检测分析显微镜

LEXT OLS4500是结合了传统光学显微镜、激光扫描显微镜(LSM)以及扫描探针显微镜(SPM)功能为一体的革新机，从而可以实现对观测对象从几十倍到百万倍的连续放大, 可以满足不同样品的超高分辨率三维观察，以及尺寸测量、微粗糙度测量等各种观测需求。通过在多种显微镜和观察模式间自由切换，LEXT OLS4500可以轻松实现从毫米到纳米的超大范围观察和测量，这使得观察对象的定位变得精准快捷，在大大缩短了获取影像时间的同时保护了探针，并且不用担心观测目标的丢失。另外，这种一体的革新设计可以实现对同一对象的多手段原位观测，从而提高了对观测结果分析解释的准确性和可信度！ l 光学显微镜：装有倍率不同的四种物镜，集合了明视野观察（BF）、微分干涉观察（DIC）、简易偏振光观察及HDR（高动态范围）观察等多种功能。l 激光显微镜：采用短波长405nm的激光光源和高数值孔径的专用物镜、以及独特的共焦光学系统，实现了优异的平面分辨率。在激光微分干涉模式中还可以实现观察纳米级的微小凹凸。l 扫描探针显微镜：专业的针尖对齐夹具避免了在仪器上调节激光光斑位置的繁琐；搭载导航功能，可以在已扫图像中任意制定特定区域进一步扫描观测；多种观察模式满足对样品表面形貌和物性的观察分析。

PCB切片分析,是苏州汇光科技专业的金相显微镜分析软件，目前苏州汇光供应的PCB切片分析显微镜有多种，如HGO系列切片分析显微镜，CX系列切片分析显微镜，RX系列切片分析显微镜,您可根据自身需求选择，如果您不确定选择那台显微镜比较合适，也可以咨询我们技术，他们讲根据您检测产品需求为您定制智能解决方案哦。苏州工业园区汇光科技有限公司成立于2003年，是一家专业从事以显微光学、显微视觉、数码成像，自动化测量以及非标智能检测类为核心的各种工业用光学检测分析仪器和设备的研发、生产与销售。 产品主要服务于各类电子工业研发制造领域，通讯电子领域，IC芯片制造领域，LCD显示技术领域，半导体封装测试领域，手机及触摸屏、半导体集成电路、LCD液晶面板、太阳能光伏、柔性电路板等电子类、元器件类以及光学与材料类相关新兴制造行业，汽车部件研发制造领域，新能源新材料研究分析领域，教育教学等等领域；公司在华东乃至全国拥有各类制造业客户，包括世界500强企业与各种知名民营私企。公司全体员工秉承专注、创新、坚持、担当的职业精神与理念，为客户提供高品质的产品及优质的服务；愿成为国内外广大客户的忠实合作伙伴，为科技与工业的发展努力！

YH-MIP-0103型显微镜不溶性微粒检测仪中国药典2020年版0903章节不溶性微粒检查法明确要求，静脉注射用注射剂（溶液型注射剂、注射用无菌粉末、注射用浓溶液）及供静脉注射用无菌原料药均需按规定进行不溶性微粒的大小及数量检测。不溶性微粒检查法包括两种，分别是光阻法不溶性微粒检查和显微计数法不溶性微粒检查。当光阻法测定结果不符合规定或供试品不适于用光阻法测定时，应采用显微计数法进行测定，并以显微计数法的测定结果作为判定依据。光阻法不适用于黏度过高和易析出结晶的制剂，也不适用于进入传感器时容易产生气泡的注射剂。对于此类制剂需用显微计数法进行测定。对于黏度过高，采用两种方法都无法进行测定的注射液，可用适宜的溶剂稀释后测定。常规显微计数法不溶性微粒检查计数，通过人眼观察显微镜进行人工计数。该操作的缺点是：1、无法避免人为因素导致计数的偏差，主观性强；2、俗话说眼睛是心灵的窗户，人工计数对实验员的集中度和眼睛直接观察要求很高，长期观察显微镜并进行计数容易导致视力下降，并引发一些眼部疾病；3、由于人工计数的主观因素，测试结果重复性差。胤煌科技自主研发生产的显微计数法不溶性微粒分析仪（型号：YH-MIP-0103）：1、计数环节无需人眼观察，计算机直接按照药典规定出具检测分析报告；2、计数环节全部由计算机完成，测试结果重复性高，且可以自动进行数据比较；3、全自动进行滤膜全扫描，并进行颗粒图片分析，让颗粒物无处遁行；4、可以区分颗粒形貌，判定该不溶性微粒是金属还是纤维或是其他，鉴别不溶性微粒的来源（是外源还是内生？），并在实验或生产过程中加以控制或避免。显微镜不溶性微粒检测仪设备构成样品过滤装置，烘干装置，检测分析系统，电脑等。检测分析系统可以根据用户要求配置奥林巴斯体式显微镜、奥利巴斯金相显微镜、徕卡金相显微镜、尼康金相显微镜等。显微镜不溶性微粒检测仪应用领域应用范围：乳剂、脂质体、滴眼剂、混悬剂、易产生气泡剂型、粘度大制剂等执行标准：中国药典CP，美国药典 USP 788、USP 789，欧洲药典 EP，英国药典 BP2013，日本药典JP等特点直观、形象、准确、测试范围宽以及自动识别、自动统计、自动标定等特点； 避免激光法的产品缺陷，扩展检测范围；显微计数法不溶性微粒分析仪技术参数测试范围: 1 μm - 500 μm放大倍数：40X-l000X 倍最大分辨：0.3μm显微镜误差：0.02（不包含样品制备因素造成的误差）重复性误差： 5%（不包含样品制备因素造成的误差）数字摄像头(CCD)：600 万像素标尺刻度：0.1 μm分析项目：粒度分布、长径比分布、圆形度分布等自动分割速度： 1 秒分割成功率： 93%软件运行环境：Windows 10以上接口方式：RS232 或 USB 方式供货期：30 个工作日精 确 度：±3% 典型值；重合精度：10000 粒/mL（5%重合误差）；分辨率：95%（按中国药典 2020 版校准）10%（按美国药典、ISO21501 校准）药典规定：美国药典 USP 788、USP 789、USP35-NF30、USP32-NF27；欧洲药典 EP6.0、EP7.0、EP7.8、EP8.0；英国药典 BP2013、BP2012、2010、2009；日本药典 JP16、JP15、JP14；印度药典 IP2010 版；WHO 国际药典 IntPh 第四版；中国药典 2015年、2020 年；GB8368 输液器具；ISO21510；ISO11171 等。GB/T 11446.9-2013 电子级水中微粒的仪器测试方法。可根据客户要求，植入相应“光阻法颗粒度”测试和评判标准。

DMM-700C反光显微镜，焊点检测显微镜，正置焊点检测显微镜（反光金相显微镜）一、DMM-700C电脑型金相显微镜的特点和用途: DMM-700系列反光显微镜是适用于对不透明物体或半透明物体的显微观察。本仪器配置落射照明系统、长距平场消色差物镜(无盖玻片)、大视野目镜和内置偏光观察装置，具有图像清晰、衬度好，造型美观，操作方便等特点，广泛应用于半导体微电子检测，SMT设备检测，SMT生产设备电子和线束加工工具检测，太阳能设备检测和单片机芯片解密。是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。适用于学校、科研、工厂等部门使用。 性能特点 1、配置大视野目镜和长距平场消色差物镜(无盖玻片)，视场大而清晰。 2、粗微动同轴调焦机构，粗动松紧可调，带限位锁紧装置，微动格值:2μm。 3、6V20W卤素灯，亮度可调。 4、三目镜筒,可自由切换正常观察与偏光观察，可进行100%透光摄影。 5、高像素数字成像系统，电脑显示成像真实清晰 DMM-700C电脑型正置反射金相显微镜是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、尖端的计算机成像技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。既可人工观察金相图像又可以在数码相机或显示器上很方便地适时观察金相图像，并可随时捕捉记录金相图片,从而对金相图谱进行分析,评级等,还可以保存或打印出高像素金相照片。二、金相显微镜DMM-700C的技术参数:型号技术参数目镜WF10X(Φ20mm)物镜长距平场消色差物镜(无盖玻片)PL 5X/0.12 WD:18.3mm长距平场消色差物镜(无盖玻片)PL L10X/0.25 WD:8.9mm长距平场消色差物镜(无盖玻片)PL L20X/0.40 WD:8.7mm长距平场消色差物镜(无盖玻片)PL L50X/0.70 WD:0.26mm目镜筒铰链式三目镜,倾斜30?,内置检偏振片,可进行切换 ，屈光度可调落射照明系统6V 20W卤素灯,亮度可调落射照明器带 (黄,蓝,绿)滤色片和磨砂玻璃视场光栏和孔径光栏大小可调节，可插入式起偏振片，可进行偏光观察和摄影调焦机构粗微动同轴调焦, 微动格值:2μm,带锁紧和限位装置转换器四孔(内向式滚珠内定位)载物台双层机械移动式(尺寸:210mmX140mm,移动范围:75mmX50mm)CK-500摄像系统1X摄影接口，标准C接口500万数字成像系统，最高分辨率：2592X1944，采用USB供电，功耗小， USB2.0连接，图像质量好 ,色彩还原性好 ,图像稳定，所有摄像机均经过长时间测试 ,体积小，安装方便 ,标准镜头接口三、系统的组成 1、金相显微镜DMM-700　　　　 2、电脑适配镜　 　　　 3、500万像素数字摄像器 4、计算机(选购)四、选购部分1、16X目镜 10X分划目镜 2、测微尺 3、DS-3000二维测量软件 4、DM-3000金相分析软件6、0．5X摄影接口

热点检测微光显微镜THEMOS系列THEMOS-1000发热分析工具是一套用于通过半导体器件探测、热信号定位来进行半导体失效分析的系统。通过将高精度热探测器探测到的发热图与从红外共焦激光显微镜获取的高分辨率模板图像叠加，可快速、高精度地识别失效位置。特性高灵敏度是通过以下方式获得的：InSb相机在3 μm到5 μm波段内具有高灵敏度专为3 μm 到 5 μm波段优化的镜头设计使用lock-in功能（选配）实现低噪声使用斯特林循环冷却器实现高制冷性能噪声等效温差(NETD)只有20mK高分辨率是通过以下方式获得的：InSb相机为640 × 512像素（像素尺寸：15μm）叠加的激光模板图像来自红外共焦激光显微镜可选择热纳米镜头(选配) 使用窗口功能，可获得高速探测能力视频功能连接测试机，可获得动态分析功能系统结构灵活，可进行微观到宏观的观测与PHEMOS、μAMOS系列一样具有用户友好型操作全系列的选配选项应用金属布线短路接触孔异常氧化物层微等离子体泄露氧化物层击穿TFT-LCD泄露/有机EL泄露定位器件开发过程中温度异常监测器件和PC板的温度映射在器件设计早期，通过获取器件工作时的温度信息，反馈回设计流程，可以缩短器件验证时间，也可增强产品可靠性。在观测基于工作环境的温度行为改变上，该功能也很有用。通过增加U11389温度测量功能，便可以方便地获得该测量功能。IR-OBIRCH分析功能极受欢迎的IR-OBIRCH（Infrared Optical Beam Induced Resistance CHange，红外光致阻值变化）分析功能可以作为选配增加到设备中，来探测漏电流或静态电流缺陷（leakage or IDDQ defects）等的线缺陷。可以以4象限电压/电流的形式测量。使用激光激励组件进行动态分析（DALS）使用激光激励组件进行动态分析（DALS）是一种利用激光照射来分析器件工作状况的新方式。在使用LSI测试机的测试模板操作器件过程中，使用1.3 μm激光激励器件，器件的工作状态（通过/失败）因激光产生的热量而改变。通过/失败信号的改变以图像形式呈现，表明了引起时序延迟的点，边际缺陷等等。热纳米镜头系统（Thermal NanoLens System）热纳米镜头系统因为高数值孔径，大大提高了光校正效率和分辨率。通过在样品（即便样品表面平整度很差）和透镜之间施加显微镜浸润油来获取高数值孔径。使用操纵器来简化纳米透镜系统的设计，可使工作设备的更新更简单。LSI测试机对接半导体器件变得越来越复杂，因此必须通过与LSI测试机对接来初始化采样测量、设置特殊条件。安装专用探针卡适配器后，可以用线缆与LSI测试机对接，执行分析。激光标记在定位后的失效点附近进行标记，或者在失效点周围的四个点进行标记，可以轻松地将失效点的位置信息传输到其他的分析设备上。EO探针单元EO探针单元是一款工具，通过使用非连续光源，透过硅基底来观察晶体管状态。它由EOP（Electro Optical Probing）来快速测量晶体管工作电压，由EOFM（Electro Optical Frequency Mapping）以特定频率对活跃晶体管成像。测量示例案例研究：封装器件观测案例研究：对器件一侧开口进行失效层观测案例研究：CMOS观测发现凸球下的缺陷案例研究：PCB和封装器件之间的布线失效在打开封装之前观测热源；打开封装以后获取相位图像以缩小热源范围。参数尺寸/重量主单元：1360 mm(W)×1410 mm(D)×2120 mm(H), Approx. 900 kg控制台：880 mm (W)×700 mm (D)×1542 mm (H), Approx. 255 kgPC桌：1000 mm (W)×800 mm (D)×700 mm (H), Approx. 45 kg线电压AC220 V (50 Hz/60 Hz)功耗约 3000W真空度约80 kPa或更大压缩空气0.5 MPa to 0.7 MPa系统配置C9985-04 InSb相机标配红外共焦显微镜标配自动平台控制XYZ标准透镜0.8×、4×、15×样品平台PM8、PM8DSP探测目镜标配探测镜头NIR 5×抗震桌标配黑盒标配THEMOS分析软件标配FOV（mm）12×9.6 to 0.64×0.51目标晶片(可达12英寸), Si 片, 封装功能热lock-in测量选配 3D-IC测量选配热测量功能选配热纳米镜头选配视频功能标配外部触发标配窗口功能标配IR-OBIRCH分析功能选配DALS选配光发射分析选配EO探测单元选配光发射观测的相机选择型号制冷类型有效像素数光谱灵敏度InGaAs 相机 C8250-21液氮制冷640(H)×512(V)900 nm to 1550 nmInGaAs 相机 C8250-27半导体制冷640(H)×512(V)900 nm to 1550 nmInGaAs 相机 C8250-31液氮制冷1000(H)×1000(V)900 nm to 1550 nm制冷型CCD 相机 C4880-59水冷1024(H)×1024(V)300 nm to 1100 nmSi-CCD 相机 C11231-01半导体制冷1024(H)×1024(V)400 nm to 1100 nm红外共焦激光显微镜1.3 μm激光二极管输出: 100 mW1.3 μm高功率激光器（选配）输出: 超过400 mW1.1 μm脉冲激光器（选配）输出: 200 mW (CW), 800 mW (pulse)光学系统物镜/微距镜头N.A.WD（mm）FOV（mm）配置MWIR 0.8×0.132212.0×9.6标配MWIR 4×0.52252.4×1.9标配MWIR 8×0.75151.2×0.96选配MWIR 15×0.71150.64×0.51标配MWIR 30×0.71130.32×0.26选配M Plan NIR 5×0.1437.52.6×2.6标配M Plan NIR 20×0.4200.65×0.65标配M Plan NIR 100×0.5120.13×0.13标配

中图仪器VT6000粗糙度显微镜检测仪即为激光共聚焦显微镜，是以共聚焦技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等，测量表面物理形貌，进行微纳米尺度的三维形貌分析，如3D表面形貌、2D的纵深形貌、轮廓（纵深、宽度、曲率、角度）、表面粗糙度等。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；VT6000粗糙度显微镜检测仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。应用领域对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。共聚焦显微镜可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。 3、其他部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器VT6000共聚焦工件表面微观形貌检测显微镜一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。它在材料生产检测领域中，测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数。产品功能1)3D测量功能：设备具备表征微观3D形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；2)影像测量功能：设备具备二维平面轮廓尺寸的影像测量功能，可进行长度、角度、半径等尺寸测量；3)自动拼接功能：设备具备自动拼接功能，能够实现大区域的拼接缝合测量；4)数据处理功能：设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；5)分析工具功能：设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；6)批量分析功能：设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；7)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；8)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；9)镜头安全功能：设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。VT6000共聚焦工件表面微观形貌检测显微镜具有很强的纵向深度的分辨能力。在相同物镜放大的条件下，共焦显微镜所展示的图像形态细节更清晰更微细，横向分辨率更高，能够提供色彩斑斓的真彩图像便于观察。广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。共聚焦显微镜可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他自设计之初，VT6000共聚焦工件表面微观形貌检测显微镜便定下了“简单好用"四字方针的目标。1）结构简单：仪器整体由一台轻量化的设备主机和电脑构成，控制单元集成在设备主机之内，亦可采用笔记本电脑驱动，实现了“拎着走"的便携式设计；2）真彩图像：配备了真彩相机并提供还原的3D真彩图像，对细节的展现纤毫毕现；3）操作便捷：采用全电动化设计，并可无缝衔接位移轴与扫描轴的切换，图像视窗和分析视窗同界面的设计风格，实现了所见即所得的快速检测效果；4）采用自研的电动鼻轮塔台，并对软件防撞设置与硬件传感器防撞设置功能进行了优化，确保共聚焦显微镜在使用高倍物镜仅不到1mm的工作距离时也能应对。 部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量重复性(1σ)12nm显示分辨率0.5nm宽度测量重复性(1σ)40nm显示分辨率1nmXY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

MX63和MX63L显微镜系统特别适合尺寸高达300毫米的晶圆、平板显示器、电路板、以及其他大尺寸样品的高质量检测。其采用的模块化设计可让您根据需要选择组件，获得根据应用定制的系统。结合奥林巴斯Stream图像分析软件使用时，从观察到生成报告的整个检测流程更简洁直观。1、先进的分析工具MX63系列的各种观察功能可生成清晰锐利的图像，让用户能够对样品进行可靠的缺陷检测。全新照明技术以及奥林巴斯Stream图像分析软件的图像采集选项为用户评估样品和存档检测结果提供更多选择。2、从不可见到可见：MIX观察与图像采集通过将暗场与明场、荧光或偏光等其他观察方法结合使用，MIX观察技术能够获得特殊的观察图像。MIX观察技术可让用户发现用传统显微镜难以观察的缺陷。暗场观察所用的环形LED照明器具有可四象限分段照明的定向暗场功能。该功能可减少样品光晕，有助于观察样品的表面纹理。3、轻松生成全景图像: 即时MIA利用多图像拼接(MIA)功能, 用户移动手动载物台上的XY旋钮即可轻松快速完成图像拼接—电动载物台无需进行该操作。奥林巴斯Stream软件利用模式识别生成全景图像，让用户获得更宽的视场。4、生成全聚焦图像: EFI奥林巴斯Stream软件的扩展聚焦成像(EFI)功能可采集高度超出景深范围的样品图像。EFI将这些图像堆叠在一起生成单幅全聚焦样品图像。EFI配合手动或电动Z轴载物台使用，可轻松生成结构可视化的高度图像。EFI图像可在奥林巴斯Stream桌面软件内离线生成。5、利用HDR采集明亮区域和暗光区域利用先进的图像处理技术，高动态范围(HDR)可在图像内调整亮度差异，以减少眩光。HDR改善了数字图像的视觉品质，从而有助于生成具有专业级外观的报告。6、从基本测量到上等分析测量对于品质、工艺控制和检测非常重要。基于这一想法，即便是入门级奥林巴斯Stream软件包也包括交互测量功能的全部菜单，并且所有测量结果与图像文件一起保存以便日后调用文档。此外，奥林巴斯Stream材料解决方案可为复杂图像分析提供直观的工作流界面。点击按钮，图像分析任务即可快速精准完成。可大幅度缩减重复性任务的处理时间，使操作人员的精力集中在检测工作上。7、高效的报告创建创建报告所用的时间常常比采集图像和测量还长。奥林巴斯Stream软件提供了直观的报告创建功能，能够根据预先设定的模板多次创建专业复杂的报告。编辑非常简单，报告可导出为MicrosoftWord或PowerPoint文件。此外，奥林巴斯Stream报告功能能够对采集的图像进行数码变焦和倍率放大。报告文件大小适中，通过电子邮件进行数据传递更加方便。8、独立相机选项利用DP22或DP27显微镜相机的MX63系列是一套先进的独立系统。该相机采用几乎不占空间的紧凑型控制盒进行控制，在采集清晰图像以及进行基本测量工作的同时让实验室空间得到充分利用。 9、支持洁净室合规性的先进设计MX63系列专为洁净室工作而设计，并有效降低样品污染或受损的风险。该系统采用人体工学设计，可帮助用户在长时间使用中保持舒适。MX63系列符合SEMI S2/S8、CE和UL等多项国际规范及标准要求。选配晶圆搬送机 — AL120系统* 选配的晶圆搬送机可安装在MX63系列上，实现无需使用镊子或工具即可安全地将硅片及化合物半导体晶圆从片盒转移到显微镜载物台上。强大的性能和可靠性能够安全、高效地对晶圆正面和背面进行宏观检测，同时搬送机还可帮助提高实验室工作效率。MX63系统与AL120晶圆搬送机结合使用(200毫米型号)快速、清洁的检测MX63系列可实现无污染的晶圆检测。所有电动组件均安装在防护结构壳内，显微镜镜架、镜筒、呼吸防护罩、及其他部件均采用防静电处理。电动物镜转换器的转速比手动物镜转换器更快更安全，缩短检测间隔时间的同时让操作人员的手始终保持在晶圆下方，避免了潜在的污染。系统设计实现高效观察利用内置离合和XY旋钮，XY载物台能够实现对载物台运动的粗调和微调。即便针对诸如300毫米晶圆这样的大尺寸样品，载物台也可帮助实现高效的观察。倾斜观察镜筒的扩展范围可让操作人员以舒适的姿态坐在显微镜前工作。接受所有晶圆尺寸该系统可配合各类150–200毫米和200–300毫米晶圆托架和玻璃台板使用。如果生产线上的晶圆尺寸发生变化，可更改载物台或镜架。有了MX63系列，各种载物台均可用于检测75毫米、100毫米、125 毫米和150毫米晶圆。

DCM-200C焊接熔深检测显微镜一、焊接熔深检测显微镜的主要用途和特点: DCM-200C型焊接检测显微镜使用范围相当广泛，成像清晰和宽阔，具有较长的工作距离，对同一物体可实现连续放大倍率观看,可直接在计算机上观察实物图像。非常适用于焊接后的焊缝和熔深检测。 近几年来,随着冶金、机械、动力、电力以及原子能、航天等现代化技术的高速发展,对产品焊接的稳定性性能的要求也越来越高，而焊接的熔深是对焊接机械性能的重要标志，所以，对焊接熔深的检测成为检验焊接效果的重要手段。上海蔡康光学生产的DCM-200C焊接熔深显微镜采用国外的先进技术,特别适合汽车零部件焊接熔深检测及制造领域对焊接严格的要求.可以对各种焊接处（对接、角接、搭接和T型接等异形接）产生的熔深进行拍照、编辑、测量、保存、打印等。 二、DCM-200C焊接熔深检测显微镜的主要技术指标:1、直接在计算机上观察实物图像，大型黑色平台。 物镜变倍范围 ： 0.7--4.5X 变 倍 比 ： 6.5：1 移动工作距离 ： 280mm（立柱高度）照明系统：亮度可调式LED光源 总放大倍数：7—350X (以17寸纯平显示器为例，2X的大物镜为例)CK-300摄像系统：300万像素数字成像系统，最高分辨率：2048X1536，最新升级数字摄像模块，采用USB供电，功耗小，USB2.0连接， 图像质量好 ,色彩还原性好 ,图像稳定，可进行图像大小调节,色彩调节,增益调节,曝光设置,自动曝光等调节。2、焊缝熔深测量：DS-3000显微图像测量软件是一个熔深检测系统中必不可少的几何测量工具。它完善了图像采集后的许多功能，对图像进行编辑处理，能完成对图像中的点、线、圆、矩形及任何图形几何参数的测量。此软件使用方便直观。是焊接熔深测量与分析的有效工具。三、DCM-200C焊接熔深检测显微镜系统组成1、DCM-200检测显微镜 2、摄像适配镜 3、CK-300彩色摄像器4、DS-3000测量软件 5、LED环形灯 6、电脑（选购）

PLD-MPCS系列显微镜颗粒分析系统是应用在汽车零部件、航空航天、液压润滑行业颗粒度检测的专业性分析测试仪器，具有专业性强，分析性能优异、标准模块多、测量项目全等功能，测定结果可追溯等优势。普勒新世纪实验按照普洛帝分析仪器事业部的规划，于2001年推向市场的成熟系统仪器；观察颗粒形貌；辨别颗粒材料性质分析粒度分布、数量、大小、平均长径比以及长径分布等；直观、形象、准确、测试范围宽以及自动识别、自动统计、自动标定等特点；正偏光显微测试可以准确判别颗粒的金属非金属特性；避免激光法的产品缺陷，扩展检测范围；现实NAS、ISO等国际标准方法的认可；属于科研级别的新型的粒度测试手段；系统组成该系统为一种图像法粒度分布测试以及颗粒型貌分析等多功能颗粒分析系统，该系统包括：正置式偏振光光学显微镜数字500万级别以上的CCD摄像头全自动0.1微米级别的载物台图像处理与分析软件电脑和打印机等部分组成；将传统的显微测量方法与现代的图像处理技术结合的产物；专用数字摄像机将显微镜的图像拍摄及扫描；R232接口数据传输方式将颗粒图像传输到分析系统；颗粒图像分析软件及平台对图像进行处理与分析；显示器及打印机输出分析结果；系统优点检测颗粒≥1um自动测量并计算出单个颗粒的面积、宽度、内切圆、分布、数量、大小、平均长径比以及长径分布等尺寸高精度XYZ三轴自动扫描台，可执行自动聚焦功能高分辨率专用数字采集系统500万级别以上CCD摄像头单张滤膜检测及5μm以上颗粒的扫描时间和评价时间最小1分钟自动调节光强、自动聚焦、多视场自动扫描、自动采集图像、自动颗粒统计分析自动辨别金属颗粒、非金属颗粒自动查询最大颗粒的粒径和数量在硬件支持条件下软件终身免费升级服务测试部件发动机及传动系统 (阀体，凸轮轴，曲轴，变速箱， 车轮等部件)液压元件 (ABS，ESP，转向系统等部件)油路供给系统 (阀体，管件，管路零部件等) 电子组件应用场合更加广泛，航空、航天、航海、电力、石油、化工、交通、港口、冶金、机械、汽车、制造等领域进行固体颗粒污染度检测。 执行标准ISO 16232显微分析法确定微粒粒度和计数ISO 4406Hydraulic fluid power -- Fluids -- Method for coding the level of contamination by solid particlesGME7061 GM EUROPE ENGINEERING STANDARDSGMW 16037-2017 测定发动机和变速器部件清洁度的试验方法VOLVO STD107 Cleanliness of components and systemsVDA19 Technical cleanliness in assemblyJB/T 7858-95液压元件清洁度评定方法JB/T 6418-92分离机械清洁度测定方法JB/T 10223-2001工程机械液力变矩清洁度检测方法及指标JB/T 6002-1992涡轮增压器清洁度限值及测定方法JB/T 7661-2004柴油机油泵油嘴产品清洁度限值及测定方法JB 4072.3—85汽车清洁度工作导则　人、物和环境JB/T 6014－2000柴油机高压油管组件技术条件GB/T 3821-2005中小功率内燃机清洁度检测方法JB/T 5243-2005(代替JB/T 5243-1991)收获机械传动箱清洁度测定方法JB/T 7316-2005(代替JB/T 7316-1994)谷物联合收割机液压系统试验方法JB/T 9774-2005(代替JB/T 9774-1999)中小功率内燃机清洁度检测限值JB/T 6014-2000柴油机高压油管组件技术条件JB/T 8122-1999柴油机柴油滤清器试验方法DL 432-92油中颗粒污染度测量方法GB/T 20110- 2006液压传动零件和元件的清洁度与污染物的收集、分析和数据报告JB/T 9739.1-2000汽车起重机和轮胎起重机用平衡阀GB/T 10079-1988全封闭活塞式制冷压缩机GB/T 13342一92船用往复式液压缸通用技术条件QCn 29034-1991中华人民共和国汽车行业标准汽车燃油箱技术JB/T 9058-1999制冷设备清洁度测定方法EQ153汽车零件及总成清洁度检查方法EQY-11 汽车零件清洁度测定方法JB4072 汽车清洁度工作导则16233——康明斯B系列发动机零部件的清洁度检查方法参数阐述型号：PLD-MPCS2.0~10.0仪器性能：测试范围: 1-500μm系统放大倍数：40～l000X倍zui大分辨率：0.1μm显微镜误差：0.02（不包含样品制备因素造成的误差）重复性误差： 5%（不包含样品制备因素造成的误差）数字摄像头(CCD)：300万像素标尺刻度：0.1μm分析项目：粒度分布、长径分布、圆形度分布等自动分割速度： 1秒分割成功率： 93%软件运行环境：Windows 2000、Windows XP接口方式：RS232或USB方式

中图仪器VT6000材料检测3D成像共聚焦显微镜基于光学共轭共焦原理，用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量，可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数。产品功能1)3D测量功能：设备具备表征微观3D形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；2)影像测量功能：设备具备二维平面轮廓尺寸的影像测量功能，可进行长度、角度、半径等尺寸测量；3)自动拼接功能：设备具备自动拼接功能，能够实现大区域的拼接缝合测量；4)数据处理功能：设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；5)分析工具功能：设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；6)批量分析功能：设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；7)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；8)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；9)镜头安全功能：设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。VT6000材料检测3D成像共聚焦显微镜所展示的图像形态细节更清晰更微细，横向分辨率更高，能够提供色彩斑斓的真彩图像便于观察。不同应用场景下的3D形貌主要应用于半导体、光学膜材、显示行业、超精密加工等诸多领域中的微观形貌和轮廓尺寸检测中，其次是对表面粗糙度、面积、体积等参数的检测中。3D形貌图片：影像测量功能界面 自设计之初，VT6000材料检测3D成像共聚焦显微镜便定下了“简单好用"四字方针的目标。1）结构简单：仪器整体由一台轻量化的设备主机和电脑构成，控制单元集成在设备主机之内，亦可采用笔记本电脑驱动，实现了“拎着走"的便携式设计；2）真彩图像：配备了真彩相机并提供还原的3D真彩图像，对细节的展现纤毫毕现；3）操作便捷：采用全电动化设计，并可无缝衔接位移轴与扫描轴的切换，图像视窗和分析视窗同界面的设计风格，实现了所见即所得的快速检测效果；4）采用自研的电动鼻轮塔台，并对软件防撞设置与硬件传感器防撞设置功能进行了优化，确保共聚焦显微镜在使用高倍物镜仅不到1mm的工作距离时也能应对。

显微镜不溶性微粒分析仪随着药学的发展，尤其是制剂学的飞速进步，各式新的剂型进入临床，如注射用乳剂，常见的有丙泊酚、中长链脂肪乳、三腔袋脂肪乳等，脂质体，混悬剂，滴眼剂，混悬剂，易产生气泡剂型等。此种注射剂剂型的特殊性，无法利用常用的光阻法检测不溶性微粒，因为其样品本身的不透明性、高粘度等原因，使得采用光阻法检测会产生假性结果，因为光阻法会将样品本身和气泡也作为颗粒计入。中国药典CP中规定所有的注射剂都要做不溶性微粒项目检查，故而显微镜法不溶性微粒检查设备是非常重要的选择。常规显微镜不溶性检查的缺陷常规显微镜不溶性微粒检查大家会采用一台简单显微镜，人工进行计数。此种操作的难点是：无法避免人为的原因导致计数的偏差，主观性太强；最重要的是人为计数对实验员眼睛的要求较高，用眼过度会造成视力过早下降，引起一些不必要的眼疾；操作不规范性，测试结果重复性差上海胤煌科技有限公司自主研发生产的全自动显微镜不溶性微粒分析仪YH-MIP-0103系列，从样品制备到测试完成有一套完整的方案。1）直接按照药典要求出具报告；2）全自动进行滤膜全扫描，并进行颗粒图片分析；3）可以区分颗粒性质，鉴别不溶性微粒的来源，是金属还是纤维；4）按照颗粒性质进行归类分析统计；5）光阻法检测不通过时，作为光阻法不溶性微粒的一个验证；显微镜不溶性微粒分析仪设备构成样品过滤装置，烘干装置，检测分析系统，电脑等。检测分析系统可以根据用户要求配置奥林巴斯体式显微镜、奥利巴斯金相显微镜、徕卡金相显微镜、尼康金相显微镜等。应用领域应用范围：乳剂、脂质体、滴眼剂、混悬剂、易产生气泡剂型、粘度大制剂等执行标准：中国药典CP，美国药典 USP 788、USP 789，欧洲药典 EP，英国药典 BP2013，日本药典JP等显微镜不溶性微粒分析仪YH-MIP-0103系统介绍：组成：显微镜颗粒分析系统既可以观察颗粒形貌，还可以得到粒度分布、数量、大小、平均长径比以及长径比分布等，为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段；该系统包括光学显微镜、数字CCD 摄像头、图像处理与分析软件、电脑、打印机等部分组成；是传统显微测量方法与现代图像处理技术结合的产品；软件：测试软件具有操作员管理系统、测试标准、零件测试模板、图像存储、颗粒追踪、报告输出、清洁度分析等功能；全面自动标准选择、颗粒尺寸设定、颗粒计数，或按用户设定范围计数，自动显示分析结果，并按照相关标准确定产品等级；专业软件控制分析过程，手动对焦，手动光强，自动扫描，自动摄入，自动分析；专用数字摄像机将显微镜的图像拍摄及扫描；全自动膜片扫描系统，无缝拼接， 数字化显微镜分析系统；数据传输：R232 接口数据传输方式将颗粒图像传输到分析系统； 颗粒图像分析软件及平台对图像进行处理与分析；显示器及打印机输出分析结果；特点：直观、形象、准确、测试范围宽以及自动识别、自动统计、自动标定等特点； 避免激光法的产品缺陷，扩展检测范围；YH-MIP-0103系统介绍：胤煌科技为您奉献的专门高性价比实验室显微镜。可以轻松地根据需要进行明场、暗场、相衬、荧光、偏光等多种观察；还可以连接照相机、数码摄像头，与电脑联机工作。1）物镜:独立校正光学系统，物镜拥有更高的数值孔径，成像更加平坦，清晰范围可达视场边缘。5X、10X、20X、30X、40X、50X、80X、100X 等可根据要求选配、经过防霉处理；2）目镜:高眼点，屈光度可调。10X 目镜视场范围有 20mm 和 22mm 两种配置。经过防霉处理；3）阿贝聚光镜:数值孔径 NA1.25，中心可调，带相衬板插孔，配孔径光阑调节装置，聚光镜孔径光阑采用与物镜色圈相同颜色的标记，方便您的使用；4）暗场聚光镜：专门用于暗场观察，安装方便；5）偏光装置：加配起偏器和验片器，您便可以轻松进行简易偏光观察；6）多功能转盘式相衬聚光镜:数值孔径 NA1.25，配置多功能相衬聚光镜，您可以配合 10X-100X 相衬物镜进行相衬观察，配合 10X-40X 物镜进行暗场观察，也可以明场观察；7）内倾式转换器：方便您放置切片，变换物镜进行观察；8）机械载物台:平台尺寸大于 100*100mm，可容纳 2*50mm 快切片，配切片定位夹；X/Y 方向移动范围大于 50*50mm。低位同轴移动手轮；9）无导轨机械载物台:平台尺寸大于 100*100mm，可容纳 2*50mm 快切片，配切片定位夹；X/Y 方向移动范围大于 50*50mm，低位同轴移动手轮，调节手轮可以根据您的用手习惯任意安装在载物台的左手或右手一侧；10）电动载物台:平台行程：大于 80*70mm；行程：2000μm；定位精度：≤±5μm；典型分辨率： 单步 0.625μm；11）观察筒:双目或三目铰链式观察筒；三目分光比 20/80，可以轻松与数码摄像头或照相机连接工作；视场较高可配置到 22mm；有 48-75mm和 52-75mm 两种不同的双目瞳孔,调节距分别适用于亚洲和欧美人士使用，您可以根据自己双目距离作出灵活的选择；12）粗微动手轮高度可调:根据您手形的大小，粗微动手轮高度可调，为您的手臂带来轻松和舒适；13）照明系统:6V/20W、6V/30W 卤素灯或者 LED 多种光源可供选择。抽屉式的灯座设计让您只需简单地拔出、插入便可方便地更换灯泡；14）高效率的独立散热系统:即使在 6V/30W 卤素灯 48 小时不间断照明的环境下，机身也不会烫手，完全解决了长期困扰研究人员的机身发烫问题；15）增高器：果您体型高大，可选配增高器，保证您观察时的坐姿更加舒适；16）搬运把手：保证您移动显微镜时轻松安全；显微镜不溶性微粒分析仪YH-MINP-0103产品配置 YH-MIP-0103技术参数测试范围: 1 μm - 500 μm放大倍数：40X-l000X 倍较大分辨：0.1 μm显微镜误差：0.02（不包含样品制备因素造成的误差）重复性误差： 5%（不包含样品制备因素造成的误差）数字摄像头(CCD)：300 万像素标尺刻度：0.1 μm分析项目：粒度分布、长径比分布、圆形度分布等自动分割速度： 1 秒分割成功率： 93%软件运行环境：Windows 2000、Windows XP接口方式：RS232 或 USB 方式供货期：30 个工作日精 确 度：±3% 典型值；重合精度：10000 粒/mL（5%重合误差）；分辨率：95%（按中国药典 2010 版校准）10%（按美国药典、ISO21501 校准） YH-MIP-0103分析过程：YH-MIP-0103系统介绍：美国药典 USP 788、USP 789、USP35-NF30、USP32-NF27；欧洲药典 EP6.0、EP7.0、EP7.8、EP8.0；英国药典 BP2013、BP2012、2010、2009；日本药典 JP16、JP15、JP14；印度药典 IP2010 版；WHO 国际药典 IntPh 第四版；中国药典 2010 年、2015 年；GB8368 输液器具；ISO21510；ISO11171 等。GB/T 11446.9-2013 电子级水中微粒的仪器测试方法。可根据客户要求，植入相应“光阻法颗粒度”测试和评判标准。

OPTOTHERM红外热成像显微镜,Optotherm Micro红外热成像显微镜，这是一台专为微观热成像设计，这是一台专为高端科研设计，用来测量微观热分布情况，除具有传统红外热成像的优势外，还具有如下特点：1. 高分辨率红外热成像：640*480像素，60hz高帧数，最高5um分辨率2. 专为科研设计的选配件：1）XY高精度移动平台，120*120mm,步进精度为10um2）自动控制上电的继电器（八通道）：可以精准控制上电及开关，比如设计上电30s后断电，这个过程同步录像或拍照3）两种可选高精度热台：可以控制真正0℃-80℃，0℃–130℃，可以给样品均匀加热或降温，设置一定实验环境4）探针台：微小器件的上电工具，扎针上电5）发射率涂层套件：对于发射率低的器件，可以通过喷枪施加薄（1-2微米）聚合物涂层以增加表面的发射率。可承受高达200°C的连续温度3，功能强大的软件：1) 点，线，面的温度分析，最高点显示跟踪，研究。2）发射率校正：像素级发射率校正，修正发射率导致的温度测量偏差，制作发射率表3）可见光及其他照片叠加，可以调节红外图像和可见光图片的透明度4）一秒拍摄60张照片，生成照片，结合上述功能，可全面的观测分析温度与时间的关系，温度于空间的关系Optotherm Micro红外显微镜，作为一台专为微观红外热成像研发和设计的专业系统，是做微观热分析不可或缺的一个有力工具，其专为作为热成像显微镜做的优化，牺牲掉普通热成像便携性，可充电等各种方便宏观热成像的功能，同时，为微观热成像研究添加诸多实用和创新的功能，这使得其成为MEMS,电子器件，激光器件，LED，传感器，氮化镓器件，SIC，IGBT，微观医疗器件等等，MEMS热成像分析， 光纤热像检测，测量微型换热器的传热效率， 半导体气体传感器的热分析，微反应器的温度特性，微致动器的温度测量，生物样品的温度分析， 材料热检验，热流体分析等等，是关注微观热分布的科研或生产必不可少的一个工具。对于Optotherm Micro 红外显微镜相关的应用或调研，可以联系optotherm中国区应用实验室进行送样和评估。

mini是一款发热显微镜，配备了高灵敏度InSb相机，可探测半导体器件的内部发热。通过将高精度热探测器探测到的发热图与模板图像叠加，可高精度地识别失效位置。特性高灵敏度是通过以下方式获得的：InSb相机在3 μm到5 μm波段内具有高灵敏度专为3 μm 到 5 μm波段优化的镜头设计使用lock-in功能（选配）实现低噪声使用斯特林循环冷却器实现高制冷性能噪声等效温差(NETD)只有20mK高分辨率是通过以下方式获得的：InSb相机为640 × 512像素（像素尺寸：15μm）可选择热纳米镜头(选配)使用窗口功能，可获得高速探测能力视频功能连接测试机，可获得动态分析功能系统结构灵活，可进行微观到宏观的观测与PHEMOS、μAMOS系列一样具有用户友好型操作全系列的选配选项应用金属布线短路接触孔异常氧化物层微等离子体泄露氧化物层击穿TFT-LCD泄露/有机EL泄露定位器件开发过程中温度异常监测器件和PC板的温度映射温度测量功能在器件设计早期，通过获取器件工作时的温度信息，反馈回设计流程，可以缩短器件验证时间，也可增强产品可靠性。在观测基于工作环境的温度行为改变上，该功能也很有用。通过增加U11389温度测量功能，便可以方便地获得该测量功能。宏观分析新研发的0.29×红外镜头可提供无水仙现象、无阴影的清晰视场图像。热纳米镜头系统（Thermal NanoLens System）热纳米镜头系统因为高数值孔径，大大提高了光校正效率和分辨率。通过在样品（即便样品表面平整度很差）和透镜之间施加显微镜浸润油来获取高数值孔径。使用操纵器来简化纳米透镜系统的设计，可使工作设备的更新更简单。LSI测试机对接半导体器件变得越来越复杂，因此必须通过与LSI测试机对接来初始化采样测量、设置特殊条件。安装专用探针卡适配器后，可以用线缆与LSI测试机对接，执行分析。激光标记在定位后的失效点附近进行标记，或者在失效点周围的四个点进行标记，可以轻松地将失效点的位置信息传输到其他的分析设备上。测量示例案例研究：封装器件观测案例研究：对器件一侧开口进行失效层观测案例研究：CMOS观测发现凸球下的缺陷案例研究：PCB和封装器件之间的布线失效在打开封装之前观测热源；打开封装以后获取相位图像以缩小热源范围。参数尺寸/重量880 mm(W)×840 mm(D)×1993 mm(H), Approx. 450 kgPC桌：700 mm(W)×700 mm(D)×700 mm(H), Approx. 50 kg线电压AC220 V (50 Hz/60 Hz)功耗约 700W真空度约80 kPa或更大压缩空气0.5 MPa to 0.7 MPa系统配置C9985-04 InSb相机标配自动平台控制手动标准透镜0.8×、4×、15×样品平台HPK 平台 (8英寸)探测目镜标配探测镜头NIR 5×抗震桌标配THEMOS分析软件标配FOV（mm）12×9.6 to 0.64×0.51目标PCB*，晶片(可达12英寸)，Si 片, 封装*：集成0.29×物镜时。功能热lock-in测量选配 3D-IC测量选配热测量功能选配热纳米镜头选配视频功能标配外部触发标配窗口功能标配光学系统物镜/微距镜头N.A.WD（mm）FOV（mm）配置MWIR 0.29×0.0481233×26td选配MWIR 0.8×0.132212.0×9.6标配MWIR 4×0.52252.4×1.9标配MWIR 8×0.75151.2×0.96选配MWIR 15×0.71150.64×0.51标配MWIR 30×0.71130.32×0.26选配M Plan NIR 5×0.1437.52.6×2.6标配外形图（单位：mm）

产品简介：药典不溶性微粒显微镜计数系统是普勒新世纪实验按照普洛帝分析仪器事业部的规划，于2001年推向市场的成熟系统仪器；符合中国药典规范附录0903不溶性微粒检查法第二法(显微计数法)。该系统为一种图像法粒度分布测试以及颗粒型貌分析等多功能颗粒分析系统，该系统包括光学显微镜、数字 CCD 摄像头、图像处理与分析软件、电脑、打印机等部分组成；不仅可以观察颗粒形貌，还可以得到粒度分布、数量、大小、平均长径比以及长径比分布等，为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段。产品优势：测试软件具有操作员管理系统、测试标准、零件测试模板、图像存储、颗粒追踪、报告输出、清洁度分析等功能；全面自动标准选择、颗粒尺寸设定、颗粒计数，或按用户设定范围计数，自动显示分析结果，并按照相关标准确定产品等级；将传统的显微测量方法与现代的图像处理技术结合的产物；软件控制分析过程，手动对焦，手动光强（颗粒清洁度测试必须人为干预进行），自动扫描，自动摄入，自动分析；数字摄像机将显微镜的图像拍摄及扫描；全自动膜片扫描系统，无缝拼接，数字化显微镜分析系统；R232接口数据传输方式将颗粒图像传输到分析系统；颗粒图像分析软件及平台对图像进行处理与分析；显示器及打印机输出分析结果；直观、形象、准确、测试范围宽以及自动识别、自动统计、自动标定等特点；避免激光法的产品缺陷，扩展检测范围；现实NAS、ISO等国际标准方法的认可；提供“OIL17服务星”签约式服务；应用范围：医药行业：溶液型注射液、注射用无菌粉末、注射用浓溶液、供静脉注射用无菌原料药、滴眼液、疫苗、注射用水、医药包材、输液器具等的大小及数量检测；输液终端过滤器滤除效果及其他微粒污染滤除率检测等；水行业：水溶液、回注水、污水、自来水、纯净水、高纯水、电子级水、超纯水等液体进行固体颗粒污染度检测或不溶性微粒的检测；电子半导体行业：CMP Slurry，石墨、芯片，晶圆加工等微粒检测；特殊化工行业：墨水&喷墨、纳米材料、化工染料、润滑剂、清洗剂、有机液等微粒检测；石化行业：航空、航天、电力、石油、化工、交通、港口、冶金、机械、汽车制造、制冷、电子、工程机械、液压系统等领域；其他行业：过滤产品，清洁度方面，食品饮料，化妆品等微粒检测。执行标准：GB/T 11446.9-2013 电子级水中微粒的仪器测试方法美国药典USP 788、USP 789、USP35-NF30、USP32-NF27；欧洲药典EP6.0、EP7.0、EP7.8、EP8.0；英国药典BP2013、BP2012、2010、2009；日本药典JP16、JP15、JP14；印度药典IP2010版；WHO国际药典IntPh第五版；中国药典2015&2020版；GB8368输液器具；ISO21510；ISO11171等。0.1~3000μm的超宽范围、超高分辨率满足510多个标准要求。可根据客户要求，植入相应“光阻法颗粒度”测试和评判标准。技术参数：订制要求：各类液体检测要求；测试范围: 1μm-500μm放大倍数：40X～l000X倍分辨：0.1μm显微镜误差：0.02（不包含样品制备因素造成的误差）重复性误差： 5%（不包含样品制备因素造成的误差）数字摄像头(CCD)：300万像素标尺刻度：0.1μm分析项目：粒度分布、长径比分布、圆形度分布等自动分割速度： 1秒分割成功率： 93%软件运行环境：Windows 2000、Windows XP接口方式：RS232或USB方式精 确 度：±3% 典型值；重合精度：10000粒/mL（5%重合误差）；分 辨 率：95%（按中国药典2020版校准）；10% （按美国药典、ISO21501校准）鉴定机构：国家西北计量测试中心（民品）售后服务：普洛帝服务中心/普研检测。

广东正业自主研发生产的爱思达金相显微镜，专用于PCB金相分析系统中，用于IC元件，金相切片等微小尺寸的测量和分析。 爱思达品牌的金相显微镜可以根据客户的要求定制软件功能，加上合理优化光路设计，保证最佳成像效果，所设计的软件轻松易学易用，轻松实现点到点，线到线，圆弧、半径、直径、角度等精确的测量跟分析，轻松的拍摄到最真实的画面 爱思达金相显微镜各型号显微镜的技术参数 型号：金相显微镜JX42 显微镜主体： 偏置光学放大倍率：50× ~1000× 电子放大倍率：105× ~2100× 目镜（大视野）：10× 物镜（平场消色差）：5× 、10× 、40× 、100× 照明系统：落射照明6V30W，卤素灯，亮度可调节，带起偏振器CCD型号：DLCWCCD摄像机 :130万像素测量精度 ± 0.0006mm型号：金相显微镜JX32 显微镜主体：正置 光学放大倍率：50× ~800× 电子放大倍率：90× ~1440× 目镜（大视野）：10× 物镜（平场消色差）：5× 、10× 、20× 、40× 、80× 照明系统：落射照明6V20W，卤素灯，亮度可调节，带起偏振器CCD型号：DLCWCCD摄像机 :130万像素测量精度 ± 0.0006mm型号：金相显微镜JX22 显微镜主体：正置 光学放大倍率：50× ~600× 电子放大倍率：90× ~1080× 目镜（大视野）：10× 物镜（平场消色差）：5× 、10× 、40× 、60× 照明系统：落射照明6V20W，卤素灯，亮度可调节，带起偏振器CCD型号：DLCWCCD摄像机 :130万像素测量精度 ± 0.0006mm型号：金相显微镜JX23 显微镜主体：正置 光学放大倍率：50× ~600× 电子放大倍率：90× ~1080× 目镜（大视野）：10× 物镜（平场消色差）：5× 、10× 、40× 、60× 照明系统：落射照明6V20W，卤素灯，亮度可调节，带起偏振器CCD型号：DLCWCCD摄像机 :130万像素测量精度 ± 0.0006mm

Bruker原子力显微镜-Dimension FastScan扫描探针显微镜（Scanning probe microscopes，SPMs）是用于测量样品表面/界面性质的一类高分辨的探针型显微镜，根据其成像原理和操作模式的差异，主要分为原子力显微镜（atomic force microscopes，AFMs）和扫描隧道显微镜（scanning tunneling microscopes，STMs）等。SPM仪器的探针由压电陶瓷驱动，在物体表面作精确的扫描。探针距离样品表面的距离控制在一定的范围内，进行扫描工作，最终以纳米级分辨率获得样品表面的结构信息。传统的分析仪器，往往通过间接或计算的方法来推算样品的表面结构，但是SPM可以实时的获得样品表面真实的结构特征。因此SPM技术的出现，帮助人们首次获得了原子在平整表面排布的高分辨的真实图像。除此之外，AFM在常温常压大气下以及在液体环境下均可成像，实验操作中无需对样品进行任何特殊处理，就可以在微米级到埃米级的扫描范围内完成高精度表面测量，并且提供真正的三维形貌图。

中图仪器VT6000材料检测共聚焦显微镜基于光学共轭共焦原理，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量，一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。产品功能1)3D测量功能：设备具备表征微观3D形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；2)影像测量功能：设备具备二维平面轮廓尺寸的影像测量功能，可进行长度、角度、半径等尺寸测量；3)自动拼接功能：设备具备自动拼接功能，能够实现大区域的拼接缝合测量；4)数据处理功能：设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；5)分析工具功能：设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；6)批量分析功能：设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；7)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；8)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；9)镜头安全功能：设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。 不同应用场景下的3D形貌VT6000材料检测共聚焦显微镜主要应用于半导体、光学膜材、显示行业、超精密加工等诸多领域中的微观形貌和轮廓尺寸检测中，其次是对表面粗糙度、面积、体积等参数的检测中。3D形貌图片：影像测量功能界面VT6000材料检测共聚焦显微镜可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数。功能特点1、测量模式多样单区域、多区域、拼接、自动测量等多种测量模式可选择，适应多种现场应用环境；2、双重防撞保护功能Z轴上装有防撞机械电子传感器、软件ZSTOP防撞保护功能，双重保护；3、分析功能丰富3D：表面粗糙度、平整度、孔洞体积、几何曲面、纹理方向、PSD等分析；2D：剖面粗糙度、几何轮廓测量、频率、孔洞体积、Abbott参数等分析。部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

满足大面积样本观察需求的工业检测显微镜NX1000系列 精确成像，色彩还原度高——Nexcope NM1000系列工业检测显微镜采用经过多年研究和不断改良的NIS45无限远光学系统，具有工作距离长，色差矫正能力强，成像锐利等优秀的光学品质。 专为工业大面积观察需求设计——大面积观察需要更大的操作平台，Nexcope NM1000系列显微镜采用12寸超大载物台，满足FPD及LSI的检测。同时，加入离合器平台手柄及物镜转换等人性化部件，极大的降低了长时间显微操作带来的疲劳。 模块化设计，实现观察方法的多样性——Nexcope NM1000系列工业检测显微镜采用模块化设计，可实现明场、暗场、微分干涉、荧光、偏光等观测方法。是半导体器件、FPD、电子器件、材料、精密模具制造的质控和研究的理想工具。 精确成像，色彩还原度高 柯勒照明完美的显微照明系统--柯勒照明，提供明亮均匀的视场。配合无限远光学系统NIS45和高数值孔径和长工作距离的物镜，给您提供完美的显微成像。 NIS45系列物镜 采用多层镀膜技术，能够补偿球差及从紫外到近红外的色差。保证了图像的锐度、清晰度和色彩还原性。使所有倍率都能获得高分辨率和平坦的图像。 人体工学设计，操作舒适 近人端设计 显微观察经常使用的控制机构位于显微镜正面（靠近操作者）。方便您观察样本时可以更快更方便的对显微镜进行操作。减少长时间观察带来的疲劳及大幅度动作带来的浮尘。 可变倾角三目观察头 可调节倾斜角度的观察头，可以在更舒适的姿势下进行操作。最大限度的减少长时间工作带来的肌肉紧张与不适。 低手位调焦机构及平台微调机构 调焦机构及平台微调机构采用低手位设计，符合人机工程学设计，给予您最大程度的舒适感。 工业样本观察更方便 内置离合器平台手柄可实现载物平台的快速与慢速两种移动方式，能够对大面积样本进行快速定位。与平台微调手柄配合使用，使精确快捷定位样本不再困难。 内置控制面板 将特定按钮设定为与特定物镜产生对应关系，只需轻轻一按即可轻松改变放大倍率。 超大载物平台 微电子及半导体样本往往面积较大，普通的金相显微镜平台不能满足它们的观察需求。NX1000拥有超大的载物平台和超大的移动范围，并且移动方便快捷。是大面积工业样本显微观察的理想工具。 防静电保护罩 工业样本往往惧怕浮尘，些许浮尘就会影响产品品质及检验结果。NX000拥有大面积的防静电保护罩，最大程度杜绝浮尘与落尘。保护样本，使检验结果更精确。

满足大面积样本观察需求的工业检测显微镜NX1000系列 精确成像，色彩还原度高——Nexcope NM1000系列工业检测显微镜采用经过多年研究和不断改良的NIS45无限远光学系统，具有工作距离长，色差矫正能力强，成像锐利等优越的光学品质。 专为工业大面积观察需求设计——大面积观察需要更大的操作平台，Nexcope NM1000系列显微镜采用12寸超大载物台，满足FPD及LSI的检测。同时，加入离合器平台手柄及物镜转换等人性化部件，极大的降低了长时间显微操作带来的疲劳。 模块化设计，实现观察方法的多样性——Nexcope NM1000系列工业检测显微镜采用模块化设计，可实现明场、暗场、微分干涉、荧光、偏光等观测方法。是半导体器件、FPD、电子器件、材料、精密模具制造的质控和研究的理想工具。精确成像，色彩还原度高 柯勒照明完美的显微照明系统--柯勒照明，提供明亮均匀的视场。配合无限远光学系统NIS45和高数值孔径和长工作距离的物镜，给您提供完美的显微成像。NIS45系列物镜 采用多层镀膜技术，能够补偿球差及从紫外到近红外的色差。保证了图像的锐度、清晰度和色彩还原性。使所有倍率都能获得高分辨率和平坦的图像。 人体工学设计，操作舒适 近人端设计 显微观察经常使用的控制机构位于显微镜正面（靠近操作者）。方便您观察样本时可以更快更方便的对显微镜进行操作。减少长时间观察带来的疲劳及大幅度动作带来的浮尘。可变倾角三目观察头 可调节倾斜角度的观察头，可以在更舒适的姿势下进行操作。减少长时间工作带来的肌肉紧张与不适。低手位调焦机构及平台微调机构 调焦机构及平台微调机构采用低手位设计，符合人机工程学设计，给予您较高的舒适感。 工业样本观察更方便 内置离合器平台手柄可实现载物平台的快速与慢速两种移动方式，能够对大面积样本进行快速定位。与平台微调手柄配合使用，使精确快捷定位样本不再困难。内置控制面板 将特定按钮设定为与特定物镜产生对应关系，只需轻轻一按即可轻松改变放大倍率。超大载物平台 微电子及半导体样本往往面积较大，普通的金相显微镜平台不能满足它们的观察需求。NX1000拥有超大的载物平台和超大的移动范围，并且移动方便快捷。是大面积工业样本显微观察的理想工具。防静电保护罩 工业样本往往惧怕浮尘，些许浮尘就会影响产品品质及检验结果。NX000拥有大面积的防静电保护罩，杜绝浮尘与落尘。保护样本，使检验结果更精确。

产品简介：药典不溶性微粒显微镜计数系统是普勒新世纪实验按照普洛帝分析仪器事业部的规划，于2001年推向市场的成熟系统仪器；符合中国药典规范附录0903不溶性微粒检查法第二法(显微计数法)。该系统为一种图像法粒度分布测试以及颗粒型貌分析等多功能颗粒分析系统，该系统包括光学显微镜、数字 CCD 摄像头、图像处理与分析软件、电脑、打印机等部分组成；不仅可以观察颗粒形貌，还可以得到粒度分布、数量、大小、平均长径比以及长径比分布等，为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段。 执行标准：GB/T 11446.9-2013 电子级水中微粒的仪器测试方法美国药典USP 788、USP 789、USP35-NF30、USP32-NF27；欧洲药典EP6.0、EP7.0、EP7.8、EP8.0；英国药典BP2013、BP2012、2010、2009；日本药典JP16、JP15、JP14；印度药典IP2010版；WHO国际药典IntPh第五版；中国药典2015&2020版；GB8368输液器具；ISO21510；ISO11171等。0.1~3000μm的超宽范围、超高分辨率满足全球510多个标准要求。可根据客户要求，植入相应“光阻法颗粒度”测试和评判标准。技术参数：订制要求：各类液体检测要求；测试范围: 1μm-500μm放大倍数：40X～l000X倍分辨：0.1μm显微镜误差：0.02（不包含样品制备因素造成的误差）重复性误差： 5%（不包含样品制备因素造成的误差）数字摄像头(CCD)：300万像素标尺刻度：0.1μm分析项目：粒度分布、长径比分布、圆形度分布等自动分割速度： 1秒分割成功率： 93%软件运行环境：Windows 2000、Windows XP接口方式：RS232或USB方式重合精度：10000粒/mL（5%重合误差）；分 辨 率：95%（按中国药典2020版校准）；10% （按美国药典、ISO21501校准）鉴定机构：国家西北计量测试中心（民品）售后服务：普洛帝服务中心/普研检测。

设备名称：显微计数法不溶性微粒检测仪 设备型号：ZMP930 检测原理：显微计数法/静态图像法 检测范围：1um-600um 产品特点：全自动扫描检测 软件符合各国法规要求 执行标准：美国药典 USP 787、USP 788、USP 789、USP729； 欧洲药典 EP8.0；英国药典 BP2013；日本药典 JP16； 中国药典 CP0903 2015版、2020版等。产 品 应 用： 大输液、小针剂不溶性微粒的检测； 特殊制剂蛋白溶液、乳剂、脂质体、混悬剂、高粘度制剂、带颜色制剂；眼用注射剂、疫苗等不溶性微粒检测。 药用包材等不容性微粒检测。 完全满足并高于 2020 版《中国药典》的要求，内置药典、麻醉器具、输液器具检测标准，可直接进行各种装量的注射液、无菌粉末，及医疗器具微粒污染滤除率检测； 技术参数：1）订制要求：各类液体检测要求；2）按照中国药典2020版 CP0903出具测试报告3）软件具有审计追踪、权限分级、用户分级设置等功能4）软件自动进行扫描整个过滤膜5）测试范围: 1μm-600μm6）放大倍数：40X～l000X 倍7）最大分辨：0.1μm8）显微镜误差：0.02（不包含样品制备因素造成的误差）9）最大分辨：0.1μm（不包含样品制备因素造成的误差）10）高清数字摄像头：1000万/2000万像素 11）标尺刻度：0.1μm12）分析项目：颗粒计数、粒度分布、长径比分布、圆形度分布等13）自动分割速度： 1 秒14）分割成功率： 93%15）软件运行环境：Win1016）接口方式：RS232 或 USB 方式17）供货期：35天18）精 确 度：±3% ；19）重合精度：10000 粒/mL（5%重合误差）；20）分 辨 率：95%（按中国药典 2020 版校准21) 选配粒度分析功能，可以给出D10,D50,D90,进行粒度、粒形、颜色分析等

技术清洁度的基本知识是什么？当今的技术产品日益复杂，特别是在航空航天、汽车、重型设备和电气工程行业中，因而人们对产品的可靠性和质量保证的要求也越来越高。成品的耐用性和使用寿命取决于产品的多种其他特性，而产品的所有特性都与其可以测量的技术清洁度息息相关：产品材料的质量和特性适当的公差表面的总清洁度或颗粒负载技术清洁度如何影响产品的可靠性？产品污染现象通常发生在制造过程中，但是也可能发生在存储、清洁或处理的过程中。如果产品受到污染，会直接影响成品的可靠性和使用寿命。不干净的表面或生产液体对产品造成的危险包括功能失效、产品故障，甚至产品完全报废。在制造和装配过程中使用的技术设备表面上残留的污物可能会导致设备性能不可靠和/或很差、生产停工、浪费材料和能源等问题。较大的残留颗粒可能会使产品的功能完全丧失。随着系统组件尺寸的不断减小，较小的残留颗粒也可能会导致灾难性故障的发生，并造成整个成品的报废。技术清洁度在哪些应用领域最为重要？部件和零件的清洁度检测是制造工艺的关键性环节。以下对某些特定行业技术清洁度的重要性进行几点基本说明：重型机械：由于构成重型机械的部件很大，且可能难以接触到这些部件并直接进行检测，因此对这些产品的检测，可能会耗费很多成本。不过，我们可以选择不对机械产品本身进行检测，而是通过检测使用过机油中的颗粒含量而了解机械产品的清洁度，这是一个更具成本时间效益的方法。机油的状态可以准确地表明机械产品的清洁情况。电气工程：如果在生产过程中电路的联结点上存有颗粒，则表明电路连线没有被正确地构建。探测到这些颗粒并随后清除颗粒，是避免印刷电路板（PCB）短路的好方法。汽车行业：在汽车行业中，许多复杂的系统和部件都需要一尘不染。这些系统和部件包括ABS系统、燃油喷射器、制动卡钳以及液压油系统。技术清洁度检测的过程是什么？适当的技术清洁度检测要按照一种明确、完善的工艺完成，这种工艺首先要通过滤膜提取到颗粒，然后再对会直接影响成品性能、使用寿命和可靠性能的污染物进行定量分析。可以通过冲洗、喷洗、晃动冲洗或超声波清洗的方法将样品上的颗粒分离出来，然后再借助滤膜将这些颗粒收集起来。待滤膜干燥后，使用多步骤检测工艺对滤膜上的颗粒进行检测，以识别和分析前述对成品有害无益的污染物。对污染物的分析要按照国际标准完成，如：ISO 16232 (VDA 19.1)和ISO 4407。当今的技术产品日益复杂，因此需要更高水平的污染控制汽车、航空航天、重型机械和电气工程行业的技术产品日益复杂，因此对生产条件和生产部件的清洁要求也日益提高。技术设备和部件表面上残留的污物可能会导致设备性能不可靠和/或很差；在制造过程中，设备上残留的颗粒会造成停工、延误交货时间、浪费材料和能源以及退货等问题。技术清洁度检测应用包括对ABS系统、柴油喷射器、制动卡钳、液压系统、管道、PCB、互连系统和较大重型机械部件的清洁情况进行检测。清洁度检测过程技术清洁度检测是一个包含了一系列准备步骤和检测步骤的较为复杂的过程。这篇博客对技术清洁度的检测过程进行概括介绍（后续博客将更深入地说明所涉及的准备和检测步骤）。准备工作检测之前对部件的准备工作分为如下步骤：部件清洗：准备阶段始于从生产线上取下一个部件样本并进行清洗（在提取步骤之前）。提取：在放置于无尘室的提取柜中去除被测部件上的颗粒。可以通过冲洗、喷洗、晃动冲洗或超声波清洗的方法去除颗粒。过滤：对提取液进行过滤，并在滤膜上收集提取的颗粒（过滤材料包括纤维素、聚酯、玻璃纤维和尼龙网布）。烘干并称重：滤膜被烘干，并准备接受进一步分析。滤膜烘干后，会留下所有杂质，然后，使用分析天平对其称重。检测检测过程包括以下步骤：图像采集和载物台的移动：烘干的滤膜被放置在电动显微镜的载物台上，以采集检测所需的图像。颗粒的探测：观察滤膜的图像，以找到表现为明亮背景中黑色区域的颗粒。粒径的测量：根据不同参数对所探测到的颗粒进行测量，这些参数包括：大卡尺直径（与颗粒投影相切的两条平行线之间的距离）和等效圆直径。粒径的分类：对颗粒进行了测量之后，将颗粒分成不同的粒径级别组。两个主要粒径等级为差值（由小和大粒径定义）和累积（仅由小粒径定义）。颗粒计数外推法：在滤膜中定义一个区域进行扫查，并探测其中的颗粒。这些区域可以是滤膜尺寸（整个滤膜区域）、流经区域（颗粒所覆盖的滤膜区域）、大扫查区域（检测所能扫查的大区域），以及检查区域（由用户定义的实际扫查区域）。颗粒计数归一化：由外推法获得的颗粒计数被归一为某种比较值，从而可以对多次测量获得的结果进行比较。归一化方法包括清洗区域（归一为1000平方厘米区域的颗粒计数）、清洗体积（归一为100立方厘米区域的颗粒计数）、清洗样件（归一为单一样件的颗粒计数），以及过滤流体（归一为1毫升或100毫升过滤流体的颗粒计数）。污染水平的计算：这种分类水平不是由粒径决定的，而是由（大多数国际标准）所定义污染级别中的颗粒总体数量决定的。清洁度代码的定义：某些标准将测量数据的表现方式简化为简要的说明。这种清洁度代码根据标准而定义，并由粒径的级别和污染水平构成。大审核值：进行核查以获得大审核值是一个可选步骤。如果需要获得一个大审核值，则会在检测配置中确定，也可能会确定一个颗粒数量值或者一个大清洁度代码。反光颗粒和非反光颗粒的区分：金属颗粒和非金属颗粒之间的区别是通过确定颗粒是否反光而完成的（这种区分极其重要，因为金属颗粒会造成比非金属颗粒大得多的伤害）。纤维鉴别：在滤膜上探测到的纤维通常与滤膜上发现的其他颗粒来自于不同的地方（例如：纤维可能来自工作服或者抹布）。因此需要根据评估清洁度所使用的标准，识别、分析或忽略纤维。结果的复核：在复核结果的过程中可能会执行以下操作：删除被错认为颗粒的项目；将靠得很近并被错认为是单个大颗粒的多个颗粒分开；将靠得很近并被错认为是不同颗粒的一个颗粒的组成部分融合在一起；修正错误的颗粒标签（例如：金属或非金属）。报告的创建：技术清洁度检测报告可以包括某些颗粒采集参数的说明、颗粒分类表、颗粒区域覆盖的详细信息，以及大颗粒的图像。OLYMPUS CIX系列：为技术清洁度的检测而设计技术清洁度检测向检测人员提出了一系列挑战，其中包括在检测过程中核查检测结果，同时观察反光和非反光颗粒，每天检测多个样本，基于不同的标准修正并重新计算结果，以及制作合规性报告分享结果。OLYMPUS CIX系列，特别为技术清洁度检测而设计，不仅可以迎接上述挑战，而且使用方便，可以使用户在非常舒适的条件下完成检测。OLYMPUS CIX系列的高端光学部件，硬件和软件的无缝整合，以及无需维护的可靠设计，确保了图像条件的再现性，并使清洁度检测成为一项可以轻松完成的日常任务应用：使用OLYMPUS CIX100技术清洁度检测系统进行钢厂液压设备污染分析在钢厂，某些生产设备需要液压油压力进行驱动。在操作过程中，该设备中使用的液压油可能受到污染，从而改变其化学成分，影响设备的效率，最终缩短液压油和设备的使用寿命。颗粒污染物的可接受水平由国际标准和公司标准确定。钢厂操作人员依据符合这些标准的污染管理计划能够使液压油保持良好状态。此计划涉及通过定期技术清洁度检测来监测和分析液压油颗粒污染。不过，有些污染分析方法比如使用实验室天平的重量分析或颗粒计数器，存在固有缺陷，不那么精确：使用重量分析来分析污染时，可以确定污染物总质量，但单个颗粒的大小数据未知。颗粒计数器无法进行金属和非金属分类，或按形状分类。此外，根据液压油中污染物的取向，颗粒计数可能不准确。奥林巴斯的解决方案使用OLYMPUS CIX100技术清洁度检测系统进行分析产品的特性OLYMPUS CIX100系统具有高性能工业显微镜和多功能专用软件，可以获得每个颗粒污染物形状和大小的高精度数据。该系统利用其独特的光学系统，检测反光颗粒和非反光颗粒，因此可以通过一次扫描分类金属和非金属污染。OLYMPUS CIX100系统符合NAS1638/ISO4406、4407/NFISO21018、NF E48-651和48-655工业标准。还允许用户创建自己的分类设置。应用：汽车部件清洁度检测应用案例1. 背景一辆汽车的整体质量等同于其各个部件质量的总合，确保每个部件达到严苛标准的优质水平，是每个汽车制造商义不容辞的责任。汽车制造商还必须考虑减排、燃油效率、长期耐用性和监管标准等方面的要求。随着汽车零部件变得日益复杂，汽车制造商也更加着力强调零部件的材料特性、装配公差和技术清洁度一定要符合严格的要求，而使零部件达到规定的标准，在最终产品的长期耐用性、可靠性及预期寿命方面都发挥着举足轻重的作用。颗粒污染物会直接影响部件的可靠性，特别是在部件是由多个供应商的组件装配而成的情况下。随着系统和组件越变越小，甚至极其微小的颗粒也会引起灾难性的故障，因此对部件和液体进行技术清洁度和完整性的评估成为质量控制过程的一个必不可少的环节。2. 应用在生产过程中，需要以切割、打磨和去毛刺等方式对所制造的金属部件进行加工处理。如果在切割、打磨和去毛刺的过程中没有将所产生的金属屑和其他异物从关键性的部件中适当地清理和清除，就可能产生涉及到整个系统的严重问题。这些部件如：曲轴轴承夹具、阀门堵塞装置、喷嘴、喷油器、过滤器或电子部件。如果燃油系统、制动系统、液压回路或电子设备的任何部件不符合清洁度的要求，则整个系统都可能会发生故障。为了确保部件和系统符合清洁度的要求，首先要使用无尘室中的提取箱将污染颗粒从部件上分离出来。通过液体淋浴或超声波清洗的方式将部件上的污染物质去除。然后将含有污染物的清洗液体通过滤膜，以提取颗粒。滤膜被夹放在托架中晾干，以备进一步分析之用。滤膜晾干后，被放置在显微镜的载物台上，以进行图像采集和检测之用。由于专用放大倍率可能会限制摄像头的视场，因此较大的颗粒可能会被分割成两个或多个图像。为了确保这些颗粒只被探测到一次，每个颗粒可使用不同的参数表述。其中最重要的参数是费雷特直径和等效圆直径，这两个参数都用于测量颗粒的长度。其他颗粒参数可用于测量颗粒的面积、形状和反射率。这些特性用于识别特殊的颗粒种类，如：纤维颗粒和反光颗粒。对金属颗粒和非金属颗粒的区分基于它们反射光的不同表现。颗粒探测过程完成后，会生成一页结果信息，其中重点标出了每个颗粒的大小（一般是费雷特直径）。颗粒根据不同的大小被分成不同的组，以简化报告的制作，并使用户更方便地比较测量结果。必须根据一个参考值归一化颗粒的计数或外推计数。根据所使用的标准和被测滤膜，颗粒数量被归一为一个比较值。这样用户就可以比较多个测量值，即使在样品大小各有不同的情况下。各种国际标准都对分类参数和级别划分进行了定义说明。汽车行业颗粒大小的分类由小和大晶粒度定义。每个颗粒都只能被划分到一个类别中。VDA 19.1是一个对颗粒大小进行分类的典型标准：D类：超大费雷特直径大于25 μm，但小于50 μm的所有颗粒。E类：超大费雷特直径大于50 μm，但小于100 μm的所有颗粒。F类：超大费雷特直径大于100 μm，但小于150 μm的所有颗粒。根据这个标准，直径为75 μm的颗粒将被归为E类。系统会生成一个包含所有测量结果和有关滤膜数据的报告。图1. 提取用于检测的污染物颗粒3. 奥林巴斯的金属和非金属解决方案为了满足现代工业以及各种国内和国际标准（如：VDA 19.1和ISO 16232）对清洁度的要求，奥林巴斯设计研发了一种交钥匙系统：OLYMPUS CIX100，用于对低至2.5μm的微米级尺寸的污染物和异物进行计算、分析和分类。由于这个系统的多合一扫描解决方案可以同时探测到金属和非金属颗粒，因此其扫描速度比奥林巴斯的其它检测系统快一倍。所有已被计数和分类的颗粒都会实时显示在屏幕上，而用户使用一些功能强大的工具可以非常容易地对检测数据进行修改。系统的软件操作起来简便直观，其所提供的向导可以指导用户逐步完成检测过程，即使是初涉行业的操作人员也能快速、轻松地获得清洁度数据。金属颗粒的探测历来都要求用户通过将检偏镜旋转90°的方法捕获两幅单独的图像（相当耗时的过程），而我们的OLYMPUS CIX系统通过一次扫描就可以识别反光颗粒和非反光颗粒。图2：滤膜和非金属颗粒上的入射光呈扩散形式散射。无论入射光如何，“反射”光都不会出现偏光现象。即使入射光出现了偏光现象，也不会影响对偏光的分析。滤膜总是比滤膜上的颗粒显得更明亮。图3：当入射光接触到金属颗粒时，会发生真实的反射。从金属颗粒表面反射的光不会改变偏光情况。“经典的”清洁度检测方式正是利用了上述差异对金属和非金属颗粒进行区分。反射光的偏光情况可以通过摄像头和软件进行分析。在将起偏镜和检偏镜平行放置时，金属颗粒会显得非常明亮。OLYMPUS CIX系统可以不同方式工作（图4）。入射光束也可以出现偏光情况。可以使用一个延迟板改变光谱中一个波段的偏光情况。因此，入射光的偏光情况对于不同的颜色各有不同（图5）。图4a：非金属颗粒或滤膜的漫反射与经典的设置相同。反射光在所有颜色范围内都不会产生偏光，因此不需要进行分析。滤膜总是比滤膜上的颗粒显得更明亮。图4b：金属颗粒的反射也同样遵循经典的原理，而且保留了偏光属性。但是由于每种颜色的偏光情况为已知信息，因此可以直接在彩色图像中探测到金属颗粒。金属颗粒只有在某种特殊的颜色中才会变亮。图5：只需使用一幅彩色图像就可以区分反光（金属）颗粒和非反光（非金属）颗粒。无需进行第二次扫描，因此节省了时间。此外，无需旋转机械部件，从而减少了对检测仪器的磨损。在检测过程中，所有相关的数据，包含正在采集的图像和概览图像，都会实时显示在单一的屏幕上，这样可使操作人员在发现滤膜上有过多的污染物时停止或中断检测（图6）。系统会对反光颗粒和非反光颗粒进行计数，并根据检测配置和所选标准中定义的大小限度将探测到的颗粒归类。OLYMPUS CIX100系统支持汽车行业中使用的主要国际标准，其中包括以下标准：ISO 16232-10 (A) (N) (V)VDA 19.1 (A) (N) (V)ISO 4406ISO 4407ISO 12345NAS 1638NF E48-651NF E48-655SAE AS4059系统提供一个统计控制图表功能，可以图表方式直观地表明颗粒类别的合规水平，以提高检测结果的可靠性。系统探测到的每个污染物的缩微图都与相关的维度测量值一起显示在屏幕上，因此检测人员可以方便地查看数据。操作人员可以轻松地检索某个特定污染物的信息。在整个检测过程中，OLYMPUS CIX100系统有助于提高检测性能和检测效率。直观的工作流程和分步用户指导有助于减少周期时间、每次检测的成本，以及在处理过程中产生的错误。智能报告工具使用符合行业标准的预定义模板。检测结果可以在Microsoft Word 2016中创建，并以PDF格式导出（图7）。经验不足的用户使用模板可以避免产生人为的错误，还可以方便地修改模板，以满足各种水平操作人员的需求。扫描过的滤膜会被自动保存，以备重新处理或重新计算之用。图6. 图像处理可以区分由技术清洁度检测系统采集的不同的污染物类型图7. 清洁度分析报告

D9600 C-SAM 超声波扫描显微镜现代标准声学扫描电子显微镜 D9600是现代声学成像的标准，和上一代产品一样提供了良好的精度和稳健性，增加了一个合并了PolyGate技术和Sonolytics的改进型的电子与软件平台。D9600是理想的用于失效分析、工艺开发、材料特性和小批量生产的工具。 特点：* PolyGate 技术和Multi-Gate 和Probing-Gate 功能具有运行单个和多个聚焦图像的能力* 每个通道可高达100个Gates* Windows 7 Ultimate，具备多语言和64位能力* 线性Rod Motor Scanner能够扫描JEDEC Trays* 安装在扫描塔上的扫描平台和样品固定装置更加精密* 容易进入扫描区域使得样品放入和取出更加容易* 定量的B-Scan分析模式（Q-BAM）合并了Sonoscan独有的B-Scan模式提供了虚拟横截面视图并带有准确的极性、幅值和深度数据* 可选水循环系统、Waterfall 探头、在线温度控制* 可选的数字图像分析（DIA）使用了先进的算法来量化声学数据并允许你设置准确的、自动的接受/拒收条件D9600 C-Mode 扫描声学显微镜是新一代声学显微图像（AMI）技术革新的一部分。无论你需要用于失效分析、工艺开发、材料特性和小批量生产或其它的试验室检查，D9600都会提供无与伦比的能力。D9500在反射和透射这两种模式下，具有高的精度和稳健性，成为现代AMI的标准。 先进的Sonoscan 功能增加了价值和信心，比如Visual PolyGate、移动地图、像素间距等等。具有的大尺寸、容易进入的且有灯光照明的扫描区域，以及它扫描塔的参考扫描和固定装置使得D9600有能力来高效的扫描任何样品，包括从单个器件到两个JEDEC托盘的器件。 除了充满Sonoscan领先的创新外，D9600还是为用户用心设计的。它的人体工程学特点使得使用更舒适和方便。它的先进的应用软件Sonolytics和新的直观的操作界面菜单有助于使结果大化，并同时节省了操作员的时间。D9600是新一代的C-SAM设备，提供了一整套的技术、人体工程学等。 非破坏内部检测的知名公司自成立以来，Sonoscan一直关注在发展先进的声学显微成像(AMI)技术上，以帮助我们的客户制造更高质量的产品。在AMI应用于非破坏性内部检测和分析上，Sonoscan保持了可信任的权威性。 厂务需求通用电压 - 90V到250V AC，单相，50/60 Hz，15安培（120V）外形–直式桌子：长宽高 1.89 x 0.74 x 1.58 m （74.5 x 29.0x 61.9 英寸）

专业偏光金相显微镜 矿石 粉末检测显微镜 可拍照测量

中图仪器VT6000系列3D微观形貌检测共聚焦显微镜基于光学共轭共焦原理，结合精密纵向扫描，3D 建模算法等，对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量。对大坡度的产品有更好的成像效果，在满足精度的情况下使用场景更具有兼容性。VT6000系列3D微观形貌检测共聚焦显微镜能够清晰地展示微小物体的图像形态细节，显示出精细的细节图像。它具有直观测量的特点，能够有效提高工作效率，更加快捷准确地完成日常任务。借助共聚焦显微镜，能有效提高工作效率，实现更准确的操作。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能； (6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；VT6000系列3D微观形貌检测共聚焦显微镜自设计之初，便定下了“简单好用"四字方针的目标。1）结构简单：仪器整体由一台轻量化的设备主机和电脑构成，控制单元集成在设备主机之内，亦可采用笔记本电脑驱动，实现了“拎着走"的便携式设计；2）真彩图像：配备了真彩相机并提供还原的3D真彩图像，对细节的展现纤毫毕现；3）操作便捷：采用全电动化设计，并可无缝衔接位移轴与扫描轴的切换，图像视窗和分析视窗同界面的设计风格，实现了所见即所得的快速检测效果；4）采用自研的电动鼻轮塔台，并对软件防撞设置与硬件传感器防撞设置功能进行了优化，确保共聚焦显微镜在使用高倍物镜仅不到1mm的工作距离时也能应对。应用领域对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例： 应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。共聚焦显微镜可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量重复性(1σ)12nm显示分辨率0.5nm宽度测量重复性(1σ)40nm显示分辨率1nmXY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

体视显微镜图像分析系统是一种将传统的光学显微镜与计算机技术相结合的仪器，主要用于图像的观察、测量和数据分析。它通常具有以下功能：图像观察：通过显微镜的目镜或计算机屏幕，用户可以观察到被测物体的显微图像。图像测量：系统提供各种测量工具，如直线、圆、弧、角度等，用户可以根据需要进行精确的测量。数据分析：系统可以对测量得到的数据进行统计分析，生成各种图表和报表，方便用户进行数据分析。图像处理：系统可以对显微图像进行各种处理，如调整对比度、亮度、滤镜等，以便更好地观察和分析。 多通道分析：对于彩色或荧光显微图像，系统可以进行分析并提取出各种颜色通道的信息。体视显微镜图像分析系统广泛应用于生物学、医学、工业制造、农业等领域，可以帮助用户更好地了解被测物体的微观结构和特征，进行更精确的测量和数据分析。MingHui显微成像软件提供的图像处理与分析功能，覆盖图像定量分析的几乎所有应用领域，包括材料，冶金，医药，生物，化工和农林牧渔业等，各种需要利用图像手段进行形态学的自动检测，统计与分析。例如粉末及颗粒，物体表面细节，材料裂纹，液体成分与含量，农作物和病虫害分析，零部件几何尺寸测量，以及组织细胞形态学，金相显微组织及晶粒度，化学工业中各种反应物和粒子的形态分析等，都可以利用MingHui显微成像软件来完成。MingHui显微成像软件系统具有如下处理与分析功能：几何尺寸检测：直线，曲线，圆，椭圆，矩形，任意形的长度，角度，面积，周长的点与直线位置测量，直线与直线，直线与圆弧，圆弧与圆弧等几何参数测量。测量单位可选：微米，毫米，厘米，分米，英吋。图像变形及几何矫正：水平镜像，垂直镜像，平移，倾斜，缩放，旋转，透视，漫游，任意，网状变形等。脱机拼图：将多张图片拼接在一起（要求具体见图像拼接）,图像拼接有“自动"和“手动"两种方式，如采用“自动"方式，则被拼接图像需要有重合部分。区域选取工具：魔杖，套索，椭圆，矩形，圆形工具，方形工具。区域处理：区域反选，区域扩大，区域缩小，边界圆滑，平移，缩放，旋转，任意变形。图像处理：色调处理，图增像强，边缘检测，图像平滑，灰值形态学，图像常数运算，图像间运算，其他滤波器。分析目标处理：分析目标扩大，分析目标缩小，边界圆滑，分析目标删除，孔洞填充，内外轮廓抽取，形态学梯度，骨架化，骨架纯化，分支修剪，断点修复等 。分析参数：几何参数，位置参数，当量几何参数，外接几何参数，光密度参数，形态学参数，矩参，孔洞参数，其他参数等个体参数100多项，统计参数100多项，分析参数总数达10000多项。分析参数可视化处理：分析结果与图像之间直接影射显示，特定目标及其长轴，质心，外接矩形，凸包，编号等抽取显示，分析目标不同透明度颜色叠层显示。其他功能：系统还提供了吸管，画笔，填充，直线，移动，剪裁，标尺，测量等几十种交互式处理工具，可完成图像变形，加注标尺，箭头，文字，绘制各种图形及编辑和输出图文报告等操作。软件成套：驱动光盘，可设密码USB加密锁，标准标尺。软件界面示例：

显微镜计数法不溶性微粒随着药学的发展，尤其是制剂学的飞速进步，各式新的剂型进入临床，如注射用乳剂，常见的有丙泊酚、中长链脂肪乳、三腔袋脂肪乳等，脂质体，混悬剂，滴眼剂，混悬剂，易产生气泡剂型等。此种注射剂剂型的特殊性，无法利用常用的光阻法检测不溶性微粒，因为其样品本身的不透明性、高粘度等原因，使得采用光阻法检测会产生假性结果，因为光阻法会将样品本身和气泡也作为颗粒计入。中国药典CP中规定所有的注射剂都要做不溶性微粒项目检查，故而显微镜法不溶性微粒检查设备是非常重要的选择。常规显微镜不溶性检查的缺陷常规显微镜不溶性微粒检查大家会采用一台简单显微镜，人工进行计数。此种操作的难点是：无法避免人为的原因导致计数的偏差，主观性太强；最重要的是人为计数对实验员眼睛的要求较高，用眼过度会造成视力过早下降，引起一些不必要的眼疾；操作不规范性，测试结果重复性差上海胤煌科技有限公司自主研发生产的全自动显微镜计数法不溶性微粒YH-MIP-0103系列，从样品制备到测试完成有一套完整的方案。1）直接按照药典要求出具报告；2）全自动进行滤膜全扫描，并进行颗粒图片分析；3）可以区分颗粒性质，鉴别不溶性微粒的来源，是金属还是纤维；4）按照颗粒性质进行归类分析统计；5）光阻法检测不通过时，作为光阻法不溶性微粒的一个验证；显微镜计数法不溶性微粒设备构成样品过滤装置，烘干装置，检测分析系统，电脑等。检测分析系统可以根据用户要求配置奥林巴斯体式显微镜、奥利巴斯金相显微镜、徕卡金相显微镜、尼康金相显微镜等。应用领域应用范围：乳剂、脂质体、滴眼剂、混悬剂、易产生气泡剂型、粘度大制剂等执行标准：中国药典CP，美国药典 USP 788、USP 789，欧洲药典 EP，英国药典 BP2013，日本药典JP等显微镜计数法不溶性微粒YH-MIP-0103系统介绍：组成：显微镜颗粒分析系统既可以观察颗粒形貌，还可以得到粒度分布、数量、大小、平均长径比以及长径比分布等，为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段；该系统包括光学显微镜、数字CCD 摄像头、图像处理与分析软件、电脑、打印机等部分组成；是传统显微测量方法与现代图像处理技术结合的产品；软件：测试软件具有操作员管理系统、测试标准、零件测试模板、图像存储、颗粒追踪、报告输出、清洁度分析等功能；全面自动标准选择、颗粒尺寸设定、颗粒计数，或按用户设定范围计数，自动显示分析结果，并按照相关标准确定产品等级；专业软件控制分析过程，手动对焦，手动光强，自动扫描，自动摄入，自动分析；专用数字摄像机将显微镜的图像拍摄及扫描；全自动膜片扫描系统，无缝拼接， 数字化显微镜分析系统；数据传输：R232 接口数据传输方式将颗粒图像传输到分析系统； 颗粒图像分析软件及平台对图像进行处理与分析；显示器及打印机输出分析结果；特点：直观、形象、准确、测试范围宽以及自动识别、自动统计、自动标定等特点； 避免激光法的产品缺陷，扩展检测范围；YH-MIP-0103系统介绍：胤煌科技为您奉献的专门高性价比实验室显微镜。可以轻松地根据需要进行明场、暗场、相衬、荧光、偏光等多种观察；还可以连接照相机、数码摄像头，与电脑联机工作。1）物镜:独立校正光学系统，物镜拥有更高的数值孔径，成像更加平坦，清晰范围可达视场边缘。5X、10X、20X、30X、40X、50X、80X、100X 等可根据要求选配、经过防霉处理；2）目镜:高眼点，屈光度可调。10X 目镜视场范围有 20mm 和 22mm 两种配置。经过防霉处理；3）阿贝聚光镜:数值孔径 NA1.25，中心可调，带相衬板插孔，配孔径光阑调节装置，聚光镜孔径光阑采用与物镜色圈相同颜色的标记，方便您的使用；4）暗场聚光镜：专门用于暗场观察，安装方便；5）偏光装置：加配起偏器和验片器，您便可以轻松进行简易偏光观察；6）多功能转盘式相衬聚光镜:数值孔径 NA1.25，配置多功能相衬聚光镜，您可以配合 10X-100X 相衬物镜进行相衬观察，配合 10X-40X 物镜进行暗场观察，也可以明场观察；7）内倾式转换器：方便您放置切片，变换物镜进行观察；8）机械载物台:平台尺寸大于 100*100mm，可容纳 2*50mm 快切片，配切片定位夹；X/Y 方向移动范围大于 50*50mm。低位同轴移动手轮；9）无导轨机械载物台:平台尺寸大于 100*100mm，可容纳 2*50mm 快切片，配切片定位夹；X/Y 方向移动范围大于 50*50mm，低位同轴移动手轮，调节手轮可以根据您的用手习惯任意安装在载物台的左手或右手一侧；10）电动载物台:平台行程：大于 80*70mm；行程：2000μm；定位精度：≤±5μm；典型分辨率： 单步 0.625μm；11）观察筒:双目或三目铰链式观察筒；三目分光比 20/80，可以轻松与数码摄像头或照相机连接工作；视场较高可配置到 22mm；有 48-75mm和 52-75mm 两种不同的双目瞳孔,调节距分别适用于亚洲和欧美人士使用，您可以根据自己双目距离作出灵活的选择；12）粗微动手轮高度可调:根据您手形的大小，粗微动手轮高度可调，为您的手臂带来轻松和舒适；13）照明系统:6V/20W、6V/30W 卤素灯或者 LED 多种光源可供选择。抽屉式的灯座设计让您只需简单地拔出、插入便可方便地更换灯泡；14）高效率的独立散热系统:即使在 6V/30W 卤素灯 48 小时不间断照明的环境下，机身也不会烫手，完全解决了长期困扰研究人员的机身发烫问题；15）增高器：果您体型高大，可选配增高器，保证您观察时的坐姿更加舒适；16）搬运把手：保证您移动显微镜时轻松安全；显微镜计数法不溶性微粒YH-MINP-0103产品配置 YH-MIP-0103技术参数测试范围: 1 μm - 500 μm放大倍数：40X-l000X 倍较大分辨：0.1 μm显微镜误差：0.02（不包含样品制备因素造成的误差）重复性误差： 5%（不包含样品制备因素造成的误差）数字摄像头(CCD)：300 万像素标尺刻度：0.1 μm分析项目：粒度分布、长径比分布、圆形度分布等自动分割速度： 1 秒分割成功率： 93%软件运行环境：Windows 2000、Windows XP接口方式：RS232 或 USB 方式供货期：30 个工作日精 确 度：±3% 典型值；重合精度：10000 粒/mL（5%重合误差）；分辨率：95%（按中国药典 2010 版校准）10%（按美国药典、ISO21501 校准） YH-MIP-0103分析过程： YH-MIP-0103系统介绍：美国药典 USP 788、USP 789、USP35-NF30、USP32-NF27；欧洲药典 EP6.0、EP7.0、EP7.8、EP8.0；英国药典 BP2013、BP2012、2010、2009；日本药典 JP16、JP15、JP14；印度药典 IP2010 版；WHO 国际药典 IntPh 第四版；中国药典 2010 年、2015 年；GB8368 输液器具；ISO21510；ISO11171 等。GB/T 11446.9-2013 电子级水中微粒的仪器测试方法。可根据客户要求，植入相应“光阻法颗粒度”测试和评判标准。

MCK-6RC系列研究级金相显微镜集CAIKON 多项首创于一身，从外观到性能都紧跟国际领先设计风向，致力于拓展工业领域全新格局。MCK-6RC秉承CAIKON不断探索、不断超越的品牌设计理念，为客户提供完善的工业检测解决方案。各项操作根据人机工程学设计，最大限度减轻操作者的使用疲劳。其模块化的部件设计，可对系统功能进行自由组合。涵盖明场、暗场、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多种观察功能，可根据实际应用，进行功能选择。● 宽视场铰链式三目观察筒正像铰链三目观察筒，所成像的方位与物体实际方向相同，物体移动的方向跟像面移动的方向相同，便于观察与操作。● 大行程移动平台设计采用6寸平平台设计，行程158×158mm，可适用于对应尺寸的晶圆或FPD检测，也可用于小尺寸样品的阵列检测。● 高精度物镜转换器转换器采用精密轴承设计，转动手感轻巧舒适，重复定位精度高，物镜转换后的同心度也得到较好的控制。● 安全、稳重的机架结构设计工业检测级显微镜镜体，低重心、高刚性、高稳定性金属机架，保证了系统的抗震能力与成像稳定性。其前置低手位粗微调同轴调焦机构，内置100-240V宽电压变压器，可适应不同地区的电网电压。底座内部设计有风循环散热系统，长时间使用也不会使机架过热。二、工业级金相显微镜MCK-6RC功能介绍：MCK-6RC 集成了明场、暗场、偏光、DIC等多种观察功能。 广泛应用于半导体、FPD、电路封装、电路基板、材料、铸件金属陶瓷部件、精密磨具等检测.集成了明场、暗场、斜照明、偏光、等各种观察功能，可根据实际应用，进行功能选择。三、工业级金相显微镜MCK-6RC的主要技术参数：名 称参数规格光学系统无限远色差校正光学系统观察方式明场/暗场/偏光观察筒30°倾斜，正像，无限远铰链三通观察筒，瞳距调节：50mm~76mm，两档分光比双目:三目=100：0或0:100目镜高眼点大视野平场目镜PL10X/22mm，视度可调高眼点大视野平场目镜PL10X25mm，带单刻度十字分划板，视度可调无限远长工作距平常消色差物镜物镜倍率数值孔径工作距离（mm）盖玻片厚度（mm）5X BD 0.159010XBD 0.309020XBD 0.453.4050XBD 0.557.50物镜转换器明暗场5孔转换器，带DIC插槽调焦机构透、反射式机架 , 前置低手位粗微同轴调焦机构。粗调行程 33mm, 微调精度 0.001mm. 带有防止下滑的调节松紧装置和随机上限位装置.载物台6英寸三层机械移动平台，低手位X、Y方向同轴调节；平台面积445mm×240mm，反射照明移动范围：158mm×158mm；透射照明移动范围：100×100mm；带离合器手柄，可用于全行程范围内快速移动；玻璃载物台板（透、反射用）落射照明系统高亮12V100W卤素灯照明，亮度可调带可变视场光阑，中心可调节插板式滤色片，预制中心，光强连续可调透射照明系统单颗大功率5WLED灯泡，白光，长寿命，光强连续可调偏光装置起偏镜：插入式起偏镜，可以移出光路检偏镜：插入式可360°旋转检偏镜，可以移出光路暗场装置推拉式暗场观察拉杆，可快速转换到暗场观察电源内置100-240V宽电压变压器，双路电源输出电脑摄像系统CKC2000CKC2000高清彩色摄像机，采用索尼CMOS芯片，灵敏度可以与CCD芯片为同一量级，图像色彩还原度大大提高。最高分辨率：5496×3672， 芯片尺寸：1"，USB3.0连接,图像稳定，有多种图像处理方式（详细参数见CKC2000摄像机介绍）显微软件专业图像处理及拍摄软件，实时图像拼接及实时景深熔合，可对图像中的点、线、圆、圆弧、角度、矩形及任何图形几何参数的测量。测量工具使用方便直观，可在图像上添加文字、放置比例尺，是显微图像测量与分析的有效工具。六、仪器装箱单：序号名称数量单位附注1正置金相显微镜主机1台MCK-6RC2三目观察筒1套310X目镜1对4反射光路组1套5反射灯箱1套6无限远平场消色差物镜 5X、10X、20X、50X各 1个7快速移动手柄1个8滤色片1片9玻璃板1块10起偏镜1个11检偏镜1个12备用灯泡2个12V100W13高清数字摄像机CKC20001个14USB3.0数据传输线1根15摄像机接口1个16U盘1个17测微尺1块0.01mm18仪器防尘罩1个19电源线1根20使用说明书1份21出厂合格证1份23保修卡1份

1. 产品说明　　采用进口品牌金相显微镜及配套金相扫描平台，扫描精度更高，成像效果更好，效果更准确。　　通过清洁度检测分析软件控制电子影像设备和光学放大设备，对清洗萃取后的滤纸或滤膜样本进行高精度扫描，将扫描数据传回至计算机分析软件，分析软件自动识别金属、非金属、纤维颗粒等，生成清洁度检测报告。　　检测分析过程可自动进行，亦可手动控制，支持用户自定义。　　检测分析过程可全部按照ISO16232、VDA19、ISO4406、GBT14039、NSA1638等标准执行，满足大众、宝马、通用、福特等各大汽车制造厂清洁度检测标准。　　检测流程： 　　1. 参数指标　　测试范围：1-10000μm　　放大倍数：30-1000倍　　重复性误差：≤1%（国标样D50偏差）　　准确性误差：≤1%（国标样D50偏差）　　颗粒识别速率：≥10000个/分钟　　扫描范围：φ55mm　　测量时间：＜10分钟　　漏检率：≤3%（10μm以上颗粒无漏检）　　进口高速CCD速率：120帧/秒　　金属颗粒识别率：＞92%　　纤维颗粒识别准确率：＞95%　　2. 系统特点　　（1）流程化设计，操作顺畅 　　智能化的全自动清洁度分析软件自动拍照、对焦、控制扫描、识别分析　　智能化的全自动清洁度分析软件自动拍照、对焦、控制扫描、识别分析，不漏判和误判,检测效率高。　　（2）自动化集成度高，操作更简便　　全自动的检验分析过程：自动扫描整个试样（通常是滤纸）、自动拍照，颗粒自动识别、分析、统计，自动检查清洁度、自动生成专业分析报告。　　（3）支持多种扫描方式：矩形、圆形、环形、扇形等，支持多种扫描路径。　　（4）检测样本多样化，可测量零件清洁度、油液清洁度等。　　（5）满足多种检测标准　　支持多种国标及国际标准：包括ISO4406、ISO4407、ISO16232、NAS1638、VDA19、GB/T 20082、GB/T 14039等；可以输入标准进行清洁度、颗粒度的全自动检测；可以对纤维进行统计；系统定期更新*新标准。　　（6）智能聚焦　　支持多种聚焦模式：补偿聚焦、跟踪聚焦、手动聚焦、EFI聚焦等。　　（7）自动拍照、定位，并可回溯重拍　　扫描过程自动拍照、自动保存，进度实时可见；照片信息存入数据库，方便查询。提供视场图片浏览检查功能，可以实现每个视场定位回溯、重新拍照等功能　　（8）自动识别反光颗粒、不反光颗粒、纤维　　系统自动识别颗粒，可以同时检查出不反光颗粒和反光颗粒（一般为金属颗粒）、纤维。　　自动对三种颗粒进行检查分类。 支持设置各种颗粒的合格区间。支持自定义三种颗粒的区分设置。 　　（9）支持跨视野超大颗粒、自动校正偏移，使图片可以进行无缝拼接。 　　（10）统计与分析　　系统自动识别颗粒、自动分析颗粒类别、自动统计颗粒参数。同时支持修改颗粒。提供多种统计分析工具：MAP图、颗粒列表、统计结果等。 　　（11）专业清洁度报告　　支持模板化报告生成模式，包含统计数据、评级、滤片全貌图、*大颗粒照片等信息；可选择多种报告模式。