我看到动态光散射纳米粒度测量的原理图，其中在激光发生器后加了起偏器，是否说明要求激光是线偏振的？什么类型的偏振对纳米颗粒的测量有什么影响吗？还有在光电倍增管前会有一组小孔光阑，这里小孔光阑的作用是什么？哪位高人知道的还请不吝指教。
激光粒度仪的激光探头如何设计 以及打孔，怎样打孔才能使激光探头在测量的时候保持稳定，还有激光探头的厚度是多大才是最合适！那位高手知道？小弟在此请教了！
日本折原SLP-2000散乱光应力仪是利用双折射来改变极化激光束的延迟，并且散乱光的强度随着激光束的延迟的变化而改变，通过偏振光光路上因激光束的延迟而出现的光程差和偏振特性来计算表面压应力和压应力层厚度。本文对散乱光弹性法测量化学钢化玻璃的表面应力的理论依据、测量技术等进行了介绍。SLP-2000散乱光应力测试仪为大部分国家较好一款化学钢化钠离子玻璃内应力检测仪器，用于测量化学强化和物理强化玻璃的内应力。该仪器采用无损检测方式，使用操作方便，既缩短了测量所需时间，又对玻璃生产过程进行及时监控，能很好的分析化学钢化玻璃的内应力分布情况，进而判断产品的钢化程度。[img=,690,346]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/09/202209211015394525_7007_1918511_3.jpg!w690x346.jpg[/img]【仪器特点】1.具有其他型号没有的较好的测量方法(激光束光弹性分析原理)。2.自动测量，因测试者造成的个人误差小。3.能够用电脑保存数据，便于品质管理。4.相位图与应力的映射关系算法可设计。5.使用LED光源，使用寿命长，达到10,000小时 (以前500小时)。6.使用了玻璃校准片因此可将机器误差控制到较小。7. .能够用电脑自动保存数据，便于品质管理。8.实现连续测量的同时并根据设置区间自动判断合格/不合格。9、在连续测量时系统自动保存测量的数据，并累计测量数目（合格数目/不合格数目）。10、除了连续测量，也可以自由选择单次测量、手动测量等测量方式。【技术参数】1. 测定对象 ：化学强化玻璃、化学2次强化玻璃、 物理强化玻璃2. 测定形状 ：平面-1000R 10*10mm以上3. 测定范围 ：应力值0-2000Mpa、 应力层高层度10-600μm4. 测定分辨能力：应力 5Mpa 高层度5μm5. 测定精度 ：从表面算起50μm之后 应力值±10MPa高层度±10μm（以标准片为基准）6. 光源 ：LD 520nm 30mW Glass3B 棱镜：S-LAL-10 ND=1.727. PC：***（Windows 10、测量软件已安装）8. 电源：AC220V±5V 高等9. 尺寸：300×600×200mm10. 重量：约 16kg【配置】1. DELL主机；2. CPU：inter core i5及以上；3. 2、系统及软件；4. Windows 10 professional edition 64bit；5. SLP分析、计算软件；6. PMC拟合软件；7. 3、包含主板、视频/音频、网卡、显示器、操作系统、键盘、鼠标等配件。【使用注意事项】1.请操作机器时要轻拿轻放被测样品，以免对棱镜部分造成损伤。2.当检测图像显示不清晰时，请自行用棉签棒沾工业酒精轻轻擦拭棱镜表面和斜面。3.***连通互联网和局域网以及含有***的 USB 接口的软盘或硬盘。4.请在室内使用该机器，避免强光照射，室内空气不可太潮湿，且酸碱度要适中。5.请远离其他化学品。6.请务必保存好配套的密码狗，如有丢失责任自负。7.请正确操作本机器配套的电脑配置，切勿随意强制关机，以免造成电脑毁坏。8.使用环境 ：18 －28，45~85%的环境，不结露（建议暂放在无尘车间）。
众所周知，激光的应用领域在人们生活中可谓是无处不在，你知或不知，激光应用就在那里，用它那精湛的激光加工技术丰富着您的生活。 今天我们就来探讨一下这样一个具有历史代表性的产业链，是怎样逆袭曾经的风貌。 目前随着激光技术的发展，已广泛用于单晶硅、多 晶硅、非晶硅太阳能电池的划片以及硅、锗、砷化镓和其他半导体衬底材料的划片与切割。那么说到这里肯定很多人会问，激光加工技术是利用什么原理来完成划片和切割的这样一个步骤的呢？ 从科学的角度上来讲，激光加工技术是利用激光束与物质相互作用的特性对材料（包括金属与非金属）进行切割、焊接、表面处理、打孔、微加工以及做为光源，识别物体等的一门技术，传统应用最大的领域为激光加工技术。激光技术是涉及到光、机、电、材料及检测等多门学科的一门综合技术，传统上看，它的研究范围一般可分为两大类： 一、激光加工系统； 二、激光加工工艺。 激光加工系统主要包括激光器、导光系统、加工机床、控制系统及检测系统这些配件。而激光加工工艺的范围就略广泛一些，主要应用在切割、焊接、表面处理、打孔、打标、划线、微雕等各种加工工艺。 从功能上来讲，激光加工工艺在激光焊接、激光切割、激光笔、激光治疗、激光打孔、激光快速成型、激光涂敷、激光成像上都有很成熟的一个应用。 另外激光在医学上的应用主要分为三类：激光生命科学研究、激光诊断、激光治疗，其中激光治疗又分为：激光手术治疗、弱激光生物刺激作用的非手术治疗和激光的光动力治疗。激光美容、激光去除面部黑痣、激光治疗近视、激光除皱、都是激光领域是医学行业内伟大的成就。 在军事方面，激光成就了战术激光武器、战略激光武器、激光动力推动器等，此外激光武器的关键技术已取得突破，2013年低能激光武器已经投入使用。 在通信方面，激光通过大气空间传输达到通信目的，激光大气通信的发送设备主要由激光器（光源）、光调制器、光学发射天线（透镜）等组成；接收设备主要由光学接收天线、光检测器等组成。 目前激光已广泛应用到激光焊接、激光切割、激光打孔（包括斜孔、异孔、膏药打孔、水松纸打孔、钢板打孔、包装印刷打孔等）、激光淬火、激光热处理、激光打标、玻璃内雕、激光微调、激光光刻、激光制膜、激光薄膜加工、激光封装、激光修复电路、激光布线技术、激光清洗等 发展前景 由此可见激光的空间控制性和时间控制性很好，对加工对象的材质、形状、尺寸和加工环境的自由度都很大，特别适用于自动化加工，激光加工系统与计算机数控技术相结合可构成高效自动化加工设备，已成为企业实行适时生产的关键技术，为优质、高效和低成本的加工生产开辟了广阔的前景。 激光划片机现状 激光划片机又称为陶瓷激光切割机或激光划线机，采用连续泵浦声光调Q的 Nd: YAG 激光器或绿激光作为工作光源，由计算机控制二维工作台，能按输入的图形做各种运动。输出功率大，划片精度高，速度快，可进行曲线及直线图形切割；无污染，噪音低，性能稳定可靠等优点。 目前，常见的硅晶体划片工艺分接触划片和非接角划片（激光划片工艺）两种： 接触划片工艺： 接触划片工艺主要有锯片切割等多种方法，是过去硅晶体、太阳能电池的切割方法，缺点是精度差，废品率高，速度慢。 非接触划片工艺： 非接触划片工艺主要是激光划片，由于是非接触方式，划线细，精度高，速度快，目前是太阳能电池等划片的主要方法。 江苏启澜激光科技有限公司开发研制的晶圆激光划片机具有国际先进水平，主要适用于表面玻璃钝化硅晶圆的划片机切割加工。激光加工技术已广泛应用于制造、表面处理和材料加工领域。晶圆紫外激光划片机，其无接触式加工对晶圆片不产生应力、具有较高的加工效率、极高的加工成品率，可有效的解决困扰晶圆切割划片的难题。同时，图像识别、高精度控制、自动化技术的发展，使得能实现图像自动识别、高精度自动对位、自动切割融为一体的晶圆切割划片机成为可能。国内激光晶圆切割划片系统的需求正以每年70％的速度增长，2010年的保有量将会达到500台左右，约合3亿元人民币。 国内激光晶圆切割划片系统的需求正以每年70％的速度增长，2010年的保有量将会达到500台左右，约合3亿元人民币。 调查显示，瑞士、美国和日本主要的激光晶圆切割机生产商每年在中国市场约销售近100台，国外设备售价在40～42万美元左右，为了提高我国激光精密加工装备的国产化水平，降低设备的采购及使用成本，提高行业的生产效率。晶圆紫外激光划片技术代表了当今世界晶圆切割加工技术前沿的发展方向，对国家未来新兴的晶圆制造产业的形成和发展具有引领作用，有利于晶圆制造技术的更新换代，实现跨越发展。
共焦显微镜因其高分辨率和能三维立体成像的优点被广泛应用在生物、医疗、半导体等方面。文章首先分析了影响共焦显微镜分辨率的因素，主要有光源、探测器孔径和杂散光等；并结合这些因素介绍了双光子共焦碌微镜、彩色共焦显微镜、荧光共焦显微镜、光纤共焦显微镜；然后从提高系统成像速度的方面介绍了波分复用共焦显微镜和频分复用共焦显微镜；最后分析了共焦显微镜的发展趋势。一、引言随着人们对于生物医学的研究，传统的光学显微镜已经无法满足研究的需要，人们需要可以实现三维成像的显微镜。1957年Marvin Minsky提出了共焦扫描显微镜的原理。1969年，耶鲁大学的Paul Davidovits和M．David Egger设计了第一台共焦显微镜，1987年第一台商业化共焦显微镜的问世，真正实现了三维立体成像。与普通光学显微镜相比，共焦显微镜具有极其明显的优点：能对物体的不同层面进行逐层扫描，从而获得大量的物体断层图像；可以利用计算机进行图像处理；具有较高的横向分辨率和纵向分辨率；对于透明和半透明物体，可以得到其内部的结构图像；还可以对活体细胞进行观察，获取活细胞内的信息，并对获得的信息进行定量分析。自共焦显微原理被提出以来，引起了研究者的广泛关注，提高显微系统的分辨率和改善系统的性能是研究者开发新型显微镜时考虑的主要因素。近几十年，国内外学者通过对共焦显微成像系统的三维点扩散函数、光学传递函数等方面的分析，得出影响显微系统分辨率的因素，主要包括系统的激励光源、探测器孔径、杂散光等。此外，共焦显微镜的成像速度也是决定系统性能的一个重要因素，专家们也一直在进行提高系统成像速度的研究。本文主要从提高显微系统分辨率和系统成像速度这两个方面来介绍共焦显微镜的发展情况。二、共焦扫描显微镜分辨率的提高光源、探测器孔径和杂散光等是影响共焦显微镜分辨率的几个主要因素，因此可以通过改善这些方面来提高显微系统的分辨率。1.光源显微镜的成像性质在很大程度上取决于所采用光源的相干性，有关研究表明，光源相干性好的系统其分辨率要比相干性差的系统要好，并且照明光源对分辨率的改变范围达到了26.4%。因此，选取适合的照明光源对提高显微系统的分辨率有很大帮助。常规的共焦扫描显微镜主要使用普通单色激光作为光源，随着技术的进步，目前已经出现了使用飞秒激光、超白激光、高斯光束作为光源的共焦显微镜，以提高系统性能，获得更高的分辨率。①飞秒激光为光源的双先子扫描共焦显微镜双光子扫描共焦显微镜通常使用近红外的飞秒激光作为激发光源，由于红外光具有较强的穿透性，它能探测到生物样品表面下更深层的荧光图像，并且生物组织对红外光吸收少，随着探测深度的增加衰减会变小，另一方面红外光的衍射低，光束的形状保持性好。2005年，Wild等人利用双光子扫描共焦显微技术实时观察和定量分析了PAHs在植物叶片表面和内部的光降解过程。后来又进一步研究了菲从空气到叶片的迁移过程、菲在叶片内部的运动及其分布情况等，该技术可观测PAHs在叶片内部的最大深度约为200μm。②白激光( supercontinuum laser）为光源的彩色共焦显微镜彩色共焦显微镜是利用光学系统的彩色像差，光源的不同光谱成分会聚焦到样品的不同深度，通过分析由样品反射的光谱能有效地获得样品的扫描深度。2004年，美国宾夕法尼亚州立大学的Zhiwen Liu课题小组使用光子晶体光纤产生的超连续谱白光作为彩色共焦显微镜的光源，这种超连续谱白光具有大的带宽，能够提高系统的扫描范围，能达到7μm扫描深度。另外超白激光有较高的空间相干性，无斑点噪声，能提高系统的信噪比和扫描速度。③使用高斯光束的荧光共焦显微镜荧光共焦显微镜是通过激光照射样品激发样品发出荧光，再通过探测器接受荧光对样品进行观察的共焦显微镜。华南农业大学的杨初平等人研究了不同光源孔径和束斑尺寸的高斯光束对荧光共焦显微镜分辨率的影响表明：与一定孔径尺寸的平行光束相比，采用高斯光束系统可以获得更好的分辨率。 2. 探测器孔径和杂散光共焦显微镜中探测器孔径能滤除部分杂散光，提高系统的分辨率和信噪比。根据相关文献对共焦扫描显微镜的三维光学传递函数与探测器孔径之间的依赖关系的研究，可以得到探测小孔直径为：d=β*1.22λ/NA，式中，β为物镜的放大率，λ为光的波长，NA为物镜的数值孔径。由该公式确定探测器小孔的直径，一方面满足了共焦扫描系统对探测器小孔直径的要求，从而保证高的横向和纵向分辨率，另一方面，又最大限度地使由试样中发射的荧光能量被探测器接收。为了更进一步提高系统分辨率，许多研究者对共焦显微镜中探测孔径进行了改进，例如使用单模光纤代替普通针孔孔径，还有双D型孔径等。① 使用单模光纤的光纤共焦显微镜在光纤共焦显微镜中用光纤分路器代替传统共焦显微镜中的光束分路器，并以单模光纤来代替光源和探测器的微米尺寸针孔孔径。使用单模光纤的优点在于：首先，在采用寻常针孔制作的共焦显微镜中，光源、针孔、探测器等有可能不在一条直线上从而会引起像差；但是在光纤作为针孔的共焦显微镜中，即使有的部件偏离直线时也不会引入像差。其次，使用单模光纤代替微型针孔，容易清除针孔的污染，而且不易受污染。第三，在使用光纤的系统中，可以自由移动显微镜部分而不必挪动探测器。2006年德克萨斯大学使用光纤共焦显微镜进行口腔病变检测，测得的系统横向和轴向分辨率分别为2. 1µm和10µm，成像速度为15帧／s，可观测范围为200µm×200µm。② 具有D型孔径的共焦显微镜近几年，具有对称D型光瞳的共焦显微成像技术引起广泛的关注，图1所示是该系统示意图。2006年美国东北大学的Peter J．Dwyer等人使用这种共焦显微镜进行了人体皮肤内部成像的实验，测得横向分辨率为1.7士0.1µm。2009年新加坡国立大学的Wei Gong等人采用傍轴近似方法理论分析了在共焦显微镜中使用双D型孔径对轴向分辨率的影响。分析表明在图1中的d值给定时，进入瞳孔的光信号强度l会随着探测器尺寸的增加而增加；但是在探测器尺寸给定时，光信号强度I会随着d的增加而单调递减。在使用有限大小的探测器时，改变d的大小，轴向分辨率可以得到改善。 http://www.biomart.cn//upload/userfiles/image/2011/11/1321512815.png 图1 双D型孔径共焦成像系统示意图在共焦成像光学系统中，到达像面的杂散光会在像面上产生附加的强度分布，从而进一步降低了像面的对比度，限制了系统分辨率的提高，因此在显微系统设计时，杂散光的影响也是不容忽视的。一般除了使用探测小孔来抑制杂散光，其他的一些设备例如可变瞳滤波器等对杂散光也有很好的过滤作用。最近以色列魏茨曼科学研究所的O.sipSchwartz and Dan Oron等人提出在系统中使用可变瞳滤波器，这个滤波器能够使多光子荧光共焦显微镜达到分辨率阿贝极限的非线性模拟，从而改善系统的分辨率。三、共焦扫描显微成像速度的提高共焦显微镜快速的成像速度为研究者观察生物细胞中快速动态反应提供了良好的条件。在共焦扫描显微成像系统中，传统的方法是通过改善扫描探测技术来提高成像速度。现有的扫描探测技术主要有Nipkow转盘法、狭缝共焦检测法、多光束的微光学器件检测法。这些方法可以改善扫描速度，但是与系统分辨率，视场之间都存在矛盾，因此又诞生了两种提高成像速度的新型显微镜：波分复用共焦显微镜和频分复用共焦显微镜。
三维显微激光拉曼光谱仪三维显微激光拉曼光谱仪装置Nanofinder30 Nanofinder30 三维显微激光拉曼光谱仪装置是日本首创,世界最初的分析装置。它能在亚微米到纳米范围内,测定物质化学状态的三维图像。它由共焦激光显微镜,压电陶瓷平台(或电动扫描器)和光谱仪组成。并能自选追加原子力显微镜和近场表面增强拉曼测定的功能。 最新测量数据[ 变形Si的应力测定]PDF刊登 用二维的平面分析来评价变形Si。空间分辨率130nm, 变形率0.01%(0.1cm偏移)。 半导体/电子材料(异状物,应力,化学组成,物理结构)薄膜/保护膜(DLC,涂料,粘剂)/界面层,液晶内部构造结晶体(单壁碳纳米管,纳米晶体)光波导回路,玻璃,光学结晶等的折射率变化生物学(DNA, 蛋白质, 细胞 组织等) 以亚微米级分辨率和三维图像,能分析物质的化学结合状态空间分辨率200nm(三维共焦点模式),50nm(二维TERS模式)能同时测定光谱图像(拉曼/萤光/光致荧光PL),共焦显微镜图像,扫描探针显微镜图像(AFM/STM)和近场表面增强拉曼图像(SERS)能高速度,高灵敏度地测定样品(灵敏度:与原来之比10倍以上)不需要测定前样品处理,在空气中能进行非破坏测定全自动马达传动系统的作用,测定简单 共焦显微镜模式不能识别结晶缺陷,然而光致荧光(PL)模式却能清楚地测到结晶缺陷 共焦激光显微镜模式的形状测定 光谱窗 560 nm 用光致荧光(PL)模式测到的结晶缺陷的光谱图像(560nm的三维映像) 用AFM和共焦显微拉曼法同时测定CNT,能判定它的特性 (金属,半导体)和纯度。 同时测定单壁碳纳米管(CNT)的原子力显微镜(AFM) 形貌图像和拉曼光谱图像的例子 :拉曼光谱: 激光488nm,功率1.5mW,曝光时间2 sec,物镜100×Oil, NA=1.35, 积分时间100 sec (AFM和拉曼图像测定时) AFM形貌图像(右上)表示了单壁碳纳米管混合物的各种形状结构。图像中用数字1到8来表示其不同形状。数字1-6测得了拉曼光谱(上图所示),判定为半导体CNT。但7-8测不到拉曼光谱,所以不是半导体CNT,而可能是金属CNT(可用He-Ne激光633nm验证)。最上面表示了RBM(173cm-1), G-band(1593cm-1)及D-band(1351cm-1)的拉曼光谱图像 综合激光器和光谱分析系统的长处,坚固耐用的复合设计,卓越的仪器安定性,是纳米技术测定装置中的杰出产品。 ※日本纳米技术2004大奖“评价和测量部门”得奖. ※日本第16届中小企业优秀技术和新产品奖 “优良奖”得奖. 光学器件配置图Nanofinder30 [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/12/200812071751_122565_1634361_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/12/200812071751_122566_1634361_3.jpg[/img][~122567~][~122568~]
我现在用reinshaw的共聚焦激光拉曼光谱测氧化铝中的应力。很多问题不明白，谁明白能在这里讲一下吗
我是新手，想请教一下激光拉曼谱能否用于测量固体表面的残余应力和微观缺陷？过程复杂吗？多谢！
当库尔特颗粒计数器小孔管小孔堵塞硬颗粒，反冲不掉，还有什么好的办法，用硫酸泡还是？
激光测距仪一般采用两种方式来测量距离：脉冲法和相位法。脉冲法测距的过程是这样的：测距仪发射出的激光经被测量物体的反射后又被测距仪接收，测距仪同时记录激光往返的时间。光速和往返时间的乘积的一半，就是测距仪和被测量物体之间的距离。脉冲法测量距离的精度是一般是在+/- 1米左右。另外，此类测距仪的测量盲区一般是15米左右。 激光测距仪是用激光做为主要工作物质来进行工作的。目前，市场上的手持式激光测距仪的工作物质主要有以下几种：工作波长为905纳米和1540纳米的半导体激光，工作波长为1064纳米的YAG激光。1064纳米的波长对人体皮肤和眼睛是害的，特别是如果眼睛不小心接触到了1064纳米波长的激光，对眼睛的伤害可能将是永久性的。所以，在国外，手持激光测距仪中，完全取缔了1064纳米的激光。在国内，某些厂家还有生产1064纳米的激光测距仪。 对于905纳米和1540纳米的激光测距仪，我们就称之为“安全”的。对于1064纳米的激光测距仪，由于它对人体具有潜在的危害性，所以我们就称之为“不安全”的。 激光测距仪已经被广泛应用于以下领域：电力，水利，通讯，环境，建筑，地质，警务，消防，爆破，航海，铁路，反恐/军事，农业，林业，房地产，休闲/户外运动等。
求购： x 光透视仪 1台 激光标刻、激光陶瓷打孔、激光银片切割设备若干
[font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &][color=#05073b][size=18px] 便携式拉曼光谱仪激光器使用寿命是多少，便携式拉曼光谱仪的激光器使用寿命并不是一个固定的数值，因为它受到多种因素的影响。以下是一些影响激光器使用寿命的关键因素以及相应的解释： 控制发射功率：合理地控制激光器的发射功率是延长激光器寿命的有效方法之一。控制发射功率可以缓解晶体加热的程度，从而减缓晶体老化的速度。 维护工作环境：保持工作环境的良好通风和恒温状态，控制温度在激光器所允许的范围内，能够有效地延长激光器的使用寿命。 日常维护工作：多关注激光器的运行状态，及时更换性能不佳的部件，定期清洗光学元件和泵浦激光器，做好日常维护工作，也可以有效延长激光器的使用寿命。 具体到数值上，由于不同品牌和型号的便携式拉曼光谱仪激光器存在差异，以及使用环境、操作方式等因素的不同，因此无法给出确切的使用寿命数字。 然而，一般而言，如果正确操作和维护，激光器的使用寿命可以达到数千小时甚至更长。但是，这只是一个大致的估计，实际使用寿命可能因具体情况而异。 为了延长便携式拉曼光谱仪激光器的使用寿命，建议用户遵循以下几点： 仔细阅读并遵守产品说明书中的操作和维护指南。 定期对激光器进行清洁和检查，确保其处于良好的工作状态。 避免将激光器暴露在极端温度、湿度或灰尘环境中。 遵循正确的开关机顺序和操作流程，避免对激光器造成不必要的损害。 总之，虽然无法给出便携式拉曼光谱仪激光器确切的使用寿命数字，但通过正确的操作和维护，可以有效地延长其使用寿命。[/size][/color][/font]
[b][url=http://www.f-lab.cn/vivo-imaging/rp2.html]激光荧光成像仪[/url][/b][url=http://www.f-lab.cn/vivo-imaging/rp2.html]Lab-FLARE[/url]是采用激光发射激发荧光技术的实验室近红外荧光成像系统和多功能光子荧光成像控制器，与各种手持式荧光成像仪一起,提供近红外荧光高清成像，同时提供700 nm近红外荧光图像，800nm近红外荧光成像和彩色视频。[b]激光荧光成像仪特点[/b]控制使用2个4K高清监测器与所有我公司荧光成像头一起工作，获得高清荧光图像满FLARE容量的四个独立的视频流高功率665nm 和760nm激光激发,提供几乎没有近红外光的白光同时700 nm近红外荧光，800纳米近红外荧光成像，彩色视频输出，几何/数学融合。综合GPIO的大功率继电器统一的FLARE软件与脚本笔记本电脑集成锁存器及一套RC系列成像头带关节臂定位RC系列成像头的可选推车可选的VESA安装做它自己的RC系列成像安装头激光荧光成像仪Lab-FLARE：[url]http://www.f-lab.cn/vivo-imaging/rp2.html[/url]
安捷伦1200排气阀连接废液管处还有个小孔，具体是做什么的啊，大家注意到没啊
最近双喷，5%高氯酸，20V，30s出孔。喷出来全是小孔，如果时间再延长一点，中间小孔变大，薄区仍然不好。是双喷液太浓，还是电压太高？我尝试把电压降低，5V，结果表面变脏，全是腐蚀产物，这又是为什么？求达人赐教。
[color=#990000]摘要：增材制造的激光粉末床融合过程中，在环境气氛窗口5~101KPa范围内，可使得熔池更稳定和降低孔隙率。本文介绍了实现气氛压力控制的方法以及具体布局和相应配置。[/color][align=center][img=增材制造,690,325]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/12/202112121732534721_961_3384_3.jpg!w690x325.jpg[/img][/align][size=18px][color=#990000][/color][/size][align=center]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/align] [size=18px][color=#990000]增材制造的低压气氛激光粉末床融合工艺[/color][/size] 特点：熔池更稳定和降低孔隙率。 低压气氛要求：在工艺窗口为5kPa~101kPa内实现快速准确的气压控制。[align=center][img=增材制造,690,479]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/12/202112121734044490_4158_3384_3.png!w690x479.jpg[/img][/align][align=center][color=#990000]图1 真空激光粉末床融合设备[/color][/align][size=18px][color=#990000]气压控制[/color][/size] 控制方法：双向控制模式，同时调节上游进气电动针阀和下游电动球阀来调节进气流量和真空泵排气速率。 传感器：真空压力传感器，测量范围5kPa~101kPa，精度±0.2%。 控制器：双通道PID控制器，双向控制功能。[align=center][color=#990000][img=增材制造,690,229]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/12/202112121735072671_1242_3384_3.png!w690x229.jpg[/img][/color][/align][align=center][color=#990000]图2 真空激光粉末床融合环境压力控制框图[/color][/align]
本强化玻璃的评价装置具有：偏振光相位差可变构件，使激光的偏振光相位差相对于所述激光的波长变化一个波长以上；拍摄元件，以规定的时间间隔多次拍摄散射光并取得多个图像，所述散射光是通过将所述偏振光相位差变化了的激光向强化玻璃入射而发出的散射光；及运算部，使用所述多个图像，测定所述散射光的周期性的亮度变化，算出所述亮度变化的相位变化，基于所述相位变化来算出从所述强化玻璃的表面起的深度方向上的应力分布，并使用所述多个图像来测定与所述强化玻璃的强度有关的物理量。[img=,690,517]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/08/202208041122097962_2765_2863862_3.jpg!w690x517.jpg[/img]1.一种强化玻璃的评价装置，其特征在于，具有：偏振光相位差可变构件，使激光的偏振光相位差相对于所述激光的波长变化一个波长以上；拍摄元件，以规定的时间间隔多次拍摄散射光并取得多个图像，所述散射光是通过将所述偏振光相位差变化了的激光向强化玻璃入射而发出的散射光；及运算部，使用所述多个图像测定所述散射光的周期性的亮度变化，算出所述亮度变化的相位变化，基于所述相位变化来算出从所述强化玻璃的表面起的深度方向上的应力分布，并使用所述多个图像来测定与所述强化玻璃的强度有关的物理量。2.根据权利要求1所述的强化玻璃的评价装置，其特征在于，所述运算部测定所述散射光的亮度作为所述物理量。3.根据权利要求1所述的强化玻璃的评价装置，其特征在于，所述多个图像具备斑点图案，所述运算部测定所述斑点图案的亮度的方差值作为所述物理量。4.根据权利要求1所述的强化玻璃的评价装置，其特征在于，所述运算部测定所述强化玻璃的折射率作为所述物理量。5.根据权利要求1～4中任一项所述的强化玻璃的评价装置，其特征在于，所述激光的波长的透过率相对高的第一光波长选择构件与所述激光的波长的透过率相对低的第二光波长选择构件能够切换地插入到所述激光向所述拍摄元件入射的光路上，所述运算部测定所述第一光波长选择构件插入到所述光路上时的所述散射光的第一亮度和所述第二光波长选择构件插入到所述光路上时的所述散射光的第二亮度作为所述物理量，并计算所述第一亮度与所述第二亮度的比率。6.根据权利要求1～4中任一项所述的强化玻璃的评价装置，其特征在于，使第一波长带域的激光透过的第一光波长选择构件和使第二波长带域的光透过的第二光波长选择构件以在所述第一波长带域的激光入射的情况下选择所述第一光波长选择构件而在所述第二波长带域的激光入射的情况下选择所述第二光波长选择构件的方式，能够切换地插入到所述激光向所述拍摄元件入射的光路上，所述运算部测定所述第一波长带域的激光入射而所述第一光波长选择构件插入到所述光路上时的所述散射光的第一亮度和所述第二波长带域的激光入射而所述第二光波长选择构件插入到所述光路上时的所述散射光的第二亮度作为所述物理量。7.根据权利要求1～6中任一项所述的强化玻璃的评价装置，其特征在于，所述运算部在从所述强化玻璃的表面起的深度方向上的多个区域测定所述物理量。8.根据权利要求1～7中任一项所述的强化玻璃的评价装置，其特征在于，所述偏振光相位差可变构件是液晶元件。9.根据权利要求1～7中任一项所述的强化玻璃的评价装置，其特征在于，所述偏振光相位差可变构件是光弹性常数与杨氏模量相乘而得到的值为0.1以上且通过加压而产生所述偏振光相位差的透明构件。10.根据权利要求9所述的强化玻璃的评价装置，其特征在于，所述透明构件是石英玻璃或聚碳酸酯。11.根据权利要求1～10中任一项所述的强化玻璃的评价装置，其特征在于，所述激光的最小射束直径的位置处于所述强化玻璃的离子交换层内，所述最小射束直径为20μm以下。12.根据权利要求1～11中任一项所述的强化玻璃的评价装置，其特征在于，向所述强化玻璃入射的所述激光的入射面相对于所述强化玻璃的表面为45±5°。13.根据权利要求12所述的强化玻璃的评价装置，其特征在于，所述强化玻璃的评价装置具有光供给构件，该光供给构件使所述偏振光相位差变化了的所述激光向作为被测定体的强化玻璃内相对于玻璃表面倾斜地入射，以向所述强化玻璃入射的所述激光的入射面相对于所述强化玻璃的表面成为45±5°的方式设定所述光供给构件的所述激光入射的面的角度。14.根据权利要求1～13中任一项所述的强化玻璃的评价装置，其特征在于，在所述光供给构件与所述强化玻璃之间具备与所述强化玻璃的折射率的折射率差为0.03以下的液体，所述液体的厚度为10μm以上且500μm以下。15.根据权利要求14所述的强化玻璃的评价装置，其特征在于，在所述光供给构件的与所述强化玻璃相接的面上形成有深度为10μm以上且500μm以下的凹陷，在所述凹陷内填充有所述液体。16.根据权利要求14所述的强化玻璃的评价装置，其特征在于，在所述光供给构件的表面设置与所述强化玻璃相接的突起部，所述突起部成为经由所述光供给构件向所述强化玻璃内入射的所述激光的光路的一部分，在所述突起部的与所述强化玻璃相接的一侧形成有深度为10μm以上且500μm以下的凹陷，17.根据权利要求16所述的强化玻璃的评价装置，其特征在于，所述突起部更换自如地保持于所述光供给构件的表面。18.根据权利要求16或17所述的强化玻璃的评价装置，其特征在于，在所述凹陷的周围形成平坦的外缘部，所述平坦的外缘部成为与所述强化玻璃相接的面。19.根据权利要求15～18中任一项所述的强化玻璃的评价装置，其特征在于，所述凹陷由具备弯曲的部分的面构成。20.根据权利要求15～19中任一项所述的强化玻璃的评价装置，其特征在于，在所述凹陷的周围形成将所述液体排出的槽。21.根据权利要求15～20中任一项所述的强化玻璃的评价装置，其特征在于，在所述光供给构件的折射率与所述强化玻璃的折射率不同的情况下，取得所述强化玻璃的折射率，根据基于所述强化玻璃的折射率求出的所述强化玻璃中的所述激光的轨迹与利用所述拍摄元件取得的所述激光的图像的关系，导出所述激光向所述强化玻璃入射时的入射余角，基于所述入射余角的值，对于从所述强化玻璃的表面起的深度方向上的应力分布进行校正。22.根据权利要求21所述的强化玻璃的评价装置，其特征在于，所述强化玻璃的折射率基于利用所述拍摄元件取得的所述激光的图像而导出。23.根据权利要求1～22中任一项所述的强化玻璃的评价装置，其特征在于，在所述强化玻璃的厚度已知的情况下，基于算出的所述应力分布及所述强化玻璃的厚度，推定取得应力平衡那样的所述强化玻璃的最表面的相位变化量，并对表面应力值进行校正。24.根据权利要求1～23中任一项所述的强化玻璃的评价装置，其特征在于，所述强化玻璃的评价装置具备测定所述强化玻璃的厚度的单元，测定所述应力分布及所述强化玻璃的厚度，基于测定出的所述强化玻璃的厚度来推定所述强化玻璃的最表面的相位变化量。[img=,500,348]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/08/202208041121080314_7677_2863862_3.png!w500x348.jpg[/img]25.根据权利要求1～24中任一项所述的强化玻璃的评价装置，其特征在于，在所述强化玻璃的所述激光的出射侧，所述强化玻璃中的所述激光满足全反射的条件。26.根据权利要求1～25中任一项所述的强化玻璃的评价装置，其特征在于，所述强化玻璃的评价装置具有：第二光供给构件，使来自第二光源的光向所述强化玻璃的具有压缩应力层的表面层内入射；光取出构件，使在所述表面层内传播的光向所述强化玻璃外射出；光转换构件，将经由所述光取出构件射出的光中包含的与所述强化玻璃和所述光取出构件的交界面平行及垂直地振动的两种光成分转换成分别具有两根以上的亮线的两种亮线列；第二拍摄元件，拍摄所述两种亮线列；及位置测定单元，从由所述第二拍摄元件得到的图像测定所述两种亮线列各自的两根以上的亮线的位置，所述运算部将与基于所述位置测定单元的测定结果算出的所述两种光成分对应的从所述强化玻璃的表面起的深度方向上的第一区域的应力分布与基于所述相位变化算出的所述第一区域以外的应力分布合成。27.一种强化玻璃的评价方法，其特征在于，包括：偏振光相位差可变工序，使激光的偏振光相位差相对于所述激光的波长变化一个波长以上；拍摄工序，以规定的时间间隔多次拍摄散射光，并取得多个图像，所述散射光是通过将所述偏振光相位差变化了的激光向强化玻璃入射而发出的散射光；及运算工序，使用所述多个图像来测定所述散射光的周期性的亮度变化，算出所述亮度变化的相位变化，基于所述相位变化算出从所述强化玻璃的表面起的深度方向上的第一应力分布，并使用所述多个图像来测定与所述强化玻璃的强度有关的物理量。28.根据权利要求27所述的强化玻璃的评价方法，其特征在于，在所述运算工序中，测定所述散射光的亮度作为所述物理量。29.根据权利要求27所述的强化玻璃的评价方法，其特征在于，在所述运算工序中，测定所述斑点图案的亮度的方差值作为所述物理量。30.根据权利要求27所述的强化玻璃的评价方法，其特征在于，在所述运算工序中，测定所述强化玻璃的折射率作为所述物理量。31.根据权利要求27～30中任一项所述的强化玻璃的评价方法，其特征在于，所述激光的波长的透过率相对高的第一光波长选择构件与所述激光的波长的透过率相对低的第二光波长选择构件能够切换地插入到所述激光向在所述拍摄工序中使用的拍摄元件入射的光路上，在所述运算工序中，测定所述第一光波长选择构件插入到所述光路上时的所述散射光的第一亮度和所述第二光波长选择构件插入到所述光路上时的所述散射光的第二亮度作为所述物理量，计算所述第一亮度与所述第二亮度的比率。32.根据权利要求27～30中任一项所述的强化玻璃的评价方法，其特征在于，使第一波长带域的激光透过的第一光波长选择构件和使第二波长带域的光透过的第二光波长选择构件以在所述第一波长带域的激光入射的情况下选择所述第一光波长选择构件而在所述第二波长带域的激光入射的情况下选择所述第二光波长选择构件的方式，能够切换地插入到所述激光向在所述拍摄工序中使用的拍摄元件入射的光路上，在所述运算工序中，测定所述第一波长带域的激光入射而所述第一光波长选择构件插入到所述光路上时的所述散射光的第一亮度和所述第二波长带域的激光入射而所述第二光波长选择构件插入到所述光路上时的所述散射光的第二亮度作为所述物理量。33.根据权利要求27～32中任一项所述的强化玻璃的评价方法，其特征在于，在所述运算工序中，在从所述强化玻璃的表面起的深度方向上的多个区域测定所述物理量。34.根据权利要求27～33中任一项所述的强化玻璃的评价方法，其特征在于，在偏振光相位差可变工序中，利用液晶元件使所述偏振光相位差变化。35.根据权利要求27～34中任一项所述的强化玻璃的评价方法，其特征在于，所述强化玻璃的评价方法包括如下工序：基于P偏振光及S偏振光的亮线的位置来算出各自的折射率分布，并基于所述P偏振光与所述S偏振光的折射率分布差和强化玻璃的光弹性常数来求出第二应力分布。36.一种强化玻璃的评价方法，其特征在于，关于利用相同的制造工序制造的多个强化玻璃中的至少一张以上的强化玻璃，将利用权利要求35所述的强化玻璃的评价方法求出的所述第一应力分布与所述第二应力分布合成而得到应力分布，关于其余的强化玻璃，仅测定所述第一应力分布及所述第二应力分布中的任一方而得到应力分布。37.一种强化玻璃的制造方法，其特征在于，根据通过强化玻璃的评价方法得到的应力值来求出特性值，在确认特性值是否进入管理值内之后进行出货判断，所述强化玻璃的评价方法包括：偏振光相位差可变工序，使激光的偏振光相位差相对于所述激光的波长变化一个波长以上；拍摄工序，以规定的时间间隔多次拍摄散射光，并取得多个图像，所述散射光是通过将所述偏振光相位差变化了的激光向强化玻璃入射而发出的散射光；及运算工序，使用所述多个图像来测定所述散射光的周期性的亮度变化，算出所述亮度变化的相位变化，基于所述相位变化算出从所述强化玻璃的表面起的深度方向上的第一应力分布，并使用所述多个图像来测定与所述强化玻璃的强度有关的物理量。38.根据权利要求37所述的强化玻璃的制造方法，其特征在于，在所述偏振光相位差可变工序中，利用液晶元件使所述偏振光相位差变化。39.根据权利要求37或38所述的强化玻璃的制造方法，其特征在于，所述强化玻璃的制造方法包括如下工序：基于P偏振光及S偏振光的亮线的位置而算出各自的折射率分布，基于所述P偏振光与所述S偏振光的折射率分布差和强化玻璃的光弹性常数来求出第二应力分布。40.根据权利要求39所述的强化玻璃的制造方法，其特征在于，关于利用相同的制造工序制造的多个强化玻璃中的至少一张以上的强化玻璃，将利用所述评价方法求出的所述第一应力分布与所述第二应力分布合成而得到应力分布，关于其余的强化玻璃，仅测定所述第一应力分布及所述第二应力分布中的任一方而得到应力分布。41.根据权利要求37或38所述的强化玻璃的制造方法，其特征在于，包括两次以上的强化工序，该强化工序制造对含锂玻璃进行了强化的强化玻璃而进行该强化玻璃的出货判断，所述各强化工序基于利用所述评价方法得到的所述第一应力分布进行所述出货判断。42.根据权利要求41所述的强化玻璃的制造方法，其特征在于，在最终次的所述强化工序中，所述评价方法包括如下工序：基于P偏振光及S偏振光的亮线的位置来算出各自的折射率分布，基于所述P偏振光与所述S偏振光的折射率分布差和强化玻璃的光弹性常数来求出第二应力分布的工序，并基于利用所述评价方法得到的第二应力分布进行出货判断。43.根据权利要求42所述的强化玻璃的制造方法，其特征在于，在除了最终次之外的所述强化工序中，基于从所述第一应力分布导出的玻璃最深部的应力值(CT)及应力值成为0的玻璃深度(DOL_zero)，进行所述出货判断。44.根据权利要求42或43所述的强化玻璃的制造方法，其特征在于，在最终次的所述强化工序中，对所述第二应力分布进行函数近似，进行所述出货判断。45.根据权利要求44所述的强化玻璃的制造方法，其特征在于，利用下述的式(2)进行所述函数近似，【数学式2】σ f (x)＝ax+CS2 …(2)其中，σf(x)是第二应力分布，a是斜率，CS2是最表面的应力值。46.根据权利要求44所述的强化玻璃的制造方法，其特征在于，利用下述的式(3)进行所述函数近似，[img=,500,511]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/08/202208041120516155_2540_2863862_3.png!w500x511.jpg[/img]【数学式3】σ f (x)＝CS2erfc(ax) …(3)其中，σf(x)是第二应力分布，a是斜率，CS2是最表面的应力值，erfc是误差函数。47.根据权利要求42～46中任一项所述的强化玻璃的制造方法，其特征在于，在除了最终次之外的所述强化工序中，使用在该强化工序中得到的第二应力分布、强化玻璃的板厚t、事先测定的同一条件的强化玻璃的第一应力分布，将所述第一应力分布与所述第二应力分布合成，从合成后的应力分布找到玻璃最深部的应力值(CT)而导出特性值，根据特性值是否进入允许范围来进行所述出货判断。48.根据权利要求42～47中任一项所述的强化玻璃的制造方法，其特征在于，在除了最终次之外的所述强化工序中，使用在该强化工序中得到的第二应力分布、强化玻璃的板厚t、事先测定的同一条件的强化玻璃的第一应力分布，将所述第一应力分布与所述第二应力分布合成，找到合成后的应力分布的积分值成为0的玻璃最深部的应力值(CT)而导出特性值，根据特性值是否进入允许范围来进行所述出货判断。49.根据权利要求42～47中任一项所述的强化玻璃的制造方法，其特征在于，在除了最终次之外的所述强化工序中，使用在该强化工序中得到的第二应力分布、强化玻璃的板厚t、事先测定的同一条件的强化玻璃的第一应力分布，将所述第一应力分布与所述第二应力分布合成，利用下述的式(5)将合成后的应力分布近似，找到σ(x)的积分值(x＝0～t/2)成为0的玻璃最深部的应力值(CT)而导出特性值，根据特性值是否进入允许范围来进行所述出货判断。
半导体激光器自动温度控制中配件比较多，不同的配件在运行中如果使用不当的话，就会造成半导体激光器自动温度控制配件故障，如果发生故障，改怎么解决呢？ 半导体激光器自动温度控制压缩机结霜，可能是循环水流通或阀未打开，检查水阀，所有管路，保证畅通，加装短路管道。可能是循环水管道配置过小，加大循环水管直径，保证水循环正常。 半导体激光器自动温度控制循环水箱内结冰可能是设定温度过低更正设定值；可能水箱内水无循环水，在冷冻水出口和进口之间短接一条循环水路；可能是温控表失控，更换温控表 高压故障 散热不良，散热器过脏，清洗散热器 能风不好，改善通风条件 散热风机不工作，检查风机马达是否烧坏短路维修或更换电机马达；高压擎损坏，更换高压擎； 制冷不良，冷媒不足或管道漏媒，补充冷媒或检漏后补焊，抽真空再补充冷媒 散热不良，散热器过脏、散热水阀门未打开或打开太小，将散热器清理干净，将阀门全开。 半导体激光器自动温度控制水泵故障可能是半导体激光器自动温度控制水泵电机线圈短，断路，修理电机线圈或更换电机，如果是水泵过载保护器自动跳开，将保护器的电流限数在允许的范围内适当调高半按下复位键。 半导体激光器自动温度控制温按表温度显示数字上下跳动可能是温控表损坏，修理或更换温控表，可能是感温线接触不良，修理或更换感温线，可能是感温线及测温体有污，将测温体擦干净。 半导体激光器自动温度控制压缩机故障可能是压缩机线圈短，断路，更换匹配的压缩机，压缩机过载保护器自动跳开，将保护器的电流限数在允许的范围内适当调高并按下复位键。 半导体激光器自动温度控制的配件要想避免一些故障的话，建议平时多多保养半导体激光器自动温度控制的有关说明，做好保养工作。
请教各位大侠ICP PE8000炬管上的小孔起什么作用，如果测试过程中銅箔脱落了一半没有盖住小孔会有什么影响?[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/05/201805311005303336_5370_3367133_3.jpeg[/img]
一只JG-503型手腕激光治疗仪，鼻腔照射头不工作了，没有红激光输出。主机显示屏的状态显示正常，分析是鼻腔照射头中的红激光二极管损坏了，拆开照射头检修一下。见下面图片，在鼻腔照射模式（模式2）下，照射头没有红激光输出：[img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/11/202211020109113687_9082_1807987_3.jpg[/img]取下导线插头，拆开照射头。用万用表测量了导线，没有断线。是激光管有问题：[img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/11/202211020109116933_7008_1807987_3.jpg[/img]微距图片，照射头由两只贴片NPN型三极管（1AM）和电阻、电容构成的驱动电路及激光二极管组成：[img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/11/202211020109118300_8562_1807987_3.jpg[/img]电路板背面：[img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/11/202211020109124244_8991_1807987_3.jpg[/img]根据PCB上元件分布，绘出照射头电路图如下：[img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/11/202211020109122326_8874_1807987_3.png[/img]照射头电路工作原理：这是一个恒流驱动电路。R1是驱动激光管内发射管LD的三极管Q2偏置电阻，激光管内光电二极管PD和取样电阻R3以及三极管Q1构成Q2基极电流控制电路。当激光管的LD电流变大后，激光输出强度增加，光电二极管PD电流增加，取样电阻R3压降提高，Q1集电极电流增加，流入Q2基极电流减少，Q2集电极电流下降即流过激光管LD电流降低，达到恒流控制的效果。反之亦然。电路中C是滤波电容，防止线路感应的浪涌损坏激光管。下面是在TB新购的激光二极管，型号RLD650005，650nm红光，额定功率5mW，装在防静电屏蔽袋中：[img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/11/202211020109128271_7059_1807987_3.jpg[/img]该激光二极管主要参数如下：[img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/11/202211020109125085_2589_1807987_3.jpg[/img]从参数表中得知，激光二极管中的发射管LD反向电压2V，光电二极管PD的反向电压30V，工作温度-10～40℃，是比较娇气的。激光二极管对静电敏感，要求在储运、组装、使用中有防静电措施。使用时要求适配稳定的驱动电路及良好散热，高电压、大电流、电浪涌都有可能使其损坏。照射头的电路板太小，不及一根手指宽，用小焊接工作台的夹子夹住进行更换焊接（电烙铁外壳应接地，防止感应电损坏激光管）：[img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/11/202211020109130677_4081_1807987_3.jpg[/img]更换新激光二极管后，先通电试一下，亮了！[img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/11/202211020109127206_3230_1807987_3.jpg[/img]装还原，鼻腔照射头工作正常：[img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/11/202211020109133102_2895_1807987_3.jpg[/img]维修后语：手腕激光治疗仪配的鼻腔照射头，引线有点像耳机线，比较娇气，使用中要注意轻拿轻放。常见的故障有电线折断、激光二极管损坏，稍有电工知识的人都能维修。激光二极管发射出的激光有可能对人眼造成伤害，严禁照射人眼、严禁直视其发光端面，不能透过镜片直视激光，也不要透过反射镜观察激光。平时要放置妥当，不要让小孩子玩耍。
激光雷达可以按照所用激光器、探测技术及雷达功能等来分类。目前激光雷达中使用的激光器有二氧化碳激光器，Er:YAG激光器，Nd：YAG激光器，喇曼频移Nd：YAG激光器、GaAiAs半导体激光器、氦-氖激光器和倍频Nd：YAG激光器等。其中掺铒YAG激光波长为2微米左右，而GaAiAs激光波长则在0.8-0.904微米之间。根据探测技术的不同，激光雷达可以分为直接探测型和相干探测型两种。其中直接探测型激光雷达采用脉冲振幅调制技术（AM），且不需要干涉仪。相干探测型激光雷达可用外差干涉，零拍干涉或失调零拍干涉，相应的调谐技术分别为脉冲振幅调制，脉冲频率调制（FM）或混合调制。按照不同功能，激光雷达可分为跟踪雷达，运动目标指示雷达，流速测量雷达，风剪切探测雷达，目标识别雷达，成像雷达及振动传感雷达。激光雷达最基本的工作原理与无线电雷达没有区别，即由雷达发射系统发送一个信号，经目标反射后被接收系统收集，通过测量反射光的运行时间而确定目标的距离。至于目标的径向速度，可以由反射光的多普勒频移来确定，也可以测量两个或多个距离，并计算其变化率而求得速度，这是、也是直接探测型雷达的基本工作原理。由此可以看出，直接探测型激光雷达的基本结构与激光测距机颇为相近。相干探测型激光雷达又有单稳与双稳之分，在所谓单稳系统中，发送与接收信号共同在所谓单稳态系统中，发送与接收信号共用一个光学孔径。并由发射/接收（T/R）开头隔离。T/R开关将发射信号送往输出望远镜和发射扫描系统进行发射，信号经目标反射后进入光学扫描系统和望远镜，这时，它们起光学接收的作用。T/R开关将接收到的辐射送入光学混频器，所得拍频信号由成像系统聚焦到光敏探测器，后者将光信号变成电信号，并由高通滤波器将来自背景源的低频成分及本机振荡器所诱导的直流信号统统滤除。最后高频成分中所包含的测量信息由信号和数据处理系统检出。双稳系统的区别在于包含两套望远镜和光学扫描部件，T/R开关自然不再需要，其余部分与单稳系统的相同。美国国防部最初对激光雷达的兴趣与对微波雷达的相似，即侧重于对目标的监视、捕获、跟踪、毁伤评（SATKA）和导航。然而，由于微波雷达足以完成大部分毁伤评估和导航任务，因而导致军用激光雷达计划集中于前者不能很好完成的少量任务上，例如高精度毁伤评估，极精确的导航修正及高分辨率成像。较早出现的一种激光雷达称为“火池”，它是由美国麻省理工学院的林肯实验室投资，于60年代末研制的。70年代初，林肯实验室演示了火池雷达精确跟踪卫星，获得多普勒影像的能力。80年代进行的实验证明，这种CO2激光雷达可以穿透某些烟雾，识破伪装，远距离捕获空中目标和探测化学战剂。发展到80年代末的火池激光雷达，采用一台高稳定CO2激光振荡器作为信号源，经一台窄带CO2激光放大器放大，其频率则由单边带调制器调制。另有工作于蓝-绿波段的中功率氩离子激光与上述雷达波束复合，用于对目标进行角度跟踪，而雷达波束的功能则是收集距离――多普勒影像，实时处理并加以显示。两束波均由一个孔径为1.2M的望远镜发射并接收。据报道，美国战略防御局和麻省理工学院的研究人员于1990年3月用上述装置对一枚从弗吉尼亚大西洋海岸发射的探空火箭进行了跟踪实验。在二级点火后6分钟，火箭进入亚轨道，即爬升阶段，并抛出其有效负载，即一个形状和大小均类似于弹道导弹再入飞行器的可充气气球。该气球有气体推进器以提供与再入飞行器和诱饵的物理结构相一致的动力学特性。目标最初由L波段跟踪雷达和X波段成像雷达进行跟踪。并将这些雷达传感器取得的数据交给火池激光雷达，后者成功地获得了距离约800千米处目标的像。[~116966~][~116967~][~116968~][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191651_624049_1602049_3.jpg[/img]
显微拉曼光谱仪的空间分辨率在0.5-1微米之间，那么这个数值是如何得出的呢？空间分辨率与入射激光的波长是否有关系呢？今天我们主要来讨论一下这个问题。下面这个公式不知道大家是否熟悉，学光学的小伙伴应该认出了它就是衍射光斑直径公式啦：[align=center]D = 1.22 λ / NA[/align]我们可以认为对于显微拉曼光谱仪而言，能够实现的最小光斑尺寸就是衍射极限，简而言之，对于上述公式，其中D就是要计算的激光光斑直径，λ即激发激光波长，NA就是所使用显微物镜的数值孔径。举个例子，如果显微镜采用数值孔径为0.8的显微物镜，那激发波长为532nm的激光光斑直径理论上就应该约为811nm。但是实际上，由于显微拉曼光谱仪本身的光学系统要更加复杂，比如激光光子和拉曼光子的散射以及它们与样品表面的相互作用均会导致空间分辨率的下降，因此，显微拉曼光谱仪的空间分辨率通常为1微米左右。 通过公式我们还可以得出以下结论，在使用同样显微物镜的前提下，波长越短的激发激光能够提供更高的空间分辨率。同样，在使用同一波长激光的前提下，数值孔径越大的显微物镜能够提供越高的空间分辨率。小伙伴们以后如果需要使用显微拉曼光谱仪，就可以根据激光波长和显微物镜的数值孔径来对空间分辨率做一个初步判断啦~这篇文章最初发表在微信公众号RamanSpectra上，大家有兴趣可以关注一下，比心❤
[size=6][b]激光粒度分析仪[/b][/size] 光在传播中，波前受到与波长尺度相当的隙孔或颗粒的限制，以受限波前处各元波为源的发射在空间干涉而产生衍射和散射，衍射和散射的光能的空间（角度）分布与光波波长和隙孔或颗粒的尺度有关。用激光做光源，光为波长一定的单色光后，衍射和散射的光能的空间（角度）分布就只与粒径有关。对颗粒群的衍射，各颗粒级的多少决定着对应各特定角处获得的光能量的大小，各特定角光能量在总光能量中的比例，应反映着各颗粒级的分布丰度。按照这一思路可建立表征粒度级丰度与各特定角处获取的光能量的数学物理模型，进而研制仪器，测量光能，由特定角度测得的光能与总光能的比较推出颗粒群相应粒径级的丰度比例量。
激光切割是将激光束通过聚焦镜聚集成很小的光点投射到金属表面，焦点处达到很高的功率密度，这时材料被照射部位很快加热至汽化温度，蒸发形成孔洞，随着光束与材料相对线性移动，使孔洞连续形成宽度很窄的切缝，从而达到切割材料的目的。[align=center][url=http://www.teyu.com.cn/][img]http://5b0988e595225.cdn.sohucs.com/images/20190226/71c21b4e64704b90a180645a76f3cdbf.png[/img][/url][/align]激光切割机在长期的工作时，光路会发生偏差，影响切割效果。只有激光管、反射镜架（A、B、C）及聚焦镜和相应的调节装置的完美配合才能达到最好的效果，加工出最好的产品来，这是使用激光切割机的核心部分。所以，定时的检查光路以及调整是非常必要的工作。各部件及结构反射镜架A[align=center][url=http://www.teyu.com.cn/][img]http://5b0988e595225.cdn.sohucs.com/images/20190226/85c0b4aa285644c9a51bdc678d37f05d.png[/img][/url][/align]1.光靶放置架2.反射镜3.拉簧锁紧螺丝4.调节螺杆5.调节螺母6.锁紧螺丝a7.锁紧螺丝b 8.调节螺丝M1 9.反射镜锁紧片10.调节螺丝M 11.调节螺丝M2.12.拉簧13.反射镜安装板14.支撑板15.底座.反射镜架B(其安装底板与A镜架不同外其余相同)。[align=center][url=http://www.teyu.com.cn/][img]http://5b0988e595225.cdn.sohucs.com/images/20190226/f22799a604134398b7bffdf56340b996.png[/img][/url][/align]1.安装底板(可左右移动)2.锁紧螺丝反射镜架C[align=center][url=http://www.teyu.com.cn/][img]http://5b0988e595225.cdn.sohucs.com/images/20190226/9deb99cd652d403eab14428a8f7b3672.png[/img][/url][/align]1.反射镜调整板2.反射镜3.锁紧螺丝4.调节螺丝M1 5.反射镜调整板6.反射镜压紧板7.调节螺丝M 8.锁紧螺丝9.调节螺丝M2聚焦镜[align=center][url=http://www.teyu.com.cn/][img]http://5b0988e595225.cdn.sohucs.com/images/20190226/7ea202ecb6b746b6b0ce1f735c20075f.png[/img][/url][/align]1.聚焦镜内筒2.进气管3.限位螺圈4.气嘴过渡套5.气嘴6.镜筒7.限位螺丝8.调节套筒.了解了各个部件的名称，下面我们就来教大家调整激光切割机光路的方法：四道光路调整(1)第一道光的调整，用美纹纸贴在反射镜A的调光靶孔上，手动点动出光(注此时功率不要用太大)，微调反射镜A的底座及激光管支架，使光打在靶孔中心，注意光不能被挡。(2)第二道光的调整，将反射镜B移至远程，用张硬纸板由近至远出光，把光导进十字光靶里，因为远程光在靶里边则近端一定在靶里边，接着把近端和远程光斑调为一致，即近端怎偏，远程也跟着怎么偏，使十字架在近端和远程光斑中都处在同一个位置即近是(远是)说明光路与Y轴导轨平行。(3)第三道光的调整(注：十字架将光斑左右对分)，将反射镜C移至远程，把光导进光靶，在进端与远程各打靶一次，对比十字架的位置调成跟近端光斑中十字架的位置一样，这时表明光束与X轴平行。此时光路偏里或外，则需将镜架B上的M1、M2、M3同松或紧，直至左右对分。(4)第四道光的调整，用一块美纹纸粘在出光口上，使出光孔在胶纸上留下一个圆形痕迹，点动出光，取下胶纸观察小孔位置，视情况调节镜架C上的M1、M2、M3直至光斑圆且正为止。[align=center][url=http://www.teyu.com.cn/][img]http://5b0988e595225.cdn.sohucs.com/images/20190226/fad92e4f34e74baf92b0be78beb4d3c9.jpeg[/img][/url][/align]
实验室经常会用到气体。其中有减压阀，以前一直用，我是不问为什么的。了解之后，才发现，减压阀里面就靠一个小孔实现减压，也是非常之神奇：高压介质通过一个小孔充到一个相对较大的腔里实现减压,实际上是靠截流减压.膜片或活塞的两面一面是出口腔,一面是人为给的压力,并且控制小孔大小的阀杆和膜片(活塞)相连.这样只要给一个固定的压力,那么出口腔的压力就会一直等于这个压力,这个认为给定的压力可以有弹簧或气源或液压源来提供.我个人认为，这个孔必然形成阻流器，输出端如果是一个空腔的话，以某恒定流量输出，不仅能减压，而且能稳压。我以为阻流孔加工很有要求，应该很贵吧，上网一查，国内很多工厂都能做！I服了U，我们科技真是进步了，流体能控制了。各位以为对否？
[font=微软雅黑]1.激光粒度仪在医药、制药行业中的应用[/font][font=微软雅黑]一般情况下，随着粒径的减小，其粒度细微均匀，比表面积增大，孔隙率增加，吸附性增强，溶解性增强，亲和力变大，化学反应速率增加，改善了药物的溶出度，能使有效成分较好地分散、溶解在胃液里，且与胃黏膜的接触面积变大，更易被胃肠道吸收，从而提高了治疗效果。[/font][font=微软雅黑] [/font][font=微软雅黑]对于普通水溶性较好的原料药，常用的就是湿法激光粒度仪。但是由于药剂种类繁多，面对一些水溶性不好或者常用分散介质中很难分散的药剂时，考虑干法激光粒度仪进行检测。[/font][font=微软雅黑] [/font][font=微软雅黑]2.用于建筑材料生产[/font][font=微软雅黑][font=微软雅黑]水泥的粒度分布如何将极大的影响混凝土的强度。粒度分布的测量对[/font]zui终产品的质量控制，降低生产成本，提高产品质量，减少能耗方面均有极大的作用。对于水泥生产的实时控制，就需要激光粒度仪这样的监控仪器，保证数据的输出连续性，确保质量的可靠。[/font][font=微软雅黑] [/font][font=微软雅黑]3.用于大[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/bp][color=#3333ff]气质[/color][/url]量的监测[/font][font=微软雅黑][font=微软雅黑]大气污染中主要是粒子状污染物。飘尘具有的交替特性使其形成气溶胶如雾、烟、尘，会对环境造成极大影响。可以利用激光粒度仪测定大气中烟尘、灰尘在不同时间、不同位置的含量而得出大气中烟尘、灰尘时间[/font]-空间分布图，从而控制各地工业发展方向，为解决环境污染和全球性气候预测起到一定的指导作用。[/font][font=微软雅黑] [/font][font=微软雅黑][color=#0000ff]4.用于江河湖泊水质监测[/color][/font][font=微软雅黑] [font=微软雅黑]近年来，各部门致力于江河湖泊水质的治理。利用激光粒度仪测量水中金属氧化物以及固体颗粒含量，可以实时监控水质是否达标。同时，河水泥沙含量同样是一个重要指标，对于河口海岸带水质、地貌、环境等的研究具有重要意义。使用激光粒度仪测量可以让测量者得到连续的变化曲线，从而利于对于环境变化的分析。[/font][/font][font=微软雅黑] [/font][font=微软雅黑]5.激光粒度仪在水泥行业的应用[/font][font=微软雅黑][font=微软雅黑]现如今水泥厂都偏向于将水泥磨细来提高水泥强度，其实水泥石强度并不一定随水泥细度的增加、组分水化活性的提高而提高。但颗粒越细，水化活性越高；[/font]zui初的强度发展速率随细度增加而增长。在规范中，水泥细度通常用筛余或比表面积来衡量。实际上除了进行上述指标的控制，对于细度而言粒度分布也是重要因素。[/font][font=微软雅黑] [/font][font=微软雅黑][font=微软雅黑]激光粒度仪是指组成水泥的所有颗粒中，不同粒径颗粒所占有的[/font] [font=微软雅黑]百分比。粒度分布的测定不仅是控制水泥颗粒细度的一种有效的方法，更重要的是它将对粉磨、分级等环节的优化提供准确的依据。水泥的粒度分布情况将极大地影响混凝土的强度。[/font][/font][font=微软雅黑] [/font]
世界上第一台激光器，是由美国休斯飞机公司的科学家梅曼于1960年，首先研制成功的。美国军方很快就在此基础上开展了对军用激光装置的研究。1961年，第一台军用激光测距仪通过了美国军方论证试验，对此后激光测距仪很快就进入了实用联合体。 激光是六十年代发展起来的一项新技术。它是一种颜色很纯、能量高度集中、方向性很好的光。激光测距仪是利用激光进行测距的一种仪器。它的作用原理很简单：通过测定激光开始发射到激光从目标反射回来的时间来测定距离。例如用激光测距仪来测量月球的距离，如果激光从开始发射到从月球反射回来的时间被测定为2.56秒，激光发射到月球的单程时间就等于1.28秒，而激光的速度是光速，等于每秒三十万公里。因此，测得的月球离地球的距离为单程时间和光速的乘积，即三十八万四千公里。为了发射和接收激光，并进行计时，激光测距仪由激光发射器、接收器、钟频振荡器及距离计数器等组成。激光测距仪还能用来对人造卫星跟踪测距，测量飞机飞行高度，对目标进行瞄准测距，以及进行地形测绘，勘察等。 激光测距仪重量轻、体积小、操作简单速度快而准确，其误差仅为其它光学测距仪的五分之一到数百分之一，因而被广泛用于地形测量，战场测量，坦克，飞机，舰艇和火炮对目标的测距，测量云层、飞机、导弹以及人造卫星的高度等。它是提高高坦克、飞机、舰艇和火炮精度的重要技术装备。 由于激光测距仪价格不断下调，工业上也逐渐开始使用激光测距仪。国内外出现了一批新型的具有测距快、体积小、性能可靠等优点的微型测距仪，可以广泛应用于工业测控、矿山、港口等领域。
激光测距仪基本知识激光测距仪的工作原理是怎样的？ 激光测距仪一般采用两种方式来测量距离：脉冲法和相位法。脉冲法测距的过程是这样的：测距仪发射出的激光经被测量物体的反射后又被测距仪接收，测距仪同时记录激光往返的时间。光速和往返时间的乘积的一半，就是测距仪和被测量物体之间的距离。脉冲法测量距离的精度是一般是在+/- 1米左右。另外，此类测距仪的测量盲区一般是15米左右。激光测距仪的应用领域主要是那些方面？ 激光测距仪已经被广泛应用于以下领域：电力，水利，通讯，环境，建筑，地质，警务，消防，爆破，航海，铁路，反恐/军事，农业，林业，房地产，休闲/户外运动等。为什么激光测距仪还有所谓“安全”和“不安全”的区别？ 顾名思义，激光测距仪是用激光做为主要工作物质来进行工作的。目前，市场上的手持式激光测距仪的工作物质主要有以下几种：工作波长为905纳米和1540纳米的半导体激光，工作波长为1064纳米的YAG激光。1064纳米的波长对人体皮肤和眼睛是害的，特别是如果眼睛不小心接触到了1064纳米波长的激光，对眼睛的伤害可能将是永久性的。所以，在国外，手持激光测距仪中，完全取缔了1064纳米的激光。在国内，某些厂家还有生产1064纳米的激光测距仪。 对于905纳米和1540纳米的激光测距仪，我们就称之为“安全”的。对于1064纳米的激光测距仪，由于它对人体具有潜在的危害性，所以我们就称之为“不安全”的。
[em09503]关于激光共聚焦显微镜的3D成像噪声控制，高手进来讨论一下。1 噪声产生的原理？2 激光的强度、补偿以及针孔直径对噪声的影响有什么规律？3 采用更大的分辨率和更慢的激光扫描速率以及多次平均扫描能否更好的控制噪声？4 还有什么其他有效的方法？[em09511]附几张带有噪声的图片，有兴趣的我可以提供原始文件（ZEISS的LSM格式）。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191651_625647_1633980_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/05/200905301042_152604_1633980_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/05/200905301042_152605_1633980_3.jpg[/img]
哪位大神用过激光测氧仪？谁知道里面的激光器一般选用哪种激光器啊？是不是DFB半导体？功率一般是什么级别的？
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