当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

三维测量显微镜

仪器信息网三维测量显微镜专题为您提供2024年最新三维测量显微镜价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括三维测量显微镜参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的三维测量显微镜您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合三维测量显微镜相关的耗材配件、试剂标物,还有三维测量显微镜相关的最新资讯、资料,以及三维测量显微镜相关的解决方案。

三维测量显微镜相关的论坛

  • 非接触式形状测量显微镜

    谁知道那有非接触式表面三维形状测量显微镜?垂直Z方向要0.1微米级的,X,Y方向需要厘米级别的。我是想租用,基恩士有一款,不知道哪个实验室或者测量单位可以提供这个服务?

  • 测量显微镜的应用

    测量显微镜工作原理是使用透、反射的方式对工件长度和角度作精密测量。测量显微镜大多用于工业中,因此测量显微镜又称为[url=http://www.leica-microsystems.com/cn/%E4%BA%A7%E5%93%81/%E5%85%89%E5%AD%A6%E6%98%BE%E5%BE%AE%E9%95%9C/%E5%B7%A5%E4%B8%9A%E5%8F%8A%E6%9D%90%E6%96%99/%E6%AD%A3%E7%BD%AE%E6%98%BE%E5%BE%AE%E9%95%9C/%E8%AF%A6%E7%BB%86%E4%BB%8B%E7%BB%8D/product/leica-dm6-m]工业测量显微镜[/url]。测量显微镜的工作台除可以作平面移动外,还可以作360度的旋转,可从全方位观察器件。它的主要用途有:1、广泛应用于电子工业,比如观察电路板的构造,观察零件直接的精确距离;2、适用于制造业、精密零件以及不方便移动的物件的观察测量;3、用于生产作业线。

  • 混合显微镜可从三维测量生物分子

    中国科技网讯 据每日科学近日报道,最近,美国爱荷华大学与国家能源部艾米实验室科学家合作,将光学显微与原子力显微技术结合起来,开发出一种能对单个生物分子进行三维测量的方法,准确性和精确性都达到纳米级别。最近出版的《纳米快报》上详细介绍了该技术。 现有技术只能从二维平面来测量单个分子,只有X轴和Y轴,新技术称为驻波轴向纳米仪(AWAN),让研究人员能测量Z轴,也就是高度轴,样本也不需要经过传统光学或特殊表面处理。 “这是一种全新类型的测量技术,可以确定分子Z轴方向的位置。” 论文合著者、爱荷华大学物理与天文学副教授珊吉维·西瓦珊卡说,他们承担的研究项目有两个目标:一是研究生物细胞彼此之间怎样粘合,二是开发研究这些细胞的新工具。为此他们开发了新的显微技术。 研究小组用荧光纳米球和DNA单链测试了新式混合显微镜。他们把一台商用原子力显微镜与一台单分子荧光显微镜结合。将原子力显微镜的悬臂针尖放置在一束聚焦激光束上,以产生驻波纹样。 驻波是频率和振幅均相同、振动方向一致、传播方向相反的两列波叠加后形成的波。波在介质中传播时其波形不断向前推进,称为行波;上述两列波叠加后波形并不向前推进,叫做驻波。将一个经处理发光的分子放置于驻波内,当原子力显微镜尖端上下移动时,分子表面相应于它距针尖的距离而起伏发出荧光,由此可以对这一距离进行测量。在实验中,该技术在测量分子时可以准确到1纳米内,测量可多次重复,精确度达到3.7纳米。 西瓦珊卡说,该技术可以通过显微镜来提供高分辨率数据,给医疗研究人员带来便利。还具有商业化潜力,促进单分子生物物理学的研究。(常丽君) 《科技日报》(2012-8-9 二版)

  • 本人做的毕业设计,有关于普通光学显微镜下的三维重构

    本人做的毕业设计,有关于普通光学显微镜下的三维重构

    本人读研究生期间一直做关于铁谱分析,后来发现在光学显微镜下可以重构物体的三维图像,也就一直在这个方向上面做,现在要毕业了,当时觉得这个方向其实非常不错,还想深入做下去,但是初步发现好像国内做这方面的公司不多,大多数都是代理,不知道大家有什么建议。我的qq号5060941,有空可以聊聊。附件中有我编写的软件效果图,下面是论文的摘要,由于论文还没有提交,所以不方便发全文。摘 要铁谱技术是以磨损磨粒分析为基础的故障诊断方法,在铁谱技术中,磨粒图像是反映机械设备内部零部件磨损状况的重要信息载体,磨粒特征分析是监测对象实际状态十分丰富而又有效的方法。磨粒识别是铁谱分析的核心环节,直接关系到磨损状态诊断的正确性。磨粒成分与磨损构件成分相同,正确判断磨粒成分可以确定机械磨损位置,给保养和维修带来极大的方便。磨粒颜色与磨粒组成成分有很大的关联,本文使用主成分分析法在HSI色度空间上判断磨粒颜色,通过磨粒颜色分布确定磨粒组成成分。长期以来,由于三维成像设备性能和成本的限制,磨粒分析一直局限在二维形貌分析上。本文利用光学显微镜聚焦范围有限的特点,以改进拉普拉斯算子作为聚焦评价函数进行磨粒表面高度的测量,提取与聚焦高度相对应的像素点叠合生成能够反映磨粒表面全貌的全景深图像,最后结合磨粒表面高度信息和全景深图像重构出磨粒表面三维形貌图。为了满足计算机实时进行三维重构需求,本文还给出了一种磨粒表面形貌三维重构的快速算法。本文使用DSP、步进电机、CCD摄像头和改装过的光学显微镜设计了进行磨粒三维形貌测量的装置,并编写了基于Visual C++.net的磨粒表面形貌实时分析及三维重构软件。本文的主要研究工作有:1.综合国内外有关文献,对铁谱磨粒分析技术和微观物体的三维测量技术的发展和现状进行综述,结合本课题研究的要求,阐述了本文的主要研究内容。2.应用主成分分析法在HSI色度空间对磨粒的颜色进行了分析,找出一种判断磨粒组成成分的方法。3.分析论述了铁谱图像的数字图像处理技术和微观物体三维测量的原理、方法以及在磨粒测量上的应用。4.使用DSP、步进电机、CCD摄像头、改装的光学显微镜和计算机设计并制作了一套微观物体三维形貌光学测量装置。5.使用VC++ 设计了磨粒表面形貌分析与三维重构软件并使用自行设计制作的微观物体三维形貌光学测量装置对磨粒进行分析并重构出磨粒表面形貌三维图像。关键词:铁谱技术,磨粒,图像处理,三维重构,显微镜[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2005/11/200511131645_10117_1163957_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2005/11/200511131647_10118_1163957_3.jpg[/img]

  • 【求助】confocal显微镜如何做三维重建

    在Z stack通过多扫描获得一系列section后,是直接用显微镜的软件进行三维重建就可以,还是需要另外的软件?我在显微镜自带的软件上没有找到可以做三维构建的,只有average projection和max projection,但是做出来感觉不大对。

  • 【求购】大家推荐一下三维视频显微镜

    有没有比较好的三维视频显微镜,大家推荐一下:可进行表面任意角度的三维观察能进行金相分析我只知道一个美国科视达的KH-7700,感觉还可以,不知还有没有其他厂家的类似产品?

  • 【分享】美国泽塔zeta 200 3D光学轮廓仪/三维显微镜

    Zeta 200自动三维测量系统Zeta 200是集多种测量手段于一身的高级表面测量系统。它功能配备齐全,使用方便,是三维测量系统中性能价格比最优的选择。Zeta 200能够自动采集样品上多点的工艺参数,如台阶高度、体积、尺寸及粗糙度等,为您提供监管及优化生产流程所需的数据。· 自动多点、多配方测量样品· 200毫米x200毫米XY轴驱动范围· 粗糙表面成像与分析· 金属栅线形状与尺寸测量· 防反射膜及光刻胶厚度分析· 真空吸盘保证样品定位一致· 本色三维成像· 台阶高度,线与面粗糙度、角度及尺寸测量Zeta 200特色功能1.多点测量 用户可按其所需设置每片样品上的采样点数——少许几点往往适用于快速检测,多点则可用于详细分析。2.大面积成像 Zeta 200可自动按次序对多个视场进行成像,然后由软件拼接成一张大面积的样品表面三维图像。3.自动形貌特征测量 用户可设置操作配方对样品的各种指定形貌特征如尺寸、间距、高度甚至整片样品的弧度等进行自动测量。标准系统配置显微镜系统光源:高亮度白光LED物镜:5x,10x,20x,50x,100x耦合透镜:0.5x自动载物台:200毫米x200毫米XY驱动范围Z轴:30毫米纵向驱动范围数码相机: 1024x768像素,1/3 英寸CCD计算机控制系统处理器:英特尔®酷睿2 双核(最低2.5GHz)随机存储器3GB硬盘驱动器:320GB显示器:22英寸宽屏液晶显示器(1680x1050像素) Zeta 三维测量软件实时视频成像快速数据采集(每处1分钟)三维表面浏览:倾斜,旋转,缩放,过滤•体积计算二维表面分析:特性尺寸,直径,面积图案间距,标准偏差表面粗糙度区域平均台阶高度轮廓测量台阶高度与粗糙度多横截面分析平均值测量标尺倾斜度与表面波度补偿阵列式采样序列自动数据与图像输出用于生产线SPC

  • 【求购】光学显微镜

    实验室需要显微镜观察样品表面形貌和精确测量样品的二维尺寸(精度达到0.01mm),请大家推荐几款质量过硬的光学显微镜及其大致价格。个人倾向于普通镜头带刻度的,非测量显微镜。谢谢!

  • 【求购】能测量高度的显微镜

    最近我们需要测量产品的凹坑深度(很多凹坑相联,坑长宽约200~500um,深在几十到一百多微米),了解到三维体视显微镜可以测量。我也联系过keynece等厂家,感觉做是可以做,视野有点小,不能多看一些坑。估计方法倍数在20×左右就能看到很多的坑了,而且能测量坑的深度。请各位帮忙介绍下。我的联系方式dogxiong@163.com

  • 2013年3月26日网络会议:三维光学显微镜在动态MEMS表面测量中的应用

    http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_646343_2507958_3.gif三维光学显微镜在动态MEMS表面测量中的应用主讲人:黄鹤 布鲁克公司 应用经理活动时间:2013年3月26日 上午 10:00http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_646343_2507958_3.gif1、报名条件:只要您是仪器网注册用户均可报名参加。2、参加及审核人数限制:限制报名人数为120人,审核人数100人。3、报名截止时间:2013年3月26日上午10:004、报名参会:http://simg.instrument.com.cn/meeting/images/20100414/baoming.jpg5、参与互动:本次讲座采取网络讲堂直播模式,欢迎大家积极发言提问。 *参会期间您还可以将有疑问的数据通过上传的形式给老师予以展示,并寻求解答* 每次会议从提问的用户中随机抽取出一名幸运之星,奖励一个价值150元的耳机。6、环境配置:只要您有电脑、外加一个耳麦就能参加。建议使用IE浏览器进入会场。7、提问时间:现在就可以在此帖提问啦,截至2013年3月25日8、会议进入:2013年3月26日9:30点就可以进入会议室9、开课时间:2013年3月26日10:0010、特别说明:报名并通过审核将会收到1 封电子邮件通知函(您已注册培训课程),请注意查收,并按提示进入会议室!为了使您的报名申请顺利通过,请填写完整而正确的信息哦~http://simg.instrument.com.cn/webinar/20110223/images/zb_11.gif注意:由于参会名额有限,如您通过审核,请您珍惜宝贵的学习交流机会,按时参加会议。如您临时有事无法参会,请您进入报名页面请假。无故不参会将会影响您下一次的参会报名。快来参加吧:我要报名》》》快来提问吧:我要提问》》》

  • 【求助】有关光学显微镜的照明光源问题

    常用的光学显微镜的照明光源有什么要求?如测量显微镜、金相显微镜、体式显微镜等,分别选用什么照明,看到有LED、卤素灯、疝气灯等另外,照明光源的功率多少合适?

  • 【分享】如何选择显微镜?

    显微镜具有很广泛的用途,因此分为不同的类型并具有特殊的附件。生物显微镜常用在实验室、高校、医院,用于生物样品的研究和诊断。工业显微镜工业显微镜主要用于装配工作或质量监控。用于检测材料和工厂成品。体视显微镜体视显微镜是工作或学习中典型的放大工具,常用于样品的镜下手工操作或工具操作(如解剖)。倍数通常比较低,有些体视显微镜可放大到几百倍。电子检查设备体视显微镜常用于检测制造或成品的印刷电路板的缺陷。一个“斜查看器”(oblique viewer) 可添加到体视显微镜中,这样能够围绕一个组件检测它与印刷电路板的连接情况。测量显微镜这种显微镜具有数字读出功能。提供X、Y、Z轴可靠、精确、可重复的测量。金相显微镜金相显微镜用于科研和工厂。用于观察金属磨面、平面或其他物件表面。偏光显微镜偏光显微镜在科研、工业和学术领域有广泛的应用。利用偏振光,科研工作者能够发现不同有机物或无机物的结构、含量和化学组成。石棉显微镜Meiji有特殊的石棉显微镜,为世界各地的公司和政府机构提供矿物质和纤维的观察、鉴定工具。视频显微镜视频显微镜用于机器视觉,测量和生产小尺寸元件、需要高分辨率的领域。

  • 【分享】三维显微激光拉曼光谱仪

    【分享】三维显微激光拉曼光谱仪

    三维显微激光拉曼光谱仪三维显微激光拉曼光谱仪装置Nanofinder30  Nanofinder30 三维显微激光拉曼光谱仪装置是日本首创,世界最初的分析装置。它能在亚微米到纳米范围内,测定物质化学状态的三维图像。它由共焦激光显微镜,压电陶瓷平台(或电动扫描器)和光谱仪组成。并能自选追加原子力显微镜和近场表面增强拉曼测定的功能。 最新测量数据[ 变形Si的应力测定]PDF刊登 用二维的平面分析来评价变形Si。空间分辨率130nm, 变形率0.01%(0.1cm偏移)。 半导体/电子材料(异状物,应力,化学组成,物理结构)薄膜/保护膜(DLC,涂料,粘剂)/界面层,液晶内部构造结晶体(单壁碳纳米管,纳米晶体)光波导回路,玻璃,光学结晶等的折射率变化生物学(DNA, 蛋白质, 细胞 组织等) 以亚微米级分辨率和三维图像,能分析物质的化学结合状态空间分辨率200nm(三维共焦点模式),50nm(二维TERS模式)能同时测定光谱图像(拉曼/萤光/光致荧光PL),共焦显微镜图像,扫描探针显微镜图像(AFM/STM)和近场表面增强拉曼图像(SERS)能高速度,高灵敏度地测定样品(灵敏度:与原来之比10倍以上)不需要测定前样品处理,在空气中能进行非破坏测定全自动马达传动系统的作用,测定简单 共焦显微镜模式不能识别结晶缺陷,然而光致荧光(PL)模式却能清楚地测到结晶缺陷 共焦激光显微镜模式的形状测定 光谱窗 560 nm 用光致荧光(PL)模式测到的结晶缺陷的光谱图像(560nm的三维映像) 用AFM和共焦显微拉曼法同时测定CNT,能判定它的特性 (金属,半导体)和纯度。 同时测定单壁碳纳米管(CNT)的原子力显微镜(AFM) 形貌图像和拉曼光谱图像的例子 :拉曼光谱: 激光488nm,功率1.5mW,曝光时间2 sec,物镜100×Oil, NA=1.35, 积分时间100 sec (AFM和拉曼图像测定时) AFM形貌图像(右上)表示了单壁碳纳米管混合物的各种形状结构。图像中用数字1到8来表示其不同形状。数字1-6测得了拉曼光谱(上图所示),判定为半导体CNT。但7-8测不到拉曼光谱,所以不是半导体CNT,而可能是金属CNT(可用He-Ne激光633nm验证)。最上面表示了RBM(173cm-1), G-band(1593cm-1)及D-band(1351cm-1)的拉曼光谱图像 综合激光器和光谱分析系统的长处,坚固耐用的复合设计,卓越的仪器安定性,是纳米技术测定装置中的杰出产品。 ※日本纳米技术2004大奖“评价和测量部门”得奖. ※日本第16届中小企业优秀技术和新产品奖 “优良奖”得奖. 光学器件配置图Nanofinder30 [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/12/200812071751_122565_1634361_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/12/200812071751_122566_1634361_3.jpg[/img][~122567~][~122568~]

  • DIC数字散斑全场应变测量系统,可以测得三维应变和三维位移的数据。

    DIC数字散斑全场应变测量系统,可以测得三维应变和三维位移的数据。

    XTDIC三维全场应变测量分析系统,结合数字图像相关技术(DIC)与双目立体视觉技术,通过追踪物体表面的散斑图像,实现变形过程中物体表面的三维坐标、位移及应变的测量,具有便携,速度快,精度高,易操作等特点。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/06/201606021457_595779_3024107_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/06/201606021457_595780_3024107_3.png图:系统测量原理及散斑图像追踪过程系统组成:统主要由测量头、控制箱、标定板、标志点、计算机及检测分析软件等组成系统应该包含系统测量头(含两台高速工业相机、进口相机镜头,带万向手柄可调节LED光源)、相机同步控制触发控制箱、系统标定板、系统可移动支撑架、动态采集分析软件、载荷加压控制通讯接口、计算机系统等组成。1.1 主要应用XTDIC 三维数字散斑动态变形测量分析系统是实验力学领域中一种重要的测试方法,其主要应用有:在材料力学性能测量方面:DIC已成功应用于各种复杂材料的力学性能测试中。如火箭发动剂固体燃料、橡胶、光纤、压电薄膜、复合材料以及木材、岩石、土方等天然材料的力学性能的检测中。值得注意的是,DIC被广泛应用于破坏力学研究中,包括裂纹尖端应变场测量、裂纹尖端张开位移测量以及高温下裂纹尖端应变场测量等。在细观力学测量方面:借助于扫描电子显微镜(SEM)、扫描隧道电子显微镜(STEM)以及原子力显微镜(AFM),DIC被越来越多地应用于细观力学测量。最近,数字散斑相关方法还被应用于物体表面粗糙度的测量中。在损伤与破坏检测方面:DIC被应用于多种复杂材料,如岩石、炸药材料的破坏检测中。DIC还被应用于一些特殊器件,如陶瓷电容器、电子器件,电子封装的无损检测研究中。在生物力学测量方面:DIC被应用于测量手术复位后肱骨头在内旋转及前屈运动下大小结节的相对位移量,以及颈椎内固定器对人体颈椎运动生物力学性能的影响等。对于大中专院校的研究教学应用,本系统开展各种软组织、金属及复合材料性能测试、力学性能测试分析、有限元分析验证等研究和教学实验,具有大至1000%应变测量范围,并可以实时计算、实现动态全场的应变变形测量。在土木工程的相关研究中,如四点弯试件、半圆弧试件、悬臂梁实验,对应完整实验设计方案,以非接触式的方式提升研究手段,提高研究能力。亦可为学生提供可视化的教学工具,让学生的基础学习课程变得直观和可视,使复杂问题简单化、抽象问题直观化、隐蔽问题可视化。1.2 系统功能(1)基本测量功能:l ※测量幅面:支持几毫米到几米的测量幅面,可以根据需求定制测量幅面。l 测量相机:支持百万至千万像素、低速到高速、千兆网和Camera Link等多种相机接口,控制软件最大支持采集帧率10万 fps。l ※相机标定:支持多个相机(可多于8个)多种测量幅面的标定,支持外部拍摄图像标定。l ※测量模式:三维变形测量,同时支持单相机二维测量。l ※实时计算:采集图像的同时,可以实时进行三维全场应变计算,具备在线和离线两种计算处理模式。l 计算模式:具备自动计算和自定义计算两种模式。l 测量结果:全场三维坐标、位移、应变数据等动态变形数据,应变模式有工程应变、格林应变、真实应变等三种。l 多个检测工程:系统软件支持多个检测工程的计算、显示及分析。l ※支持系统:支持32位、64位windows操作系统,具备64位计算和多线程加速计算功能。(2)分析报告功能l ※18种变形应变计算功能:X、Y、Z、E三维位移;Z值投影;径向距离、径向距离差;径向角、径向角差;应变X、应变Y和应变XY;最大主应变;最小主应变;厚度减薄量;Mises应变;Tresca应变;剪切角。l ※坐标转换功能:321转换、参考点拟合、全局点转换、矩阵转换等多种坐标转换功能。l ※元素创建功能:三维点、线、面、圆、槽孔、矩形孔、球、圆柱、圆锥。l ※分析创建功能:点点距离、点线距离、点面距离、线线夹角、线面夹角、面面夹角。l 数据平滑功能:均值,中值,高斯滤波等多种平滑功能。l 数据插值功能:自动和手动两种数据插值模式。l 材料性能分析:自动计算材料的弹性模量和泊松比等参数。l 三维截线功能:可对三维测量结果进行直线或圆形截线分析。l 曲线绘制功能:所有测量结果均可以绘制成曲线图。l 成形极限分析功能:可绘制和编辑FLD成形极限曲线。l 视频创建功能:可将测量过程二维图像或者三维测量结果制作成视频并输出保存。l 数据输出功能:测量结果及分析结果输出成报表,支持TXT,XLS,DOC文件的输出。(3)采集控制功能l ※采集控制箱可以实现测量头的控制、多个相机的同步触发、多路模拟量和开关量数据采集、输入和输出信号控制。l 相机同步控制:多相机外同步触发信号。l ※外部采集通讯接口:支持外部载荷如微电子万能试验机等外部载荷联机采集通讯接口,通过串口通讯或者模拟量实时采集外部的加载力、位移等信号,并与三维全场应变测量数据实现同步,实现应力和应变数据的融合和统一。l 光源控制:可以实现测量过程中不同补光需要的LED光源控制。(4)预留扩展接口:l ※多测头同步检测接口:可以支持1~8个测头的多相机组同步测量,相机数目任意扩展,可以同步测量多个区域的变形应变,适用于不同实验条件需求下的变形应变测量。l ※显微应变测量:配合双目体式显微镜,系统可以实现微小视场的三维全场变形应变检测,并可支持扫描电镜、原子显微镜等显微图像的应变数据计算。l ※大尺寸全方位变形接口:支持摄影测量静态变形系统,实现全方位变形和局部全场应变检测数据的融合和统一。1.3 技术指标 指标名称技术指标1. ※核心技术多相机柔性标定、数字图像相关法2. 测量结果三维坐标、全场位移及应变,可视化显示及测量过程的视频录制输出,测量结果及数据输出成报表,支持TXT,XLS,DOC文件的输出。3. ※测量幅面支持1mm-4m范围的测量幅面,并配备相应编码型标定板标定架,可定制更多测量幅面。4. ※测量相机支持百万至千万像素相机,支持低速到高速相机,支持千兆网和Camera Link等多种相机接口,控制软件最大支持采集帧率10万 fps)5. 相机标定简单快捷,需要可支持任意数目相机的同时标定,支持外部图像标定6. ※位移测量精度0.005像素7. ※应变测量范围0.01%-1000%8. ※应变测量精度0.001%9. 测量模式三维变形测量,可兼容二维测量10. ※实时测量计算采集图像的同时,实时进行全场应变计算11. ※系统控制2采集控制箱可以实现测量头的控制、多个相机的同步触发、多路模拟量和开关量数据采集、输入和输出信号控制。2相机同步控制:多相机外同步触发信号。2外部采

  • 【求助】显微镜选购求助

    本单位想购买显微镜,用于材料断口研究。需要进行三维测量,高度方向的精度有1um即可。恳请各位指点,推荐下合适的显微镜。最好提供价格。先谢谢了!

  • 【小介绍】显微镜微测尺的使用

    [color=#00008B]显微测微尺是用来测量显微镜视场内被测物体大小、长短的工具, 包括目镜测微尺(分划目镜)和测微台尺。用时需两者配合使用。目镜测微尺系在目镜的焦面上装有一刻度的镜片而成, 其每一刻度值为0.1mm, 测微台尺为一特制的载玻片, 其中央有刻尺度, 每一小格的值为0.01mm, 使用时, 先将目镜测微尺插入目镜管, 旋转前透镜将目镜内的刻度调清楚, 在把测微台尺放在载物台上, 调焦点到看清楚台尺的刻度。观察时先将两者的刻度从“0”点完全重叠, 在向右找出两尺又在何处重叠, 然后记下两尺重叠的格数, 以便计算出测微尺每小格在该放大率下的实际大小。 计算公式: 台尺重叠格数×10÷目尺重叠格数例如:目镜测微尺上的第五小格与测微台尺上的第八格重叠 则目镜测微尺上的每小格= 8×10 ÷ 5 = 16um 测量时不再用测微台尺, 如改变显微镜的放大赔率, 则需对目镜测微尺重新进行标定.[/color]

  • 2013年5月23日网络会议:三维光学显微镜在半导体和LED表面测量中的应用

    http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_646749_2507958_3.gif三维光学显微镜在半导体和LED表面测量中的应用主讲人:黄鹤 布鲁克公司 应用经理活动时间:2013年5月23日 上午 10:00http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_646749_2507958_3.gif1、报名条件:只要您是仪器网注册用户均可报名参加。2、参加及审核人数限制:限制报名人数为120人,审核人数100人。3、报名截止时间:2013年5月23日上午10:004、报名参会:http://simg.instrument.com.cn/meeting/images/20100414/baoming.jpg5、参与互动:本次讲座采取网络讲堂直播模式,欢迎大家积极发言提问。 *参会期间您还可以将有疑问的数据通过上传的形式给老师予以展示,并寻求解答* 每次会议从提问的用户中随机抽取出一名幸运之星,奖励一个价值150元的耳机。6、环境配置:只要您有电脑、外加一个耳麦就能参加。建议使用IE浏览器进入会场。7、提问时间:现在就可以在此帖提问啦,截至2013年5月22日8、会议进入:2013年5月23日9:30点就可以进入会议室9、开课时间:2013年5月23日10:0010、特别说明:报名并通过审核将会收到1 封电子邮件通知函(您已注册培训课程),请注意查收,并按提示进入会议室!为了使您的报名申请顺利通过,请填写完整而正确的信息哦~http://simg.instrument.com.cn/webinar/20110223/images/zb_11.gif注意:由于参会名额有限,如您通过审核,请您珍惜宝贵的学习交流机会,按时参加会议。如您临时有事无法参会,请您进入报名页面请假。无故不参会将会影响您下一次的参会报名。快来参加吧:我要报名》》》快来提问吧:我要提问》》》

  • 【讨论】实验室常用辅助设备系列讨论——显微镜(2分)

    活动第十一期:实验室常用辅助设备系列讨论之——显微镜~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~一、简介:显微镜是用于放大微小物体成为人的肉眼所能看到的仪器。显微镜在化学分析中主要用于在结晶分析中观察结晶的形状,它包括生物显微镜、金相显微镜、测量显微镜等类型。显微镜还可分为光学显微镜和电子显微镜。此外,显微镜还有单、双筒之分,在一般的分析测试中通常采用单筒生物显微镜。二、问题讨论:1、如何使用显微镜;2、使用显微镜时有哪些注意事项?~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~其它系列讨论详见汇总贴: http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20101112/2921750/

  • 美国zeta泽塔公司三维立体显微镜轮廓仪资料

    Zeta-200是集三维成像和计量功能于一身的先进自动化表面测量系统。它功能配备齐全、使用方便,是自动三维测量系统中性能价格比最优的选择。Zeta-200能够自动采集样品上多点的工艺参数,如台阶高度、体积、尺寸及粗糙度等,为您提供监控及优化生产流程所需的数据。典型的系统配置包括:放大倍数为5倍, 10倍, 20倍, 50倍, 100倍的物镜1/3英寸CCD相机; 0.5倍耦合镜自动Z轴,30毫米驱动范围自动XY载物台,200毫米x 200毫米驱动范围具有3GB内存和320GB硬盘的电脑,24英寸显示器,以及泽塔三维功能软件

  • 西安交通大学XTDIC 三维数字散斑动态变形测量分析系统

    XTDIC 三维数字散斑动态变形测量分析系统是实验力学领域中一种重要的测试方法,通过追踪物体表面的散斑图像,实现变形过程中物体表面的三维坐标、位移及应变的动态测量。其主要应用有:[b]材料力学性能测量:[/b]DIC已成功应用于各种复杂材料的力学性能测试中。如火箭发动剂固体燃料、橡胶、光纤、压电薄膜、复合材料以及木材、岩石、土方等天然材料的力学性能的检测中。值得注意的是,DIC被广泛应用于破坏力学研究中,包括裂纹尖端应变场测量、裂纹尖端张开位移测量以及高温下裂纹尖端应变场测量等。[b]细观力学测量:[/b]借助于扫描电子显微镜(SEM)、扫描隧道电子显微镜(STEM)以及原子力显微镜(AFM),DIC被越来越多地应用于细观力学测量。最近,数字散斑相关方法还被应用于物体表面粗糙度的测量中。[b]损伤与破坏检测:[/b]DIC被应用于多种复杂材料,如岩石、炸药材料的破坏检测中。DIC还被应用于一些特殊器件,如陶瓷电容器、电子器件,电子封装的无损检测研究中。[b]生物力学测量:[/b]DIC被应用于测量手术复位后肱骨头在内旋转及前屈运动下大小结节的相对位移量,以及颈椎内固定器对人体颈椎运动生物力学性能的影响等。[b]大中专院校的研究教学:[/b]本系统开展各种软组织、金属及复合材料性能测试、力学性能测试分析、有限元分析验证等研究和教学实验,具有大至1000%应变测量范围,并可以实时计算、实现动态全场的应变变形测量。在土木工程的相关研究中,如四点弯试件、半圆弧试件、悬臂梁实验,对应完整实验设计方案,以非接触式的方式提升研究手段,提高研究能力。

  • 【分享】真实色共聚焦显微镜(new!)

    [size=3]1台真实色共聚焦扫描显微镜综合了以下6种设备的功能:[U]高分辨率光学显微镜SEM扫描电镜ROUGHNESS TESTER表面粗糙度仪3-D PROFILER 三维表面形貌轮廓仪STEP TESTER 台阶仪R.G.B不同波长单色激光共聚焦显微镜[/U]特点:1.真实颜色、形状同时准确的立体观察成像,避免同色异像,同像异色现象的产生;2.根据样品选择最合适R.G.B三原色进行单波长测定;3.高精度彩色图像输出1280*1024;4.图像拼接实现高放大、高分辨、大视场;5.每秒85桢的高速图像读取;6.高度差、粗糙度、三维尺寸等的直接测量。产品应用:MEMS、半导体、液晶相关产品、金属材料、化学材料、其他各种应用领域。[/size][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=64576]真实色共聚焦显微镜材料观测图片[/url]

Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制