数显板式测厚仪

仪器简介：数显台式测厚仪是一款高精度的数显测厚工具，适用于橡胶和类似于橡胶的弹性体材料测厚。精巧耐用，操作简单。技术参数：最大测量：25mm测头直径：3.7mm or 5.5mm符合标准拉伸试样：BS 903 Pt. A38, ISO 4648压缩试样：BS 903 Pt. A6, ISO 815主要特点：恒定测头压力数显结果精度0.01mm可选不同的测头和配重可选RS232接口

仪器简介：非金属数显测厚仪 可用于测量木材，混凝土及其它基材上涂层厚度。技术参数：非金属数显测厚仪 对于塑胶底材、木材、混凝土表面涂层厚度的测量，目前全世界最普遍的方法是采用破坏法来测量，但破坏法造成了涂层的损伤。PosiTector 200型的研发成功顺利解决了这个问题。它操作使用简单，价格低廉而且是非破坏性。可用于测量木材，混凝土及其它基材上涂层厚度。 非金属数显测厚仪 主要技术指标： ■ 直接测量，测量大多数涂层时无需调校；菜单操作；双色指示灯，适于嘈杂环境；重置功能可以即时恢复出厂设置 ■ 耐溶剂、酸、油、水和灰尘，防护等级满足或超出IP5X；显示屏耐划伤/溶剂，适用于恶劣环境；防震保护橡胶皮套，带皮带夹；主机与探头两年保修 ■ 灵敏传感器，使测量迅速且准确（最多40个读数/分钟) ；成熟的无损超声波技术，符合ASTM D6132与ISO 2808标准；校准证书可追溯NIST ■ 连续显示/更新平均值、标准偏差和测量次数 ■ 内部存储最多10000个数据，最多可分1000组 ■ 内置时钟可对存储的结果标注时间、日期 ■ 输出提供USB、红外和串行接口，可与打印机和电脑进行简单通讯 ■ 背光显示，可用于阴暗环境 ■ 英制/公制两种单位，可相互转换 ■ 多种显示语文选择 ■ 测量范围：13-1000um ■ 精度：± （2µ m+3% 读数） ■ 尺寸/重量：146 x 64 x 31mm/105克 ■ 测量速度：45读数/分钟主要特点：非金属数显测厚仪 对于塑胶底材、木材、混凝土表面涂层厚度的测量，目前全世界最普遍的方法是采用破坏法来测量，但破坏法造成了涂层的损伤。PosiTector 200型的研发成功顺利解决了这个问题。它操作使用简单，价格低廉而且是非破坏性。可用于测量木材，混凝土及其它基材上涂层厚度。

HY-699B数显橡胶测厚仪用途：用于橡胶厚度测试。符合标准：HG/T 2041-1991《橡胶厚度技术条件》、HG/T 2198-1991《硫化橡胶物理试验方法的一般要求》、HG/T 2382-1992《 橡胶测试仪器设备通用技术条件》 等产品技术规格：压脚规格：￠6mm压重砝码一个：63g(压脚负荷：22 Kpa)数字显示仪一个：0～12.7mm（0.01mm）

DRK107 手动数显纸板测厚仪 测量范围0-25mm，设备是是瓦楞纸板测定的专用仪器。适用于平张式样的厚度测定，可广泛适用于瓦楞纸板的厚度测定。手动型，测量表头有数显式/指针式可选和百分表/千分表可选，结构小巧轻便。DRK107 手动数显纸板测厚仪 测量范围0-25mm，产品参数：测量范围 0-25mm 接触面积 10±0.2㎝² 测量压力 20±0.5kPa 度盘分度值 0.01mm 测量重复性 ±2.5μm 或±0.5% 尺寸 240×160×120(㎜) 重量 约4.5㎏ DRK107 手动数显纸板测厚仪 接触面积 10±0.2㎝ ，符合技术标准：ISO534纸和纸板单层厚度的测定，以及纸板紧度的计算方法：ISO438纸层积厚度和紧度的测定；GB/T451.3纸和纸板厚度测定方法；GB/T1983松软纸厚度的测定法。DRK107 手动数显纸板测厚仪，产品特点： 1.精密浇铸式机架.一次成型，无形变。2.真空淬火测量台（下测量面）；3.镶嵌式真空淬火测量头（上测量面）；4.研磨测量头，平面度小于一定数值；5.提升杠杆力臂，使用过程更轻松；6.一体式配重砝码，接触压力恒定，无变化；7.加长导向套，测量头平行度更稳定；8.铰制表头接口（侧向预紧式），更换表头方便；注:因技术进步更改资料,恕不另行通知,产品以后期实物为准。

PCB板材膜厚仪电镀层测厚仪XTU 系列测厚仪虽然结构紧凑，但是都有大容量的开槽设计样品腔，即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。搭配微聚焦射线管和先进的光路设计，及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品。检测78种元素镀层· 0.005um检出限· 小测量面积0.002mm2· 深凹槽可达90mm。外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，移动精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，PCB板材膜厚仪电镀层测厚仪应用领域 线路板、引线框架及电子元器件接插件检测 镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析 手表、精密仪表制造行业 钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB 汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测 卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS) 电镀液的金属阳离子检测 项 目参 数测量元素范围Cl（17）-U（92）涂镀层分析范围各种元素及有机物分析软件EFP，可同时分析23层镀层，24种元素，不同层有相同元素也可分析软件操作人性化封闭软件，自动提示校正和步骤，避免操作错误X射线装置W靶微聚焦加强型射线管准直器? 0.05 mm 0.1 mm 0.2 mm 0.5 mm；准直器任意选择一种近测距光斑扩散度10%测量距离具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异型样品，变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)样品观察1/2.5彩色CCD，变焦功能对焦方式高敏感镜头，手动对焦放大倍数光学38-46X，数字放大40-200倍样品台尺寸500mm*360mm移动方式高精密XY手动滑轨可移动范围50mm*50mm随机标准片十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um其它附件联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱 无损天瑞X荧光光谱镀层膜厚检测仪，天瑞镀层测厚仪

一体式楼板测厚仪一体式钢筋扫描仪一体式数显回弹仪电动拉拔仪锚杆拉拔仪超声波探测仪

薄膜测厚仪_高精度保鲜膜测厚仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。薄膜测厚仪_高精度保鲜膜测厚仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

一、 BOWMAN 分析仪器介绍美国博曼是全球涂镀层测厚和元素分析仪器的领军品牌。 博曼拥有超过 30 年的行业经验，并始终保持创新，致力于为市场提供精准、高效 和具有性价比的涂镀层检测设备。目前，博曼已在全球四大洲 20 多个国家建立销 售和服务网络，为客户提供灵活高效的镀层厚度测量和元素分析解决方案。博曼中国在上海设有演示应用中心，备品备件库，并在深圳，杭州，西安设有办事处。可以为中国地区的客户提供极佳的镀层厚度检测方案及快速优质的售后服务。二 、 BOWMAN 产品介绍美国博曼（Bowman）是高精度台式镀层测厚仪供应商，博曼 XRF 系统搭载拥有自 主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统，可精准高效地分析金属镀件中元素 厚度和成分。博曼 XRF 系统可同时测量包含基材在内的五层元素，其中任何两层元 素可以是合金。 博曼 XRF 系统使用高端定制的微聚焦 X 射线管作为能量源，恒温的 Si-PIN 的二极管 作为探测器，然后通过多通道放大器对辐射光子进行分类和统计。最终，博曼 Xralizer 软件经过独特的算法来计算辐射光子的厚度，从而获得测量结果。 通过微焦点相机对准 X 射线光学轴线选择样品的测试区域。由聚焦激光控制的平台 能容纳不同高度的样品。 博曼 XRF 镀层测量系统满足业界对精度，可靠性和易用性的最严格要求。紧凑且符 合人体工程学的设计让应用分析变得更简便，更高效。博曼致力于通过提供合理的 价格和优质的产品满足用户的快速的投资回报。三、 Bowman 的产品优势1、卓越领先的 XRF 系统高分辨率的固态探测器具有良好的元素分辨能力，无需二次滤波器，提高测量效率。 峰 位长时间保持稳定，无需频繁地进行再校准。 紧凑式的几何结构，激发源到样品的距离只有其他同类机型的三分之一，有效提高测量 精度和工作效率。32、直观的用户界面先进的软件将为仪器的性能提供有力的支持 。 博曼镀层测厚仪的分析数据拥有强大的 软件作为支持，该软件将拥有直观的用户界面，操作简单友好。测量数据可通过批次号 进行检索，报告可一键生成。用户可以无限制地创建新的应用程序和报告格式，所有结果自动保存到电脑数据库，所 有用户级别都可以设置密码保护。3、广泛的镀层厚度测量范围博曼 XRF 镀层测厚仪 可对 13 号铝元素到 92 号铀元素进行高精度测量分析可分析单层镀层： Au， Ag， Ni， Cu， Sn， Zn 等合金镀层： ZnNi 合金， SnPb 合金等镀层厚度和成分比例同时分析双层镀层： Au/Ni/Cu， Sn/Ni/Cu， Cr/Ni/Fe 等4三层镀层： Au/Pd/Ni/Cu 等最多可分析 5 层镀层可同时分析 25 种元素成分可分析电镀溶液中的金属离子浓度可分析 ROHS 有害元素4、同类最佳的服务支持博曼为用户提供的 XRF 技术支持和服务享誉业界。目前，除美国芝加哥总部外，博曼已 在全球四大洲二十余个国家建立了办事处或机构。博曼始终致力于通过提供高质量的现 场技术支持服务，从而成就用户。因此，博曼拥有较高的用户回头率。在中国上海设有演示应用中心，培训中心及备品配件库，在深圳，杭州，西安设有办事 处。有能力为客户提供极佳的镀层厚度检测方案和快速优质的售后服务。

科电检测仪器公司成立于2002年，属于国家认证批准的高新技术企业，是中国铃先的检测仪器生产制造商。公司集研发、生产、销售和服务为一体，专业提供上等的检测仪器与全面的技术解决方案。总部坐落于山东省济宁市，公司厂区占地面积18800多平方米。公司技术力量雄厚，拥有完善的生产工艺、精湛的技术开发及生产实力。科电公司多年来始终坚持“用心制造、成就精品”的产品开发目标，秉承“科学管理、精心制造、优质服务、追求卓越”的质量方针，全面建立质量管理体系，经过10年的不懈努力，目前已发展壮大成为资产过亿、员工上百，并拥有3家控股公司及多家办事处的企业，产品涉及超声检测、涂装检测、埋地管线检测、红外检测、气体检测等多个领域的高科技产业型经济实体。公司目前生产产品有：HCH系列超声波测厚仪、MC系列涂镀层测厚仪、MCW涡流测厚仪、FJ系列埋地管线检测仪、DJ系列电火花检漏仪、TM系列红外线测温仪、YD系列里氏硬度计等。“科技成就未来、用心制造精品”，科电公司将与时俱进，为民族工业品牌走向世界而不懈奋斗！

纸张测厚仪_纸板厚度测量仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。 纸张测厚仪_纸板厚度测量仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。 测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。 应用领域薄膜、薄片、隔膜：适用于薄膜、薄片、隔膜的厚度测试纸张、纸板：适用于纸张、纸板的厚度测试箔片、硅片：适用于箔片、硅片的厚度测试金属片：适用于金属片的厚度测试纺织材料：适用于纺织材料的厚度测试固体电绝缘体：适用于固体电绝缘体的厚度测试无纺布材料：适用于无纺布材料的厚度测试，如尿不湿、卫生巾片材的厚度测试量程扩展至5mm， 10mm：适用于无纺布材料的厚度测试，如尿不湿、卫生巾片材的厚度测试曲面测量头：满足特殊要求的厚度测试测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

D0011高精度数显测厚仪，厚度是纸张、纸板及混合纸板的一个重要参数，而厚度的一致性对于结构用途也十分重要。 此测试仪适用于研究工作、质量控制、产品设计，以及来料规格的证明。此设备用于测量纸张，塑胶，薄纸和其他帘布材料的厚度。测头能自动上下进行测量，得到*的测量结果，测头部分为2个平坦的圆形压头，样品可放置于2个测头之间，测量时测头的压力可根据需要设定为2kpa、20kpa、50kpa、100kp等，易于进行*测量。应用:? 纸类? 塑料类产品特点:? 压力: 2kPa? 测量范围: 0 -12mm? 底座直径: 55mm? 压头直径: 35.7mm? 速度: 1 ± 0.1mm/ sec ? 精度: 0.001mm? 预留连接RS232 选配件:? 20kPa测试压力? 50kPa测试压力? 100kPa 测试压力? 其他特殊要求压力电气连接:?220/240 VAC @ 50 HZ or110 VAC @ 60 HZ(可根据客户要求定制)外形尺寸:? H: 270mm ? W: 250mm ? D: 300mm? Weight: 18.5kg参考标准:纸张: ? AS1301.426s ? BS 7387 ? ISO 534: 1988 ? TAPPI T 411 ? ASTM D645瓦楞板: ? ISO 3034 ? FEFCO No.3 ? SCAN P31

DM6100型X射线测厚仪 用于钢带、铜带、铝带、铝箔等的非接触式在线厚度测量填补了国内以X光管作射源的小型X射线测厚仪的空白性价比大大优于以同位素放射源作射源的测厚仪价格仅为国外同类产品的五分之一 CMC 沪制02280027 概述 DM6100型X射线测厚仪可用于各行各业中各种塑料薄膜、橡胶、木材、纸板、金属薄板等厚度的测量，主要用于金属轧制行业各个领域对生产线上的产品，如带钢、铜带、铝带、铝箔等进行动态状态下的厚度测量，可输出厚度信号到AGC系统，以实现厚度的闭环调节。具有不接触被测物体、连续、快速、准确测量等优点。DM6100型X射线测厚仪采用X光管作X射线源，相比于国内目前绝大部分以同位素放射源作X射线源的X射线测厚仪，具有很大的优越性。首先，可以免除使用同位素放射源带来的复杂审批程序、高额管理成本、尤其是仪器报废其放射源的回购成本。其次，本测厚仪采用本公司开发的特有的射源控制技术，其X射线源的能量和强度连续可调，可保证在最大测量厚度范围内的每个厚度都达到最佳测量精度，而同位素放射源一般只有一个能量，只能保证某一厚度的最佳测量精度。目前国内生产的X射线测厚仪绝大部分以同位素放射源作X射线源，而以X光管作X射线源的X射线测厚仪主要以进口的大型设备为主，价格很高，虽说近几年国内也有少数企业开始生产，但市场占有率有限，且价格也较高。DM6100型X射线测厚仪是采用小型X光管作X射线源的小型测厚仪，其性能虽略逊于进口产品，但价格远低于进口产品，也低于国内同行，只与以同位素放射源作X射线源的测厚仪相近，而性能却大大高于以同位素放射源作X射线源的测厚仪。DM6100型X射线测厚仪填补了国内以X光管作射源的小型X射线测厚仪的空白，它的推出使国内需用测厚仪的中小型企业也能用上以X光管作射源的X射线测厚仪，为用户提供了一种新的更优化的选择。用户以价格相近的DM6100型X射线测厚仪来取代以同位素放射源作射源的X射线测厚仪，不仅将因为性能的提高而极大地提高产品的质量，从而给用户带来极大的经济效益，同时将因为不用同位素放射源而提高国内的环境保护水平，从而给国家带来极大的社会效益。我们相信DM6100型X射线测厚仪定将在不远的将来取代以同位素放射源作射源的X射线测厚仪，成为X射线测厚仪市场的主导者。 特点 1. 不含同位素放射源，无三废公害，免除用户的麻烦和费用。2. 连续的非接触式测量，与AGC系统相连可以实现厚度的闭环控制。3. 大屏幕中文显示、冷阴极背光液晶、字迹清晰、明亮。4. 集成化程度高，环境适应能力强，抗干扰能力强、可靠性高。5. 测量精度高，反应速度快，稳定性好。6. 操作使用方便、快捷，维护、调试工作量小。7. 具有自诊断、误操作提示、自动校准、补偿功能。8. 屏蔽防护极好，确保辐射安全防护要求。9. 价格功能比低，适应我国国情。 主要技术指标 1. 测量范围：0.1mm～4.0mm（对钢），0.01mm～10.0mm（对铝）。 2. 钢带运行速度：0～27m/s。 3. 分辨精度：0.001mm。 4. 测量精度：±0.2%。 5. 响应时间： 100ms（对厚度变化5%响应63%）。 6. 采样周期：200ms、400ms、600ms、800ms可选择。 7. 测量噪声：0.12%。 8. 重复性： 0.2%。 9. 漂移： 长期漂移±0.24%每8小时，短期漂移±0.2%每小时。 10. 预热时间： X射源接通后1小时 11. 自动标定时间：≤20分钟。 12. 材质补偿范围：0～15%（或采用多条合金标定曲线的办法）。 13. 使用条件：环境温度：0~+40℃，相对湿度：≤95%(30℃)，电源：220V±20V，50Hz。 14. 整机功耗： ≤250W。 15. 尺寸及重量：仪表操作台：470mm×365mm×160mm，15kg。 C型架：673mm×579mm×189mm，35kg。 订货需知 DM6100型X射线测厚仪标准型主要技术指标如上所述，标准型的C型架外形规格尺寸如图1所示。如用户认为标准型的能满足测量要求请尽可能选择标准型的，因为标准型的是大批量标准化生产，价格是最便宜的。除标准型外，本公司可提供非标准型的X射线测厚仪，以满足绝大部分需用X射线测厚仪的用户的要求，其X射线光管高压最高电压可为：90kV、150kV、250kV， 最大电流可为：0.5mA、1.0mA、2.0mA，从而使测量范围提高到25.0mm（对钢），测量精度提高到：±0.05%，响应时间： 1ms。如有特殊要求，请在 订货时请提供以下信息： 测量对象量程范围轧制速度带材宽度C型架与操作台的距离测量精度响应时间轧制温度其它要求1其它要求2

DM6100型X射线测厚仪 用于钢带、铜带、铝带、铝箔等的非接触式在线厚度测量填补了国内以X光管作射源的小型X射线测厚仪的空白性价比大大优于以同位素放射源作射源的测厚仪价格仅为国外同类产品的五分之一 CMC 沪制02280027 概述 DM6100型X射线测厚仪可用于各行各业中各种塑料薄膜、橡胶、木材、纸板、金属薄板等厚度的测量，主要用于金属轧制行业各个领域对生产线上的产品，如带钢、铜带、铝带、铝箔等进行动态状态下的厚度测量，可输出厚度信号到AGC系统，以实现厚度的闭环调节。具有不接触被测物体、连续、快速、准确测量等优点。DM6100型X射线测厚仪采用X光管作X射线源，相比于国内目前绝大部分以同位素放射源作X射线源的X射线测厚仪，具有很大的优越性。首先，可以免除使用同位素放射源带来的复杂审批程序、高额管理成本、尤其是仪器报废其放射源的回购成本。其次，本测厚仪采用本公司开发的特有的射源控制技术，其X射线源的能量和强度连续可调，可保证在最大测量厚度范围内的每个厚度都达到最佳测量精度，而同位素放射源一般只有一个能量，只能保证某一厚度的最佳测量精度。目前国内生产的X射线测厚仪绝大部分以同位素放射源作X射线源，而以X光管作X射线源的X射线测厚仪主要以进口的大型设备为主，价格很高，虽说近几年国内也有少数企业开始生产，但市场占有率有限，且价格也较高。DM6100型X射线测厚仪是采用小型X光管作X射线源的小型测厚仪，其性能虽略逊于进口产品，但价格远低于进口产品，也低于国内同行，只与以同位素放射源作X射线源的测厚仪相近，而性能却大大高于以同位素放射源作X射线源的测厚仪。DM6100型X射线测厚仪填补了国内以X光管作射源的小型X射线测厚仪的空白，它的推出使国内需用测厚仪的中小型企业也能用上以X光管作射源的X射线测厚仪，为用户提供了一种新的更优化的选择。用户以价格相近的DM6100型X射线测厚仪来取代以同位素放射源作射源的X射线测厚仪，不仅将因为性能的提高而极大地提高产品的质量，从而给用户带来极大的经济效益，同时将因为不用同位素放射源而提高国内的环境保护水平，从而给国家带来极大的社会效益。我们相信DM6100型X射线测厚仪定将在不远的将来取代以同位素放射源作射源的X射线测厚仪，成为X射线测厚仪市场的主导者。 特点 1. 不含同位素放射源，无三废公害，免除用户的麻烦和费用。2. 连续的非接触式测量，与AGC系统相连可以实现厚度的闭环控制。3. 大屏幕中文显示、冷阴极背光液晶、字迹清晰、明亮。4. 集成化程度高，环境适应能力强，抗干扰能力强、可靠性高。5. 测量精度高，反应速度快，稳定性好。6. 操作使用方便、快捷，维护、调试工作量小。7. 具有自诊断、误操作提示、自动校准、补偿功能。8. 屏蔽防护极好，确保辐射安全防护要求。9. 价格功能比低，适应我国国情。 主要技术指标 1. 测量范围：0.1mm～4.0mm（对钢），0.01mm～10.0mm（对铝）。 2. 钢带运行速度：0～27m/s。 3. 分辨精度：0.001mm。 4. 测量精度：±0.2%。 5. 响应时间： 100ms（对厚度变化5%响应63%）。 6. 采样周期：200ms、400ms、600ms、800ms可选择。 7. 测量噪声：0.12%。 8. 重复性： 0.2%。 9. 漂移： 长期漂移±0.24%每8小时，短期漂移±0.2%每小时。 10. 预热时间： X射源接通后1小时 11. 自动标定时间：≤20分钟。 12. 材质补偿范围：0～15%（或采用多条合金标定曲线的办法）。 13. 使用条件：环境温度：0~+40℃，相对湿度：≤95%(30℃)，电源：220V±20V，50Hz。 14. 整机功耗： ≤250W。 15. 尺寸及重量：仪表操作台：470mm×365mm×160mm，15kg。 C型架：673mm×579mm×189mm，35kg。 订货需知 DM6100型X射线测厚仪标准型主要技术指标如上所述，标准型的C型架外形规格尺寸如图1所示。如用户认为标准型的能满足测量要求请尽可能选择标准型的，因为标准型的是大批量标准化生产，价格是最便宜的。除标准型外，本公司可提供非标准型的X射线测厚仪，以满足绝大部分需用X射线测厚仪的用户的要求，其X射线光管高压最高电压可为：90kV、150kV、250kV， 最大电流可为：0.5mA、1.0mA、2.0mA，从而使测量范围提高到25.0mm（对钢），测量精度提高到：±0.05%，响应时间： 1ms。如有特殊要求，请在 订货时请提供以下信息： 测量对象量程范围轧制速度带材宽度C型架与操作台的距离 测量精度响应时间轧制温度其它要求1其它要求2

CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。 测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

包装薄膜测厚仪 纸板纸张测厚仪 药用铝箔测厚仪CHY-C2A测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。技术特征：严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输支持LystemTM实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告执行标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817CHY-C2A测厚仪技术指标：负荷量程：0 ～ 2 mm（常规）　　　　　0 ～ 6 mm；12 mm （可选）分辨率：0.1 μm测量速度：10 次/min （可调）测量压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）　　　　　注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制电源：AC 220V 50Hz外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)净重：32kg仪器配置：标准配置：主机、标准量块一件选购件：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码、微型打印机

X射线荧光镀层测厚仪，涂层镀层测厚仪X射线荧光镀层测厚及材料分析仪系列测量方向产品型号应用范围检测器射线管基本滤片准值器数量/尺寸(mm)C型开槽从下往上XUL一款适合电镀厂测量镀层厚度的性价比高的仪器，它配备了一个固定的准值器和滤，射线管出射点稍大，非常适合测量点在1mm以上的应用。对于测量典型电镀层厚度的应用，如Cr/Ni/Cu等，非常合适。PC标准11（Φ0.3）是XULM多用途的镀层厚度测量仪。无论是薄的还是厚的镀层（如50nm Au或100um Sn）都通过选择好的高压滤片组合很好的测量。微聚焦管可以达到在很短的测量距离内小到100um的测量点大小。高达数kcps的计数率可以被比例接收器接收到。PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XAN110/120专门为分析金合金开发的划算的仪器。比较XAN而言，只有一个固定的准直器和固定的滤片，特别适合贵金属分析。XAN 110配备比例接收器，适于几种合金元素的简单分析。XAN120配备了半导体接收器，更可以应用于多元素的复杂分析。PC(XAN 110)PC(XAN 120)标准11（Φ0.3XAN110）1(Φ1XAN120)否XAN分析专用仪器，测量方赂从下到上。用途广泛。测量室全封闭，可以使作大准直器分析，高计数康可也可被硅漂移探测器处理。激发和辐射检测方式与XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物质衡量分析的理想仪器。PINSDD微聚焦3/64（Φ0.2-Φ2）否从上往下测量XDL适合镀层厚度测量的耐用仪器，即使大测量距离也可以测量（DCM，范围0-80mm）配备一个固定的准值器和固定的滤片。适合测量点在1mm以上的应用；跟XUL类似。可选 用自动测量的可编程工作台。PC标准11（Φ0.3）是XDLM比XDL适用面更广，配备微聚焦管，4个可切换的准直器和3个基本滤片。测量头与XULM想似；适合于测量小的结构如接插件触点或印刷线路板，也可以测量大的工作（DCM,范围0-80mm）PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XDAL与XDLM类似但配备了半导体接收器。这样就可能可以分析元素和测量超薄层（基于良好的信噪比）。比较适合测量结构较大的样品。PIN微聚焦34（Φ0.1-Φ0.6）是XDC-SDD适合于全部应用的高端机型。根据测量点大小和光谱组成，激发方式灵活多样。配备了硅漂移接收器，即使强度高达100kcps的信号也可以在不损失分辨率的情况下处理。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ0.3）否SDV-U专用微观分析的测量仪器。根据X射线光学部件的不同，可以分析小到100um或更小的结构。强度很高所以精度也非常好。即使很薄的镀层，测量不确定性小于1nm也是可能的。仅适于测量表面平整或接近平整的样品。SDD微聚焦4多毛细管系统是XDV-Vacuum具备综合测量能力的通用高端机型。与XDV-XDD相当。但可外配备了可抽真空的测量室，这样就使得分析从原子序数Z=11(Na)开始的轻元素成为可能。高精度的马达驱动的XYZ平台和视频摄像头可以精确定位样品位置和测量细小部件。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ3）否在线测量X-RAY 4000用于生产过程中薄膜，金属带或穿孔带的连续测量。测量头可以装配与样品传送方向的直角的位置。操作方便，启动迅速。数据接口可集成到质量管理或控制系统X-RAY54000用于生产线上连续测量的法兰式测量头。测量带状物，薄膜或玻璃的金属元素。在空气和真空都可以测量。提供水冷版本仪器。 X射线荧光镀层测厚仪，涂层镀层测厚仪用途：由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统，因而应用广泛 在电子和半导体产业里，测量触点上薄金，铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中，精确分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中，需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中，光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中，则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者，检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》（ROHS指令）也是十分关键的。在玩具工业中，也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用，菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能完美胜任。 X射线荧光镀层测厚仪，涂层镀层测厚仪用途领域:1、钟表，首饰，眼镜 2、汽车及紧固件 3、卫浴五金4、连接器5、化学药水6、通信7、半导体封装测试8、电子元器件 9、PCB（线路板）

膜厚仪EDX-8000T Plus型XRF镀层测厚仪Simply The Best微光斑垂直光路，专为镀层厚度分析而设计高计数率硅漂移检测器 (SDD) 可实现快速，无损，高精度测量高分辨率样品观测系统，精确的点位测量功能有助于提高测量精度全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量背景介绍材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数，其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的可靠性和使用寿命，因此，镀层厚度的控制在产品质量、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。英飞思开发的EDX8000T Plus镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确，快速，无损，操作简单，测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度，并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。XRF镀层测厚仪工作原理镀层测厚仪EDX8000T Plus是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒-30秒内完成。膜厚仪EDX8000T Plus产品特点全新的下照式一体化设计，测试快速，无需样品制备可通过内置高清CCD摄像机来观察及选择定位微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触，污染或破坏被测物。软件配备距离补正算法，实现了对不规则样品（如凹凸面，螺纹，曲面等）的异型件的精准测试备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品可覆盖元素周期表Mg镁到U铀SDD检测器，具有高计数范围和出色的能量分辨率自动切换准直器和滤光片（0.15mm,0.2mm,0.3mm）膜厚仪EDX8000T Plus应用场景EDX8000T Plus镀层测厚仪可以用于PCB镀层厚度测量，金属电镀镀层分析；测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度镀铬，例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品钢上锌等防腐涂层电路板和柔性PCB上的涂层插头和电触点的接触面贵金属镀层，如金基上的铑材料分析分析电子和半导体行业的功能涂层分析硬质材料涂层，例如 CrN、TiN 或 TiCN可拓展增加RoHS有害元素分析功能，电镀液离子浓度分析技术参数仪器外观尺寸:560mm*380mm*410mm超大样品腔：460mm*310mm*95mm仪器重量: 40Kg元素分析范围：Mg12-U92镁到铀，可同时分析并测量24种元素可分析含量范围：1ppm- 99.99%涂镀层最低检出限：0.005μm，可同时分析5层以上镀层成分分析含量范围：5ppm-99.99%探测器：AmpTek高分辨率电制冷SDD Detector多道分析器:4096道DPP analyzerX光管：50W高功率微聚焦光管准直器：Φ0.15mm,Φ0.2mm,Φ0.3mm，可选配0.1*0.2mm高压发生装置：电压最大输出50kV，自带电压过载保护电压：220ACV 50/60HZ样品平台：手动高精度移动平台样品对焦:手动测距对焦环境温度：-10°C到35°C膜厚仪EDX8000T Plus可分析的常见镀层材料可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。单涂镀层应用：如Ag/Cu,Zn/Fe，Cr/Fe, Ni/Fe等多涂镀层应用：如Ag/Pb/Zn, Ni/Cu/Fe，Au/Ni/Cu等合金镀层应用：如ZnNi/Fe, ZnAl/Ni/Cu等合金成分应用：如NiP/Fe, 同时分析镍磷含量和镀层厚度

CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。 测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

高精度测厚仪_薄膜厚度测量仪_接触式测厚仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。高精度测厚仪_薄膜厚度测量仪_接触式测厚仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

机械接触式测厚仪在生产和生活领域，纸张、瓦楞纸、卷烟纸、接装纸和电绝缘纸等材料的厚度是质量的关键指标。厚度直接影响到这些材料的结构强度、耐用性和功能性能。因此，厚度测量在纸品生产和使用中具有举足轻重的地位。本文将介绍一种接触式测厚仪，它针对上述材料提供高精度的厚度测量，帮助您轻松解决厚度问题。 对于纸张、瓦楞纸、卷烟纸、接装纸和电绝缘纸等材料，测厚仪采用基于位移的测量原理。探针在受到压力后向下位移，位移量对应材料的厚度。一般情况下，厚度与位移成线性关系，这种关系由设备的标定过程确定。 测厚仪在纸张、瓦楞纸、卷烟纸、接装纸和电绝缘纸等材料的生产和应用过程中发挥着重要作用。通过接触式测量方式，测厚仪能够提供高精度的厚度数据，帮助企业实现生产过程的精细化控制，提高产品质量和生产效率。此外，测厚仪还可以用于产品质量的在线检测，及时发现并解决潜在问题，减少废品率，降低生产成本。 接触式测厚仪在纸张、瓦楞纸、卷烟纸、接装纸和电绝缘纸等材料的厚度测量方面具有显著优势。它不仅提供了高精度的测量结果，而且为生产过程中的质量控制提供了有力支持。随着科技的不断发展，我们有理由相信测厚仪将在未来的生产实践中发挥更大的作用，推动纸品制造业不断向前迈进。 技术参数 测量范围 0-2mm （其他量程可定制） 分辨率 0.1um 测量速度 10次/min（可调） 测量压力 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张） 接触面积 50mm² （薄膜），200mm² （纸张） 注：薄膜、纸张任选一种 进样步矩 0 ～ 1300 mm(可调) 进样速度 0 ～ 120 mm/s(可调) 机器尺寸 450mm×340mm×390mm (长宽高) 重 量 23Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 80%,无凝露 试验环境 无震动，无电磁干扰 工作电源 220V 50Hz 机械接触式测厚仪 此为广告

AG-500 智能型超声波测厚仪，采用最新的高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理， 可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和 压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件 作精确测量。本仪器可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等多个领域

孔铜测厚仪产品用途：手持式设备，用于非破坏性的测量多种基材上的，包括小型结构和粗糙表面上的导电涂层的厚度。孔铜测厚仪适用于测量：测量钢铁上的锌、铜或铝镀层（适合粗糙表面的探头ESD20ZN）钢制小部件上的锌镀层（用于较小测量面积的探头ESD2.4）钢铁上的电镀镍层（探头ESD20NI,频率60KHZ或240KHZ）孔铜测厚仪产品特点：手持式仪器，根据相位敏感电涡流法快速、准确地测量镀层厚度，符合DIN EN ISO21968标准可测量印刷电路板上的铜厚度（频率为60KHZ或240KHZ的探头ESD20Cu）可测量印刷电路板中孔铜厚度（探头ESL080）可测量铁、非铁金属或非导电部件上金属涂层的厚度随仪器附送计算机端软件FISCHER DataCenter,其拥有以下功能：传输保存测量值，全面的统计性和图形化评估，轻松生成并打印检验报告。孔铜测厚仪技术参数:涡流相位测厚仪 PHASCOPE PMP10手提式镀层测厚仪器，采用相位灵敏测试方法，3个可选择的测试频率特别适合于Cu/Iso 探头ESD20CuNi/Fe 探头 ESD20NiNFe/Fe 探头ESD20ZnZn/Fe 探头ESD2.4PCB通孔上的Cu 探头ESL080下拉式菜单和对话框简化操作大容量：100个应用程式，20，000个测量数据，4，000个数据组3级显示精度自动关机功能密码保护、按键锁定功能自动、连续、外部触发3种特殊测量模式科学、统计、上下限、模拟分析4种显示模式您可能对以下产品也感兴趣：X射线荧光测厚仪，涂层镀层测厚仪菲希尔测厚仪

XAN500 X射线荧光材料分析及镀层测厚仪产品介绍： XAN500 X射线荧光材料分析及镀层测厚仪手持式、台式、在线： XAN500型X射线荧光仪器是到目前为止功能多样化的设备。它既可以作为手持式设备使用，也可以作为封闭式的台式机或是直接整合到生产线中。在配备了平板电脑后，XAN500同样采用久经考验的WinFTM软件。基于基本参数法的WinFTM软件不仅能进行材料分析，还能测量镀层厚度，并可实现无校准（不需标准片）测量。产品特点：通用手持式X射线荧光分析仪，即使材料组合困难复杂的情况下，也可以进行精确的镀层厚度测量和材料分析；符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 标准重量1.9 kg一次电池充电可持续运行6个小时测量点：3毫米Ø 高分辨率硅漂移检测器用于户外的IP54等级用作台式设备的可选测量箱；使用完整版WinFTM软件进行数据统计产品应用：应用● 在生产过程中，实时检测镀层厚度（如：Zn、ZnNi、Ag、Au）● 可便捷且稳定地测量大尺寸部件，如管道、外壳或机械零件。● 将仪器放置到测量箱中，XAN500即成为全功能的台式仪器，可精确地测量小尺寸零件，如螺母和螺栓。● 还可整合到生产线的控制系统中，可以实现100%的质量监控产品使用：测试大型样件，装配测量箱后也可以测试小样件一次测试同时测定镀层的厚度和成分（例如，Fe上的ZnNi合金）未知合金的无标准片测量大型镀层零件（例如机器部件和外壳）的测量电镀层的测试电镀液金属含量的分析

仪器简介：测厚仪产品展台为您精选德国BYK-Gardner湿膜测厚仪产品，欢迎您来电咨询BYK-Gardner湿膜测厚仪产品的详细信息！3501湿膜测厚仪 3504湿膜测厚仪,不同湿膜测厚仪测量范围也不同.对于新涂装的涂料进行湿膜厚度的测量是非常重要的。一方面，湿膜厚度影响产品的涂装质量，另一方面过厚的涂装将会很昂贵。按照不同的施工方法，建议使用湿膜测厚仪测量湿膜厚度。BYK-Gardner提供梳子状或阶梯状的湿膜测厚仪(梳规)。湿膜测厚仪-梳子状该梳子测厚仪是尺状的，在六个面的两端都有支撑基点，每个面均有不同长度的齿。六角型的测厚仪由耐腐蚀的不锈钢制成。技术参数：湿膜测厚仪 对于新涂装的涂料进行湿膜厚度的测量是非常重要的。一方面，湿膜厚度影响产品的涂装质量，另一方面过厚的涂装将会很昂贵。按照不同的施工方法，建议使用湿膜测厚仪测量湿膜厚度。BYK-Gardner提供梳子状或阶梯状的湿膜测厚仪(梳规)。湿膜测厚仪-梳子状该梳子测厚仪是尺状的，在六个面的两端都有支撑基点，每个面均有不同长度的齿。六角型的测厚仪由耐腐蚀的不锈钢制成。 湿膜测厚仪操作步骤： 测量时，将量程范围与漆膜估计厚度相近的那个面垂直地压入湿膜。 将湿膜测厚仪从湿膜中移出。 湿膜厚度应是在被湿膜浸润的那个最短的齿及邻近那个没有被浸到的齿之间。 3501湿膜测厚仪 测量范围：25-2000um 外径尺寸：90mm 3504湿膜测厚仪 测量范围：5-150um 外径尺寸：58mm主要特点：湿膜测厚仪-梳子状该梳子测厚仪是尺状的，在六个面的两端都有支撑基点，每个面均有不同长度的齿。六角型的测厚仪由耐腐蚀的不锈钢制成。

电池硅片测厚仪_薄膜测厚仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。电池硅片测厚仪_薄膜测厚仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

薄膜测厚仪_纸张铝箔测厚仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。薄膜测厚仪_纸张铝箔测厚仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

德国Infralytic NG2便携式红外油膜测厚仪是一种利用红外滤光技术，快速、准确测量金属表面油膜厚度的便携式仪器。日本Kurabo NR-2100IB手提红外测厚仪同类产品Infralytic NG2广泛应用于冷轧板、铝板上的防锈油、镀锌板钝化膜、耐指纹膜、硅钢（电工钢）绝缘涂层、铝罐上树脂涂布量、汽车板表面各类油膜厚度等等。特点：快速测量，一秒内完成测量；准确度高，基于实验室标定的测量；重量轻、易携带；易操作、易读取。配置包含：油膜测厚仪主机、镍氢蓄电池、充电套装、数据线及接口驱动、清洁套装、便携肩带、工具箱若需了解更多应用咨询及参数，请联系上海信联公司 021-54261103

X射线镀层测厚仪Thick880 ---专业的金属电镀层测试专家产品优势和特点*超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面*易于使用，一键操作，即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果*有助于识别镀层成分的创新型功能*机身结构小巧结实，外形十分漂亮，适合放置于陈列展室*按下按钮的数秒之内，即可得到有关样件镀层厚度的精确结果*使用PC机和软件，可以迅速方便地制作样件的检验结果证书*用户通过摄像头及舱内照明系统，可看到样件测试位置，提升了用户测试信心*Thick系列分析仪测试数据可以下载和上传网络，检测结果易于查看和分享*有X射线防护锁，只有在封闭状态下才发射X射线，安全、可靠的保证客户使用测试样品示例 仪器应用演示 打开仪器上盖 2、放入样品3、在软件中点击“开始”按钮,测量完成,显示分析结果XRF镀层分析仪硬件性能及优势元素分析范围从硫(S)到铀（U）同时可以分析几十种以上元素，五层镀层分析检出限可达2ppm,镀层分析可以分析0.005um厚度样品分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序多次测量重复性可达0.1%长期工作稳定性可达0.1%度适应范围为15℃至30℃。仪器配置高压电源 0 ~ 50KV光管管流 0μA ~ 1000μA数字多道分析器摄像头滤光片可选择多种定制切换美国进口半导体探测器测试时间可调 10sec ~ 100sec仪器环境要求环境温度 15°C ~ 30°C相对湿度 35% ~ 70%电源要求 AC 220V±5V, 50/60HZ

ZY-GT025激光测厚仪高效、便捷、高精度在盖板玻璃行业，测量盖板玻璃厚度的常用工具是千分尺。千分尺的缺点主要表现在效率低，而且可能划伤盖板玻璃，不能满足批量检测的要求。随着行业内对盖板玻璃厚度检测要求的逐渐提高，盖板玻璃生产厂家希望找到一种高效、便捷、高精度的无损测量方式，ZY-GT025激光测厚仪应运而生。ZY-GT025激光测厚仪采用激光测量方式，对盖板玻璃没有损伤。测量响应速度快，操作简单，精度高。另外，这款仪器采用锂电池供电，设计人性化，适用于多种应用场合。技术参数1. 光源类型：红色半导体激光2. 激光波长：650nm（可见光）3. 厚度测量范围：0.15~3mm4. 厚度测量精度：±0.002mm5. 读数方式：LED数显或者电脑软件显示6. 读数分辨率：0.1/0.01/0.001/0.0001/0.00001mm7. 供电方式：可充电锂电池供电（DC 24V）8. 重量：约8kg9. 尺寸：约300mm(H)×220mm(W)×325mm(D)配置清单1. 激光测厚仪主机1台2. 充电器1个3. 数据线1根4. 测试电脑1台（含测试软件1套），可选