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椭偏薄膜分析仪

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椭偏薄膜分析仪相关的资讯

  • 一文了解椭偏仪的前世今生
    椭偏仪概述椭偏仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量设备。由于并不与样品接触,对样品没有破坏且不需要真空,使得椭偏仪成为一种极具吸引力的测量设备。椭偏仪可测的材料包括:半导体、电介质、聚合物、有机物、金属、多层膜物质。椭偏仪涉及领域有:半导体、通讯、数据存储、光学镀膜、平板显示器、科研、生物、医药等。椭偏法测量优点(1)能测量很薄的膜(1nm),且精度很高,比干涉法高1~2个数量级。(2)是一种无损测量,不必特别制备样品,也不损坏样品,比其他精密方法如称重法、定量化学分析法简便。(3)可同时测量膜的厚度、折射率以及吸收率。因此可以作为分析工具使用。(4)对一些表面结构、表面过程和表面反应相当敏感,是研究表面物理的一种方法。在半导体制造领域,为了监测硅片表面薄膜生长/蚀刻的工艺,需要对其尺寸进行量测。一般量测的对象分为两种:3D结构与1D结构。3D结构是最接近于真实Device的结构,其量测出来的结果与电性关联度最大。3D结构量测的精度一般是纳米级别的。1D结构就是几层,几十层甚至上百层薄膜的堆叠,主要是用来给研发前期调整工艺稳定性保驾护航的,其测量精度一般是埃数量级的。就逻辑芯片来说,最重要的量测对象是HKMG这些站点各层薄膜的量测。因为这些站点每层薄膜的厚度往往只有几个到十几个埃,而process window更极限,往往只有1-1.5个埃,也就是说对工艺要求极高。而这些金属层又跟电性关联度很大,所以每一家fab都对这些站点的量测非常重视。如何验证这些精度呢?在fab里,一般会撒一组DOE wafer: Baseline wafer,以及Baseline +/-几埃的wafer,然后每片wafer上切中心与边缘的两个点。zai采用TEM或XPS结果作为参考值,与椭偏仪量测结果拉线性,比如R-Square达到0.9以上就算合格。最能精确验证椭偏仪精度的是沉积那些薄膜的机台,比如应用材料等公司的机台,通过调节cycle数可以沉积出不同厚度的薄膜,其名义值往往与椭偏仪的量测值有极其高的线性(比如R-Square在0.95以上)。但为啥不用这些机台的名义值作为参考值啊?因为这些机台本身也是以光学椭偏仪量测出来的值来调整自身工艺的,当然需要一个第三方公证,也就是TEM或XPS。光学椭偏仪的原理上世纪七十年代就有了,已经非常成熟。光学椭偏仪的量测并不是像TEM一样直接观察,而是通过收集光信号再通过物理建模(调节材料本身的光学色散参数与薄膜3D结构参数)来反向拟合出来的。真正决定量测精度的是硬件水平,软件算法,以及物理建模调参时的经验。硬件水平决定信号的强弱,也就是信噪比。软件算法决定在物理建模调参时的速度。因为物理建模调参是一个最花费时间的过程: 需要人为判断计算是过拟合还是欠拟合,需要人为判断算出来的3D结构是否符合制程工艺,需要人为判断材料的光学色散参数是否符合物理逻辑。仪器原理椭偏仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量仪器。由于测量精度高,适用于超薄膜,与样品非接触,对样品没有破坏且不需要真空,使得椭偏仪成为一种极具吸引力的测量仪器。椭圆偏光法涉及椭圆偏振光在材料表面的反射。为表征反射光的特性,可分成两个分量:P和S偏振态,P分量是指平行于入射面的线性偏振光,S分量是指垂直于入射面的线性偏振光。菲涅耳反射系数r描述了在一个界面入射光线的反射。P和S偏振态分量各自的菲涅耳反射系数r是各自的反射波振幅与入射波振幅的比值。大多情况下会有多个界面,回到最初入射媒介的光经过了多次反射和透射。总的反射系数Rp和Rs,由每个界面的菲涅耳反射系数决定。Rp和Rs定义为最终的反射波振幅与入射波振幅的比值。椭偏法这种非接触式、非破坏性的薄膜厚度、光学特性检测技术测量的是电磁光波斜射入表面或两种介质的界面时偏振态的变化。椭偏法只测量电磁光波的电场分量来确定偏振态,因为光与材料相互作用时,电场对电子的作用远远大于磁场的作用。折射率和消光系数是表征材料光学特性的物理量,折射率是真空中的光速与材料中光的传播速度的比值N=C/V;消光系数表征材料对光的吸收,对于透明的介电材料如二氧化硅,光完全不吸收,消光系数为0。N和K都是波长的函数,但与入射角度无关。椭偏法通过测量偏振态的变化,结合一系列的方程和材料薄膜模型,可以计算出薄膜的厚度T、折射率N和吸收率(消光系数)K。市场规模据GIR (Global Info Research)调研,按收入计,2021年全球椭圆偏振仪收入大约40百万美元,预计2028年达到51百万美元,亚太地区将扮演更重要角色,除中美欧之外,日本、韩国、印度和东南亚地区,依然是不可忽视的重要市场。目前椭偏仪被广泛应用到OLED 、集成电路、太阳能光伏、化学等领域。有专家认为,随着国内平板显示、光伏等产业爆发,国内椭偏仪将形成30亿元到50亿元大市场。据专家估计,全球显示面板制造,约有六七成在我国生产。光谱椭圆偏振仪和激光椭圆偏振仪根据不同产品类型,椭圆偏振仪细分为: 光谱椭圆偏振仪和激光椭圆偏振仪。激光椭偏仪采用极窄带宽的激光器作为光源,在单波长下对纳米薄膜样品进行表面和界面的表征。激光椭偏仪作为常规的纳米薄膜测量工具,与光谱椭偏仪相比,具有如下特点:1.对材料的光学常数的测量更精确:这是由激光的窄带单色性质决定的,激光带宽通常远小于1nm,因此能够更准确地获得激光波长下的材料的材料参数。2.可对动态过程进行快速测量:激光良好的方向性使得其强度非常高,因此非常适合对动态过程的实时测量。但激光椭偏仪对多层膜分析能力不足,不如光谱型椭偏仪。椭偏仪的发展进程1887年,Drude第一次提出椭偏理论,并建立了第一套实验装置,成功地测量了18种金属的光学常数。1945年,Rothen第一次提出了“Ellipsometer”(椭偏仪)一词。之后,椭偏 仪有了长足发展,已被广泛应用于薄膜测量领域。根据工作原理, 椭偏仪主要分为消光式和光度式两类。在普通椭偏仪的基础上,又发展了椭偏光谱仪、红外椭偏光谱仪、成像椭偏仪和广义椭偏仪。典型的消光式椭偏仪包括光源、起偏器、补偿器、检偏器和探测器。消光式椭偏仪通过旋转起偏器和检偏器,找出起偏器、补偿器和检偏器的一组方位角(P、C、A), 使入射到探测器上的光强最小。由这组消光角得出椭偏参量Y和D。在椭偏仪的发展初期,作为唯一的光探测器,人眼只能探测到信号光的存在或消失,因而早期椭偏仪的类型都是消光式。消光式椭偏仪的测量精度主要取决于偏振器件的定位精度,系统误差因素较少, 但测量时需读取或计算偏振器件的方位角,影响了测量速度。所以消光式椭偏仪主要适用于对测量速度没有太高要求的场合,例如高校实验室。而在工业应用上主要使用的是光度式椭偏仪。光度椭偏仪对探测器接收到的光强进行傅里叶分析, 再从傅里叶系数推导得出椭偏参量。光度式椭偏仪主要分为旋转偏振器件型椭偏仪和相位调制型椭偏仪。其中旋转偏振器件型椭偏仪包括旋转起偏器型椭偏仪、旋转补偿器型椭偏仪和旋转检偏器型椭偏仪。光度式椭偏仪不需测量偏振器件的方位角,便可直接对探测器接收的光强信号进行傅里叶分析,所以测量速度比消光式椭偏仪快,特别适用于在线检测和实时测量等工业应用领域。对于多层薄膜,一组椭偏参量不足以确定各层膜的光学常数和厚度, 而且材料的光学常数是入射光波长的函数, 为了精确测定光学常数随入射波长的变化关系, 得到多组椭偏参量, 椭偏仪从单波长测量向多波长的光谱测量发展。1975 年,Aspnes 等首次报道了以RAE为基本结构的光谱椭偏仪。它利用光栅单色仪产生可变波长,从而在较宽的光谱范围(近红外到近紫外)内可以测量高达 1000 组椭偏参量,膜厚测量精度可以达到0.001 nm,数据采集和处理时间仅为7s。1984年,Muller 等研制了基于法拉第盒自补偿技术的光谱椭偏仪。这种椭偏仪采集400组椭偏参量仅用时 3s。为了进一步缩短系统的数据采集时间,1990年Kim 等研制了旋转起偏器类型的光谱椭偏仪,探测系统用棱镜分光计结合光学多波段分析仪(OMA) 代替常用的光电倍增管,在整个光谱范围内获取 128 组椭偏参数的时间为 40ms。紫外波段到可见波段消光系数较大或厚度在几个微米以上的薄膜,其厚度和光学常数的测量需使用红外椭偏光谱仪。红外椭偏光谱仪已经成为半导体行业异质结构多层膜相关参量测量的标准仪器。早期的红外椭偏光谱仪是在 RAE、RPE 或 PME 的基础上结合光栅单色仪构成的。常规的红外光源的强度较低,降低了红外椭偏仪的灵敏度。F. Ferrieu 将傅里叶变换光谱仪(FT) 引入到 RAE,使用常规的红外光源,其椭偏光谱可以从偏振器不同方位角连续记录的傅里叶变换光谱得到,从而能够对材料进行精确测量,提高了系统的灵敏度。其缺点是不能实现快速测量。由于集成电路的特征尺寸越来越小,一般椭偏仪的光斑尺寸较大(光斑直径约为 1 mm),为了提高椭偏仪的空间分辨率,Beaglehole将传统椭偏仪和成像系统相结合,研制了成像椭偏仪。普通椭偏仪测量的薄膜厚度是探测光在样品表面上整个光斑内的平均厚度,而成像椭偏仪则是利用 CCD 采集的椭偏图像得到样品表面的三维形貌及薄膜的厚度分布,从而能够提供样品的细节信息。成像椭偏仪的 CCD 成像单元,将样品表面被照射区域拍摄下来,一路信号输出到视频监视器显示,一路信号输入计算机进行数据处理。CCD 成像单元较慢的响应速度限制了成像椭偏仪在实时监测方面的应用。为了克服这一限制,Chien - Yuan Han 等利用频闪照明技术代替传统照明方式,成功研制了快速成像椭偏仪。与传统椭偏仪相比,由于 CCD 器件干扰了样品反射光的偏振态,且有很强的本底信号,成像椭偏仪的系统误差因素增多,使用前必须仔细校准。探测光与样品相互作用时,若样品是各向同性的,探测光的p分量和s分量各自进行反射,若各向异性,则探测光与样品相互作用后还将会发生光的 p 分量和 s分量的相互转化。标准椭偏仪只考虑探测光的 p 分量和 s 分量各自的反射情况,所以只能用于测量各向同性样品的参量,对于各向异性的样品,需使用广义椭偏仪。国内椭偏技术的研究始于20世纪70年代。70年代中期,我国第一台单波长消光椭偏仪TP-75 型由中山大学莫党教授等设计并制造。1982年,旋转检偏器式波长扫描光度型椭偏仪( TPP-1 型) 也得以问世。随后在80年代中后期西安交通大学研制出了激光光源椭偏仪,同期实现了椭偏光谱仪的自动化。复旦大学的陈良尧教授于1994年研制出了一种同时旋转起偏器和检偏器的新型全自动椭偏仪。该类型椭偏仪曾成功实现商业化,销售给包括德国在内的多家国内外单位使用。1998年,中国科学院上海技术物理研究所的黄志明和褚君浩院士等人研制出了同时旋转起偏器和检偏器的红外椭圆偏振光谱仪。2000年,中国科学院力学所靳刚研究员研制出了我国第一台椭偏光显微成像仪。该仪器可以实现纳米级测量和对生物分子动态变化及其相互作用进行实时观测。2000 年,复旦大学陈良尧和张荣君等人研制出了基于双重傅里叶变换的红外椭偏光谱系统。2013年华中科技大学张传维团队成功研发出椭偏仪原型样机。2014年,华中科技大学的刘世元教授等人使用穆勒矩阵椭偏仪测试了纳米压印光刻的抗蚀剂图案,同时还检测了该过程中遇到的脚状不对称情况,其理论和实验结果都表明该仪器具有良好的敏感性。2015年,国内首台商品化高端穆勒矩阵椭偏仪终于成功面世。主流厂商企业名称国内睿励科学仪器合能阳光复享光学量拓科技赛凡光电武汉颐光科技国外Accurion GmbHK-MacAngstrom Advanced瑟米莱伯J.A.WoollamHORIBAPhotonic LatticeAngstrom Sun大塚电子GaertnerFilm SenseHolmarc Opto-MechatronicsOnto Innovation Inc.AQUILAPARISA TECHNOLOGYDigiPol TechnologiesSentech Instruments海洋光学 以上,就是小编为大家整理的椭偏仪知识大全,附上部分市场主流厂商信息,更多仪器,请点击进入“椭偏仪”专场。 找靠谱仪器,就上仪器信息网【选仪器】栏目。它是科学仪器行业专业导购平台,旨在帮助仪器用户快速找到需要的仪器设备。栏目囊括了分析仪器、实验室设备、物性测试仪器、光学仪器及设备等14大类仪器,1000余个仪器品类。
  • 中科院“光谱椭偏成像系统”研制成功
    纳米薄层解析的新锐器——光谱椭偏成像系统研制成功   在中国科学院重大科研装备研制项目的资助下,力学所国家微重力实验室靳刚课题组成功研制出“光谱椭偏成像系统”及其实用化样机。   该研究是利用高灵敏的光学椭偏测量术,同时结合光谱性能及数字成像技术,具有对复杂二维分布的纳米层构薄膜样品的快速光谱成像定量测量能力。在中科院专家组对仪器性能和各项技术指标进行现场测试的基础上,4月1日,验收专家组一致认为:系统为复杂横向结构的大面积多层纳米薄膜样品的快速表征和物性分析提供了有效手段,是一种纳米薄膜三维结构表征的新方法。   光谱椭偏成像系统的特点在于:信息量大,可同时测量大面积样品上各微区的连续光谱椭偏参数,从而可以获得相关材料物理参数(如厚度、介电函数、表面微粗糙度、合成材料中的组分比例等)及其空间分布 空间分辨率高,对纳米薄膜的纵向分辨和重复性均达到0.1nm、横向分辨达到微米量级 检测速度快,单波长下获得图像视场内各微区(42万像素以上)的椭偏参量(ψ和Δ)的采样时间达到7秒,比机械扫描式光谱椭偏仪提高2-3个量级 结果直观,形成视场内对比测量,可准确定位和排除伪信号,这是单光束光谱椭偏仪所不具备的 并且系统自动化程度高,操作简便。   该系统既可应用于单光束光谱椭偏仪所覆盖的领域,也可应用于单波长或分立波长的椭偏成像仪所涉及的领域,适合同时需要高空间分辨和光谱分辨测量的纳米薄膜器件测量的场合,这将为椭偏测量开拓新的应用方向。已成功应用于“863”项目“针对肿瘤标志谱无标记检测蛋白质微阵列生物传感器的研制”等研究工作中,并将在微/纳制造、生物膜构造、新型电子器件、生物芯片及高密度存储器件等领域中发挥重要作用。
  • 中科院研制成功光谱椭偏成像系统
    据中国科学院力学研究所消息 在中国科学院重大科研装备研制项目的资助下,力学研究所国家微重力实验室靳刚课题组成功研制出“光谱椭偏成像系统”及其实用化样机。 该研究是利用高灵敏的光学椭偏测量术,同时结合光谱性能及数字成像技术,具有对复杂二维分布的纳米层构薄膜样品的快速光谱成像定量测量能力。在中科院专家组对仪器性能和各项技术指标进行现场测试的基础上,验收专家组一致认为:系统为复杂横向结构的大面积多层纳米薄膜样品的快速表征和物性分析提供了有效手段,是一种纳米薄膜三维结构表征的新方法。 光谱椭偏成像系统的特点在于:信息量大,可同时测量大面积样品上各微区的连续光谱椭偏参数,从而可以获得相关材料物理参数(如厚度、介电函数、表面微粗糙度、合成材料中的组分比例等)及其空间分布;空间分辨率高,对纳米薄膜的纵向分辨和重复性均达到0.1nm、横向分辨达到微米量级;检测速度快,单波长下获得图像视场内各微区(42万像素以上)的椭偏参量(ψ和Δ)的采样时间达到7秒,比机械扫描式光谱椭偏仪提高2~3个量级;结果直观,形成视场内对比测量,可准确定位和排除伪信号,这是单光束光谱椭偏仪所不具备的,并且系统自动化程度高,操作简便。 该系统既可应用于单光束光谱椭偏仪所覆盖的领域,也可应用于单波长或分立波长的椭偏成像仪所涉及的领域,适合同时需要高空间分辨和光谱分辨测量的纳米薄膜器件测量的场合,这将为椭偏测量开拓新的应用方向。目前已成功应用于“863”项目“针对肿瘤标志谱无标记检测蛋白质微阵列生物传感器的研制”等研究工作中,并将在微/纳制造、生物膜构造、新型电子器件、生物芯片及高密度存储器件等领域中发挥重要作用。
  • 量拓科技激光椭偏仪在西安交通大学顺利交货验收
    热烈庆祝量拓科技激光椭偏仪在西安交通大学顺利交货验收。 量拓科技是中国唯一的专业椭偏仪器企业,专业致力于椭偏测量的方法研究、技术开发、产品制造和仪器销售,并提供纳米薄膜层构和物性参数的椭偏测试服务和椭偏测量整体解决方案的专业咨询服务。经过持续的创新发展,目前已成为国际高端激光椭偏仪和光谱椭偏仪的主要厂商。 量拓科技以发展国际领先的椭偏测量技术,提供纳米薄膜检测整体解决方案为企业使命,将通过持之以恒的不懈努力,在国际椭偏测量领域树立源自中国的高端专业椭偏品牌ELLiTOP形象,藉此提升中国在国际椭偏测量领域的实力和地位,实现中国高科技企业贡献世界的梦想。
  • 120万!清华大学高精度光谱椭偏仪采购项目
    项目编号:清设招第2022344号项目名称:清华大学高精度光谱椭偏仪采购项目预算金额:120.0000000 万元(人民币)采购需求:包号名称数量是否允许进口产品投标01高精度光谱椭偏仪1套是设备用途介绍:拟采购的椭偏仪设备将应用于测量各类薄膜的膜厚及光学参数(n,k),对特殊结构的材料具有光学性能分析能力。简要技术指标:Psi和Delta精确度测量:直射测量空气(Psi = 45° Delta = 0°),满足:Ψ≤45°±0.02°,Δ≤0°±0.02°(1.5-5eV);光谱范围覆盖190– 2000nm;入射角:自动量角器,角度可从40°到90°变化,最小步进为0.02°。合同履行期限:合同签订后7个月内交货本项目( 不接受 )联合体投标。
  • “宽光谱广义椭偏仪设备开发”重大专项通过验收
    2016年5月5日,科技部在武汉组织召开了首批国家重大科学仪器设备开发专项项目“宽光谱广义椭偏仪设备开发”(项目编号:2011YQ160002)综合验收会议。该项目由武汉光迅科技股份有限公司牵头,华中科技大学为仪器开发技术支持单位,武汉新芯集成电路制造有限公司、武汉珈玮光伏照明有限公司、武汉光电国家实验室(筹)为应用开发单位,武汉颐光科技有限公司为产业化单位。  天津大学叶声华院士、华东师范大学曾和平教授、中科院上海光机所周常河研究员、北京光学仪器厂骆东淼教授级高工等11名专家组成了本次会议验收技术专家组,叶声华院士任专家组组长。验收会由科技部国家科技评估中心毛建军副主任主持,湖北省科技厅条件处魏敏杰处长等出席会议。  项目负责人刘世元教授代表项目组对项目执行完成情况进行了详细汇报。截止项目验收时,研制完成宽带消色差补偿器、高精度双旋转补偿器同步控制等核心部件与关键技术,开发出具有自主知识产权的宽光谱广义椭偏仪设备4台 获授权国际发明专利3件,授权国内发明专利29件,软件著作权8件,商标权1件。获日内瓦国际发明奖金奖1项,发表SCI学术论文50篇 形成设计图纸、工程工艺、软件代码等完整技术文档各1套,质量和可靠性保障方案1套 建成中试生产线1条,销售仪器产品2台。  汇报结束后,专家组现场审阅了相关资料,随后前往产业化单位武汉颐光科技有限公司考察了宽光谱广义椭偏仪设备产品,对产品指标和性能进行了现场测试与考核,并就项目完成情况及产业化进展提出现场质询。经认真讨论,验收专家组认为,该项目实施情况良好,完成了预期目标并达到全部考核指标,一致同意通过验收。  椭偏仪是一种测量偏振光状态改变的重要科学仪器,本项目研制的广义椭偏仪(也称穆勒矩阵椭偏仪)代表了椭偏仪最高水平,可以测得一个44阶的穆勒矩阵共16个参数,因而可以获得更为丰富的测量信息。椭偏仪广泛应用于材料光学常数、纳米薄膜厚度及表面特性表征等基础科学研究与纳米制造相关产业,应用范围涵盖集成电路、光伏太阳能、平板显示、LED照明、存储、生物、医药、化学、电化学、光学薄膜等众多领域。
  • HORIBA|上海椭偏用户培训班通知【4月25-26日】
    为提升椭偏用户的应用技能,4月25-26日我司将于上海复旦大学举办椭偏用户培训班。本次培训将以仪器硬件操作和基本建模为主,带领大家展开学习,欢迎各位老师参加!椭圆偏振光谱仪是一种高精度薄膜表征工具,用于测量光学常数(n,k)和厚度。并越来越多地应用于光学薄膜、半导体薄膜、介电薄膜、有机薄膜、LED显示、滤光片、纳米器件、包装等材料的测量和表征。本次培训中将着重介绍椭偏的日常使用,包括硬件操作和模型分析两大部分,帮助用户真正利用仪器获取材料光学常数。请自备笔记本电脑,系统要求win7(条件允许提前安装软件并携带密码狗)报名截止日期:4月22日 HORIBA Optical SchoolHORIBA一直致力于为用户普及光谱基础知识,其旗下的Jobin Yvon有着近200年的光学、光谱经验,我们非常乐意与大家分享这些经验,为此特创立 Optical School(光谱学院)。无论是刚接触光谱的学生,还是希望有所建树的研究者,都能在这里找到适合的资料及课程。 我们希望通过这种分享方式,使您对光学及光谱技术有更系统、全面的了解,不断提高仪器使用水平,解决应用中的问题,进而提升科研水平,更好地探索未知世界。
  • 进口仪器占比95%,J.A.Woollam、HORIBA最受欢迎—全国共享椭偏仪盘点
    椭偏仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量仪器。由于测量精度高,适用于超薄膜,与样品非接触,对样品没有破坏且不需要真空,使得椭偏仪成为一种极具吸引力的测量仪器,广泛应用于材料、物理、化学、生物、医药等领域的研究、开发和制造过程中。近年来,由于以京东方、华星光电为代表的国产显示器件制造商的崛起,椭偏仪的销量不断攀升,带动了一批以颐光科技、量拓等为代表的国产椭偏仪制造商,但一直以来,椭偏仪在科研院所等研究单位的情况缺乏调查。不过,中央及各级政府在近几年来制订颁布了关于科学仪器、科研数据等科技资源的共享与平台建设文件。2021年1月22日,科技部和财政部联合发布《科技部 财政部关于开展2021年度国家科技基础条件资源调查工作的通知(国科发基〔2020〕342号)》,全国众多高校和科研院所将各种科学仪器上传共享。其中,对椭偏仪的统计分析或可一定程度反映科研用椭偏仪的市场信息。不同地区(省/市/自治区)椭偏仪分布情况北京各高校及研究所椭偏仪数量分布情况据统计,网络管理平台椭偏仪的总数量为132台,涉及23省(直辖市/自治区)。其中,北京、江苏、上海、广东的共享椭偏仪数量最多,分别为30台、16台、16台和12台,北京椭偏仪数量较多,主要是由于其实力强劲的高等院校较多,科研经费充足,可以购买更多的设备。以上四个地区的经济发展水平在全国名列前茅,而且半导体产业发达,对椭偏仪的需求也更高。进一步统计,北京涉及16所高校及研究院所,其中清华大学、中国科学院微电子研究所和中国计量科学研究院的共享椭偏仪数量最多。椭偏仪品牌分布从不同品牌椭偏仪数量分布来看,J. A. Woollam占比最多达38%,其次为Horiba和Sentech分别占比23%和11%,Semilab以6%的份额排第四。值得注意的是,前两名J. A. Woollam和Horiba在椭偏仪市场中的占比合计超过了60%,而国产品牌颐光科技占比仅2%。椭偏仪产地分布从椭偏仪的产地分布可以看出,进口设备中美国产椭偏仪最受科研用户青睐,占比达43%,国产椭偏仪占仅5%。统计结果表明,中国品牌包括了颐光科技、量拓、光机所等厂商。本次椭偏仪盘点中,涉及品牌有J. A. Woollam、Sopra、Semilab、Horiba、Accurion、Sentech、Photonics、上海光机所、JASCO、颐光科技、Angstrom Sun、J.A.Wollam、量拓科技等。
  • 网络讲座预告——有机电子学中纳米材料的光谱型椭偏表征
    HORIBA Scientific将于9月11日上午1:30举办&ldquo 有机电子学中纳米材料的光谱型椭偏表征&rdquo 免费网络讲座,欢迎大家届时参加。 有机电子学是一门新兴技术,正广泛应用于有机光伏(OPVs)、有机发光二管(OLEDs)、有机晶体管(OTFTs-传感器)和生物传感器等产品。 HORIBA Scientific邀请了希腊亚历士多德大学有机电子研究组组长Argiris Laskarakis博士作为本次讲座的主讲者。讲座将围绕柔性有机电子器件中的纳米材料的光学表征展开讨论,例如柔性OPVs。此外,还会讨论在Roll-to-Roll(R2R)系统上实现在线椭偏系统、实时分析柔性PET衬底上印刷的纳米薄膜的光学常数和和厚度形貌等内容。 作为拥有有近200年发展历史的光学光谱专家,HORIBA Scientific的椭圆偏振光谱仪可广泛应用于显示(TFT/OLED等)、光学镀膜、半导体、光电子、太阳能、纳米及生物技术等领域。与此同时,HORIBA Scientific也通过此类技术交流会不断与各领域的研究者进行深度合作,始终为科研及工业用户提供先进的检测和分析工具及解决方案。 您可以通过新浪官方微博来关注HORIBA Scientific新的动态,也可以通过以下邮箱与工程师进行技术交流:info-sci.cn@horiba.com
  • 元素测定、薄膜分析、样品制备,巧用GDS实现多方位分析【GDS微课堂-8】
    运营一个公司需要不同部门的合作,打好一场胜仗,需要不同的兵种配合。在分析仪器世界里,如果将仪器巧妙组合,让它们充分发挥各自特长,也会事半功倍。因为各种仪器的侧重点不同,单一技术只能得到表面某一方面的信息,但不同仪器亲密合作,就可以对样品进行多方位、多角度、多层次的检测,终得到全面准确、甚至超出预期的科研结果。那你知道GDS都有哪些小伙伴吗?他们怎么相互合作呢?今天我们请了三位小伙伴,来认识一下他们吧!01拉曼光谱仪GDS可以获取不同深度处元素的含量分布信息,结合拉曼光谱仪能够进一步得到物质的化学结构信息。接下来,让我们一起看下两者是如何配合的。GDS和小曼今天收到了一份委托,需要测定不同实验条件下产物是什么,以及怎样分布。实验条件如下:采用阳溅射法在含氟乙二醇溶液中制备了具有纳米孔结构的氧化铁薄膜。在不同的温度(350℃、400℃、450℃)下进行退火。GDS和小曼分别对三份实验产物进行了检测,结果如下:GDS我测定了不同深度处实验产物的元素浓度变化,以350℃退火温度下的实验结果为例,可以明显看出:随着溅射时间的增加,不同深度处(X轴)Fe元素的浓度不断变化,其他元素亦是。综合400℃和450℃退火温度下的实验结果,元素浓度(谱峰强度)相近,可见实验产物较为类似。但产物是什么?还需让小曼揭晓。GDS分析图拉曼光谱仪将不同退火温度下强拉曼峰与拉曼谱图库做对比,我发现:350℃退火温度下主要产物是磁铁矿,400℃和450℃退火温度下是赤铁矿,与上图GDS的结果吻合。拉曼光谱图综合上述结果,我们获取了Fe、C等元素随深度改变的浓度变化信息,并在此基础上,进一步测得不同退火温度下产物分别为磁铁矿和赤铁矿。02椭圆偏振光谱仪由上文我们知道GDS能够得到薄膜在不同厚度的元素含量分布,此外,GDS还能从元素深度的变化来获取镀层的结构、均一性、厚度等信息。结合椭偏仪擅长解析薄膜厚度和其光学常数的优势,两者合作就能够准确获得镀层的结构,并对镀层光学特性有更全面的了解。椭圆偏振光谱仪Hi,我是椭小偏,做表面分析的同学应该对我很熟悉吧!我和GDS是老朋友了,我们经常协作完成测试。近我们对薄膜太阳能电池进行了分析,下面一起看下实验结果。GDS先来说说我的发现,下图我们可以看到电池镀层不同深度处各元素的含量变化,并且我发现Mo基底表面还有两层镀层:层主要含Cu、Se、Sn,而第二层含S、Zn,由此我得到了镀层的元素分布信息。椭圆偏振光谱仪我测试的是一款Cu2ZnSnS4太阳能光伏电池。下图张是电池的光学常数折射率n和消光系数k随波长的变化曲线;第二张图是我模拟出的镀层模型,由图可知:底层为Mo基底;中间是Cu2ZnSnS4层,厚度1472nm;上层厚度为227nm且镀层内存在孔隙,从上往下孔隙率从95%下降到6.8%。Cu2ZnSnS4太阳能电池的折射率n和消光系数k随波长的变化各镀层的厚度和表层孔隙率模型综合上面两种太阳能电池的实验结果,可知GDS能够测得镀层元素分布,椭偏仪可测得光学常数和镀层结构,两者合作为我们进一步解析材料提供了更为丰富的信息。03能谱仪(EDS)能谱仪(EDS)主要是利用不同元素X射线光子特征能量不同,来获取材料的元素种类以及含量等信息,如材料表面微区成分的定性和定量分析、固体材料的表面涂层分析等等,常和SEM扫描电镜、GDS等合作,来获取更为全面的镀层信息。EDS能谱仪大家好,我能够分析材料元素组成和含量等信息,但我获取的是镀层表面信息,无法探测较深的镀层,SEM姐姐推荐我来找GDS帮忙。GDS没问题,快将测定样品告诉我,我来帮你把表层剥蚀掉,你再分析~让我们来见证一下当GDS遇到EDS后产生的花火吧:GDS测试结果从上图的GDS结果可以看出,0~5.8μm为纯锌层,5.8~7.8μm为含有锌、铁和铝的合金层。为了方便能谱仪对合金层进行测试,GDS剥蚀掉了表面的纯锌层,露出铁铝合金层,以便EDS进一步剖析该层元素分布,结果图如下:EDS在GDS剥蚀后测试的结果从测试结果可以看出,在合金层中,Al、Fe、Zn元素的浓度比例分别为3.64%、71.32%和25.05%。铁铝合金层电镜图由上述实验结果可知,GDS能够帮助EDS和SEM剥蚀表面,制作可供分析的合格样品,全面立体地展示出样品结构信息和元素分布,并得到元素随深度变化的分布曲线,为进一步解析镀层提供了更为全面的信息。今天的测试结果到这里就结束了,至此我们知道GDS跟拉曼光谱仪、椭圆偏振光谱仪、EDS能谱仪合作,能够对物质进行全面表征,综合获得材料的化学结构、元素分布、光学常数等信息,这也为深入剖析材料提供了可供参考的方式。通过上面的几个例子,大家是不是对GDS与其他分析技术的合作有了更直观的认识呢?如果还有别的联用方式,也欢迎大家跟我们分享~至此,GDS微课堂全部结束啦!在这个系列里,我带大家了解了GDS的基本原理、基本功能、常用概念、应用范围,并详细讲解了GDS在钢铁、锂电池、太阳能电池以及LED行业中的应用,后,还和大家分享了GDS与其它表面分析技术是如何协作的。不知道同学们掌握的如何了?可以点击往期回顾,再复习一遍。不仅限于GDS,之后我们还将带来一系列其他光谱技术,请一直关注我们哟!往期回顾【GDS微课堂-1】随Dr.JY掀起GDS神秘面纱【GDS微课堂-2】七问七答,掌握GDS常用概念
  • 首次收购:Park原子力显微镜收购德国Accurion,拓展成像椭偏仪和主动隔振平台
    仪器信息网讯 2022年9月2日,Park原子力显微镜公司(Park Systems Corp.) 宣布收购德国欧库睿因公司(Accurion GmbH)。德国欧库睿因公司是一家研发并制造成像椭偏仪和主动隔振器的私营公司。此次收购优化了Park原子力显微镜和白光干涉显微镜联用技术。交易的财务细节没有披露。欧库睿因公司总部位于德国哥廷根,是成像椭偏仪领域的先驱。该公司起初是马克斯-普朗克生物物理化学研究所的衍生公司,成立之时便开始研发用于表征超薄膜的布鲁斯特角显微镜。由于这些显微镜对振动很敏感,主动隔振技术就此应运而生。欧库睿因的成像椭偏仪将椭偏仪和光学显微镜的优点集于一身。强强联合之下创造了一款新兴的计量工具,突破了光学显微镜的测量极限。成像椭偏仪增强的空间分辨率将椭偏仪扩展到微分析、微电子和生物分析的新领域。“这是 Park原子力显微镜公司第一次进行完整品牌收购。我们很高兴这家传奇的高科技公司能成为Park,这也将成为Park企业史上浓墨重彩的一笔。”Park原子力显微镜的CEO朴尚一博士(Dr. Sang-il Park)介绍道,“欧库睿因的成像椭偏仪和主动隔振将与 Park 现有的原子力显微镜系列融合,衍生出许多造福纳米界的新产品,并产生业务协同效应。对我们的客户和投资者来说,这无疑是个令人振奋的好消息。”“我们很荣幸成为 Park原子力显微镜公司的一员。”欧库睿因的联合创始人兼首席执行官 Stephan Ferneding 补充道,“我们很期待 Park原子力显微镜公司以工业制造自动化系统方面的专业知识、优秀的全球销售能力以及专业的售后服务把业务带入全新的领域,创造新机遇。我们不仅具有 30 多年来为全球客户服务的宝贵经验,更还期待今后能在 Park原子力显微镜公司领导下更加快速地成长。”关于德国欧库睿因公司:德国欧库睿因公司(Accurion GmbH)位于德国下萨克森州的哥廷根,公司起源于1991年从德国马克斯-普朗克生物物理化学研究所(Max-Planck Institute for biophysical chemistry in Goettingen)独立出来的高科技公司Nanofilm GmbH。德国欧库睿因公司(Accurion GmbH)新公司于2008年由Nanofilm GmbH战略并购Halcyonics GmbH后更名而成立。公司的产品主要是Nanofilm产品,应用在材料、物理、化学、生物和医学等领域的光学表面及界面分析测量技术;以及Halcyonics产品,为各种高精仪器提供主动减震平台。关于Park原子力显微镜公司(Park Systems Corp.):作为世界领先的原子力显微镜 (AFM) 制造厂商,Park原子力显微镜公司为化学、材料、物理、生命科学、半导体和数据存储行业的研究人员和工程师提供全系列产品。“为科学家和工程师实现纳米级进步,助其解决世界上最紧迫的问题,并推动科学发现和工程创新不断地前进”是Park原子力显微镜公司义不容辞的使命。 Park原子力显微镜的客户大多数是世界前20的半导体公司和亚洲、欧洲和美洲的国家研究型大学。 近年来在10纳米先进制程量测领域取得不菲业绩。Park原子力显微镜公司是韩国证券交易所 (KOSDAQ) 的上市公司,公司总部位于韩国水原,分公司分别位于加利福尼亚州圣克拉拉、曼海姆、巴黎、北京、东京、新加坡、印度和墨西哥城。
  • Park公司顺利举行成像椭偏仪研讨会
    近期,Park原子力显微镜公司收购了德国欧库睿因公司,并于2月20日在山东济南鲁能贵和洲际酒店进行了欧库睿因成像椭偏仪产品相关的研讨会。 在本场研讨会上,Park欧库睿因中国销售经理左方青作了《成像椭偏仪》的相关报告介绍。报告分为六个部分:椭偏仪原理介绍;成像椭偏仪介绍;成像椭偏仪的优缺点;成像椭偏仪与传统椭偏仪的比较;Accurion成像椭偏仪的硬件及特点;成像椭偏仪的应用范围和应用案例。 除此之外,左青方还详细介绍了欧库睿因产品、欧库睿因被收购前在中国的销售业绩、客户分布范围以及售后问题等内容。报告人介绍:左方青,Park中国销售代表,成像椭偏仪应用工程师,拥有十年以上成像椭偏仪销售和售后经验。目前专注于帕克Accurion成像椭偏仪和主动隔震台的销售和应用。 本场研讨会持续了四个小时,其中一小时作为讨论。整场讨论会气氛热烈。本场研讨会让我们更加了解了欧库睿因产品的历史,并对如何结合Park现有客户拓展新型多样化的销售渠道等问题做了规划。此后Park中国区技术团队将竭心维护欧库睿因产品的销售和售后,相信欧库睿因的销量和客户满意度将逐步提高。据相关报道,早在2022年10月14日,Park Systems为庆祝这一战略扩张,在德国举行盛大仪式庆祝Accurion公司的并购,双方管理团队齐聚一堂。Accurion新公司名称宣布为:Park Systems GmbH,Accurion Division。“我非常确信,我们选择了一个具有许多协同效应的非常好的合作伙伴。这不仅对Park的业务有利,而且对Accurion的业务也有利,”新的Park Systems公司的首席执行官Stephan Ferneding补充道。Accurion与Park Systems的合并为Park的计量产品带来了一个超越AFM技术的新时代。“通过将成像光谱和椭圆测量模块与Park Systems平台相结合,我们可以轻松地为半导体行业创建新的ISE解决方案。所有这些都将超越AFM扩大我们的业务组合,这是推动我们公司增长的重要一步。”Dr. Park透露。关于Accurion公司Accurion在两个产品线中提供高端可靠的尖端技术:成像椭偏和主动振动隔离。2009年,主动隔振解决方案专家Halcyonics公司和表面分析工具专家Nanofilm Technology 公司并入Accurion公司。回顾其30年的宝贵经验,Accurion为世界各地的客户提供了技术和科学进步,设计和制造了先进的仪器,用于具有挑战性的测量任务。
  • HORIBA拉曼/SPRi及椭偏光谱技术交流会
    HORIBA Scientific 暨华南理工大学测试中心 拉曼、SPRi及椭偏光谱技术交流会 邀 请 函   主办:HORIBA Scientific (Jobin Yvon光谱技术)   协办:华南理工大学分析测试中心   时间:2011年4月27日(周三)上午8:30   地点:华南理工大学人文馆报告厅 日程安排   上午:拉曼光谱及SPRi在化学、生物领域的应用专场   8:30~9:00 来宾签到   9:00~9:10 开幕词   9:10~10:00 拉曼光谱仪新进展以及应用 (HORIBA Scientific 沈婧 博士)   10:00~10:50 拉曼光谱在生物医学领域的应用(暨南大学 黄耀熊 教授)   10:50~11:00 提问及茶歇   11:00~11:30 拉曼光谱在食品化学领域的应用(华南理工大学 宋国胜 博士)   11:30~12:00 SPRi技术以及在生物、食品和卫生安全领域的应用(HORIBA Scientific 沈婧 博士)   12:00~13:30 午餐及休息   下午:拉曼光谱及椭圆偏振光谱在新能源、新材料领域的应用专场   13:30~14:00 来宾签到   14:00~14:30 拉曼光谱在新材料领域的应用(HORIBA Scientific 武艳红 应用工程师)   14:30~15:30 椭圆偏振光谱测量技术以及HORIBA Jobin Yvon新型椭偏仪(HORIBA Scientific Dr. Ramdane Benferhat)   15:30~15:45 提问及茶歇   15:45~16:45 椭偏仪在新能源材料领域的应用(HORIBA Scientific Dr. Ramdane Benferhat)   因本次会议场地有限,为方便我们对会议的组织与安排,请您与4月25日前确认参加   (请点击如下按钮完成网络提交)      如果您对会议有任何疑问,欢迎您随时与我们联系:   联系人:Li Su邮件地址:info-sci.cn@horiba.com   电话:021-62896060-101   会议地址地图    HORIBA Scientific (HORIBA集团科学仪器事业部)   HORIBA Scientific隶属 HORIBA 集团。一直致力于为用户提供先进的测和分析仪器:包括激光拉曼光谱、椭圆偏振光谱、元素分析、荧光、ICP、粒度表征、油中硫分析、水质和XRF等分析仪器。结合旗下知名品牌的技术优势,包括拥有近200年发展历史的世界光谱制造技术的Jobin Yvon。   今天,HORIBA Scientific 的各种高端检测分析仪器已经遍布全球各地,并在中国实现了销售和服务的本土化,位于上海、北京、广州三地的产品专家、售后服务团队以及全国各地的代理商机构可充分保障国内用户的技术咨询以及售后服务需求。   www.horiba.com/cn 华南理工大学分析测试中心 (计量认证合格单位)   组建于1982年10月,现有专业技术教师和管理人员共27人分析测试工作十年以上人员占80%,整体的检测分析能力强。中心装备了高分辨透射电镜、热场发射扫描电镜、超导核磁共振谱仪、液-质联用仪、多功能化学电子能谱、电子探针、X 射线荧光光谱仪、拉曼光谱仪、多功能生物质谱、气- 质联用仪、单晶衍射仪等大型精密贵重仪器30台,仪器总价值5000多万元 拥有独立且相对集中的现代化实验室,使用面积达3000m2 是华南地区规模宏大、设备先进、富具特色、   队伍精良的现代分析测试中心。   www.scut.edu.cn/test/    HORIBA科学仪器快讯 第13期 第12期
  • 深圳技术大学103.00万元采购椭偏仪
    html, body { -webkit-user-select: text } * { padding: 0 margin: 0 } .web-box { width: 100% text-align: center } .wenshang { margin: 0 auto width: 80% text-align: center padding: 20px 10px 0 10px } .wenshang h2 { display: block color: #900 text-align: center padding-bottom: 10px border-bottom: 1px dashed #ccc font-size: 16px } .site a { text-decoration: none } .content-box { text-align: left margin: 0 auto width: 80% margin-top: 25px text-indent: 2em font-size: 14px line-height: 25px } .biaoge { margin: 0 auto /* width: 643px */ width: 100% margin-top: 25px } .table_content { border-top: 1px solid #e0e0e0 border-left: 1px solid #e0e0e0 font-family: Arial /* width: 643px */ width: 100% margin-top: 10px margin-left: 15px } .table_content tr td { line-height: 29px } .table_content .bg { background-color: #f6f6f6 } .table_content tr td { border-right: 1px solid #e0e0e0 border-bottom: 1px solid #e0e0e0 } .table-left { text-align: left padding-left: 20px } 详细信息 椭偏仪招标公告 广东省-深圳市-坪山区 状态:公告 更新时间: 2024-04-03 招标文件: 附件1 附件2 附件3 附件4 项目概况 椭偏仪的潜在投标人应在(本公告附件中)获取招标文件,并于2024年4月16日15:00(北京时间)前网上递交投标文件。 一、项目基本情况 (一)项目编号:SZDL2024000416(CLF0123SZ27ZC60) (二)项目名称:椭偏仪 (三)预算金额:人民币103.00万元 (四)最高限价:人民币103.00万元 (五)采购需求:椭偏仪,详见招标文件 (六)合同履行期限:签订合同后300个日历日内(含免税证明办理时间),产品的附件、备品备件及专用工具应随产品一同交付。 (七)本项目不接受联合体投标。 (八)接受投标人选用进口产品/服务参与投标。 (九)其他:政府采购监督管理部门为深圳市财政局。 二、供应商的资格要求 (一)满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定: 1.提供在中华人民共和国境内注册的法人或其他组织的营业执照或事业单位法人证书或社会团体法人登记证书扫描件,如投标人为自然人的提供自然人身份证明扫描件;如国家另有规定的,则从其规定。(分支机构投标,须取得具有法人资格的总公司(总所)出具给分支机构的授权书,并提供总公司(总所)和分支机构的营业执照(执业许可证)扫描件。已由总公司(总所)授权的,总公司(总所)取得的相关资质证书对分支机构有效,法律法规或者行业另有规定的除外。) 2.提供履行合同所必需的设备和专业技术能力的书面声明;(提供《政府采购投标及履约承诺函》) 3. 参与本项目投标前三年内,在经营活动中没有重大违法记录(提供《政府采购投标及履约承诺函》)(重大违法记录是指供应商因违法经营受到刑事处罚或者责令停产停业、吊销许可证或者执照、较大数额罚款等行政处罚(根据财库〔2022〕3号文,“较大数额罚款”认定为200万元以上的罚款,法律、行政法规以及国务院有关部门明确规定相关领域“较大数额罚款”标准高于200万元的,从其规定))。 4. 参与本项目政府采购活动时不存在被有关部门禁止参与政府采购活动且在有效期内的情况(提供《政府采购投标及履约承诺函》)。 5. 法律、行政法规规定的其他条件。(提供《政府采购投标及履约承诺函》) (二)落实政府采购政策需满足的资格要求:无。 (三)本项目的特定资格要求:无。 (四)为采购项目提供整体设计、规范编制或者项目管理、监理、检测等服务的供应商,不得再参加该采购项目同一合同项下的其他采购活动(由供应商在《政府采购投标及履约承诺函》中作出声明)。 (五)单位负责人为同一人或者存在直接控股、管理关系的不同供应商,不得参加同一合同项下的政府采购活动(由供应商在《政府采购投标及履约承诺函》中作出声明)。 (六)未被列入失信被执行人、重大税收违法案件当事人名单(税收违法黑名单)、政府采购严重违法失信行为记录名单(由供应商在《政府采购投标及履约承诺函》中作出声明)。注:“信用中国”、“中国政府采购网”、“深圳信用网”以及“深圳市政府采购监管网”为供应商信用信息的查询渠道,相关信息以开标当日的查询结果为准。 (七)若所投产品为进口,则投标人必须提供由设备制造商或授权的中国代理商签署的合法有效的保修、维修承诺函(格式自拟);若所投产品为国产产品,则无需提供。 三、获取招标文件 时间:2024年4月3日至2024年4月16日15:00 地点:登录深圳政府采购智慧平台(http://zfcg.szggzy.com:8081/)下载本项目的招标文件。 方式:在线下载。 售价:免费。 凡已注册的深圳市网上政府采购供应商,按照授予的操作权限,可于2024年4月3日至2024年4月16日15:00期间登录深圳政府采购智慧平台(http://zfcg.szggzy.com:8081/)下载本项目的采购文件。投标人如确定参加投标,首先要在深圳政府采购智慧平台网上办事子系统(http://zfcg.szggzy.com:8081/TPBidder/memberLogin)网上报名投标,方法为在网上办事子系统后点击“【招标公告】→【我要报名】”;如果网上报名后上传了投标文件,又不参加投标,应再到【我的项目】→【项目流程】→【递交投标(应答)文件】功能点中进行“【撤回本次投标】”操作;如果是未注册为深圳政府采购智慧平台(http://zfcg.szggzy.com:8081/)的供应商,请先办理密钥,并前往深圳公共资源交易中心(深圳交易集团有限公司政府采购业务分公司)绑定深圳政府采购智慧平台用户(地址:深圳市南山区沙河西路3157号南山智谷A座(深圳交易集团总部大楼)3楼办事大厅4、5号窗口;电子密钥办理咨询电话:0755-83948165),再进行投标报名。在网上报名后,点击“【我的项目】→【项目流程】→【采购文件下载】”进行招标文件的下载。 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 (一)投标截止时间:所有投标文件应于2024年4月16日15:00(北京时间)之前上传到深圳政府采购智慧平台(http://zfcg.szggzy.com:8081/)。具体操作为登录“深圳政府采购智慧平台用户网上办事子系统(http://zfcg.szggzy.com:8081/TPBidder/memberLogin)”,用“【我的项目】→【项目流程】→【递交投标(应答)文件】”功能点上传投标文件。本项目电子投标文件最大容量为100MB,超过此容量的文件将被拒绝。 (二)开标时间和地点:定于2024年4月16日15:00(北京时间),在深圳市龙岗区龙翔大道9009号珠江广场A4栋408室采联国际招标采购集团有限公司深圳分公司会议室公开开标。供应商可以登录“深圳政府采购智慧平台用户网上办事子系统(http://zfcg.szggzy.com:8081/TPBidder/memberLogin)”,在“【我的项目】→【项目流程】→【开标及解密】”进行在线解密、查询开标情况。 (三)在线解密:投标人须在开标当日15:00-15:30期间进行解密,逾期未解密的作无效处理。解密方法:登录“深圳政府采购智慧平台用户网上办事子系统(http://zfcg.szggzy.com:8081/TPBidder/memberLogin)”,使用本单位制作电子投标文件同一个电子密钥,在“【我的项目】→【项目流程】→【开标及解密】”进行在线解密、查询开标情况。 五、公告期限 自本公告发布之日起5个工作日。 六、其他补充事宜 (一)本项目实行网上投标,采用电子投标文件。 (二)采购文件澄清/修改事项:2024年4月11日00:00(北京时间)前,投标人如果认为采购文件存在不明确、不清晰和前后不一致等问题,可登录深圳政府采购智慧平台(http://zfcg.szggzy.com:8081/)→“深圳政府采购智慧平台用户网上办事子系统(http://zfcg.szggzy.com:8081/TPBidder/memberLogin)”,在“【我的项目】→【项目流程】→【提问】”功能点中填写需澄清内容。2024年4月13日00:00(北京时间)前将采购文件澄清/修改情况在“【我的项目】→【项目流程】→【答疑澄清文件下载】”中公布,望投标人予以关注。 (重要提示:“提出采购文件澄清要求”不等同于“对采购文件质疑”,供应商提出的澄清要求内容如出现“质疑”字眼,将予以退回。供应商如认为采购文件存在限制性、倾向性、其权益受到损害,应当自知道或者应当知道其权益受到损害之日(应当知道其权益受到损害之日是指对招标文件的质疑,为招标文件公布之日)起七个工作日内以书面形式提出质疑。根据《深圳经济特区政府采购条例》第四十二条“供应商投诉的事项应当是经过质疑的事项”的规定,未经正式质疑的,将影响供应商行使向财政部门提起投诉的权利。) (三)采购人及采购代理机构有权对中标人就本项目要求提供的相关证明资料(原件)进行审查。供应商提供虚假资料被查实的,则可能面临被取消本项目中标资格、列入不良行为记录名单和三年内禁止参与深圳市政府采购活动的风险。 (四)本招标公告及本项目招标文件所涉及的时间一律为北京时间。投标人有义务在招标活动期间浏览深圳政府采购智慧平台(http://zfcg.szggzy.com:8081/),在深圳政府采购智慧平台网上公布的与本次招标项目有关的信息视为已送达各投标人。 (五)本项目相关公告在以下媒体发布 1、法定媒体:深圳政府采购智慧平台(http://zfcg.szggzy.com:8081/)。相关公告在法定媒体上公布之日即视为有效送达,不再另行通知。 2、采购代理机构网站(www.chinapsp.cn)。 3、以上媒体公告内容不一致的,以深圳政府采购智慧平台(http://zfcg.szggzy.com:8081/)的公告内容为准。 (六)本项目不需要投标保证金。 (七)需要落实的政府采购政策:《政府采购促进中小企业发展管理办法》(财库〔2020〕46号)、《关于政府采购支持监狱企业发展有关问题的通知》(财库〔2014〕68号)、《关于促进残疾人就业政府采购政策的通知》(财库〔2017〕141号)、《关于环境标志产品政府采购实施的意见》(财库〔2006〕90号)、《节能产品政府采购实施意见》的通知(财库〔2004〕185号)、《关于调整优化节能产品、环境标志产品政府采购执行机制的通知》(财库〔2019〕9号)、《快递包装政府采购需求标准(试行)》(财办库〔2020〕123号)、《绿色建筑和绿色建材政府采购需求标准》(财办库〔2022〕35 号)、《绿色数据中心政府采购需求标准(试行)》(财办库〔2023〕7 号)等。 七、对本次采购提出询问,请按以下方式联系。 (一)采购人信息 名称:深圳技术大学 地址:深圳市坪山区深圳技术大学采购与招投标管理中心105室 联系方式:谢老师 0755-23256076 (二)采购代理机构 名称:采联国际招标采购集团有限公司 地址:深圳市福田区竹子林中国经贸大厦10楼采联国际招标采购集团有限公司深圳分公司 (三)项目联系方式 项目联系人:陈小姐 电话:0755-88377572转2328 邮编:518040 邮箱:cailiansz@126.com 八、招标文件 采购文件szczf:-详见后面附件- 采购文件PDF:-详见后面附件- 采购文件DOC:-详见后面附件- 采购文件附件:(如工程类项目,还包括图纸和工程量清单)-详见后面附件- 通用附件: 1、请下载并使用相应的深圳智慧采购平台投标文件制作专用软件打开招标文件(.szczf格式)。 2、供应商端操作手册。 采联国际招标采购集团有限公司 2024年4月3日 [SZDL2024000416-A]椭偏仪.szczf [SZDL2024000416-A]椭偏仪.docx 附录.中小企业及残疾人福利性单位相关文件.zip[SZDL2024000416-A]椭偏仪.pdf SZDL2024000416-A椭偏仪采购公告.pdf × 扫码打开掌上仪信通App 查看联系方式 $('.clickModel').click(function () { $('.modelDiv').show() }) $('.closeModel').click(function () { $('.modelDiv').hide() }) 基本信息 关键内容:椭偏仪 开标时间:2024-04-16 15:00 预算金额:103.00万元 采购单位:深圳技术大学 采购联系人:点击查看 采购联系方式:点击查看 招标代理机构:采国际招标采购集团有限公司 代理联系人:点击查看 代理联系方式:点击查看 详细信息 椭偏仪招标公告 广东省-深圳市-坪山区 状态:公告 更新时间: 2024-04-03 招标文件: 附件1 附件2 附件3 附件4 项目概况 椭偏仪的潜在投标人应在(本公告附件中)获取招标文件,并于2024年4月16日15:00(北京时间)前网上递交投标文件。 一、项目基本情况 (一)项目编号:SZDL2024000416(CLF0123SZ27ZC60) (二)项目名称:椭偏仪 (三)预算金额:人民币103.00万元 (四)最高限价:人民币103.00万元 (五)采购需求:椭偏仪,详见招标文件 (六)合同履行期限:签订合同后300个日历日内(含免税证明办理时间),产品的附件、备品备件及专用工具应随产品一同交付。 (七)本项目不接受联合体投标。 (八)接受投标人选用进口产品/服务参与投标。 (九)其他:政府采购监督管理部门为深圳市财政局。 二、供应商的资格要求 (一)满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定: 1.提供在中华人民共和国境内注册的法人或其他组织的营业执照或事业单位法人证书或社会团体法人登记证书扫描件,如投标人为自然人的提供自然人身份证明扫描件;如国家另有规定的,则从其规定。(分支机构投标,须取得具有法人资格的总公司(总所)出具给分支机构的授权书,并提供总公司(总所)和分支机构的营业执照(执业许可证)扫描件。已由总公司(总所)授权的,总公司(总所)取得的相关资质证书对分支机构有效,法律法规或者行业另有规定的除外。) 2.提供履行合同所必需的设备和专业技术能力的书面声明;(提供《政府采购投标及履约承诺函》) 3. 参与本项目投标前三年内,在经营活动中没有重大违法记录(提供《政府采购投标及履约承诺函》)(重大违法记录是指供应商因违法经营受到刑事处罚或者责令停产停业、吊销许可证或者执照、较大数额罚款等行政处罚(根据财库〔2022〕3号文,“较大数额罚款”认定为200万元以上的罚款,法律、行政法规以及国务院有关部门明确规定相关领域“较大数额罚款”标准高于200万元的,从其规定))。 4. 参与本项目政府采购活动时不存在被有关部门禁止参与政府采购活动且在有效期内的情况(提供《政府采购投标及履约承诺函》)。 5. 法律、行政法规规定的其他条件。(提供《政府采购投标及履约承诺函》) (二)落实政府采购政策需满足的资格要求:无。 (三)本项目的特定资格要求:无。 (四)为采购项目提供整体设计、规范编制或者项目管理、监理、检测等服务的供应商,不得再参加该采购项目同一合同项下的其他采购活动(由供应商在《政府采购投标及履约承诺函》中作出声明)。 (五)单位负责人为同一人或者存在直接控股、管理关系的不同供应商,不得参加同一合同项下的政府采购活动(由供应商在《政府采购投标及履约承诺函》中作出声明)。 (六)未被列入失信被执行人、重大税收违法案件当事人名单(税收违法黑名单)、政府采购严重违法失信行为记录名单(由供应商在《政府采购投标及履约承诺函》中作出声明)。注:“信用中国”、“中国政府采购网”、“深圳信用网”以及“深圳市政府采购监管网”为供应商信用信息的查询渠道,相关信息以开标当日的查询结果为准。 (七)若所投产品为进口,则投标人必须提供由设备制造商或授权的中国代理商签署的合法有效的保修、维修承诺函(格式自拟);若所投产品为国产产品,则无需提供。 三、获取招标文件 时间:2024年4月3日至2024年4月16日15:00 地点:登录深圳政府采购智慧平台(http://zfcg.szggzy.com:8081/)下载本项目的招标文件。 方式:在线下载。 售价:免费。 凡已注册的深圳市网上政府采购供应商,按照授予的操作权限,可于2024年4月3日至2024年4月16日15:00期间登录深圳政府采购智慧平台(http://zfcg.szggzy.com:8081/)下载本项目的采购文件。投标人如确定参加投标,首先要在深圳政府采购智慧平台网上办事子系统(http://zfcg.szggzy.com:8081/TPBidder/memberLogin)网上报名投标,方法为在网上办事子系统后点击“【招标公告】→【我要报名】”;如果网上报名后上传了投标文件,又不参加投标,应再到【我的项目】→【项目流程】→【递交投标(应答)文件】功能点中进行“【撤回本次投标】”操作;如果是未注册为深圳政府采购智慧平台(http://zfcg.szggzy.com:8081/)的供应商,请先办理密钥,并前往深圳公共资源交易中心(深圳交易集团有限公司政府采购业务分公司)绑定深圳政府采购智慧平台用户(地址:深圳市南山区沙河西路3157号南山智谷A座(深圳交易集团总部大楼)3楼办事大厅4、5号窗口;电子密钥办理咨询电话:0755-83948165),再进行投标报名。在网上报名后,点击“【我的项目】→【项目流程】→【采购文件下载】”进行招标文件的下载。 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 (一)投标截止时间:所有投标文件应于2024年4月16日15:00(北京时间)之前上传到深圳政府采购智慧平台(http://zfcg.szggzy.com:8081/)。具体操作为登录“深圳政府采购智慧平台用户网上办事子系统(http://zfcg.szggzy.com:8081/TPBidder/memberLogin)”,用“【我的项目】→【项目流程】→【递交投标(应答)文件】”功能点上传投标文件。本项目电子投标文件最大容量为100MB,超过此容量的文件将被拒绝。 (二)开标时间和地点:定于2024年4月16日15:00(北京时间),在深圳市龙岗区龙翔大道9009号珠江广场A4栋408室采联国际招标采购集团有限公司深圳分公司会议室公开开标。供应商可以登录“深圳政府采购智慧平台用户网上办事子系统(http://zfcg.szggzy.com:8081/TPBidder/memberLogin)”,在“【我的项目】→【项目流程】→【开标及解密】”进行在线解密、查询开标情况。 (三)在线解密:投标人须在开标当日15:00-15:30期间进行解密,逾期未解密的作无效处理。解密方法:登录“深圳政府采购智慧平台用户网上办事子系统(http://zfcg.szggzy.com:8081/TPBidder/memberLogin)”,使用本单位制作电子投标文件同一个电子密钥,在“【我的项目】→【项目流程】→【开标及解密】”进行在线解密、查询开标情况。 五、公告期限 自本公告发布之日起5个工作日。 六、其他补充事宜 (一)本项目实行网上投标,采用电子投标文件。 (二)采购文件澄清/修改事项:2024年4月11日00:00(北京时间)前,投标人如果认为采购文件存在不明确、不清晰和前后不一致等问题,可登录深圳政府采购智慧平台(http://zfcg.szggzy.com:8081/)→“深圳政府采购智慧平台用户网上办事子系统(http://zfcg.szggzy.com:8081/TPBidder/memberLogin)”,在“【我的项目】→【项目流程】→【提问】”功能点中填写需澄清内容。2024年4月13日00:00(北京时间)前将采购文件澄清/修改情况在“【我的项目】→【项目流程】→【答疑澄清文件下载】”中公布,望投标人予以关注。 (重要提示:“提出采购文件澄清要求”不等同于“对采购文件质疑”,供应商提出的澄清要求内容如出现“质疑”字眼,将予以退回。供应商如认为采购文件存在限制性、倾向性、其权益受到损害,应当自知道或者应当知道其权益受到损害之日(应当知道其权益受到损害之日是指对招标文件的质疑,为招标文件公布之日)起七个工作日内以书面形式提出质疑。根据《深圳经济特区政府采购条例》第四十二条“供应商投诉的事项应当是经过质疑的事项”的规定,未经正式质疑的,将影响供应商行使向财政部门提起投诉的权利。) (三)采购人及采购代理机构有权对中标人就本项目要求提供的相关证明资料(原件)进行审查。供应商提供虚假资料被查实的,则可能面临被取消本项目中标资格、列入不良行为记录名单和三年内禁止参与深圳市政府采购活动的风险。 (四)本招标公告及本项目招标文件所涉及的时间一律为北京时间。投标人有义务在招标活动期间浏览深圳政府采购智慧平台(http://zfcg.szggzy.com
  • 中科飞测携首批设备椭偏膜厚量测仪入驻士兰集科
    p & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 首批设备进场!中科飞测椭偏膜厚量测仪正式搬入厦门士兰集科 /p p & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 继士兰微电子12英寸特色工艺半导体芯片项目于5月10日宣布正式通电后,工艺设备也将开始陆续进场。5月20日,深圳中科飞测科技有限公司(以下简称“中科飞测”)椭偏膜厚量测仪作为首批设备,正式搬入厦门士兰集科微电子有限公司(以下简称“士兰集科”)。 /p p & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 中科飞测是一家以在集成电路设备领域有多年经验的研发和管理团队为核心,自主研发和生产工业智能检测装备的高科技创新企业。同时,中科飞测也是目前国内唯一一家在Metrology(量测)和Inspection(缺陷检测)两大领域均在国内一线半导体制造厂商取得批量订单的半导体光学检测设备供应商。 /p p & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 士兰集科由厦门半导体投资集团有限公司与杭州士兰微电子股份有限公司共同出资设立。根据规划,士兰集科将投资170亿元在厦门海沧建设两条12英寸特色工艺芯片生产线。 /p p & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 2018年10月18日,士兰厦门12英寸特色工艺芯片生产线暨先进化合物半导体生产线在厦门海沧动工,这是国内首条12英寸特色工艺芯片制造生产线和下一代化合物生产线。2020年5月10日,士兰厦门12英寸特色工艺半导体芯片项目正式通电。随着该项目的正式通电,工艺设备将从5月中旬陆续进场,预计年底通线。 /p
  • 普发特发布薄膜相变分析仪PTM1700型新品
    薄膜相变分析仪是一款对相变材料相变特性进行测量与分析的精密光电仪器,可通过自动测量分析薄膜或者粉体等相变材料的热滞回线、相变温度、热滞宽度、相变幅度等特性参数。先进的模块化设计理念、精密的光探针技术、高端的进口芯片、便捷的自动测试分析软件、以及时尚的外观,使该仪器成为二氧化钒等相变材料研究的不二选择。中国科学院广州能源研究所,深圳大学等单位为典型用户。薄膜相变分析仪技术特点:1、精密光学测量技术,可进行单层、多层和超小样品的测量,且灵敏度更高2、非接触式信号采集,避免了接触式探针测量对样品的损伤和不稳定性缺点3、先进的光探针技术,使得采样范围最小直径可达300微米4、全自动一-键测量,操作简单,省时、省事5、超高采样速率1测量快速、准确,工作效率高6、触摸屏操作与电脑操作两种模式,测量随心所欲7、升温速率无级可调,根据实际需求任意选择8、与DSC测量相比,具有超高性价比9、科研型与基础型,满足不同需求技术规格1、仪器型号PTM17002、工作波长1550nm (特殊需要波长可定制)3、样品台温度范围:室温~120°C,温度精度+0.1°C4、采样频率1Hz5、最小采样范围直径300um6、红外非接触测温模式7、自然冷却与风冷两种降温模式8、加热速率无级可调9、设定参数后自动测量出薄膜相变的热滞回线10、USB2.0高速数据接口11、测试分析软件可得到相变温度、热滞宽度等特性参数12.可以Exce形式导出各原始测试数据和分析数据,以word形式导出测试分析报告创新点:全自动薄膜相变分析仪是一款对相变材料相变特性进行测量与分析的精密光电仪器,可通过自动测量分析薄膜或者粉体等相变材料的热滞回线、相变温度、热滞宽度、相变幅度等特性参数。先进的模块化设计理念、精密的光探针技术、高端的进口芯片、便捷的自动测试分析软件、以及时尚的外观,使该仪器成为二氧化钒等相变材料研究的不二选择。中国科学院广州能源研究所,深圳大学等单位为典型用户。 薄膜相变分析仪PTM1700型
  • HORIBA发布模块化椭偏仪新品Uvisel Plus
    p   日前,HORIBA宣布推出新的模块化椭偏仪——Uvisel Plus,该产品采用最新的技术,旨在提高测量的速度及准确性。 /p p style=" TEXT-ALIGN: center" img title=" uvisel-plus-new.jpg" style=" HEIGHT: 300px WIDTH: 450px" border=" 0" hspace=" 0" src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201707/insimg/fc5ecfe0-90a5-458a-b9d7-23094a7b25c4.jpg" width=" 450" height=" 300" / /p p style=" TEXT-ALIGN: center" & nbsp /p p   采用最新的FastAcq技术,基于新的电子数据处理和高速单色仪,该设备可以在3分钟内完成190到2100nm范围内的高分辨率样品测量。在测量范围内连续调整光谱分辨率的可能性,使样品扫描变得更智能,更快速。此外,UVISEL Plus还引入了一种新的校准程序,提供更快的性能和更优的精度。由于光路中没有旋转元件及附加组件,该产品为精确的椭圆参数测量提供最纯粹和有效的偏振调制。 /p p style=" TEXT-ALIGN: center" img title=" csm_uvisel-plus-img2_40ebe269fc.jpg" style=" HEIGHT: 374px WIDTH: 400px" border=" 0" hspace=" 0" src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201707/insimg/8b954c2b-dc5d-4e66-946a-c02f121e7c8f.jpg" width=" 400" height=" 374" / /p p   此外,Uvisel Plus为样本提供的微孔低至50μm,可变角度从40° 到90° ,自动水平映射和各种不同的附件,可以满足各种应用和预算需求。 /p p & nbsp /p
  • Horiba椭偏仪AutoSE获IC新品奖
    Horiba JobinYvon在此非常高兴地向大家宣布,在斯图加特举行的SEMICON Europa会议 (2008年10月) 上,我公司的新品Auto SE荣获 “2008 IC产业新产品奖(2008 IC Industry New System Award)”。一年一度的“IC产业新产品奖”是半导体业界对产品和服务的评估的重要平台。 Horiba JobinYvon 薄膜测量部市场部主任 Mélanie Gaillet 在获奖现场 Horiba JobinYvon 薄膜测量部副主任Denis Cattelan说:“我们坚信,快速、简便而又精准的薄膜测量工具—— Auto SE将成为椭圆偏振光谱仪行业的转折点!的可视化系统MyAuto View展示了光斑的精确位置,是图形化样品特性测量的理想工具。作为Auto SE的创造者,能获得此殊誉,我们感到非常高兴和自豪。Auto SE是我公司薄膜测量部工作人员刻苦钻研和辛勤劳动的结晶。” 新品Auto SE是一种操作简便的、实用性强的全自动椭圆偏振光谱仪,用于单层或多层薄膜样品的厚度和光学常数的分析测量。这种新产品完全符合薄膜测量的质量控制及研究的要求。 Auto SE 具有超高自动化程度:可以全自动的载入样品、自动校准调整以及自动成像;能根据客户要求自动选择8种不同大小的光斑,光斑小可达25×60 μm;同时拥有的光斑可视化系统(技术)。 操作直观的Auto Soft软件,加上先进的机器构造和不断更新的新材料的模型,使得繁琐的薄膜分析变得简单易行,只需按动几个按钮,即可完成。
  • 290万!东北师范大学高分辨X射线薄膜分析仪采购项目
    1.项目编号:ZZ23632HW04310136。2.项目名称:东北师范大学物理学院高分辨X射线薄膜分析仪(进口)设备采购。3. 采购方式:公开招标。4.预算金额:39.7万欧元(人民币限额290万元)。5.采购需求:高分辨X射线薄膜分析仪;数量:1套(详见招标文件“第五章 项目需求”)。6.合同履行期限(供货期):合同签订之日起8个月内完成交付、安装及调试。7.本项目不接受联合体投标。公开招标(进口货物)-东北师范大学物理学院高分辨X射线薄膜分析仪(进口)设备采购11.13.pdf
  • 最新薄膜孔径分析仪器,Porometer 3G正式发布
    2010年9月,美国康塔仪器公司(Quantachrome Instruments)隆重推出最新的薄膜孔径分析仪器, Porometer 3G。   该仪器是一款独特的全自动多功能分析仪,利用可侵润液体,如水,测定薄膜孔径及渗透率。与传统的压汞仪类似,Porometer 3G也是利用Washburn方程对孔径及渗透率进行计算。但是由于该仪器的测试原理为泡压法,使用的是可侵润的液体,如水,因此没有汞污染,无需实验室改造,更安全更便捷。同时该方法也是ASTM薄膜测定的标准方法 。 测试原理: 采用泡压法,即气体渗透法,测定被侵润样品在气流作用下的压力变化。   该方法同样以表面张力引起毛细孔中液体上升理论为依据.当毛细孔浸在某种液体中时,在表面张力的作用下,毛细孔中的液体将会上 升到某 一高度,当毛细孔中的表面张力与毛细孔中液柱重力达到力平衡,此时可按此计算薄膜孔径及渗透率( Washburn 方程)。 如需了解该仪器详细信息及具体参数,欢迎垂询。
  • 为国产芯片保驾护航!ACAIC 2023“集成电路技术发展与分析仪器创新论坛”成功召开
    仪器信息网讯 2023年11月29-30日,第八届中国分析仪器学术大会(ACAIC 2023)在浙江杭州成功举办。本届大会由中国仪器仪表学会分析仪器分会主办,吸引了全国500余位科技管理人员、专家学者和和仪器企业相关人员齐聚杭州,并组织了11个分论坛,聚焦分析仪器、生命科学仪器、电镜、半导体,以及核心零部件、临床诊断等主题。论坛现场分析仪器在集成电路技术发展中具有非常重要的地位。它们在材料分析、工艺监控、失效分析和研发支持等方面都发挥着不可或缺的作用,为推动集成电路技术的进步提供了强有力的支持。11月30日上午,由中国仪器仪表学会分析仪器分会、中国科学院半导体所集成技术中心共同主办的“集成电路技术发展与分析仪器创新论坛”成功召开。中国科学院半导体研究所研究员 王晓东 主持会议上海精测半导体技术有限公司 周涛博士 致辞本次会议由中国科学院半导体研究所王晓东研究员主持,上海精测半导体技术有限公司周涛为会议致辞。致辞结束后,会议进入报告环节。报告人:杭州士兰微电子股份有限公司先进功率系统研究院院长 刘慧勇报告题目:芯片行业用到的量测和检测设备概览芯片制造过程必须经历多次量测(Metrology)和检测(Inspection)以确保产品质量,其中量测设备用于工艺控制和良率管理,要求快速、准确且无损;检测设备则对不同工艺后的晶圆进行无损的定量测量和检查,用以保证关键物理参数(如膜厚、线宽、槽/孔深度和侧壁角度等) 满足要求,同时发现可能出现的缺陷并对其分类,及时剔除不合格晶圆。报告中,刘慧勇院长介绍了芯片行业用到的量测和检测仪器分类标准、常用仪器介绍、行业全球情况和行业本土情况,并表示,芯片生产全程需要各种量测和检测仪器为其保驾护航,国产替代前景广阔。此外,刘慧勇还提到诸如椭偏仪、四探针测试仪、薄膜应力测试仪、热波仪、扩散浓度测试仪、少子寿命测试仪、拉曼光谱仪、二次离子质谱仪等工业上用量较少的仪器缺少关注。报告人:上海集成电路材料研究院性能实验室总监 王轶滢报告题目:提升分析检测能力,助力集成电路材料发展全球已将半导体产业视为战略资源,各国政府如美国、日本、韩国、欧盟与中国等纷纷推动半导体产业振兴相关政策,试图扶持本土半导体制造业以及加强与海外半导体企业合作。除先进半导体技术的研发投资外,供应链安全也是各国高度关注的重点。材料创新支撑集成电路发展,材料性能严重影响芯片质量,集成电路材料国产替代正当时。提升分析检测能力对集成电路材料的发展具有重要意义。王轶滢认为,集成电路产业发展历程中,分析检测技术在各里程碑时刻也发挥了重要作用。我国集成电路产业国产化进程逐渐向上游深入,集成电路材料目前自给率有所提升,但仍需要持续研发并提升质量。当前迫切需要完善系统全面科学的材料分析与检测体系,助力集成电路材料国产化打破基础制约因素。报告人:上海精测半导体技术有限公司产品经理 罗浒报告题目:FIB/SEM双束电镜在集成电路失效分析中的应用据介绍,聚焦离子束FIB是通过把离子束聚焦成纳米级光束 (报告人:北京聚睿众邦科技有限公司市场总监 朱震报告题目:半导体检测与SEMI认证技术当前,半导体芯片已成为各行各业的核心“粮食”。而高集成度和高性能需要超高强度研发,其中检测技术是关键。半导体检测服务在产业链中至关重要,而半导体检测认证对良率提升价值巨大,决定成败。报告中,朱震分享了半导体检测技术概况、SEMI认证技术概况和项目情况介绍。报告人:中国科学院半导体研究所高级工程师 颜伟报告题目:测试分析仪器在半导体器件与芯片研发中的应用半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体的导电性能通过“掺杂”的方式人工调控。半导体内部有电子和空穴两种导电的载流子,从而可以将半导体分为P型半导体和N型半导体,它们之间可以形成PN结。报告中,颜伟介绍了半导体研发中用到的关键测试分析仪器以及飞秒激光时域热反射测试技术,并表示飞秒激光时域热反射测试技术有力支撑了热电相关的前沿和应用科学探索。报告人:中国科学院微电子研究所 屈芙蓉学生代讲报告题目:集成电路先进制程关键装备随着集成电路先进制程工艺的快速发展、器件尺寸的缩小以及新结构的采用,都将对制备工艺提出更高的要求,同时也对集成电路装备提出新的需求。集成电路先进制程关键工艺及设备主要包括了光刻设备、薄膜沉积和刻蚀工艺设备。其中原子层沉积(ALD)作为一种薄膜沉积技术具有优秀的台阶覆盖率、表面粗糙度和厚度控制能力,原子层刻蚀(ALE)相比于其他刻蚀工艺可以实现优秀的线宽、表面粗糙度、刻蚀均匀性、刻蚀深度和成分控制。报告主要介绍了课题组在ALD、ALE工艺及装备的研究进展及展望。本次“集成电路技术发展与分析仪器创新论坛” 将助力集成电路产业发展、探索国产仪器在半导体产业中的应用前景,激发创新思维,促进合作共赢,为分析仪器行业发展注入新的动力。随着技术的不断发展,国产分析仪器的种类和性能也在不断提高和完善,将为集成电路技术的持续创新提供了有力保障。
  • “宽光谱广义椭偏仪设备开发”重大科学仪器专项项目启动
    2012年4月13日,由NOM研究组和武汉光迅科技股份有限公司等单位共同承担的国家重大科学仪器设备开发专项“宽光谱广义椭偏仪设备开发”项目启动会正式在汉举行。科技部条财司副司长吴学梯、省科技厅副厅长周爱清、中国工程院院士天津大学叶声华教授、清华大学机械学院院长尤政教授以及哈尔滨工业大学谭久彬教授等单位专家共80余人参加会议。   项目启动仪式由两部分组成,即:总体启动会和专项组织分会。总体启动会由省科技厅条件处方国强处长主持,省科技厅周爱清副厅长汇报了项目组织、实施、监理的相关情况并提出几点要求。科技部吴学梯副司长指出,科学仪器设备的自主研发是一项重要的技术创新活动,国家重大科学仪器设备开发专项的设立,是为了提升我国科学仪器设备的自我保障能力和对经济社会发展的支撑能力,加快推进仪器科技成果转化为现实生产力,在专项实施中要进一步强化企业为主体,市场为主导,产学研用相结合。吴司长强调,国家重大科学仪器设备开发专项的目标是形成具有市场竞争力的仪器产品,要注重协同创新,强研发产品的质量控制。项目组织部门要切实做好项目组织实施和监督管理,保障项目技术研发和产业化工作顺利推进。   “宽光谱广义椭偏仪设备开发”专项启动分会由武汉光迅科技股份有限公司副总经理胡强高主持,华中科技大学刘世元教授为参会的两组两会专家组做了关于项目仪器开发方案、仪器应用开发方案、项目组织管理以及项目进展情况等方面介绍的报告。报告会后与会专家以本项目预期开发的宽光谱广义椭偏仪为中心,围绕吴司长提出仪器设备产业化与市场化的展开了讨论,叶声华院士对研究组前期工作予以肯定并对后期工作提出一些建议。清华大学尤政教授和哈尔滨工业大学谭久彬教授结合自己从事国家项目经验为研究组在设备后期产业化与市场化过程可能遇到的问题提出各自的看法,认为研究组在完成设备原理样机研究的同时也要加强同各合作应用企业的交流,且牵头企业务必要做好设备产业化的工作,保证最终的产品有过硬的质量和较高的市场竞争力。根据财政部、科技部相关要求,宽光谱广义椭偏仪仪器应在2014年完成研发并实现产业化。该项目的实施将为我国纳米材料学研究等领域提供重要的研究工具,对于增强我国在相关科研领域的研发能力,提高仪器企业的市场竞争力将起到重要的推动作用。
  • Horiba Jobin Yvon将举办椭偏仪技术交流会
    Horiba Jobin Yvon将于 3月31日上午 9:30-12:00 在复旦大学先进材料楼202室。 4月1日上午 9:30-12:00 在西北工业大学航空楼B617 4月3日下午 2:00-5:00 在北京大学物理学院 北236房间。 举行三场椭偏仪技术交流会。介绍HJY椭偏仪的技术特点和近应用。会上有HJY公司新的MM16液晶调制光谱型椭偏仪的展示。衷心希望大家参加, 联系人:俞罡 电话:021 64479785 e_mail: alexyu@jobinyvon.cn
  • 华南理工大学155.00万元采购椭偏仪
    html, body { -webkit-user-select: text } * { padding: 0 margin: 0 } .web-box { width: 100% text-align: center } .wenshang { margin: 0 auto width: 80% text-align: center padding: 20px 10px 0 10px } .wenshang h2 { display: block color: #900 text-align: center padding-bottom: 10px border-bottom: 1px dashed #ccc font-size: 16px } .site a { text-decoration: none } .content-box { text-align: left margin: 0 auto width: 80% margin-top: 25px text-indent: 2em font-size: 14px line-height: 25px } .biaoge { margin: 0 auto /* width: 643px */ width: 100% margin-top: 25px } .table_content { border-top: 1px solid #e0e0e0 border-left: 1px solid #e0e0e0 font-family: Arial /* width: 643px */ width: 100% margin-top: 10px margin-left: 15px } .table_content tr td { line-height: 29px } .table_content .bg { background-color: #f6f6f6 } .table_content tr td { border-right: 1px solid #e0e0e0 border-bottom: 1px solid #e0e0e0 } .table-left { text-align: left padding-left: 20px } 基本信息 关键内容: 椭偏仪 开标时间: 2022-01-24 14:30 采购金额: 155.00万元 采购单位: 华南理工大学 采购联系人: 文老师 采购联系方式: 立即查看 招标代理机构: 广东志正招标有限公司 代理联系人: 李小姐 代理联系方式: 立即查看 详细信息 ZZ0211031 多功能椭圆偏振仪采购公告 广东省-广州市-天河区 状态:公告 更新时间: 2021-12-31 招标文件: 附件1 附件: /ECP/view/srplatform/upload/attachmentAjaxFile5.jsp 项目概况 华南理工大学多功能椭圆偏振仪采购项目招标项目的潜在投标人应通过链接http://www.zztender.com/获取招标文件,并于2022年1月24日14点30分(北京时间)前递交投标文件。 一、项目基本情况 项目编号:ZZ0211031 项目名称:华南理工大学多功能椭圆偏振仪采购项目 预算金额:155万元(人民币) 最高限价(如有):155万元(人民币) 采购需求: 1、 标的名称:多功能椭圆偏振仪 2、 标的数量:1套 3、 简要技术需求或服务要求: 1) 购置具备水平入射面构造,入射角范围覆盖20~90°,波长范围覆盖193~2500 nm,可实现4*4全穆勒矩阵测量,并配备控温样品台的椭圆偏振测试设备,详见“招标需求”部分。 2) 本项目为科研仪器设备采购。 3) 经政府采购管理部门同意,本项目(多功能椭圆偏振仪)允许采购本国产品或不属于国家法律法规政策明确规定限制的进口产品。 4、 其他:/ 合同履行期限:自合同签订起至履约结束之日止 本项目(不接受)联合体投标。 二、申请人的资格要求: 1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定; 2.落实政府采购政策需满足的资格要求:本项目不属于专门面向中小企业采购的项目。 3.本项目的特定资格要求: (1) 应具备《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定的条件,提供以下材料: 1)提供最新的投标人营业执照(或事业单位法人证书,或社会团体法人登记证书,或执业许可证)副本复印件;若以不具有独立承担民事责任能力的分支机构投标,须取得具有法人资格的总公司的授权书,并提供总公司营业执照副本复印件;如投标人为自然人的需提供自然人身份证明。 2)投标人应当具有良好的商业信誉和健全的财务会计制度,提供以下证明之一: ①提供2020年年度审计报告或企业所得税年度汇算清缴报告(适用于在上一年度前成立的法人或其他组织); ② 2021年任一季度或任一月的财务报表,内容含盖资产负债表和利润表和现金流量表(适用在上一年度或本财务年度成立的法人或其他组织); ③银行出具的资信证明(适用于法人或其他组织); ④中国人民银行出具的个人信用报告(适用于自然人)。 3)具有履行合同所必需的设备和专业技术能力,提供签署及盖章合格的资格声明函。 4)提供2021年任意一个月的依法缴纳税收的证明(如纳税凭证)复印件,如依法免税的,应提供相应文件证明其依法免税;(其中税种不能为社会保险基金);投标人成立不满三个月的,可不提供缴纳税收的证明。 5)提供2021年任意一个月的依法缴纳社会保险的证明(如缴费凭证)复印件,如依法不需要缴纳社会保障资金的,应提供相应文件证明其依法不需要缴纳社会保障资金;投标人成立不满三个月的,可不提供缴纳社会保险的证明。 6)参加政府采购活动前三年内,在经营活动中没有重大违法记录,提供签署及盖章合格的资格声明函。重大违法记录,是指供应商因违法经营受到刑事处罚或者责令停产停业、吊销许可证或者执照、较大数额罚款等行政处罚。(较大数额罚款按照发出行政处罚决定书部门所在省级政府,或实行垂直领导的国务院有关行政主管部门制定的较大数额罚款标准,或罚款决定之前需要举行听证会的金额标准来认定) (2) ①未列入失信被执行人、重大税收违法案件当事人名单、政府采购严重违法失信行为记录名单的供应商(以开标当日资格审查人员在“信用中国”网站()、中国政府采购网()的查询结果为准;处罚期限届满的除外。如“信用中国”网站查询结果显示“没有找到您搜索的企业”或“没有找到您搜索数据”,视为没有上述三类不良信用记录)。②若投标人具有分公司的,其所属分公司有上述不良信用记录的,视同该投标人存在不良信用记录。③若投标人为分公司的,其所属总公司(总所)存在上述不良信用记录的,视同该分公司存在不良信用记录。 (3) 供应商有以下情形之一的,不得参加本项目(同一包组)的投标(提供签署及盖章合格的资格声明函) 1)单位负责人为同一人或者存在直接控股、管理关系的不同供应商,不得参加同一包组投标或者未划分包组的同一招标项目的政府采购活动。如同时参加,则评审时均作无效投标处理。 2)为采购项目提供整体设计、规范编制或者项目管理、监理、检测等服务的供应商,不得再参加该采购项目的其他采购活动。 (4) 本项目不接受联合体投标。 三、获取招标文件 时间:2022年1月1日至2022年1月10日(提供期限自本公告发布之日起不得少于5个工作日),每天上午9:00至12:00,下午12:00至17:30(北京时间,法定节假日除外) 地点:链接http://www.zztender.com/ 招标文件获取方式: 步骤一:投标人须在华南理工大学招标中心(新)采购管理与电子招投标系统(网址: http://zbzx.scut.edu.cn:8888/ECP/)进行必要的注册账号并登陆,找到需要投标登记的项目并在线填写获取招标文件资料,投标登记完成后将参与结果截图并发至招标代理机构邮箱(tender@gd.gov.cn),并在邮件正文写清楚报名供应商的名称以及联系方式。否则,投标人将不能进入下一步,由此产生的后果由投标人负责。 步骤二:招标文件于代理机构处线上购标,售后不退。请于2022年1月10日17:30前登录广东志正招标有限公司官网“https://www.zztender.com/”进行操作,从采购公告右侧的“我要购标”入口,相关操作成功后即可下载采购文件,并可在规定的获取采购文件时间段内到采购代理机构现场领取纸质采购文件。(咨询电话020-87554018,李小姐) 售价(元):¥300.00元,本公告包含的招标文件售价总和。 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 2022年1月24日14点30分(北京时间)(自招标文件开始发出之日起至投标人提交投标文件截止之日止,不得少于20日) 地点:广州市天河区龙怡路117号银汇大厦5楼广东志正招标有限公司会议室 五、公告期限 自本公告发布之日起5个工作日。 六、其他补充事宜 1. 招标项目的详细内容及技术参数、执行标准:详见“招标需求”部分。 2. 经政府采购管理部门同意,本项目(多功能椭圆偏振仪)允许采购本国产品或不属于国家法律法规政策明确规定限制的进口产品。 3. 采购项目需要落实的政府采购政策:《政府采购促进中小企业发展管理办法》(财库[2020]46号)、《关于政府采购支持监狱企业发展有关问题的通知》(财库[2014]68号)、《三部门联合发布关于促进残疾人就业政府采购政策的通知》(财库〔2017〕141号)、《关于环境标志产品政府采购实施的意见》(财库〔2006〕90号、《节能产品政府采购实施意见》的通知(财库〔2004〕185号)、《财政部 发展改革委 生态环境部 市场监管总局 关于调整优化节能产品、环境标志产品政府采购执行机制的通知》(财库〔2019〕9号)等。 七、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。 1.采购人信息 名称:华南理工大学 地址:广州市天河区五山华南理工大学南秀村物资大楼 联系方式:文老师 020-22236003 2.采购代理机构信息 名称:广东志正招标有限公司 地址:广州市天河区龙怡路117号银汇大厦5楼 联系方式:李小姐 020-87554018 85165610 3.项目联系方式 项目联系人:滕小姐、李小姐 电话:020-85165610 广东志正招标有限公司 2022年12月31日 × 扫码打开掌上仪信通App 查看联系方式 $('.clickModel').click(function () { $('.modelDiv').show() }) $('.closeModel').click(function () { $('.modelDiv').hide() })基本信息 关键内容:椭偏仪 开标时间:2022-01-24 14:30 预算金额:155.00万元 采购单位:华南理工大学 采购联系人:点击查看 采购联系方式:点击查看 招标代理机构:广东志正招标有限公司 代理联系人:点击查看 代理联系方式:点击查看 详细信息 ZZ0211031 多功能椭圆偏振仪采购公告 广东省-广州市-天河区 状态:公告更新时间: 2021-12-31 招标文件: 附件1 附件: /ECP/view/srplatform/upload/attachmentAjaxFile5.jsp 项目概况 华南理工大学多功能椭圆偏振仪采购项目招标项目的潜在投标人应通过链接http://www.zztender.com/获取招标文件,并于2022年1月24日14点30分(北京时间)前递交投标文件。 一、项目基本情况 项目编号:ZZ0211031 项目名称:华南理工大学多功能椭圆偏振仪采购项目 预算金额:155万元(人民币) 最高限价(如有):155万元(人民币) 采购需求: 1、 标的名称:多功能椭圆偏振仪 2、 标的数量:1套 3、 简要技术需求或服务要求: 1) 购置具备水平入射面构造,入射角范围覆盖20~90°,波长范围覆盖193~2500 nm,可实现4*4全穆勒矩阵测量,并配备控温样品台的椭圆偏振测试设备,详见“招标需求”部分。 2) 本项目为科研仪器设备采购。 3) 经政府采购管理部门同意,本项目(多功能椭圆偏振仪)允许采购本国产品或不属于国家法律法规政策明确规定限制的进口产品。 4、 其他:/ 合同履行期限:自合同签订起至履约结束之日止 本项目(不接受)联合体投标。 二、申请人的资格要求: 1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定; 2.落实政府采购政策需满足的资格要求:本项目不属于专门面向中小企业采购的项目。 3.本项目的特定资格要求: (1) 应具备《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定的条件,提供以下材料: 1)提供最新的投标人营业执照(或事业单位法人证书,或社会团体法人登记证书,或执业许可证)副本复印件;若以不具有独立承担民事责任能力的分支机构投标,须取得具有法人资格的总公司的授权书,并提供总公司营业执照副本复印件;如投标人为自然人的需提供自然人身份证明。 2)投标人应当具有良好的商业信誉和健全的财务会计制度,提供以下证明之一: ①提供2020年年度审计报告或企业所得税年度汇算清缴报告(适用于在上一年度前成立的法人或其他组织); ② 2021年任一季度或任一月的财务报表,内容含盖资产负债表和利润表和现金流量表(适用在上一年度或本财务年度成立的法人或其他组织); ③银行出具的资信证明(适用于法人或其他组织); ④中国人民银行出具的个人信用报告(适用于自然人)。 3)具有履行合同所必需的设备和专业技术能力,提供签署及盖章合格的资格声明函。 4)提供2021年任意一个月的依法缴纳税收的证明(如纳税凭证)复印件,如依法免税的,应提供相应文件证明其依法免税;(其中税种不能为社会保险基金);投标人成立不满三个月的,可不提供缴纳税收的证明。 5)提供2021年任意一个月的依法缴纳社会保险的证明(如缴费凭证)复印件,如依法不需要缴纳社会保障资金的,应提供相应文件证明其依法不需要缴纳社会保障资金;投标人成立不满三个月的,可不提供缴纳社会保险的证明。 6)参加政府采购活动前三年内,在经营活动中没有重大违法记录,提供签署及盖章合格的资格声明函。重大违法记录,是指供应商因违法经营受到刑事处罚或者责令停产停业、吊销许可证或者执照、较大数额罚款等行政处罚。(较大数额罚款按照发出行政处罚决定书部门所在省级政府,或实行垂直领导的国务院有关行政主管部门制定的较大数额罚款标准,或罚款决定之前需要举行听证会的金额标准来认定) (2) ①未列入失信被执行人、重大税收违法案件当事人名单、政府采购严重违法失信行为记录名单的供应商(以开标当日资格审查人员在“信用中国”网站()、中国政府采购网()的查询结果为准;处罚期限届满的除外。如“信用中国”网站查询结果显示“没有找到您搜索的企业”或“没有找到您搜索数据”,视为没有上述三类不良信用记录)。②若投标人具有分公司的,其所属分公司有上述不良信用记录的,视同该投标人存在不良信用记录。③若投标人为分公司的,其所属总公司(总所)存在上述不良信用记录的,视同该分公司存在不良信用记录。 (3) 供应商有以下情形之一的,不得参加本项目(同一包组)的投标(提供签署及盖章合格的资格声明函) 1)单位负责人为同一人或者存在直接控股、管理关系的不同供应商,不得参加同一包组投标或者未划分包组的同一招标项目的政府采购活动。如同时参加,则评审时均作无效投标处理。 2)为采购项目提供整体设计、规范编制或者项目管理、监理、检测等服务的供应商,不得再参加该采购项目的其他采购活动。 (4) 本项目不接受联合体投标。 三、获取招标文件 时间:2022年1月1日至2022年1月10日(提供期限自本公告发布之日起不得少于5个工作日),每天上午9:00至12:00,下午12:00至17:30(北京时间,法定节假日除外) 地点:链接http://www.zztender.com/ 招标文件获取方式: 步骤一:投标人须在华南理工大学招标中心(新)采购管理与电子招投标系统(网址: http://zbzx.scut.edu.cn:8888/ECP/)进行必要的注册账号并登陆,找到需要投标登记的项目并在线填写获取招标文件资料,投标登记完成后将参与结果截图并发至招标代理机构邮箱(tender@gd.gov.cn),并在邮件正文写清楚报名供应商的名称以及联系方式。否则,投标人将不能进入下一步,由此产生的后果由投标人负责。 步骤二:招标文件于代理机构处线上购标,售后不退。请于2022年1月10日17:30前登录广东志正招标有限公司官网“https://www.zztender.com/”进行操作,从采购公告右侧的“我要购标”入口,相关操作成功后即可下载采购文件,并可在规定的获取采购文件时间段内到采购代理机构现场领取纸质采购文件。(咨询电话020-87554018,李小姐) 售价(元):¥300.00元,本公告包含的招标文件售价总和。 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 2022年1月24日14点30分(北京时间)(自招标文件开始发出之日起至投标人提交投标文件截止之日止,不得少于20日) 地点:广州市天河区龙怡路117号银汇大厦5楼广东志正招标有限公司会议室 五、公告期限 自本公告发布之日起5个工作日。 六、其他补充事宜 1. 招标项目的详细内容及技术参数、执行标准:详见“招标需求”部分。 2. 经政府采购管理部门同意,本项目(多功能椭圆偏振仪)允许采购本国产品或不属于国家法律法规政策明确规定限制的进口产品。 3. 采购项目需要落实的政府采购政策:《政府采购促进中小企业发展管理办法》(财库[2020]46号)、《关于政府采购支持监狱企业发展有关问题的通知》(财库[2014]68号)、《三部门联合发布关于促进残疾人就业政府采购政策的通知》(财库〔2017〕141号)、《关于环境标志产品政府采购实施的意见》(财库〔2006〕90号、《节能产品政府采购实施意见》的通知(财库〔2004〕185号)、《财政部 发展改革委 生态环境部 市场监管总局 关于调整优化节能产品、环境标志产品政府采购执行机制的通知》(财库〔2019〕9号)等。 七、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。 1.采购人信息 名称:华南理工大学 地址:广州市天河区五山华南理工大学南秀村物资大楼 联系方式:文老师 020-22236003 2.采购代理机构信息 名称:广东志正招标有限公司 地址:广州市天河区龙怡路117号银汇大厦5楼 联系方式:李小姐 020-87554018 85165610 3.项目联系方式 项目联系人:滕小姐、李小姐 电话:020-85165610 广东志正招标有限公司 2022年12月31日
  • 220万!深圳国际量子研究院桌面薄膜分析仪采购项目
    一、项目基本情况项目编号:3324-DH2333H4004(FTDL2023000007)项目名称:桌面薄膜分析仪采购项目预算金额:220.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):220.0000000 万元(人民币)采购需求:(1)标的名称:桌面薄膜分析仪采购项目(2)标的数量:1台。(3)简要技术需求或服务要求:详细内容请参阅招标文件第二章《招标项目需求》。合同履行期限:详见招标文件本项目( 不接受 )联合体投标。二、获取招标文件时间:2023年02月01日 至 2023年02月08日,每天上午9:00至12:00,下午14:30至17:30。(北京时间,法定节假日除外)地点:深圳市罗湖区太宁路2号百仕达大厦27B方式:现场投标报名或网上投标报名(报名资料均需加盖单位公章)售价:¥500.0 元,本公告包含的招标文件售价总和三、提交投标文件截止时间、开标时间和地点提交投标文件截止时间:2023年02月13日 14点30分(北京时间)开标时间:2023年02月13日 14点30分(北京时间)地点:深圳市福田区福田保税区槟榔道10号深圳国际量子研究院604四、公告期限自本公告发布之日起5个工作日。无、其他补充事宜项目相关公告发布网站:中国政府采购网:www.ccgp.gov.cn深圳公共资源交易网:www.szggzy.com深圳市东海国际招标有限公司网:www.szdhit.com六、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。1.采购人信息名称:深圳国际量子研究院地址:深圳市福田区福田保税区槟榔道10号联系方式:沈老师 0755-239914152.采购代理机构信息名称:深圳市东海国际招标有限公司地址:深圳市罗湖区太宁路2号百仕达大厦27B联系方式:邹先生?135103436013.项目联系方式项目联系人:常女士、杨女士电话:0755-86959378或86959778转8002/8024
  • 线上讲座:全表面薄膜测量和缺陷检测
    本次网上研讨会着重介绍Lumina Instruments激光扫描仪的功能和应用实例。这个创新性的设备可以用作激光扫描椭偏仪来全表面测量样品上的薄膜厚度分布,又可以扫描各种表面缺陷,比如颗粒,划痕,陷坑,和鼓包等等。更让大家感兴趣的是它能一次扫描检测透明基底上下表面以及基底内部缺陷。主讲人简介:陈博士有近30年的半导体制程控制和光学检测经验。他曾带领开发化学机械研磨设备以及制程终点控制设备。在加盟Lumina Instruments之前他负责Filmetrics全部设备和部分KLA 设备的全球市场开发。会议时间:2021/01/21 11:00-12:00 (北京时间)报名入口:点击进入 会议密码:12121手机一键拨号入会+8675536550000,,501587457#(中国大陆)+85230018898,,,2,501587457#(中国香港)根据您的位置拨号+8675536550000(中国大陆)+85230018898(中国香港)欢迎大家前来收听~~~
  • HORIBA Scientific椭偏仪应用培训班(第一期)圆满结束
    2012年12月20日-21日,HORIBA Scientific在北京应用中心举办了期椭圆偏振光谱仪应用培训班,来自于全国各地的HORIBA椭偏用户参加了此次活动。 本期培训活动由本公司资深应用工程师主持,不仅深入浅出地给大家介绍了椭圆偏振光谱仪的原理、建模拟合、样品建模拟合方法基础等理论知识,而且还上机对样品测量及数据处理进行实际演练。 通过此类培训活动,我们旨在为广大用户提供一个学习交流的平台,对大家在日常工作中遇到的问题进行答疑解惑。更重要的是,为广大用户之间的交流提供了一个的广阔的平台。 我们会定期举行类似活动,请关注我们的网站、微博、以及邮件通知。
  • 法国JY推出新型MM-16相调制型椭圆偏振光谱仪
    HORIBA Jobin Yvon, 薄膜部推出了新型MM16高精度,高灵敏,低价格的相调制椭圆偏振光谱仪。 其采用液晶调制技术,2048CCD采集光谱,全谱采集时间仅2s钟,同时椭偏仪在可见光波段采用4× 4的Mueller 矩阵进行数据分析,可以精确的对测量复杂折射率材料进行分析,可广泛应用在平板显示,生物,包装和半导体领域。 目前HORIBA Jobin Yvon 在ex-situ和in-situ领域有着一系列的椭偏仪产品,UVISEL,MM16,DigiSel,PZ2000。其组成了一个高性能的椭偏家族。同时HJY公司还有多种配件可选以扩展椭偏仪的功能,如自动样品台,微光斑反射仪,液体池,高低温样品台等。基于Windows的强大软件工作平台DeltaPsi2使椭偏的数据分析变得更加的简单直观, 具体情况请查阅网站 www.jobinyvon.com 电话:021-64479785 传真:021-64479480 E-Mail:jjhjy@jobinyvon.cn
  • 揭秘GE分析仪器专利技术:Sievers 薄膜电导率检测技术
    GE分析仪器历来重视研发,并乐意投资开发新产品与新技术。至今我们已经拥有超过30个创新技术专利。其中,Sievers总有机碳(TOC)薄膜电导率检测技术,可谓GE TOC分析仪的王牌技术。以下介绍可以让您充分了解“Sievers 薄膜电导率检测技术”到底是怎么回事?Sievers 薄膜电导率检测技术用于检测总有机碳(TOC)含量,并被证明为十分精准可靠的检测方法。不同于非分散红外检测(NDIR,non-dispersive infrared)技术,Sievers 薄膜电导率检测法能显示六个数量级的动态范围,可以防止随时间的明显数据漂移,从而极具稳定性。因此使用薄膜电导率检测技术,设备无需频繁校准,所得到的检测结果十分稳定,具有不可比拟的分析性能,能成为用户在日常工作中依赖的主要工具。◆ ◆ ◆工作原理Sievers薄膜电导率检测技术使用了选择性气体渗透薄膜,只有氧化产生的CO2能通过这层薄膜进入检测舱。当水中有机物分子含有除碳、氢、氧以外的元素,如氮、硫、磷、卤素等,在氧化时会生成相应的离子,如硝酸根、氯离子等,干扰直接电导率检测。因此相比直接电导率法,Sievers薄膜电导率检测法减少了检测中的“假正”或“假负”现象,提供了无比优异的选择性、灵敏度、稳定性、精确度和准确度。下列动画,可以让您清楚了解Sievers薄膜电导率检测技术的工作原理。(如看不清楚视频,建议登陆 http://v.qq.com/x/page/k03230zad9n.html 查看,并在观看时将清晰度调整为超清。)◆ ◆ ◆相关仪器GE Sievers M9实验室型/在线型/便携式、M5310 C实验室型/在线型/便携式,500RL在线型和860实验室型TOC分析仪均采用Sievers薄膜电导率检测技术。◆ ◆ ◆联系我们,了解更多通过以下方式联系我们800-915-9966(固话用户)0411-8366 6489(手机用户)geai.china@ge.com我们的专家将尽快与您联系!扫二维码关注“GE分析仪器”官方微信
  • 康塔仪器“薄膜孔径分析技术网络研讨会”
    膜过滤技术作为目前分离技术中最为便捷可行的手段之一,在全球范围内应用极为广泛。膜材料的表征有非常多的项目:拉伸强度、爆破强度、耐酸碱腐蚀性、孔径分布、孔隙率、通量、使用寿命等等。康塔仪器膜孔径分析测试目前常用的有压汞法、液体排驱技术和气体渗孔法(泡压法)孔径分析技术,适用于不同的压力(即孔径)和流速范围,以实现材料特性和仪器性能(灵敏度、准确度、再现性)的最佳匹配,来测定薄膜孔径、孔隙结构、渗透率及膜的力学性能。 为使更多科研人员能更深入的学习孔径分析仪器在膜材料分析检测领域的应用技术,帮助大家了解薄膜孔径分析仪的最新进展和应用中的注意事项,美国康塔仪器公司将安排科学家举办此次“薄膜孔径分析技术网络研讨会”,邀请全球客户共同研讨和分享。 讲座时间:北京时间2016年1月26日22:30主讲人:康塔仪器资深产品经理Steve Hubbard讲座语言:英文网络研讨会链接: http://www.quantachrome.com/webinars/webinars.html(点击注册) 薄膜孔径分析仪Porometer系列测量原理:采用泡压法,即气体渗透法,测定被侵润样品在气流作用下的压力变化。该方法同样以表面张力引起毛细孔中液体上升理论为依据.当毛细孔浸在某种液体中时,在表面张力的作用下,毛细孔中的液体将会上升到某一高度,当毛细孔中的表面张力与毛细孔中液柱重力达到力平衡,此时可按此计算薄膜孔径及渗透率( Washburn方程)。 薄膜孔径分析仪Porometer系列遵循标准:ASTM D6767-02 用毛管流测定土工织物开孔特征方法 ASTM F316-03 通过起泡点和平均流动孔试验描述膜过滤器的孔大小特征的试验万法 ASTM E1288-99 测量气体透过样品的透过率 ASTM C-522 ASTM D-726 ASTM D-6539 ASTM E 1294-89 (1999) 用自动液体孔率计检验薄膜过滤器的孔径特性的测试万法 BS 7591-4: 1993 材料的孔隙度和孔隙尺寸第4部分-去水评定法 BS 3321-1986 织物的等效孔径测量万法(气泡压力试验) BS EN240003 : 1993 测量气体透过样品的透过率 HY/T 051-1999 中空纤维微孔滤膜测试万法 HY/T 064-2002 管式陶瓷微孔滤膜测试万法 HY/T 20061-2002 中空纤维微滤膜组件 GB/T 14041. 1-2007 液压传动、滤芯、结构完整性的验证和初始冒泡点的确定 GB/T 24219-2009 机织过滤布泡点孔径的测定 美国康塔仪器美国康塔仪器(Quantachrome Instruments)被公认为是对样品权威分析的优秀供应商,它可为实验室提供全套装备及完美的粉末技术,及极佳的性能价格比。康塔公司不仅通过了ISO9001及欧洲CE认证,也取得了美国FDA IQ/OQ认证。作为开发粉体及多孔材料特性仪器的世界领导者,美国康塔仪器产品涵盖比表面、物理吸附、化学吸附、高压吸附、蒸汽吸附、竞争性气体吸附、真密度、堆密度、开/闭孔率、粒度粒形、Zeta电位、孔隙率、压汞仪、大孔分析、微孔分析、滤器分析等诸多领域。 康塔仪器不仅受到科学界的青睐,装备了哈佛、耶鲁、清华等世界各个著名大学,而且已经向全世界的工业实验室发展,以满足那里开发和改进新产品的研究与工艺需求。工厂中也依靠康塔仪器的颗粒特性技术更精确地鉴别多孔材料,控制质量,或高效率查找生产中问题的根源通过颗粒技术使产品上一个台阶,在当今工业界已成为一个不争的事实。康塔克默仪器贸易(上海)有限公司作为美国康塔仪器公司在中国的全资子公司。集市场开发、仪器销售、备件供应、售后服务和应用支持于一体,它拥有国际水准的标准功能、形象和硬件配套设施,包括上海和北京的应用实验室和应用支持专家队伍。康塔克默仪器贸易(上海)有限公司使美国康塔仪器几千家中国用户同步享受国际品质的产品和服务,将掀开美国康塔仪器公司在中国及亚太地区的全新篇章!
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