应力双折射

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应力双折射相关的耗材

  • 低双折射旋转光纤
    低双折射旋转光纤LB650 | LB1060 | LB1300 | LB1300RC | PME1300-10 Spun fiber:Rotating glass preform during fiber drawing process produces a waveguide with unique properties: all fiber non-uniformities are averaged along all possible directions, effectively cancelling out total fiber birefringence. With total (but not local) birefringence close to zero, we obtain a fiber that will hold circular polarization (even when bent or twisted). Unlike conventional PM fibers that can hold only linearly polarized light, or annealed fiber that requires special handling, this low-birefringence fiber preserves both linear and circular polarization and can relay it with minimum error over large distances. Highly-birefringent preforms with incorporated stress produce spun fibers that can withstand significant bending and twisting and hold polarization over large number of coils with reasonable accuracy (without costly annealing process). Polarization accuracy in this case depends on local (instant) birefringence that introduces a small constant error, independent of fiber length. Elliptical core fiber Our elliptical-core PME1300-10 fiber provides high polarization extinction and insensitivity to bending and twisting stress. Unlike conventional PM fibers, birefringence of the elliptical-core waveguide has low thermal dependence (10 times lower than Panda). Due to core geometry the splice losses to a conventional circular-core fiber (SMF, Panda or Bow-tie) are asymmetrical - 0.5 dB for circular-toelliptical coupling and 2.5 dB for elliptical-to-circular arrangement.Elliptical core fiber:Our elliptical-core PME1300-10 fiber provides high polarization extinction and insensitivity to bending and twisting stress. Unlike conventional PM fibers, birefringence of the elliptical-core waveguide has low thermal dependence (10 times lower than Panda). Due to core geometry the splice losses to a conventional circular-core fiber (SMF, Panda or Bow-tie) are asymmetrical - 0.5 dB for circular-toelliptical coupling and 2.5 dB for elliptical-to-circular arrangement.Features:- High extinction ratio- Reduced coupling loss- Low temperature dependence Applications - Fiber-optic gyros- Optical current sensors - Fiber amplifiers需要咨询更多的服务请与我们的市场人员联系。
  • PR-32a折射仪 PR-32a折射仪 PR-32a折射仪
    PR-32a折射仪 日本ATAGO 产品详细介绍 高品质RX-5000数字式折射计系列之一,带有漏斗槽,可以灌入样品进行连续测量。也可对不同样品进行连续测量,不需每次清洗棱镜,提高测量效率。 产品功能描述 测量范围:   折射率(nD) 1.32700 to 1.58000 Brix 0.00 to 95.00% 最小标度:   折射率(nD) 0.00001 Brix 0.01% 测量精度:   折射率(nD) ± 0.00004 Brix ± 0.03% 温度校正 5~60℃ 输出接口 RS-232, CDP-62数字式打印机(另售) 损耗 40VA 电源需求 电压 AC100~240V, 50/60Hz 产品特征 长度 21cm 宽度 29cm 高度 34cm 重量 11.0kg(除漏斗槽) 产品持有证书   CE
  • 数字袖珍折射仪药品折射仪PAL-RI
    数字手持袖珍折射仪PAL-RI 数字手持袖珍折射仪PAL-RI是PAL系列中唯一可测量折射率的新款产品.适合在药品及化工制品等以折射率来管理产品质量的过程中使用. Model PAL-RI 型号 3850 测量范围 折射指数 1.3306 至1.5284 溶解值 折射指数0.0001 测量准确度 折射指数± 0.0003 (在20度摄氏使用水时) 环境温度 10 至40° C 测量温度 5 至45° C (溶解值1° C ) 样本量 0.3 ml 测量时间 3 秒 电源 2 × AAA 电池 国际保护等级 IP65 无尘且对喷射水柱具防护作用 尺寸重量 55(W) × 31(D)× 109(H)毫米, 100公克(不含零件的重量) 选件 &bull PAL保管箱: RE-39409&bull 携带连: RE-39410

应力双折射相关的仪器

  • 双折射应力仪 400-860-5168转3086
    PHL双折射测量仪PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪概述: 日本Photonic-lattice公司成立于1996年,以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心,成立的合资公司,尤其是其光子晶体制造技术,并由此开发出的测量仪器。 主要产品分四部分:n 光子晶体光学元件;双折射和相位差评价系统;膜厚测试仪;偏振成像相机。『相位差』『双折射』『内部应力』测量装置 WPA/PA系列快速定量测量透明材料和薄膜2维平面内的相位差、双折射和内部应力应变分布PA/WPA系统特点:操作简单/快速测定:独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布2D数据的多方面分析功能:二维数据的强大分析功能,能够直观解释被测样品的特性。大相位差测试能力(WPA系列):通过对三组不同波长的测量数据进行计算,WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。 偏光图像传感器的结构和测试原理 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器PA-110-T可以对8英寸以上的样品测量双折射参数,在蓝宝石,SiC晶片等晶体缺陷方面具有广泛应用。蓝宝石或SIC等透明晶圆的结晶缺陷,会直接影响到其产品性能,故缺陷的检出和管理,是制程中不可欠缺的重要环节。 到目前为止,产线上的缺陷管理,多是使用偏关片,以目视方式进行缺陷检查。但是,这样的检查方式,因无法将缺陷定量化,当各批量间产生变动或缺点密度缓慢增加时,就无法以目视检查的方式正确找出缺陷。 PA-110-T,将特殊的高速偏光感应器与XY Stage组合起来,φ8inch晶圆仅需5分钟,即可取得整面的双折射分布资料。 藉由定量化的结晶缺陷评估,提高生产品质的稳定性。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器特点: 使用PA-110-Rasterscan软体,操作简单,可进行精细的拼贴测量。 l XY自动Stage&拼贴功能针对大尺寸的Wafer数据,以拼贴方式自动合成。 l 使用大口径远心境头以垂直光线进行量测,因不受视觉影像,连书面周边区域都可高精度测量。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器原理: l 当光穿透具有双折射特性的透明物质时,光的偏光状态会产生变化(光弹性效果)。换句话说,比较光穿透物体前之后的偏光状态,即可评估物质的双折射。 l 该设备装配的偏光感应器,使用了敝公司特有的Photonic结晶组装而成,能瞬间将偏光资讯以影像方式提取保存。再搭配专属的演算、画像处理软件,能将双折射分布数据定量化,变成可以分析的资料。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器技术指标: 型号PA-110-T测量范围0-130nm重复性1.0nm像素数1120x868测量波长520nm尺寸650x700x683mm观测到的面积8英寸自身重量70kg数据接口千兆以太网(摄像机信号),RS-232C电压电流AC100-240V(50/60Hz)软件PA-View
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  • 150AT应力双折射测量系统所属类别: ? 光学/激光测量设备 ? 应力双折射测量仪所属品牌:美国Hinds Instruments公司 产品简介150AT全自动应力双折射测量系统 全自动应力双折射测量系统 150AT 应力双折射系统是Hinds应力双折射测量系统家族系列产品。该应力双折射测量系统既可作为实验室科研探索测量光学组件应力分布测量,也可用作诸如玻璃面板,透镜,晶体,单晶硅/多晶硅、注塑成品等工业生产中检测产品应力分布。产品软件直观显示待测样品应力情况,便于操作和日常监测。 150AT 应力双折射系统可以根据客户需求选择设置,使得测量更有针对性(高精度/大范围相位延迟量),系统有着很高的测量速度的同时也具有极高的测量分辨能力(1 mm grid spacing ),150AT应力双折射系统也提供倾斜位移平台等设计来帮助客户完成一些非常规扫描/测量需求。 产品特点自动X/Y位移平台扫描二维/三维图形/参数表格显示样品应力分布测量结果台式整机设计组装灵活位移平台设计,满足个性化定制需求强大数据拟合分析功能和友好用户界面 参数高精度测量系统选项大范围相位延迟量测量选项相位延迟量范围:0.005 to 120+ nm0.005 to 300+ nm相位延迟量测量分辨率/ 重复精度1, 2, 3:0.001 nm / ± 0.008 nm0.01 nm / ± 0.015 nm角度测量分辨率 / 重复精度1:0.01o / ± 0.05°0.01o / ± 0.07°测量速率 / 时间4:up to 100 pps / sample size dependent尺寸:910 mm (H) x 415 mm (W) x 700 mm (D)光源波长5:Various (632.8 nm standard)测量光斑6:Between 1 mm and 3 mm native (can be as low as 50 μm)内置测量调制频率:PEMLabsTM Photoelastic Modulator 50 kHz or 50/60 kHz解调分析技术:Hinds Instruments SignalocTM Lock-in Amplifier or Wave Form Capture Card测量单位:nm (retardation), ° (angle)1 Typical performance at 5 nm retardation2 Up to 0.8 nm, 1% thereafter3 Up to 1.5 nm, 1% thereafter4 Maximum data collection speed. Sample XY scan time dependent on stage movement parameters.5 Custom wavelengths available6Spot sizes of less that 1 mm native require optional high resolution detector module 选项: * Additional Polarization Parameters * 超高速扫描选项 * 光谱扫描测量和RGB测量 * 客户定制内置波长选项(紫外/红外) * 手动/自动倾斜位移平台装置 * 定制样品平台加持谁记 * 定制化显示界面 (UI or DLL) * 应力计算评估软件 相关产品 光弹调制器
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  • 应力双折射测量仪 400-860-5168转3086
    在PA系类设备的基础上,加装晶圆专用的装置,可以高效精确的测量SIC和蓝宝石这类光学性能特殊的产品的双折射和残余应力的信息。 应力双折射测量仪主要特点:操作简单,测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量,测量范围广。更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单,不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应力双折射测量仪应用领域: SIC 蓝宝石应力双折射测量仪技术参数: 项次 项目 具体参数1 输出项目 相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm(西格玛)6视野尺寸40x48mm到240x320mm(标准)7选配镜头视野不适用8选配功能 实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制
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  • Photonic Lattice发布应力双折射测量仪新品
    在PA系类设备的基础上,加装晶圆专用的装置,可以高效精确的测量SIC和蓝宝石这类光学性能特殊的产品的双折射和残余应力的信息。 应力双折射测量仪主要特点:操作简单,测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量,测量范围广。更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单,不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应力双折射测量仪应用领域: SIC 蓝宝石应力双折射测量仪技术参数: 项次 项目 具体参数1 输出项目 相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度40x48mm到240x320mm(标准)7选配镜头视野不适用8选配功能 实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制创新点:测量速度可以快到3秒。 更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。 具有多种分析功能和测量结果的比较。 维护简单,不含旋转光学滤片的机构。 高达2056x2464像素的偏振相机。 应力双折射测量仪
  • Photonic Lattice发布应力双折射仪 PA-300-MT新品
    主要特点:操作简单,测量速度可以快到3秒;视野范围内可一次测量,测量范围广;更直观的全面读取数据,无遗漏数据点;具有多种分析功能和测量结果的比较;维护简单,不含旋转光学滤片的机构 高达2056x2464像素的偏振相机。应用领域:小尺寸样品专用光学镜头主要技术参数: 项次 项目 具体参数1输出项目 相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度7选配镜头视野6.3x7.5mm8选配功能 实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制测量案例:创新点:操作简单,测量速度可以快到3秒; 视野范围内可一次测量,测量范围广; 更直观的全面读取数据,无遗漏数据点; 具有多种分析功能和测量结果的比较; 维护简单,不含旋转光学滤片的机构 高达2056x2464像素的偏振相机。 应力双折射仪 PA-300-MT
  • Photonic Lattice发布PHL online应力双折射仪KAMAKIRI -X stage 新品
    KAMAKIRI -X stage 主要特点:STS的低配版,可升级STS 。 操作简单,可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布。 记录双折射的数值数据,以进行进一步详细分析。应用领域:相位差薄膜(TAC/PC/PMMA/COC)保护薄膜(PET/PEN/PS/PI)树脂成型玻璃 技术参数:项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】,轴方向【°】2测量波长543nm(支持客制化)3双折射测量范围0-260nm(支持客制化)4主轴方位范围0-180°5测量重复精度6测量尺寸A4(标准)7定制选项可定制大载台创新点:欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备,其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合,研制在线双折射/残余应力测量仪,世界上仅有KAMAKIRI可以提供,广泛应用于光学薄膜,PVA,PC,COP和TAC等领域。 PHL online应力双折射仪KAMAKIRI -X stage
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