反射薄膜分析仪

现在在用PE的lambda 750S 紫外可见分光计，平常不是很熟悉，我主要做拉曼。现需要测试银纳米薄膜的多角度反射谱（银纳米薄膜贴在玻璃基片上）， 手头有两个附件，5度反射附件（图1）和一个可变角度的反射附件（15度到90度，图二），包含一个铝镜。 现遇到四个问题：1）我认为这两个都是相对反射附件，参比光路不需要放任何东西，不知对不对？2）我看了一个关于lambda 950的PPT，上面写道“1. 在样品位置放反射标准做自动调零 2.扫描样品 3.将测量结果与标准的反射率值相乘,得到真实的反射率 ”这句话有几个地方不懂，一是这个反射标准是铝镜么？二是如果只关心相对反射率，测量的结果是否可以直接用，不用“测量结果与标准的反射率值相乘”？三是自动调零是否就是做基线，二者有区别么？3）测得的光谱总是在850附近有突变，我知道这可能是换光源或换光栅，但是别人的图上多数没有这个，需要后期处理掉么？多数用什么软件？别家的仪器也有这个问题么？4）多角度反射谱测量时，由于没有偏振片，是否测量的结果在大角度时差的比较多？用上偏振片，是否能准确说明不同偏振光的多角度的反射谱。很抱歉，提了这么多问题，但是真的很想弄懂这些问题，谢谢了。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/03/201203131826_354409_2166985_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/03/201203131827_354410_2166985_3.jpg

[img=middle]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/07/201007062216_229098_1896367_3.jpg[/img]本来想测量半导体薄膜的透射谱从而获得超晶格对400-1700cm-1波段的吸收情况（还有一个对比片），谁知道这一段基本全被反射了！我要怎么样才能比较精确的获得它的吸收情况？（对比片的光谱和超晶格相比基本没有差别！）

我在玻璃基底上涂了一层太阳能热反射膜，想测它的可见到红外的反射率，就是想得到附件里的文献里的反射率图谱，可见到近红外，我用紫外-可见-近红外分光光度计测试反射率，得到的曲线跟文献中还类似；红外波段，我试过了FTIR的ATR附件，可变角度SR镜面反射附件，测出来的曲线都不理想，得到的都是透过率曲线，还有很强的吸收峰，仪器操作员也不太懂，给我转换成反射率并归一化后，也不理想。。我想得到的不是对样品化学成分的分析曲线，而是想看看样品对红外光的反射率，应该是反射光强/原始入射光强，我就纳闷了，这么简单的实验，竟然这么难。。。请各位大牛给指点，希望跟大家交流。我的qq：1557362947。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/06/201406211731_502684_2904588_3.jpg

薄膜综合物性分析仪（导热系数，电导率，电阻率，赛贝克系数，霍尔系数，迁移率 载流子浓度 发射率）同步测量苏需要的热物性参数，消除样品的几何尺寸，样品物质组分和热分布不均的影响，结果非常具有可靠性。可测量30nm-30μm的涂层与薄膜样品，样品面积约25mm²采用芯片式设计，样品于传感器紧密接触，构成一个缩小的热带发导热测量模型，可配置锁相放大器，以适应3ω法对样品的in-plance和cross-plance导热进行测量。可以适应不同材质样品。无论是金属，陶瓷，半导体等无机薄膜还是有机薄膜，都可以用TFA测量模块化设计， 根据需求，添加测量模块。1：瞬态导热测量磨坏：锁相放大器 配置3ω测量单元，可测平面，交叉面导热系数，比热等2: 霍尔效应测量模块： 配置磁场单元，可测霍尔电压，迁移率，载流子浓度。3 低温附件模块：-150°-400°C 样品两侧均安装LN2管道， 有利于样品两侧温度控制。导热系数：稳态热带法，3ω法。电阻于霍尔系数：范德堡法赛贝克：静态直流法http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/01/201601151255_581948_3060548_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/01/201601151255_581949_3060548_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/01/201601151255_581950_3060548_3.png

[color=#000000][b][color=#336666]会议报名请点击：[url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/malvernpanalytical2022/]微观丈量 膜力无限——马尔文帕纳科 X 射线分析技术应用于薄膜测量_网络讲堂_仪器信息网 (instrument.com.cn)[/url][/color][/b][/color][color=#336666][b]课程结束参与评价还可以拿电脑包和更多公仔！[/b][/color][img=,690,335]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/10/202210091444586535_7755_5138539_3.png!w690x335.jpg[/img][color=#000000]马尔文帕纳科联合仪器信息网将于10月14日举办微观丈量“膜”力无限——X 射线分析技术应用于薄膜测量主题活动，特邀高校资深应用专家及马尔文帕纳科技术专家分享薄膜表征技术与应用干货，全面展示马尔文帕纳科针对薄膜材料测量的解决方案。此外，活动直播间还特别设置了答疑及抽奖多轮福利环节。[/color][color=#000000][b]背景介绍：[/b][/color][color=#000000]薄膜，通常是指形成于基底之上、厚度在一微米或几微米以下的固态材料。薄膜材料广泛应用于不同的工业领域，譬如半导体、光学器件、汽车、新能源等诸多行业。沉积工艺是决定薄膜成分和结构的关键，最终影响薄膜的物性；对薄膜成分、厚度、微结构、取向等关键参数进行测量可以为薄膜沉积工艺的调整和优化提供依据，改善薄膜材料性能。[/color][color=#000000][/color][color=#000000][b]活动日程：[/b][/color][table][tr][td=1,1,99]时间 [/td][td=1,1,280]环节[/td][td=1,1,256]报告人[/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]14:00-14:10[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]开场致词，公司介绍与薄膜应用概述[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]程伟，[/color][color=#000000]马尔文帕纳科 先进材料行业销售经理[/color][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]14:10-14:50[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]X射线衍射仪在纳米多层薄膜表征中的应用[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]朱京涛，[/color][color=#000000]同济大学 教授[/color][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]14:50-15:00[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]答疑 & 第一轮抽奖[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]定制马尔文帕纳科公仔一对[/color][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]15:00-15:30[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]多晶薄膜应力和织构分析[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]王林，[/color][color=#000000]马尔文帕纳科 中国区XRD产品经理[/color][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]15:30-15:40[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]答疑 & 第二轮抽奖[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]定制午睡枕[/color][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]15:40-16:25[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]X射线衍射及X射线荧光分析技术在半导体薄膜领域的应用[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]钟明光，[/color][color=#000000]马尔文帕纳科 亚太区半导体销售经理[/color][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]16:25-16:35[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]答疑、课程评价有礼[/color][/td][td=1,1,261]电脑包、公仔1对[/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]16:35-16:55[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]X射线荧光光谱在涂层镀层分析中的应用[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]熊佳星，[/color][color=#000000]马尔文帕纳科 中国区XRF产品经理[/color][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]16:55-17:00[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]答疑 & 第三轮抽奖&结束语[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]倍思车载无线充电器[/color][/td][/tr][/table][b][/b][color=#000000][b]重要内容抢先看：[/b][/color][color=#000000]【同济大学，朱景涛教授】将分享X衍射仪在纳米多层薄膜表征中的应用，主要采用掠入射X射线反射、X射线衍射、X射线面内散射等测试方法，表征周期、非周期、梯度多层膜，以及膜层厚度、界面宽度、薄膜均匀性、结晶特性、粗糙度等信息；[/color][color=#000000]【马尔文帕纳科中国区，XRD产品经理 王林】将分享X射线衍射法测量多晶薄膜的残余应力和织构分析方法；【马尔文帕纳科亚太区，半导体销售经理 钟明光】将展示马尔文帕纳科在半导体薄膜领域的专业分析解决方案；【马尔文帕纳科中国区，XRF产品经理 熊佳星】将分享X射线荧光光谱在涂层镀层无损分析中的应用。[b][color=#336666]专题页面：[url=https://www.instrument.com.cn/topic/malvernpanalytical.html][font=宋体]https://www.instrument.com.cn/topic/malvernpanalytical.html[/font][/url][/color][/b][/color]

http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/08/201108112134_309901_2355867_3.jpg这是磁控溅射制备的氧化铝薄膜，厚度30-50nm， S1是制备样品，P1是经过750度处理后的样品，想对比变化，可是峰位怎么都对不上啊？？ 基底材料用的是氧化硅wafer， 请这里的大师兄们给帮忙分析一下吧？？？ 急啊，老板要我解释呢 小师妹先在这里谢谢大家了！！