纳米检测显微镜

产品特点：GATTA-AFM纳米标尺具有准确、高度平行的结构，可以完美地用于检测或优化原子力显微镜。在实际环境中测试原子力显微镜可以达到的分辨率非常重要，不仅可以测出原子力显微镜达到产品标称分辨率的可能性，还可以测出实际使用时可达到的极限。如今GATTA也提供适合测试的GATTA-AFM纳米标尺，现在，有了GATTA原子力显微镜纳米标尺之后，就有了足够的测试样品，这些样本用DNA做成，呈现70nm*90nm*2nm（高）的长方体形状。纳米标尺，AFM纳米标尺，原子力显微镜纳米标尺，共聚焦显微镜纳米标尺，超高分辨显微镜纳米标尺，SIM纳米标尺，STED纳米标尺，STORM纳米标尺，电镜纳米螺旋标尺，金纳米螺旋标尺，显微镜亮度灵敏度标尺，显微镜纳米标尺技术参数：

产品特点：GATTA-PAINT 系列纳米标尺是适用于各种定位技术的超高分辨显微镜的理想标尺。因为采用DNA PAINT技术实现亮暗转换，GATTA-PAINT 纳米标尺几乎不会淬灭。此外，标尺的设计中包含了三个荧光发射点，可以获取到醒目的图像。荧光标记间的距离有如下几个尺寸：20nm, 40nm, 80nm。每种距离都有如下几种颜色可供选购：红色（ATTO 647N），绿色（ATTO 542）或蓝色（Alexa Fluor 488），或者红/绿组合(ATTO 655/ ATTO 542)纳米标尺，AFM纳米标尺，原子力显微镜纳米标尺，共聚焦显微镜纳米标尺，超高分辨显微镜纳米标尺，SIM纳米标尺，STED纳米标尺，STORM纳米标尺，电镜纳米螺旋标尺，金纳米螺旋标尺，显微镜亮度灵敏度标尺，显微镜纳米标尺技术参数：

产品特点：GATTA-Confocal 系列的纳米标尺为传统显微镜使用者设计，它有两个荧光标记端，均含有量子效率高的染料分子。标记点的距离为350nm。GATTA-Confocal纳米标尺有如下颜色可选：红色（ATTO 647N），黄色（Alexa Fluor 568），绿色（ATTO 532）或蓝色（Alexa Fluor 488），或者红/黄/蓝组合(ATTO 647N/ Alexa Fluor 568/ Alexa Fluor 488)，红/绿/蓝组合(ATTO 647N/ ATTO 532/ Alexa Fluor 488)纳米标尺，AFM纳米标尺，原子力显微镜纳米标尺，共聚焦显微镜纳米标尺，超高分辨显微镜纳米标尺，SIM纳米标尺，STED纳米标尺，STORM纳米标尺，电镜纳米螺旋标尺，金纳米螺旋标尺，显微镜亮度灵敏度标尺，显微镜纳米标尺技术参数：

GATTA-SIM NANORULER来自德国GATTA-SIM系列Nanorulers（纳米尺）是检查您的SIM系统（单分子定位超分辨显微镜）分辨率的完美样本。单色纳米尺子携带两个由高量子产率染料分子密集排列而成的荧光标记。此外，我们提供了一种新的设计，包含两个不同的荧光团三个发光点，允许获取非常引人注目的图像。单色GATTA-SIM纳米尺120纳米-120nm尺寸只有蓝色可供选择140纳米-黄色和蓝色160纳米-颜色为红色(ATTO 647N)，黄色(Alexa Fluor568)或蓝色(Alexa Fluor488)多色纳米尺有三个发射点，尺寸：140纳米(Alexa Fluor 568 & Alexa Fluor 488)160纳米(ATTO 647N & Alexa Fluor 568或ATTO 647N & Alexa Fluor 488)我们还可以根据您的要求设计特殊的解决方案。所有纳米样品都将是GATTA-SIM超分辨率图像，在密封玻片上交付，您可以舒适地直接放在显微镜上。

产品特点：GATTA-Brightness系列纳米标尺是标准化的衍射极限成像的纳米级点光源，可作为亮度标尺检测显微镜的灵敏度，并把荧光分子的绝对数量与发光强度联系起来。因此每个标尺带有特定数目的ATTO 647N荧光分子，与荧光分子数目对应，可供选购的荧光亮度级别有9，18和24。纳米标尺，AFM纳米标尺，原子力显微镜纳米标尺，共聚焦显微镜纳米标尺，超高分辨显微镜纳米标尺，SIM纳米标尺，STED纳米标尺，STORM纳米标尺，电镜纳米螺旋标尺，金纳米螺旋标尺，显微镜亮度灵敏度标尺，显微镜纳米标尺技术参数：*该体积可供10份样品使用Frequency： 荧光强度Number of dye molecules ：荧光分子数目

产品特点：金纳米螺旋标尺（L，R）是手性的纳米标记物，尤其适合于3D断层扫描，电子显微镜（EM）或冷冻电镜。我们的手性标记物显示纯手性（L或R），由于高对比度和金纳米颗粒的精准排列，可以很容易地被电镜检测到。金纳米螺旋标尺（L，R）是用DNA折纸技术制备，金纳米颗粒（10nm）被排列成纳米螺旋（螺距57nm 长110nm 直径34nm）。纳米标尺，AFM纳米标尺，原子力显微镜纳米标尺，共聚焦显微镜纳米标尺，超高分辨显微镜纳米标尺，SIM纳米标尺，STED纳米标尺，STORM纳米标尺，电镜纳米螺旋标尺，金纳米螺旋标尺，显微镜亮度灵敏度标尺，显微镜纳米标尺技术参数：在透射电镜载网中：样品放在干燥的透射电镜载网上使用，以提高由银增强放大了的螺旋效果。样本存储在石蜡膜覆盖的塑料孔中进行运输。保质期是6个月。在缓冲液中:该纳米螺旋储存在缓冲液（1X TE，11mM MgCl2）中运输。样本量约为30μL，这个量足以用于10个以上的TEM。样品保存于低温的保温盒中进行运输。适当的储存条件下（避光，4℃），保质期为3个月。

产品特点：GATTA-SIM系列的纳米标尺可以用于检测您的SIM系统的分辨率。该纳米标尺带有两个荧光标记，这些荧光标记都是来自于密集排列的高量子效率的染料分子。两个荧光标记之间的距离固定，尺寸包括120nm，140nm和160nm。我们为您提供带有以下颜色的不同尺寸的纳米标尺，包括：红色（ATTO 647N），黄色（Alexa Fluor 568）或蓝色（Alexa Fluor 488）。纳米标尺，AFM纳米标尺，原子力显微镜纳米标尺，共聚焦显微镜纳米标尺，超高分辨显微镜纳米标尺，SIM纳米标尺，STED纳米标尺，STORM纳米标尺，电镜纳米螺旋标尺，金纳米螺旋标尺，显微镜亮度灵敏度标尺，显微镜纳米标尺技术参数：

颇尔HPCA-2显微镜法便携式污染检测仪颇尔HPCA-2便携式污染检测仪颇尔黑白箱显微镜法颗粒计数器颗粒度计数器颗粒度仪NAS1638HPCA-2便携式污染检测仪颇尔黑白箱 适合于DL432-92方法要求精确目测5～150μm颗粒污染情况颗粒成份一目了然，快速分析污染级别操作方便，快捷适用颇尔便携式污染检测仪（有称黑白箱）的设计使你进行：?现场检测并且测出系统液压的清洁度等级；?并能看到颇尔过滤滤材在去除系统中污染颗粒的效率。1．开始1.1含元件请参见图，元件型号请见附录。在使用该仪器前请熟悉元件型号及其名称。1.2检查一下未用过的分析膜片，使膜片盒保持清洁和足够的溶剂并在出差前检测电筒是否可用1.3将箱中的一个取样瓶定为废液收集瓶并贴上标签，此瓶用于收集在油箱中取样前冲洗软管用的废弃流体。1.4箱中应保留一份油液污染度比较样本和操作指南，这些就放在泡沫塑料和后面。2.获取油样2.1液样的获取必须从系统要在系统的操作温度下取样，即在系统操作过程中或系统刚刚停止即刻取样。在取样阀取样在用取样阀之前，要把阀外面的脏物擦掉，打开阀让足够的液体（大约500ml通过阀门流进废弃容器或流回油箱，这样在你取样前会先冲掉存在阀中的污染物，把液样收集到干净的瓶中后把瓶盖盖好关上取样阀，当灌取样品时请勿调节取样阀）油箱中取样当从油箱或集油槽中取样时，先把软管的一端插入真空泵突起的圆口内，将软管一直推进直到从真空泵底部伸出并拧紧端盖（顺时针），再将集液瓶旋拧到真空泵上，把软管的另一端插进油液中液位的一半开始操作真空泵，当达到瓶中的2/3液位时，把瓶子从真空泵上拧下，把液体倒入集液槽然后拧上第二取样瓶抽取第二个液样，取下取样瓶盖上瓶盖。2.2不要破坏软管连接或管件进行取样2.3要保持取样瓶清洁，取样前再打开，取样后立即盖上。2.4液样不要取得过满，取样在1/2至2/3液位之间即可，距瓶口不高于1/2英寸。2.5若取油样较多时，则需贴清标签。3.准备抽取油样3.1将溶剂过滤器插到冲洗瓶嘴上，溶剂过滤器开口较大的一端插到冲洗瓶嘴上，确保通过过滤器的正确流向并使溶剂不含污染颗粒。3.2支起真空泵，集液瓶及如图2所示漏斗套件。3.3所有与油样接触的元件和容器须在通过分析膜片前完全用过滤的溶剂冲洗一下（要有一个容器盛接）。冲洗后的漏斗要用铝泊盖住。3.4根据液体的种类选择合适的膜片和溶剂。分析膜片a)1.2微米带格膜片用于除磷酸脂，酒精和燃料。这些应该用PALL1.2微米无格尼龙膜片（兼容性）。b)对于污染严重的液体。这需要抽取25ml，1.2微米膜片使用起来有些困难，如有可能，则用PALL的5.0微米的膜片。

日本三丰Mitutoyo FS70 半导体检测显微镜,半导体观测显微镜 ,工作距离足够长，倍数高，能够应用在各种检测场合和质量确认方面。搭配Mitutoyo的全系列可见光远场校正镜头，显微镜系统的放大倍率可涵盖20X到8000X，工作距离范围从6到34mm。对焦目镜可安装直径为25mm的测量分划板来测量。50/50三端输出显微镜的粗调范围为50mm，精确调整分辨率可达0.1mm，并可同时进行视频输出和双目观测。FS70系列半导体检测显微镜单元是一款带目镜观察的小巧显微镜单元。适于检测金属表面、半导体、液晶基板、树脂等。可应用于切割、修整、校正、 给半导体电路做标记/ 薄膜(绝缘膜) 清洁与加工、液晶彩色滤光器的修复(校正错误)。还可用作光学观察剖面图以便探针分析半导体故障。技术参数 特点● 采用Mitutoyo远场校正镜头● 三端输出设计可轻松接收视频● 转盘可接最多四个物镜应用：切割、修整、校正、 给半导体电路做标记薄膜(绝缘膜) 清洁与加工、液晶彩色滤光器的修复(校正错误)。还可用作光学观察剖面图以便探针分析半导体故障。• 可用于红外光学系统*。应用：晶体硅的内部观察；红外光谱特征分析。* 需要红外光源和红外摄像机。• 支持BF (亮视场)、DF (暗视场)、偏振光及微分干涉对比(DIC) 的型号(产品) 可用。• 带有孔径光阑的柯勒照明是表面照明光学系统上的标准配件。• 内倾转塔和超长工作距离的物镜确保了显微镜下的高可操作性。技术参数 型号FS70FS70-THFS70ZFS70Z-THFS70LFS70L-THFS70L4FS70L4-TH型号FS70SFS70-THSFS70ZSFS70Z-THSFS70LSFS70L-THSFS70L4SFS70L4-THS聚焦调节使用同心粗调(3.8mm/rev)和微调(0.1mm/rev)对焦轮(右/左)实现50mm行程范围图像正像物镜筒镜西登托夫型, 调节范围: 51 - 76mm视场数24mm俯角-0°-20°-0°-20°-0°-20°-0°-20°透过率固定(目镜/TV＝50%/50%)可调型(目镜/管径＝100%/0%：0%/100%)固定(目镜/TV＝50%/50%)可调型(目镜/管径＝100%/0%：0%/100%)防护滤光片-内置激光滤光片管径镜头1x1x-2x放大1x适用激光-1064/532/355nm532/266nm相机安装端口C-mount (适用适配器B选件)使用带TV接口的激光C-mount开关(带绿色滤光片转换开关)照明系统(选件)亮视场反射照明 (科勒照明、带孔径光阑)12V100W亮视场反射照明、无极亮度调节、光纤长度物镜（用于观察）M Plan Apo, M Plan Apo SL, G Plan Apo物镜（用于激光切割）-M/LCD Plan NIR,M/LCD Plan NUVM Plan UV载重14.5kg13.6kg14.1kg13.2kg14.2kg13.5kg13.9kg13.1kg重量（主机）6.1kg7.1kg6.6kg7.5kg6.4kg7.2kg6.7kg7.5kg灯泡更换标准: 卤素灯泡 (12V, 100W) (517181)用于光纤传导照明装置 (12V, 100W) (378-700)注：镜体的载重不包括物镜镜头和目镜的重量。Mitutoyo FS70 Inspection MicroscopeMicroscope SystemMitutoyo FS70 Microscope System (includes #55-999, #56-000, #56-001, #56-002)#56-003Microscope Head (One Required)Mitutoyo FS70 Microscope Head#55-999Microscope Stand (One Required)Mitutoyo FS70 Microscope Stand#56-000Microscope Eyepieces in Pairs (One Required)10X WF Focusing Eyepieces, 24mm Field Dia.#56-00115X WF Focusing Eyepieces, 16mm Field Dia.#56-31020X WF Focusing Eyepieces, 12mm Field Dia.#56-004Microscope Turret (One Required)Manual 4 Position Turret for Mitutoyo FS70#56-002Motorized 4 Position Turret for Mitutoyo FS70#56-313Microscope Stage (Optional)2" x 2" XY-Axes Positioning Stage#56-011Accessories and Reticles (Optional)Fiber Optic Light Guide for FS70, 72" Length#56-008Polarizer Set#56-009C-Mount Coupler (1X) for Video Adaptation#56-01090° Crossline, Reticle#56-005Concentric Circles Reticle, 1.2 - 18mm Dia, 1.2mm Increments#56-00720mm Line/0.1mm Divisions, Reticle#56-1835mm Line/0.05mm Divisions, Reticle#56-18490°/60° Crossline, Reticle#56-311Stock No.ObjectiveWD (mm)Resolving Power (μm)10X Eyepiece #56-00115X Eyepiece #56-31020X Eyepiece #56-004Mag.FOV (mm)Mag.FOV (mm)Mag.FOV (mm)#58-235M Plan Apo 1X111110-20X24-1215-30X16-820-40X12-6#46-142M Plan Apo 2X34520-40X12-630-60X8-440-80X6-3#46-143M Plan Apo 5X34250-100X4.8-2.475-150X3.2-1.6100-200X2.4-1.2#66-383M Plan Apo 7.5X351.375-150X3.2-1.6112.5-225X2.13-1.07150-300X1.6-0.8#46-144M Plan Apo 10X33.51100-200X2.4-1.2150-300X1.6-0.8200-400X1.2-0.6#46-145M Plan Apo 20X200.7200-400X1.2-0.6300-600X0.8-0.4400-800X0.6-0.3#46-146M Plan Apo 50X130.5500-1000X0.48-0.24750-1500X0.32-0.161000-2000X0.24-0.12#46-147M Plan Apo 100X60.41000-2000X0.24-0.121500-3000X0.16-0.082000-4000X0.12-0.06#46-398M Plan Apo 20X SL30.51200-400X1.2-0.6300-600X0.8-0.4400-800X0.6-0.3#46-399M Plan Apo 50X SL20.50.7500-1000X0.48-0.24750-1500X0.32-0.161000-2000X0.24-0.12#46-401M Plan Apo 100X SL130.51000-2000X0.24-0.121500-3000X0.16-0.082000-4000X0.12-0.06#34-247M Plan Apo 5X HR25.51.350-100X4.8-2.475-150X3.2-1.6100-200X2.4-1.2#58-236M Plan Apo 10X HR150.6100-200X2.4-1.2150-300X1.6-0.8200-400X1.2-0.6#58-237M Plan Apo 50X HR5.20.3500-1000X0.48-0.24750-1500X0.32-0.161000-2000X0.24-0.12#58-238M Plan Apo 100X HR1.30.31000-2000X0.24-0.121500-3000X0.16-0.082000-4000X0.12-0.06

问题：当原子力显微镜做样品成像时，很难知道表面是否准确的表征？也许会受针尖的顶端破碎或钝影响。破损或钝的探针针尖会使测量结果有显著差异，如粗糙度或表面结构等等。要确保用户在使用探针时要有适当的提示，必须直接扔掉旧探针或定期使用SEM电镜检测，这两种方法都非常的浪费探针或耗时。解决方案：BudgetSensors Tipcheck介绍-一个SPM样品可以在原子力显微镜的针尖条件下快速、简便的测定。即使在一个单一的扫描线上，也使之间的差异变得明显。因此，tipcheck提供了一个快速简便的方法来比较和分类原子力显微镜探针不同的针尖、形状和清晰度。您可以很容易的检查您的AFM探针是否完好，是否已经磨损或破损，从而不需要扫描使用该探针扫描整个样品图像或做SEM电镜扫描检测。此外，该样品的完美自动提示和针尖表征软件在市场上可用。BudgetSensors Tipcheck样品是一种非常耐磨的薄膜涂层，沉积在硅芯片上。这层薄膜涂层呈颗粒状，尖锐的纳米机构使得它能在AFM探针针尖反向成像。该Tipcheck模具的尺寸为5*5mm。下面的图片显示了使用不同探针测试tipcheck样本之间的比较，扫描尺寸为1*1um，高度为100nm。根据下面的形貌图你可以找到一个具有代表性的断面图像。为什么我们需要高度校准块？原子力显微镜已经成为一个有价值的工具，不仅用于可视化，而且也可以用于进行精确的纳米和微米尺度测量。为了能使原子力显微镜最精确的测量，原子力显微镜需要正确的校准。HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG作为budgetsensors 高度标准介绍作为增加相应，能负担原子力显微镜的高品质校准标准需求。HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG是一个尺寸为5*5mm且阵列在硅基底上的二氧化硅结构。芯片结构的制造工艺保证了良好的均匀性。这将确保你的AFM系统Z轴方向校准方便可靠。校准区域位于芯片的中心，使用原子力显微镜的光学系统很容易找到。校准结构的台阶高度为20nm（HS-20MG）100nm（HS-100MG）和500nm（HS-500MG）每一个芯片的精确值都标识在盒子标签上。芯片上集成了不同形状和间距的结构阵列。在1*1mm的大区域内包含了间距为10um的方柱孔。在500*500um的小区域内包含了XY方向间距为5um的圆柱形孔。除了Z轴校准，这样的设计也让XY方向有了更大的校准范围（40~100um以内），而且，校准片的结构对称性使得校准原子力显微镜时不需要旋转和调整校准片XY刻度的方向。HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG用优质导电环氧树脂粘在一个12毫米金属圆盘上，并将其用作装运的材料。横向尺寸：5*5mm几何结构：在1*1mm平方内排列间距为10um的方形孔柱在500*500um平方内XY方向排列间距为5um的圆形孔柱台阶高度HS-20MG：~20nmHS-100MG：~100nmHS-500MG：~500nm注：每个校准片盒子标签上都标有明确数值为什么需要XYZ标定校准？为了使原子力显微镜更精准的测量，必须进行正确校准。因此，更精确的校准标准才能实现原子力显微镜更好的测量结果。在这方面，校准的标定标准允许原子力显微镜系统的最精确校准。我们的解决方案：CS-20NG是一种先进的XYZ标定校准，使校准精度降低到纳米级。它的特点是在一个5*5mm的硅芯片上阵列二氧化硅结构。确保整个芯片结构有良好的均匀性。反之，又确保了方便可靠的校准原子力显微镜的XYZ三方向的精度。校准区域位于芯片的中心，使用原子力显微镜的光学系统很容易找到。台阶高度在20nm范围内，每一个芯片的精确值都标识在盒子标签上。芯片上集成了不同形状和间距的结构阵列。在1*1mm的大区域内包含了间距为10um的方柱孔。在中区域内包含了XY方向间距为5um的圆柱形孔。在小区域内500nm间距的圆形孔。CS-20NG适用于横向和纵向的AFM扫描校准。校准片的结构对称性使得校准原子力显微镜时不需要旋转和调整校准片XY刻度的方向。CS-20NG用优质导电环氧树脂粘在一个12毫米金属圆盘上，并将其用作装运的材料。横向尺寸：5*5mm几何机构：在1*1mm平方内排列间距为10um的方形孔柱在500*500um平方内XY方向排列间距为5um的圆形孔柱在100*100um平方内分布着间距为500nm的圆形孔台阶高度：20nm每个校准片盒子标签上都标有明确数值

瑞士Lyncee Tec SA www.lynceetec.com 瑞士Lyncee Tec SA公司的数字全息显微镜&ldquo DHM（Digital Holographic Microscopy）是划时代性的高科技技术产品，科学史上第一次, 数字全息显微镜可以直接观测到纳米尺度的分辨率,即时得到样品三维型貌,并且是无接触式的无损测量。 DHM 1000 Family将波长630nm的半导体激光分成照射到试料的光和参照光两部分来使用。共包括两大品种，一种是试料反射光与参照光进行干涉的&ldquo 技术参数： 测量原理： 反射式数字全相术干涉显微镜 （R1000系列） 或 穿透式数字全相术干涉显微镜（T1000 系列） 取像型式： 强化与量化的相位对比影像 光源： 单波长雷射光源 样品台： 手动3 轴, x, y, z 各可位移25毫米 选配：较大位移的样品台 选配：软件自动控制的2轴或3轴样品台 照相机： 1392 x 1040 像素, 8 bits 可选物镜： 1.25x, 2.5x, 5x, 10x, 20x, 50x, 63x, 100x 选配：长工作距离物镜, 油浸渍物镜 物镜安装： 单物镜安装, 双物镜的滑动块或四物镜的转盘安置 计算机： 应为DHM配置含最新的Pentium? 处理器和视窗XP 专业版个人电脑为佳, 显示则需19寸, 1280 x 1024 像素的显示屏 软件： Lyncee Tec专利的&ldquo 袋熊"经典软件, 是利用C++ 和 .NET技术,专为在视窗XP?的3维表面成型, 曲面测量, 步进高度与粗度测量写成的. 选配工作模式： 垂直扫描与频闪观测模式 性能 垂直的分辨率（＊） 瞬间：0.2° （在空气中0.2奈米） 空间：0.6° （在空气中0.6奈米） 垂直数字聚焦范围 视区50倍深度（取决于物镜） 垂直测量范围： 对平滑样品, 取决於测量区域的深度 340 奈米 （用选配的垂直扫描模式, 范围可以测得更高） 横向的分辨率 （＊＊）: 取决于物镜： 用油浸渍的物镜（1.4 NA）, 最低可测到300奈米， 可视区域： 取决于物镜可达到4.40毫米 横向取样： 1024 x 1024 像素 （全像照相） 撷取影像速率 实时影像：15 fps （512 x 512 像素）, 4 fps （1024 x 1024像素） 离线重建：15 fps （1024 x 1024） （10000 fps速率为选配） 样品照明： 低至 1?W/cm2 最大样品尺寸： H x W：200毫米 x 123毫米 （R1000系列） 50毫米 x 150毫米 （T1000 系列） 工作距离： 取决于物镜：从 0.30毫米 至 20毫米 取样反射率 （R1000系列）： 低至小於1% 撷取时间： 单一影像撷取, 低至小於 1微秒 （无扫描机械装置, 无相位移） 主要特点： 实时监测影像 获取与重建速率（标准15 fps, 大于15 fps为选配） 非常快速, 使得影像可以实时监看. 观看动态事件的过程和活细胞的相互作用现象由此变为可能. 坚固 & 稳定 非常短的取像时间 （数微秒） 使得此设备在测量时, 几乎不受外在的振动影响, 用防震台面也变得不需要. DHM? 的坚固与稳定性, 允许非常微弱, 缓慢的变形或移动, 需稳定性非常好或时间超常的测量. 高分辨率 沿着垂直 （Z） 轴的分辨率,小于1奈米. 横向的分辨率 （在XY平面） 取决于物镜的数值孔徑 （用油浸渍的物镜可测得300奈米）, 像传统的光学显微镜. 非接触式 & 完全非侵入式测量 低功率可见光的样品照明 （至少低于共焦式显微镜10"000倍）, 与试片表面不接触, DHM? 可以保存你样品完整的特性. 此外, 生物试片可以直接观看不需染色, 因此可以防止化学性或物理性的危害. 值得有效的解决方案 DHM? 的安装费与操作费用都非常低廉. 适应性与弹性使它们在高分辨率显微镜领域非常有竞争性. 这些特性使DHM?在研发和制程品管上, 成为非常值得, 有效的工具. 友善的操作 无须样品准备, 无须特别的环境 （温度, 真空, ...）, 样品不需高精准度的位置与方向摆放, DHM? 简化技术, 让使用者可以非常容易并快速的获得准确的测量. 功能强大三维空间处理软件 可以用相同的仪器, 不同的操作模式去延伸你的应用范围. DHM-提供了无与伦比特有的数字工具, 改善了仪器使用的容易性与耐用性, 也增加了测量的准确性与稳定性. 标准和先进的量测接口, 使外在控制可在欢乐和弹性的环境中达成. 瑞士Lyncee Tec SA公司的数字全息显微镜&ldquo DHM（Digital Holographic Microscopy）是划时代性的高科技技术产品，科学史上第一次, 数字全息显微镜可以直接观测到纳米尺度的分辨率,即时得到样品三维型貌,并且是无接触式的无损测量。DHM 1000 Family将波长630nm的半导体激光分成照射到试料的光和参照光两部分来使用。共包括两大品种，一种是试料反射光与参照光进行干涉的&ldquo R1000 series&rdquo ，另一种是试料透过光与参照光进行干涉的&ldquo T1000 series&rdquo 。照射到试料上的光线与参照光产生的干涉图案使用CCD相机，作为数字数据保存下来，由此算出三维数据。计算三维数据时使用的是专用软件&ldquo Koala Software&rdquo 。 应用： 其主要应用是在MEMS研发中用于测量工作，以及在生产线用于缺陷检测。与上述用途中现在经常使用的共焦显微镜相比，在同行分辨率下能够更高速地进行测量。垂直方向的分辨率为0.6nm，水平方向为200nm～300nm（取决于物镜）。使用1.25倍率的物镜时视野为4mm× 4mm，可以15视野/秒的速度进行测量。因此，1cm见方的试料几分钟即可完成观察。使用现有共焦显微镜时，同等范围的观察则需要几个小时～10小时。 此次的产品最大可将观察速度扩展至1万视野/秒。由于摄影速度快，因此不需除震台，可用来检测流水线上的产品。 u 材料科学 u MEMS/MOEMS 微型词典系统 u Micro-optics 显微光学 u Semiconductor 半导体 u Nanotechnology纳米技术 u 生命科学 u Cellular biology 细胞生物 u Biochips生物芯片 u Bio-sensors生物传感器

瑞士Lyncee Tec SA www.lynceetec.com 瑞士Lyncee Tec SA公司的数字全息显微镜&ldquo DHM（Digital Holographic Microscopy）是划时代性的高科技技术产品，科学史上第一次, 数字全息显微镜可以直接观测到纳米尺度的分辨率,即时得到样品三维型貌,并且是无接触式的无损测量。DHM 1000 Family将波长630nm的半导体激光分成照射到试料的光和参照光两部分来使用。共包括两大品种，一种是试料反射光与参照光进行干涉的&ldquo技术参数：测量原理： 反射式数字全相术干涉显微镜 （R1000系列） 或穿透式数字全相术干涉显微镜（T1000 系列）取像型式： 强化与量化的相位对比影像光源： 单波长雷射光源样品台： 手动3 轴, x, y, z 各可位移25毫米选配：较大位移的样品台选配：软件自动控制的2轴或3轴样品台照相机： 1392 x 1040 像素, 8 bits可选物镜： 1.25x, 2.5x, 5x, 10x, 20x, 50x, 63x, 100x选配：长工作距离物镜, 油浸渍物镜物镜安装： 单物镜安装, 双物镜的滑动块或四物镜的转盘安置计算机： 应为DHM配置含最新的Pentium? 处理器和视窗XP 专业版个人电脑为佳, 显示则需19寸, 1280 x 1024 像素的显示屏软件： Lyncee Tec专利的&ldquo 袋熊"经典软件, 是利用C++ 和 .NET技术,专为在视窗XP?的3维表面成型, 曲面测量, 步进高度与粗度测量写成的.选配工作模式： 垂直扫描与频闪观测模式性能垂直的分辨率（＊） 瞬间：0.2° （在空气中0.2奈米）空间：0.6° （在空气中0.6奈米）垂直数字聚焦范围 视区50倍深度（取决于物镜）垂直测量范围： 对平滑样品, 取决於测量区域的深度340 奈米 （用选配的垂直扫描模式, 范围可以测得更高）横向的分辨率 （＊＊）: 取决于物镜： 用油浸渍的物镜（1.4 NA）, 最低可测到300奈米，可视区域： 取决于物镜可达到4.40毫米横向取样： 1024 x 1024 像素 （全像照相）撷取影像速率 实时影像：15 fps （512 x 512 像素）, 4 fps （1024 x 1024像素）离线重建：15 fps （1024 x 1024） （10000 fps速率为选配）样品照明： 低至 1?W/cm2最大样品尺寸： H x W：200毫米 x 123毫米 （R1000系列）50毫米 x 150毫米 （T1000 系列）工作距离： 取决于物镜：从 0.30毫米 至 20毫米取样反射率 （R1000系列）： 低至小於1%撷取时间： 单一影像撷取, 低至小於 1微秒 （无扫描机械装置, 无相位移）主要特点：实时监测影像获取与重建速率（标准15 fps, 大于15 fps为选配） 非常快速, 使得影像可以实时监看. 观看动态事件的过程和活细胞的相互作用现象由此变为可能.坚固 & 稳定非常短的取像时间 （数微秒） 使得此设备在测量时, 几乎不受外在的振动影响, 用防震台面也变得不需要. DHM? 的坚固与稳定性, 允许非常微弱, 缓慢的变形或移动, 需稳定性非常好或时间超常的测量.高分辨率沿着垂直 （Z） 轴的分辨率,小于1奈米. 横向的分辨率 （在XY平面） 取决于物镜的数值孔徑 （用油浸渍的物镜可测得300奈米）, 像传统的光学显微镜.非接触式 & 完全非侵入式测量低功率可见光的样品照明 （至少低于共焦式显微镜10"000倍）, 与试片表面不接触, DHM? 可以保存你样品完整的特性. 此外, 生物试片可以直接观看不需染色, 因此可以防止化学性或物理性的危害.值得有效的解决方案DHM? 的安装费与操作费用都非常低廉. 适应性与弹性使它们在高分辨率显微镜领域非常有竞争性. 这些特性使DHM?在研发和制程品管上, 成为非常值得, 有效的工具.友善的操作无须样品准备, 无须特别的环境 （温度, 真空, ...）, 样品不需高精准度的位置与方向摆放, DHM? 简化技术, 让使用者可以非常容易并快速的获得准确的测量.功能强大三维空间处理软件可以用相同的仪器, 不同的操作模式去延伸你的应用范围. DHM-提供了无与伦比特有的数字工具, 改善了仪器使用的容易性与耐用性, 也增加了测量的准确性与稳定性. 标准和先进的量测接口, 使外在控制可在欢乐和弹性的环境中达成.瑞士Lyncee Tec SA公司的数字全息显微镜&ldquo DHM（Digital Holographic Microscopy）是划时代性的高科技技术产品，科学史上第一次, 数字全息显微镜可以直接观测到纳米尺度的分辨率,即时得到样品三维型貌,并且是无接触式的无损测量。DHM 1000 Family将波长630nm的半导体激光分成照射到试料的光和参照光两部分来使用。共包括两大品种，一种是试料反射光与参照光进行干涉的&ldquo R1000 series&rdquo ，另一种是试料透过光与参照光进行干涉的&ldquo T1000 series&rdquo 。照射到试料上的光线与参照光产生的干涉图案使用CCD相机，作为数字数据保存下来，由此算出三维数据。计算三维数据时使用的是专用软件&ldquo Koala Software&rdquo 。应用：其主要应用是在MEMS研发中用于测量工作，以及在生产线用于缺陷检测。与上述用途中现在经常使用的共焦显微镜相比，在同行分辨率下能够更高速地进行测量。垂直方向的分辨率为0.6nm，水平方向为200nm～300nm（取决于物镜）。使用1.25倍率的物镜时视野为4mm× 4mm，可以15视野/秒的速度进行测量。因此，1cm见方的试料几分钟即可完成观察。使用现有共焦显微镜时，同等范围的观察则需要几个小时～10小时。 此次的产品最大可将观察速度扩展至1万视野/秒。由于摄影速度快，因此不需除震台，可用来检测流水线上的产品。u 材料科学u MEMS/MOEMS 微型词典系统u Micro-optics 显微光学u Semiconductor 半导体u Nanotechnology纳米技术u 生命科学u Cellular biology 细胞生物u Biochips生物芯片u Bio-sensors生物传感器

台式扫描电子显微镜配件是为客户提供的欧洲最高性价比扫描电镜，完全改变了动辄百万人民币的电镜价格，它为用户提供低价亚微米和纳米尺度的电子显微镜工具。台式扫描电子显微镜配件具有传统显微镜20倍的分辨率，提供高分辨率成像，非常适合科研人员，工程师获取高质量的亚微米分辨率图像，非常容易使用，用户接受培训10分钟即可独立操作，非常适合材料科学，微电子等领域获取高分辨率图像。扫描电子显微镜配件参数放大倍数：24-24000X图像分辨率：高达2048x2048像素空间分辨率：高达30nm样品加载：小于30秒自动样品控制功能超低能耗总重量：55kg扫描电子显微镜配件规格系统主要部件：成像模块，17' ' 触摸屏显示器，旋转手柄，真空泵，USB接口驱动光学放大：固定24X放大电学放大：120-24000X可调光学探测：彩色CCD相机电学探测：高灵敏度背散射探测器图像输出格式：JPEG,TIFF, BMP，图像分辨率：456 x 456, 684 x 684, 1024 x 1024 and 2048 x 2048可选数据存储：优盘样品台：计算机控制电动XY台样品容纳大小：直径25mm ，高度30mm样品加载时间：光学成像减震桌要求：120x75cm 尺寸以上的减震桌

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超高分辨率非破坏性3D成像 Nano XCT-100是世界唯一的对微米体积样品进行3D观察的实 验室超高分辨率CT扫描系统。精密的X射线聚焦光学系统提供了 50nm的成像分辨率,将X射线CT的能力大大延伸至纳米尺度。当吸 收衬度很低时,集成的Zernike相位衬度成像技术增强了所有边缘和 界面的可视性。nanoXCT-100提供了可靠的3D体积信息,而其它截 面成像技术和破坏性方法只能获得部分信息。 应用: - 生命科学和生物医学研究 - 半导体封装技术开发和失效分析 - 先进材料科学研究 - 石油天然气勘探分析

纳米颗粒分析仪配件用于观测和分析液体中的微小颗粒的布朗运动速率与尺寸分布相关，采用纳米颗粒跟踪分析（NTA）技术，通过激光散射装置（纳米观测）与超显微镜ultra-microscope和NTA软件的相结合，生成纳米颗粒图像，是全球领先的纳米粒度分析仪。纳米颗粒分析仪配件 纳米观测原理纳米颗粒分析仪使用纳米透视Nano-Insight 激光散射模块，可以通过顶眼超显微镜观测到液体中的纳米粒子。采用不同激光散射颗粒在矩阵中表现为模糊点。模糊点根据其各自的布朗运动而移动。液体中有不同的布朗运动粒子。小粒子比大粒子受到相邻粒子的影响更少。因此，在超显微图像中，较大的粒子有大的模糊外观。 NTA能够追踪粒子的相应路径。纳米观测模块纳米观测模块的设计，可以使其安装在超显微镜，顶眼纳米的底板。可以通过Mishell软件来控制该模块。Mishell软件控制着纳米观测模块以及照相机。根据应用决定在纳米观测模块装备一个或多个激光器。激光器以一种特殊的方式排列。左侧图片上展示的是纳米观测图。较小的粒子比较大的粒子移动更快。我们用摄像机同时跟踪每个粒子。顶眼超显微镜顶眼超显微镜将进入模糊点的散射光可视化。用适当的时间分辨跟踪，模糊云可被分配并与各自的粒径相关。粒子的布朗运动图像是唯一的。下面将给出例子。每个模糊点代表单个粒子。NTA 软件上图展示的是NTA分析的典型图像。散射激光被捕获到模糊点，要根据时间函数跟踪模糊点。我们跟踪每个模糊点。跟踪每个粒子的方法，得到的技术结果是高分辨率。我们正在寻找与图像相关的量，当我们知道相关的量后，我们就可以极其精确地确定各种粒子的浓度。该技术将会带起许多可能的应用。例如，可能也可以使用荧光激光器。使用荧光激光器，可以瞄准复杂的基质里的一个粒子。该技术带来的好处是，用户可以在视觉上检查并且通过观察相应图像验证所有可能的应用。MiNan是Mishell® 内的一个模块- 扩展图像分析软件包，被认为是市场上最先进的图像分析软件。MiNan是一个子程序，可以进行Morphious纳米粒子分析的全部描述。MiNan是自带Morphious纳米系统的软件，研发用于纳米粒子的可视化以及纳米粒子的大小、形状（形态）和浓度的测量。每个粒子是一个个体，但通过观测扩散同时被分析。这种一个粒子后接一个粒子的方法产生高分辨率的结果，即粒子的尺寸分布和浓度分辨率高，同时视觉验证让用户对数据有了额外的信心。当荧光模式检测标记粒子时，粒子尺寸和浓度，蛋白质聚集和粘度都可以被分析。纳米颗粒分析仪配件应用?在制药或复合产业研发药物?用于病毒筛查?用于开发纳米生物标记物或毒物筛查?用于蛋白质聚集的动力学模型研究?用于通过膜泡的表征研究疾病?用于促进纳米复合材料的发展纳米颗粒分析仪配件特色?在同一时间多粒子高通量表征?实时视觉展示粒子，允许用户评估试验，无需额外复杂性?方便和易于使用的软件，允许用户通过宏设置任何实验?添加像高通量自动采样器，泵或加热和制冷配件?自适应模块化系统构建任何复杂的应用程序，操作轻松舒适?超级高效和购买成本低?该系统提供高分辨率的粒度特性来研究复杂的多分散矩阵?激光波长可选择?通过给过滤器添加电动轮，得到自适应荧光分析纳米颗粒分析仪配件参数?尺寸10 nm - 2000 nm*?浓度 106 - 109 粒子/ mL?荧光检测纳米颗粒分析仪配件规格温度范围15-40 °C电源230V AC/115V AC, 50/60 Hz摄像机USB3 CMOS分辨率：1936x1216 161帧/秒，像素尺寸5.86μm：颜色校准模块功耗18W激光波长405nm（紫色），488nm（蓝），532nm（绿），642nm（红色）尺寸范围从10 nm到2000 nm (取决于材料)焦点电脑控制电动调焦个人计算机SDD亿康II SDSSDHII-120G-G25HDD西数蓝WD10EZEX1 TB|主板千兆字节GA-Z97X-UD3H|内存金士顿骇客神条怒黑| HX318C10FBK2/1616 GB DDR3-RAM处理器英特尔® 酷睿™ i7 i7-4790K四核4×4.0 GHz显卡 PNY VCQK2200-PB 4GB电源 酷冷至尊G750M 750w机箱 酷冷至尊黑软件Windows® ＆（或更高）.由Mishell® 供电Mishell是Microptik BV公司的注册商标。Windows是微软公司的注册商标。MiNan尖端程序在Mishell下运行，以充分体现由Morphious纳米获得的纳米粒子尺寸（长×宽×高）20 x 18 x 30 cm重量10.5 kg

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产品特点：作为第一个超高分辨率显微技术的STED方法彻底改变了光学显微镜。适用于STED的校准探针--GATTA-STED纳米标尺也终于面世。标尺带有高量子效率的荧光标记染料ATTO 647N。两个荧光分子之间的距离固定，我们提供的尺寸包括：30nm，50nm，70nm和90nm。纳米标尺，AFM纳米标尺，原子力显微镜纳米标尺，共聚焦显微镜纳米标尺，超高分辨显微镜纳米标尺，SIM纳米标尺，STED纳米标尺，STORM纳米标尺，电镜纳米螺旋标尺，金纳米螺旋标尺，显微镜亮度灵敏度标尺，显微镜纳米标尺产品参数：

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产品特点:该方法STORM或dSTORM是在光学显微镜中最常用的超分辨率技术之一。GATTA-STORM系列的纳米标尺是现在这项技术的理想校准探针。为了模拟你的STORM或dSTORM测量值作为传真尽可能标尺携带常用染料的AlexaFluor 647.我们提供的尺寸标记到标记距离30nm，50nm和94nm。纳米标尺，AFM纳米标尺，原子力显微镜纳米标尺，共聚焦显微镜纳米标尺，超高分辨显微镜纳米标尺，SIM纳米标尺，STED纳米标尺，STORM纳米标尺，电镜纳米螺旋标尺，金纳米螺旋标尺，显微镜亮度灵敏度标尺，显微镜纳米标尺技术参数：

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多功能纳米压痕仪配件通过扫描材料表面实现对材料力学性能的纳米尺度的高精度测量，精确给出硬度，弹性模量，杨氏模量等材料力学性能。多功能纳米压痕仪配件特色最高位移测量能力可达300mkm, 最高负载科大100mN。实现静态压痕和动态压痕测量以及sclerometry测量具备原子力显微镜和纳米硬度测量仪的功能采用模块化设计，可广泛集成原子力显微镜，光学显微镜，激光干涉仪器等尖端材料表面测量仪器，为用户提供综合性材料微观力学测试方案。多功能纳米压痕仪配件选型4D紧凑型多功能纳米压痕仪4D紧凑型是全球结构最为紧凑小巧的纳米硬度测试仪，它采用纳米压痕法测量材料硬度和弹性模量（杨氏模量），负载高达2N,广泛用于材料力学性能测量研究。也非常适合大学或研究单位的纳米压痕仪测量硬度的教学或演示教学。4D标准型多功能纳米压痕仪4D标准型具有测量材料硬度，弹性模量和其它力学性能的功能。它采用静态和动态纳米压痕技术以及sclerometry方法测量材料性能。并且可以接触式或半接触式地测量材料表面形貌，采用光学显微镜高精度地对压头和样品进行精确互动性定位。多功能纳米压痕仪4D标准型还可以接入另外的传感器或测量模块，实现对材料表面进行其它测量。4D+增强型多功能纳米压痕仪4D+增强型配置是全球功能最多的多功能纳米硬度测量仪器。它具有纳米压痕仪和原子力显微镜的功能，具备了所有的物理和力学性能测量能力。它具有原子力显微镜测量模块，能够以纳米级分辨率研究压痕后留下的表面痕迹和图像，并能够全自动测量，可以批量处理分析测量结果。

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纳米显微操纵仪由微操纵仪、控制器、控制电源及操纵杆组成，微操纵仪的驱动是由压电陶瓷构成的纳米马达来实现的，从而保证能够进行纳米级精确移动。整个微操纵装置体积非常小，即使是操作精度高达几纳米也不会产生后座力及漂移。微操纵仪可直接在样品室内接触、操纵样品，从而使对样品的物性分析成为可能，而且多个操纵仪的联合使用可从事微纳尺度的样品的加工和组装。操纵仪有以下型号以适用于不同的环境：MM3A-LMP用于光镜；MM3A-EM用于电镜；MM3A-UHV用于超高真空环境；MM3A-LT用于低温环境。

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孚光精仪品牌的多功能纳米硬度计配件通过扫描材料表面实现对材料力学性能的纳米尺度的高精度测量，精确给出硬度，弹性模量，杨氏模量等材料力学性能。多功能纳米硬度计配件特色具备原子力显微镜和纳米压痕仪的功能实现静态压痕和动态压痕测量以及测量最高位移测量能力可达300mkm, 最高负载科大100mN。采用模块化设计，可广泛集成原子力显微镜，光学显微镜，激光干涉仪器等尖端材料表面测量仪器，为用户提供综合性材料微观力学测试方案。多功能纳米硬度计配件选型4D紧凑型纳米硬度计4D紧凑型是全球结构最为紧凑小巧的纳米硬度测试仪，它采用纳米压痕法测量材料硬度和弹性模量（杨氏模量），负载高达2N,广泛用于材料力学性能测量研究。也非常适合大学或研究单位的纳米压痕仪测量硬度的教学或演示教学。4D标准型纳米硬度计4D标准型具有测量材料硬度，弹性模量和其它力学性能的功能。它采用静态和动态纳米压痕技术以及sclerometry方法测量材料性能。并且可以接触式或半接触式地测量材料表面形貌，采用光学显微镜高精度地对压头和样品进行精确互动性定位。纳米硬度计4D标准型还可以接入另外的传感器或测量模块，实现对材料表面进行其它测量。4D+增强型纳米硬度计4D+增强型配置是全球功能最多的多功能纳米硬度测量仪器。它具有纳米压痕仪和原子力显微镜的功能，具备了所有的物理和力学性能测量能力。它具有原子力显微镜测量模块，能够以纳米级分辨率研究压痕后留下的表面痕迹和图像，并能够全自动测量，可以批量处理分析测量结果。

红外显微镜配件专门为微电子研发和制造而设计的显微镜，它是一款科研级显微热成像仪，在微米尺度给出电子器件和芯片的温度分布，能够非接触式地测量电子器件的温度分布，查找热点hotspots。红外显微镜配件对于分析和诊断半导体器件热表现非常有用，可用于探测热点和缺陷 电子元件和电路板故障诊断 测量结温 甄别芯片键合缺陷 测量热阻封装 确立热设计规则等领域，可以有效地检测微尺度半导体电路的热问题和MEMS器件的热问题。就MEMS的研发而言：空间温度分布和热响应时间这两个参数对于微反应器,微型热交换器,微驱动器,微传感器之类的MEMS器件非常重要。到目前为止，还有非接触式的办法测量MEMS器件的温度，红外成像显微镜能够给出20微米空间分辨率的热分布图像，是迄今为止测量MEMS器件热分布的有力工具。红外显微镜配件光学载物台：坚固而耐用，具有隔离振动的功能；聚焦位移台：用于相机的精密聚焦和定位；X-Y位移台：用于快速而精密地把测量区域定位到相机的视场中； 热控制台： 具有加热和制冷功能，用于精密器件的温度控制；红外显微镜配件应用*半导体IC裸芯片热检测 *探测集成电路的热点（hotspots）和短路故障*探测并找到元件和电路板上缺陷 *测量半导体结点温度（结温）*辨别固晶/焊线/点胶缺陷*测量封装热阻 *确立热设计规则 *激光二极管性能和失效分析*MEMS热成像分析*光纤光学热成像检测*半导体气体传感器的热分析*测量微交换器的热传输效率 *微反应器的热成像测量*微激励器的温度测量*生物标本温度分析 *材料的热性能检测*红外显微镜热流体分析 热分析软件红外显微镜配件分析软件。 这种软件能够帮助您非常容易而快速地获得温度信息，同时，它可以产生实时的（real time）带状图、拍摄并回放图像序列以及在图像上选择任何大小形状的区域，从而为您提供不同视角和建设性的数据分析手段。