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三维荧光光谱仪

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三维荧光光谱仪相关的耗材

  • 三维可微调拉曼/荧光测量平台 如海光电
    SA18-3A三维可微调拉曼/荧光测量平台 1 产品简介SA18-3A是一款紧凑型的三维可微调测量平台,适用于本公司的各系列拉曼探头和荧光探头。该产品可提供水平轴向60mm,水平纵向55mm的行程,读数精度1mm,同时竖直方向行程为100mm。 2 产品特性? 三维连续调节;? 快速定位;? 微调精度1mm。3 产品参数产品参数SA18-3A底座尺寸380×60×20mm水平平移台尺寸187×160mm竖杆高度300mm水平方向行程轴向60mm,纵向55mm竖直方向行程100mm读数精度1mm支架总重4kg适用产品RPB 拉曼探头系列/FPB 荧光探头系列4 使用示意图
  • 三维位移台
    该电动三维位移台是一款无刷直线伺服电机驱动的电动直线位移台,融合了高速高精度的特点,具有亚微米的定位精度,三维位移平台可以为用户带来高工作量/吞吐量,最大负载高达50kg,最高速度高达3m/s.主要特色:三维位移台精确导向系统为高速度长行程提供稳定的定向和导向保障 三维位移台强大的直线电机提供高负载能量和大驱动力;三维移动台高分辨率直线编码器(光栅尺)提供精确的定位反馈和闭环数字伺服控制;三维移动台具有美国制造的坚固耐用特性,高可靠性,长期工作。产品特色:这款三维位移平台采用直接驱动的直线电机用于位移台的定位。这种技术与传统的导螺杆驱动的位移台相比,具有明显的优势:三维位移平台没有螺杆驱动系统中出现的弹性形变问题,可保障更为复杂而精密的定位轨迹,更短的设置和行进时间,更高的重复精度,更快的伺服反应。*三维位移台,三维移动台,三维位移平台这种技术没有旋转惯性,可获得更高的加速度和行进速度。*三维位移台,三维移动台,三维位移平台台消除了旋转部件的磨损问题,具有更高的可靠性,更长的工作时间和寿命,更长的检修间隔时间,大大降低用户的使用成本。*三维位移台,三维移动台,三维位移平台这种直接驱动的直线电机具有高分辨率的编码器,可以精确调节速度,这种直线电机和其它部件可经过特殊处理具有真空兼容性,用于真空环境。产品描述:这款三维位移台,三维移动台,三维位移平台的所有结构材料都是高强度的铝合金材料,材料表面经过精密机械加工,并进行硬质阳极氧化镀膜(涂层)成浅灰色。电动直线位移台采用两个带有再循环线性轴承的精密方形导轨作为承载部件,它由预加载的滚珠器件精密导引,这种导向系统只需要标准的润滑服务,不需要其他维护。这款三维位移台,三维移动台,三维位移平台尺寸紧凑,驱动电机不单独外悬,直线电机,编码器和电缆等驱动部件安装于位移台底座,这种设计从而避免了那些外悬电机等核心部件受冲击等损害,具有更为安全的结构。这款三维位移台,三维移动台,三维位移平台采用再循环轴承系统并配带精密导轨支撑位移台高速度,高精度运动。三维位移台,三维移动台,三维位移平台使用的高强度铝合金材料,精密机械加工工艺把电动位移台的刚度和稳定性发挥到极致。三维位移台,三维移动台,三维位移平台对于铝材料的标准处理是阳极氧化硬质涂层,对于不修钢部件采用抛光处理,对于特殊要求,比如Teflon特氟隆浸渍硬质涂层,非阳极氧化处理,化学镀镍等都可为用户提供。产品应用:这个系列三维位移台,三维移动台,三维位移平台是无刷直线电机(Brushless linear motor)驱动的电动位移台, 即使在高负载情况下也有超高可靠性和精密定位能力,是高负载,高精度高可靠性的最佳电动直线位移台。三维位移台,三维移动台,三维位移平台具有超高加速能力和行进速度.这种电动直线位移台具有更小的惯性,比传统的罗杆驱动等机械传动的位移平台更适合应用.根据牛顿定律可知,负载的轻重直接影响到加速度,这款直线电动位移台,具有较高的加速度和运行速度, 能够帮助用户减少时间而提供工作量.直线电动位移台,电动直线位移台,电动位移台。产品规格和型号参数行程范围:125-750mm驱动系统:无刷直线电机最大加速度: 取决于负载最大速度:3米/秒(无负载时)最大峰值力:800N最大连续力:160N最大负荷:XY平台50Kg,Z轴25kg反馈系统:非接触式直线编码器系统TTL分辨率:5 μm, 1μm, 0.5μm,0.25μm, 0.2μm,100 nm & 50 nm重复精度:5x分辨率构造:铝合金主体,硬质灰色阳极镀膜型号LX-8125LX-8375LX-8500LX-8625LX-8750行程(mm)125375500625750精度Standard SP 标准型± 11μm± 12μm± 16 μm± 18μm± 22 μmHigh Precision HP高精度型± 5 .5μ± 7 μm± 8 μm± 10 μm± 11 μm平整度Standard SP标准型± 6 μm± 12 μm± 20 μm± 28 μm± 36 μmHigh Precision HP高精度型± 4 μm± 6 μm± 10 μm± 14 μm± 18 μmYaw/Pitch/RollStandard SP20 arc-sec20 arc-sec20 arc-sec20 arc-sec20 arc-secHigh Precision HP10 arc-sec10 arc-sec10 arc-sec10 arc-sec10 arc-sec2 axis systemOrthogonalityStandard SP20 arc-sec20 arc-sec20 arc-sec20 arc-sec20 arc-secHigh Precision HP5 arc-sec5 arc-sec5 arc-sec5 arc-sec5 arc-secExtra High Precision XHP3 arc-sec3 arc-sec3 arc-sec3 arc-sec3 arc-sec
  • 三维表面形貌仪配件
    三维表面形貌仪配件是德国进口的高精度多功能表面轮廓测量仪器,也是一款光学表面形貌仪,非常适合对表面几何形状和表面纹理分析。三维表面形貌仪配件根据国际标准计算2D和3D参数,使用最新的ISO 25178 标准表面纹理分析,依靠最新的 ISO 16610 滤除技术进行计算,从而保证了国际公信力,以标准方案或定制性方案对二维形貌或三维形貌表面形貌和表面纹理,微米和纳米形状,圆盘,圆度,球度,台阶高度,距离,面积,角度和体积进行多范围测量,创造性地采用接触式和非接触式测量合并技术,一套表面形貌仪可同时具有接触式和非接触式测量的选择。三维形貌仪配件参数:定位台行程范围:X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (电动)接触式测量范围: 范围0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s 范围2.5mm 分辨率40nm, 速度3mm/s非接触式测量范围: 范围:300um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围:480um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围:1mm, 分辨率5nm, 速度30mm/s 范围:3.9mm , 分辨率15nm, 速度30mm/s表面形貌仪配件应用:测量轮廓,台阶高度,表面形貌,距离,面积,体积分析形态,粗糙度,波纹度,平整度,颗粒度摩擦学研究,光谱分析磨料磨具,航天,汽车,化妆品,能源,医疗,微机电系统,冶金,造纸和塑料等领域。
  • 三维振动筛分仪
    电磁振动筛分仪Aode-200C电磁振动筛分仪简介电磁振动筛分仪Aode-200C是由丹东奥德仪器设计生产的一款适合实验室用的筛分仪器。仪器由电磁驱动器、机壳、数字控制器、筛盘固定座、组合筛塔、夹具、透明可视筛框等组成。透明筛框可以放在任何一级的筛上观察筛分的情况。仪器适合200、203、150、100直径的标准筛,适合药典的筛分,粗集料筛分,细集料的筛分。仪器的工作方式是电磁三维振动筛分,不同于机械水平二维往复的筛分,筛分效率和重复性要高于机械振动筛分仪,仪器选配有筛分软件,空筛质量和筛余质量的称重自动上传到软件中,由软件自行计算出各级的百分比,最后自动生成粒度分布曲线,由软件自动分析粒度的分布情况。软件安装在电脑中,可以任意打印和保存。产品特点:l 采用电磁驱动设计,每分钟振动频率可以达到3000-3600次l 筛分时间短,效率高l 适合干湿两用筛分(选配)l 振幅连续无极可调l 适合99%的筛分需求,应用行业广l 可设置间歇筛分工作模式,对样品筛分更精细。l 电磁三维驱动,筛分通过率高产品参数l 筛塔层级:12个标准筛可同时进行筛分l 筛分范围:20um-25mml 电源电压:220v50hz 5Al 仪器尺寸:350*200*520毫米 宽 高 深l 最大筛分量:6公斤l 标准筛直径: 200/203/150/100mm
  • 三维子弹检验仪配件
    三维子弹检验仪配件是子弹分析和识别领域的最新弹痕分析仪器,它采用了枪械和子弹痕迹比较显微镜的最新成果,用于分析子弹和射击后的弹壳痕迹。三维子弹检验仪配件特色具有子弹壳和枪管特性和专业的定制分析软件,全自动技术可以在几秒内获得极为详细的3D模型,增加了分析的可靠性,它突破了传统的技术,使用实验室自动机子检验系统,在实验过程中,降低了操作者与样品间的人为因素,大大提高分析的科学性和客观性。三维子弹检验仪配件功能为子弹特征定制的软件法医学应用范围其它检查模块实验室自动机子弹检测技术USB3.0摄像头用于快速分析自动化控制在XYZ上的样品结果非常精确Windows 7 超快速计算机特点增强的3D模型,用于比较用于快速自动识别的强大软件(1秒分析)三维子弹检验仪配件特点这种自动检验仪采用全球领先的介观技术,采用LED图形微型投影器,通过将立体数据与物体的独特指纹比对来建立细节详细的3D模型。3D模型可以用来获取重要参数,使用参数从数据库中鉴别和比较样本,使这个仪器成为检查“中观”对象的最快和 最强大的工具。 该技术整合到实验室自动机,是全自动化的。为子弹特性定制的软件 使用便利的数据库和比较射击后留在子弹上的特殊标记,为子弹表征和匹配子弹发射枪械的终极工具。该软件的一些独特功能:自动 校准,像素分辨率增强和2D 测量,使用数学算法将子弹特征二值化使子弹能够进行比较,和为光投射模式使用检测器的对所有表面进行3D建模,自动控制硬件和所有阶段的分析,可定制图表和图形以及自动生成报告,将会使检查速度更快,更准确,可重复性更高可以对子弹上的标记进行最高精度分析。标记可以存储在数据库中,并与其他子弹的标记进行比较。该软件可以将枪管里形成的槽与地面印记,和实验室自动机子弹检测系统获得的弹槽作比较。该软件促进了同一枪管发射的两发子弹之间的比较。软件可以将所有特性的子弹与弹壳匹配:后膛标记点火栓标记提取针发射标记 三维子弹检验仪配件 法医学应用范围枪械及工具痕迹实验室自动机比较显微镜是用来分析子弹和匹配开枪后留在弹壳上的类似指纹的条纹或线条。匹配指纹有助于检查人员识别武器是否在先前的犯罪行动中使用过。该系统有助于表征枪管细节与子弹细节的比较。比较技术包括一个完整过程来促进子弹表征和比较。可以自动确定各种特性的子弹:-地面和槽的数目-地面和槽的宽度-地面和槽的深度-倾斜-转动三维子弹检验仪和以根据枪管剖面和弹壳信息(使用Microptik枪管检查工具获得)重构子弹,弹壳和枪管的3D结构,并将使用枪管的小槽和条纹与子弹留在地面和槽印记匹配。使用该软件,法医研究人员可以比较所有立体图案,来帮助将子弹与枪管和弹壳匹配。附件检测模块?后膛印记?提取针标记?发射标记子弹印记和标记可以以最高精度进行分析。标记可以被存储在数据库中,并与其他子弹的标记进行比较。使用此附加模块,实验室自动机子弹检查的系统的能力可扩展到分析箱的内部。特点如下:?点火栓印记Lab-robot® Shell casing inspection实验室自动机弹壳检测枪管检测工具包包括用于枪管内检测的内窥镜,增强的光纤照明和软件附加功能。枪管剖面会沿着土地和槽显示小凹槽或条纹。这些都是枪管脱膛时产生的。所有枪管的标记都不同。这些标记会在子弹上留下独特的条纹或印记。因此可以根据标记将子弹与特定枪支匹配。 Microptik提供了一个完整的工具包,用来检查枪管特性(如土地和槽)对于小型枪械,可以将枪管放置在实验室自动机系统里,使用高精度内窥镜进入枪管,并获得枪管内部的所有相关特征。该软件可以将枪管里形成的槽与地面印记,和实验室自动机子弹检测系统获得的弹槽作比较。该软件促进了同一枪管发射的两发子弹之间的比较。
  • 三维表面轮廓仪配件
    三维表面轮廓仪配件是德国进口的高精度多功能表面轮廓测量仪器,也是一款光学轮廓仪,非常适合对表面几何形状和表面纹理分析。三维表面轮廓仪配件根据国际标准计算2D和3D参数,使用最新的ISO 25178 标准表面纹理分析,依靠最新的 ISO 16610 滤除技术进行计算,从而保证了国际公信力,以标准方案或定制性方案对2D轮廓或三维轮廓表面形貌和表面纹理,微米和纳米形状,圆盘,圆度,球度,台阶高度,距离,面积,角度和体积进行多范围测量,创造性地采用接触式和非接触式测量合并技术,一套表面轮廓仪可同时具有接触式和非接触式测量的选择。三维轮廓仪配件参数:定位台行程范围:X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (电动)接触式测量范围: 范围0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s 范围:2.5mm 分辨率40nm, 速度3mm/s非接触式测量范围: 范围:300um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围:480um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围:1mm, 分辨率5nm, 速度30mm/s 范围:3.9mm , 分辨率15nm, 速度30mm/s表面轮廓仪配件应用:测量轮廓,台阶高度,表面形貌,距离,面积,体积分析形态,粗糙度,波纹度,平整度,颗粒度摩擦学研究,光谱分析磨料磨具,航天,汽车,化妆品,能源,医疗,微机电系统,冶金,造纸和塑料等领域。
  • 泡沫铜三维石墨烯 三维石墨烯
    材料简介:三维石墨烯网络是在泡沫金属基底上通过化学气相沉积高温生长石墨烯薄膜层,借助泡沫基底的三维多孔骨架,生长成石墨烯的三维网络。三维石墨烯具有体表面积大,导电性佳,质量轻等特点。应用领域:1)适用于超级电容、锂离子电池、铝电池、纳电池等电化学能源存储器件。2)适用于化学传感器、气体传感器领域。尺寸:5*10cm
  • 三维石墨烯泡沫(1*1厘米)-三维独立石墨烯泡沫
    三维石墨烯泡沫(1*1厘米)-三维独立石墨烯泡沫 3D Graphene Foam-3D Freestanding Graphene Foam尺寸:1*1厘米热释放带温度:120 °C
  • LS-55荧光分光光度计配件4978499
    PerkinElmer荧光分光光度计LS-55主要特点:使用方面,性能稳定,可配备多种附件适应不同的应用范围。 PerkinElmer荧光分光光度计LS-55技术参数:波长精度: ±1nm 波长重复性: ±0.5nm 带宽: 激发狭缝缝2.5-15nm, 发射狭缝2.5-20nm 调节步距均为0.1nm 扫描速度: 10-1500nm/分, 调节步距为1nm 亦可按时间收集数据 发射滤光片: 290, 350, 390, 430, 及515nm, 5片 另有1%衰减片,均由软件选择 灵敏度: 用350nm激发波长测定纯水拉曼谱带,在拉曼峰处最低信噪比为750:1(RMS), 在基线处最低信噪比为2500:1(RMS) 是在LS-50B型基础上的改进型。结合一定的附件和软件,本机可以有广泛的应用范围,不论工作中需要荧光、磷光或化学发光及生物发光的检测,这都是恰当的选择。 PerkinElmer荧光分光光度计LS-55可测定荧光、磷光、生物发光或化学发光。激发狭缝2.5—15nm,发射狭缝为2.5—20nm。脉冲式氙灯(寿命长、电源供应简单,产生臭氧极少,不需长时间预热;大大减少光解作用;每一脉冲间测定暗电流,增进低荧光量的测定;用软件控制即可测定磷光,不需附件;磷光的灵敏度不损失脉冲率、延迟时间及门限时间均可变更);信噪比:750:1(RMS,350nm处纯水拉曼谱带),基线处为2000:1(RMS);大样品室保证可安装多种计算机控制的附件、可提供的附件最全;包括固体样品架;新概念的软件;FL WinLabTM(具有强大的二维/三维显示功能,开辟了分析复杂组份混合物的新途径)。
  • SPIP三维图像处理软件
    SPIP软件目前支持多种仪器的96种格式数据文件Image Metroogy 由Dr.Jan Friis J rgensen于1998年创立。Image Metrology是一所以客户为导向,不断发展的公司。公司位于离丹麦首都哥本哈根不远的城市。Image Metrology的主要产品,SPIP是可视化、修正,分析以及SPM数据报告方面的软件包。此软件包被SPM数据研究分析人员奉为标准。SPIP对于扫描电镜以及透射电镜、共聚焦显微镜、光学轮廓仪以及干涉仪等的图像分析也是很强大的。SPIP软件图像研究机构,在高新科技研发以及高校研究所运用。SPIP是专业的纳米以及微尺度图像处理的高科技软件公司,目前产品被应用于60多个国家的各个主要研究机构。SPIP95文件格式支持各种仪表类型,包括:SPM、AFM、扫描隧道显微镜、SEM、TEM、干涉仪共焦显微镜和光学显微镜,分析器。SPIP是一个模块化软件包,可提供包含14个具有特定功能的模块。SPIP应用,主要应用包括半导体检验、物理、化学、生物学、计量和纳米技术等方面。SPIP 三维图像处理软件:多年来,SPIP扫描探针图像处理软件,已成为纳米尺度的图像处理的实质意义的标准。SPIP图像处理软件是一个模块化的软件包,提供一个基本的软件模块和14个可选的用于特定的目的软件附件。是一个资申用户或刚刚学习图像分析的入门新手,使用SPIP图像处理软件,您只需点击几下鼠标即可获得您需要的分析结果。SPIP图像分析软件被用于,包括半导体物理,化学,生物学检验,计量,纳米技术等各种领域。您可从我们客户应用的经历获知更多应用领域。SPIP图形分析软件亦被用于学术研究和论文出版。在SPIP网站您可以看到824篇使用SPIP进行图形分析的论文列表。SPIP软件目前支持多种仪器的96种格式数据文件。包括: 扫描探针显微镜(SPM),原子力显微镜(AFM),扫描隧道显微镜(STM) 扫描电子显微镜(SEM),透射电子显微镜(TEM) 干涉仪 共焦显微镜 三维轮廓仪RoughnessPro——轮廓粗糙度 使用RoughnessPro您可以根据ISO标准来评估个别剖面及剖面集合的轮廓粗糙度。RoughnessPro——三维图像缝合 topoStitch是表面形貌图像缝合的简单及准确的方法。您可以从原子力显微镜(AFM),扫描探针显微镜(SPM),干涉仪(Profilers,),共焦显微镜及其他更多的设备上进行三维图像及表面形貌缝合。
  • 三维石墨烯泡沫(1*1英寸)三维独立石墨烯泡沫
    三维石墨烯泡沫(1*1英寸)三维独立石墨烯泡沫 3D Graphene Foam-3D Freestanding Graphene Foam尺寸:11*1英寸热释放带温度:120 °C
  • 型号1430荧光光谱仪样品杯
    XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯1430# 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号: CAT. NO1430# 品牌:美国Chemplex(原装进口) 货期:现货 起订量:1包以上(100个/包)。 一、美国Chemplex XRF样品杯: 美国Chemplex Industries有限公司 从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE 测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国zhuangli商标局授予知识产权地位。 二、Chemplex 样品杯特点: Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。   三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 1400系列:带有排气和小样品管的单开口32和40mm样品杯; CAT.NO: 外部直径 *大外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1430 : 1.22”(31.0m) / 0.88”(22.4mm) 0.97”(24.6mm) 9mL 1000%'
  • 三维细胞培养支架
    细胞最适宜在3D环境中生长!  南京瑞康健采用精密3D打印技术开发的适宜于细胞三维生长的规则性多孔三维细胞培养支架,具有100%孔隙连通性,比表面积是2D的7倍, 可以在长时间内无需胰酶消化而进行细胞的3D扩增,从而大大提高细胞的质量和培养效率。   三维立胞TM支架的特点  ● 三维立胞TM支架有两种材质可供选择,聚苯乙烯(PS)和聚己内酯(PCL)。其中PS材料即制作培养板的材料,PCL材料为可生物降解聚合物。  ● 100%的孔联通性为细胞生长提供了最佳的营养/代谢物交换途径,和2D相比高达7倍的比表面积可以高效培养大量细胞。  ● 规则的结构,不同批次同一性高,实验结果可重复性好。  ● 无动物源性  ● 三维立胞TM支架不会吸收细胞介素、生长因子、外泌体等,可以直接从培养液中分离出来。  ● 尺寸和形状可以根据客户定制,适配于各种培养器皿的要求。
  • X荧光光谱仪XRF耗材1430#
    XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯1430# 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号: CAT. NO1430# 品牌:美国Chemplex(原装进口) 货期:现货 起订量:1包以上(100个/包)。一、美国Chemplex XRF样品杯: 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点: Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。  三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 1400系列:带有排气和小样品管的单开口32和40mm样品杯; CAT.NO: 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1430 : 1.22”(31.0m) / 0.88”(22.4mm) 0.97”(24.6mm) 9mL 100
  • X荧光光谱仪样品杯1530#
    射线荧光样品器、XRF测试杯、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯1530# 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号:CAT. NO:1530 品牌:美国Chemplex(原装进口) 货期:现货 起订量:1包以上(100个/包)。一、美国Chemplex XRF样品杯: 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点: Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。  三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 1500系列:带有多孔薄膜和咬合附件的双开口32和40mm样品杯; CAT.NO: 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1530 : 1.22”(31.0mm) / 0.91”(23.1mm) 0.94”(23.9mm) 9mL 100
  • X荧光光谱仪样品杯、样品杯2140#
    XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯2140# 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号: CAT. NO:2140 品牌:美国Chemplex(原装进口) 货期:现货 起订量:1包以上(100个/包)。一、美国Chemplex XRF样品杯: 美国Chemplex Industries有限公司 从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE 测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点: Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。  三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 CAT.NO: 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 2140: 1.58” (40.1mm) 1.75” (44.5mm) 1.17” (29.7mm) 1.38” (35.0mm) 19mL 100
  • 3M三维立体双面导电胶带
    3M三维立体双面导电胶带 3M三维立体双面导电胶带9712(3M™ XYZ-Axis Electrically Conductive 9712)3M双面导电胶带9712是压敏导电胶带,各向同性。内部含有3M 导电纤维,保证了双面都有很好的导电和粘结性能,满足了很多微电子行业和电子显微镜领域工作要求。工作耐受温度70°C,短时可忍受121°C。3M双面导电胶带9713相比9712有更佳的性能表现。货号产品描述规格397123M三维立体双面导电胶带9712(3M™ XYZ-Axis Electrically Conductive 9712), 6.35mm (W) x 32.9m (L)ROLL397133M三维立体双面导电胶带9713(3M™ XYZ-Axis Electrically Conductive 9713), 12.7mm (W) x 32.9m (L)ROLL
  • X荧光光谱仪样品杯1850#
    XRF样品杯、X荧光光谱仪样品杯、射线荧光样品器、美国Chemplex样品杯1850# 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号: CAT. NO1850 品牌:美国Chemplex(原装进口) 货期:现货 起订量:1包以上(100个/包)。一、美国Chemplex XRF样品杯: 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点: Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。  三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 1800系列:带有排气装置和排气室的单开口32和40mm样品杯; CAT.NO: 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1850 : 1.69”(42.9mm) 1.87”(47.5mm) 0.77”(19.6mm) 1.41”(35.8mm) 13mL 100
  • 三维微调探头测量工作平台
    三维测量用探头,因具有测量装在活动部的Z向端部的触针和该活动部的坐标的测量构件,该活动部具有由空气轴承构成的能沿Z坐标方向移动的滑动部,能以低测量压力高精度地进行非球面透镜等的复杂曲面的形状测定、表面光洁度、级差方面等形状测定。
  • X射线荧光光谱仪样品杯盒1850#
    XRF样品杯、X荧光光谱仪样品杯、射线荧光样品器、美国Chemplex样品杯1850# 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号:CAT. NO:1850 品牌:美国Chemplex(原装进口) 货期:现货 起订量:1包以上(100个/包)。一、美国Chemplex XRF样品杯: 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点: Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。  三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 CAT.NO: 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1850 : 1.69”(42.9mm) 1.87”(47.5mm) 0.77”(19.6mm) 1.41”(35.8mm) 13mL 100
  • XRF样品杯、X荧光光谱仪样品杯1850#
    XRF样品杯、X荧光光谱仪样品杯、射线荧光样品器、美国Chemplex样品杯1850# 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号:所有型号CAT. NO1850 品牌:美国Chemplex(原装进口) 货期:现货 起订量:1包以上(100个/包)。一、美国Chemplex XRF样品杯: 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点: Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。  三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 1800系列:带有排气装置和排气室的单开口32和40mm样品杯; CAT.NO: 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1850 : 1.69”(42.9mm) 1.87”(47.5mm) 0.77”(19.6mm) 1.41”(35.8mm) 13mL 100
  • 荧光光谱仪样品检测杯(装样品)1530#
    射线荧光样品器、XRF测试杯、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯1530# 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号:CAT. NO:1530 品牌:美国Chemplex(原装进口) 货期:现货 起订量:1包以上(100个/包)。一、美国Chemplex XRF样品杯: 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点: Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。  三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 1500系列:带有多孔薄膜和咬合附件的双开口32和40mm样品杯; CAT.NO: 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1530 : 1.22”(31.0mm) / 0.91”(23.1mm) 0.94”(23.9mm) 9mL 100
  • 荧光光谱仪样品检测杯(装样品)1850#
    XRF样品杯、X荧光光谱仪样品杯、射线荧光样品器、美国Chemplex样品杯1850# 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号: CAT. NO1850 品牌:美国Chemplex(原装进口) 货期:现货 起订量:1包以上(100个/包)。一、美国Chemplex XRF样品杯: 美国Chemplex Industries有限公司 从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE 测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点: Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。  三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 1800系列:带有排气装置和排气室的单开口32和40mm样品杯; CAT.NO: 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1850 : 1.69”(42.9mm) 1.87”(47.5mm) 0.77”(19.6mm) 1.41”(35.8mm) 13mL 100
  • 31.0mmX荧光光谱仪XRF样品杯
    射线荧光样品器、XRF测试杯、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯1530# 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号:CAT. NO:1530 品牌:美国Chemplex(原装进口) 货期:现货 起订量:1包以上(100个/包)。一、美国Chemplex XRF样品杯: 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点: Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。  三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 1500系列:带有多孔薄膜和咬合附件的双开口32和40mm样品杯; CAT.NO: 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1530 : 1.22”(31.0mm) / 0.91”(23.1mm) 0.94”(23.9mm) 9mL 100
  • XRF测试杯、X荧光光谱仪样品杯1530#
    射线荧光样品器、XRF测试杯、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯1530# 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号:所有型号CAT. NO1530 品牌:美国Chemplex(原装进口) 货期:现货 起订量:1包以上(100个/包)。一、美国Chemplex XRF样品杯: 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点: Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。  三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 1500系列:带有多孔薄膜和咬合附件的双开口32和40mm样品杯; CAT.NO: 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1530 : 1.22”(31.0mm) / 0.91”(23.1mm) 0.94”(23.9mm) 9mL 100
  • 样品膜、X荧光光谱仪样品膜-477#
    XRF样品膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪样品膜、Polypropylene聚丙烯-477#现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。品名:XRF样品膜Sample Film型号: CAT. NO:477#产品信息:Polypropylene聚丙烯,厚度12.0 μm,直径63.5mm,1000片/盒 品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。美国Chemplex Industries有限公司 从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE 测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性 ,与样品杯组合使用,适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。四、XRF样品膜目录:目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度(直径) 数量/盒 Pre-Cut Circles预裁好的圆片,直径63.5mm:477 Polypropylene聚丙烯 12.0 μ 0.00050” 0.50 mil 0.0127mm 直径63.5mm 1000片
  • R3-50三维超声风速风向传感器
    英国GILL的R3-50™ 三维超声波风速风向仪被设计为科学研究应用,尤其适用于涡动相关法的通量研究。 R3-50™ 超声波风速风向仪精密监测0-45m/s范围的风速,带有50Hz快速数据输出率、UVW矢量输出和声温输出。R3-50是一款性价比非常好的超声风速风向仪,在所有的气象应用领域,Gill公司的经验已经得到了广泛的证明。传感器非常容易并且耐用。特点研究型三维超声波风速风向仪50Hz输出率0-45m/s风速0-359o风向U, V, W矢量输出声温输出铝合金/碳纤维结构定制校准为标准配置技术参数:风速测量范围0~45米/秒测量精度±1%RMS分辨率0.01米/秒风向测量范围0~359度测量精度±1度分辨率1度声速测量范围300~370米/秒测量精度±0.5%@20℃分辨率0.01米/秒测量超声波输出频率50 Hz参数U,V,W,声速数字输出通信RS422全双工,8个数据位,1个停止位,无奇偶波特率2400~115200输出频率0.4~50Hz模拟输出(另选,需要PCIA单元)数量7(U、V、W、SOS、PRT、2个模拟输入),需PCIA单元刻度±10, ±20, ±30, ±60 m/s更新频率0.4~50Hz范围和分辨率±2.5V分辨率14位精度0.1%FSR模拟输入(另选,需要SIU单元)数量6差分输入采样频率50Hz范围±5V分辨率14位精度0.1%FSR电源要求风速风向仪9~30VDC (或300mA @ 12 VDC)材料材料铝合金/碳纤维尺寸750mm x 240mm重量1.0 kg环境防护等级IP65工作温度-40°C 至 +60°C降水最大 300mm/小时EMCBS EN 50081-1: 1992 (辐射)BS EN 50082-1: 1997 (免疫)产地:英国
  • 射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯--3120#
    XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯--3120# 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号: CAT. NO:3120 品牌:美国Chemplex(原装进口) 货期:现货 起订量:1包以上(100个/包)。一、美国Chemplex XRF样品杯: 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点: Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。  三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 CAT.NO: 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 3120 : 1.20”(30.5mm) / 0.91”(23.1mm ) / 5.5mL 100
  • 射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯--3115#
    XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯--3115# 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号: CAT. NO:3115 品牌:美国Chemplex(原装进口) 货期:现货 起订量:1包以上(100个/包)。一、美国Chemplex XRF样品杯: 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点: Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。  三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 CAT.NO: 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 3115 : 1.20”(30.5mm) / 0.99”(25.1mm) / 1.0mL 100
  • 射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯--1330#
    XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯--1330# 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号: CAT. NO:1330 品牌:美国Chemplex(原装进口) 货期:现货 起订量:1包以上(100个/包)。一、美国Chemplex XRF样品杯: 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点: Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。  三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 1400系列:带有排气和小样品管的单开口32和40mm样品杯; CAT.NO: 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1330 : 1.21”(30.7mm) / 0.90”(22.9mm) 0.97”(24.6mm) 7mL 100
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