凹凸检测

LEXT OLS4500是结合了传统光学显微镜、激光扫描显微镜(LSM)以及扫描探针显微镜(SPM)功能为一体的革新机，从而可以实现对观测对象从几十倍到百万倍的连续放大, 可以满足不同样品的超高分辨率三维观察，以及尺寸测量、微粗糙度测量等各种观测需求。通过在多种显微镜和观察模式间自由切换，LEXT OLS4500可以轻松实现从毫米到纳米的超大范围观察和测量，这使得观察对象的定位变得精准快捷，在大大缩短了获取影像时间的同时保护了探针，并且不用担心观测目标的丢失。另外，这种一体的革新设计可以实现对同一对象的多手段原位观测，从而提高了对观测结果分析解释的准确性和可信度！ l 光学显微镜：装有倍率不同的四种物镜，集合了明视野观察（BF）、微分干涉观察（DIC）、简易偏振光观察及HDR（高动态范围）观察等多种功能。l 激光显微镜：采用短波长405nm的激光光源和高数值孔径的专用物镜、以及独特的共焦光学系统，实现了优异的平面分辨率。在激光微分干涉模式中还可以实现观察纳米级的微小凹凸。l 扫描探针显微镜：专业的针尖对齐夹具避免了在仪器上调节激光光斑位置的繁琐；搭载导航功能，可以在已扫图像中任意制定特定区域进一步扫描观测；多种观察模式满足对样品表面形貌和物性的观察分析。

无锡市东富达机器视觉技术的缺陷检测方法，即利用图像处理和分析对产品可能存在的缺陷进行检测。 在检测产品存在缺陷时，其图像表现为缺陷处的灰度值与标准图像在此处的灰度值有差异。首先对瑕疵缺陷图像的特征进行提取与选择，然后将瑕疵缺陷图像的灰度值同标准图像的灰度值进行比较，判断其差值是否超出已预先设定的阈值范围，以此方法便能判断出待检测产品是否存在缺陷。表面缺陷检测设备系统性能参数：1，能实现对红外截止滤光片的双面检测；2，能自动识别崩边、划伤、灰尘和点子、印子等四种表面缺陷特征；3，具备次品自动分拣功能；4，精测精度达到0.01mm5，检测速度达到180片每分钟6，检测幅宽可按需求定制达任意宽度东富达科技Smart Vision系统视觉监测软件功能：1、软件界面简洁、操作方便，能够根据客户需求定制；2、瑕疵分布图实时显示、相机图像实时显示；3、瑕疵信息列表实时展示、新瑕疵图片实时展示；4、瑕疵详细信息查看功能；5、分切、报警、打标功能；6、报表生成和打印功能；7、检测数据存储和历史查询功能；8、人员权限管理功能；9、产品和模板分类管理功能；表面缺陷检测机特点：1、高准确度缺陷检测2、表面瑕疵的自动化检测，金属、薄膜、无纺布、玻璃等产品表面划伤、凹凸、斑点等瑕疵检测4、以机器换人、利用高清CCD工业相机，实现自动化检测，节约企业成本，更加智能化代替人工检测5、安装方便，操作简单，一键式操作。技术人员上门指导操作。

国产膜厚仪 电镀测厚仪 1.微小样品检测：小测量面积0.03mm² （加长测量时间可小至0.01mm² ）2.变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm3.EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元 素，甚至有同种元素在不同层也可准测量。 4.先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限。 5.高性能探测器【详细说明】国产膜厚仪 电镀测厚仪 性能优势：1.微小样品检测：小测量面积0.03mm2（加长测量时间可小至0.01mm2）2.变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm3.先进的EFP算法：Li(3)-U(92)元素的涂镀层，多层多元 素，甚至有同种元素在不同层也可准测量。 4.先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限。 5.高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25mm2探测器。 6.X射线装置：微焦加强型射线管搭配聚焦装置。 一六仪器研制的测厚仪独特的光路交换装置，让X射线和可见光摄像同一垂直线，达到视觉与测试定位一体，且X光扩散度小；与EFP软件配合达到对焦、变焦双焦功能，实现高低、凹凸不平各种形状样品的测试；高集成的光路交换装置与接收器的角度可缩小一倍，可以减少弧度倾斜放样带来的误差，同时特征X射线可以穿透测试更厚的表层。 国产膜厚仪 电镀测厚仪 先进的EFP算法专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上，计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭发出EFP核心算法，结合先进的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统，只需要少量的标样来校正仪器因子，可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。RoHS检测及标定

XAU是一款设计结构紧凑，模块精密化程度极高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。微小样品检测：测量面积小至0.03mm2（加长测量时间可小至0.01mm2）变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm自主研发的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可准确测量先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25/50mm2探测器光路系统：微焦加强型射线管搭配聚焦、光路交换装置1.成分分析范围：铝（Al）- 铀（U）2.成分检出限：5ppm3.涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）4.涂镀层检出限：0.005μm5. 测量直径小至□0.1*0.3mm（最小测量面积0.03mm2） 标配：测量直径小至0.3mm（最小测量面积0.07mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG应用领域：广泛应用于半导体行业、新能源行业、5G通讯、五金建材、航天航空、环保行业、汽车行业、贵金属检测、精密电子、电镀行业等多种领域选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

试验用水检测南通市纯化水检测中心： 以色谱方法实验用水为例，乳制品食品安全国家标准中涉及HPLC或GC的方法都要求使用GB/T6682规定的一级水，由于离子水、蒸馏水及瓶装水（如哇哈哈、乐百氏等）不符合GB/T6682规定一级水的指标要求，根据国标这类水不能用于乳制品相关检验项目的实验！为什么纯水的储存和分配会影响其水质 纯水/超纯水随着时间的延长而水质下降。导致水质劣化的原因来自以下几个方面： 储存器:由于纯水中溶解的离子浓度很低甚至没有，这样子纯水极易从外界环境中吸收离子污染物。 低级塑料和玻璃制造的储水器会溶出离子和有机物，增加水的电导率，劣化水质。因而推荐使用低溶出的高级聚乙烯储水器。 通气口:多数的储水器都有一个排气口用于取水期间空气的流通。通气口吸入外界空气的同时带入实验室空气中的CO2,细菌，颗粒和挥发性有机物。 这些都将污染储存在水箱中的纯水。因而通气口应配置空气过滤器以阻止有机物，细菌和CO2进入水箱。jsgf19310zjh 设计: 在清洗过程中，无法将平底水箱的水排干。这些未能排干的水是细菌生长的一个根源。因此我们推荐使用锥形底的水箱以排干所有的水。水箱应采用吹塑成型的方式制作以防止凹凸不平的表面为细菌提供生长繁殖的场所。 分配: 好的分配泵应该在连续工作10个小时的情况下也不会造成温度的升高，温度的升高利于细菌的生长。 消毒: 哪怕是极微级的微生物的滋生，也能形成菌膜，劣化水质。所以安装一个能抑制细菌生长的消毒模块（UV灯）是很重要的。 水箱所使用的PE材料会不会溶出有机物，

XU-100是一款设计结构紧凑，模块精密化程度极高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。微小样品检测：测量面积小至0.03mm2（加长测量时间可小至0.01mm2）变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm自主研发的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可准确测量先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25/50mm2探测器光路系统：微焦加强型射线管搭配聚焦、光路交换装置1.成分分析范围：铝（Al）- 铀（U）2.成分检出限：5ppm3.涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）4.涂镀层检出限：0.005μm5. 测量直径小至□0.1*0.3mm（最小测量面积0.03mm2） 标配：测量直径小至0.3mm（最小测量面积0.07mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG应用领域：广泛应用于半导体行业、新能源行业、5G通讯、五金建材、航天航空、环保行业、汽车行业、贵金属检测、精密电子、电镀行业等多种领域选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

XU-100是一款设计结构紧凑，模块精密化程度极高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。微小样品检测：测量面积小至0.03mm2（加长测量时间可小至0.01mm2）变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm自主研发的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可准确测量先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25/50mm2探测器光路系统：微焦加强型射线管搭配聚焦、光路交换装置1.成分分析范围：铝（Al）- 铀（U）2.成分检出限：5ppm3.涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）4.涂镀层检出限：0.005μm5. 测量直径小至□0.1*0.3mm（最小测量面积0.03mm2） 标配：测量直径小至0.3mm（最小测量面积0.07mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG应用领域：广泛应用于半导体行业、新能源行业、5G通讯、五金建材、航天航空、环保行业、汽车行业、贵金属检测、精密电子、电镀行业等多种领域选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

无锡东富达科技有限公司生产的表面缺陷检查机可针对金属、玻璃、薄膜、无纺布、锂电、纸张等表面瑕疵缺陷检查， 可替代人工，有效对产品表面孔洞、边裂、划伤、凹凸、气泡、麻点、杂质、黑点、斑点等全面筛查，CCD高速摄像机确定瑕疵位置后，准确反馈电脑并实时标注缺陷位置，提升产品生产效率。机器视觉是通过光学的装置和非接触的传感器自动地接收和处理一个真实物体的图像，以获得所需信息或用于控制机器人运动的装置，机器视觉是一种无接触、无损伤的自动检测技术，是实现设备自动化、智能化和精密控制的有效手段，具有安全可靠、光谱响应范围宽、可在恶劣环境下长时间工作和生产效率高等突出优点。机器视觉检测系统通过适当的光源和图像传感器(CCD摄像机)获取产品的表面图像，利用相应的图像处理算法提取图像的特征信息，然后根据特征信息进行表面缺陷的定位、识别、分级等判别和统计、存储、查询等操作。东富达自主研发的SMART VISION在线检测系统优势：1、精确度高：人类视觉是64灰度级，且对微小目标分辨力弱；机器视觉可显著提高灰度级，同时可观测微米级的目标2、速度快：人类是无法看清快速运动的目标的，机器快门时间则可达微秒级别；3、稳定性高：机器视觉解决了人类一个非常严重的问题，不稳定，人工目检是劳动非常枯燥和辛苦的行业，无论你设计怎样的奖惩制度，都会发生比较高的漏检率。但是机器视觉检测设备则没有疲劳问题，没有情绪波动，只要是你在算法中写好的东西，每一次都会认真执行。在质控中大大提升效果可控性。4、信息的集成与留存：机器视觉获得的信息量是全面且可追溯的，相关信息可以很方便的集成和留存。安装位置：冷轧线、纵切线、横剪线、彩涂线、平整机、酸洗机、复卷线、镀锡线、镀锌线、实验室等，检测机可按需定制。

XAU是一款设计结构紧凑，模块精密化程度极高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。微小样品检测：测量面积小至0.03mm2（加长测量时间可小至0.01mm2）变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm自主研发的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可准确测量先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25/50mm2探测器光路系统：微焦加强型射线管搭配聚焦、光路交换装置1.成分分析范围：铝（Al）- 铀（U）2.成分检出限：5ppm3.涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）4.涂镀层检出限：0.005μm5. 测量直径小至□0.1*0.3mm（最小测量面积0.03mm2） 标配：测量直径小至0.3mm（最小测量面积0.07mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG应用领域：广泛应用于半导体行业、新能源行业、5G通讯、五金建材、航天航空、环保行业、汽车行业、贵金属检测、精密电子、电镀行业等多种领域选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

HZ-2000升级版手持危险液体探测仪华哲手持危险液体检测仪可检测53种危险液体检测仪产品介绍HZ-2000升级版手持危险液体探测仪，是一款专门用于探测易燃易爆液体的安检仪器。HZ-2000升级版体积小、分析快、操作简便，能够在不接触液体的情况下快速辨别出易燃易爆液体，被广泛应用于监狱、车站、地铁、机场、公检法政府机构、大型运动会等场所的安检工作。 华哲手持危险液体检测仪可检测53种危险液体检测仪广东华哲安检设备厂家温馨提示：为保护经销商权益，我公司不在网站上做真实的报价，敬请理解。欢迎来单咨询：王S：，！基本参数：组成：主机，充电底座等组成主要尺寸：397（长）×56（宽）×72（高）mm重量：530g（含电池）开机启动时间: 14.5秒分析测试时间：3秒自校验功能试验：仪器具有自校验功能，自校验时间不超过3秒。可检测容器尺寸：容积：不小于50ml，高度不小于60mm，直径：不低于30mm报警方式：可以声音报警，以及液晶报警数据存储：设备能够提供液体检测结果存储及检索功能，存储量不少于5000次检测，具备与电脑联网的数据统计和上传功能，能够用标准USB接口将数据导出。采样方式：设备使用非接触式安全检查技术，不需打开容器即可实现液态物品安全检查，可距离被检容器5mm处进行检测。 可检测容器：对壁厚小于5mm的玻璃和陶瓷材质、壁厚小于3.5mm的塑料材质的表面光滑无凹凸且直径大于等于30mm的容器中液体进行检测.报警方式：声/光报警/液晶图文显示，能单独关闭报警声音。人机界面检查：设备人机界面应提供全中文或图形界面，采用彩色LED显示屏，并且自带光源，具有夜间补光功能。工作温度范围：0℃-+45℃。可探测种类：汽油、煤油、柴油、甲醇、无水乙醇、异丙醇、正丙醇、叔丁醇、乙醇(70%)、异丙醇(70%)、一缩二乙二醇、甲胺醇溶液、丙酮、环己酮、苯、甲苯、二甲苯、硝基苯、苯乙烯、乙醚、丙醚、石油醚、甲基叔丁基醚、三氯甲烷、二氯乙烷、环氧丙烷、正戊烷、环戊烷、正己烷、环己烷、甲基环己烷、正庚烷、正辛烷、丙醛、乙醛、四氢呋喃、吡啶、二硫化碳、二乙胺、1-4-二氧六环、丙烯酸甲酯、丁酸丁酯、松香水、香蕉水、油漆、油漆稀料、油酸、乙酸、硫酸、盐酸、硝酸、氢氧化钠水溶液(40%)、氢氧化钾水溶液(40%)。供电方式：设备支持高容量锂充电电池供电方式，一次充电完成后可保证设备连续使用不低于1000次,连续工作时间不小于8小时。 华哲手持危险液体检测仪可检测53种危险液体检测仪广东华哲安检设备厂家温馨提示：为保护经销商权益，我公司不在网站上做真实的报价，敬请理解。欢迎来单咨询：王S：，！ 华哲手持危险液体检测仪可检测53种危险液体检测仪广东华哲安检设备厂家温馨提示：为保护经销商权益，我公司不在网站上做真实的报价，敬请理解。欢迎来单咨询：王S：，！

接收器：日本东芝正比计数管，窗口面积≥150mm2射线准直系统：垂直光路交换装置搭配黄金准直器视频观测光路系统：垂直光路交换装置搭载100mm变焦镜头测样读取开启方式：恒压恒流快门式光闸滤光片：铝、空、镍准直器：?0.05mm；?0.1mm；?0.2mm；?0.5mm；四准直器任选一种近测距光斑扩散度：10%小测量面积：约0.002mm2测量距离：具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异形样品，变焦距离0-30mm样品观察：1/2.5彩色CCD，全局快门，有效像素：1280*960，变焦功能对焦方式：高敏感镜头（无需增加其他辅助传感器），手动对焦放大倍数：光学38-46X，数字放大40-200倍样品台尺寸：500mm*360mm样品可放置区域：480mm*320mm*205mm（C型开槽设计，特殊测试时可以超出区域放置样品）外部尺寸：540mm*430mm*475mm移动方式：高精密XY手动滑轨可移动范围：40mm*50mm电源：交流220V 50HZ 功耗：大120W（不包括计算机）冷却系统：对流通道过滤式风冷保养升级模块：软硬件模块化环境要求：使用时温度：10℃-40℃ 存储和运输时温度：0℃-50℃ 空气相对湿度：≤80%重量：约45KG随机标准片：十二元素片、Ni/Fe、Au/Ni/Cu其他附件：电脑一套、喷墨打印机、附件箱PCB板材膜厚仪电镀层测厚仪XTU 系列测厚仪虽然结构紧凑，但是都有大容量的开槽设计样品腔，即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。搭配微聚焦射线管和先进的光路设计，及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品。检测78种元素镀层· 0.005um检出限· 小测量面积0.002mm2· 深凹槽可达90mm。外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，移动精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，PCB板材膜厚仪电镀层测厚仪应用领域 线路板、引线框架及电子元器件接插件检测 镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析 手表、精密仪表制造行业 钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB 汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测 卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS) 电镀液的金属阳离子检测 项 目参 数测量元素范围Cl（17）-U（92）涂镀层分析范围各种元素及有机物分析软件EFP，可同时分析23层镀层，24种元素，不同层有相同元素也可分析软件操作人性化封闭软件，自动提示校正和步骤，避免操作错误X射线装置W靶微聚焦加强型射线管准直器? 0.05 mm 0.1 mm 0.2 mm 0.5 mm；准直器任意选择一种近测距光斑扩散度10%测量距离具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异型样品，变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)样品观察1/2.5彩色CCD，变焦功能对焦方式高敏感镜头，手动对焦放大倍数光学38-46X，数字放大40-200倍样品台尺寸500mm*360mm移动方式高精密XY手动滑轨可移动范围50mm*50mm随机标准片十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um其它附件联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱 无损天瑞X荧光光谱镀层膜厚检测仪，天瑞镀层测厚仪

XAU是一款设计结构紧凑，模块精密化程度极高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。微小样品检测：测量面积小至0.03mm2（加长测量时间可小至0.01mm2）变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm自主研发的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可准确测量先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25/50mm2探测器光路系统：微焦加强型射线管搭配聚焦、光路交换装置1.成分分析范围：铝（Al）- 铀（U）2.成分检出限：5ppm3.涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）4.涂镀层检出限：0.005μm5. 测量直径小至□0.1*0.3mm（最小测量面积0.03mm2） 标配：测量直径小至0.3mm（最小测量面积0.07mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG应用领域：广泛应用于半导体行业、新能源行业、5G通讯、五金建材、航天航空、环保行业、汽车行业、贵金属检测、精密电子、电镀行业等多种领域选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

XAU是一款设计结构紧凑，模块精密化程度极高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。微小样品检测：测量面积小至0.03mm2（加长测量时间可小至0.01mm2）变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm自主研发的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可准确测量先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25/50mm2探测器光路系统：微焦加强型射线管搭配聚焦、光路交换装置1.成分分析范围：铝（Al）- 铀（U）2.成分检出限：5ppm3.涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）4.涂镀层检出限：0.005μm5. 测量直径小至□0.1*0.3mm（最小测量面积0.03mm2） 标配：测量直径小至0.3mm（最小测量面积0.07mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG应用领域：广泛应用于半导体行业、新能源行业、5G通讯、五金建材、航天航空、环保行业、汽车行业、贵金属检测、精密电子、电镀行业等多种领域选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

XAD是一款上照式全元素光谱分析仪，可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚，也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析，先进的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。微小样品检测：测量面积小至0.008mm2变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-90mm自主研发的EFP算法：AI(3)-U(92)元素的成分分析，Li(3)-U(92)元素的涂镀层检测，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可准确测量先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积20/50mm2探测器X射线装置：微焦加强型射线管搭配聚焦装置上照式设计：实现对大型样品或者密集点位进行快、准、稳高效率测量可编程自动位移：选配自动平台，X210*Y230*Z145mm行程内无人值守自动测量多准直器自动切换1.成分分析范围：铝（Al）- 铀（U）2.成分检出限：1ppm3.涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）4.涂镀层检出限：0.005μm5. 测量直径小至□0.1*0.3mm（测量面积小至0.03mm2） 标配：测量直径小至0.3mm（测量面积小至0.07mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：530mm*570mm*150mm8.仪器尺寸：550mm*760mm*635mm9.仪器重量：100KG10.XY轴工作台移动范围：100mm*150mm11.XY轴工作台承重：15KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、环保检测、地质地矿、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董、锂电行业等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测（涂镀层检测-环保RoHS-成分分析）2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-90mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

清新而灵慧，引领洁净度检测新风尚 ATP荧光检测仪 Lumitester Smart 源自日本百年酱油生产商龟甲万集团，是一款用于快速确认洁净度的便携式ATP荧光检测仪， 通过其高灵敏度检测可快速将洁净度数值化。 ATP荧光检测仪 Lumitester Smart 突出特点：● 只需10秒便可得到测试结果。● 不仅可测试ATP，还可测试ADP和AMP（A3法）。● 可用于生产现场的清洁管理或厨房的清洁管理与卫生管控。● 可与智能手机和平板电脑进行无线通信。● 配备检测精准度器具，可随时确认仪器检测精准度。● 仪器校准便捷快速、频次低。 ATP荧光检测仪 Lumitester Smart 规格：● 测试时间：10秒● 数据输出：RLU● 数据存储：2000个数据● 电源：5号电池×2节(附带)● 尺寸：65×175×32mm● 重量：235g(主体)● 主机包含：座驾、清扫刷、USB连接线、带子● 装载蓝牙、有机EL显示器● ＜检测精准度器具＞充电：专用AC转换器充电30秒以上● 附属品：空白对照管、AC转换器、AC电源线、海外用AC电源线、使用说明书● 专用试剂：81-0485-03～81-0485-06ATP荧光检测仪 Lumitester Smart 使用注意事项：● 应根据检查对象的特征调整取样方式并仔细地擦拭。● 仪器设定的标准值，平滑的以200RLU、凹凸不平或易留划痕的以500RLU为基准。ATP荧光检测仪 Lumitester Smart 专用耗材：LuciPac A3 SurfaceATP荧光检测专用试剂 LuciPac A3 Surface是一款不仅能检测 ATP，还能检测ADP+AMP 的高灵敏度检测试剂.※已经获得AOAC-RI的PTM认证，认证书No.051901LuciPac A3 Surface Pre-moistened（湿润棉棒）LuciPac A3 Surface Pre-moistened（湿润棉棒）不仅能检测 ATP，还能检测ADP+AMP，是一款预先湿润的涂抹棒和试剂一体化的高灵敏度检测试剂。※已经获得AOAC-RI的PTM认证，认证书No.112201LuciPac A3 WaterLuciPac A3 Water是水和液体检测的专用试剂，不仅能检测 ATP，还能检测ADP+AMP的高灵敏度检测试剂。LuciPac A3 Filter Assay (液体内微生物试剂套装 )在现场简单快速地检测出液体内的微生物试剂套装。LuciSwab ESLuciSwab ES专用于内视镜的卫生检测，请与LuciPac试剂棒配套使用。Lumitester Control KitControl Kit是专门用于确认Lumitester Smart/PD-30/PD-20的检测精准度的器具。

XU-100是一款设计结构紧凑，模块精密化程度极高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。微小样品检测：测量面积小至0.03mm2（加长测量时间可小至0.01mm2）变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm自主研发的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可准确测量先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25/50mm2探测器光路系统：微焦加强型射线管搭配聚焦、光路交换装置1.成分分析范围：铝（Al）- 铀（U）2.成分检出限：5ppm3.涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）4.涂镀层检出限：0.005μm5. 测量直径小至□0.1*0.3mm（最小测量面积0.03mm2） 标配：测量直径小至0.3mm（最小测量面积0.07mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG应用领域：广泛应用于半导体行业、新能源行业、5G通讯、五金建材、航天航空、环保行业、汽车行业、贵金属检测、精密电子、电镀行业等多种领域选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

XU-100是一款设计结构紧凑，模块精密化程度极高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。微小样品检测：测量面积小至0.03mm2（加长测量时间可小至0.01mm2）变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm自主研发的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可准确测量先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25/50mm2探测器光路系统：微焦加强型射线管搭配聚焦、光路交换装置1.成分分析范围：铝（Al）- 铀（U）2.成分检出限：5ppm3.涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）4.涂镀层检出限：0.005μm5. 测量直径小至□0.1*0.3mm（最小测量面积0.03mm2） 标配：测量直径小至0.3mm（最小测量面积0.07mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG应用领域：广泛应用于半导体行业、新能源行业、5G通讯、五金建材、航天航空、环保行业、汽车行业、贵金属检测、精密电子、电镀行业等多种领域选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

XU-100是一款设计结构紧凑，模块精密化程度极高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。微小样品检测：测量面积小至0.03mm2（加长测量时间可小至0.01mm2）变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm自主研发的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可准确测量先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25/50mm2探测器光路系统：微焦加强型射线管搭配聚焦、光路交换装置1.成分分析范围：铝（Al）- 铀（U）2.成分检出限：5ppm3.涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）4.涂镀层检出限：0.005μm5. 测量直径小至□0.1*0.3mm（最小测量面积0.03mm2） 标配：测量直径小至0.3mm（最小测量面积0.07mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG应用领域：广泛应用于半导体行业、新能源行业、5G通讯、五金建材、航天航空、环保行业、汽车行业、贵金属检测、精密电子、电镀行业等多种领域选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

XU-100是一款设计结构紧凑，模块精密化程度极高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。微小样品检测：测量面积小至0.03mm2（加长测量时间可小至0.01mm2）变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm自主研发的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可准确测量先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25/50mm2探测器光路系统：微焦加强型射线管搭配聚焦、光路交换装置1.成分分析范围：铝（Al）- 铀（U）2.成分检出限：5ppm3.涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）4.涂镀层检出限：0.005μm5. 测量直径小至□0.1*0.3mm（最小测量面积0.03mm2） 标配：测量直径小至0.3mm（最小测量面积0.07mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG应用领域：广泛应用于半导体行业、新能源行业、5G通讯、五金建材、航天航空、环保行业、汽车行业、贵金属检测、精密电子、电镀行业等多种领域选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

XU-100是一款设计结构紧凑，模块精密化程度极高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。微小样品检测：测量面积小至0.03mm2（加长测量时间可小至0.01mm2）变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm自主研发的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可准确测量先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25/50mm2探测器光路系统：微焦加强型射线管搭配聚焦、光路交换装置1.成分分析范围：铝（Al）- 铀（U）2.成分检出限：5ppm3.涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）4.涂镀层检出限：0.005μm5. 测量直径小至□0.1*0.3mm（最小测量面积0.03mm2） 标配：测量直径小至0.3mm（最小测量面积0.07mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG应用领域：广泛应用于半导体行业、新能源行业、5G通讯、五金建材、航天航空、环保行业、汽车行业、贵金属检测、精密电子、电镀行业等多种领域选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

高温高压消解罐产品介绍：高压消解罐，也称为密封高压消解罐、压力消解器、压力消解罐、消化罐、聚四氟乙烯高压罐，它是一种能分解难溶物质的密闭容器，在气相、液相、等离子光谱质谱、原子吸收和原子荧光等化学分析方法中做样品前处理，多用于食品、药品、疾控中心、乳制品、环境中心、农产品、海产品、水产品等行业对茶叶中美术绿、稀土，果蔬、粮油、蛋类、肉类，奶粉等里铅、铬、镉、甲基汞、无机砷等重金属的检测。符合样品前处理的检测：GB 5009.90-2016 食品中铁的测定GB 5009.92-2016食品中钙的测定GB 5009.137-2016 食品中锑的测定GB 5009.268-2016 食品中多元素的测定GB 5009.269-2016 食品中滑石粉的测定技术参数：规格ml5、10、15、20、25、30、50、60、100、200、250、500等组成方式一套包含：一个外罐和一个内杯外罐材料优质无磁不锈钢内杯材料及耐温1、国产聚四氟乙烯PTFE耐温200℃以内2、TFM耐受230-260℃，耐压性，恢复性更好，金属元素值低，铅、铀含量小于0.01ppb,无溶出与析出使用条件整套放烘箱内使用耐受5Mpa（50kg）注意事项1、消解用溶剂加入量根据不同实验而定，一般为内杯容量的1/3到1/52、如在实验中用到HClO4、H2O2，用量不宜过多，需进行冷硝化过夜处理3、刚消解结束由于里面压力过大，所以冷却至室温时才很容易打开了配套产品内杯可以配套赶酸器在后期做赶酸、消解实验工作原理：高压消解罐，利用罐体内强酸或强碱且高温高压密闭的环境来达到快速消解难溶物质的目的，是测定微量元素及痕量元素时消解样品的得力助手。样品前处理消解重金属、农残、食品、淤泥、稀土、水产品、有机物等。产品特点：1、密封性好：高压消解罐的内杯凹凸榫槽设计, 内杯盖尖底设计，方便实验结束后样品收集；2、安全：设计特别，做工精细，杯顶有泄气孔，安全系数高即使在温度失控的情况下，只会内杯变形，外罐不会坏；消解效率高，能力强，能消解许多传统方法难以消解的样品，适应面广；内杯元素值低，提高分析的准确度和精密度，降低了工作强度和对环境的污染；内杯/外罐顺序编号，方便均等机会使用；成本低，使用简便。前期后期投入都很少，操作容易，操作人员使用前几乎不需要培训，维护简单；内杯可以改为进口聚四氟乙烯(微波仪内罐材质)材质，耐渗透，耐变形，耐温性更好。内外罐优选材质，多年的生产经验，200多家用户的认可，品质保证。高压消解法被我国有关部门认定为标准方法,比如GB/T5009、GB/T14962、GB/T6609、GB/T11914、GB/T17378、SN/T2004.1、2—2005、SN/T 1634-2005等。美国AOAC亦规定此法为测定As、Cd、Hg、Pb、Se、Zn等元素的样品标准分解方法。方法优点局限高压消解法安全、前期投入少、设备简单、操作容易、样品及试剂用量少、值低、避免玷污、样品处理安全、准确度高、可大批量处理样品样品处理周期稍长、不可控温控压、外观简陋常温消解法投入量少、设备简单、操作容易、试剂用量大、准确度一般、工作周期短、可大批量处理样品易玷污、污染环境、有损操作人员健康、精密度欠佳试剂用量稍多、对某些难溶样品有局限性微波消解法安全、可以控温控压、小批量效率高、样品及试剂用量少、值低、避免玷污、准确度高、智能化程度高前期后期投入很大、对操作人员要求高、对某些样品有局限性、Cr和Pb损失大、消解不完全、工作温度低、不能同时高温高压南京滨正红仪器有限公司

性能优势：下照式设计：快速方便的定位各种形状的样品，满足一切测试所需。无损变焦检测：拥有手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-30mm。微聚焦射线装置：可测试各微小的部件，小检测面积可达0.002mm2。高效率的接收器：在检测0.01mm2以下的样品时，几秒钟也可达到稳定性。精密微型滑轨：精密的手动移动平台，快速定位所需检测的样品。EFP先进算法软件：可检测单镀层，多镀层，多元合金，甚至对于同种元素在不同层的厚度检测也能分析，包括轻金属镀层，非金属镀层，达克罗，Nip镀层测试，包括Ni与P的比例也均可检测。准直器和滤光片：多种准直器和滤光片电动切换，满足各种测试方式的应用。新一代高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达50W的功率实现更高的测试效率。防护装置：恒压恒流快门式光闸，拥有高压电源紧急自锁功能，带给您更安全的防护。引线框架测厚仪 技术参数：测量元素范围：CI(17)-U(92)涂镀层分析范围：Li(3)-U(92)分析软件：EFP，可同时分析23层镀层，24种元素，不同层有相同元素和有机物厚度也可分析测试程式添加：1862条测试程式免费提供，也可编辑新程式软件操作：人性化封闭软件，自动提示校正和步骤，避免操作错误X射线装置：升压发射一体高分子聚合式W靶微聚焦加强型射线管接收器：日本东芝正比计数管，窗口面积≥150mm2射线准直系统：垂直光路交换装置搭配黄金准直器视频观测光路系统：垂直光路交换装置搭载100mm变焦镜头测样读取开启方式：恒压恒流快门式光闸滤光片：铝、空、镍准直器：?0.05mm；?0.1mm；?0.2mm；?0.5mm；四准直器任选一种近测距光斑扩散度：10%小测量面积：约0.002mm2测量距离：具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异形样品，变焦距离0-30mm样品观察：1/2.5彩色CCD，全局快门，有效像素：1280*960，变焦功能对焦方式：高敏感镜头（无需增加其他辅助传感器），手动对焦放大倍数：光学38-46X，数字放大40-200倍样品台尺寸：500mm*360mm样品可放置区域：480mm*320mm*205mm（C型开槽设计，特殊测试时可以超出区域放置样品）外部尺寸：540mm*430mm*475mm移动方式：高精密XY手动滑轨可移动范围：40mm*50mm电源：交流220V 50HZ 功耗：大120W（不包括计算机）冷却系统：对流通道过滤式风冷保养升级模块：软硬件模块化环境要求：使用时温度：10℃-40℃ 存储和运输时温度：0℃-50℃ 空气相对湿度：≤80%重量：约45KG随机标准片：十二元素片、Ni/Fe、Au/Ni/Cu其他附件：电脑一套、喷墨打印机、附件箱PCB板材膜厚仪电镀层测厚仪XTU 系列测厚仪虽然结构紧凑，但是都有大容量的开槽设计样品腔，即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。搭配微聚焦射线管和先进的光路设计，及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品。检测78种元素镀层· 0.005um检出限· 小测量面积0.002mm2· 深凹槽可达90mm。外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，移动精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，PCB板材膜厚仪电镀层测厚仪应用领域 线路板、引线框架及电子元器件接插件检测 镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析 手表、精密仪表制造行业 钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB 汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测 卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS) 电镀液的金属阳离子检测 项 目参 数测量元素范围Cl（17）-U（92）涂镀层分析范围各种元素及有机物分析软件EFP，可同时分析23层镀层，24种元素，不同层有相同元素也可分析软件操作人性化封闭软件，自动提示校正和步骤，避免操作错误X射线装置W靶微聚焦加强型射线管准直器? 0.05 mm 0.1 mm 0.2 mm 0.5 mm；准直器任意选择一种近测距光斑扩散度10%测量距离具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异型样品，变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)样品观察1/2.5彩色CCD，变焦功能对焦方式高敏感镜头，手动对焦放大倍数光学38-46X，数字放大40-200倍样品台尺寸500mm*360mm移动方式高精密XY手动滑轨可移动范围50mm*50mm随机标准片十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um其它附件联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱 无损天瑞X荧光光谱镀层膜厚检测仪，天瑞镀层测厚仪

便携式科研/野外勘探/工业质量检测显微镜3R-MSA600FS 安卓系统高清触控屏自动对焦拍照录像微米测量这款便携式视频显微镜3R-MSA600FS是基于MSA600S进行的升级，镜头增加了橡胶垫片全包镜头，底部增加了磁吸支架可轻松拆合，应对凹凸复杂的环境也可轻松应对。自带安卓系统和5.0英寸液晶触摸屏，60倍/200倍放大，支持USB type-c快充,HDMI高清输出，WiFi/蓝牙网络接口输出，可实现多人共享，可适用于：科研教学，水产养殖，动植物病虫害研究，野外勘探，工业检测等.....

NS3500 Solar 半导体晶圆质量检测系统NS-3500 Solar 是一种可靠的三维(3D)测量高速共焦激光扫描显微镜(CLSM)。通过快速光学扫描模块和信号处理算法实现实时共焦显微图像。在测量和检测微观三维结构，可以为半导体晶片，FPD产品，MEMS设备，玻璃基板，材料表面等提供各种解决方案。 Features & Benefits（性能及优势）：高分辨无损伤光学3D测量 自动倾斜补偿实时共焦成像 简单的数据分析模式多种光学变焦 双Z扫描大范围拼接 半透明基材的特征检测实时CCD明场和共聚焦成像 无样品准备自动聚焦 Application field（应用领域）：NS-3500是测量低维材料的有前途的解决方案。可测量微米和亚微米结构的高度，宽度，角度，面积和体积，例如-半导体:IC图形，凹凸高度，线圈高度，缺陷检测，CMP工艺- FPD产品:触摸屏屏幕检测，ITO图案，LCD柱间距高度- MEMS器件:结构三维轮廓，表面粗糙度，MEMS图形-玻璃表面:薄膜太阳能电池，太阳能电池纹理，激光图案-材料研究:模具表面检测，粗糙度，裂纹分析Specifications(规格）:ModelMicroscope NS-3500 Solar备注物镜倍率10x20x50x100x观察/ 测量范围 水平 (H): μm1400700280140垂直 (V): μm1050525210105工作范围: mm16.53.10.540.3数值孔径(N.A.)0.300.460.800.95光学变焦x1 to x6总放大倍率178x to 26700x观察/测量光学系统 Pinhole共聚焦光学系统高度测量测量扫描范围 400 um注 1显示分辨率0.001 μm重复率 σ0.010 μm注 2帧记忆像素1024x1024, 1024x768, 1024x384, 1024x192, 1024x96单色图像12 bit彩色图像8-bit for RGB each高度测量16 bit帧速率表面扫描20 Hz to 160 Hz线扫描~8 kHz激光共焦测量光源波长 405nm输出~2mW激光等级Class 3b激光接收元件PMT (光电倍增管)光学观察光源灯10W LED光学观察照相机成像元件1/2” 彩色图像 CCD 传感器记录分辨率640x480自动调整增益, 快门速度, White balance数据处理单元 PC电源电源电压100 to 240 VAC, 50/60 Hz电流消耗500 VA max.重量显微镜Approx. ~50 kg(Measuring head unit : ~12 kg)控制器~8 kg隔振系统气浮光学平台隔振系统Option 注1:精细扫描由压电执行器（PZT）执行。注2 :以100×/ 0.95物镜对标准样品（步长1μm）进行100次测量。

XAD是一款上照式全元素光谱分析仪，可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚，也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析，先进的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。微小样品检测：测量面积小至0.008mm2变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-90mm自主研发的EFP算法：AI(3)-U(92)元素的成分分析，Li(3)-U(92)元素的涂镀层检测，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可准确测量先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积20/50mm2探测器X射线装置：微焦加强型射线管搭配聚焦装置上照式设计：实现对大型样品或者密集点位进行快、准、稳高效率测量可编程自动位移：选配自动平台，X210*Y230*Z145mm行程内无人值守自动测量多准直器自动切换1.成分分析范围：铝（Al）- 铀（U）2.成分检出限：1ppm3.涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）4.涂镀层检出限：0.005μm5. 测量直径小至□0.1*0.3mm（测量面积小至0.03mm2） 标配：测量直径小至0.3mm（测量面积小至0.07mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：530mm*570mm*150mm8.仪器尺寸：550mm*760mm*635mm9.仪器重量：100KG10.XY轴工作台移动范围：100mm*150mm11.XY轴工作台承重：15KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、环保检测、地质地矿、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董、锂电行业等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测（涂镀层检测-环保RoHS-成分分析）2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-90mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

XAD是一款上照式全元素光谱分析仪，可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚，也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析，先进的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。微小样品检测：测量面积小至0.008mm2变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-90mm自主研发的EFP算法：AI(3)-U(92)元素的成分分析，Li(3)-U(92)元素的涂镀层检测，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可准确测量先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积20/50mm2探测器X射线装置：微焦加强型射线管搭配聚焦装置上照式设计：实现对大型样品或者密集点位进行快、准、稳高效率测量可编程自动位移：选配自动平台，X210*Y230*Z145mm行程内无人值守自动测量多准直器自动切换1.成分分析范围：铝（Al）- 铀（U）2.成分检出限：1ppm3.涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）4.涂镀层检出限：0.005μm5. 测量直径小至□0.1*0.3mm（测量面积小至0.03mm2） 标配：测量直径小至0.3mm（测量面积小至0.07mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：530mm*570mm*150mm8.仪器尺寸：550mm*760mm*635mm9.仪器重量：100KG10.XY轴工作台移动范围：100mm*150mm11.XY轴工作台承重：15KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、环保检测、地质地矿、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董、锂电行业等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测（涂镀层检测-环保RoHS-成分分析）2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-90mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

XAD是一款上照式全元素光谱分析仪，可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚，也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析，先进的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。微小样品检测：测量面积小至0.008mm2变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-90mm自主研发的EFP算法：AI(3)-U(92)元素的成分分析，Li(3)-U(92)元素的涂镀层检测，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可准确测量先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积20/50mm2探测器X射线装置：微焦加强型射线管搭配聚焦装置上照式设计：实现对大型样品或者密集点位进行快、准、稳高效率测量可编程自动位移：选配自动平台，X210*Y230*Z145mm行程内无人值守自动测量多准直器自动切换1.成分分析范围：铝（Al）- 铀（U）2.成分检出限：1ppm3.涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）4.涂镀层检出限：0.005μm5. 测量直径小至□0.1*0.3mm（测量面积小至0.03mm2） 标配：测量直径小至0.3mm（测量面积小至0.07mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：530mm*570mm*150mm8.仪器尺寸：550mm*760mm*635mm9.仪器重量：100KG10.XY轴工作台移动范围：100mm*150mm11.XY轴工作台承重：15KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、环保检测、地质地矿、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董、锂电行业等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测（涂镀层检测-环保RoHS-成分分析）2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-90mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

XAD是一款上照式全元素光谱分析仪，可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚，也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析，先进的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。微小样品检测：测量面积小至0.008mm2变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-90mm自主研发的EFP算法：AI(3)-U(92)元素的成分分析，Li(3)-U(92)元素的涂镀层检测，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可准确测量先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积20/50mm2探测器X射线装置：微焦加强型射线管搭配聚焦装置上照式设计：实现对大型样品或者密集点位进行快、准、稳高效率测量可编程自动位移：选配自动平台，X210*Y230*Z145mm行程内无人值守自动测量多准直器自动切换1.成分分析范围：铝（Al）- 铀（U）2.成分检出限：1ppm3.涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）4.涂镀层检出限：0.005μm5. 测量直径小至□0.1*0.3mm（测量面积小至0.03mm2） 标配：测量直径小至0.3mm（测量面积小至0.07mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：530mm*570mm*150mm8.仪器尺寸：550mm*760mm*635mm9.仪器重量：100KG10.XY轴工作台移动范围：100mm*150mm11.XY轴工作台承重：15KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、环保检测、地质地矿、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董、锂电行业等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测（涂镀层检测-环保RoHS-成分分析）2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-90mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

XAU-4C是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。微小样品检测：最小测量面积0.03mm2（加长测量时间可小至0.01mm2）变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm自主研发的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可准确测量先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25/50mm2探测器光路系统：微焦加强型射线管搭配聚集多准直器自动切换1.成分分析范围：铝（Al）- 铀（U）2.成分检出限：1ppm3.涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）4.涂镀层检出限：0.005μm5. 测量直径小至□0.1*0.3mm（测量面积小至0.03mm2） 标配：测量直径小至0.3mm（测量面积小至0.07mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG广泛应用于半导体行业、新能源行业、5G通讯、五金建材、航空航天、环保行业、汽车行业、贵金属检测、精密电子、电镀行业等多种领域选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测（涂镀层检测-环保RoHS-成分分析）2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

XAU-CS是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。微小样品检测：测量面积小至0.03mm2（加长测量时间可小至0.01mm2）变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm自主研发的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也准确测量先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25/50mm2探测器光路系统：微焦加强型射线管搭配聚焦、光路交换装置多准直器自动切换1.成分分析范围：铝（Al）- 铀（U）2.成分检出限：1ppm3.涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）4.涂镀层检出限：0.005μm5. 测量直径小至□0.1*0.3mm（测量面积小至0.03mm2） 标配：测量直径小于0.3mm（测量面积小至0.07mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG广泛应用于半导体行业、新能源行业、5G通讯、五金建材、航空航天、环保行业、汽车行业、贵金属检测、精密电子、电镀行业等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测（涂镀层检测-环保RoHS-成分分析）2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测