透镜成像原理

有哪位能解释一下反傅立叶透镜的成像原理.它与傅立叶透镜成像的区别是什么?它的优势何在?谢谢!

1. 在金相显微镜中，当物体位于透镜物方二倍焦距以外时，则在象方二倍焦距以内、焦点以外形成缩小的倒立实象； 　　2. 当物体位于透镜物方二倍焦距上时，则在象方二倍焦距上形成同样大小的倒立实象； 这种成像对金相显微镜的光路尤为重要。　　3. 当物体位于透镜物方二倍焦距以内，焦点以外时，则在象方二倍焦距以外形成放大的倒立实象； 　　4. 当物体位于透镜物方焦点上时，则象方不能成象；这同样是影响金相显微镜成像的重要因素。　　5.当物体位于透镜物方焦点以内时，则象方也无象的形成，而在透镜物方的同侧比物体远的位置形成放大的直立虚象。

突然迷茫了。电磁透镜最基本的原理是电流产生磁场，然后经过极靴的汇集作用集中到轴的附近，那么电流变化跟磁场强度变化的关系式应该是什么？跟具体所用铁芯材料有关系吧？

[b]问题：[/b]读那本Egerton的PPEM，书中提到了静电透镜和磁透镜的特点，其中静电透镜是这样的：1. 无像转角2. 比较轻，consumes no power3. 对电压的稳定性要求不高4. 容易聚焦离子束磁透镜是：1. 低透镜像差2. 不需要高压激励3. 可以做浸入式透镜我有几个疑问：1. consumes no power指的是什么？静电透镜不需要专门的动力？2. 磁透镜的那个浸入式透镜，是不是说的是样品处于透镜内部中心轴，这样磁场比较均匀吧，而静电式透镜如果这么操作，如果放入导电样品，会引起电场的扭曲？3. （我自己加的）高加速电压时，容易击穿静电透镜。那么是不是扫描电镜比较适合采用静电透镜，而FIB更是因为聚焦离子束的原因，一般采用静电式透镜呢？[b]回答：[/b]我的理解是静电透镜是个耐受高压电容器，只要加电压就成了。除非有空间电荷，也就是用于成像的时候会消耗能量，平时加着高压透镜是不消耗能量的。而磁透镜保持工作需要一直通电流，所以透镜要消耗能量。浸入式我觉得可能是考虑到介电材料会在静电透镜作用下产生极化的问题。静电透镜和磁透镜有适用范围，对于低压电子束用静电透镜比较好，可能考虑的是你前面所说的那些优点。而对高压电子束，静电透镜的会聚能力将大打折扣，相反磁透镜则受影响比较小，因此现在多是低压静电透镜，高压磁透镜的设计。记得Rose,Riemer,Egerton他们有专门的论述。因为离子荷质比大，磁透镜效果不好，所以FIB用静电透镜。我觉得主要是荷质比，离子比电子大多了，如用磁透镜聚焦需狂大的磁场，目前技术水平不能实现，改用静电透镜则可用几组负载电压为几~十几KV的电极来实现。

[em01] 各位大虾我还是没有搞清楚离子透镜的作用原理，还有[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/yp][color=#3333ff]ICP-MS[/color][/url]到底是怎么定量的，请赐教！

金相显微镜是的成像原理则是根据电子光学原理，用电子束和电子透镜代替光束和光学透镜，利用凸透镜的成像原理进行成像，使用非常高的放大倍数对细微结构的物质进行成像。普通的金相显微镜是根据凸透镜的成像原理，要经过凸透镜的两次成像。这点不同于望远镜的成像，望远镜成缩小倒立的实像。而不管是普通的金相显微镜，还是电子显微镜，都有一个重要的物件—透镜。金相显微镜当中有几个英文名词，大家可以了解一下，f 表示透镜焦距u 表示物体与透镜之间距离（简称物距）引用：www.bsdgx.com

显微镜(microscope)简称光镜，是一种将肉眼无法看清楚的微生物体进行光学放大成像的常用仪器。在生命科学、材料科学、基础科学及众多的微观领域中都离不开显微镜。1590年.荷兰的Han，父子始创放大10倍显微镜。175.8年，Dollond制成消色差透镜，提高了显微镜放大倍数。1873年，德国科学家Abbe设计成近代显微镜。1953年.上海江南光学仪器厂国产显微镜诞生，并陆续生产了荧光、相衬、偏光等专用显微镜。生物及医用显微镜可分为光学放大及电子放大两大类。前者按用途可分为普通型、特种型、高级型显微镜和手术显微镜。普通型生物显微镜仅供一般用途使用，通常的农用与医用显微镜、倒税显微镜均属这一类。特种型生物显微镜可作某些专用的观察和研究。暗场生物显微镜、荧光显微镜、偏光显微镜、相衬和干涉相衬显微镜等均属于这一类。高级型生物显微镜系指大型多用途的生物显微镜.研究用生物显微镜和万能研究用生物显微镜等属于这一类。一、显微镜放大成像系统显微镜光学系统由物镜和目镜两部分组成。因为被观测的物体本身不发光，而要借助于外界照明，故显微镜需要有一个照明系统，这些部分都是由较复杂的透镜组成，尤其物镜更为复杂。下图是显微镜成像的光路原理图，图中的物镜和目镜均用薄透镜表示。http://www.yi7.com/file/upload/201201/07/14-00-33-93-1.jpg显微镜成像原理显微镜的物体AB处于物镜的2倍焦距之内一倍焦距之外，它首先通过物镜成一放大的倒立实像A'B'，且使之位于目镜的物方焦平面上或焦平面以内很靠近的地方，然后目镜将这一实像再次成一个正立虚像A"B"于无限远或人眼明视距离之外，以供眼睛观察。显微镜对物体进行2次放大，因此与放大镜相比，具有更高的放大倍率，能观察到肉眼所不能直接观察的微小物体，分辨更细小的细节。在这里目镜相当于放大镜，只不过这时放大镜的物是物镜所成的像而已。由于物镜所成的像是实像.因而可在实像处(即目镜的物方焦平面处)安放各种用途分划板.供对准或测量用。二、显徽镜的放大率与分辨本领1.显微镜的分辨本领 分辨本领主要指接物镜分辨被检查物体细微结构的能力，也就是说在显微镜下判别的最小微粒的大小或两点之间最短距离及某物点最小直径的限度，便叫做显微镜的分辨本领.或称为鉴别率。通常用d表示:http://www.yi7.com/file/upload/201201/07/14-00-33-14-1.jpg式中.A表示波长;n sins (NA)表示数值孔径。 从式中可知，显微镜的分辨率主要取决于光的波长和数值孔径这两个因素。d值越小，分辨本领也就越强，越能看清物体的细微结构。鉴别率计算单位是Um. 显微镜的鉴别率的提高只有两个办法: (1)增大物镜的数值孔径(镜口率)。从图可以看出，影响数值孔径(n sina)的因素有两个:其一为物体上某点射人物镜光锥角(镜口角)的一半(sina);其二为检品与物镜间媒质的折射率n。即数值孔径为NA = n sine镜口角半数最大能到900，故si na的最大值为1.00，这时物镜的焦距最短而曲度也很大，制造上是极为困难的。即使能办到，在干燥系中的镜口率只有1 x sin90“（控气n二1)。若再增大镜口率便只有从媒质着手，所以便有水、甘油，石蜡油和香柏油等浸润均匀媒质的应用，确实改进了镜口率不少.它最高可到1.40。如果用澳萘液可达1.67左右，更接近盖片和透镜的折射率。http://www.yi7.com/file/upload/201201/07/14-00-33-51-1.jpghttp://www.yi7.com/file/upload/201201/07/14-00-33-44-1.jpg (2)缩短光源的波长:采用紫外线作光源，波长可到0.1Um，这样放大倍数比自然光放大的倍数大3-4倍，普通紫外线光波在0.2 Um左右，即使能产生出0.1 Um波长的紫外线.一般透镜也将把它吸收干净.无法利用。显微镜的最大数位孔径可达1.5 Um左右，在这种情形下: http://www.yi7.com/file/upload/201201/07/14-00-33-33-1.jpg即在这种显微镜里，仍可分辨的两点间最短距离差不多等于所用光波波长的1/30假定绿光的光波的波长http://www.yi7.com/file/upload/201201/07/14-00-33-23-1.jpg那么显微镜能分辨的最短距离为:http://www.yi7.com/file/upload/201201/07/14-00-33-89-1.jpg 则这台显微镜的最高分辨距离也超不过。.182 Um。肉眼在明视距离(250 mm)能分辨的两点之间最短距离为0.1 mm，约为上述d值的560倍.因此I台光学显徽镜的放大率有100()倍也就足够了。这是因为光的本性及光的绕射现象就限制了显徽镜的放大极限。凡是光波超过微粒直径的2倍时，光线就很方便地绕过微粒而继续前进，所以普通干燥系显微镜的最大鉴别率只能达到光源波长的1/2，直径小到0.2 5m的微粒就无法被光学显微镜发觉。虽然后来应用浸润系方法，如油镜，提高了折射率，其鉴别率也只不过能提高到光源波长的1/3而已。而且还要用最好的透镜才能达到。

看文献--[font=方正黑体_GBK][color=#000000]质谱仪离子导向装置的原理[/color][/font][font=DY29][color=#000000]、[/color][/font][font=方正黑体_GBK][color=#000000]应用和进展里面介绍[/color][/font][font=方正黑体_GBK][color=#000000][font=宋体]离子传输系统一般由取样孔（ｓａｍｐｌｉｎｇｃｏｎｅ）、漏勺（ｓｋｉｍｍｅｒ）、离子导向装置（ｉｏｎｇｕｉｄｅ）和离子透镜（ｉｏｎｌｅｎｓ）等组成。[/font][/color][/font][font=方正黑体_GBK][color=#000000]离子导向装置里面又包含了静电透镜。这样看的话静电透镜和离子透镜就不属于同一分类，但又不清楚他们的区别在哪。[/color][/font][font=方正黑体_GBK][color=#000000]百度之后，感觉他们都是聚焦作用，也没看出什么区别，求大佬解惑！[/color][/font]

我是研究材料的，变形镁合金。现在要用到TEM，包括透射照片和选区电子衍射斑点及其标定。目前处于研究TEM基础理论的阶段，问几个看书时百思不得其解的问题。衍射斑点的产生源自布拉格定理，这点我现在很清楚，就是反射线与入射线在成一定角度时发生衍射作用。透射电镜成像的原理我也很清楚，就是模仿放大镜，不同的是采用的“光线”是电子束，而且聚焦的是电磁透镜。但是我怎么也不理解：为什么中间镜的物平面，往上放到与物镜像平面重合 ，出来的是放大像；往下放到与物镜背焦面重合，出来的是电子衍射花样？还有，这个晶体结构衍射出来的斑点到底是什么？一个点就代表了一个晶面？

各位大虾，我最近在做一个实验，就是：氘灯光源经过凸透镜，然后射入光谱仪，读取光的强度与波长。氘灯未通过透镜时，光谱仪读的波长主要集中在190-600nm，差不多都饱和，海洋光学的仪器都读到20000+。但是通过一个普通凸透镜后，其波长范围发生很大变化，紫外光400nm的部分很弱，而主要部分都集中到可见光区。我想请教的是：1、有没有针对紫外光的凸透镜，按光学基本原理，紫外光应该也是能够汇聚的；2、之前也请教关于把光源汇聚到光源的问题，现在我也只是做一个尝试，先前期探路，进行仪器的改造，有兴趣的话可以一起摸索。欢迎大虾前来指教。。

看文献——[font=方正黑体_GBK][color=#000000]质谱仪离子导向装置的原理[/color][/font][font=DY29][color=#000000]、[/color][/font][font=方正黑体_GBK][color=#000000]应用和进展里面写道[/color][/font][font=方正黑体_GBK][color=#000000][font=宋体]离子传输系统一般由取样孔（ｓａｍｐｌｉｎｇｃｏｎｅ）、漏勺（ｓｋｉｍｍｅｒ）、离子导向装置（ｉｏｎｇｕｉｄｅ）和离子透镜（ｉｏｎｌｅｎｓ）等组成。[/font][/color][/font][font=方正黑体_GBK][color=#000000][font=宋体]后面介绍离子导向装置时，介绍了静电透镜。这样分类的话，感觉两者不属于同一个分类，但感觉又很像，百度的话，感觉两者都是聚焦的作用也没看出区别。就很困扰。[/font][/color][/font][font=方正黑体_GBK][color=#000000][/color][/font]

今天给以新手培训，讲到透镜的工作原理，感觉自己讲得不到位，未能将透镜的作用解释到位，哪位在给解释下，尤其是其对离子的聚焦作用！

由于客观条件，任何光学系统都不能生成理论上理想的像，各种相差的存在影响了成像质量。下面分别简要介绍各种相差。 1、色差 色差是透镜成像的一个严重缺陷，发生在多色光为光源的情况下，单色光不产生色差。白光由红 橙 黄 绿 青 蓝 紫 七种组成，各种光的波长不同 ，所以在通过透镜时的折射率也不同，这样物方一个点，在像方则可能形成一个色斑。 色差一般有位置色差，放大率色差。位置色差使像在任何位置观察，都带有色斑或晕环，使像模糊不清。而放大率色差使像带有彩色边缘。2、球差 球差是轴上点的单色相差，是由于透镜的球形表面造成的。球差造成的结果是，一个点成像后，不在是个亮点，而是一个中间亮、边缘逐渐模糊的亮斑。从而影响成像质量。 球差的矫正常利用透镜组合来消除，由于凸、凹透镜的球差是相反的，可选配不同材料的凸凹透镜胶合起来给予消除。旧型号显微镜，物镜的球差没有完全矫正，应与相应的补偿目镜配合，才能达到纠正效果。一般新型显微镜的球差完全由物镜消除。1、慧差慧差属轴外点的单色相差。轴外物点以大孔径光束成像时，发出的光束通过透镜后，不再相交一点，则一光点的像便会得到一逗点状，型如慧星，故称“慧差”。 2、像散像散也是影响清晰度的轴外点单色相差。当视场很大时，边缘上的物点离光轴远，光束倾斜大，经透镜后则引起像散。像散使原来的物点在成像后变成两个分离并且相互垂直的短线，在理想像平面上综合后，形成一个椭圆形的斑点。像散是通过复杂的透镜组合来消除。3、 场曲 场曲又称“像场弯曲”。当透镜存在场曲时，整个光束的交点不与理想像点重合，虽然在每个特定点都能得到清晰的像点，但整个像平面则是一个曲面。这样在镜检时不能同时看清整个相面，给观察和照相造成困难。因此研究用显微镜的物镜一般都是平场物镜，这种物镜已经矫正了场曲。 4、 畸变 前面所说各种相差除场曲外，都影响像的清晰度。畸变是另一种性质的相差，光束的同心性不受到破坏。因此，不影响像的清晰度，但使像与原物体比，在形状上造成失真。 （1） 当物体位于透镜物方二倍焦距以外时，则在像方二倍焦距以内、焦点以外形成缩小的倒立实像； （2） 当物体位于透镜物方二倍焦距上时，则在像方二倍焦距上形成同样大小的倒立实像； （3） 当物体位于透镜物方二倍焦距以内，焦点以外时，则在像方二倍焦距以外形成放大的倒立实像； （4） 当物体位于透镜物方焦点上时，则像方不能成像； （5） 当物体位于透镜物方焦点以内时，则像方也无像的形成，而在透镜物方的同侧比物体远的位置形成放大的直立虚像。 显微镜的成像原理就是利用上述（3）和（5）的规律把物体放大的。当物体处在物镜前F-2F（F为物方焦距）之间，则在物镜像方的二倍焦距以外形成放大的倒立实像。在显微镜的设计上，将此像落在目镜的一倍焦距F1之内，使物镜所放大的第一次像（中间像），又被目镜再一次放大，最终在目镜的物方（中间像的同侧）、人眼的明视距离（250mm）处形成放大的直立（相对中间像而言）虚像。因此，当我们在镜检时，通过目镜（不另加转换棱镜）看到的像与原物体的像，方向相反。 本文转自http://www.gzspecial.com/qyxw/19.html

请问各位专家:四极质谱中预四极杆与TK透镜在结构、原理、功能各方面都有哪些区别和相同之处？

离子透镜的设计是建立在光学透镜的基础之上的，二者有何相同的地方，又有何不同的地方？

还是读那本Egerton的PPEM，书中提到了静电透镜和磁透镜的特点，其中静电透镜是这样的：1. 无像转角2. 比较轻，consumes no power3. 对电压的稳定性要求不高4. 容易聚焦离子束磁透镜是：1. 低透镜像差2. 不需要高压激励3. 可以做浸入式透镜我有几个疑问：1. consumes no power指的是什么？静电透镜不需要专门的动力？2. 磁透镜的那个浸入式透镜，是不是说的是样品处于透镜内部中心轴，这样磁场比较均匀吧，而静电式透镜如果这么操作，如果放入导电样品，会引起电场的扭曲？3. （我自己加的）高加速电压时，容易击穿静电透镜。那么是不是扫描电镜比较适合采用静电透镜，而FIB更是因为聚焦离子束的原因，一般采用静电式透镜呢？

(一)阿贝成像原理 为了理解相差尼康显微镜的原理，不得不回顾普通显微镜的成像原理。德国光学家阿贝(E. Abbe)从1874年以后创立了成像原理.在现代波动光学的发展基础上兴起的变换光学中的空间信息滤波和信息处理概念，就是奠基于阿贝成像原理。 据阿贝的看法，尼康显微镜的透镜或透镜组不只是反映物平面和像平面的共扼关系，而且也反映透镜前后的无数个对应平面的共扼关系。当然，显微镜的成像光路中最为重要的共扼面还是物平面和像平面(图10-18,0--0').显微镜成像光路中同样具有重要的共扼面是发光平面((KY1000显微镜)和光源的像平面(L')。 但是如果在显徽镜结构中在聚光镜的前焦面上放置孔径光栏时，那么光源和光源像两平面的共辘关系，代之以聚光镜前焦面的光栏平面和物镜后焦面的L"平面的共扼关系。 阿贝认为发光平面的共扼面即L’平面，是显微镜的初级成像平面，而物平面是次级成像平面。若通俗一点来讲，L‘烛光是L烛光的像，而O‘空间是L'烛光的像。 如果我们在尼康显微镜的初级成像光路上在聚光镜和物镜之间，擂入一张不同光密度的标本O(图10-20上是光栅)时，立即破坏了初级成像光路.这是因为标本细节的光密结构(栅)和光疏结构(间隙)的折射率不同，而产生光的衍射。其结果如图10-20所示，L烛光在它的像平面上出现了数支烛光。与此同时，在像平面上出现标本0的干涉像.这些干涉纹是由次波源。，一1,+1发射的衍射光的重叠所造的。这样由于标本的干涉次级成像过程，已由CM100的共扼面改变成CM300FL的共扼面。也就是说像平面上不是L，的像，而是标本0的像了。 总之，相干成像过程的第一步是形成衍射斑，而第二步是相干干涉.当然未染色生物标本细节的折射率有很小的差异，在像平面上的对比度非常小。为了提高物像的对比度(反差)，荷兰物理学家(F. Zernike(1935)设计了相差显微镜的基本部件如环状光栏和位相板。 从阿贝成像原理已经知道尼康显微镜的聚光镜前焦面上放置孔径光栏时，这个平面就成为物镜后焦面的共扼面。F. Zernike在这个平面上放置了环状光栏，按空间滤波概念，称带通滤波器。 环状光栏给物镜后焦面提供的是照射在环形甲像平面上的相干光束。照射在环形像平面上的相图10-20显徽镜的成像光路干光束，不同于线形窄缝所提供的相干光束.前者不能造成带有方向性衍射斑.在共扼面上的光分布强度也不像窄缝衍射那种零级强度。它所造成的衍射光是均匀的无方向性的. F. Zernike在相差尼康显微镜的物镜后焦面上放置了位相板。恰巧位相板的吸收环变成环状光栏的成像平面。其结果就像F. Zernike指出的，如果人工地改变照射到不吸光物体而形成初级成像光束的光波，以此来改变衍射光和直射光的位相和振幅，使之近似乎吸光物体的初级成像光束时，那么其结果就造成完全像吸光物体的次级成像，也就是加强了物体细节的反衬度。巧妙地使用位相板，就能够使物像平面上的光强度分布与物体细节的位相信息成为线性关系.也就是人工地用物体细节的位相分布调整像平面的光强分布。甚至巧妙地选配不同类型的位相板，使之适合于物体细节的折射率时，可以强使物像平面上的反衬度出现逆转，即由明反差改变为暗反差，或者反之。

ICP用的第一个透镜是什么透镜？凸透镜还是凹透镜或是平面透镜？请详细解答一下，谢谢各位大哥 大姐。

本人超级菜鸟！没用过电镜，只是对扫描电镜的原理感兴趣，最近有个想法，[color=#000000]扫描电镜中的磁透镜采用钕铁硼永磁体，钕铁硼的剩磁可达几T，如果再做一个合适的极靴，或采用极靴的原理做一个磁场集中器，那磁感应强度估计高出很多，这样不仅比电磁透镜的效率高，还几乎不耗能量，唯一缺憾是失去了可调性，但是可以通过调整电子束加速电压或调解磁透镜位置来调解焦距，虽然可调性降低但是可以做成微可调的，分辨率固定的（保持在最大分辨率）。[/color]

请教各位大侠，我用的A的气质，关于它的透镜组不是很清楚，还请各位老师指教！！！①A家的拉出极是不带电的，正常拉出极的话应该是带负电，这样能够把带正电的离子碎片给拉出来，不带电只靠推出极，那拉出极起到什么作用？②关于聚焦透镜，资料上给的是带负电，如果带正电荷的离子碎片不在中心，这样的话不会被拉到聚焦电极上而造成损失吗？③对于入口透镜，资料上的给出的是能够对正离子碎片加速，请问这个加速的过程是如何？“增加入口透镜补偿可以增加灵敏度”请问这句话怎么解释问题比较多，希望老师们能不吝赐教！！！

质谱的离子源中有透镜，这个透镜和光学透镜有什么区别？

前几天洗5975C离子源，发现离子聚焦透镜和入口透镜外层的那个土黄色绝缘体（透镜绝缘体）是一个整体，不能分成2半，离子聚焦拿不出来，最后不得不洗这玩意了而视频和说明书上都是可以分成2片的，可以洗离子聚焦问了安捷伦的工程师，最后说5975C的那个土黄色绝缘体本身就是一个整体，可我总感觉不对，一个整体的话离子聚焦就洗不了了啊大家的5975C的那玩意也是一个整体吗？大家怎么洗离子聚焦？

今天做样的时候,不小心把石墨炉两侧的那个透镜给打碎一个本来是怕脏了影响检测来着,现在都不能做了各位给支个招,那个透镜是属于配件销售吗,我们是安捷伦的仪器,从哪里买到透镜的作用是什么,没有的话,影响检测吗[em09509][em09509]

请教下，EI源中产生的带正电荷的碎片，经推斥极（正电压）推出进入离子透镜，散射的离子经聚焦透镜（负电压）聚焦成束，防止了聚焦部件对离子的捕获。我想问的是，聚焦透镜形成的电场如何聚焦离子的，需要多组电压吗？同时加载负电压，是否起到加速离子的作用？后面通过的入口透镜，起到加速离子作用，是不是也加载了负电压呢？

在进行透镜清洗时，发现透镜上有一道划痕，在凹进去的那一面上，使用型号是OBLF QSN750,不知道对分析的结果会不会有影响呢～～如果有的话，不知道会影响到哪些元素～～

不小心动了 第一透镜和第二透镜,现在能量回不去了,第一透镜和第二透镜调整过很多次都无法回到以前的位置,有没有人来告诉我这两个透镜到底怎么调啊.

大家好，我想问一下大家准直透镜和一般的透镜有什么区别啊。。？就是说除了特别简单的准直以外，比如说一般的透镜你把光源放到焦点上输出的光也可以准直啊。。

为什么玻璃透镜对于波长较短的光如蓝光折射率大，而对波长较长的红光折射率相对小些，即红光焦距长于蓝光。而磁透镜聚焦电子波却相反，对波长较短能量高的电子波折射率较小呢？请高人解释一下。多谢啦。