可变波长照射器

可变波长紫外检测器（英文版）

求助一下agilent 1200 配的可变波长检测器的技术参数，谢谢了。[em09508]G1314B

本人最近做了桑色素-锌离子的荧光，发现了一个奇怪的现象：当用410nm作激发波长照射时，发射峰位于476nm，当用407nm照射时，发射峰位于471nm，我于是将激发波长改为380nm，结果居然出现了436nm的发射峰，又改为360nm为激发波长，扫描发射光谱时出现了414nm的峰。请交各位大侠：这是什么原因？根据荧光的理论，这些所谓发射峰都不是改物质的发射峰，那么这些“发射峰”又是什么峰呢？

对于采用光电管或者光电倍增管的分光的波长校正方法，一般是采用标准物质判断波长的准确度，如果波长不对了，对于最简单的分光，比如721，我们可以调整下波长刻度盘的位置，来校正波长的误差。对于采用电机驱动的自动化程度高的仪器，道理也一样，只不多是由仪器自己完成了。那对于采用CCD,或者PDA这些固态检测器的仪器，一般单色器在出厂后就不能再调整了，就是无活动部件，那这种分光是如何实现波长的校准呢？再，就单纯的CCD上的每个感光单元来说，每个检测单元都是色盲（就是本身分辨不出波长的大小），那又是怎么识别照射到它上面的波长的呢？大家有什么好想法吗？这个问题，我想了半天都没想明白，后来在一个文献里，看到一点介绍，有点清楚，不过还是不清楚。[em0904]

如果用不断改变波长的红外光照射样品，当某一波长频率刚好与分子中某一化学键振动频率相同时，分子就会吸收红外光，产生吸收峰-------------------------------------------------------------------上述这句话不懂啊。。为何俩频率一定要相同时，才会吸收

加入目标物后，发射峰增强，固定发射波长反扫激发波长，为什么加入目标物后的激发峰也更强？

[size=18px]在平时工作中，身边总是有人在问波长色散分析仪的探测器用的是什么检测器？是什么原理？有的为啥还有需要气体的，搞的好麻烦，气体爆炸怎么办……今天我们就来聊聊[b]波长色散分析仪的检测器[/b]。波长色散的x荧光光谱仪由于要使用分光晶体，从而使得待测元素的分析仪谱线可以较好的分离，故通常使用分辨率不那么高的流气式正比计数器和NaI闪烁计数器作为光谱仪的探测器。主要说说流气式正比计数器[b]气体正比计数器又可以分为封闭式和流气式正比计数器[/b]，由于封闭式正比例计数器分辨率太低，而且温差电冷能量探测器已经实用化，所以封闭式正比例计数器将会慢慢被淘汰。我们主要来说说流气式正比例计数器，一般情况下，流气式正比计数器为一个直径2cm住状体，中间有一根20-30μm的金属丝，用作前放信号和外部高压的接头，筒状体内部充入惰性气体和淬灭气体，通常为90％的氩气和10％的甲烷气体混合器，并在金属丝和柱壳间施加1400V~1800V的电压。当流气式正比计数器中的探测气体收到X射线的照射时，或产生大量的负电子和正电性氩离子组成的离子对。假设入射X射线的光子能量为E，产生离子对的有效电离能 为V，由入射X射线光子产生的平均离子对数n与入射X射线光子的能量成正比，与离子对的有效电离能成反比：n=E/V产生的电子在电压作用下会逐渐加速飞向样机金属丝，并引发进一步的氩原子电离，这一效应被称为电离增益，流气正比探测器的电离增益一般为6*10四次方。。。。经放大后的电流由电容收集，产生的脉冲电压与入射光子的能量成正比。在这里需要注意的是，脉冲高度和强度的区别。[b]脉冲高度：[/b]指由单个X射线产生的单个脉冲电压幅度。[b]X射线强度：[/b]指每秒钟测得的脉冲数。重点来了，[b]探测器的分辨率一般定义为峰高一半处所对应的谱峰宽度，简称谱峰半高宽。[/b]流气式正比计数器一般适用于较长波长的X射线探测，通常用于0.15~5nm波长的X射线探测，对于0.15以下的波长，探测的灵敏度很低，这也就是为什么目前很多的X荧光分析仪会设置有多个检测器的原因。希望这样的小知识普及能够让大家明白什么是流气式正比计数器，并且知道他的原理，这样见到这类型的分析仪就不会在这边面有疑问啦！[/size]

PE Ls55:激发波长对荧光发射波长有影响吗？

一．X射线荧光分析仪简介 X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）。是用晶体分光而后由探测器接受经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器做同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此进行特定分析和定量分析。该种仪器产生于50年代，由于可以对复杂体进行多组同事测定，受到关注，特别在地质部门，先后配置了这种仪器，分析速度显著提高，起了重要作用。随着科学技术的进步在60年代初发明了半导体探测仪器后，对X荧光进行能谱分析成为可能。能谱色散型X射线荧光光谱仪（ED-XRF），用X射线管产生原级X射线照射到样品上，所产生的特征X射线（荧光）这节进入SI(LI)探测器，便可以据此进行定性分析和定量分析，第一胎ED-XRF是1969年问世的。近几年来，由于商品ED-XRF仪器及仪表计算机软件的发展，功能完善，应用领域拓宽，其特点，优越性日益搜到认识，发展迅猛。 二．波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别 虽然光波色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪与能量色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪同属于X射线荧光分析仪，它产生信号的方法相同，最后得到的波谱也极为相似，单由于采集数据的方式不同，WD-XRF（波谱）与WD-XRF(能谱)在原理和仪器结构上有所不同，功能也有区别。（一）原理区别 X射线荧光光谱法，是用X射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是用分光近体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X射线波长和强度，从而测定各种元素的含量。而能量色散型荧光光仪（ED-XRF）是借组高分辨率敏感半导体检查仪器与多道分析器将未色散的X射线荧光按光子能量分离X色线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素的量，由于原理的不同，故仪器结构也不同。（二）结构区别 波长色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管），样品室，分光晶体和检测系统等组成。为了准且测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在一个精密的测角仪上，还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，造成强度的损失，要求作为光源的X射线管的功率要打，一般为2-3千瓦，单X射线管的效率极低，只有1%的功率转化为X射线辐射功率，大部分电能均转化为而能产生高温，所以X射线管需要专门的冷却装置（水冷或油冷），因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。 能量色散型荧光光谱仪（DE-XRF）

在文献上看到别人处理材料用172nm波长的紫外光照射，我去淘宝搜了一下，发现最小的也就185nm。请问哪里能买到172nm波长的紫外灯管么？

做实验需要300－420nm波长范围，最大波长为350nm（这点最重要）的灯进行照射，但是不知道用什么灯，好像卤素灯可以，但是在网上没有找到相关资料。想听大家的建议，我该用什么灯？

各位用荧光检测器时，如何确定最佳的激发和发射波长呢？我先固定了激发波长，扫最大的发射波长，然后固定发射波长去扫激发波长，分别找出了最佳的激发和发射波长，可是用这两个波长做出的图的峰高比原来的峰高要小很多。还有，如果我一个化合物选择225作为激发波长，可以选择320作为发射波长呢？还是说发射波长必须在可见光范围内呢？谢谢

请各位大虾们讨论讨论DAD检测器狭缝的作用，全波长190~900纳米通过流通池后进入狭缝，因为狭缝宽度远小于波长，会发生单狭缝衍射现象，衍射后波长的光是如何运行的？是发射到光栅上，由光栅上分光？还是发射的反光镜上，有衍射光谱反射到二极管上？为什么低宽度狭缝会提高分辨率？

[b][font=宋体]问题描述：物质的紫外最大吸收波长是否可以作为荧光激发波长？荧光激发波长与荧光发射波长之间存在什么样的关系，发射波长又要如何选择呢？[/font][font=宋体]解答：[/font][/b][font=宋体]（[/font]1[font=宋体]）荧光产生的原理在前文中已有介绍，需要注意的是电子跃迁时吸收或发射的能量并不是任意的，而是受到电子能级的制约，只能吸收或发射一定波长范围内的光。含有共轭双键体系的有机化合物，容易吸收激发光，其激发波长大多处于近紫外区或可见光区，发射波长多处于可见光区。由于荧光涉及光的吸收和发射两个过程，因此任何荧光物质都有两种特征光谱，即激发光谱和发射光谱。[/font][font=宋体]（[/font]2[font=宋体]）光的发射波长和激发波长之间的差值叫斯托克斯（[/font]stokes[font=宋体]）位移，斯托克斯位移越大，其激发光谱和发射光谱的重叠就越少，就有利于提高其分辨率。分子的第一激发态与基态的能差是一定的，因而荧光波长不随激发光波长的改变而发生变化。分子激发过程中吸收的能量一般高于荧光辐射释放的能量，二者之差以热的形式损耗，因此荧光波长比激发光波长要长，其差通常为[/font]50~70nm[font=宋体]，当有机化合物分子内可以形成氢键时，则增至[/font]150~250nm[font=宋体]。荧光的强度受许多因素的制约，如激发光源能量、吸收强度、量子效率等。量子效率也称量子收率，是指荧光物体分子发射的光量子数与吸收的光量子数之比。其大小是由分子结构决定的，而与激发光源的能量无关。[/font][font=宋体]（[/font]3[font=宋体]）荧光属于光致发光，需选择合适的激发光波长以利于检测。激发波长可通过荧光化合物的激发光谱来确定。激发光谱的具体检测办法是通过扫描激发单色器，使不同波长的入射光激发荧光化合物，产生的荧光通过固定波长的发射单色器，由光检测元件检测。最终得到荧光强度对激发波长的关系曲线就是激发光谱。在激发光谱曲线的最大波长处，处于激发态的分子数目最多，即所吸收的光能量也最多，能产生最强的荧光。因此大多数物质的紫外最大吸收波长可以作为激发波长，激发波长的选择并不影响发射波长的选择，理论上激发光谱和发射光谱有一个镜像关系。很多人误以为，激发波长和发射波长是一一对应的，其实不然，激发光谱的强弱只代表该物质在所选择的激发波长下被激发的比率，其发射光谱还是原来形状的光谱，只是在强弱上改变。我们选择最大激发波长是为了获得高激发率的物质形态，间接提高灵敏度，选择最大发射波长是为了直接提高灵敏度。[/font][font='微软雅黑','sans-serif'][color=black][back=white]领取更多《实战宝典》请进：[url]http://instrument-vip.mikecrm.com/2bbmrpI[/url][/back][/color][/font][font='微软雅黑','sans-serif'][color=black][back=white] [/back][/color][/font]

紫外-可见检测器分为固定波长检测器、可变波长检测器和光电二极管阵列检测器。。。我用的检测器是waters 2487，不知道属于上面的哪种？麻烦大家看看这句话什么意思？ Two modes have been applied: UV detection with wavelength programming and diode array detection (DAD).

我使用液相的荧光检测器扫描氟喹诺酮药物的激发光谱和发射光谱。可是，在我扫描发射光谱的时候，比如250－400nm的范围时，那个固定的发射波长是在大于410nm的范围内随便选取的吗？有没有什么规则？？

我看文献上液相色谱用的是荧光检测器，激发波长380nm，发射波长470nm，但我们学院液相色谱是紫外检测器，那波长该怎么弄啊，请高手帮忙啊

一、分类： 按分光方法分类：平行法（平面晶体分光） 　　　　　　　　聚焦法（弯曲晶体分光） 按通道数量分类：单道扫描型 　　　　　　　　多道同时型（可以带扫描道，但选择性差）二、构成： 　 1、X射线发生器：①X射线管 ②高压发生器 ③冷却系统 ④保护系统2、分光系统： ①分光晶体（单道仪器有测角仪） ②狭缝（入射、出射） ③试样室 ④真空系统 ⑤温控系统 3、电学测量系统： ①探测器（计数管） ②放大器 ③波高分析器 ④计数管高压4、控制及数据处理单元： ①微处理器 ②计算机 ③打印机 三、主要部件说明：　　1.X射线管：　 　①　X光管是美国Ｖａｒｉａｎ公司和岛津公司联合研制的，岛津使用的是3KW的OEG-75H、OEG-76H及4KW的OEG-83J，X光管价值很高，是仪器的核心部件，对其冷却水的温度、压力、电导率都有严格的要求，其最佳冷却水温为22～24℃一般不能超过30℃。超过35℃使用寿命会大大降低。　 　②　X射线管的窗口只有75μm的铍（为了提高透射率），易碎、有剧毒，所以要特别小心。正常应该是Be窗有些内凹，若是平面则可能是内真空已经坏。③　电压、电流的选择：为了获得较高的强度，同时尽量避免其他谱线的干扰，一般工作电压取值为激发电压的3～5倍。一般在管功率要求下，首先选择最佳电压，然后尽可能选择最大电流。升电压及电流一定按要求一档一档的升　。④　管电压～管电流使用 1X射线管：4KW40KV～95ma一般情况下使用250 KV～75ma测定重元素26Fe～92U时效果好330 KV～130ma测定超轻元素4B～8O时效果好4X射线管：3KW40 KV～75ma一般情况下使用550 KV～55ma测定重元素26Fe～92U时效果好630 KV～95ma测定超轻元素4B～8O时效果好⑤　灯丝电流轰击靶面，只有少部分转化为辐射能，而绝大部分转化为热能，所以必须冷却。灯丝供电为12V、10A。灯丝电阻为0.2 Ω左右。 ⑥ 由于阴极与阳极之间的电压高达数万伏，所以要求冷却水必须很纯、导率很小。 ⑦　Ｘ射线管老化后出现问题：功率达不到要求，ｍＡ加不到预定值，且毫安表的指针摆动；会出现轻元素（ｃ、ｐ、ｓ、Ｓｉ、Ｍｇ）计数下降，重元素（Cu，BG）上升。可以用纯铜在电压固定的情况下改变电流，测量其强度，二者相关性应该是线性。射线管灯丝对地的电阻应该是无穷大，不过有的时候可能在50的时候也可以用，但是要长时间老化。靶对地（外壳）、灯丝对地（外壳）、灯丝对靶应该是1000MΩ或者∞（使用）MΩ级高阻表或者500V摇表。⑧　X光管在20KV、10mA的时候是最不稳定的，因可控硅调整在低点的时候比较困难，所以有时指针会摆动。属正常情况。2.分光晶体： ①定义：具有把Ｘ射线荧光按波长顺序分开成光谱作用的晶体。 ②晶体应该具备的条件： 衍射强度大 应该适用于所测量的分析线 分辨率高 峰背比高 不产生附加发射和异常反射 热膨胀系数小、温度效应低。 经受Ｘ射线长期照射，稳定性好。 机械强度良好 容易加工③常用晶体：LiF PET （Si Al） Ge (P) NaCl TAP(Mg Na F)　　　　　　其中TAP　PET　NaCl 晶体容易损坏；特别是NaCl容易潮解。TAP　PET　的使用寿命一般为5—6年，因为太硬，容易出现裂纹，一般不影响使用，但翘起来的时候就不能用了。 ④晶体分光原理：晶体按布喇格公式使平行光束发生色散：ｎλ＝2ｄSinθ 应该尽可能的选择较小的2ｄ值，使得待测的最短波长的衍射角2θ较小。 ⑤分辨率：晶体分开或辨别波长几乎相同的两条谱线的能力。　 ⑥晶体实用2θ角度为10～100 因为晶体和探测器使用机械方法耦合的，因此探测到的位置始终是2θ角。由于机械配置原因,使用分析角度为10～100 ▲晶体的清洗：LiF、Ge、Lsa使用二甲苯清洗；PET、TAP使用丙酮清洗（但是二者表面镀有C，为了防止潮解，有些凹凸，使用的时候不要擦掉，洗后就会失去，容易损坏。另外，清洗时应该在容器中来回移动，一般不要擦）

黄曲霉毒素检测用衍生方法，关于发射波长和激发波长有几种选择，激发波长360和365、激发波长440和450、460哪种检测结果能好点

液相荧光检测器发射波长和激发波长代表什么？什么原理？

反射率仪的测试波长是多少？ c84-III型反射率测试仪，天津世博伟业化玻仪器有限公司，射出的是绿光。谁知道测试波长是多少？请给出答案的出处，例：XX国家标准。谢谢！

本人是荧光色谱小白，现在所用的是岛津的荧光检测器RF-20A，现在在做一个未知化合物的分析方法，不知道怎么摸索激发波长和发射波长，激发波长和发射波长是否可以像紫外检测器那样扫描出来，求助各位大神解答？？[img]http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09512.gif[/img][img]http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09512.gif[/img]

实验室用的是Agilent1200液相色谱，VWD（可变波长）检测器，想问一下，如果用甲醇做流动相，有一段时间波长维持在202nm（刚开始时268nm，在5min-7min变成202nm），因为甲醇在低波长下有吸收，请问这样的设置可用吗？我的流动相是65%MEOH+35%H2O，检测混合物质，5-7min出峰的物质在202nm下吸光度最大（之前扫描过波长）

新的荧光物质的激发波长和荧光发射波长如何确定？？ 有 经验的帮帮忙 是不是由个λ／２　～　　２λ的范围　　或者是别的　　　　请详细说明

专家老师：您好！我想请问您——荧光素钠的激发波长和发射波长分别在多少nm处？核黄素的激发波长和发射波长的位置？多谢您！

摘要：1 波长不准故障的检修 在正常使用下，如果显示波长不准，根据波长自检和自校原理，故障是由光电管没有检测到亮线引起的。当显示波长不准时，应首先检查出流动相使用得是否合适，波长设定是否超出仪器的使用范围。当排除了这些人为因素后，利用仪器的自校功能进行一次波长校正（校正方法见使用说明书）。校正后如仍显示波......1 波长不准故障的检修 在正常使用下，如果显示波长不准，根据波长自检和自校原理，故障是由光电管没有检测到亮线引起的。当显示波长不准时，应首先检查出流动相使用得是否合适，波长设定是否超出仪器的使用范围。当排除了些人为因素后，利用仪器的自校功能进行一次波长校正（校正方法见使用说明书）。校正后如仍显示波长不准，则按面板上的Func键，把波长设定为254nm，并且使检测池充满甲醇或乙晴，查看SMPL EN（流通池）和REF EN（参比池）的吸光度值。如果流通池和参比池的值相差很大，则故障是由光栅部分污染或氘灯能量降低引起的，按面板上的VP和Func键，查看氘灯的使用时间是否超过2000小时。如果氘灯使用时间过长，即使氘灯能够正常启动，有时也发不出0nm,486nm和656nm亮线，从而引起波长不准。这时，需要换新的氘灯。如果氘灯使用时间不长，则故障是由光栅部分引起的。 2 光栅部分的检修与调试 光栅部分主要是由M1、M2、M3、石英窗口和光栅组成的，是整光路的核心。反射镜镜面的光洁度越高，光电池接受到的光就越强，仪器的灵敏度就越高。如果紫外光长时间故地功能照射镜面的一个地方，会在镜面上产生光斑。如果使用环境不干燥，会在镜面上生成霉斑。如果使用环境不洁净，灰尘也会对镜面造成污染。这些都将使镜面的光洁度下降，严重时会使光电池无法检测出氘灯的亮线，从而引起波长不准。　 如果故障是由石英透镜污染或光斑造成的，应该先把瞎缝从底板上卸下来，用脱脂棉或纱布沾无水乙醇反复擦洗透镜，直至擦洗干净为止，然后重新装上狭缝。如果故障是由反射镜M1、M2、M3镜面的光斑，霉斑或污染造成的，用甲醇稀释的棉胶液（化学试剂商店有卖），在有光斑、霉斑或污染的镜面上均匀地涂抹一层，待甲醇蒸发后，会在镜面膜上形成一层薄膜，这时用镊子从镜子边缘把这层薄膜慢慢取下来。用镊子取薄膜时，一定要小心，不能划伤镜面。而光栅是一个相当于1600条/mm沟槽的全息光栅，当光栅上有光斑、霉斑或污染时，不能使用棉胶液涂抹或擦拭，只能连同处理后不能恢复光洁度的反射镜M1、M2、M3一起更换。 在更换光栅部分的任何一个器件之后，都必须对光路进行调试。首先，按shift键，开启电源，待氘灯点燃后，把波长设定为0nm，然后再把模板（调试光路的专用模具）放在反射镜M1、M2、M3和光栅上，如果没有模板，可把画有一竖线的白纸放在检测池的窗口处，使竖线正好位于流通池和参比池的中间，查看0nm亮线，是否与竖线重合，如果亮线不垂直，可拧松光栅支架上的光栅固定螺丝，轻轻转动光栅的位置，使亮线垂直。如果亮线左右偏离竖线，则应调氘灯或反射镜M2的位置，使亮线与竖线重合。如果亮线不能同时照射在流通池和参比池的窗口上，应用内六角扳手调整M2上面的螺丝，使亮线同时穿过流通池和参比池窗口。调整完后，关闭电源，盖上光栅室的上盖，重新启动电源，待仪器自检后，再进行一次波长自动校正。一般情况下，只要0nm亮线调整准确，486nm、656nm亮线经过波长自动校正后，都能将波长的误差控制在±1nm以内，使仪器显示CHECK GOOD。 光路的修理和调试是一个非常细致的工作，在修理或调试时，为了避免手不小心触摸到反射镜镜面而造成新的污染，一定要带上干净的手套。特别是在调试光路时，为了减少杂散光引起的波长调试误差，最好在光线比较暗的室内调试。当需要更换光栅部分的多个器件时，最好是更换一个调试一次，调好位置的器件，在更换下一个器件时不需要在重新调试。来源：沈阳药科大学

为什么我做粉末的荧光时，激发波长和发射波长不唯一呢？大神们，能介绍一个可以用来做固体或者粉末荧光的样品，最好不用实验去制取。并且与他的激发波长和发射波长，这样可以用来检测自搭建荧光分光光谱仪可不可以测固体和粉末的波长。

1 波长不准故障的检修 在正常使用下，如果显示波长不准，根据波长自检和自校原理，故障是由光电管没有检测到亮线引起的。当显示波长不准时，应首先检查出流动相使用得是否合适，波长设定是否超出仪器的使用范围。当排除了这些人为因素后，利用仪器的自校功能进行一次波长校正（校正方法见使用说明书）。校正后如仍显示波长不准，则按面板上的Func键，把波长设定为254nm，并且使检测池充满甲醇或乙晴，查看SMPL EN（流通池）和REF EN（参比池）的吸光度值。如果流通池和参比池的值相差很大，则故障是由光栅部分污染或氘灯能量降低引起的，按面板上的VP和Func键，查看氘灯的使用时间是否超过2000小时。如果氘灯使用时间过长，即使氘灯能够正常启动，有时也发不出0nm,486nm和656nm亮线，从而引起波长不准。这时，需要更换新的氘灯。如果氘灯使用时间不长，则故障是由光栅部分引起的。 2 光栅部分的检修与调试 光栅部分主要是由M1、M2、M3、石英窗口和光栅组成的，是整个光路的核心。反射镜镜面的光洁度越高，光电池接受到的光就越强，仪器的灵敏度就越高。如果紫外光长时间故地功能照射镜面的一个地方，会在镜面上产生光斑。如果使用环境不干燥，会在镜面上生成霉斑。如果使用环境不洁净，灰尘也会对镜面造成污染。这些都将使镜面的光洁度下降，严重时会使光电池无法检测出氘灯的亮线，从而引起波长不准。　如果故障是由石英透镜污染或光斑造成的，应该先把瞎缝从底板上卸下来，用脱脂棉或纱布沾无水乙醇反复擦洗透镜，直至擦洗干净为止，然后重新装上狭缝。如果故障是由反射镜M1、M2、M3镜面的光斑，霉斑或污染造成的，用甲醇稀释的棉胶液（化学试剂商店有卖），在有光斑、霉斑或污染的镜面上均匀地涂抹一层，待甲醇蒸发后，会在镜面膜上形成一层薄膜，这时用镊子从镜子边缘把这层薄膜慢慢取下来。用镊子取薄膜时，一定要小心，不能划伤镜面。而光栅是一个相当于1600条/mm沟槽的全息光栅，当光栅上有光斑、霉斑或污染时，不能使用棉胶液涂抹或擦拭，只能连同处理后不能恢复光洁度的反射镜M1、M2、M3一起更换。 在更换光栅部分的任何一个器件之后，都必须对光路进行调试。首先，按shift键，开启电源，待氘灯点燃后，把波长设定为0nm，然后再把模板（调试光路的专用模具）放在反射镜M1、M2、M3和光栅上，如果没有模板，可把画有一竖线的白纸放在检测池的窗口处，使竖线正好位于流通池和参比池的中间，查看0nm亮线，是否与竖线重合，如果亮线不垂直，可拧松光栅支架上的光栅固定螺丝，轻轻转动光栅的位置，使亮线垂直。如果亮线左右偏离竖线，则应调氘灯或反射镜M2的位置，使亮线与竖线重合。如果亮线不能同时照射在流通池和参比池的窗口上，应用内六角扳手调整M2上面的螺丝，使亮线同时穿过流通池和参比池窗口。调整完后，关闭电源，盖上光栅室的上盖，重新启动电源，待仪器自检后，再进行一次波长自动校正。一般情况下，只要0nm亮线调整准确，486nm、656nm亮线经过波长自动校正后，都能将波长的误差控制在±1nm以内，使仪器显示CHECK GOOD。 光路的修理和调试是一个非常细致的工作，在修理或调试时，为了避免手不小心触摸到反射镜镜面而造成新的污染，一定要带上干净的手套。特别是在调试光路时，为了减少杂散光引起的波长调试误差，最好在光线比较暗的室内调试。当需要更换光栅部分的多个器件时，最好是更换一个调试一次，调好位置的器件，在更换下一个器件时不需要在重新调试。（转帖，与大家分享）[em07]