膜厚仪原理

教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k)，到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 100nm-30微米；波长范围: 300-1000nm 探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D精度：1%斑点大小：0.5mm 光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：320x360x180mm 重量：9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

TT30超声波测厚仪 TT30超声波测厚仪 超声波测厚仪TT300 超声波测厚仪TT300（智能标准型,TT300超声波测厚仪是智能标准型超声波测厚仪超声波测厚仪TT300采用超声波测量原理，TT300超声波测厚仪适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,TT300超声波测厚仪并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。TT300超声波测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量，另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。超声波测厚仪TT300基本原理　　超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似，探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。 超声波测厚仪TT300性能指标　　测量范围： 0.75mm～300.0mm 　　显示分辨率：0.1/0.01mm（可选）　　测量精度：± （1%H+0.1）mm H为被测物实际厚度 　　管材测量下限（钢）：&Phi 15mm× 2.0mm 　　最小厚度值捕捉模式：可选择显示当前厚度值或最小厚度值　　数据输出：RS232接口，可与TA220S微型打印机或PC连接　　数据存储：可存储500个测量值和五个声速值　　报警功能：可设置限界，对限界外的测量值能自动蜂鸣报警　　使用环境温度：不超过60℃ 　　电源：二节AA型1.5V碱性电池　　工作时间：可达100小时　　外形尺寸：152mm× 74 mm× 35 mm 　　重量：370g

大连力迪流体控制技术有限公司代理比利时it4ip 径迹蚀刻膜 核孔膜，近30年进口工业品经验,常备大量现货库存,支持选型，在中国设有：上海，北京，广州，南京，成都，沈阳，长春办事处，可为您提供维修服务。售后服务工程师，可及时到现场给客户提供安装调试指导服务。一、it4ip 公司介绍比利时it4ip 成立于2006年，起源于1980年代在UCLouvain（比利时）发展起来的一家以技术为基础的私营公司，专注于开发、生产和提供径迹蚀刻过滤膜，it4ip利用径迹蚀刻技术（track-etching tenology）制造具有多种不同应用的微米和纳米多孔径迹蚀刻膜，用于石棉纤维检测、血液过滤、癌细胞筛选或微米和纳米体的合成等。It4ip 径迹蚀刻膜的特点是具有精确的过滤阈值，从10nm 到几十微米不等，具有很小的厚度和特别的表明特性。It4ip的生产和转换能力为每年150000平方米，可根据客户的要求，以卷、片、盘或其他形式提供各种产品以及OEM解决方案。 二、it4ip 径迹蚀刻膜的原理It4ip径迹蚀刻膜的原理是用高能粒子辐照聚合物薄膜，形成潜在径迹，然后通过特定的化学处理将这些径迹转化为规则的孔隙。该技术在洁净室中实施，适用于以几百米长的轧辊形式连续生产。 It4ip径迹蚀刻膜的制造包括两个步骤：即聚合物薄膜的离子光束辐照和辐照后聚合物薄膜的化学蚀刻。化学蚀刻通常在浓度和温度控制良好的碱性水溶液中进行。其主要特征是径迹蚀刻速率（Vt）和体蚀刻速率（Vg）。为了获得具有圆柱形孔的均质膜过滤器，需要高比率的Vt/Vg。径迹密度或所需孔密度由离子束的强度和薄膜的速度所决定。孔径由化学蚀刻条件决定，因此径迹蚀刻膜可以进行孔径和空密度的选择。先进的径迹蚀刻技术可应用于聚酰亚胺（PI）、聚酯(PET)和聚碳酸酯（PC）。其中聚酰亚胺的径迹蚀刻是it4ip 独有的技术。三、it4ip 径迹蚀刻膜的产品介绍It4ip轨道蚀刻过滤膜是采用优质原材料和轨道蚀刻技术制造，材料有聚碳酸酯（PC）、聚酯（PET）或聚酰亚胺（PI）薄膜。It4ip轨道蚀刻过滤膜具有均匀和精确的孔径，窄的截止孔，宽的空隙率，厚度从6μm到50μm不等。作为筛选过滤膜，其光滑平坦的表面使其适合于对残留颗粒进行精确分析的应用。It4ip具有大的制造能力， 可生产50厘米宽的卷轴（宽达50厘米，长400米），也可根据客户的要求，将窄的卷轴（宽达10毫米）转换为各种格式，例如薄片、正方形、圆盘或任何其他尺寸的样品。it4ip 径迹蚀刻膜的产品特点：孔径从0.01μm到30μm，宽的孔隙率，孔隙率达50%6-50μm的厚度，采用高质量的原材料，聚酰亚胺PI，聚碳酸酯PC 和聚酯PET孔排列及孔长度的多种选择，直的或者多角度的白色、黑色、透明等多种颜色和表面涂层大规模生产和转化能力，多形状，宽幅的，窄幅的，片状、正方的，盘状等低萃取性、低蛋白结合、可忽略吸附和吸收、生物相容性、优异的耐化学性和热稳定性It4ip 提供的径迹蚀刻膜产品包括ipPORE™ 径迹蚀刻过滤膜，ipBLACK™ 径迹蚀刻过滤膜，ipCELLCULTURE™ 径迹蚀刻过滤膜，材料有有聚碳酸酯（PC）和聚酯（PET）两种，孔径和厚度可选，其中ipCELLCULTURE™ 径迹蚀刻过滤膜经过专有的表面处理方法进行处理，以促进多种细胞系的生长和分化，具有优异的细胞粘附性，用于细胞培养及信号传导等研究。 it4ip轨道蚀刻膜主要产品：ipPORETM 轨道蚀刻膜过滤器、ipBLACKTM 轨道蚀刻膜过滤器、ipCELL CULTURETM轨道蚀刻膜过滤器、it4ip核孔膜、it4ip轨道蚀刻膜过滤器、it4ip径迹蚀刻膜过滤器、it4ip聚碳酸酯膜过滤器、it4ip PET膜过滤器、it4ip聚酰亚胺膜过滤器等

MINITEST600-N 涂镀层测厚仪 一、 MiniTest 600涂层测厚仪产品名录 MiniTest 600 系列涂层测厚仪产品主要包括两种小类型：MiniTest 600B和MiniTest 600，每种小类都可分为F型、N型、FN型三种，因此600系列测厚仪共有6种机型供选择。600B型与600型的最大区别就是600B是基本型，没有统计功能。 涂层测厚仪MiniTest600型号选择 MiniTest 600BF3(铁基体基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600BN2(非铁基体基本型，无统计功能和接口) MMiniTest 600BFN2(两用基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600F3(铁基体统计型) MiniTest 600N2(非铁基体统计型) MiniTest 600FN3(两用统计型) 二、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量原理及应用 F型测头是根据磁感应原理设计的，主要测量钢铁基体上的非磁性涂镀层。例如：铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等，也适用于合金和硬质钢。 N型测头是根据电涡流原理设计的，主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。例如：铝、铜、铸锌件上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。 FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的，一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。 三、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量中的相关注意事项 测量前一定要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零，才可以保证测量的精确性； 每次测量之间间隔几秒钟以保证读数的准确性； 喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量，但要严格按照说明书的校准步骤进行校准； 不要用力拽或折测头线，以免线断； 严禁测量表面有酸、碱溶液或潮湿的产品，以免损坏测头； 测量时测头轴线一定要垂直于被测工作表面； 每次测量应有大于3秒的时间间隔。 四、 MiniTest 600涂层测厚仪的技术参数 测量范围 F型 0-3000um N型 0-2000um FN型（两用型） 0-3000um（F），0-2000um（N） 允许误差 ± 2um或± 2-4％读数 最小曲率半径 5mm（凸）、25mm（凹） 最小测量面积 &Phi 20mm 最小基体厚度 0.5mm（F型）、50um（N型） 测量单位 Um-mils可选 显示 4位LED数字显示 校准方式 标准校准、一点校准、二点校准、基础校准（华丰公司内） 统计数据 平均值、标准偏差、读数个数、最大值、最小值 接口 RS-232（不适合B型） 电源 2节5号碱性电池 仪器尺寸 64mmX115mmX25mm 测头尺寸 &Phi 15mmX62mm 五、 MiniTest 600涂层测厚仪的标准配置 主机和指定型号的测头一体； 5号碱性电池两节； 零板和厚度标准箔； 中英德文操作手册各一本； 六、 MiniTest 600涂层测厚仪的可选配置 便携箱； 橡胶套； 打印机MiniPrint 4100； RS-232数据接口电缆； 精密支架 数码显示器背光照明。 七、MiniTest 600涂层测厚仪的符合标准 DIN 50981，50982； ASTM B499，E367，D1186，B530，G12 BS5411 DIN EN ISO 2178，2361 八、 MiniTest 600涂层测厚仪的关于校准 标准校准：适合平整光滑的表面和大致的测量。 一点校准：置零，不用标准箔。用于允许误差不超过4％的场合。 两点校准：置零，用一片标准箔。用于误差范围在2-4％之间的测量 特殊的基础校准：此校准只能在华丰公司进行。 九、 MiniTest 600涂层测厚仪的一般维修 如果出现E03、E04、E05则一般要换探头系统+PCB板； 如果主板不上电，在排除电池原因后一般要更换主板或更换键盘； 测值不稳定，可认为探头系统频率不稳定，一般要更换探头系统； 在显示系统不能正常显示时，可更换显示系统； 更换电缆时，一定要保证电缆长度不小于1m；

流程简述： 化工原理是化工、生物、食品、制药等专业必修课。化工原理实验是大部分学校必做的实验。因此化工原理实验被列为重点实验内容之一。东方仿真使用自主开发平台，利用动态数学模型实时模拟真实实验现象和过程，通过3D仿真实验装置交互式操作，产生和真实实验一致的实验现象和结果。每位学生都能亲自动手做实验，观察实验现象，记录实验数据，验证公式、原理定理。另外，该系统还配备开放的标准实验思考题生成器。该系统分为教师站和学生站。通过网络，教师站上的监控和管理程序方便地对学生站运行的实验仿真软件进行实时的监控和管理。本仿真软件以北京化工大学实验装置为主，兼顾华东理工大学的实验装置。包括了所有典型的化工原理实验装置。培训工艺：1.1 、离心泵特性曲线测定1.2 、流量计的认识和校核1.3 、流体阻力系数测定1.4 、传热（水-蒸汽）实验1.5 、传热（空气-蒸汽）实验1.6 、精馏（乙醇-水）实验1.7 、精馏（乙醇-丙醇）实验1.8 、吸收（氨-水）实验一1.9 、吸收（氨-水）实验二1.10 、丙酮吸收实验1.11 、干燥实验1.12 、板框过滤实验建议配置：学员站：CPU：奔腾E2140或更强的CPU（或AMD Athlon X2 4000）内存：1G以上显卡和显示器：分辨率1024x768以上硬盘空间：至少1G剩余空间操作系统：Windows XP SP2/SP3教师站：CPU：奔腾E5200或更强的CPU（或AMD Athlon X2 5000）内存：1G以上（推荐2G以上）显卡和显示器：分辨率1024x768以上硬盘空间：至少1G剩余空间操作系统：Windows Server 2003 SP2网络要求：网络必须稳定通畅(统一式激活)

流程简述： “食品工程原理仿真实验”，就是利用动态数学模型实时模拟真实实验现象和过程，通过对仿真3D实验装置进行互动操作，产生和真实实验一致的结果。从而达到每个学生都能够一对一地亲自动手做实验，观察实验现象，验证公式、原理定理的目的。可以通过网络，使教师站上运行的监控程序与管理程序能方便地对下位机的学员站上运行实验仿真软件进行监控与管理，同时配有标准的实验思考题生成器，开放接口。培训工艺：1.1、流体粘度测定实验1.2、柏努利方程实验 1.3、雷诺实验 1.4、流体阻力实验 1.5、离心泵性能实验 1.6、过滤实验 1.7、传热实验 1.8、洞道干燥实验 1.9、流化床干燥实验 1.10、精馏实验 1.11、气体扩散系数测定实验1.12、液体扩散系数测定实验运行环境要求建议配置：学员站：CPU：奔腾E2140或更强的CPU（或AMD Athlon X2 4000）内存：1G以上显卡和显示器：分辨率1024x768以上硬盘空间：至少1G剩余空间操作系统：Windows XP SP2/SP3教师站：CPU：奔腾E5200或更强的CPU（或AMD Athlon X2 5000）内存：1G以上（推荐2G以上）显卡和显示器：分辨率1024x768以上硬盘空间：至少1G剩余空间操作系统：Windows Server 2003 SP2网络要求：网络必须稳定通畅(统一式激活)

specac_迷你等厚度薄膜制样套装 等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定。根据热压制膜原理，所得到样品是纯样品，谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求，提供了3种等厚度薄膜制样工具。不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜，还可以将粒状、块状或板材等不规则形状的聚合物变成可以用光谱检测的薄膜。 视频：http://v.youku.com/v_show/id_XNDg3ODI1OTc2.html 点击观看视频

目标应用： 半导体薄膜（光刻胶） 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜（光刻胶） ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*（H90+H140）测试支架（配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘）测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm（标配，可以根据用户要求配置）样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标（THICKNESS SPECIFICATION）：产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1（厚度要求）N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量，实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅（500纳米）测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.

手持式薄膜测厚仪配件是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,可测量透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等。手持式薄膜测厚仪可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)，薄膜厚度测量范围为350-1000nm，不需要电线连接，也不需要实验室安装空间，它从USB连接中获取工作电源，这种独特设计方便客户移动测量，只需USB线缆从计算机控制测量即可，采用全球领先的3648像素和16bit的光谱仪，具有超高稳定性的LED和荧光灯混合光源，光源寿命高达20000小时，手持式薄膜测厚仪配件特色USB接口供电，不需要额外的线缆供电超级便携方便现场使用超低价格手持式薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 15nm-90微米；波长范围: 360-1050nm 探测器：3648像素Si CCD阵列，16bit A/D精度：1nm 斑点大小：0.5mm 光源：LED混合光源（ 360-1050nm )所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：300x110x500mm 重量：600克手持式薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法，使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标：例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg)，热分解温度，薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据，能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据，并且能够控制薄膜加热和制冷的速度，是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究，例如：薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究，薄膜光学性质随温度的变化，薄膜预烘烤Post Apply Bake，光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量，这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的，背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks，给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能，光刻薄膜的热处理影响分析，Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5%分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：13.5kg 电力要求：110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度

铜网厚碳支持膜主要用于在200kV或300kV的电镜下,观察纳米材料的形貌像。由于200kV以上电镜的电子束对样品的穿透能力强，同时对样品和支持膜的损伤程度也较大。碳支持膜的厚度需要更厚一些，以避免高强电子束对样品的损伤。同时，对于一些具有化学腐蚀的样品，推荐使用该产品。因此，厚碳支持膜在这个方面的应用具有明显优势。膜总厚度：15-30 nm 大包装100枚/盒。 中镜科仪200目、230目、300目、400目铜载网，中镜科仪生产，支持膜厚度15-30nm 。产品编号Prod.No.载网材质Material载网目数Mesh载网产地Made in支持膜产地Made in支持膜厚度（nm)Thickness包装UnitBZ31022a铜200目中镜科仪中镜科仪15-30100枚/盒BZ310223a铜230目中镜科仪中镜科仪15-30100枚/盒BZ31023a铜300目中镜科仪中镜科仪15-30100枚/盒BZ31024a铜400目中镜科仪中镜科仪15-30100枚/盒中包装50枚/盒。 中镜科仪200目、230目、300目、400目铜载网，中镜科仪生产，支持膜厚度15-30nm 。产品编号Prod.No.载网材质Material载网目数Mesh载网产地Made in支持膜产地Made in支持膜厚度（nm)Thickness包装UnitBZ31022b铜200目中镜科仪中镜科仪15-3050枚/盒BZ310223b铜230目中镜科仪中镜科仪15-3050枚/盒BZ31023b铜300目中镜科仪中镜科仪15-3050枚/盒BZ31024b铜400目中镜科仪中镜科仪15-3050枚/盒【存储】：室温避光干燥保存(建议放干燥器或者干燥箱内)、防污染、防震荡，存贮条件良好正常可保存1年左右。【使用注意】：取用时采用高精尖镊子小心操作，防止产生弯折等破坏。存在有机膜，不能与有机溶剂接触。面向样品盒有字母的一面是铺膜的一面。

用途：260-700超声波雪厚传感器采用超声波反射时差的原理对雪厚进行监测，并可以用于水位的监测。内置了温度传感器，可在测量过程中对测量数值进行温度补偿修正，是一款性价比非常好的测量设备。特点：测量超声波在不同界面上的反射时间差；性价比高；可测量雪厚和水位；自动温度补偿；2秒预热；可与任何数据采集器配合使用。 技术规格：电源+12~24 VDC，50 mA (最大采样时间2.4秒)模拟输出0~2.5 或0~5 VDC数字输出1200波特串口ASCⅡ（可选）测量范围0.5~10米波束宽度22°精度±1厘米或实际距离的4%分辨率3毫米温度范围-30~+70℃温度精度±1℃（在-40~+85℃）温度分辨率0.5℃安装1.27厘米直径镀锌螺纹管尺寸7.62×7.62×12.7厘米重量589克电缆长度7.6米最大电缆长度304米产地：美国

硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪，能够精确给出衬底厚度和厚度变化 （TTV)，也能实时给出超薄晶圆的厚度（掩膜过程中的晶圆），非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势，诸 多材料例如，Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃，石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的，非常容易测量，标准的测量空间分辨率可达50微米，更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法，对晶圆的厚度和表面形貌进行测量，可广泛用于：MEMS， 晶圆，电子器件，膜厚，激光打标雕刻等工序或器件的测量，专业为掩膜，划线的晶圆，粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计，同时，硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件，使用该探针系统后，硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆（植球晶圆），wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV，同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度，硅膜厚度（membrane thickness) 和凸点厚度（wafer pump height).，沟槽深度 （trench depth)。

白色量瓶VOLUMETRIC FLASKS. Amber glass .棕色量瓶，VOLUMETRIC FLASKS 别名:容量瓶 一、概况及用途: 本器用钠钙玻璃或硼硅玻璃制造，( 50~ 2000 ml)由大炉模具吹制，圆口、配塞.磨砂、刻度加工而成，25ml以下则在灯工吹制.目前50~ 100ml也有灯工吹制。它适用于科研、大专院校、医疗卫生及工矿企业单位的化验室，作已知浓度溶液的稀释。配制标准溶液，或作液体的精密计量之用，棕色量瓶适用于对遇光易变质分解的溶液稀释或配制 二、造型及原理: 它是个具玻璃磨砂塞的长颈瓶，瓶体为梨形。便于摇荡液体和洗刷，瓶颈细长，使液面缩小，可使计量准确，瓶颈部刻有一条环状标线，以计量其标称容量。 三、使用方法: 把量瓶洗净用蒸馏水冲洗，然后将固体溶质放入烧杯内，加水，使它完全溶解(如加温必须使溶液温度冷却到室温),然后将溶液转移到洗净的量瓶中，再向瓶中注水。使液面至标线下3 ~ 5毫米处，再用吸管逐滴地加水，使溶液的体积恰好到标线( 即液面的弯月面的下缘恰好触及标线的水平面)。决不允许将固体加进量瓶肉，直接配制溶液，如这样做若固体溶解不完全时，很难将溶液配制好，必须注意，量瓶不能用火焰加热，也不能放在烘箱中烘烤，因为每加热一次，会使容积变大,要等很久才能恢复原有容积。量瓶只能用来配制溶液，不能长期储存溶液。更不能储存強碱溶液，以防腐蚀，影响量瓶的精度，用后要尽量用水洗净。

白色量瓶VOLUMETRIC FLASKS. Amber glass .棕色量瓶，VOLUMETRIC FLASKS 别名:容量瓶 一、概况及用途: 本器用钠钙玻璃或硼硅玻璃制造，( 50~ 2000 ml)由大炉模具吹制，圆口、配塞.磨砂、刻度加工而成，25ml以下则在灯工吹制.目前50~ 100ml也有灯工吹制。它适用于科研、大专院校、医疗卫生及工矿企业单位的化验室，作已知浓度溶液的稀释。配制标准溶液，或作液体的精密计量之用，棕色量瓶适用于对遇光易变质分解的溶液稀释或配制 二、造型及原理: 它是个具玻璃磨砂塞的长颈瓶，瓶体为梨形。便于摇荡液体和洗刷，瓶颈细长，使液面缩小，可使计量准确，瓶颈部刻有一条环状标线，以计量其标称容量。 三、使用方法: 把量瓶洗净用蒸馏水冲洗，然后将固体溶质放入烧杯内，加水，使它完全溶解(如加温必须使溶液温度冷却到室温),然后将溶液转移到洗净的量瓶中，再向瓶中注水。使液面至标线下3 ~ 5毫米处，再用吸管逐滴地加水，使溶液的体积恰好到标线( 即液面的弯月面的下缘恰好触及标线的水平面)。决不允许将固体加进量瓶肉，直接配制溶液，如这样做若固体溶解不完全时，很难将溶液配制好，必须注意，量瓶不能用火焰加热，也不能放在烘箱中烘烤，因为每加热一次，会使容积变大,要等很久才能恢复原有容积。量瓶只能用来配制溶液，不能长期储存溶液。更不能储存強碱溶液，以防腐蚀，影响量瓶的精度，用后要尽量用水洗净。

白色量瓶VOLUMETRIC FLASKS. Amber glass .棕色量瓶，VOLUMETRIC FLASKS 别名:容量瓶 一、概况及用途: 本器用钠钙玻璃或硼硅玻璃制造，( 50~ 2000 ml)由大炉模具吹制，圆口、配塞.磨砂、刻度加工而成，25ml以下则在灯工吹制.目前50~ 100ml也有灯工吹制。它适用于科研、大专院校、医疗卫生及工矿企业单位的化验室，作已知浓度溶液的稀释。配制标准溶液，或作液体的精密计量之用，棕色量瓶适用于对遇光易变质分解的溶液稀释或配制 二、造型及原理: 它是个具玻璃磨砂塞的长颈瓶，瓶体为梨形。便于摇荡液体和洗刷，瓶颈细长，使液面缩小，可使计量准确，瓶颈部刻有一条环状标线，以计量其标称容量。 三、使用方法: 把量瓶洗净用蒸馏水冲洗，然后将固体溶质放入烧杯内，加水，使它完全溶解(如加温必须使溶液温度冷却到室温),然后将溶液转移到洗净的量瓶中，再向瓶中注水。使液面至标线下3 ~ 5毫米处，再用吸管逐滴地加水，使溶液的体积恰好到标线( 即液面的弯月面的下缘恰好触及标线的水平面)。决不允许将固体加进量瓶肉，直接配制溶液，如这样做若固体溶解不完全时，很难将溶液配制好，必须注意，量瓶不能用火焰加热，也不能放在烘箱中烘烤，因为每加热一次，会使容积变大,要等很久才能恢复原有容积。量瓶只能用来配制溶液，不能长期储存溶液。更不能储存強碱溶液，以防腐蚀，影响量瓶的精度，用后要尽量用水洗净。

薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪，可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器，可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪，比如标准吸收/透过率，反射率的测量，薄膜的测量，薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件：核心模块----光谱仪；外壳模块----各种精密精美的仪器外壳；工作面积模块----测量工作区域；光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件；测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型，不同光谱范围和光源，满足各种测量应用

什么是ACF 异方性导电胶膜（Anisotropic Conductive Film，简称ACF）由Sony开发，现广泛用于IC与LCD、FPC与LCD、IC与Film之间的压合绑定，以实现信号的传输与画面的显示。 ACF是同时具有粘接、导电、绝缘三大特性的透明高分子连接材料，其特点在于Z 轴电气导通方向与 XY 绝缘平面的电阻特性具有明显的差异性。当Z 轴导通电阻值与 Y 平面绝缘电阻值的差异超过定比值后，既可称为良好的导电异方性。 基本原理 导通原理:利用导电粒子连接IC 芯片与 LCD 基板两者之间的电极使之成为导通，同时又能避免相邻两电极间导通短路，而达成只在Z轴方向导通之目的。 ACF中导电粒子捕获达到一定的数量时在IC bump 与ITO间才能发挥作用，当捕获粒子数过少时，会直接影响导通效果。所以要求每个bump上达到有效的粒子数量必须大于5个。ACF胶的应用步骤 首先，ACF附着在基材的清洁表面上。然后在不取下薄膜（PET）的情况下施加热量和压力（图1 ACF层压板）。接下来，移除薄膜（图2），IC芯片的电极对齐并精确定位以进行连接（图3）。最后，再次施加热压缩以固定和连接部件（图4 热压缩）。 在层压之前，必须仔细清洁要连接的安装板的表面。特别是，玻璃基板应用酒精、有机溶剂或等离子或紫外线清洁进行清洁。 热压粘合有两种类型：恒热法和脉冲热法。在恒热法中，粘合头连续加热以保持指定温度。在脉冲加热法中，压头仅在应用于ACF时才被加热。使用后一种方法时，会持续监控压头的温度 如果在粘合过程中温度下降，则会迅速升高到指定水平。热压粘合的关键点是控制压头的温度并保持压头和玻璃基板平行。检查导电颗粒的状态、电阻值和粘合后的粘合强度也很重要。目前关于高精度ACF热压粘合一般采用恒热法较多。 使用ACF最重要的一点是选择最佳薄膜。根据基板材料、电极材料和尺寸（厚度、宽度、长度）、节距长度以及要连接的两个电极的温度上限，找到 ACF 树脂和导电颗粒的正确组合至关重要。在确定温度上限时，必须考虑芯片和基材的耐热性。ACF相关热压粘合设备我司同时在生产，可以同步咨询。

PosiTest DFT 测厚仪 以下行业使用效果理想 粉末涂料 涂装员 涂层检测员 涂装承包商 汽车修补行业 2种型号&hellip Ferrous (F型针对铁性基材) Combo(复合型针对所有金属基材) 就是测量 PosiTest DFT 涂层测厚仪 两款型号 PosiTest DFT Ferrous: 测量铁性基材(钢和铸铁)上的非磁性涂层 PosiTest DFT Combo: 测量铁性基材(钢和铸铁)上的非磁性涂层和有色金属(铜，铝等)上绝缘涂层。测量时自动分辩底材。 仪器特点 测量快速，重复性好 大部分材料上无需校准 调零功能可应用在粗糙不平的表面及曲面上 无法调零时可使用方便的重启功能 坚固耐磨损的红宝石探头 测量时听觉和视觉的双重指示 探头上的 V 型槽方便测量圆柱型表面 密尔 / 微米单位转换 每个仪器的背面都有基本的操作说明 仪器规格 测量范围 0 - 40 mils 0 - 1000 um 精 度 ± ( 0.1mils + 3%) ± ( 2um + 3%) 尺 寸 4 × 1.5 × 0.9 in 100 × 38 × 23mm 重 量 2.5 oz 70 g 仪器包括 内置探头，标准塑料片，坚固的存放盒，1 x AAA 电池，说明书 和 一年质保 符合以下标准： ISO2178 / 2360 / 2308 prEN ISO19840 ASTM B244 / B499 / B659 / D1186 / D1400 / E376 / G12 S3900-C5 SSPC-PA2 及其他。

铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822 一、应用概述 用磁性传感器测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如：漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。 二、功能参数 1、功能：测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度 2、测量范围：0-1000um/0-40mil (标准量程) 3、曲面不小于:F: 凸1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm 4、分辨率：0.1/1 5、测量面积不小于：6mm 6、基底不小于：0.3mm 7、自动关机 8、使用环境：温度：0-40℃ 湿度：10-90%RH 9、准确度：±(1～3%n)或±2um 10、电源：4节5号电池 11、电池电压指示：低电压提示 12、外形尺寸：161×69×32mm 13、重量：210g（不含电池） 14、可选附件:可定制量程(大量程传感器）可选:0-200um to 18000um 铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822

超声波测厚仪DM4 Krautkramer超声波测厚仪DM4系列，小巧轻便，操作简单，功能卓越。其中DM4测厚仪和DM4DL测厚仪特有的DUAL-MULTI模式--即测量穿过涂层的操作模式，在被测物表面有油漆时，无需去除油漆而测量材料的净厚度。 基本型-DM4E超声波测厚仪 - 可配标准、超厚、超薄和高温探头 - 自动探头识别、V声程校正、零位校正 - 带最小读数显示和存储的最小测量模式 标准型-DM4超声波测厚仪 在DM4E测厚仪基础上附加以下功能 - 穿过涂层测量厚度的操作模式 - 在不同模式的壁厚测量 - 极值LED报警 存储型-DM4DL超声波测厚仪 在DM4测厚仪基础上附加以下功能 - 数据记录仪可存储5390个数据 - RS232接口可接打印机和计算机 超声波测厚仪DM4E/DM4/DM4DL技术参数 测量范围 分辨率 声速 测量刷新速率 显示 存储 接口 电源 操作温度 尺寸 重量 0.6～300mm(铁) 小于99.99mm时为0.01mm；大于99.99mm时为0.1mm； 1000～9999m/s 标准4Hz，最小测量模式时为25Hz 4位LCD背光数显 5390个读数(只适用于DM4DL) RS232接口(只适用于DM4DL) 两节5号电池，无背光时可使用200小时 -10～50℃ 146x76x34mm 255g 超声波测厚仪DM4E/DM4/DM4DL常用探头技术数据 名称 型号 测量范围 频率 探头接 触直径 工作温度 测量最小 钢管直径 探头线型号 标准探头 DA301 1.2～200mm 5MHz 12.1mm -20～60℃ 25mm DA231 超厚探头 DA303 5.0～300mm 2MHz 16.2mm -20～60℃ 127mm DA231 超薄探头 DA312 0.6～50mm 10MHz 7.5mm -20～60℃ 20mm DA235 超薄探头 DA312B16 0.7～12mm 10MHz 3.0mm -20～60℃ 15mm 自带导线 高温探头 DA305 4.0～60mm 5MHz 16.2mm 10～600℃ DA235 高温探头 HT400 1.0～254mm 5MHz 12.7mm 10～540℃ 50mm KBA535 注： 所示温度为厂家理想状态试验所得，实际温度会低于此温度。注意高温耦合剂的正确使用方法。 测试高温表面时需用高温耦合剂。 标准配置 主机 DA301探头 DA231导线 耦合剂 两节5号电池 仪器软包 中英文说明书 仪器箱

德国K.K超声波测厚仪DM4的具体介绍： 德国K.K(KrautKramer)公司超声波测厚仪DM4系列，小巧轻便，操作简单，功能卓越。其中DM4和DDSM4DL特有的DUAL-MULTI模式--即测量穿过涂层的操作模式，在被测物表面有油漆时，无需去除油漆而测量材料的净厚度。 DM4E基本型29000元 德国产品，质量保证 可配标准、超厚、超薄和高温探头自动探头识别、V声程校正、零位校正带最小读数显示和存储的最小测量模式 DM4标准型附加功能31000元 测量穿过涂层厚度的操作模式在不同模式的壁厚测量极值LED报警 DM4DL存储型附加功能39000元 数据记录仪可存储5390个数据RS232接口可接打印机和计算机 德国K.K超声波测厚仪DM4系列技术参数： 　 测量范围 0.6～300mm(铁) 分辨率 小于99.99mm时为0.01mm；大于99.99mm时为0.1mm； 声速 1000～9999m/s 声速 标准4Hz，最小测量模式时为25Hz 显示 4位LCD背光数显 存储 5390个读数(只适用于DM4DL) 接口 RS232接口(只适用于DM4DL) 电源 两节5号电池，无背光时可使用200小时 操作温度 -10～50℃ 尺寸 146× 76× 34mm 重量 255g 德国K.KDM4超声波测厚仪系列探头参数 名称 型号 测量范围 频率 探头接触直径 工作温度 使用探头导线型号 标准探头 DA301 1.2-200mm 5MHz 12.1mm 60℃ DA231 超厚探头 DA303 5.0-300mm 2MHz 16.2mm 60℃ DA231 超薄探头 DA312 0.6-50mm 10MHz 7.5mm 60℃ DA235 超薄探头 DA312B16 0.7-12mm 10MHz 3.0mm 60℃ 自带导线 高温探头 DA305 4.0-60mm 5MHz 16.2mm 600℃* DA235 高温探头 HT400 1.0-254mm 5MHz 12.7mm 540℃* KBA535

PosiTector 6000型 测厚仪,适用于金属基材 大型易读液晶显示,菜单式使用者界面 即时自动设定 3键式操作 自动关机，连体探头式，还可自动开机 平均置零，利于在粗糙面上置零 重置功能可迅速将测厚仪还原到出厂状态 仪器背面有简要说明 耐 用 耐磨的蓝宝石探头 耐酸、耐油、耐溶剂、 防尘、防水 读数不受振动影响 一年保修期 精 确 每台仪器都有校准证书，符合NIST标准 可达到极高的精度（请参阅背页的订货指面） 可提供校准程序和标准板 符合美国和国际标准 性能卓越 密耳/微米/毫米(Mils/Microns/mm)单位转换 易于调整到任意已知厚度 多种探头 多国显示语文: 英文、西班牙文、法文、德文、葡萄牙文、意大利文、日文、中文背景发亮的显示屏,在黑暗的环境使用更觉方便 灯光提示： 便于在嘈杂的环境中确定已获得测量结果。 反转显示：独有的反转显示，无论手持测厚仪还是放置在工作台上，阅读都很方便。 连体探头： 便于单手操作 标准型（1）具有左边所列的所有特点。 统计型（2）具有标准型所有功能，且读数超出设定范围时有声光提示。 测量时不断更新和显示平均值、标准偏差、最大/最小厚度值及测量次数 HI-RES模式：高精度测量时可增加读数分辨率 可设定内部自动关机时间 储存多至250个读数 内置红外线界面，可打印至廉价的无线红外打印机 分离探头 各款探头可互，提供更多样化的测试。 标准版 可在多种不同厚度上验证仪器 出自NIST的标准 包含有校准证书 配备安全、方便的贮存袋 记 忆 远红外打印机和PosiSoft软件只在记忆型中可用。 建立／注释／编辑分组、零件、操作者、应用名称等可存入仪器记忆中。 存贮达16000个数据，可分为最多1000组 配备RS-232连线可将数据输入Windows平台的电脑，串行打印机或数据收集仪等。 奉送PosiSoft分析软件，在Windows平台的电脑上运行。 内置式远红外打印接口接打印机。 PosiSoft 软件－在 Windows 上运行，功能强大，易学易用。当选择记忆型时，软件无需额外费用，随机奉送。 从PosiTector 100型读取数据容易。 用该仪器及可修改电脑用户、零件分组及建立说明、解释等。 显示、资料、图形数据等可达5层膜厚。 图表可表示单个涂层也可显示总厚度。 可打印基本图表及柱形图。 提供数据和时间资料。 使用一般格式如ASCⅡ可将数据存入电脑。 理想的涂层厚度监控及分析应用软件。 记忆型 (3) 具有 (1) 和 (2) 型功能，且 储存10000个读数，可分成200组 SSPC PA-2功能，计算一组平均读数的平均值 读数可即时输出,也可先行储存待日后处理 提供用于Windows环境的PosiSoft统计分析软件 提供RS-232串行线，用于向个人电脑、串行打印机或数据采集器输送数据 可储存多种不同较准数据以配合测量各款不同基材 储存在记忆里的各组读数，可再分细组、查阅、更新或删除 ] 内置时钟，每个储存的读数均加上日期和时间标签 PosiSoft for Windows 功能强大 使用简单 订购记忆型（3）随机附送 易于从仪器收集数据 可输入提示说明 显示和打印图表 使用通用格式储存数据如ASCII码 方便监视和分析膜层厚度支援多种语文 分离探头 各款分离探头可互换 每个分离探头均附可追溯至NIST的证书 镀金的耐用带锁接头适用于工业环境 优质柔性防破损连线 加长线(可达75米)便于远程测量 所有标准探头均可在水下使用 所有恒压探头均采用V型槽和倒角定位便于测量管子里外 微型探头（铁性基材或有色金属）用于细小及难到达的表面，有0o 、45° o、90° o三种配置各种不同的探头可适用极广的应用范围° 可拆卸的辅助器 微型探头转换为恒压° 可将0 探头，测量细小的平面或曲面 无线打印机 (2) 型或 (3) 型机无须接头或连线便可将数据传递给红外线打印机 ( 电池驱动 / 谦价的选购件 ) 独特的复合型（FN）探头 不须更换探头可测量所有金属表面 自动识别铁/有色金属表面 减少误操作影响 可测量钢上的镀锌层，铝上的氧化膜，金属上的涂层、钢上的铬层等等。 特有的&ldquo N-LOCK&rdquo 功能可测量略带磁性基材，如镀镍的铜基材镀金层上的透明涂层 提供连体探头和分离探头配置 测量粉末涂层的理想之选 记忆型（3）仪器,在分组模式下的显示样本 测量读数可分 ( 至 200) 组 Batch1 Cal n50 21.00x 3.61 &sigma 42.0x 20.1 &darr F 20.1 显示 铁/有色金属基材 多用途: 从微小元件的薄镀层、、、、到大尺寸的厚涂膜 探头/ 部件固定基座、、、确保测试零部件时，可准确的重覆定位 双重用途探头盖 连体探头型号的探头保护盖带有 V 型槽 , 在敞开时使仪器测量时更为稳定。 &larr 多个基材较准资料 &larr 即时统计资料 &larr 字体大,醒目的测量读数 订货指南 探头（每个仪器仅带一个探头，需要额外探头需另行购买） 大量程 NHS 大量程 FHS 所有仪器包括 : 有皮带扣的、标准塑料片、3节AAA电池、使用说明书、手带（只限连体探头型号）、证书（NIST）、一年期保修。 记忆型( 3) 还包括 : 用于Windows平台的统计及分析软件PosiSoft，RS-232接线及携带箱。 加长线（可达 75m/250ft ）适于水下或远程测量，请在订货时注明。 尺寸 : 147x61x5mm（5.8x2.4x1寸） 重量 (不带电池): 170g(6盎士) 符合以下标准 : ISO 2178 /2360 / 2808 prEN ISO 19840, ASTM B499 /D1186 /D1400 BS3900 Part C5 SSPC-PA2及其他.

石墨消解仪消解植物样型号：NJ-ZH-XJ品牌：南京滨正红石墨消解仪部分实验室接触的比较少，通过本试验是可以学习、分享植物样品HNO₃ -HClO4湿法消解方法，并且了解测定重金属的原理，便于相关从业者对植物研究提供经验。试验操作部分一、实验原理植物样品用HNO₃ -HClO4消解后，将得到的无色澄清透明消解液经过元素分析仪测定重金属（Cd，Ni，Zn，Pb等）元素，从而计算植物样品中重金属含量，再判断植物样品是否达标。二、仪器设备智能石墨消解仪（南京滨正红 NJ-ZH-XJ-48孔等）、聚四氟乙烯消解管。三、消解酸HNO₃ 、HClO4匀为分析纯。四、样品处理1、样品采集采集的植物先用自来水冲洗以去除植物上的泥土和污物，再用去离子水冲洗，沥去水分后，在150℃下杀青2h，之后在75℃下在烘箱中烘至恒重。然后在研钵中研细后过筛，密封保存后备用。2、植物消解称取植物0.2-0.3g样品于聚四氟乙烯消解管中，加入少量水将样品润湿，然后加入6mlHNO₃ 、1-2mlHClO4，盖上盖子，将消解管放入智能石墨消解仪的消解孔中开始消解，设置智能石墨消解仪消解程序如下进行对样品加热消解：五、实验结论通过智能石墨消解仪对植物的湿法消解，试验的结果满足实验要求，方法适用于其它植物的重金属测定。消解方法简单，操作过程不复杂，智能程序控温消解，解决人力繁琐操作及减少误差的出现。智能石墨消解仪在本次试验中48位的优势解决快速批量消解的问题，提高工作效率，便于样品量大的工作；石墨加热体，加热均匀升温快速，样品有效消解完全；远程控制系统避免人员直接接触消解过程中的酸雾和减少热量的伤害，智能消解，安全实验。六、实验注意事项1、植物样品在进行湿法消解过程中，要防止溶液蒸干（HNO3、HClO4无水时会爆炸）。2、处理后的植物试液定容时要保证溶液酸度不大于5%，以保证测定结果的准确。

型号：NJ-ZH-XJ品牌：南京滨正红石墨消解仪部分实验室接触的比较少，通过本试验是可以学习、分享植物样品HNO₃ -HClO4湿法消解方法，并且了解测定重金属的原理，便于相关从业者对植物研究提供经验。试验操作部分一、实验原理植物样品用HNO₃ -HClO4消解后，将得到的无色澄清透明消解液经过元素分析仪测定重金属（Cd，Ni，Zn，Pb等）元素，从而计算植物样品中重金属含量，再判断植物样品是否达标。二、仪器设备智能石墨消解仪（南京滨正红 NJ-ZH-XJ-48孔等）、聚四氟乙烯消解管。三、消解酸HNO₃ 、HClO4匀为分析纯。四、样品处理1、样品采集采集的植物先用自来水冲洗以去除植物上的泥土和污物，再用去离子水冲洗，沥去水分后，在150℃下杀青2h，之后在75℃下在烘箱中烘至恒重。然后在研钵中研细后过筛，密封保存后备用。2、植物消解称取植物0.2-0.3g样品于聚四氟乙烯消解管中，加入少量水将样品润湿，然后加入6mlHNO₃ 、1-2mlHClO4，盖上盖子，将消解管放入智能石墨消解仪的消解孔中开始消解，设置智能石墨消解仪消解程序如下进行对样品加热消解：五、实验结论通过智能石墨消解仪对植物的湿法消解，试验的结果满足实验要求，方法适用于其它植物的重金属测定。消解方法简单，操作过程不复杂，智能程序控温消解，解决人力繁琐操作及减少误差的出现。智能石墨消解仪在本次试验中48位的优势解决快速批量消解的问题，提高工作效率，便于样品量大的工作；石墨加热体，加热均匀升温快速，样品有效消解完全；远程控制系统避免人员直接接触消解过程中的酸雾和减少热量的伤害，智能消解，安全实验。六、实验注意事项1、植物样品在进行湿法消解过程中，要防止溶液蒸干（HNO3、HClO4无水时会爆炸）。2、处理后的植物试液定容时要保证溶液酸度不大于5%，以保证测定结果的准确。

动态加热粉尘仪规格参数：监测原理：光散射原理PM2.5测量范围/分辨率：0-1000/0.1ug/m3PM10测量范围/分辨率：0-2000/0.1ug/m3TSP测量范围/分辨率：0-20000/1ug/m3响应时间：1S 6、电源电压：DC12V输出方式：RS485 ZWIN-YC06-M动态加热粉尘仪是一款主要针对颗粒物扬尘在线监测的新型智能传感器，主要监测TSP、PM2.5、PM10等颗粒物参数。 原理：运用光散射原理，系统巧妙设计光敏感区作为粒子散射发生的场所，当粒子经过聚焦激光所形成的光敏感区后，粒子散射的光被探测窗口上的微光电探测器收集，微光电探测器把接收的光强度信号快速、准确的转化为等量电压信号，信号的密集度对应于粒子的单位浓度值，颗粒物浓度值进行系数转换后通过数据接口实时输出。 此款粉尘仪气体采样单元增加预处理模块，能够自动除尘、自动除湿、自动温度校准，提高气体检测的J准度。该传感器配备RS485信号传输接口，操作方便、测量准确、工作可靠，可嵌入各种与检测颗粒物浓度相关的仪器，适用于工地、道路扬尘及污染严重区域扬尘颗粒物监测等。

安捷伦使用经过严格质量控制的高质量石墨，以确保用于珀金埃尔默原子吸收系统的安捷伦石墨锥的高品质和一致性。标准 THGA 石墨锥具有改进的进样口面积，有助于最大限度减少凝结，可提高复杂基质的分析性能。HGA 石墨锥具有规则的石墨表面，可以完全包住石墨管，从而在均一辐射条件下使石墨管位于限定的环境中。 确保与珀金埃尔默仪器兼容 享有安捷伦全方位支持保证，可确保部件不会导致仪器故障或者停机 原厂珀金埃尔默系统认证的部件 AA、ICP-OES 和 ICP-MS 消耗品、标准品和服务的全套产品系列可确保您的珀金埃尔默系统具有最佳运行性能 世界一流的技术支持团队将为您解答与部件匹配、功能或者针对特定应用的问题和担忧，帮助您的珀金埃尔默系统实现最佳性能 库存和现货全球供应，24 小时至 48 小时送达（在大部分区域） 提供操作指南和原理视频，确保您在使用我们的部件和备件时，能够实现珀金埃尔默系统的最佳性能 安捷伦包装中的许多部件都具有耐用且坚固的设计，可在运输过程中提供最佳保护，确保部件无损伤到达

由医用级ABS杆+尼龙植绒头+折断点构成的采样拭子MFS-98000KQ，主要用于口腔、口咽、咽喉等部位的样本采集，符合人体工程学原理，握持舒适，操作方便。　　采样拭子MFS-98000KQ有独立套管软管包装方式和独立纸塑袋包装方式可选，套管软管包装，拭子无需保存液即可保存采集的样本，在分析前得到有效保护，提高诊断结果的准确性。　　MFS-98000KQ作为口腔采样拭子通常需要搭配细胞保存液、生理盐水等用于口腔脱落细胞、口腔微生物标本的采集保存及运输，采集到的样本可用于口腔疾病诊断、基因检测、亲子鉴定、基因学研究、口腔健康监测、药物代谢检测、病毒检测等。　　MFS-98000KQ作为口咽 咽喉采样拭子通常需要搭配灭活型/非灭活型病毒保存液用于冠状病毒、呼吸道合并病毒、猴痘病毒等多种呼吸道病毒口咽 咽喉部位的样本采集，采集的样本可用于实验室PCR检测等。　　采样拭子MFS-98000KQ优点:　　植绒口腔 口咽 咽喉采样拭子MFS-98000KQ是一种用于采集口腔、口咽和咽喉样本的专业工具。它由高质量的植绒材料制成，确保采样过程的准确性和舒适性。　　MFS-98000KQ拭子的设计使得采样过程更加方便快捷。它具有柔软的头部，能够有效地采集口腔、口咽和咽喉区域的细胞样本。同时，拭子的杆部采用高强度材料制成，具有良好的刚性和灵活性，可以准确地操作。　　使用MFS-98000KQ拭子进行口腔、口咽和咽喉采样非常简单。首先，打开包装，取出拭子。然后，将拭子的头部轻轻触碰到所需采样口腔、口咽、咽喉等区域，轻柔地旋转和滑动，以确保充分采集样本。　　总之，MFS-98000KQ植绒口腔 口咽 咽喉采样拭子是一种高效、可靠的工具，用于采集口腔、口咽和咽喉等样本。它的设计和材料保证了采样过程的准确性和舒适性，使其成为临床诊断和科研领域中不可或缺的工具。

目的和应用 475型密度球能迅速测量油漆，涂料和其它非浆状液体的 密度。 德国仪力信#232型细度计--测试原理 测量原理： 细度计 #232 用于测量涂料的细度，其将测试涂料刮成楔形，通过目视找出涂料粒径大于楔形槽高度的位置，在样品表面平滑与不均匀的分界线位置读出该位置槽的深度，该值就为涂料的细度值。 仪器描述及操作方法： 设 计： #232 细度计由一块硬化钢制成，硬化钢经过特殊处理，保证尺寸稳定，在硬化钢上切割出了两条精确加工的楔形槽。槽的一侧单位为 &mu m 的槽的高度，对应的 Hegman 刻度( HS )在另一侧，其它刻度也可按要求订制，最常用的细度单位之间的换算关系见下列图表：标准 #232 细度测量范围有 15 / 25 / 50 / 100 &mu m ，供货范围中包含一块用于刮膜的直边刮板。 测量过程： 在楔形槽较深的一端倒入足够的 測試物料 ，小心不要产生气泡，手持刮板，垂直于细度板与槽，将 物料 平滑地刮向槽较窄的一端，该行程需 1-2 秒内完成。 评估应该在刮完后 3 秒内进行，观察时视线要垂直于槽，视角为 20-30 度，找出颗粒聚集或划痕出现的位置，该位置相对应的槽深即为该测试材料的细度。 保 养： 细度计 #232 用完后应立即用溶济清洗，不要用尖硬的东西来清除残余的油漆。刮板所使用的直边会受到连续磨损，所以操作时应用最小的力，且经过一定时间需检查，将刮板放在水平仪(如沿细度板的纵向方向放置)，然后根据透光原理检查。 技术参数： 尺 寸 宽 38 mm *深 165 mm *高 13 mm 净 重(见供货范围) 0.8 kg

BURETTES. with straight glass stopcock一、概况及用途：它采用透明无色钠钙玻璃或硼硅玻璃制造，用玻璃管在灯工焊接后，经磨砂配塞、刻度而成，根据玻璃的色泽分为白色、兰线白背、红背、棕色四种，兰线白背、红背是利用折光原理等，对液面观察较为清晰，棕色是盛装遇光易变质的溶液，它适用于科研、大专院校、医疗卫生及工矿企业等单位化验室，盛装酸性溶液，作中和碱性滴定反应用。二、造型及原理：它是一根具有刻度的细长玻管，管的下端接有磨砂的直形二路玻璃活塞，活塞下端悍有流液管尖咀，活塞用以控制液体的排放，流液管尖咀用以控制液体流速，管的上端制成较厚实的卷边，以增强机械强度。三、使用方法：参照碱性滴定管的使用方法，但必须注意使用时应先要在活塞上涂一层活塞油脂或凡士林，不要把油脂落到活塞的小孔中去，再用橡皮筋套在活塞芯子尾部凹处，以免活塞脱落。