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随着红外技术的不断发展,红外成像仪在日常检测中时常使用到。同时使用红外热成像仪检测中存在的问题及对策 随着”三集五大”体系建设和变电设备“状态检修”的大力推进,传统的传统的变电设备检修和运行模式发生了根本性改变, 能够实时、有效、动态地评价设备健康状况成为确保设备安全、稳定 运行的前提, 红外成像仪是目前变电运行人员检测运行设备健康状况 的有力保证,可以有效的避免因设备发热而造成的非计划停电,为提 高供电可靠率做出了贡献策 针对当前变电设备红外成像检测技术的应用中存在问题及改进方法进行了思考以及对红外测温未来发展的展望。 由于这种 技术无需对所测设备停电,即可准确发现安全隐患,所以更要充分利 用好、发挥好红外成像检测这一高科技手段,夯实变电设备“状态检 修”基础,确保运行的可控、在控、预控。 一 目前在使用中所存在的问题: 目前在使用中所存在的问题: 重设备,轻人员,培训工作不到位。 ( 1)重设备,轻人员,培训工作不到位 目前,红外成像设备已基本覆盖到重要的生产班组,极大提高了 生产一线的技术装备水平,然而,好的检测设备必须得到正确和规范 的应用,才可能发挥其最好的性能,不能只重视检测设备的配置,而 忽略了对人员进行必要的培训, 目前对红外成像仪方面培训的主要方式还是以产品说明书为主,没有专业的培训教材和权威的培训师资, 虽然厂家的技术人员会不定期到各基层单位组织测温培训, 但由于运 行人员倒班的原因,造成了一线人员缺乏热像仪的操作技能培训,同 时,昂贵的机器也需要专业的使用和维护技巧,没有经过专业培训, 在使用红外线成像器材时就不可避免要出现:保养不当、充电电池报 废、昂贵的红外线镜头被划损等等现象,既造成了经济损失,也影响 了测温工作的正常开展。 对策:(1)建立完善的红外成像检测制度,对红外检测工作的准备、 对策 风险预控、规范、安全注意事项等进行详细的规定。同时根据各站所 管辖的一、二次设备详细列表并建立测温表单,以表单的形式使测温 制度和规范落到实处;(2)加强红外热成像仪使用技术的培训,考 虑到运行人员工作的特殊性, 可以首先由相关厂家的技术人员对各个 部门的技术专责进行培训并考核, 然后由各个部门的专责负责对各个 集控站,变电站站长进行培训。 此文转自:深圳市杰创立仪器有限公司
http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em0816.gif X射线检测系统点激此处链接X射线实时成像系统:对于批量大、要求检测效率高的零件,是一种非常实用有效的检测手段,它具有动态观察、形态真实、检测效率高的特点,并可采用计算机图像处理装置对射线图像进行处理,使检测灵敏度进一步提高。 主要应用领域,金属铸件,塑料橡胶等。本系列产品对于不同形状和大小,钢、铝、陶瓷、复合材料或橡胶等不同材料的工件均可提供高质量的实时监测内部裂纹、分层等。 用于非金属、轻金属、铸造件、各种合金、压力容器等进行X射线无损检测。主要检测焊接缺陷(裂纹、气孔、夹渣、未溶合、未焊透等)以及腐蚀和装配缺陷。XRAY微焦点工作原理和发展:在伦琴先生发现X-Ray后的不久,他就认识到X-Ray可以用于材料检测。但直到上世纪70年代,X-Ray才开始被用于工业领域。由于当时电子产品的微小化以及对元部件可靠性要求的提高,人们极其关注在微米范围内的材料缺陷分析。如今微米焦点X-Ray检测已经稳定地被应用于无损害材料检测,并且通过不断的技术革新将在更广泛的工业领域中被使用. 基本原理 在微米焦点X-Ray检测的过程中,扇形的X-Ray穿过待检样品,然后在图像接收器(现在大多使用X-Ray图像增强器)上形成一个放大的X光图。该图像的质量主要由以下三点决定:放大率、分辨率及对比度。图像分辨率(清晰度)主要由X射线源的大小决定,微米焦点X-Ray放射管的射线源只有几个微米。图像的几何放大率由X光路的几何性质决定(图1),在实际应用中可达到1000至2500倍。 具体物体的微小部分在图片上的表现力主要是由该部分的本身属性在X光图上产生的对比度决定。对比度主要由物体内部的不同厚度,及不同材料(如印制线路板上的铜印制导线),对光线的不同程度吸收而引起的。举例来说,样品A和B拥有相同的厚度,如果A的原子序数较B大,则它对射线的吸收性能较B强。C与B的组成物质相同,若C比B薄,则其对射线的吸收性能比较弱。对比度除与X-ray本征特性有关外,在技术上的局限是由X射线探测器的性质决定的。对图像增强器而言,只有吸收差别达到至2%,才能在X光图中清晰地呈现出来。 X射线管当高速带电粒子突然被减速时,X-Ray就产生了。在简单的X射线管中,电子从热阴极中出来,通过一个电场,向阳极加速。在撞到阳极时停止,同时释放出X射线。碰撞区域的大小就是X射线源的大小,它以毫米为单位,在这种情况下我们只能得到很不清晰的画面。通过微焦点X射线管的使用,就能改变这种状况。电子通过阳极上的一个小孔进入磁电子透镜,该透镜中的磁场力使电子束聚焦在阴极靶上一个直径只有几微米的焦点上。通过这种方式X射线源变得很小,在高放大率的情况下能得到分辨率在微米范围内的清晰图像。新研制的纳米射线管通过多个透镜的使用分辨率将达到500nm。 X射线探测器 传统的X-Ray探测器是一个射线照相胶卷,它拥有良好的空间分辨率(在10μm内)和对比度(0.5%)和可以保存的检测结果等特点。它的缺点是曝光和冲洗都需要好几分钟的时间。针对这种情况,人们在图像增强器上装了拍摄被检测样品动感画面的影像链接,可是仍然只能得到比较粗糙的分辨率。在物体细节显微检测中,可以通过微焦点X光技术消除这个缺点。在足够大的几何放大率的情况下,图像清晰度只同X射线源的大小有关,因此最小的细节也能被清晰地拍摄下来。新研制的数码X射线探测器在理想状态下将两种图像接受方式合为一体:既能提供动态图像,又能拥有完美的对比度。 应用领域 如今微米X光技术主要应用于电子工业中的过程控制和缺陷分析。在元件组装中首先是隐藏焊点的检测,如:BGA封装中的气孔,浸润缺陷,焊桥,及其它的性质,如:焊料的多少,焊点的位移等。在半导体工业中,X光系统作为稳定的工具被应用于集成电路封装中内部连接的无损害检测。因此,在高分辨率的基础上可以检测到直径只有25微米的焊接连线上的最小坏点(图2),及芯片粘接上的气孔在温度降低时晶体的粘合反应等。在多层印制电路板的的制造中,各个板面的排列将被连续地监控。在这里X光系统能精确地测量特别是处于内层位置的结构及焊环宽度,是制造过程优化的基础。此外,如在层间电路金属连通过程中,通过该技术还可以在X光图上清晰地辨认短路及断路,确定它们的位置并作出分析.
日本原子能研究开发机构福岛研究开发部门福岛研究开发基地废堆环境国际共同研究中心远程技术部的森下祐树研究员8月3日宣布,与东北大学未来科学技术共同研究中心的黑泽俊介副教授和山路晃广助教以及三菱电机公司合作,共同开发出了可在现场实时测量释放α射线粒子尺寸的超高位置分辨率 “α射线成像检测器”。该检测器的原型是医疗领域推进开发的α射线成像检测器。通过将其应用于钚样本,证实能以16微米的位置分辨率逐一检测出α射线。该仪器将为提高福岛第一核电站和核燃料设施等的安全性做出贡献