曲线，通过在连接到Keithley 4200半导体参数分析仪的低温探针台上进行测量。图2（b）显示了件直径90 μm的nBn和pBn探测器在77 K-300 K下的微分电阻和器件面积的乘积R?A随反向偏压的变化曲线，温度下降的梯度（STEP）为25 K。图2（c）显示了在400 mV反向偏压下，nBn和pBn探测器表现出的从77 K到300 K的R?A与温度倒数（1000/T）之间的关系，温度变化的梯度（STEP）为25 K。[align=center][img]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/a8f8001f-cd03-42f4-a32f-8b1acc94131d.jpg[/img][/align][align=center][color=#0070c0]图2 从77K到300K温度下直径90 μm的nBn和pBn探测器单管芯片（a）暗电流密度-电压曲线；（b）微分电阻和器件面积的乘积R?A随反向偏压的变化曲线；（c）R?A随温度倒数变化曲线[/color][/align][b]器件暗电流的尺寸效应[/b]由于势垒型红外探测器对于体内暗电流可以起到较好的抑制作用，因此研究人员关注与台面周长和面积有关的表面泄露暗电流，进一步抑制表面漏电流可以进一步提高探测器的工作性能。图3（a）显示了从20 μm到100 μm直径的nBn和pBn器件于室温工作的暗电流密度和电压关系，尺寸变化的梯度（STEP）为10 μm。图3（b）显示从20 μm-100 μm的nBn和pBn探测器的微分电阻和台面面积的乘积R?A随反向偏压的变化曲线。图3（d）中pBn器件的相对平缓的拟合曲线说明了具有较高的侧壁电阻率，根据斜率的倒数计算出约为1.7×10? Ωcm。[align=center][img]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/e7fba8aa-eabe-40a4-a863-6ebcdd264744.jpg[/img][/align][align=center][color=#0070c0]图3 从20 μm到100 μm直径的nBn和pBn器件于室温下的（a）暗电流密度和电压变化曲线和（b）R?A随反向偏压的变化曲线；（c）在400 mV反偏时，pBn和nBn器件R?A随台面直径的变化；（d）（R?A）?1与周长对面积（P/A）变化曲线[/color][/align][b]器件的结电容[/b]图4（a）显示了使用Keithley 4200 CV模块在室温下不同直径的nBn和pBn探测器的结电容随反向偏压的变化曲线，器件直径从20 μm到100 μm按照10 μm梯度（STEP）变化。对于势垒层完全耗尽的pBn探测器，预期器件电容将由AlAsSb/AlSb势垒层电容和InAsSb吸收区耗尽层电容的串联组合给出，其中包括势垒层和上接触层侧的InAsSb耗尽区。[align=center][img]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/c09b63df-6442-42f2-b548-df4f539db6eb.jpg[/img][/align][align=center][color=#0070c0]图4 （a）在室温下不同直径的nBn和pBn探测器的结电容随反向偏压的变化曲线；（b）反偏400 mV下结电容与台面直径的变化曲线。[/color][/align][b]器件的射频响应特性[/b]通过Keysight PNA-X N5247B矢量网络分析仪、探针台和飞秒激光光源，在室温和0-3 V反向偏压下，对不同尺寸的nBn和pBn探测器在10 MHz至67 GHz之间进行了射频响应特性测试。根据图5推算出在3V反向偏压下的40 μm、50 μm、70 μm、80 μm、90 μm、100 μm直径的圆形nBn和pBn红外探测器的3 dB截止频率（f3dB）。势垒型探测器内部载流子输运过程类似光电导探测器，表面载流子寿命对响应速度会产生影响。[align=center][img]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/95acbbf7-8557-4619-b4cd-5829d636aced.jpg[/img][/align][align=center][color=#0070c0]图5 在300 K下施加-3V偏压的40 μm、50 μm、70 μm、80 μm、90 μm、100 μm直径的nBn和pBn探测器的归一化频率响应图[/color][/align][align=center][img]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/541829b0-a336-4b7e-a75b-0a15f8dfd06a.jpg[/img][/align][align=center][color=#0070c0]图6 不同尺寸的nBn和pBn探测器（a）3 dB截止频率随反向偏压变化曲线；（b）在3 V反向偏压下的3 dB截止频率随台面直径变化曲线[/color][/align]图6（a）展示了对不同尺寸的nBn和pBn探测器，在0-3 V反向偏压范围内的3 dB截止频率的结果。随着反向偏压的增大，不同尺寸的器件的3 dB带宽也随之增大。因此，在图6（a）中观察到在低反向偏压下nBn和pBn器件的响应较慢，nBn探测器的截止频率落在60 MHz-320 MHz之间而pBn探测器的截止频率落在70 MHz-750 MHz之间；随着施加偏压的增加，截止频率增加，nBn和pBn器件最高可以达到反向偏压3V下的2.02 GHz和2.62 GHz。pBn器件的响应速度相较于nBn器件提升了约29.7%。[align=center][size=18px][back=#ffff00][b]结论[/b][/back][/size][/align]通过分子束外延法在锑化镓衬底上生长了两种势垒型结构nBn和pBn的InAsSb/AlAsSb/AlSb基中波红外光探测器，经过台面定义、工艺钝化工艺和金属蒸镀工艺制备了可用于射频响应特性测试的GSG探测器。XRD和AFM的结果表示两种结构的外延片都具有较好的晶体质量。探测器的暗电流测试结果表明，在室温和反向偏压400 mV工作时，直径90 μm的pBn器件相较于nBn器件表现出更低的暗电流密度0.145 A/cm2，说明了该器件在室温非制冷环境下表现出低噪声。不同台面直径的探测器的暗电流测试表明，pBn器件的表面电阻率约为1.7×10? Ωcm，对照的nBn器件的表面电阻率为3.1×103 Ωcm，而pBn和nBn的R?A体积项的贡献分别为16.60 Ωcm2和5.27 Ωcm2。探测器的电容测试结果表明，可零偏压工作的pBn探测器具有完全耗尽的势垒层和部分耗尽的吸收区，nBn的吸收区也存在部分耗尽。探测器的射频响应特性表明，直径90 μm的pBn器件的响应速度在室温和3 V反向偏压下可达2.62 GHz，对照的nBn器件的响应速度仅为2.02 GHz，相比提升了约29.7%。初步实现了在中红外波段下可快速探测的室温非制冷势垒型光探测器，对室温中波高速红外探测器及光通讯模块提供技术路线参考。[b]论文链接：[/b][url]http://journal.sitp.ac.cn/hwyhmb/hwyhmbcn/article/abstract/2023157[/url][来源：MEMS][align=right][/align]

DSC一般都自带自然冷却装置，如果样品不是很多，而且使用温度在室温到600℃，估计液氮制冷附加只是浪费。据说液氮瓶容量才26L，可以使用多久呢？一个月2~4怕还是使得的。但是在检测一些聚合物需要加热降温再加热的检测模式，液氮制冷的优势就可以体现处来了吗？用过的大侠指点下。液氮制冷的配备到底好处在哪？耗材使用最好也要纳入进去。

最近很多人会问水在制冷中是制冷剂还是载冷剂?什么是载冷剂呢？以间接冷却方式工作的制冷装置中，将被冷却物体的热量传给正在蒸发的制冷剂的物质称为载冷剂。载冷剂通常为液体，在传送热量过程中一般不发生相变。但也有些载冷剂为气体，或者液固混合物，如二元冰等。常用的载冷剂有:水、盐水、乙二醇或丙二醇溶液、二氯甲烷和三氯乙烯，一般不包括一氟二氯甲烷，这个通常作为制冷剂，只有在直接制冷时，才使用制冷剂作为载冷剂。所以水是载冷剂。　　但是，水虽然是载冷剂但它的载冷效果以及防腐蚀效果是非常不好的，水的冰点非常低，用它来传递冷量是不行的，一旦温度过低就会结冰冻结管路。在传递热量方面，又有很多优质的替代品来替代水，所以水在制冷行业的受欢迎度并不高。给大家讲完水在制冷中是制冷剂还是载冷剂这一问题，下面为大家推荐一些优秀的载冷剂厂家，以防大家受骗。

各位专家好！最近朋友单位要准备买SEM，前期调研，想请教各位SEM能谱的问题。我们单位现有一台SEM，时间比较久了，还是Si(Li)探测器、液氮冷却的。前几年开始听说电制冷的SDD在技术上逐渐显现优势，但当时好像技术尚未十分成熟，仪器稳定性有待提高。不知道现在电制冷技术到底发展的怎么样了？国内新买SEM的机构是否已经广泛选择电制冷能谱了呢？ 我朋友他们单位准备购买电制冷型能谱，仪器技术上我们是外行，想请教各位专家几个问题：1，SDD技术是否已经成熟？目前可选的几种型号为EDAX (Apollo-x,E-550）与OXFORD (X-Max20,INCA-450)与Bruker (XFlash?5010)，不知道各位是否已经有人在用相关型号，想听听实际的使用心得或差别（仪器不同、技术不同、优势也不同，我们并不奢望比较出绝对的好与坏，只是希望听到一些实际使用经验与差别，比如分辨能力、检测速度、用户界面、故障率等）。2，据我了解，国内早前购买的SEM所选配的Si(Li)型EDS多数是EDAX和牛津的，bruker份额好像相对少。SDD的情况是不是不太一样？3，所购能谱仪主要是用来做高分子样品、陶瓷样品，有没有什么有针对性的建议？4，给出的能量分辨指标均优于129ev时（123~129），微小的差别在实际分析过程中有没有很大的意义？ 谢谢各位，如果回帖不便，也可发站内信，盼热心人回复。

制冷剂是高低温湿热试验箱压缩机的血液，制冷剂纯度的高低对于高低温湿热试验箱压缩机来说尤为重要，最明显的现像是：充注了高纯度制冷剂的设备，制冷效果明显，温度下降时效快，制冷量大；纯度低的制冷剂不仅达不到应有的下降温度，而且还会损坏压缩机。我们可以通过以下几种方法辨别是否为劣质制冷剂： 1、是否通过正规渠道购买正规厂家生产的制冷剂，如价格明显低于市场价格的制冷剂，应该引起高度警惕。 2、如果您有检测条件，建议在使用制冷剂前对其纯度和酸度进行检验，对于检测结果明显低于行业标准的制冷剂不建议使用。 3、如果您不具备制冷剂检测条件，建议在使用制冷剂前对其进行简单检查，简单检查的方法可以是： （1）将制冷剂罐倒置，并释放少量制冷剂到一张白纸上，如果在白纸上有明显杂质或液态水出现，说明制冷剂质量不佳，不建议使用； （2）接压力表测试制冷剂瓶压，对照制冷剂温度压力特性表，检验瓶内压力是否在正常值范围，如压力明显异常则不建议使用。

高低温试验箱的需求越来越大,当你如愿的选购了一台适合你的设备,那么你充分的了解它的制冷系统吗?　　1.制冷系统的设计应有能量调节技术,一种行之有效的处理方式既能保证在制冷机组正常运行的情况下又能对制冷系统的能耗及制冷量进行有效的调节,使制冷系统的运行费用和故障率下降到较为经济的状态。　　2.采用法国“泰康”全封闭制冷压缩机组,每台机组均经过欧洲“泰康”电脑联网逐项监测并有防伪编码,可通过电脑上网查寻.　　3.制冷辅助件：风冷式盘管冷凝器、鳍片式多段式蒸发器,主要制冷配件及控制器件均采用进口原件,如：美国“丹佛斯”热力膨胀阀、美国“艾高”干燥过滤器;意大利“卡斯妥”电磁阀.　　4.冷却方式：风冷.　　看了高低温试验箱制冷系统的知识,你更加充分的了解它了吗?

请问用什么来检测氟里昂类制冷剂的纯度?能否用GC-MS来检测?

[b]两箱式冷热冲击试验机[/b]可使用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品材质筛选试验等，为方便用户在操作上理解设备运作规律，下面小编来讲解一下设备工作原理。　　设备箱门与循环风机，提篮互锁，给操作者提供安全保护，一旦箱门开启，循环风机、提蓝传动的电源便会自动切断。箱体上方有标准引线孔管，方便用户向箱内接入传感器线，检测电缆类型的引线。　　制冷工作原理：高低制冷循环均采用逆卡若循环，该循环由两个等温过程与两个绝热过程组成。其过程如下：制冷剂经压缩机绝热压缩到较高的压力，消耗的功可让排气温度升高，然后制冷剂通过冷凝器等温地与四周介质进行热交换，将热量传递到四周介质。　　然后制冷剂经阀绝热膨胀做功，这是制冷剂温度下降。制冷剂通过蒸发器等温地在温度较高的物体吸热，让被冷却物体温度降低。根据设备运行的基本规律一直循环从而达到降温目的。　　在两箱式冷热冲击试验机的配合之下能有效提高产品可靠性和产品质量的控制，在该设备的正确带领下您不需要担心产品可靠性及质量止步不前的问题。　　本文为北京雅士林原创文章，转载请务必注明来源：北京雅士林试验设备有限公司。

恒温恒湿试验箱制冷系统检漏主要包括两个部分：一部分是制冷压缩机、冷凝器、蒸发器、干燥过滤器、毛细管等部件的检漏，第二部分是制冷管路组成的封闭系统的检漏。那么恒温恒湿试验箱制冷系统检漏的方法有哪些呢，我们来一起了解一下。 1、肥皂泡检漏 先将肥皂切成薄片，浸于温水中，使其溶成稠状肥皂液。检漏时，在被检部位用纱布擦去污渍，用干净毛笔沾上肥皂液，均匀地抹在被检部位四周，仔细观察有无气泡，如有肥皂泡出现，说明该处有泄漏。有时，需先向系统充入0.8-1.0Mpa(8-10kgf/cm2)的氮气。 2、水中检漏 此法常用于恒温恒湿试验箱压缩机(注意接线端子应有防水保护)、蒸发器、冷凝器等零部件的检漏。其方法是：对蒸发器应充入0.8Mpa氮气，对冷凝器应充入1.9MPa氮气(对于热泵型空调器，二者均应充入1.9MP氮气)，浸入50度左右的温水中，仔细观察有无气泡发生。使用温水的目的在于降低水的表面张力，因为水的温度越低，表面张力越大，微小的渗漏就不能检测出来。检漏场地应光线充足，水面平静。观察时间应不少于30秒，工件浸入水面20厘米以下。浸水检漏后的部件应烘干处理后方可进行补焊。 更多精彩内容，请看下文。