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LSR4(哈曼法/赛贝克效应/电阻率)http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/01/201601151419_581968_3060548_3.jpg特点、直接测量ZT值+ 可用以计算热传导系+ 高准确度 (使用双样品校正模式)赛贝克系数:静态直流法电阻:四端法ZT:哈曼法用哈曼法测定热电优值是通过样品上(在直流电和绝热条件下)的热电压与欧姆电势降的比值来实现的。在样品中通直流电则相应的“欧姆”压降可直接测得。因为珀尔贴效应,样品一端会被加热而另一端会被冷却,即在样品中产生温度梯度。通过测量产生的压降和热电压,ZT值便可直接得到。LSR—4测试系统可以同时测量塞贝克系数和电阻(电阻率)可以测量圆柱形或棱柱形的样品,长度6——23毫米利用独特的测量适配器可以测量线状和薄片状样品通过三种可更换的炉体,测量温度范围可以覆盖-100到1500 ℃样品架的设计保证了极好的测量重复性最先进的32位软件可以通过程序实现自动测量测量数据导出测量原理:圆柱形或棱柱形的试样垂直放置的两个电极之间,下部电极块包含一个加热器。整个测量装置放置在炉体中。将整个炉体和样品加热到特定的温度,在此温度下利用电极块中的二级加热器建立一组温度梯度,然后两个接触热电偶测量温度梯度T1和T2。独特的热电偶接触机制保证了以最高的温度精度测量每个热电偶上每条导线电动势dE。
最近看到测绘领域一个教授的文章,说在测量界,系统效应导致的不确定度分量和随机效应导致的不确定度分量是不能合成的。想请教老师,是这样的吗?
一直以来认为国内并没有成功商品化交变磁场调制反塞曼效应背景校正(简称交流塞曼)技术,近日上网一搜,才发现自己严重Out了。早在2009年,上海光谱的SP-3880AA就已经把交流塞曼和直流塞曼(直流磁场激励反塞曼效应背景校正)共冶一炉,居然在一台机子上实现了!一个感觉——震撼。如果再看这型仪器的其他配置,更觉震撼:开关型直流化石墨炉电源、横向加热石墨炉、固体进样技术、etc。呵呵,我不相信横向加热石墨炉,因为这一项和仪器的其他部分不匹配。但其他几项,就算拿到国际上,也算先进了。不说其他,单论这交直流塞曼合体。我们知道,恒定磁场反塞曼效应背景校正(恒磁塞曼,以区别于直流塞曼)要使用塞曼分裂的p成分(即偏振方向平行于磁场的成分)作为总吸收信号的测量光束,而对于部分反常塞曼效应的原子吸收谱线,其p成分内部因为磁致分裂较大,导致分析谱线峰值下降,从而损失相对灵敏度。Cu、Au、Ag、Cr、As等元素的灵敏线不幸都落在这个部分中。因此,从相对灵敏度来说,恒磁塞曼不如交流塞曼,后者虽然也存在同样的问题,但一来相对灵敏度损失不太大(因为不使用p成分),二来还可以通过调节磁场强度来解决。恒磁塞曼使用永久磁铁,自然也就无法调节磁场。所以,用直流电磁铁来激励一个强度可调的直流磁场,就成为一种顺理成章的思路,这就是直流塞曼技术。直流塞曼的光路结构完全和恒磁塞曼相同,但磁场却与交流塞曼匹配。如果用交变信号激励磁场,在磁场最大时让s成分(偏振方向垂直于)输出,而在零磁场时让p成分输出,那么就实现另一种形式的交流塞曼,磁场调制和信号测量的同步方法实际上很简单,此处不叙。和经典的交流塞曼系统相比,只是在零磁场时用p成分代替s成分而已,而这二者是完全等价的。换句话说,交直流塞曼本来就可以合体的!为何过去没有人意识到这一点呢?我想应该是没有人认为有交流塞曼还需要直流塞曼吧。如果用两个光电检测器同时测定p成分和s成分,直流塞曼在处理高速背景方面无疑占有优势,这也就是二者合体的意义。不过,这需要有双检测器为前提。SP-3880AA并没有说明这一点,表明这型仪器没有使用双检测器,所以其交直流塞曼合体的意义并不太大。不过,这是一型真正的商品化交流塞曼原子吸收系统,仅就此而言,填补国内空白是可以自称的。顺便指出,双检测器并非增加一个PMT那么简单,要求两个PMT性能上严格匹配,并且对光路要求很严格,所以会增加成本。SP3880AA有如此的技术,但除了频频获奖外,并没有吸引多少眼球。我曾在本坛中从2008年搜到2011年,竟然没有一篇帖子谈论上海光谱的这型仪器。个中原因恐怕只有上海光谱自己知道了。其实据我所知,交流塞曼,甚至纵向交流塞曼在国内早有人研制出来了,但一到产品阶段就卡壳,无法进行下去。我国的仪器产业,固然在理论水平方面落后于国外,但更主要的原因是先进制造能力,当然还有市场能力的缺乏。但愿这种看法是错误的。