绿松石

这篇探讨了发现假宝石的方法，并说明了XRF分析仪如何能够准确地辨别真假宝石。如何发现假宝石：泄密的迹象和聪明的策略仿造珍贵的宝石和矿物，如：珍珠、钻石和绿松石，似乎相对来说较为容易。不过，假宝石总会有一些不同于真宝石的迹象可寻。例如，真正的钻石放在水中一般会下沉。当您在钻石上哈气时，也不会出现一层雾气。然而，这些在家快速识别假宝石的方法并非万无一失，而且对于某些类型的假宝石，还可能不起作用。一种更可靠的快速识破假宝石的方法是借助X射线荧光（XRF）技术。手持式XRF分析仪，如：Vanta系列分析仪，可以对从镁（Mg）到铀（U）的许多元素进行定量分析，获得低达百万分率（ppm）水平的元素含量。这类分析仪通过对可分析范围内的元素进行分析，如：锆、铜、钙或铝，在几秒钟之内就可以辨别出真假宝石。XRF分析仪可以识别的假宝石之一是立方氧化锆（CZ）。立方氧化锆（CZ）是二氧化锆（ZrO2）的结晶形式，通常用于仿造钻石。立方氧化锆和钻石：两者之间有什么差别？乍一看，立方氧化锆（CZ）看起来像一颗钻石。但是这种合成宝石更软、更轻，其边缘更圆润、更光滑。也更容易受到磨损。由于它与钻石的光学相似性，通常很难通过目测识别出这是一颗人造钻石。即使价格较为实惠的钻石每克拉也比立方氧化锆贵100倍左右，因此确保您所购买的钻石货真价实至关重要。例如，一克拉的立方氧化锆可能需要花费20美元左右。相比之下，同样是一克拉的钻石价格可能在1500美元以上。随着克拉值的增加，这种差异也会更大。因此在财务方面的影响也更大：一颗两克拉立方氧化锆人造钻石的零售价可能在30美元左右，而一颗2克拉的真正钻石至少可以卖到7000美元。好消息是：手持XRF分析仪可以在几秒钟内分辨出真假钻石。使用手持式XRF分析仪鉴别真假钻石为了说明XRF技术的工作原理，我们使用Vanta分析仪对一件真钻石首饰和一件人造钻石（立方氧化锆）首饰进行了检测，然后对结果进行定量分析。检测花了5分钟时间。结果是我们很快区分了哪件是真钻石，哪件是人造钻石。两种钻石虽然看起来相似，但是它们的化学成分大不相同。Vanta分析仪在首饰中没有发现锆元素。与此相反，对第二件首饰进行的化学分析发现锆（Zr）的成分占据了主导地位。真正的钻石只含碳元素，因此X射线荧光会对其视而不见。碳元素不在XRF技术可以探测的元素范围之内。虽然我们不能直接探测到钻石的成分，但是通过锆元素存在与否的信息，我们可以从潜在的真钻石中区分出已知的人造钻石（CZ）。钻石并不是一种被伪造的宝石。珍珠和绿松石是另外两种经常被仿造的矿物。您同样可以使用奥林巴斯的XRF技术来辨别这些矿物的真伪。真假绿松石：它们有什么区别？绿松石像钻石和珍珠一样，存在于自然界，却常常被仿造。真正的绿松石是一种含水的铜铝酸盐类矿物。因此，可以借助手持式XRF分析仪快速识别。我们使用Vanta XRF分析仪完成了另一项检测，以证明其辨别真假绿松石的性能。使用手持式XRF分析仪辨别真假绿松石结果表明，真正绿松石的铜（Cu）、磷（P）和铝（Al）的含量水平比假绿松石高出许多，这点与我们基于矿物学知识所预料的一样。我们看看下图中的样品和检测结果：古书墨迹印章印文、古青铜器古钱币、古陶瓷等成分鉴定古旧的书卷容易受到损坏，因此必须轻拿轻放。为了研究这些书卷的墨迹或纸张的成分，历史学家需要使用一些无损检测技术，例如：X射线荧光（XRF）。XRF技术可以提供有关材料化学成分的结果，从而有助于研究人员了解古代的书卷由什么材料制成，特别是古代墨水的成分。国内相关行业规范，如法庭科学印章印文鉴定意见规范（GA/T 1311-2016）和文件材料鉴定技术规范（GB∕T 37235-2018）等文推荐使用X射线荧光分析仪对纸张墨迹等进行成分分析。XRF是一种快速检测技术，可使研究人员快速扫查大面积区域。古老的墨迹，暗示着年代古书中墨迹和戳记的组成成分可能隐含着成书年代的线索。制造颜料的技术随着年代的更迭而发生着变化：在不同的年代，人们使用不同的材料制造墨水。通过检测墨水材料的化学成分，可以确定墨水是由什么材料制成，进而可以判断出墨水的生产年代。 各种墨水颜料的成分，会因不同产地和不同的制造方式，而各不相同。例如：朱砂（HgS）用于使蜡封和墨水呈现红色。在14世纪，人们更为普遍地使用人造朱砂。人造朱砂的制造过程需要使用钾，因此如果朱砂中存在钾，就说明成书的年代并不久远。此外，朱砂的价格昂贵，因此人们经常会用更便宜的颜料替代朱砂，如：铅丹（一种氧化铅）或氧化铁。这种情况即使在古书中也会出现。在古书中识别出这些较为便宜的颜料，有助于研究人员确定书卷的成书年代和质量。使用Vanta分析仪检测蜡封使用XRF分析仪可以完成的另一个有趣的应用是辨别已被擦除或改写的文本。在没有应用XRF技术之前，研究人员需要仔细缜密地扫查整个书卷的文本，以找到字迹被擦除的区域。而使用手持式XRF分析仪，则可以快速辨别出文本被擦除的区域，然后再集中精力研究被擦除的文本。当在羊皮纸上书写文本或印上戳记时，可能含有铁、汞或铅等元素的墨水，会深深地渗透到羊皮纸中。当文本被擦除时，甚至当文本随着时间的推移慢慢变浅、逐渐消失之后，这些元素依然会留存在纸中。研究人员使用手持式XRF分析仪可以快速扫查书卷，获得元素信息，以确定书中曾经写有文本的区域。确定了这些区域后，研究人员就可以更从容地使用一些更为复杂的实验室技术恢复这些被岁月掩藏的文本。 Vanta手持式XRF分析仪在比较真假宝石、真假金银首饰、古董字画、古青铜古钱币、古陶瓷溯源等方面展现了非凡的性能，其所提供的准确结果让您对古董文物的完整性和组成成分充满了信心。

超级检测仪 型号：X-8800 产品概述 依托二十六年的行业经验，自主创新、吸收消化国内外先进技术，我们设计制造出了超高精准度、重现性好、可靠性强、测量范围广、软件操作简便实用、外形美观大方的新一代高端可抽真空的能量色散X荧光光谱仪 此款仪器由多名高级工程师研发设计，采用独有的专利真空系统，使传统的能谱仪的功能得到了大大的提高，对于轻元素和含量很微量的元素的检测上了一个新台阶，除此之外还采用了高分辨率的美国原装进口X-123SDD全数字一体化探测器系统，多种滤光片和准直器自动切换系统，多重冷却与射线防护等系统组成，体现了美观与功能的完美组合，加上我们集二十五年的研发经验最新开发出来的强大的分析测试软件和独有的检测功能，打造了此款高端的多用途快速无损检测设备 性能特点极速检测 配置了美国Amptek公司原装进口的高计数率高分辨率的X-123SDD数字一体化探测器系统，使检测速度及精度都大幅度提高，超快速度得到精确的检测结果多重防辐射系统 仪器采用高强度钢板外壳并配置多层屏蔽结构，有效防止X射线外溢，保证使用者在绝对安全的环境下使用操作仪器；为了防止在测量过程中发生误操作，设计安装了光电快门装置，当样品舱盖打开时，控制系统实时控制高压电源进入待机模式，从源头上消除X射线，保证安全；仪器的控制系统和测量软件联动，开始测量，控制系统立即控制高压电源进入工作状态，当测量结束时，控制系统实时控制高压电源进入待机模式，不但从源头减少X射线的激发，还能有效延长部件的使用寿命抽真空系统 在X射线荧光检测技术中，微弱的荧光信号比较容易受到环境干扰，尤其是检测轻元素时更加明显，为了克服空气的干扰，最好的方法就是在真空环境下进行检测，我公司开发的智能化真空控制系统，采用独有的嵌入集成式方案，真空一体机的效果，不但在控制上更加智能化，而且在用户使用过程中也更加的方便快捷。真空系统在很短时间内即可达到所需的真空度，从而减小空气对测量的影响，提高轻元素的测量精度操作模式 一键式全自动模式：适合样品单一、检测工作量大的测量方式人工选择测试方法：适合样品多样、经常需要有针对性的修改测试方法的测量方式 计数率 计数率最高可到50万，超高的计数率可以在短时间内累计大量的计数，使得检测时间大大缩短测量精度 对于宝石中各类元素，钾K、铅Pb、铜Cu、镓Ga、钴Co等，相对误差可达10%以下，检出限最低可到1ppm； 对于贵金属，对黄金96%以上的试样，绝对误差可达0.04%自动计算不确定度：多次测量以后，系统会自动计算当前测量的不确定度，省去繁琐的人工计算过程检测范围 可对贵金属、宝石进行检测，尤其对和田玉、红宝石、蓝宝石、祖母绿等天然与合成、染色等有很好的区分辨别能力耗材 无任何耗材，绿色环保，对环境无二次污染预热 无需热机，开机即测 仪器功能1. 检测和田玉中的钾K溴Br碘I，判断是否可能是天然和田玉或染色和田玉，检测结果可达1ppm2. 检测红宝石蓝宝石中的镓Ga，判断是否可能是红宝石或合成红宝石3. 检测欧泊中的锆Zr，判断是否可能是天然欧泊或合成欧泊4. 检测珍珠中的锰Mn，判断是否可能是淡水珍珠或海水珍珠5. 检测尖晶石中的镁Mg、铝Al、锌Zn、铁Fe，判断是否可能是天然尖晶石或合成尖晶石6. 检测绿松石中的钴Co，判断是否可能是天然绿松石或染色绿松石7. 检测绿松石中的钾K，判断是否扎克利法处理8. 检测碧玺中的铜Cu，判断是否可能是帕拉依巴碧玺9. 检测祖母绿中的铷Rb和铯Cs，判断是否可能是天然祖母绿或合成祖母绿10. 加装样品室真空系统，可有效的迅速的使样品室达到真空状态，60秒即可达到-0.09Mpa以上。能更好的检测镁Mg铝Al硅Si硫S磷P等等轻元素11. 自动检测真空度，若真空度低于要求值，则真空泵自动启动，整个过程完全自动化12. 超大样品室，原石也可以检测13. 多种不同的滤波片，自动切换，实现不同应用的检测14. 同时还有贵金属检测功能，可以检测金银铂钯样品的含量15. 贵金属检测精度：Au精度 大于99.9% ：0.04%大于99% ：0.1%大于97% ：0.15%大于75% ：0.2%小于75% ：0.3%Pt精度 大于95% ：0.2%大于85% ：0.3%小于85% ：0.5%Ag精度 大于92.5% ：0.2%大于85% ：0.3%小于85% ：0.5%Pd精度 大于90% ：0.3%小于90% ：0.5% 16. 可检测贵金属中的有害元素铬Cr、铅Pb、镉Cd，汞Hg检出限最低可到10ppm17. 可准确检测区分黄金99.9%与99.99%18. 精确测量黄金、铂金当中铱元素的含量，测量范围0.5%-30%，检测精度可达0.2%左右，此技术行业领先19. 精确测量铂金中金元素的含量，检测精度可达0.2%左右 技术参数1.分析元素范围：铝（Al）13号元素——铀（U）92号元素2.元素分析含量范围：1ppm（百万分之一）到99.99%3.元素同时分析能力：35种元素4.测量样品型态：固体，粉末，液体5.探测器：美国Amptek公司原装进口高分辨率X-123SDD数字一体化X射线探测器系统（1） 探头类型：硅漂移探测器（SDD）（2） 探头尺寸：25mm2 ,（3） 硅晶体厚度：500μm（4） 探测器窗口：铍窗，12.5μm厚，可更好的检测轻元素（5） 探测器分辨率：分辨率为125eV6.激发源： X光管最大功率50W。电压范围为0-50KV；电流范围为0.01-1mA 7.高压电源：采用国内知名厂商威思曼的高压电源产品 （1）电压和电流从零至满量程连续可调：最大高压50KV，最大管电流1mA（2）电压负载调整率：0.01% （从空载到额定负载，电压变化为满量程的0.01 %）（3）电压线性调整率：±0.01%（输入电压变化±10%，设定值的变化范围为0.01%）（4）电流负载调整率：0.01% （从空载到额定负载，电压变化为满量程的0.01 %）（5）电流线性调整率：±0.01%（输入电压变化±10%，设定值的变化范围为0.01%）8.滤波系统：多种滤波片与测试方法相配合，最大限度的提高测量的精确性9.稳定性：稳定性高，相对标准偏差RSD 0.03%；8小时峰位漂移小于0.5道；无须预热，自动校正峰位；自动加载高压电流；自感应高压光电保护系统，有效延长仪器使用寿命和增强稳定性，10次连续测量的标准偏差小于0.05%10.散热系统：采用低功耗高效X光管，整机的热功率有效降低，对散热系统的要求也随之降低，在 仪器内部结构设计时，充分考虑到各发热部件的散热问题，采用散热风流管道的设计 概念，对各个部件的布局进行优化，既隔离了常温部件，又能通过空气流快速带走发热部件产生的热量11. 多重防辐射系统：（1）仪器采用高强度钢板外壳并配置多层屏蔽结构，有效防止X射线外溢，保证使用者在绝对安全的环境下使用操作仪器（2）为了防止在测量过程中发生打开舱盖的误操作，设计安装了光电快门装置，当样品舱盖打开时，控制系统实时控制高压电源进入待机模式，从源头上消除X射线，保证安全 （3）仪器的控制系统和测量软件联动，开始测量，控制系统立即控制高压电源进入工作状态，当测量结束时，控制系统实时控制高压电源进入待机模式，不但从源头减少X射线的激发，还能有效延长部件的使用寿命12.仪器用电保护：作为一款检测仪器，高安全性是很重要的因素，在仪器内部集成了过压保护，过流保护，过热保护等保护措施，保证在各种意外条件下，都能及时切断电源，保证使用者和使用环境的安全13. 仪器箱体结构：能量色散X射线荧光光谱仪属于精密检测仪器，仪器内部既有高达数万伏的高压电源，也有整机的多路开关式供电电源，对于微弱的X荧光信号，很容易受到干扰，根据我公司多年的开发经验，吸取当前先进的仪器设计理念，开发出了完全符合检测要求的仪器箱体结构，仪器采用分隔式箱体结构，充分考虑EMC设计，有效隔绝仪器内部各部件之间的EMI信号；另外考虑各部件的散热要求，设计预留了散热空气流通道，有效提高散热效果，在整机的EMC和仪器稳定性方面得到增强14. 认证：CE认证，ISO9001质量管理体系认证15.外形尺寸：705 （宽）X 530（深）X400（高）16.样品仓尺寸： 270mm（直径）X 150mm（高）17.重量：95Kg18. 工作环境：（1）室内使用（2）工作温度：18-35℃”（3）相对湿度：≦70%，无冷凝水（4）电 压：交流 220V±5V 50Hz，建议配置交流净化稳压电源 应用领域质检机构、科研院校、珠宝首饰零售及生产加工行业、贵金属有色金属行业、贵金属回收及提纯行业、冶金钢铁行业、化工及催化剂行业、地质矿产行业、水泥建材行业、废旧回收深加工行业、考古陶瓷行业、有毒有害物质及无卤元素件行业 仪器配置：X-123SDD 数字一体化X射线探测器系统风冷式X射线光管三次滤波及准直系统高压电源非接触光路控制系统综合电子控制系统嵌入式抽真空系统高效风冷散热系统低压供电系统

FT-104氧化铝松装密度测定仪,氟化铝松装密度仪FT-104氧化铝松装密度测定仪升级后增加如下功能：本品除配置定位角之外，配置调节平衡之水平仪装置，减少外部环境对测量结果的影响；量杯和漏斗有定位装置，从而保证漏斗和量杯的中心在一条直线上；并装配高度测量尺于支架上，有利于调节漏斗和量杯间的距离.依据标准符合GB/T 6609.25-2004《氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法松装密度的测定》技术规范。氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第25部分松装密度的测定,FT-104氧化铝松装密度测定仪技术参数1.漏斗：口内径100mm，锥度60o，出料口内经6mm。2. 量筒： 约200ml，内径与内高之比1：6，底座外径70mm3. ；材质：不锈钢材质瑞柯仪器公司生产相关配套产品推荐：FT-104A 氧化铝/氟化铝安息角测定仪；FT-104C氟化铝（氧化铝）流动性测定仪；FT-104氧化铝松装密度测定仪FT-104氧化铝松装密度测定仪要求松装密度测定装置，主要包括以下部分：1、 漏斗：上端入口直径100mm，锥度60°，颈长8mm，下端出料口内经6mm。2、 圆筒型容器：容积约200mL，内经与内高之比约1：6，内底为平面。3、 环形漏斗架：在有支柱的坚固的底台上安装固定漏斗的环形架，长螺丝将环形架固定在支柱上，并可自由调节。将漏斗装在高出圆筒型容器预定的水平面上。 瑞柯仪器提示：本保证卡保证壹年，保证期间内，如因品质不良，或制造之故障，可优待免费修理。（一） 荷重感应器、位移器、电磁开关，恕无法在保证期围内。（二） 遇下列情形时的收成本材料费。① 使用不当致机器发生故障或损害。② 故障是由他厂牌拼装而形成之损害时。③非本公司服务员修理，拆装导致故障时。（三） 下列情况时，恕不保证。①因天灾或其他不可抗力之事故，而导致之故障或损害。②由于使用错误或改装，致机器损者。③安装后移动或运送所发生之故障。（四） 如保证书遗失，保证期限以该产品出厂日期起保证壹年。