扎那米韦标准品

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  • 国标《蜜饯 山楂制品》标准审定通过

    日前,由中焙糖协蜜饯专业委员会组织的国标《蜜饯 山楂制品》标准审定会在北京召开。卫生部卫生监督中心处长谷京宇、国家食品安全风险中心副研究员张俭波、国家食品质量安全监督检验中心主任曹红、中国食品发酵工业研究院主任元晓梅、国标委标准审查部副主任王长林、全国食品标委会副秘书长杨晓明、标准出版社副社长白德美、中国焙烤食品糖制品工业协会理事长朱念琳、副秘书长张九魁等领导到会。  专家组由谷京宇担任组长并主持审定会。会上,专家组对国标《蜜饯 山楂制品》标准逐条进行了认真讨论和审定,并提出了4 条修改意见。到会专家一致认为国标《蜜饯 山楂制品》标准属于产品质量标准,会后,由起草组将标准文本按要求修改后形成报批稿上报。专家组认为,起草工作组在制标过程中广泛收集了国内相关标准资料,深入调查研究了蜜饯行业山楂制品现状的基本情况,在广泛调研和验证基础上全面考虑、结合实际,多渠道听取各方面意见,起草工作细致严谨,基础工作扎实,提供的资料完整,制标依据充分,符合制标程序,文本编写规范,符合制标条件,该标准通过审定符合条件可以上报。  同时,参加会议的还有国标《蜜饯 山楂制品》标准起草小组成员国家蔬菜质量监督技术中心主任许军、来自河北怡达食品集团有限公司的王树林、来自北京御食园食品股份有限公司的董立军、天喔(福建)食品有限公司厂长周志民、来自北京康贝尔食品有限公司的孙玉平、中国焙烤食品糖制品工业协会副秘书长赵燕萍、张斌等。

  • 【原创】国际标准化组织发布纳米毒性风险测定相关标准

    日前,国际标准化组织(ISO)发布新标准ISO 10808:2010,以帮助重点工业企业评估纳米产品可能的风险。 食品、化妆品、IT 及医药行业中纳米技术的快速发展引起了研究人员、制造商、监管机构及消费者的关注,他们关注重点是纳米技术对环境及纳米产品对操作工人的潜在影响。纳米技术的潜力巨大,但作为一个相对较新的技术,科学家们对纳米粒子还不是特别了解。ISO 组织表示新标准旨在增进对纳米粒子的了解,尤其是有助于支持纳米粒子吸入毒性测试。 新发布的ISO 10808:2010 标准全称为《纳米技术-纳米粒子在吸入暴露室中进行吸入毒性测试的特征标准》。该标准有助于确保用于测定空气传播纳米粒子吸入毒性的分析结果的可靠性及协调性。

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  • 【标准解读】扫描电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布
    纳米颗粒因尺度效应而具有传统大颗粒所不具备的独特性能,被广泛应用于生物医药、化工、日用品、润滑产品、新能源等领域。而纳米颗粒的粒度形状分布,直接关系到相应产品的性能质量及安全性,需要进行准确的测量表征。扫描电子显微镜(SEM)作为最直观、准确的显微测量仪器之一,在纳米颗粒测量表征中不可或缺。本标准等同采用ISO 19749:2021《Nanotechnologies — Measurements of particle size and shape distributions by scanning electron microscopy》,从很大程度上完善和补充国内现有标准的不足,给出较为完整的颗粒粒径测量的分析评价方法,对于采用不同扫描电子显微镜(SEM)得到的颗粒测量结果一致性评判,具有重要的参考价值。视具体需求以及仪器性能而定,本标准中涉及到的方法,也适用于更大尺寸的颗粒测量。一、背景纳米颗粒形态多种多样,很多情况下也会存在聚集、团聚的现象,这为SEM的观测与分析带来了较大的挑战。由于不同设备、不同人员的操作习惯以及采用不同分析策略所引起的粒度粒形测量结果的一致性问题也十分值得探讨。现行的相关国家标准大多关注采用SEM手段对特定被测对象的特征进行测量、表征、区分、定义等,具有较强的针对性,但缺乏系统性,特别是对设备性能的计量评定、样品处理及制样过程、图像处理的依据、测量结果的准确性与统计性等技术内容并未给出更为充分的、本质的、系统的说明。二、规范性引用文件本标准在制定过程中,在符合等同采用国际标准的要求的基础上,充分参照了现行相关国家标准中的相关术语及技术内容的表述,包括计量学、粒度分析、数理统计、微束分析、颗粒表征、纳米科技等各个专业领域;同时,在一些习惯性表达上,也充分征求了行业专家、资深从业者、用户的意见和建议,力求做到专业、通俗、易懂。三、制定过程本标准涉及的专业领域较为广泛,因此集合了国内相关领域的一批权威代表性机构和企业合作完成。牵头单位为中国计量科学研究院,主要参加单位包括国家纳米科学中心、北京市科学技术研究院分析测试研究所(北京理化分析测试中心)、山东省计量科学研究院、卡尔蔡司(上海)管理有限公司、北京海岸鸿蒙标准物质技术有限责任公司、中国检验检疫科学研究院、北京粉体技术协会等。对于标准中的重要技术内容,如SEM性能验证方法、典型样品(宽窄分布颗粒样品)制样方法、比对报告中涉及的颗粒测试及统计方法(算法)等均进行了方法学验证,验证了标准中相关技术操作的可行性。修正了ISO 19749:2021中的一些编辑性错误。四、适用范围本标准适用于各类纳米颗粒及其团聚、聚集体,甚至更大尺寸颗粒的粒度及形状分布测量。前提应将SEM作为一个测量系统进行评定,以确定所用SEM的性能范围,这包括设备自身的扫描分辨力、漂移、洁净度等特性。同时,也取决于观测者所需要的测量准确性。高的测量准确性需要高性能的SEM设备+高精度校准+洁净的样品前处理+匹配的测试参数+足够多的被测颗粒数量+合适的阈值算法,其中每一步都会影响最终的测试结果。因此,根据实际工作中对测试结果准确性、重复性和一致性的需求,可对上述环节进行不同程度的限定。五、主要内容本标准涉及的主要内容覆盖SEM测量颗粒粒度及形状分布的全流程,从一般原理到设备校准,样品制备到测试参数选用,图像采集到数据处理,均给出了较为详细的阐述,并在附录中给出了实用的案例。术语及定义:包括纳米技术的通用术语,图像分析、统计学和计量学专业核心术语、SEM核心术语等。一般原理:概括性地介绍了SEM成像原理及粒度、粒形测量原理。样品制备:较为系统地介绍了典型的粉末及悬浮液从取样、制样到分散的过程,并重点阐述了颗粒在硅基底和TEM栅网上的沉积方法。可根据需求,采用几种不同层次的硅片清洗与处理方法,一方面确保硅片的洁净,另一方面可使其表面带有正电或负电的捕获分子层,以确保颗粒在硅片上的有效分散。必要时采用TEM栅网,可提高颗粒与背底的对比度。考虑样本颗粒数量时,一般而言假设颗粒是对数正态分布的,本标准给出了一个颗粒数与误差和置信区间的计算公式可供参考。SEM设备的评价方法:给出了SEM成像能力的影响因素,包括空间分辨率、漂移、污染、水平垂直范围及线性度、噪声等,具体的验证方法在附件中有较为详细的描述,此外也可依照其他相关的技术规范或标准定期进行校准。图像采集:重点给出了不同粒度测量时放大倍率和像素分辨率的选择策略,取决于实际的测量需求。测量者需要充分考虑要求的误差和放大倍率来计算所需的像素分辨率,当颗粒分布较宽时可能有必要在不同放大倍率下进行拍摄,以兼顾颗粒的测量效率及测量精度。颗粒分析方法:手动分析可能准确率很高,能较好地界定测量区域以及筛选合格的颗粒(例如单分散颗粒体系中去除黏连颗粒),但采用软件自动处理往往更为高效。采用软件处理时,阈值的设定会对颗粒的筛选、粒度的大小产生较为关键的影响,必要的时候可以采用自动处理与手动处理相结合的方式。数据分析:给出了筛选数据可采用的统计学方法(方差分析、成对方差分析、双变量分析等方法)、模型拟合方法的参考,重点讲解了不确定度的来源与计算。结合60 nm颗粒测量结果,阐述了典型的不确定度来源。在上述基础上,给出了测量报告的信息及内容。本文作者: 黄鹭 副研究员; 中国计量科学研究院 前沿计量科学中心 Email:huangl@nim.ac.cn常怀秋 高级工程师; 国家纳米科学中心 技术发展部 Email:changhq@nanoctr.cn
  • 宁德时代与德方纳米合资公司发生爆炸 主营纳米粉体
    1月20日,据媒体报道,云南一工厂尾气罐发生爆炸。据一位接近德方纳米人士向媒体透露,发生爆炸公司已确定系德方纳米控股子公司曲靖市麟铁科技有限公司,其余情况目前还在核实中。  据了解,曲靖市麟铁科技有限公司成立于2018年,公司股东为宁德时代与德方纳米合资设立,双方分别持股40%和60%,认缴出资额分别为4000万元和6000万元。公司主营纳米粉体材料试剂、纳米粉体标准样品、纳米材料产品(均不含限制项目)的研发、销售 纳米磷酸铁锂(不含危险化学品)生产、销售 纳米材料产品及技术进出口 货物进出口业务(国家禁止或涉及行政审批的货物除外) 矿产品销售。
  • 一维无机纳米材料构建爆炸物传感器的理想纳米单元
    p  2月17日,Wiley集团出版社所属的材料类期刊Advanced Functional Materials 在线发表了由中国科学院新疆理化技术研究所微传感实验室研究员窦新存团队独立撰写的题为Emerging and Future Possible Strategies for Enhancing 1D Inorganic Nanomaterials-Based Electrical Sensors towards Explosives Vapors Detection 的综述文章。/pp  爆炸物检测作为反恐防爆的重要措施正日益彰显出广阔的应用前景。爆炸物蒸气检测技术具有非接触、采样简单、可靠性高、性能优异、多功能集成、可以批量生产等优点,使爆炸物探测器实现小型化、低成本和高精度成为可能。一维无机纳米材料具有大的比表面积、量子限域效应、高的反应活性、突出的电学、光学与化学性质及各向异性等优点,并且其结构、性质调整可控。因此,一维无机纳米材料是构建爆炸物传感器的理想纳米单元。然而爆炸物检测领域面临着诸多挑战,例如生产工艺成本高、能耗大,材料组装和排布形成器件难度大,器件稳定性、重复性差等,灵敏度不够高,难以识别种类繁多的爆炸物等。/pp  新疆理化所科研人员首先全面系统地总结和评述了2010年以来发表的基于一维无机纳米材料的爆炸物蒸气检测工作,并根据在增强电学传感器性能过程中使用的不同策略,将这些工作分为有序排布的阵列、表面修饰、光电增强、柔性设计、肖特基结以及传感器阵列构建几个方面。科研人员还提出了可应用在增强爆炸物检测的电学传感器性能上的策略和方法,包括垂直的阵列结构、一步构建的有序结构、“锁钥”设计、自驱动传感以及可转移和穿戴的传感器设计等。该综述文章通过总结典型的基于电学传感器的爆炸物蒸气检测工作,提炼出了先进可行的实验方法,并且在面对实验室工作与实际检测之间的差距时,提出了一些解决现有问题的可行性方案,同时提出了非制式爆炸物检测被忽视的问题,为未来基于电学传感器的爆炸物检测工作提供了新的研究思路和理论依据。/pp  该实验室自2012年以来,长期从事微传感方面的研究,尤其致力于开拓爆炸物检测的新理论、新方法、新材料方面,取得了一系列重要成果,截至目前,已在Advanced Functional Materials, Advanced Optical Materials, Small, Nanoscale,Journal of Materials Chemistry,Journal of Physical Chemistry C 等国际期刊上发表10余篇学术论文,提出了肖特基结构建、过渡金属掺杂、缺陷态控制、晶面调控、光电催化检测等用于爆炸物检测的新思路。此次发表的专题综述文章同时对微传感实验室在该方面的科研成果进行了总结,例如利用插层调控肖特基结的势垒高度和吸附能来增强硅纳米线阵列/石墨烯的检测性能(Adv. Funct. Mater. 2015, 25, 4039),引入光照增强气敏检测的性能(Nanoscale 2013, 5, 10693)。/pp  该工作得到国家自然科学基金、中科院“百人计划”、创新基金等项目的资助。/ppbr//p

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  • 标准显微物镜标准显微物镜的工作距离: 195消色差显微物镜相关参数: 参数单位消色差显微物镜型号X4 X10 X20 X40 X60 X100 放大倍率4 10 20(S) 40(S) 60(S) 100(S)(OIL) 数值孔径(N.A) 0.1 0.25 0.4 0.65 0.85 1.25 工作距离(W.D.) mm 37.5 2.043 2.0 0.6 0.185 0.195 共轭距离mm 195 195 195 195 195 195 齐焦距离mm 45 45 45 45 45 45 盖玻片厚度mm 0.17 0.17 0.17 0.17 0.17 0.17 注1:标准显微物镜的螺纹为4/5英寸注2:S--弹簧物镜 OIL--油浸物镜
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  • 纳米压印标准模板 400-860-5168转0250
    在科研中,很多用户需要用到光栅或点阵这些周期性的结构。有时用户不需要研究微纳米加工工艺,这样如果能花费低廉的价格买到这些成品将十分方便,只要接着从事后续的工作就可以了;有的用户自已拥有微纳米加工设备及经验,但纳米量级的尺寸要采用电子束曝光的方法来进行光刻,若有效面积超过1平方厘米,占机时间会很长,并需要调整电子束光刻及干法刻蚀工艺来优化成品。 鉴于此,我们向用户提供光栅及点阵的纳米结构成品。衬底材料为硅单晶,可广泛应用于各类科学研究。 产品类型: 标准模板一 ○ 光栅纳米结构模板 (线条+间距)○ 二维纳米模板(矩形或六边形)标准模板二 ○ 光栅结构○ 柱状点阵模板○ 孔阵模板2x2cm2模板四英寸模板六英寸模板标准模板一 我们可提供纳米级微结构,衬底材料为硅单晶,广泛应用于科学研究。批量生产,质量有保证,且性价比高。 产品精度: 线宽/深度:±15%周期精度:优于0.5%衬底宽度和高度误差:± 0.2 mm衬底厚度:0.675 ± 0.050 mm 具体规格如下表所示: 光栅纳米结构模板 (线条+间距) Linear Nanostamps (line+space) 序号周期沟槽深度占空比 ①线宽 ②样片尺寸③1139 nm50 nm50%69.5 nm12.5×12.5×0.7 mm2139 nm50 nm50%69.5 nm25×25×0.7 mm ⑤3278 nm④110 nm50%139 nm12.5×12.5×0.7 mm4416.6 nm110 nm50%208 nm12.5×12.5×0.7 mm5500 nmmultiple ⑥44%220 nm8×8.3×0.7 mm6500 nmmultiple ⑥60%300 nm8×8.3×0.7 mm7555.5 nm110 nm50%278 nm20×9×0.7 mm8555.5 nm140 nm50%278 nm20×9×0.7 mm9555.5 nm110 nm29%158 nm20×9×0.7 mm10555.5 nm140 nm29%158 nm20×9×0.7 mm11600 nmmultiple ⑥43%260 nm8×8.3×0.7 mm12600 nmmultiple ⑥55%330 nm8×8.3×0.7 mm13606 nm190 nm50%303 nm29×12×0.7 mm14606 nm④190 nm50%303 nm29×12×0.7 mm15606 nm190 nm50%303 nm29×24.2×0.7 mm ⑤16675 nm170 nm32%218 nm24×10×0.7 mm17675 nm170 nm32%218 nm24×30.4×0.7 mm ⑤18700 nmmultiple ⑥47%330 nm8×8.3×0.7 mm19700 nmmultiple ⑥55%375 nm8×8.3×0.7 mm20833.3 nm200 nm50%416 nm12.5×12.5×0.7 mm21833.3 nm200 nm50%416 nm25×25×0.7 mm ⑤ ①占空比表示线宽和周期的比率。③第二个尺寸相当于沟槽的长度。④scientific" grade offered at a discount. It has at least 80% of usable area. Up to 80/100 scratch/dig/particles and irregular substrate shape may present.⑤可定做更大尺寸⑥深度可做成150, 250 和 350 nm。 二维纳米模板(矩形或六边形)2D nanostamps (rectangular and hexagonal lattice) 序号周期晶格类型沟槽深度特征宽度衬底尺寸1500 nmrect postmultiple ①135 nm8×8.3×0.7 mm2500 nmrect postmultiple ①210 nm8×8.3×0.7mm3600 nmrect postmultiple ①195 nm8×8.3×0.7mm4600 nmrect postmultiple ①275 nm8×8.3×0.7mm5700 nmrect postmultiple ①260 nm8×8.3×0.7mm6700 nmrect postmultiple ①350 nm8×8.3×0.7mm7500 nmhex postmultiple ①165 nm8×8.3×0.7mm8600 nmhex postmultiple ①165 nm8×8.3×0.7mm9600 nmhex postmultiple ①240 nm8×8.3×0.7mm10700 nmhex postmultiple ①220 nm8×8.3×0.7mm11700 nmhex postmultiple ①290 nm8×8.3×0.7mm12600 nmhex holemultiple ①180 nm8×8.3×0.7mm13700 nmhex holemultiple ①200 nm8×8.3×0.7mm14700 nmhex holemultiple ①290 nm8×8.3×0.7mm ①深度可做成150, 250 和 350 nm rect post:hex post:hex hole:标准模板二 我们可提供纳米级微结构,衬底材料为硅单晶,广泛应用于科学研究。批量生产,质量有保证,且性价比高。产品精度:直径±10%线宽±10%高度/深度±15%产品说明:硅片厚度:0.5mm(特殊情况另标注)模板尺寸:产品规格+/-0.2mm缺陷面积:1% 具体规格如下表所示: 光栅结构(周期,线宽,高度,有效面积,衬底尺寸) Part NoDescriptionImagePattern 10Line gratingPeriod: 70 nmWidth: 25 nmor 35 nmHeight: 32nmor 40 nmArea: 4x 0.5 x 1.2 mm2Substrate: Si 20 x 20 mm2Pattern 2Line gratingPeriod: 300 nmWidth: 170 nmHeight: 210 nmArea: 30 x 30 mm2Substrate: Si 30 x 30 mm2Pattern 23Line arryPeriod: 150 nmWidth: 75 nmHeight: 116 nmArea:25 x25 mm2Substrate:Si 30 x 30 mm2 柱状点阵模板(周期,柱直径,高度,有效面积,衬底尺寸) Part NoDescriptionImagePattern 1Square pillar arrayPeriod: 300 nmDiameter: 145 nmHeight: 170 nmArea: 14 x 14 mm2Substrate: Si 14 x 14 mm2Pattern 6High-resolution pillar arrayPeriod: 35 nmand 42 nmDiameter: 15 - 20 nmHeight: 25nmArea: each period 25x25 um2Substrate: Si 12.5 x 12.5 mm2Pattern 3Hexagonal pillar arrayPeriod: 600 nmDiameter: 300 nmHeight: 310 nmArea: 20 x 20 mm2Substrate: Si 20 x 20 mm2Pattern 15Hexagonal pillar arrayPeriod: 750 nmDiameter: 325 nmHeight: 260 nmArea: 25 x 25 mm2Substrate: Si 25 x 25 mm2Pattern 7Hexagonal pillar arrayPeriod: 1000 nmDiameter: 400 nmHeight: 280 nmArea: 20 x 20 mm2Substrate: Si 26 x 26 mm2Pattern 17Hexagonal pillar arrayPeriod: 1010 nmDiameter: 470 nmHeight: 750 nmArea: 25 x 25 mm2Substrate: Si (0.7mm) 25 x 25 mm2Pattern 20Hexagonal pillar arrayPeriod: 3000 nmDiameter: 1800 nmHeight: 1200 nmArea: 20 x 20 mm2Substrate: Si 25 x 25 mm2 孔阵模板(周期,孔直径,高度,有效面积,衬底尺寸) Part NoDescriptionImagePattern 11Square hole arrayPeriod: 90 nmDiameter: 45 nmHeight: 50 nmArea: 4x 0.6 x 0.6 mm2Chip size: 15 x 15 mm2Pattern 13Square hole arrayPeriod: 300 nmDiameter: 150 nmHeight: 300 nmArea: 4 x 4 mm2Chip size: 15 x 15 mm2Substrate: Quartz (2.3 mm thick)Pattern 24Square hole arrayPeriod: 350 nmDiameter: 225 nmHeight: 300 nmArea: 20 x 20 mm2Substrate: Si 20 x 20 mm2Pattern 4Hexagonal hole arrayPeriod: 600 nmDiameter: 300 nmHeight: 50 nm, 450 nmArea: 20 x 20 mm2Substrate: Si 20 x 20 mm2Pattern 5Hexagonal hole arrayPeriod: 600 nmDiameter: 400 nmHeight: 680 nmArea: 20 x 20 mm2Substrate: Si 20 x 20 mm2Pattern 14Hole array on Rhombic latticePeriod:* x=610nm, y=425nmDiameter: 150 nmHeight: 300 nmArea: 20 x 20 mm2Chip size: Si 24 x 24 mm2* center-to-center distance in x and yPattern 16Hexagonal hole arrayPeriod: 750 nmDiameter: 380 nmHeight: 420 nmArea: 25 x 25 mm2Substrate: Si 25 x 25 mm2Pattern 18Hexagonal hole arrayPeriod: 1010 nmDiameter: 490 nmHeight: 470 nmArea: 25 x 25 mm2Substrate: Si (1mm) 25 x 25 mm2Pattern 19Hexagonal hole arrayPeriod: 1500 nmDiameter: 780 nmHeight: 550 nmArea: 25 x 25 mm2Substrate: Si (1mm) 25 x 25 mm2Pattern 21Hexagonal hole arrayPeriod: 3000 nmDiameter: 1500 nmHeight: 850 nmArea: 20 x 20 mm2Substrate: Si 25 x 25 mm2Pattern 22Hexagonal hole arrayPeriod: 3000 nmDiameter: 1200 nmHeight: 1500 nmArea: 20 x 20 mm2Substrate: Si 25 x 25 mm22x2cm2标准纳米压印模板 我们提供电子束光刻方法制备的硅模板,衬底尺寸为20x20mm2。图形分辨率高,有效区域为5x5mm2。批量生产,质量有保证,且性价比高。产品精度: 标准高度:100nm直径: ±10%线宽: ±10%缺陷面积: 1% 具体规格如下表所示: 孔阵(矩形孔阵) 序号ProductPeriodAreaDiameter / Height1P100s_h_5w5100nm5x5mm250nm/ 100nm2P150s_h_5w5150nm5x5mm260nm/ 100nm3P200s_h_5w5200nm5x5mm270nm/ 100nm 孔阵(六边形孔阵) 序号ProductPeriodAreaDiameter / Height1P200h_h_5w5200nm5x5mm280nm/ 100nm2P300h_h_5w5300nm5x5mm2125nm/ 100nm3P400h_h_5w5400nm5x5mm2150nm/ 100nm 柱状点阵(矩形柱状点阵) 序号ProductPeriodAreaDiameter / Height1P100s_p_5w5100nm5x5mm250nm/ 100nm2P150s_p_5w5150nm5x5mm260nm/ 100nm3P200s_p_5w5200nm5x5mm280nm/ 100nm 柱状点阵(六边形柱状点阵) 序号ProductPeriodAreaDiameter / Height1P200h_p_5w5200nm5x5mm270nm/ 100nm2P300h_p_5w5300nm5x5mm2110nm/ 100nm3P400h_p_5w5400nm5x5mm2120nm/ 100nm 大面积四英寸模板我们提供四英寸硅或石英模板,可用于压印工艺。批量生产制作,质量有保证且性价比高。 产品精度: 高度/深度:±15%直径:±10%线宽:±10%缺陷面积:1% 具体规格如下表所示: Holes on Hexagonal Lattice(六边形孔阵) Part NoProductPeriodDiameterAreaMax. Etch depth (Si/Quartz)Image1P520h_h_20w20520 nm260nm20x20 mm2450 nm/200 nm2P600h_h_46w46600 nm300nm46x46 mm2450 nm/200 nm3P600h_h_100d600 nm300nm4-inch450 nm/200 nm4P750h_h_51w51750 nm350nm51x51 mm2450 nm/200 nm5P780h_h_20w20780 nm350nm20x20 mm2450 nm/200 nm6P1000h_h_20w201000 nm400nm20x20 mm2600 nm/300 nm7P1000h_h_51w511000 nm300nm~500nm51x51 mm2600 nm/300 nm8P1500h_h_20w201500 nm400nm~650nm20x20 mm2600 nm/300 nm9P1500h_h_51w511500 nm400nm~650nm51x51 mm2600 nm/300 nm10P3000h_h_100d3000 nm600nm~1400nm4-inch1000 nm/400 nm Holes on Square Lattice(矩形孔阵) Part NoProductPeriodDiameterAreaMax. Etch depth (Si/Quartz)Image11P350s_h_20w20350 nm250nm20x20 mm2300 nm/150 nm12P350s_h_100d350 nm250nm100dia300 nm/150 nm Pillars on Hexagonal Lattice(六边形柱状) Part NoProductPeriodDiameterAreaMax. Etch depth (Si/Quartz)Image13P600h_p_46w46600 nm300nm46x46 mm2450 nm/200 nm14P600h_p_100d600 nm300nm4-inch450 nm/200 nm15P750h_p_51w51750 nm350nm51x51 mm2450 nm/200 nm16P780h_p_20w20780 nm350nm20x20 mm2450 nm/200 nm17P1000h_p_20w201000 nm400nm20x20 mm2600 nm/300 nm18P1000h_p_51w511000 nm300nm~500nm51x51 mm2600 nm/300 nm19P1500h_p_20w201500 nm400nm~650nm20x20 mm2600 nm/300 nm20P1500h_p_51w511500 nm400nm~650nm51x51 mm2600 nm/300 nm21P3000h_p_100d3000 nm600nm~1400nm4-inch1000 nm/400 nm Pillars on Square Lattice(矩形柱状点阵) Part NoProductPeriodDiameterAreaMax. Etch depth (Si/Quartz)Image22P150s_p_30w30150 nm75nm30x30 mm275 nm/ —23P250s_p_30w30250 nm110nm30x30 mm2200 nm/100 nm24P300s_p_30w30300 nm130nm30x30 mm2200 nm/100 nm25P400s_p_30w31400nm250nm30x30 mm3200 nm/100 nm26P500s_p_30w30500 nm250nm30x30 mm2450 nm/200 nm Linear Gratings(光栅结构) Part NoProductPeriodWidthAreaMax. Etch depth (Si/Quartz)Image27P150L_p_30w30150nm70nm30x30 mm275 nm/ —28P250L_p_30w30250nm110nm30x30 mm2200 nm/100 nm29P300L_p_30w30300nm130nm30x30 mm2200 nm/100 nm30P400L_p_30w30400nm200nm30x30 mm2200 nm/100 nm31P500L_p_30w30500nm250nm30x30 mm2450 nm/200 nm Multi-pattern(复合结构) Part NoProductDescriptionDiameterPeriodAreaMax. Etch depth (Si/Quartz)32MHSL_400-800Linear, hexagonal, square array combination,Periods: 400-800nmpitch dependentho, les/lineseach period,7.5mm x 7.5mm400 nm/150 nm33MP250L300Multi-period linear grating combination 1, Periods: 250nm, 275nm, 300nmLinewidth(+/15nm): 90/250 100/275 120/300lineseach period,7mm x 7mm200 nm/100 nm34MP300L600Multi-period linear grating combination 2,Periods: 300nm, 400nm, 500nm, 600nmLinewidth(+/15nm): 90/250 100/275 120/300lineseach period,10mm x 10mm300 nm/150 nm
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  • 名称:微粒计数仪尺寸标准品型号:3K/4K系列 单标粒关键词:标准粒子2000 标准乳胶球粒子 、微粒计数仪尺寸标准品、乳胶球标准品、颗粒固体粉末标准物、微粒计数仪校准物产品说明:供应标准粒子2000 标准乳胶球粒子 是单分散聚苯乙烯微球的悬浮液,主要用于空气传播或液体微粒计数系统的校准。它们的直径通过行业标准与技术协会(NIST)可溯源至标准尺度。这类微粒的成品是低残留的水悬浮溶液,具有很低的背景干扰。同时这类产品已被确认稀释,只需耗时很少的浓度微调,即可直接应用于激光微粒计数仪。 特点:适用于空气传播或液体微粒分散体系的单分散聚苯乙烯微球悬浮液。微粒直径经过 National Institute of Standards and Technology(美国国家标准技术研究院,NIST)标准仪表溯源测量。准确校准洁净室和其他污染监测应用中使用的激光微粒计数仪或检查这些计数仪的性能。这类微粒的成品是低残留的水悬浮溶液,具有很低的背景干扰。技术参数成分:聚苯乙烯密度:1.05g/cm3折射指数:1.59@589nm(25°C)添加剂:含微量表面活性剂 目前所包括的产品系列为:2000系列标准粒子3000系列标准粒子4000系列标准粒子3K系列标准粒子(计数控制应用)4K系列标准粒子(计数控制应用)8000系列标准粒子9000系列标准粒子Dri-Cal系列标准粒子Surf-Cal系列标准粒子Pharm-Trol系列标准粒子(计数控制应用)Validex系列标准粒子(计数控制应用)Count-Cal系列标准粒子(计数控制应用)Ezy-Cal系列标准粒子(计数控制应用)流式细胞仪微粒染色和荧光微球临床诊断与应用微粒0.1μm 15mL 10九次方 3K-1000.15μm 15mL 10九次方 3K-1500.2μm 15mL 10九次方 3K-2000.22μm 15mL 10九次方 3K-2200.27μm 15mL 10九次方 3K-2690.3μm 15mL 10九次方 3K-3000.35μm 15mL 10九次方 3K-3500.4μm 15mL 10九次方 3K-4000.5μm 15mL 10九次方 3K-5000.6μm 15mL 10九次方 3K-6000.7μm 15mL 10九次方 3K-7000.8μm 15mL 10九次方 3K-8000.9μm 15mL 10九次方 3K-9001.0μm 15mL 10九次方 3K-9901.0μm 15mL 10九次方 3K10001.6μm 15mL 10九次方 3K16002.0μm 15mL 5x10八次方 4K-023.0μm 15mL 5x10七次方 4K-034.0μm 15mL 5x10七次方 4K-045.0μm 15mL 10七次方 4K-056.0μm 15mL 10七次方 4K-067.0μm 15mL 10七次方 4K-0710μm 15mL 10六次方 4K-1015μm 15mL 10六次方 4K-1520μm 15mL 3x10五次方 4K-2025μm 15mL 3x10五次方 4K-2530μm 15mL 3x10五次方 4K-3040μm 15mL 8x10四次方 4K-4050μm 15mL 8x10四次方 4K-5060μm 15mL 8x10四次方 4K-6070μm 15mL 8x10四次方 4K-7080μm 15mL 8x10四次方 4K-80100μm 15mL 8x10四次方 4K100具体详情请电询普洛帝中国服务中心! 普洛帝、Puluody、普勒、Pull为PLDMC公司注册的商标! 有关技术阐述、参数、服务为普洛帝拥有,普洛帝保留对经销商、用户的知情权!
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扎那米韦标准品相关的耗材

  • 纳米级微球颗粒标准品
    纳米级微球颗粒标准品(Particle-Size Standards)直径大小高度均一,具有NBS 的NIST认证,属于Duke Scientific公司荣誉出品Nanosphere Size Standards?系列产品中的聚合体微球标准品(苯乙烯单体聚合而成)。纳米级微球颗粒标准品应用广泛,电子显微镜领域、气液相微粒研究、色谱柱、激光散射研究等等,20-1000nm范围内的微球颗粒可以用来测量细菌、病毒、核糖体和细胞亚显微结构的大小。该产品以水溶液瓶装形式出售。聚合体密度为1.05g/ml;Refractive index of 1.58 @ 589 nm (25°C)。订购信息:货号正常直径Certified Mean Dia.Size UniformityStd. Dev.&C.V固体百分比7088120nm19nm+/-1.5nmNA1%7088350nm50nm+/-2.0nmNA1%70885100nm102nm+/-3.0nm7.6nm (7.5%)1%70886200nm204nm+/-3.1nm3.1nm (1.5%)1%70887300nm304nm+/-6.0nm4.5nm (1.5%)1%70888400nm404nm+/-4.0nm5.9nm (1.5%)1%70889500nm486nm+/-5.0nm5.4nm (1.1%)1%70890600nm600nm+/-5.0nm6.6nm (1.1%)1%70891700nm701nm+/-6.0nm9.0nm (1.3%)1%70892800nm802nm+/-6.0nm9.6nm (1.2%)1%70893900nm895nm+/-8.0nm9.1nm (1.0%)1%下面推荐的是最高级别测量标准品,对直径1-40um的颗粒来说,以下产品极具竞争力。订购信息:货号Nominal diameterCertifiedMean Dia.Size UniformityStd. Dev.&C.V.SolidsContent708941.0μm0.993+/-0.0210.010μm (1.0%)1.0%708952.0μm2.013+/-0.0250.022μm (1.1%)0.5%708963.0μm3.063+/-0.0270.03μm (1.0%)0.5%708975.0μm4.991+/-0.0350.06μm (1.2%0.3%7089810.0μm9.975+/-0.0610.09μm (0.09%)0.2%
  • 微球颗粒标准品
    纳米级微球颗粒标准品(Particle-Size Standards)直径大小高度均一,具有NBS 的NIST认证,属于Duke Scientific公司荣誉出品Nanosphere Size Standards?系列产品中的聚合体微球标准品(苯乙烯单体聚合而成)。纳米级微球颗粒标准品应用广泛,电子显微镜领域、气液相微粒研究、色谱柱、激光散射研究等等,20-1000nm范围内的微球颗粒可以用来测量细菌、病毒、核糖体和细胞亚显微结构的大小。该产品以水溶液瓶装形式出售。聚合体密度为1.05g/ml;RI1.59@589nm。订购信息:货号正常直径Certified Mean Dia.Size UniformityStd. Dev.&C.V固体百分比7088120nm19nm+/-1.5nmNA1%7088350nm50nm+/-2.0nmNA1%70885100nm102nm+/-3.0nm7.6nm (7.5%)1%70886200nm204nm+/-3.1nm3.1nm (1.5%)1%70887300nm304nm+/-6.0nm4.5nm (1.5%)1%70888400nm404nm+/-4.0nm5.9nm (1.5%)1%70889500nm486nm+/-5.0nm5.4nm (1.1%)1%70890600nm600nm+/-5.0nm6.6nm (1.1%)1%70891700nm701nm+/-6.0nm9.0nm (1.3%)1%70892800nm802nm+/-6.0nm9.6nm (1.2%)1%70893900nm895nm+/-8.0nm9.1nm (1.0%)1%下面推荐的是最高级别测量标准品,对直径1-40um的颗粒来说,以下产品极具竞争力。订购信息:货号Nominal diameterCertifiedMean Dia.Size UniformityStd. Dev.&C.V.SolidsContent708941.0μm0.993+/-0.0210.010μm (1.0%)1.0%708952.0μm2.013+/-0.0250.022μm (1.1%)0.5%708963.0μm3.063+/-0.0270.03μm (1.0%)0.5%708975.0μm4.991+/-0.0350.06μm (1.2%0.3%7089810.0μm9.975+/-0.0610.09μm (0.09%)0.2%
  • Dr.E标准品 纳鸥科技
    Dr. E作为LGC旗下食品、环境等标准品的全球领先制造商,可提供超过8,000种的化学标准品,通常有超过12,000个不同品种及包装的产品库存。Dr.E所有产品均在其通过了ISO9001认证、ISO/IEC 17025以及ISO Guide 34认证的工厂中生产,并严格按标准品的生产程序生产、检测和包装,以保证产品质量的稳定。证书可溯源,且大部分包含分析方法和谱图。Dr. E产品主要包括:农药、农药代谢物、兽药、PAH(多环芳烃)、PCB( 多氯联苯)、挥发和半挥发有机物、EPA标准溶液、偶氮染料代谢物、有机锡、邻苯二甲酸酯等8000多种标准品。? 农药标准品:包装合适,100mg-250mg,1500多种农药、农药代谢物、农药同位素所标记产品;? 兽药标准品:硝基呋喃类、磺胺类、青霉素类、氯霉素类、激素等标准品;? 食品检测标准品:色素、防腐剂、抗氧化剂、脂肪酸等标准品;? 工业品分析标准品:偶氮染料代谢物、有机锡、邻苯二甲酸酯等标准品;? 环境检测标准品:PAH、挥发和半挥发有机物、PCB、PBDE等。此外,Dr. E根据国标GB,行标HJ、NY等一系列标准方法,在南京工厂量身定制了相应的单、混液标,品种丰富,满足多种实验需求。其严格保持德国DR.E工厂质量体系生产,质检报告内容详尽,含溯源性声明和不确定度,减少您配置标液的烦恼。纳鸥科技致力于为客户提供高品质实验室消耗品和常用实验室仪器,并可提供贴合客户需求的行业解决方案,让您的实验更简单、更高效。纳鸥科技代理的所有Dr.E标准品和液标,我们将以最优质的渠道、最优惠的价格为您提供最优质的服务!点击图片,1.2万+标准品快速查询关于纳鸥科技与Dr.E上海泰坦科技股份有限公司作为LGC旗下Dr. Ehrenstorfer(简称Dr.E)品牌产品中国大陆地区的总代理,于2021年6月1日正式授权北京纳鸥科技有限公司(简称:纳鸥科技)为Dr.Ehrenstorfer品牌产品的分销商和区域授权代理商。在此授权项下,纳鸥科技可非排他性分销Dr.E品牌标准品,并以纳鸥科技之名义与LGC及终端用户开展业务。

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