金厚度

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金厚度相关的耗材

  • 等厚度薄膜制样工具
    specac_迷你等厚度薄膜制样套装等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定。根据热压制膜原理,所得到样品是纯样品,谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求,提供了3种等厚度薄膜制样工具。不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜,还可以将粒状、块状或板材等不规则形状的聚合物变成可以用光谱检测的薄膜。视频:http://v.youku.com/v_show/id_XNDg3ODI1OTc2.html 点击观看视频
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bondedwafers 。硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
  • 薄膜厚度测量系统配件
    薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪,可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器,可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪,比如标准吸收/透过率,反射率的测量,薄膜的测量,薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件:核心模块----光谱仪;外壳模块----各种精密精美的仪器外壳;工作面积模块----测量工作区域;光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件;测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型,不同光谱范围和光源,满足各种测量应用

金厚度相关的仪器

  • 菲希尔金镍厚度分析仪、金镍厚度测量仪、金镍分析仪 ——X射线荧光镀层测厚及材料分析仪菲希尔金镍测厚仪用途:XDLM-PCB 200型:首先PCB板将在仪器集成的激光点的协助下准确放置于样品台上。然后将样品台如抽屉般推入仪器内部。设计用途:能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪(EDXRF),用于测量微小结构上的薄镀层厚度和材料分析菲希尔金镍测厚仪技术参数:元素范围:从元素氯(17)到铀(92),最多可同时测定24种元素。形式设计:台式仪器,测量门底部开槽设计。测量方向:由上往下X射线管:带铍窗口的微聚焦钨管高压:三档:30KV,40KV,50KV孔径(准直器):0.2mm基本滤片:固定测量点尺寸:取决于测量距离和使用的孔径大小;视频窗口中显示的就是实际的测量点尺寸;最小测量点约为:0.16mm测量距离:0-10mm (0-0.4in),使用受专利保护的DCM测量距离补偿法X射线探测器:比例接收器菲希尔金镍测厚仪应用领域:钟表,首饰,眼镜 汽车及紧固件 卫浴五金连接器化学药水通信半导体封装测试电子元器件 PCB
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  • l 产品用途R51钢筋位置测定仪用于检测现有钢筋混凝土或新建钢筋混凝土内部钢筋直径、 位置、分布及钢筋的混凝土保护层厚度。l 依据规范 《混凝土中钢筋检测技术规范》JGJ/T152-2008l 性能特点 信号线质量好。采用日本太阳诱电信号线,线柔软、结实,使用寿命长; 仪器测量快速、准确。我公司钢筋仪测试速度快,能够对钢筋进行准确的定位,仪器测试的重复性和稳定性好,这是我公司钢筋仪的一个鲜明特点。 测试探头使用寿命长。我公司钢筋仪探头底面采用高质量耐磨层,探头的寿命比同类产品的寿命提高了数倍。 单探头测试。测试中无需更换探头,可进行双量程的切换,保证了测试精度和探测深度。 实时显示测量信息。测试结果直接显示在屏幕上,无需人工参与,大大提高了测试精度。 网格扫描模式和剖面扫描模式。可直观的显示钢筋的分布图。且扫描边界在扫描过程中自动切换,实现了无边界扫描。 三轮式的扫描系统。可确保的扫描路径的正确,保证了测试数据的正确。 功能强大的专业windows数据分析处理软件。以图形的方式表示测试结果,可以直接生成Word检测报告或将数据导入Excel,方便快捷。l 技术指标钢筋直径适应范围Ф6mm~Ф50mm保护层厚度范围第一量程:6mm~90mm;第二量程:7mm~190mm保护层厚度最大允许误差第一量程第二量程±16~597~79±260~6980~119±470~90120~200直径测量范围Ф6mm~Ф50mm直径测量最大允许误差±1档工作环境要求环境温度:-10℃~+40℃ ;相对湿度:90%RH电磁干扰:无强交变电磁场;不得长时间阳光 直射供电方式6节5号碱性电池,供电时间大于30小时l 标准配置主机探头信号线USB传输线 资料袋(内含光盘、用户手册、出厂合格证)电池仪器箱 l 主机的主要界面 厚度测试界面直径测试界面网格扫描测试剖面扫描测试l 数据处理软件机外软件具有强大的数据分析和处理功能:数据的USB口传输;可对数据进行统计分析并根据规范得出初步的结论;可生成多达6种的word报告;可将测试的网格数据、剖面数据以图示的形式直观的显示给用户;可将数据导入Excel,方便用户进行下一步分析处理。
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  • 卫生巾底膜厚度测量仪测量物体厚度的仪器适用于精确测量薄膜、复合薄膜、纸张、金属箔、硬件、纸板等硬软材料的厚度。分辨率为1um,广泛应用于薄膜、铝箔制造商、质量检验机构等单位。 技术特征彩色大液晶显示测试结果,以及每次测量值、统计值。触摸屏控制,无需计算机,主机可独立操作,可存储,查询测试结果,节省每次测试必须连接计算机的繁琐。仪器具有足够的密码保护等级(3级)。每个操作人员只有独特的登录名和密码组合才能进入仪器操作,以确保数据的完整性和标准化。配备微型打印机,快速打印每次测量结果和统计大值、小值、平均值。仪器自动保存多500组测试结果,随时检查打印。专业软件提供测试结果图形统计分析,准确直观地向用户展示测试结果。配备标准RS232接口,方便系统与计算机的外部连接和数据传输。系统程序具有ISP在线升级功能,可提供个性化服务。 技术参数 测量范围 0-10mm (其他量程可定制) 分辨率 1um 测量速度 10次/min(可调) 测量压力 20±0.5kPa(纸板) 17.5±1kPa(薄膜);100±1kPa(纸张) 接触面积 50mm² (薄膜),200mm² (纸张)1000mm² (纸板) 注:纸板、薄膜、纸张任选一种 机器尺寸 450mm×340mm×450mm (长宽高) 重 量 28Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 80%,无凝露 试验环境 无震动,无电磁干扰 工作电源 220V 50Hz 参照标准 GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817 产品配置 标准配置:主机、标准量块、微型打印机卫生巾底膜厚度测量仪此为广告
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  • 【求助】金膜厚度测量

    【求助】金膜厚度测量

    我不是很清楚哪个版块有技术可以解决这个问题,估计电镜也许可以,所以先发在这个版块,要是有其他版块有此项技术请告知一下,我再转发。谢谢!我们需要测量的金膜是溅射在玻璃基片上的。玻璃基片约0.5mm厚,大小约1cm*1cm。基片上有一层很薄很薄的铬,完全可以忽略,金膜溅射在铬上的,厚度约50nm左右,我们想比较准确测量一下其厚度,误差 1-3nm以内吧。误差5-10nm左右呢???示意图如下[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/03/200903231024_140067_1613111_3.jpg[/img]

  • 【讨论】塑料薄膜上的镀金层厚度

    塑料如PPS或PET(厚2微米)上的镀金层、镀镍层如何测量?本网上查到的测厚仪是用于:非磁性金属基体上非导电覆盖层采用涡流测厚法,而磁性金属基体上非导电覆盖层采用电磁感应测厚法,无法满足塑料膜上的磁性材料镀层厚度(镍)或非磁性材料镀层(金)厚度测量!先谢谢了!

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  • 岛津SPM石墨烯厚度测试——应对GB/T 40066—2021
    近期,国家标准化管理委员会发布了《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》,这一方面意味着石墨烯材料的产业化工作向前迈进了一步,另一方面也表明原子力显微镜开始逐步被标准化工作认可和接受。 为此,作为有着三十年原子力显微镜/扫描探针显微镜设计、开发、销售经验的岛津,按照新发布标准的流程进行了产品验证。结果表明,岛津的原子力显微镜/扫描探针显微镜产品完全符合标准的要求。 本次分析流程完全参照《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》附录A方法一实例进行。 01测试仪器:岛津SPM-9700HT02图像分析软件:WSxM 5.0 Develop 8.403图像处理过程经SPM-9700HT扫描获得的原始图像如下:利用WSxM软件Flatten功能处理后图像如下按标准利用软件的Profile功能选取不同位置三条轮廓线,轮廓线方向为SPM-9700HT快速扫描方向(X轴)。将3条轮廓线数据导出,利用EXCEL软件进行处理,分别拟合3条轮廓线的上台阶拟合直线和下台阶拟合直线。厚度计算:利用标准中的公式计算公式图片来源:《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》结论(1)、按照标准计算得知该片氧化石墨烯厚度为0.630±0.039nm,由此可推测这片氧化石墨烯为单层石墨烯。 (2)、岛津的原子力显微镜/扫描探针显微镜产品完全符合《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》的要求。
  • 科学家发现北半球气溶胶光学厚度近20年呈下降趋势
    近日,中科院合肥物质院刘东研究员团队和安徽理工大学唐超礼教授利用近20年卫星数据合作开展气溶胶光学厚度(AOD550)时空分布研究,研究发现:北半球气溶胶光学厚度近20年的长期变化趋势是呈小幅下降趋势,这种下降趋势在中国东南部尤其明显,且全球气溶胶光学厚度以北纬17°为对称轴分布,更多成果发表在中科院二区TOP期刊《Atmospheric Environment》上。   大气气溶胶光学厚度(AOD,550纳米波段的气溶胶光学厚度为AOD550),是表征大气浑浊程度的关键的物理量。它是天气、气候和地球能量收支平衡研究中关注的重要参数,也是确定气溶胶气候效应的重要因素。通常高的AOD值预示着气溶胶纵向积累的增长,因此导致了大气能见度的降低。   我国科学家分析了国际地球观测系统(EOS)中的TERRA和Aqua卫星上的中分辨率成像光谱仪(MODIS)探测的近20年AOD550数据,系统地获取了全球气溶胶光学厚度的全球分布和时空变化特性。   研究发现:一、北半球气溶胶光学厚度近20年的长期变化趋势是呈小幅下降趋势,这种下降趋势在中国东南部尤其明显(图1)。课题组研究人员利用经验正交函数分析法EOF(Empirical Orthogonal Function)对陆地年平均全球气溶胶光学厚度分析时发现,第一模态(图2)显示近20年来中国东南部、亚马逊平原、美国东部以及欧洲-地中海-里海-非洲东北部区域的气溶胶光学厚度呈下降趋势。与之相反,亚洲北部、印度半岛、阿拉伯半岛南部和东部呈明显上升趋势。   二、在中、低纬度地区,气溶胶光学厚度的全球分布并不是关于赤道对称的,而是向北偏移约17°(图3)。全球气溶胶光学厚度在北纬17°达到最大值,然后向南北两极随纬度先显著减小、后逐渐变化平稳。   但在同一纬度地区,气溶胶光学厚度随经度的变化是不同的,在中纬度地区,气溶胶光学厚度在北半球随经度变化明显,而在南半球随经度变化平缓。在高纬度地区,南半球气溶胶光学厚度随纬度的升高而增大,北半球气溶胶光学厚度随纬度的升高而减小,并且南半球的气溶胶光学厚度随纬度变化比北半球快。   三、气溶胶光学厚度南北半球均呈现季节性变化规律(图4和图5):北半球气溶胶光学厚度显著高于南半球,且最大值都出现在各自半球的春季,最小值都出现在各自半球的秋季。   此外,海洋和陆地上的气溶胶光学厚度季节变化差异也很明显。EOF的月平均海洋气溶胶光学厚度分析结果显示,海洋气溶胶主要是由陆地气溶胶来源主导(图6)。特别值得注意的是,南半球水域上的气溶胶光学厚度的增加与全球气候变化导致的南半球深林火灾频发有密切正相关联系,其增长速率为0.0009/年(通过了95%的置信水平下的显著性检验)。   四、陆地来源的沙尘气溶胶峰值出现在七月,谷值出现在一月,陆地生物质燃烧气溶胶峰值出现在九月,谷值在四至五月。另外,陆地EOF分析捕捉到了一些极端气溶胶事件(图2),如2014/2015年强厄尔尼诺在太平洋赤道附近持续发展引起的东南亚极端生物质燃烧事件。   此研究利用卫星长期观测数据获得了全球气溶胶光学厚度全球经纬度分布规律和长期时空变化特性。目前科学家们正在利用数据对其时空分布变化进行更深入的分析,可以预见,气溶胶光学厚度的研究工作将为全球气候的长期变化规律分析、建立和验证全球高空大气模式等工作提供重要参考。   该成果论文第一作者是田晓敏博士,通讯作者是唐超礼教授,研究工作得到了国家高技术项目和空间天气学国家重点实验室开放课题基金支持。图1. 2003至2020年的年平均AOD550的空间分布图2. 陆地AOD550经验正交函数分析的前六个模式的空间分布图3. 18年(2003~2021)年平均的AOD550(蓝色点线)和其标准差(品红色线棒)随纬度(a)和经度(b)的变化曲线图4. 2004, 2006, 2008, 2010, 2012, 2014, 2016, 2018, 2020年的季节平均AOD550空间分布图5. 2003.03至2021.02的季节平均AOD550,全球(a)、南半球(b)、北半球(c)、全球海洋(d)、南半球海洋(e)、北半球海洋(f)、全球陆地(j)、南半球陆地(h)和北半球陆地(i),北半球春季(绿色)、北半球夏季(红色)、北半球秋季(黄色)和北半球冬季(黑色)图6. 海洋上月平均AOD550的经验正交函数分析的前六个模式的空间分布
  • 高阻隔材料测试中厚度对渗透率的影响
    当天气变冷时,我们马上就知道多穿几层衣服会让我们更暖和。简单地说,如果你想要更多的保护,你就增加更多的厚度。同样的原理也适用于气体透过率测试。经验法则是,如果你将材料的厚度增加一倍,阻隔水平也会增加一倍,相应的透过率将减少一半。厚度对渗透率的影响有多大?很少有人去了解的是,较厚的样品渗透达到平衡所需的测试时间。典型的假设是,厚度加倍就需要测试时间加倍。这是不正确的。通常情况下,每次材料厚度增加一倍,渗透率达到平衡需要4倍的时间。下面是厚度1mil和5mil PET薄膜及其渗透率水平的比较。选择这些薄膜是因为它们在短时间内WVTR达到平衡。在此示例中,1mil PET薄膜的水蒸气透过率 (WVTR) 为10.1 g/(m2 x day)。达到该值95%所需的时间不到30分钟。5mil PET薄膜的WVTR为2.17 g/(m2 x day),需要近450分钟才能达到最终值的95%。我们通常看到,对于厚样品特别是在测量更高阻隔材料时,最后5%~10%的渗透率平衡可能需要相对较长的时间。通过测试得出结论当测试较厚材料的阻隔时,整体渗透率会成比例下降。材料厚度增加5倍,测得的WVTR从10.1 g/(m2 x day)下降至 2.17 g/(m2 x day)。 随着材料厚度的增加,需要更多的时间(超过5倍)来测试样品以达到平衡。如图所示,渗透率水平和达到平衡的时间都受到材料厚度的影响。当您优化测试条件(例如WVTR和CO2TR的流速)和测试持续时间以确保平衡值时,需要牢记这一点。适用于薄样品的标准测试设置可能会为厚样品产生不准确或过早的结果。
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