电弧直读发射仪

电磁辐射是指在电磁振荡过程中，电磁波向四周传播传递能量的现象。长期的电磁辐射会对人体的心血管系统、视觉系统、神经系统和生殖系统造成极大的危害，是心血管病、癌突变，不孕不育、白内障的主要诱因。电弧发射光谱仪的原理是通过高频引燃，产生大功率电弧火焰，实现样品的蒸发和激发，进行各元素的测定。因此，长期使用电弧发射光谱仪器的工作人员深受电磁辐射的危害，做好电弧发射光谱仪的电磁辐射屏蔽防护十分必要，更是仪器生产厂商对客户责任感的体现。　　聚光科技（杭州）股份有限公司生产的E5000全谱直读电弧发射光谱仪是国内首台非金属粉末元素分析的台式全谱直读发射光谱仪，其将电弧激发光源与Paschen-Runge型全谱CCD 光谱仪相结合，通过激光定位与程控电极，自动调整电极位置，实现激发间距的精确控制，利用高阵列CCD 数采获得了激发样品的全谱信息，通过实时扣除背景与干扰校正，直接获得分析结果。与传统摄谱仪相比，仪器操作简单，自动化程度高，谱线信息丰富，测定结果快速准确。　　E5000采用新一代数字电弧光源，替代了传统的电弧源，电极在矩室内全自动对准激发，无需人工直接观察调节间距，有效防护人眼，屏蔽了大量电磁辐射；此外，数字电源体积更小，可直接置于仪器内部，无需加长激发线连接外置的交流电源，有效降低大电流传导过程中产生的辐射。　　辐射测试结果显示，正常工作时，若电弧光源无防护措施，电磁辐射显著高于国家标准限定的40dBN；如果有效屏蔽掉电源的电磁辐射，使用长的激发线激发时，高频300MHz以上的电磁辐射稍有降低，但300MHz以下的电磁辐射仍然较大。而经过完全防护的E5000仪器在正常工作时电磁辐射显著降低，完全符合国标中关于仪器设备的电磁辐射限定要求，具体结果如下图。E5000全谱直读电弧发射光谱仪电磁辐射测试结果　　国家电子计算机外部设备质量监督检验中心是经国家主管部门审查认可的，具有第三方公正地位的国家级质量检验机构。经国家电子计算机外部设备质量监督检验中心的辐射骚扰场强试验（30MHz~1GHz）测试认证，聚光科技（杭州）股份有限公司研发生产的E5000电弧直读发射光谱仪符合国标GB 9254-2008《信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法》的B级标准要求。E5000全谱直读电弧发射光谱仪辐射骚扰场强试验检验报告

2014年10月21日，聚光科技（杭州）股份有限公司旗下全资子公司——北京盈安科技有限公司 (以下简称盈安科技)参加2014中国国际矿业大会暨中国矿业博览会，在现场成功发布E5000电弧直读发射光谱仪新品，正式宣布小型的非金属粉末元素分析的台式全谱直读发射光谱仪——聚光FPI-E5000电弧直读发射光谱仪成功推向市场。 发布会首先由盈安科技总经理姜宗宜先生致辞，随后由聚光实验室业务部副总经理兼原子光谱研发总监寿淼钧先生为大家讲解新产品，现场气氛十分活跃，各位专家、用户以及媒体朋友均对本次发布的新品抱以很大的热情。有专家说，聚光的研发实力有目共睹，能研发出这台产品是必然的，为中国有这样的企业感到骄傲，并对仪器的性能、参数等各项指标感到惊叹；在记者的采访中，用户说到，聚光是一个一直非常注重客户体验的企业，研发产品一直站在用户的角度去思考问题，比如这款产品的固体直接进样技术，既可以避免样品多次前处理带来的样品损失，又可以免去前处理使用酸、碱等试剂带来的二次污染，更重要的是为操作人员的安全和健康提供了保障，不得不为聚光点赞；闻声而来的媒体朋友们感叹道，参加过数场新品发布会，从来没有像今天这样激动过，为国人创新、研发精神感到自豪，同时认为科学仪器的中国梦即将到来，国产分析仪器的时代已经来了，国外品牌独占中国仪器市场的局面即将结束。 北京盈安科技有限公司总经理姜宗宜先生致辞 盈安科技总经理姜宗宜先生介绍到，盈安作为中国分析仪器行业拥有丰富经验的仪器供应商和技术服务企业，致力于为行业内企业提供更优的产品和服务。公司自主生产的M5000全谱直读光谱仪和代理的美国赛默飞Niton手持式光谱仪、英国ARUN光谱仪已广泛应用于铸造、冶金、金属加工、机械制造、地质勘探和开采、矿石贸易、土壤环境检测等领域。此次推出的新品E5000电弧直读发射光谱仪，满足了市场上对非金属粉末元素分析的需求，是对M5000全谱直读光谱仪（金属分析）系列产品的重要补充。 E5000电弧直读发射光谱仪 在发布会上，聚光实验室业务部副总经理兼原子光谱研发总监——寿淼钧先生亲自对E5000电弧直读发射光谱仪进行讲解。他自豪地说到：“聚光科技的研发团队，可以毫不夸张地说，是国内分析仪器领域规模大、创新能力强，国际上具有很强竞争优势的创新团队，团队目前拥有 500 余研发人员，其中博士后2人，博士38人，硕士260余人，更有原安捷伦质谱研发专家李刚强加盟，使得这支年轻而创新力十足的队伍如虎添翼。正是这样一个团队才能创造出光谱元素分析的新传奇——非金属粉末元素分析的台式全谱直读发射光谱仪——E5000电弧直读发射光谱仪。” 发布会现场 寿淼钧先生表示，凭借聚光多年积淀及不断创新的技术，其明星产品M5000全谱直读光谱仪产品自2010年上市以来已累计销售超过一亿元人民币，“我对我们的产品非常有信心，就如同M5000全谱直读光谱仪一样，我们不仅提供一台仪器，还包括软件、服务等一系列完整的解决方案，我们的目标是改善实验室的工作效率，简化工作步骤，提升工作品味，帮助客户解决分析难题，实现规模效益。 聚光科技实验室事业部总监寿淼钧先生宣讲E5000产品技术特性 寿淼钧先生指出，我国是一个需要精细化转换的国家，在地矿领域的化探任务也非常重。尤其是样品处理中，Ag/B/Sn的分析一直是地矿领域的难题。因此聚光科技推出了E5000电弧直读发射光谱仪，它能够直接分析元素、无需样品前处理，是一款快速的、绿色的分析仪器。这代表了聚光产品再次开启了地矿领域光谱元素分析的新传奇。 发布会上，寿淼钧先生总结了E5000电弧直读发射光谱仪的如下几个技术创新点： 数字电弧技术与发射光谱技术结合，固体粉末元素分析技术；紧凑的小型台式设计，让仪器分析准确，稳定可靠 高功率数字可编程光源，电流、电压、频率可控，可自由探索更优的分析方法 自动电极对准，一键激发，分析结果立等可取 多重连锁和监控，让操作安全可靠 绿色固体进样分析，解决地矿领域Ag/B/Sn分析难题，全谱技术更可实现分析元素的自由扩展 简洁易用的操作软件，内置工作曲线，方便、有效地响应客户日常分析需求 改变地矿领域分析传统，让分析更快、生活轻松、工作变得有品位 广泛适用于化探、地质、矿冶、有色、土壤、水泥、固废等领域的元素分析需求 聚光科技实验室事业部总监寿淼钧先生接受媒体采访 发布会后，各界媒体争相采访寿淼钧先生。在采访中他表示，在聚光十多年的发展历程中，聚光科技（FPI）的产品取得了多项里程碑式的技术创新，例如 CCD 火花直读光谱仪——M5000全谱直读光谱仪， CCD ICP-OES，以及到如今的 CCD小型Arc-OES——E5000电弧直读发射光谱仪。聚光科技（FPI）在国产仪器的研究、生产上任重而道远，并且前进的脚步未曾停息。不断进步是聚光及盈安一直以来的追求目标。 采访中，寿淼钧先生笑言：“在未来，我们也会继续接受更多的挑战，同时也会把现有的产品做到更加强大，我也邀请各位共同见证聚光产品的每一步蜕变，那一定是非常值得期待的。” 关于北京盈安科技有限公司 北京盈安科技有限公司创立于1995年，致力于为中国客户提供全球高品质的科学仪器、技术服务及分析测试解决方案，是中国分析仪器行业的供应商。公司主要产品包括自主研发生产的M5000全谱直读光谱仪，以及代理的英国ARUN台式金属分析仪、美国Niton手持式XRF分析仪。 更多信息请登陆：www.michem.com.cn ，或致电北京盈安全国免费服务热线：400-030-1717。

2015年1月6日，2014年北京光谱年会在北理工国际交流大厦顺利闭幕，大会吸引约200人来自科研机构、质检机构、知名企业等专家和代表们参加，聚光科技作为国内领航的分析仪器厂商应邀参加。 北京光谱年会历年是学术交流的圣地，本次年会更是汇聚了各行专家。在光谱年会开始，北京光谱学会理事长郑国经首先介绍了光谱学会2014年所做工作，并指出，“当前光谱分析及其仪器技术可以说非常成熟，对于元素测定，原子光谱仍是强项 对于分子及化合物的测定，分子光谱依然是定性定量的有效手段。”随后，清华大学孙素琴、王哲、陈建波北京理工大学袁洪福老师和中国检验检疫科学院的齐小花老师分别在荧光、分子光谱和拉曼光谱技术领域做了精彩报告。 北京光谱学会理事长 郑国经教授 聚光科技实验室业务部总监寿淼钧先生在本次光谱年会上向与会专家和代表们介绍最新上市的E5000电弧直读发射光谱仪。从E5000产品的研发故事，到产品在各个行业的应用，都做了详细的介绍和汇报，并向与会的专家和代表们发出合作的邀请，希望能共同致力于国产仪器的发展事业。 聚光科技（杭州）股份有限公司 实验室研发总监 寿淼钧先生 E5000电弧直读发射光谱仪技术创新点：数字电弧技术与发射光谱技术结合，革命性的固体粉末元素分析技术；紧凑的小型台式设计，确保仪器分析精确，稳定可靠高功率数字可编程光源，电流、电压、频率可控，可自由探索更优的分析方法自动电极对准，一键激发，分析结果立等可取多重连锁和监控，确保操作安全可靠绿色固体进样分析，完美解决地矿领域Ag/B/Se分析难题，全谱技术更可实现分析元素的自由扩展简洁易用的操作软件，内置工作曲线，最方便、最有效地响应客户日常分析需求改变地矿领域分析传统，让分析高效、生活轻松、工作变得有品位广泛适用于化探、地质、矿冶、有色、土壤、水泥、固废等领域的元素分析需求 E5000电弧直读发射光谱仪 聚光科技展区现场聚光科技实验室业务发展事业部简介： 聚光科技（杭州）股份有限公司在实验室仪器市场经过多年战略布局，目前已成功推出便携式GC-MS、气质联用仪、气相色谱仪、电感耦合等离子体发射光谱仪、近红外光谱仪等在内的分析仪器；通过并购北京吉天仪器有限公司，扩充了无机分析仪器组合以及前处理仪器；通过与LUMEX的合作，补充了原子吸收，测汞仪和荧光测油仪等产品，成为了包括色谱、质谱、光谱、应急检测以及前处理设备等在内的全方位解决方案供应商；实验室仪器市场，成为聚光科技未来十年的主战场之一。聚光科技在不断努力，立志成为国内最好、国际主流的实验室仪器供应商之一。

2015年6月2日，聚光科技正式对外发布直读光谱仪家族的最新成员：E5000A型高分辨率电弧直读光谱仪。 E5000A型高分辨直读光谱仪是原E5000型产品的衍生品，与E5000共用同一技术平台，把原有2400L/mm的光栅更换为3600L/mm，增大光谱仪色散，分辨率提高了30%，光谱半高全宽达到18pm。在样品分析过程中，能有效的避免元素间干扰，使其性能进一步提升，特别适合对Ag、B、Sn检测有较高要求的用户。以Ag作为代表元素，谱图如下所示：3600L/mm光栅 2400L/mm光栅 2400刻线光室有谱线干扰的元素主要是Ag和Sn，采用3600刻线光栅后，分辨率大约提高了30%，对于一些Fe含量较高的样品，能准确分析。比如GSS4样品中Ag元素铁峰的干扰问题。样品GSS4中3600刻线光室Ag的谱线 样品GSS4中2400刻线光室Ag的谱线 如上图GSS4样品的Ag光谱所示，E5000A型电弧直读发射光谱仪采用了3600刻线光学系统之后，Ag 328.07nm谱线明显分开，消除了铁峰的干扰，使得测量准确性大为提高，达到了1：20万化探标准的要求。测试结果如下：GSS4 Ag E5000A 测量值(μg/g)0.087真实值(μg/g)0.07 ΔLog(C) 0.094 在检出限方面，E5000A型仪器也有了进一步提升，具体数据如下表所示：元素3600光栅(μg/g)1:20万要求(μg/g)Ag 0.0044850.02B0.1812155Sn0.2248261 E5000型电弧直读发射光谱仪自从2014年10月上市以来，便在全国范围内巡展，依次到过河南、天津、山东、长春、新疆、成都、江西等地。且得到用户的高度认可，甚至有些用户在交流会现场确定采购。目前已有几十家用户在使用这台仪器，用户体验非常好。在回访活动中，安庆326地址调查院用户说：“我们分析了11种元素，效果非常好”。西藏用户说：“每天分析300多个样品，自从使用聚光科技的仪器后，极大地提升了生产效率，使工作变得轻松愉快且有品位”。看到用户脸上洋溢的笑容和发自内心对仪器的认可，我们收获了满满的幸福。有些用户反馈说：“在地矿行业，样品量大、情况复杂、干扰多、领域宽广，对分析检测的质量要求高，特别是Ag、B、Sn的检测，一直是困扰地矿行业的难题，迫切需要高分辨率的仪器面世”。为更好地满足用户需求，聚光科技正式推出高分辨率电弧直读光谱仪。在未来，我们会带着这两款仪器走访更多的用户，把最新的技术和应用带到每一个用户的身边。同时也希望用户能为仪器提出宝贵的意见，说出用后的心得体会，以便升级的仪器更贴近用户的需求。 聚光科技实验室业务发展事业部总经理马放均表示：“E5000A型 电弧直读发射光谱仪的上市，体现了我们不断改进仪器性能和功能的承诺，同时彰显了我们在现有仪器的基础上不断衍生出更适合行业应用和用户需求的仪器。同时，体现了聚光科技自主创新以及不断超越自己的能力。目前电弧直读光谱仪在地矿行业已有非常成功的应用，聚光科技同时开展了在环保固废分析、土壤分析、冶金有色分析等行业的应用研究。在未来，我们依然坚持以用户的需求为出发点，在多个领域研制出用户需要的仪器”。 “绿色分析”和减少分析检测对环境和人类的危害是浙江地质矿产研究所郑存江教授一直倡导的理念，郑教授在接受媒体采访时说：“E5000能够对地质分析中难以分解的Ag、B、Sn三种元素进行分析。如果加入惰性气体，原来不能测定的氰带干扰元素，现在也可以通过E5000检测了。进一步实现仪器自动化，以应对庞大的样品量。同时，金属、非金属的粉末样品都能通过E5000检测。”更多关于郑教授的采访内容，请查看以下链接：http://www.instrument.com.cn/news/20140721/136984.shtml 活动现场剪影E5000A型电弧直读发射光谱仪的优点如下： 小身材大能量：体积小，波长范围宽，近万条谱线，操作简单 绿色分析：固体粉末直接进样，全面解决Ag、B、Sn检测难的问题 全谱直读：光谱范围广，谱线库丰富，先进的背景校正技术，谱线精细分析 稳定可靠：全固定精密恒温光学系统，智能漂移校正技术，安全连锁水冷系统 想你所想：旋钮式电极夹持，电极激光自动对准，一键激发直读光谱仪家族成员

仪器信息网讯 2012年8月31日，受北京市经济和信息委员会委托，由北京市技术创新服务中心组织的北京瑞利分析仪器有限公司AF-2200原子荧光光谱仪、AES-7000系列专用发射光谱仪新产品鉴定会在北京瑞利分析仪器有限公司举行。鉴定会现场　　邓勃教授担任此次鉴定委员会主任，参加鉴定的委员有清华大学辛仁轩教授、中国首钢集团郑国经研究员、中国地质科学院力学研究所计子华研究员、有色金属研究总院钱伯仁教授、北京矿冶研究总院符斌研究员、北京矿冶研究总院冯先进研究员。北京市技术创新服务中心技术创新部王安居部长主持鉴定会，北京市经济和信息委员会科技标准处张刚处长出席本次鉴定会。北京市技术创新服务中心技术创新部王安居部长主持鉴定会　　北京瑞利分析仪器有限公司孙兰海总经理向与会专家介绍了北京瑞利分析仪器有限公司企业概况。在致辞中，孙兰海总经理首先对与会专家的莅临表示感谢，而后对北京瑞利分析仪器有限公司进行了介绍，“北京瑞利分析仪器有限公司主要产品是光谱仪器，包括原子吸收光谱仪、原子荧光光谱仪、发射光谱仪、红外分光光度计、紫外分光光度计和样品前处理设备，产品型号数量已达38种，如果今天能够顺利验收，将达到40种。”北京瑞利分析仪器有限公司 孙兰海总经理　　张刚处长在鉴定会上传达了北京市经济和信息委员会科技标准处对本次鉴定会的意见和建议，张刚处长表示，“第一，希望鉴定委员会各位专家能够对此次鉴定的AF-2200原子荧光光谱仪和AES-7000系列专用发射光谱仪新产品能够提供客观、科学、公正的鉴定意见 第二，希望与会专家能够借此机会就企业发展战略、技术发展等方面给企业提供建议 第三，通过鉴定的产品，希望企业能够尽快完成相关的后续产品上市手续，包括与税务部门的沟通等 第四，通过鉴定的产品，希望企业能够申请北京市级或者国家级相关仪器研发奖项，以争取支持仪器研发的资金，为今后更好的开展仪器研发项目做好基础工作。”北京市经济和信息委员会科技标准处 张刚处长　　一、新一代高精度顺序注射原子荧光光谱仪AF-2200通过鉴定　　北京瑞利分析仪器有限公司研发部梁敬副部长宣读了AF-2200原子荧光光谱仪的技术报告和工作总结报告。冯先进研究员宣读了AF-2200原子荧光光谱仪现场测试报告。北京瑞利分析仪器有限公司研发部梁敬副部长北京矿冶研究总院冯先进研究员　　梁敬副部长在报告中指出，AF-2200原子荧光光谱仪采用了最先进的顺序注射进样技术，可实现高精度微量进样 注射泵阀体由传统的三阀双泵二维流路改为三维空间流路，即高度集成化的双泵双阀顺序注射流路系统，阀芯采用陶瓷和PEEK复合材料，具备优异的抗化学腐蚀性能，阀切换寿命不小于1000万次 注射器的柱塞选择UHMWPE，端帽采用PEEK材料，高鹏玻璃作为针筒，具有优异的耐腐蚀性能和长的使用寿命，存样环也在业内首次采用了热固化成型工艺技术，能够获得极小的扩散系数，该项技术获得了实用新型专利一项 AF-2200原子荧光光谱仪通过特殊的增敏试剂，将传统原子荧光的测量范围在As、Sb、Bi、Se、Te、Pb、Sn、Hg、Cd、Ge、Zn十一种元素基础上增加了Au、Ag、Cu、Co、Ni五种元素，测量范围达到16种元素。AF-2200原子荧光光谱仪已经申报的自主知识产权专利有5项。应用范围方面，AF-2200原子荧光光谱仪主要应用于食品安全、环境检测、地质普查、农业环境、临床医学、科研等领域的重金属总量分析。AF-2200原子荧光光谱仪　　鉴定会委员详细审议了北京瑞利工作人员的工作总结报告、技术总结报告、财务报告、产品检测报告、产品技术标准说明、查新报告、用户使用报告、标准化审查报告、资料审查报告、现场测试报告 经过质询和现场考察仪器新品，最终形成如下鉴定意见：　　AF-2200原子荧光光谱仪　　1、该产品的鉴定文件齐全,符合鉴定要求。　　2、该产品创新性采用了高度集成的高精度双泵双阀顺序注射进样系统，具有智能化漏液监测、高精度数字化气路系统压力监测和原子化室避光监测功能，形成了全新的蒸汽发生原子荧光仪器。　　3、开发了一种全新分析方法的专用增敏剂，可测定元素扩大到16个(Cu、Ag、Au、Co、Ni等元素)之多。采用了压力平衡式四通混合模块，极大地稳定了流体的传输，保证了信号峰形的平滑度和重现度。首创了高韧性进样针，解决了石英采样针易碎和挂液的问题。　　4、开发了自动进样器配合使用的全自动液体工作站软件，实现样品及标准溶液的自动稀释、自动定容等繁琐的溶液处理操作。　　5、该产品结构简单可靠，具有广阔的市场前景。　　6、该产品的技术文件资料齐全，符合国家规范，可以指导生产。　　鉴定委员会一致认为：北京瑞利分析仪器有限公司研制开发的“AF-2200原子荧光光谱仪”技术达到国际先进水平，同意通过新产品鉴定。AF-2200原子荧光光谱仪产品考察AF-2200原子荧光光谱仪生产车间　　二、AES-7000系列专用发射光谱仪通过鉴定　　北京瑞利分析仪器有限公司研发部王彦东副部长宣读了工作总结报告和技术总结报告。计子华研究员宣读了AES-7000系列专用发射光谱仪现场测试报告。AES-7000系列包含AES-7100/ AES-7200两款产品，专用于高纯金属和地质样品的测定。北京瑞利分析仪器有限公司研发部王彦东副部长中国地质科学院力学研究所计子华研究员　　据王彦东副部长在报告中介绍，AES-7100/ AES-7200直/交流电弧专用发射光谱仪在国内首次将交流或直流电弧激发光源与凹面光栅分光系统及光电倍增管接收系统相结合，构成全新的组合模式，具有全新的光路、结构及外形 AES-7100/ AES-7200两种专用仪器分别做了方法开发：AES-7100直流电弧专用发射光谱仪针对高纯金属氧化钼和氧化钨中的18-19中杂质元素开发了专用的分析方法，确定了氧化钼和氧化钨光谱缓冲剂配比，而AES-7200交流电弧专用发射光谱仪针对地球化学样品中Ag、Sn、B三种比较难测定的元素开发了专门的测定方法，并可测定Mo、Pb、Au、Ni、Co等十几种元素 相对于一米光栅光谱仪采用的传统的相板记录方式，AES-7000系列专用发射光谱仪以光电直读代之，改变了我国30多年来电弧激发光谱分析现状，使电弧激发这项“古典”而又“经典”的分析技术焕发了青春。据介绍，自主知识产权方面，AES-7000系列专用发射光谱仪已申请八项专利技术。AES-7000系列专用发射光谱仪　　北京瑞利分析仪器有限公司相关工作人员汇报了AES-7000系列专用发射光谱仪相关技术总结报告、工作总结报告、财务报告、产品检测报告、产品技术标准说明、查新报告、用户使用报告、标准化审查报告、资料审查报告、现场测试报告，经过鉴定会委员的详细审议、质询和现场考察，最终形成如下鉴定意见：　　(1)产品(技术)名称： AES-7100型高纯金属专用发射光谱仪　　1、该产品的鉴定文件齐全,符合鉴定要求。　　2、该产品首次采用了直流电弧激发光源与凹面光栅分光系统和光电倍增管检测系统的全新组合，可直接对粉末状样品进行灵敏、快速的测定，属国内首创。　　3、该产品采用了自动控温水冷式电极夹，增强了产品的稳定性 采用汞灯描迹装置，能够方便的进行谱线定位 设有电极成像显示屏，可直接观察到电极成像投影，便于操作。　　4、该产品针对相关领域的要求设计了专用应用软件，可根据蒸发曲线分别为每条谱线设定曝光时间参数、强弱线可同步衔接测量，具有内标、背景及分析数据校正处理等功能，提高了直流电弧光量计分析信背比。　　5、该产品能对有色、冶金领域高纯金属及氧化物样品中的多种微量元素进行同时测定，市场前景广阔，具有良好的社会效益及经济效益。　　6、该产品的技术文件资料齐全，符合国家规范，可以指导生产。　　鉴定委员会一致认为：北京瑞利分析仪器有限公司研制开发的“AES-7100型高纯金属专用发射光谱仪”技术达到国内领先水平，同意通过新产品鉴定。　　(2)产品(技术)名称： AES-7200型地质样品专用发射光谱仪　　1、该产品首次采用了交流电弧激发光源与凹面光栅分光系统和光电倍增管检测系统的全新组合，研制成功的交流电弧直读光谱仪在国内尚属首创。该产品可直接对粉末状样品进行灵敏、快速的测定。　　2、该产品整机设计合理、结构新颖，具有使用寿命较长的“自动控温水冷式电极夹” 在外光路全封闭防护装置上，可直接观察到电极成像投影，便于操作 采用汞灯描迹装置，能快速进行谱线定位。　　3、该产品针对相关领域的要求设计了专门应用软件，具有以下特殊功能：可根据蒸发曲线分别为每条谱线设定曝光时间参数、强弱线可同步衔接测量、有出色的内标、背景及分析数据校正处理等功能、强大的数据库供历史数据处理查询。　　4、该产品是—种性价比较高的电弧直读光谱仪，填补了我国在该类仪器的空白，能对地质领域样品中的多种微量元素进行同时测定。市场前景广阔，具有良好的社会效益及经济效益。　　5、该产品的技术资料齐全完整，符合国家规范，具备批量生产条件。　　鉴定委员会一致认为：北京瑞利分析仪器有限公司研制开发的“AES-7200型地质样品专用发射光谱仪”，其仪器性能及技术指标已达到国内领先水平，同意通过新产品鉴定。AES-7000系列专用发射光谱仪产品考察AES-7000系列专用发射光谱仪生产车间　　出席本次新产品鉴定会的人员还有：北京北分瑞利分析仪器(集团)公司李源总经理、武慧忠总工程师、北京瑞利分析仪器有限公司曾伟总工程师、原总工/技术顾问章诒学研究员、副总工程师王百华女士、技术顾问：原地质科学院物化探研究所的张文华和张锦茂高级工程师、项目主管吴冬梅高级工程师。

2011年1月10日，13日，利曼中国分别在北京、西安两地举行了直流电弧光谱仪的技术交流会。本次会议邀请了包括中国计量研究院、北京有色研究总院地矿、北京矿冶研究总院、中国农科院土壤所、核工业地质研究院、河北地矿中心在内的60多家地矿、有色行业重点单位参加。该次技术交流会由来自美国利曼总部的Rury博士和Dalager博士主讲，北京总部应用工程师陈应华、王飞主持了此次会议。会上主要介绍了Prodigy直流电弧光谱仪的主要技术特点以及在一些典型样品上的应用。 Prodigy直流电弧发射光谱仪由于采用了长焦距中阶梯光栅光学系统和大面积程序化CID检测器阵列，相比于传统的基于照相版技术的直流电弧光谱仪，在仪器性能和分析速度上均有一个质的飞跃。仪器的技术特点主要体现在以下方面：分析速度快 固态检测器和计算机的使用，使得仪器分析速度有了极大的提升，所有元素一次激发60秒内即可获取结果。大范围波长覆盖，无谱级重叠 由于采用了独有的激发台和光室设计，波长覆盖范围可达175-900nm，除了分析常规元素外，还可分析位于紫外区的P等元素。分辨率高，谱图干扰小 源自于ICP-OES的中阶梯光栅光学系统和大面积固态检测器使得仪器具有出色的分辨能力，可以有效消除谱图间的干扰。真正实现全谱直读功能 由于CID固态检测器的非破坏性，随机读取能力，prodigy可以实现以下诸多高级功能： 同步背景校正 出色的内标校正能力 时序分析功能可以获取每个元素的精确蒸发曲线 对每条谱线可以单独设定曝光时间 强弱谱线同步测量 对于Prodigy的应用，利曼公司在针对一些典型样品做了应用研究，这些样品包括： 金属氧化物、碳化物、硼化物以及氮化物 难溶粉末如SiC 贵金属及其它高纯金属 地质样品 核原料-氧化铀、氧化钚 土壤、淤泥、煤灰等 从应用过程和结果来看，相比于其它方法或传统的直流电弧光谱仪，Prodigy展现出了许多独有的优势：去除样品消解过程 Prodigy直流电弧光谱仪可直接对粉末状、线状和屑状样品进行分析，无须化学消解及稀释过程，所以非常适合一些难溶样品或高纯样品的分析。具备更高灵敏度，实现高纯金属分析 Prodigy可以实现很高的灵敏度，通常对于固体材料的检出限为亚ppm级，非常适合高纯铜，镍以及贵金属等的研究。快速的定量及半定量分析能力 Prodigy具有极快的样品分析速度（每个样品少于一分钟）及极高的分析精度。从已有的应用来看，对于大部分ppm级别的样品分析精度，相对标准偏差可以控制在10%以内。运行成本低廉，为您节省日常开支 和其它一些分析技术相比，Prodigy直流电弧具有极低的运行成本，无需化学前处理试剂，无特殊需要更换的备品备件，没有昂贵的需要维护的真空系统等。 Prodigy的技术特点和应用潜力，引发了在座嘉宾的浓厚兴趣，多位嘉宾与主持人进行了热烈的讨论，并对Prodigy直流电弧光谱仪表现出的性能做出了很高的评价，会上多家权威单位已经提出和利曼公司展开技术合作，希望进一步拓展prodigy的应用深度和广度。利曼中国也希望以此为契机更好地为国内用户提供优质的服务及实验室解决方案！

仪器信息网讯 2011年10月12-15日，第十四届北京分析测试学术报告会及展览会(BCEIA 2011)在北京展览馆隆重举行。为让广大网友及仪器用户深入了解BCEIA 2011仪器新品动态，仪器信息网特别开展了以“盘点行业新品聚焦最新技术”为主题大型视频采访活动，力争将科学仪器行业最新创新产品、最新技术进展及最具有代表性应用解决方案直观地呈现给业内人士。以下是仪器信息网编辑采访北京纳克分析仪器有限公司新产品的视频。　　北京纳克分析仪器有限公司由钢铁研究总院注册成立，是集分析仪器及相关产品的生产、销售、研发、技术咨询、国外代理于一体的大型专业化高新技术企业。公司全心致力于金属材料检测、工艺过程质量控制领域的技术研究，产品覆盖光谱分析、气体分析、力学测试、物理测试、无损检测、计量、标准物质等领域。　　在采访中，纳克公司营销中心总经理杨植岗先生分别针对纳克公司激光光谱、金属原位分析仪、ICP发射光谱仪等做了详细的讲解。　　“LIBOSOPA 100是在科技部创新方法工作支持下的研究成果，用于材料里的成分分布以及状态分布分析，既可用于金属材料，也可以用于非金属材料。其对于我国新材料的研发以及汽车用钢板品质的提升将作出很大的贡献。”　　“OPA 100金属原位分析仪在市场上觉得了很好的成绩，曾获国家发明二等奖，也是上届BCEIA金奖的获奖产品，共拥有4项国际专利，5项国家专利，是世界首创，具有自主知识产权的仪器。OPA 200金属原位分析仪是在OPA 100金属原位分析仪的基础上改进得来的，它能检测金属材料中的成分分布以及成分的形态，能为新材料的研发、冶金工艺的改进提供相关数据。目前在国内已经拥有许多用户。”　　“plasma CCD全谱直读ICP发射光谱仪是BCEIA 2011新推出的产品，以CCD作为检测手段，以中阶梯光栅作为分光系统，具有自主知识产权。该产品已引起了众多国外厂商的关注。其价格不到同类进口仪器价格的三分之二。”

作为电弧/火花创新技术的领航者，40多年来，SPECTRO全心投入开发出世界先进的发射光谱仪。今天，斯派克公司完美引入CMOS探测器技术，彻底改变了高端电弧/火花分析技术的走向及未来。在所有同类分析仪中，SPECTROLAB S所提供分析速度超出想象，元素检测限低至极限，同时她也可以提供超长的正常运行时间和非常具有前瞻性的灵活性。 SPECTROLAB S 拥有世界上全新基于CMOS的探测器的记录系统，该系统非常适合于高端金属分析。从微量元素到多基体应用，它提供了极其快速、高度准确、异常灵活的技术选择。样品的分析速度是仪器先进性的重要标志，SPECTROLAB S的推出完全满足了金属分析市场对速度的需求。例如：当检测低合金钢时，它可以在20秒或更短的时间内提供高准确度的测量值！从技术指标和实际使用效果看，SPECTROLAB S均是目前金属冶炼厂适合的、高性能的光谱仪。对于金属再加工生产商、汽车和航空航天制造商、以及成品和半成品、电子产品、半导体等制造商来说，她给出的解决方案同样出色。20秒内获得高准确度的结果（例如：低合金钢）定期维护的工作量（火花台清洗）减少8倍元素在低合金钢中平均检测限改善2倍，元素在纯铝中的平均检测限改善5倍 仪器的占地面积减少27%单一标样实现整个系统的标准化, 此项每天可节省30分钟工作时间创新点：1、独立双光室，确保所有分析谱线都获得最佳分辨率。SPECTROLAB S 配备两套完整的专用光学系统。一个光室精确测量波长从120到240纳米（nm） 另一个光室，波长范围从210到800纳米（nm）。两个光室都采用先进的CMOS检测器，具备恒温装置和压力补偿功能2、等离子发生器数字光源和点火板可靠的新型高能LDMOS等离子发生器光源，为SPECTROLAB S 输出超级稳定的火花放电，频率最高1000 Hz。结果：最短的测量时间（例如：分析低合金钢小于 20 秒）。该系统还允许特定应用的火花参数设置，以优化分析性能。 3、精密氩气控制系统SPECTROLAB S 采用全新程控流量。软件根据分析程序精密设置氩气流量。节约了氩气消耗。氩气阀体直接耦合到火花台，无需管道连接。避免漏气。4、火花台清理间隔大大延长坚固的陶瓷内芯避免积尘粘附。流畅的气路设计确保了最少的粉尘残留（使得清理间隔时间延长了8倍）；对于大样品量输出的全自动光谱仪系统尤为重要。5、快速读出系统斯派克的GigE创新读出系统确保海量数据的极速处理，从而支持卓越的仪器性能表现。实现了独特的全光谱范围谱图记录。 6、超低检出限。SPECTROLAB S 采用的 CMOS+T技术，在关键元素的检测限方面，超越光电倍增管技术的性能。通过配置最佳参比通道，工作曲线可以最大程度获得优化。可以快速定量分析ppm量级的高纯金属或合金中的痕量元素。斯派克 直读光谱仪SPECTROLAB S

- 20秒内获得高准确度的结果（例如：低合金钢）- 定期维护的工作量（火花台清洗）减少8倍- 元素在低合金钢中平均检测限改善2倍，元素在纯铝中的平均检测限改善5倍- 仪器的占地面积减少27%- 单一标样实现整个系统的标准化, 此项每天可节省30分钟工作时间作为电弧/火花创新技术，40多年来，SPECTRO全心投入开发出世界的发射光谱仪。今天，斯派克公司完美引入CMOS探测器技术，彻底改变了高端电弧/火花分析技术的走向及未来。在所有同类分析仪中，SPECTROLAB S所提供分析速度超出想象，元素检测限低至极限，同时她也可以提供超长的正常运行时间和非常具有前瞻性的灵活性。 SPECTROLAB S 拥有世界上基于CMOS的探测器的记录系统，该系统非常适合于高端金属分析。从微量元素到多基体应用，它提供了极其快速、高度准确、异常灵活的技术选择。样品的分析速度是仪器先进性的重要标志，SPECTROLAB S的推出完全满足了金属分析市场对速度的需求。例如：当检测低合金钢时，它可以在20秒或更短的时间内提供高准确度的测量值！从技术指标和实际使用效果看，SPECTROLAB S均是目前金属冶炼厂选的、高性能的光谱仪。对于金属再加工生产商、汽车和航空航天制造商、以及成品和半成品、电子产品、半导体等制造商来说，她给出的解决方案同样出色。创新点：独立双光室，确保所有分析谱线都获得最佳分辨率。 SPECTROLAB S 配备两套完整的专用光学系统。一个光室精确测量波长从120到240纳米（nm） 另一个光室，波长范围从210到800纳米（nm）。 两个光室都采用先进的CMOS检测器，具备恒温装置和压力补偿功能 2、等离子发生器数字光源和点火板 可靠的新型高能LDMOS等离子发生器光源，为SPECTROLAB S 输出超级稳定的火花放电，频率最高1000 Hz。结果：最短的测量时间（例如：分析低合金钢小于 20 秒）。该系统还允许特定应用的火花参数设置，以优化分析性能。 3、精密氩气控制系统 SPECTROLAB S 采用全新程控流量。软件根据分析程序精密设置氩气流量。节约了氩气消耗。氩气阀体直接耦合到火花台，无需管道连接。避免漏气。 4、火花台清理间隔大大延长 坚固的陶瓷内芯避免积尘粘附。流畅的气路设计确保了最少的粉尘残留（使得清理间隔时间延长了8倍）；对于大样品量输出的全自动光谱仪系统尤为重要。 5、快速读出系统 斯派克的GigE创新读出系统确保海量数据的极速处理，从而支持卓越的仪器性能表现。实现了独特的全光谱范围谱图记录。 6、超低检出限。SPECTROLAB S 采用的 CMOS+T技术，在关键元素的检测限方面，超越光电倍增管技术的性能。通过配置最佳参比通道，工作曲线可以最大程度获得优化。可以快速定量分析ppm量级的高纯金属或合金中的痕量元素。SPECTROLAB S 台式直读光谱仪-华普通用

最新推出的ARCOS光谱仪将电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES）的效率和性能推向了新的高度。该产品是业界领先的ARCOS系列更新产品，也是目前拥有30多年世界领先ICP-OES设备生产经验的SPECTRO的又一巅峰之作。SPECTRO ARCOS广泛适用于工业和科研领域中面向未来的金属、化学、石化和其他材料的元素分析。它拥有独一无二的全新MultiView等离子体接口，第一次真正地在同一台仪器上实现轴向和径向的直接观测。此外还有创新的独家固态发生器，功率极高，且高能效，适合未来应用。SPECTRO ARCOS采用独特的设计，运行成本低、性能可靠且使用寿命长。它配有符合人体工程学设计的现代化机箱，拥有多项先进功能，如免吹扫UV-PLUS密封空气净化技术、无需外部冷却的OPI-Air接口、简洁的进样系统以及方便的维修保养设计。所有这一切的精心和独到设计，使得SPECTRO ARCOS无需使用任何额外技术或设备即能实现无与伦比的性能。详情欢迎浏览:http://www.instrument.com.cn/netshow/C223190.htm www.spectro.com.cn欢迎垂询：400 100 3885 400 162 7360

电子显微镜通过发射电子与样品相互作用成像，用来“照射”样品的可靠电子源是电镜最重要的部分之一。电子显微镜对电子束的要求非常高。目前只有两种电子源满足要求：热电子发射源和场发射电子源。目前商用的，热电子发射源用的是钨灯丝（较少见）或六硼化镧（ ）晶体（较常见）；场发射电子源用的是很细的针状钨丝（具体分为肖特基发射源和冷场发射源）。场发射电子源场发射电子源通常叫做 FEG，其工作原理和热电子源有着本质区别。基本原理是：电场强度 E 在尖端急剧增加，这是因为如果把电压 V 加到半径为 r 的（球形）尖端，则在场发射中我们称细针为“针尖”，钨丝是最容易加工成细针尖的材料之一，可以加工出半径小于 0.1μm 的针尖，场发射与钨针尖的晶体取向相关，310是最好的取向。场发射枪（FEG）相对简单，通过拔出电压将电子从针尖中拉出来，然后通过加速电压对电子加速。第一次启动时要缓慢增加拔出电压，使热机械振动不至于损坏针尖。这就是使用 FEG 要执行的唯一实际操作，并总是由计算机实际控制。热电子发射源我们称热发射钨电子源为“灯丝”，因为钨可以被拉成细丝，类似白炽灯中用的灯丝。六硼化镧通常沿110取向生长来增强发射能力。事实上，把任何一种材料加热到足够高的温度，电子都会获得足够的能量以克服阻止它们离开的表面势垒（称为功函数 Φ）。大小约为几个电子伏。热电子发射机制可以用 Richardson 定律表示：其中，J 为发射源电流密度，T 为工作温度（K），k 是玻尔兹曼常量 ，A 是 Richardson 常数，A ，具体数值取决于电子源的材料。把电子源加热到温度 T，使电子获得大于 Φ 的能量并从此那个电子源中逃逸出来，从而形成电子电子束。然而大多数材料注入几 eV 的热能时就会熔化或蒸发。唯一可能的热电子源材料要么是高熔点（钨熔点 3660K），要么 Φ 异常小（ 功函数 2.4）。晶体是现代 TEM 中所用的唯一热电子源，通常被绑在金属（例如铼）丝上通过电阻加热形成热发射。 晶体对热冲击很敏感，所以加热、冷却电子源时要小心。当必须手动开关电子源时，要缓慢增加/减小热电流，在每个设定值后停顿 10~20s。随着科学技术发展，目前部分操作已可以通过计算机控制，但是对于大多数 TEM 仍广泛使用的热电子枪，仍需要操作者进行部分手动控制。大束科技（北京）有限责任公司自主研发了电镜零部件，尤其是消耗型的部件都做到了国产化，例如液态镓离子源、电子枪和离子枪配件、光阑、电镜上使用的各种电源等，可以完全替代进口产品。大束科技（北京）有限责任公司的可以量产的生产制造场地即将装修完毕投入使用，实现量产以后，在最极端的情况下，如果在国内已经安装的进口电镜原厂家不再提供配件，大束科技（北京）有限责任公司的产品可以保障国内这些进口电镜正常运行。

2014年10月24日，聚光科技（杭州）股份有限公司（以下简称聚光科技）自主研制的“E5000型电弧直读发射光谱仪”科技成果鉴定会在杭州顺利召开。本次鉴定会由中国分析测试协会张渝英秘书长、中国分析测试协会汪正范研究员、清华大学张新荣教授、北京矿冶研究总院冯先进研究员、中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所张勤主任、湖北省地质调查院叶家瑜研究员、浙江省地质矿产研究所胡勇平所长、国家有色金属测试中心刘英副所长、浙江大学周建光教授、国土资源部太原矿产资源监督检测中心张喜友总工组成专家委员会。 E5000专家鉴定会现场 鉴定委员会主任张新荣教授主持鉴定会，委员会成员们都认真听了项目工作组研发报告、技术工作报告、经济效益分析报告、查新报告、检验报告和用户报告等详细 地汇报，并实地考察聚光科技发射光谱仪的产业基地和E5000发射光谱仪的研发实验室和生产场地，对仪器的现场操作及生产过程进行了详细了解。聚光科技工程师们对专家们提出的关于仪器性能、应用方向和技术指标等问题进行详尽的解答和阐述。 专家们现场考察E5000电弧直读发射光谱仪专家们现场考察E5000生产场地 在听取项目汇报、仪器现场考核及现场答疑之后，专家组成员经过激烈的争辩和认真的思考后，一致同意并签发“E5000电弧直读发射光谱仪”的仪器鉴定结果，如下： E5000 型电弧光源原子发射光谱仪采用全谱直读型仪器设计，分析谱线可灵活选择、干扰校正更方便准确，有利于高基体含量的复杂样品的低含量元素分析；同时全谱的指纹图谱的采集有利于获取样品的全部信息。该仪器作为国内台式电弧光源原子发射光谱仪的全谱直读型仪器，具有良好的应用前景和市场前景。专家们不仅对E5000电弧直读发射光谱仪给予高度的评价，还希望本款产品能在当前遇到的一些检测难题上发挥更大的作用，由衷地提出如下建议：1、 完善应用方法，拓展产品的适用领域，使得5000成为地球化探的基本工具；2、 进一步提高光谱分辨率，强化产品在高干扰样品中的分析能力；3、 针对固体样品直接分析，提供更加完善的产品组合，尤其是样品前处理相关的设备，提高用户的工作效率。 鉴定会尾声，中国分析测试协会张渝英秘书长总结发言：“聚光科技自从开展实验室分析仪器，一年推出一款新仪器，特别是针对当前环境、地矿、有色金属等行业检 测技术的一些难点上，下足了功夫，推出的产品和解决方案都能够在很大程度上解决当前业内公认的检测难点。这也反映出国内分析仪器厂商的研发实力，有力的推进了国产分析仪器的进步。”张秘书长勉励项目组研发人员进一步加强产品与应用的结合，加强与国内分析应用单位开展合作，将所研制的分析仪器在我国的分析应用工作中得到使用推广；她说到，希望聚光科技能再接再厉，不断推出具有自主知识产权的科学仪器，促进我国分析仪器事业的发展。 鉴定会专家组和项目组成员合影E5000电弧直读发射光谱仪产品简介：E5000 电弧直读发射光谱仪是聚光科技在多年发射光谱仪研制基础上结合自主技术的数控可编程电弧光源、高分辨罗兰圆分光光谱等技术开发的首台针对于固体粉末样品直接分析的台式全谱直读电弧发射光谱仪，通过全谱直读型光谱仪设计可以一次分析获得所有谱线的信息，可以实现谱图实时呈现，实时可视化扣除背景和干扰，进一 步提升了分析的准确度；同时基于激光瞄准的全自动对准水冷电极夹设计，很大的提升的操作的简便性和定位的准确度，适用我国地球化探、地质矿产、有色高纯金属和环境等领域的检测与质量控制，是我国又一具有原创性的分析仪器。 E5000电弧直读发射光谱仪图片

2014年10月24日，聚光科技（杭州）股份有限公司（以下简称聚光科技）自主研制的“E5000型电弧直读发射光谱仪”科技成果鉴定会在杭州顺利召开。本次鉴定会由中国分析测试协会张渝英秘书长、中国分析测试协会汪正范研究员、清华大学张新荣教授、北京矿冶研究总院冯先进研究员、中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所张勤主任、湖北省地质调查院叶家瑜研究员、浙江省地质矿产研究所胡勇平所长、国家有色金属测试中心刘英副所长、浙江大学周建光教授、国土资源部太原矿产资源监督检测中心张喜友总工组成专家委员会。 E5000专家鉴定会现场 鉴定委员会主任张新荣教授主持鉴定会，委员会成员们都认真听了项目工作组研发报告、技术工作报告、经济效益分析报告、查新报告、检验报告和用户报告等详细地汇报，并实地考察聚光科技发射光谱仪的产业基地和E5000发射光谱仪的研发实验室和生产场地，对仪器的现场操作及生产过程进行了详细了解。最后，聚光科技工程师们对专家们提出的关于仪器性能、应用方向和技术指标等问题进行详尽的解答和阐述。 专家们现场考察E5000电弧直读发射光谱仪专家们现场考察E5000生产场地 在听取全面的项目汇报、仪器现场考核及现场答疑之后，专家组成员经过激烈的争辩和认真的思考后，一致同意并签发“E5000电弧直读发射光谱仪”的仪器鉴定结果，如下：E5000型电弧光源原子发射光谱仪采用全谱直读型仪器设计，分析谱线可灵活选择、干扰校正更方便准确，有利于高基体含量的复杂样品的低含量元素分析；同时全谱的指纹图谱的采集有利于获取样品的全部信息。该仪器填补了国内台式电弧光源原子发射光谱仪的全谱直读型仪器的空白，具有良好的应用前景和市场前景。专家们不仅对E5000电弧直读发射光谱仪给予高度的评价，还希望本款产品能在当前遇到的一些检测难题上发挥更大的作用，达到业内领先水平，由衷地提出如下建议：1、 完善应用方法，拓展产品的适用领域，使得5000成为地球化探的基本工具；2、 进一步提高光谱分辨率，强化产品在高干扰样品中的分析能力；3、 针对固体样品直接分析，提供更加完善的产品组合，尤其是样品前处理相关的设备，提高用户的工作效率。 鉴定会最后，中国分析测试协会张渝英秘书长总结发言：“聚光科技自从开展实验室分析仪器，一年推出一款新仪器，特别是针对当前环境、地矿、有色金属等行业检测技术的一些难点上，下足了功夫，推出的产品和解决方案都能够在很大程度上解决当前业内公认的检测难点。这也反映出国内龙头分析仪器厂商的研发实力，有力的推进了国产高端分析仪器的进步。”张秘书长勉励项目组研发人员进一步加强产品与应用的结合，加强与国内分析应用单位开展合作，将所研制的高端分析仪器在我国的分析应用工作中得到使用推广；最后她说到，希望聚光科技能再接再厉，不断推出具有自主知识产权的卓越的科学仪器，促进我国分析仪器事业的发展。 鉴定会专家组和项目组成员合影E5000电弧直读发射光谱仪产品简介：E5000电弧直读发射光谱仪是聚光科技在多年发射光谱仪研制基础上结合自主技术的数控可编程电弧光源、高分辨罗兰圆分光光谱等技术开发的首台针对于固体粉末样品直接分析的台式全谱直读电弧发射光谱仪，通过全谱直读型光谱仪设计可以一次分析获得所有谱线的信息，可以实现谱图实时呈现，实时可视化扣除背景和干扰，进一步提升了分析的准确度；同时基于激光瞄准的全自动对准水冷电极夹设计，极大的提升的操作的简便性和定位的准确度，适用我国地球化探、地质矿产、有色高纯金属和环境等领域的检测与质量控制，是我国又一具有原创性的高端分析仪器。 E5000电弧直读发射光谱仪图片

2017年5月17日，聚光科技（杭州）股份有限公司（以下简称“聚光科技”）下属子公司北京聚光盈安科技有限公司（以下简称“聚光盈安”）与重庆计量质量检测研究院联合举办了一场原子发射光谱分析技术交流会。这既是一场光谱分析技术知识讲座，更是一场质检人观点交锋，深度互动的盛会。　　聚光盈安是聚光科技的全资子公司，企业规模、研发实力和市场占有率都排名国内行业首位，是中国分析仪器行业的龙头企业。　　重庆计量质量检测研究院是重庆市政府设置的国家法定计量检定、质量检验、校准测试研究机构，为副局级社会公益型非盈利性事业单位，具有独立的法律地位和第三方公正性，是经国家计量考核和认证的国家法定检测机构，也是经中国实验室国家认可委员会认可的检测/校准实验室。　　随着我国经济的发展和产业技术的升级，各行业对于金属材料的品质要求、新材料的开发也在不断提高，使得冶炼、铸造、加工等整个金属材料产业链对材料的研究分析以及产品的品质管理都提出了新的要求。如今传统的分析方法已经无法满足行业的需求，光电直读光谱分析技术在钢铁、有色金属、机械制造、第三方检测和行政执法等领域都得到广泛的应用。此次技术交流会应运而生，旨在为大家提供一个互相沟通、互相学习的平台，以促进整个产业的升级。　　本次交流会首先由聚光科技直读光谱仪M5000、电感耦合等离子体发射光谱仪ICP-5000的产品经理分别做产品及其在金属领域的应用介绍；随后，重庆计量质量检测研究院周西林老师针对光电直读光谱制样技术向现场的观众做了详细而精彩的报告；最后，聚光盈安的工程师还为现场观众带来了最前沿的现场快速分析检测技术——XRF手持光谱仪。丰富而专业的会议内容引起了观众的强烈共鸣，频频提问互动，现场气氛热烈活跃。聚光科技直读光谱仪M5000产品经理喻正宁为现场观众做报告重庆计量质量检测研究院周西林老师做光电直读光谱制样技术报告 观众现场积极提问参与互动　　此次交流会获得了与会观众的一致好评，同时也获得了很多用户反馈的意见和建议。后续聚光盈安还将继续开展线上、线下多种形式的技术交流会、技术培训会，为金属产品质量检测行业的广大工作者提供更高性能的设备，更完善的服务。

仪器信息网讯 11月下旬，第七届中关村国际前沿科技大赛华东赛区决赛在安徽合肥中安创谷全球路演中心拉开帷幕。其中，由科大硅谷招引落地企业合肥国镜仪器科技有限公司（冷场发射扫描电镜项目）在华东赛区总决赛中荣获佳绩，成功入围2024年5月份的全球总决赛。比赛现场，来自高校院所、投资机构、领军企业的9位专家受邀担任评委。经过评委专家的细致点评、公正赋分，最终，12家硬科技企业脱颖而出，成功入围第七届中关村国际前沿科技大赛华东赛区十二强。据悉，11月份，合肥国镜仪器科技有限公司也参加了由合肥物联网科技产业服务管理中心等主办的“Tech 7创新者项目路演（第6期）”活动，在活动中，新型台式场发射扫描电子显微镜项目总经理方小伟指出，SEM广泛应用于科学研究、工业开发、（第三方）检测等领域。国内市场规模约50亿，国外品牌占据90%市场份额，国内品牌目前聚集在低端产品部分。随着国内科研和产业水平升级，市场规模呈现快速增长状态，总规模预期数年内达百亿以上。电子枪是SEM的信号源，是SEM的核心部件，电子发射技术是SEM的核心技术，对设备性能有决定影响，SEM设备的代际一般用电子发射技术的代际来区分。技术每提升一代，性能将提升十倍。目前国产电镜技术水平主要停留在第一代热发射，第二代热场发射技术国外占据绝对优势，第三代冷场发射技术被国外垄断（日立），第四代纳米线冷场发射电镜则具有亮度高、单色性好、体积小巧、高性价比易维护等多项优势。关于国镜仪器据公开信息，合肥国镜仪器科技有限公司于2023年10月12日注册成立，企业法人为方小伟。经营范围包括：技术服务、技术开发、技术咨询、技术交流、技术转让、技术推广；工程和技术研究和试验发展；新材料技术研发；仪器仪表制造；智能仪器仪表制造；电子测量仪器制造（除许可业务外，可自主依法经营法律法规非禁止或限制的项目）等。关于科大硅谷“科大硅谷”是聚焦创新成果转化、创新企业孵化、创新生态优化，以中国科学技术大学等高校院所全球校友为纽带，汇聚世界创新力量，发挥科技体制创新引领作用，立足合肥城市区域新空间打造的科技创新策源地、新兴产业聚集地示范工程。到2025年，汇聚中国科大和国内外高校院所校友等各类优秀人才超10万名；形成多层次基金体系，基金规模超2000亿元；集聚科技型企业、新型研发机构、科创服务机构等超1万家，培育高新技术企业1000家，上市公司和独角兽企业50家以上；形成一批可复制可推广的制度成果，成为全国科技体制创新的标杆。

成果名称低能强流发射度仪的研制单位名称北京大学联系人马靖联系邮箱mj@labpku.com合作方式□技术转让 □技术入股 &radic 合作开发 □其他成果成熟度□研发阶段 &radic 原理样机 □通过小试 □通过中试 □可以量产成果简介：束流发射度是反映束流品质的重要物理参数，是加速器和束流输运线设计的重要参数，也是研究束流匹配传输和束流传输效率的基础。近年来，强流加速器已成为国际上加速器技术发展的最为重要的方向之一。强流加速器的关键问题之一是尽量减小束流损失。为此，对强流离子束或电子束进行准确的发射度测量是十分重要的。国内外多个实验室均在进行强流束发射度仪的研制。其中，北京大学重离子物理研究所正在开展强流离子、电子加速技术及应用研究，为获得高品质的束流并实现对束流的有效调控，需要能够测量强流发射度、使用方便且精度较高的束流发射度仪。而现有发射度仪不能很好满足测量强流束发射度的需要，因此需要研制强流束发射度仪。2009年，北京大学物理学院陆元荣教授申请的&ldquo 低能强流发射度仪研制&rdquo 项目获得了第一期&ldquo 仪器创制与关键技术研发&rdquo 基金的支持。该项目研制的低能强流发射度仪用于测量强流RFQ加速器中强流离子束（脉冲束或直流束）的发射度和发射相图，能够全面反映离子束从离子源引出到低能束流输运段、RFQ加速器入口处等各阶段的发射相图的变化，对北大强流RFQ加速器技术的发展和建立基于RFQ加速器的中子照相研究平台具有重要意义。在基金的资助下，课题组完成的工作包括：（1）根据测量要求进行仪器的物理设计；（2）研发测量同一束流截面、两个相互垂直方向的发射度机械装置；（3）开发与系统功能相适应的自动控制电路；（4）研究数据采集过程中的噪声抑制电路和信号处理的算法；（5）编制用于控制、数据采集、结果显示的可视化图形软件。应用前景：目前该项目已经顺利结题，其研制的包含全套软、硬件装置的强流束流发射度仪正在强流离子束应用领域（如强流离子注入、散裂中子源、同步辐射光源等）进行推广，将为该领域其它单位的科研工作提供有力的帮助。

利曼中国LEEMANCHINA国内第一台直流电弧光谱仪在湖南株洲硬质合金集团分析测试中心顺利安装调试成功后，在高纯金属及疑难样品分析领域引起了巨大震撼！解决了长期以来对于一些难熔物质特别是氧化钨，碳化硅，陶瓷等复杂样品的分析，无须消解和稀释，可直接对粉末状、线状和屑状样品进行分析。完美解决了ICP、AAS样品消解的麻烦和缺点。利曼中国LEEMANCHINA推出的Prodigy直流电弧光谱仪继承了光谱领域数十年的经验沉淀和技术积累，沿用了Prodigy高端ICP光谱仪最新科技成果，将直流电弧这项古老而又经典的分析技术带入了全新的应用领域额。一经推出，即广受好评，向广大用户展示了最新仪器理念、尖端分析测试技术，提供了尖端的实验室疑难技术解决方案。直流电弧光谱仪测定高纯镍、高纯钨、高纯钼以及高纯石墨中的痕量元素高纯镍主要用于制造合金，也用于制造国内和世界范围内的消费产品如充电电池、磁铁、催化剂及硬币（5美分）等。粉末状的镍可以与铁粉、铜粉等金属混合，用于增强汽车零件的密度，如离合器、转子和齿轮等。 钼是银灰色金属，熔点为2623 º C，是元素周期表中的第六高熔点。钼很容易形成结实稳定的碳化物，当其在空气中加热到600 º C时便形成了挥发性氧化物。无论是纯钼还是钼合金，当温度达到1900º C时，其强度和机械稳定性使其有着广泛的应用。钼以纯金属存在时，常被用于制作灯丝、高温炉部件以及耐磨性反射镜和光学元件。钼的合金态最基本的应用就是出现在不锈钢和合金钢中。这些材料通常应用于制造低摩擦耐磨的汽车部件、天然气输送管、铸铁、工业催化剂、阻燃剂以及汽轮机部件等。 钨是一种脆性、高密度、灰白色金属，具有良好的导电性，其熔点比其它所有纯金属都要高。除了碳以外，钨的熔点是元素周期表中所有元素中最高的。无论是在纯金属还是在合金中，钨的良好的导电性及热性能使得其在很多领域中得到应用。在非合金形式应用中，钨常用于制作弧焊电极、灯丝和高性能汽车配件。另外，在电气、航天器和高温应用领域都有比较广泛的应用。在合金应用领域，钨增强了材料的硬度和拉伸强度，可以应用于制作耐磨工具、x射线管、高温合金和工业催化剂等。 石墨是现存最软的矿物质之一，而且是电的良导体。除此之外，石墨具有不可思议的热稳定性（熔点3650 º C）并且是极好的热导体。大部分天然石墨被加工成粉末用于制造如钢、润滑油、工业涂料、橡胶和塑料助剂、制动器衬片、电池、电极以及气冷核反应堆等材料。 以上材料中的痕量元素常规分析方法如ICP光谱、ICP质谱等分析手段需要克服分析前样品的消解处理难题，消解过程通常复杂且费时，而且增加了样品制备过程中的污染的风险，严重的干扰以及缺少对应的标样，往往严重影响分析数据的正确度及分析进度，是目前分析领域的难题，利曼Prodigy直流电弧技术的推出，很好地解决了此困境，为分析手段增添了新的手段与方法。 直流电弧光谱仪允许固态形式的以上样本进行直接分析，不需要溶样，大大地加快了样品的准备和分析速度。直接分析不需要进行样品稀释，获得了比其它分析手段更好的检测限。以下为相关检出限数据：高纯钨的检测限： 检测限的计算方法是7次校正空白测量值的标准差的3倍。 元素波长(nm)最低检测限(ppm)Ag328.0680.025Al309.2710.40As234.9841.2B249.7730.11Be313.0420.012Bi306.7721.2Ca396.8470.34Cd214.4380.30Co345.3510.54Cr284.9840.25Cu324.7540.063Fe259.9400.95Ga294.3641.0Ge303.9060.14K766.4910.42Li670.7840.34Mg279.5530.083Mn257.6100.045Mo313.2596.4Na589.5924.3Ni310.1550.096Pb261.4180.51Sb217.5890.47Si252.4120.25Sn317.5020.68Sr407.7712.8Ti308.8030.086V318.5401.0Zn213.8560.37 高纯钼中元素的检测限：元素波长(nm)最低检测限(ppm)Ag328.0680.14As193.7592.9B249.6780.54Ba455.4042.8Be234.8610.11Ca396.8471.0Cd226.5020.33Co352.9814.3Cr427.4803.0Cu327.3960.37Fe259.9401.4Ga294.3641.3Ge270.9634.6Mg285.2130.11Mn257.6100.83Na588.9950.09Ni305.0823.1P253.56520Pb283.30714Sb217.5891.1Se203.9854.2Si251.61212Sn283.9993.4Te214.2752.5Ti334.9411.3Tl535.0463.5V437.92426Zn206.1910.02Zr349.6214.3 高纯镍中痕量元素的检测限：元素波长(nm)检测限(ppm)元素波长(nm)检测限(ppm)Ag328.0680.12Li670.7840.50Al309.2710.48Mg279.5530.37As193.7593.2Mn257.6100.095B249.6780.49Mo317.0350.56Ba493.4090.45Na588.9950.97Be234.8610.18P253.5651.1Bi306.7720.28Pb283.3070.31Ca393.3660.55Sb217.5891.7Cd214.4380.32Se203.9854.6Co238.8922.6Si251.6120.78Cr283.5630.58Sn283.9990.24Cu327.3960.055Sr407.7713.5Fe259.9400.44Te214.2751.0Ga287.4240.21Ti334.9410.49Ge270.9630.59V318.5400.44In325.6091.7Zn334.5021.6K766.4912.4Zr339.1983.8石墨中痕量元素的检测限：元素波长(nm)检测限(ppm)元素波长(nm)检测限(ppm)Al308.2160.13Mn259.3730.008As193.7590.32Na589.5920.73B249.7730.027Ni341.4770.005Ca396.8470.32P253.5650.055Cd226.5020.021Pb283.3070.026Cr283.5630.010Sb231.1470.034Cu327.3960.043Si252.4120.22Fe259.9400.021Sn283.9990.006Ga294.3640.014Ti337.2800.027K766.4910.61V309.3110.008Li670.7840.020Zn213.8560.009Mg285.2130.058 Trace elements analysis in high purity Tungsten, molybdenum, Nickle and granite by Prodigy DC- Arc .

摘要：本文首先简单回顾了辉光放电光谱仪（Glow Discharge Optical Emission Spectrometry，GDOES）的发展历程及特性，然后通过实例介绍了GDOES在微米涂层以及纳米超薄膜层深度剖析中的应用，并简介了深度谱定量分析的混合-粗糙度-信息深度（MRI）模型，最后对GDOES深度剖析的发展方向作了展望。1 GDOES发展历程及特性辉光放电发射光谱仪应用于表面分析及深度剖析已经有近100年的历史。辉光放电装置以及相关的光谱仪最早出现在20世纪30年代，但直到六十年代才成为化学分析的研究重点。1967年Grimm引入了“空心阳极-平面阴极”的辉光放电源[1]，使得GDOES的商业化成为可能。随后射频（RF）电源的引入，GDOES的应用范围从导电材料拓展到了非导电材料，而毫秒或微秒级的脉冲辉光放电(Pulsed Glow Discharges，PGDs)模式的推出，不仅能有效地减弱轰击样品时的热效应，同时由于PGDs可以使用更高激发功率，使得激发或电离过程增强，大大提高了GDOES测量的灵敏程度，极大推动了GDOES技术的进步以及应用领域的拓展。GDOES被广泛应用于膜层结构的深度剖析，以获取元素成分随深度变化的关系。相较于其它传统的深度剖析技术，如俄歇电子能谱（AES）、X射线光电子能谱（XPS）和二次离子质谱（SIMS）或二次中性质谱（SNMS），GDOES具有如下的独特性[2]：（1）分析样品材料的种类广，可对导体/非导体/无机/有机…膜层材料进行深度剖析，并可探测所有的元素(包括氢)；（2）分析样品的厚度范围宽，既可对微米量级的涂层/镀层，也可对纳米量级薄膜进行深度剖析；（3）溅射速率高，可达到每分钟几微米；（4）基体效应小，由于溅射过程发生在样品表面，而激发过程在腔室的等离子体中，样品基体对被测物质的信号几乎不产生影响；（5）低能级激发，产生的谱线属原子或离子的线状光谱，因此谱线间的干扰较小；（6）低功率溅射，属层层剥离，深度分辨率高，可达亚纳米级；（7）因为采用限制式光源，样品激发时的等离子体小，所以自吸收效应小，校准曲线的线性范围较宽；（8）无高真空需求，保养与维护都非常方便。基于上述优势，GDOES被广泛应用于表征微米量级的材料表面涂层/镀层、有机膜层的涂布层、锂电池电极多层结构和用于其封装的铝塑膜层、以及纳米量级的功能多层膜中元素的成分分布[3-6]，下面举几个具体的应用实例。2 GDOES深度剖析应用实例2.1 涂层的深度剖析用于材料表面保护的涂层或镀层、食品与药品包装的柔性有机基材的涂布膜层、锂电池的多层膜电极，以及用于锂电池包装的铝塑膜等等的膜层厚度一般都是微米量级，有的膜层厚度甚至达到百微米。传统的深度剖析技术，如AES，XPS和SIMS显然无法对这些厚膜层进行深度剖析，而GDOES深度剖析技术非常适合这类微米量级厚膜的深度剖析。图1给出了利用Horiba-Profiler 2（一款脉冲—射频辉光放电发射光谱仪—Pulsed-RF GDOES，以下深度谱的实例均是用此设备测量），在Ar气压700Pa和功率55w条件下，测量的表面镀镍的铁箔GODES深度谱，其中的插图给出了从表面到Ni/Fe界面各元素的深度谱，测量时间与深度的转换是通过设备自带的激光干涉仪（DIP）对溅射坑进行原位测量获得。从全谱来看，GDOES测量信号强度稳定，未出现溅射诱导粗糙度或坑道效应（信号强度随溅射深度减小的现象，见下），这主要是因为铁箔具有较大的晶粒尺寸。同时还可以看到GDOES可连续测量到~120μm，溅射速率达到4.2μm/min（70nm/s）。从插图来看， Ni的镀层约为1μm，在表面有~100nm的氧化层，Ni/Fe界面分辨清晰。图1 表面镀镍铁箔的GODES深度谱，其中的插图给出了从表面到Ni/Fe界面的各元素的深度谱图2给出了在氩-氧（4 vol%）混合气气压750Pa、功率20w、脉冲频率3000Hz、占空比0.1875条件下，测量的用于锂电池包装铝塑膜（总厚度约为120μm）的GODES深度谱，其中的插图给出了铝塑膜的层结构示意图[7]。可以看出有机聚酰胺层主要包含碳、氮和氢等元素。在其之下碳、氮和氢元素信号的强度先降后升，表明在聚酰胺膜层下存在与其不同的有机涂层—粘胶剂，所含主要元素仍为碳、氮和氢。同时还可以看出在粘胶剂层下面的无机物（如Al，Cr和P）膜层，其中Cr和P源于为提高Al箔防腐性所做的钝化处理。很明显，图2测量的GDOES深度谱明确展现了锂电池包装铝塑膜的层结构。实验中在氩气中引入4 vol%氧气有助于快速溅射有机物的膜层结构，同时降低碳、氮信号的相对强度，提高了无机物如铬信号的相对强度，非常适合于无机-有机多层复合材料的结构分析，而在脉冲模式下，选用合适的频率和占空比，能够有效地散发溅射产生的热量，从而避免了低熔点有机物的碳化。图2一款锂电池包装铝塑膜的GDOES溅射深度谱，其中的插图给出了铝塑膜的层结构示意图[7]2.2 纳米膜层及表层的深度剖析纳米膜层，特别是纳米多层膜已被广泛应用于光电功能薄膜与半导体元器件等高科技领域。虽然传统的深度剖析技术AES，XPS和SIMS也常常应用于纳米膜层的表征，但对于纳米多层膜，传统的深度剖析技术很难对多层膜整体给予全面的深度剖析表征，而GDOES不仅可以给予纳米多层膜整体全面的深度剖析表征，而且选择合适的射频参数还可以获得如AES和SIMS深度剖析的表层元素深度谱。图3给出了在氩气气压750Pa、功率20w、脉冲频率1000Hz、占空比0.0625条件下，测量的一款柔性透明隔热膜（基材为PET）的GODES深度谱，如图3a所示，其中最具特色的就是清晰地表征了该款隔热膜最核心的三层Ag与AZO（Al+ZnO）共溅射的膜层结构，如图3b Ag膜层的GDOES深度谱所示。根据获得的溅射速率及Ag的深度谱拟合（见后），前两层Ag的厚度分别约为5.5nm与4.8nm[8]。很明显，第二层Ag信号较第一层有较大的展宽，相应的强度值也随之下降，这是源于GDOES对金属膜溅射过程中产生的溅射诱导粗糙度所致。图3（a）一款柔性透明隔热膜GDOES深度谱；（b）其中Ag膜层GDOES深度谱[8]图4给出了在氩气气压650Pa、功率20w、脉冲频率10000Hz、占空比0.5的同一条件下，测量的SiO2(300nm)/Si(111)标准样品和自然生长在Si(111)基片上SiO2样品的GODES深度谱[9]。如果取测量深度谱的半高宽为膜层的厚度，由此得到标准样品SiO2层的溅射速率为6.6nm/s（=300nm/45.5s），也就可以得到自然氧化的SiO2膜层厚度约为1nm（=6.6nm/s*0.15s）。所以，GDOES完全可以实现对一个纳米超薄层的深度剖析测量，这大大拓展了GDOES的应用领域，即从传统的钢铁镀层或块体材料的成分分析拓展到了对纳米薄膜深度剖析的表征。图4 （a）SiO2(300nm)/Si(111)标准样品与（b）自然生长在Si(111)基片上SiO2样品的GDOES深度谱[9]3 深度谱的定量分析3.1 深度分辨率对测量深度谱的优与劣进行评判时，深度分辨率Δz是一个非常重要的指标。传统Δz(16%-84%)的定义为[10]：对一个理想（原子尺度）的A/B界面进行溅射深度剖析时，当所测定的归一化强度从16%上升到84%或从84%下降到16%所对应的深度，如图5所示。Δz代表了测量得到的元素成分分布和原始的成分分布间的偏差程度，Δz越小表示测量结果越接近真实的元素成分分布，测量深度谱的质量就越高。但是随着科技的发展，应用的薄膜越来越薄，探测元素100%（或0%）的平台无法实现，就无法通过Δz(16%-84%)的定义确定深度分辨率，而只能通过对测量深度谱的定量分析获得（见下）。图5深度分辨率Δz的定义[10]3.2 深度谱定量分析—MRI模型溅射深度剖析的目的是获取薄膜样品元素的成分分布，但溅射会改变样品中元素的原始成分分布，产生溅射深度剖析中的失真。溅射深度剖析的定量分析就是要考虑溅射过程中，可能导致样品元素原始成分分布失真的各种因素，提出相应的深度分辨率函数，并通过它对测量的深度谱数据进行定量分析，最终获取被测样品元素在薄膜材料中的真实分布。对于任一溅射深度剖析实验，可能导致样品原始成分分布失真的三个主要因素源于：①粒子轰击产生的原子混合（atomic Mixing）；②样品表面和界面的粗糙度（Roughness）；③探测器所探测信号的信息深度（Information depth）。据此Hofmann提出了深度剖析定量分析著名的MRI深度分辨率函数[11]： 其中引入的三个MRI参数：原子混合长度w、粗糙度和信息深度λ具有明确的物理意义，其值可以通过实验测量得到，也可以通过理论计算得到。确定了分辨率函数，测量深度谱信号的归一化强度I/Io可表示为如下的卷积[12]： 其中z'是积分参量，X(z’)为原始的元素成分分布，g(z-z’)为深度分辨率函数，包含了深度剖析过程中所有引起原始成分分布失真的因素。MRI模型提出后，已被广泛应用于AES，XPS，SIMS和GDOES深度谱数据的定量分析。如果假设各失真因素对深度分辨率影响是相互独立的，相应的深度分辨率就可表示为[13]：其中r为择优溅射参数，是元素A与B溅射速率之比（）。3.3 MRI模型应用实例图6给出了在氩气气压550Pa、功率17w、脉冲频率5000Hz、占空比0.25条件下，测量的60 Mo (3 nm)/B4C (0.3 nm)/Si (3.7 nm) GDOES深度谱[14]，结果清晰地显示了Mo (3 nm)/B4C (0.3 nm)/Si (3.7 nm) 膜层结构，特别是分辨了仅0.3nm的B4C膜层， B和C元素的信号其峰谷和峰顶位置完全一致，可以认为B和C元素的溅射速率相同。为了更好地展现拟合测量的实验数据，选择溅射时间在15~35s范围内测量的深度剖析数据进行定量分析[15]。图6 60×Mo (3 nm)/B4C (0.3 nm)/Si (3.7 nm) GDOES深度谱[14]利用SRIM 软件[16]估算出原子混合长度w为0.6 nm，AFM测量了Mo/B4C/Si多层膜溅射至第30周期时溅射坑底部的粗糙度为0.7nm[14]，对于GDOES深度剖析，由于被测量信号源于样品最外层表面，信息深度λ取为0.01nm。利用（1）与（2）式，调节各元素的溅射速率，并在各层名义厚度值附近微调膜层的厚度，Mo、Si、B（C）元素同时被拟合的最佳结果分别如图7（a）、（b）和（c）中实线所示，对应Mo、Si、B(C)元素的溅射速率分别为8.53、8.95和4.3nm/s，拟合的误差分别为5.5%、6.7%和12.5%。很明显，Mo与Si元素的溅射速率相差不大，但是B4C溅射速率的两倍，这一明显的择优溅射效应是能分辨0.3nm-B4C膜层的原因。根据拟合得到的MRI参数值，由（3）式计算出深度分辨率为1.75 nm，拟合可以获得Mo/B4C/Si多层薄膜中各个层的准确厚度，与HR-TEM测定的单层厚度基本一致[15]。图7 测量的GDOES深度谱数据(空心圆)与MRI最佳拟合结果(实线)：(a) Mo层，(b) Si层，(c) B层；相应的MRI拟合参数列在图中[15]。4 总结与展望从以上深度谱测量实例可以清楚地看到，GDOES深度剖析的应用非常广泛，可测量从小于1nm的超薄薄膜到上百微米的厚膜；从元素H到Lv周期表中的所有元素；从表层到体层；从无机到有机；从导体到非导体等各种材料涂层与薄膜中元素成分随深度的分布，深度分辨率可以达到~1nm。通过对测量深度谱的定量分析，不仅可以获得膜层结构中原始的元素成分分布，而且还可以获得元素的溅射速率、膜层间的界面粗糙度等信息。虽然GDOES深度剖析技术日趋完善，但也存在着一些问题，比如在GDOES深度剖析中常见的溅射坑底部凸凹不平的“溅射坑道效应”（溅射诱导的粗糙度），特别是对多晶金属薄膜的深度剖析尤为明显，这一效应会大大降低GDOES深度谱的深度分辨率。消除溅射坑道效应影响一个有效的方法就是引入溅射过程样品旋转技术，使得各个方向的溅射均等。此外，缩小溅射（分析）面积也是提高溅射深度分辨率的一种方法，但需要考虑提高探测信号的强度，以免降低信号的灵敏度。另外，GDOES深度剖析的应用软件有进一步提升的空间，比如测量深度谱定量分析算法的植入，将信号强度转换为浓度以及溅射时间转换为溅射深度算法的进一步完善。作者简介汕头大学物理系教授 王江涌王江涌，博士，汕头大学物理系教授。现任广东省分析测试协会表面分析专业委员会副主任委员、中国机械工程学会高级会员、中国机械工程学会表面工程分会常务委员；《功能材料》、《材料科学研究与应用》与《表面技术》编委、评委。研究兴趣主要是薄膜材料中的扩散、偏析、相变及深度剖析定量分析。发表英文专著2部，专利十余件，论文150余篇，其中SCI论文110余篇。代表性成果在《Physical Review Letters》，《Nature Communications》，《Advanced Materials》，《Applied Physics Letters》等国际重要期刊上发表。主持国家自然基金、科技部政府间国际合作、广东省科技计划及横向合作项目十余项。获2021年广东省科技进步一等奖、2021年广东省高校科研成果转化路演赛“新材料”小组赛一等奖、2021年粤港澳高价值大湾区专利培育布局大赛优胜奖、2020年广东省高校科研成果转化路演赛“新材料”小组赛一等奖、总决赛一等奖。昆山书豪仪器科技有限公司总经理 徐荣网徐荣网，昆山书豪仪器科技有限公司总经理，昆山市第十六届政协委员；曾就职于美国艾默生电气任职Labview设计工程师、江苏天瑞仪器股份公司任职光谱产品经理。2012年3月，作为公司创始人于创立昆山书豪仪器科技有限公司，2019年购买工业用地，出资建造12300平方米集办公、研发、生产于一体的书豪产业化大楼，现已投入使用。曾获2020年朱良漪分析仪器创新奖青年创新入围奖；2019年昆山市实用产业化人才；2019年江苏省科技技术进步奖获提名；2017年《原子发射光谱仪》“中国苏州”大学生创新创业大赛二等奖；2014年度昆山市科学技术进步奖三等奖；2017年度昆山市科学技术进步奖三等奖；多次获得昆山市级人才津贴及各类奖励项目等。主持研发产品申请的已授权专利47项专利，其中发明专利 4 项，实用新型专利 25项，外观专利7项，计算机软件著作权 11项。论文2篇《空心阴极光谱光电法用于测定高温合金痕量杂质元素》，《Application of Adaptive Iteratively Reweighted Penalized Least Squares Baseline Correction in Oil Spectrometer 》第一编著人；主持编著的企业标准4篇；承担项目包括3项省级项目、1项苏州市级项目、4项昆山市级项目；其中：旋转盘电极油料光谱仪获江苏省工业与信息产业转型升级专项资金--重大攻关项目（现已成功验收，获政府补助660万元）、江苏省首台（套）重大装备认定、江苏省工业与信息产业转型升级专项资金项目、苏州市姑苏天使计划项目等；主持研发并总体设计的《HCD100空心阴极直读光谱仪》、《AES998火花直读光谱仪》、《FS500全谱直读光谱仪》《旋转盘电极油料光谱仪OIL8000、OIL8000H、PO100》均研发成功通过江苏省新产品新技术鉴定，实现了产业化。参考文献：[1] GRIMM, W. 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德国斯派克分析仪器公司（SPECTRO），恰如其名，以光谱及光学技术见长；其研发生产的直读光谱仪及电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES）和X射线荧光光谱仪（XRF），广泛应用于工业 、研究 和学术 领域中的材料元素分析。其中，直读光谱一直是斯派克的主要支柱产品线，基于强有力的研发实力，斯派克不断的推出新产品、新技术，技术不断迭代进步。可以说，斯派克是直读光谱技术创新的重要代表者。随着光电技术的发展，如今，光电直读光谱仪已经成为光谱技术的重要发展领域，为近现代材料科学及其他科学领域的发展做出了重要贡献。世界第一台商品化光电直读光谱仪于1946年问世，至今已经70多年。如今，直读光谱分析已成为一项成熟的分析技术，几乎所有的钢铁企业、有色金属企业、铸造及机械加工企业，以及其他采用金属及其合金进行加工的行业都利用直读光谱仪进行生产过程及产品质量控制。那么，直读光谱仪目前发展如何，未来又“何去何从”？带着这些问题，仪器信息网采访了斯派克产品经理王彦彪，请其向用户介绍公司的直读光谱产品以及其对直读光谱技术未来发展趋势等的看法。德国斯派克分析仪器公司产品经理 王彦彪斯派克： 40+年直读光谱技术创新之路斯派克1979年成立之时即推出了直读光谱仪，早期产品的配置是光电倍增管检测器+多光栅光学系统。1994年，推出了UV-PLUS自循环净化的紫外光学系统，代替真空系统；现在公司的各个系列产品还都在应用该系统。1998年，推出了 采用CCD检测器的直读光谱仪。2007年，推出了混合动力的光电倍增管+CCD的SPECTROMAXx 系列产品。2019年推出高端旗舰产品SPECTROLAB S，采用了CMOS检测器+UV-PLUS自循环净化的双光学系统配置。 SPECTROLAB S SPECTROMAXxSPECTROLAB S以及SPECTROMAXx 两个系列是斯派克目前主推的产品，特别需要提到的一点是，SPECTROMAXx系列现在已经发展到了第十代产品，SPECTROMAXx10。其所拥有的主要创新技术，就是刚刚提到的：多光学系统，把紫外检测区和长波检测区分到两个光学系统里面；检测器从早期的光电倍增管已经发展成全部采用CMOS固态检测器。王彦彪表示，引入CMOS固态检测器技术，彻底改变了高端电弧/火花分析技术的走向及未来，使得直读光谱仪器的工作效率和经济性得到了不断提高。此外，结合全新设计的软件包，给用户带来了更多功能性、可定制的易用性。在待机模式下氩气消耗可减少50%，在测量样品时可减少13%。通过快速分析程序可以在12秒完成对一些关键金属中的主要合金元素的分析；高纯铜的痕量元素检出灵敏度提高了30%。未来：在应用需求领域实现技术突破王彦彪认为，过去10年来，光电直读光谱技术的发展方向是在检测器的升级和更新方面。例如，2007年斯派克在SPECTROLAB M10上采用了混合动力即光电倍增管+CCD检测器，它既具备了光电倍增管的高灵敏度，同时 CCD检测器可以实现全谱功能，使得仪器的灵活性和检测能力大大提升。2019年推出的LAB S，互补金属氧化物半导体固态检测器（CMOS）搭载了成熟的集成电路检测器技术，可以达到或超过光电倍增管技术的性能优势。技术进步永无止境，王彦彪表示。直读光谱仪是光机电等技术一体化的产品，需要各领域技术的共同发展。相关技术在不断的发展和演化，如，1965年光电倍增管应用到光谱仪上；现在采用了CMOS技术，为后续光电直读光谱的发展奠定了良好基础；基于其全谱检测能力，可以实现更多的应用。之前，可以在光电倍增管上实现一部分的夹杂物和相态分析的研究，具备了 CMOS全谱功能之后，再加上最新对用户开放的软件系统，可以实现对所有的谱线和仪器检测参数进行自主设定和研发，这样一台高端直读光谱仪就可以像ICP-OES一样实现全检测范围的检测能力，给用户提供更广阔的应用空间。未来，光电直读光谱技术会在实际应用需求领域实现突破。王彦彪谈到，随着技术的发展，光电直读光谱技术正一步一步解决以前无法想象、无法解决的分析项目。如，高纯金属分析，1992年之前是无法用直读光谱来实现的；氮氧氢等气体元素的检测，现在也可以通过直读光谱技术得到了完善解决。将来，相态分析、夹杂物分析或者其他用户特殊的分析需求，也会通过直读光谱检测能力的不断延伸来达成，并且使这些分析工作成为普及性的、日常化的分析项目。独特赛道：快速金属检测，20秒全元素覆盖文章一开始就介绍到，除了直读光谱仪，斯派克的元素分析产品还有XRF、ICP-OES，其技术与应用近年来也得到了快速发展。那么，直读光谱市场是否受到冲击？直读光谱应该如何走出自己独树一帜的道路？对此，王彦彪指出，XRF、ICP-OES是不同的应用方向。相对来讲，XRF是无损分析技术。ICP-OES主要应用在溶液分析，侧重点微量含量元素的检测。而直读光谱仪的优势在于快速金属检测，目前它可以实现现有的各种金属材料的全元素快速分析。一般来讲，单次分析只需20秒左右，可检测元素从周期表氢元素开始一直到镧系、锕系等稀土元素全部覆盖；也就是说单次20秒钟左右的时间内，可以把金属材料中的所有元素都分析出来，包括氮氢氧等气体元素，这是直读光谱最大的优势。直读光谱的分析对象是金属材料，那么金属材料相关的行业，如，初级冶炼，包括钢铁冶炼和有色金属冶炼、贵金属冶炼和提纯等，细分包含电解铝、电解铜、铅锌锡等有色金属以及高纯金、银等贵金属；其次是合金制造领域和金属材料应用领域，合金制造包括提供给机械、汽车等行业的一些合金材料的熔融炼制；材料应用方向就更加广泛了，大的方向就是汽车行业，以及机械制造、航空、航天、铁路、船舶等金属材料相关的应用领域。王彦彪介绍到，斯派克的直读光谱解决方案主要面对各大企业的理化检测实验室，直读光谱仪是其化学分析的主要手段。一些研究机构、高校分析中心，以及质检和商检，也都是斯派克重要的用户。最为亮眼的成绩，或者说斯派克正在拓展、看好的应用领域是新能源车，如，新能源车领域的领头企业，比亚迪汽车，去年在它全国不同的附件制造厂和整车厂，应用了将近30台斯派克的仪器，今年也配套了8台 SPECTROMAXx 系列仪器作为材料分析的主要手段。后记访谈中，王彦彪也表示，国产光电直读光谱技术的发展水平与我们国家的基础应用研究处于同一个发展阶段，国产的仪器厂家也取得了长足的进步。目前，国产光电直读光谱已经拥有了广大的用户群，对于材料分析研究工作也具有了一定的能力，这为将来的快速发展打好了基础。当然，向高端应用方向发展，国产光电直读光谱还需要在核心的光学系统研发以及光谱分析基础应用研究等方面开展大量的、深入的工作。

光谱技术是一门历史久远的传统技术，从1666年牛顿第一个色散实验开始，就注定了它的不朽。随着光电技术的发展，光电直读光谱仪成为光谱技术重要发展领域，成功造就了一个伟大的产业，为近现代的材料科学及其他科学领域的发展做出了重要贡献。世界上第一台商品化光电直读光谱仪于1946年问世，到目前已经将近70年，光电直读光谱分析已成为一项成熟的分析技术，几乎所有的钢铁企业、有色金属企业、铸造及机械加工企业，以及其他采用金属及其合金进行加工的行业都利用光电直读光谱仪进行生产过程及产品质量控制。　　近5年来的直读光谱仪行业的形态，有点像汽车产业的发展势态：国外产品及技术已经非常成熟，新技术的研究和整合活动处于低谷，迫于国内产品的竞争压力，部分厂商推出一些低成本低性能的产品，在一些传统的高端产品上，受制于成熟的技术平台和产品构架，会做一些小的改进和模块整合，以获得少量的差异化，没有革命性技术平台和产品结构的改进 而国内的产品和技术虽然涉足行业也有几十年的时间，但真正有所发展的，也就十年时间左右，而获得较大发展的，恰恰是最近5年的时间里。国内产品技术仍处于追随阶段，品牌影响力还不够，要想获得发展，必要提升技术和性能等级，达到国际同等的层次，为客户提供高性价比的产品，才能使国内外达到合理的平衡竞争状态，最终惠及客户以及行业发展。何等相似的产业格局，促使我们思考直读光谱的发展变化及国产直读光谱该何去何从?国产直读光谱仪想要崛起，光靠产品供应商的努力还不够，还需要产业上下游提供相应的环境支持以及用户意识形态的支持。　　在技术方面，近年来CCD技术得到较好的发展，几乎所有进口品牌推出了CCD产品，我司于5年前推出国内第一款CCD全谱直读光谱仪产品M5000，目前已经得到市场验证认可，累计销售额已超亿元。CCD和PMT是业界争论的一个焦点，本人认为这两个技术不能简单评判哪种更好,而是各有各的优势和局限性。PMT有着噪声低、动态范围大等特点，应用比CCD要久远的多，但既然CCD能够进入光谱分析领域，一定程度上代替PMT，一定有其特有的优势，而这种优势就在于全谱测量上，它为光谱分析技术的发展提供了更多的可能性。例如谱线选择更灵活，背景和干扰的评判更准确等。CCD已经成为光谱分析仪器的重要发展方向，这一点已经得到绝大多数人的认可，但任何一种新技术取代旧技术都需要一个过程。CCD面临的主要问题是噪声和读出速度，如果这两点能够得到很好的解决，PMT很可能会退出直读光谱市场。目前，ICP仪器上CCD通过制冷很好的解决了噪声的问题，基本取代了PMT，在直读光谱领域，CCD一定会获得相同的成绩。　　在光源技术上，国外数字火花光源已经发展的较为成熟，国内还有不少光谱仪采用传统的LC输出，或用简单的LC组合切换来组成类似的有限数字化逻辑控制光源，但这些都不能避免电容精度差，温漂大而导致光源稳定性差的问题。我司的M5000所使用的数字光源是采用N组高频电源组成的全数字逻辑控制光源，可形成任意激发波形。这是当前主流的数字化激发光源。这项技术对于直读光谱分析意义重大，它可以针对不同的分析对象提供最佳的激发条件，从而获得最好的分析结果。遗憾的是国内在这方面的研究相对较少，许多技术资料还停留在70年代，我司在光源应用方面已经开展了近5年的研究，虽然取得了一些成果，但还有很多的工作可做，后续国产同行们也需要加强这方面的研究，针对不同的激发对象，研究合适的激发条件，使光谱仪分析性能获得进一步提高。　　除了火花/电弧光源数字化之外，激光诱导激发源(LIBS)也是近年来比较热门的一项激发技术。LIBS不仅可以直接分析火花/电弧光源所擅长的金属导电固体样品，还可以分析其他固体、液体甚至气体样品，制样方便，分析速度快，同时还能够实现微区分析和在线检测，是应用前景很广的一项光源技术。目前该技术还有一些技术难点需要攻克，但不久的将来，LIBS一定会获得更广阔的应用空间。　　在光谱仪整体功能和软件上，国外仪器近几年发展不大，仅在一些细节上进行了优化，如界面整体风格的美化、操作模式的改变和中文操作软件发布等。相比较国产仪器在这方面取得了更大的进步。我司推出的M5000在这几年一直致力于改善客户体验，例如硬件上的易维护设计，软件上增加的曲线现场扩展、质控、牌号识别、智能分析、维护提醒等一系列有助于提高客户使用便捷性的功能。我个人认为能否踏踏实实做好一款软件恰恰是一个仪器厂商能否用心做产品，做好产品的一个重要标志，广大仪器厂商应该更多的从用户使用便利性方面好好打造。　　当前中国大大小小有十来家直读光谱仪生产厂家，但在国内接近3000台直读光谱仪的市场容量，国产产品仪器仅仅只占三分之一左右，而且客户都集中在中低端。一方面，部分厂商，用低价获得销路，但低价使得企业的正常利润受到损害，无法实现良性发展，导致产品品质不能得到有效保障，用户对国产设备的信任进一步降低，使得用心做产品，有优秀产品的一些厂商面临很大的阻力去让用户信任国产产品，这是这个急功近利时代的悲哀。另一个悲哀是：部分优秀的国产直读光谱仪虽然已经完全满足当前冶金等高端用户的实际分析需求，但由于品牌影响力不够，客户长期使用进口直读光谱仪的习惯等原因，这些高端客户还是太过迷信进口产品 与此同时，一些进口二三线品牌也推出了一些与国产优秀产品价格差不多的低端型号，来参与竞争。尽管这些进口低端产品的性能品质远不如国产同价位产品，但由于打着进口品牌的旗号，还是获得相当部分迷信进口产品的用户。改变需要过程，实现光谱仪器的中国梦还任重道远，如果直读光谱仪各厂家之间能改变思维，在竞争中合作，让一部分厂商精心打造产品，而一部分厂商好好经营渠道，是否能获得厂商与厂商之间、厂商与用户之间的共赢?是否比随便低价丢给用户一个粗制滥造的产品更加对客户负责，对社会负责?希望大家共同托起国产光电直读光谱仪的明天。　　(作者：聚光科技原子光谱研发总监 寿淼钧) 　　注：本文系仪器信息网读者来信投稿，仪器信息网刊载此文只出于传递读者观点的目的，并不代表仪器信息网认同本文表达的观点。

近日，依托中国航天空气动力技术研究院建设的&ldquo 电弧等离子应用装备北京市重点实验室&rdquo 在中国航天空气动力技术研究院举行了揭牌仪式。　　该重点实验室充分利用依托单位在空气动力学、等离子物理学和工程热物理等综合性学科的交叉优势，利用电弧等离子喷枪的高温和气氛可控的特点，研究航空航天技术在垃圾焚烧、固体废弃物处理等经济民生领域的应用。　　电弧等离子技术瞬间产生的高温至少是常规垃圾焚烧炉(约800℃)的3倍，垃圾中的有机物质，将几乎全部被气化生成一氧化碳、氢气等合成气，可以一举解决此前推广垃圾焚烧的最大障碍&mdash 致癌物质二噁英。同时常规垃圾焚烧炉不能处理的石棉、低辐射核废弃物、医疗垃圾等特种垃圾，也都可以得到有效、无害处理。作为当今最先进的垃圾处理技术，等离子体技术已经在加拿大、美国等国家进入应用领域。此外，等离子体技术在处理污水污泥、尾矿利用、铁合金冶炼等领域也具有经济、技术、环保优势。

2021年6月4-5日，由中国机械工程学会无损检测分会主办，河北大学承办的第十七届全国声发射学术研讨会在河北大学成功召开。大会作为声发射技术研究与推广应用的交流平台，吸引来自全国声发射领域专家、学者与学生近300人出席，其中参会代表150余人，涉及各地高校、研究院所、检测机构、企业等57个单位。本次大会共收到论文摘要59篇，进行大会报告9个，主题报告46个，并首次开辟了研究生交流专场。6月4日上午，大会进行开幕式。开幕式由大会秘书长、河北大学质量技术监督学院副院长周伟教授主持，河北大学党委副书记杨立海教授、中国机械工程学会无损检测分会主任委员/中国特种设备检测研究院副院长沈功田研究员、中国机械工程学会无损检测分会声发射检测技术大会主席/东北石油大学李伟教授分别致辞。大会开幕式大会现场大会报告环节，沈功田研究员、河北工业大学副校长胡宁教授、中国机械工程学会无损检测分会副主任/东北石油大学戴光教授、河北大学质量技术监督学院院长方立德教授、东北石油大学蒋鹏副教授、中南大学董陇军教授、周伟教授、中国工程物理研究院化工材料研究所梁晓辉、中国特种设备检测研究院危化品装备部技术与装备应用研究室主任闫河高级工程师依次带来了精彩的报告。大会报告掠影中国特种设备检测研究院沈永娜、张君娇，中国工程物理研究院化工材料研究所付涛，东北石油大学刘颖红林，北京理工大学刘书尧，南华大学唐文福，西南林业大学王明华，北京强度环境研究所刘武刚等分别作主题报告。主题报告掠影此外，本次大会也得到了多家声发射厂商的大力支持，美国物理声学公司（PAC）北京代表处许凤旌、清诚声发射研究（广州）有限公司刘时风、北京科海恒生科技有限公司陈谋财、山东双测安全信息技术产业研究院有限公司魏鹏、德国QASS公司驻中国代表处王海娴等在大会期间作了报告分享。赞助商报告掠影6月5日下午，大会进行闭幕式，李伟教授、戴光教授、方立德教授、霍臻研究员分别出席。大会闭幕式戴光教授致辞戴光教授首先代表中国机械工程学会无损检测分会为会议的成功举办向大会承办单位河北大学以及大会委员会表示衷心的感谢，同时也向所有的与会嘉宾表示衷心的感谢。并讲到，本次研讨会是声发射行业的一次盛会，不仅有各位专家在报告中带来的最新研究成果和发展方向，更有很多年轻学者的参与，为声发射技术的研究和发展注入了新鲜血液，希望各位代表以本次会议为契机，共同努力，为声发射技术发展作出更大的贡献。方立德教授致辞方立德教授讲到，非常感谢大会主办方给到河北大学承办这次会议的机会，能邀请到全国各地这么多的专家学者以及厂商代表过来交流，也非常荣幸，在河北大学100周年、质量技术监督学院37周年之际来举办本次会议。他表示，欢迎领域内专家及企业代表多来河北大学，期待大家一起来把学校的人才培养好，学生在毕业之后能受到行业的欢迎。至此，第十七届全国声发射学术研讨会顺利闭幕。经声发射检测专业会员会讨论决定，第十八届全国声发射学术研讨会将于2022年12月在海南省海口市召开。经过两天广泛的学术交流，各参会人员对声发射技术的研究进展和发展方向都有了更加深入的了解，会议是短暂的，影响却是深远的，相信声发射技术会迎来更加美好的明天，也期待与大家来年海口再聚！参会代表合影留念

9月29日，随着天宫一号于29日21时16分发射升空，中国向空间站时代迈出了坚实的一步。　　这是长征系列运载火箭的第147次飞行，也是中国载人航天工程实施以来的第8次发射。　　秋夜的酒泉卫星发射场上星光闪耀，全新改进的长征二号FT1火箭点火升空，明亮的尾焰映红了大漠长空。　　中国载人航天工程总指挥常万全宣布发射成功。天宫一号发射瞬间　　从1999年第一艘飞船飞上太空到这次天宫一号发射，12年间，中国的载人航天工程以坚实的步伐迈向建造空间站这一19年前启动载人航天工程时便确定的目标。　　距发射架1.5公里的厂房里，神舟八号与长征二号F火箭已在测试。11月初，神舟八号将在同一发射架上升空，在太空中与天宫一号交会对接——这将使中国成为世界上第三个掌握空间交会对接技术的国家。　　28日下午举行的新闻发布会上，中国载人航天工程新闻发言人武平说，2012年底前，中国还将陆续发射神舟九号、十号飞船与天宫一号交会对接。　　全长10.4米的天宫一号由实验舱和资源舱构成，舱体最大直径3.35米，比神舟飞船大了不少。　　“如果说飞船是‘蜗居’，天宫一号则达到了‘小康’水平。”空间实验室系统副总设计师白明生说，实验舱有效活动空间约15立方米，可满足2至3名航天员在舱内工作和生活需要。　　“天宫一号是按载人状态升空的。”白明生说，“神八不上人，但最晚到神舟十号，将试验有人的交会对接。”　　与美、俄最初采用两艘飞船开展交会对接试验不同，中国全新研制了天宫一号作为交会对接的目标飞行器。“它的在轨寿命为两年，期间可以与飞船多次交会对接。”中国载人航天工程总设计师周建平说，“这可以减少发射次数，更经济。”　　周建平说，天宫一号按中国后续的空间实验室要求设计，因此，它还肩负着验证空间站部分关键技术的使命。　　“航天员已在为登天宫做准备。”航天员系统副总设计师王宪民说，再生式环境控制和生命保障技术等空间站关键技术也将在天宫一号上试验验证。　　中国将在2016年前研制并发射空间实验室。2020年前后建造空间站。　　空间应用系统副总设计师张善从说，天宫一号上安排有实验项目。后续的神舟八号上，中德将首次联合开展空间生命科学实验。　　“我们要建一个开放的国家级空间实验平台。”周建平说，过去，中国曾为世界贡献四大发明。未来，在开发太空造福人类方面，我们期望能做出更多的贡献。

上周我们分享了电影的精彩片段因为熟知物体发射率的差异强森透过热像仪鉴定出“假金蛋”想要回顾的小伙伴戳这里：可乐浇毁“金蛋”，强森的自信源于这里......那么到底什么是发射率？它和热像仪是如何相辅相成的？，时长01:13身边物体的发射率发射率其实是一种比率发射率是指物体表面辐射出的能量与相同温度的黑体辐射能量的比率。（黑体是一种理想化的辐射体，可辐射出所有的能量，其表面的发射率为 1.00）各种物质的发射率是由物体的本身材质、表面粗糙程度、表面几何形状、拍摄角度、观测波长以及被摄物体本身的温度所决定（其中物体本身材质是对物体发射率影响的一个因素），所以在相同的温度下，物质不同，向外辐射的能量也会不同。相同温度下，因发射率不同，而显示的表象温度有差异例如，高度抛光的金属表面，如铜或铝，其发射率通常低于0.10。粗糙或氧化的金属表面有更高的发射率（0.6或更大，取决于表面条件和氧化量）。大多数平面漆的发射率约为0.90，而人类皮肤和水约为0.98。影响发射率的因素：反射温度金属的发射率随表面温度的大幅上升而增大，而非金属的发射率一般是随表面温度的变动却几乎没有变化，金属的发射率比非金属的小得多。如果你看到的是一个高抛光金属物体，具有低发射率，该表面将像一面镜子。而你的热像仪不会测量物体本身的温度，而是检测被测物体表面的出射辐射（物体的表象温度），出射辐射包括物体自身的红外辐射+环境在物体表面的，经过相同的反射角进入热像仪镜头的反射辐射。环境反射表面温度（也称为背景温度或T-反射）是指来自被测物体周围环境中其他物体的任何热辐射，这些物体从你测量的目标反射进入热像仪镜头。反射温度会影响热像仪测量的表象温度反射温度会影响热像仪测量的表象温度（除发射率是影响测温结果的重要补偿参数，环境反射表象温度对测温结果影响也是至关重要的！），如果附近的热源（如变压器，电动机或者反射阳光中的红外波段能量）从物体表面反射进入热像仪镜头，而被测物体本身温度可能很低，但根据热像仪显示的温度却可能高得多。金属灯的开关是比墙的其他部分更热，还是反射了一个温暖的热源？或者一个物体可能和一个相邻物体的温度相同，但看起来要冷得多。戒指的温度可能和人的皮肤一样，但看起来要冷得多对于发射率较高的物体，反射温度的影响较小。但对于低发射率的物体来说，反射温度是关键因素。随着发射率的降低，你所测量的热量更多的是来自周围物体的表面，而不是你正在检查的目标。如何测量物体的真实温度？如果要测量的对象具有高发射率，则可以在热像仪设置中调整发射率和反射温度。例如，如果你想测量一个人的体温，你可以将发射率设置为0.98（人体皮肤的发射率），将反射温度设置为环境温度（如果你在室内，大概在68°F/20°C左右），你的热像仪就会进行补偿。对于其他类型的表面，如果温度测量精度对您和您的检查程序很重要，您可能需要进行热成像培训，以便在进行测量时正确补偿发射率。一般来说，如果你要测量的目标的发射率低于0.5，你可能得不到精确的温度测量值。在这种情况下，你需要考虑如何提高目标的发射率。高发射率表面如电子胶带可用于精确测量低发射率表面如闪亮金属的温度发射率+反射率+透射率=1对于热像师来说，我们平时拍摄的被摄物体在红外波段绝大多数都是不透明的物体，意味着物体的透射率为0，而物体的发射率+反射率+透射率=1。所以可以推出：不透明的物体（指红外波段）：发射率+反射率=1。这也就意味着在低发射率（尤其当物体表面发射率低于50%的时候）环境的反射表象温度会对测温结果产生比较大的干扰。这个时候我们就需要热像师通过具体的检测手段来调整补偿物体的发射率以及物体的反射表象温度，来更接近物体的真实表面温度！在进行温度测量时，发射率是一个具有挑战性的因素，而且它还会受到不同因素的影响。幸好它是可以学习的，用先进的测量方法，它可以得到正确的补偿。所以小菲建议各位菲粉们，要想获得物体本身的真实温度，可以到ITC红外培训系统学习下发射率、环境反射表象温度等补偿的设置，在这里不仅可以学习各种热成像相关的理论知识，还可以上手实操检测，完成培训后，妥妥滴由热成像“小白”转换成专业热成像师哦~Teledyne FLIR的明星课程ITC红外培训本年度还有一堂课想要学习提升自己的小伙伴赶快联系我们报名来年你就是专业红外热像师or热像分析师啦~新品免费试用目前，Teledyne FLIR正在进行一场2021年终新品免费试用的活动，无论是FLIR A50/A70研发套件，还是FLIR A50/A70图像流/智能传感器热像仪，亦或是FLIR Si124-PD:局部放电检测声像仪，还有FLIR Si124-LD:压缩空气泄漏检测声像仪，以及FLIR E96 高级热像仪都在此次活动当中哦~当然如果您想试用其他产品，小菲也会尽量满足您的需求！所以，小伙伴们赶紧联系我们，我们将安排专人上门为您演示！

仪器信息网讯 2012年5月9日-12日，由中国钢铁工业协会、中国铸造协会、中国国际贸易促进委员会冶金行业分会、中国机械工程学会工业炉分会、中国耐火材料行业协会、中展集团北京华港展览有限公司主办的第十三届中国国际冶金工业展览会、第十一届中国国际铸造博览会、第五届中国铸造零部件展览会、第九届中国国际耐火材料及工业陶瓷展览会、第十一届中国国际工业炉展览会同期在中国国际展览中心(北京顺义新馆)隆重举行。德国斯派克公司展位　　光谱仪器生产商德国斯派克公司参加了此次展会，并特别向用户展示了SPECTROTEST便携式光谱仪、SPECTROMAXx台式直读光谱仪、SPECTROLAB直读光谱仪等产品。以下主要介绍其在2011-2012年推出的两款新产品。SPECTROTEST便携式光谱仪　　斯派克在2012年推出了新款SPECTROTEST便携式光谱仪，该仪器采用了最新设计的UV激发枪，不仅可用于火花模式，也可用于电弧模式，重量较以前减轻了20%。激发时间最短2秒(电弧模式)，或5秒(火花模式，使用氩气)。据介绍，该仪器可以在电弧模式下对低合金钢种的C元素进行快速鉴别。在火花模式下，不仅可以精确分析钢种的C、P、S，而且可以分析双相不锈钢中的氮元素。SPECTROLAB M11直读光谱仪　　SPECTROLAB M11直读光谱仪于2011年6月，在德国杜塞尔多夫国际铸造展(GIFA 2011)正式推出。M11在设计上进一步简化了操作、增强仪器功能、减少维护量。快速、有效、易懂的数据存档功能是新软件的特点之一。采用UV-PLUS专利光学系统，M11能够同时以高达9pm的分辨率记录120-800nm波段的全部一级光谱图。M11的火花台直接将激发光导入光学系统，花火台内部体积进一步缩小，优化氩气流设计使得氩气消耗量更低，同时有效移除残留粉尘。火花台工作维护量极低。　　德国斯派克公司其他参展仪器照片：SPECTROMAXx台式直读光谱仪

1月20日，由生物岛实验室领衔研制，拥有自主知识产权的首台国产场发射透射电子显微镜在广州发布。这标志着我国已掌握透射电镜用的场发射电子枪等核心技术，并具备量产透射电镜整机产品的能力，将为我国在材料科学、生命科学、半导体工业等前沿科学及工业领域的高质量发展提供有力支撑。中国科学院院士、生物岛实验室主任徐涛联合中国科学院生物物理研究所研究员孙飞在2016年启动透射电镜有关研究，并于2020年在生物岛实验室组建起一支体系完整的透射电镜研制工程技术团队。团队成立三年多以来，相关研发工作接连取得重大突破。研发团队介绍，此次推出的首款场发射透射电镜新品TH-F120，取名源自中华名山“太行”，寓意它将如太行山一样成为中国透射电镜产业的脊梁。该场发射透射电镜利用被加速到120千电子伏特的高能电子与被观测样品中的原子发生相互作用，检测透射电子携带的样品信号转化为显微放大的图像，可以用来观察材料样品中的原子排列结构、细胞组织样品的精细超微结构、病毒和生物大分子复合体的精细结构，是科学家研究微观世界的重要仪器。研发团队表示，该电镜拥有自主研制的高亮度场发射电子枪，相比于同级进口产品的热发射电子枪，亮度更高，发射稳定性和相干性更优，匹配自主研制的电磁透镜系统，针对120kV成像平台特别优化电子光学设计，可带来更佳的图像衬度和分辨率。生物岛实验室是广东省首批省实验室之一。自成立至今，生物岛实验室优化整合力量，加快成果转化、产业孵化和创新体系建设，不断培养高价值专利，与本地头部企业共建联合实验室、技术产业转化中心，累计孵化企业12家。发布会现场详细信息，请关注仪器信息网后续报道。

核心参数光学分辨率全光谱范围0.008nm以下稳定性《1.5%重复性《1.5%检出限ppb级波长范围165-770仪器种类全谱直读创新点上市时间：2019年10月创新点：SPECTROGREENICP-OES采用全新研发的DSOI技术，该技术将传统径向系统的灵敏度推高了数倍，非常适合环境及农业等样品的检测，同时适用于消费品安全、药品、石化产品、高盐、金属、化学品和食品等行业。 全新的垂直同步双观测（DSOI）技术，使传统的径向等离子体观测仪器的灵敏度提高了数倍。 新推出的GigE读出系统，能够在不到100毫秒的时间内收集、传输光谱及数据，从而加快分析速度，缩短了样品切换的时间，使单位时间内的样品分析数量大大增加。 极为灵敏及响应快速的LDMOS发生器，不需要外部冷却：具有分析高重的复杂基体的能力--而无需稀释样品–仪器开机速度快（约10分钟）--生产率高 新的NewSPECTROICPAnalyzerPro操作软件采用了简单直观的界面，易于使用 SPECTRO公司新研发的垂直同步双观测DSOI光学系统，为提升ICP-OES的灵密度提供了一种全新解决方案。采用该技术解决了等离子体观测的核心问题。该技术采用全新的视角观测并记录垂直燃烧的等离子体所产生的信号，使用两个光学接口，并用一个增强反射镜来捕获等离子体两侧发出的光，以增加灵敏度，巧妙地解决了困扰垂直炬焰双观测所存在的干扰等诸多问题。因此，DSOI提供的灵敏度是传统径向观测仪器的数倍，同时简单明了地解决了传统垂直双观测所存在的模式复杂、使用成本高等问题。仪器详情注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途全新的垂直同步双观测（DSOI）技术，使传统的径向等离子体观测仪器的灵敏度提高了数倍。新推出的GigE读出系统，能够在不到100毫秒的时间内收集、传输光谱及数据，从而加快分析速度，缩短了样品切换的时间，使单位时间内的样品分析数量大大增加。极为灵敏及响应快速的LDMOS发生器，不需要外部冷却：具有分析高重的复杂基体的能力 -- 而无需稀释样品 – 仪器开机速度快（约10分钟）-- 生产率高新的New SPECTRO ICP Analyzer Pro操作软件采用了简单直观的界面，易于使用 SPECTRO公司新研发的垂直同步双观测DSOI光学系统，为提升ICP-OES的灵密度提供了一种全新解决方案。采用该技术解决了等离子体观测的核心问题。该技术采用全新的视角观测并记录垂直燃烧的等离子体所产生的信号，使用两个光学接口，并用一个增强反射镜来捕获等离子体两侧发出的光，以增加灵敏度，巧妙地解决了困扰垂直炬焰双观测所存在的干扰等诸多问题。因此，DSOI提供的灵敏度是传统径向观测仪器的数倍，同时简单明了地解决了传统垂直双观测所存在的模式复杂、使用成本高等问题。SPECTROGREEN在分析挑战性的高重基体中的痕量元素方面具有显著优势，这类样品包括黑色及有色、石油及化工、污水及废水、土壤及淤泥、高盐和金属等。同时SPECTROGREEN光谱仪是环境、农学、医药、食品、及日用品安全等常规分析的理想选择。 SPECTROGREEN的推出得益于德国斯派克分析仪器公司40年的仪器研发制造及服务经验，集多年电感耦合等离子发射光谱（ICP-OES、ICP-AES及ICP等离子体）技术之大成。SPECTROGREEN ICP-OES光谱仪预制了斯派克公司专有的ICP ANALYZER PRO software软件，简洁直观，易于操作，分析效率高。德国斯派克分析仪器公司生产的其他型号的ICP-OES包括：SPECTRO GENESIS, SPECTROBLUE及 SPECTRO ARCOS。点击收起售后服务免费上门安装：是保修期：1年是否可延长保修期：是保内维修承诺：保内免费维修报修承诺：48小时抵达现场免费仪器保养：详谈免费培训：1次现场技术咨询：有创新点：SPECTROGREEN ICP-OES采用全新研发的DSOI技术，该技术将传统径向系统的灵敏度推高了数倍，非常适合环境及农业等样品的检测，同时适用于消费品安全、药品、石化产品、高盐、金属、化学品和食品等行业。 全新革命性的垂直同步双观测（DSOI）技术，使传统的径向等离子体观测仪器的灵敏度提高了数倍。 • 新推出的GigE读出系统，能够在不到100毫秒的时间内收集、传输光谱及数据，从而加快分析速度，缩短了样品切换的时间，使单位时间内的样品分析数量大大增加。 • 极为灵敏及响应快速的LDMOS发生器，不需要外部冷却：具有分析高重的复杂基体的能力 -- 而无需稀释样品 – 仪器开机速度快（约10分钟）-- 生产率高 • 新的New SPECTRO ICP Analyzer Pro 操作软件采用了简单直观的界面，易于使用 SPECTRO公司新研发的垂直同步双观测DSOI光学系统，为提升ICP-OES的灵密度提供了一种全新解决方案。采用该技术解决了等离子体观测的核心问题。该技术采用全新的视角观测并记录垂直燃烧的等离子体所产生的信号，使用两个光学接口，并用一个增强反射镜来捕获等离子体两侧发出的光，以增加灵敏度，巧妙地解决了困扰垂直炬焰双观测所存在的干扰等诸多问题。因此，DSOI提供的灵敏度是传统径向观测仪器的数倍，同时简单明了地解决了传统垂直双观测所存在的模式复杂、使用成本高等问题。德国斯派克ICP-OES等离子体发射光谱仪GREEN

据美国物理学家组织网近日报道，澳大利亚科学家在最新一期的《物理评论快报》杂志上报告称，他们研制出一种属性与玻璃类似的新型金属化合物，并用其替代塑料与碳纳米管结合制成新的场发射电极。该场发射电极能制造出稳定的电子束，有望用在消费电子和电子显微镜等领域。　　以前，科学家们主要通过将碳纳米管和其他纳米材料内嵌于塑料中来制造场发射电极。这些场发射电极尽管种类繁多且容易制造，拥有很大应用潜力，但其瑕疵也很多，比如，塑料的导电能力太弱 塑料的热稳定性很低，无法对抗长时间操作产生的大量热量。　　现在，澳大利亚莫纳什大学的科研团队和澳大利亚联邦科学与工业研究组织下属的过程科学和工程研究院的科学家携手，研发出了一种新的应用潜力很大且容易制造的材料——非晶块金属玻璃(ABM)，并用其代替塑料制造出场发射电极。当这些非晶块金属玻璃合金冷却时会形成非晶材料，让它们的一举一动更像玻璃。　　这种非晶块金属玻璃合金由镁、铜和稀土族元素钆制造而成，拥有很多塑料特有的特性 可顺应很多形状、大批量地制造并能作为碳纳米管的有效基体。除了具有优良的导电性之外，这种金属玻璃也拥有非常稳定的热性，这意味着，即使经受高温，它也能保持其形状和耐用性。科学家们表示，以上诸多优势和其卓越的电子发射属性，使得这种非晶块金属玻璃成为制造电子发射设备的最好材料之一。　　尽管以前也有科学家研制出了其他由大块金属玻璃和碳纳米管组成的复合材料，但这是这样的系统首次用于制造场发射电极这样的功能性设备。科学家们表示，这项技术可被用于制造电子显微镜、微波和X射线生成设备以及现代显示设备等。

热烈祝贺利曼中国国内第一台直流电弧光谱仪（DC-ARC）在湖南株洲硬质合金集团分析测试中心顺利安装调试。Teledyne Leeman Labs公司新近推出的Prodigy直流电弧光谱仪继承了在光谱仪领域数十年的经验沉淀和技术积累，将直流电弧这项古老而又成熟的分析技术带入了全新的应用领域。 直流电弧光谱仪可直接对粉末状、线状和屑状样品进行分析，无须化学消解及稀释过程，克服了ICP、AAS样品消解的麻烦和缺点，尤其对于一些难熔物质更是具有独到的优势。特别适合氧化钨，碳化硅，陶瓷等复杂样品的分析。另外直流电弧光谱仪具备更高灵敏度，实现高纯金属分析，由于无须消解和稀释过程，因此可以实现很高的灵敏度，通常对于固体材料的检出限小于1个ppm。直流电弧光谱仪的推出无疑为某些固体材料和高纯金属分析提供了最佳解决方案，是ICP和AAS等传统方法的很好补充。为一些复杂样品的分析提供了一个快捷方便的解决途径。株洲硬质合金集团有限公司是国家&ldquo 一五&rdquo 期间建设的156项重点工程之一。主要生产金属切削工具、矿山及油田钻探采掘工具、硬质材料、钨钼制品、钽铌制品、稀有金属粉末制品等六大系列产品。是目前国内最大最早的硬质材料和钨钼材料生产龙头企业。其分析测试中心为国家重点实验室，实力雄厚，技术一流，敢为天下先，引进先进技术。得知利曼公司推出新一代直流电弧，在双方公司领导关照下，技术人员的努力下。利曼中国国内第一台直流电弧光谱仪（DC-ARC）顺利安装调试成功。仪器表现优异，分析结果用户非常满意，尤其对三氧化钨分析，结果达到很高的水平，是ICP-MS,ICP，AAS无法能做到的。

佰汇兴业（北京）科技有限公司最新代理日本MICRO EMISSION MH-5000等离子体发射光谱仪,该仪器为一款利用液态电极等离子体来分析痕量金属的发射光谱仪，它通过向溶液施加电压以使其加热并蒸发，液体电极产生等离子体，溶液中的溶质被送入等离子体中产生发射光谱。它可以应用到冶金制造、工业废物处理和环境监测等领域中。特点：手持掌上型尺寸的实现（小型，便携式手持）操作简单，初学者也可快速入门电池驱动，可使用于现场测定同时测定多种元素检测极限0.1ppm～100ppm工程管理、土壤测定、水质测定、食品测定