磁粉粒度分析仪

仪器简介：作为最先将光导纤维引入高浓度粒度分析的厂家，布鲁克海文公司对光纤技术与传统动态光散射技术进行了完美结合，从而推出FOQELS（Fiber Optic Quasi Elastic Light Scattering）。与经典的动态光散射粒度分析仪不同的是，FOQELS采用了独特的背向光散射测量技术，使用全光纤光路传输，有效地提高了光散射技术的浓度测量上限，最高可达40%wt。同时，提供了高温测量选件（宇航级隔热材料），极大地拓宽了仪器的应用范围，例如对于高温油的测量。技术参数：1.粒度范围：0.3nm～3&mu m （与折射率，浓度有关）2.典型精度：1％3.样品类型：任何胶体范围大小的颗粒（悬浮于清液中）4.样品体积：典型样品池1ml，50&mu L微量样品池（可选）5.悬浮液浓度：0.0001%&mdash 40%（与样品的粒度大小有关）6.温控范围与精度： 6° C ～ 80° C, ± 0.1° C7.检测器：PMT或APD8.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数9.散射角：145° 主要特点：1.高浓度粒度分析，最高可达40%wt；2.适合高温样品体系的测量。

磁粉粒度分析仪简介费氏粒径测试仪也称费氏超细筛，平均粒度测定仪或测试仪。HMK-22平均粒度仪是一款用来测量粉体平均粒度的实验室用分析仪器。此仪器由空气稳流泵、稳压管、干燥器、试样管、齿杆、读数板、压力计及针形阀组成。空气稳流泵产生稳定的空气流，此空气流经过稳压管稳压后，又经干燥器干燥，通过样品测试区，粉体的粒度大小决定了空气透过率的大小，从而决定压力计液面的高度，用户可以直接从读数板上数出该粉体的粒度。本仪器采用进口的美式针阀、可以对气流进行精准控制。空气稳流泵躁音小、输出压力稳定。该仪器严格按国际标准生产，准确性及重复性都达到国际标准。仪器生产厂家与供应商为丹东汇美科仪器有限公司。型号为HMK-22的平均粒度仪采用国际先进粒度测试技术设计制造，仪器的主要参数性能与外国进口设备保持一致，而且该仪器价格合理，汇美科已经成为实验室平均粒度分析仪器及采购的首选品牌。技术参数测量原理：美国费氏空气透过法测量范围：0.2-50微米重复性误差：3%准确性误差：3%孔隙度范围：0.25-0.95工作电压：220V/50Hz电流强度：0.3安培（30W）仪器重量：18公斤仪器尺寸：41.8cm W x 24.6cm D x 73.7cm H产品特点与进口设备的测量结果、准确性及重复性均保持一致。操作简单、部件坚固、耐用且易于更换。测试完成后无需人工计算，直接读出粉样的粒度值。填补了部分行业粉末无法精确测量的空白。应用领域磁性材料粉末、硬质合金粉末、难熔金属粉末、药品、钨钼材料、化学品、陶瓷建材粉末、荧光粉、国防工业粉末等平均粒度仪汇美科

仪器简介：GSL-101BII激光颗粒分布测量仪 测量范围： 0.1-450 微米采样通道： 主阵列70+侧向阵列24道 电源电压: 220V 50Hz 仪器灵敏度：12位（A/D CONVERT）激光器类型：半导体 激光器波长：760nm激光器功率：5mW 激光器寿命：大于20000小时测试时间：单次测试时间小于：60 秒测试程序：中文Windows95/98/2000/NT/XP操作系统下运行，功能强大，操作简单，直观。测试程序可给出常规项目如粒度分布表、分布曲线、各种粒径、用户任意分级数据等结果，并可根据用户选择打印英文或彩色测试报告 测试对象 1.各种非金属粉：如重钙、轻钙、滑石粉、高岭土、石墨、硅灰石、水镁石、重晶石、云母粉、膨润土、硅藻土、黏土等。2.各种金属粉：如铝粉、锌粉、钼粉、钨粉、镁粉、铜粉以及稀土金属粉、合金粉等。3.其它粉体：如催化剂、水泥、磨料、医药、农药、食品、涂料、染料、荧光粉、河流泥沙、陶瓷原料、各种乳浊液等。 仪器特点：● 重复性好本仪器采用Furanhofer衍射及Mie散射理论,测试过程不受温度变化、介质黏度,试样密度及表面状态等诸多因素的影响,只要将待测样品均匀地展现于激光束中，即可获得准确的测试结果。而且区别于沉降法,由于不需要沉降过程，因此在一次测试中可以多次采样(5-20次任意设定)，有效的滤除了由于电噪声，样品分布不均等因素造成的影响，使仪器的测试重复性变好。● 测试范围宽由于采用了大尺寸光电探测阵列（70个通道）、侧向辅助光电探测阵列（12个通道）及其它相应技术，使 单透镜 测试范围达到0.1---450微米；并且由于本仪器使用过程中无须更换镜头及调整光学系统，提高了系统的稳定性，简化了操作过程。● 采用半导体激光发生器具有光参数稳定、效率高、寿命长、不怕振动等一系列优点，克服了传统气体激光器由于自然漏气，需定期更换的缺点。● 自动化程度高操作简单GSL-101BI型激光颗粒测量仪采用微机进行实时控制，自动完成数据采集、分析处理、结果保存、打印等功能,操作简单,自动化程度高。● 测试迅速由于无须沉降过程，使测试速度大幅度提高，在通常情况下，1分钟内即可完成一次样品测试。(注:不包括样品制备时间)。● 软件本仪器测试程序采用MSVC/C++6.0编制,在中文Windows95/98/ME/2000/NT/XP人机接口界面，操作直观简便,通俗易懂。数据输出内容丰富,并且可以输出英文测试报告,对于彩色打印机还可以输出彩色测试报告。● 采用了独特的机械搅拌装置具有搅拌力矩大、速度快、搅拌均匀等一系列优点。技术参数：液体中激光粒度测量分析仪 PCSLE20WN 整个系统采用稳定的激光发射和接受系统，粒径测量系统是以单位体积中的粒子个数和粒径大小来评定的，附有功能强大的软件，粒径测量范围在2~125微米之间。 仪器可以对样品100%测量，流率是70ml/min，溶液中的粒子在不失去粒径统计意义的情况下，可以有间隔的采样分析，但都提供最高精度的粒径分析。 特点 性能改进 实时定量检测和分析粒子的浓度和大小，对于污染立即反映出来 功能强大的软件使得工艺过程的控制非常的容易，通过报警设置，过程分析，采样器设置，在线帮助来实现 对于严格的的工艺过程控制来说，通过以单位体积中的粒子个数和粒径大小来评定可以提供更高的精度多功能性 测量的量程范围宽，用途广 可在线检测，也可和浓缩采样器连用 PCSLE20P可以和样品注射器连用 和各种各样的管路标准兼容连接 在线或批处理能力 RS-485数据传输接口使用简单 体积小，可连接于过程中的任何地方 软件灵活，提供多个可视窗口选项，显示实时数据和调用存储的数据 用户可以自己选择粒径的通道 技术特点 粒径灵敏度在2~~125微米15个用户可调整选择的粒径通道样品100%检测，无漏检在线采样检测，结构紧凑 应用 化工产品的质量控制 工艺过程浴液的监测 去离子水的检测 化工产品的输送 部件清洗液的检测技术参数 PCSLE20WN粒径范围 2~~125μm粒径通道 15个样品流率 70ml/min样品体积 70ml/min，100%检测单通道最大浓度 10000个/ml样品温度 10~50℃ 零记数过滤器 ＜50个/升最大压力 100Psi （0.675Mpa ， 约6个大气压）测试光源 激光二极管防潮表面材料 Teflon, 玻璃，不锈钢，BUNA-N规格 320mm（L）×110mm（W）×110mm（H）重量 3kg电源 85~250V，50~60Hz通讯 RS-485校准 所用材料来源于美国NIST使用环境 10~35℃ 无冷凝如有什么不清楚或不了解的地方，请致电 010-8241 3547 党先生主要特点：2002/2006/2008型激光粒度分析仪工作原理：本系列激光粒度分析仪采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据激光照射在颗粒上产生的散射光能量反演出颗粒群的粒度大小和粒度分布规律。技术特点： 分析仪工作原理先进，硬件设计合理，产品设计符合国际技术标准ISO-13320，吸取了英、美、德等国家的粒度测试先进经验，产品一切指标均达到国内领先、国际先进水平, 已获得国家专利，专利号：ZL02269439.0。光源：采用He-Ne激光源，波长0.6328微米，波长短，线宽窄，稳定性好，激光电源及激光管的寿命大于15000小时。光电探测器：光电探测系统设计独特，主检测器一个，辅助检测器34个，呈非均匀性交叉三维扇形距阵排列，最大检测角达到1350。光路：采用一个量程设计，会聚光路独特，减少了傅立叶透镜组，使测量范围更宽，分辨率更高，误差降到了最小。循环系统：循环泵速触摸式按键连续调节，设置速度数字显示，可根据需要设置循环泵速，循环泵速0~5000转/分钟连续可调。超声分散内置：内置大功率超声器与主机一体，良好的屏蔽处理使超声分散和样品测试可同时进行，即使具有超强团聚性的颗粒也能够充分分散以获得真实的粒度分布数据。超声强度：采用100W大功率超声器，能够充分分散易团聚的颗粒。超声时间：超声时间触摸式按键连续调节，设置时间数字显示，超声时间0~10分钟连续可调, 可根据需要设置超声时间。搅拌系统：搅拌速度触摸式按键连续调节，设置速度数字显示，搅拌转速0~3000转/分钟连续可调，可根据需要（如颗粒大小和分散介质等）连续调节，既保证被测样品充分混合，又可避免因搅拌速度过快产生气泡造成的测试误差。样品池：样品池与主机一体，不锈钢材质，设计独特，呈圆形， 循环排液方便，不留尘垢，便于清洗。测试时间：循环、超声、搅拌和排液等操作键都在智能化触摸式操作面板上， 标准、量化的操作，有效的缩短了测试时间，测试数据过程制在1分钟内完成。数据处理：粒度分析仪颗粒粒度测量分析系统功能强大，测试数据可以做平均、统计、比较和模式转换等处理，具有微分分布、累积分布、标准分级、R-R分布、自由分级和按目分级等多种格式。在0.02~1000微米内默认分级120级，在量程范围内从1~120级可自定义分级。测试报告中有粒度分布图形和粒度数据图表，有D10、D50、D90、平均粒径和比表面积等特征参数，还有四个自定义参数，可根据需要输入。 重量比表面积与体积比表面积可以互换。支持中、英文格式测试报告打印，有打印预览功能，能够将粒度分布图形和粒度数据图表存成图片或PDF格式，便与WORD交互使用。页眉和页脚可根据需要进行修改。测试界面：测试软件界面友好，测试过程清晰可见，瞬时刷新，可视性强，可随时观察测试状况，了解仪器内部运行情况，分析所测数据的真实性、可靠性。根据样品的密度、异性、脆性、磁性、毒性、流动性、团聚性、溶解性和物理化学反应等理化特性，我们总结出了一套科学、系统和完整的分散测试方案，随着仪器提供给用户。我们既销售仪器，又提供分散测试方案。 硬件简介仪器外壳钢板加工，内外表面喷塑处理；光学支架合金铸造，不易变形；光学元器件国外定做，灵敏度高；探测器英国进口，超声换能器美国进口，电磁阀意大利进口，性能稳定；控制面版自行设计，操作方便。激光粒度分析仪易损配件硬件设计先进，性能稳定可靠，按照Q/01RZ01-2004标准生产，无易损配件, 仪器使用寿命在10年以上。技术参数：2002型激光粒度分析仪 RMB56000.002006型激光粒度分析仪 RMB128000.002008型激光粒度分析仪 RMB183000.00测量原理全量程米氏散射理论测量范围0.1~600μm0.05~800μm0.02~1200μm准确性误差＜3%重复性误差＜3%循环泵转速（0~5000rpm）, 连续可调超声分散时间0~10min， 连续可调搅拌器转速（0~3000rpm）, 连续可调探测器高精密硅探测器分散池圆形不锈钢材质，容积400ml软件颗粒粒度测量分析系统（for Windows）粒度分级微分分布，累计分布，R-R分布，标准分级，自定义分级和按目分级等电源要求220VAC， 50Hz 200W生产标准Q/01RZ01-2004外形规格1000mm×330mm×320mm重量38kg激光粒度分析仪标准配置：序号名称数量序号名称数量1激光粒度分析仪主机1台6标准颗粒 1瓶2使用说明书1 本7标定专用管1根3测试软件1张8样品匙1只4联机电缆1根9专用扳手1只5电源线1根

YH-DIPS系列粉末图像法粒度粒形分析仪 主要适用于粗的、粒状材料的粒度粒形分析领域，如金刚砂、研磨材料、机制沙、河沙等。它的测试过程是将20g左右的样品放到储料漏斗里，通过电磁振动加料器和布料槽将颗粒分散开，并在布料槽的末端自由下落，高速摄像机在下落过程中拍摄颗粒图像，并通过电脑对这些图像进行分析，从而得到粒度与粒形数据。型号 YH-DIPS-10进样方式 自重/负压(选配)量程 2um镜头类型 0.75-10 倍远心镜头NA值 ＞0.1倍率 1.3-10X可调VOF Max:3000*2000@3.45μmDOF 13μm–300μmFrame 60fps光源 单色LED结果输出 粒度分布，多种颗粒形态学参数统计，单颗粒形态学分析.技术优势 检测范围宽广（2μm-3mm）专业远心变倍镜头，兼容不同类型粒子测试，杜绝形貌畸变引入FIPS超分辨算法及AI智能算法等多种算法，确保数据准确性配置AI分类，可溯源颗粒物来源型号 YH-DIPS-10进样方式 自重/负压(选配)量程 2um镜头类型 0.75-10 倍远心镜头NA值 ＞0.1倍率 1.3-10X可调VOF Max:3000*2000@3.45μmDOF 13μm–300μmFrame 60fps光源 单色LED结果输出 粒度分布，多种颗粒形态学参数统计，单颗粒形态学分析.技术优势 检测范围宽广（2μm-3mm）专业远心变倍镜头，兼容不同类型粒子测试，杜绝形貌畸变引入FIPS超分辨算法及AI智能算法等多种算法，确保数据准确性配置AI分类，可溯源颗粒物来源

美国MAS 在线检测粒度分析仪应用领域：泥浆、油墨、油漆、颜料、陶瓷卡瓦、催化剂、乳液（包括石油相关产品）在线粒度测量，工业加工状态，不必稀释样品经硬件设计可全(24 hours/7 days) 候运作，无需移动部件实时控制的快速测量 Mass Applied Sciences（MAS）推出一款新型的声波传感器粒径测量，用于监测和控制湿泥浆/胶体产品，包括半导体化学机械抛光（CMP）泥浆、油墨、油漆、颜料、陶瓷卡瓦、催化剂、乳液（包括石油相关产品）、药品以及食品和生物胶体。这款声粒径传感器不必用到运动部件，可测量处于工艺过程状态的泥浆，不必稀释， 大型工业市场的必要需求。这款新型的声波传感器粒径测量可用在许多工业生产 如加工管道、化学反应器、瓷砖印刷设备、半导体 CMP 抛光、石油生产/加工、药品输送系统等，同时具有显著的经济效益。MAS 基礎实验室的声波传感器粒径仪器目前已用於业界和学术界。MAS 申请中的声波传感器粒径，提供声衰减光谱测量，无需稀释样品，也无需使用移动部件。典型基础实验室的声衰减仪器，使用高分辨率的移动台，量测样品中多个间隙处的未稀释衰减（可对增强的粒度分布数据，进行宽带声测量）。然而对于连续运作而言，不希望用到移动部件。MAS 的声传感器经由分离声波换能器，在声反射层上的多个步骤，成功连续运作并在测到的声衰减谱中，演算产出粒度的分布数据。下图显示的声反射粒度分析（AREPA）传感器。蓝点代表液体中流动的粒子。 图1Particle Size Data 粒度数据下图显示了来自在线粒度测量在线声学传感器（AREPA）的数据。所讨论的样品是日产化学水中二氧化硅，其标称平均粒径为 110 纳米。下面的数据与这个名义粒径吻合得很好1)提供的测量值2)粒度分布 平均粒径 粒度百分比温度3)衰减和声速光谱 4)可选的 pH 值和电导率

MD-1粉尘粒度分析仪 粉尘分散度测定仪粉尘粒度分析仪产品简介：粉尘粒度分析仪采用斯托克斯原理和比尔定律测定粉尘粒度分布(分散度)。与常规方法相比省去天平称重和显微镜数数等繁杂工作。读数直观，测定结果自动储存，也可由用户根据需要选择，把结果通过显示屏或打印机输出。粉尘粒度分析仪具有掉电保护功能，可储存40 次粒度分布数据，储存的数据可根据用户意图进行清除。粉尘粒度分析仪是粉尘实验室使用的理想仪器。粉尘粒度分析仪技术指标：测定范围：0～150μm(测定粉尘累积质量筛上分布，粉尘粒度分级为150、100、80、60、50、40、30、20、10、8、7、6、5、4、3、2、1μm测定误差：d40μm时，粉尘粒度分布重复测定误差≤10%，测量误差(120004a微粒标准物质为试验粉尘)：d50=10～13μm工作电源：220V AC外形尺寸：430×285×300mm重 量：15kg粉尘粒度分析仪操作程序：1.检查仪器是否完好，连接好电源线，打开电源开关，仪器显示状态1（state1）。2.按运行键GO，使仪器进入状态2（state2）后，按ENT键，仪器提示输入参数：粉尘真密度Рp，液体真密度Р1、粘度系数V和沉降池高度H。参数输入正确后，仪器提示显示OK。3.用吸管往沉降池中移入适量的分散剂，液面高于1即可。将沉降盒向右旋转45°，将沉降池放入沉降盒中，再将沉降盒旋回原位，并确认将沉降池顶紧，旋转圆盘上的光路对准标志线与仪器上的标志线重合后进行下一步。4.按运行键GO，仪器进入状态4（state4）后，按ENT测出背景值，该值应在2500-3800之间，如超出范围可通过调节光强调节旋钮使该值处于该范围。5.测定完毕后，取出沉降池，将溶液倒出，然后将制备好的粉尘溶液倒入沉降池并放入仪器内，按ENT键，测量zui大光密度值，仪器显示该值以100±10为宜，大100时应稀释粉尘溶液，小于90时应加粉尘，合适为止。溶液浓度变化后可直接按ENT键重新测定，每次测定之前都应反复旋转圆盘，使粉尘溶液均匀后测量。6.按运行键GO，仪器进入状态5（state5）后，按ENT键开始测量，此时仪器随时间自动显示时间t和光密度值。7.当达到所需粒径的测量时间时，（依据公式）按BRE键终止测量，仪器自动计算并显示粒度分布值。8.作平行样时需再次摇动溶液，然后按复位键RET，再按运行键GO使仪器进入状态6（state6）后再按ANG键，仪器又开始测量，测量完毕，关掉电源。9.重显结果按GO键使仪器进入状态1（state1）,按RED键，输入需要的次数数值后按ENT键确认，仪器自动显示该次粉尘粒度分布结果。10.打印按GO键进入状态1(state1)按P键，仪器提示要打印第几次结果，输入此数值后按ENT键确认，仪器自动打印该次测量结果。粉尘粒度分析仪注意事项：1.使用完粒度分析仪后应保持仪器的清洁。2.在进行di 1次粒度测试时，应对一起的数据清零，以保证数据的准确。3.仪器贮存有良好的通风条件，温度适宜（2-40）℃，相对湿度不大于80%的环境中。 青岛路博为您提供优质的售后服务和技术支持。

产品介绍 在粉体粒度测试领域，不宜用水（湿法）测试的磁性材料、碳酸锂、药粉、水泥、化工等类粉体，要获得准确的测试结果，一般采用分散介质为气体的粒度测试仪。JL-1178干法全自动激光粒度仪，配套有主机、辅机（辅机内置抽尘器、储存废料罐、空气净化过滤罐）、静音无油空压机三大件。金属外壳全密封结构，具有良好的电磁屏蔽性能。 依据GB/T19077-2016 ISO13320等标准，米氏散射、衍射原理，集合精新公司多项专利技术，充分检测出每一粒级细节的细微差别变化，通过级数多探测器提升光学系统改进，拓宽了全量程测量范围，保证测试数据重复性好、稳定性好，分辨率高。 在测试过程中辅机与主机紧密配合，料仓移动中粉体均匀被瞬时吸入至喷枪连续自动喷射，测试完毕，自动清扫工作仓，自动开启/关闭工作仓，同时自动收集废料进辅机柜环保无污染。测试过程在电脑控制下全自动完成，智能化程度高。测试速度快，每测一个样品1分钟内完成，结果由电脑自动记录保存，打印方便。应用领域 大专院校、科研单位、医药、水泥、钕铁硼粉、造纸、铁氧体、钴粉、粉末涂料、电子材料、农药、颜料、陶瓷、化妆品、食品、滑石粉、高岭土、氧化铝、稀土、耐火材料、石墨等各种行业干粉料的粒度分布测试。参数指标项目指标项目指标测试原理全量程米氏（Mie）散射理论测量范围0.01μm～3000μm进样方式干法自动进样系统分散方式高速紊流分散系统重复性误差≤3％（国家标准物质D50偏差）探测器128级多元探测器准确性误差≤3％（国家标准物质D50偏差）测试时间每测试1个样1分钟内完成。信号光源进口半导体激光器，功率30mw寿命大于70000小时干法进样样粉装入样品槽，点击菜单，连续全自动测试。 光路系统平行光路光束，富氏透镜自动对中分散压力压力0.1—0.8Mpa，压力可调样品用量每次约2g-10g，根据样品特性测试介质压缩空气或其它惰性气体主机体积790×360×420（mm）约50kg辅机体积660×320×900（mm）约60kg工作电源AC220V ±22V　50Hz ±0.5Hz环境要求温度：5℃～35℃；仪器优点1.高效的干法进样系统1.1 进样入口直接与喷枪组合一体，传输距离短，样仓移动中样品装入量全部快速连续自动分散喷出，无分层。无附着，保证测试的准确性和稳定性。2.先进的光学系统2.1 采用倒置傅里叶光学系统，无光学镜面产生的杂散光，无球差，慧差的光学缺陷，大角度散射光不受透镜孔径的限制，达到测试分辨率高。2.2 128级多元探测器，完成前向，侧向和后向散射信号的接收。背景光每一级独立补偿，高速采集信号放大，动态响应灵敏快速。2.3 进口半导体激光器，双光源测试分辨率更高，主光源波长650nm，30mw，寿命＞70000h。辅助光源波长405nm,20mw。辅助光源增强提高小粒径区间的分辨率。2.4 高钢性的光学结构，光路稳定，抗振性极强，光，机，电设置适合参数，在仪器的使用过程中不需做任何调整。保证仪器处于长期稳定，重复性好。3.多功能的分析软件3.1 中英文操作系统一键互换，软件界面清晰明了，操作简单。3.2 报告输出有：自由分布、正态分布、RR分布3种格式供选择。内容包括累计粒度分布数据与曲线图、典型粒径值D3、D10、D25、D50、D75、D90、D97、体积平均粒径、面积平均粒径等。3.3 测试数据可以在线查看，打印，或转换为PDF格式保存。3.4 采用RS232和USB标准串行数据传输方式。3.5 分析软件兼容Windows XP/Win7/Win10系统。

一、MD-1粉尘分散度测定仪简介： MD-1型粉尘测定仪采用斯托克斯原理和比尔定律进行分析检测，能准确测定粉尘粒度分布。与常规方法相比省去天平称重和显微镜数数等繁杂工作。读数直观，测定结果自动储存，也可由用户根据需要选择，把结果通过显示屏或打印机输出。MD-1型粉尘测定仪具有掉电保护功能，可储存40次粒度分布数据，储存的数据可根据用户意图进行清除。MD-1粉尘测定仪主要用于粉尘粒度分布测定。 二、MD-1粉尘分散度测定仪技术参数： 1、粉尘粒度分布测定范围：0～150µ m。测定粉尘累积质量筛上分布，粉尘粒度分级为150、100、80、60、50、40、30、20、10、8、7、6、5、4、3、2、1µ m。 2、测定误差：d40µ m时，粉尘粒度分布重复测定误差≤10%，粉尘粒度测量误差（用GBW（E）120004a微粒标准物质为试验粉尘）：d50=10μm～13μm。 三、MD-1粉尘分散度测定仪安全： MD-1粉尘测定仪为非防爆仪器，不能用于具有爆炸危险性的环境中。 MD-1粉尘测定仪主要由沉降池组、制动系统、粉尘光学传感器、打印机和单片机数据处理系统等部分组成。

全自动X光沉降粒度分析仪SediGraph III PLUS SediGraphⅢ Plus全自动X光沉降粒度分析仪 SediGraph使用沉降法从均相液体中分析不同大小的固体颗粒物。通过对X-射线的吸收测量可以直接检测分离固体颗粒物的质量浓度。测定一定密度颗粒在已知密度和粘度的液体中的沉降，即可以运用Stokes方程来计算颗粒的等效球直径。在这种情况下，报告中的粒径就是与测试颗粒具有相同沉降速度的等效球的直径。• 仪器与配件报价 • 联系我们 • 产品培训 久经考验的技术和可靠性 在过去的四十多年中，美国麦克仪器公司的SediGraph是全世界许多实验室粒度分析的标准仪器。无论是在恶劣的生产环境还是在专业的化验室，SediGraph凭借其卓越的可靠性得出精确的测量结果。粒径分布的测量采用沉降法，颗粒通过直接吸收X射线而被测量。根据Stockes定律，通过测量粒子在液体中的沉降速率，得出粒子粒径大小，粒径分析范围为0.1~300μm。 产品应用软件和数据报告应用笔记、文献和参考书目ASTM测试方法智能设计特色SediGraph III Plus 粒度分析仪先进的设计确保了测量的重复性和使用的便利性。使得仪器操作更加容易，日常维护更加简单。并且能够确保对同一样品，在任意一台SediGraph仪器上都能获得重复性极高的结果。• 简化泵系统，确保快速分析和易于维护• 降低噪声，提供更加安静的工作环境• 维护提醒装置，根据总测试量，提示用户进行定期维护• 电脑控制混合室温度，提高测试可重复性• Windows操作软件，以太网连接，可进行点击式选择菜单，联网工作，打印机选择，剪切和粘贴等操作• 多功能和交互式报告系统，能够提供多种类型的报告，例如颗粒沉降速度和粒度（以Phi为单位）多项功能完整的颗粒分析，能够确保对样品中的所有颗粒全部进行分析，包括粒径大于 300μm和小于0.1μm的部分能够与其他粒径测得的数据相结合，使数据报告范围可扩展至125,000μm (125mm)，在地质学方面具有很好的应用自下而上地扫描沉降室，能够准确的获取沉降颗粒的总数，同时最小化颗粒分离所需的时间全自动操作模式能够增加分析样品总数，并且能够减少人为操作步骤，以降低由人为操作造成的测量误差控温分析可确保在整个分析过程中液体的性质不发生任何变化，以获取精确的分析结果多种分析速度，可根据实际需要选择所需的速度和分辨率实时显示，能够监控当前分析的累积质量图，以便根据需求立即修正分析程序统计过程控制（SPC）报告能够跟踪过程性能，便于立即对变化做出响应多图叠加功能，能够对分析结果进行可视化比较，例如：与参考样品或基线叠加，或者将同一分析数据的两种不同类型结果图叠加数据比较图，能够提供两套数据组（不同于参考图）图形显示的数学差或某个数据点高于/低于误差范围的程度（指定图以外）能够使用同一台计算机同时控制两SediGraph，节约宝贵的实验室空间，方便数据存储

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标

产品概述欧奇奥湿粉、乳液粒度粒形分析仪FC200湿法粒径测量，粒形分析及计数（颗粒数/毫升）。通过在流动池中的分析, 用户可以测定粒径及其分布，粒形及其 分布及颗粒计数。粒径范围覆盖0.2μm-3mm。粒径和粒形参数50~80个。计数范围宽，可对亚微米颗粒和透明颗粒进行计数，无需电解液。为了得到准确的颗粒计数，仪器内置了特殊的泵系统，实现精确流速控制。样品量可根据需要从微升级到一升以上可选。未经稀释的乳液经过位于成像装置和光源之间的固定厚度的玻璃样品池单元，浓度可达5%。欧奇奥湿粉、乳液粒度粒形分析仪FC200 系列湿粉、乳液粒径形貌分析仪型号：FC200M：800nm~1mm （动力学）FC200S+：400nm~1mmFC200S+HR：200nm~1mm欧奇奥湿粉、乳液粒度粒形分析仪FC200 系列主要特点：1.使用专有的流动池进行实验2.精心设计的系统便于清洁，大幅度减轻您的工作量3.可分析浆料、乳液、悬浊液和泡沫等4.提供最全面的粒径、形貌参数5.提供完整的标准操作规程（SOP）6.标准操作规程（SOP）：样品分析，体积取样，光强校准，背景校准，颗粒计数，生成颗粒数据库，图像存储，滤镜操作，自动生成报告 FC200系列湿粉、乳液粒度粒形分析仪参数：多达43个粒径形貌参数的统计结果，可全面了解样品总体的概况（1）粒形参数：等效面积直径，筛分直径（内切圆直径），平均直径，Crofton直径，颗粒长度，颗粒宽度，体积（2）粒形参数：ISO 9276-6 7 8规定参数包括ISO圆度 ,ISO钝度 ,ISO紧凑度 ,ISO线性度等 .延伸度,长宽比 ,圆度 ,凹度指数,平均灰度,灰度,椭圆宽度,椭圆长度 ,椭圆度,椭圆比,椭球延伸度,偏心率,实积度,钝度,粗糙度（3）高级粒形参数：磨损指数，晶化度，孔隙度，用户自定义（4）数据存储：oph专用数据存储格式可存储：粒径分布，粒径粒形。百分数独立颗粒图像及灰度（5）数据比较：可显示无上限多样品比较图表（6）可显示图表：粒径分布图，粒径百分数，粒形百分数，平均粒形，2D散点分布图，3D散点分布图，样品图像百分比，样品图像，独立颗粒图像（7）统计工具：形貌学和粒径过滤方式（8）显微镜模式：有手动选项，可手动设置样品流速、实时观察颗粒并显示颗粒参数、存储所需颗粒图像（9）外部数据分析：可输入、分析外部数据

ZML-310膏剂粒度粒形分析仪，透皮乳膏粒度晶型分析是采用显微镜图像法测试粒径大小、颗粒形状及颗粒颜色的颗粒分析系统。设备由显微镜、高分辨率数字摄像机、分析软件、计算机等部分组成。广泛适用于API原料药，药物晶型分析、生物医药、磨料、电池、非金属矿、粉末冶金、石油能源、涂料、颜料、陶瓷、食品等域的各种粉体颗粒的粒度大小、形状特征观察和测量。　　工作原理是通过用高分辨率数字摄像机和光学显微镜，将颗粒图像拍摄下来并传输到计算机中，用我们的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行分析，并通过显示器和打印机输出分析结果。该仪器具有直观、可视、准确、测试范围宽、操作简单、测量参数全面等特点。　　ZML-310型外用制剂粒度仪的技术参数　　1、准确性：＜3%。　　2、摄像机：1800万像素 3、粒径范围：200nm-3000μm　　4、粒度统计：体积、面积、颗粒。　　5、配置奥林巴斯显微镜，成像更加清晰。　　6、可以得到常规的平均粒径，D10，D50，D90等参数。　　7、软件自动进行统计样品颗粒，并对颗粒进行做粒度分布。　　8、粒径参数：等效面积圖、等效周长圆、等效短径、等效长径等。　　9、形状参数：圖度、球形度、凸起度、实积度、延伸度、长径比、长宽比、椭圆度。

ST213A/B/C 自动振实密度仪是根据2020年药典0993 振实密度测定法的技术要求和有关规定设计制造的，主要适用于粉末的振实密度的测定。其它粒度分析仪ST213A/B/C粉末振实密度仪主要技术参数● 显示方式：触摸屏显示● 符合标准：2020年中国药典USP(美国药典)、BP (英国药典) 和EP (欧洲药典) ● 被测试样重量：≤500.00克● 振实试样体积：≤250.00毫升● 单次振动次数：≤99999999次（国标中规定为3000次）。每万次误差少于1次● 振动频率：最大400转/分钟（0～300转/分钟连续可调，美国药典规定300转/分钟）。● 振动幅度：最大15mm（1mm～15 mm整数可调，国标中规定为3mm；美国药典规定为14mm）● 重复性误差：≤1%。● 测试工位：1/2/3● 电机允许力矩：0.38 N.m● 打印功能：热敏打印● 电源：交流200V ± 10% 50Hz，35W。● 其它要求：环境整洁无烟尘，周围没有机械振动源或电磁干扰源

ST136饲料耐久性测定仪（饲料颗粒粉化率测定仪）饲料厂生产的颗粒饲料必须有足够的耐久性，以承受运输过程的冲击，减少细粉，满足客户对颗粒饲料的外观要求。我公司生产的粉化率测定仪即是对颗粒饲料的PDI值进行测试的一种设备。是反映颗粒饲料质量最主要的指标之一，它是用来衡量颗粒饲料成品在输送和搬运过程中饲料颗粒抗破碎的相对能力。PDI值越大，说明颗粒抗破碎能力越强，颗粒质量越好，饲料利用率越高。其它粒度分析仪ST136饲料粉化率 设备ST136饲料粉化率主要技术参数l 回转箱数：2个l 回转转速：50转/分l 样品量：左右各500gl 回转圈数：500转/次l 使用时间：10分钟l 配电动力：120W 1440r/minl 外形尺寸： 460×380×405mml 外包装尺寸：555×431×464mm 包装重量：25kg装箱清单序 号名 称数 量单 位备 注1主机1台2电源线1根3刷子1个4使用说明书1份5装箱单1份6合格证保修卡1 份 山东盛泰仪器有限公司对出售给贵方的仪器提供如下质量保证：----提供的仪器材料是全新的、符合国家质量标准和具有生产厂家合格证的货物；----提供的材料、主要元器件符合技术资料中规定的技术要求；----设备整机质量保证期为一年（不含易损件正常磨损）。----在质量保证期内出现的仪器质量问题，我方负责免费维修。由于使用方责任造成设备故障，我方负责维修，合理收费。 ----设备终生优惠供应零部件，整机终生维护维修。 ----保质期满后，使用方需要维修及技术服务时，我方仅收成本费。

Rise-2202型全自动激光粒度分析仪此型号是一种智能型激光粒度仪，所有操作在电脑控制下自动完成，并具有自动进水、自动消除气泡、自动测试、自动排水、自动保存和自动打印等特殊功能。总之，只要把样品加进循环池中后点击鼠标，所有的操作全部由电脑完成，其综合性能达到国内外同类产品的先进水平。该仪器具有易于操作、便于掌握、测试速度快、结果准确性可靠、重复性好、省时省力等突出特点，是集激光技术、计算机技术、光电子技术于一体的新一代粒度测试仪器。特别适合高等院校、研究院所、大型企业的实验室选用。技术参数1、测量范围：0.1~600微米2、准确性误差：〈± 1%（国家标准物质D50）3、重复性偏差：〈± 1%（国家标准物质D50）4、电气要求：交流220± 10V，50Hz, 200W5、外观尺寸：1000× 330× 320mm6、重量：39KGRise-2202型全自动激光粒度分析仪工作原理： Rise-2202型湿法激光粒度分析仪采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。 颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分布规律，再根据该规律反演出粒度分布。这种运算相对比较简单，但由于事先的假设与实际情况之间不可避免会存在偏差，从而有约束拟合计算出的测试数据不能真实反映颗粒群的实际粒度分布。无约束拟合反演即测试前对颗粒群不做任何假设，通过光强直接准确地计算出颗粒群的粒度分布。这种计算前提是合理的探测器设计和粒度分级，给设备本身提出很高的要求。Rise-2202型湿法激光粒度分析仪采用最优的非均匀性交叉三维扇形矩阵排列的探测器阵列和合理的粒度分级，从而能够准确地测量颗粒群的粒度分布。Rise-2202型全自动激光粒度分析仪技术特点：测试稳定的基础：只有系统能够提供稳定的光信号，才能够充分保证测试数据的稳定。Rise-2202型湿法激光粒度分析仪选用He-Ne气体激光光源，波长0.6328微米，波长短，线宽窄，稳定性好，使用寿命大于25000小时，能够很好的为系统提供稳定的激光源信号。数据可靠的保证：保证测试数据可靠首先是信号探测系统的设计合理，被测样品分散效果的优劣和被测分散液的均匀程度是得出真实结果的另一决定性因素。探测器：光电探测系统设计独特，灵敏度高，主检测器一个，辅助检测器多个，采用非均匀性交叉三维扇形矩阵排列，最大检测角达到90度，充分保证了信号探测的全面性。光路：采用一个量程设计，会聚光路独特，减少了傅立叶透镜组，使测量范围更宽，分辨率更高，光路免调。样品分散：Rise-2202型全自动激光粒度分析仪采用湿法分散，可用蒸馏水、纯净水和酒精等液体作分散介质。大功率超声器（100W）、样品分散池（400ml）与主机一体，能够充分的对被测样品进行分散。操作简便：Rise-2202型全自动激光粒度分析仪是一种智能型激光粒度仪，只需把样品加进循环池中后，所有的操作全部由电脑自动完成:自动进水、自动消除气泡、自动测试、自动排水、自动清洗、自动保存和自动打印等。测试信息设置：可根据被测样品的不同特性，预先设置超生时间、搅拌速度、循环泵速等信息并保存，下次测试时无需再次设置。可视性强：测试软件界面友好，测试过程清晰可见，瞬时刷新，可视性强，可随时观察仪器运行状况、测试数据波动清况，分析所测数据的真实性、可靠性。功能强大的分析软件： PADMAS颗粒粒度测量分析系统（Particle Diameter Measure & Analysis System）功能强大，测试数据可以做平均、统计、比较和模式转换等处理，具有微分分布、累积分布、标准分级、R-R分布、自定义分级、按目分级和数量分布等多种格式。在0.02~2000微米内默认分级130级，在量程范围内，从1~130级可自定义分级。测试报告中有粒度分布图形和粒度数据图表，有D10、D50、D90、平均粒径和比表面积等特征参数，有四个自定义参数根据需要自行输入，重量比表面积与体积比表面积可以互换。粒度数据可保存到EXCEL。支持中、英文格式测试报告打印，页眉和页脚可根据需要进行修改，有打印预览功能，能够将粒度分布图形和粒度数据图表存成图片或PDF格式，便与WORD交互使用。可根据用户需要增加其他处理功能。操作简便：标准、量化、简单的操作能够在短时间内熟练掌握，测试数据过程在1分钟内完成。设备维护：全面的技术培训和内容详尽的使用操作说明书、软件在线帮助使操作人员能准确操作、解决疑问、排除故障。技术支持：根据样品的密度、异性、脆性、磁性、毒性、流动性、团聚性、溶解性和物理化学反应等理化特性，我们总结出了一套科学、系统和完整的分散测试方案，随着仪器提供给用户。我们既销售仪器，又提供分散测试方案。Rise-2202型全自动激光粒度分析仪硬件简介：硬件设计先进，按照Q/01RZ01-2004标准生产，元器件专业制造，性能稳定可靠，无易损配件。

美国MAS多功能超声法粒度分析仪公司介绍美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前，美国MAS多功能超声粒度分析仪仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成，可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波，由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同， 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，准确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可准确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um美国MAS多功能超声法粒度分析仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可准确测量无水体系；美国MAS多功能超声法粒度分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

仪器介绍：本款经济型简化版是CALDEE/卡尔德采用颗粒计数器领导者英国普洛帝分析测试集团公司的技术，在中特计量检测研究院应用开发的基础上，推出的颗粒监测仪表型分析仪器设备。操作简单，价格低廉，性能可靠，是目前行业中一个可进行客户现场校准和第三方认可的颗粒计数器产品!严格按照英国普洛帝第七代双激光窄光颗粒检测技术，研制的一款经济型简化版油液颗粒监测设备，集结主流的标准和方法。宽范围、大流量、超高压在线监测，一体化的结构，RS232和模拟信号的输出，满足DCS和现场仪表显示的要求。 在线颗粒度分析仪在线、实时、连续取样、报警提示，能够即时掌握分析液压系统的动态污染诊断和磨损趋势。可根据用户的要求，内置用户所需NAS1638、ISO4406、SAE 749D、ISO11171、MIL P 28809、MILSTD-1246、JJS B9933、IP 564、IP565、GOST 17216、GB/T14039、SD 313、DL/T432、DL/T1096、JB/T9737、GJB/T420A/B、GB/T18854（中国版）等标准。 在线颗粒度分析仪可以对油液颗粒度、清洁度和污染物监测和分析；液压设备及其日常维护和保养；液压部件的磨损试验；纯净溶液和超纯水中不溶性微粒测试，各类油液过滤滤芯性能测试，工程机械常规维护和检测。大流量、大量程快速检测，实现较大限度地运行，预防堵塞障碍。经济实用低成本，小型轻量易安装，抗干扰性强、耐高温高压、外壳坚固、可在恶劣环境下使用。提供有效校准，协助客户每年一次的校准计量工作。 典型应用：军事保障设备，各类工程机械，经济型滤油设施，各类液压试验台，海洋钻采平台监测，液压机床运行监测，过滤滤芯检测试验台等等执行标准：可根据客户要求，植入相应测试和评判标准；选NAS1638、ISO4406、GJB420、GOST17216等标准。技术阐述：激光传感检测器：第七代双激光窄光检测器（更精确、更稳定、更迅速）；测试软件：集成版；检测范围：1~150μm；检测通道：8通道；经典输入：NAS1638 00级～12级；（单机版） ISO4406 00级～28级；（单机版） GJB 420B 00级～12级；（单机版） GOST 17216 00级～17级（单机版）测试精度：±0.8级在线压力：0～1.0MPa（不含减压阀）；0～31.5MPa（含减压阀）；测试粘度：在线0~500里斯；取样流速：15mL/min～500mL/min；流体温度：-10℃～80℃；接口方式：可定制尺寸；模拟输出：R485接口串口协议；（可定制4mA～20mA；0~5V；RS232串口协议或并带超标报警功能）； 报告方法：颗粒数/ml及污染度等级；输入电压：9~30VCD；配套产品：各类测试接口普洛帝中国服务中心提供完善的24小时技术服务！售后服务：提供免费的安装、调试和培训，免费售后服务一年，终身服务。开通服务专线24小时在线支持。3、联合西安石油大学资深教授、国家标准委员会石油仪器分专业委员会委员提供的相关监测技术和标准。4、中特计量检测研究院提供终身有偿第三方计量校准服务。5、提供次年保养计划，让您无忧使用。

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用zui优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用最小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用最小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标

Zephyr LDA动态粒度粒形分析仪 在机械和真空分散系统的配合下，ZEPHYR LDA可以提供快速和准确的粒径粒形分析。它可以替代手动筛分法分析。结合CALLISTO软件，可以在几分钟之内完成分析。Zephyr LDA动态粒度粒形分析仪动态干法分析 干法分析采用振动式进料装置，配合真空抽吸装置，使颗粒（粉体）样品下滑到管道并在抽吸系统中分散。线性气流可以保持所有颗粒都在焦平面内。具有远心镜头的高分辨相机可以得到高清颗粒图像。Zephyr LDA动态粒度粒形分析仪传统粒度分析的升级 ZEPHYR LDA采用高分辨率相机，使得其粒度报告可与其他粒径分析仪器做比较，例如筛分仪和激光衍射粒度分析仪。分析快速准确，结果可完全对应。 玻璃窗片自动清洁（免维护） 压缩空气自动清洁玻璃窗片，没有污染，无需要在分析之后清洁光路。Zephyr LDA动态粒度粒形分析仪湿法分析（选项） 可针对不同样品特性，选配湿法测量系统。湿法分析具有以下特点：● 粒径测量范围：1μm~3000μm，0.2μm~1mm（选配）● 具备粒子计数功能● 动力学分析模式： 可跟踪每一个单一颗粒的粒度变化信息 典型应用 食品（糖，咖啡，巧克力）、纤维、烟草、泥沙，金刚石，聚苯乙烯（PTFE)，陶瓷，肥料......

美国MAS超声法粒度检测仪公司介绍美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前，美国MAS多功能超声粒度分析仪仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成，可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波，由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同， 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，准确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可准确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um美国MAS超声法粒度检测仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可准确测量无水体系；美国MAS超声法粒度检测仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

● 具有优良的测量重复性及大颗粒、小颗粒测量准确性。● 采用简洁的系统结构，可靠性好，可免维护或更少的维护（免费保修两年）。● 强大的软件功能，支持报告设计及自定义计算，可使用编程语言。● 超高性价比，为中小企业精心打造的，用得起、用得好的激光粒度分析仪。● 超强的纳米颗粒测量。结构原理PL600型智能激光粒度分析系统，是根据颗粒对光的散射原理，从散射光能的分布中反演出被测颗粒的粒度分布。颗粒在激光束的照射下，其散射光的角度与颗粒的大小成反比关系，大颗粒的散射角较小，小颗粒的散射角较大。该仪器采用全量程的米氏散射理论、智能搜索算法及简洁稳定系统结构。具有测量的重复性好、动态范围宽、测量速度快、操作简单方便及稳定可靠、易维护等优点，是一种适用面较广的粒度分析仪；可以用来测量各种固体粉末、乳液颗粒的粒度分布。适用领域该仪器广泛适用于磨料、打印耗材、建材、电池、非金属矿、粉末冶金、精细化工、生物医药、石油能源、涂料、颜料、陶瓷、农药、食品等领域的各种颗粒粒度大小的测量。性能指标1. 测试范围：0.02～1000μm2. 重复性误差：1% （D50偏差）3. 进样方式：湿法4. 采集频率：3000次/秒5. 测试时间：1～2分钟6. 探测单元数：55个7. 激光器：进口半导体激光器8. 工作环境： 5～35℃（温度），＜85%（相对湿度）9. 输出数据： 粒度分布表、粒度分布图、平均粒径、中位径、比表面积等10. 外观尺寸：（L×W×H）：695×265×296mm（主机）11. 超声波功率： 120W功能特征● 简洁可靠的光路及结构1. 全量程的米氏散射理论、智能搜索算法及简洁稳定系统结构，大幅度提高了样品测量的重复性及大小颗粒测量的准确性。2. 透镜后傅立叶变换结构，使最大接收角不受傅立叶镜头口径限制。3. 进口半导体激光发射器，低电压供电，具有更快、更好的稳定性及可靠性（预热5分钟后即可进行测量，远远优于氦-氖激光器30分钟以上的预热时间）。4. 精密超低偏置电流的数据处理电路，能够处理极其微弱信号，扫描频率达到3000次/秒。5. 独创的一体化激光器及后置对中调节锁紧机构，可实现免维护及防止运输或挪动过程中零环移位造 成的测试偏差。6. 窗口材质采用超硬光学玻璃及不锈钢，耐磨、易清洗，维护方便。7. 全量程测量，勿需更换镜头，使用更方便。8. 水平直线光路布置，光路结构稳定可靠。9. 底座采用硬铝制作，结构轻便稳定性好；10. 外壳采取了防震、防尘、防潮、防辐射设计，便于运输和在恶劣环境下工作。11. 结构紧凑，占用空间小，能够节约宝贵的实验室空间。12. 湿法进样系统采用离心增压泵，低电压供电，更安全并可连续线性调速。● 强大易用的软件系统1. 具有手动及SOP标准操作流程功能，可以大大减少人为因素的影响，使测试流程标准化。2. 多种分析模式：单峰模式、通用模式、增强模式、多重窄峰。3. 支持结果模拟，能将当前分析结果模拟成其它原理仪器的测量结果（如库尔特、图像仪等）。4. 支持报告设计及自定义计算，用户可根据需要自定义报告模板，并可使用编程语言进行计算，完成各种特殊要求。5. 超过百种的样品折射率；并提供光学参数优化功能，对样品折射率进行优化调整。6. 采用类似“文件资源管理器”的文件浏览方式，报告文件打开、查找更加简便快捷。7. 多种报告窗口：记录、分析结果、百分报告、筛分报告、拟合报告、统计报告、趋势报告、平均报告等；并可对记录进行排序，使用多种方式调整报告窗口大小（整页、页宽、100%等）。8. 可任意输入样品折射率（包括实部和虚部），系统自动完成参数计算，无需用户额外操作。9. 支持报告数据导出到doc、xls、pdf、jpg、bmp、html等多种文件格式。10. 支持多种界面外观设置。

品牌：久滨型号：JB-N9名称：纳米粒度仪 一、产品概述：　　JB-N9是我公司推出的基于动态光散射原理的纳米粒度仪。它采用高速数字相关器和专业的高性能光电倍增管作为核心器件，具有快速、高分辨率、重复及准确等特点，是纳米颗粒粒度测定的产品。控制系统原理图如下：光子相关纳米粒度仪基本原理图二、原理： 本仪器采用动态光散射原理和光子相关光谱技术，根据颗粒在液体中的布朗运动的速度测定颗粒大小。小颗粒布朗运动速度快，大颗粒布朗运动速度慢，激光照射这些颗粒，不同大小的颗粒将使散射光发生快慢不同的涨落起伏。光子相关光谱法就根据特定方向的光子涨落起伏分析其颗粒大小。因此本仪器具有原理先进、精度极高的特点，从而保证了测试结果的真实性和有效性；是纳米激颗粒粒度测定仪器。　　此款纳米粒度仪已经达到国外纳米粒度仪的测试水平！三、主要技术参数：规格型号JB-N9执行标准GB/T 29022-2012/ISO 22412：2008测试范围1-10000nm(与样品有关)浓度范围0.1mg/L-100mg/L准确度误差1%（国家标准样品平均粒径）重复性误差1%（国家标准样品平均粒径）激光λ=532nm，LD泵浦激光器（独有带温控保护）探测器HAMAMATSU光电倍增管（PMT），使用单模保偏光纤散射角90°数字相关器ASIC研制的高速光子相关器样品池10mm*10mm , 4ml（带温控保护）数据处理拟合累积分析法和改进正规化算法，可给出平均粒径及粒度分布曲线软件功能一键式测量，自动优化测量参数，轻松生成测试报表输出项目平均粒径、多分散系数、粒度分布曲线、粒度分布表等温度范围8-45℃（温度精确到0.1℃）测试速度1Min/次（不含样品分散时间）仪器体积390mm×255mm×240mm电源AC100～260V, 50/60Hz, *大功率80W使用环境温度：15～40℃，湿度20～70%。无冷凝

休辰水泥颗粒激光粒度分析仪XCLD-520原理：属于湿法基本型激光粒度分析仪，采用Mie式散射原理和汇聚光傅立叶变换光路。高密度探头及全量程无缝衔接测试方法，保证了测试结果的准确性和重复性。休辰水泥颗粒激光粒度分析仪XCLD-520技术特点湿法循环分散系统，保证颗粒保证测试过程中无颗粒沉积现象，测试排水后无废液积存现象，保证了第二次测试精度，使测试结果更真实可靠 同时XCLD-520加入了超声防干烧技术、超声功率可调技术、循环转速可调、光纤输出半导体激光器等重大改进。休辰水泥颗粒激光粒度分析仪XCLD-520技术参数：规格型号XCLD-520（标配）XCLD-520H（高配）（定制款）执行标准ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008测试范围0.1μm -600μm0.1μm -800μm探测器通道数6666准确性误差1%（国家标准样品D50值）重复性误差0.5%（国家标准样品D50值）免排气泡具备免排气泡设计，无气泡干扰数据更准确误操作保护仪器具备误操作自我保护功能，仪器对误操作不响应激光器参数进口光纤输出大功率激光器 λ= 650nm, p10mW分散方法超声频率：f=40KHz,功率：p=80W,时间：随意可调 具备超声防干烧循环、搅拌循环搅拌一体化设计，转速：100-33950rpm转速可调循环流量额定流量：0-10L/min可调 额定功率：25W样品池自行设计沸腾式样品池，分散效果更好，容量：190-600mL均可正常测试微量进样仪器可选配微量全自动测试装置,10毫升即可循环测试（选配）软件功能分析模式包括自由分布、R-R分布和对数正态分布、按目分级统计模式等，满足不同行业对被测样品粒度统计方式的不同要求统计方式体积分布和数量分布，以满足不同行业对于粒度分布的不同统计方式统计比较可针对多条测试结果进行统计比较分析，可明显对比不同批次样品、加工前后样品以及不同时间测试结果的差异，对工业原料质量控制具有很强的实际意义自行DIY显示模板用户自定义要显示的数据，根据粒径求百分比、根据百分比求粒径或根据粒径区间求百分比，以满足不同行业对粒度测试的表征方式。径距、一致性、区间累积等等测试报告测试报告可导出Word、Excel、图片（Bmp）和文本（Text）等多种形式的文档，满足在任何场合下查看测试报告以及科研文章中引用测试结果多语言支持中英文语言界面支持，还可根据用户要求嵌入其他语言界面。智能操作模式真正全自动无人干预操作，无人为因素干扰，您只需按提示加入待测样品即可，测试结果的重复性更好。操作模式电脑操作测试速度1min/次（不含样品分散时间）体积980mm*410mm*450mm重量35Kg休辰水泥颗粒激光粒度分析仪

仪器简介：激光粒度分析仪是通过测量颗粒群的衍射(散射)谱经计算机进行处理来分析其颗粒分布的。可用来测量各种固态颗粒、测量雾滴，气泡及任何二相悬浮颗粒状物质的粒度分布，测量运动颗粒群的粒度分布。它不受颗粒的物理、化学性质的限制。有超声、循环的样品分散系统，测量范围广，自动化程度高，操作方便，测试速度快，测量结果准确、可靠、重复性好。是石油化工、陶瓷、染料、水泥、煤粉、研磨材料、金属粉末、泥沙、矿石、雾滴、乳浊液等粒度分析的理想仪器。技术参数：主要技术指标 准 确 度：体积(重量)不确定范围达到GBW(E120009C)标准物质用于一般仪器鉴定规程的要求 测量速度：单次光学采样20微秒并行,处理时间少于1分钟 测量方式：静态、液态、液态循环 结果输出：打印，各级颗粒体积（重量）与颗粒数的直方图、百分比、累计百分比、D10粒径、D50粒径、D90粒径、峰值粒径、个数平均粒径、重量平均粒径、面积平均粒径、比表面积、拟合精度 型号 分数级 浓度要求 测量范围 特点 JL-9100型 32级 0.002%--0.2% 0.1-111.6um 激光衍射法 JL-9000型 32级 0.02%--1% 0.1-334.7um 适合（D501.um） JL-9200型 32级 0.02%--1% 0.1-334.7&mu m 具有自动制样装置 SKL-06型 32级 0.002%-0.2% 0.1-111.6 半导体激光器适合教学使用 SKL-07型 36级 0.002%-0.2% 0.1-334.7um 米氏散射理论,多量程颗粒测量

产品介绍：NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪是珠海欧美克仪器有限公司在成功引进和吸收马尔文帕纳科公司（Malvern Panalytical）纳米颗粒表征技术后，在NS-90纳米粒度分析仪基础上进一步增加zeta电位测试功能而推出的新一款产品。NS-90Z具有优越的粒度和电位分析功能，能满足广大纳米材料、制剂开发和生产用户的颗粒粒度和表面电位的测试需求。该仪器使用电泳光散射技术测定zeta电位，动态光散射技术测量粒子和分子粒度，以及静态光散射技术测定蛋白质与聚合物的分子量。NS-90Z融合马尔文帕纳科M3-PALS相位分析检测技术，并广泛采用全球化供应链的优质光电部件，例如进口雪崩式光电二极管（APD）检测器和He-Ne气体激光器等，加上精确的内部温控技术、密闭光纤光路以及先进软件算法，保障了数据的高重复性、准确性和灵敏度，使该型号仪器可以分析宽广的粒径、浓度及电位范围的样品。NS-90Z同时支持SOP标准操作，以及测量数据智能评估，方便用户使用。工作原理：NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪在一种紧凑型装置仪器中集成了三种技术：动态光散射技术： NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪主要使用90度角动态光散射技术 (Dynamic Light Scattering/DLS) 来测量粒子颗粒和分子粒度。动态光散射技术也称为光子相关光谱 (Photon Correlation Spectroscopy/PCS) 技术。该技术利用光电检测器测量样品中粒子发生布朗运动所产生的散射光强波动信号，再通过数字相关器得到相关函数 (Correlation Function)，最后使用斯托克斯-爱因斯坦 (Stokes-Einstein) 方程计算出粒子的粒径与分布。通过本技术所测量的粒径是和被测量粒子以相同速度扩散的等效硬球的流体动力学直径。 静态光散射技术： NS-90Z纳米粒度及电位分析仪使用静态光散射技术 (Static Light Scattering/SLS) 测量蛋白质与聚合物的分子量。静态光散射是一种非侵入技术，用于表征溶液中的分子。因粒子产生的散射光强度正比于重均分子量的平方以及粒子浓度，使用静态光散射法可以确定蛋白质与聚合物的分子量。与动态光散射工作方式类似，当激光照射样品中的粒子时，粒子在各个方向上发生散射。与动态光散射技术不同的是，静态光散射技术是测量一段时间内散射光的时间平均强度。因这个时间平均光强不能反应信号随时间的动态变化，故称为 “静态光散射”。分子量单位为 Da（Dalton） 或g/mol。 电泳光散射技术： NS-90Z纳米粒度及电位分析仪使用激光多普勒微量电泳法（Electrophoretic Light Scattering/ELS）测量zeta电位。分子和粒子在施加的电场作用下做电泳运动，其运动速度和zeta电位直接相关。NS-90Z使用相位分析光散射法 (Mixed mode measurement, phase analysis light scattering/M3-PALS），成功解决了毛细管电渗对测试的影响，并且在一次测试过程中同时得到zeta电位平均值和分布曲线。用途： NS-90Z纳米粒度及电位分析仪是一种极高性价比的纳米颗粒表征仪器，适合需要较高粒度测量灵敏度，或者需要与使用90?散射角系统结果相同的应用。该仪器适用于对乳液、悬浮液、蛋白质等样品的分析。典型应用：&bull 胶体和乳液表征&bull 药物分散体和乳液&bull 脂质体和囊泡&bull 粒子和表面的 Zeta 电位&bull 墨水、碳粉和颜料性能改进&bull 优化水处理中絮凝剂的用量以降低水处理成本&bull 缩短稳定分散体和蛋白质溶液的开发时间&bull 了解产品稳定或不稳定的原因，提高产品保质期&bull 防止形成蛋白质聚集体&bull 增加蛋白质浓度时保持稳定性 技术参数：【粒径】1.测量范围：0.3nm – 5000nm（以样品为准）2.测量原理：动态光散射法3.重复性误差：＜1%（NIST可追溯胶乳标样）4.最小样品容积：20μL5.最小样品浓度0.1mg/mL （以样品为准）【分子量】6.分子量测量范围：342 Da – 2×107 Da , 由流体动力学直径估算（动态光散射）7.分子量测量范围：9800 Da – 2×107 Da , 由德拜图计算 （静态光散射）8.测量原理：动态光散射，静态光散射9.最小样品容积：20μL（需要3-5种样品浓度）【Zeta电位】10. 测量原理：电泳光散射11. 灵敏度：10mg/mL 66kDa 蛋白质12. Zeta 电位范围：不限于-500mV~+500mV13. 最高样品浓度：40% w/v (以样品为准)14. 最小样品容积：20μL15. 最高电导率：200mS/cm16. 检测技术：M3-PALS【系统硬件】17.检测角度：90°＋13°18.激光光源：高稳定He-Ne 激光器，波长633nm，功率 4mW。19.激光安全：1类，符合CDRH 和 CE 标准20.检测器：雪崩式光电二极管（APD）检测器，QE50%21.相关器：采样时间25ns – 8000s，4000通道，1011动态线性范围22.冷凝控制方式：干燥空气吹扫*23.温度控制范围：0 °– 90°C 24.温度控制精度：± 0.1°C25.电源： AC 90 – 240V, 50 – 60Hz26.功率：50W【重量与尺寸】27.尺寸：320mm×600mm×260mm（W×D×H）28.重量：19 kg【运行环境】29.计算机配置：Intel Core 2 Duo，4GB内存，160G硬盘，显示分辨率1440×900 32bit及以上 30.计算机接口： USB 2.031.操作系统：Windows 7, Windows 10 32.温度范围：15°C – 40°C33.环境湿度：20% – 70%， 无冷凝34.需外接气源性能特点：【先进的光学系统设计】 NS-90Z纳米粒度及电位分析仪在一台仪器中集成了电泳光散射、动态光散射和静态光散射三两种技术。使用电泳光散射技术测量zeta电位，使用动态光散射技术测量粒度及分子大小，使用静态光散射技术确定蛋白质与聚合物的分子量。这种技术对整个系统的稳定性的要求极高，要求每个设计元素都必须实现优化，以确保高准确性和重现性。 NS-90Z采用光路密闭设计，防止污染。算法上使用全范围米氏理论（Mie Theory）。【功能丰富的软件优化用户体验】 提供标准操作程序（SOP）简化常规测量；自动调节各种样品的设置；操作简单，无须准直、校正或保养；智能化，可自动判断数据报告的质量。【高性能检测器】 使高效率的雪崩式光电二极管（APD）检测器，灵敏度远高于光电倍增管（PMT）。成本高但保障优化的测试性能。【研究级数字相关器】 使用高速数字相关器，4000通道，采样时间低至25ns。【稳定的激光光源和光路系统】 采用高稳定He-Ne 气体激光器确保数据的重复性，波长633nm，功率 4mW。可在300000:1的动态范围内自动调节激光衰减器。【精确的内部控温系统】 独立的循环温控槽可在0 – 90℃ 范围内任意设定，其控制精度达0.1℃，保障高重现性。软件功能：1.使用先进软件技术和界面，操作简单。2.全自动设置和测量：只需简单的培训即可设置仪器，包括样品池位置、数据记录、分析和结果显示。3.支持SOP标准操作程序，确保操作的一致性和数据重复性。 4.测量数据的完全评估：仪器软件可根据测试条件自动判断数据报告的质量。 5.打印或屏幕显示报告使用简单；含报表设计器，只需在指定的位置选择图形和输入参数，就可根据不同的需要定制不同的报告。6.样品数据和结果存储在测量文件中，方便进行数据的比较。 7.数据分析：数据以图形或表格的形式给出，分布算法适合各种样品包括单分散样品，宽分布样品以及多种模式样品。8.具有完善的介质粒度数据库

TopSizer激光粒度分析仪——中国粒度检测与分析技术的前沿之作Topsizer激光粒度分析仪是珠海欧美克仪器有限公司经过多年的技术积累后并引进国际先机技术研发出的一款高性能激光粒度分析仪。它具有量程宽、重复性好、精度高、测试结果真实、自动化程度高等诸多优点，真正站在了当前粒度检测领域的前沿，是广受客户赞誉的国产高性能干湿法激光粒度仪。一、用途：既可测量须在液体中分散的样品，也可测量须在气体中分散的粉体材料。二、工作原理：利用颗粒对光的散射现象，根据散射光能的分布推算被测颗粒的粒度分布。通过对光学、机械、电子、计算机等系统的整合和优化，使欧美克激光粒度仪具备重现性良好、分辨能力高、动态测量范围宽广、操作简单方便等优点。三、先进的光学系统双光源技术TopSizer激光粒度分析仪采用红蓝双光源设计，红光主光源为进口氦-氖激光器，波长0.6328μm，并有蓝光辅助半导体光源，波长0.466μm，弥补了常规设计散射光角度的盲区，大大地提高了对纳米级颗粒及少量大颗粒的分辨力。稳定的激光光源进口主光源预热时间短，输出单模偏振激光偏振比达500:1以上，光束中TEM00模占比达95%以上，且激光功率始终稳定，功率波动小于0.5%，使得仪器的背景很低而且稳定，大大提高了系统对有效信号的分辨能力。直线光路设计TopSizer激光粒度分析仪光路系统采用密闭式直线光路设计，无多余反射光学部件造成的杂散光，亦无粉尘污染干扰，同时采用高精度全铝合金光学平台，确保光路稳固可靠。后傅立叶变换单镜头设计单镜头设计，采用透镜后傅立叶变换结构，突破了傅立叶透镜的光瞳制约，使散射光接收角不受傅立叶镜头口径限制；而且单镜头光路中的折射、反射杂散光干扰被减到尽可能少，可以进一步降低仪器工作时的背景噪声至低水平，提高了仪器测量时的信噪比。长焦距的傅里叶透镜TopSizer激光粒度分析仪选用具有长焦距的傅立叶透镜，这样增加了测量窗口到光电探测器平面的距离（也就是有效焦距），从而使光电探测器能够准确探测到更小散射角度的散射光信号，大大增强了仪器对大颗粒的测试能力，仪器的测量上限达2000μm。合理分布、高感光度的进口光电探测器TopSizer激光粒度分析仪光电探测器为特殊定制的进口光电探测器，确保仪器具有较高的分辨力和灵敏度。探测通道数多达98个，由前向、侧向、大角度和后向光电探测器组成三维立体检测系统，探测角范围0.016-140度。结合蓝光散射信号，实现了空间全角度范围散射光能信号的无缝接收，有效保证颗粒散射光能信息的全面准确获取。智能自动对中智能软件控制自动对中系统保证了精确的光学对中。智能判断自动对中既可作为自动测量的一部分，亦可手动在屏幕上单击鼠标来完成。智能自动对中系统保证了多次测量的重现性。四、先进的高性能分散进样系统湿法进样系统：标配SCF-108A循环进样器，采用灯笼头下压式水流循环回路设计，配备大功率精确自动控制搅拌电机，可达3500转/分钟的同时减少了气泡和液体飞溅的产生，并具有高效的分散、清洗、排干能力。内置功率可达50W的高效管路超声装置，超声强度无级连续可调。标配1000毫升样品池，可根据客户需求更换容量。可选SCF-105B全自动循环进样器，除加样外的粒度测试操作均可自动控制完成。进样池采用316L不锈钢，配置高效率50W底部超声及速度可达4000转/分钟的精密搅拌装置，均连续可调。根据需要可选更多不同特性（例如微量、微量循环、耐腐蚀等）的湿法进样器。干法进样系统：标配DPF-110自动干法进样器，分散气压0.05-0.6MPa无级可调，三重可调下料机构设计，配备压电陶瓷精密振动控制单元及棕刚玉分散管，可适应于各种样品及分散强度的测试要求。内置分散压传感器和负压传感器，测试条件可追溯。测试窗口全密闭，具有负压保护装置，可有效防止窗口和主机的污染。五、功能强大的分析软件软件设计模块化，仪器状态可视化，操作界面人性化，流程界面清晰明了，拥有导航功能仪器具备智能化自动化操作。能够自检和自动识别进样系统；每次测量前能自动测量电背景，有效消除电噪声对测试结果的影响。配置自动化进样器可以进行全自动干湿法粒度测试，手动测样亦有清晰的导航测试功能。完善、开放的样品特性参数数据库，具有常用样品折射率和吸收率参数具备SOP标准操作流程，减少人为因素的影响，使分析测试流程标准化SOP测量控制界面：多种数据分析模型，满足不同特性样品的测试需要体积分布、表面积分布、长度分布和数量分布之间可以相互转换 多种方式的测量数据导出，方便数据交流具有兼容GMP附件《计算机化系统》要求的软件解决方案，具备用户分级、权限管理、数据完整性及可追溯功能。六、优异的测试性能宽广的测量范围TopSizer的实测范围为0.02-2000um，从亚微米颗粒到毫米级颗粒均可一次性实现检测，能满足粉体行业对颗粒粒度检测与控制的各种需求。宽分布样品对大颗粒具有强大测试性能毫米级玻璃微珠对纳米、亚微米等超细颗粒具备超强识别能力100nm latex良好的重复性TopSizer采用全自动的激光校正系统、自动对中系统，从而确保了激光角度校准的准确度，避免了光路的飘移，确保测试的重复性误差小于0.5%（标准粒子D50）。取样/次良好的再现性不同主机或不同进样器之间具有良好的再现性。杰出的分辨能力Topsizer能够精确测定样品中颗粒分布的微小变化，准确反映样品的实际粒度分布，能充分满足技术研究和质量控制的需要。快速的测试速度TopSizer快速的分散系统为仪器的快速测试提供了良好前提，使常规的测试能在10秒内快速完成，大幅提升了测试的效率，更好的满足了用户的需求。高灵敏度多达98个光电探测通道，由双光源及前向、侧向、大角度、后向光电探测器组成三维立体无盲区检测系统，探测角度140度。每次测试之前，软件自动检测信噪度，使仪器对大小颗粒的微小变化有着超高的灵敏度。良好适应性可选具有优异分散能力的分散系统，即使对于大密度的金属粉末、玻璃粉末均有良好的分散效果而不沉淀，从而尽可能满足各种不同密度的颗粒粒度测试的需要。七、技术指标1.测量范围：0.02-2000μm（湿法），0.1-2000μm（干法）2.测量原理：全量程米氏散射理论3.重复性：≤0.5%（标样D50偏差）4.准确性：≤±0.6%（标样D50偏差）5.测量速度：常规测量10秒内完成6.进样方式：湿法自动化测试，标配进样器均采用带进口电机的大功率精密离心泵，搅拌速度可达4000转/分钟，内置超声，均为无级连续可调。（配SCF-105B时）；干法自动化测试，分散粒度范围:0.1-2000μm，进样器分散工作压力:0.05-0.6MPa无级连续可调，压电陶瓷晶体振动进样速度：无级连续可调。7.光路系统：双光源直线光路设计，采用进口氦-氖激光器，波长0.6328微米；并有半导体蓝光光源，波长0.466微米；激光功率始终稳定，功率波动小于0.5%；仪器设计符合国际激光安全规范，具备激光束自动防护功能；采用一体式高精度全铝合金光学平台，长期稳固可靠，探测器自动对中；单镜头设计，采用透镜后傅立叶变换结构；光路系统全封闭，有效解决粉尘污染问题。8.检测器：探测通道数98个，由前向、侧向、大角度和后向光电探测器组成三维立体检测系统，主光源探测角范围0.016-140度，整体无盲区。9.软件功能：软件设计模块化，仪器状态可视化，操作界面人性化；具备SOP标准操作流程功能；多种数据分析模型，满足不同特性样品的测试需要；有导航功能的清晰、明了的流程界面；具备人工智能，仪器具备自检功能，自动识别进样系统；每次测量前能自动测量电背景，有效消除电噪声对测试结果的影响；多种方式的测量数据导出，方便数据交流；完善、开放的样品特性参数数据库，具有常用样品折射率和吸收率参数；体积分布、表面积分布、长度分布和数量分布之间可以相互转换；具有兼容GMP附件《计算机化系统》要求的软件解决方案，具备用户分级、权限管理、数据完整性及可追溯功能。10.外观尺寸主 机： 1310×275×425mm循环进样器：240×380×370mm（SCF-108A），210×260×345mm（SCF-105B）干法进样器：305×245×295mm（DPF-110）

LNF200系列多功能磨粒分析仪由洛克希德马丁公司和海军研究实验室联合开发的, 通过测量润滑油中磨损颗粒的尺寸、分布情况、产生速率和形状特征（轮廓）来判断设备的故障类型、恶化速率和磨损的严重程度。作为市场上先进的颗粒度分析仪，它已经成功应用在了海军舰队基于油液分析的预知性维护上，并且被世界范围内油液分析实验室广泛使用。斯派超科技LaserNet 200系列多功能磨粒分析仪通过直接成像技术实现对设备磨损及油液污染状态的主动监控，能同时检测油液污染度（清洁度、颗粒度）、磨粒分类和铁磁性颗粒浓度、数量及尺寸分布等。它采用LaserNetFines技术，操作界面直观并且无需校准，测试速度快、数据准确、使用方便。其主要功能如下：1. 颗粒计数1) 能分辨水珠和气泡，保证结果的准确性和稳定性2) 通过激光自动增益控制，可直接测定黑色油样（如高烟炱含量的发动机油）3) 直接测定高污染度，达5,000,000粒子/毫升的油样4) 内置ISO 4406, NAS 1638等污染度评价标准5) 支持用户自定义污染度评价标准 2. 磨粒识别与磨粒自动分类基于直接成像技术，其内置的专家系统可对捕获的磨粒或者污染物颗粒的图像进行智能识别，并自动分类，分类为切削磨损、滑动磨损、疲劳磨损、非金属磨粒、水滴、气泡、纤维等。用户也可以手动重新归类。LaserNet 200的磨粒识别及自动分类功能可部分取代分析铁谱，降低了长期以来设备磨损检测对分析铁谱仪的依赖，是第三方检测机构及工业现场油液检测的理想选择。 3. 铁磁性颗粒检测LaserNet 内嵌高灵敏磁力传感器，在进行颗粒计数和磨粒分类的同时，还能检测铁磁性颗粒浓度（ppm级）及25μm以上铁磁颗粒总数及尺寸分布。LaserNet 200系列多功能磨粒分析仪产品特点：1) 符合ASTM D75962) 同一个油样，可同时得到污染度、磨粒分类和铁磁性颗粒三方面检测结果3) 测试速度快，4分钟可完成全部测试4) 操作简单，对人员要求低5) 自动完成磨粒识别及分类6) 内置资产管理及磨粒趋势分析功能LaserNet 200系列产品型号及功能LaserNet 200 型号对比210220230颗粒总数及清洁度代码vvv非金属颗粒（沙粒/粉尘）vvv游离水检测vvv气泡/水滴修正vvv磨粒智能分类vv铁磁颗粒浓度v铁磁性颗粒总量及尺寸分布v大铁磁颗粒浓度v自动进样系统（可选）vvv

激光粒度分析仪TopSizer介绍 激光粒度分析仪TopSizer是公司经过多年的技术积累后研发出的一款高性能激光粒度分析仪。它具有量程宽、重复性好、精度高、测试结果真实、自动化程度高等诸多优点，真正站在了当前粒度检测领域的前沿，代表了中国粒度检测与分析技术的新高度。 一、技术指标： 1.测量范围：0.02-2000μm（湿法），0.1-2000μm（干法）2.测量原理：全量程米氏散射理论3.重复性误差：≤0.5%（标样D50偏差）4.准确性误差：≤±0.6%（标样D50偏差）5.测量速度：常规测量10秒内完成6.进样方式：湿法自动化测试*，进样器采用带进口电机的大功率精密离心泵，搅拌速度可达4000转/分钟，内置超声，均为无级连续可调（*配SCF-105B时）；干法自动化测试，分散粒度范围:0.1-2000μm，进样器分散工作压力:0.05-0.6MPa无级连续可调，压电陶瓷晶体振动进样速度：0-100% 无级连续可调。7.光路系统：双光源设计，采用进口氦-氖激光器，波长0.6328微米；并有半导体蓝光光源，波长0.466微米，极大地提高了对纳米级颗粒及少量大颗粒的分辨力。激光功率始终稳定，功率波动小于0.5%；仪器设计符合国际激光安全规范，具备激光束自动防护功能； 采用折叠光路，高精度全铝合金光学平台，长期稳固可靠； 单镜头设计，采用透镜后傅立叶变换结构。光路系统全封闭，有效解决粉尘污染问题； 探测器自动对中。8.检测器：探测通道数98个，由前向、侧向、大角度和后向光电探测器组成三维立体检测系统，最大探测角140度，最小探测角0.016度，无盲区。9.软件功能：软件设计模块化，仪器状态可视化，操作界面人性化； 具备SOP标准操作流程功能； 多种数据分析模型，满足不同特性样品的测试需要；有导航功能的清晰、明了的流程界面；具备人工智能，仪器具备自检功能，自动识别进样系统；每次测量前能自动测量电背景，有效消除电噪声对测试结果的影响；多种方式的测量数据导出，方便数据交流；完善、开放的样品特性参数数据库，具有常用样品折射率和吸收率参数； 体积分布、表面积分布、长度分布和数量分布之间可以相互转换；具有兼容CFDA/FDA cGMP 21CFR要求的用户分级、权限管理、数据完整性及可追溯功能。10.外观尺寸主 机：1310×275×425mm循环进样器：265×325×405mm（SCF-108），210×260×345mm（SCF-105B） 干法进样器：305×245×295mm（DPF-110） 二、工作原理：利用颗粒对光的散射现象，根据散射光能的分布推算被测颗粒的粒度分布。通过对光学、机械、电子、计算机等系统的整合和优化，使公司激光粒度仪具备重现性良好、分辨能力高、动态测量范围宽广、操作简单方便等优点。 三、先进的光学系统 双光源技术TopSizer激光粒度分析仪采用同轴双光源设计，红光主光源为进口氦-氖激光器，波长0.6328μm；并有半导体蓝光辅助光源，波长0.466μm，极大地提高了对纳米级颗粒及少量大颗粒的分辨力。在国产激光粒度分析仪中，这项技术为公司独jia采用。 稳定的激光光源主光源预热时间短，输出单模偏振激光偏振比达500:1以上，光束中TEM00模占比达95%以上，且激光功率始终稳定，功率波动小于0.5%，使得仪器的背景很低而且稳定，大大提高了系统对有效信号的分辨能力。直线光路设计TopSizer激光粒度分析仪光路系统采用密闭式直线光路设计，杂散光影响低，亦无粉尘污染干扰，同时采用高精度全铝合金光学平台，确保光路稳固可靠。后傅立叶变换单镜头设计单镜头设计，采用透镜后傅立叶变换结构，突破了傅立叶透镜的光瞳制约，使散射光最大接收角不受傅立叶镜头口径限制；而且单镜头光路中的折射、反射杂散光干扰被减到最少，可以进一步降低仪器工作时的背景噪声至极低水平，提高了仪器测量时的信噪比。长焦距的傅里叶透镜TopSizer激光粒度分析仪选用具有长焦距的傅立叶透镜，这样增加了测量窗口到光电探测器平面的距离（也就是有效焦距），从而使光电探测器能够准确探测到更小散射角度的散射光信号，大大增强了仪器对大颗粒的测试能力，仪器的测量上限达2000μm。合理分布、高感光度的进口光电探测器TopSizer激光粒度分析仪光电探测器为特殊定制的进口光电探测器，确保仪器具有较高的分辨力和灵敏度。探测通道数多达98个，由前向、侧向、大角度和后向光电探测器组成三维立体检测系统，最大探测角140度，最小探测角0.016度。结合蓝光散射信号，实现了空间全角度范围散射光能信号的无缝接收，有效保证颗粒散射光能信息的全面准确获取。智能自动对中智能软件控制自动对中系统保证了精确的光学对中。自动对中在几秒内即可完成，既可作为自动测量的一部分，亦可在屏幕上单击鼠标来完成。智能自动对中系统保证了多次测量的重复性。出色的分散系统湿法进样系统：标配SCF-108循环进样器，采用先进的循环回路设计，大功率精密离心泵，搅拌速度可达4000转/分钟，具有高效率的分散、清洗、排干能力。内置最大功率100W超声探头，超声强度无级连续可调。标配1000毫升样品池，可根据客户需求更换容量。可选SCF-105B全自动循环进样器，除加样外的粒度测试操作均可自动控制完成。进样池采用316L不锈钢，配置高效率50W底部超声及速度可达4000转/分钟的精密搅拌装置，均无极连续可调。根据需要可选择更多不同特性（例如微量、微量循环、耐腐蚀等）的湿法进样器。干法进样系统：标配DPF-110自动干法进样器，分散气压0.05-0.6MPa无级可调，三重可调下料机构设计，可适应于各种样品测试对分散强度的要求。内置分散压传感器和负压传感器，测试窗口全密闭，具有负压保护装置，可有效防止窗口和主机的污染。四、功能强大的分析软件软件设计模块化，仪器状态可视化，操作界面人性化 流程界面清晰明了，拥有导航功能 仪器具备智能化自动化操作。能够自检和自动识别进样系统；每次测量前能自动测量电背景，有效消除电噪声对测试结果的影响。配置自动化进样器可以进行全自动干湿法粒度测试，手动测样亦有清晰的导航测试功能。完善、开放的样品特性参数数据库，具有常用样品折射率和吸收率参数具备SOP标准操作流程，减少人为因素的影响，使分析测试流程标准化SOP测量控制界面： 当仪器配置湿法自动化进样器（SCF-105B）时，上左图为湿法进样器控制面板，用户可以设置泵速、超声功率、定时超声时间、开启与关闭定时超声，可以执行进水、排气泡、清洗、排水与停止操作。自动化进样器控制面板 当仪器配置干法自动化进样器（DPF-110）时，上右图干法进样器控制面板，用户可以设置进料速率，选择气流控制模式，也可以执行自动清洗与停止等操作。多种数据分析模型，满足不同特性样品的测试需要 体积分布、表面积分布、长度分布和数量分布之间可以相互转换 多种方式的测量数据导出，方便数据交流 具有兼容CFDA/FDA cGMP 21CFR 要求的用户分级、权限管理、数据完整性及可追溯功能 五、卓越的仪器性能宽广的测量范围TopSizer的实测范围为0.02-2000um，从亚微米颗粒到毫米级颗粒均可一次性实现检测，能满足粉体行业对颗粒粒度检测与控制的各种需求。 对大颗粒具有强大测试性能 16-20目玻璃微珠 对纳米、亚微米等超细颗粒具备超强识别能力 良好的重复性TopSizer采用全自动的激光校正系统、自动对中系统，从而确保了激光角度校准的准确度，避免了光路的飘移，确保测试的重复性误差小于0.5%（标准粒子D50）。取样/次D10/μmD50/μmD90/μm113.4936.9771.64213.4636.9471.73313.5137.0671.76Average13.4936.9971.71SD0.030.060.06RSD (%)0.190.170.08 良好的再现性不同主机或不同进样器之间具有良好的再现性。 杰出的分辨能力Topsizer能够精确测定样品中颗粒分布的微小变化，准确反映样品的实际粒度分布，能充分满足技术研究和质量控制的需要。 快速的测试速度TopSizer优秀快速的分散系统为仪器的快速测试提供了良好前提，使常规的测试能在10秒内快速完成，大幅提升了测试的效率，更好的满足了用户的需求。 超高灵敏度多达98个光电探测通道，由双光源及前向、侧向、大角度、后向光电探测器组成三维立体无盲区检测系统，最大探测角度140度。每次测试之前，软件自动检测信噪度，使仪器对大小颗粒的微小变化有着超高的灵敏度。 超强适应性可选具有极强分散能力分散系统，即使对于超大密度的金属粉末、玻璃粉末均有良好的分散效果而不沉淀，从而最da程度满足各种不同密度的颗粒粒度测试的需要。

粒度电声法Zeta电位分析仪典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，准确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可准确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um粒度电声法Zeta电位分析仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可准确测量无水体系；粒度电声法Zeta电位分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

美国MASZeta电位及粒度分析仪典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。进口Zeta纳米分析仪主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；美国MASZeta电位及粒度分析仪优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；进口Zeta纳米分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m