电致发光测试仪

碳纳米管，是一种具有特殊结构（径向尺寸为纳米量级，轴向尺寸为微米量级、管子两端基本上都封口）的一维量子材料。它主要由呈六边形排列的碳原子构成数层到数十层的同轴圆管。层与层之间保持固定的距离，约为0.34nm，直径一般为2～20nm。由于其独特的结构，碳纳米管的研究具有重大的理论意义和潜在的应用价值，如：其独特的结构是理想的一维模型材料 巨大的长径比使其有望用作坚韧的碳纤维，其强度为钢的100倍，重量则只有钢的1/6 同时它还有望用作为分子导线，纳米半导体材料，催化剂载体，分子吸收剂和近场发射材料等。 Specim可提供碳纳米管近红外光谱及影像分析工具，采用近红外光谱相机，搭载与近红外显微平台，并配合压电陶瓷纳米位移台，实现碳纳米管的影像及光谱扫描，不仅可以用于电致发光的光谱分析，也可用与光致发光光谱测量，为研究者提供大量的光谱及影像数据以供研究分析使用。光谱测量范围：970nm- 2500nm（900nm-1700nm）。

Flex One 显微光致发光光谱仪欲了解更多信息请拨打：010-56370168-601 性能特点：● 一体化的光学调校——所有光学元件只需要在初次安装时进行调校，确保高效性和易用性● 简单易用的双光路设计——可随意在水平和垂直光路上进行切换，适用于各种常见的样品形态● 超宽光谱范围**——300nm-2200nm● 视频监视光路 ——可供精确调整测试点● 独有的发射光谱校正功能*——让光谱测量更精准且具有可比性 ● 多种激发波长可选**——325nm，405nm，442nm，473nm，532nm，633nm，785nm等● 自动mapping功能可选*——50mm×50mm测量区间，可定制特殊规格● 电致发光(EL)功能可选*——扩展选项● 显微拉曼光谱测量功能可选*——扩展选项● 超低温测量附件可选*——提供10K以下的超低温测量*选配项，请详细咨询； **需根据实际需要进行配置确定。产品简介： 光致发光(photoluminescence) 即PL，是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光，在半导体材料的发光特性测量应用中通常是用激光（波长如325nm、532nm、785nm 等）激发材料（如GaN、ZnO、GaAs 等）产生荧光，通过对其荧光光谱（即PL 谱）的测量，分析该材料的光学特性，如禁带宽度等。光致发光可以提供有关材料的结构、成分及环境原子排列的信息，是一种非破坏性的、高灵敏度的分析方法，因而在物理学、材料科学、化学及分子生物学等相关领域被广泛应用。传统的显微光致发光光谱仪都是采用标准的显微镜与荧光光谱仪的结合，但是传统的显微镜在材料的PL 谱测量中，存在很大的局限性，比如无法灵活的选择实验所需的激光器（特别对于UV 波段的激光器，没有足够适用的配件），无法方便的与超低温制冷机配合使用，采用光纤作为光收集装置时耦合效率太低等等问题，都是采用标准显微镜难以回避的问题。 北京卓立汉光仪器有限公司结合了公司十余年荧光光谱仪和光谱系统的设计经验和普遍用户的实际需求，推出了“Flex One( 微光）”系列显微光致发光光谱仪，有效的解决了上述问题，是目前市场上最具性价比的的显微PL 光谱测量的解决方案。( 产品图片仅供参考，以实际系统配置为准)系统组成● 激发光源部分：紫外-近红外波段各种波长激光器● 显微光路部分：优化设计的专用型显微光路● 光谱采集部分：影像校正光谱和高灵敏型科学级CCD或单点探测器和数据采集器● 样品台支架部分：xyz三维可调样品台（手动或自动）、超低温样品台参数规格表：主型号Flex One光谱范围300-2200nm光谱分辨率0.1nm激发光可选波长325nm，405nm，442nm，473nm，532nm，633nm，785nm等探测器类型制冷型CCD 2000×256制冷型InGaAs512×1制冷型InGaAs512×1有效范围300-1000nm800-1700nm800nm-2200nm空间分辨率100μm注*：以上为基本规格，详细规格依据不同配置的选择会有差异，详情请咨询！InGaN/GaN多量子阱的PL谱和EL谱测试 ● 样品提供：KingAbdullahUniversity ofScience and Technology提供的基于蓝宝石衬底MOCVD 生长的 InGaNGaN 量子阱● 测试条件：325nm激发，功率30mW● 光谱范围：340-700nm1. 光致发光(PL)光谱测量分别针对材料的正极( 红色) 和负极( 绿色) 测试得到光致发光光谱曲线如下，GaN 的本征发光峰365nm 附近以及黄带，InGaN 的发光峰475nm 附近。 2. 电致发光(EL)光谱测量将材料的正负极接到直流电源的正负极，电压加到2.5V 时可以有明显的蓝光发射，测量其电致发光光谱曲线如下（红色），峰值在475nm 附近。

光致发光(photoluminescence) 即PL，是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光，在半导体材料的发光特性测量应用中通常是用激光（波长如325nm、532nm、785nm 等）激发材料（如GaN、ZnO、GaAs 等）产生荧光，通过对其荧光光谱（即PL 谱）的测量，分析该材料的光学特性，如禁带宽度等。光致发光可以提供有关材料的结构、成分及环境原子排列的信息，是一种非破坏性的、高灵敏度的分析方法，因而在物理学、材料科学、化学及分子生物学等相关领域被广泛应用。 传统的显微光致发光光谱仪都是采用标准的显微镜与荧光光谱仪的结合，但是传统的显微镜在材料的PL 谱测量中，存在很大的局限性，比如无法灵活的选择实验所需的激光器（特别对于UV 波段的激光器，没有足够适用的配件），无法方便的与超低温制冷机配合使用，采用光纤作为光收集装置时耦合效率太低等等问题，都是采用标准显微镜难以回避的问题。 北京卓立汉光仪器有限公司结合了公司十余年荧光光谱仪和光谱系统的设计经验和普遍用户的实际需求，推出了“OmniPLMicroS”系列显微光致发光光谱仪，有效的解决了上述问题，是目前市场上最具性价比的的显微PL 光谱测量的解决方案。性能特点： 一体化的光学调校——所有光学元件只需要在初次安装时进行调校，确保高效性和易用 性 简单易用的双光路设计——可随意在水平和垂直光路上进行切换，适用于各种常见的样 品形态 超宽光谱范围**——200nm-1600nm 视频监视光路——可供精确调整测试点 独有的发射光谱校正功能*——让光谱测量更精准且具有可比性 多种激发波长可选**——325nm，405nm，442nm，473nm，532nm，633nm，785nm等 自动mapping功能可选*——50mm×50mm测量区间，可定制特殊规格 电致发光(EL)功能可选*——扩展选项 显微拉曼光谱测量功能可选*——扩展选项 超低温测量附件可选*——提供10K以下的超低温测量*选配项，请详细咨询；**需根据实际需要进行配置确定。参数规格表*应用:不同制冷温度下GaN材料的PL谱激发波长：325nm，功率：20mW，制冷机最低制冷温度：10K ZnO材料的PL谱: 激发波长：325nm ZnO 薄膜样品在382nm 处有一个特别强的荧光谱带，而在500 ～ 600nm 波段，有个弱的可见光荧光谱带。通过研究这些谱带，可以反映ZnO 表面态对荧光的影响以及晶型和缺陷信息。

OmniPL-MicroS组合式显微光致发光光谱系统 显微光路通常具有较高的通光效率，用在荧光光谱测量中，不仅可以进一步提升系统的信噪比，更可以实现微区测量。我公司除了可以提供“Flex One(微光）”系列显微光致发光光谱仪一体机，还为组合式系统的客户提供了两种类型的显微光路模块，一种是不带显微镜的水平光路显微模块，另一种是带有显微镜的垂直光路显微模块，它们都可以与我公司的光谱及配件组合成为显微光致发光光谱系统。 性能特点● 模块化的结构设计——水平和垂直光路可选，组合方便● 超宽光谱范围*——200nm-1600nm● 默认适配激光波长——325nm● 其它激光器波长可选*——405nm/532nm/633nm等● 电致发光(EL)功能可选**——扩展选项● **——可提供≤10K的超低温测量*需根据实际需要进行配置确定；**选配项，请详细咨询。 参数规格表(*)主型号OmniPL-MicroS光谱测量范围200-1600nm荧光光谱分辨率0.1nm激光波长325nm探测器类型制冷型CCD2000×256制冷型InGaAs512×1单点PMT单点制冷型InGaAs探测光谱范围200-1000nm800-1600nm200-870nm800-1600nm数据采集器--单光子计数器或锁相放大器锁相放大器注*：以上为基本规格，详细规格依据不同配置的选择会有差异，详情请咨询！OmniPL-MicroS-A垂直光路型 垂直光路型系统架构基于标准显微镜体和光谱仪等模块组合而成，光路垂直更有利于一般的样品放置，测量过程更方便。OmniPL-MicroS-B 水平光路型 水平光路型的系统不采用显微镜体，光路水平输出，需将样品竖直放置，系统可以配置多维可调的样品架，可以夹持固体、液体等多种类型的样品；水平光路更适合于液体样品，以及与低温制冷机配合使用时的光学布局。OmniPL-MSA-325型显微PL光谱系统主要技术参数（垂直光路型）系统指标与功能● 荧光光谱测量范围：350-800nm● 激发波长：325nm● 样品形态：固态（片状、粉末）● 预留CCD接口● 可升级电致发光（EL）测量● 可升级扩展至NIR波段测量（~1600nm）详细配置及规格参数- 光源? 类型：HeCd激光器? 功率：≥20W- 显微光路模块（OmniPL-KS-A）? 显微物镜：20X紫外? 光谱适用范围：250-800nm? 标准显微镜（带样品X-Y手动调节台）? 内置CCD监视光路? 可加装滤光片轮 - 荧光光谱仪（Omni-λ500i）? 焦距：500mm? f/#：f/6.5? 光谱覆盖范围：200-1000nm? 光谱分辨率：优于0.05nm@435.8nm（1200g/mm光栅）? 入口形式：狭缝? 出口形式：狭缝+CCD? 狭缝宽度：0.01-3mm? 通讯接口：USB2.0? 光谱仪整体支架- 光电倍增管（PMTH-S1-R928）? 光谱响应范围：200-870nm? 配HVC1800高压稳压电源- 单光子计数器（DCS202PC）? 有效计数率：≥5Mcps- 计算机（JSJ）? 一体机，安装光谱采集软件- 光学平台（OTB15-10）? 台面尺寸：1500*1000mmOmniPL-MSB-325型显微PL光谱系统主要技术参数（水平光路型）系统指标与功能● 荧光光谱测量范围：350-800nm● 激发波长：325nm● 样品形态：固态（片状、粉末）、液态● 预留CCD接口● 可升级扩展至NIR波段测量（~1600nm）● 可升级至超低温（10K）测量功能详细配置及规格参数- 光源? 类型：HeCd激光器? 功率：≥20mW- 显微光路模块（OmniPL-K1-325）? 显微物镜：20X紫外? 光谱适用范围：250-800nm? 样品架：固体（片状、粉末）、液体比色皿样品池，可五维手动调整? 内置监视光路 - 荧光光谱仪（Omni-λ500i）? 焦距：500mm? f/#：f/6.5? 光谱覆盖范围：200-1000nm? 光谱分辨率：优于0.05nm@435.8nm（1200g/mm光栅）? 入口形式：狭缝? 出口形式：狭缝+CCD? 狭缝宽度：0.01-3mm? 通讯接口：USB2.0- 光电倍增管（PMTH-S1-R928）? 光谱响应范围：200-870nm? 配HVC1800高压稳压电源- 单光子计数器（DCS202PC）? 有效计数率：≥5Mcps- 计算机（JSJ）? 一体机，安装光谱采集软件- 光学平台（OTB15-10）? 台面尺寸：1500*1000mm应用举例某用户提供的ZnO参杂发光材料（测试设备：OmniPL-MSA-325显微PL光谱系统）

产品关键词：电致发光、IVL、电致发光量子效率、量子效率、亮度、前向亮度、角度分辨、器件寿命、外量子效率、发光量子产率测量系统、绝对量子效率、EQE、JV、IV、绝对发光量子产率测量系统、自动对焦、朗伯假设、相对法、光分布法、光谱功率分布（ λ）、辐射通量、光通量、相关色温（CCT）、显色指数（CRI）、电功率密度▌ 产品简介电致发光测量系统NovaLum是东谱科技HiOE稳态综合光电特性测量平台中的重要成员，用于对电致发光样品的性能进行精确测量。该系统包括IVL测试、器件寿命测试、空间角度分布测试等功能，可以便捷、快速地得到电致发光器件全面的性能参数，如电致发光效率（电流效率、功率效率、外量子效率等）、光度学、色度学、稳定性、发光角度分布等相关性能参数。该设备很好地解决了行业上：（1）利用分光辐射度计测试时，存在低亮度测试速度慢、高亮度过曝的问题，从而不能用于易老化器件的测试，也不适宜用于宽亮度范围的器件测试；（2）利用积分球系统测试时，无法得到准确的前向亮度参数，且高亮度时也存在过曝问题，不能对强发光样品进行测试等的问题。▌ 产品特点□ 可以得到准确的亮度，因而适宜OLED、钙钛矿LED、量子点LED、显示屏等面光源的测量。□ 配备自动化的角度分辨测试功能，可以快速得到样品发光的空间分布特性。□ 配备了稳定性测试功能，进行老化测试，具有宽的亮度检测范围（1cd/m^2 ~999900 cd/m^2 ）。□ 可以进行各种环境的测试，如气体氛围、器件不封装转移测试等，同时可以实现手套箱内快速换样测试。□ 配备自动对焦和观察、自动位移、自动子器件切换等系统，可以极大地提升测试效率。▌ 产品功能□ 多种扫描模式：电压扫描、电流扫描、角度扫描、时间扫描。 □ 分段循环电流、电压扫描：可以研究器件的迟滞效应等。□ 实时测量：可以实时单点测量，灵活判断器件的工作情况。 □ 两线/四线测量：四线测量可更加准确地测量器件的电流电压。 □ 自动切换器件：通过软件选择测量的子器件。□ 自动积分时间：避免因为亮度过低导致测不出信号、或亮度过高导致的过曝的问题。□ 配备可视化实时观察及位移系统：在软件中可以实时观察到器件的表面发光情况，可软件操作对焦。□ 自动保存数据：测量过程中自动保存数据，避免数据丢失等状况。▌ 规格参数亮度测量光谱测量亮度范围0.01~9,999,000 cd/m^2波长范围200-850nm 或者 350-1000nm测试角1/3°积分时间4 ms - 10 s视角9°动态范围1300:1相对光谱敏感度匹配 CIE 光谱发光效率函数 V (λ)校准线性度99.8%最小测量面积 Ø 4.5 mm (0.4mm)光学分辨率~1.5 nm (FWHM)最短测量距离 1012mm (213mm)电流电压测量测量时间AUTO：0.7~4.3 s电压范围/分辨率-210V~210V/100nVMANUAL：0.7~7.1 s电流范围 /分辨率-1.05A~1.05A/1pA▌ 产品应用□ 量子点发光二极管（QLED）□ 有机发光二极管（OLED）□ 发光二极管（LED）□ 钙钛矿发光二极管（PeLED）□ 其它各种类型的电致发光器件▌ 测试案例LED器件测试示例显示屏测试示例

光焱科技 电致发光效率测试系统 LQ-50X-EL 介紹目前 LED 发展所面临的挑战包含：(1) 新型态的 LED 具备低亮度 ( 50000 cd/m2)、衰减快的特性(2) 发光半宽（FWHM）较传统 LED 小 (OLED~100 nm PVSK LED~50 nm)(3) 非朗伯体 (Non-Lambertian) 分布，使得辉度 (cd/m2) 换算 EQE 时误差很大(4) 发光波长超过视函数波段 (可见光范围)，无法以光通量与辉度评价其中「衰减快」与「红外发光的准确评价」，是与转换效率高低最息息相关，因此光焱科技推出 LQ-50X-EL，采用单光子侦测技术、NIR 增强光学设计与组件并拥有简便的设计可与手套箱直接整合。特色 光焱科技电致发光效率测试系统LQ-50X-EL的特色如下：*采用单光子侦测技术，克服传统光谱仪在低亮度需要长曝光时间 (1~3秒) 的特征，加快测试速度，以确保测试的准确性与高效率。*采用 NIR 增强光学设计与组件，使其涵盖波长可达到 1100 nm，更可扩展到 1700 nm。*设计简便，并且可与手套箱直接整合，同时对于各种样品形式都可以做很好的适配。LQ-50X-EL 可快速测试每个电压下的发光光谱，并可取得辐照度、辉度、CIE坐标等多项参数值，实测无机 LED 测试量测不重复性小于 0.2 %。LQ-50X-EL 为 NIST 溯源，与国外校正的白光与绿光 LED 比对，差异值小于 0.5 %。规格标准配置：*全向式收光系统 (50 mm 积分球)*增强型多信道光谱仪测试系统*探针系统*量测软件*工控机与屏幕选配规格：*红外光谱扩充模块 (900 – 1700 nm)*手套箱整合套件应用范围 光焱科技 电致发光效率测试系统 LQ-50X-EL 可用于：*Perovskite LED / Perovskite Laser Diode*Organic IR LED*QD LED / QD Laser Diode*VESEL Laser Diode实证量测结果总览

SpectrumTEQ-EL系列电致发光量子效率测量系统，可以针对发光器件的光电特性进行有效测量，系统搭配的QEpro光谱仪具有信噪比、低杂散光等特性，可确保测量结果得准确性；同时，系统配有强大的测试软件，对话框式的软件操作界面让测量过程变得更为简单。测量参数量子效率亮度量子效率随电流密度的曲线色坐标辐射通量，光通量峰值波长 应用领域无机电致发光有机电致发光分子薄膜EL器件 产品优势体积小巧：便于灵活使用及运输。原位测量：可放至手套箱内，实现原位测量流程化操作：设备无需频繁校准。产品参数 系统配置配置方案　方案1 方案2光谱仪型号QEPro / QE65Pro（可选）光谱范围(nm)350-1100信噪比1000:01:00分辨率2.5 nm (FWHM)动态范围85000:1（QEPro单次采集）；25000:1（QE65Pro单次采集）AD位数18-bit（QEPro）；16-bit（QE65Pro）积分球尺寸3.3”1.5”材质Spectralon源表Keithley2400光纤芯径1000um（可更换其他芯径）校准灯角度2 Pi 型号HL-3-INT-CAL亮度50 流明功率5W（电功率）无线遥控　通道数4无遥控软件SpectrumTEQ-EL专用软件

基于发光成像和激光扫描的太阳能电池检测工具.该系统提供多种成像测试解决方案，如电致发光、光致发光、热成像和光束感应电流测量，用于检测太阳能电池的内部缺陷和器件故障。-电致发光成像-光致发光成像-光束感应电流(LBIC)成像-热成像-通过发光检测，检测出太阳电池和组件的缺陷，如裂纹、暗区和指状缺陷.....

产品关键词：电致发光、IVL、电致发光量子效率、量子效率、亮度、前向亮度、角度分辨、器件寿命、外量子效率、发光量子产率测量系统、绝对量子效率、EQE、JV、IV、绝对发光量子产率测量系统 、CIE、色温、光谱功率分布 λ、辐射通量、光通量、相关色温（CCT）、显色指数（CRI）、电功率密度、积分球▌ 产品简介电致发光量子效率测量仪HiYield-EL是东谱科技 HiOE 综合发光特性测量平台中的重要成员，用于对电致发光样品的发光特性进行精确测量。HiYield 系统能够以一流的检测精度对电致发光器件进行纵深测量，得到全面的绝对法测量的电致发光效率参数（量子效率EQE等）以及相关的电学、辐射度学、光度学、色度学等参数；同时该系统集成了稳定性测试模块，可以对器件的老化过程进行测试，且同时得到器件老化过程的全面信息，即涵盖了上述发光效率、电学、辐射度学、光度学、色度学等全面参数（通常的老化测试仪，仅对电流、电压和相对亮度进行测试），典型的包括电致发光效率/量子效率EQE、寿命测试、CIE、CRI、CCT、光谱响应、光谱功率分布、IV、JV、总光谱辐射通量、辐射通量、光通量、光效、光谱强度、峰值波长、FHWM等，广泛应用于各种类型的电致发光器件测量。▌ 产品特点□ 能够以一流的检测精度对电致发光器件进行纵深测量，得到全面的绝对法测量的电致发光效率参数（外量子效率等）以及相关的电学、辐射度学、光度学、色度学等参数；□ 集成了稳定性测试模块，可以对器件的老化过程进行测试，且同时得到器件老化过程的全面信息，即涵盖了上述发光效率、电学、辐射度学、光度学、色度学等全面参数（通常的老化测试仪，仅对电流、电压和相对亮度进行测试）；□ 由软件控制测试过程，操作便捷，图表和数据实时显示；□ 可快速、可靠对样品的测试过程进行追踪；□ 具有实时测量、预测量、定制测量、扫描测量、时间依赖测量等丰富的测量模式。▌ 产品功能□ 效率参数：发光效率/外量子效率EQE、电流效率、功率效率等；□ 电学参数：电压（V）、电流（I）、电流密度（J）、电功率（W）、电功率密度等；□ 辐射度学：光谱功率分布、辐射通量、光通量、光视效能、峰值波长、主波长等；□ 色度学：CIE 色度坐标、相关色温（CCT）、MK-1（mred）、显色指数（CRI）、RGB 颜色值等；□ 稳定性测试。■ 包含测量模式√ 电压扫描（含分段扫描、循环扫描等）；√ 电流扫描（含分段扫描、循环扫描等）；√ 恒压单点测量；√ 恒流单点测量；√ 稳定性测量：不同老化时间下测量。▌ 产品应用□ 量子点发光二极管（QLED）□ 有机发光二极管（OLED）□ 发光二极管（LED）□ 钙钛矿发光二极管（PeLED）□ 其它各种类型的电致发光器件等▌ 规格型号绝对法电致发光特性测量系统系列HiYield-EL光谱仪*光谱范围210-980nm225-1000nm350-1050nm900-1700nm探测器制冷CCD系统信噪比1000:1A/D分辨率16/18 bit光学分辨率0.14-7.7 nm FWHM动态范围85000（典型）杂散光0.08% at 600 nm 0.4% at 435 nm源表电压范围-210V~210V电流范围-1.05A~1.05A*分辨率1pA / 100nV10fA-10nV积分球*材料Spectralon、PTFE、Spectraflect、BaSO4等*内径3.3 / 6 / 10 / 15 inch可选*反射率400至1500 nm，大于99%＞97%@600 nm 97-98%＞95%软件测量模式 电压扫描（含分段扫描、循环扫描等）； 电流扫描（含分段扫描、循环扫描等）； 恒压单点测量； 恒流单点测量； 稳定性测量：不同老化时间下测量。功能参数类别 效率参数（外量子效率、电流效率、功率效率等）； 电学参数：电压（V）、电流（I）、电流密度（J）、电功率（W）、电功率密度等； 辐射度学：光谱功率分布、辐射通量、光通量、光视效能、峰值波长、主波长等； 色度学：CIE色度坐标、相关色温（CCT）、MK-1（mred）、显色指数（CRI）、RGB颜色值等； 稳定性测试。测量夹具*定制夹具根据客户样品封装设计夹具*该产品或参数可根据客户需求灵活配置▌ 产品特点

SpectrumTEQ-EL 电致发光量子效率测量系统SpectrumTEQ-EL系列电致发光量子效率测量系统，可以针对发光器件的光电特性进行有效测量，系统搭配QE Pro光谱仪为业内公认旗舰系列，具有高信噪比、低杂散光等特性；同时，系统配有强大的测试软件，对话框式的软件操作界面让测量过程变得更为简单。 应用：无机电致发光有机电致发光分子薄膜EL器件 优势：体积小巧：便于灵活使用及运输原位测量：可放至手套箱内，实现原位测量结构稳定：设备无需频繁校准光谱仪型号QEPro/QE65Pro(可选) 光谱范围（nm）350-1100 信噪比1000:1 分辨率2.5nm(FWHM) 动态范围85000:1(QEPro单次采集) 25000:1(QE65Pro单次采集) AD位数18-bit(QEPro) 16-bit(QE65Pro) 积分球尺寸3.3" 1.5"涂层材料Sperctralon源表Keithley 2400

产品关键词：多通道电致器件稳定性测试、多通道电致器件寿命测试、电致发光、IVL、电致发光量子效率、量子效率、亮度、前向亮度、角度分辨、器件寿命、外量子效率、发光量子产率测量系统、多通道、电致发光器件老化系统、光谱功率分布（ λ）、光谱功率分布（ λ）、光通量、相关色温（CCT）、显色指数（CRI）、电功率密度▌ 产品简介多通道电致发光特性测量系统EL-Lab是东谱科技 HiOE 综合发光特性测量平台中的重要成员，与东谱科技的绝对法电致发光特性测量系统 HiYield 共同为行业提供了完善的电致发光的测量方案。该系统由一系列相应的分布测量组件组成，包括光电测量模块、亮度校准模块、光谱测量模块等。利用该系统组件的分布特性，可以灵活搭建适用于不同类型器件的测量系统。该系统可以便捷地扩展测量通道数量，且可以为不同的测试通道配备相同或者差异的测试功能，从而可以适应丰富的测量场景，如批量测量、手套箱测量、变温测量、老化测量等。▌ 产品特点□ 多通道批量测量；□ 可放进手套箱内测试；□ 支持长时间的多个器件的老化测试；□ 支持宽温度范围的变温测试；□ 全面的电致发光测量参数。关于测试通道：可灵活定制不同数量的测试通道和功能，如：■ 总测试通道：6 个■ IVL 测试通道：5 个■ 光谱测试通道：1 个■ 老化（稳定性）测试通道：5 个■ 变温测试通道：选配▌ 产品功能□ 发光效率参数：外量子效率、电流效率、功率效率等；□ 电学参数：电压（V）、电流（I）、电流密度（J）、电功率密度等；□ 辐射度学参数： 光谱功率分布、辐射通量、光视效能、主波长等 ；□ 光度学参数：亮度、光通量等；□ 色度学参数： CIE 色度坐标、相关色温（CCT）、MK-1、显色指数等 ；□ 器件老化参数：不同老化时间下的上述参数；□ 变温测量等。▌ 规格参数光电测量模块光谱测试模块波长范围350-1100 nm波长范围200-1100 nm峰值波长970 nm积分时间3.8 ms – 10 s灵敏度 0.725 A/W动态范围3.4 x 10 ^6 (system) 1300:1 for a single acquisition有源面积100 mm^2杂散光0.05% at 600 nm 0.10% at 435 nm上升/下降时间65 ns(632 nm, RL=50Ω , 5V)光学分辨率~1.5 nm(FWHM)噪声等效功率2.07x10-13 W/√Hz（970 nm, 5 V）源表暗电流600 nA (Max. 5V)参数电压范围-20 V~20 V；电流范围-120 mA~120 mA；分辨率 100 pA/0.1 mV结电容 375 pF (Typ. 5V)▌ 产品应用□ 量子点发光二极管（QLED）；□ 有机发光二极管（OLED）；□ 发光二极管（LED）；□ 钙钛矿发光二极管（PeLED）；□ 其它各种类型的电致发光器件。

瞬态电致发光模块 及推荐系统配置及功能整套包括: 成像光谱仪及冷冻CCD面阵检测器；单光子计数检测器；时间分辨多通道采集模块；真空液氮变温样品支架；积分球及器件夹具；常温样品支架；光激励用激光器；外加电场的电致发光驱动模块；标准发光光源；相关软件；以上功能模块可以根据需要取舍；选择需要的系统模块满足 光/电致发光 及 时间分辨测试（瞬态测试） 需要；电致发光光谱ELS电致发光效率QE时间分辨电致发光TREL外建偏压电场对发光寿命影响发光色度；时间分辨发射光谱TRPL/TRES瞬态电致发光模块EzTime-EL 主要技术指标1. 时间分辨区间：25ps-10s；2. 波长：350nm-1050nm；（依赖于配置）3. 电驱动脉宽20ns-1s可调区间；4. 电驱动电压 0-12V 步进0.1V；5. 外加电场延迟时间0-1000微秒可调；技术理解时间分辨的光致发光，可以了解材料的发光分子内部及分子间相互作用及能量转移效率，包括发光中心的空间间距； l 电致发光：发光对应开关电压，电压V-电流I关系；发光光谱；色坐标，发光效率QE；l 观察角度：采用高光谱模式，球面任意位置强度分布及发光光谱；l 时间分辨电致发光：发光器件对驱动电场的响应；发光衰减曲线；l 外建偏压电场：了解偏压对发光衰减的影响； l 真空和液氮低温环境：减少器件的气氛及温度干扰；

一、SpectrumTEQ-PL光致发光量子效率测量系统SpectrumTEQ-PL系列光致发光量子效率测量系统，针对器件的光致发光特性进行有效测量，可在手套箱内完成搭建，无需将样品取出，即可完成光致发光量子效率的测试。系统搭配QE Pro光谱仪为业内公认旗舰系列，信噪比高、杂散光低，动态范围大，适合不同波段和强度的激发光和发射光测量。同时，系统配有强大的测试软件，向导式的软件操作逻辑让测试过程变的简单，迅速。 测量参数 量子效率 量子效率随不同激发能量变化的曲线 辐射通量，光通量 发射光谱 亮度，色坐标 主波长 应用领域 无机光致发光 有机光致发光 EL器件封装前体 产品优势 体积小巧：便于灵活使用及运输 原位测量：可放至手套箱内，实现原位测量 结构稳定：设备无需频繁校准 产品参数：系统配置光谱仪型号QEPro/QE65Pro（可选）光谱范围（nm）350-1100信噪比1000:1 分辨率2.5nm(FWHM)动态范围85000：1（QEPro单次采集）；25000:1（QE65Pro单次采集）AD位数18-bit（QEPro）；16-bit（QE65Pro）积分球尺寸3.3"涂层材质Sperctralon激发光源365-880nm光纤耦合高功率LED；强度可调典型半峰全宽（FWHM)=14nm@405nm光纤芯径1000um（可更换其他芯径）校准灯型号HL-3P-INT-CAL功率5W（电功率）软件Ocean QY专用软件样品皿固/液/粉末专用样品皿 相关应用：光致发光和荧光量子效率计算 二、SpectrumTEQ-EL电致发光量子效率测量系统 SpectrumTEQ-EL系列电致发光量子效率测量系统，可以针对发光器件的光电特性进行有效测量，系统搭配的QEpro光谱仪为业内公认旗舰系列，具有信噪比、低杂散光等特性，可确保测量结果得准确性；同时，系统配有强大的测试软件，对话框式的软件操作界面让测量过程变得更为简单。 测量参数 量子效率 亮度 量子效率随电流密度的曲线 色坐标 辐射通量，光通量 主波长 应用领域 无机电致发光 有机电致发光 分子薄膜EL器件 产品优势 体积小巧：便于灵活使用及运输。 原位测量：可放至手套箱内，实现原位测量 流程化操作：设备无需频繁校准。 产品参数：系统配置配置方案　方案1 方案2光谱仪型号QEPro / QE65Pro（可选）光谱范围(nm)350-1100信噪比1000:01:00分辨率2.5 nm (FWHM)动态范围85000:1（QEPro单次采集）；25000:1（QE65Pro单次采集）AD位数18-bit（QEPro）；16-bit（QE65Pro）积分球尺寸3.3”1.5”材质Spectralon源表Keithley2400光纤芯径1000um（可更换其他芯径）校准灯角度2 Pi 型号HL-3-INT-CAL亮度50流明功率5W（电功率）无线遥控　通道数4无遥控软件SpectrumTEQ-EL专用软件 相关应用：荧光量子产率原理及应用

仪器简介：太阳能电池 电致发光成像检测仪根据客户的应用分为研发型（手动）和生产型（全自动），研发型适合太阳能电池研究实验室用，性价比高，稳定性好，价格适中。另外，根据客户的需要也可做成跟光致发光检测仪（PL Imaging system) 一体机。同时可扩展到反射率 mapping的功能，也可以为改进工艺提供有效的参考依据。 技术参数：-DC/Pulse electrical power source/meter-constant current/voltage operation-电压:-20V~+5V-电流:Max.30mA,1A,20A(客户可选)-多种电流范围主要特点：&bull 通过对太阳能电池EL检测，可检测出Micro crack,印刷／烧结缺陷，电致发光强度，热点 ，颜色缺陷分析，串联电阻（mapping)。。。等。&bull 交流 EL影像检查适用(顺方向/逆方向同时测定)&bull 高分辨率 CCD影像检查&bull 太阳能电池cell及大面积模组对应&bull 生产检查用及研发分析用等多种型号&bull Hardware/Sofrware/Jig 等Total Solution 提供&bull LBIC, 外观检查等其他综合检测功能

SpectrumTEQ-EL电致发光测试系统以模块化思路设计，特别适合手套箱内使用，使用业内旗舰级光谱仪，能够进行准确的量子效率，亮度，色度等测量，真正的实现了制备和测试同时进行。EL测试方案共有两种配置，分别适配不同的样品形貌，器件亮度和测试需求。搭配源表和软件，可以对器件进行更精确的四点法测量。方案一：集成化程度高，适配无线遥控自动化测试，3.3寸积分球更适合高亮度样品，可以根据器件定制专用夹具，且能进行PL扩展。方案二：高灵活度探针台方案，单点测试，小体积异形样品均适用，1.5寸积分球，可以测试低亮度样品，安装方便，小巧灵活。电致发光系统可以通过增加光致发光系统配件，实现电致发光和光致发光的两种功能，同样的，光致发光系统也可以通过定制夹具，实现两种功能。测量参数亮度色坐标量子效率主波长辐射通量量子效率随电流密度的曲线 应用领域无机电致发光有机电致发光分子薄膜EL器件 产品优势体积小巧：便于灵活使用及运输。原位测量：可放至手套箱内，实现原位测量流程化操作：设备无需频繁校准。产品参数

SpectrumTEQ-EL系列电致发光量子效率测量系统，可以针对发光器件的光电特性进行有效测量，系统搭配的QEpro光谱仪具有信噪比、低杂散光等特性，可确保测量结果得准确性；同时，系统配有强大的测试软件，对话框式的软件操作界面让测量过程变得更为简单。测量参数量子效率亮度量子效率随电流密度的曲线色坐标辐射通量，光通量峰值波长 应用领域无机电致发光有机电致发光分子薄膜EL器件 产品优势体积小巧：便于灵活使用及运输。原位测量：可放至手套箱内，实现原位测量流程化操作：设备无需频繁校准。产品参数 系统配置配置方案　方案1 方案2光谱仪型号QEPro / QE65Pro（可选）光谱范围(nm)350-1100信噪比1000:01:00分辨率2.5 nm (FWHM)动态范围85000:1（QEPro单次采集）；25000:1（QE65Pro单次采集）AD位数18-bit（QEPro）；16-bit（QE65Pro）积分球尺寸3.3”1.5”材质Spectralon源表Keithley2400光纤芯径1000um（可更换其他芯径）校准灯角度2 Pi 型号HL-3-INT-CAL亮度50 流明功率5W（电功率）无线遥控　通道数4无遥控软件SpectrumTEQ-EL专用软件注：对于医疗器械类产品，请先查证核实企业经营资质和医疗器械产品注册证情况

测量荧光量子效率，蓝光吸收比、激发光、荧光等的光谱和色坐标，可拓展成电致发光测量系统定制光致发光荧光量子效率测试系统是对发光材料的发光特性，发光效率等光学性能进行测试的系统，可以测薄膜，液体和粉末。产品优势体积小巧：便于灵活使用及运输。流程化操作：设备无需频繁校准。便携式、波长可定制的准直激发光源，与积分球的球口匹配，无需手动对准。测试参数荧光量子效率，蓝光吸收比 ，激发光、荧光等的光谱和色坐标 该系统可拓展成电致发光测试系统，可测试光度量（Lux, lum, Candela）,EQE,电参数等系统特点6英寸Spectraflect积分球， 球大小可定制配置样品夹具/比色皿，可测试薄膜，液体和粉末NIST可溯源的标准灯2Pi-1-INT-050, 已知350nm~1050nm下每1nm的绝对光谱辐射通量光谱仪CDS2600 ，更多光谱仪可选便携式、波长可定制的准直激发光源定制软件主要规格参数积分球直径：6inch激发光光斑大小：在7mm距离处，光斑面积直径不大于6mm积分球内部涂层：Spectraflect激发光波长：308nm, 365nm, 405nm, 455nm,535nm, 590nm， 740nm夹具比色皿夹具，薄片夹具软件定制软件，测试方法：直接法，AM法备注：积分球尺寸，开口，激发光波长等均接受定制

多通道发光器件寿命测试仪1 设备主机，包括： （1） 主控电脑 （2） 主机机箱 （3） 数据采集模块 （4） 测试控制模块（可拓展至 128 通道） （5） 测试机柜 （6） 配置 UPS，满足续航供电 （7） 搭配显示器、鼠标键盘等配件 2 高精密程控电源 （1） 电流范围： 10uA-10mA；电压范围： 0-20V（2） 可同时支持 8多个通道的发光器件的独立测试，每个通道可独立控制电流的输出，满足发光器件恒流下的寿命测试。 3 测试模块，包括： （1） 根据用户发光器件尺寸设计夹具，配置多套测试夹具， 可以放置于手套箱内测试； （2） 采用硅光电二极管实现对发光器件亮度的监测，亮度监测范围可选； （3） 支持底发光、倒装/正装器件测试。

水污染事件不仅造成了巨大的经济损失，而且造成了社会的不安定和生态环境的严重破坏。突发性水质污染事件已经成为我国用水安全和水环境质量的一个潜在威胁，因此实时监测水质状况是迫切，并且十分必要的。产品概述： GLP-DX型发光细菌法生物毒性测试仪是用于实验室的新一代生物急性毒性分析仪，是一种基于生物荧光传感技术的毒性检测系统，根据发光细菌在新陈代谢时发光强度的变化进行定性和定量检测。与传统的鱼类、水蚤和其它水生生物作为生物检测方法相比，发光细菌法简便、快速、灵敏、适应性强、重复性好、精度高、费用低、用途广，针对环境污染、紧急事故、安检及常规检测等目的而设计的水质毒性快速检测仪器，发光细菌法生物毒性测试仪可用于现场水中重金属、毒剂、神经毒剂、农药制剂等物质总体毒性检测。 符合国标“GB/T15441-1995水质急性毒性的测定—发光细菌法”和国际标准（ISO11348-3）。 应用行业： 生物污染、有毒化学物质、有毒有害废弃物、市政排水、雨水检测、钻井液和泥浆检测、采矿业、废水、土壤和水体检测、工业废水排放检测、工艺水检测、海水检测、医疗/制药产品检测、食品包装检测、个护用品和家用化学品检测、沉积物检测、雨水径流检测、固体样品检测、食品加工水检测； 检测原理： HED-DX型生物毒性检测仪执行双重功能：毒性测试和确定微生物污染；使用自然界中存在的发光菌进行毒性测试，这种细菌在正常的新陈代谢过程中伴随发光，如果置于有毒环境中，它们的细胞呼吸过程受到影响，造成发光量的减弱。HED-DX型的发光检测器测量发光菌暴露在有毒环境之前和之后的发光量，发光量的减少程度对应了毒性的强弱。其检测结果可与标准毒性物HgCl2或七水硫酸锌对照得出相应的毒性等级 仪器特点： 1、符合国家标准（GB/T154411995）及国际标准（ISO11348-3）； 2、对超过近3000种以上毒性化合物敏感的生物早期预警系统； 3、样品制备后15分钟内得到结果，快速、可靠、可再现； 4、检测结果和其他传统毒性分析方法高度相关，可应用于应急水体污染检测，帮助用户实时监控排水是否符合当地法规和排放标准； 5、使用硅光电倍增管，大幅提升检测灵敏度； 6、具有自主研发的生物毒性暗室自动升降检测装置，解决行业内开盖测试受强光影响的难题；同样的菌量，用我们仪器可以节省5倍的耗材成本； 7、便携性PVC工程箱设计，可外出携带现场检测； 8、7英寸超大显示触控屏幕，省去按键繁琐操作，更方便； 9、Android智能操作系统，更智能，更具人性化； 10、具有RJ45、WIFI、4G和蓝牙连接传输功能，可实现无线传输至相关监控、监管平台，实现数据的实时性，更符合监管部门的场景需求； 11、仪器内置6000mAH锂电池组，在外部断电或无供电情况下，可支撑连续工作8个小时以上； 12、一条曲线可做20个曲线浓度点，可随意选择曲线点是否参与整条曲线计算，无需手动记录，保证曲线值；（曲线浓度点可定制增加） 13、仪器内置ROM≥4GB，数据结果可储存8万条以上； 14、具备USB通讯接口，方便数据读取和导出，导出结果为Excel表格； 15、内置拼音输入法，可编辑中英文信息； 16、高速热敏打印机，检测完成可自动打印检测报告，检测报告附带二维码，方便扫描追溯； 17、仪器内置操作演示视频，点击主界面操作视频，即可自动播放，方便快捷，更易上手；18、检测历史查询功能，可选择开始结束时间调取往期检测数据；参数指标：检测方法发光细菌法检测器硅光电倍增管光谱范围300-1100nm菌种符合ISO11348 & GB/T15441-1995标准规定的菌种，包括费氏弧菌、明亮发光杆菌T3小种方法标准GB/T15441-1995 & ISO11348重复性样品3次重复测量，相对偏差小于1%灵 敏 度相当或优于鱼体96小时培养测定急性生物毒性试验法 测试时间样品制备后15分钟内得到结果显示结果检测值（mg/L）毒性提示（低毒、中毒、重毒、高毒、剧毒）按照标准要求显示打印设置样品名称、检测人员、检测地点、参比毒物操作环境存储温度 -10~50℃, 工作温度 +5~45℃相对湿度30-95%（25°C）数据存储80000条以上通讯RJ45、WIFI、4G、USB、蓝牙电池6000mAh锂电池连续工作时间8个小时以上供电电源220V/12V 交直流两用尺寸、重量420*330*175mm 5KG

主要功能和参数介绍：电致化学发光、电化学和化学发光分析分析对象包括：免疫、药物、氨基酸、多肽、蛋白质及核酸等相关领域包括：生命科学、疾病检测、新药研发、环境分析、食品安全等 相关技术参数：1.微弱光检测器（1）高灵敏度光电倍增管作为检测器，光子脉冲测量。（2）波长范围：300-650nm，185-850nm，230-920nm，根据需要可选配。（3）程控高压输出：负（ 0-1500）V，精度0.1V。 2.灵敏度和稳定性（1）采用自研10^-13W超微弱标准光源计量。（2）10^-13W微弱光源可以给出10000- 20000/秒的计数率。（3）长期稳定性优于1.5%（RSD，标准光源测试）。（4）化学发光系统测量精度：优于0.05％（5）信号噪声： 0.5 mV（P-P值，1×） 3.时间分辨数据采集（1）时间分辨率：10 μs（2）采集速率（积分时间）：0.01-10000 ms 任调。（3）采样速率：1-100,000次/秒（4）量程：8个数量级（5）增益：手动/自动，任意倍数（6）自动调零、自动减本底 4.样品杯及温控（1）到65 ℃，温控精度：0.5℃。（2）样品杯：石英材质、直径分别为15、26、36mm。（3）样品杯电极盖：聚四氟乙烯材质、电极孔定制开孔。 5.光谱测量及滤光片（选配）（1）自动光谱扫描或者手动更换，扫描时间可调，时间可设1-10秒。（2）滤光片规格：带铝合金保护框，外径15mm/58mm可选。（3）可见光波段：350，380，400，425，440，460，475，490，505，520，535，555，575，590，620nm。（选配）（4）全光谱波段：230，260，290，320，350，380，425，460，490，520，555，590，620，640，665，690，715，740，765，790，815 nm。（选配） 6.电化学方法循环伏安法（CV）、线性扫描伏安法（LSV）、阶梯波伏安法（SCV）、计时电流法（CA）、计时电量法（CC）、差分脉冲伏安法（DPV）、常规脉冲伏安法（NPV）、差分常规脉冲伏安法（DNPV）、方波伏安法（SWV）、电流-时间曲线（i-t）、控制电位电解库仑法（BE）、开路电压-时间曲线（OCPT）、多电位阶跃方法（STEP） 7.分析软件（1）跟计算机通信方式：USB，最大通信速率480Mbit/s，即插即用。（2）测量模式：电化学发光分析、化学发光分析和电化学分析，分别进入不同分析坐标体系。（3）双坐标同步显示、量程自动切换。（4）主界面实现对高压输出、温度控制、采集速率、电化学方法及参数等设置。具有自动减除本底计数，采集计数率量程自动变换，实时显示数据点动力曲线，实时显示采集时间、计数率、计数总和。（5）原始数据：EXCEL/TXT格式可选，自动或者手动保存。 8.分析平台可以显示为点状图、折线图、曲线图，坐标放大、缩小、平移，同时具有曲线叠加、曲线平滑、曲线拟合（指数、对数和多项式等）、高斯函数拟合（Gaussian）、劳伦兹函数拟合（Lorentz），傅里叶变换、手动寻峰、手动积分等，并能重新生成新的原始数据并保存。 9.电化学参数（1）电极： 2，3，4电极结构（2）最大电位范围：±10V（3）槽压：±13V（4）电位上升时间：0.5us（5）电位扫描范围：±10V（6）电位分辨率：电位扫描范围的0.0015%（7）电位测量精度：±0.5mV（8）测量电流范围：±10pA~±0.12A，9量程（9）测量电流分辨率：电流量程的0.0015%（10）电流测量精度：电流量程的1%（11）输入偏置电流：10pA（12）最快采样速率：每秒500,000数据点（13）最大数据长度：6,000,000数据点（14）CV、LSV扫描速率：0.001V/s~10,000V/s（15）CV、LSV电位增量：0.000305V（16）CV、LSV最小采样间隔：0.001V（17）CA和CC脉冲宽度：0.00001~1000sec（18）CA和CC最小采样间隔：10us（19）DPV和NPV脉冲宽度： 0.00001~1000sec（20）SWV频率：1Hz~100kHz（21）i-t的最小采样间隔：10us（22）自检：9档位内阻自检 10.样品室（1）样品室规格：长宽高：310×172×166 mm（2）上注射孔：1个，可用于手动注射加样。（3）电极及管路接口：4个，可以跟其他品牌电化学工作站配套使用。（4）液路接口：4个，可用于注射泵加样使用。（5）自动感应门：未盖好样品室门，无法开始测试，防止误操作损坏检测器。（6）自动光窗快门：检测开始，自动开启光窗快门，检测结束，则自动关闭光窗快门。紧急情况，自动关闭光窗快门，保护检测器。

Flex One 显微光致发光光谱仪欲了解更多信息请拨打：010-56370168-601 性能特点：● 一体化的光学调校——所有光学元件只需要在初次安装时进行调校，确保高效性和易用性● 简单易用的双光路设计——可随意在水平和垂直光路上进行切换，适用于各种常见的样品形态● 超宽光谱范围**——300nm-2200nm● 视频监视光路 ——可供精确调整测试点● 独有的发射光谱校正功能*——让光谱测量更精准且具有可比性 ● 多种激发波长可选**——325nm，405nm，442nm，473nm，532nm，633nm，785nm等● 自动mapping功能可选*——50mm×50mm测量区间，可定制特殊规格● 电致发光(EL)功能可选*——扩展选项● 显微拉曼光谱测量功能可选*——扩展选项● 超低温测量附件可选*——提供10K以下的超低温测量*选配项，请详细咨询； **需根据实际需要进行配置确定。产品简介： 光致发光(photoluminescence) 即PL，是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光，在半导体材料的发光特性测量应用中通常是用激光（波长如325nm、532nm、785nm 等）激发材料（如GaN、ZnO、GaAs 等）产生荧光，通过对其荧光光谱（即PL 谱）的测量，分析该材料的光学特性，如禁带宽度等。光致发光可以提供有关材料的结构、成分及环境原子排列的信息，是一种非破坏性的、高灵敏度的分析方法，因而在物理学、材料科学、化学及分子生物学等相关领域被广泛应用。传统的显微光致发光光谱仪都是采用标准的显微镜与荧光光谱仪的结合，但是传统的显微镜在材料的PL 谱测量中，存在很大的局限性，比如无法灵活的选择实验所需的激光器（特别对于UV 波段的激光器，没有足够适用的配件），无法方便的与超低温制冷机配合使用，采用光纤作为光收集装置时耦合效率太低等等问题，都是采用标准显微镜难以回避的问题。 北京卓立汉光仪器有限公司结合了公司十余年荧光光谱仪和光谱系统的设计经验和普遍用户的实际需求，推出了“Flex One( 微光）”系列显微光致发光光谱仪，有效的解决了上述问题，是目前市场上最具性价比的的显微PL 光谱测量的解决方案。( 产品图片仅供参考，以实际系统配置为准)系统组成● 激发光源部分：紫外-近红外波段各种波长激光器● 显微光路部分：优化设计的专用型显微光路● 光谱采集部分：影像校正光谱和高灵敏型科学级CCD或单点探测器和数据采集器● 样品台支架部分：xyz三维可调样品台（手动或自动）、超低温样品台参数规格表：主型号Flex One光谱范围300-2200nm光谱分辨率0.1nm激发光可选波长325nm，405nm，442nm，473nm，532nm，633nm，785nm等探测器类型制冷型CCD 2000×256制冷型InGaAs512×1制冷型InGaAs512×1有效范围300-1000nm800-1700nm800nm-2200nm空间分辨率100μm注*：以上为基本规格，详细规格依据不同配置的选择会有差异，详情请咨询！InGaN/GaN多量子阱的PL谱和EL谱测试 ● 样品提供：KingAbdullahUniversity ofScience and Technology提供的基于蓝宝石衬底MOCVD 生长的 InGaNGaN 量子阱● 测试条件：325nm激发，功率30mW● 光谱范围：340-700nm1. 光致发光(PL)光谱测量分别针对材料的正极( 红色) 和负极( 绿色) 测试得到光致发光光谱曲线如下，GaN 的本征发光峰365nm 附近以及黄带，InGaN 的发光峰475nm 附近。 2. 电致发光(EL)光谱测量将材料的正负极接到直流电源的正负极，电压加到2.5V 时可以有明显的蓝光发射，测量其电致发光光谱曲线如下（红色），峰值在475nm 附近。

太阳能光伏检测设备是一种用于检测太阳能光伏板和光伏电站性能和质量的仪器。其中，EL缺陷检测仪是其中的一种重要类型，它可以通过电致发光（EL）技术来检测光伏板中的缺陷和问题。EL缺陷检测仪利用晶体硅的电致发光原理，通过高分辨率的红外相机拍摄组件的近红外图像，获取并判定组件的缺陷。这种检测方式具有灵敏度高、检测速度快、结果直观形象等优点，是提升光伏组件品质的关键设备。通过EL缺陷检测仪的检测，可以全面掌握太阳电池内部问题，为改进生产工艺提供依据，提升产品质量。同时，可以对问题组件进行及时返修，尽可能的降低损失。除了EL缺陷检测仪，太阳能光伏检测设备还包括其他多种类型，例如IV曲线测试仪、光功率测试仪、环境模拟测试箱等。这些仪器可以对光伏板和光伏电站的各项性能指标进行全面检测，确保其性能和质量符合相关标准和要求。总之，太阳能光伏检测设备是确保光伏板和光伏电站性能和质量的重要工具，而EL缺陷检测仪则是其中的一种重要类型。通过使用这些仪器，可以有效地提高光伏产品的质量和可靠性，促进光伏产业的发展。

头发光泽度测试仪SAMBA HAIR SAMBA HAIR利用极化光成像技术从头束的反射光中分离出不同的成分，提取出对于研究和头发光泽度性能宣称有用的数据。系统由一个传感器主机和一个体外测试密封罩构成，发束被固定在一个可以滑入仪器箱体中的圆柱体梳理支架上。欢迎致电：010-62186640

光致发光(photoluminescence) 即PL，是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光，在半导体材料的发光特性测量应用中通常是用激光（波长如325nm、532nm、785nm 等）激发材料（如GaN、ZnO、GaAs 等）产生荧光，通过对其荧光光谱（即PL 谱）的测量，分析该材料的光学特性，如禁带宽度等。光致发光可以提供有关材料的结构、成分及环境原子排列的信息，是一种非破坏性的、高灵敏度的分析方法，因而在物理学、材料科学、化学及分子生物学等相关领域被广泛应用。 传统的显微光致发光光谱仪都是采用标准的显微镜与荧光光谱仪的结合，但是传统的显微镜在材料的PL 谱测量中，存在很大的局限性，比如无法灵活的选择实验所需的激光器（特别对于UV 波段的激光器，没有足够适用的配件），无法方便的与超低温制冷机配合使用，采用光纤作为光收集装置时耦合效率太低等等问题，都是采用标准显微镜难以回避的问题。 北京卓立汉光仪器有限公司结合了公司十余年荧光光谱仪和光谱系统的设计经验和普遍用户的实际需求，推出了“OmniPLMicroS”系列显微光致发光光谱仪，有效的解决了上述问题，是目前市场上最具性价比的的显微PL 光谱测量的解决方案。性能特点： 一体化的光学调校——所有光学元件只需要在初次安装时进行调校，确保高效性和易用 性 简单易用的双光路设计——可随意在水平和垂直光路上进行切换，适用于各种常见的样 品形态 超宽光谱范围**——200nm-1600nm 视频监视光路——可供精确调整测试点 独有的发射光谱校正功能*——让光谱测量更精准且具有可比性 多种激发波长可选**——325nm，405nm，442nm，473nm，532nm，633nm，785nm等 自动mapping功能可选*——50mm×50mm测量区间，可定制特殊规格 电致发光(EL)功能可选*——扩展选项 显微拉曼光谱测量功能可选*——扩展选项 超低温测量附件可选*——提供10K以下的超低温测量*选配项，请详细咨询；**需根据实际需要进行配置确定。参数规格表*应用:不同制冷温度下GaN材料的PL谱激发波长：325nm，功率：20mW，制冷机最低制冷温度：10K ZnO材料的PL谱: 激发波长：325nm ZnO 薄膜样品在382nm 处有一个特别强的荧光谱带，而在500 ～ 600nm 波段，有个弱的可见光荧光谱带。通过研究这些谱带，可以反映ZnO 表面态对荧光的影响以及晶型和缺陷信息。

仪器应用：丝网印刷电极的电致化学发光和电化学分析分析对象包括：免疫、药物、氨基酸、多肽、蛋白质及核酸等相关领域包括：生命科学、疾病检测、新药研发、环境分析、食品安全等 相关配套：标配丝印电极的电极材料：工作电极：C，对电极：C，参比电极:Ag/AgCl样品使用量：5-10μL可以提供丝印电极定制服务或者批量生产用户如提供丝印电极FPC座，可提供转接板安装定制服务通过电动平台，将丝印电极输送到样品暗室内，检测化学发光信号， 相关技术参数：1.超微弱光检测系统（1）检测器：下照式光电倍增管，光子脉冲测量。（2）检测下限：对10^-13W微弱光源可以给出10000- 20000/秒的计数率。（3）仪器长期稳定性：RSD≤1.5%，使用标准光源测试。（4）波长范围为：300-650 nm（可选配230-920nm）（5）仪器计数分析量程：覆盖五个数量级（6）采样间隔： 0.01-10000 ms，软件可任意设置。。（7）高压电压输出：负（0-1500 ）V，电流输出：2 mA。负高压输出值可通过软件设置，同时具有高压反馈功能，能够实现软件自动调控，精度在0.1V。 2.恒电位仪（1）电极： 2，3，4电极结构（2）最大电位范围：±10V（3）槽压：±13V（4）电位上升时间：0.5μs（5）电位扫描范围：±10V（6）电位分辨率：电位扫描范围的0.0015%（7）电位测量精度：±0.5mV（8）测量电流范围：±10pA~±0.25A，9量程（9）测量电流分辨率：电流量程的0.0015%（10）电流测量精度：电流量程的1%（11）输入偏置电流：10pA（12）最快采样速率：每秒500,000数据点（13）最大数据长度：6,000,000数据点（14）CV、LSV扫描速率：0.001V/s~10,000V/s（15）CV、LSV电位增量：0.000305V（16）CV、LSV最小采样间隔：0.001V（17）CA和CC脉冲宽度：0.00001~1000sec（18）CA和CC最小采样间隔：10μs（19）DPV和NPV脉冲宽度： 0.00001~1000sec（20）SWV频率：1Hz~100kHz（21）i-t的最小采样间隔：10μs（22）自检：9档位内阻自检（23）测量方法： 循环伏安法（CV）、线性扫描伏安法（LSV）、阶梯波伏安法（SCV）、计时电流法（CA）、计时电量法（CC）、差分脉冲伏安法（DPV）、常规脉冲伏安法（NPV）、差分常规脉冲伏安法（DNPV）、方波伏安法（SWV）、电流-时间曲线（i-t）、控制电位电解库仑法（BE）、开路电压-时间曲线（OCPT）、多电位阶跃方法（STEP） 3.印刷电极（1）电极规格：长宽≤60×16 mm，厚度≤0.3mm（2）电极座：FPC连接器，可更换，可按客户要求提供定制（3）电极运送平台：自动开启和关闭（3）电极基体材料：非必须透光 4.分析软件（1）通信方式：USB，最大通信速率480Mbit/s，即插即用。（2）测量模式：电化学发光分析、化学发光分析和电化学分析，分别进入不同分析坐标体系。（3）数据同步：发光和电化学双坐标同步显示、量程自动切换。（4）软件界面：高压输出、采集速率、电化学方法及参数等设置。具有自动减除本底计数，采集计数率量程自动变换，实时显示数据点动力曲线，实时显示采集时间、计数率、计数总和。（5）原始数据：EXCEL/TXT格式可选，自动或者手动保存。（6）分析平台：可以显示为点状图、折线图、曲线图，坐标放大、缩小、平移，同时具有曲线叠加、曲线平滑、曲线拟合（指数、对数和多项式等）、高斯函数拟合（Gaussian）、洛伦兹函数拟合（Lorentz），傅里叶变换、手动寻峰、手动积分等，并能重新生成新的原始数据并保存。

SpectrumTEQ-PL系列光致发光测试以模块化思路设计，适合手套箱内使用，也可以和电致发光方案共用部分器件，配合组成一套完整的测试方案，应对无论是OLED，QLED，PeLED发光器件，在器件制备的全流程中进行器件测试，测试系统经过可溯源的光源进行定标，能够进行准确的绝对量子产率，色度，和光谱测量。PL系统针对手套箱做了易用化的设计,采用升降台承载样品防止手持造成洒落，在保证操作方便的同时，保证了每次安装的位置都相同，降低了人为操作的误差，提高了整体测试过程中的结果可靠度。含激发光滤光片插槽，根据激发光波长搭配滤光片，防止激发光和样品发光重合对结果的影响。 测量参数亮度色坐标主波长量子效率量子效率随激发功率的曲线辐射通量，光通量 应用领域无机光致发光有机光致发光EL器件封装前体 产品优势体积小巧：便于灵活使用及运输原位测量：可放至手套箱内，实现原位测量结构稳定：设备无需频繁校准 产品参数

产品关键词：量子效率、绝对量子效率、光致发光量子效率、发光量子效率（PLQY）、内量子效率（IQE）、量子效率稳定性测试、激发波长依赖量子效率、蓝光吸收比、衰减比率、光谱功率分布 λ、辐射通量▌ 产品简介HiYield-PL光致发光特性测量系统是东谱科技HiOE综合发光特性测量平台中的重要成员，与东谱科技的绝对法电致发光特性测量系统 HiYield-EL（请垂询销售专员）共同为行业提供了完善的发光样品测量方案。HiYield-PL 系统由一系列相应的测量组件组成，包括激发光源、单色仪、光谱测量模块等。利用该系统组件的分布特性，可以灵活搭建适用于不同类型样品的测量系统，也可以适应丰富的测量场景，如手套箱测量等。HiYield-PL测量系统具备以下主要功能:1）采用PL法，结合积分球，准确测量发光样品的效率参数、辐射度参数、色度参数等；2）高灵敏度、高动态范围、高信噪比的测量；3）多种测量模式可供选择：单激发波长量子效率、激发波长依赖量子效率、量子效率稳定性测试；4）全自动一键测试。▌ 产品特点□ 灵活的模块化设计，可以适合各种测量场景； □ 专业的研究级算法加持，精准得到PLQY数据；□ 整机紧凑，可置于手套箱进行氮气氛围测试； □ 可选配自动进样系统，减少人为操作失误，提高测量重复性； □ 软件全自动流程化操作，一键测量所有参数。▌ 功能模块光致发光量子效率测量系统系统型号HiYield-PL规格配置参数激发光模块（氙灯）光源：150W 氙灯激发波长范围：250-700nm光学带宽：2nm-5 nm稳定性：3%激发波长电动控制狭缝电动控制快门电动控制激发光模块（LED）激发波长：365 nm、405 nm、450 nm、520 nm、635 nm等功率调节范围：0-100%激发功率：3.5 mW@365 nm, 5 mW@405 nm, 2.5 mW@450 nm稳定性：≤0.5%光谱测试模块波长范围：350-1100 nm；900-1700nm可选信噪比：1000：1积分时间：3.8 ms–10 s动态范围：3.4 x 106(system) 1300:1 for a single acquisition杂散光：0.05% @ 600 nm 0.10% @ 435 nm光学分辨率：~2.5 nm(FWHM)测试功能及参数测量模式单激发波长量子效率激发波长依赖量子效率量子效率稳定性测试功能参数类别效率参数：发光量子效率（PLQY）、内量子效率（IQE）、激发波长依赖量子效率、蓝光吸收比、衰减比率。辐射度学：光谱功率分布（λ）、辐射通量（Radiance）、光子数（Photons）、光通量（Lumen）、光视效能（K-value）、峰值波长（PeakWavelength）、中心波长（Central Wavelength）等。色度学：CIE色度坐标、相关色温（CCT）、MK-1（mred）、显色指数（CRI）、RGB颜色值等。衰减参数：PLQY-t、λ-t、Radiance-t、Lumen-t、K-t、CIE-t、CCT-t、CRI-t等。其它参数积分球尺寸1.5，3.3，5，6inch等积分球内涂层BaSO4、PTFE、Spectraflect、Spectralon等光纤芯径200μm, 600μm, 1000 μm夹具根据客户样品尺寸定制：比色皿夹具、薄片夹具、粉末载体等专用夹具。▌ 产品应用□ 有机金属复合物、荧光探针、染料敏化型PV材料、OLED材料、LED荧光粉、薄膜、粉末、液体等类型的光致发光样品。

LQ-100X-PL 光致发光与发光量子产率测试系统产品介绍： 精巧的光致发光量子产率量测系统1. 什么是 PL? PL (Photoluminescence, 光致发光)：当材料吸收光子后，电子跃迁至激发态，再回到低能态，将能量以光的形式发出。2. 什么是 PLQY?PLQY (Photoluminescence Quantum Yield, 光致发光量子产率) 计算方式为发出的光子数除以吸收的光子数。PLQY 是评价发光材料的重要指标，除了可以用来对材料进行初级分类的基本参数，且对于发光系统与其载子动力学的重要分析方法。LQ-100X-PL 如何测试 PLQY?3. 量测背景讯号量测样品计算样品的光致发光量子产率PL 与 PLQY 是研究材料表征的重要工具，目前材料测试面临挑战有以下三点：(1) 无法在手套箱内测试。(2) 无法进行原位时间光谱解析。(3) 红外波段扩展不易。LQ-100X-PL 针对上述的3大痛点，做出了应对。特色LQ-100X-PL 拥有以下几点优势，可应对材料测试面临的挑战：以紧凑的设计，尺寸大小 502.4mm(L) x 322.5mm(W) x 352mm(H)，搭配 4 吋外径 PTFE 材质的积分球，并且整合 NIST 追溯的校准，让手套箱整合 PL 与 PLQY 成为可能。利用先进的仪表控制程序，可以进行原位时间 PL 光谱解析，并且可产生 2D 与 3D 图表，说明用户可以更快地表征材料在原位时间的变化。系统光学设计可容易的做红外扩展，波长由1000 nm 至 1700 nm。粉末、溶液、薄膜样品都可兼容测试。规格标准配置：全向式收光系统 (100 mm 积分球)增强型多信道光谱仪测试系统光致发光量测模块 (365 nm LED 激发光源)量测软件工控机与屏幕选配规格：EL光谱整合测试套件 (源表/PMT模块/背探式样品盒/多通道手动切换盒/EL量测软件升级)红外光谱扩充模块 (900 – 1700 nm)手套箱整合套件激发光源LED光源 (波长可选：385 nm / 405 nm / 430 nm / 470 nm / 532 nm)Laser光源 (波长可选：375 nm / 405 nm / 532 nm)应用荧光粉 (Phosphor)发光二极管荧光材料 (LED fluorescent material)有机发光二极管荧光材料 (OLED fluorescent material)钙钛矿 (Perovskite)雷射染料 (Laser dies)钙钛矿量子点粉末与单晶 (Perovskite quantum dot powder and single crystal)PbS 量子点 (PbS quantum dot)实证PL 光谱显示LQ-100X-PL 系统可以针对多种材料进行 PL 与 PLQY 测试。步骤如下：测量背景讯号，如图中蓝色曲线，并可计算入射激发光子总数。测量样品光谱，如图中绿色曲线。计算得到发射光子总数。计算 1. 2. 步骤中，样品吸收光子率与吸收光子总数。由 1. 3. 相除可得到 PLQY。发射光谱分析LQ-100X-PL 软件可以针对 PL 发射光谱进行多种分析，以定量的表征材料的特性。包含：发光 CIE 色坐标CIE-xyzCIE-XYZCIE-uv色温色彩纯度原位时间解析 PL 光谱变化LQ-100X-PL 除了 PLQY 测量外，还可进行 PL 光谱随时间变化连续测试，并绘制成 2D 或 3D 显示图-称为原位时间解析 PL 光谱图。如图所示，钙钛矿的 PL 光谱随着时间增加的变化，可以波长半宽 (FWHM) 随之增加，并且产生中心波长 (Peak Lambda) 红移的现象。分析原位时间解析 PL 光谱图，对于新型材料如钙钛矿的稳定性或亚稳态特性，具有直接的的证据说服力。是材料表征的最佳工具。

瞬态光电流/光电压测试系统用于太阳能电池瞬态光电性能测量（载流子迁移率测量，瞬态光电流测量、光电压测量、瞬态光电性能测量、强度调制光电压谱IMVS、强度调制光电流谱IMPS），对于光电器件微观机理研究提供了有力的测试工具；多功能一体化高性能瞬态测试平台，不但可以测量器件的载流子迁移率、载流子寿命、载流子动力学过程、阻抗谱等，还可以对瞬态光电流谱TPC，瞬态光电压谱TPV、调制光电流谱IMPS、瞬态光电压谱IMVS等进行测量分析，全面分析器件中的载流子特性和瞬态过程。主要应用： * 无机半导体光电器件，有机半导体光电器件； * 有机太阳能电池OPV； * 钙钛矿太阳能电池Perovskite Solar Cell，钙钛矿LED； * 无机太阳能电池（例如：单晶硅、多晶硅、非晶硅等硅基太阳能电池）； * 染料敏化太阳能电池DSSC；主要测量功能 * 功率点MPP、FF、Voc、Isc、VS 光强，迁移率（I-V测试 & I-V-L测试，空间电荷限制电流SCLC法） * 载流子密度，载流子动力学过程（瞬态光电流法 TPC） * 载流子寿命，载流子符合动力学过程（瞬态光电压/瞬态开路电压法 TPV） * 载流子迁移率（暗注入瞬态法 DIT，单载流子器件&OLED） * 串联电阻，几何电容，RC时间（电压脉冲法 Pulse Voltage） * 参杂密度，电容率，串联电阻，载流子迁移率（暗态线性增加载流子瞬态法 Dark-CELIV） * 载流子迁移率，载流子密度（光照线性增加载流子瞬态法 Photo-CELIV） * 载流子复合过程，朗之万函数复合前因子（时间延迟线性增加载流子瞬态法 Delaytime-CELIV） * 不同工作点的载流子强度，载流子迁移率（注入线性增加载流子瞬态法 Injection-CELIV） * 几何电容，电容率（MIS线性增加载流子瞬态法 MIS-CELIV） * 陷阱强弱度，等效电路（阻抗谱测试 IS） * 迁移率，陷阱强弱度，电容，串联电阻（电容VS频率 C-f） * 内建电压，参杂浓度，注入势垒，几何电容（电容VS电压 C-V） * 陷阱分析（深能级瞬态谱DLTS） * 载流子传输时间分析（强度调制光电流谱 IMPS）； * 载流子复合时间、收集效率等分析（强度调制光光电压谱IMVS）； * 点亮电压（电流电压照度特性 I-V-L） * 发光寿命，载流子迁移率（瞬态电致发光法 TEL） *载流子迁移率（TEL瞬态电致发光，Photo-CELIV线性增压抽取载流子） *OLED/钙钛矿LED发光特性测量（发光器件测量）；测量技术： 1）IV/IVL特性：IV和IVL曲线是针对OLED和OPV标准的量测手法，通过曲线可以得到样品的电流电压特性关系、电流电压与光强的特性关系；*对于有机半导体材料可通过空间电荷限制电流SCLC分析Pmax、FF、Voc、Isc和迁移率等； 2）瞬态光电流（TPC）：研究载流子动力学过程和载流子密度等； 3）瞬态光电压（TPV）：研究载流子寿命和复合过程； 4) 双脉冲瞬态光电流（Double Transient Photocurrent）：分析电荷载流子俘获动态过程； 5) 暗注入瞬态法（Dark Injection）：对于单载流子器件和OLED，研究其载流子迁移率； 6) 电压脉冲法（Voltage Pulse）：串联电阻、几何电容和RC效应分析； 7) 暗态线性增压载流子瞬态法（Dark-CELIV）：参杂浓度、相对介电常数、串联电阻、电荷载流子迁移率测量； 8) 光照线性增压载流子瞬态法（Photo-CELIV）：提取有机太阳能电池片内载流子迁移率mobility，及载流子浓度分析等； 9) 时间延迟线性增压载流子瞬态法（Delaytime-CELIV）：复合动态过程分析和郎之万复合因子分析等； 10）注入线性增压载流子瞬态法（Injection-CELIV）：电荷载流子浓度和电荷载流子迁移率测量分析； 11）MIS-CELIV：几何电容和相对介电常数分析； 12）阻抗谱测量（Impedance Spectroscopy）：器件等效电路分析等； 13）电容频率测量法（C-f）: 迁移率、陷阱、几何电容和串联电阻测量； 14）电容电压测量法（C-V）：内建电压、参杂浓度和几何电容等测量； 15) 深能级瞬态谱（DLTS）：陷阱分析； 16）强度调制光电流谱（IMPS）：载流子传输时间分析； 17）强度调制光光电压谱（IMVS）：载流子复合时间、收集效率等分析； 18）瞬态电致发光测试（Transient Electroluminescence）：抽取OLED器件的载流子，磷光寿命测量；另外，我公司提供专业太阳能测试设备制造商为客户提供全套专业的设备： 1.太阳能电池光谱响应测试系统、IPCE测试系统、量子效率测试系统； 2.太阳能电池测量系统（光谱响应测试系统,IPCE测试系统,量子效率测试系统，I-V曲线测量系统），太阳能电池测试仪； 3.太阳能电池I-V曲线测量系统； 4.I-V 数据采集系统； 5.大面积太阳能模拟器/太阳光模拟器/全光谱太阳光模拟器； 6.太阳能电池分选机； 7.太阳能电池I-V测试仪； 8.分光辐射度计， 9.参考电池/标准电池， 10.太阳能模拟器均匀性图像分析系统； 11.有机太阳能电池载流子迁移率测量系统； 12.钙钛矿太阳能电池载流子迁移率测量系统； 13.太阳能电池少数载流子测量系统；