一、概述料位是工业生产中的一个重要参数。料位测量的方法很多,针对不同的工况和介质可以使用不同测量原理的料位计,吹气法、静压式、浮球式、重锤式、超声波等几种常用的料位测量仪表,都有各自的特点和应用范围。雷达料位计运用先进的雷达测量技术,以其优良的性能,尤其是在槽罐中有搅拌、温度高、蒸汽大、介质腐蚀性强、易结疤等恶劣的测量条件下,显示出其卓越的性能,在工业生产中发挥着越来越重要的作用。二、原理及技术性能雷达波是一种特殊形式的电磁波,雷达料位计利用了电磁波的特殊性能来进行料位检测。电磁波的物理特性与可见光相似,传播速度相当于光速。其频率为300MHz-3000GHz。电磁波可以穿透空间蒸汽、粉尘等干扰源,遇到障碍物易于被反射,被测介质导电性越好或介电常数越大,回波信号的反射效果越好。雷达波的频率越高,发射角越小,单位面积上能量(磁通量或场强)越大,波的衰减越小,雷达料位计的测量效果越好。1.雷达料位计的基本原理雷达式料位计组成:它主要由发射和接收装置、信号处理器、天线、操作面板、显示、故障报警等几部分组成。发射-反射-接收是雷达式料位计工作的基本原理。雷达传感器的天线以波束的形式发射最小5.8GHz的雷达信号。反射回来的信号仍由天线接收,雷达脉冲信号从发射到接收的运行时间与传感器到介质表面的距离以及物位成比例。即:h= H–vt/2 式中 h为料位;H为槽高; v为雷达波速度;t为雷达波发射到接收的间隔时间;2.雷达料位计测量料位的先进技术:(1)回波处理新技术的应用从雷达料位计的测量原理可以知道,雷达料位计是通过处理雷达波从探头发射到介质表面然后返回到探头的时间来测量料位的,在反射信号中混合有许多干扰信号,所以,对真实回波的处理和对各种虚假回波的识别技术就成为雷达料位计能够准确测量的关键因素。(2)测量数据处理:由于液面波动和随机噪声等因素的影响,检测信号中必然混有大量噪声。为了提高检测的准确度,必须对检测信号进行处理,尽可能消除噪声。经过大量的实验验证,采用数据平滑方法可以达到满意的效果。此方法也可有效的克服罐内搅拌器对测量的影响。(3)雷达料位计的特点: 由于雷达料位计采用了上述先进的回波处理和数据处理技术,加上雷达波本身频率高,穿透性能好的特点,所以,雷达料位计具有比接触式料位计和同类非接触料位计更加优良的性能。①可在恶劣条件下连续准确地测量。②操作简单,调试方便。③准确安全且节省能源。④无需维修且可靠性强。⑤几乎可以测量所有介质。三、安装应注意的问题(1)当测量液态物料时,传感器的轴线和介质表面保持垂直;当测量固态物料时,由于固体介质会有一个堆角,传感器要倾斜一定的角度。(2)尽量避免在发射角内有造成假反射的装置。特别要避免在距离天线最近的1/3锥形发射区内有障碍装置(因为障碍装置越近,虚假反射信号越强)。若实在避免不了,建议用一个折射板将过强的虚假反射信号折射走。这样可以减小假回波的能量密度,使传感器较容易地将虚假信号滤出。(3)要避开进料口,以免产生虚假反射。(4)传感器不要安装在拱形罐的中心处(否则传感器收到的虚假回波会增强),也不能距离罐壁很近安装,最佳安装位置在容器半径的1/2处。(5)要避免安装在有很强涡流的地方。如:由于搅拌或很强的化学反应等,建议采用导波管或旁通管测量。(6)若传感器安装在接管上,天线必须从接管伸出来。喇叭口天线伸出接管至少10mm。棒式天线接管长度最大100或250mm。接管直径最小250mm。可以采取加大接管直径的方法,以减少由于接管产生的干扰回波。(7)关于导波管天线:导波管内壁一定要光滑,下面开口的导波管必须达到需要的最低液位,这样才能在管道中进行测量。传感器的类型牌要对准导波管开孔的轴线。若被测介电常数小于4,需在导波管末端安装反射板,或将导波管末端弯成一个弯度,将容器底的反射回波折射走。四、应用中存在的问题及解决方法有些工况下所使用的雷达料位计,因为传感器安装位置不当及条件所致,出现了一些问题,下面将对一些使用中的问题提出解决方案,供大家参考。1.探头结疤和频繁故障的解决方法第一个办法是将探头安装位置提高,但是有时候安装条件限制,不能提高的情况下,就应采用将料位测量值与该槽的泵联锁的办法,解决这一难题:将最高料位设定值减小0.5m左右,当料位达到该最高值时,即可停进料泵或开启出料泵。2.雷达料位计被淹相应的改进办法 解决这种问题的办法是将雷达料位计改为导波管式测量。仍在原开孔处安装导波管式雷达料位计,导波管高于排汽管0.2m左右, 这样一来,即使出现料浆从排汽管溢出的恶劣工况,也不会使料位计天线被料浆淹没,而且避免了搅拌器涡流的干扰及大量蒸汽从探头处冒出,减少了对探头的损害,同时由于导波管聚焦效果好,接收的雷达波信号更强,取得了很好的测量效果。使用导波管测量方式,可以改善表计测量条件,提高仪表测量性能,具有很高的推广应用价值。3.关于泡沫对测量的影响:干泡沫和湿泡沫能将雷达波反射回来,对测量无影响;中性泡沫则会吸收和扩散雷达波,因而严重影响回波的反射甚至没有回波。当介质表面为稠而厚的泡沫时,测量误差较大或无法测量,在这种工况下,雷达料位计不具有优势,这是其应用的局限性。4.对于天线结疤的处理:介电常数很小的挂料在干燥状态下对测量无影响,而介电常数很高的挂料则对测量有影响。可用压缩空气吹扫(或清水冲洗),且冷却的压缩空气可降低法兰和电器元件的温度。还可用酸性清洗液清洗碱性结疤,但在清洗期间不能进行料位测量。五、结束语雷达料位计是目前各类料位测量仪表中适用范围最广、测量最精确、维护最方便的料位测量仪表。随着其价格的进一步降低,性价比的提高,应用将会越来越广泛,在料位测量中发挥越来越重要的作用。本文对其进行系统的阐述,旨在为广大维护人员更好地使用和掌握它,希望能对大家提供一些借鉴和帮助。
射频导纳物位计(变送器)是一种新颖的物位测量仪表,它采用先进的射频导纳技术,利用电容的变化来测量贮罐内的料位,随着贮罐内料位的变化,电极与罐壁之间的电容量也随之变化,其固态电子线路将连续监测这一变化,并将变化与基准电路进行比较,然后输出与料位成正比的精确而又独立的4~20mA电流信号。它的结构分为主电极和补偿电极两部分。在主电极与补偿电极间分别施加一组RF射频信号,因而具有很好的抗粘料、挂料特性,克服了电容式物位计不能消除导电挂料影响的缺陷,是取代电容料位开关的新型物/液位测量产品。射频导纳物位计具有运行可靠,能抗生挂料层的影响,适用于几乎所有工业现场。仪表还具有安装方便,免维护,低价位等特点。仪表广泛用于石油、化工、冶金、医药、电力、食品、造纸等工业领域。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_648252_2814155_3.jpg射频导纳料位计由于保护电极的存在,检测电路将检测电极和保护电极的信号进行比较,从而实现克服物料粘附对物位测量的影响。下面详细的介绍相关显著的技术特点:1、通用性强:适用于各种场合,可检测颗粒、飞灰、导电、非导电液体、粘稠物料;2、抗粘附电路:先进的抗粘附电路设计,可以消除物料的粘附而产生虚假错误信号;3、失电保护模式:低位或高位故障报警。现场可调。4、安装调整容易5、不怕粘料、挂料6、稳定性好,不受温度影响7、延时输出可调8、可选耐温最高可达:550℃9、高低位失效保护功能
采购重锤料位计 得知道哪些问题?
NIVELCO(尼威)一体式超声波料位计 EchoTREK系列___北京康安森仪表技术有限公司,朋友推荐我,该怎么样购买呢?讲接下
http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/03/201503021632_536958_2940874_3.jpg液位计测量盲区是什么意思我们定义液位计的测量盲区指的是:当测量范围落到盲区内时,测量值和真实值之间的偏差,达不到液位计设定的准确度要求。比如说6GHz的电磁波雷达液位计,其波长就有好几个厘米,在距离探头几个波长的距离里,波形会多次反射干扰,很难识别正确的反射波,这几个波长的距离就是雷达液位计的盲区。 有些液位计是没有盲区的,比如说电容(射频导纳)/静压式/射线式等等...要注意的是:盲区和灵敏度(分辨率)不是一个概念。液位计根部阀是什么阀门根部阀用于设备与测量系统的分割,即连接或断开设备与测量系统的联系,由于位置处于测量系统的起始处,所以称“根部阀”根部阀理论上可以选用任意结构的阀门,在实际选用时以不与介质发生反应,动作不受介质影响,易密封,不易堵塞,少维护作为选用要求。另外不同行业的标准设计规范都有根据行业特点的应用习惯液位计和料位计有什么作用?液位计和料位计都分为两种,一种是连续型的,一种是开关式的。连续型物位计是对容器内液体或物料的高度进行实时监测;开关式又称为点式,一般取高、低两个点位,在容器内介质到达这两个点位时输出报警信号。至于作用,我举个例子来说一下吧:比如电厂的灰库,它是专门放煤灰的一个很大的容器,你怎么样来判断灰库里的灰有多少,或者说,灰库有没有满,还可不可以再进灰,这个时候就需要用料位计了磁性浮子液位计为什么会造成假液位?这种液位计一般是利用磁致伸缩原理,由波导丝传递磁浮子的信号,再由电路处理信号得到液位值。造成假液位的原因有以下几种:1. 外界干扰信号过大,造成电路得到的是假的信号,不是实际测量的信号;2. 液位计内部的波导丝故障,比如松动,密封不好进水生锈等,造成信号失真;3. 波导丝安装不正确,信号传递失真;4. 信号 处理电路故障。超声波液位计的高液位及零位怎样设定你只要设置量程和安装高度(量程+盲区)就行了,零位不用去管 ,例如将设置量程为5米,则液位在5米时,液位计输出20mA,液位为零时输出4mA
一、X射线的发现 1895年德国物理学家伦琴(W.C.RÖ ntgen)在研究阴极射线管中气体放电现象时,用一只嵌有两个金属电极(一个叫做阳极,一个叫做阴极)的密封玻璃管,在电极两端加上几万伏的高压电,用抽气机从玻璃管内抽出空气。为了遮住高压放电时的光线(一种弧光)外泄,在玻璃管外面套上一层黑色纸板。他在暗室中进行这项实验时,偶然发现距离玻璃管两米远的地方,一块用铂氰化钡溶液浸洗过的纸板发出明亮的荧光。再进一步试验,用纸板、木板、衣服及厚约两千页的书,都遮挡不住这种荧光。更令人惊奇的是,当用手去拿这块发荧光的纸板时,竞在纸板上看到了手骨的影像。 当时伦琴认定:这是一种人眼看不见、但能穿透物体的射线。因无法解释它的原理,不明它的性质,故借用了数学中代表未知数的“X”作为代号,称为“X”射线(或称X射线或简称X线)。这就是X射线的发现与名称的由来。此名一直延用至今。后人为纪念伦琴的这一伟大发现,又把它命名为伦琴射线。 X射线的发现在人类历史上具有极其重要的意义,它为自然科学和医学开辟了一条崭新的道路,为此1901年伦琴荣获物理学第一个诺贝尔奖金。 科学总是在不断发展的,经伦琴及各国科学家的反复实践和研究,逐渐揭示了X射线的本质,证实它是一种波长极短,能量很大的电磁波。它的波长比可见光的波长更短(约在0.001~100nm,医学上应用的X射线波长约在0.001。~0.1nm之间),它的光子能量比可见光的光子能量大几万至几十万倍。因此,X射线除具有可见光的一般性质外,还具有自身的特性。
原级X射线(一次X射线)为连续谱线(含各个波长的X射线),用它来激发样品中元素的特征谱线:我认为:一次X射线中含有待测元素的特征谱线,它对建立标准曲线和分析样品有啥影响?——相比被激发元素的特征谱线强度,它是否比较小,同时被样品吸收,因而可以忽略其影响呢?
各位老师: 我想买一个X射线辐射剂量探测的仪器,我的X射线能量在5keV~30keV,剂量不是很大,不知道现阶段有没有哪款探测器能够进行剂量监测的?望大家给点建议啊.先谢过了
化验室有2台X射线荧光仪,目前没有关于X射线的安全管理制度和X射线辐射的应急预案,同行们的化验室主要关于这方面是怎么做的?有没有制定管理制度和应急预案?
如题,大家用的射线个人剂量计或射线报警仪都是什么牌子的?
X射线对人体组织能造成伤害。人体受X射线辐射损伤的程度,与受辐射的量(强度和面积)和部位有关,眼睛和头部较易受伤害。 衍射分析用的X射线(属“软”X射线)比医用X射线(属“硬”X射线)的波长长,穿透弱,吸收强,故危害更大。所以,每个实验人员都必须牢记:对X射线“要注意防护!”。人体受超剂量的X射线照射,轻则烧伤,重则造成放射病乃至死亡。因此,一定要避免受到直射X射线束的直接照射,对散射线也需加以防护,也就是说,在仪器工作时对其初级X射线(直射线束)和次级X射线(散射X射线)都要警惕。前者是从X射线焦点发出的直射X射线,强度高,它通常只存在于X射线分析装置中限定的方向中。散射X射线的强度虽然比直射X射线的强度小几个数量级,但在直射X射线行程附近的空间都会有散射X射线,所以直射X射线束的光路必需用重金属板完全屏蔽起来,即使小于1mm的小缝隙,也会有X射线漏出。 防护X射线可以用各种铅的或含铅的制品(如铅板、铅玻璃、铅橡胶板等)或含重金属元素的制品,如含高量锡的防辐射有机玻璃等。 按照X射线防护的规定,以下的要求是必须遵守的: 1. 每一个使用X射线的单位须向卫生防疫主管部申请办理“放射性工作许可证”和“放射性工作人员证”;负责人需经过资格审查。 2. X射线装置防护罩的泄漏必须符合防护标准的限制:在距机壳表面外5cm处的任何位置,射线的空气吸收剂量率须小于2.5μGy/小时(Gy -戈瑞,吸收剂量单位)。在使用X射线装置的地方,要有明确的警示标记,禁止无关人员进入。 3. X射线操作者要使用防护用具。 4. X射线操作者要具备射线防护知识,要定期接受射线职业健康检查,特别注意眼、皮肤、指甲和血象的检查,检查记录要建档保存。 5. X射线操作者可允许的被辐照剂量当量定为一年不超过5雷姆或三个月不超过3雷姆(考虑到全身被辐照的最坏情况而作的估算)。 请参照以下标准: GB4792 — 84 《放射卫生防护基本标准》 GB8703 — 88 《辐射防护规定》 GWF01 — 88 《放射工作人员健康管理规定》
请问X射线与伽马射线有那些主要区别,宇宙射线中有哪些种吗?谢谢!
仪器是日本理学的Ultimat-IV粉末衍射仪,下面是一些仪器参数:测角仪半径R=285mmX射线管的线焦点尺寸=0.1mm×10mm发散狭缝DS=2/3deg防散射狭缝SS=2/3deg限高狭缝DHL=10mm前后的索拉狭缝均为5deg接收狭缝RS=0.3mm根据这些参数如何知道X射线照射到样品上的面积的?
X射线衍射仪简称XRD( X-ray diffractometer ),特征X射线及其衍射X射线是一种波长(0.06-20nm)很短的电磁波,能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相机乳胶感光、气体电离。用高能电子束轰击金属靶产生X射线,它具有靶中元素相对应的特定波长,称为特征X射线。如铜靶对应的X射线波长为0.154056 nm。X射线荧光光谱仪简称XRF( X Ray Fluorescence ),人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光(X—Ray Fluorescence),而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光(XRF)仪器由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级 X射线被称为X射线荧光。利用X射线荧光原理,理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中,有效的元素测量范围为9号元素 (F)到92号元素(U)。
如题,在国家《射线装置分类办法》中Ⅲ类射线装置中有这样描述:其它高于豁免水平的X射线机。不知道X射线荧光分析仪吗,如何判断(具体定量测量)是否高于豁免水平的X射线机?如有知道的大侠麻烦告诉一声,谢了。
X射线荧光光谱分析用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长,同时又有一定能量,因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型和能量色散型。下图是这两类仪器的原理图。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/12/201112280433_341844_1601823_3.jpg现将两种类型X射线光谱仪的主要部件及工作原理叙述如下: http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/12/201112280434_341845_1601823_3.jpg两种类型的X射线荧光光谱仪都需要用X射线管作为激发光源。上图是X射线管的结构示意图。灯丝和靶极密封在抽成真空的金属罩内,灯丝和靶极之间加高压(一般为40KV),灯丝发射的电子经高压电场加速撞击在靶极上,产生X射线。X射线管产生的一次X射线,作为激发X射线荧光的辐射源。只有当一次X射线的波长稍短于受激元素吸收限lmin时,才能有效的激发出X射线荧光。大于lmin的一次X射线其能量不足以使受激元素激发。 X射线管的靶材和管工作电压决定了能有效激发受激元素的那部分一次X射线的强度。管工作电压升高,短波长一次X射线比例增加,故产生的荧光X射线的强度也增强。但并不是说管工作电压越高越好,因为入射X射线的荧光激发效率与其波长有关,越靠近被测元素吸收限波长,激发效率越高。 X射线管产生的X射线透过铍窗入射到样品上,激发出样品元素的特征X射线,正常工作时,X射线管所消耗功率的0.2%左右转变为X射线辐射,其余均变为热能使X射线管升温,因此必须不断的通冷却水冷却靶电极。
特征X射线及其衍射 X射线是一种波长很短(约为20~0.06┱)的电磁波,能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。在用高能电子束轰击金属“靶”材产生X射线,它具有与靶中元素相对应的特定波长,称为特征(或标识)X射线。如铜靶材对应的X射线的波长大约为1.5406埃。考虑到X射线的波长和晶体内部原子面间的距离相近,1912年德国物理学家劳厄(M.von Laue)提出一个重要的科学预见:晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即当一束 X射线通过晶体时将发生衍射,衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强,在其他方向上减弱。分析在照相底片上得到的衍射花样,便可确定晶体结构。这一预见随即为实验所验证。1913年英国物理学家布拉格父子(W.H.Bragg,W.L.Bragg)在劳厄发现的基础上,不仅成功地测定了NaCl、KCl等的晶体结构,并提出了作为晶体衍射基础的著名公式──布拉格方程: 2d sinθ=nλ式中λ为X射线的波长,n为任何正整数。 当X射线以掠角θ(入射角的余角)入射到某一点阵晶格间距为d的晶面上时(图1),在符合上式的条件下,将在反射方向上得到因叠加而加强的衍射线。布拉格方程简洁直观地表达了衍射所必须满足的条件。当 X射线波长λ已知时(选用固定波长的特征X射线),采用细粉末或细粒多晶体的线状样品,可从一堆任意取向的晶体中,从每一θ角符合布拉格方程条件的反射面得到反射,测出θ后,利用布拉格方程即可确定点阵晶面间距、晶胞大小和类型 根据衍射线的强度,还可进一步确定晶胞内原子的排布。这便是X射线结构分析中的粉末法或德拜-谢乐(Debye—Scherrer)法(图2a)的理论基础。而在测定单晶取向的劳厄法中(图2b)所用单晶样品保持固定不变动(即θ不变),以辐射束的波长作为变量来保证晶体中一切晶面都满足布拉格方程的条件,故选用连续X射线束。如果利用结构已知的晶体,则在测定出衍射线的方向θ后,便可计算X射线的波长,从而判定产生特征X射线的元素。这便是X射线谱术,可用于分析金属和合金的成分。 X射线衍射在金属学中的应用 X射线衍射现象发现后,很快被用于研究金属和合金的晶体结构,出现了许多具有重大意义的结果。如韦斯特格伦(A.Westgren)(1922年)证明α、β和δ铁都是立方结构,β-Fe并不是一种新相 而铁中的α─→γ转变实质上是由体心立方晶体转变为面心立方晶体,从而最终否定了β-Fe硬化理论。随后,在用X射线测定众多金属和合金的晶体结构的同时,在相图测定以及在固态相变和范性形变研究等领域中均取得了丰硕的成果。如对超点阵结构的发现,推动了对合金中有序无序转变的研究,对马氏体相变晶体学的测定,确定了马氏体和奥氏体的取向关系;对铝铜合金脱溶的研究等等。目前 X射线衍射(包括散射)已经成为研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构的有效方法。在金属中的主要应用有以下方面: 物相分析 是 X射线衍射在金属中用得最多的方面,分定性分析和定量分析。前者把对材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物相的衍射数据相比较,确定材料中存在的物相;后者则根据衍射花样的强度,确定材料中各相的含量。在研究性能和各相含量的关系和检查材料的成分配比及随后的处理规程是否合理等方面都得到广泛应用。 精密测定点阵参数 常用于相图的固态溶解度曲线的测定。溶解度的变化往往引起点阵常数的变化;当达到溶解限后,溶质的继续增加引起新相的析出,不再引起点阵常数的变化。这个转折点即为溶解限。另外点阵常数的精密测定可得到单位晶胞原子数,从而确定固溶体类型;还可以计算出密度、膨胀系数等有用的物理常数。 取向分析 包括测定单晶取向和多晶的结构(见择优取向)。测定硅钢片的取向就是一例。另外,为研究金属的范性形变过程,如孪生、滑移、滑移面的转动等,也与取向的测定有关。 晶粒(嵌镶块)大小和微观应力的测定 由衍射花样的形状和强度可计算晶粒和微应力的大小。在形变和热处理过程中这两者有明显变化,它直接影响材料的性能。 宏观应力的测定 宏观残留应力的方向和大小,直接影响机器零件的使用寿命。利用测量点阵平面在不同方向上的间距的变化,可计算出残留应力的大小和方向。 对晶体结构不完整性的研究 包括对层错、位错、原子静态或动态地偏离平衡位置,短程有序,原子偏聚等方面的研究(见晶体缺陷)。 合金相变 包括脱溶、有序无序转变、母相新相的晶体学关系,等等。 结构分析 对新发现的合金相进行测定,确定点阵类型、点阵参数、对称性、原子位置等晶体学数据。 液态金属和非晶态金属 研究非晶态金属和液态金属结构,如测定近程序参量、配位数等。 特殊状态下的分析 在高温、低温和瞬时的动态分析。 此外,小角度散射用于研究电子浓度不均匀区的形状和大小,X射线形貌术用于研究近完整晶体中的缺陷如位错线等,也得到了重视。 X射线分析的新发展 金属X射线分析由于设备和技术的普及已逐步变成金属研究和材料测试的常规方法。早期多用照相法,这种方法费时较长,强度测量的精确度低。50年代初问世的计数器衍射仪法具有快速、强度测量准确,并可配备计算机控制等优点,已经得到广泛的应用。但使用单色器的照相法在微量样品和探索未知新相的分析中仍有自己的特色。从70年代以来,随着高强度X射线源(包括超高强度的旋转阳极X射线发生器、电子同步加速辐射,高压脉冲X射线源)和高灵敏度探测器的出现以及电子计算机分析的应用,使金属 X射线学获得新的推动力。这些新技术的结合,不仅大大加快分析速度,提高精度,而且可以进行瞬时的动态观察以及对更为微弱或精细效应的研究。 爱心捐助
一、X射线的发现 X射线是1895年德国物理学家伦琴(Rontgen W.K.1845-1923)发现的 。1895年11月8日晚,伦琴为了进一步研究阴极射线的性质,他用黑色薄纸板把一个克鲁克斯管严密地套封起来,在完全暗的室内做实验。在接上高压电流进行实验中,他意外地发现在放电管一米以外的一个荧光屏(涂有荧光物质铂氰化钡的纸屏)上发生亮的光辉。一切断电源,荧光就立即消失。这个现象使他非常惊奇,于是全神贯注地重复做实验。他发现即使在跷仪器二米处,屏上仍有荧光出现。伦琴确信,这个新奇现象不是阴极射线造成的,因为实验已证明阴极射线只能在空气中进行几厘米,而且不能透过玻璃管。他决定继续对这个新发现进行全面检验。一连六个星期都在实验里废寝忘食地工作着。经过反复实验,他确信发现了一种过去未被人们所知的具有许多特性的新射线。这种射线的本质一时还不清楚,所以他取名为“X射线”(后来科学界称之为伦琴射线)。他在12月下旬写的论文中说明了初步发现的X射线的如下性质:(1)阴极射线打在固体表面上便会产生X射线;固体元素越重,产生的X射线越强。(2)X射线是直线传播的,在通过棱镜时不发生反射和折射,不被透镜聚焦。(3)与阴极射线不同,不能借助磁体(即使磁场很强)使X射线发生任何偏转。(4)X射线能使荧光物质发出荧光。(5)它能使照相底片感光,而且很敏感。(6)X射线具有很强的贯穿能力,比阴极射线强得多。它可以穿透射线具有很强的贯穿能力,比阴极射线强得多。它可以穿透千页的书,二、三厘米厚的木板,几厘米的硬橡皮等。15毫米厚的铝板,不太厚的铜板、银板、金板、铂板和铅板的背后,都可以辨别荧光。只有铅等少数物质对它有较强的吸收作用,对1.5毫米厚的铅板它实际上不能透过。伦琴一次检验铅对X射线的吸收能力时,意外地看到了他自己拿铅片的手的骨髂轮廓。于是他请他的夫人把手放在用黑纸包严的照相底片上,用X射线照射,底片显影后,看到伦琴夫人的手骨像,手指上的结婚戒指也非常清晰,这成了一张有历史意义的照片。
X射线衍射仪国内生产厂家没几家吧,东西分析的怎么样?
跪求一个很可笑的问题“x射线荧光和x射线衍射的区别“!小弟是做仪器的经销商,实在是不懂,另外,目前这两种仪器的市场情况也想了解一下,谢谢!!
1.RT。2.其实我更关心的是:我认为样品特征X射线射线产生的方向应该是随机的,各个方向都有,因为特征X射线是两电子壳层的能量差产生的,已跟入射原级X射线的方向无关。但为何“大部分”以一定方向射出?http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/10/201310181232_471695_2213535_3.jpg欢迎大家探讨~
基本概念: 物位是指物料相对于某一基准的位量,是液位、料位和相界而的总称。 (1)液位。储存在各种容器中的液体液面的相对高度或自然界的江、河、湖、海以及水库中液体表面的相对高度。 (2)料位。容器、堆场、仓库等所储存的固体颗粒、粉料等的相对高度或表面位置o (3)相界面位置。同一容器中储存的两种密度不同旦互不相溶的介质之间的分界面位置。通常指液—液相界面、液—固相界面。物位的测量即是指以上三种位置的测量,其结果常用绝对长度单位或百分数表示。测量固体料位的仪表称为料位计,测量液位的仪表称为液位计,测量相界面位置的仪表称界面计。根据我国生产的物位测量仪表系列和工厂实际应用情况,液位测量占有相当大的比例,故在此主要介绍工厂常用的液位测量仪表,其原理也适应其他物位测量。物位测量仪表的分类:物位测量方法很多,测量范围较广,可从儿毫米到几十米,甚至更高,且生产I艺对物位测量的要求也各不相同。因此,工业上所采用的物位测量仪友种类繁多,技其工作原理可分为:(1)直读式物位测量仪表。它利用连通器原理,通过与被测容器连通的玻璃管或玻璃板来直接显示容器中的液位高度,是最原始但仍应用较多的液位计。(2)静压式物仪测量仪表。它是利用液校或物料堆积对某定点产生压力,测量该点压力或测量该点与另一参考点的压差而间接测量物位的仪表。这类仪表共有压力计式物位计、差压式液位计和吹气式液位计3种。(3)浮力式物位测量仪表。这是一种依据力平衡原理,利用浮于一类悬浮物的位置随液面的变化而变化来反映液他的仪表。它又分为浮子式、浮筒式和杠杆浮球式3种。它们均可测量液位,且后两种还可测量液—液相界面。 (4)电气式物位测量仪表。它是将物位的变化转换为电量的变化,进行间接测量物位的仪表。根据电量参数的不同,可分为电容式、电阻式和电感式3种,其中电感式只能测量液位。(5)声学式物位测量仪表。利用超声波在介质中的传播速度及在不同相界面之间的反射特性来检测物位。它可分为气介式、液介式和固介式3种,其中气介式可测液位和料位;液介式可测液位和液—液相界面;固介式只能测液位,比如:防爆型超声波液位计(6)光学式物位测量仪表。它是利用物位对光波的遮断和反射原理来测量物位的。有激光式物位计,可测液位和料位,: (7)核辐射式物位测量仪表。放射性同位素所放出的射线穿过被测介质时.被吸收而减弱,其衰减的程度与被测介质的厚度(物位)有关。利用这种方法可实现液位和料位的非接触式检测。 除此以外,还有重锤式、音叉式和旋翼式3种机械式物位测量仪表,以及微波式、热电式、称重式、防爆型超声波液位计、射流式等多种类型,且新原理、新品种仍在不断发展之中。物位测量仪表按仪表的功能不同又可分为连续测量和位式测量两种.前者可实现物位连续测量、控制、指示、记录、远传、调节等,后者比较简单价廉,主要用于定点报警和自动进出物料的自动化系统。 返回——仪器仪表网
γ 射线是不带电的中性粒子(也即是电磁波), 波长短于0.2埃的电磁波。首先由法国科学家P.V.维拉德发现,是继α、β射线后发现的第三种原子核射线。γ射线是因核能级间的跃迁而产生,原子核衰变和核反应均可产生γ射线 ,其静止质量等于零,也称为光子. 当γ射线和物质相互作用时,同带电粒子与物质的相互作用情况大不相同,γ射线不能使物质直接电离和激发,也没有射程的概念.γ 射线与物质相互作用有3种主要形式, 即光电效应,康普顿效应和电子对效应. 能量较低的γ射线, 在物质中主要产生光电效应 中等能量时,主要产生康普敦效应 而能量较高时, 主要是电子对效应. 3种效应都会产生能使物质的原子电离或激发的次级电子, 而次级电子在物质中的射程不长,所以在考虑对γ射线的屏蔽时,不需要另外采取防护措施. 这就是说, 3种效应产生次数的多少,即是物质吸收γ辐射多少的标志. 理论和实践都证明, 光电效应正比于吸收物质的原子序数Z的4次方,康普顿效应正比于Z/A, 而电子对效应正比于Z 平方.因此屏蔽γ射线时,以采用原子序数高的重物质为最好,例如铅. 通过对γ射线谱的研究可了解核的能级结构。γ射线有很强的穿透力,工业中可用来探伤或流水线的自动控制。γ射线对细胞有杀伤力,医疗上用来治疗肿瘤。 γ射线是一种强电磁波,它的波长比X射线还要短,一般波长<0.001纳米。在原子核反应中,当原子核发生α、β衰变后,往往衰变到某个激发态,处于激发态的原子核仍是不稳定的,并且会通过释放一系列能量使其跃迁到稳定的状态,而这些能量的释放是通过射线辐射来实现的,这种射线就是γ射线。 γ射线具有极强的穿透本领。人体受到γ射线照射时,γ射线可以进入到人体的内部,并与体内细胞发生电离作用,电离产生的离子能侵蚀复杂的有机分子,如蛋白质、核酸和酶,它们都是构成活细胞组织的主要成份,一旦它们遭到破坏,就会导致人体内的正 常化学过程受到干扰,严重的可以使细胞死亡。 γ射线在物质中的吸收 [flash]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2009814235322_01_0_3.swf[/flash]g射线通过物质时,由于光电效应、康普顿效应和电子对生成而损失能量,并逐渐被物质吸收。物质对g光子阻挡能力用半值厚度(half value layer)表示,半值厚度即使g光子活度减弱一半所需要的物质厚度。半值厚度与入射光子能量和介质密度有关,入射光子能量越低,介质密度越大则半值厚度越小,即物质对射线的阻挡作用越强。故g射线常用密度大的物质进行防护
X射线波长小于0.01nm的称超硬X射线,在0.01~0.1nm范围内的称硬X射线,0.1~10nm范围内的称软X射线。X射线具有很强的穿透力,医学上常用作透视检查,工业中用来探伤。长期受X射线辐射对人体有伤害。X射线可激发荧光、使气体电离、使感光乳胶感光,故X射线可用电离计、闪烁计数器和感光乳胶片等检测。晶体的点阵结构对X射线可产生显著的衍射作用,X 射线衍射法已成为研究晶体结构、形貌和各种缺陷的重要手段。特点 X射线的特征是波长非常短,频率很高,其波长约为(20~0.06)×10-8厘米之间。因此X射线必定是由于原子在能量相差悬殊的两个能级之间的跃迁而产生的。所以X射线光谱是原子中最靠内层的电子跃迁时发出来的,而光学光谱则是外层的电子跃迁时发射出来的。X射线在电场磁场中不偏转。这说明X射线是不带电的粒子流,因此能产生干涉、衍射现象。 X射线谱由连续谱和标识谱两部分组成 ,标识谱重叠在连续谱背景上,连续谱是由于高速电子受靶极阻挡而产生的 轫致辐射 ,其短波极限λ 0 由加速电压V决定:λ 0 = hc /( ev )为普朗克常数, e 为电子电量, c 为真空中的光速。标识谱是由一系列线状谱组成,它们是因靶元素内层电子的跃迁而产生,每种元素各有一套特定的标识谱,反映了原子壳层结构 。同步辐射源可产生高强度的连续谱X射线,现已成为重要的X射线源。 X射线具有很高的穿透本领,能透过许多对可见光不透明的物质,如墨纸、木料等。这种肉眼看不见的射线可以使很多固体材料发生可见的荧光,使照相底片感光以及空气电离等效应,波长越短的X射线能量越大,叫做硬X射线,波长长的X射线能量较低,称为软X射线。当在真空中,高速运动的电子轰击金属靶时,靶就放出X射线,这就是X射线管的结构原理。 放出的X射线分为两类: (1)如果被靶阻挡的电子的能量,不越过一定限度时,只发射连续光谱的辐射。这种辐射叫做轫致辐射,连续光谱的性质和靶材料无关。 (2)一种不连续的,它只有几条特殊的线状光谱,这种发射线状光谱的辐射叫做特征辐射,特征光谱和靶材料有关。X射线的危害x射线和其他辐射线,一般对人的伤害分为两种,一是通过能量传递,对人体细胞的DNA进行破坏,称为物理效应,还有一种是,由射线对人体组织内水发生电离,产生自由基,这些自由基再和生物大分子发生作用,导致不可逆损伤,称为生物效应。x射线以生物效应为主。辐射作用于生物体时能造成电离辐射,这种电离作用能造成生物体的细胞、组织、器官等损伤,引起病理反应,称为辐射生物效应。辐射对生物体的作用是一个非常复杂的过程,生物体从吸收辐射能量开始到产生辐射生物效应,要经历许多不同性质的变化,一般认为将经历四个阶段的变化: ①物理变化阶段:持续约10-16秒,细胞被电离; ②物理-化学变化阶段:持续约10-6秒,离子与水分子作用,形成新产物; ③化学变化阶段:持续约几秒,反应产物与细胞分子作用,可能破坏复杂分子;④生物变化阶段:持续时间可以是几十分钟至几十年,上述的化学变化可能破坏细胞或其功能。辐射生物效应可以表现在受照者本身,也可以出现在受照者的后代。表现在受照者本身的称为躯体效应(按照显现的时间早晚又分为近
这里介绍超声波物位计的应用环境:通常应用于温度在-40℃一100℃之间、压力在3Bar (5kg/cm2)以下的场所进行液位或料位的测量。在常温、常压的情况下,选择超声波物位计测量液体液位是最佳的选择,具有工作可靠、安装简便、使用周期长、免维护的特点,并具有相对的价格优势。由于超声波物位计在测量物位时,被测介质不接触,同时为全密闭防腐结构,因此对于粘稠的、腐蚀性的、浑浊的等各种液体的液位测量,效果最佳。仪器仪表网中超声波物位计包含 防爆型超声波液位计,这里介绍超声波物位计的应用环境:测量密闭容器内的挥发性的液体的液位,注意事项:容器内气体声速可能与空气中的声速不同,域名注册如液位计不能对声速进行修正,则会出现一定的误差;挥发性的液体会在超声波液位计探头表面凝结,阻挡声波的收发,要求液位计具有可变功率控制功能。超声波物位计测量固体料位:使用超声波物位计进行料位测量是可行的,有足够的应用经验和成功实例。在对料位进行测量时,应选择好安装位置,选择料面相对平整的位置;对于粉末状的料位,可选择功率(量程)更人的物位计进行测量。超声波液位计测量液面剧烈波动的液体:选用具有自动功率控制功能的超声波液位计;选用更大量程的超声波液位计;在液体中加入塑料管,液位计测量塑料管内液位。两线制超声波物位计与三线制超声波物位计的区别:两线制超声波物位计其供电(DC24v )与信号输出(DC4-2OmA)共用一个回路,仅使用两条线即可,为标准的变送器形式。 三线制超声波物位计实际上为四线制,其供电(DC24v )与信号输出(DC4-2OmA )回路分离,各使用两条线,当它们负端共地相连时,通常使用三条线即可。其优势是发射功率较大。超声波物位计的盲区?超声波物位计在发射超声波脉冲时,不能同时检测反射回波。磁翻柱液位计由于发射的超声波脉冲具有一定的时间宽度,同时发射完超声波后传感器还有余振,期间不能检测反射回波,因此从探头表面向下开始的一小段距离无法正常检测,这段距离称为盲区。被测的最高物位如进入盲区,仪表将不能正确检测,会出现误差。如有需要,可以将物位计加高安装。在工程设计选型时,最应注意的问题:要选择一个好的安装位置,设计合适的安装接口。安装位置要尽可能选择液面平稳、料面平整的位置,同时远离扶梯、进料口、出料口,压力式液位计尽可能与容器壁保持较远的距离,远离搅拌器。安装接口要求开口尺寸足够大,当为法兰安装时,法兰下面的接管长度要设计合理,对于我公司的10米、12米量程的物位计,接管长度应不大于15cm,选择DN80以上的法兰口。对于巧米、20米、30米和40米量程的物位计,接管长度应不大于20cm;选择DN200以上的法兰口。对于8米以下量程的物位计,超声波液位计对接管长度无要求,可适当设计,以消除盲区的影响,并选择DN65以上的法兰口。对于8米以下量程的物位计,对接管长度无要求,可适当设计,以消除盲区的影响,并选择DN65以上的法兰口。超声波物位计是超声波液位计和超声波料位计的统称。当用于测量液体液位时,通常称为超声波液位计。来源—仪器仪表网
X射线四1895年由德国物理学家伦琴发现的。其后人们运用光学手段对X射线的本质这一问题研究了十几年。到了1912年,德国的科学家劳厄与X射线束照射闪锌矿等,在照片底板上得到了有名的劳厄斑。这才搞清了X射线是一种电磁波,同时也证明了物质的基本结构是晶体结构。并查明,X射线的波长在0.1[font=宋体]~100唉之间,比同样是可见光的波长要短,即具有跟可见光类似的性质,又具有一些可见光所没有的特性。[/font][color=#f10b00]大家一起谈谈X射线有哪些性质![/color]
X射线是由高能量粒子轰击原子所产生的电磁辐射,具有波粒二象性.电磁辐射的辐射能是由光子传输的,而光子所取的路径是由波动场引导.X射线的这种波粒二象性,可随不同的实验条件表现出来.显示其波动性有:以光速直线传播\反射\折射\衍射\偏振和相干散射;显示其微粒性有:光电吸收\非相干散射\气体电离和产生闪光等.此外,能量大于1.02MeV时,可生成正负电子对.X射线波长范围在0.01-10nm之间,能量为124-0.124KeV.其短波段与r射线长波段相重叠,其长波则与真空紫外的短波段相重叠.应当指出光的波动理论和光的量子理论是彼此互补的.用电磁波解释光的传播方式,而用光量子解释光与物质作用时的能量交换方式,这两种形式是完全独立的,只有用这两种不同的理论方能全面认识X射线的本质. 用X射线管辐照样品,是产生荧光X射线光谱的常用方法.X射线管产生的X射线很低时,只产生连续谱;当所加电压大于或等于X射线管的阳极材料激发电势时,特性X射线光谱即以叠加在连续谱上的形式出现.这种特征光谱的波长决定于X射线管的阳极材料.连续光谱与白色光相似,具有连续的一系列波长的X射线;特征X射线光谱与单色光相似,是若干具有一定波长而不连续的线状光谱,可称之为单色X射线.原级X射线谱强度分布随X射线管类型\阳极材料\X射线管所用的窗口材料(铍窗)的厚度\焦斑形状\施加电压和X射线管的出射角等条件而变.
X射线衍射XRD工作原理:[b]分析原理:[/b]X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射,主要有连续X射线和特征X射线两种。晶体可被用作X光的光栅,这些很大数目的原子或离子/分子所产生的相干散射将会发生光的干涉作用,从而影响散射的X射线的强度增强或减弱。由于大量原子散射波的叠加,互相干涉而产生最大强度的光束称为X射线的衍射线。
X射线探伤机控制器是一款深受探伤工欢迎的探伤机。其采用了新的控制技术、新的元器件、新的外形结构,使得其能更好地满足生产要求;体积小,减轻了劳动强度,有利于高空作业和野外施工;其自动化程度高,使用简单,易于修理调试,提高了机械强度。X射线探伤机控制器,有很好的通用性。通过反复试验,X射线探伤机控制器很好地解决了抗干扰能力、稳定性、兼容性较差等问题,并投入生产。X射线探伤机控制器的内部电路由单片机余模拟电子相结合,优点是既有电子控制器的抗干扰能力且具有微机控制器的多功能性。由于其经久耐用、体积小、质量轻、散热快。穿透能力深受广东用户,尤其是施工现场、野外及高空作业者的欢迎。超小型X射线探伤机作为一种理想的无损检测设备,主要用于机械制造、压力容器、航空航天、石油、化工、铁路交通、冶金、造船、军工等工业部门,特别适用于施工现场和高空作业。
立体化合物结构确证时,经常会用到X射线衍射,但看到有的地方说单晶X射线衍射法,有的又说粉末X射线衍射法,这两者有区别吗?分别用于什么情况呢?