激光共焦显微镜

[ 产品简介 ] 蔡司激光共聚焦显微镜LSM 900 ，用于材料的三维微观结构和表面形貌的表征，具备光学显微镜的常规观察模式的同时也能够对样品进行三维表面形貌表征，同时也能够与扫描电镜进行关联显微分析，实现样品的多尺度和多维度表征。是实验室和检测平台用于表面形貌分析的理想的综合型解决方案。[ 产品特点 ]&bull 横向分辨率为120nm，轴向分辨率为10nm&bull 灵活的成像方式，宽场光学显微镜的观察方式（明场，暗场，偏光，荧光，微分干涉）以及共聚焦成像方式（表面形貌和荧光3D）&bull 向导式工作流程使得操作简单快捷&bull 关联显微镜成像分析，可与蔡司其他显微镜进行关联成像，实现样品的多尺度和多维度原位分析[ 应用领域 ]&bull 材料性能表征&bull 表面粗糙度分析&bull 金相研究&bull 涂层厚度测量&bull 岩石研究和岩相分析&bull 生物材料和医学应用流体通道（颜色编码高度图），10X物镜磨损实验后金属表面磨损体积测量

RTS系列拉曼光谱仪RTS-II多功能激光共聚焦显微拉曼光谱系统RTS-II 多功能激光共聚焦显微拉曼光谱系统，基于新一代显微共焦技术，具有良好扩展性，可根据需求拓展为以拉曼为主要功能的显微光谱工作站，是您科学研究的最佳选择 ！ 采用未经任何改造的科研级正置Leica显微镜，可保留显微镜一切功能 采用紧凑稳定的拉曼光路，减小光程，提高系统稳定度和重复性 内置532,638,785常用激光器，激光光路固定无需调节，可外置扩展其他激光器 采用最新的四光栅光谱仪，专利的自动聚焦，在轴扫描等多项最新技术 采用深制冷的拉曼专用光谱CCD相机，峰值量子效率QE90%。并可扩展EMCCD，ICCD，SCMOS， InGaAs阵列，PMT等探测器，扩展系统功能RTS-II多功能激光共聚焦显微拉曼光谱系统功能扩展： 显微共振拉曼可在标准RTS-II 系统基础上，通过升级可调谐的CW 激光器（调谐范围275- 1100nm），升级光谱仪为三级联谱仪，可实现真正意义上的可调谐显微共振拉曼 时间分辨光谱系统可扩展与低重频皮秒及纳秒激光器+ICCD 联用，实现微区时间分辨荧光光谱及瞬态拉曼功能利用ICCD 独有的fast kinectic 功能，可以对不可重复的现象进行最快25000 帧/ 秒的采集速度，获得约40us 的时间分辨率 宽场显微光谱由于显微镜可以保留所有原始功能，因此只要在标准的RTS-II 系统上升级即可实现如暗场散射，微区透射反射谱等功能。TCSPC 系统可扩展与可调谐超连续白光激光或高重频皮秒/ 飞秒激光联用，实现微区荧光寿命及FLIM定制类服务开放式显微镜，正置+ 倒置显微镜利用倒置显微镜的无限远光路，可以实现正置和倒置共用同一个光路可以在标准倒置显微镜的基础上升级正置部分，做到双向激发双向收集，适用于光波导传输特性对的研究多功能激光共聚焦显微拉曼光谱系统升级服务开放式的设计可以满足基于客户的显微镜升级为RTS-II 的需求开放式的设计可以满足基于客户的光谱仪升级为RTS-II 的需求RTS-mini 一体式拉曼机顶盒RTS-mini 是我司最新研发的光纤耦合的共聚焦拉曼系统。与RTS-II 共享光谱仪配置， 采用激光器内置，光纤耦合入光谱仪的方式，提高系统的灵活性。并可与样品无法移动的实验环境，如低温探针台，DSC 等能极其便利的耦合起来。小巧的体积可用于手套箱，工业在线监测等应用。另外由于配置了标准的接口，可与任何主流正置显微镜搭配，做共聚焦显微升级，可获得同样的性能。测试实例：硅样品， 减背底的三阶峰拉曼光谱图，计算信噪比：62.9：1 测试实例：硫样品； 测试条件：镜头下激光功率；10mw，积分时间，0.1s

仪器简介：北京德华上海公司提供相关全能型纳米表面形貌、三维轮廓测量、粗糙度平面度等多款样机演示、客户做样并根据样品效果使具体配置达到最佳性价比，欢迎咨询沟通及技术交流；相关简介：http://oecsh.cn/oecsh/2010-04-11/1270945380d344.html技术参数：德国CFP激光共聚焦显微镜测量行程Z:1000µ m测量距离:4mm可测量抛光镜头测量频率:max.1000Hz敏感及软质材料分辨率Z:20nm适于反光不同的点分辨率XY:1µ m低反射率快速测量测量角度:approx.90° ± 25° *1测量光源:semiconductorlaser,660nm,class2*2主要特点：可测量抛光光学镜头测量敏感及软质材料适于反光率不同的反光点低反射率的材料也可快速测量

仪器简介：来自奥林巴斯的3D测量激光显微镜OLS4100广泛应用于不同行业的质量控制，研究和开发过程，它在激光显微领域树立了全新的标准。该产品不但可以让测量更加快速、简单，而且可以拍摄到画质更高的影像，大大突破了激光显微镜的界限。 特征及优势：· 非接触式、无损、快速成像和测量· 405nm短波长激光和更高数值孔径的物镜，其平面（XY方向）分辨达0.12&mu m，高度（Z方向）分辨率达10nm· 采用双共焦系统，结合高灵敏度的探测器，具有不同反射率材料的样品也可以获得鲜明的影像· 全新的多层模式可实现透明样品表面的观测和测量，而且可以对多层透明样品的各层进行分析和厚度测量。· 更多的测量类型，7种测量模式提供更多的选择· 拥有DIC激光模式（激光微分干涉），能够得到接近电子显微镜分辨率的影像，实现对微小凹凸的立体观察· 具有宏观图功能，让你明白&ldquo 始终身在何处&rdquo · 图像拼接功能，不但可以形成更大范围的宏观图，还可以通过此功能手动指定所需的影像区域· 操作更加简单，可一键操作创建报表· 内置由螺旋弹簧和阻尼橡胶组成的&ldquo 复合减震机构&rdquo 一稳定操作环境，可在普通的桌子上进行测量作业，无需专用的防震平台· 是业界首次保证&ldquo 正确性&rdquo 和&ldquo 重复性&rdquo 的激光扫描显微镜应用实例半导体1、晶圆突起 2、导光板 3、芯片焊点 4、导光板激光点电子元件/MEMS1、光掩版 2、微透镜 3、柔性电路板接触点 4、MEMS原材料/金属加工1、电镀金刚石工具 2、碳精棒 3、极细管 4、胶带5、砂纸#400（3D） 6、砂纸#400（2D） 7、致密织物（3D）

Nanoscope Systems NS3800三维激光共聚焦显微镜NS-3800是一种可靠的三维(3D)测量高速共焦激光扫描显微镜(CLSM)。通过快速光学扫描模块和信号处理算法实现实时共焦显微图像。在测量和检测微观三维结构，如半导体晶片，FPD产品，MEMS设备，玻璃基板，材料表面等方面提供多样化的解决方案。Features & Benefits（性能及优势）：高分辨无损伤光学3D测量 自动倾斜补偿实时共焦成像 简单的数据分析模式多种光学变焦 双Z扫描大范围拼接 半透明基材的特征检测实时CCD明场和共聚焦成像 无样品准备自动聚焦Application field（应用领域）：NS-3500是测量低维材料的有前途的解决方案。可测量微米和亚微米结构的高度，宽度，角度，面积和体积，例如-半导体:IC图形，凹凸高度，线圈高度，缺陷检测，CMP工艺- FPD产品:触摸屏屏幕检测，ITO图案，LCD柱间距高度- MEMS器件:结构三维轮廓，表面粗糙度，MEMS图形-玻璃表面:薄膜太阳能电池，太阳能电池纹理，激光图案-材料研究:模具表面检测，粗糙度，裂纹分析Dimension(尺寸）：Specification (规格）：ModelMicroscope NS-3800备注物镜倍率10x20x50x100x观察/ 测量范围 水平 (H): μm1400700280140垂直 (V): μm1050525210105工作范围: mm16.53.10.540.3数值孔径(N.A.)0.300.460.800.95光学变焦x1 to x6总放大倍率178x to 26700x观察/测量光学系统 Pinhole共聚焦光学系统高度测量测量扫描范围Fine scan : 100 μm (and/or) Long scan : 7 mm [NS-3800L]注 1Fine scan : 400 μm (and/or) Long scan : 10 mm [NS-3800D]Fine scan : 200 μm (and/or) Long scan : 10 mm [NS-3800T]显示分辨率0.001 μm重复率 σ0.010 μm注 2宽度测量显示分辨率0.001 μm重复率 3σ0.02 μm注 3帧记忆像素1024x768, 1024x384, 1024x192, 1024x96单色图像12 bit彩色图像8-bit for RGB each高度测量16 bit帧速率表面扫描20 Hz to 160 Hz线扫描~8 kHz自动功能自动增益激光共焦测量光源波长405nm输出~2mW激光等级Class 3b激光接收元件PMT (光电倍增管)光学观察光源灯10W LED光学观察照相机成像元件1/2” 彩色图像 CCD 传感器记录分辨率640x480自动调整增益, 快门速度, White balance数据处理单元PC电源电压100 to 240 VAC, 50/60 Hz电流500 VA max.重量显微镜Approx. ~50 kg(Measuring head unit : ~12 kg)控制器~8 kg隔振系统气浮隔振系统Option

提供全新的3D形貌分析方案卓越的测量更大的样品范围轻松检测85° 尖锐角有尖锐角的样品（剃刀）采用了有着高N.A. 的专用物镜和专用光学系统（能最大限度发挥405 nm 激光性能），LEXT OLS4100 可以精确地测量一直以来无法测量的有尖锐角的样品。这有利于粗糙度的测量。LEXT 专用物镜使用专用物镜时的最小象差 高度分辨率10 nm，轻松测量微小轮廓(MPLAPON50XLEXT)高度差标准 类型B, PTB-5, Institut fü r Mikroelektronik, Germany, 6 nm 高度测量中的检测由于采用405 nm 的短波长激光和更高数值孔径的物镜，OLS4100 达到了0.12 &mu m 的平面分辨率。因此，可以对样品的表面进行亚微米的测量。结合高精度的0.8 nm 的光栅读取能力和软件算法，例如奥林巴斯开创的I-Z 曲线（请参阅第23 页），OLS4100 可以分辨出10 nm 的高度差。 克服反射率的差异钻石电镀工具物镜：MPLAPON50XLEXTOLS4100 采用了双共焦系统，结合高灵敏度的探测器，那些具有不同反射率材料的样品，也能在OLS4100 上获得鲜明的影像。 适用于透明层多层模式LEXT OLS4100 全新的多层模式则可以识别多层样品各层上反射光强度的峰值区域，并将各层设为焦点，这样即可实现对透明样品上表面的观察和测量，而且也可以对多层样品的各层进行分析和厚度测量。观察／测量透明材料的各个层多层模式可实现对透明样品的顶部的透明层进行观察和测量。即使在玻璃基片上覆有一层透明树脂层，也可测量出各层的形状和粗糙度以及表面覆膜的厚度。 工业领域首创* 的两项性能保证 正确性和重复性通常表示测量仪器的测量精度的，有2 个指标："正确性"，即测量值与真正值的接近程度，和"重复性"，即多次测量值的偏差程度。OLS4100 是业界首次同时保证了"正确性"和"重复性"的激光扫描显微镜。 追溯体系OLS4100 从物镜制造到成品全部在奥林巴斯工厂内完成，并按照一系列严格的标准进行全面的检验并确保产品的质量后方才出厂 。交付产品时，由选拔出来的技术人员，在实际使用环境中执行校正和最后的调整。 更多的测量类型高度测量可以测量轮廓截面上任意两点之间的高低差异。轮廓测量也同样可用表面粗糙度测量可以测量线粗糙度，以及平面整体的面粗糙度。 面积／体积测量根据设置在轮廓截面上的任意阈值，可以测量其上部或下部的体积。粒子测量 (选购件)可以通过分离功能使粒子自动分离，设置阈值，根据ROI 设置检测范围。 几何测量可以测量影像上任意两点之间的距离。还可以测量任意区域的面积。膜厚测量 (选购件)可以根据测出的对焦位置，测量透明介质的膜厚。 自动寻边测量 (选购件)可以自动寻边，测量线宽和圆，减少人为的测量误差。 OLYMPUS Stream (选购件)工作流程解决方案，实现了优秀的图像分析性能对于粒子尺寸分析或非金属夹杂物级别的测量，可以使用OLYMPUS Stream 显微图像软件，该软件可以从OLS4100 直接上传。想了解更多OLYMPUS Stream相关内容 更精准的粗糙度测量LEXT OLS4100 参数作为表面粗糙度测量的新标准，奥林巴斯开发了LEXT OLS4100。对LEXT OLS4100 进行了与接触式表面粗糙度测量仪同样的校正，并在LEXT OLS4100 上配置了几乎所有必要的粗糙度参数和滤镜。这样，对于使用接触式表面粗糙度测量仪的用户来说，能得到操作性和互换性良好的输出结果。另外，还搭载了粗糙度专用模式，可以用自动拼接功能测量样品表面直线距离最长为100 mm 的粗糙度。 OLS4100 具有与接触式表面粗糙度测量仪相同的表面轮廓参数，因此具有相互兼容的操作性和测量结果。截面曲线Pp, Pv, Pz, Pc, Pt, Pa, Pq, Psk, Pku, Psm, P&Delta q, Pmr(c), P&delta c, Pmr粗糙度曲线Rp, Rv, Rz, Rc, Rt, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rsm, R&Delta q, Rmr(c),R&delta c, Rmr, RZJIS, Ra75波动曲线Wp, Wv, Wz, Wc, Wt, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wsm, W&Delta q, Wmr(c), W&delta c, Wmr负荷曲线Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2基本图形R, Rx, AR, W, Wx, AW, Wte粗糙度 (JIS1994)Ra(JIS1994), Ry, Rz(JIS1994), Sm, S, tp其他R3z, P3z, PeakCount适应下一代参数OLS4100 具有符合ISO25178 的粗糙度（3D）参数。通过评估平面区域，可以进行高可靠性的分析。振幅参数Sq, Ssk, Sku, Sp, Sv, Sz, Sa功能参数Smr(c), Sdc(mr), Sk, Spk, Svk, SMr1, SMr2, Sxp体积参数Vv(p), Vvv, Vvc, Vm(p), Vmp, Vmc横向参数Sal, Str&bull LEXT OLS4100 与表面粗糙度测量仪的结果相兼容。 微细粗糙度使用接触式表面粗糙度测量仪，无法测量比探针的针尖直径更细微的表面轮廓。而OLS4100 有着微小的激光光斑直径，所以能够对微细形状进行高分辨率的粗糙度测量。 非接触式测量使用接触式表面粗糙度测量仪测量柔软的样品时，样品容易受到探针损伤而变形。另外，带有粘性的样品会粘在探针上，无法得到正确的测量结果。而非接触式的激光显微镜OLS4100，不会影响样品的表面状态，可以准确的测量样品的表面粗糙度。高分子薄膜3D 影像（上）和粗糙度测量结果（左）柔软的样品带有粘性的样品 微米级特征的测量使用接触式表面粗糙度测量仪，其探针无法进入微米级的区域，所以不能对这些区域的特征进行测量。而OLS4100 可以正确定位，能轻松测量出特定微小区域的粗糙度。焊线 高画质影像 清晰鲜明的3D 彩色影像三种类型的综合影像真彩3D 影像LEXT OLS4100 可以同时获取三种不同类型的影像信息：真彩3D 影像、激光全焦点3D 影像和高度信息影像。激光全焦点3D 影像高度信息影像 再现自然色OLS4100 采用了白色的LED 光源和高色彩保真度的CCD 照相装置以生成清晰、色彩自然的影像，所得影像可以与高级的光学显微镜相媲美。2D 彩色影像（纸张上的墨点、物镜20x）3D 彩色影像（纸张上的墨点、物镜20x） 更加真实地再现表面, 激光DIC（激光微分干涉）微分干涉观察是超越了激光显微镜的分辨率、可以观察到纳米以下微小表面轮廓的观察方法。LEXT OLS4100 通过安装在物镜上方的DIC 分光棱镜，将照明光横向分为两束光线来照射样品。获取由样品直接反射回来的两束光线的差，生成明暗对比，从而实现对微小凹凸的立体观察。LEXTOLS4100 拥有DIC 激光模式，即使是低倍率的动态观察，也能得到接近电子显微镜分辨率的影像。无DIC 的激光影像（高分子薄膜）有DIC 的激光影像（高分子薄膜） 无DIC 的激光影像（5x 物镜）高度差标准 类型 B, PTB-5, Institut fü r Mikroelektronik, Germany有DIC 的激光影像（5x 物镜）高度差标准 类型 B, PTB-5, Institut fü r Mikroelektronik, Germany, 实际高度：6 nm 亮度和对比度之间更加优化的平衡, HDR（高动态范围）影像OLS4100 的高动态范围（HDR）功能结合了多张以不同曝光率获取的光学显微镜影像，并且分别控制着亮度、对比度、纹理和饱和度，因此HDR 可以以宽动态范围处理影像。OLS4100 尤其可以对纹理不明显的样品的彩色影像进行清晰地观察。无HDR 的彩色影像（致密的织物、物镜20x、变焦1x）有HDR 的彩色影像（致密的织物、物镜20x、变焦1x）算法 稳定测量和成像环境复合减震机构为了排除来自外部的影响，稳定测量和成像，OLS4100 机座内置了由螺旋弹簧和阻尼橡胶组成的"复合减震机构"以稳定操作环境。所以，可以把OLS4100 放在普通的桌子进行测量作业，不需要专用的防震平台。 直观的GUI 实现系统化的工作流程 简易的三步流程使用LEXT OLS4100，只需将样品放置在载物台上之后即可立即开始观察／测量。由于采用了简易的三步流程&mdash &mdash 成像、测量和报表&mdash &mdash 即使用户不熟悉激光显微镜，也可以快速掌握测量的流程。 始终明白"身在何处"宏观图功能OLS4100 的宏观图功能可以以低倍率显示大范围影像，并在宏观影像上显示一个矩形观察标记。该视场可以通过拼图设置为传统视场的441 倍。当配合电动六孔物镜转换器时，宏观图功能可以对载物台移动和倍率更改实现平滑、便捷的一键操作。可以精确预设齐焦和确定物镜的中心，并可通过一键移动载物台和调整倍率进行同步。快速的宏观图拼接扫描大面积区域时有两种拼接方法可用：获取实时影像时的手动模式和快速获取影像时的自动模式。操作非常快速简单&mdash &mdash 2D 拼接只需一键操作即可开始，并且可立即获得大面积的拼接影像。自动模式下有五级拼接尺寸可用，分别为：3× 3、5× 5、7× 7、9× 9 和21× 21。对于影像上不需要的部分，可以使用简单的鼠标或控制杆操作手动删除。 用于简易3D 成像的智能扫描自动3D 影像获取传统的3D 扫描需要复杂的设置，这对新手来说非常困难。LEXT OLS4100 采用了全新的智能扫描模式，即使是初次使用的用户也只需一键操作即可快速获取3D 影像。除了上下限的设置，系统也会根据要获取的影像自动设置合适的亮度。这让即使是初次使用的用户也能获得精确的高度测量和优质的影像。3D 成像自动亮度控制平面上的亮度控制一定高度范围内的亮度控制。大大缩短了获取时间 更快的扫描速度新的超快模式获取扫描影像的速度是传统快速模式的2 倍，约是精细模式的9 倍。因此，对于那些需要非常精细的Z 轴移动和极高的放大倍率的样品，该模式就非常地适用，例如对刀具的尖端进行检测。相同时间内获取的影像数量：实际的扫描时间根据所用倍率和Z 获取范围而有所不同。 只在所需区域进行高速获取OLS4100 还配备了带宽扫描模式，用于测量有限的目标区域，测量性能比传统模式快1/8。全局扫描获取带宽扫描获取（1/8） 全新的高速拼接模式从大范围拼接影像中指定目标区域在宏观图中，要观察的区域可以从大范围的视图中进行指定。在自动模式中，通过设置最多625 幅影像的矩形拼接尺寸，可以自动生成区域图，所需的时间大约只需要通常的一半。下一步，在区域图上指定所需的影像并立即开始观察。拼接区域：方形（21× 3）63 片拼接区域：圆形（3 点） 手动指定所需的影像区域在实时模式中，通过在屏幕上跟踪所需的区域，可以手动选择要观察的区域。当观察的样品具有不规则的形状时，该功能非常实用。 快速影像拼接要使用智能扫描模式获取影像时，只需一键操作即可。由于智能扫描会自动调整Z 轴方向的设置，Z 轴方向的影像获取可以仅局限在所需的区域，因此可以在进行大范围大功率观察时节省很多时间。智能扫描模式传统获取模式 一键操作定制报表OLS4100 在测量后可使用一键操作创建报表，而且使用编辑功能可以定制各个报表模板。将测量结果复制和粘贴到Word 或表格应用程序也非常简单，就像从数据库取回所需的影像和报表一样。 目标的一键解决方案为用户设计的详细的向导功能取消了冗长的培训，让新手也能快速简单地进行操作。 产品已下架，可查看OLS系列其他产品。

VT6000激光共聚焦成像显微镜是一款用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量的检测仪器。它基于光学共轭共焦原理，结合精密纵向扫描，以在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像，从而进行分析。VT6000国产共聚焦显微镜微一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；应用领域VT6000激光共聚焦成像显微镜各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：功能特点1、测量模式多样VT6000激光共聚焦成像显微镜单区域、多区域、拼接、自动测量等多种测量模式可选择，适应多种现场应用环境；2、双重防撞保护功能Z轴上装有防撞机械电子传感器、软件ZSTOP防撞保护功能，双重保护；3、分析功能丰富3D：表面粗糙度、平整度、孔洞体积、几何曲面、纹理方向、PSD等分析；2D：剖面粗糙度、几何轮廓测量、频率、孔洞体积、Abbott参数等分析。应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。共聚焦显微镜可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器VT6000研究级共焦显微镜系统基于光学共轭共焦原理，结合精密纵向扫描、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量。在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像，VT6000研究级共焦显微镜系统具有较高的三维图像分辨率。一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；VT6000研究级共焦显微镜系统能够清晰地展示微小物体的图像形态细节，显示出精细的细节图像。它具有直观测量的特点，可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测，对大坡度的产品有更好的成像效果，在满足精度的情况下使用场景更具有兼容性。应用领域在半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中，对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。VT6000光伏检测仪器3D显微镜轮廓仪可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

中图仪器VT6000激光共聚焦三维成像显微镜基于光学共轭共焦原理，结合精密纵向扫描，可以对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像。通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量。一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；功能特点1、测量模式多样VT6000激光共聚焦三维成像显微镜单区域、多区域、拼接、自动测量等多种测量模式可选择，适应多种现场应用环境；2、双重防撞保护功能Z轴上装有防撞机械电子传感器、软件ZSTOP防撞保护功能，双重保护；3、分析功能丰富3D：表面粗糙度、平整度、孔洞体积、几何曲面、纹理方向、PSD等分析；2D：剖面粗糙度、几何轮廓测量、频率、孔洞体积、Abbott参数等分析。应用领域VT6000激光共聚焦三维成像显微镜可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所中，对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。VT6000可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

仪器简介：Examine R共焦拉曼显微镜特别适合于生命科学，地质学，纳米科学，和半导体，刑侦应用。可以做微区化学分析。 Examine R拉曼显微镜采用Olympus显微镜，匹配DeltaNu高性能拉曼光谱仪，构成一套高性能的拉曼显微镜，由于同时具有非常合理价格的优势，成为业内高性能价格比拉曼显微镜的领先者 本系统可以方便的更换532，785，1064nm激光模组和光谱探测模组，用户不会像某些厂家的产品遇到繁琐的更换激光，光栅或探测器的问题。主要特点：产品特点： 532，785，1064nm激光模组 激光功率控制 高光谱分辨率 全固化光路，超级稳定 1064nm 一次摄谱范围200-2000波数（匹配高性能制冷InGaAs CCD） 785nm一次摄谱范围200-2000波数(或100-2000波数)，匹配高性能近红外灵敏制冷CCD 532nm一次摄谱范围200-3400波数，匹配高性能制冷CCD 显微镜空间分辨率达到衍射极限 自动X-Y-Z平台，实现高精度共焦拉曼影像扫描（Raman Mapping） 显微镜附带高性能影像CCD用于可视化调节 可选3D影像重构功能。 可做溶液环境下显微拉曼

C1si是一款革命性的真实光谱成像激光共聚焦显微镜。它具有令人惊叹的高性能，单次拍摄即可获取32个通道的荧光全光谱数据，带宽可达350nm。 C1si能够方便地在光谱成像模式和标准成像模式之间快速切换，使其应用范围极其广泛。通过对不同荧光标记所发出的重叠光谱进行拆分，C1si能够显著的改善对活体细胞的动态观察，并且更易于获取详细的精确数据。C1si技术领先、通用性强、扩展性高、升级方便，是一款特别适合大型综合科研平台使用的激光共聚焦显微镜。 § 速度――显著减少了图像拍摄时间,同时拍摄32个通道的光谱图像（尼康独创） § 精度――真正的光谱图像,获取实际的荧光颜色,出色的误差及偏差校正能力（尼康独创） § 亮度――设计了专用的光路和信号处理系统，可高效地捕捉荧光光子,具备偏光控制技术的光谱探测器（尼康独创） § 易用性――轻松获取光谱图像 § &ldquo 可编程的荧光阻挡滤光片&rdquo § 轻松对光谱图像进行动态拍摄 § 极佳的多功能性 § 模块化设计(1) 速度――显著减少了图像拍摄时间۞ 同时拍摄32个通道的光谱图像（尼康独创）C1si采用32通道多阳极PMT，这在所有同类厂家的共聚焦显微镜中是最多的；并采用了多个高速数字转换电路以及LVDS（低压差分信号）高速串行传输技术等创新技术，通过一次扫描即可获取完整的32个通道的光谱图像。这能够显著减少成像时间，从而可以实现光谱实时观察。۞ 一步可获得320nm范围的光谱可以将波长分辨率高为2.5、5以及10nm。分辨率设为10nm时，一次扫描即可获取完整的320nm范围内的光谱，这种能力是先前的光谱成像系统无法比拟的。۞ 对活体细胞伤害较小仅使用一次激光扫描便能获取较广波长范围内的光谱图像，从而使激光强度和PMT增益的调节过程变得简单，快速。同时也极大的降低了激光对标本的照射时间，从而将荧光漂白及标本损害降至最低。C1si 光谱成像系统对活体细胞和组织的伤害非常小！(2) 精度――真正的光谱图像　۞ 获取实际的荧光颜色获取的光谱具有高度的可靠性和精确度，因此能够检测到荧光光谱的峰值波长以及光谱形状的差异，既可以用伪彩色模式显示细微结构，也可以用真彩色模式进行观察。　۞ 出色的误差及偏差校正能力（尼康独创）使用高精度矫正技术确保光谱的精度，这些技术包括使用发射谱线进行波长校正以及利用NIST（美国标准技术研究院）可溯光源进行发光度校正。同时，采用多阳极PMT灵敏度矫正技术（尼康独创）可以对每个通道的灵敏度误差以及波长透射属性进行矫正，这样研究人员便可以将设备间的测量误差和偏差降至最低。　۞ 高波长分辨率（尼康独创）波长分辨率可达到2.5nm，共有三种分辨率可选（2.5、5、10nm）且分辨率不受针孔大小影响。(3) 亮度――设计了专用的光路和信号处理系统，可高效地捕捉荧光光子۞ 具备偏光控制技术的光谱探测器（尼康独创）C1si的光谱探测器中采用了尼康具有专利的DEES（衍射效率增强系统）进行偏光控制，使衍射效率增强50％，极大提高了亮度。通过对齐光的偏振方向，优化了衍射光栅的效率，从而获得了极佳亮度的图像。尤其是增加了长波长范围内的衍射效率，从而提高了整个可见光范围内光谱数据的亮度和线性。　۞ 多阳极PMT光谱成像探测器采用最新研发的激光屏蔽机构。不管采用哪种光谱分辨率、哪个激光管，此机构可以有效的阻挡反射后遗漏的激光，这使得C1si几乎适合使用所有类型的激光。　۞ 高效荧光传输技术（尼康独创）荧光光纤的端部和探测器表面，使用具有专利技术的防反射涂层，可将信号损失降至最低，极大提高了光的传输效率。　۞ 双积分信号处理技术（尼康独创）最新研发的DISP（双积分信号处理）技术已经在图像处理电路中采用，以便提高电路效率，防止在模数转换时发生信号损耗。信号在整个像素时间内都被采集，从而获得了更完整的数据，增强了信号，提高了信噪比。(4) 易用性――轻松获取光谱图像　۞ 快速切换探测器模式只需打开扫描头上的开关即可从标准共聚焦成像切换至光谱共聚焦成像；EZ-C1软件的界面能够自动切换。　۞ 快速设定参数光谱探测器的每个参数都可以使用鼠标操作菜单轻松的进行设定，如激光波 长、波长分辩率或者拍摄的波长范围。设定好参数后，即可使用共用的成 像步骤执行光谱成像。您可以保存参数配置文件以备日后使用。Binning功能可以增加亮度。因此，确定目标区域时，用户可以降低激光的强度以减少对标本的伤害。　۞ 一次单击即可获取光谱共聚焦图像一旦完成光谱探测器的设定，即可通过单击"Start"(开始）按钮获取光谱共焦图像。　۞ 一次单击即可拆分荧光即便不指定参考光谱，而只在图像内确定ROI（感兴趣区域）并且单击"Simple Unmixing" (简单分离）按钮也可拆分荧光光谱。当您希望指定拆分""后每个荧光探针将显示的颜色时，请使用"Unmixing"（拆分）按钮。C1si包含一个内置的荧光探针生产商提供的光谱数据库，它可被指定为荧光拆分时的参考光谱。用户也可以将新的荧光探针的光谱信息添加至数据库。

C2+共聚焦显微镜是尼康共聚焦产品系列中的一个基本型号。C2+被设计为实验室必不可少的显微镜工具，提供强大而精准的成像能力。高效率的扫描头和检测器与尼康无与伦比的光学元件相结合，可提供出众的共焦图像。高速检流式扫描振镜能以高达100 fps（8倍变焦或更大）的速率运行，可以精确捕捉心肌的快速跳动。该系统可以在一次扫描中同时采集多色荧光和DIC图像。对于需要光谱成像功能的研究，尼康的C2si+系统还提供了专用的光谱检测器单元。C2si+系统可实现高精度和高速32通道光谱成像或高灵敏度光谱成像。C2+共焦系统以卓越的稳定性和操作简便性为基础，结合卓越的光学技术，是必不可少的实验室工具。『高速采集高清图像』检流式高速扫描能够对活细胞中的快速动态事件进行共焦成像，例如心肌细胞的跳动。在传统的共焦系统中，快速双向扫描会导致像素偏移。然而，C2+共焦系统的像素偏移校正机制确保即使在快速双向扫描下也能获得最高质量的图像。▲用 Fluo-8 AM 和 MitoTrackerOrange 标记的大鼠原代心肌细胞用组胺刺激(15 fps)『高画质的图像』◣高效率的扫描头和探测器凭借便捷的小尺寸扫描头，C2+可与各种类型的尼康显微镜配合使用。C2+采用高精度镜面和光学优越的圆形针孔，将检测器分开，隔离热源和噪音源，实现低噪音、高对比度和高质量共焦成像。新开发的扫描驱动系统和尼康独特的图像校正技术允许8 fps（512 x 512像素）和100 fps（512 x 32像素）高速成像。 ◣高性能光学系统CFI复消色差Lambda S系列物镜高数值孔径（NA）物镜可在波长从紫外到红外的范围内提供色差校正，是多色共焦成像的理想选择。特别是，LWD Lambda S 40XC WI镜头具有极宽的从405 nm到近红外的色差校正范围。所有这些物镜都使用尼康独有的纳米结晶涂层技术，大大增强了光学传输性能。CFI Apochromat LWD Lambda S 20XC WI, NA0.95 CFI Apochromat Lambda S 40XC WI, NA1.25 CFI Apochromat LWD Lambda S 40XC WI, NA1.15 CFI Apochromat Lambda S 60X Oil, NA1.49CFI复消色差TIRF系列物镜TIRF系统物镜拥有前所未有的1.49数值孔径（使用标准盖玻片和浸油），这是尼康物镜中的最高分辨率。其高性能的 校正环设计可以优化点扩散函数以适应不同的环境温度，无论您是在室温还是37摄氏度下成像，均可确保最高质量的共焦图像。CFI Apochromat TIRF 60X Oil, NA1.49 (left) CFI Apochromat TIRF 100X Oil, NA1.49 (right)◣高清晰度DIC图像C2 +可以同时获得三通道荧光或同时三通道加透射DIC观察。可以叠加高质量的DIC图像和荧光图像以帮助形态分析。DIC image (left)Overlay of DIC and fluorescence images (right)『直观的操作』NIS-Elements成像软件卓越的可操作性和多样化的分析功能可以满足初学者和经验丰富的共焦用户的需求。此外，NIS-Elements不仅可以直观操作尼康显微镜，而且还可以驱动第三方外围设备展开更为广泛的实验。◣多模式功能各种成像方法，如共焦，宽场，TIRF，光活化，以及采集图像的处理，分析和呈现，都可以在一个软件包中找到。用户可以轻松学习如何使用通用界面和工作流程来控制不同的成像系统。▲直观易懂的光路设置：激光、探测器等▲扫描参数设置◣快速准确的光谱成像 | C2-DUS光谱检测器单元01 | 高速光谱成像在0.6秒内单次扫描获得32通道光谱图像（512 x 512像素），且可以24 fps捕获512 x 32像素的图像。▲光谱分析界面02 | 准确和高速的拆分准确的光谱拆分在分离紧密重叠的荧光光谱和消除自发荧光方面提供了最佳性能。高级算法和高速数据处理功能可在图像采集过程中实时拆分。▲鬼笔环肽-Alexa 488染色表达H2B-YFP的HeLa细胞的肌动蛋白用488 nm激光激发捕获500-692 nm范围内的光谱图像左：光谱图像，右：拆分后的图像(绿色：AlexaFluor488，红色：YFP)大阪大学医学院 Yoshihiro Yoneda博士、Takuya Saiwaki博士03 | 宽带光谱成像利用从最多八个波长中选择的四个激光器同时进行激励，可在更宽的频带上进行光谱成像。04 | 虚拟滤光片功能通过从32个通道中选择与使用中的荧光探针的光谱相匹配的所需光谱范围并将它们组合以执行过滤功能，可实现无滤光片强度调整◣明亮的光谱成像 | C2-DUVB GaAsP探测器单元01 | 高灵敏度的光谱图像采集通过GaAsP PMT，C2-DUVB可调谐发射检测器可灵活检测荧光信号，灵敏度更高。02 | 可变采集波长范围用户定义的发射带可以收集选定波长范围内的图像，取代固定带宽发射滤光片的需求。用户可以将发射带宽范围定义为10nm。多标记标本的光谱图像可以通过在改变检测波长的同时捕获一系列光谱图像来获取。基于该应用，可在C2-DUVB上选择虚拟带通模式和连续带通模式。▲左：VB(可变带通)模式拍摄的三色荧光图像中：VB模式支持5色荧光成像右：CB(连续带通)模式可以拍摄多达32通道的光谱图像03 | 可选第二个通道检测器可选的第二个GaAsP PMT提供灵活的检测。通过插入分色镜，用户可以将选定的波长转移到第二个固定带宽发射通道，同时利用第一个通道上用户可定义的发射波段。第二个检测器允许FRET，比率成像和其他需要同时进行多通道成像的应用。04 | 准确的光谱拆分使用参考样本的光谱或采集的图像中的光谱，可以对光谱重叠的多色图像进行精准拆分。『强大的灵活性』C2 +可与正置、倒置、电生理和宏观成像显微镜配合使用，并可与各种高质量研究实验系统结合使用。所有这些都可以使用NIS-Elements软件进行控制。▲TIRF / Photoactivation / C2+多模成像系统凭借高效的光纤切换系统，LU-NV激光器可支持多种激光应用，如C2 +，TIRF和光激活。这使得高分辨率共焦成像，单分子成像，光敏化和光转换荧光蛋白等成像应用全部集成在同一个显微镜平台上。▲AZ-C2 +微共焦显微镜系统AZ-C2+ 宏观共焦系统可实现高分辨率大样本（ 1cm）的共焦图像采集。具有超高信噪比的全胚胎或大型组织切片的令人惊叹的大视场。此外，AZ-C2+共聚焦提供了低倍和高倍物镜，可变光学变焦和共焦扫描变焦功能的组合，可以通过一台显微镜从宏观到微观进行连续成像，使得宏观样本的体内共焦成像成为可能。

仪器简介：功能特点测量精度高；方便快捷地分析样品的表面形貌和粗造度；分辨率高，景深大，清晰观察不同焦平面上的图像信息；共焦切层，三维重组，多角度观察；对不同时间，不同位置的图像进行无缝拼接，再现性强；可获得亚微米级的线宽、面积、体积、台阶、线与面粗造度，透明膜厚等几何参数测量数据。技术参数：原理用激光作光源,在试样表面反射进入显微镜的光线经微小的针孔(试样上点与针孔对应形成共聚焦),才能成像的光学系统,阻断干扰和杂散光来提高图像清晰度,获得大景深的显微观察方式。主要特点：应用领域微米和亚微米级部件的尺寸测量,表面形貌观察 半导体芯片表面形貌观察,非接触型的线宽,台阶深度等测量 摩擦学磨痕的体积测量,粗造度测量,表面形貌分析。

激光共聚焦显微镜在样品表面同时逐点或多点扫描成像。使您可以在 x、y 和 z 轴上获得高对比度与高分辨率的光学切片。能够为生命科学领域的定量成像提供出色的图像质量。主要特点：l 高分辨率：XY方向上的分辨率可达到200nm，Z向分辨率可达330nml 多通道信号检测：支持多通道同时扫描以及分时扫描l 高分辨率：可达8192 x 8192l 超强适配性：采用了标准显微镜镜体，并支持已有显微镜的升级。主要技术参数：CM4000系列共焦显微成像系统激光光源405 纳米（50mW）；488 纳米（50mW）；561 纳米（50mW）；640 纳米（50mW）；模拟/TTL电平调制；强度可调（0-100%）；单模光纤，FC/PC 连接器。分辨率XY方向上的分辨率可达到200nm，Z向分辨率可达330nm扫描参数双轴XY高速光学扫描振镜扫描像素： 8192 x 8192 pixels扫描速度： 4fps（512x512，双向），24fps（512 x 32，双向）扫描模式X-Y，X-Z，Y-Z，X-Y-Z，X-Y-Z-T

NS3500三维激光共聚焦显微镜NS-3500是一种精确、可靠的三维(3D)测量高速共焦激光扫描显微镜(CLSM)。通过快速光学扫描模块和信号处理算法实现实时共焦显微图像。在测量和检测微观三维结构，如半导体晶片，FPD产品，MEMS设备，玻璃基板，材料表面等方面拥有无可比拟的解决方案。 Features & Benefits（性能及优势）：高分辨无损伤光学3D测量 自动倾斜补偿实时共焦成像 简单的数据分析模式多种光学变焦 双Z扫描大范围拼接 半透明基材的特征检测实时CCD明场和共聚焦成像 无样品准备自动聚焦 Software (软件）：Application field（应用领域）：NS-3500是测量低维材料的有前途的解决方案。可测量微米和亚微米结构的高度，宽度，角度，面积和体积，例如-半导体:IC图形，凹凸高度，线圈高度，缺陷检测，CMP工艺- FPD产品:触摸屏屏幕检测，ITO图案，LCD柱间距高度- MEMS器件:结构三维轮廓，表面粗糙度，MEMS图形-玻璃表面:薄膜太阳能电池，太阳能电池纹理，激光图案-材料研究:模具表面检测，粗糙度，裂纹分析Specifications：ModelMicroscope NS-3500备注Controller NS-3500E物镜倍率10x20x50x100x150x观察/ 测量范围 水平 (H): μm140070028014093垂直 (V): μm105052521010570工作范围: mm16.53.10.540.30.2数值孔径(N.A.)0.300.460.800.950.95光学变焦x1 to x6总放大倍率178x to 26700x观察/测量光学系统 针孔共聚焦光学系统高度测量测量扫描范围精细扫描 : 400 μm (and/or) 长扫描 : 10 mm [NS-3500-S]注 1长扫描 : 10mm [NS-3500-T]显示分辨率0.001 μm重复率 σ0.010 μm注 2宽度测量显示分辨率0.001 μm重复率 3σ0.02 μm注 3帧记忆像素1024x1024, 1024x768, 1024x384, 1024x192, 1024x96单色图像12 bit彩色图像8-bit for RGB each高度测量16 bit帧速率表面扫描20 Hz to 160 Hz线扫描~8 kHz自动功能自动增益激光共焦测量光源波长 405nm输出~2mW激光等级Class 3b激光接收元件PMT (光电倍增管)光学观察光源灯10W LED光学观察照相机成像元件1/2” 彩色图像 CCD 传感器记录分辨率640x480自动调整增益, 快门速度, White balance数据处理单元专用 PC电源电源电压100 to 240 VAC, 50/60 Hz电流消耗500 VA max.重量显微镜Approx. ~50 kg(Measuring head unit : ~12 kg)控制器~8 kg隔振系统有源隔离器Option精细和长距离扫描仪的双重扫描模式仅适用于NS-3500-S（单镜头类型）。 注1:精细扫描由压电执行器（PZT）执行。注2 :以100×/ 0.95物镜对标准样品（步长1μm）进行100次测量。 注 3 :以100×/ 0.95物镜对标准样品（5μm间距）进行100次测量。Nanoscope system NS3500三维激光共聚焦显微镜信息由上海巨纳科技有限公司为您提供，如您想了解更多关于Nanoscope system NS3500三维激光共聚焦显微镜报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

尼康将共聚焦成像提高到前所未有的水平 尼康新的强大的全自动共聚焦成像系统，能够高速高灵敏度地获得细胞和分子事件的高质量共聚焦图像。前所未有的新光学电子技术创新设计使得A1拥有空前的系统质量和灵活性，是适用于广大用户的理想工具。 | 概述 尼康A1共聚焦激光显微镜系统通过新的创造使得共聚焦成像达到一个新的质量水准并具有多种功能。全自动的A1和高规格的A1R共2个型号可供选择。A1使用传统的成对检流计来获得高至4096x4096解析度的图像， A1R引入一个独特的混合扫描器系统提供贞速达30fps的512x512像素成像。可以便利的在超高速成像时得到卓绝的图像质量。此外，混合扫描器使得同步光活化和成像成为可能，这些对于揭示细胞动力学和相互作用都是至关重要的。 | 独特的混合扫描技术 ? 420fps的超高速成像 A1R加入了一个共振频率为7.8kHz的共振扫描器来达到420 fps (512 x 32像素) 的高速成像。在512X512分辨率下可达到30fps。并且，共振扫描器视野区域和检流计扫描器视野区域完全重合，常规检流计扫描器也可达到10fps（512X512）的速度。尼康独创的光学时钟产生方法在最高速度时也能实现高的图像质量。其光纤通讯数据传输系统最高传输速度可达4 Gbit/s。极高的速度可实时观察血流中细胞的移动（红色：血管；绿色：细胞核，120pfs） ? 光活化同步高速成像 高速光活化成像由于非共振扫描器和共振扫描器集成在一个单元里，不需要另配独立的用来做光活化的激光器，光活化和荧光成像就可以同时进行。拥有可以高速成像的共振扫描器使得光活化后快速变化信号的获取成为可能。光活化释放组胺而引起细胞内的钙离子浓度发生变化，上图显示Yellow Cameleon 3.60 CFP、YFP两基团发生FRET现象的过程（使用457nm激光成像，拍摄速度光活化同步成像速度30pfs）。 何为混合式扫描头 尼康独有的混合式扫描头同时配备检流计与共振式扫描装置，并允许通过超高速选择器灵活转换使用或者同时使用两组扫描装置。 ? 常规检流计扫描器获得高分辨率图像 检流计扫描器单次扫描可获得高达4096X4096分辨率。同时借助新开发的驱动与采样系统，及图像校正科技，可以10pfs（512X512）的速度高速获取图像。四色标记斑马鱼图像（蓝：胞核、绿：瞳孔、黄：神经、红：肌肉） | 增强的萤光探测效率 扫描头中的二向色镜采用平均98%透射率的低角度二向色镜，荧光强度得到30%的增强。 同时采用尼康独有的六边形针孔相对于传统的方形针孔荧光采集量可提高30%。 尼康独特的光学设计使成像更明亮。这样可以使激光曝光强度最小化，减少了细胞损伤。 | 磷砷化镓（GaAsP）高灵敏度探测器 尼康研发的磷砷化镓多通道荧光探测器配备两通道GaAsP高灵敏度检测器与两通道普通PMT检测器。检测波长范围达到400-750nm。 GaAs PMT的量子效率可提高一倍。远优于普通PMT。 GaAsP PMT的灵敏度远高于普通PMT，即使是过去所很难拍摄的弱荧光样品也可获得具有极低背景噪声的高亮度图像。 | 获取明亮清晰图像的VAAS针孔元件 尼康开发了一项称为虚拟可调孔径系统（VAAS）的创新技术，能在保持图像亮度的情况下去除模糊。针对通过针孔的光和非通过针孔的光进行去卷积，得到更明亮的图像，从而提高信噪比。 | 易用的强大功能 使用NIS-Elements C控制软件将共聚焦成像系统、显微镜及周边设备合为一体，并具备简单直观的操作界面。同时提供可靠全面的后期分析功能。基础设置光路设置 以Ti-E倒置显微镜为基础可将共聚焦系统与N-SIM/N-STORM 超分辨率系统、TIRF系统、光谱检测与完美对焦系统整合提供多模式的成像方案。同时所有的系统都可在同一NIS-Elements平台下完美工作。

激光扫描共聚焦成像模块 CSIM 100/110共聚焦扫描成像模块的创新之处主要体现在两点： 1）与市场同类产品相比，CSIM 100/110共聚焦扫描成像模块具有更简洁的光路设计。通过光路的重新设计优化，减少了光学元件的使用数量和信号传递的步骤。信号传递环节的减少，使荧光信号的损失降到ZD，进而提高了模块的检测灵敏度。简洁的光路同时提高了模块的稳定性和可靠性，降低了维护成本； 2）与市场同类产品相比，CSIM 110共聚焦扫描成像模块优化了信号的探测类型，获得更为高效的信号采集。自主开发的信号采集电路，重新设计了信号的探测频次和和方式，显著提升了信号增益，以更低的照明强度获得了更好的信噪比和动态范围。CSIM 100/110共聚焦扫描成像模块，是桑尼基于多年高速光学扫描振镜和激光打标系统的开发经验，全新自主研发的产品。用户可将其搭配在原有的倒置荧光显微镜上，即可方便、快速地把倒置荧光显微镜升级为激光扫描（单点）共聚焦显微镜，获取高质量的共聚焦图像。CSIM 100/110共聚焦扫描成像模块通用性好，适配各品牌显微镜使用标准C型接口，无需额外配件即可与显微镜连接，搭建单点扫描共聚焦成像系统。使用进口配件 保障成像质量配置高性能Semrock滤光片、Coherent长寿命固态激光器、滨松多碱PMT，获取高分辨率图像。可定制升级 加载各种功能模块如：CCD/SCOMS相机接口、电动Z轴扫描模块、DIC（微分干涉）模块、适用于活细胞成像的超高灵敏度探测器等。光路设计简洁用最少的光学元件实现共聚焦成像功能，既减少了荧光信号的损失，提高了模块的检测灵敏度，又增强了模块的稳定性和可靠性，降低了维护成本。信号采集稳定自主设计开发的信号采集电路，优化了信号增益，提高了图像的信噪比和动态范围。激光器直调 超长使用寿命使用COHERENT OBIS 固体或半导体激光器，通过外部调节激光器功率和开关，延长激光器使用寿命，有效降低售后成本。激光器稳定性好，8小时功率变化＜2%。即开即用，操作方便，可同时搭载4个激光器。高灵敏度PMT标配Hamamatsu新一代高性能多碱PMT，量子效率超过25%，相比国外前代共聚焦产品，灵敏度提高超过一倍。可升级为磷砷化镓（GaAsP），进一步提高图像的信噪比： GaAsP 的量子效率可达45%。Sunny XY描振镜高速扫镜使用本公司生产制造的XY高速扫描振镜，响应速度快、重复精度高、发热量低、温度漂移小。其他配件：共聚焦/宽场切换接口接口可同时连接共聚焦和相机，可自由选择共聚焦成像或相机成像。电动Z轴马达使手动显微镜实现自动调焦功能，实现XYZ三维扫描。 DIC功能可定制升级，加载DIC（微分干涉）模块。软件功能全中文界面，简单易用全软件控制完成多维图像采集，实现多通道扫描、时间序列和Z轴序列成像多色荧光、DIC图像叠加，添加标尺全软件控制数据记录，支持成像参数管理导出支持多种图像输出格式

教学型金相荧光共聚焦显微系统是杭州柏纳推出的高性价比荧光共聚焦显微镜，可实现宽场荧光成像， 荧光共聚焦成像，金相共聚焦成像等功能，不仅可以观察固定的细胞、组织切片，还可以对活细胞的结构、分子、离子进行实时动态观察和检测。高性价比更可用于显微系统的实验教学。主要特点：l 宽场模式和共焦模式可切换；l 高性价比：单通道荧光成像，可自行更换光源l 光路可视化l 单层实时扫描成像、单层连续扫描成像、三维层析扫描成像；l 高分辨率：XY方向上的分辨率可达到200nm，Z向分辨率可达330nml 可选配细胞样本和荧光颗粒主要应用：1. 物理光学专业实验教学：激光共聚焦显微镜原理、光路结构；显微镜宽场模式与共聚焦模式的区别；荧光特性研究；2. 生物医学专业实验教学：细胞形态学分析，三维图像重组；细胞、亚细胞结构观察定位；活细胞实时动态监测；荧光漂白实验等。主要参数：教学型金相荧光共聚焦显微系统激光光源标配：488纳米（10mW）；选配：405 纳米（10mW）；638 纳米（10mW）； 模拟/TTL电平调制； 强度可调（0-100%）； 单模光纤，FC/PC 连接器。分辨率XY方向上的分辨率可达到200nm，Z向分辨率可达330nm扫描参数双轴XY高速光学扫描振镜 扫描像素：4096 x 4096；扫描速度： 4fps（512 x 512）扫描模式XY，XYT、XYZ（FPP （固定像素和 扫描层）模式，FSP （固定扫描范围）模式）针孔选择电动针孔，无极变速，调节范围0-1mm，可控精度1umXY平移台手动XY平移台：25 × 25 mm，最小步进：1μm电控Z轴：最小步进：20nm物镜10X，40X，100x 软件功能单层实时扫描成像、单层连续扫描成像、三维层析扫描成像相机实时监测Z轴调焦图像轮廓曲线标定，图像画面调整，图像打开保存等功能

激光共聚焦显微镜NCF950NCF950 激光共聚焦显微镜是一款简单、高效、高度集成的共聚焦显微镜。NCF950 是为实验室科学研究设计的重要的基础工具，提供了强大而稳定的成像能力以及高度集成的电动化能力。共聚焦显微镜的应用广泛，实验数据可靠，分析处理软件功能丰富。在细胞及分子生物学、药物筛选、大脑和神经科学、免疫学、形态学、食品卫生、发酵、遗传学、药理学等领域具有不可替代的作用。NCF950激光共聚焦显微镜简单、高效、高度集成NCF950激光共聚焦显微镜是永新光学显微仪器系列中的一款高端产品。NCF950 是为实验室科学研究设计的重要的基础工具，提供了强大而稳定的成像能力以及高度集成的电动化能力。 信号检测方面高效的扫描头、探测器以及无级变速电动小孔，加上永新强大的光学系统，提供了快速、稳定、高信噪比的共聚焦图像。 多通道信号检测方面集成 4 路光源和探测器（405，488，561，640），结合 4 路荧光融合技术，实现实时多通道融合观测和捕捉。 电动化硬件方面NCF950提供多种电动运动部件，包括：电动平台、电动调焦、电动物镜转盘、电动荧光转盘、电动聚光镜和电动调光，操作方式同时兼容按钮操作和软件操作，并且提供调用命令，方便用户自行控制和开发。激光共聚焦显微镜NCF950的应用广泛，实验数据可靠，分析处理软件功能丰富。交互式操作便捷的交互方式和多种操控方式可以满足从初学者到专业用户的不同使用需求。结合该系统产品强大的软硬件交互式自动化特点，大大简化整套 实验流程，利用配套的 NOMIS Advanced C 能轻松实现三维结构的生成和多区域的经时分析等分析功能。高信噪比、高分辨率图像基于高灵敏度的光电倍增光（PMT）和稳定的激光光源，得到高信噪比的图像。同时该系统采用高速扫描振镜，实现高达4096x4096的实时扫描分辨率，大数值孔径物镜的使用（100倍，N.A = 1.45）保证了优质的成像分辨率。专为共聚焦成像设计的高性能物镜高数值孔径物镜提供从紫外到红外的复消色差成像。通过永新独特的纳米硬质多层镀膜技术极大的提高了物镜的透过率，为共聚焦成像提供优质的成像基础。NIS60平场复消色差物镜高效率扫描头和探测器标准化扫描头的设计保证了系统均可稳定性和可扩展性。扫描头内部集成高精度扫描振镜系统和无级变速的六边形电动小孔，保证各个物镜倍率下获得低噪、高对比度和高质量的共聚焦图像。最新开发的扫描振镜控制技术允许系统的扫描分辨率最高达到4096×4096。激光器和探测器该系统配备了四色集成型的激光器（405nm，488nm，561nm，640nm），单端口光纤输出。紧凑型的设计节省了共聚焦系统的空间，内部集成的AOTF模块可以实现快速并且高效的波长和功率的选择。在信号探测方面，NCF950配备了四个PMT（光电倍增管）探测器，可以实现高灵敏度的荧光信号探测。四路探测信号根据激发光的波长自动进行图像荧光染色和合成，实现实时多通道探测和显示。共聚焦图像分析软件 NOMIS Advanced C高分辨率的图像可以通过一键生成得到。软件会自动根据物镜数值孔径、曝光值和扫描范围自动计算小孔的尺寸，从而得到最佳信噪比的图像。同时通过降噪算法可以实时去除背景噪声，提高图像质量。多通道图像同时采集和合成，方便客户实现多重染色的实时观测。通过设置顶部位置、底部位置以及运动间隔，NCF950电动Z轴可以实现自动Z-Stack采集，并生成三维模型。提供丰富的显微镜电动控制接口：电动物镜转盘、电动荧光滤光块、电动聚光镜转盘。电动平台控制和电动调焦机构，通过软件快速定位到感兴趣区域，并且记录该位置，方便用户快速返回记录的位置。高速电动控制、拍摄及图像分析NOMIS Advanced C 可为显微镜、相机、电动附件等设备进行集成控制，并可实现自动化控制和图像分析处理，界面直观易懂，便于参数的设置及复位。NCF950激光共聚焦显微镜配置表：NCF950激光共聚焦配置表激光器激光405 nm、488 nm、561 nm、640 nm探测器波长：400-750nm，探测器：3个独立的荧光检测通道；1个DIC透射光检测通道扫描头最大像素大小：4096 x 4096 扫描速度：2 fps（512 x 512像素，双向），18 fps（512 x 32像素，双向），图像旋转: 360°扫描模式X-T, Y-T, X-Y, X-Y-Z, X-Y-Z-T针孔无级变速六边形电动针孔；调节范围：0-1.5毫米共焦视场φ18mm内接正方形图像位深12bits配套显微镜NIB950全电动倒置显微镜光学系统NIS60无限远光学系统（F200)目镜(视野)10×(25)，EP17.5mm，视度可调-5～+5，接口Φ30观察镜筒铰链式三目观察镜筒，45度倾斜，瞳距47-78mm，目镜接口Φ30，固定视度；1）目/摄切换：（100/0,50/50,0/100)；2）目视/关闭目视/可调焦勃氏镜NIS60物镜10×复消色差物镜，NA=0.45 WD=4.0 盖玻片=0.1720×复消色差物镜，NA=0.75 WD=1.1 盖玻片=0.1760×半复消色差物镜，NA=1.40 WD=0.14 盖玻片=0.17 油镜100×复消色差物镜，NA=1.45 WD=0.13 盖玻片=0.17 油镜物镜转换器电动六孔转换器（扩展插槽），M25×0.75聚光镜6孔位电动控制：NA0.55，WD26；相衬(10/20,40,60选配）DIC（10X，20X/40X）选配.空孔照明系统透射柯拉照明，10W LED照明；落射照明：宽场光纤照明6孔位电动荧光转盘（B，G，U标配）；电动荧光光闸；中间倍率切换手动1X，1.5X、共焦切换机身端口分光比：左侧:目视=100：0；右侧:目视=100：0；平台电动控制：行程范围130 mm x100 mm （台面325 mm x 144 mm ）最大速度：25mm/s；分辨率：0.1μm - 重复精度：3μm。机械可调样品夹板调焦系统同轴粗微动升降机构，行程：焦点上7下2；粗调2mm/圈，微调0.002mm/圈；可手动和电动控制，电动控制时，最小步进0.01um；DIC插板10X，20X，40X插板；可放置于转换器插槽；选配控制摇杆，控制盒，USB连接线软件软件：NOMIS Advanced C图像显示/图像处理/分析2D/3D/4D图像分析，经时变化分析，三维图像获得及正交显示，图像拼接，多通道彩色共聚焦图像共聚焦显微镜NCF950应用领域：在以下研究领域中应用较为广泛：1、细胞生物学：细胞结构、细胞骨架、细胞膜结构、流动性、受体、细胞器结构和分布变化、细胞凋亡；2、生物化学：酶、核酸、FISH、受体分析3、药理学：药物对细胞的作用及其动力学；4、生理学：膜受体、离子通道、离子含量、分布、动态；5、遗传学和组胚学：细胞生长、分化、成熟变化、细胞的三维结构、染色体分析、基因表达、基因诊断；6、神经生物学：神经细胞结构、神经递质的成分、运输和传递；7、微生物学和寄生虫学：细菌、寄生虫形态结构；8、病理学及病理学临床应用：活检标本的快速诊断、肿瘤诊断、自身免疫性疾病的诊断；9、生物学、免疫学、环境医学和营养学。

产品简介VT6000系列国产激光共聚焦显微镜是一款用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量的检测仪器。它是以共聚焦技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。在相同物镜放大的条件下，VT6000系列国产激光共聚焦显微镜所展示的图像形态细节更清晰更微细，横向分辨率更高。能测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数，对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；应用领域VT6000系列国产激光共聚焦显微镜对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：性能特色1、高精度、高重复性1）以转盘共聚焦光学系统为基础，结合高稳定性结构设计和3D重建算法，共同组成测量系统，保证仪器的高测量精度；2）隔震设计能够消减底面振动噪声，仪器在嘈杂的环境中稳定可靠，具有良好的测量重复性。2、一体化操作的测量分析软件1）测量与分析同界面操作，无须切换，测量数据自动统计，实现了快速批量测量的功能；2）可视化窗口，便于用户实时观察扫描过程；3）结合自定义分析模板的自动化测量功能，可自动完成多区域的测量与分析过程；4）几何分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析五大功能模块齐全；5）一键分析、多文件分析，自由组合分析项保存为分析模板，批量样品一键分析，并提供数据分析与统计图表功能；6）可测依据ISO/ASME/EUR/GBT等标准的多达300余种2D、3D参数。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前工作。4、双重防撞保护措施除软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，保护仪器，降低人为操作风险。部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

CTRM 700热反射式激光共聚焦显微镜CTRM700 是韩国?????所研发并由韩国Nanoscope Systems 进行商业化运营的热反射式激光共聚焦显微镜。CTRM 700 利用的是激光共聚焦扫描的方法测量样品表面或内部特定表面上温度变化引起的反射率变化的分布来获取样品的热分别图像。Principles & Benefits（性能及优势）：热反射显微镜（Thermal Reflectance Microscope) 是一种基于测量样品表面光反射率变化而测量样品温度变化的一种技术。共聚焦热反射显微技术是一种激光扫描共聚焦方法，它可以在局部区域获得比传统热成像技术（红外成像技术）更高分辨率的热成像图像。Application field（应用领域）：半导体器件热特性的测量与分析：-柔性显示面板缺陷检查-OLED内部缺陷检查-高输出功率装置发热特性的测量与分析-传感器单元的红外图像分析-氧化物薄膜晶体管的热特性-3D堆叠半导体热特性的测量分析-OLED 器件的热特性分析-气体传感器的MEMS装置的热特性测量和分析-InGaZnO薄膜晶体管的发热特性及可靠性分析Specification（规格）ModelMicroscope CTRM 700物镜倍率10x20x50x100x观察/ 测量范围 水平 (H): μm1400700280140垂直 (V): μm1050525210105工作范围: mm16.53.10.540.3数值孔径(N.A.)0.300.460.800.95光学变焦x1 to x6观察/测量光学系统 针孔共聚焦光学系统测量高度 7 mm 分辨率横向分辨率0.3 μm轴向分辨率0.8 μm热分辨率1℃Image size共聚焦模式1024x768, 1024x384, 1024x192, 1024x96热成像模式1024x768帧速率共聚焦模式10 Hz to 160 Hz热成像模式0.3 Hz激光共焦测量光源波长638 nm输出~2mW激光等级 Class 3b光学显微镜光源LED10W光学观察照相机成像元件1/2” 彩色图像 CCD 传感器记录分辨率640x480数据处理单元PC电源电源电压100 to 240 VAC, 50/60 Hz电流消耗500 VA max.重量显微镜Approx. ~50 kg(Measuring head unit : ~14 kg)控制器~8 kg

成贯仪器提供奥林巴斯OLS4500显微镜报价，同时包括奥林巴斯探针扫描显微镜OLS4500图片、奥林巴斯显微镜OLS4500参数、奥林巴斯纳米检测显微镜OLS4500使用说明书、奥林巴斯显微镜OLS4500价格、奥林巴斯显微镜OLS4500维修、奥林巴斯激光共聚焦显微镜OLS4500经销商价格等信息，为您购买奥林巴斯OLS4500显微镜提供有价值的产品因为有我，所以会更好，成贯专业、诚信、值得信赖成贯仪器——显微系统、光学仪器、外科手术设备、实验室耗材等供应商LEXT OLS4500是一款集成了激光显微镜和探针扫描显微镜功能于一体的新型纳米检测显微镜，可以实现从50倍到最高100万倍的超大范围的观察和测量。OLS4500为您带来最新的解决方案实现纳米级观测的新型显微镜。不会丢失锁定的目标。配有涵盖了低倍观察到高倍观察的4种物镜，并在电动物镜转换器上装配了SPM单元。可以无缝切换倍率和观察方法，不会丢失观察对象。此外，该款显微镜可以进行纳米级观测。电动物镜转换器切换倍率和观察方法涵盖了低倍到高倍观察，并配有多种观察方法可以迅速发现观察对象。可以完成低倍到高倍的大范围倍率观察。不仅如此，先进光学技术打造的光学显微镜带来多种观察方法，可以容易的发现观察对象。此外，对于光学显微镜难以找到的观察对象，还可以使用激光显微镜进行观察。在激光微分干涉（DIC）观察中，可以进行纳米级微小凹凸的实时观察。缩短从放置样品到获取影像的工作时间。放置好样品后，所有的操作都在1台装置上完成。可以迅速，正确的把观察对象移到SPM显微镜下面，所以只要扫描1次就能获取所需的SPM影像。 一体机的机型，所以无需重新放置样品只要在1台装置上切换倍率、观察方法就能够灵活应对新样品。 OLS4500是把光学显微镜、激光显微镜、探针显微镜融于一体的一体机，所以无需重新放置样品，即可自由切换3种显微镜进行观察和评价。这3种显微镜各自持有优异的性能，所以能够高效输出最佳结果。 OLS4500实现了无缝观察和测量【发现】可以迅速发现观察对象使用光学显微镜的多种观察方法，迅速找到观察对象OLS4500采用了白色LED光源，可以观察到颜色逼真的高分辨率彩色影像。它装有4种物镜，涵盖了低倍到高倍的大范围观察。OLS4500充分发挥了光学观察的特长，除了最常使用的明视场观察（BF）以外，还可以使用对微小的凹凸添加明暗对比，达到视觉立体效果的微分干涉观察（DIC），以及用颜色表现样品偏光性的简易偏振光观察。此外，OLS4500上还配有HDR功能（高动态范围功能），该功能使用不同的曝光时间拍摄多张影像后进行合成，来显示亮度平衡更好、强调了纹理的影像。在OLS4500上您可以使用多种观察方法迅速找到观察对象。 BF明视场最常使用的观察方法。在观察中真实再现样品的颜色。适用于观察有明暗对比的样品。DIC微分干涉对于在明视场观察中看不到的样品的微小高低差，添加明暗对比使之变为立体可视。适用于观察金 相组织、硬盘和晶圆抛光表面之类镜面上的伤痕或异物等。 简易偏振光照射偏振光（有着特定振动方向的光线）， 使样品的偏光性变为肉眼可视。适用于观察金相组织、矿物、半导体材料等。HDR高动态范围使用不同曝光时间拍摄多张影像并进行影像合成，可以观察平衡度较好的明亮部分和阴暗部分。此外，还可以强调纹理（表面状态），进行更精细的观察。 使用激光显微镜，可以观察到光学显微镜中难以观察到的样品影像OLS4500采用了短波长405 nm的激光光源和高N.A.的专用物镜， 实现了优异的平面分辨率。能以鲜明的影像呈现出光学显微镜中无法看到的观察对象。在激光微分干涉（DIC）模式中还可以实时观察纳米级的微小凹凸。【接近】迅速发现观察对象，在SPM上正确完成观察实现了无缝观察，不会丢失观察对象OLS4500在电动物镜转换器上装配了涵盖低倍到高倍观察的4种物镜， 以及小型SPM单元。在光学显微镜或激光显微镜的50倍、100倍的实时观察中， 由于SPM扫描范围一直显示于视场中心， 所以把观察目标点对准该位置后， 只要切换到探针显微镜， 就能够正确接近观察对象。因此， 只需1次SPM扫描就能获取目标影像， 从而能够提高工作效率并降低微悬臂的损耗。 不会在SPM观察中迷失的、可切换式向导功能使用探针显微镜开始观察之前， 可以在向导画面上设置所需的条件， 如安装微悬臂、扫描范围等。所以经验较少的操作者也能安心完成操作。 【纳米级测量】简单操作，可以迅速获得测量结果新开发的小型SPM测头，减少了影像瑕疵OLS4500采用了装在电动物镜转换器上的物镜型SPM测头。同轴、共焦配置了物镜和微悬臂前端，所以切换SPM观察时不会丢失观察目标点。不仅如此，新开发的小型SPM测头提高了刚性，所以与传统产品相比，减少了影像瑕疵并提高了可追踪性。新开发的小型SPM测头使用向导功能，自由放大SPM影像使用向导功能，可以观察时进一步放大探针显微镜拍到的影像的所需部分倍率。只要在影像上用鼠标指针设置放大范围并扫描， 就可以获取所需的SPM影像。可以自由设置扫描范围， 所以大幅度提高了观察和测量的效率。向导功能在10μm×10μm影像上放大3.5μm×3.5μm范围 优异的分析功能，应对各种测量目的OLS4500能够根据您的测量目的分析在各种测量模式中获取的影像，并以CSV格式输出测量结果。OLS4500有以下分析功能。截面形状分析（曲率测量、夹角测量）粗糙度分析形态分析（面积、表面积、体积、高度、柱状值、承载比）评价高度测量（指定线、指定面积）粒子分析（选项功能） 曲率测量（硬盘的伤痕）跟从向导画面的指示，可轻松操作的6种SPM测量模式接触模式控制微悬臂与样品之间作用的排斥力为恒定的同时， 使微悬臂进行静态扫描， 在影像中呈现样品的高度。还可以进行弯曲测量。 金属薄膜 动态模式使微悬臂在共振频率附近振动， 并控制Z方向的距离使振幅恒定， 从而在影像中呈现样品高度。特别适用于高分子化合物之类表面柔软的样品及有粘性的样品。 铝合金表面 相位模式在动态模式的扫描中， 检测出微悬臂振动的相位延迟。可以在影像中呈现样品表面的物性差。 高分子薄膜 电流模式对样品施加偏置电压，检测出微悬臂与样品之间的电流并输出影像。此外，还可以进行I/V测量。 Si电路板上的SiO2图案样品。高度影像（左）中显示为黄色的部分是SiO2。在电流影像（右）中显示 为蓝色（电流不经过的部分）。通过上图，可以明确电路板中也存在电流不经过的部分。 表面电位模式（KFM）使用导电性微悬臂并施加交流电压， 检测出微悬臂与样品表面之间作用的静电， 从而在影像中呈现样品表面的电位。也称作KFM（Kelvin Force Microscope）。 磁带样品。在电位影像中可以看出数百mV的电位差分布于磁带表面。这些电位差的分布，可以认为是磁带表面的润滑膜分布不均匀。 磁力模式（MFM）在相位模式中使用磁化后的微悬臂进行扫描，检测出振动的微悬臂的相位延迟， 从而在影像中呈现样品表面的磁力信息。也称作MFM（Magnetic Force Microscope）。 硬盘表面样品。可以观察到磁力信息。 装配了激光扫描显微镜，灵活应对多种样品 轻松检测85°尖锐角采用了有着高N.A.的专用物镜和专用光学系统（能最大限度发挥405nm激光性能），LEXT OLS4500 可以精确地测量一直以来无法测量的有尖锐角的样品。 LEXT 专用物镜 有尖锐角的样品（剃刀） 高度分辨率10nm，轻松测量微小轮廓由于采用405 nm的短波长激光和更高数值孔径的物镜，OLS4500达到了0.12μm的平面分辨率。因此，可以对样品的表面进行亚微米的测量。结合高精度的光栅读取能力和奥林巴斯独有的亮度检测技术，OLS4500可以分辨出亚微米到数百微米范围内的高度差。此外， 激光显微镜测量还保证了测量仪器的两大指标——“正确性”（测量值与真正值的接近程度）和“重复性”（多次测量值的偏差程度）的性能。0.12μm行间距高度差标准类型B,PTB-5, Institut für Mikroelektronik,Germany,6 nm高度测量中的检测从大范围拼接影像中指定目标区域高倍率影像容易使视场范围变小，而通过设置，OLS4500的拼接功能最多可以拼接625幅影像，从而能够获得高分辨率的大范围视图数据。不仅如此，还可以在该大范围视图上进行3D显示或3D测量。可用于传统的线粗糙度测量，也可用于信息量较多的面粗糙度测量 越来越重要的表面粗糙度测量近年来，工业产品越来越趋于小型化和轻量化，所以构成产品的各种部件也越来越精细化。随着这些部件的精细化，除了形状测量以外，表面粗糙度测量的重要性也日益提高。为了应对这些市场需求，ISO规定的立体表面结构测量仪器中，添加了激光显微镜和AFM（ISO 25178-6）。因此，与传统的接触式表面粗糙度测量相同，非接触式表面粗糙度测量也被认定为公认评价标准。OLS4500中配置了符合ISO规定的粗糙度参数。在面粗糙度测量中详细掌握粗糙度的分布和特点在非接触式表面粗糙度测量中，除了线粗糙度还可以测量面粗糙度。在面粗糙度测量中可以掌握样品表面上指定区域内粗糙度分布和特点，并能够与3D影像对照评价。OLS4500可以根据不同样品和使用目的，分别使用激光显微镜功能或探针显微镜功能测量表面粗糙度。焊盘,激光显微镜的面粗糙度测量（105μm×105μm） 探针显微镜的面粗糙度测量（10μm×10μm） OLS4500的粗糙度参数参数兼容性OLS4500具有与接触式表面粗糙度测量仪相同的表面轮廓参数，因此具有相互兼容的操作性和测量结果。截面曲线Pp, Pv, Pz, Pc, Pt, Pa, Pq, Psk, Pku, Psm, PΔq, Pmr(c), Pδc, Pmr粗糙度曲线Rp, Rv, Rz, Rc, Rt, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rsm, RΔq, Rmr(c),Rδc, Rmr, RZJIS, Ra75波动曲线Wp, Wv, Wz, Wc, Wt, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wsm, WΔq, Wmr(c), Wδc, Wmr负荷曲线Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2基本图形R, Rx, AR, W, Wx, AW, Wte粗糙度 (JIS1994)Ra(JIS1994), Ry, Rz(JIS1994), Sm, S, tp其他R3z, P3z, PeakCount 适应下一代参数OLS4500具有符合ISO25178的粗糙度（3D）参数。通过评估平面区域，可以进行高可靠性的分析。振幅参数Sq, Ssk, Sku, Sp, Sv, Sz, Sa功能参数Smr(c), Sdc(mr), Sk, Spk, Svk, SMr1, SMr2, Sxp体积参数Vv(p), Vvv, Vvc, Vm(p), Vmp, Vmc横向参数Sal, Str OLS4500的显微镜技术光学显微镜的原理和特长光学显微镜是从样品上方照射可见光（波长约400 nm到800 nm）， 利用其反射光成像， 能够放大样品数十倍到一千倍左右进行观察。光学显微镜的特长是可以真实观察彩色样品， 还可以切换观察方法， 强调样品表面的凹凸， 利用物质的特性（偏光性）进行观察。OLS4500上可以使用下述观察方法。&bull 明视场观察 最基本的观察方法，通过样品的反射光成像进行观察&bull 微分干涉观察 给样品表面的微小凹凸添加明暗对比，使之变为可视的立体影像&bull 简易偏振光观察 照射偏振光（有着特定振动方向的光线），把样品的偏光性变为可视影像明视场观察可以获取颜色信息。纸张上的墨点 激光显微镜的原理和特长可进行亚微米级观察和测量的激光显微镜（LSM:Laser Scanning Microscope)光学显微镜的平面分辨率很大程度上取决于所用光的光子和波长，采用短波长的激光扫描显微镜（LSM）比采用可见光的传统显微镜，拥有更高的平面分辨率。 LEXT OLS4500采用405nm的短波长半导体激光、高数值孔径的专用物镜、以及独特的共焦光学系统，可以达到0.12μm的平面分辨率。此外，OLS4500配有奥林巴斯独有的扫描加扫描型2D扫描仪，可以实现高达4096×4096像素的高精度XY扫描。激光显微镜的高精度XY扫描（示例） 卓越的Z轴测量激光显微镜采用短波长半导体激光和独有的双共焦光学系统，会删除未聚焦区域的信号，只将聚焦范围内的反射光检测为同一高度。同时结合高精度的光栅读取能力，可以生成高画质的影像，实现精确的3D测量。高度测量（微透镜） 探针显微镜的原理和特长可以观察纳米级微观世界的探针显微镜(SPM:Scanning Probe Microscope)探针显微镜（SPM）是通过机械式地用探针在样品表面移动，检测出探针与样品之间产生的力、电的相互作用，同时进行扫描，从而得到样品影像。探针尖端曲率半径为10 nm左右。典型的探针显微镜是原子力显微镜（AFM），它通过检测探针和样品表面之间作用的引力和张力进行扫描并获得影像。探针显微镜能够观察纳米级微观形貌，可以捕捉到样品最精细的一面。探针显微镜的原理 通过微悬臂扫描进行纳米观察OLS4500上采用了光杠杆法——通过高灵敏度检测出最前端装有探针的微悬臂的微小弯曲量（位移）来进行观测的方法。在悬臂的背面反射激光，并用压电元件驱动Z轴，使激光照射到光电检测器的指定位置，从而正确读取Z方向的微小位移。SPM传感器光路图 多种观察模式在影像中呈现表面形状和物性探针显微镜拥有多种观察模式，可以观察、测量样品表面的形状，还可以进行物性分析。OLS4500配有以下模式。&bull 接触模式：在影像中呈现表面形状（较硬的表面）&bull 动态模式：在影像中呈现表面形状（较软的表面、有粘性的表面）&bull 相位模式：在影像中呈现样品表面的物性差&bull 电流模式*：检测出探针和样品之间的电流并输出影像&bull 表面电位模式（KFM）*：在影像中呈现样品表面的电位&bull 磁力模式（MFM）*：在影像中呈现样品表面的磁性信息 * 该模式为选项功能。高分子薄膜 决定高精细度、高质量影像的微悬臂探针位于长度约100μm～200μm的薄片状微悬臂的前端。您可以根据样品选择不同的弹簧常数、共振频率。反复扫描会磨损探针， 所以请根据需要定期更换微悬臂探针。 高精度微悬臂实现了高可靠性探针显微镜的平面分辨率由探针前端的直径决定。奥林巴斯独自开发、生产微悬臂，其探针前端的尖锐直径质量稳定，可靠性很高。此外，奥林巴斯的一系列独创设计—使探针定位更加容易的“TipView”构造、镊子型易于夹取物体的“新概念探针”等，不仅提高了观测精度，还使操作变得更加轻松。 ※微悬臂产品的详细信息，请参阅微悬臂产品目录。 OMCL-AC160TS-C3 標準标准硅胶微悬臂高Q值带来的高分辨率测量 该型号是最常使用的动态模式专用微悬臂，适用于表面粗糙度测量。 OMCL-AC240TS-C3低弹簧常数硅胶微悬臂可用于再现性较好的粘性和弹性测量该型号作为动态模式专用的硅胶微悬臂，其弹簧常数最小《2N/m(Nom.)》,适用于粘性、弹性的测量等。 OMCL-TR800PSA-1 标准氮化硅微悬臂低损耗、优异的耐久性该型号常用于接触模式，其特点是探针柔软、探针损耗较小。每个前端带有100μm和200μm长两种微悬臂。 兼容多种微悬臂。微悬臂更换方法简单而易于掌握请根据您的使用频度定期更换微悬臂。OLS4500上的电动物镜转换器、SPM测头、微悬臂支架已经被精确调整过，所以只要把已调好微悬臂位置的支架插入SPM测头中即完成更换。微悬臂和支架的位置调整需要使用专用工装夹具，所以谁都可以正确而轻松的完成操作。此外，其他各种型号的微悬臂也按照同样方法更换，提高了观察和测量的效率。 微悬臂位置调整专用工装夹具 应用DVD表面（扫描区域 5μm×5μm 3D影像） 可清楚观察到DVD刻录面的凹陷和表面状态。维氏硬度计压痕（扫描区域 20μm×20μm 3D影像）可清楚观察到从压痕顶角延伸的裂痕。 TiO2单结晶电路板（扫描区域 5μm×5μm 3D影像） 可观察到约0.3 nm的TiO2（二氧化钛）的原子台阶。IC元件圆孔（扫描区域 4μm×4μm 3D影像） 可观察到元件表面附着的微小异物（白色部分）。 高分子薄膜（扫描区域 10μm×10μm 3D影像） 可观察到薄膜表面的划痕（中间靠左）。铝合金阳极氧化膜（扫描区域 1.8μm×1.8μm 表面电位模式（KFM模式）,左：高度影像,右：电位影像）观察到铝合金阳极氧化膜的表面形状（左）的同时，观察到表面电（右）。形状影像上没有显示出来的网眼状构造，可在电位影像上清楚的看到。 彩色印刷光学显微镜（50x）彩色印刷SPM（扫描区域 5μm×5μm 3D影像）乳酸菌LSM（扫描区域 100μm×100μm）乳酸菌SPM（扫描区域 20μm×20μm 高度影像） 墨粉粒子LSM（扫描区域 80μm×80μm 右上：10μm×10μm） 主机 规格LSM部分光源、检出系统光源：405 nm半导体激光、检出系统：光电倍增管总倍率108～17,280X变焦光学变焦：1～8X测量平面测量重复性100x : 3σn-1=0.02μm、50x：3σn-1=0.04μm、20x：3σn-1=0.1μm正确性测量值的±2%以内高度测量方式物镜转换器上下驱动方式行程10mm内置比例尺0.8nm移动分辨率10nm显示分辨率1nm重复性100x :σn-1= 0.012μm、50x：σn-1＝0.012μm、20x：σn-1＝0.04μm正确性0.2+L/100 μm以下（L＝测量长度）彩色观察部分光源、检出系统光源：白色LED、检出系统：1/1.8英寸200万像素单片CCD变焦码变焦：1～8X物镜转换器6孔电动物镜转换器微分干涉单元微分干涉滑片：U-DICR、内置偏振光片单元物镜明视场平面半消色差透镜5X LEXT专用平面复消色差透镜20X、50X、100XZ对焦部分行程76 mmXY载物台100 x 100 mm（电动载物台）SPM部分运行模式接触模式、动态模式、相位模式、电流模式*、表面电位模式（KFM）*、磁力模式（MFM）*位移检出系统光杠杆法光源659 nm半导体激光检出设备光电检测器最大扫描范围X-Y：最大 30 μm x 30 μm、Z：最大 4.6 μm安装微悬臂在盒式微悬臂支架上一键安装。使用微悬臂安装位置调整专用工装夹具预对位，更换支架时无需光学调整。系统总重量约440 kg（不包含电脑桌）额定输入100－120 V/220－240 V、600 VA、50/60 Hz*该功能为选项功能。物镜规格型号倍率视场工作距离（W.D.）数值孔径（N.A.）MPLFLN5X108-864X2,560-320μm20.0mm0.15MPLAPON20XLEXT432-3,456X640-80μm1.0mm0.60MPLAPON50XLEXT1,080-8,640X256-32μm0.35mm0.95MPLAPON100XLEXT2,160-17,280X128-16μm0.35mm0.95微悬臂规格用途型号类型探针数量微悬臂探针材质金属膜涂层共振频率(kHz)弹簧常数(N/m)高度 (μm）前端半径(nm）探针/微悬臂探针涂层/反射涂层动态模式/相位模式OMCL-AC160TS-C3标准硅胶2430026147Si/Si无/AlOMCL-AC240TS-C3低弹簧常数硅胶24702147Si/Si无/Al接触模式OMCL-TR800PSA-1标准氮化硅3473/240.57/0.152.915SiN/SiN无/Au表面电位模式OMCL-AC240TM-B3电气测量专用硅胶187021415Si/SiPt/Al微悬臂、探针的机械特性及尺寸均为代表值。 微悬臂非常小，请注意不要伤到眼睛或不小心吞咽。 电流模式、磁力模式中使用的微悬臂的详细信息，请咨询经销商。 除上表以外，还有其他规格的微悬臂。

WITec的创新精神使得 alpha300 系列一直处于市场的领先地位。德国Witec公司是世界上最知名的扫描共焦拉曼显微镜（Confocal Raman Microscopy）制造商，与原子力显微镜，近场光学显微镜显微镜的完美结合，是国际探针扫描显微镜测试领域领航者。最先研发出快速成像技术（FAST RAMAN IMAGING）并将其作为标准技术，WITec 给拉曼成像市场带来了全新的变革。之后推出的首款真正共聚焦拉曼成像系统继续建立了多方面的基准：灵敏度、速度和三维成像，以及光谱质量、空间分辨率，易用性和与其它测试手段的兼容性。快速拉曼成像（FAST RAMAN IMAGING）是WITec每一套机械平台或压电台的扫描成像拉曼系统的标准配置。单个拉曼光谱的采谱时间可以短至125 毫秒（背照式 CCD）或 38 毫秒（前照式CCD）。配置 EMCCD时, 超快速拉曼成像（ULTRAFAST RAMAN IMAGING）速度大大提高, 单谱积分时间降低到 0.76毫秒。共聚焦显微拉曼光谱仪Alpha300 R，可以非破坏性地获得化学信息，分辨率可达光学衍射极限（～200 nm）。这使用户可以无需特殊样品制备的情况下，在周围环境中，对同一样品的不同阶段进行观察和分析。共聚焦装置，不仅可以从样品表面收集信息，还可以观测到透明样品的内部，甚至获得三维信息。一张完整的拉曼光谱是由每个像素构成的，因此由成千上万的谱图组成。Alpha300 R获得一张谱图的时间仅在毫秒量级，因而形成完整的图像仅需几分钟。当分析谱图中细致的特征峰时，仅用一组数据即可产生各种各样的图像。这可使用户不仅观测化合物的分布，也可对诸如结晶或材料的应力性质进行分析。进一步的应用，可典型应用在高分子科学，涂层和薄膜分析，在地球科学和制药业。产品特点真正的共聚焦拉曼显微镜单点光谱采集，单点深度分析，采集时间快：单个空间点的拉曼采谱时间降到ms级别。时间序列快速与超快拉曼光谱成像 (FAST & ULTRAFAST RAMAN IMAGING)图像叠加（配合电机或压电驱动的扫描平台）3D 成像与深度分析自动聚焦（共聚焦显微镜/共聚焦拉曼成像）电机定位平台可自动将样品移动到用户自定义的坐标上可实现原位原子力显微镜AFM与近场光学显微镜联用技术参数激光器：355nm,442nm, 488nm,514nm,532nm,633nm,785nm 等可选，功率10-150mW（根据不同激光器）光谱仪：300mm焦距，f/4；通光量 70％；600g/mm和1800g/mm光栅EMCCD: 1600x200背感光深度制冷电子倍增型光谱CCD基于Zeiss显微镜的共焦拉曼显微镜，空间分辨率可达200nm （采用532nm激光和油浸物镜PZT扫描台，扫描范围200x200x2um 扫描准确度4x4x0.5nm 线性度好于0.02%最大可装载样品直径150mm 标准测试模式：拉曼光谱，光谱vs时间，拉曼光谱影像XY, YZ 3D成像光学分辨率高：200nm(横向)，500nm(垂直方向)光谱分辨率高：0.02cm-1产品应用1.材料科学2.薄膜与聚合物研究3.生命科学4.半导体研究5.晶体研究6.制药科学

高效型共聚焦成像利器共聚焦成像要求非常出色的成像质量。LSM 800 是一款灵活性强的高效型激光共聚焦显微镜，高灵敏度 GaAsP 探测器和快速线性扫描技术使图像质量达到更优。运用 Airyscan 技术（蔡司革新性检测理念）能够在 X/Y/Z 三个维度上获得超出传统共聚焦1.7 倍的高分辨率，实现缩小 5 倍的共聚体积。灵敏度大大增加。LSM 800 是探索高端共聚焦成像应用的必备工具。仅需要决定现在所需的系统功能，之后可随着需求的增加进行升级。 根据需求量身定制 最多可使用 3 个高灵敏度 GaAsP 探测器 执行快速线性扫描 性能高效 在活细胞成像中拥有出色的灵活性 出众的图像质量 执行精准的定量分析 运用 Airyscan 技术获得超出所有传统共聚焦系统 1.7 倍的高分辨率和高灵敏度开放式接口实现系统扩展 在实验室或中心成像平台中，可以集成活体培养模块和先进的 Axiocam 相机到系统上，充分发挥它们的性能优势 ZEN 成像软件配合“Experiment Designer”模块，能够帮助实验设计人员自动完成日常的复杂成像 轻松实现与第三方软件的数据交换 使用功能强大的开放式应用开发框架（OAD）定义您的应用 使用蔡司 Shuttle & Find 关联显微技术模块，实现 LSM 800 与蔡司电子显微镜的关联应用用于高级共聚焦成像的高效型共聚焦系统LSM 800 具备出色的实用性和经济性： 拥有极高性价比的系统，稳定耐用、操作简便 节省实验室空间和经费开支：LSM 800 拥有占地空间小、设置简单，维护和培训方便，能够自我校准及具有低功耗等特点 整个生命周期内可控制的成本蔡司 Airyscan 助您开启共聚焦成像革新时代Airyscan 是一种阵列探测器，它允许荧光显微镜能够以扩展艾里斑的形式对近似点光源成像。当缩小标准共聚焦显微镜中的针孔大小来阻止非焦平面光穿过时，图像会变得更清晰，但由于损失了大量光信号，所以图像也会变的非常暗。针孔越小，分辨率越高，同时光损失的越多。Airyscan 通过将完整艾里斑成像至同心排列的六角形探测器阵列上，从而解决了分辨率与光效率之间的难题。它由 32 个探测器元件组成，每个元件均被视作艾里装置的子针孔。共聚焦针孔本身打开且不阻止光穿过，因此可以收集整个艾里斑的所有光子。然后，将所有探测器元件的信号重新分配至正确位置，以生成一幅具有高信噪比和分辨率的图像。与其它超高分辨率技术不同，Airyscan 充分利用了共聚焦的扫描和光切片性能。因此，这项技术甚至可用于需要更强穿透度的较厚样品，如组织切片或完整动物载玻片。 具有出色灵活性的流线型光路运用 Airyscan 技术的 LSM 800 的光路拥有高效率，使用少的光元件获得高灵敏度。荧光发射光穿过具有出色激光抑制性能的主二色分光镜来提供更佳图像对比度。使用多达两个拥有专利的可变次级二色分光（VSD）来对荧光发射光信号进行光谱分光。您可以自由定义多达三个探测器：multialkali、GaAsP 或 Airyscan。强劲组合LSM 800 通过提高扫描速度来解析标记蛋白质的快速移动。图像采集速率可高达 8 帧/秒，每幅图像包含 512 × 512 像素。此款显微镜能够连续监测和校正扫描器的位置，以确保稳定平整的观察视野及在整个观察范围内保持恒定的像素曝光时间。这项获得专利的线性扫描方式可以在整个扫描区域内（包含待操作的感兴趣区域）实现恒定信噪比和均匀曝光。LSM 800 使用超过 80% 的扫描时间进行数据采集。相比于正弦扫描系统，信噪比提高了约 29%。实验总是能够提供精确的定量数据。同样，您可以随时通过平移或剪裁调整扫描区域，自由旋转以更好地匹配样品的几何形状。

中图仪器VT6000激光共聚焦3D测量粗糙度显微镜基于光学共轭共焦原理，结合精密纵向扫描，以在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像，从而进行分析的精密光学仪器，一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。激光共聚焦3D测量粗糙度显微镜是以共聚焦技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；应用领域VT6000激光共聚焦3D测量粗糙度显微镜对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：性能特色1、高精度、高重复性1）以转盘共聚焦光学系统为基础，结合高稳定性结构设计和3D重建算法，共同组成测量系统，保证仪器的高测量精度；2）隔震设计能够消减底面振动噪声，仪器在嘈杂的环境中稳定可靠，具有良好的测量重复性。2、一体化操作的测量分析软件1）测量与分析同界面操作，无须切换，测量数据自动统计，实现了快速批量测量的功能；2）可视化窗口，便于用户实时观察扫描过程；3）结合自定义分析模板的自动化测量功能，可自动完成多区域的测量与分析过程；4）几何分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析五大功能模块齐全；5）一键分析、多文件分析，自由组合分析项保存为分析模板，批量样品一键分析，并提供数据分析与统计图表功能；6）可测依据ISO/ASME/EUR/GBT等标准的多达300余种2D、3D参数。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前工作。4、双重防撞保护措施除软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，保护仪器，降低人为操作风险。部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

OLS5000 3D测量激光显微镜可以精确地测量亚微米级的表面形状和粗糙度。图像采集速度比我们之前的型号OLS4100快四倍，大大提高了效率。1. 捕捉任意表面形状。 2. 快速获得可靠数据。3. 操作简单—只需放置样品并按一下按钮即可。4.测量具有挑战性的样品优异的平面分辨率LEXT OLS5000 3D测量激光显微镜配备的两套光学系统（彩色成像光学系统和激光共焦光学系统）让其能够获取彩色信息、高度信息和高分辨率图像。405nm紫色激光和专用高数值孔径物镜可以捕捉到传统光学显微镜、白光干涉仪或红色激光显微镜无法发现的精细纹理和缺陷。专用LEXT物镜我们的专用LEXT物镜系列近期新增了提升测量性能的长工作距离物镜和普通工作距离的10倍物镜。所有专用LEXT物镜的测量性能均可获得保证。4K扫描技术—检测陡峭斜面和近纳米级台阶的形貌4K 扫描技术可在X轴方向扫描4096像素，是传统机型的四倍。由此提高了高度测量的可靠性，改善了分辨率，信噪比提升了两倍。OLS5000显微镜无需图像处理就能检测几乎垂直的陡峭斜面和极低的台阶。 可准确测量高达87.5° 的大角度斜面。快速、精确的测量——PEAK算法OLS5000 3D测量激光显微镜采用了用于 3D 数据构建的 PEAK 算法。该算法可获得从低倍率到高倍率的高精度数据，并可缩短数据采集时间。VLSI 标准样品/ 80nm台阶 (MPLFLN10XLEXT) 简单分析简单分析功能可仅在指定测量范围内测量台阶、线宽、表面粗糙度和体积。自动检测测量结果变动的原因（如体积分析中参考平面的边缘位置和阈值）让测量结果保持稳定，不受操作员技能水平的影响。扩展架—可检测最大210毫米高度的样品载物台上可放置最大高度210毫米的样品。重复性和准确性等测量性能均确保与标准机台相同。

快速获取更优数据蔡司 Airyscan 2 的全新 Multiplex 模式可以在较短的时间内获取更多的信息。智能化照明和检测方案能够突破衍射极限，以高帧频实现具有挑战性的三维样本成像，而且仍可以温和处理敏感样品。如今，通过融合逐点扫描共聚焦的全面灵活性以及 Airyscan 高灵敏面检测器的速度和低光毒性，凭借超高分辨率，可以更快的成像速度解决您的科学问题。提高科研效率复杂的活细胞共聚焦成像实验从未如此容易。全新版的 ZEN 成像软件令搭载 Airyscan 2技术的全新 LSM 980 锦上添花，软件中丰富的功能任您使用。工作较以往更为便捷，可以在尽可能短的时间内实现可重复的成果。智能设置（Smart Setup）和全新样品导航器（Sample Navigator）可帮助您快速找到感兴趣区域并对其进行成像，使您有更多的时间来采集数据。同步数据处理（Direct Processing）功能允许同时进行图像采集和数据处理。无论是在成像期间还是在后期分享整个实验的过程时，ZEN Connect 都可让您随时掌控全局，轻松叠加和排列任何来源的图像。图像灵敏度更强LSM 980 ZEISS激光共聚焦显微镜可使具有挑战性的样本成像，实现“鱼和熊掌”兼得。LSM 9 系列的照明高效光路，最多具有 34 个通道同步采样，具有全光谱灵活性。而且可以实现高灵敏度的微弱信号成像。另外，如果搭配Airyscan 2，则这一历史性的面检测器可以在较短时间内从您的样本中提取更多信息。您不必为了获得超高分辨率而缩小针孔，这样甚至会使三维成像的光效率更高。您会从不同的样本中都获得优异的数据质量。 LSM 980Airyscan SRMultiplex SR-4YMultiplex SR-8YMultiplex CO-8Y并行扫描（行）1488分辨率120/120140/140120/160共聚焦或更佳最大拍摄速度4.72547.534.4抗体标记，细微结构++++++++++++++抗体标记，拼图+++++++++++++活细胞成像++++++++++++++

快速获取更优数据蔡司 Airyscan 2 的全新 Multiplex 模式可以在较短的时间内获取更多的信息。智能化照明和检测方案能够突破衍射极限，以高帧频实现具有挑战性的三维样本成像，而且仍可以温和处理敏感样品。如今，通过融合逐点扫描共聚焦的全面灵活性以及 Airyscan 高灵敏面检测器的速度和低光毒性，凭借超高分辨率，可以更快的成像速度解决您的科学问题。提高科研效率复杂的活细胞共聚焦成像实验从未如此容易。全新版的 ZEN 成像软件令搭载 Airyscan 2技术的全新 LSM 980 锦上添花，软件中丰富的功能任您使用。工作较以往更为便捷，可以在尽可能短的时间内实现可重复的成果。智能设置（Smart Setup）和全新样品导航器（Sample Navigator）可帮助您快速找到感兴趣区域并对其进行成像，使您有更多的时间来采集数据。同步数据处理（Direct Processing）功能允许同时进行图像采集和数据处理。无论是在成像期间还是在后期分享整个实验的过程时，ZEN Connect 都可让您随时掌控全局，轻松叠加和排列任何来源的图像。图像灵敏度更强LSM 980 ZEISS激光共聚焦显微镜可使具有挑战性的样本成像，实现“鱼和熊掌”兼得。LSM 9 系列的照明高效光路，最多具有 34 个通道同步采样，具有全光谱灵活性。而且可以实现高灵敏度的微弱信号成像。另外，如果搭配Airyscan 2，则这一历史性的面检测器可以在较短时间内从您的样本中提取更多信息。您不必为了获得超高分辨率而缩小针孔，这样甚至会使三维成像的光效率更高。您会从不同的样本中都获得优异的数据质量。 LSM 980Airyscan SRMultiplex SR-4YMultiplex SR-8YMultiplex CO-8Y并行扫描（行）1488分辨率120/120140/140120/160共聚焦或更佳最大拍摄速度4.72547.534.4抗体标记，细微结构++++++++++++++抗体标记，拼图+++++++++++++活细胞成像++++++++++++++

K1-Fluo Pro 多功能科研级激光荧光共聚焦显微镜 K1-Fluo Pro是韩国Nanoscope Systems 共聚焦显微镜公司为化学，医疗，生物，材料等领域而开发的一款多功能激光荧光共聚焦显微镜。 优异的光学组件，性能以及出色的性价比吸引了大批的海内外用户. 模块化的设计，开放性的设计理念使得K1-Fluo 的激光控制模块能够与Nikon,Olympus,Zeiss,Leica 的商用显微镜模块兼容Features & Benefits（性能及优势）：1. 高清晰的图像质量2. 开放式的设计模块3. 与各种商用显微镜主体兼容4. 操作简单5. 高性价比6. 可更换的模块主要功能：1.实时模式 在Live 模式下时，可通过移动物镜的位置并调节Detector Sensitivity并且可以实时观察图像的变化，以此获得高清晰的荧光图像。2. 二维图像测量 在Live 模式下时，点击Manual SNAP 可测量当前条件下的二维图像，若对当前测量的图像不满意，可再次选择测量的激光波长，调节测量条件后再次测量，可覆盖之前测量结果 。3. Z-SNAP (2D深度图像构建) 通过设置激光波长、扫描深度、光学切片的间隔，总的光学切片数等测量条件，并且通过计算机进行数据拟合，可获得一张二维图像深度照片，可以将不同深度的细胞全部显示在一张图像上。（当样品倾斜时非常适用）4. Z-STACK (3D构建） 通过设置Scan range, Interval, # of section等测量条件后，系统可以自动进行测量。 3DViewer三维图像软件可对图像的三维荧光形貌以及荧光强度进行分析， 或者可以对测量每一张测量的二维荧光图片进行单独的分析，调节LUT并导出特定区域的强度值，而且可以通过K1-image软件测量荧光部分的三维尺寸。 5. Video 功能 通过快速连续摄影的方式可以获得大量帧数的图像，通过电脑可将这些图像连接成一个视频。在对活体细胞增殖，以及研究抗癌药物对活细胞作用时非常有用。6. Stitch and EDF stitch（平面拼接与深度拼接） Stitch 是平面拼接功能，只扫描并拼接同一焦平面上的图片。 EDF stitch是在每一个扫描点同时做Z-SNAP 和Stitch(优点是可以看到深度图像，缺点是耗时比较长）7. Time lapse (延时） 通过设置拍摄的时间间隔以及需要拍摄的总张数，可以设置延时功能（特别适合追踪细胞活动以及观察细胞的增殖）8. Automatic Well Plate scanning （自动孔板扫描） 选择该功能后，根据所选的孔板类型，将会自动出现每一个对应的孔板坐标，单击每一个坐标，可将物镜自动移动到对应的孔板然后进行扫描。9. DIC 配置有微分干涉系统，可以观察细胞的干涉图像。10. 倒置/正置任意切换 配置有两套独立的正置与倒置系统，可根据使用时的需要在正置模式和倒置模式之间任意切换11. Jog Dial 配有两套独立的Jog Dial 操作控制系统，保证正置与倒置模式下的X,Y stage 相互独立运作，互不干扰。Software（软件）：Z-stack（3D 构建）：Z-STACK是利用Z轴的上下移动获得垂直方向的光学切片然后构建3D图像，选择用户想要的测量方法后（有三种测量方法可供选择：Top/bottom, Center/Range, Upper/Lower），设置Z轴的扫描范围（Scan range)，光学切片的间隔（Interval），光学切片的张数(# of section)Time lapse（延时功能）：Application field(应用领域）：Specifications（参数）：激光模块激光波长基础波长405, 488, 561nm (7mW each)可选波长445, 473, 514, 532, 637, 640, 660, 685, 705, 730, 785nm (10mW or more), selectable up to four lines扫描模块K1-Fluo RT扫描仪共振扫描器和检流镜扫描分辨率128x128 ~ 2048x2048 可选扫描速度30fps at 512 x 512 pixels (Bi-scan)15fps at 512 x 512 pixels (Uni-scan)放大范围0.7x~3x 连续扫描区域12.5mm的平方除以物镜放大倍数(场数18)扫描模式xy, xyz, xt, xyt, xyztPinhole自动切换Pinhole大小 (0.5~10 Airy size)重量7kg探测器模块探测范围400-750nm or NIR 可定制 探测范围标准高灵敏PMT低光模式超高灵敏GaAsP PMT基础模式带一个 PMT 的六轮滤光片转盘连续切换探测探测器数量Multi-ch 模式高达4个 PMTs 同步检测Emission filter自动滤片切换转轮或单个可更换滤片数据深度12bit重量1.5 kg显微镜模块正置或倒置数字显微镜体(DMB)或商用显微镜主体 带侧孔的尼康，奥林巴斯，蔡司，徕卡商业显微镜X，Y 位移台电动/手动位移台 行程范围 115x75 mm （可定制）， 可支持：载玻片，孔板，培养皿等Z-驱动自动位移台15mm行程 / 250nm 小步距.PZT 位移台 (单个物镜)400um 行程 / 1nm 步距配件Jog dialDIC(微分干涉）样品载物台（5个）磁悬浮隔振台选配：细胞孵化器物镜：支持空气物镜，油镜，水镜等多种规格的物镜气浮隔振光学平台空气压缩机重量12kg电子模块控制器电子器件 半导体激光发射器，扫描模块，探测器模块功耗: 100~240V, 450VA, 50/60Hz重量: 19kgPCPCWindows 10, 64bit功耗: 100~240V, 900VA, 50/60Hz

长宜光科超高分辨激光共聚焦显微镜MEAGLE 100的专业版基础上引入了超分辨SIM模块，这一创新性的集成带来了更广泛的应用和更高的性能水平。该显微镜不仅拥有超高分辨率成像的能力，还具备出色的成像速度，使其成为科学研究和实验室工作中的不可或缺的工具。首先，MEAGLE 100以其超快速度而脱颖而出。它能够在数百帧的速度下进行成像，这意味着它能够捕捉到活细胞的各种行为动态。这一特性对于研究细胞的生理和生物化学过程非常有帮助，同时还能确保连续数小时的低漂白成像，从而为实验提供了更大的时间窗口。其次，MEAGLE 100以其超高分辨率成像功能而脱颖而出，使研究者能够观察到更微观的细胞结构和细胞器的详细特征。这一特性在细胞生物学、神经生物学和其他领域中具有重要意义，因为它们需要深入研究微观结构以获得更全面的理解。MEAGLE 100还在场景丰富性方面表现出色。它不仅适用于基础细胞成像，还可以满足活细胞行为或特征分析等多种场景应用的需求。这种灵活性对于各种研究和实验项目都非常重要，因为它可以适应不同的研究问题和任务。最后，MEAGLE 100的易用性非常高。其软件允许用户一键切换共聚焦和超分辨两种成像模式，同时还提供了图像处理和细胞分析等功能。这使得研究者能够轻松地根据其具体需求和实验设计选择合适的模式，提高了实验的效率和便捷性。长宜光科超高分辨激光共聚焦显微镜MEAGLE 100的应用领域广泛，包括细胞生物学、病理学、药理学、神经生物学、免疫学等多个交叉学科。其卓越性能和多功能性使其成为科学研究者的得力助手，有望在各种领域的研究和应用中取得重要突破。 MEAGLE 100的引入为科学家们提供了一种强大的工具，有助于推动新的发现和知识积累。