微区射线荧光仪

x射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准Radiological standards for X-ray diffraction and fluorescence analysis equipmentGBZ115-20021 范围 本标准规定了X射线衍射仪和X射线荧光分析仪的放射防护标准和放射防护安全操作要求。 本标准适用于X射线衍射仪和X射线荧光分析仪的生产和使用。2 规范性引用文件 下列标准中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版本均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。 GB4075 密封放射源分级 GB4076 密封放射源一般规定 GB8703 辐射防护规定 ZBY226 X射线衍射仪技术条件3 术语和定义 下列术语和定义适用于本标准。3.1 X射线衍射仪和X射线荧光分析仪 X-ray diffraction equipment and X-ray fluorescence analysis equipment X射线衍射仪 利用X射线轰击样品，测量所产生的衍射X射线强度的空间分布，以确定样品的微观结构的仪器。 X射线荧光分析仪 利用射线轰击样品，测量所产生的特征X射线，以确定样品中元素的种类与含量的仪器。 以下把X射线衍射仪和X射线荧光分析仪统称为分析仪。3.2 闭束型分析仪和敞束型分析仪 enclosed-beam analytic analytical equipment and open-beam analytical equipment 闭束型分析仪 以结构上能防止人体的任何部分进入有用线束区域为特征的分析仪。 敞束型分析仪 结构上不完全符合闭束型分析仪特征的分析仪，操作人员的某部分身体有可能意外地进大有用线束区域。3.3 射线源 radiation source 本标准中，射线源特指X射线管或能便样品受激后发出特征X射线的密封型放射性核素源(以下简称密封型源)。3.4 联锁装置 interlocking device 分析仪的一种安全控制装置，当其中相关的组件动作时可以发出警告信号，或能够阻止分析仪进入使用状态，或使正在工作的分析仪立即关停。3.5 有用线束 primary radiation 来自射线源并通过窗、光栏或准直器射出的待用射线束。3.6 受照射部件 exposed components 分析仪中受到有用线束照射的部件，如:源套、遮光器、准直器、连接器、样品架、测角仪、探测器等。3.7 源套 radiation source housing 套在射线源外部的具有一定防护效能的壳体，分为密封源套和X射线管套。3.8 防护罩 protective enclosure 敞束型分析仪中，用来屏蔽源套和所有受照射部件的一种防护设备。在防护罩的侧面，通常装有可以平移的防护窗，调试、校准等操作结束后，关闭防护窗，能够有效地防止人员受到有用线束和较强散射线的照射。3.9 遮光器 shutter 安装在有用线束出口处的可以屏蔽有用线束的器件。

关于X射线荧光光谱仪的详细介绍： X射线荧光光谱仪分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；　　X射线荧光光谱仪简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方法比较简便，分析浓度范围较宽,从常量到微量都可分析。重元素的检测限可达ppm量级，轻元素稍差，分析样品不被破坏，分析快速，准确，便于自动化。　　X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计数器为探测器，它们不需要液氮冷却。近年来，采用电致冷的半导体探测器，高分辨率谱仪已不用液氮冷却。同步辐射光激发X射线荧光光谱、质子激发X射线荧光光谱、放射性同位素激发X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采用的是能量色散方式。　　X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。

X射线衍射仪简称XRD（ X-ray diffractometer ），特征X射线及其衍射X射线是一种波长（0.06-20nm）很短的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相机乳胶感光、气体电离。用高能电子束轰击金属靶产生X射线，它具有靶中元素相对应的特定波长，称为特征X射线。如铜靶对应的X射线波长为0.154056 nm。X射线荧光光谱仪简称XRF( X Ray Fluorescence )，人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级 X射线被称为X射线荧光。利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围为9号元素 （F）到92号元素（U）。

什么叫原位微区X射线荧光光谱分析，它与LA-ICP-MS微区分析有什么联系和区别？

能量色散X射线荧光光谱开关电源能量色散X射线荧光光谱采取脉冲高度剖析器将不同能量的脉冲离开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具备高分别率的光谱仪，分别率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分别率光谱仪通常采取液氮冷却的半导体探测器，如Si（Li）和高纯锗探测器等。低分别便携式光谱仪经常采取反比计数器或闪耀计数器为探测器，它们不须要液氮冷却。近年来，采取电致冷的半导体探测器，高分别率谱仪已不必液氮冷却。同步辐射光激起X射线荧光光谱、质子激起X射线荧光光谱、喷射性同位素激起X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采取的是能量色散方法。编纂本段非色散谱仪　　非色散谱仪不是采取将不同能量的谱线分别开来，而是通过抉择激起、抉择滤波和抉择探测等方法使测量剖析线而消除其余能量谱线的搅扰，因而个别只实用于测量一些简朴和组成基础固定的样品。假如n1n2，则介质1相关于介质2为光密介质，介质2相关于介质1为光疏介质。关于X射线，个别固体与空气相比都是光疏介质。所以，假如介质1是空气，那么α1α2（图2。20右图），即折射线会倾向界面。假如α1足够小，并使α2=0，此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1α临界时，界面就象镜子一样将入射线整个反射回介质1中，这就是全反射景象。X射线荧光光谱法有如下特征：剖析的元素规模广，从4Be到92U均可测定； 　　荧光X射线谱线简朴，互相搅扰少，样品不必分别，剖析方法对比简便； 　　剖析浓度规模较宽，从常量到微量都可剖析。重元素的检测限可达ppm量级，轻元素稍差。待续。。。。。非色散？不是很理解。楼主，你有示意图来介绍一下吗。

一．X射线荧光分析仪简介 X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）。是用晶体分光而后由探测器接受经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器做同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此进行特定分析和定量分析。该种仪器产生于50年代，由于可以对复杂体进行多组同事测定，受到关注，特别在地质部门，先后配置了这种仪器，分析速度显著提高，起了重要作用。随着科学技术的进步在60年代初发明了半导体探测仪器后，对X荧光进行能谱分析成为可能。能谱色散型X射线荧光光谱仪（ED-XRF），用X射线管产生原级X射线照射到样品上，所产生的特征X射线（荧光）这节进入SI(LI)探测器，便可以据此进行定性分析和定量分析，第一胎ED-XRF是1969年问世的。近几年来，由于商品ED-XRF仪器及仪表计算机软件的发展，功能完善，应用领域拓宽，其特点，优越性日益搜到认识，发展迅猛。 二．波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别 虽然光波色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪与能量色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪同属于X射线荧光分析仪，它产生信号的方法相同，最后得到的波谱也极为相似，单由于采集数据的方式不同，WD-XRF（波谱）与WD-XRF(能谱)在原理和仪器结构上有所不同，功能也有区别。（一）原理区别 X射线荧光光谱法，是用X射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是用分光近体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X射线波长和强度，从而测定各种元素的含量。而能量色散型荧光光仪（ED-XRF）是借组高分辨率敏感半导体检查仪器与多道分析器将未色散的X射线荧光按光子能量分离X色线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素的量，由于原理的不同，故仪器结构也不同。（二）结构区别 波长色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管），样品室，分光晶体和检测系统等组成。为了准且测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在一个精密的测角仪上，还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，造成强度的损失，要求作为光源的X射线管的功率要打，一般为2-3千瓦，单X射线管的效率极低，只有1%的功率转化为X射线辐射功率，大部分电能均转化为而能产生高温，所以X射线管需要专门的冷却装置（水冷或油冷），因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。 能量色散型荧光光谱仪（DE-XRF）

化验室有2台X射线荧光仪，目前没有关于X射线的安全管理制度和X射线辐射的应急预案，同行们的化验室主要关于这方面是怎么做的？有没有制定管理制度和应急预案？

X射线荧光衍射：利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同，分为X射线光谱法(波长色散)和X射线能谱法(能量色散)。 当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位，原子内层电子重新配位，较外层的电子跃迁到内层电子空位，并同时放射出次级X射线光子，此即X射线荧光。较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能级的能量差，因此，X射线荧光的波长对不同元素是特征的。 根据色散方式不同，X射线荧光分析仪相应分为X射线荧光光谱仪(波长色散)和X射线荧光能谱仪(能量色散)。 X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。通过测角器以1∶2速度转动分析晶体和探测器，可在不同的布拉格角位置上测得不同波长的X射线而作元素的定性分析。探测器的作用是将X射线光子能量转化为电能，常用的有盖格计数管、正比计数管、闪烁计数管、半导体探测器等。记录单元由放大器、脉冲幅度分析器、显示部分组成。通过定标器的脉冲分析信号可以直接输入计算机，进行联机处理而得到被测元素的含量。 X射线荧光能谱仪没有复杂的分光系统，结构简单。X射线激发源可用X射线发生器，也可用放射性同位素。能量色散用脉冲幅度分析器 。探测器和记录等与X射线荧光光谱仪相同。 X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。 X射线荧光分析法用于物质成分分析，检出限一般可达10-5～10-6克／克(g／g)，对许多元素可测到10-7～10-9g／g，用质子激发时 ，检出可达10-12g／g；强度测量的再现性好；便于进行无损分析；分析速度快；应用范围广，分析范围包括原子序数Z≥3的所有元素。除用于物质成分分析外，还可用于原子的基本性质如氧化数、离子电荷、电负性和化学键等的研究。

台式X射线荧光谱仪与手持式X射线荧光谱仪区别？

X-射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。　　波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)，是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器作同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此进行定性和定量分析。该仪器产生于50年代，由于可以对复杂体系进行多组分同时测定，受到观注，特别在地质部门，先后配置了这种仪器，分析速度显著提高，起了重要作用。　　随着科学技术的进步，在60年代初发明了半导体探测器以后，对X-荧光进行能谱分析成了可能。能谱色散型X荧光光谱仪(ED-XRF)，用X射线管产生原级X射线照射到样品上，所产生的特征X射线(荧光)直接进入半导体探测器，便可以据此进行定性分析和定量分析。　　由于普通能量色散X荧光采用低功率X射线管，又采用滤光片扣除背景和干扰，其背景偏高，分辨率偏小，使得应用范围受到限制，特别是在轻元素的分析受到限制。随之X射线偏振器的诞生，产生了一款新型的能量色散X荧光光谱仪，既偏振式能量色散X荧光光谱仪ED(P)-XRF，再加上SDD探测器的使用，不仅提高了(相对使用正比计数管和Si(PIN)探测器的仪器)的分辨率，免去Si(Li)探测器使用液氮冷却的繁琐和危险，原来普通能量色散X荧光的轻元素检出限高，分辨率差的缺陷，又使得(相对波长色散X荧光用户)购买和使用X荧光仪器的成本大大减低，这使得偏振式能量色散X荧光光谱仪ED(P)-XRF在分析领域的迅猛发展，越来越受到广泛关注。

虽然波长色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪与能量色散型（WD-XRF）X射线荧光光谱仪同属X射线荧光分析仪，它们产生信号的方法相同，最后得到的波谱或者能谱也极为相似，但由于采集数据的方式不同，ED-XRF（波谱）与ED-XRF（能谱）在原理和仪器结构上有所不同，功能也有区别。　　（一）原理区别　　X-射线荧光光谱法，是用X-射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是分光晶体将荧光光束色散后，测定各种元素的含量。而能量色散型X射线荧光光仪（WD-XRF）是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将未色散的X-射线按光子能量分离X-射线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素的量。由于原理不同，故仪器结构也不同。　　（二）结构区别　　波长色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管）、样品室、分光晶体和检测系统等组成。为了准确测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在一个精密的测角仪上，还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，造成强度的损失，要求作为光源的X-射线管的功率要大，一般为２～３千瓦。但X-射线管的效率极低，只有１％的电功率转化为X-射线辐射功率，大部分电能均转化为热能产生高温，所以X-射线管需要专门的冷却装置（水冷或油冷），因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。能量色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管）、样品室和检测系统等组成，与波长色散型荧光光谱仪的区别在于它用不分光晶体。由于这一特点，使能量色散型荧光光仪具有如下优点：　　①仪器结构简单，省略了晶体的精密运动装置，也无需精度调整。还避免了晶体衍射所造成的强度损失。光源使用的X-射线管功率低，一般在100W以下，不需要昂贵的高压发生器和冷却系统，空气冷却即可，节省电力。　　②能量色散型荧光光仪的光源、样品、检测器彼此靠得很近，X-射线的利用率很高，不需要光学聚集，在累积整个光谱时，对样品位置变化不象波长色散型荧光光谱仪那样敏感，对样品形状也无特殊要求。　　③在能量色散谱仪中，样品发出的全部特征X-射线光子同时进入检测器，这就奠定了使用多道分析器和荧光屏同时累积和显示全部能谱（包括背景）的基础，也能清楚地表明背景和干扰线。因此，半导体检测器X-射线光谱仪能比晶体X-射线光谱仪快而方便地完成定性分析工作。　　④能量色散法的一个附带优点是测量整个分析线脉冲高度分布的积分程度，而不是峰顶强度。因此，减小了化学状态引起的分析线波长的漂移影响。由于同时累积还减小了仪器的漂移影响，提高净计数的统计精度，可迅速而方便地用各种方法处理光谱。同时累积观察和测量所有元素，而不是按特定谱线分析特定元素。因此，见笑了偶然错误判断某元素的可能性。（选自网络，侵删）

请问大家，我们用的是落地式较大的那种X射线荧光光谱仪，是布鲁克的，请问这台设备对操作人员的辐射危害大吗？

现有一台X射线荧光光谱测定仪需要进行维护保养，望有相关能力的个人或公司私聊我，进行相关探讨，谢谢

1 故障现象一X射线发生器的高压开不起来。故障分析：这是X射线荧光光谱仪较常见的故障，一般发生在开机时，偶尔也发生在仪器运行中。故障的产生原因可以从三个方面去分析：1、X射线防护系统；2、内部水循环冷却系统；3、高压发生器及X射线光管。1.1 X射线防护系统为了防止X射线泄漏，高压发生器只有在射线防护系统正常的情况下才能启动。射线防护系统正常与否，主要检查以下二部分：1、面板的位置是否正常。X射线荧光光谱仪是一个封闭系统，面板是最外层的射线防护装置，如果有一块面板不到位，仪器就有射线泄漏的可能。因此，每块面板上都有位置接触传感器，面板没有完全合上，高压开不起来。2、X射线的警示标志是否正常。国家标准规定X射线荧光光谱仪必须安装红色警告信号灯并与相应的开关联动，因此如果信号灯失灵，高压也开不起来。有一种简单的方法可以判断高压不能启动是否是由射线防护系统引起，即将仪器的状态设定为维修状态，屏蔽射线防护系统，如果这时高压可以开起来，就可以确定故障是由射线防护系统的问题引起的。1.2 内部水循环冷却系统高压发生器的输出功率一般为3kW或4kW，将高压加至X射线光管后，除小部分用于产生X射线外，大部分转化为热能，由内部水循环冷却系统带走。内循环水用于冷却阳极靶附近的光管头部分，因此要求内循环水为电导率很低的去离子水，以防高压击穿。内循环水通过仪器内部的去离子树脂柱降低电导率，去离子树脂柱中的树脂会年久失效，因此高压无法启动时，可检查一下内循环水的电导率，如果电导率降不下去，考虑更换树脂。另外，内循环水的水位过低，也会导致高压开不起来。还有一种故障现象是高压开起来几分钟后跳掉，产生这种故障的原因可能为内循环水的流量过小。内循环水的流量通过流量计测量，水流过流量计时，带动流量计内的叶轮，叶轮切割磁力线，产生电信号。叶轮在水中长期转动，可能会锈蚀，从而使叶轮的转速减慢，流量计的电信号减弱，使仪器误认为水流量过小而导致高压跳掉。另外内循环水的过滤网堵塞导致水流量减小，也会引起高压跳掉。1.3 高压发生器及X射线光管本身高压发生器和X射线光管是仪器内最贵重的部件，一般不会出问题。检查高压发生器，可将高压发生器打开，根据电路图，检查各个开关是否在正常位置，看一下保险丝有没有熔断，再进一步的检查最好由专业维修工程师来做。X射线光管是个封闭的部件，一旦损坏，只能更换，不能修理。检查X射线光管，可检查X射线光管与高压电缆的连接是否正常，高压电缆有无损坏。

无论国内外，X射线荧光分析方法最先得到重视和应用的都是地质行业。这主要是因为野外工作环境比较恶劣的地质勘查和矿产资源评价工作，需要一种轻便、机动而又能及时取得元素成分和含量数据的手段。X射线荧光分析方法基本满足了这一要求。因此，X射线荧光分析方法的研究和推广应用受到第一线地质工作者的关注。从20世纪70年代开始，便携式X射线荧光仪在地质行业就得到较为广泛的应用，并取得很好的成果。 使用便携式X射线荧光仪，在野外一般不需要特别加工样品就能直接对岩石露头、探槽、浅井、剥土、采矿工作面、刻槽取样线、钻孔岩心等地质工程取样点直接测量目标元素的X射线荧光强度，对目标元素进行定性、定量或半定量分析，从而及时发现和验证异常，评定岩矿品位、矿化地段、矿层厚度，划分矿化异常与非异常的界线、划分矿区与非矿区的界线，为进一步指导找矿勘探和矿产的资源评价提供有力的支撑资料。 便携式X射线荧光仪进行野外找矿方法可以分为直接找矿和间接找矿。所谓直接找矿就是使用便携式X射线荧光仪在野外现场直接测量目标元素（目标矿种）的X射线荧光强度，来确定目标元素的矿化异常的方法。所谓间接找矿就是因为受到X射线荧光仪自身探测线和激发源的能量所影响，不能对目标元素直接测量，而是通过测量与目标元素有共生关系的其他元素或者元素组合的X射线荧光强度来间接寻找目标元素（目标矿种）的方法。例如：我们最常用的X射线荧光找金矿方法，由于金元素的克拉克值丰度远远小于X射线荧光仪自身探测线，加之金元素的K系特征X射线Kα1的能量为68.79kev，而我们目前使用的激发源的能量-（ Pu能量为11.6KeV--21.7KeV， Am能量为59.5KeV和26.4KeV）远小于68.79kev，它不能激发金元素的K系特征X射线。所以我们只能根据金元素在元素周期表上属于IB族，在这一族中铜、银。按其地球化学特性分类，金属于亲铜元素组和亲银元素组。相应的元素有铜、锌、铅、砷、硒、铋、汞、银、锡、锑、碲、镉、铟等。由于金与亲铜元素组和亲银元素组的地球化学性质相近，在自然界中常以硫化物或复杂硫化物的形式存在，与亲铜元素和亲银元素共生或伴生一起。在金矿床的地球化学晕中，基本上都会有铜、砷、银等亲铜元素和亲银元素的异常晕出现。所以，可以将它们作为勘察金矿床的良好指示。我们可以单独测量一种元素或测量多种元素组合的特征X射线强度来矿化圈定异常，从而达到间接找寻金矿床的目的。有关便用携式X射线荧光仪间接找寻金矿床的应用实例在相关文献中也多有报道。 近年来，随着测量技术和研究水平的不断提高，人们已经注意和初步掌握了利用元素共生关系和共生元素含量比值的变化规律。对野外X射线荧光测量结果的利用不但可以根据不同元素的共生关系来圈定矿化异常，而且可以根据多元素之间的比例关系及其变化特点，结合其他地质条件来判断矿化异常的在平面和剖面范围内的变化趋势，来提高事半功倍的野外找矿效果。要完成这些任务就需要X射线荧光分析工作者、物探工作者和地质工作者的相互结合和共同努力，才能使X射线荧光分析方法的应用和研究水平达到一个新的高度。 野外工作方法 1．在进行野外现场X射线荧光分析工作之前，首先要对测区的基本地质情况有一个基本的了解（包括基本岩石类型及其分布情况、地质构造的发育及分布、矿化蚀变类型、不同元素及元素组合分布特点等等）。在此基础上，再根据地质学基础理论知识，并结合已经掌握的基本地质情况综合考虑，来确定野外现场X射线荧光分析元素及元素组合的种类。 2．仪器工作性能检查和工作状态的调节荧光仪工作性能的好坏，将直接决定最终工作的成败。所以开展工作前，必须保证所使用的X射线荧光仪工作性能稳定正常。并按仪器操作说明书完成测试参数的设置准备工作（完成各种目标元素微分谱的测量、并根据所测目标元素的微分谱来对目标元素的测量道址进行设置等）。 3．工作区测网的布置 与其他物化探方法一样，X射线荧光现场测量也按一定的网度进行工作。由于X射线荧光方法具有现场快速、低成本和X射线穿透深度和作用范围较小的特点，一般都要求加密测网。按常用的计算方法，以成图比例尺分母的1/100（单位是米）为线距的基础上再加密一倍。例如作1 :10000的测量，一般线距为100米，而X射线荧光方法取线距为50米。点距在外围找矿时取5米，异常点加密到1米。详查工作取线距5米—10米，点距0.2米—0.5米.在需要作圈定矿化边界和元素定量(或近似定量)测定时，常采用加密测量，取点距5－10厘米。必要时作多线测量，取线距10厘米。类似于刻槽取样。 具体的测网密度布置，在不同的地质找矿、地质勘探阶段，在不同地区，不同的地质条件下可以不同。均可以按照放射性物探方法或其他物化探方法测网布置要求的基础上进行必要的加密即可。 4．测点上X射线荧光的测量工作 为了保证测量数据的可靠性，所选测点应具有一定的代表性，在测点上除了完成必须的地质工作和其他的测量方法所需的工作外。X射线荧光测量方法有两种：一是直接在所选测点上将探测器放置平稳后进行直接测量，但测量前必须对测量位置的岩石表面进行必要的清理，保证测点表面是新鲜的和较为平整的。以保证整个测量过程中探测器的源样距的一致性。二是用随仪器配置的碎样加工工具，采集有代表性的测点样品进行粉碎到一定粒度后，将样品放在样品杯中放置于探测器的探测窗口上进行测量。这种方法可以提高被测样品的测量精度和数据的可信度。 5．测量数据的整理和相应图件的编制 为了保证测量数据的精确度和准确度，减少统计误差带来的影响。和其他物化探分析方法、放射性测量方法一样必须对测量所获取数据资料进行审核以减少测量误差，保证数据的可信度。提高地质异常解释评价的质量。 根据不同的工作目的，和其他物化探方法、放射性测量方法一样，X射线荧光测量数据可以编绘成各种相应的地质图件。如X射线荧光测量等值线图、X射线荧光强度频率分布直方图、各种勘探工程的X射线荧光测量剖面图等等。野外X射线荧光测量数据的分析和处理方法根据野外地质找矿工作的不同勘查阶段的应用可有所不同，使用便携式X射线荧光仪，基本上可以完成元素的定性、半定量、准定量工作。 X射线荧光分析方法是一种轻便、快速、低成本的分析方法。它可以现场、短期内取得大量分析数据，其成果也具有更好的代表性。虽然测量数据有一定的误差（受野外现场测量条件的影响），只能达到半定量、近似定量（准定量）分析的水平，但是大量测量数据及其分布特点却能真实地反映测量对象在平面或剖面的图像和变化细节，结合其它工作方法进行综合分析，能大幅度提高研究工作的速度和加快地质勘查工作的进程发挥更好的作用。

波长色散X射线荧光光谱仪分析对象主要有各种磁性材料（NdFeB、SmCo合金、FeTbDy）、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等，以及各种形态样品的无标半定量分析，对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金，结果接近于定量分析的准确度。X荧光分析快速，某些样品当天就可以得到分析结果。适合课题研究和生产监控。 波长色散X射线荧光光谱仪采用晶体或人工拟晶体根据Bragg定律将不同能量的谱线分开，然后进行测量。波长色散X射线荧光光谱一般采用X射线管作激发源，可分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素，因此测量速度通常比同时式慢，适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成，对测量速度要求高和批量试样分析, 顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。 美国Cianflone公司扫描型X射线荧光光谱仪（波长色散型）2501XBT型号是ASTM金属基层处理涂层测厚检验标准（D5723-95）、ASTM1306-07和D6906-03中唯一推荐检测仪器。X射线荧光光谱仪是表面金属元素成分分析的理想工具。 Portaspec2501XRF可以试验如下金属和矿物的全定量分析： 铬、钴、铜、金、铁、铅、锂、锰、汞、钼、镍、、铂、银、钍、钛、钨、铀、钒、锌、锆? Portaspec以安全的辐射标准（CRF标准）耐用的光学系统，简便的元素选择操作，强大灵活的测量功能、成为金属元素定量定性的最好分析工具。 PortaspecX系列色散型X射线荧光光谱仪用于质量控制和研究，高效、功能强大，包括触摸屏笔记本电脑。X射线管冷却水浴、真空泵，高压电源于一体，完全实现低成本运行。 PortaspecX系列色散型X射线荧光光谱仪主要特点： XSEBT单一元素； XBT分析从钛到银、从钡到铀的单一或多金属顺序测量； XLT分析AI、Si 、P、S、Cl、K、Ca、Zr 系统设置与样品分析耗时短 移动式测量探头，可实现无损在线检测 符合CRF辐射安全 包括触摸屏笔记本电脑 快速调角开关电源 密封、高效耐用的光学系统实验高精度高可靠性的测量请不要注明出处。否则广告论处。

X射线波长小于0.01nm的称超硬X射线，在0.01～0.1nm范围内的称硬X射线，0.1～10nm范围内的称软X射线。X射线具有很强的穿透力，医学上常用作透视检查，工业中用来探伤。长期受X射线辐射对人体有伤害。X射线可激发荧光、使气体电离、使感光乳胶感光，故X射线可用电离计、闪烁计数器和感光乳胶片等检测。晶体的点阵结构对X射线可产生显著的衍射作用，X 射线衍射法已成为研究晶体结构、形貌和各种缺陷的重要手段。特点　　X射线的特征是波长非常短，频率很高，其波长约为（20～0.06）×10-8厘米之间。因此X射线必定是由于原子在能量相差悬殊的两个能级之间的跃迁而产生的。所以X射线光谱是原子中最靠内层的电子跃迁时发出来的，而光学光谱则是外层的电子跃迁时发射出来的。X射线在电场磁场中不偏转。这说明X射线是不带电的粒子流，因此能产生干涉、衍射现象。　　X射线谱由连续谱和标识谱两部分组成 ，标识谱重叠在连续谱背景上，连续谱是由于高速电子受靶极阻挡而产生的 轫致辐射 ，其短波极限λ 0 由加速电压V决定：λ 0 = hc /( ev )为普朗克常数， e 为电子电量， c 为真空中的光速。标识谱是由一系列线状谱组成，它们是因靶元素内层电子的跃迁而产生，每种元素各有一套特定的标识谱，反映了原子壳层结构 。同步辐射源可产生高强度的连续谱X射线，现已成为重要的X射线源。　　X射线具有很高的穿透本领，能透过许多对可见光不透明的物质，如墨纸、木料等。这种肉眼看不见的射线可以使很多固体材料发生可见的荧光，使照相底片感光以及空气电离等效应，波长越短的X射线能量越大，叫做硬X射线，波长长的X射线能量较低，称为软X射线。当在真空中，高速运动的电子轰击金属靶时，靶就放出X射线，这就是X射线管的结构原理。　　放出的X射线分为两类：　　（1）如果被靶阻挡的电子的能量，不越过一定限度时，只发射连续光谱的辐射。这种辐射叫做轫致辐射，连续光谱的性质和靶材料无关。　　（2）一种不连续的，它只有几条特殊的线状光谱，这种发射线状光谱的辐射叫做特征辐射，特征光谱和靶材料有关。X射线的危害x射线和其他辐射线，一般对人的伤害分为两种，一是通过能量传递，对人体细胞的DNA进行破坏，称为物理效应，还有一种是，由射线对人体组织内水发生电离，产生自由基，这些自由基再和生物大分子发生作用，导致不可逆损伤，称为生物效应。x射线以生物效应为主。辐射作用于生物体时能造成电离辐射，这种电离作用能造成生物体的细胞、组织、器官等损伤，引起病理反应，称为辐射生物效应。辐射对生物体的作用是一个非常复杂的过程，生物体从吸收辐射能量开始到产生辐射生物效应，要经历许多不同性质的变化，一般认为将经历四个阶段的变化： ①物理变化阶段：持续约10-16秒，细胞被电离； ②物理-化学变化阶段：持续约10-6秒，离子与水分子作用，形成新产物； ③化学变化阶段：持续约几秒，反应产物与细胞分子作用，可能破坏复杂分子；④生物变化阶段：持续时间可以是几十分钟至几十年，上述的化学变化可能破坏细胞或其功能。辐射生物效应可以表现在受照者本身，也可以出现在受照者的后代。表现在受照者本身的称为躯体效应（按照显现的时间早晚又分为近

跪求一个很可笑的问题“x射线荧光和x射线衍射的区别“！小弟是做仪器的经销商，实在是不懂，另外，目前这两种仪器的市场情况也想了解一下，谢谢！！

我是做x射线荧光分析仪的售后服务工作，整天和x射线荧光分析仪接触，主要负责为客户安装和维修，不知道会不会对身体有伤害，谢谢

弱弱地问：x射线光电子能谱仪，x射线衍射仪、x射线荧光分析仪三者（如有可能包括红外光谱仪）在功能上有什么区别和共同点，请赐教！

自从1895年伦琴发现X-射线以来，产生的X-射线仪器多种多样。但是进入80年代，由于20世纪末，半导体材料和计算及技术的迅速发展，出现了Si(Li) 探测器技术和能量色散分析技术。 最近十几年在国际上一种新的多元素分析仪器迅速发展起来。已经成为一种成熟的，应用广泛的分析仪器。他就是X-射线荧光能谱仪,全称为：能量色散X-射线荧光光谱仪。以下介绍一下这种仪器的情况：一.X-荧光能谱技术基本理论1．X-荧光 物质是由原子组成的，每个原子都有一个原子核，原子核周围有若干电子绕其飞行。不同元素由于原子核所含质子不同，围绕其飞行的电子层数、每层电子的数目、飞行轨道的形状、轨道半径都不一样，形成了原子核外不同的电子能级。在受到外力作用时，例如用X-光子源照射，打掉其内层轨道上飞行的电子，这时该电子腾出后所形成的空穴，由于原子核引力的作用，需要从其较外电子层上吸引一个电子来补充，这时原子处于激发态，其相邻电子层上电子补充到内层空穴后，本身产生的空穴由其外层上电子再补充，直至最外层上的电子从空间捕获一个自由电子，原子又回到稳定态（基态）。这种电子从外层向内层迁移的现象被称为电子跃迁。由于外层电子所携带的能量要高于内层电子，它在产生跃迁补充到内层空穴后，多余的能量就被释放出来，这些能量是以电磁波的形式被释放的。而这一高频电磁波的频率正好在X波段上，因此它是一种X射线,称X-荧光。 因为每种元素原子的电子能级是特征的，它受到激发时产生的X-荧光也是特征的。注意，这里的X-荧光要同宝石学中所描述的宝石样品在X射线照射下所发出可见光的荧光概念相区别。2．X荧光的激发源为使被测物质产生特征X-射线，即X-荧光，需要用能量较高的光子源激发。光子源可以是X-射线，也可以是低能量的γ-射线，还可以是高能量的加速电子或离子。对于一般的能谱技术，为了实现激发，常采用下列方法。a.源激发 放射性同位素物质具有连续发出低能γ-射线的能力，这种能力可以用来激发物质的X荧光。用于源激发使用的放射性同位素主要是: 55Fe（铁）、109Cd（镉）、241Am（镅）、244Cm（锔）等，不同的放射性同位素源可以提供不同特征能量的辐射。一般将很少量的放射性同位素物质固封在一个密封的铅罐中，留出几毫米或十几毫米的小孔径使射线经过准直后照射到被测物质。源激发具有单色性好，信噪比高，体积小，重量轻的特点，可制造成便携式或简易式仪器。但是源激发功率低，荧光强度低，测量灵敏度较低。另一方面，一种放射性同位素源的能量分布较为狭窄，仅能有效分析少量元素，因此，有时将两种甚至三种不同的放射性同位素源混合使用，以分析更多的元素。b.管激发 管激发是指使用X-射线管做为激发源。X-射线管是使用密封金属管，通过高压使高速阴极电子束打在阳极金属材料钯上（如Mo靶、Rh靶、W靶、Cu靶等），激发出X-射线，X-射线经过(X射线)管侧窗或端窗、并经过准直后，照射被测物质激发X-荧光。由于X-射线管发出的X-射线强度较高，因此，能够有效激发并测量被测物质中所含的痕量元素。另一方面X-射线管的高压和电流可以随意调整，能够获得不同能量分布的X-射线，结合使用滤光片技术，可以选择激发更多的元素。3．X-射线荧光能谱 物质是由一种元素或多种元素组成的。当光子源照射到物质上时，物质中各种元素发出混和在一起的各自特征的X荧光。这些特征的X荧光具有特征的波长或能量，每种荧光的强度与物质中发出该种荧光元素的浓度相关。 为了区分混和在一起的各元素的X-荧光，常采用两种分光技术，一是通过分光晶体对不同波长的X-荧光进行衍射而达到分光目的，然后用探测器探测不同波长处X-荧光强度，这项技术称为波长色散光谱。另一项技术是首先使用探测器接收所有不同能量的X-荧光，通过探测器转变成电脉冲信号，经前置放大后，用多道脉冲高度分析器（MPHA）进行信号处理，得到不同能量X-荧光的强度分布谱图，即能量色散光谱，简称X-荧光能谱。4．能量色散X-荧光的探测X-荧光是波长极短的电磁波，为非可见光，需要使用探测器进行探测，探测器可以将X-荧光电磁波信号转换成电脉冲信号。依分辨率高低档次由低至高常用的探测器有NaI晶体闪烁计数器，充气（He, Ne, Ar, Kr, Xe等）正比计数管器、HgI2晶体探测器、半导体致冷Si PIN 探测器、高纯硅晶体探测器、高纯锗晶体探测器、电致冷或液氮致冷Si（Li）锂漂移硅晶体探测器、Ge（Li）锂漂移锗探测器等。 探测器的性能主要体现在对荧光探测的检出限、分辨率、探测能量范围的大小等方面。 低档探测器有效检测元素数量少，对被测物质中微量元素较难检测，分辨率一般在700－1100eV，一般可分析材料基体中元素数量较少，元素间相邻较远，含量较高的单个元素。中档探测器有效检测元素数量稍多，对痕量元素较难检测，分辨率一般在200－300eV，一般用于检测的对象元素不是相邻元素，元素相邻较远（至少相隔1-2个元素以上），基体内各元素间影响较小。高档探测器可以同时对不同浓度所有元素（一般从Na至U）进行检测，分辨率一般在150－180eV。可同时测定元素周期表中Na-U范围的任何元素。对痕量检测可达几个ppm量级。5．X-荧光能谱定性定量分析 对采集到的X-荧光能谱进行定性分析是指对X-荧光能谱中出现的峰位进行判断，根据能量位置确定被测物质所含的元素。定量分析是根据被测物质中不同元素的浓度与其X-荧光能谱中峰的计数强度的相关关系，使用特定计算方法，根据峰的计数强度计算出元素的浓度。

我是搞化验的，专门管维护x射线荧光分析仪 是日本理学产的，我们单位有发X射线计量仪，没有什么防护措施，主任说相当于一台29寸彩电的辐射量，不知道到底对身体有 什么影响 尤其是对女性 哪位了解给说下啊[em61]

X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。通过测角器以1∶2速度转动分析晶体和探测器，可在不同的布拉格角位置上测得不同波长的X射线而作元素的定性分析。探测器的作用是将X射线光子能量转化为电能，常用的有盖格计数管、正比计数管、闪烁计数管、半导体探测器等。记录单元由放大器、脉冲幅度分析器、显示部分组成。通过定标器的脉冲分析信号可以直接输入计算机，进行联机处理而得到被测元素的含量。X射线荧光能谱仪没有复杂的分光系统，结构简单。X射线激发源可用X射线发生器，也可用放射性同位素。能量色散用脉冲幅度分析器 。探测器和记录等与X射线荧光光谱仪相同。X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。X射线荧光分析法用于物质成分分析，检出限一般可达10-5～10-6克／克(g／g)，对许多元素可测到10-7～10-9g／g，用质子激发时 ，检出可达10-12g／g；强度测量的再现性好；便于进行无损分析；分析速度快；应用范围广，分析范围包括原子序数Z≥3的所有元素。除用于物质成分分析外，还可用于原子的基本性质如氧化数、离子电荷、电负性和化学键等的研究。 [~104490~]

[B][center]X射线荧光光谱法的进展（1）——X射线光谱法的发展历程[/center][/B]X射线荧光（以下简称XRF）光谱法的基本原理是当物质中的原子受到适当的高能辐射的激发后，放射出该原子所具有的特征X射线。根据探测到该元素特征X射线的存在与否的特点，可以定性分析；而其强度的大小可作定量分析。该法具有准确度高，分析速度快，试样形态多样性及测定时的非破坏性等特点，它不仅用于常量元素的定性和定量分析，而且也可进行微量元素的测定，其检出限多数可达10-6，与分离、富集等手段相结合，可达10-8。测量的元素范围包括周期表中从F～U的所有元素。一些较先进的X射线荧光分析仪器还可测定铍、硼、碳等超轻元素。而多道XRF分析仪，在几分钟之内可同时测定20多种元素的含量。伦琴在1895年发现X射线。其后1927年用X射线光谱发现化学元素Hf，证实可以用X射线光谱进行元素分析。1948年美国海军实验室首次研制出波长色散X射线荧光光谱仪。20世纪60年代中期开始在工业部门推广这项技术，我国在那时开始引进刚开始商品化的早期X射线荧光光谱仪。山于半导体探测器的出现，70年代开始出现能量色散X射线光谱仪。由于微型计算机的出现，70年代末到80年代初，使X光谱分析技术无论在硬件、软件还是方法上都有突飞猛进的发展。进入90年代以来，随着空间、生物、医学、环境和材料科学的发展，其需求进一步刺激X射线光谱学的发展，主要体现在各种新探测器、新激发源及相关元器件的开发上，新器件的优越性又促成新的测试技术。X射线光谱学又面临一个大发展的局面。由于XRFA在主次量元素分析上的无可比拟的优势，以及现代X射线荧光光谱仪器的发展，XRFA已经成为一门成熟的成分分析技术，在冶金、地质、建材、石油、生物、环境等领域均有广泛的应用。

转录 请自己 google 搜索 便携全反射X射线荧光分析仪 全反射X射线荧光分析仪 等文章全反射X荧儿（TXRF）分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术，它突出的优点是检出限低（pg、ng/mL 级以下）、用样量少（Μl、ng级）、准确高度（可用内标法）、简便、快速，而且要进行无损分析，成为一种不可替代的全亲的元素分析方法。国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段，在原子谱仪领域内处于领先地位。从整个分析领域看，与质谱仪中的ICP-MS和GDMS、原子吸收谱仪中的ETAAS和EAAS以及中子活化分析NAA等方法相比较，TXRF分析在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面有着综合优势。在X荧光谱仪范围内，能谱仪（XRF）和波谱仪（WXRF）在最低检出限、定量性、简便性、准确性、经济性等方面，都明显比TXRF差。在表面分析领域内，尤其在微电子工业的大面积硅片表面质量控制中，TXRF已在国际上得到广泛应用。1. TXRF分析仪工作原理：TXRF利用全反射技术，会使样品荧光的杂散本底比XRF降低约四个量级，从而大大提高了能量分辨率和灵敏率，避免了XRF和WXRF测量中通常遇到的木底增强或减北效应，大大缩减了定量分析的工作量和工作时间，同时提高了测量的精确度。测量系统的最低探测限（MDL）可由公式计算： (2)这里， 是木底计数率，t为测量计数时间，M为被测量元素质量，l代表被测量元素产生的特征峰净计数率，S=I/M就是系统灵敏度，由公式可以看出，提高灵敏底、降低木底计数率、增加计数时间是降低MDL的有效办法。木氏低、灵敏度高正是TXRF方法的长处，因而MDL很低。

xp1980版友，为江西南昌某公司分析测试人员，长期从事X射线仪器分析工作，在X射线领域积累比较丰富的经验，在此推荐该版友为X射线荧光版面版主。

布鲁克的ARTAX 400 X射线荧光光谱仪，有无标样的定量软件或者方法吗，本人咨询过工程师，都对这个型号的不了解。大家可以讨论下，有没有经验型的方法可以自己去半定量，除过标样法

[align=center][font='calibri'][size=24px]微区能量色散[/size][/font][font='calibri'][size=24px]X[/size][/font][font='calibri'][size=24px]射线荧光光谱方法通则的建立[/size][/font][/align][align=center][font='calibri'][size=20px]中山大学分析测试中心[/size][/font][font='calibri'][size=20px] [/size][/font][font='calibri'][size=20px]董鑫[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]标准分析方法是分析技术发展的总结，是保证测试准确度的必要的技术文件，一般有国际标准、国家标准、行业标准、地方标准等，至今为止发布了将近[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]26[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]个[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]EDS[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]分析的主要国家标准，但是目前没有任何关于[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]μ-EDXRF[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]的分析标准，一般[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]μ-EDXRF[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]都参照[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]EDS[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]或[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]WDXRF[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]的标准。结合实验室[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]μ-EDXRF[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]的实际情况，拟定了关于微区能量色散[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线荧光光谱方法通则。[/size][/font][/align][align=left][/align][align=center][font='times new roman'][size=16px]能量色散型[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线荧光光谱方法通则[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]General rules for energy dispersive X-ray fluorescence spectrometry[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]1 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]范围[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]本标准适用于能量色散型[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线荧光光谱仪测量各种材料中元素成分和元素含量的一般方法。可分析[/size][/font][font='times new roman'][sub][size=16px]11[/size][/sub][/font][font='times new roman'][size=16px]Na[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]－[/size][/font][font='times new roman'][sub][size=16px]92[/size][/sub][/font][font='times new roman'][size=16px]U[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]之间的所有元素，分析元素的质量分数范围为[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]mg/g[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]－[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]100%[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]。[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]2 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]定义[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]2.1 X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线管[/size][/font][font='times new roman'][size=16px] X-ray tube[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]又称[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]光管。一般用钨丝作为阴极，可用[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]铑[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]、[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]钼[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]、铬、铂、金、钨等金属作为阳极靶。[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]在靶附近[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]的管壁上或管的端部开[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]一[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]孔，用铍层封口，称为铍窗。铍窗厚度为[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]1[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]、[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]0.5[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]、[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]0.125mm[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]三种。[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]光管可有端窗型和侧窗型两类。当[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线管的两极间加上高电压时，从灯丝发射的热电子得到加速，轰击阳极靶，便发射[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线，称为初级[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线。这种射线是由连续波谱和[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]靶的[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]特征波谱组成的。它们从铍窗射出，到达分析试样。在[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线荧光光谱仪中，[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线管是激发源，用于发射初级[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线。[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]2.2 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]初级滤光片[/size][/font][font='times new roman'][size=16px] primary filter[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]初级滤光片是将滤光片置于[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线管和样品之间，其目的是为了得到单色性更高的辐射和降低[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]待分析[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]元素谱感兴趣区内的由原级谱线散射引起的背景。[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]2.3 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]能量分辨率[/size][/font][font='times new roman'][size=16px] energy resolution[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]用探测器测量某一能量的射线能峰，所得到的[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]能峰最大[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]峰值二分之一高度处的宽度（或称半高宽）作为探测器分辨本领的标识，用[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]FWHM[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]表示。对于[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]Si[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]（[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]Li[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]）探测器的能量分辨力的测定，习惯上用[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]Si[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]（[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]Li[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]）探测器测量[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]Mn[/size][/font][font='times new roman'][size=16px] K[/size][/font][font='times new roman'][sub][size=16px]α[/size][/sub][/font][font='times new roman'][size=16px] 5.9 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]keV[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]线或[/size][/font][font='times new roman'][sup][size=16px]55[/size][/sup][/font][font='times new roman'][size=16px]Fe[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]放射的[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]5.9 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]keV[/size][/font][font='times new roman'][size=16px] X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线的[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]FWHM [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]来度量。[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]2.4 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]计数时间[/size][/font][font='times new roman'][size=16px] counting time[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]（[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]1[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]）死时间[/size][/font][font='times new roman'][size=16px] dead time[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]表示脉冲信号处理器处理脉冲信号时，它停止其他任何脉冲计数，直到进入多道分析器的那个脉冲被内存记录为止所需的时间。[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]（[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]2[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]）活时间[/size][/font][font='times new roman'][size=16px] living time[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]表示多道分析器进行能谱计数时，容许脉冲信号进入脉冲处理器的时间。[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]2.5 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]基体效应[/size][/font][font='times new roman'][size=16px] matrix effect[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]在[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线荧光光谱分析中，用厚样片进行测量，[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]除分析[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]元素以外，试样中的其它所有元素，称为基体[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]M[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]。因此，在一个多元素试样中，对于同一试样中的每一个分析元素，其基体是不同的。基体对分析线强度的影响有两类，其一，起因于基体中的化学元素组成（吸收－增强效应）的影响。其二，起因于样品的表面结构、颗粒度和不均匀性（物理特征效应）影响。这两类影响也就是基体效应，它引起分析线强度的增加或减弱。[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]吸收－增强效应的影响，主要通过选择分析方法和基体效应的影响校正的办法来降低或消除。物理特征效应的影响则通过制[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]样技术[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]来降低或消除。[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]3 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]方法原理[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]一种元素的特征[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线，是由该元素原子内层电子跃迁而产生的。当某元素的原子内层轨道原子被逐出，而较外层轨道电子落入这一空位时，便产生该元素的特征[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线。该特征[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线是由一系列表示发射元素特征的、不连续的独立谱线波所组成。因此，其能量（波长）是该种元素的属性，是定性分析的基础。特征谱线的强度与该元素的含量有关，是定量分析的基础。[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]能量色散[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线荧光光谱法，是一种[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]非破坏[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]的仪器分析方法。利用[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线管（激发源）发射的一次（初级）[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线照射分析样品，激发其中每一个化学元素，使它们各自辐射出二次谱线（特征[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线）。这种二次射线，又称荧光[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线。此荧光[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线被探测器记录，形成脉冲信号，经脉冲放大器放大后，[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]由多道脉冲分析器将幅度不等的输入脉冲分别计入不同的道址、形成能谱，再经计算机进行数据处理、输出或打印测试结果。[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]4 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]仪器[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]4.1 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]仪器组成[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]能量色散[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线荧光光谱[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]仪一般[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]由三部分组成：[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线发生系统、[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线探测系统和数据处理系统。[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]4.1.1 X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线发生系统由[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线管及其控制部分、高压油箱、高压电缆和[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线管冷却单元组成。这些组成部分保证了激发源（[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线管）发射出稳定的、有一定强度的一次[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线。[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]4.1.2 X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线探测系统通常是靠[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]Si[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]（[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]Li[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]）半导体探测器实现的。[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]Si[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]（[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]Li[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]）半导体探测器还有一套提供低温的装置，这套装置包括低温容器（杜瓦瓶）、冷指、真空室和探测器支架。探测器和前置放大器的场效应管装在冷指上，整个支架要保证良好的导热性能。冷指是一根纯铜棒，作为探测器和液氮之间的导热装置。真空室的作用是保持探测器部分的低温和探测器表面的清洁。[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]4.1.3 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]数据记录与处理部分包括脉冲放大器、多道脉冲分析器、计算机、记录显示器和打印机。此部分的功能是将探测器测量脉冲信号进行数据处理和输出，完成定性或定量分析。[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]4.2 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]制样设备[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]压片机[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]4.3 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]仪器性能[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]仪器各部分接触良好，无松动现象，面板上的仪表、指示灯和安全保护装置均正常工作。[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]4.4 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]环境条件[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]环境温度：恒温。室温可设定在[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]20[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]℃[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]－[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]25[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]℃[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]范围内的任一温度上，温度变化率小于[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]1[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]℃[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]/h[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]。机内温度比室温高[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]10[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]℃[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]，可以使仪器处在最佳状态。[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]相对湿度：[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]≤60%[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]电源电压：单相电源[/size][/font][font='times new roman'][size=16px] 220V[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]＋[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]/[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]－[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]22V[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]，[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]50Hz[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]＋[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]/[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]－[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]0.5Hz[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]三相电源[/size][/font][font='times new roman'][size=16px] 380V[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]＋[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]/[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]－[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]38V[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]，[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]50Hz[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]＋[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]/[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]－[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]0.5Hz[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px] 5 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]样品[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px] [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]对于能量色散[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线荧光光谱的定性分析，只要能将样品放入样品分析室即可，无需进行其他设备处理（如打磨、抛光、粉碎等）。[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px] [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]粉末压片法[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px] [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]用压片机将粉末压成圆片用于测量。粉末压片法的优点是制样迅速方便，可获得均与而光滑的试样表面。[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px] 6 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]分析步骤[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px] 6.1 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]开机[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px] [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]按照仪器操作说明书规定的开机程序进行。[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px] [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]仪器在维护、检修等特殊情况下才进行整机停机，平时应处在分析等待状态。但为了延长[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线管、真空泵及[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线管冷却单元的使用寿命，在分析结束后，应关闭这三部分的电源。下次分析样品时，再接通这些部件的电源，待预热[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]30min[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]－[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]60min[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]后才能进行分析测量。[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px] 6.2 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]测量前的准备[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px] 6.2.1 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]检查液氮是否充足[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px] 6.2.2 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]检查机内温度、室内温度和湿度[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px] 6.2.3 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]检查仪器面板上各种指示灯是否处于正常状态[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px] 6.3 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]定性分析和半定量分析[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px] 6.3.1 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]定性分析[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]按照分析要求，首先确定测量条件（[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线管管压和电流，测定时间等）。接着对试样进行测量，根据谱线峰值处的能量值，判断出试样中所含元素，再根据各谱线强度，估计样品中存在的主量、[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]次量和[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]痕量元素。[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]6.3.2 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]半定量分析[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]利用仪器配置的半定量分析软件，对样品进行无标定量分析。[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]半定量分析步骤：[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]6.3.2.1 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]样品[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]样品的大小只要可放入谱仪的分析室即可，其形状可以是圆形、多边形、不规则等，状态可以是固态、液态和粉末。无需进行样品制备，但对于粉末或液体样品，必须进行包装或装于特制的样品杯内。[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]6.3.2.2 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]测量条件的设定[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]所用管压比待测元素的激发电位高[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]3[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]－[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]5keV[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]，谱线有[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]Kα[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]、[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]Kβ[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]、[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]Lα[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]、[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]Lβ[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]和[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]Mα[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]可供选择，通常原子序数小于[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]42[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]的元素用[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]K[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]系线，大于[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]42[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]的元素用[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]L[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]系线，有时也可以选择[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]M[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]系线。[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]6.3.2.3 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]试样分析[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]将制备好的分析试样，送入样品室内，在所选工作条件下进行激发、测量。测量完毕，计算机进行数据处理，并打印出分析结果。[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]7 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]分析结果的表述[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]7.1 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]定性分析结果[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]将样品中检出的各元素分别列在报告中，并附上[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]μ-EDXRF[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]的[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线谱线强度和对应的特征[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线能量值以及能谱图。[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]7.2 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]半定量分析结果[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]分析试样为固体时，分析结果以质量分数（[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]w[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]）表示，其单位符号为[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]μg[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]/g[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]、[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]mg/g[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]、[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]%[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]等。[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]分析试样为液体时，分析结果以质量浓度（[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]ρ[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]）表示，其单位符号为[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]mg/L[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]、[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]g/L[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]等。[/size][/font][font='times new roman'][size=16px] [/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]8 [/size][/font][font='times new roman'][size=16px]安全注意事项[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]在操作微区能量色散[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线荧光光谱仪时，涉及人员安全的潜在危险及其防止方法，分述如下：[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]（[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]1[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]）来自[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线管的辐射。在仪器测量过程中，必须先关闭[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线管，才能打开样品室舱门，要定期检查[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线管的控制开关是否失灵。[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]（[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]2[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]）真空泵从样品室内抽出的废气。这些废气要及时排除到室外。[/size][/font][/align][align=left][font='times new roman'][size=16px]（[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]3[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]）[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]X[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]射线高压发生器的电击。要防止电击，仪器的接地电阻必须小于[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]10[/size][/font][font='times new roman'][size=16px]欧姆，还要定期检查仪器内各主要接触点是否松动、生锈等。[/size][/font][/align]

X射线荧光光谱仪一般应用在那个板块呢